JP2005243174A - Method for sticking thin film piezoelectric substance element - Google Patents
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 188
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 64
- 239000000126 substance Substances 0.000 title abstract 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 97
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims abstract description 85
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims abstract description 76
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 239000000725 suspension Substances 0.000 claims description 21
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 6
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 38
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 31
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 31
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 13
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 7
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- Supporting Of Heads In Record-Carrier Devices (AREA)
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
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Abstract
Description
本発明は、薄膜圧電体素子の接着方法に関する。 The present invention relates to a method for bonding thin film piezoelectric elements.
ハードディスク等の記録媒体に磁気情報を記録及び再生する薄膜磁気ヘッドは、いわゆるヘッドスライダに形成されている。このヘッドスライダを、サスペンションの先端領域に搭載することにより、ヘッドジンバルアセンブリ(HGA)が構成される。一般的に、このサスペンションは、SUS等で形成されたロードビームに可撓性のフレクシャを重ねたものであり、フレクシャには薄膜磁気ヘッドの記録/再生用の配線が施されている。また、このようなサスペンションの基端側は、ボイスコイルモータ(VCM)で駆動されるアクチュエータアームに連結される。そして、サスペンションとアクチュエータアームを連結したものにVCMコイル等を取り付けることにより、所謂ヘッドスタックアセンブリ(HSA)が構成されている。 A thin film magnetic head for recording and reproducing magnetic information on a recording medium such as a hard disk is formed on a so-called head slider. A head gimbal assembly (HGA) is configured by mounting this head slider on the tip end region of the suspension. Generally, this suspension is obtained by superposing a flexible flexure on a load beam formed of SUS or the like, and a wiring for recording / reproducing of a thin film magnetic head is applied to the flexure. Further, the base end side of such a suspension is connected to an actuator arm driven by a voice coil motor (VCM). And what is called a head stack assembly (HSA) is comprised by attaching a VCM coil etc. to what connected the suspension and the actuator arm.
ところで、近年のハードディスクの高記録密度化、特にトラック幅の狭小化に伴い、ヘッドスライダを高精度で微小量駆動させる技術が求められている。そこで従来、下記特許文献1に示すように、上記サスペンションとアクチュエータアームとの連結部分に、圧電素子を利用した圧電アクチュエータを配置するヘッドジンバルアセンブリが提案されていた。これは所謂2段変動式のアセンブリであり、第1段階として、薄膜磁気ヘッドの比較的大きな移動はボイスコイルモータによるアクチュエータアームの駆動で制御し、第2段階として、トラッキング補正等の微小な移動は薄膜圧電体素子によるサスペンションの駆動により制御しようとするものである。
By the way, with the recent increase in recording density of hard disks, in particular, the narrowing of the track width, a technique for driving a head slider with a minute amount with high accuracy is required. Therefore, conventionally, as shown in
ところが、このような2段変動式のヘッドジンバルアセンブリでは、薄膜圧電体素子によって長尺のサスペンション全体を駆動させる必要があるため、トラッキングの高精度化に限界があった。 However, in such a two-stage fluctuation type head gimbal assembly, it is necessary to drive the entire long suspension by the thin film piezoelectric element, so that there is a limit to the high accuracy of tracking.
このため、例えば下記特許文献2に開示されているように、ヘッドスライダとサスペンションの間に薄膜圧電体素子を設ける装置が提案されている。この装置によれば、薄膜圧電体素子は長尺サスペンションそのものを駆動させる必要が無く、直接的にヘッドスライダを駆動させることができるため、より高精度のトラッキングを実現することができる。
しかしながら、上記従来のヘッドジンバルアセンブリには、次のような問題があった。すなわち、薄膜圧電体素子をサスペンションに搭載する際、接着剤で固定することになるが、該素子が薄膜であるため、機械アームによる狭持等のように機械的に保持することが困難である。このため、取り扱いのミス等により薄膜圧電体素子が破壊されてしまい、歩留りの低下を引き起こしてしまう。 However, the conventional head gimbal assembly has the following problems. That is, when the thin film piezoelectric element is mounted on the suspension, it is fixed with an adhesive. However, since the element is a thin film, it is difficult to mechanically hold it, such as holding by a mechanical arm. . For this reason, the thin film piezoelectric element is destroyed due to mishandling or the like, resulting in a decrease in yield.
本発明の目的は、薄膜圧電体素子を破壊することなく接着して、量産性を向上させることが可能な薄膜圧電体素子の接着方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a method for bonding a thin film piezoelectric element that can be bonded without destroying the thin film piezoelectric element to improve mass productivity.
本発明に係る薄膜圧電体素子の接着方法は、薄膜圧電体素子を所定の部材に接着する薄膜圧電体素子の接着方法であって、第1の基体の上に形成された薄膜圧電体素子を、紫外線が照射されることにより剥離する第1の接着剤により、少なくとも紫外線を透過する第2の基体に接着する工程と、第2の基体に接着する工程の後に、第1の基体を除去する工程と、第1の基体を除去する工程の後に、第2の基体に接着された薄膜圧電体素子を所定の部材に紫外線の照射では剥離しない第2の接着剤により接着する一方、紫外線を照射して第2の基体を除去する工程と、を備えることを特徴とする。 A thin film piezoelectric element bonding method according to the present invention is a thin film piezoelectric element bonding method in which a thin film piezoelectric element is bonded to a predetermined member, and the thin film piezoelectric element formed on a first substrate is bonded to the thin film piezoelectric element. The first substrate is removed after the step of adhering to the second substrate that transmits at least ultraviolet rays and the step of adhering to the second substrate by the first adhesive that peels off when irradiated with ultraviolet rays. After the step and the step of removing the first substrate, the thin film piezoelectric element bonded to the second substrate is bonded to a predetermined member with a second adhesive that does not peel off by irradiation of ultraviolet rays, while being irradiated with ultraviolet rays. And removing the second substrate.
