JP2005117093A - 温度制御回路とこれを用いた高安定水晶発振器 - Google Patents
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Abstract
【課題】 高安定水晶発振器用温度制御回路における温度センサ感度を大きくし、水晶振動子の保持温度を精度よく設定する手段を得る。
【解決手段】 サーミスタ、差動オペアンプ、定電圧素子、パワートランジスタ、ヒータからなる高安定水晶発振器用温度制御回路であって、前記定電圧素子で生成する定電圧を抵抗と第1のサーミスタとで分圧した電圧を前記差動オペアンプのプラス側入力に、前記定電圧を第2のサーミスタと可変抵抗とで分圧した電圧をマイナス側入力に加えてヒータ回路を制御するようにする。
【選択図】 図2
【解決手段】 サーミスタ、差動オペアンプ、定電圧素子、パワートランジスタ、ヒータからなる高安定水晶発振器用温度制御回路であって、前記定電圧素子で生成する定電圧を抵抗と第1のサーミスタとで分圧した電圧を前記差動オペアンプのプラス側入力に、前記定電圧を第2のサーミスタと可変抵抗とで分圧した電圧をマイナス側入力に加えてヒータ回路を制御するようにする。
【選択図】 図2
Description
本発明は、高安定水晶発振器の温度制御回路に関し、特に温度センサ部の感度を改良した温度制御回路に関するものである。
高安定水晶発振器は優れた周波数精度、周波数温度特性、周波数エージング特性等を有することから、移動体無線基地局から高精度の測定器まで多くの用途に用いられている。高安定水晶発振器の構造は、周囲温度が変動しても発振周波数が変化しないように、水晶振動子及び発振回路の近傍の温度を一定に保つような構造となっている。より高精度を要する高安定水晶発振器には、2回回転カットのSCカット水晶振動子等が用いられており、ATカット水晶振動子を用いた場合に比べて、応力感度特性や熱衝撃特性等に優れた水晶発振器が得られることが知られている。
従来の高安定水晶発振器は、アルミニウムブロックに穴空け加工し、該穴に水晶振動子と感温素子のサーミスタとを収容すると共に、アルミニウムブロックの周囲にニクロム線を巻いた恒温槽を用いたタイプの高安定水晶発振器が一般的であった。しかし、その周波数安定度は優れているものの、アルミニウムのブロックが小型化、低消費電力化の妨げになっていた。そこで、これを改善すべく、特開平11−214929号報にアルミニウムブロックを省略し、水晶振動子の金属カンを直接加熱して温度制御するたタイプの高安定水晶発振器が開示されている。
また、特開平11−317622号報には感温素子のサーミスタを複数直列接続して、センサ感度を改善した温度制御回路も開示されている。
また、特開平11−317622号報には感温素子のサーミスタを複数直列接続して、センサ感度を改善した温度制御回路も開示されている。
図6は高安定水晶発振器の内部の主要部の構造を示す側面断面図であって、プリント基板31の一方の面に表面実装型の小型ヒータ32を、間隔を隔して複数個配置すると共に、該ヒータ32と接するように水晶振動子33を載置する。水晶振動子33の底部絶縁部を貫通して伸びるリード端子34を曲げてプリント基板31に半田付けした上で、リード端子34に接するように表面実装型の小型ヒータ35がプリント基板31上に配置されている。さらに、小型ヒータ35と接触するように感温素子のサーミスタ36を配置すると共に、プリント基板31の他方の面に発振回路37と温度制御回路38とを半田付けする。なお、水晶振動子33は水晶基板39の両面に金属の薄膜電極40を蒸着等の手段で付着し、リード端子にて保持された状態で金属カンの中に真空密封したものである。
