JP2005018598A

JP2005018598A - Control test support system and program for control test support system

Info

Publication number: JP2005018598A
Application number: JP2003185044A
Authority: JP
Inventors: Susumu Ro; 軍呂; Takao Sonoda; 孝雄園田; Takeshi Nitta; 武史新田
Original assignee: Daikin Industries Ltd
Current assignee: Daikin Industries Ltd
Priority date: 2003-06-27
Filing date: 2003-06-27
Publication date: 2005-01-20
Anticipated expiration: 2023-06-27
Also published as: JP4438331B2

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently test the control operation of a controller by using a testing tool. <P>SOLUTION: The control test support system 1 is provided with the testing tool 3 and a test device body 4. The testing tool 3 comprises a simulated input part 31 and a simulated output part 32 which respectively simulatively perform the operation of an input apparatus and the operation of an output apparatus and is connected to a test target controller 2. The test device body 4 consists of a computer and comprises an input part 41 enabling a test performer to enter input data corresponding to an operation signal of the input apparatus, a display part 42 capable of displaying the input data, a control part 43 for performing a test of control operation by changing the operation signal inputted from the simulated input part 31 to the test target controller 2 on the basis of the input data, and a storage part 44 capable of storing the input data as a test input data log. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、制御テスト支援システム、及び制御テスト支援システム用プログラム、特に、入力機器及び出力機器に接続されて設備機器を構成する制御機器の制御動作を確認するために、制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器を、入力機器及び出力機器の動作を模擬的に行う模擬入力部及び模擬出力部を有するテスト治具に接続して、制御動作のテストを行う制御テスト支援システム、及びこの制御テスト支援システムにおいて、テスト治具に接続されたコンピュータからなるテスト装置本体に使用される制御テスト支援システム用プログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
空気調和装置等の家電製品や設備機器においては、マイコンを内蔵した制御機器が組み込まれている。この制御機器は、主に、家電製品や設備機器を構成する入力機器の動作信号に応じて、出力機器の動作を制御することを目的として設けられている。このため、制御機器は、製造された後に、各種の入力機器及び出力機器の動作を模擬的に行う模擬入力部及び模擬出力部を備えたテスト治具に接続されて、模擬的な運転環境の中で、主に、マイコンが設計どおりに制御動作を行うかどうかが確認されている（以下、制御動作のテストに使用される制御機器をテスト対象制御機器とする）。
【０００３】
次に、家電製品や設備機器の一例としての空気調和装置が備える制御基板の制御動作のテストについて、サーモオフ状態から室内の空調温度の設定に対して室内温度が上昇した場合の制御動作を確認するテストを例として説明する。この場合、まず、テスト実施者は、室内温度が上昇した条件を作るために、模擬入力部である室内温度センサの温度値を空調温度の設定値よりも高い温度になるように変更する。すると、この室内温度センサの模擬入力部の動作信号がテスト対象制御機器に入力されるため、テスト対象制御機器は、自身が内蔵するマイコンの制御ソフトウェアにより、冷媒回路内に冷媒を循環させるために、模擬出力部である圧縮機のモータや電子膨張弁に対して、起動指令や弁の開指令に対応する動作信号を圧縮機の模擬出力部や電子膨張弁の模擬出力部に対して出力する。そして、テスト実施者は、この動作信号によって圧縮機の模擬出力部の運転表示や電子膨張弁の模擬出力部の開方向動作の表示等が設計通りに行われるかどうかを確認する。その他の制御動作を確認するテストについても、使用する模擬入力部や模擬出力部が異なる場合もあるが、上記と同様に行われる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記のテストにおいては、テスト実施者が手動入力によってテスト治具の模擬入力部から制御機器に動作信号を入力することで、制御動作のテストが行われているため、操作性が悪いという問題がある。例えば、上記のテストにおいて、温度センサの模擬入力部は、可変抵抗の抵抗値を変化させることによって、温度センサからテスト対象制御機器に入力される電圧信号を模擬する電圧信号を発生させる構成になっており、テスト実施者が可変抵抗の抵抗値を手動で変化させる必要があるからである。また、テスト実施者が模擬入力部にテスト条件を手動入力によって入力しているため、再度、同じテストを行う際にも、容易に再現することができないという問題もある。このように、テスト対象制御機器の制御動作のテストを効率的に行うことができないという問題が生じている。
【０００５】
本発明の課題は、テスト治具を用いて行う制御機器の制御動作のテストを効率的に行うことができるようにすることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の制御テスト支援システムは、入力機器及び出力機器に接続されて設備機器を構成する制御機器の制御動作を確認するために、制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器を用いて制御動作のテストを行う制御テスト支援システムであって、テスト治具と、テスト装置本体とを備えている。テスト治具は、入力機器及び出力機器の動作を模擬的に行う模擬入力部及び模擬出力部を有し、テスト対象制御機器に接続されている。テスト装置本体は、コンピュータからなり、入力機器の動作信号に対応する入力データを入力することが可能な入力部と、入力データを表示することが可能な表示部と、入力データに基づいて模擬入力部からテスト対象制御機器に入力される動作信号を可変して制御動作のテストを行う制御部と、入力データをテスト入力データログとして記憶することが可能な記憶部とを有している。
【０００７】
この制御テスト支援システムでは、コンピュータからなるテスト装置本体の入力部を介して、入力機器の動作信号に対応する入力データを表示部に表示させながら手動で入力することができ、この入力データに基づいて、テスト装置本体の制御部が模擬入力部からテスト対象制御機器に出力される動作信号を可変して、制御動作のテストが行なわれるため、従来のように、テスト実施者がテスト治具の模擬入力部に対して手動で入力することにより制御機器に動作信号を入力する場合に比べて、入力操作の操作性が向上し、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
【０００８】
また、テスト装置本体の記憶部が、入力データをテスト入力データログとして記憶することができるようになっているため、同じテストを再度行う際にも、容易に再現することができるようになり、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
請求項２に記載の制御テスト支援システムは、請求項１において、制御部は、テスト入力データログを利用して、制御動作のテストを行うことが可能である。
【０００９】
この制御テスト支援システムでは、テスト装置本体を介して手動入力されたテスト入力データログを利用して、制御動作のテストを行うことができるため、同じテストを自動的に簡単に再現することができる。
請求項３に記載の制御テスト支援システムは、請求項２において、制御部は、テスト入力データを表示部に表示させた状態で、入力部を介して、テスト入力データの内容を編集することが可能である。
【００１０】
この制御テスト支援システムでは、テスト入力データの内容を可視化して編集できるため、テスト条件を部分的に変更する等のテスト入力データの編集作業を簡単に行うことができる。
請求項４に記載の制御テスト支援システムは、請求項２において、制御部は、テスト対象制御機器と同じ仕様の制御機器を備えた設備機器を実際に運転して得られた運転データを利用して、制御動作のテストに必要な運転データのみからなる運転入力データを生成することが可能である。記憶部は、運転入力データを運転入力データログとして記憶することが可能である。
【００１１】
この制御テスト支援システムでは、設備機器を実際に運転して不具合が生じた場合に、この不具合が生じた際の運転データから制御動作のテストに使用する運転入力データを生成して、運転入力データログとして記憶し、この運転入力データを利用して、不具合が生じた設備機器が備える制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器に対して、不具合が生じた条件における制御動作のテストを行うことができる。
【００１２】
請求項５に記載の制御テスト支援システムは、請求項４において、制御部は、運転入力データログから経時的変化が所定値を超える運転データのみを選択した簡略入力データを生成することが可能である。記憶部は、簡略入力データを運転入力データログとして記憶することが可能である。
この制御テスト支援システムでは、運転入力データログを構成する運転データから経時的変化が所定値を超える運転データのみを選択した簡略入力データを生成することによって、記憶部に記憶させる運転入力データログのデータ量を削減することができる。
【００１３】
請求項６に記載の制御テスト支援システムは、請求項４又は５において、制御部は、運転入力データログを利用して制御動作のテストを行うことによってテスト対象制御機器から模擬出力部に出力された動作信号に対応する出力データと、設備機器を実際に運転して得られた運転データのうち前記出力データに対応する運転データとの一致／不一致を判定することが可能である。
【００１４】
この制御テスト支援システムでは、実機の設備機器において、不具合が生じた際の運転データと、制御動作のテストで得られた出力データとの一致／不一致を判定することができるため、実機の設備機器における不具合の原因を容易に特定することができる。
請求項７に記載の制御テスト支援システムは、請求項２又は３において、テスト対象制御機器は、制御動作のテストにより模擬出力部に出力する動作信号に対応する出力データを内部データとして記憶している。制御部は、内部データと、制御動作のテストによりテスト対象制御機器から模擬出力部に出力された動作信号に対応する出力データとの一致／不一致を判定することが可能である。
【００１５】
この制御テスト支援システムでは、テスト対象制御機器が模擬出力部に出力する動作信号に対応する出力データからなる内部データと、制御動作のテストによりテスト対象制御機器から模擬出力部に実際に出力された動作信号に対応する出力データとの一致／不一致を判定することができるため、テスト対象制御機器の正常／異常を判定することができる。
【００１６】
請求項８に記載の制御テスト支援システム用プログラムは、入力機器及び出力機器に接続されて設備機器を構成する制御機器の制御動作を確認するために、制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器を、入力機器及び出力機器の動作を模擬的に行う模擬入力部及び模擬出力部を有するテスト治具に接続して、制御動作のテストを行う制御テスト支援システムにおいて、テスト治具に接続されたコンピュータからなるテスト装置本体に使用される制御テスト支援システム用プログラムであって、入力データ入力ステップと、手動テストステップと、入力データ記憶ステップとを実行させる。入力データ入力ステップは、入力機器の動作信号に対応する入力データを入力する。手動テストステップは、入力データに基づいて模擬入力部からテスト対象制御機器に入力される動作信号を可変して制御動作のテストを行う。入力データ記憶ステップは、入力データをテスト入力データログとして記憶する。
【００１７】
この制御テスト支援システム用プログラムでは、コンピュータからなるテスト装置本体の入力部を介して、入力機器の動作信号に対応する入力データを表示部に表示させながら入力することができ、この入力データに基づいて、テスト装置本体の制御部が模擬入力部からテスト対象制御機器に出力される動作信号を可変して、制御動作のテストが行なわれるため、従来のように、テスト実施者が手動入力によりテスト治具の模擬入力部から制御機器に動作信号を入力する場合に比べて、入力操作の操作性が向上し、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
【００１８】
また、テスト装置本体の記憶部が、入力データをテスト入力データログとして記憶することができるようになっているため、同じテストを再度行う際にも、容易に再現することができるようになり、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
請求項９に記載の制御テスト支援システム用プログラムは、請求項８において、テスト入力データログを利用して、制御動作のテストを行う自動テストステップを実行させる。
【００１９】
この制御テスト支援システム用プログラムでは、テスト装置本体を介して手動入力されたテスト入力データログを利用して、制御動作のテストを行うことができるため、同じテストを自動的に簡単に再現することができる。
請求項１０に記載の制御テスト支援システム用プログラムは、請求項９において、テスト入力データの内容を画面表示させた状態で、データを編集する編集ステップを実行させる。
【００２０】
この制御テスト支援システム用プログラムでは、テスト入力データの内容を可視化して編集できるため、テスト条件を部分的に変更する等のテスト入力データの編集作業を簡単に行うことができる。
請求項１１に記載の制御テスト支援システム用プログラムは、入力機器及び出力機器に接続されて設備機器を構成する制御機器の制御動作を確認するために、制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器を入力機器及び出力機器の動作を模擬的に行う模擬入力部及び模擬出力部を有するテスト治具に接続して、制御動作のテストを行う制御テスト支援システムにおいて、テスト治具に接続されたコンピュータからなるテスト装置本体に使用される制御テスト支援システム用プログラムであって、実機再現データ生成ステップと、実機再現データ記憶ステップと、実機再現テストステップとを実行させる。実機再現データ生成ステップは、テスト対象制御機器と同じ仕様の制御機器を備えた設備機器を実際に運転して得られた運転データを利用して、制御動作のテストに必要な運転データのみからなる運転入力データを生成する。実機再現データ記憶ステップは、運転入力データを運転入力データログとして記憶する。実機再現テストステップは、運転入力データログを利用して、制御動作のテストを行う。
【００２１】
この制御テスト支援システム用プログラムでは、設備機器を実際に運転して不具合が生じた場合に、この不具合が生じた際の運転データから制御動作のテストに使用する運転入力データを生成して、運転入力データログとして記憶し、この運転入力データを利用して、不具合が生じた設備機器が備えた制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器に対して、不具合が生じた条件における制御動作のテストを行うことができる。
【００２２】
請求項１２に記載の制御テスト支援システム用プログラムは、請求項１１において、実機再現データ生成ステップは、運転入力データから、経時的変化が所定値を超える運転データのみを選択した簡略入力データを生成する実機再現簡略データ生成ステップを含んでいる。
この制御テスト支援システム用プログラムでは、運転入力データログを構成する運転データから経時的変化が所定値を超える運転データのみを選択した簡略入力データを生成することによって、記憶部に記憶させる運転入力データログのデータ量を削減することができる。
【００２３】
請求項１３に記載の制御テスト支援システム用プログラムは、請求項１１又は１２において、運転入力データログを利用して制御動作のテストを行うことによってテスト対象制御機器から模擬出力部に出力された動作信号に対応する出力データと、設備機器を実際に運転して得られた運転データのうち出力データに対応する運転データとの一致／不一致を判定する実機異常判定ステップを実行させる。
【００２４】
この制御テスト支援システム用プログラムでは、実機の設備機器において、不具合が生じた際の運転データと、制御動作のテストで得られた出力データとの一致／不一致を判定することができるため、実機の設備機器における不具合の原因を容易に特定することができる。
請求項１４に記載の制御テスト支援システム用プログラムは、請求項９又は１０において、制御動作のテストによりテスト対象制御機器から模擬出力部に出力される動作信号に対応する出力データとしてテスト対象制御機器に記憶された内部データと、制御動作のテストによりテスト対象制御機器から模擬出力部に出力された動作信号に対応する出力データとの一致／不一致を判定する制御機器異常判定ステップを実行させる。
【００２５】
この制御テスト支援システム用プログラムでは、テスト対象制御機器が模擬出力部に出力する動作信号に対応する出力データからなる内部データと、制御動作のテストによりテスト対象制御機器から模擬出力部に実際に出力された動作信号に対応する出力データとの一致／不一致を判定することができるため、テスト対象制御機器の正常／異常を判定することができる。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明にかかる制御テスト支援システムの実施形態について、図面に基づいて説明する。
（１）制御テスト支援システムの全体構成
図１は、本発明の第１実施形態の制御テスト支援システム１にテスト対象制御機器２が接続された状態を示す構成図である。図２は、制御テスト支援システム１にテスト対象制御機器２が接続された状態を示すブロック図である。制御テスト支援システム１は、空気調和装置等の家電製品や設備機器を構成する入力機器及び出力機器に接続された制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器２を用いて制御動作のテストを行うシステムである。尚、本実施形態においては、制御テスト支援システム１を家電製品や設備機器の一つであるセパレート型の空気調和装置を対象とした制御テスト支援システムであるものとして、以下の説明を行う。
【００２７】
＜テスト対象制御機器＞
テスト対象制御機器２は、本実施形態において、２つの制御基板２１、２２である。ここで、制御基板２１、２２は、それぞれ、空気調和装置の室内機及び室外機の制御基板であり、実際の運転環境と同様に、制御基板２１、２２間が通信線２３を介して通信可能に接続されている。
【００２８】
制御基板２１は、図２に示すように、制御用ソフトウェアが格納されたＰＲＯＭを有するマイコン２１ａと、ＲＡＭモニタ２１ｂとを有しており、制御基板２２は、制御基板２１と同様に、マイコン２２ａと、ＲＡＭモニタ２２ｂとを有している。マイコン２１ａ、２２ａは、入力機器から入力される入力機器の動作信号に基づいて、制御用ソフトウェアに従って、出力機器が適切な動作を行うように指令するための動作信号を出力機器へ出力する。ＲＡＭモニタ２１ｂ、２２ｂは、出力機器に出力される出力データを内部データとして記憶するメモリである。
【００２９】
＜制御テスト支援システム＞
制御テスト支援システム１は、テスト治具３と、テスト装置本体４とを備えている。
テスト治具３は、空気調和装置を構成する入力機器及び出力機器の動作を模擬的に行う模擬入力部３１及び模擬出力部３２を有しており、テスト対象制御機器２に接続されている。ここで、空気調和装置における入力機器とは、室内機及び室外機の各所の温度や圧力を検出する温度センサや圧力センサ、又は各種アクチュエータ（例えば、モータや弁）の接点等のように、運転動作に必要な条件となる信号を制御基板２１、２２に入力する機器をいう。また、空気調和装置における出力機器とは、送風機や圧縮機等のように、入力機器の動作信号に応じて制御基板２１、２２から適切に動作するように指令がなされる機器をいう。尚、模擬入力部３１及び模擬出力部３２は、上記のように、いずれも多種多様なものが存在するため、図２においては、簡略化して表示している。
【００３０】
模擬入力部３１は、温度センサや圧力センサのように制御基板２１、２２に対して電圧信号を入力するものと、各種接点のようにＯＮ／ＯＦＦ信号を入力するものとがある。そして、制御基板２１、２２の制御用ソフトウェアは、電圧信号を温度データや圧力データに変換して使用するようになっている。模擬出力部３２は、制御基板２１、２２から出力された動作信号によって、表示ランプ等が点灯するようになっている。
【００３１】
テスト装置本体４は、図２に示すように、テスト治具３に接続されたコンピュータであり、テスト実施者が入力機器の動作信号に対応する入力データを入力することが可能な入力部４１と、入力データを表示することが可能な表示部４２と、入力データに基づいて模擬入力部３１から制御基板２１、２２に入力される動作信号を可変して制御動作のテストを行う制御部４３と、入力データをテスト入力データログとして記憶することが可能な記憶部４４とを有している。
【００３２】
具体的には、入力部４１は、キーボード４１ａやマウス４１ｂであり、制御部４３に接続されている。表示部４２は、ＣＲＴや液晶等のディスプレイであり、制御部４３に接続されている。
制御部４３は、マイクロプロセッサを含むＣＰＵ４３ａと、ＲＯＭやＲＡＭを含むメモリ４３ｂと、Ｉ／Ｏ部４３ｃとから構成されている。Ｉ／Ｏ部４３ｃは、通信線４５を介してテスト治具３に接続されており、テスト実施者が入力した入力データを模擬入力部３１に出力することが可能である。ここで、テスト実施者が入力する入力データのうち、温度センサや圧力センサ等の動作信号に対応するアナログデータは、模擬入力部３１において、制御基板２１、２２に入力するための電圧信号に変換されるようになっている。一方、テスト実施者が入力する入力データのうち、各種接点等の動作信号に対応するデジタルデータは、模擬入力部３１を介して、制御基板２１、２２に直接入力されるようになっている。また、Ｉ／Ｏ部４３ｃは、制御基板２１、２２から模擬出力部３２に出力された出力データを取り込んで、制御部４３に出力することが可能である。
【００３３】
記憶部４４は、ハードディスクドライブ、フレキシブルディスクドライブ、ＣＤ−Ｒドライブ等であり、制御部４３に接続されている。記憶部４４は、入力データをテスト入力データログとして記憶したり、Ｉ／Ｏ部４３ｃを介して模擬出力部３２から出力された出力データを記憶することができる。
（２）手動テスト機能
次に、制御テスト支援システム１の手動テスト機能について、図２〜図５に基づいて説明する。ここで、図３は、手動テストのフローチャートである。図４は、手動テスト用ＧＵＩの画面表示を示す図である。図５は、手動テストのテスト入力データログを示す図である。手動テスト機能とは、テスト治具３の模擬入力部３１から制御基板２１、２２に入力される動作信号を、テスト装置本体４の入力部４１を介して入力し、制御動作のテストを行う機能である。
【００３４】
＜初期値入力ステップＳ１＞
まず、図３に示すように、制御動作のテストの初期条件を作るために、入力データの初期値をテスト実施者が手動で入力を行う。このとき、図４に示されるような手動テスト用ＧＵＩをディスプレイ４２に表示し、この画面表示を介して、各種項目の入力データの初期値をキーボード４１ａやマウス４１ｂを用いて入力する。
【００３５】
ここで、図４の手動テスト用ＧＵＩの画面表示について説明する。この画面では、温度センサや圧力センサ等のアナログデータの入力画面（図４の左側）と、各種接点等のデジタルデータの入力画面（図４の右側）とが分けて表示されている。
アナログデータの入力画面では、テキストボックス４１ｃと、スライダ４１ｄと、４つのボタン４１ｅとが表示されている。
【００３６】
テキストボックス４１ｃは、入力データを表示する機能と、入力データを直接入力する機能とを有している。これにより、テスト実施者は、マウス４１ｂを用いて入力したい項目のテキストボックスにカーソルを合わせてクリックし、キーボード４１ａを介して入力データを入力することができる。
スライダ４１ｄは、入力データをスムーズに増減する機能を有している。これにより、テスト実施者は、マウス４１ｂを用いてスライダを左右に移動させて入力データを増減することができる。このとき、テキストボックス４１ｃに表示された入力データの値も同時に増減されるようになっているため、テスト実施者は、その表示された入力データを参照しながら、スライダ４１ｄを移動させて入力データを増減することができる。
【００３７】
４つのボタン４１ｅは、予め設定されたステップ値ごとに入力データを増減する機能を有している。４つのボタン４１ｅのうち、画面右側に表示された２つの黒く塗りつぶされた三角形のボタンは、画面左側に表示された２つの白抜きの三角形のボタンよりも大きなステップ値（例えば、１０倍のステップ値等）が設定されている。そして、画面上向きに頂点を有する三角形のボタンは、入力データを増加させる機能を有し、画面下向きに頂点を有する三角形のボタンは、入力データを減少させる機能を有している。これにより、テスト実施者は、マウス４１ｂを用いて各ボタンをクリックして入力データを増減することができる。このとき、テキストボックス４１ｃに表示された入力データも同時に増減されるようになっているため、テスト実施者は、その表示された入力データを見ながら、これらのボタンをクリックして入力データを増減させることができる。