本発明に係る薄膜圧電体素子の接着方法では、第1の基体の上に形成された薄膜圧電体素子が第1の接着剤により第2の基体に接着された後に、第1の基体が除去される。そして、第2の基体に接着された薄膜圧電体素子が第2の接着剤により所定の部材に接着される一方、紫外線が照射されることにより第1の接着剤が剥離し、第2の基体が除去されることとなる。薄膜圧電体素子を所定の部材に接着する際には、第2の基体が存在しており、薄膜圧電体素子の機械的強度が第2の基体により保たれる。これにより、薄膜圧電体素子が破壊されるのを防ぐことができると共に、その取り扱いが容易となり、歩留りが向上される。また、第2の基体は、紫外線を照射することで、容易に除去することができる。これらの結果、量産性が著しく向上される。 In the thin film piezoelectric element bonding method according to the present invention, after the thin film piezoelectric element formed on the first substrate is bonded to the second substrate by the first adhesive, the first substrate is removed. Is done. The thin film piezoelectric element adhered to the second substrate is adhered to a predetermined member by the second adhesive, while the first adhesive is peeled off by being irradiated with ultraviolet rays, and the second substrate. Will be removed. When the thin film piezoelectric element is bonded to a predetermined member, the second base is present, and the mechanical strength of the thin film piezoelectric element is maintained by the second base. As a result, the thin film piezoelectric element can be prevented from being destroyed, the handling thereof is facilitated, and the yield is improved. The second substrate can be easily removed by irradiating with ultraviolet rays. As a result, mass productivity is remarkably improved.
本発明に係る薄膜圧電体素子の接着方法は、薄膜磁気ヘッドを有するヘッドスライダが搭載されるサスペンションに薄膜圧電体素子を接着する薄膜圧電体素子の接着方法であって、第1の基体の上に形成された薄膜圧電体素子を、紫外線が照射されることにより剥離する第1の接着剤により、少なくとも紫外線を透過する第2の基体に接着する工程と、第2の基体に接着する工程の後に、第1の基体を除去する工程と、第1の基体を除去する工程の後に、第2の基体に接着された薄膜圧電体素子をサスペンションの所定の部材に紫外線の照射では剥離しない第2の接着剤により接着する一方、紫外線を照射して第2の基体を除去する工程と、を備えることを特徴とする。
A thin film piezoelectric element bonding method according to the present invention is a thin film piezoelectric element bonding method in which a thin film piezoelectric element is bonded to a suspension on which a head slider having a thin film magnetic head is mounted. A step of adhering the thin film piezoelectric element formed in
本発明に係る薄膜圧電体素子の接着方法では、第1の基体の上に形成された薄膜圧電体素子が第1の接着剤により第2の基体に接着された後に、第1の基体が除去される。そして、第2の基体に接着された薄膜圧電体素子が第2の接着剤によりサスペンションの所定の部材に接着される一方、紫外線が照射されることにより第1の接着剤が剥離し、第2の基体が除去されることとなる。薄膜圧電体素子をサスペンションの所定の部材に接着する際には、第2の基体が存在しており、薄膜圧電体素子の機械的強度が第2の基体により保たれる。これにより、薄膜圧電体素子が破壊されるのを防ぐことができると共に、その取り扱いが容易となり、歩留りが向上される。また、第2の基体は、紫外線を照射することで、容易に除去することができる。これらの結果、量産性が著しく向上される。 In the thin film piezoelectric element bonding method according to the present invention, after the thin film piezoelectric element formed on the first substrate is bonded to the second substrate by the first adhesive, the first substrate is removed. Is done. Then, the thin film piezoelectric element bonded to the second base is bonded to a predetermined member of the suspension by the second adhesive, while the first adhesive is peeled off by being irradiated with ultraviolet rays, and the second The substrate is removed. When the thin film piezoelectric element is bonded to a predetermined member of the suspension, the second base exists, and the mechanical strength of the thin film piezoelectric element is maintained by the second base. As a result, the thin film piezoelectric element can be prevented from being destroyed, the handling thereof is facilitated, and the yield is improved. The second substrate can be easily removed by irradiating with ultraviolet rays. As a result, mass productivity is remarkably improved.
また、第2の接着剤は、紫外線硬化性を有することが好ましい。この場合、紫外線を照射して第1の接着剤を剥離させる際に、第2の接着剤が硬化することとなる。この結果、第2の接着剤を硬化させる工程を新たに設ける必要がなく、工程の簡素化を図ることができる。 In addition, the second adhesive preferably has ultraviolet curable properties. In this case, the second adhesive is cured when the first adhesive is peeled off by irradiating ultraviolet rays. As a result, it is not necessary to newly provide a process for curing the second adhesive, and the process can be simplified.