図7は、水晶振動子の温度を一定に保持するための温度制御回路の構成を示す図である。温度制御回路の構成は、温度センサであるサーミスタTH1と抵抗R1とを直列接続し、その中点を抵抗R4を介して差動オペアンプOPのマイナス側入力と接続する。そして、抵抗R2とR3とを直列接続し、その中点を差動オペアンプOPのプラス側入力と接続する。また、抵抗R2とサーミスタTH1の他方の端子は定電圧素子Reg(定電圧IC)を介して電源Vccに接続すると共に、抵抗R1、R3の他方の端子は接地する。差動オペアンプOPの出力とマイナス入力との間には帰還抵抗R5を接続する。さらに、差動オペアンプOPの出力は抵抗R6を介してパワートランジスタTR1のベースに接続し、エミッタを接地すると共に、電源Vccとコレクタとの間に小型ヒータ素子H1、H2、H3を並列接続する。なお、抵抗R7はベースバイアス抵抗、容量C1、C2、C3はバイパス容量である。
図7に示す温度制御回路について簡単に説明すると、差動オペアンプOPはプラス側入力とマイナス側入力との電圧差に応じた電圧を出力するように動作する。差動オペアンプOPのプラス側入力には、定電圧素子Regで制御された定電圧が抵抗R2、R3で分圧されて印加されている。サーミスタTH1の近傍が低温であるとサーミスタTH1の抵抗が大きくなり、マイナス側入力の電圧が高くなるので、出力電圧は高くなる。差動オペアンプOPの出力電圧が高いとパワートランジスタTR1のベース電圧が高くなるので、ヒータH1、H2、H3に供給されるコレクタ電流も大きくなり、温度も上昇する。設定された温度、即ちサーミスタTH1の抵抗が低下し、マイナス側入力の電圧と、プラス側入力の電圧(抵抗R2、R3で分圧された一定の電圧)とがほぼ等しくなると、所定の一定の温度を保持するように動作する。
特開平11−214929号公報
特開平11−317622号公報
解決しようとする問題点は、従来の高安定水晶発振器の温度制御回路においては、感温素子であるサーミスタTH1の温度感度特性(B定数)が温度制御回路の精度を決定することになるが、汎用のサーミスタ素子では十分に温度感度が得られないため、水晶振動子の近傍の温度を精度よく保持することは難しかった。
本発明は、サーミスタと差動オペアンプと定電圧素子とパワートランジスタとヒータと含む高安定水晶発振器用温度制御回路において、前記定電圧素子で生成する定電圧を抵抗と第1のサーミスタとで分圧した電圧を前記差動オペアンプのプラス側入力に加え、前記定電圧を第2のサーミスタと可変抵抗とで分圧した電圧をマイナス側入力に加えてヒータ回路を制御するため、温度センサ感度を大きくできるので水晶振動子の温度を精度よく保持することを特徴とする。
本発明の高安定水晶発振器用の温度制御回路は、差動オペアンプのプラス側、マイナス側のそれぞれの入力に感温素子のサーミスタを用いて、センサ感度を高めたので、ヒータと感温素子、ヒータと水晶振動子とのタイムラグを少なくし、水晶振動子の温度を精度よく制御できるという利点がある。
図1は本発明に係る高安定水晶発振器の構造を示す側面断面図であって、プリント基板1の一方の面に表面実装型の小型ヒータ2を、間隔を隔して配置すると共に、該ヒータ2と接するように水晶振動子3を載置する。ヒータ2の間にサーミスタ4を配置すると共に、水晶振動子3の金属カンに密着固定する。そして、水晶振動子3の底部と発振回路用のプリント基板5との間にサーミスタ6を挟むように、水晶振動子3の底部を絶縁貫通するリード端子7をプリント基板6に半田付けすると共に、該プリント基板6の他方の面には発振回路用の電子部品8を半田付けする。
一方、プリント基板1の他方の面に温度制御用の電子部品9を半田付けすると共に、プリント基板1と5をL字型金具10等を用いて固定する。そして、ベース11に絶縁貫通する端子12とプリント基板1とを導通固定した上で、金属ケース13をベース11に被せて高安定水晶発振器を構成する。