【００３８】
各種接点等のデジタルデータの入力画面では、各項目ごとに、接点のＯＮ／ＯＦＦを切り換えるためのオプションボタン４１ｆが表示されている。これにより、テスト実施者は、マウス４１ｂを用いてオプションボタン４１ｆをクリックすることで接点のＯＮ／ＯＦＦを切り換えることができる。
＜手動テスト開始、初期値記憶ステップＳ２＞
テスト実施者が各種項目の入力データの初期値の入力を終了すると、制御動作のテストを開始する。
【００３９】
すると、これらの入力データの初期値は、制御部４３のＩ／Ｏ部４３ｃ、通信線４５を介してテスト治具３の模擬入力部３１に送られる。そして、模擬入力部３１に送られた入力データは、温度センサや圧力センサを模擬するアナログデータについては、模擬入力部３１において、そのアナログデータに対応する電圧信号に変換される。このアナログデータから電圧信号への変換は、予め準備されたアナログデータと電圧信号との関係式あるいはテーブルを用いて行われる。例えば、温度センサを模擬する模擬入力部３１においては、テスト装置本体４の入力部４１から入力された温度データを対応する電圧信号に変換している。その後、この電圧信号は、電気線４６を介して制御基板２１、２２のマイコン２１ａ、２２ａに送られる。一方、各種接点を模擬するデジタルデータについては、模擬入力部３１に送られた後、さらに、通信線４７を介して制御基板２１、２２のマイコン２１ａ、２２ａに送られる。次に、制御基板２１、２２のマイコン２１ａ、２２ａに送られた電圧信号は、マイコン２１ａ、２２ａ内で、再度、電圧信号に対応するアナログデータに変換されて、制御用ソフトウェアに使用される。一方、制御基板２１、２２のマイコン２１ａ、２２ａに送られたデジタルデータは、マイコン２１ａ、２２ａの各種接点をＯＮ／ＯＦＦさせる。すると、マイコン２１ａ、２２ａから入力データに応じた出力信号が模擬出力部３２に送られて、模擬出力部３２がその出力信号に応じた動作を行う。例えば、圧縮機を模擬する模擬出力部３２に対して運転指令に相当する信号が出力されて、ＬＥＤ等により運転中であることを表示する等の動作が行われる。
【００４０】
このとき、テスト装置本体４内においては、各種項目の入力データの初期値は、時刻０秒として、記憶部４４又はメモリ４３ｂに記憶されている（図５参照）。
＜入力データ入力ステップＳ３＞
次に、テスト実施者が、初期値入力ステップと同様に、手動テスト用ＧＵＩの画面表示を介して、各種項目の入力データをキーボード４１ａやマウス４１ｂを用いて入力する。
【００４１】
＜入力データ記憶ステップＳ４＞
入力データが入力されると、手動テスト開始時と同様に、入力データが対応する模擬入力部３１に送られて電圧信号への変換等がされた後、マイコン２１ａ、２２ａに送られる。そして、マイコン２１ａ、２２ａに内蔵された制御用ソフトウェアによる処理がなされた後、模擬出力部３２に出力信号が送られて、模擬出力部３２において出力信号に応じた動作が行われる。
【００４２】
このとき、テスト装置本体４内において、テスト実施者によって入力された入力データは、入力した時刻とともに、記憶部４４又はメモリ４３ｂに記憶されている（例えば、図５に示されるテスト開始から１０秒後及び１２秒後の入力データ参照）。
＜手動テスト終了ステップＳ５＞
上記のような入力データの入力、テスト実行、入力データの記憶をテスト終了まで繰り返して行うことで、手動テストを行う。そして、テストが終了した時点で、入力データの記憶を終了し、これらの入力データをテスト入力データログとして記憶部４４に保存する。ここで、これらの入力データがＲＡＭ等のメモリ４３ｂに一時的に記憶されている場合には、上記ステップＳ２及びステップＳ４における入力データを記憶する処理を行わずに、これらの入力データをステップＳ５の後に、テスト入力データログとして記憶部４４にまとめて保存するようにしてもよい。
【００４３】
以上のように、この手動テスト機能では、テスト実施者が、テスト装置本体４の入力部４１を介して、入力機器の動作信号に対応する入力データを表示部４２に表示させながら入力することができ、この入力データに基づいて、テスト装置本体４の制御部４３が模擬入力部３１から制御基板２１、２２に出力される動作信号を可変して、制御動作のテストが行なわれるため、従来のように、テスト実施者がテスト治具３の模擬入力部３１に対して手動で入力することにより制御テストを行う場合に比べて、入力操作の操作性が向上し、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
【００４４】
また、テスト装置本体４の記憶部４４が、入力データをテスト入力データログとして、例えば、図５に示すようなデータファイルとして記憶することができるようになっているため、同じテストを再度行う際にも、容易に再現することができるようになり、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
（３）自動テスト機能
次に、制御テスト支援システム１の自動テスト機能について、図２及び図６を用いて説明する。ここで、図３は、手動テストのフローチャートである。自動テスト機能とは、手動テストにおいて入力され、記憶部４４に記憶されたテスト入力データログを利用して、制御動作のテストを行う機能である。
【００４５】
＜テスト入力データログ読出ステップＳ１１＞
まず、図６に示すように、記憶部４４に記憶されたテスト入力データログを制御部４３のメモリ４３ｂに読み出す。
＜自動テスト実行ステップＳ１２＞
次に、メモリ４３ｂに読み出されたテスト入力データログを構成する入力データ（例えば、図５に示されるデータ）を入力データの初期値から順に、入力した時刻ごとにテスト治具３の模擬入力部３１に送り、制御動作のテストを実行する。
【００４６】
以上のように、この自動テスト機能では、手動テストにおいて記憶部４４に記憶されたテスト入力データログを利用して、制御動作のテストを行うことができるため、手動テストと同じテストを自動的に簡単に再現することができる。
（４）テストデータ編集
次に、制御テスト支援システム１のテストデータ編集機能について、図７及び図８を用いて説明する。ここで、図７は、テストデータ編集のフローチャートである。図８は、テストデータ編集用ＧＵＩの画面表示を示す図である。このテストデータ編集機能は、自動テストに使用するテスト入力データを新規に作成したり、手動テストで入力され記憶部４４に記憶されたテスト入力データログの内容を編集する機能である。
【００４７】
＜選択ステップＳ２１、テスト入力データログ読出ステップＳ２２＞
まず、図７に示すように、テスト実施者がテスト入力データを新規に作成するのか、又は、テスト入力データログを編集するのかを選択する。そして、テスト実施者がテスト入力データログを編集することを選択した場合には、記憶部４４に記憶されたテスト入力データログを制御部４３のメモリ４３ｂに読み出す。
【００４８】
＜編集ステップＳ２３、編集終了ステップＳ２４＞
次に、テスト実施者がテスト入力データの編集作業を行う。このとき、図８に示されるようなテストデータ編集用ＧＵＩを表示部４２に表示し、この画面表示を介して、各種項目の入力データをキーボード４１ａやマウス４１ｂを用いて編集する。
【００４９】
ここで、図８のテストデータ編集用ＧＵＩについて説明する。この画面では、アナログデータを同じ単位を有するデータごとに、時刻を横軸にとって、折れ線グラフで表示（図８では、温度センサ類の温度を表示する折れ線グラフと、圧力センサ類の圧力を表示する折れ線グラフとに分けて表示）し、デジタルデータを各データごとに、時刻を横軸にとって、折れ線グラフで表示している。尚、新規にテスト入力データを作成する際には、この画面表示は、データ項目とグラフの横軸及び縦軸のみが表示されていたり、適当な入力データの初期値が入力された状態になっている。そして、これらの折れ線は、テスト実施者がマウス４１ｂのドラッグアンドドロップ操作等で移動、線引き、及び線削除等の作業を行うことができるようになっている。これにより、テスト実施者は、図８に表示された折れ線によって入力データの値を参照しながら、折れ線の移動、線引き、及び線削除等の作業を行うことで、テスト入力データを編集することができる。
【００５０】
＜テスト入力データ記憶ステップＳ２５＞
上記のような入力データの編集作業を行った後、これらの入力データをテスト入力データログとして記憶部４４に保存する。ここで、編集画面上で折れ線表示された入力データは、制御部４３のメモリ４３ｂに一時的に記憶されているため、これらの入力データを入力データログとして記憶部４４に保存する。
【００５１】
以上のように、このテストデータ編集機能では、テスト実施者が、新規に自動テスト用の入力データの作成や、記憶部４４に記憶されたテスト入力データログの内容の編集を、表示部４２の画面上に可視化した状態で行うことができる。これにより、例えば、テスト条件を部分的に変更する等のテスト入力データの編集作業を簡単に行うことができる。
【００５２】
（５）制御基板のチェック機能
次に、制御テスト支援システム１の制御基板のチェック機能について、図２、図９及び図１０を用いて説明する。ここで、図９は、手動テストを行う場合の制御基板のチェックのフローチャートである。図１０は、自動テストを行う場合の制御基板のチェックのフローチャートである。制御基板のチェック機能とは、制御動作のテストにより制御基板２１、２２から模擬出力部３２に出力される動作信号に対応する出力データとして制御基板２１、２２のＲＡＭモニタ２１ｂ、２２ｂに記憶された内部データと、制御動作のテストにより制御基板２１、２２から模擬出力部３２に実際に出力された動作信号に対応する出力データとの一致／不一致を判定して、制御基板２１、２２の正常／異常を判定する機能である。尚、この機能は、手動テストを行う場合、及び自動テストを行う場合のどちらの場合でも、実行することが可能である。
【００５３】
＜手動テストの場合＞
以下、図９を用いて、手動テストを行う場合の制御基板のチェックについて説明する。ここで、ステップＳ３１、Ｓ３２、Ｓ３３、Ｓ３５については、図３に示すステップＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ５と同じであるため、説明を省略し、ステップＳ３４、Ｓ３６、Ｓ３７のみについて説明する。
【００５４】
ステップＳ３３で、入力データが入力されると、入力データが対応する模擬入力部３１に送られて電圧信号への変換等がされた後、マイコン２１ａ、２２ａに送られる。そして、マイコン２１ａ、２２ａに内蔵された制御用ソフトウェアによる処理がなされた後、模擬出力部３２に出力信号が送られて、模擬出力部３２において出力信号に応じた動作が行われる。また、マイコン２１ａ、２２ａに接続されたＲＡＭモニタ２１ｂ、２２ｂには、マイコン２１ａ、２２ａから模擬出力部３２に出力される出力信号に対応する出力データが内部データとして記憶されている。
【００５５】
このとき、テスト装置本体４において、テスト実施者によって入力された入力データは、入力した時刻とともに、記憶部４４又はメモリ４３ｂに記憶されている（例えば、図５に示されるテスト開始から１０秒後及び１２秒後の入力データ）。ここでは、テスト装置本体４において、さらに、模擬出力部３２に出力された出力信号がＩ／Ｏ部４３ｃを介して取り込まれて記憶部４４に記憶されるとともに、ＲＡＭモニタ２１ｂ、２２ｂから通信線４８を介して内部データが取り込まれて、記憶部４４に記憶される（図２参照）。
【００５６】
次に、出力及び内部データ読出ステップＳ３６において、一旦、記憶部４４に記憶された出力データ及び内部データを制御部４３に読み出す。そして、異常判断ステップＳ３７において、出力データと内部データとの一致／不一致が判定される。そして、出力データと内部データとが一致しない場合には、制御基板２１、２２において、マイコン２１ａ、２２ａから模擬出力部３２へ出力データを出力する部分との間に異常があるものと判定される。
【００５７】
＜自動テストの場合＞
自動テストを行う場合についても、上記の手動テストを行う場合と同様に、制御基板のチェックを行うことができる。ここで、自動テストを行う場合の制御基板のチェックは、図１０に示されるように、図６に示すステップＳ１１と同様のステップＳ３８と、手動テストにおけるステップＳ３４、Ｓ３６、Ｓ３７と同様のステップＳ３９、Ｓ４０、Ｓ４１に従って行われる。
【００５８】
以上のように、この制御基板のチェック機能では、制御基板２１、２２が模擬出力部３２に出力する動作信号に対応する出力データからなる内部データと、制御動作のテストにより制御基板２１、２２から模擬出力部３２に実際に出力された動作信号に対応する出力データとの一致／不一致を判定して、制御基板２１、２２の正常／異常を判断することができる。
【００５９】
（６）実機再現機能
次に、制御テスト支援システム１の実機再現機能について、図１１及び図１２を用いて説明する。ここで、図１１は、実機のＲＡＭモニタの内部データを制御テスト支援システム１に取り込むことができるようにネットワーク接続された状態を示す構成図である。図１２は、実機再現機能のフローチャートである。実機再現機能とは、実機のＲＡＭモニタの内部データから自動テストに使用するテスト入力データを生成して運転入力データログとして記憶部４４に記憶し、この運転データログを用いて、自動テストを行う機能である。
【００６０】
＜実機データ取込ステップＳ５１＞
制御テスト支援システム１は、図１１に示すように、テストを実施している場所とは別の場所に設置された実機の空気調和装置９１のＲＡＭモニタとネットワーク４９を介して接続されて、内部データを取り込むことができるようになっている。
【００６１】
そして、図１２に示すように、空気調和装置９１のＲＡＭモニタから実際に運転して得られた運転データをテスト装置本体４の制御部４３に取り込む。
＜実機再現データ生成ステップＳ５２、実機再現データ記憶ステップＳ５３＞
次に、テスト装置本体４の制御部４３に取り込まれた運転データの中から制御動作のテストに必要なデータのみを選択して運転入力データを生成する。そして、この運転入力データが運転入力データログとして記憶部４４に記憶される。また、運転データのうち後述のテスト出力データログを構成する出力データに対応する項目の運転データが実機出力データログとして記憶部４４に記憶される。
【００６２】
＜運転入力データログ読出ステップＳ５４＞
次に、記憶部４４に記憶された運転入力データログを制御部４３のメモリ４３ｂに読み出す。
＜自動テスト実行ステップＳ５５＞
次に、メモリ４３ｂに読み出された運転入力データログをその初期値から順に入力した時刻ごとにテスト治具３の模擬入力部３１に送り、制御動作のテストを実行する。ここでは、テスト装置本体４において、さらに、模擬出力部３２に出力された出力データがＩ／Ｏ部４３ｃを介して取り込まれて、テスト出力データログとして、記憶部４４に記憶される。
【００６３】
＜出力データ読出ステップＳ５６＞
次に、記憶部４４に記憶された実機出力データログ及びテスト出力データログを制御部４３に読み出す。
＜実機異常判定ステップＳ５７＞
次に、読み出された実機出力データログと、テスト出力データログとの一致／不一致が判定される。そして、実機出力データログとテスト出力データログとが一致しない場合には、実機の空気調和装置９１の制御基板の不具合の原因を特定するためのデータとして利用される。
【００６４】
以上のように、この実機再現機能では、実機と同じ入力条件での制御動作のテストを行うことができるため、空気調和装置９１を実際に運転して不具合が生じた場合に、この不具合が生じた際の運転データから運転入力データを生成して、運転入力データログとして記憶し、この運転入力データを利用して、不具合が生じた空気調和装置９１が備えた制御基板と同じ仕様の制御基板に対して、不具合が生じた条件における制御動作のテストを行うことができる。
【００６５】
さらに、不具合が生じた際の運転データからなる実機出力データログと、制御動作のテストで得られたテスト出力データログとの一致／不一致を判定して、不具合の原因を特定することもできる。
（７）簡略データ生成機能
次に、制御テスト支援システム１の簡略データ生成機能について、図１３、図１４、図１５及び図１６を用いて説明する。ここで、図１３及び図１４は、簡略データ生成のフローチャートである。図１５は、実機のＲＡＭモニタの運転データログを示す図である。図１６は、簡略データを示す図である。簡略データ生成機能とは、実機再現データ生成ステップＳ５２（図１２参照）において、運転入力データログを構成する運転データから、経時的変化が所定値を超える運転データのみを選択した簡略入力データを生成する機能である。
【００６６】
＜実機再現簡略データ生成ステップＳ６１＞
実機のＲＡＭモニタからテスト装置本体４に取り込まれた運転データのうち、温度や圧力等のアナログデータの簡略入力データの生成方法について説明する。
まず、図１３に示されるように、実機のＲＡＭモニタからテスト装置本体４に取り込まれる運転データの処理が１回目かどうかを選択する（ステップＳ７１）。ここで、１回目の場合は、図１２に示される実機再現データ生成ステップＳ５２と同様に、テスト装置本体４の制御部４３に取り込まれた運転データの中から制御動作のテストに必要な運転データを選択する処理のみを行い、経時的な変化がない運転データであってもなくても、すべての運転データを含む運転入力データログを生成する（ステップＳ７５）。ここで、図１３に示される符号ｙは、処理中の現在時刻のデータを示し、符号ｙ_１は、処理中のデータｙの一つ前の時刻のデータを示している。
【００６７】
一方、ステップＳ７１において、２回目以降のデータ処理の場合には、経時的変化がない運転データについては、間引きした簡略入力データを生成するようにしている（ステップＳ７２、Ｓ７３）。詳細には、ステップＳ７２において、処理中の現在時刻のデータｙと一つ前の時刻のデータｙ_１との差を演算して、その絶対値がしきい値Ｔ_ｈ以上の場合には、運転データｙをテストデータとするが（ステップＳ７３）、しきい値Ｔ_ｈ未満の場合には、たとえ運転データｙと運転データｙ_１とが全く同じ値でない場合であっても、運転データｙをテストデータとせずに、次の時刻の運転データを処理する。これにより、現在時刻の運転データｙが間引きされる。このような処理をすべての時刻の運転データについて行う（ステップＳ７４）。
【００６８】
次に、デジタルデータの簡略入力データの生成方法について説明する。デジタルデータについても、図１４に示されるように、実機のＲＡＭモニタからテスト装置本体４に取り込まれる運転データの処理が１回目かどうかを選択する（ステップＳ７６）。ここで、１回目の場合は、アナログデータの場合と同様に、テスト装置本体４の制御部４３に取り込まれた運転データの中から制御動作のテストに必要な運転データを選択する処理のみを行い、経時的な変化がないデータであっても、すべての運転データを含む運転入力データログを生成する（ステップＳ８０）。
【００６９】
一方、ステップＳ７６において、２回目以降のデータ処理の場合においても、アナログデータの場合と同様に、経時的変化がないデータについては、間引きした簡略入力データを生成するようにしている（ステップＳ７７、Ｓ７８）。しかし、デジタルデータの場合は、アナログデータの場合と異なり、値そのものが０と１だけしかないため、しきい値は設けられていない。これにより、現在時刻の運転データｙが間引きされる。このような処理をすべての時刻の運転データについて行う（ステップＳ７９）。
【００７０】
上記の処理を図１５及び図１６を用いて、具体的に説明する。例えば、実機のＲＡＭモニタからテスト装置本体４に取り込まれた運転データのうち、外気温度の運転データに着目すると、この運転データは、３０℃（時刻１０：００：００）から３０．０５℃（時刻１０：００：０２）に上昇し、また、３０．１℃（時刻１０：００：０４）に上昇し、さらに、３０．２℃（時刻１０：００：１０）に上昇している。ここで、外気温度についてのしきい値Ｔ_ｈを０．１℃と設定している場合、上記の処理がなされると、図１６に示されるように、時刻０秒（すなわち、時刻１０：００：００）における外気温度は３０℃となり、時刻２秒（すなわち、時刻１０：００：０２）における外気温度は、温度値の変化がしきい値Ｔ_ｈよりも小さいため、時刻１秒（すなわち、時刻１０：００：０１）におけるデータがテストデータから間引きされている。このような処理により、時刻３秒（すなわち、時刻１０：００：０３）、５秒（すなわち、時刻１０：００：０５）〜９秒（すなわち、時刻１０：００：０９）までの外気温度データが間引きされている。このように、他の運転データについても、テストデータの間引きが行われるようになっている。
【００７１】
以上のように、簡略データ生成機能では、運転入力データログを構成する運転データから経時的変化が所定値を超える運転データのみを選択した簡略入力データを生成することによって、記憶部４４に記憶させる運転入力データログのデータ量を削減することができる。
（８）他の実施形態
以上、本発明の実施形態について図面に基づいて説明したが、具体的な構成は、これらの実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。
【００７２】
例えば、前記実施形態では、本発明をセパレート型の空気調和装置に適用したが、これに限定されず、他の家電製品や設備機器に適用してもよい。
【００７３】
【発明の効果】
以上の説明に述べたように、本発明によれば、以下の効果が得られる。
請求項１にかかる発明では、コンピュータからなるテスト装置本体の入力部を介して、入力機器の動作信号に対応する入力データを表示部に表示させながら手動で入力することができ、この入力データに基づいて、テスト装置本体の制御部が模擬入力部からテスト対象制御機器に出力される動作信号を可変して、制御動作のテストが行なわれるため、従来のように、テスト実施者がテスト治具の模擬入力部に対して手動で入力することにより制御機器に動作信号を入力する場合に比べて、入力操作の操作性が向上し、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
【００７４】
また、テスト装置本体の記憶部が、入力データをテスト入力データログとして記憶することができるようになっているため、同じテストを再度行う際にも、容易に再現することができるようになり、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
請求項２にかかる発明では、テスト装置本体を介して手動入力されたテスト入力データログを利用して、制御動作のテストを行うことができるため、同じテストを自動的に簡単に再現することができる。
【００７５】
請求項３にかかる発明では、テスト入力データの内容を可視化して編集できるため、テスト条件を部分的に変更する等のテスト入力データの編集作業を簡単に行うことができる。
請求項４にかかる発明では、設備機器を実際に運転して不具合が生じた場合に、この不具合が生じた際の運転データから制御動作のテストに使用する運転入力データを生成して、運転入力データログとして記憶し、この運転入力データを利用して、不具合が生じた設備機器が備える制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器に対して、不具合が生じた条件における制御動作のテストを行うことができる。
【００７６】
請求項５にかかる発明では、運転入力データログを構成する運転データから経時的変化が所定値を超える運転データのみを選択した簡略入力データを生成することによって、記憶部に記憶させる運転入力データログのデータ量を削減することができる。
請求項６にかかる発明では、実機の設備機器において、不具合が生じた際の運転データと、制御動作のテストで得られた出力データとの一致／不一致を判定することができるため、実機の設備機器における不具合の原因を容易に特定することができる。
【００７７】
請求項７にかかる発明では、テスト対象制御機器が模擬出力部に出力する動作信号に対応する出力データからなる内部データと、制御動作のテストによりテスト対象制御機器から模擬出力部に実際に出力された動作信号に対応する出力データとの一致／不一致を判定することができるため、テスト対象制御機器の正常／異常を判定することができる。
【００７８】
請求項８にかかる発明では、コンピュータからなるテスト装置本体の入力部を介して、入力機器の動作信号に対応する入力データを表示部に表示させながら入力することができ、この入力データに基づいて、テスト装置本体の制御部が模擬入力部からテスト対象制御機器に出力される動作信号を可変して、制御動作のテストが行なわれるため、従来のように、テスト実施者が手動入力によりテスト治具の模擬入力部から制御機器に動作信号を入力する場合に比べて、入力操作の操作性が向上し、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
【００７９】
また、テスト装置本体の記憶部が、入力データをテスト入力データログとして記憶することができるようになっているため、同じテストを再度行う際にも、容易に再現することができるようになり、制御動作のテストを効率的に行うことができる。
請求項９にかかる発明では、テスト装置本体を介して手動入力されたテスト入力データログを利用して、制御動作のテストを行うことができるため、同じテストを自動的に簡単に再現することができる。
【００８０】
請求項１０にかかる発明では、テスト入力データログの内容を可視化して編集できるため、テスト条件を部分的に変更する等のテスト入力データの編集作業を簡単に行うことができる。
請求項１１にかかる発明では、設備機器を実際に運転して不具合が生じた場合に、この不具合が生じた際の運転データから制御動作のテストに使用する運転入力データを生成して、運転入力データログとして記憶し、この運転入力データを利用して、不具合が生じた設備機器が備えた制御機器と同じ仕様のテスト対象制御機器に対して、不具合が生じた条件における制御動作のテストを行うことができる。
【００８１】
請求項１２にかかる発明では、運転入力データログを構成する運転データから経時的変化が所定値を超える運転データのみを選択した簡略入力データを生成することによって、記憶部に記憶させる運転入力データログのデータ量を削減することができる。
請求項１３にかかる発明では、実機の設備機器において、不具合が生じた際の運転データと、制御動作のテストで得られた出力データとの一致／不一致を判定することができるため、実機の設備機器における不具合の原因を容易に特定することができる。
【００８２】
請求項１４にかかる発明では、テスト対象制御機器が模擬出力部に出力する動作信号に対応する出力データからなる内部データと、制御動作のテストによりテスト対象制御機器から模擬出力部に実際に出力された動作信号に対応する出力データとの一致／不一致を判定することができるため、テスト対象制御機器の正常／異常を判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態の制御テスト支援システムにテスト対象制御機器が接続された状態を示す構成図。