また、第2の接着剤は、紫外線硬化性及び熱硬化性を有し、第2の基体を除去する工程の後に、加熱して第2の接着剤を硬化させる工程を更に含むことが好ましい。この場合、紫外線を照射して第1の接着剤を剥離させる際に第2の接着剤が仮硬化し、その後の加熱により第2の接着剤が本硬化することとなる。この結果、薄膜圧電体素子を確実に接着することができる。 Moreover, it is preferable that the 2nd adhesive agent has an ultraviolet curable property and a thermosetting property, and further includes the process of heating and hardening a 2nd adhesive agent after the process of removing a 2nd base | substrate. In this case, when the first adhesive is peeled off by irradiation with ultraviolet rays, the second adhesive is temporarily cured, and the second adhesive is finally cured by subsequent heating. As a result, the thin film piezoelectric element can be securely bonded.
また、薄膜圧電体素子は、第1の基体の上に複数形成されており、第2の基体に接着する工程では、各薄膜圧電体素子を第2の基体に接着し、所定の部材に接着する工程の前に、薄膜圧電体素子毎に第2の基体を切断する工程を更に備えることが好ましい。 In addition, a plurality of thin film piezoelectric elements are formed on the first substrate, and in the step of bonding to the second substrate, each thin film piezoelectric element is bonded to the second substrate and bonded to a predetermined member. Preferably, the method further includes a step of cutting the second base for each thin film piezoelectric element before the step of performing.
本発明によれば、薄膜圧電体素子を破壊することなく接着して、量産性を向上させることが可能な薄膜圧電体素子の接着方法を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the adhesion method of the thin film piezoelectric element which can adhere | attach without destroying a thin film piezoelectric element and can improve mass productivity can be provided.
以下、添付図面を参照して、本発明に係る薄膜圧電体素子の接着方法の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、説明において、同一要素又は同一機能を有する要素には、同一符号を用いることとし、重複する説明は省略する。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, a preferred embodiment of a thin film piezoelectric element bonding method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the description, the same reference numerals are used for the same elements or elements having the same function, and redundant description is omitted.
(第1実施形態)
まず、図1(a)〜(c)及び図2(a)〜(c)を参照して、本実施形態に係る薄膜圧電体素子の接着方法について説明する。図1(a)〜(c)及び図2(a)〜(c)は、本実施形態に係る薄膜圧電体素子の接着方法を説明するための図である。
(First embodiment)
First, with reference to FIGS. 1A to 1C and FIGS. 2A to 2C, a method for bonding a thin film piezoelectric element according to this embodiment will be described. FIGS. 1A to 1C and FIGS. 2A to 2C are views for explaining a method of bonding a thin film piezoelectric element according to this embodiment.
本接着方法では、以下の工程(1)〜(4)を順次実行する。 In this bonding method, the following steps (1) to (4) are sequentially performed.
工程(1)
まず、薄膜圧電体素子1が複数形成された第1の基体3(図1(a)参照)と、少なくとも紫外線を透過する第2の基体5とを用意する。そして、第1の基体3の上に形成された各薄膜圧電体素子1と第2の基体5とを紫外線が照射されることにより剥離する第1の接着剤7により接着する(図1(b)参照)。これにより、複数の薄膜圧電体素子1、第1の基体3、及び第2の基体5を含む構造体SAが形成されることとなる。
Process (1)
First, a first base 3 (see FIG. 1A) on which a plurality of thin film
第2の基体5には、例えば石英ガラス基板、紫外線透過プラスチック基板、紫外線透過ガラス基板等を用いることができる。第1の接着剤7には、各社から出ている半導体バックグラインド用テープや同接着剤等を用いることができる。前述したようなテープは紫外線剥離用であり、当該テープのベースフィルムは紫外線を透過する。したがって、第1の接着剤7にこのようなテープを用いる場合、エッチングする際にベースフィルムが溶剤に溶けてしまう等の問題がなければ、このベースフィルムを第2の基体5として用いてもよい。
For the
各薄膜圧電体素子1は、例えば第1の電極金属膜11、薄膜圧電体13、及び第2の電極金属膜15を含み、第1の基体3の上に第1の電極金属膜11、薄膜圧電体13、及び第2の電極金属膜15をこの順で成膜することにより形成される。薄膜圧電体素子1は、第1の電極金属膜11と第2の電極金属膜15との間に電圧が印加されると、薄膜圧電体13が面内方向に伸縮運動し、この運動を用いてアクチュエータ等に用いられる。
Each thin film