なお、水晶振動子3は水晶基板14の両面に金属の薄膜電極15を蒸着等の手段で付着し、リード端子7で保持した状態で金属カンの中に真空密封したものである。
一方、プリント基板1の他方の面に温度制御用の電子部品9を半田付けすると共に、プリント基板1と5をL字型金具10等を用いて固定する。そして、ベース11に絶縁貫通する端子12とプリント基板1とを導通固定した上で、金属ケース13をベース11に被せて高安定水晶発振器を構成する。
なお、水晶振動子3は水晶基板14の両面に金属の薄膜電極15を蒸着等の手段で付着し、リード端子7で保持した状態で金属カンの中に真空密封したものである。
図2は本発明に係る高安定水晶発振器用の温度制御回路の実施例を示す図であって、抵抗R1とサーミスタTH1とを直列接続して分圧回路を構成すると共に、その中点を差動オペアンプ(CMOSタイプ)OPのプラス側入力と接続し、サーミスタTH1の他方の端子を接地する。そして、サーミスタTH2と可変抵抗R2とを直列接続して分圧回路を構成し、その中点を差動オペアンプOPのマイナス側入力と接続すると共に、可変抵抗R2の他の端子を可変抵抗R3と直列接続し、可変抵抗R3の他方の端子を接地する。さらに、抵抗R1とサーミスタTH2の一方の端子は定電圧素子Reg(定電圧IC)を介して電源Vccに接続する。差動オペアンプOPの出力とマイナス入力との間には帰還抵抗R4を接続する。そして、差動オペアンプOPの出力は抵抗R5を介してMOS EFTのパワートランジスタTR1のゲートに接続し、電源Vccとドレインとの間に小型ヒータ素子H1を、ソースとを接地との間にヒータH2を接続する。なお、容量C1、C2、C3はバイパス容量である。
MOS EFTのパワートランジスタは電圧制御であるため、小型のC−MOS差動オペアンプを用いることが可能となる。
MOS EFTのパワートランジスタは電圧制御であるため、小型のC−MOS差動オペアンプを用いることが可能となる。
図2に示す温度制御回路について簡単に説明すると、温度が設定温度より低いときにはサーミスタTH1、TH2の抵抗が高くので、プラス側入力電圧V+は高くなり、マイナス側の入力電圧V−は低くなる。そして、CMOS型差動オペアンプOPの出力はオープン利得をAとして、電圧A(V+−V−)が出力され、該電圧がMOS−EFTトランジスタのゲートに印加されるので、ソース、ドレイン間には出力電圧A(V+−V−)に応じた電流が供給され、ヒータH1、H2が加熱される。加熱されて水晶振動子の近傍の温度が高くなると、サーミスタTH1、TH2の抵抗値が低下するので、プラス側入力電圧V+は下がり、マイナス側の入力電圧V−は上昇して、電圧差(V+−V−)が小さくなる。その結果、出力電圧A(V+−V−)は小さくなり、ソース、ドレイン間に供給される電流も小さくなる。やがて、入力電圧差(V+−V−)が零となるとMOS−EFTトランジスタがOFFとなるので電流の供給は停止し、設定された温度を保持することになる。
なお、温度制御用抵抗R2、R3を可変することにより、水晶振動子3の設定温度を変えることができる。
なお、温度制御用抵抗R2、R3を可変することにより、水晶振動子3の設定温度を変えることができる。
温度t℃におけるサーミスタの抵抗R(t)は、周知のように次式で表すことができる
R(t)=R0expB(1/(t+273)−1/(t0+273)) (1)
ここで、t0は常温(25℃)、R0は常温での抵抗値、Bは所謂B定数である。
図2に示すようにプラス側入力電圧V+と、マイナス側の入力電圧V−と、定電圧素子Regの出力Vrefとを用いて、差動オペアンプOPの出力電圧Vout=A(V+−V−)を求め、差動オペアンプOPの利得Aを∞として、シミュレーションにより出力電圧Voutの一例を求めたものが図3に示す直線Aである。横軸を温度、縦軸を出力電圧Voutとし、温度制御回路の定数は、Vref=3.3V、R1=20kΩ、(R2+R3)=20kΩ、R4=200kΩ、サーミスタTH1、TH2のそれぞれのB定数をB=4400、それぞれ常温抵抗R0をR0=200kΩと設定した。直線Bは従来の温度制御回路、つまりサーミスタを1個用いた場合であり、図2においてサーミスタTH1を固定抵抗20kΩで置き換えることにより、出力電圧を求めものである。