【図２】本発明の第１実施形態の制御テスト支援システムにテスト対象制御機器が接続された状態を示すブロック図。
【図３】手動テストのフローチャート。
【図４】手動テスト用ＧＵＩの画面表示を示す図。
【図５】手動テストのテスト入力データログを示す図。
【図６】自動テストのフローチャート。
【図７】テストデータ編集のフローチャート。
【図８】テストデータ編集用ＧＵＩの画面表示を示す図。
【図９】制御基板のチェックのフローチャート（手動テスト時）。
【図１０】制御基板のチェックのフローチャート（自動テスト時）。
【図１１】実機のＲＡＭモニタの内部データを制御テスト支援システムに取り込むことができるようにネットワーク接続された状態を示す構成図。
【図１２】実機再現機能のフローチャート。
【図１３】簡略データ生成のフローチャート（アナログデータ）。
【図１４】簡略データ生成のフローチャート（デジタルデータ）。
【図１５】実機のＲＡＭモニタのデータログを示す図。
【図１６】簡略データを示す図。
【符号の説明】
１制御テスト支援システム
２テスト用制御機器
３テスト治具
４テスト装置本体
３１模擬入力部
３２模擬出力部
４１入力部
４２表示部
４３制御部
４４記憶部
９１空気調和装置[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a control test support system, and a program for the control test support system, in particular, the same specification as that of the control device in order to confirm the control operation of the control device that is connected to the input device and the output device and constitutes the equipment device. A control test support system for testing a control operation by connecting a test target control device to a test jig having a simulation input unit and a simulation output unit for simulating the operation of the input device and the output device, and the control test In the support system, the present invention relates to a control test support system program used in a test apparatus body including a computer connected to a test jig.
[0002]
[Prior art]
In home appliances and equipment such as air conditioners, control devices with built-in microcomputers are incorporated. This control device is provided mainly for the purpose of controlling the operation of the output device in accordance with the operation signal of the input device that constitutes the home appliance or facility device. For this reason, the control device is connected to a test jig equipped with a simulated input unit and a simulated output unit for simulating the operation of various input devices and output devices after being manufactured. In particular, it has been confirmed whether or not the microcomputer performs the control operation as designed (hereinafter, the control device used for the test of the control operation is referred to as a test target control device).
[0003]
Next, regarding the test of the control operation of the control board provided in the air conditioner as an example of home appliances and equipment, the control operation when the indoor temperature rises from the thermo-off state to the indoor air conditioning temperature setting is confirmed. A test will be described as an example. In this case, first, the tester changes the temperature value of the indoor temperature sensor, which is a simulated input unit, to be higher than the set value of the air conditioning temperature in order to create a condition in which the indoor temperature has increased. Then, since the operation signal of the simulation input unit of the indoor temperature sensor is input to the test target control device, the test target control device is configured to circulate the refrigerant in the refrigerant circuit by the control software of the microcomputer incorporated therein. The operation signal corresponding to the start command or the valve opening command is output to the compressor output unit or the electronic output valve simulation output unit for the compressor motor or electronic expansion valve which is the simulation output unit. . Then, the tester confirms whether or not the operation display of the simulated output unit of the compressor, the display of the opening direction operation of the simulated output unit of the electronic expansion valve, and the like are performed as designed by this operation signal. The tests for confirming other control operations are performed in the same manner as described above, although the simulated input unit and the simulated output unit to be used may be different.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In the above test, the tester inputs the operation signal from the simulated input part of the test jig to the control device by manual input, and the control operation is tested. is there. For example, in the above test, the simulated input unit of the temperature sensor is configured to generate a voltage signal that simulates a voltage signal input from the temperature sensor to the test target control device by changing the resistance value of the variable resistor. This is because the tester needs to manually change the resistance value of the variable resistor. In addition, since the tester inputs the test conditions to the simulation input unit by manual input, there is also a problem that when the same test is performed again, it cannot be easily reproduced. As described above, there is a problem that the control operation test of the test target control device cannot be performed efficiently.
[0005]
An object of the present invention is to make it possible to efficiently test a control operation of a control device performed using a test jig.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The control test support system according to claim 1 uses a test target control device having the same specifications as the control device in order to check the control operation of the control device that is connected to the input device and the output device and constitutes the facility device. A control test support system that performs a control operation test, includes a test jig and a test apparatus main body. The test jig includes a simulation input unit and a simulation output unit that simulate the operations of the input device and the output device, and is connected to the test target control device. The main body of the test apparatus is composed of a computer, an input unit capable of inputting input data corresponding to an operation signal of the input device, a display unit capable of displaying the input data, and a simulated input based on the input data A control unit that performs a test of the control operation by changing an operation signal input to the test target control device from the unit, and a storage unit that can store input data as a test input data log.
[0007]
In this control test support system, input data corresponding to the operation signal of the input device can be manually input through the input unit of the test apparatus main body composed of a computer while being displayed on the display unit. Thus, the control unit of the test apparatus main body changes the operation signal output from the simulation input unit to the test target control device, and the control operation is tested. Compared to the case where an operation signal is input to the control device by manually inputting to the simulated input unit, the operability of the input operation is improved, and the control operation test can be performed efficiently.
[0008]
In addition, since the storage unit of the test apparatus main body can store the input data as a test input data log, it can be easily reproduced when performing the same test again, The control operation test can be performed efficiently.
A control test support system according to a second aspect of the present invention is the control test support system according to the first aspect, wherein the control unit can test the control operation using a test input data log.
[0009]
In this control test support system, a test of the control operation can be performed using a test input data log manually input via the test apparatus body, so that the same test can be easily and automatically reproduced. .
According to a third aspect of the present invention, in the control test support system according to the second aspect, the control unit can edit the content of the test input data via the input unit in a state where the test input data is displayed on the display unit. Is possible.
[0010]
In this control test support system, the contents of the test input data can be visualized and edited, so that the test input data can be easily edited such as partially changing the test conditions.
A control test support system according to a fourth aspect of the present invention is the control test support system according to the second aspect, wherein the control unit uses operation data obtained by actually operating a facility device having a control device having the same specifications as the test target control device. Thus, it is possible to generate operation input data consisting only of operation data necessary for the test of the control operation. The storage unit can store the operation input data as an operation input data log.
[0011]
In this control test support system, when a malfunction occurs when the equipment is actually operated, the operation input data used to test the control operation is generated from the operation data when the malfunction occurs, and the operation input data It is possible to test the control operation under the condition where the failure occurs for the test target control device having the same specifications as the control device included in the failure equipment using the operation input data stored as a log. it can.
[0012]
A control test support system according to a fifth aspect is the control test support system according to the fourth aspect, wherein the control unit can generate simplified input data in which only operation data whose temporal change exceeds a predetermined value is selected from the operation input data log. is there. The storage unit can store the simplified input data as an operation input data log.
In this control test support system, the operation input data log stored in the storage unit is generated by generating simplified input data that selects only operation data whose temporal change exceeds a predetermined value from the operation data constituting the operation input data log. The amount of data can be reduced.
[0013]
A control test support system according to a sixth aspect of the present invention is the control test support system according to the fourth or fifth aspect, wherein the control unit outputs a test to the simulation output unit from the test target control device by performing a control operation test using the operation input data log. It is possible to determine whether the output data corresponding to the operation signal matches the operation data corresponding to the output data among the operation data obtained by actually operating the equipment.
[0014]
In this control test support system, it is possible to determine the match / mismatch between the operation data when a failure occurs in the actual equipment and the output data obtained in the control operation test. The cause of the malfunction in can be easily identified.
A control test support system according to a seventh aspect of the present invention is the control test support system according to the second or third aspect, wherein the test target control device stores, as internal data, output data corresponding to the operation signal output to the simulated output unit by the control operation test. Yes. The control unit can determine whether the internal data matches or does not match the output data corresponding to the operation signal output from the test target control device to the simulated output unit by the control operation test.
[0015]
In this control test support system, internal data consisting of output data corresponding to the operation signal output from the test target control device to the simulated output unit and the test target control device were actually output from the test target control device to the simulated output unit. Since it is possible to determine the match / mismatch with the output data corresponding to the operation signal, it is possible to determine whether the test target control device is normal or abnormal.
[0016]