第1の基体3には、例えば酸化マグネシア(MgO)を材料とする単結晶基板等を用いることができる。第1の電極金属膜11及び第2の電極金属膜15には、例えばPtやIr等の導電性材料を用いることができる。第1の電極金属膜11及び第2の電極金属膜15の成膜方法には、例えばスパッタリング法、蒸着法、CVD法等の方法を用いることができる。薄膜圧電体13には、例えばチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)、チタン酸バリウム等の圧電材料を用いることができる。薄膜圧電体13の成膜方法には、例えばスパッタリング法、CVD法、レーザーアブレーション法等の方法を用いることができる。
For the
工程(2)
次に、第1の基体3を除去する(図1(c)参照)。この工程では、工程(1)にて得られた構造体SAを第1の基体3をエッチングすることができるエッチング液に浸すことで、構造体SAから第1の基体3をエッチングにより除去する。これにより、複数の薄膜圧電体素子1が第2の基体5に接着された構造体SBが形成されることとなる。
Process (2)
Next, the
使用するエッチング液としては、第1の基体3にMgOの単結晶基板を用いる場合、燐酸水溶液(燐酸の濃度が、例えば30%程度である)が好ましい。また、エッチング速度を速くするために、燐酸水溶液を予め80℃程度に加熱しておくことが好ましい。なお、各薄膜圧電体素子1をエッチング液から保護するために、樹脂等にてコーティングしてもよい。
As an etching solution to be used, when a single crystal substrate of MgO is used for the
工程(3)
次に、工程(2)にて得られた構造体SBの第2の基体5を薄膜圧電体素子1毎に切断する(図2(a)参照)。これにより、構造体SBは、第2の基体5に1つの薄膜圧電体素子1が接着された構造体SCに分離されることとなる。第2の基体5の切断には、ダイシング技術等を用いることができる。
Step (3)
Next, the
工程(4)
次に、工程(3)にて得られた構造体SCの薄膜圧電体素子1と所定の部材との少なくとも一方に紫外線の照射では剥離しない第2の接着剤9を塗布し、所定の部材10の上に第2の接着剤9を介して構造体SCを搭載する(図2(b)参照)。第2の接着剤9には、紫外線硬化性を有する接着剤や、紫外線硬化性及び熱硬化性を有する接着剤を用いることができる。本実施形態では、第2の接着剤9として紫外線硬化性及び熱硬化性を有する接着剤を用いた例を説明する。
Step (4)
Next, the
次に、第2の基体5を除去する。ここでは、所定の部材10の上に第2の接着剤9を介して構造体SCを搭載した状態で、紫外線UVを照射する(同じく、図2(b)参照)。照射された紫外線UVは、第2の基体5を透過し、第1の接着剤7に入射する。これにより、第1の接着剤7が剥離することとなり、第2の基体5が除去される(図2(c)参照)。一方、照射された紫外線UVの一部は第2の接着剤9にも入射し、第2の接着剤9が仮硬化することとなる。
Next, the
次に、薄膜圧電体素子1が仮接着された所定の部材10を加熱し、第2の接着剤9を本硬化させる。これにより、所定の部材10に薄膜圧電体素子1が接着されることとなる。
Next, the
以上のように、本第1実施形態においては、第1の基体3の上に形成された薄膜圧電体素子1が第1の接着剤7により第2の基体5に接着された後に、第1の基体3が除去される。そして、第2の基体5に接着された薄膜圧電体素子1が第2の接着剤9により所定の部材10に接着される一方、紫外線UVが照射されることにより第1の接着剤7が剥離し、第2の基体5が除去されることとなる。薄膜圧電体素子1を所定の部材10に接着する際には、第2の基体5が存在しており、薄膜圧電体素子1の機械的強度が第2の基体5により保たれる。これにより、薄膜圧電体素子1が破壊されるのを防ぐことができると共に、その取り扱いが容易となり、歩留りが向上される。また、第2の基体5は、紫外線を照射することで、容易に除去することができる。これらの結果、量産性が著しく向上される。
As described above, in the first embodiment, after the thin film
また、本第1実施形態において、第2の接着剤9は紫外線硬化性及び熱硬化性を有しており、第2の基体5を除去する工程の後に、加熱により第2の接着剤9を硬化させている。これにより、紫外線を照射して第1の接着剤7を剥離させる際に第2の接着剤9が仮硬化し、その後の加熱により第2の接着剤9が本硬化することとなる。この結果、薄膜圧電体素子1を確実に所定の部材10に接着することができる。
In the first embodiment, the
なお、第2の接着剤9として紫外線硬化性を有する接着剤を用いる場合には、紫外線を照射して第1の接着剤7を剥離させる際に、第2の接着剤9が硬化することとなる。この結果、第2の接着剤9を硬化させる工程を新たに設ける必要がなく、工程の簡素化を図ることができる。
In addition, when using the adhesive which has ultraviolet curing property as the 2nd
(第2実施形態)
続いて、第2実施形態に係る薄膜圧電体素子の接着方法について説明する。まず、本実施形態に係る接着方法が適用されるハードディスク装置の構成について説明する。
(Second Embodiment)
Subsequently, a bonding method of the thin film piezoelectric element according to the second embodiment will be described. First, the configuration of a hard disk device to which the bonding method according to this embodiment is applied will be described.
図3は、本実施形態のハードディスク装置を示す概略構成図である。ハードディスク装置HDDは、筐体CH内に、記録媒体としてのハードディスクHDと、これに磁気情報を記録及び再生するヘッドスタックアセンブリ(HSA)20とを備えている。ハードディスクHDは、図示を省略するモータによって回転させられる。更に、ハードディスク装置HDDには、ハードディスクHDへの情報の記録及び再生等の各種制御を行う制御部CU、及び、薄膜磁気ヘッドをハードディスクHDの上から退避させておくためのランプ機構Rが内蔵されている。 FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing the hard disk device of the present embodiment. The hard disk device HDD includes a hard disk HD as a recording medium and a head stack assembly (HSA) 20 for recording and reproducing magnetic information on the hard disk HD in the housing CH. The hard disk HD is rotated by a motor (not shown). Further, the hard disk device HDD has a built-in control unit CU for performing various controls such as recording and reproduction of information on the hard disk HD and a ramp mechanism R for retracting the thin film magnetic head from the hard disk HD. ing.
