JP2005197207A - 有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成するための方法及び装置 - Google Patents
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 60
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 120
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 75
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 31
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 16
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 49
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10K71/16—Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10K71/10—Deposition of organic active material
- H10K71/191—Deposition of organic active material characterised by provisions for the orientation or alignment of the layer to be deposited
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Abstract
【解決課題】有機エレクトロルミネセント素子の薄膜層を形成する方法において、非真空環境下にマスクと基板との位置合わせを行い、その後真空環境下に薄膜層を形成することによって膜形成装置の処理能力を向上する。
【解決方法】スクを準備し、基板とマスクを非真空環境下で位置合わせして、基板とマスクとを固定し、固定した基板とマスクを真空下に移送して、マスクによってパターン化した薄膜層を形成する工程によって、基板上にパターン化した薄膜層を形成するのに適合する、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法を開示する。
【選択図】図3
【解決方法】スクを準備し、基板とマスクを非真空環境下で位置合わせして、基板とマスクとを固定し、固定した基板とマスクを真空下に移送して、マスクによってパターン化した薄膜層を形成する工程によって、基板上にパターン化した薄膜層を形成するのに適合する、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法を開示する。
【選択図】図3
Description
本発明は、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成するための方法及び装置に関する。より詳しく述べると、本発明は処理能力を向上する、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成するための方法及び装置に関する。
有機エレクトロルミネセント素子(OEL装置)は、効率的に電気を光子に変換する素子である。さらに、OEL素子は、低作動電圧、高量子効率、広い視角、簡単なプロセス、低コスト、高速応答性、全色特性等の利点があり、ディスプレイ用途に応用することができる。従って、OEL素子は指示ランプ、ディスプレイ及び光学的ピックアップにおいて広く使用されてきた。
有機エレクトロルミネセント素子は、有機機能性物質の自己発光特性を利用してディスプレイ機能を遂行する素子である。この種の有機エレクトロルミネセント素子には、有機機能性物質の分子量に従い低分子量有機エレクトロルミネセント素子(SM−OEL)及びポリマーエレクトロルミネセント素子(PEL)とが含まれる。
有機エレクトロルミネセント素子は、ガラス基板、金属電極、インジウムースズ酸化物(ITO)電極、有機エレクトロルミネセント層とからなる。金属電極はカーソードとして作動し、ITO電極はアノードとして作動する。両電極間に順方向バイアスを付与すると、電子とホールとがそれぞれ金属電極及びITO層とから有機エレクトロルミネセント層中に注入される。電子はホールと結合して、発光光子を発生する。有機エレクトロルミネセント素子のカーソードを形成する従来の方法を、以下に記載する。
図5は、有機エレクトロルミネセント素子のカーソードを形成する従来の膜形成装置を示す模式図である。図5において、本装置は、搭載チェンバ210と、複数の真空チェンバ220と、アンロードチェンバ230と、第1の膜形成装置240aと、第2の膜形成装置240bとを有する。真空チェンバ220は、接続チェンバ222と、第1の膜形成チェンバ224と第2の膜形成チェンバ226とからなる。さらに、搭載チェンバ210とアンロードチェンバ230とは真空チェンバ220にそれぞれ接続されている。第1膜形成チェンバ224及び第2の膜形成チェンバ226とは、それぞれ接続チェンバ222に接続されている。さらに、接続チェンバ222は搭載チェンバ210とアンロードチェンバ230とに接続されている。また、第1の膜形成装置内240aは第1の膜形成チェンバ224に配置され、第2の膜形成装置240bは第2の膜形成チェンバ226内に配置されている。