The control test support system program according to claim 8 is provided with a test target control device having the same specifications as the control device in order to check the control operation of the control device that is connected to the input device and the output device and constitutes the facility device. A computer connected to a test jig in a control test support system for testing a control operation by connecting to a test jig having a simulation input unit and a simulation output unit for simulating the operation of an input device and an output device A test program for a control test support system used for a test apparatus main body comprising: an input data input step, a manual test step, and an input data storage step. In the input data input step, input data corresponding to an operation signal of the input device is input. In the manual test step, the control signal is tested by varying the operation signal input from the simulation input unit to the test target control device based on the input data. The input data storage step stores the input data as a test input data log.
[0017]
In this control test support system program, input data corresponding to an operation signal of an input device can be input and displayed on a display unit via an input unit of a test apparatus body composed of a computer. Since the control unit of the test device main body changes the operation signal output from the simulated input unit to the test target control device and the control operation is tested, the tester performs the test by manual input as before. Compared with the case where an operation signal is input to the control device from the simulated input part of the jig, the operability of the input operation is improved, and the control operation test can be performed efficiently.
[0018]
In addition, since the storage unit of the test apparatus main body can store the input data as a test input data log, it can be easily reproduced when performing the same test again, The control operation test can be performed efficiently.
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a program for a control test support system according to the eighth aspect, wherein an automatic test step for testing a control operation is executed using a test input data log.
[0019]
In this program for control test support system, it is possible to test the control operation using the test input data log manually input through the test equipment body, so that the same test can be reproduced easily and automatically. Can do.
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a program for a control test support system, according to the ninth aspect, which executes an editing step for editing data in a state where the content of the test input data is displayed on the screen.
[0020]
In this control test support system program, the contents of the test input data can be visualized and edited, so that the test input data editing operation such as partially changing the test conditions can be easily performed.
The control test support system program according to claim 11 is provided with a test target control device having the same specifications as the control device in order to confirm the control operation of the control device that is connected to the input device and the output device and constitutes the facility device. In a control test support system for testing a control operation by connecting to a test jig having a simulated input unit and a simulated output unit for simulating the operation of an input device and an output device, from a computer connected to the test jig This is a program for a control test support system used in the test apparatus main body, and executes an actual machine reproduction data generation step, an actual machine reproduction data storage step, and an actual machine reproduction test step. The actual machine reproduction data generation step consists of only the operation data necessary for the test of the control operation using the operation data obtained by actually operating the equipment with the control device having the same specifications as the control target test device. Generate driving input data. The actual machine reproduction data storage step stores the operation input data as an operation input data log. In the actual machine reproduction test step, the control operation test is performed using the operation input data log.
[0021]
In this control test support system program, when a malfunction occurs when the equipment is actually operated, the operation input data used for the test of the control operation is generated from the operation data when the malfunction occurs, and the operation is performed. Stored as an input data log, and using this operation input data, test the control operation under the condition where the failure occurred for the test target control device with the same specifications as the control device provided in the facility device where the failure occurred It can be carried out.
[0022]
According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a program for a control test support system according to the eleventh aspect, wherein the actual machine reproduction data generation step generates simplified input data in which only operation data whose temporal change exceeds a predetermined value is selected from the operation input data. The actual machine reproduction simplified data generation step is included.
In this control test support system program, the operation input data to be stored in the storage unit is generated by generating simple input data in which only operation data whose temporal change exceeds a predetermined value is selected from the operation data constituting the operation input data log. The amount of log data can be reduced.
[0023]
The control test support system program according to claim 13 is the operation output from the test target control device to the simulation output unit by performing the control operation test using the operation input data log in claim 11 or 12. An actual machine abnormality determination step is executed to determine whether the output data corresponding to the signal and the operation data corresponding to the output data out of the operation data obtained by actually operating the equipment are matched.
[0024]
In this control test support system program, it is possible to determine the match / mismatch between the operation data when a failure occurs in the actual equipment and the output data obtained in the control operation test. The cause of the malfunction in the equipment can be easily identified.
The control test support system program according to claim 14 is the test target control device according to claim 9 or 10 as output data corresponding to an operation signal output from the test target control device to the simulation output unit by the control operation test. The control device abnormality determination step is executed to determine the coincidence / mismatch between the internal data stored in the control data and the output data corresponding to the operation signal output from the test target control device to the simulation output unit by the control operation test.
[0025]
In this control test support system program, internal data consisting of output data corresponding to the operation signal output from the test target control device to the simulation output unit and the actual output from the test target control device to the simulation output unit through the control operation test Since it is possible to determine the match / mismatch with the output data corresponding to the operated signal, it is possible to determine the normality / abnormality of the test target control device.
[0026]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of a control test support system according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
(1) Overall configuration of control test support system
FIG. 1 is a configuration diagram illustrating a state in which a test target control device 2 is connected to the control test support system 1 according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a block diagram illustrating a state in which the test target control device 2 is connected to the control test support system 1. The control test support system 1 is a system for testing a control operation using a test target control device 2 having the same specifications as a control device connected to an input device and an output device constituting home appliances and equipment such as an air conditioner. It is. In the present embodiment, the following description will be given on the assumption that the control test support system 1 is a control test support system for a separate type air conditioner that is one of household appliances and equipment.
[0027]
<Controlled test equipment>
The test target control device 2 is two control boards 21 and 22 in the present embodiment. Here, the control boards 21 and 22 are control boards for the indoor unit and the outdoor unit of the air conditioner, respectively, and the control boards 21 and 22 can communicate with each other via the communication line 23 as in the actual operating environment. It is connected to the.
[0028]
As shown in FIG. 2, the control board 21 includes a microcomputer 21 a having a PROM in which control software is stored and a RAM monitor 21 b. The control board 22 is similar to the control board 21 in the microcomputer 22 a. And a RAM monitor 22b. The microcomputers 21 a and 22 a output an operation signal for instructing the output device to perform an appropriate operation according to the control software based on the operation signal of the input device input from the input device. The RAM monitors 21b and 22b are memories that store output data output to the output device as internal data.
[0029]
<Control test support system>
The control test support system 1 includes a test jig 3 and a test apparatus body 4.
The test jig 3 includes a simulation input unit 31 and a simulation output unit 32 that simulate the operations of the input device and the output device that constitute the air conditioning apparatus, and is connected to the test target control device 2. Here, the input device in the air conditioner is an operating device such as a temperature sensor or a pressure sensor for detecting the temperature or pressure of each part of the indoor unit or the outdoor unit, or a contact point of various actuators (for example, a motor or a valve). It refers to a device that inputs signals that are necessary for operation to the control boards 21 and 22. The output device in the air conditioner refers to a device that is instructed to operate properly from the control boards 21 and 22 in accordance with an operation signal of the input device, such as a blower or a compressor. Note that the simulation input unit 31 and the simulation output unit 32 are all shown in a simplified manner in FIG.
[0030]
The simulated input unit 31 includes a unit that inputs a voltage signal to the control boards 21 and 22 such as a temperature sensor and a pressure sensor, and a unit that inputs an ON / OFF signal such as various contacts. The control software for the control boards 21 and 22 converts the voltage signal into temperature data and pressure data for use. The simulation output unit 32 is configured such that a display lamp or the like is lit by an operation signal output from the control boards 21 and 22.
[0031]
As shown in FIG. 2, the test apparatus main body 4 is a computer connected to the test jig 3, and an input unit 41 through which a tester can input input data corresponding to an operation signal of the input device. A display unit 42 capable of displaying input data, and a control unit 43 for testing a control operation by changing an operation signal input from the simulated input unit 31 to the control boards 21 and 22 based on the input data, And a storage unit 44 capable of storing input data as a test input data log.
[0032]