本発明に係る温度制御回路の特性である直線Aの傾斜、即ちセンサ感度は、−1.2V/℃である。つまり、1℃の温度変化に対し、1.2Vの電圧低下を示すことになる。これに対し、従来の回路の直線Bのセンサ感度は−0.62V/℃であり、本発明に係る温度制御回路のセンサ感度は約2倍の感度を有すことになる。
R(t)=R0expB(1/(t+273)−1/(t0+273)) (1)
ここで、t0は常温(25℃)、R0は常温での抵抗値、Bは所謂B定数である。
図2に示すようにプラス側入力電圧V+と、マイナス側の入力電圧V−と、定電圧素子Regの出力Vrefとを用いて、差動オペアンプOPの出力電圧Vout=A(V+−V−)を求め、差動オペアンプOPの利得Aを∞として、シミュレーションにより出力電圧Voutの一例を求めたものが図3に示す直線Aである。横軸を温度、縦軸を出力電圧Voutとし、温度制御回路の定数は、Vref=3.3V、R1=20kΩ、(R2+R3)=20kΩ、R4=200kΩ、サーミスタTH1、TH2のそれぞれのB定数をB=4400、それぞれ常温抵抗R0をR0=200kΩと設定した。直線Bは従来の温度制御回路、つまりサーミスタを1個用いた場合であり、図2においてサーミスタTH1を固定抵抗20kΩで置き換えることにより、出力電圧を求めものである。
本発明に係る温度制御回路の特性である直線Aの傾斜、即ちセンサ感度は、−1.2V/℃である。つまり、1℃の温度変化に対し、1.2Vの電圧低下を示すことになる。これに対し、従来の回路の直線Bのセンサ感度は−0.62V/℃であり、本発明に係る温度制御回路のセンサ感度は約2倍の感度を有すことになる。
図2に示すサーミスタTH2は、図1に示した2つのヒータ2の間に配置して、熱源との熱結合を強くし、サーミスタTH1は図1に示した水晶振動子3の底部に配置する。サーミスタTH2とヒータ2(図2のH1、H2)との熱結合が強い場合には、ヒータ2(H1、H2)から発生する熱と感知するサーミスタTH2とのタイムラグが小さく、所謂ハンチング現象が発生しにくく、安定な温度制御が可能となる。
また、水晶振動子3の温度に最も大きな影響を及ぼすのは、水晶基板14に付着した電極15と直結するリード端子7であるが、図1に示すようにヒータ2からの離れており、ヒータ2とサーミスタTH1との感知温度とにタイムラグが発生するおそれがあったが、本発明の温度制御回路を用いることにより、センサ感度を大きく設定することが可能となったのでこのおそれも解消した。
また、水晶振動子3の温度に最も大きな影響を及ぼすのは、水晶基板14に付着した電極15と直結するリード端子7であるが、図1に示すようにヒータ2からの離れており、ヒータ2とサーミスタTH1との感知温度とにタイムラグが発生するおそれがあったが、本発明の温度制御回路を用いることにより、センサ感度を大きく設定することが可能となったのでこのおそれも解消した。
図4は本発明に係る第2の実施例の温度制御回路の構成を示す図であって、図2と異なるところは、図1に示すサーミスタTH1に可変抵抗R6を並列接続したことと、サーミスタTH2に可変抵抗R7を並列接続したことである。
即ち、発振器の構造に応じてサーミスタTH1、TH2のB定数を可変するのでなく、並列抵抗R6、R7を可変することにより、それぞれのサーミスタのB定数を可変するに等しい効果を得ることができる。