ヘッドスタックアセンブリ20は、ボイスコイルモータ(VCM)により支軸21周りに回転自在に支持されたアクチュエータアーム22と、このアクチュエータアーム22に接続されたヘッドジンバルアセンブリ(以下、「HGA」と称す)30とから構成される組立て体を、図の奥行き方向に複数個積層したものである。HGA30には、ハードディスクHDに対向するようにヘッドスライダ32が取り付けられている。
The
HGA30は、薄膜磁気ヘッド31を2段階で変動させる形式を採用しており、この形式を実現するために、薄膜圧電体素子としての薄膜圧電アクチュエータ70が設けられている。薄膜圧電アクチュエータ70は、ヘッドスライダ32を支持ビーム部50に対して相対的に変位させるものである。薄膜磁気ヘッドの比較的大きな移動はボイスコイルモータによるサスペンション40及びアクチュエータアーム22の全体の駆動で制御し、微小な移動は薄膜圧電アクチュエータ70によるヘッドスライダ32の駆動により制御する。
The
支持ビーム部50は、ベースプレート51と、これに張り付けられた連結板52と、ロードビーム53とを備えている。図5に示すように、連結板52は、ベースプレートよりも薄く且つ柔軟性が高くなっており、側方に突出した長方形状の突出部52aと、互いに離隔して延びる一対の連結片52b,52bとが形成されている。各連結片52b,52bには、ロードビーム53が揺動自在に連結されている。ロードビーム53の先端には、ヘッドスライダ32がランプ機構Rに退避している際にスロープに乗り上がるタブ53aが形成されている。尚、ベースプレート51におけるロードビーム53が設けられた側の反対側が、アクチュエータアーム22に接続される側である。また、連結板52とロードビーム53とは一体的に形成してもよい。
The
フレクシャ60は、ポリイミド等で形成された可撓性の配線基板61を有しており、この底面にはステンレス鋼等によって形成された薄板(図示略)が部分的に張り付けられている。フレクシャ60は、レーザスポット溶接によって支持ビーム部50に接着されている。配線基板61は、その後端側にパッド搭載領域61aを有している。パッド搭載領域61aは、連結板52の突出部52aの上に敷かれる形になる。
The
フレクシャ60のパッド搭載領域61aには、記録用の電極62b,63b、薄膜圧電アクチュエータ用の電極64b〜66b、再生用の電極67b,68bが搭載されている。一方、図6の拡大図に示すように、フレクシャ60の先端側には、4つの電極62a,63a,67a,68aが配列されている。また、フレクシャ60の4つの電極62a,63a,67a,68aの後方には、3つの電極64a〜66aが配列されている。電極62a〜68aと電極62b〜68bは、それぞれ配線62c〜68cで電気的に接続されている。各配線62c〜68cは、実際は絶縁膜で覆われている。なお、配線基板61上の配線62c〜68cは、例えばめっき法等の成膜技術によって形成することができる。
In the
電極62a,63aはヘッドスライダ32の記録パッド33,34にそれぞれ接続され、電極67a,68aは再生パッド35,36にそれぞれ接続される。これらの電極同士の接続には、図4に示すようにゴールドボールボンディングが用いられる。
The
ここで、図6及び図7を参照して、薄膜圧電アクチュエータ70の詳細について説明する。薄膜圧電アクチュエータ70は、伸縮方向が互いに異なるように構成された第1領域70a及び第2領域70bを有している。各領域70a,70bは、PZT等の薄膜の圧電素子で構成されており、その周囲は樹脂コーティングされている。尚、薄膜の圧電素子には、厚膜の素子と比較して、軽量、振動に対する周波数特性が良好、設置場所の幅が広い、低電圧で制御可能という様々な利点がある。
Here, the details of the thin
第1領域70aと第2領域70bは、根元付近は樹脂によって一体化されているが、先細りになる先端側は互いに離間している。第1領域70a及び第2領域70bの外側の各辺は並行になっており、対向する内側の辺が外に広がっている。更に、薄膜圧電アクチュエータ70の図中底面側には、それぞれ所定の駆動電圧が印加される電極71a,71b、グランド電位にされる電極71cが設けられている。そして、これらの電極71a,71b,71cは、直接的に、又は、導電部材を介して間接的に、フレクシャ60上の電極66a,64a,65aに電気的に接続される。
The
薄膜圧電アクチュエータ70の電極71a〜71c付近の根元領域は、フレクシャ60の配線基板61に接着される。一方、この根元領域よりも先端側の領域は、フレクシャ60の開口領域に位置するため、ロードビーム53と対面する形になる。
The base region near the
第1領域70a及び第2領域70bは、図7に示されるように、第1の薄膜圧電体13a及び第2の薄膜圧電体13bが積層配置された2層構造を有している。図から見て上部に位置する第1の薄膜圧電体13aの上側および下側には、第1の電極金属膜12aと第2の電極金属膜12bが形成されている。同様に第2の薄膜圧電体13bは、第1の薄膜圧電体13aの下部に配置され、その両面には第3の電極金属膜12cと第4の電極金属膜12dとが設けられている。第2の電極金属膜12bと第3の電極金属膜12cとは接着剤19で接着されている。
As shown in FIG. 7, the
第1の電極金属膜12a及び第4の電極金属膜12dは、電極71aに電気的に接続されている。第2の電極金属膜12bと第3の電極金属膜12cとは、電極71cに電気的に接続されている。電極71a,71bのそれぞれには、第1の薄膜圧電体13a及び第2の薄膜圧電体13bをそれぞれ駆動する駆動電圧が印可される。駆動電圧が印加されると、図7に示されるように、第1の薄膜圧電体13a及び第2の薄膜圧電体13bは駆動電圧に対応して矢印A1,A2方向に伸縮する。電極71a,71bにそれぞれ印加される駆動電圧は、例えばバイアス電圧を中心として互いに逆位相となっている。電極71aにバイアス電圧に対しプラスの駆動電圧が印加されると、第1領域70aにおける第1の薄膜圧電体13a及び第2の薄膜圧電体13bは矢印A1方向に収縮する。一方、電極71bにバイアス電圧に対しプラスの駆動電圧が印加されると、第2領域70bにおける第1の薄膜圧電体13a及び第2の薄膜圧電体13bは矢印A2方向に伸長する。
The first
本実施形態のサスペンション40は、薄膜圧電アクチュエータ70の変位をヘッドスライダ32に伝達する伝達板80を有している。伝達板80は、例えばステンレス鋼等によって形成され、幅方向に延びる帯状の後部83と、幅細で長尺の連結部84を介して後部83に接続された前部85とを有している。前部85の両側には、細長で後部83に向かって平行に延在する可撓性のアーム部86,87が形成されている。
The
以上がHGA30の各要素の構成である。次に、このようなHGA30の組立て過程の一例を説明する。
The above is the configuration of each element of the