Specifically, the input unit 41 is a keyboard 41 a or a mouse 41 b and is connected to the control unit 43. The display unit 42 is a display such as a CRT or a liquid crystal, and is connected to the control unit 43.
The control unit 43 includes a CPU 43a including a microprocessor, a memory 43b including a ROM and a RAM, and an I / O unit 43c. The I / O unit 43 c is connected to the test jig 3 via the communication line 45 and can output input data input by the tester to the simulated input unit 31. Here, among the input data input by the tester, analog data corresponding to the operation signals of the temperature sensor, the pressure sensor, etc. is converted into voltage signals for input to the control boards 21 and 22 in the simulation input unit 31. It has come to be. On the other hand, among the input data input by the tester, digital data corresponding to operation signals such as various contacts is directly input to the control boards 21 and 22 via the simulation input unit 31. Further, the I / O unit 43 c can take the output data output from the control boards 21 and 22 to the simulated output unit 32 and output the output data to the control unit 43.
[0033]
The storage unit 44 is a hard disk drive, a flexible disk drive, a CD-R drive, or the like, and is connected to the control unit 43. The storage unit 44 can store input data as a test input data log or can store output data output from the simulated output unit 32 via the I / O unit 43c.
(2) Manual test function
Next, the manual test function of the control test support system 1 will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 3 is a flowchart of the manual test. FIG. 4 is a diagram showing a screen display of the manual test GUI. FIG. 5 is a diagram showing a test input data log of a manual test. The manual test function is a function of inputting an operation signal input from the simulation input unit 31 of the test jig 3 to the control boards 21 and 22 via the input unit 41 of the test apparatus body 4 and testing the control operation. It is.
[0034]
<Initial value input step S1>
First, as shown in FIG. 3, the tester manually inputs the initial value of the input data in order to create an initial condition for the test of the control operation. At this time, a manual test GUI as shown in FIG. 4 is displayed on the display 42, and initial values of input data of various items are input through the screen display using the keyboard 41a and the mouse 41b.
[0035]
Here, the screen display of the manual test GUI of FIG. 4 will be described. On this screen, an analog data input screen such as a temperature sensor and a pressure sensor (left side in FIG. 4) and a digital data input screen such as various contacts (right side in FIG. 4) are displayed separately.
On the analog data input screen, a text box 41c, a slider 41d, and four buttons 41e are displayed.
[0036]
The text box 41c has a function of displaying input data and a function of directly inputting input data. Thus, the tester can input the input data via the keyboard 41a by placing the cursor on the text box of the item to be input using the mouse 41b and clicking.
The slider 41d has a function of smoothly increasing / decreasing input data. Accordingly, the tester can increase or decrease the input data by moving the slider to the left or right using the mouse 41b. At this time, since the value of the input data displayed in the text box 41c is also increased or decreased at the same time, the tester moves the input data by moving the slider 41d while referring to the displayed input data. Can be increased or decreased.
[0037]
The four buttons 41e have a function of increasing / decreasing input data for each preset step value. Of the four buttons 41e, the two black triangular buttons displayed on the right side of the screen are larger step values than the two white triangular buttons displayed on the left side of the screen (for example, 10 times the step). Value). A triangular button having a vertex on the screen upward has a function of increasing the input data, and a triangular button having a vertex on the screen downward has a function of decreasing the input data. Thus, the tester can click on each button using the mouse 41b to increase or decrease the input data. At this time, since the input data displayed in the text box 41c is also increased or decreased at the same time, the tester clicks these buttons while increasing or decreasing the input data while looking at the displayed input data. Can be made.
[0038]
On the input screen of digital data such as various contacts, an option button 41f for switching ON / OFF of the contact is displayed for each item. Thus, the tester can switch the contact ON / OFF by clicking the option button 41f using the mouse 41b.
<Manual test start, initial value storage step S2>
When the tester finishes inputting the initial values of the input data for various items, the control operation test is started.
[0039]
Then, initial values of these input data are sent to the simulated input unit 31 of the test jig 3 via the I / O unit 43 c of the control unit 43 and the communication line 45. And the input data sent to the simulation input part 31 is converted into the voltage signal corresponding to the analog data in the simulation input part 31 about the analog data which simulates a temperature sensor or a pressure sensor. The conversion from the analog data to the voltage signal is performed using a relational expression or table between the analog data and the voltage signal prepared in advance. For example, in the simulation input unit 31 that simulates the temperature sensor, the temperature data input from the input unit 41 of the test apparatus body 4 is converted into a corresponding voltage signal. Thereafter, the voltage signal is sent to the microcomputers 21 a and 22 a of the control boards 21 and 22 through the electric wire 46. On the other hand, digital data for simulating various contacts is sent to the simulation input unit 31 and then sent to the microcomputers 21 a and 22 a of the control boards 21 and 22 via the communication line 47. Next, the voltage signals sent to the microcomputers 21a and 22a of the control boards 21 and 22 are converted again into analog data corresponding to the voltage signals in the microcomputers 21a and 22a and used for the control software. On the other hand, the digital data sent to the microcomputers 21a and 22a of the control boards 21 and 22 turns on and off various contacts of the microcomputers 21a and 22a. Then, an output signal corresponding to the input data is sent from the microcomputers 21a and 22a to the simulated output unit 32, and the simulated output unit 32 performs an operation corresponding to the output signal. For example, a signal corresponding to the operation command is output to the simulation output unit 32 that simulates the compressor, and an operation such as displaying that the operation is being performed by an LED or the like is performed.
[0040]
At this time, in the test apparatus body 4, initial values of input data of various items are stored in the storage unit 44 or the memory 43b as time 0 seconds (see FIG. 5).
<Input data input step S3>
Next, as in the initial value input step, the tester inputs input data of various items using the keyboard 41a and the mouse 41b via the screen display of the manual test GUI.
[0041]
<Input data storage step S4>
When the input data is input, the input data is sent to the corresponding simulated input unit 31 and converted into a voltage signal, etc., and then sent to the microcomputers 21a and 22a, as in the case of starting the manual test. Then, after the processing by the control software incorporated in the microcomputers 21a and 22a is performed, an output signal is sent to the simulation output unit 32, and the simulation output unit 32 performs an operation according to the output signal.
[0042]
At this time, the input data input by the tester in the test apparatus body 4 is stored in the storage unit 44 or the memory 43b together with the input time (for example, 10 seconds from the start of the test shown in FIG. 5). After and 12 seconds later).
<Manual test end step S5>
The manual test is performed by repeatedly performing the input data input, the test execution, and the storage of the input data as described above until the test is completed. Then, when the test is completed, the storage of the input data is terminated, and these input data are stored in the storage unit 44 as a test input data log. Here, when these input data are temporarily stored in the memory 43b such as a RAM, these input data are stored in the step S5 without performing the process of storing the input data in the steps S2 and S4. After that, the test input data log may be stored together in the storage unit 44.
[0043]
As described above, in this manual test function, the tester can input the input data corresponding to the operation signal of the input device via the input unit 41 of the test apparatus body 4 while displaying it on the display unit 42. Based on this input data, the control unit 43 of the test apparatus main body 4 varies the operation signal output from the simulation input unit 31 to the control boards 21 and 22, and the control operation is tested. As described above, the operability of the input operation is improved and the test of the control operation is efficiently performed as compared with the case where the tester manually inputs the simulated input unit 31 of the test jig 3 to perform the control test. Can be done.
[0044]
Further, since the storage unit 44 of the test apparatus main body 4 can store the input data as a test input data log, for example, as a data file as shown in FIG. 5, when performing the same test again. In addition, it can be easily reproduced, and the control operation can be efficiently tested.
(3) Automatic test function
Next, the automatic test function of the control test support system 1 will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 3 is a flowchart of the manual test. The automatic test function is a function for testing a control operation using a test input data log input in a manual test and stored in the storage unit 44.
[0045]
<Test Input Data Log Reading Step S11>
First, as shown in FIG. 6, the test input data log stored in the storage unit 44 is read into the memory 43 b of the control unit 43.
<Automatic test execution step S12>
Next, the input data (for example, the data shown in FIG. 5) constituting the test input data log read out to the memory 43b is input in order from the initial value of the input data, and the simulated input of the test jig 3 at each input time. The test is sent to the unit 31 and the control operation is executed.
[0046]
As described above, in this automatic test function, a test of the control operation can be performed using the test input data log stored in the storage unit 44 in the manual test, so the same test as the manual test is automatically performed. It can be easily reproduced.
(4) Test data editing
Next, the test data editing function of the control test support system 1 will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 7 is a flowchart of test data editing. FIG. 8 is a diagram showing a screen display of the test data editing GUI. This test data editing function is a function for newly creating test input data used for an automatic test or editing the content of a test input data log that is input by a manual test and stored in the storage unit 44.
[0047]
<Selection Step S21, Test Input Data Log Reading Step S22>
First, as shown in FIG. 7, the test executor selects whether to create new test input data or to edit the test input data log. When the tester has selected to edit the test input data log, the test input data log stored in the storage unit 44 is read into the memory 43 b of the control unit 43.
[0048]
<Edit Step S23, Edit End Step S24>
Next, the test executor edits test input data. At this time, a test data editing GUI as shown in FIG. 8 is displayed on the display unit 42, and input data of various items is edited using the keyboard 41a and the mouse 41b via this screen display.
[0049]
Here, the test data editing GUI shown in FIG. 8 will be described. In this screen, analog data is displayed as a line graph for each data having the same unit with the time as the horizontal axis (in FIG. 8, a line graph displaying the temperature of the temperature sensors and the pressure of the pressure sensors are displayed. (Divided into a line graph), and the digital data is displayed as a line graph for each data, with the time as the horizontal axis. When creating new test input data, this screen displays only the horizontal and vertical axes of the data items and graphs, or the initial values of appropriate input data have been entered. ing. These broken lines can be moved, drawn, and deleted by the tester by dragging and dropping the mouse 41b. As a result, the tester can edit the test input data by performing operations such as moving, drawing, and deleting the broken line while referring to the value of the input data by the broken line displayed in FIG. it can.
[0050]
<Test Input Data Storage Step S25>
After the input data editing operation as described above is performed, the input data is stored in the storage unit 44 as a test input data log. Here, since the input data displayed as a broken line on the editing screen is temporarily stored in the memory 43b of the control unit 43, the input data is stored in the storage unit 44 as an input data log.
[0051]
As described above, in this test data editing function, the tester can create new automatic test input data or edit the contents of the test input data log stored in the storage unit 44. This can be done in the state visualized on the screen. Thereby, for example, it is possible to easily edit test input data such as partially changing test conditions.
[0052]
(5) Control board check function
Next, the control board check function of the control test support system 1 will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 9 is a flowchart of the control board check when the manual test is performed. FIG. 10 is a flowchart of the control board check when the automatic test is performed. The control board check function is stored in the RAM monitors 21b and 22b of the control boards 21 and 22 as output data corresponding to the operation signals output from the control boards 21 and 22 to the simulation output unit 32 by the control operation test. It is determined whether the internal data and the output data corresponding to the operation signal actually output from the control boards 21 and 22 to the simulation output unit 32 by the test of the control operation are normal / inconsistent. This is a function for judging abnormality. This function can be executed both in the case of performing a manual test and the case of performing an automatic test.
[0053]
<For manual test>
Hereinafter, the check of the control board when performing the manual test will be described with reference to FIG. Here, Steps S31, S32, S33, and S35 are the same as Steps S1, S2, S3, and S5 shown in FIG. 3, and thus the description thereof is omitted, and only Steps S34, S36, and S37 are described.
[0054]
When input data is input in step S33, the input data is sent to the corresponding simulated input unit 31 and converted into a voltage signal, and then sent to the microcomputers 21a and 22a. Then, after the processing by the control software incorporated in the microcomputers 21a and 22a is performed, an output signal is sent to the simulation output unit 32, and the simulation output unit 32 performs an operation according to the output signal. In addition, output data corresponding to an output signal output from the microcomputers 21a and 22a to the simulated output unit 32 is stored as internal data in the RAM monitors 21b and 22b connected to the microcomputers 21a and 22a.
[0055]
At this time, in the test apparatus main body 4, the input data input by the tester is stored in the storage unit 44 or the memory 43b together with the input time (for example, 10 seconds after the start of the test shown in FIG. 5). And input data after 12 seconds). Here, in the test apparatus main body 4, the output signal output to the simulated output unit 32 is further taken in via the I / O unit 43 c and stored in the storage unit 44, and the communication line from the RAM monitors 21 b and 22 b. Internal data is taken in via 48 and stored in the storage unit 44 (see FIG. 2).
[0056]
Next, in the output and internal data reading step S <b> 36, the output data and internal data once stored in the storage unit 44 are read out to the control unit 43. Then, in the abnormality determination step S37, it is determined whether the output data and the internal data match or do not match. If the output data does not match the internal data, it is determined that there is an abnormality between the control boards 21 and 22 and the part that outputs the output data from the microcomputers 21a and 22a to the simulated output unit 32. .
[0057]
<In case of automated test>
In the case of performing the automatic test, the control board can be checked in the same manner as in the case of performing the manual test. Here, as shown in FIG. 10, the check of the control board when performing the automatic test includes step S38 similar to step S11 shown in FIG. 6, and step S39 similar to steps S34, S36, and S37 in the manual test. , S40, S41.
[0058]
As described above, in the control board check function, the control boards 21 and 22 are controlled by the control board 21 and 22 through the internal data including the output data corresponding to the operation signal output to the simulation output unit 32 and the control operation test. The normal / abnormality of the control boards 21 and 22 can be determined by determining the coincidence / non-coincidence with the output data corresponding to the operation signal actually output to the simulated output unit 32.
[0059]
(6) Real machine reproduction function
Next, the real machine reproduction function of the control test support system 1 will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 11 is a configuration diagram showing a state in which the internal data of the RAM monitor of the actual machine is connected to the network so that it can be taken into the control test support system 1. FIG. 12 is a flowchart of the real machine reproduction function. The real machine reproduction function is to generate test input data used for an automatic test from the internal data of the RAM monitor of the real machine, store it in the storage unit 44 as an operation input data log, and perform an automatic test using this operation data log It is a function.
[0060]
<Real machine data fetching step S51>
As shown in FIG. 11, the control test support system 1 is connected to a RAM monitor of an actual air conditioner 91 installed at a place different from the place where the test is performed via a network 49 and connected to the inside. Data can be imported.
[0061]
Then, as shown in FIG. 12, operation data obtained by actual operation from the RAM monitor of the air conditioner 91 is taken into the control unit 43 of the test apparatus body 4.
<Real machine reproduction data generation step S52, Real machine reproduction data storage step S53>
Next, only the data necessary for the test of the control operation is selected from the operation data fetched by the control unit 43 of the test apparatus body 4 to generate operation input data. And this driving | operation input data is memorize | stored in the memory | storage part 44 as a driving | operation input data log. In addition, among the operation data, operation data of items corresponding to output data constituting a test output data log described later is stored in the storage unit 44 as an actual machine output data log.
[0062]
<Operation Input Data Log Reading Step S54>
Next, the operation input data log stored in the storage unit 44 is read into the memory 43 b of the control unit 43.
<Automatic test execution step S55>
Next, the operation input data log read out to the memory 43b is sent to the simulation input unit 31 of the test jig 3 every time when the log is sequentially input from the initial value, and the control operation test is executed. Here, in the test apparatus body 4, the output data output to the simulated output unit 32 is further taken in via the I / O unit 43 c and stored in the storage unit 44 as a test output data log.
[0063]
<Output Data Reading Step S56>
Next, the actual machine output data log and the test output data log stored in the storage unit 44 are read out to the control unit 43.
<Actual machine abnormality determination step S57>
Next, a match / mismatch between the read actual machine output data log and the test output data log is determined. When the actual machine output data log and the test output data log do not match, it is used as data for specifying the cause of the malfunction of the control board of the actual air conditioner 91.
[0064]
As described above, this real machine reproduction function can perform a control operation test under the same input conditions as the real machine, so that this problem occurs when the air conditioner 91 is actually operated and a problem occurs. The operation input data is generated from the operation data at the time of storage, and is stored as an operation input data log. By using this operation input data, the control board having the same specifications as the control board provided in the air conditioner 91 in which a failure has occurred On the other hand, it is possible to perform a test of the control operation under a condition where a failure has occurred.
[0065]
Furthermore, it is possible to determine the cause of the malfunction by determining the coincidence / non-coincidence between the actual machine output data log composed of the operation data when the malfunction occurs and the test output data log obtained by the control operation test.
(7) Simplified data generation function
Next, the simplified data generation function of the control test support system 1 will be described with reference to FIGS. 13, 14, 15, and 16. Here, FIGS. 13 and 14 are flowcharts of simplified data generation. FIG. 15 is a diagram showing an operation data log of the RAM monitor of the actual machine. FIG. 16 is a diagram showing simplified data. The simplified data generation function generates simplified input data in which only operation data whose change over time exceeds a predetermined value is selected from the operation data constituting the operation input data log in the actual machine reproduction data generation step S52 (see FIG. 12). It is a function to do.
[0066]
<Real machine reproduction simplified data generation step S61>
A description will be given of a method of generating simplified input data of analog data such as temperature and pressure among the operation data fetched from the RAM monitor of the actual machine into the test apparatus body 4.
First, as shown in FIG. 13, it is selected whether or not the processing of the operation data taken into the test apparatus body 4 from the RAM monitor of the actual machine is the first time (step S71). Here, in the case of the first time, as in the actual machine reproduction data generation step S52 shown in FIG. 12, the operation data necessary for the test of the control operation is selected from the operation data taken into the control unit 43 of the test apparatus body 4. The operation input data log including all the operation data is generated regardless of whether or not the operation data does not change with time (step S75). Here, the symbol y shown in FIG. 13 indicates data at the current time being processed, and the symbol y ₁ Indicates data at the time immediately before the data y being processed.
[0067]
On the other hand, in the case of the second and subsequent data processing in step S71, simplified input data that has been thinned out is generated for operation data that does not change over time (steps S72 and S73). More specifically, in step S72, the current time data y being processed and the previous time data y are processed. ₁ And the absolute value is the threshold value T _h In the above case, the operation data y is used as test data (step S73), but the threshold value T _h If it is less than, operation data y and operation data y ₁ Even if they are not exactly the same value, the operation data at the next time is processed without using the operation data y as test data. Thereby, the operation data y at the current time is thinned out. Such processing is performed for the operation data at all times (step S74).
[0068]
Next, a method for generating simplified input data of digital data will be described. As for the digital data, as shown in FIG. 14, it is selected whether or not the processing of the operation data taken into the test apparatus main body 4 from the actual RAM monitor is the first time (step S76). Here, in the case of the first time, as in the case of analog data, only the process of selecting the operation data necessary for the test of the control operation from the operation data taken into the control unit 43 of the test apparatus body 4 is performed. Even if the data does not change over time, an operation input data log including all operation data is generated (step S80).
[0069]
On the other hand, in step S76, in the second and subsequent data processing, as in the case of analog data, thinned simplified input data is generated for data that does not change with time (step S77, S78). However, in the case of digital data, unlike the case of analog data, the value itself has only 0 and 1, so no threshold is provided. Thereby, the operation data y at the current time is thinned out. Such processing is performed for the operation data at all times (step S79).
[0070]
The above process will be specifically described with reference to FIGS. 15 and 16. For example, if attention is paid to the operation data of the outside air temperature among the operation data taken into the test apparatus main body 4 from the RAM monitor of the actual machine, this operation data is from 30 ° C. (time 10:00:00) to 30.05 ° C. ( It rises at time 10:00:02), rises to 30.1 ° C. (time 10:00:04), and further rises to 30.2 ° C. (time 10:00:10). Here, the threshold T for the outside air temperature _h Is set to 0.1 ° C., when the above processing is performed, the outside air temperature at time 0 seconds (that is, time 10:00: 00) is 30 ° C. as shown in FIG. The outside air temperature at 2 seconds (that is, time 10:00:02) is that the change in temperature value is the threshold value T. _h Therefore, the data at time 1 second (that is, time 10:00:01) is thinned out from the test data. By such processing, outside temperature data from time 3 seconds (ie, time 10:00:03), 5 seconds (ie, time 10:00:05) to 9 seconds (ie, time 10:00:09). Is thinned out. As described above, the test data is thinned out also for other operation data.
[0071]
As described above, the simplified data generation function generates the simplified input data that selects only the operation data whose temporal change exceeds a predetermined value from the operation data constituting the operation input data log, and stores it in the storage unit 44. The amount of data in the operation input data log can be reduced.
(8) Other embodiments
As mentioned above, although embodiment of this invention was described based on drawing, a specific structure is not restricted to these embodiment, It can change in the range which does not deviate from the summary of invention.
[0072]
For example, in the said embodiment, although this invention was applied to the separate type air conditioning apparatus, it is not limited to this, You may apply to other household appliances and equipment.
[0073]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.
In the invention according to claim 1, it is possible to manually input the input data corresponding to the operation signal of the input device while displaying the input data on the display unit via the input unit of the test apparatus main body including the computer. Based on this, the control unit of the test apparatus main body changes the operation signal output from the simulation input unit to the test target control device and the control operation is tested. Compared with the case where an operation signal is input to the control device by manually inputting to the simulated input unit, the operability of the input operation is improved, and the control operation test can be performed efficiently.
[0074]
In addition, since the storage unit of the test apparatus main body can store the input data as a test input data log, it can be easily reproduced when performing the same test again, The control operation test can be performed efficiently.
In the invention according to claim 2, since the test of the control operation can be performed using the test input data log manually input via the test apparatus main body, the same test can be automatically and easily reproduced. it can.
[0075]
In the invention according to claim 3, since the contents of the test input data can be visualized and edited, the test input data editing operation such as partially changing the test conditions can be easily performed.
In the invention according to claim 4, when a malfunction occurs when the equipment is actually operated, the operation input data used for the test of the control operation is generated from the operation data when the malfunction occurs, and the operation input is performed. Store as a data log, and use this operation input data to test the control operation under the conditions where the failure occurs for the test target control device with the same specifications as the control device of the facility device where the failure occurred Can do.
[0076]
In the invention according to claim 5, the operation input data log to be stored in the storage unit by generating the simplified input data that selects only the operation data whose temporal change exceeds a predetermined value from the operation data constituting the operation input data log. Can reduce the amount of data.
In the invention according to claim 6, since it is possible to determine the coincidence / non-coincidence between the operation data at the time when the trouble occurs in the actual equipment and the output data obtained by the control operation test, the actual equipment The cause of the malfunction in the device can be easily identified.
[0077]
In the invention according to claim 7, internal data composed of output data corresponding to the operation signal output from the test target control device to the simulation output unit and the test target control device are actually output from the test target control device to the simulation output unit. Since it is possible to determine whether the output data corresponding to the operation signal matches or not, it is possible to determine whether the test target control device is normal or abnormal.
[0078]
In the invention according to claim 8, it is possible to input the input data corresponding to the operation signal of the input device while displaying it on the display unit via the input unit of the test apparatus main body composed of a computer. Since the control unit of the test apparatus main body changes the operation signal output from the simulated input unit to the test target control device, the control operation is tested. Compared with the case where an operation signal is input to the control device from the simulated input unit of the tool, the operability of the input operation is improved and the test of the control operation can be performed efficiently.
[0079]
In addition, since the storage unit of the test apparatus main body can store the input data as a test input data log, it can be easily reproduced when performing the same test again, The control operation test can be performed efficiently.
In the invention according to claim 9, since the test of the control operation can be performed using the test input data log manually input via the test apparatus main body, the same test can be easily and automatically reproduced. it can.
[0080]
In the invention according to claim 10, since the contents of the test input data log can be visualized and edited, the test input data editing operation such as partially changing the test conditions can be easily performed.
In the invention according to the eleventh aspect, when a malfunction occurs when the equipment is actually operated, the operation input data used for the test of the control operation is generated from the operation data when the malfunction occurs, and the operation input is performed. Stored as a data log, and using this operation input data, test the control operation under the condition where the failure occurred for the test target control device with the same specifications as the control device provided in the facility device where the failure occurred be able to.
[0081]
In the invention according to claim 12, the operation input data log to be stored in the storage unit by generating the simplified input data that selects only the operation data whose temporal change exceeds a predetermined value from the operation data constituting the operation input data log. Can reduce the amount of data.
In the invention according to the thirteenth aspect, in the actual equipment, since it is possible to determine the coincidence / mismatch between the operation data when the trouble occurs and the output data obtained in the control operation test, The cause of the malfunction in the device can be easily identified.
[0082]
In the invention according to claim 14, internal data composed of output data corresponding to the operation signal output from the test target control device to the simulation output unit and the test target control device are actually output from the test target control device to the simulation output unit. Since it is possible to determine whether the output data corresponding to the operation signal matches or not, it is possible to determine whether the test target control device is normal or abnormal.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing a state in which a test target control device is connected to a control test support system according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram showing a state where a test target control device is connected to the control test support system of the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a flowchart of a manual test.
FIG. 4 is a diagram showing a screen display of a manual test GUI.
FIG. 5 is a diagram showing a test input data log of a manual test.
FIG. 6 is a flowchart of an automatic test.
FIG. 7 is a flowchart of test data editing.
FIG. 8 is a diagram showing a screen display of a test data editing GUI.
FIG. 9 is a flowchart for checking a control board (during a manual test).
FIG. 10 is a flowchart of control board check (during automatic test).
FIG. 11 is a configuration diagram showing a state in which a network connection is made so that internal data of an actual RAM monitor can be taken into a control test support system.
FIG. 12 is a flowchart of an actual machine reproduction function.
FIG. 13 is a flowchart (analog data) of simplified data generation.
FIG. 14 is a flowchart (digital data) for generating simplified data.
FIG. 15 is a diagram showing a data log of a real machine RAM monitor;
FIG. 16 is a diagram showing simplified data.
[Explanation of symbols]
1 Control test support system
2 Control equipment for testing
3 Test jig
4 Test equipment
31 Simulation input section
32 Simulated output section
41 Input section
42 Display section
43 Control unit
44 storage
91 Air conditioner

