JP2004330793A - 微細孔内フッ素樹脂除去方法及び除去装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 厚さ方向に貫通して設けられた微細孔14を有するワーク15の微細孔14内のフッ素樹脂25aを除去する微細孔内フッ素樹脂除去方法であって、微細孔14の一方の開口面側からプラズマ化した処理ガス68aを微細孔14内に流入させて微細孔14内のフッ素樹脂25aを除去する。
【選択図】 図6
Description
図1は、本発明の実施形態1に係るインクジェット式記録ヘッドの断面図である。
図4のAに示した場合について述べる。Aは、フッ素樹脂とニッケルとを共析メッキして鋼(SUS)からなるノズルプレートの噴射面上に形成した撥インク膜である。この撥インク膜Aの形成時間は120分であり、300Wの電力を印加している。この撥インク膜Aの膜厚は2μmである。このような撥インク膜Aは、図4に示したように、水酸化度約0.025であるとともに、比重合度約0.06となった。
図4のBに示した場合について述べる。Bは、環状のパーフロロカーボンC4F8を大気中でプラズマ重合して鋼(SUS)からなるノズルプレートの上に形成した撥インク膜である。この撥インク膜Bの形成時間は20分であり、500Wの電力を印加している。この撥インク膜Bの膜厚は0.04μmである。このとき、四フッ化炭素は導入していない。このような撥インク膜Bは、図4に示したように、水酸化度約0.115であるとともに、比重合度約0.27となった。
図4のCに示した場合について述べる。Cは、直鎖状のパーフロロカーボンC8F18を真空中でプラズマ重合して鋼(SUS)からなるノズルプレートの表面上に形成した撥インク膜である。この撥インク膜Cの形成時間は20分であり、200Wの電力を印加している。この撥インク膜Cの膜厚は0.1μmである。このとき、四フッ化炭素は導入していない。このような撥インク膜Cは、図4に示したように、水酸化度約0.025であるとともに、比重合度約0.18となった。
図4のDに示した場合について述べる。Dは、直鎖状のパーフロロカーボンC8F18を真空中でプラズマ重合してノズルプレートの表面上に形成した撥インク膜である。この撥インク膜Dの形成時間は20分であり、300Wの電力を印加している。このプラズマ重合の際には、四フッ化炭素を導入している。ノズルプレートの材質はポリイミドであり、撥インク膜の膜厚は0.04μmである。また、Dは、パーフロロカーボンC8F18をプラズマ重合する室と別な処理室にノズルプレートを設けて、当該処理室にプラズマを導いてノズルプレートの表面上に撥インク膜を形成している。このような撥インク膜Dは、図4に示したように、水酸化度約0.035であるとともに、比重合度約0.06となった。
図4のEに示した場合について述べる。Eは、直鎖状のパーフロロカーボンC8F18を真空中でプラズマ重合してノズルプレートの表面上に形成した撥インク膜である。この撥インク膜Eの形成時間は10分であり、350Wの電力を印加している。このプラズマ重合の際には、四フッ化炭素を導入している。ノズルプレートの材質は鋼(SUS)であり、350Wの電力を印加している。この撥インク膜Eの膜厚は0.03μmである。また、Eは、実施形態で示したようにプラズマ放電させる電極の一方にノズルプレートを配置して、このノズルプレートの表面上で直接フッ素樹脂を形成して撥インク膜としたものである。このような撥インク膜Eは、図4に示したように、水酸化度約0.015であるとともに、比重合度約0.06となった。
図4のFに示した場合について述べる。Fは、直鎖状のパーフロロカーボンC8F18を真空中でプラズマ重合してノズルプレートの表面上に形成した撥インク膜である。この撥インク膜Fの形成時間は10分であり、400Wの電力を印加している。この撥インク膜Fの膜厚は0.02μmである。このプラズマ重合の際には、四フッ化炭素を導入している。ノズルプレートの材質はポリイミドであり、撥インク膜の膜厚は0.02μmである。また、Fは、実施形態で示したようにプラズマ放電させる電極の一方にノズルプレートを配置して、このノズルプレートの表面上で直接フッ素樹脂を形成して撥インク膜としたものである。このような撥インク膜Fは、図4に示したように、水酸化度約0.015であるとともに、比重合度約0.05となった。
図7は、実施形態2の噴射孔内フッ素樹脂除去装置70を示す説明図である。ノズルプレート15は真空吸引板61の上に配置されている。本実施形態においては、ノズルプレート15の上方にプラズマ発生手段を設けてある。すなわち、図7に示したように、ノズルプレート15の左上側に、アース65に接続した接地電極部66が配置してある。そして、ノズルプレートの右上側に、高周波電源64に接続した高周波電極部63が配置してある。高周波電極部63と接地電極部66とは、ノズルプレート15の上方で対向するように配置してある。これにより、高周波電極部63と接地電極部66との間で気体放電67を発生することができるようにしている。そして、図7に示したように、上方から処理ガス68が図示しない供給手段により供給され、気体放電67によりプラズマ化される。このプラズマ化された処理ガス68がノズルプレート15の噴射孔14内に流入して撥インク膜25aの除去を行うことができる。そして、撥インク膜25aを分解した処理ガス68は、真空吸引板61を介して真空ポンプ62により吸引される。このようにすることで、処理ガス68の撥インク膜25への影響を防止することができる。
図8は、実施形態3の噴射孔内フッ素樹脂除去装置80を示す説明図である。本実施形態においては、紫外線81により噴射孔14のフッ素樹脂25aを除去する場合について示している。図8に示したように、本実施形態においては、ノズルプレート15を配置するチャンバ82が設けてある。チャンバ82の上部には、紫外線照射手段である紫外線照射ランプ83が設けてあり、紫外線照射ランプ83から紫外線81を下方に向けて照射することができる。チャンバ82内の下部には、ノズルプレート15が図8に示したように配置してある。また、本実施形態においては、チャンバ82に減圧手段である真空ポンプ84を接続してあり、真空ポンプ84によりチャンバ82内を真空近くの圧力に保持させている。これにより、チャンバ82内の紫外線照射ランプ83から下方に照射された紫外線81は、大きく拡散したり散乱することなく噴射孔14内の撥インク膜25aを照射することができる。噴射孔14内の撥インク膜25aは紫外線81により分解されるため、紫外線81を照射することで撥インク膜25aを噴射孔14内から除去することができる。また、紫外線81は、反射すると直ちに減衰する性質を有している。このため、撥インク膜25aに入射した紫外線81が反射して噴射面15aの撥インク膜25に入射するといった事態を防止することができる。このため、噴射孔14の周囲の撥インク膜25に影響を及ぼすことなく、噴射孔14内の撥インク膜25aの除去を行うことができる。このような紫外線としては、波長が380nm以下のものを好ましく用いることができ、特に波長が200nm以下のものを好ましく用いることができる。また、膜厚0.2μmの撥インク膜25を形成した場合に紫外線81で噴射孔14内の撥インク膜25aの除去を行う場合には、処理時間として10分から30分程度の時間がかかる。