まず、図8(a)〜(c)及び図9(a)〜(c)を参照して、薄膜圧電アクチュエータ70の製造過程について説明する。図8(a)〜(c)及び図9(a)〜(c)は、薄膜圧電アクチュエータの製造方法を説明するための図である。薄膜圧電アクチュエータ70の形成は、以下の工程(1)〜(5)に従って行う。
First, with reference to FIGS. 8A to 8C and FIGS. 9A to 9C, a manufacturing process of the thin
工程(1)
第1の基体3上に第1の電極金属膜12a、第1の薄膜圧電体13a、及び第2の電極金属膜12bを形成する(図8(a)参照)。また、第1の基体3上に第3の電極金属膜12c、第2の薄膜圧電体13b、及び第4の電極金属膜12dを形成する(図8(b)参照)。第1〜第4の電極金属膜12a〜12d、第1の薄膜圧電体13a、及び第2の電極金属膜12bの形成方法は、第1実施形態の工程(1)にて説明した方法と同じである。
Process (1)
A first
工程(2)
次に、第2の電極金属膜12bと第4の電極金属膜12cを接着剤19で接着する(図8(c)参照)。
Process (2)
Next, the second
工程(3)
次に、一方の第1の基体3を除去する(図9(a)参照)。第1の基体3の除去方法は、第1実施形態の工程(2)における除去方法と同じである。
Step (3)
Next, one
工程(4)
次に、2層構造の第1の薄膜圧電体13a及び第2の電極金属膜12bを薄膜圧電アクチュエータ70の形状になるようにドライエッチングで成形加工する(図9(b)参照)。
Step (4)
Next, the first thin film
工程(5)
次に、薄膜圧電アクチュエータ70の腐食を回避するために、第1の基体3上において、表面をコーティング樹脂73で覆う(図9(c)参照)。その後、電極71a〜71c(図示略)を形成する。
Step (5)
Next, in order to avoid corrosion of the thin
これらの工程(1)〜(5)により、薄膜圧電アクチュエータ70が第1の基体3の上に形成されることとなる。なお、図示は省略するが、薄膜圧電アクチュエータ70は、第1の基体3の上に複数形成されている。
Through these steps (1) to (5), the thin
続いて、HGA30の組立て過程を説明する。
Next, the assembly process of the
まず、フレクシャ60をレーザスポット溶接にてロードビーム53に接着する。次に、薄膜圧電アクチュエータ70の根元付近をフレクシャ60に接着する。ここで、薄膜圧電アクチュエータ70のフレクシャ60への接着は、以下の工程(1)〜(4)に従って行う。
First, the
工程(1)
第1の基体3の上に形成された各薄膜圧電アクチュエータ70と第2の基体5とを第1の接着剤7により接着する(図10(a)参照)。
Process (1)
Each thin
工程(2)
次に、第1の基体3を除去する(図10(b)参照)。第1の基体3の除去方法は、第1実施形態の工程(2)における除去方法と同じである。
Process (2)
Next, the
工程(3)
次に、複数の薄膜圧電アクチュエータ70が接着された第2の基体5を薄膜圧電体素子1毎に切断する(図10(c)参照)。第2の基体5の切断方法は、第1実施形態の工程(3)における切断方法と同じである。
Step (3)
Next, the
工程(4)
切断された第2の基体5に接着されている薄膜圧電アクチュエータ70とフレクシャ60との少なくとも一方に第2の接着剤9を塗布し、フレクシャ60の上に第2の接着剤9を介して薄膜圧電アクチュエータ70(第2の基体5)を搭載する(図11(a)参照)。
Step (4)
The
次に、フレクシャ60の上に第2の接着剤9を介して薄膜圧電アクチュエータ70(第2の基体5)を搭載した状態で、紫外線UVを照射する。これにより、第1の接着剤7が剥離し、第2の基体5が除去されることとなる(図11(b)参照)。一方、照射された紫外線UVの一部は第2の接着剤9にも入射し、第2の接着剤9が仮硬化することとなる。
Next, ultraviolet light UV is irradiated in a state where the thin film piezoelectric actuator 70 (second base 5) is mounted on the
次に、薄膜圧電アクチュエータ70が仮接着されたフレクシャ60を加熱し、第2の接着剤9を本硬化させる。これにより、フレクシャ60に薄膜圧電アクチュエータ70が接着されることとなる。この際、薄膜圧電アクチュエータ70の底面の電極71a,71b,71c(図示略)と電極65a,66a,64a(図示略)を電気的に接続し、薄膜圧電アクチュエータ70への配電ラインを確立する。薄膜圧電アクチュエータ70は、電極71a,71b,71cと電極66a,64a,65aとを接続することにより、フレクシャ60に固定される。すなわち、薄膜圧電アクチュエータ70は、電極71a〜71c(電極64a〜66a)の位置でのみフレクシャ60に接続され、ロードビーム53から浮いた状態となっている。
Next, the
再び、HGAの組立て過程の説明に戻る。フレクシャ60に薄膜圧電アクチュエータ70を接着すると、薄膜圧電アクチュエータ70及びフレクシャ60に対して伝達板80を位置決め固定する。この際、図6中のポイントXにおいて、伝達板80の後部83と薄膜圧電アクチュエータ70を接着剤等で接着する。また、第1領域70a及び第2領域70bの先端部分をそれぞれ対応するアーム部86,87に接着剤等で接着する。これにより、本実施形態のサスペンション40が得られる。次いで、伝達板80の前部85にヘッドスライダ32を接着することにより、HGA30が得られる。
Returning to the description of the assembly process of the HGA again. When the thin
更に、このようにして得られたHGA30にアクチュエータアーム22を連結してヘッドスタックアセンブリ20を構成し、これをハードディスクHD上に移動可能に組み立てることで、本実施形態のハードディスク装置HDDを作製することができる。
Further, the
以上のように、本第2実施形態においては、第1の基体3の上に形成された薄膜圧電アクチュエータ70が第1の接着剤7により第2の基体5に接着された後に、第1の基体3が除去される。そして、第2の基体5に接着された薄膜圧電アクチュエータ70が第2の接着剤9によりサスペンション40の所定の部材(フレクシャ60)に接着される一方、紫外線UVが照射されることにより第1の接着剤7が剥離し、第2の基体5が除去されることとなる。薄膜圧電アクチュエータ70をフレクシャ60に接着する際には、第2の基体5が存在しており、薄膜圧電アクチュエータ70の機械的強度が第2の基体5により保たれる。これにより、薄膜圧電アクチュエータ70が破壊されるのを防ぐことができると共に、その取り扱いが容易となり、歩留りが向上される。また、第2の基体5は、紫外線UVを照射することで、容易に除去することができる。これらの結果、量産性が著しく向上される。