即ち、発振器の構造に応じてサーミスタTH1、TH2のB定数を可変するのでなく、並列抵抗R6、R7を可変することにより、それぞれのサーミスタのB定数を可変するに等しい効果を得ることができる。
図5は本発明に係る第3の実施例の温度制御回路の構成を示す図であって、図2と異なるところは、図1に示すサーミスタTH1にサーミスタTH3を並列接続したことと、サーミスタTH2にサーミスタTH4を並列接続したことである。
即ち、図2に示す回路はサーミスタ2個を用いて温度制御を行うようにしたものであるが、より高精度の高安定水晶発振器を実現するには、複数のサーミスタを分散配置して温度制御を行う方が適している。図4は複数のサーミスタを分散配置した1例として4個のサーミスタを用いる場合の温度制御回路の構成を示す。
即ち、図2に示す回路はサーミスタ2個を用いて温度制御を行うようにしたものであるが、より高精度の高安定水晶発振器を実現するには、複数のサーミスタを分散配置して温度制御を行う方が適している。図4は複数のサーミスタを分散配置した1例として4個のサーミスタを用いる場合の温度制御回路の構成を示す。
1、5 プリント基板
2 ヒータ
3 水晶振動子
4、6 サーミスタ
7 リード端子
電子部品
10 L型金具
11 ベース
12 端子
13 ケース
14 水晶基板
15 電極
R1、R4、R5 抵抗
R2、R3、R6、R7 可変抵抗
TH1、TH2、TH3、TH4 サーミスタ
C1、C2、C3 容量
OP CMOS型差動オペアンプ
TR1 MOS型EFT
H1、H2 ヒータ
2 ヒータ
3 水晶振動子
4、6 サーミスタ
7 リード端子
電子部品
10 L型金具
11 ベース
12 端子
13 ケース
14 水晶基板
15 電極
R1、R4、R5 抵抗
R2、R3、R6、R7 可変抵抗
TH1、TH2、TH3、TH4 サーミスタ
C1、C2、C3 容量
OP CMOS型差動オペアンプ
TR1 MOS型EFT
H1、H2 ヒータ
Claims (5)
- ヒータを所定の温度に制御するための温度制御回路であって、
定電圧を出力する定電圧素子と、該定電圧素子の出力を分圧する第1サーミスタと抵抗とを有する第1の分圧回路と、前記定電圧素子の出力を分圧する第2のサーミスタと可変抵抗とを有する第2の分圧回路と、前記第1の分圧回路にて分圧した電圧をプラス側入力端に前記第2の分圧回路にて分圧した電圧をマイナス側入力端にそれぞれ入力した差動アンプの出力を以て温度を制御することを特徴とする温度制御回路。 - 前記可変抵抗が2つの可変抵抗を直列接続して構成したものであることを特徴とする請求項1に記載の温度制御回路。
- 前記第1のサーミスタに抵抗を並列接続し、前記第2のサーミスタに抵抗を並列接続したことを特徴とする請求項1あるいは2に記載の温度制御回路。
- 前記第1のサーミスタに第3のサーミスタを並列接続し、前記第2のサーミスタに第4のサーミスタを並列接続したことを特徴とする請求項1あるいは2に記載の温度制御回路。
- 水晶発振器にヒータを内蔵すると共に請求項1乃至4のいずれかに記載の温度制御回路にてヒータの温度を制御したことを特徴とする高安定水晶発振器。
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JP2003344738A JP2005117093A (ja) | 2003-10-02 | 2003-10-02 | 温度制御回路とこれを用いた高安定水晶発振器 |
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-
2003
- 2003-10-02 JP JP2003344738A patent/JP2005117093A/ja active Pending
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