図9は、実施形態4の噴射孔内フッ素樹脂除去装置90を示す説明図である。本実施形態においては、電子線91により噴射孔14内の撥インク膜25aを除去する場合について示している。図9に示したように、チャンバ82の上部には、電子線照射手段である電子銃92が設けてあり、この電子銃92によりチャンバ82内下方に向けて電子線91を照射することができるようにしている。また、電子銃92はチャンバ82に支持されており、電子線91を下方に向けて照射することができる。そして、電子線91は図示しないコイルにより発生した磁場により、任意に電子線91の方向を変えることができる。チャンバ82内下部には、ノズルプレート15が配置してある。そして、チャンバ82には、真空ポンプ84が接続してあり、真空ポンプ84によりチャンバ82内を真空状態に保持できるようになっている。これにより、電子線91の平均自由行程を伸ばすことができるとともに、散乱によるエネルギー損失を避けることができる。電子線91は、直進性に極めて優れているとともに、電界を印加することにより電子線91の方向や量を容易に調整することができる。このため、噴射孔14の周囲に影響を与えることなく短時間に噴射孔14内の撥インク膜25aを除去することができる。本実施形態においては、膜厚0.2μm程度の撥インク膜25を形成した場合に、約10秒程度の短時間で噴射孔14内の撥インク膜25aを除去することができる。
図10は、実施形態5に係るノズルプレートの概略を示す斜視図及び断面図である。
以上、本発明について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されるものではない。
Claims (16)
- 厚さ方向に貫通して設けられた微細孔を有するワークの前記微細孔内のフッ素樹脂を除去する微細孔内フッ素樹脂除去方法であって、
前記微細孔の一方の開口面側からプラズマ化した処理ガスを前記微細孔内に流入させて当該微細孔内のフッ素樹脂を除去することを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。 - 請求項1において、前記ワークの一方面には、フッ素樹脂膜が形成されていることを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。
- 請求項2において、前記ワークの前記フッ素樹脂が形成されていない表面側から、前記処理ガスを前記微細孔内に流入させることを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。
- 請求項1〜3の何れかにおいて、前記処理ガスのプラズマ化は、大気圧またはその近傍の圧力下で行うことを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。
- 請求項1〜4の何れかにおいて、前記微細孔の一方側で吸引することにより、前記微細孔内にガスを流入させることを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。
- 厚さ方向に貫通して設けられた微細孔を有するワークの前記微細孔内のフッ素樹脂を除去する微細孔内フッ素樹脂除去方法であって、
前記微細孔の一方の開口面側から紫外線を照射して当該微細孔内のフッ素樹脂を除去することを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。 - 請求項6において、前記ワークの一方面には、フッ素樹脂膜が形成されていることを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。
- 請求項7において、前記ワークの前記フッ素樹脂が形成されていない表面側から、前記紫外線を前記微細孔内に照射することを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。
- 厚さ方向に貫通して設けられた微細孔を有するワークの前記微細孔内のフッ素樹脂を除去する微細孔内フッ素樹脂除去方法であって、
前記微細孔の一方面側から電子線を照射して当該微細孔内のフッ素樹脂を除去することを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。 - 請求項9において、前記ワークの一方面には、フッ素樹脂膜が形成されていることを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。
- 請求項10において、前記ワークの前記フッ素樹脂が形成されていない表面側から、前記電子線を前記微細孔内に照射することを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去方法。
- 微細孔を有するワークの前記微細孔の貫通方向の一方側に処理ガスを供給する供給手段と、大気圧またはその近傍の圧力下にある処理ガスをプラズマ化するプラズマ発生手段と、前記ワークの他方側に配置されて当該ワークの微細孔を介してプラズマ化された処理ガスを吸引する吸引部と、この吸引部に接続した吸引手段とを有することを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去装置。
- 請求項12において、前記吸引部が、前記ワークに密着する多孔性部材からなることを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去装置。
- 請求項12又は13において、前記吸引部が、プラズマ発生手段の前記ワークの一方側に配置された一方の電極と対となる他方の電極を兼ねることを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去装置。
- 微細孔を有するワークを配置する室と、当該室の圧力を低減する減圧手段と、ワークの微細孔内に紫外線を照射する紫外線照射手段とを有することを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去装置。
- 微細孔を有するワークを配置する室と、当該室の圧力を低減する減圧手段と、ワークの微細孔内に電子線を照射する電子線照射手段とを有することを特徴とする微細孔内フッ素樹脂除去装置。
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