以下に、従来の膜形成装置内の有機エレクトロルミネセント素子のカーソードを形成するためのプロセスの流れについて説明する。まず、基板100を準備する。基板100は、パターン化したアノードとその上に形成した有機エレクトロルミネセント層とを有する。さらに、有機エレクトロルミネセント層は、単色の有機エレクトロルミネセント層となっている。
基板100は、経路250に沿って搭載チェンバ210、ゲート212、接続チェンバ222及びゲート224aを通って第1の膜形成チェンバ224に移送される。第1の膜形成装置224によって、第1の導電層が基板100上に形成される。次に、基板100は経路250に沿って第1の膜形成装置224、ゲート224a、接続チェンバ222及びゲート226aを通って第2の膜形成チェンバ226に移送される。第2の膜形成装置240bによって第2の導電層が基板100上に形成される。
第2の導電層を形成後、基板100は経路250に沿って第2の膜形成チェンバ226、ゲート226a、接続チェンバ222及びゲート222aを通ってアンロードチェンバ230に移送される。これによって、先行技術の有機エレクトロルミネセント素子のカーソードの形成方法は完了する。上述したように、搭載チェンバ210とアンロードチェンバ230とは、個々に、非真空大気環境あるいは真空環境となっている。接続チェンバ222、第1の膜形成チェンバ224及び第2の膜形成チェンバ226は真空環境となっている。
先行技術の方法では、第1と第2の導電層を形成する前に基板とマスクとの位置合わせを行う必要性があったことに留意すべきである。2層の導電層を形成する方法に関しては、2回位置合わせを行うことが必要となる。従って、該装置のカーソードを形成するための工程に要する時間は長くなる。さらに、位置合わせ装置を含めるためには、膜形成チェンバ空間を広げなければならず、このことは広い真空領域を必要とすることを意味する。従って、装置のコストも上昇する。また、位置合わせ装置が正常に作動しない場合には、膜形成チェンバ内の位置合わせ装置を修理しなければならず、膜形成チェンバの真空環境を維持できない。別の視点から、位置合わせ装置を修理した後、膜形成チェンバの環境を真空環境として回復しなければならない。
従って、本発明は有機エレクトロルミネセント素子の薄膜層を形成する方法を提供することを目的とし、該方法は非真空環境下にマスクと基板との位置合わせを行い、その後真空環境下に薄膜層を形成することによって膜形成装置の処理能力を向上する方法を提供するものである。
本発明は、位置合わせチェンバを有する膜形成装置を提供するものである。位置合わせチェンバ内に配置した位置合わせ装置が故障しても、膜形成装置は依然として薄膜層を形成することが可能となる。
本発明は、基板上にパターン化した薄膜層を形成するようにした、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜層を形成するための方法を開示する。本方法は、マスクを準備し、基板とマスクを非真空環境下で位置合わせして、基板とマスクとを固定し、固定した基板とマスクとを真空下に移送して、マスクによってパターン化した薄膜層を形成する工程からなる。
本発明の機エレクトロルミネセント装置の薄膜層を形成するための好ましい方法によれば、前記非真空環境は大気環境あるいは水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmとした環境である。さらに、前記パターン化した薄膜層は、例えば、蒸着あるいはスパッタリングによって形成される。前記パターン化した薄膜層を形成する工程は、例えば、マスクを使用して基板上に第1の導電層を形成し、該マスクを使用して該第1の導電層上に第2の導電層を形成する工程からなる。
上記目的を達成するため、本発明は、基板上にパターン化した薄膜層を形成するようにした、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜層を形成するための別の方法を開示する。本方法は、例えば、少なくとも1つの真空チェンバと少なくとも1つの非真空チェンバとを有する薄膜形成装置を準備し、基板とマスクを非真空チェンバ中で位置合わせして、基板とマスクとを固定し、固定した基板とマスクを真空下に移送して、マスクによってパターン化した薄膜層を形成する工程からなる。
本発明の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜層を形成するための好ましい方法によれば、前記非真空環境は大気環境あるいは水及び/または酸素濃度が約0.1から100ppmを有する環境である。さらに、前記パターン化した薄膜層は、例えば、蒸着あるいはスパッタリングによって形成される。前記パターン化した薄膜層を形成する工程は、例えば、マスクを使用して基板上に第1の導電層を形成し、該マスクを使用して該第1の導電層上に第2の導電層を形成する工程からなる。
上記目的を達成するため、本発明は、マスクによって基板上にパターン化した薄膜層を形成するようにした、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜層を形成するための膜形成装置を開示する。本装置は、例えば、少なくとも1つの真空チェンバと、少なくとも1つの非真空チェンバと、位置合わせ装置と膜形成装置とを有する。位置合わせ装置は、非真空チェンバ内に配置され基板とマスクとを位置合わせするようにされている。膜形成装置は真空装置内に配置され、マスクを用いてパターン化した薄膜層を形成する、マスクによるパターン化した薄膜層を形成する。