Claims

A control test for testing a control operation using a test target control device (2) having the same specifications as the control device in order to confirm the control operation of the control device that is connected to the input device and the output device and constitutes the equipment device A support system (1),
A test jig (3) having a simulation input unit (31) and a simulation output unit (32) for simulating the operation of the input device and the output device, and connected to the test target control device;
An input unit (41) capable of inputting input data corresponding to an operation signal of the input device, a display unit (42) capable of displaying the input data, and the simulation based on the input data A control unit (43) for performing a control operation test by varying an operation signal input from the input unit to the test target control device, and a storage unit (44) capable of storing the input data as a test input data log And a test apparatus main body (4) comprising a computer connected to the test jig.

The control unit (43) can test the control operation using the test input data log.
The control test support system (1) according to claim 1.

The control unit (43) can edit the content of the test input data via the input unit (41) in a state where the test input data is displayed on the display unit (42).
The control test support system (1) according to claim 2.

The control unit (43) uses the operation data obtained by actually operating the equipment (91) having a control device having the same specifications as the test target control device (2) to test the control operation. It is possible to generate operation input data consisting only of operation data necessary for
The storage unit (44) can store the operation input data as an operation input data log.
The control test support system (1) according to claim 2.

The control unit (43) is capable of generating simplified input data in which only operation data whose temporal change exceeds a predetermined value is selected from the operation input data log.
The storage unit (44) can store the simplified input data as an operation input data log.
The control test support system (1) according to claim 4.

The control unit (43) corresponds to the operation signal output from the test target control device (2) to the simulated output unit (32) by performing a control operation test using the operation input data log. 6. It is possible to determine whether the output data matches or does not match the operation data corresponding to the output data among the operation data obtained by actually operating the equipment (91). Control test support system (1) described in 1.

The test target control device (2) stores, as internal data, output data corresponding to an operation signal output to the simulated output unit (32) by a control operation test,
The control unit (43) can determine whether the internal data matches or does not match the output data corresponding to the operation signal output from the test target control device to the simulated output unit by a control operation test. Is,
The control test support system (1) according to claim 2 or 3.

In order to check the control operation of the control device that is connected to the input device and the output device and constitutes the equipment device, the test target control device (2) having the same specifications as the control device is connected to the operation of the input device and the output device. Is connected to a test jig (3) having a simulation input section (31) and a simulation output section (32) for simulating the test operation in the control test support system (1) for testing the control operation. A program for a control test support system used in a test apparatus body (4) comprising a computer connected to
An input data input step of inputting input data corresponding to an operation signal of the input device;
A manual test step of performing a control operation test by varying an operation signal input from the simulated input unit to the test target control device based on the input data;
An input data storage step for storing the input data as a test input data log.

The program for a control test support system according to claim 8, wherein an automatic test step for testing a control operation is executed using the test input data log.

The program for a control test support system according to claim 9, wherein an editing step for editing the input data is executed in a state where the content of the test input data is displayed on the screen.

In order to check the control operation of the control device that is connected to the input device and the output device and constitutes the equipment device, the test target control device (2) having the same specifications as the control device is connected to the operation of the input device and the output device. Is connected to a test jig (3) having a simulation input section (31) and a simulation output section (32) for simulating the test operation in the control test support system (1) for testing the control operation. A program for a control test support system used in a test apparatus body (4) comprising a computer connected to
An operation input consisting only of operation data necessary for the control operation test using operation data obtained by actually operating the equipment device (91) having the control device having the same specification as the test target control device. Real machine reproduction data generation step to generate data,
An actual machine reproduction data storage step for storing the operation input data as an operation input data log;
A program for a control test support system for executing an actual machine reproduction test step for performing a control operation test using the operation input data log.

The actual machine reproduction data generation step includes an actual machine reproduction simple data generation step of generating simple input data in which only operation data whose temporal change exceeds a predetermined value is selected from the operation input data. Program for control test support system.

Output data corresponding to the operation signal output from the test target control device (2) to the simulated output unit (32) by performing a control operation test using the operation input data log, and the equipment device ( 91) An actual machine abnormality determination step for determining a match / mismatch with the operation data corresponding to the output data among the operation data obtained by actually driving 91) is executed for the control test support system according to claim 11 or 12. program.

Internal data stored in the test target control device as output data corresponding to the operation signal output from the test target control device (2) to the simulation output unit (32) by the control operation test, and the control operation test The control test support according to claim 9 or 10, wherein a control device abnormality determination step for determining a match / mismatch with output data corresponding to an operation signal output from the test target control device to the simulated output unit is executed. System program.