As described above, in the second embodiment, after the thin
なお、HGA30の組立て手順は上記のものに限られず、次のような変形例も実施することができる。例えば、伝達板80にヘッドスライダ32を搭載した後に、これをフレクシャ60に接着された薄膜圧電アクチュエータ70に接続するという手順である。また、ヘッドスライダ32、伝達板80、及び薄膜圧電アクチュエータ70を一体に組み立てた後に、これをフレクシャ60上に載せてもよい。あるいは、伝達板80及び薄膜圧電アクチュエータ70を一体に組み立てたものをフレクシャ60上に搭載し、伝達板80にヘッドスライダ32を載せてもよい。フレクシャ60への搭載前に伝達板80と薄膜圧電アクチュエータ70とを接着する場合、当該接着の方法は、上述した薄膜圧電アクチュエータ70をフレクシャ60に接着する方法(工程(1)〜(4))においてフレクシャ60を伝達板80に置き換えることにより実現できる。
In addition, the assembly procedure of HGA30 is not restricted to the above, The following modifications can also be implemented. For example, after the
以上、本発明者らによってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、薄膜圧電体素子1及び薄膜圧電アクチュエータ70の構成は、上述した層構成に限られるものではない。また、第2の接着剤9は、紫外線硬化性を有する接着剤以外の接着剤でもよい。紫外線硬化性を有する接着剤以外の接着剤を用いる場合、薄膜圧電体素子1(薄膜圧電アクチュエータ70)の位置ズレ等を防ぐために、紫外線を照射して第1の接着剤7を剥離させる前に第2の接着剤9を硬化あるいは仮硬化させておくことが好ましい。
As mentioned above, although the invention made by the present inventors has been specifically described based on the embodiment, the present invention is not limited to the above embodiment. For example, the configuration of the thin film
また、本実施形態においては、第1の基体3の上に複数の薄膜圧電体素子1(薄膜圧電アクチュエータ70)を形成しているので、第2の基体5を薄膜圧電体素子1(薄膜圧電アクチュエータ70)毎に切断している。しかしながら、第1の基体3の上に1個の薄膜圧電体素子1(薄膜圧電アクチュエータ70)を形成する場合は、必ずしも第2の基体5を切断する必要はない。
Further, in the present embodiment, since the plurality of thin film piezoelectric elements 1 (thin film piezoelectric actuators 70) are formed on the
また、第1実施形態における第1及び第2の電極金属膜11,15、及び、第2実施形態における第1〜第4の電極金属膜12a〜12dの代わりに、IrOといった導電性酸化物や導電性樹脂等の導電性材料からなる電極膜を形成するようにしてもよい。また、第2実施形態において、伝達板80を設けることなく、ヘッドスライダ32を薄膜圧電アクチュエータ70に直接搭載するように構成してもよい。更に、記録媒体に対して記録及び再生の双方を行う薄膜磁気ヘッドに代えて、記録又は再生の一方のみを行う薄膜磁気ヘッドを用いてもよい。
Further, instead of the first and second
1…薄膜圧電体素子、3…第1の基体、5…第2の基体、7…第1の接着剤、9…第2の接着剤、10…所定の部材、20…ヘッドスタックアセンブリ、31…薄膜磁気ヘッド、32…ヘッドスライダ、30…ヘッドジンバルアセンブリ、40…サスペンション、50…支持ビーム部、60…フレクシャ、70…薄膜圧電アクチュエータ、80…伝達板、HDD…ハードディスク装置、UV…紫外線。
DESCRIPTION OF
Claims (8)
第1の基体の上に形成された前記薄膜圧電体素子を、紫外線が照射されることにより剥離する第1の接着剤により、少なくとも紫外線を透過する第2の基体に接着する工程と、
前記第2の基体に接着する前記工程の後に、前記第1の基体を除去する工程と、
前記第1の基体を除去する前記工程の後に、前記第2の基体に接着された前記薄膜圧電体素子を前記所定の部材に紫外線の照射では剥離しない第2の接着剤により接着する一方、紫外線を照射して前記第2の基体を除去する工程と、を備えることを特徴とする薄膜圧電体素子の接着方法。 A thin film piezoelectric element bonding method for bonding a thin film piezoelectric element to a predetermined member,
Adhering the thin film piezoelectric element formed on the first substrate to a second substrate that transmits at least ultraviolet rays with a first adhesive that is peeled off when irradiated with ultraviolet rays;
Removing the first substrate after the step of bonding to the second substrate;
After the step of removing the first substrate, the thin film piezoelectric element bonded to the second substrate is bonded to the predetermined member with a second adhesive that does not peel off when irradiated with ultraviolet rays, while And a step of removing the second substrate by irradiating the thin film piezoelectric element.
前記第2の基体を除去する前記工程の後に、加熱して前記第2の接着剤を硬化させる工程を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の薄膜圧電体素子の接着方法。 The second adhesive has ultraviolet curing properties and thermosetting properties,