本発明の好ましい膜形成装置によれば、真空チェンバ及び非真空チェンバ内に配置され基板を両チェンバ間との間で移送する移送装置を有する。前記非真空チェンバは、大気環境あるいは水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmとした環境となっている。位置合わせ装置は、例えば、ホルダと、第1の位置合わせモジュールと、第2の位置合わせモジュールと、センサとからなる。ホルダは、前記マスクを固定するようになっている。第1の位置合わせモジュールは、該ホルダを支持するようになっており、かつX−Y面上を移動する。第2のモジュールは、該第1の位置合わせモジュール上方に配置され、基板を固定しかつZ軸に沿って移動するようにされている。センサは、第1のモジュール上に配置されている。
本発明の好ましい膜形成装置によれば、前記第1の位置合わせモジュールは、例えばプラットホームと、プラットホーム上に配置した複数の固定装置とからなっている。固定装置は、例えば、ホイール型位置合わせピンあるいはボール型位置合わせ装置を有する。固定装置はさらに前記ホルダをプッシュしてホイール型位置合わせピンあるいはホルダとボール型位置合わせ装置とを接触させるためのプッシュ装置を有する。さらに、固定装置は、例えば、第1のプッシュ装置と第2のプッシュ装置とし、第1のプッシュ装置と第2のプッシュ装置とによってプラットホーム上にホルダをクランプし固定するようになっている。また、第2の位置合わせモジュールはクランプあるいは真空装置を含む。センサは、例えば、電荷結合素子(CCD)とする。
本発明の別の好ましい膜形成装置によれば、位置合わせ装置は、例えば、ホルダと、第1の位置合わせモジュールと、第2の位置合わせモジュールと、センサとからなる。ホルダは、マスクを固定するようになっている。第1の位置合わせモジュールは、該ホルダを支持するのに適合し、第1の位置合わせモジュールは固定されている。第2の位置合わせモジュールは、第1の位置合わせモジュール上方に配置され、第2の位置合わせモジュールによって、基板を固定しかつX−Y面上およびZ軸に沿って動くようになっている。
本発明の好ましい膜形成装置によれば、第1の位置合わせモジュールは、例えば、プラットホームと、プラットホーム上に配置した複数の固定装置とからなる。さらに、固定装置は、例えば、ホイール型位置合わせピンあるいはボール型位置合わせ装置となっている。固定装置は、さらに前記ホルダをプッシュしてホルダとホイール型位置合わせピンあるいはボール型位置合わせ装置とを接触させるためのプッシュ装置を有する。また、固定装置が、例えば、第1のプッシュ装置と第2のプッシュ装置とからなり、第1のプッシュ装置と第2のプッシュ装置とによってプラットホーム上にホルダをクランプし固定するようになっている。さらに、第2の位置合わせモジュールはクランプあるいは真空装置を含む。センサは、例えば、電荷結合素子(CCD)とする。
上記目的を達成するため、本発明は、マスクによって基板上にパターン化した薄膜層を形成するようになっている、別の膜形成装置を開示する。本装置は、位置合わせチェンバと、搭載チェンバと、複数の真空チェンバと、位置合わせ装置と、膜形成装置とを有する。搭載チェンバは、位置合わせチェンバと接続されている。複数の真空チェンバが搭載チェンバと接続され、複数の真空チェンバは、例えば、第1の膜形成チェンバと、第2の膜形成チェンバと該搭載チェンバを該第1と第2の膜形成チェンバに接続する接続チェンバとを有する。位置合わせ装置は、位置合わせチェンバ内に配置され、ホルダによって保持された基板とマスクとを位置合わせするようになっている。膜形成ユニットは、第1と第2の膜形成チェンバ内に配置され、ホルダに保持されたマスクによって基板上にパターン化した薄膜を形成するようになっている。
本発明の好ましい膜形成装置によれば、装置はさらに、位置合わせチェンバと、搭載チェンバと、接続チェンバと、第1の膜形成チェンバと第2の膜形成チェンバの間中に配置され基板をこれらチェンバ間で移送するための移送装置を有する。搭載チェンバは大気環境、水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmとした環境を有する。位置合わせチェンバは、大気環境、水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmとした環境を有する。
本発明の上記および他の目的、特徴及び利点を理解するため、図面に示す好ましい実施態様を以下に詳細に記載する。
図1は、本発明の好ましい膜形成装置を示す模式図である。
図1において、膜形成装置は、例えば、位置合わせチェンバ310、搭載チェンバ320、複数の真空チェンバ330、アンロードチェンバ340、分離チェンバ350、移送装置(図示せず)、位置合わせ装置360、第1の膜形成装置370aおよび第2の膜形成装置370bとからなる。
搭載チェンバ320は、位置合わせチェンバ310と接続する。
真空チェンバ330は、搭載チェンバ320とアンロードチェンバ340とに接続する。
分離チェンバ350は、アンロードチェンバ340に接続する。膜形成装置によって形成された膜は、例えば単一層構造あるいは複数層構造とすることができる。
各層は、厚さが、例えば、5から5000Åとすることができ、あるいは他の厚さ領域とすることもできる。
図1において、真空チェンバ330は、接続チェンバ332と、第1の膜形成チェンバ334と、第2の膜形成チェンバ336とからなる。第1の膜形成チェンバ334と第2の膜形成チェンバ336とは、分離して接続チェンバ332に接続され、搭載チェンバ320とアンロードチェンバ340に接続される。
従って、移送装置(図示せず)が、位置合わせチェンバ310、搭載チェンバ320、接続チェンバ332、第1の膜形成チェンバ334、第2の膜形成チェンバ336、アンロードチェンバ340と分離チェンバ350との間に配置され、それらの間に基板100を移送する。
図1において、第1の膜形成装置370aが第1の膜形成チェンバ334に配置され、第2の膜形成装置370bが第2の膜形成チェンバ336に配置され、位置合わせ装置360が位置合わせチェンバ310に配置される。搭載チェンバ320及びアンロードチェンバ340は、例えば、それぞれ大気環境及び真空環境あるいは水及び/または酸素濃度が約0.1から100ppmの環境とすることができる。位置合わせチェンバ310及び分離チェンバ350は、例えば、個々に水及び/またはそれぞれ酸素濃度が約0.1から100ppmの環境あるいは大気環境とすることができる。搭載チェンバ320、アンロードチェンバ340、位置合わせチェンバ310及び分離チェンバ350内部の環境は、プロセスに従って変化する。詳細な説明を以下に行う。
以下に、上記膜形成装置において有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成するプロセスの流れを説明する。まず、基板100及びマスク500を用意する。パターン化したアノードを基板100上に形成し、パターン化した有機エレクトロルミネセント層をその上に形成する。有機エレクトロルミネセント層を形成する方法は、従来の薄膜法によって形成することができる。詳細内説明は繰り返さない。
基板100及びマスク500(例えば、ホルダによって保持)は位置合わせチェンバ310中に移送し、その中で位置合わせ装置360によって位置合わせを行う。その後で、基板100とマスク500とを固定する。基板100上での湿気や酸素による有機エレクトロルミネセント層の損傷を避けるために、窒素を位置合わせチェンバ中に充填し、水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmとした環境を形成する。基板100とマスク500とを固定する方法は、例えば、クランプ装置あるいは他の固定装置によって行う。
次に、固定した基板100とマスク500とを、移送装置(図示せず)によって位置合わせチェンバ310から移送経路380に沿ってゲート312を通って搭載チェンバ320中に移送する。基板100とマスク500とを搭載チェンバーに入れる際には、搭載チェンバ320は、例えば、大気環境あるいは水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmとした環境とすることに留意すべきである。以下のプロセスを行うために、搭載チェンバ320は真空化を行う。
ゲート322とゲート334aとを開く。基板100とマスク500とを経路380に沿って接続チェンバ332を通って、搭載チェンバ320から第1の膜形成チェンバ334に移送する。第1の膜形成チェンバ334で、第1の膜形成装置370aがチェンバ内に配置され、Ca等の第1の導電層を形成する。
その後で、ゲート334aとゲート336aとを開く。基板100とマスク500とを第1の膜形成チェンバ334から移送経路380に沿って接続チェンバ332を通り第2の膜形成チェンバ336中に移送する。第2の膜形成チェンバ336では、第2の膜形成装置370bが中に配置され、Al等の第2の導電層を形成する。
そして、ゲート336aとゲート332aとを開く。基板100とマスク500とを第2の膜形成チェンバ336から移送経路380に沿って接続チェンバ332を通り第2のアンロードチェンバ340中に移送する。
最後に、ゲート342を開く。アンロードチェンバ340から移送経路380に沿って基板100とマスク500とを分離チェンバ336中に移送し、分離チェンバ中で基板100とマスク500とを分離する。基板100とマスク500との分離は、分離装置(図示せず)によって行う。
位置合わせ装置は位置合わせチェンバ内に配置することのみに限定されないことに留意すべきである。該位置合わせ装置は、膜形成装置の他の非真空装置内に配置することができることに留意すべきである。さらに、膜形成装置を膜形成装置の外側に配置することによって、位置合わせ工程を行わせてもよい。
図2は、本発明の好ましいホルダを示す模式図である。図2において、ホルダ400が、例えば、第1のコンポーネント402と第2のコンポーネント404とから成る。マスク500は第1のコンポーネント402と第2のコンポーネント404との間に配置され、その上に位置合わせマークを有する。さらに、第1のコンポーネント402と第2のコンポーネント404とに、それぞれ開口402aと404aとを設ける。開口402aと404aとによって、マスク500の表面を外部に曝す。ホルダ400とマスク500とを組み付けた後、ホルダ400とマスク500とによって形成されるマスクモジュール501が形成される。
図3は、本発明の膜形成装置の好ましい位置合わせ装置を示す模式図である。図3において、位置合わせ装置は、例えば、ホルダ400と、第1の位置合わせモジュール610と、第2の位置合わせモジュール620とセンサ630とからなる。第1の位置合わせモジュール610はプラットホーム612と複数の固定装置とからなり、固定装置は、例えば、ホイール型位置合わせピン616とプッシュ装置614とから形成することができる。さらに、ホルダ400は、マスク500を固定するようになっている。プラットホーム612はマスクモジュール501を支持し、X,Yに沿って移動し及び/またはZ方向に沿って回転する。
図3において、第2の位置合わせモジュール620はプラットホーム612の上方に配置され、基板100を固定しかつZ軸に沿って移動するようになっている。第2の位置合わせモジュール620は、例えば、クランプあるいは真空装置とすることができる。さらに、センサ630はプラットホームの上方に配置され、例えば、電荷結合素子あるいは他のタイプの検知素子とすることができる。本実施態様では、センサ630は、マスク500のマークが基板100のマークと位置があっているかどうかを検知する。さらに、プッシュ装置614はホルダ400を押してホイール型位置合わせピン616に接触させるようになっており、ホイール型位置合わせピン616は、例えば、ロボットあるいはシリンダ装置とすることができる。
以下に、基板100とマスクモジュール501との位置合わせを行う手順について説明する。まず、ホルダ400をプラットホーム612の上に設置する。プッシュ装置によりホルダ400を押してホイール型位置合わせピン616と接触させる。これにより、おおまかな位置合わせを完了する。次に、第2の位置合わせモジュール620をZ軸に沿ってホルダ400の方向へ下方に移動させる。センサ630をオンとし、プラットホームをX,Y軸に沿って移動させ、あるいはZ軸に沿って回転させ、精密な位置合わせを完了する。
プラットホーム612と第2の位置合わせモジュール620は、他のモードで移動させることもできる。例えば、プラットホーム612を固定し、第2の位置合わせモジュール620をX,Y軸に沿って移動させかつZ軸に沿って回転させることもできる。また、ホイール型位置合わせピン616は、ボール型位置合わせ装置(図示せず)に代えることもできる。言い換えれば、固定装置とホルダ400との間の接触を、線接触から点接触に代えて摩耗と摩擦とを低減することもできる。
図4は、本発明の別の好ましい膜形成装置を示す模式図である。図4において、位置合わせ装置は、第1の位置合わせモジュール710と、第2の位置合わせモジュール720とセンサ630とからなる。第1の位置合わせモジュール710は、プラットホーム712と、第1のプッシュ装置714と第2のプッシュ装置716とからなる。第1のプッシュ装置714と第2のプッシュ装置716は、マスクモジュール501をプラットホーム712上にクランプするようになっている。第2の位置合わせモジュール720は基板100を固定し、X,Y軸に沿って移動しかつZ軸に沿って回転するようになっている。
第2のプッシュ装置716はマスクモジュール501をプラットホーム712上の任意の位置に移動させるようになっており、第1のプッシュ装置714はマスクモジュール501を押して第2のプッシュ装置716と接触させるようになっている。さらに、第2のプッシュ装置716を予備設定位置に移動させると、第1のプッシュ装置714を押しても第2のプッシュ装置716の移動に影響を与えないようになっている。それにより、位置合わせは完了する。
以下に、基板100とマスクモジュール501を位置合わせする手順について記載する。まず、第2のプッシュ装置716を予備設定位置に移動させ、マスクモジュール501をプラットホーム712の上に設置する。第1のプッシュ装置714によりマスクモジュール501を押して第2のプッシュ装置716と接触させる。おおまかな位置合わせは、これにより完了する。次に、第2の位置合わせモジュール720をZ軸に沿ってホルダ400の方向へ下方に移動させる。センサ630をオンとし、第2の位置合わせモジュール720をX軸、Y軸に沿って移動させ、あるいはZ軸に沿って回転させて精密な位置合わせを完了する。
さらに、プラットホーム712と第2の位置合わせモジュール720は、他のモードで移動させることもできる。例えば、プラットホーム712をXとY軸に沿って移動させかつZ軸の回りに回転させ、第2の位置合わせモジュール720をZ軸に沿って移動させる。
有機エレクトロルミネセント素子の薄膜の形成方法及びそのための膜形成装置は、有機エレクトロルミネセント素子のカーソードを形成することのみに限定されないことを留意すべきである。本発明は、有機エレクトロルミネセント層あるいはその他の材料層を形成するのにも使用することができる。詳細な説明は繰り返して行わない。
したがって、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法及びそのための膜形成装置は、以下の利点を有する。
1.本発明の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜形成方法では、マスクと基板とを予め非真空環境で位置合わせする。次に、真空チェンバで、薄膜層を形成する工程を行う。したがって、膜形成装置の処理能力が向上される。
2.本発明の膜形成装置は、位置合わせ装置を内部に有する位置合わせチェンバを備える。位置合わせ装置が故障しても、膜形成装置は膜形成チェンバ内部で基板上に薄膜層を依然形成することができる。位置合わせ装置を修復後に、位置合わせチェンバ中の環境を大気環境あるいは水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmとした環境とするのに要する時間は、真空環境とするのに要する時間より短い。
3.有機エレクトロルミネセント素子の薄膜形成方法及びそのための膜形成装置を用いることによって、有機エレクトロルミネセント素子の有機エレクトロルミネセント層、カーソード及びその他の材料層を形成するのに使用することができる。
1.本発明の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜形成方法では、マスクと基板とを予め非真空環境で位置合わせする。次に、真空チェンバで、薄膜層を形成する工程を行う。したがって、膜形成装置の処理能力が向上される。
2.本発明の膜形成装置は、位置合わせ装置を内部に有する位置合わせチェンバを備える。位置合わせ装置が故障しても、膜形成装置は膜形成チェンバ内部で基板上に薄膜層を依然形成することができる。位置合わせ装置を修復後に、位置合わせチェンバ中の環境を大気環境あるいは水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmとした環境とするのに要する時間は、真空環境とするのに要する時間より短い。
3.有機エレクトロルミネセント素子の薄膜形成方法及びそのための膜形成装置を用いることによって、有機エレクトロルミネセント素子の有機エレクトロルミネセント層、カーソード及びその他の材料層を形成するのに使用することができる。
本発明を例示的実施態様に関連して説明を行ったが、本発明はこれらのものに限定されるものではない。むしろ、本願請求項は、当該技術分野の当業者が本発明の範囲及びその均等範囲を逸脱することなく行える本発明の他の変更例及び実施態様をも包含するよう広く解釈されるべきである。
100・・・基板
310・・・位置合わせチェンバ
312、334a,336a、342・・・ゲート
320・・・搭載チェンバ
330・・・真空チェンバ
332・・・接続チェンバ
334・・・第1の膜形成チェンバ
336・・・第2の膜形成チェンバ
340・・・アンロードチェンバ
350・・・分離チェンバ
370a・・・第1の膜形成装置
370b・・・第2の膜形成装置
380・・・移送経路
400・・・ホルダ
402・・・第1のコンポーネント
404・・・第2のコンポーネント
402a,404a・・・開口
500・・・マスク
501・・・マスクモジュール
610・・・第1の位置合わせモジュール
612・・・プラットホーム
614・・・プッシュ装置
616・・・ホイール型位置合わせピン
620・・・第2の位置合わせモジュール
630・・・センサ
710・・・第1の位置合わせモジュール
712・・・プラットホーム
714・・・第1のプッシュ装置
716・・・第2のプッシュ装置
720・・・第2の位置合わせモジュール
310・・・位置合わせチェンバ
312、334a,336a、342・・・ゲート
320・・・搭載チェンバ
330・・・真空チェンバ
332・・・接続チェンバ
334・・・第1の膜形成チェンバ
336・・・第2の膜形成チェンバ
340・・・アンロードチェンバ
350・・・分離チェンバ
370a・・・第1の膜形成装置
370b・・・第2の膜形成装置
380・・・移送経路
400・・・ホルダ
402・・・第1のコンポーネント
404・・・第2のコンポーネント
402a,404a・・・開口
500・・・マスク
501・・・マスクモジュール
610・・・第1の位置合わせモジュール
612・・・プラットホーム
614・・・プッシュ装置
616・・・ホイール型位置合わせピン
620・・・第2の位置合わせモジュール
630・・・センサ
710・・・第1の位置合わせモジュール
712・・・プラットホーム
714・・・第1のプッシュ装置
716・・・第2のプッシュ装置
720・・・第2の位置合わせモジュール
Claims (32)
- マスクを準備し、
基板とマスクを非真空環境下で位置合わせして、基板とマスクとを固定し、
固定した基板とマスクを真空下に移送して、マスクによってパターン化した薄膜層を形成する工程からなる、
基板上にパターン化した薄膜層を形成するのに適合する、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。 - 前記非真空環境は大気環境である、請求項1の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。
- 前記非真空環境は水及び/または酸素濃度を約0.1から100ppmを有する環境である、請求項1に記載の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。
- 前記パターン化した薄膜層は蒸着あるいはスパッタリングによって形成される、請求項1乃至3のいずれかに記載の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。
- 前記パターン化した薄膜層を形成する工程が、マスクを使用して基板上に第1の導電層を形成し、該マスクを使用して該第1の導電層上に第2の導電層を形成する工程からなる、請求項1乃至3のいずれかに記載の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。
- 少なくとも1つの真空チェンバと少なくとも1つの非真空チェンバとを有する膜形成装置を準備し、
基板とマスクを非真空環境下で位置合わせして、基板とマスクとを固定し、
固定した基板とマスクを真空下に移送して、マスクによってパターン化した薄膜層を形成する工程からなる、
基板上にパターン化した薄膜層を形成するのに適合する、有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。 - 前記非真空環境は大気環境である、請求項6の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。
- 前記非真空環境は水及び/または酸素濃度が約0.1から100ppmを有する環境である、請求項6に記載の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。
- 前記パターン化した薄膜層は蒸着あるいはスパッタリングによって形成される、請求項6乃至8のいずれかに記載の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。
- 前記パターン化した薄膜層を形成する工程が、マスクを使用して基板上に第1の導電層を形成し、該マスクを使用して該第1の導電層上に第2の導電層を形成する工程からなる、請求項6乃至9のいずれかに記載の有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成する方法。
- 少なくとも1つの真空チェンバと、
少なくとも1つの非真空チェンバと、
非真空チェンバ内に配置し基板とマスクとを位置合わせするようにした、位置合わせ装置と、
真空装置内に配置された膜形成装置とを有し、膜形成装置によってマスクを用いてパターン化した薄膜層を形成する、マスクによりパターン化した薄膜層を形成するようにした、膜形成装置。 - さらに、真空チェンバ及び非真空チェンバ内に配置され基板を両チェンバ間との間で移送する移送装置を有する、請求項11に記載の膜形成装置。
- 前記非真空チェンバは大気環境を有する、請求項11に記載の膜形成装置。
- 前記非真空環境は水及び/または酸素濃度が約0.1から100ppmを有する環境である、請求項11または12に記載の膜形成装置。
- 前記マスクを固定するようにしたホルダと、
該ホルダを支持するようにしかつX−Y面上を移動し及び/又はZ軸の回りに回転するようにされた第1の位置合わせモジュールと、
該第1の位置合わせモジュール上方に配置し、基板を固定しかつZ軸に沿って移動するようにされた第2の位置合わせモジュールと、
第1のモジュール上方に配置された、センサとからなる、請求項11乃至14のいずれかに記載の膜形成装置。 - 前記第1の位置合わせモジュールはプラットホームと、プラットホーム上に配置した複数の固定装置とからなる、請求項15に記載の膜形成装置。
- 前記固定装置はホイール型位置合わせピンあるいはボール型位置合わせ装置である、請求項16の膜形成装置。
- 前記固定装置はさらに前記ホルダをプッシュしてホイール型位置合わせピンあるいはホルダとボール型位置合わせ装置とに接触させるためのプッシュ装置を有する、請求項17に記載の膜形成装置。
- 前記固定装置が第1のプッシュ装置と第2のプッシュ装置とからなり、第1のプッシュ装置と第2のプッシュ装置とによってプラットホーム上にホルダをクランプし固定する、請求項16に記載の膜形成装置。
- 前記第2の位置合わせモジュールはクランプあるいは真空装置を含む、請求項15乃至19のいずれかに記載の膜形成装置。
- 前記センサは電荷結合素子(CCD)である、請求項15乃至20のいずれかに記載の装置。
- 前記位置合わせ装置は、
前記マスクを固定するためのホルダと、
該ホルダを支持するようにされかつ固定されている第1の位置合わせモジュールと、
該第1の位置合わせモジュール上方に配置し、基板を固定しかつX,Y平面上及びZ軸に沿って移動し及び/またはZ軸の回りを回転するようにされた第2の位置合わせモジュールと、
第1のモジュール上方に配置された、センサとからなる、請求項11に記載の膜形成装置。 - 前記第1の位置合わせモジュールはプラットホームと、プラットホーム上に配置した複数の固定装置とからなる、請求項22に記載の膜形成装置。
- 前記固定装置はホイール型位置合わせピンあるいはボール型位置合わせ装置である、請求項23の膜形成装置。
- 前記固定装置はさらに前記ホルダをプッシュしてホイール型位置合わせピンあるいはホルダとボール型位置合わせ装置とに接触させるためのプッシュ装置を有する、請求項24に記載の膜形成装置。
- 前記固定装置が第1のプッシュ装置と第2のプッシュ装置とからなり、第1のプッシュ装置と第2のプッシュ装置とによってプラットホーム上にホルダをクランプし固定する、請求項23に記載の膜形成装置。
- 前記第2の位置合わせモジュールはクランプあるいは真空装置を含む、請求項22乃至26のいずれかに記載の膜形成装置。
- 前記センサは電荷結合素子(CCD)である、請求項22乃至27のいずれかに記載の装置。
- 位置合わせチェンバと、
少なくとも1つの非真空チェンバと、
位置合わせチェンバに接続した搭載チェンバと、
搭載チェンバに接続した複数の真空チェンバであって、第1の膜形成チェンバと、第2の膜形成チェンバと、該搭載チェンバを該第1と第2の膜形成チェンバに接続する接続チェンバとを有する該複数の真空チェンバと、
位置合わせチェンバ内に配置し基板とマスクとを位置合わせするための位置合わせ装置と、
該第1と第2の膜形成チェンバ内に配置し、マスクによって基板上にパターン化した薄膜を形成するための膜形成ユニットからなる、マスクによって基板上にパターン化した薄膜層を形成するための膜形成装置。 - さらに、前記位置合わせチェンバと、搭載チェンバと、接続チェンバと、第1の膜形成チェンバと第2の膜形成チェンバの間中に配置され基板をこれらチェンバ間で移送する移送装置を有する、請求項29に記載の膜形成装置。
- 前記搭載チェンバは大気環境、水及び/または酸素濃度が約0.1から100ppmを有する環境あるいは真空環境である、請求項29または30に記載の膜形成装置。
- 前記位置合わせチェンバは大気環境あるいは水及び/または酸素濃度が約0.1から100ppmを有する環境を有する、請求項29乃至31のいずれかに記載の膜形成装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW093100200A TWI270311B (en) | 2004-01-06 | 2004-01-06 | The film fabricating method of the organic electroluminescent device and the film forming apparatus thereof |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005197207A true JP2005197207A (ja) | 2005-07-21 |
Family
ID=34709561
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004255818A Pending JP2005197207A (ja) | 2004-01-06 | 2004-09-02 | 有機エレクトロルミネセント素子の薄膜を形成するための方法及び装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20050145866A1 (ja) |
JP (1) | JP2005197207A (ja) |
TW (1) | TWI270311B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101481095B1 (ko) * | 2013-04-24 | 2015-01-14 | 주식회사 선익시스템 | 기판의 클램핑 장치 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI424784B (zh) * | 2008-09-04 | 2014-01-21 | Hitachi High Tech Corp | Organic electroluminescent device manufacturing apparatus, manufacturing method thereof, film forming apparatus and film forming method |
CN105900258A (zh) * | 2013-12-26 | 2016-08-24 | 科迪华公司 | 电子装置的热加工 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7396558B2 (en) * | 2001-01-31 | 2008-07-08 | Toray Industries, Inc. | Integrated mask and method and apparatus for manufacturing organic EL device using the same |
CN100430515C (zh) * | 2001-02-01 | 2008-11-05 | 株式会社半导体能源研究所 | 沉积装置和沉积方法 |
US20040206307A1 (en) * | 2003-04-16 | 2004-10-21 | Eastman Kodak Company | Method and system having at least one thermal transfer station for making OLED displays |
-
2004
- 2004-01-06 TW TW093100200A patent/TWI270311B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-08-03 US US10/710,785 patent/US20050145866A1/en not_active Abandoned
- 2004-09-02 JP JP2004255818A patent/JP2005197207A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101481095B1 (ko) * | 2013-04-24 | 2015-01-14 | 주식회사 선익시스템 | 기판의 클램핑 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI270311B (en) | 2007-01-01 |
US20050145866A1 (en) | 2005-07-07 |
TW200524459A (en) | 2005-07-16 |
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