2. The method for bonding a thin film piezoelectric element according to claim 1, further comprising a step of heating and curing the second adhesive after the step of removing the second substrate.
前記第2の基体に接着する前記工程では、前記各薄膜圧電体素子を前記第2の基体に接着し、
前記所定の部材に接着する前記工程の前に、前記薄膜圧電体素子毎に前記第2の基体を切断する工程を更に備えることを特徴とする請求項1に記載の薄膜圧電体素子の接着方法。 A plurality of the thin film piezoelectric elements are formed on the first substrate,
In the step of bonding to the second substrate, the thin film piezoelectric elements are bonded to the second substrate,
The thin film piezoelectric element bonding method according to claim 1, further comprising a step of cutting the second base for each thin film piezoelectric element before the step of bonding to the predetermined member. .
第1の基体の上に形成された前記薄膜圧電体素子を、紫外線が照射されることにより剥離する第1の接着剤により、少なくとも紫外線を透過する第2の基体に接着する工程と、
前記第2の基体に接着する前記工程の後に、前記第1の基体を除去する工程と、
前記第1の基体を除去する前記工程の後に、前記第2の基体に接着された前記薄膜圧電体素子を前記サスペンションの所定の部材に紫外線の照射では剥離しない第2の接着剤により接着する一方、紫外線を照射して前記第2の基体を除去する工程と、を備えることを特徴とする薄膜圧電体素子の接着方法。 A thin film piezoelectric element bonding method for bonding a thin film piezoelectric element to a suspension on which a head slider having a thin film magnetic head is mounted,
Adhering the thin film piezoelectric element formed on the first substrate to a second substrate that transmits at least ultraviolet rays with a first adhesive that is peeled off when irradiated with ultraviolet rays;
Removing the first substrate after the step of bonding to the second substrate;
After the step of removing the first substrate, the thin film piezoelectric element bonded to the second substrate is bonded to a predetermined member of the suspension with a second adhesive that is not peeled off by ultraviolet irradiation. And a step of removing the second substrate by irradiating with ultraviolet rays, and a method of bonding a thin film piezoelectric element.
前記第2の基体を除去する前記工程の後に、加熱して前記第2の接着剤を硬化させる工程を更に含むことを特徴とする請求項5に記載の薄膜圧電体素子の接着方法。 The second adhesive has ultraviolet curing properties and thermosetting properties,
6. The method of bonding a thin film piezoelectric element according to claim 5, further comprising a step of heating and curing the second adhesive after the step of removing the second substrate.
前記第2の基体に接着する前記工程では、前記各薄膜圧電体素子を前記第2の基体に接着し、
前記所定の部材に接着する前記工程の前に、前記薄膜圧電体素子毎に前記第2の基体を切断する工程を更に備えることを特徴とする請求項5に記載の薄膜圧電体素子の接着方法。
A plurality of the thin film piezoelectric elements are formed on the first substrate,
In the step of bonding to the second substrate, the thin film piezoelectric elements are bonded to the second substrate,
6. The method of bonding a thin film piezoelectric element according to claim 5, further comprising a step of cutting the second base for each thin film piezoelectric element before the step of bonding to the predetermined member. .
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---|---|---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060921 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070927 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |