JP2004214271A - 片面積層配線基板及びその製造方法 - Google Patents
片面積層配線基板及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004214271A JP2004214271A JP2002379415A JP2002379415A JP2004214271A JP 2004214271 A JP2004214271 A JP 2004214271A JP 2002379415 A JP2002379415 A JP 2002379415A JP 2002379415 A JP2002379415 A JP 2002379415A JP 2004214271 A JP2004214271 A JP 2004214271A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- resin
- build
- wiring board
- core substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
Abstract
【課題】反りが少なくてパターン形成精度に優れた片面積層配線基板を提供すること。
【解決手段】本発明の片面積層配線基板11は、第1主面13及び第2主面14を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板12と、第1主面13上にのみ形成されたビルドアップ層18とを備える。このようなコア基板12は、例えば、ガラス布基材と、熱硬化性樹脂と、セラミックフィラーとを含んで構成される。
【選択図】 図11
【解決手段】本発明の片面積層配線基板11は、第1主面13及び第2主面14を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板12と、第1主面13上にのみ形成されたビルドアップ層18とを備える。このようなコア基板12は、例えば、ガラス布基材と、熱硬化性樹脂と、セラミックフィラーとを含んで構成される。
【選択図】 図11
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、片面にのみビルドアップ層を有する片面積層配線基板及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、電気機器、電子機器等の小型化に伴い、これらの機器に搭載される配線基板等にも小型化や高密度化が要求されている。かかる市場の要求に応えるべく、配線基板の多層化技術が検討されている。多層化の方法としては、樹脂絶縁層と導体層とを交互に積層してなるビルドアップ層をコア基板の両方の主面に積層形成する方法(いわゆるビルドアップ法)が採用されることが多い。また最近では、ビルドアップ層を片方の主面にのみ備える片面積層配線基板も提案されている(例えば、特許文献1参照)。このような片面積層配線基板は、例えば以下の工程を経て製造される。
【0003】
あらかじめ導体層がパターニングされているコア基板を2枚用意する。これら2枚のコア基板を積層配置するとともに、それらのビルドアップ層非形成面同士の間にプリプレグ及び離型シートを介在させておく。この状態で加熱プレスを行い、2枚のコア基板を貼り合わせる。ここで、貼り合わされた2枚のコア基板におけるビルドアップ層形成面に樹脂絶縁層及び導体層を交互に積層することでビルドアップ層を形成する。そして、貼り合わされた2枚のコア基板を離型シートの箇所で剥離して2分割し、それぞれ配線基板とする。
【0004】
【特許文献1】
特開2001−36237号公報(図6等)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、ビルドアップ層を片面にのみ備える片面積層配線基板の場合、主としてビルドアップ層形成面側に大きな応力が働くという性質がある。よって、ビルドアップ層を両面に備える両面積層配線基板とは異なり、ビルドアップ層形成面側に凹となる反りが生じやすい。このような反りは、各工程での治具のセットを困難にしたり、パターン形成工程での位置合わせ精度を大幅に悪化させたりする原因となる。従って、パターン形成精度に優れたビルドアップ片面積層配線基板を高い歩留まりで製造するためには、このような配線基板の反りを極力低減しておく必要がある。
【0006】
ここで、配線基板の反りの低減を目的として剛性の高いコア基板、例えば曲げ弾性率の高いコア基板を用いたものも従来提案されているが、現状では反りを効果的に低減させるには至っていない。
【0007】
本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、反りが少なくてパターン形成精度に優れた片面積層配線基板及びその製造方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】
そこで、上記課題を解決すべく本願発明者らが鋭意研究を行ったところ、下記のような知見を得た。即ち、片面積層配線基板におけるビルドアップ層の形成工程において樹脂絶縁層を形成する際には、樹脂材料をTg点(ガラス転移点)付近またはそれ以上の温度に加熱してキュアする必要がある。このとき、片面積層配線基板を構成している樹脂材料は熱膨張及び硬化収縮を伴うため、特にこの過程でコア基板に大きな応力が働くことになる。しかしながら、従来の高曲げ弾性率のコア基板の特性を調査したところ、その曲げ弾性率の値は常温で高い反面、高温になるに従って次第に低下し、約150℃を超えると急激に低下することを知見した。つまり、従来の高曲げ弾性率のコア基板では、大きな応力が作用する150℃以上の温度域での剛性が不足している。それゆえ、コア基板が樹脂絶縁層の熱膨張及び硬化収縮に伴う応力に十分に耐えることができず、これが原因となって配線基板の反りの効果的な低減が図れないことがわかった。
【0009】
そこで、本願発明者らは上記知見に基づいて、150℃以上の温度域におけるコア基板の剛性を高めれば、配線基板の反りを効果的に低減しうるものと予想し、最終的に下記の課題解決手段を想到するに至ったのである。
【0010】
そして上記課題を解決するための手段としては、第1主面及び第2主面を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板と、前記第1主面上にのみ形成されたビルドアップ層とを備えることを特徴とする片面積層配線基板がある。
【0011】
従って、この片面積層配線基板によれば、150℃以上200℃以下の温度域の全般、言い換えるとビルドアップ層の形成時における加熱温度域の全般において、コア基板に高い剛性が確保される。それゆえ、配線基板を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力に耐えることが可能となり、もって配線基板の反りを効果的に低減することができる。
【0012】
また、別の解決手段としては、第1主面及び第2主面を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板を2枚用いるとともに、それらコア基板の前記両第2主面を対向配置し、離型シートを介して前記両コア基板同士を貼り合わせる工程と、貼り合わされた前記両コア基板の前記第1主面上にのみビルドアップ層を形成する工程と、貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程とを含むことを特徴とする片面積層配線基板の製造方法がある。
【0013】
従って、この製造方法によると、2枚のコア基板を貼り合わせることによりトータルの厚さが厚くなるため、剛性が高くなった状態でビルドアップ層の形成を行うことができる。しかも、前記コア基板は150℃以上200℃以下の温度域全般における剛性が高い。以上のことから、ビルドアップ層の形成時に発生する応力(即ち配線基板を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力)に耐えることが可能となる。よって、配線基板の反りを効果的に低減することができ、パターン形成精度に優れた配線基板を高い歩留まりで得ることができる。しかも、貼り合わされた2枚のコア基板間には離型シートが介在されるので、両コア基板を剥離して2分割する工程を比較的容易に実施することができる。また、その際にコア基板に大きな応力が加わることを防止することができる。
【0014】
以下、上記片面積層配線基板及びその製造方法について詳細に説明する。
【0015】
前記コア基板は、樹脂製または金属製であってかつ150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有している必要がある。より好ましいコア基板としては、例えば、150℃以上200℃以下の温度域全般において12GPa以上の曲げ弾性率を有しているものや、150℃以上250℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有しているもの、などを挙げることができる。
【0016】
コア基板の曲げ弾性率が前記温度域全般において10GPa未満であると、ビルドアップ層の形成時にコア基板に十分高い剛性を確保できなくなる。従って、配線基板を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力に耐えることができなくなる。また、150℃以上200℃以下の温度域において部分的に10GPa以上の曲げ弾性率を有していたとしても、前記温度域において全般的に10GPa以上の曲げ弾性率を有していなければ、やはりビルドアップ層の形成時にコア基板に十分高い剛性を確保できなくなる。
【0017】
前記金属製のコア基板としては、150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有するという条件を満たしていれば、任意のものを選択することができる。金属製のコア基板の具体例としては、例えば、銅板や銅合金板、銅以外の金属単体や、銅以外の金属の合金からなる板材などが挙げられる。前記銅以外の金属の合金としては、ステンレス(Fe−Cr系、Fe−Cr−Ni系などの鉄合金)、アンバー(Fe−Ni系合金、36%Ni)、いわゆる42アロイ(Fe−Ni系合金、42%Ni)、いわゆる50アロイ(Fe−Ni系合金、50%Ni)、ニッケル合金(Ni−P系、Ni−B系、Ni−Cu−P系)、コバルト合金(Co−P系、Co−B系、Co−Ni−P系)、スズ合金(Sn−Pb系、Sn−Pb−Pd系)などがある。これらの中でも特に、アンバー、42アロイ、50アロイといったFe−Ni系合金をコア基板用金属材料として用いることがよい。これら金属材料を用いたコア基板であれば、150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有するという条件を実現しやすいからである。
【0018】
また、前記樹脂製のコア基板としては、150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有するという条件を満たしていれば、任意のものを選択することができる。ここで、好適な樹脂製のコア基板の例としては、無機材料からなる基材(マトリクス材)と、熱硬化性樹脂と、無機フィラーとを含んで構成されるものを挙げることができる。
【0019】
無機材料からなるマトリクス材としては、絶縁性の無機繊維材料を二次元的にまたは三次元的に集積させた基材を指し、その具体例としてはガラス布基材などがある。熱硬化性樹脂としては、例えば、EP樹脂(エポキシ樹脂)、PI樹脂(ポリイミド樹脂)、BT樹脂(ビスマレイミド−トリアジン樹脂)、PPE樹脂(ポリフェニレンエーテル樹脂)などがある。なお、熱硬化性樹脂を用いる理由は、加熱によって軟化する熱可塑性樹脂を用いてコア基板を構成した場合、150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上という高い曲げ弾性率の実現が不可能だからである。無機フィラーとしては、シリカやアルミナ等のような絶縁性のセラミックスからなるフィラーや、ガラス等からなるフィラーなどがある。そして、上記コア基板のより具体的な好適例としては、ガラス布基材と、熱硬化性樹脂と、セラミックフィラーとを含んで構成されるものを挙げることができる。
【0020】
なお、コア基板における第1主面及び第2主面のうちの少なくとも一方には、必要に応じて所定パターンの導体層があらかじめ形成されていてもよい。また、前記コア基板には第1主面及び第2主面を連通させるスルーホール導体があらかじめ形成されていてもよい。
【0021】
次に、上述したようなコア基板を2枚用意するとともに、それらの前記両第2主面を対向配置し、離型シートを介して前記両コア基板同士を貼り合わせる工程を行う。なお、貼り合わされる2枚のコア基板は同じもの(同じ材料を用いて構成されたもの)であることがよい。例えば、高温での剛性に優れたコア基板を2枚用いたときでも、それらの熱膨張係数差が大きい場合には、ビルドアップ層の形成時に反りの原因となる応力が発生するおそれがある。これに対し、同じ材料を用いて構成されたコア基板同士であれば基本的に熱膨張係数もほぼ等しいため、貼り合わせた状態で加熱したとしてもそれほど大きな応力は発生しないからである。
【0022】
前記2枚のコア基板同士を貼り合わせる場合、対向配置されたコア基板のビルドアップ層非形成面(第2主面)間には少なくとも離型シートが介在される。ここで離型シートとは、離型性のよい表面を有するシート状物を指す。かかる離型シートは150℃以上200℃以下にて耐熱性を有していることが好ましい。また、離型シートは1枚のみでもよいほか、複数枚重ね合わせたものでもよい。
【0023】
2枚のコア基板同士を貼り合わせる際、離型シートとコア基板のビルドアップ層非形成面(第2主面)との間にさらに樹脂層が配置される(言い換えると、離型シートは一対の樹脂層によって挟まれる)ことがよい。かかる樹脂層は、離型シートとビルドアップ層非形成面(第2主面)とを一時的に接合する役割を果たすとともに、配線基板となった段階で樹脂絶縁層として機能する。その具体例を挙げると、無機または有機繊維材料製のシート材に熱硬化性樹脂を含浸させてなるプリプレグや、特にシート材を含まず熱硬化性樹脂を主成分とする接着剤などがある。剛性の向上という観点からすると、シート材を含んで構成されるプリプレグを選択することが好ましい。
【0024】
そして、2枚のコア基板と離型シート(あるいは2枚のコア基板と離型シートと樹脂層)からなる積層体を加熱下でプレスし、これによって各層を接着して一体化させる。
【0025】
次に、貼り合わされた両コア基板のビルドアップ層形成面(第1主面)上にのみビルドアップ層を形成する工程を行う。ここでビルドアップ層とは、樹脂絶縁層と導体層とを交互に積層してなるものを意味する。より具体的にいうと、キュア温度が150℃以上200℃以下の樹脂材料からなる樹脂絶縁層と、銅めっき層などからなる導体層とを交互に積層してなるものを意味する。なお、形成されるビルドアップ層の厚さ及び層数は極力同じに設定することがよい。その理由は、上記設定によれば前記積層体の表裏面にて同程度の応力が発生するため、表裏面で応力がバランスするからである。
【0026】
前記ビルドアップ層を構成する樹脂絶縁層としては熱硬化性樹脂が好適であり、その具体例を挙げると、EP樹脂(エポキシ樹脂)、PI樹脂(ポリイミド樹脂)、BT樹脂(ビスマレイミド−トリアジン樹脂)などがある。一方、前記導体層は、例えば、銅、銅合金、ニッケル、ニッケル合金、スズ、スズ合金などといった導電性金属材料からなる。
【0027】
前記ビルドアップ層を構成する導体層は、サブトラクティブ法、セミアディティブ法、フルアディティブ法などといった公知の手法によって形成可能である。具体的にいうと、例えば、銅箔のエッチング、無電解銅めっきあるいは電解銅めっき、無電解ニッケルめっきあるいは電解ニッケルめっきなどの手法を用いることができる。なお、スパッタやCVD等の手法により金属層を形成した後にエッチングを行うことで導体層をパターン形成したり、導電性ペースト等の印刷により導体層をパターン形成したりすることも可能である。なお、導体層として銅めっきを選択した場合、銅めっき層の平均厚さは通常(10μm程度)よりも厚めに、具体的には20μm以上、特には25μm以上に設定されることがよい。その理由は、銅は樹脂よりも熱膨張係数が相対的に小さいため、銅めっき層を厚くすることでビルドアップ層全体としての熱膨張係数が小さくなるからである。
【0028】
そして、貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程を行い、隠れていたビルドアップ層非形成面(第2主面)を露出させる。この後、必要に応じてビルドアップ層非形成面(第2主面)に接続端子等を設ければ、最終的に2つの片面積層配線基板を得ることができる。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を具体化した一実施形態の片面積層配線基板11及びその製造方法を図1〜図12に基づき詳細に説明する。
【0030】
図1〜図11は片面積層配線基板11の製造手順を説明するための部分概略断面図であり、図12は実施例及び比較例に関する片面積層配線基板11の評価試験の結果を示した表である。
【0031】
図11に示されるように、本実施形態の片面積層配線基板11はその中心部に樹脂製のコア基板12を備えている。コア基板12のビルドアップ層形成面13(第1主面)側には、図示しない半導体集積回路チップが搭載可能となっている。一方、コア基板12のビルドアップ層非形成面14(第2主面)側には、図示しないマザーボードが接続可能となっている。本実施形態で用いるコア基板12は、高温域での曲げ弾性率が従来品よりも優れたものであって、ガラス布基材内の空隙にエポキシ樹脂(熱硬化性樹脂)及びシリカフィラー(セラミックスフィラー)を含浸させたものである。
【0032】
コア基板12のビルドアップ層形成面13及びビルドアップ層非形成面14には、厚さ約20μmの銅からなる導体層21,22がそれぞれ所定パターンで形成されている。また、コア基板12における複数箇所には、コア基板12のビルドアップ層形成面13及びビルドアップ層非形成面14を連通させるようにしてスルーホール導体15が形成されている。かかるスルーホール導体15は、コア基板12のビルドアップ層形成面13側の導体層21と、ビルドアップ層非形成面14側の導体層22とを接続導通している。なお、スルーホール導体15内にできる空洞部には、導電性を有する閉塞体16が充填されている。
【0033】
図11に示されるように、コア基板12のビルドアップ層形成面13側にはビルドアップ層18が形成されている。前記ビルドアップ層18は、樹脂絶縁層31,51,71と導体層41,61とを交互に積層した構造を有している。
【0034】
第1層めの樹脂絶縁層31はコア基板12のビルドアップ層形成面13の表面上に形成されている。前記第1層めの樹脂絶縁層31は、その厚さが約30μmに設定されていて、無機フィラー入りのエポキシ樹脂からなる。第1層めの導体層41は厚さ約25μmの銅めっきからなり、第1層めの樹脂絶縁層31の表面上に所定のパターンで形成されている。第2層めの樹脂絶縁層51は、第1層めの樹脂絶縁層31の表面上に形成されている。前記第2層めの樹脂絶縁層51は、その厚さが約30μmに設定されていて、無機フィラー入りのエポキシ樹脂からなる。第2層めの導体層61は厚さ約25μmの銅めっきからなり、第2層めの樹脂絶縁層51の表面上に所定のパターンで形成されている。第3層めの樹脂絶縁層71は、感光性エポキシ樹脂を用いて第2層めの樹脂絶縁層51の表面上に形成されている。かかる第3層めの樹脂絶縁層71は、第2層めの導体層61を保護するいわゆるソルダーレジストとしての役割を果たしている。
【0035】
第1層めの樹脂絶縁層31には、無電解銅めっきによってブラインドビアホール導体32が形成されている。かかるブラインドビアホール導体32は、コア基板12のビルドアップ層形成面13に直接パターン形成された導体層21と、第1層めの導体層41とを接続導通している。また、第2層めの樹脂絶縁層51には、無電解銅めっきによってブラインドビアホール導体52が形成されている。かかるブラインドビアホール導体52は、第1層めの導体層41と、第2層めの導体層61とを接続導通している。
【0036】
ソルダーレジストとして機能する第3層めの樹脂絶縁層71には、複数の開口部72が設けられている。これらの開口部72は、第3層めの導体層61の一部(即ちパッド部)を露出させている。前記パッド部の表面上にはニッケル−金めっきが施されている。このようなパッド部上には、さらに突起電極であるはんだバンプ73が設けられている。はんだバンプ73の頂点は、第3層めの樹脂絶縁層71の表面よりも突出している。これらのはんだバンプ73には、上記半導体集積回路チップ側のバンプが接合されるようになっている。
【0037】
一方、図11に示されるように、コア基板12のビルドアップ層非形成面14側にはビルドアップ層18は形成されておらず、その代わりに導体層22を保護するソルダーレジストである樹脂絶縁層33が形成されている。樹脂絶縁層33における複数の箇所には、スルーホール導体15の位置に対応して開口部34が形成されている。そして、これらの開口部34には、マザーボード側との接続のための端子ピン35がはんだ層36を介して接合されている。
【0038】
次に、この片面積層配線基板11を製造する方法について順に説明する。
【0039】
まず、コア基板12を下記の要領で作製する。
【0040】
絶縁基材85の両面に銅箔86を貼着してなる図1のような銅張積層板81を出発材料として用いた。より具体的にいうと、松下電工株式会社製の絶縁基材85(商品名「MEGTRON R5715E」、厚さ0.8mm、410mm角)の両面に銅箔86を貼着したものを用いた。そして、この銅張積層板81にYAGレーザーまたは炭酸ガスレーザーを用いてレーザー加工を行うことにより、表裏を貫通する貫通孔82を形成する(図2参照)。次に、前記貫通孔82の内面に無電解銅めっきを施してスルーホール導体15を形成する(図3参照)。ここでスルーホール導体15を閉塞体16で閉塞した後、前記銅張積層板81の表面のほぼ全体(銅箔86の表面及び閉塞体16の端面)に電解銅めっきを施す(図4参照)。次に、ビルドアップ層形成面13及びビルドアップ層非形成面14の銅箔86のエッチングによって導体層21,22をパターニングする(図5参照)。
【0041】
なお、本実施形態ではいわゆる多数個取りの手法を採用しているため、1枚のパネル内にはコア基板12に相当するピースが複数個連結した状態で存在している。説明の便宜上、コア基板12が複数個連結した状態のものについても「コア基板12」と呼ぶことにする。
【0042】
上記のようなコア基板12を2枚用意し、それらのビルドアップ層非形成面14を対向配置する。このとき、対向配置されたコア基板12のビルドアップ層非形成面14間に離型シート83を介在させるとともに、離型シート83とビルドアップ層非形成面14との間にプリプレグ84を配置する(図6参照)。本実施形態では、離型性のよい表面を有する厚さ約300μmの樹脂板を、離型シート83として用いている。また、ガラス布基材にエポキシ樹脂を含浸させた、厚さ約60μmのプリプレグ84を用いている。
【0043】
そして、2枚のコア基板12と、1枚の離型シート83と、2枚のプリプレグ84とからなる積層体を、図示しないラミネート装置の熱板間にセットする。そして、前記積層体の厚さ方向に所定の圧力を付加して加熱下でプレスする。その結果、プリプレグ84から滲出する樹脂の接着作用によって、各層が一体化する(図7参照)。
【0044】
次に、ビルドアップ層18を下記の要領で形成する。
【0045】
まず、コア基板12のビルドアップ層形成面13(第1主面)の表面上にエポキシ樹脂を塗布した後、180℃〜200℃程度の温度に所定時間加熱してキュアする。これによりエポキシ樹脂を硬化させ、第1層めの樹脂絶縁層31とする。次に、炭酸ガスレーザーを用いたレーザー孔あけ加工を実施することにより、第1層めの樹脂絶縁層31における所定箇所に盲孔を穿孔する。そして、盲孔内に無電解銅めっきを施すことにより、ブラインドビアホール導体32を形成する。なお、本実施形態ではいわゆるフィルドビアを形成している。また、従来公知の手法によって、第1層めの樹脂絶縁層31の表面上に第1層めの導体層41をパターン形成する。具体的には、無電解銅めっきの後、露光・現像を行って所定パターンのめっきレジストを形成する。この状態で無電解銅めっき層を共通電極として電解銅めっきを施した後、まずレジストを溶解除去して、さらに不要な無電解銅めっき層をエッチングで除去する。
【0046】
次に、第1層めの樹脂絶縁層31の表面上にエポキシ樹脂を塗布した後、180℃〜200℃程度の温度に所定時間加熱してキュアする。これによりエポキシ樹脂を硬化させ、第2層めの樹脂絶縁層51とする。次に、炭酸ガスレーザーを用いたレーザー孔あけ加工を実施することにより、第2層めの樹脂絶縁層51における所定箇所に盲孔を穿孔する。そして、盲孔内に無電解銅めっきを施すことにより、ブラインドビアホール導体52を形成する。また、上述した従来公知の手法によって、第2層めの樹脂絶縁層51の表面上に第2層めの導体層61をパターン形成する。
【0047】
次に、第2層めの樹脂絶縁層51の表面上にエポキシ樹脂を塗布した後、180℃〜200℃程度の温度に所定時間加熱してキュアする。これによりエポキシ樹脂を硬化させ、第3層めの樹脂絶縁層71とする。次に、炭酸ガスレーザーを用いたレーザー孔あけ加工を実施することにより、第3層めの樹脂絶縁層71における所定箇所、即ちパッド部に対応した箇所に開口部72を形成する。そして、開口部72から露出するパッド部の表面上に無電解ニッケルめっき及び無電解金めっきを順次施した後、さらにはんだ印刷等によってはんだバンプ73を形成する。以上の結果、図8に示すような状態の積層体、つまりビルドアップ層形成面13にそれぞれビルドアップ層18を有する積層体が得られる。
【0048】
次に、前記積層体を離型シート83の箇所(具体的には、プリプレグ84に由来する樹脂絶縁層33と離型シート83との界面)で剥離して2分割する。その結果、内層に隠れていたビルドアップ層非形成面14(第2主面)側の樹脂絶縁層33を露出させる(図9参照)。この後、炭酸ガスレーザーを用いたレーザー孔あけ加工を実施することにより、樹脂絶縁層33における所定箇所に開口部34を形成する(図10参照)。そして、前記積層体を45mm角のピースに切り離し、開口部34に端子ピン35をはんだ付けすれば、図11の片面積層配線基板11が完成する。さらに片面積層配線基板11のはんだバンプ73と、半導体集積回路チップ側のバンプとを接合すれば、所望のオーガニックパッケージを得ることができる。
【0049】
続いて、本実施形態の片面積層配線基板11に関する評価試験を下記のごとく行った。
【0050】
[曲げ弾性率の比較]
コア基板12の出発材料となる絶縁基材85、即ち先に挙げた松下電工株式会社製の「MEGTRON R5715E」(厚さ0.8mm、410mm角)を実施例のサンプルとして位置付けた。これに対して、従来タイプの絶縁基材85である同社製の「MEGTRON R5715SL」(厚さ0.8mm、410mm角)を比較例のサンプルとして位置付けた。これら2種のサンプルについて、異なる温度(20℃、60℃、100℃、160℃、200℃、250℃)での曲げ弾性率(GPa)をそれぞれ測定した。なお、測定方法としてはJIS C6481に規定する3点曲げ試験を採用した。その結果を図12の表に示す。
【0051】
それによると、比較例のサンプルでは、曲げ弾性率の値は常温で比較的高い反面、高温になるに従って次第に低下し、約150℃を超えると急激に低下した。従って、約170℃を超える温度において10GPa以上の曲げ弾性率とはならず、「150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上」という条件を満たさないことが明白であった。従って、かかる比較例のサンプルを用いてコア基板12を構成したとしても、150℃以上200℃以下の温度域での剛性が不足し、ひいては片面積層配線基板11の反りの効果的な低減が図れないであろうことが示唆された。
【0052】
一方、実施例のサンプルでも、曲げ弾性率の値は常温で比較的高い反面、高温になるに従って次第に低下する傾向が見られた。しかし、その低下の度合いは比較例よりも緩やかであって、約150℃を超えても急激なものではなかった。このため、曲げ弾性率の値は200℃においても250℃においても、10GPa以上であった。従って、かかる実施例のサンプルを用いてコア基板12を構成すれば、150℃以上200℃以下の温度域で十分な剛性が確保され、ひいては片面積層配線基板11の反りを効果的に低減できるであろうことが示唆された。
[単板反り量の比較]
【0053】
次に、上記実施例及び比較例の絶縁基材85のサンプルの片側面に厚さ60μmのプリプレグを配置し、約200℃の温度で加熱プレスして、プリプレグを貼着した。そして、前記2つのサンプルを常温まで冷却した後、発生した反りの量(即ち単板反り量:mm)を測定した。具体的には、1枚の絶縁基材85のプリプレグ貼着面における複数の点の高さを測定し、高さの差の最大値を求めた。その結果も図12の表に示す。
【0054】
それによると、比較例では単板反り量が8.14mmであったのに対し、実施例では5.45mmであった。従って、実施例のほうが比較例に比べて小さい値を示した。
[2/2/0反り量]
【0055】
次に、上記実施例及び比較例の絶縁基材85のサンプルの片側面に、ビルドアップ層18の構成要素である第1層めの樹脂絶縁層31、第2層めの樹脂絶縁層51、及びソルダーレジストに相当する第3層めの樹脂絶縁層71を形成した。そして、これらを最終製品の大きさ(即ちパッケージサイズ)である45mm角にカットした。そして、このようにして得られた2種の試験片についての反り量(即ち2/2/0反り量:μm)を測定した結果も図12の表に示す。
【0056】
それによると、比較例では2/2/0反り量が125.2μmであったのに対し、実施例では110.6μmであった。従って、実施例のほうが比較例に比べて小さい値を示した。
【0057】
従って、本実施形態によれば以下の効果を得ることができる。
【0058】
(1)本実施形態の片面積層配線基板11の構成によれば、150℃以上200℃以下の温度域の全般、言い換えるとビルドアップ層18の形成時における加熱温度域の全般において、コア基板12に高い剛性(高い曲げ弾性)が確保される。それゆえ、片面積層配線基板11を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力に耐えることが可能となり、もって片面積層配線基板11の反りを効果的に低減することができる。従って、反りに起因するいくつかの問題(各工程での治具のセットが困難であること、パターン形成工程での位置合わせ精度が大幅に悪化すること等)が解消される。ゆえに、パターン形成精度に優れた片面積層配線基板11を実現することができる。
【0059】
(2)また、本実施形態の製造方法によると、2枚のコア基板12を貼り合わせることによりトータルの厚さが厚くなるため、剛性が高くなった状態でビルドアップ層18の形成を行うことができる。しかも、前記コア基板12は150℃以上200℃以下の温度域全般における剛性が高い。以上の2つの理由から、ビルドアップ層18の形成時に発生する応力(即ち片面積層配線基板11を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力)に耐えることが可能となる。よって、片面積層配線基板の反りを効果的に低減することができ、パターン形成精度に優れた片面積層配線基板11を高い歩留まりで得ることができる。しかも、貼り合わされた2枚のコア基板12間には離型シート83等が介在されるので、両コア基板12を剥離して2分割する工程を比較的容易に実施することができる。また、その際にコア基板12に大きな応力が加わることを防止することができ、このことも歩留まりの向上に寄与している。
【0060】
(3)さらに、2枚のコア基板12を貼り合わせた状態でビルドアップ層18を形成するこの製造方法によれば、従来とほぼ同じ工数であるにもかかわらず、2倍の数の片面積層配線基板11を製造することができる。よって、貼り合わせを行わない場合に比べて確実に製造コストを削減することができる。
【0061】
なお、本発明の実施形態は以下のように変更してもよい。
【0062】
・ビルドアップ層18を構成する樹脂絶縁層及び導体層の層数は、任意に増減することが可能である。
【0063】
・離型シート83とプリプレグ84とがあらかじめ積層一体化されているものを用いて、2枚のコア基板12を貼り合わせる工程を行うようにしてもよい。また、各コア基板12のビルドアップ層非形成面14側にプリプレグ84を貼り付けて樹脂絶縁層33をあらかじめ形成しておき、この状態で離型シート83を介してコア基板12同士を貼り合わせる工程を行うようにしてもよい。
【0064】
・開口部34の形成及びその部分への端子ピン35(外部接続端子)の取り付けは、実施形態のように前記積層体をピースに切り離す工程の後に行われてもよいほか、同工程の前に行われてもよい。なお、外部接続端子はピン状のものに限定されず、例えばバンプであってもよい。
【0065】
・実施形態では樹脂絶縁層31,33,51,71に対する孔明けをレーザーを用いて行っていたが、これに限定されることはなく、例えばフォトリソグラフィ技術を用いて行ってもよい。
【0066】
次に、特許請求の範囲に記載された技術的思想のほかに、前述した実施形態によって把握される技術的思想を以下に列挙する。
【0067】
(1)第1主面及び第2主面を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板を2枚用いるとともに、それらコア基板の前記両第2主面を対向配置し、離型シート及びその離型シートを挟む一対の樹脂層を介して前記両コア基板同士を貼り合わせる工程と、貼り合わされた前記両コア基板の前記第1主面上にのみ、樹脂絶縁層と導体層とを交互に積層してなるビルドアップ層を形成する工程と、その樹脂絶縁層はキュア温度が150℃以上200℃以下の樹脂材料からなることと、貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程と、を含むことを特徴とする片面積層配線基板の製造方法。
【0068】
(2)第1主面及び第2主面を有し、150℃以上250℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上であって、ガラス布基材と熱硬化性樹脂とセラミックフィラーとを含んで構成される樹脂製のコア基板を2枚用いるとともに、それらコア基板の前記両第2主面を対向配置し、離型シート及びその離型シートを挟む一対のプリプレグを介して前記両コア基板同士を加熱プレスによって貼り合わせる工程と、貼り合わされた前記両コア基板の前記第1主面上にのみ、樹脂絶縁層と導体層とを交互に積層してなるビルドアップ層を形成する工程と、その樹脂絶縁層はキュア温度が150℃以上200℃以下の樹脂材料からなることと、前記導体層は厚さ20μm以上の銅めっき層からなることと、貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程と、を含むことを特徴とする片面積層配線基板の製造方法。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を具体化した一実施形態の片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図2】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図3】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図4】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図5】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図6】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図7】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図8】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図9】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図10】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図11】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図12】実施例及び比較例の片面積層配線基板に関する評価試験の結果を示した表。
【符号の説明】
11…片面積層配線基板
12…コア基板
13…第1主面としてのビルドアップ層形成面
14…第2主面としてのビルドアップ層非形成面
18…ビルドアップ層
83…離型シート
【発明の属する技術分野】
本発明は、片面にのみビルドアップ層を有する片面積層配線基板及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、電気機器、電子機器等の小型化に伴い、これらの機器に搭載される配線基板等にも小型化や高密度化が要求されている。かかる市場の要求に応えるべく、配線基板の多層化技術が検討されている。多層化の方法としては、樹脂絶縁層と導体層とを交互に積層してなるビルドアップ層をコア基板の両方の主面に積層形成する方法(いわゆるビルドアップ法)が採用されることが多い。また最近では、ビルドアップ層を片方の主面にのみ備える片面積層配線基板も提案されている(例えば、特許文献1参照)。このような片面積層配線基板は、例えば以下の工程を経て製造される。
【0003】
あらかじめ導体層がパターニングされているコア基板を2枚用意する。これら2枚のコア基板を積層配置するとともに、それらのビルドアップ層非形成面同士の間にプリプレグ及び離型シートを介在させておく。この状態で加熱プレスを行い、2枚のコア基板を貼り合わせる。ここで、貼り合わされた2枚のコア基板におけるビルドアップ層形成面に樹脂絶縁層及び導体層を交互に積層することでビルドアップ層を形成する。そして、貼り合わされた2枚のコア基板を離型シートの箇所で剥離して2分割し、それぞれ配線基板とする。
【0004】
【特許文献1】
特開2001−36237号公報(図6等)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、ビルドアップ層を片面にのみ備える片面積層配線基板の場合、主としてビルドアップ層形成面側に大きな応力が働くという性質がある。よって、ビルドアップ層を両面に備える両面積層配線基板とは異なり、ビルドアップ層形成面側に凹となる反りが生じやすい。このような反りは、各工程での治具のセットを困難にしたり、パターン形成工程での位置合わせ精度を大幅に悪化させたりする原因となる。従って、パターン形成精度に優れたビルドアップ片面積層配線基板を高い歩留まりで製造するためには、このような配線基板の反りを極力低減しておく必要がある。
【0006】
ここで、配線基板の反りの低減を目的として剛性の高いコア基板、例えば曲げ弾性率の高いコア基板を用いたものも従来提案されているが、現状では反りを効果的に低減させるには至っていない。
【0007】
本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、反りが少なくてパターン形成精度に優れた片面積層配線基板及びその製造方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】
そこで、上記課題を解決すべく本願発明者らが鋭意研究を行ったところ、下記のような知見を得た。即ち、片面積層配線基板におけるビルドアップ層の形成工程において樹脂絶縁層を形成する際には、樹脂材料をTg点(ガラス転移点)付近またはそれ以上の温度に加熱してキュアする必要がある。このとき、片面積層配線基板を構成している樹脂材料は熱膨張及び硬化収縮を伴うため、特にこの過程でコア基板に大きな応力が働くことになる。しかしながら、従来の高曲げ弾性率のコア基板の特性を調査したところ、その曲げ弾性率の値は常温で高い反面、高温になるに従って次第に低下し、約150℃を超えると急激に低下することを知見した。つまり、従来の高曲げ弾性率のコア基板では、大きな応力が作用する150℃以上の温度域での剛性が不足している。それゆえ、コア基板が樹脂絶縁層の熱膨張及び硬化収縮に伴う応力に十分に耐えることができず、これが原因となって配線基板の反りの効果的な低減が図れないことがわかった。
【0009】
そこで、本願発明者らは上記知見に基づいて、150℃以上の温度域におけるコア基板の剛性を高めれば、配線基板の反りを効果的に低減しうるものと予想し、最終的に下記の課題解決手段を想到するに至ったのである。
【0010】
そして上記課題を解決するための手段としては、第1主面及び第2主面を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板と、前記第1主面上にのみ形成されたビルドアップ層とを備えることを特徴とする片面積層配線基板がある。
【0011】
従って、この片面積層配線基板によれば、150℃以上200℃以下の温度域の全般、言い換えるとビルドアップ層の形成時における加熱温度域の全般において、コア基板に高い剛性が確保される。それゆえ、配線基板を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力に耐えることが可能となり、もって配線基板の反りを効果的に低減することができる。
【0012】
また、別の解決手段としては、第1主面及び第2主面を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板を2枚用いるとともに、それらコア基板の前記両第2主面を対向配置し、離型シートを介して前記両コア基板同士を貼り合わせる工程と、貼り合わされた前記両コア基板の前記第1主面上にのみビルドアップ層を形成する工程と、貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程とを含むことを特徴とする片面積層配線基板の製造方法がある。
【0013】
従って、この製造方法によると、2枚のコア基板を貼り合わせることによりトータルの厚さが厚くなるため、剛性が高くなった状態でビルドアップ層の形成を行うことができる。しかも、前記コア基板は150℃以上200℃以下の温度域全般における剛性が高い。以上のことから、ビルドアップ層の形成時に発生する応力(即ち配線基板を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力)に耐えることが可能となる。よって、配線基板の反りを効果的に低減することができ、パターン形成精度に優れた配線基板を高い歩留まりで得ることができる。しかも、貼り合わされた2枚のコア基板間には離型シートが介在されるので、両コア基板を剥離して2分割する工程を比較的容易に実施することができる。また、その際にコア基板に大きな応力が加わることを防止することができる。
【0014】
以下、上記片面積層配線基板及びその製造方法について詳細に説明する。
【0015】
前記コア基板は、樹脂製または金属製であってかつ150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有している必要がある。より好ましいコア基板としては、例えば、150℃以上200℃以下の温度域全般において12GPa以上の曲げ弾性率を有しているものや、150℃以上250℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有しているもの、などを挙げることができる。
【0016】
コア基板の曲げ弾性率が前記温度域全般において10GPa未満であると、ビルドアップ層の形成時にコア基板に十分高い剛性を確保できなくなる。従って、配線基板を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力に耐えることができなくなる。また、150℃以上200℃以下の温度域において部分的に10GPa以上の曲げ弾性率を有していたとしても、前記温度域において全般的に10GPa以上の曲げ弾性率を有していなければ、やはりビルドアップ層の形成時にコア基板に十分高い剛性を確保できなくなる。
【0017】
前記金属製のコア基板としては、150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有するという条件を満たしていれば、任意のものを選択することができる。金属製のコア基板の具体例としては、例えば、銅板や銅合金板、銅以外の金属単体や、銅以外の金属の合金からなる板材などが挙げられる。前記銅以外の金属の合金としては、ステンレス(Fe−Cr系、Fe−Cr−Ni系などの鉄合金)、アンバー(Fe−Ni系合金、36%Ni)、いわゆる42アロイ(Fe−Ni系合金、42%Ni)、いわゆる50アロイ(Fe−Ni系合金、50%Ni)、ニッケル合金(Ni−P系、Ni−B系、Ni−Cu−P系)、コバルト合金(Co−P系、Co−B系、Co−Ni−P系)、スズ合金(Sn−Pb系、Sn−Pb−Pd系)などがある。これらの中でも特に、アンバー、42アロイ、50アロイといったFe−Ni系合金をコア基板用金属材料として用いることがよい。これら金属材料を用いたコア基板であれば、150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有するという条件を実現しやすいからである。
【0018】
また、前記樹脂製のコア基板としては、150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上の曲げ弾性率を有するという条件を満たしていれば、任意のものを選択することができる。ここで、好適な樹脂製のコア基板の例としては、無機材料からなる基材(マトリクス材)と、熱硬化性樹脂と、無機フィラーとを含んで構成されるものを挙げることができる。
【0019】
無機材料からなるマトリクス材としては、絶縁性の無機繊維材料を二次元的にまたは三次元的に集積させた基材を指し、その具体例としてはガラス布基材などがある。熱硬化性樹脂としては、例えば、EP樹脂(エポキシ樹脂)、PI樹脂(ポリイミド樹脂)、BT樹脂(ビスマレイミド−トリアジン樹脂)、PPE樹脂(ポリフェニレンエーテル樹脂)などがある。なお、熱硬化性樹脂を用いる理由は、加熱によって軟化する熱可塑性樹脂を用いてコア基板を構成した場合、150℃以上200℃以下の温度域全般において10GPa以上という高い曲げ弾性率の実現が不可能だからである。無機フィラーとしては、シリカやアルミナ等のような絶縁性のセラミックスからなるフィラーや、ガラス等からなるフィラーなどがある。そして、上記コア基板のより具体的な好適例としては、ガラス布基材と、熱硬化性樹脂と、セラミックフィラーとを含んで構成されるものを挙げることができる。
【0020】
なお、コア基板における第1主面及び第2主面のうちの少なくとも一方には、必要に応じて所定パターンの導体層があらかじめ形成されていてもよい。また、前記コア基板には第1主面及び第2主面を連通させるスルーホール導体があらかじめ形成されていてもよい。
【0021】
次に、上述したようなコア基板を2枚用意するとともに、それらの前記両第2主面を対向配置し、離型シートを介して前記両コア基板同士を貼り合わせる工程を行う。なお、貼り合わされる2枚のコア基板は同じもの(同じ材料を用いて構成されたもの)であることがよい。例えば、高温での剛性に優れたコア基板を2枚用いたときでも、それらの熱膨張係数差が大きい場合には、ビルドアップ層の形成時に反りの原因となる応力が発生するおそれがある。これに対し、同じ材料を用いて構成されたコア基板同士であれば基本的に熱膨張係数もほぼ等しいため、貼り合わせた状態で加熱したとしてもそれほど大きな応力は発生しないからである。
【0022】
前記2枚のコア基板同士を貼り合わせる場合、対向配置されたコア基板のビルドアップ層非形成面(第2主面)間には少なくとも離型シートが介在される。ここで離型シートとは、離型性のよい表面を有するシート状物を指す。かかる離型シートは150℃以上200℃以下にて耐熱性を有していることが好ましい。また、離型シートは1枚のみでもよいほか、複数枚重ね合わせたものでもよい。
【0023】
2枚のコア基板同士を貼り合わせる際、離型シートとコア基板のビルドアップ層非形成面(第2主面)との間にさらに樹脂層が配置される(言い換えると、離型シートは一対の樹脂層によって挟まれる)ことがよい。かかる樹脂層は、離型シートとビルドアップ層非形成面(第2主面)とを一時的に接合する役割を果たすとともに、配線基板となった段階で樹脂絶縁層として機能する。その具体例を挙げると、無機または有機繊維材料製のシート材に熱硬化性樹脂を含浸させてなるプリプレグや、特にシート材を含まず熱硬化性樹脂を主成分とする接着剤などがある。剛性の向上という観点からすると、シート材を含んで構成されるプリプレグを選択することが好ましい。
【0024】
そして、2枚のコア基板と離型シート(あるいは2枚のコア基板と離型シートと樹脂層)からなる積層体を加熱下でプレスし、これによって各層を接着して一体化させる。
【0025】
次に、貼り合わされた両コア基板のビルドアップ層形成面(第1主面)上にのみビルドアップ層を形成する工程を行う。ここでビルドアップ層とは、樹脂絶縁層と導体層とを交互に積層してなるものを意味する。より具体的にいうと、キュア温度が150℃以上200℃以下の樹脂材料からなる樹脂絶縁層と、銅めっき層などからなる導体層とを交互に積層してなるものを意味する。なお、形成されるビルドアップ層の厚さ及び層数は極力同じに設定することがよい。その理由は、上記設定によれば前記積層体の表裏面にて同程度の応力が発生するため、表裏面で応力がバランスするからである。
【0026】
前記ビルドアップ層を構成する樹脂絶縁層としては熱硬化性樹脂が好適であり、その具体例を挙げると、EP樹脂(エポキシ樹脂)、PI樹脂(ポリイミド樹脂)、BT樹脂(ビスマレイミド−トリアジン樹脂)などがある。一方、前記導体層は、例えば、銅、銅合金、ニッケル、ニッケル合金、スズ、スズ合金などといった導電性金属材料からなる。
【0027】
前記ビルドアップ層を構成する導体層は、サブトラクティブ法、セミアディティブ法、フルアディティブ法などといった公知の手法によって形成可能である。具体的にいうと、例えば、銅箔のエッチング、無電解銅めっきあるいは電解銅めっき、無電解ニッケルめっきあるいは電解ニッケルめっきなどの手法を用いることができる。なお、スパッタやCVD等の手法により金属層を形成した後にエッチングを行うことで導体層をパターン形成したり、導電性ペースト等の印刷により導体層をパターン形成したりすることも可能である。なお、導体層として銅めっきを選択した場合、銅めっき層の平均厚さは通常(10μm程度)よりも厚めに、具体的には20μm以上、特には25μm以上に設定されることがよい。その理由は、銅は樹脂よりも熱膨張係数が相対的に小さいため、銅めっき層を厚くすることでビルドアップ層全体としての熱膨張係数が小さくなるからである。
【0028】
そして、貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程を行い、隠れていたビルドアップ層非形成面(第2主面)を露出させる。この後、必要に応じてビルドアップ層非形成面(第2主面)に接続端子等を設ければ、最終的に2つの片面積層配線基板を得ることができる。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を具体化した一実施形態の片面積層配線基板11及びその製造方法を図1〜図12に基づき詳細に説明する。
【0030】
図1〜図11は片面積層配線基板11の製造手順を説明するための部分概略断面図であり、図12は実施例及び比較例に関する片面積層配線基板11の評価試験の結果を示した表である。
【0031】
図11に示されるように、本実施形態の片面積層配線基板11はその中心部に樹脂製のコア基板12を備えている。コア基板12のビルドアップ層形成面13(第1主面)側には、図示しない半導体集積回路チップが搭載可能となっている。一方、コア基板12のビルドアップ層非形成面14(第2主面)側には、図示しないマザーボードが接続可能となっている。本実施形態で用いるコア基板12は、高温域での曲げ弾性率が従来品よりも優れたものであって、ガラス布基材内の空隙にエポキシ樹脂(熱硬化性樹脂)及びシリカフィラー(セラミックスフィラー)を含浸させたものである。
【0032】
コア基板12のビルドアップ層形成面13及びビルドアップ層非形成面14には、厚さ約20μmの銅からなる導体層21,22がそれぞれ所定パターンで形成されている。また、コア基板12における複数箇所には、コア基板12のビルドアップ層形成面13及びビルドアップ層非形成面14を連通させるようにしてスルーホール導体15が形成されている。かかるスルーホール導体15は、コア基板12のビルドアップ層形成面13側の導体層21と、ビルドアップ層非形成面14側の導体層22とを接続導通している。なお、スルーホール導体15内にできる空洞部には、導電性を有する閉塞体16が充填されている。
【0033】
図11に示されるように、コア基板12のビルドアップ層形成面13側にはビルドアップ層18が形成されている。前記ビルドアップ層18は、樹脂絶縁層31,51,71と導体層41,61とを交互に積層した構造を有している。
【0034】
第1層めの樹脂絶縁層31はコア基板12のビルドアップ層形成面13の表面上に形成されている。前記第1層めの樹脂絶縁層31は、その厚さが約30μmに設定されていて、無機フィラー入りのエポキシ樹脂からなる。第1層めの導体層41は厚さ約25μmの銅めっきからなり、第1層めの樹脂絶縁層31の表面上に所定のパターンで形成されている。第2層めの樹脂絶縁層51は、第1層めの樹脂絶縁層31の表面上に形成されている。前記第2層めの樹脂絶縁層51は、その厚さが約30μmに設定されていて、無機フィラー入りのエポキシ樹脂からなる。第2層めの導体層61は厚さ約25μmの銅めっきからなり、第2層めの樹脂絶縁層51の表面上に所定のパターンで形成されている。第3層めの樹脂絶縁層71は、感光性エポキシ樹脂を用いて第2層めの樹脂絶縁層51の表面上に形成されている。かかる第3層めの樹脂絶縁層71は、第2層めの導体層61を保護するいわゆるソルダーレジストとしての役割を果たしている。
【0035】
第1層めの樹脂絶縁層31には、無電解銅めっきによってブラインドビアホール導体32が形成されている。かかるブラインドビアホール導体32は、コア基板12のビルドアップ層形成面13に直接パターン形成された導体層21と、第1層めの導体層41とを接続導通している。また、第2層めの樹脂絶縁層51には、無電解銅めっきによってブラインドビアホール導体52が形成されている。かかるブラインドビアホール導体52は、第1層めの導体層41と、第2層めの導体層61とを接続導通している。
【0036】
ソルダーレジストとして機能する第3層めの樹脂絶縁層71には、複数の開口部72が設けられている。これらの開口部72は、第3層めの導体層61の一部(即ちパッド部)を露出させている。前記パッド部の表面上にはニッケル−金めっきが施されている。このようなパッド部上には、さらに突起電極であるはんだバンプ73が設けられている。はんだバンプ73の頂点は、第3層めの樹脂絶縁層71の表面よりも突出している。これらのはんだバンプ73には、上記半導体集積回路チップ側のバンプが接合されるようになっている。
【0037】
一方、図11に示されるように、コア基板12のビルドアップ層非形成面14側にはビルドアップ層18は形成されておらず、その代わりに導体層22を保護するソルダーレジストである樹脂絶縁層33が形成されている。樹脂絶縁層33における複数の箇所には、スルーホール導体15の位置に対応して開口部34が形成されている。そして、これらの開口部34には、マザーボード側との接続のための端子ピン35がはんだ層36を介して接合されている。
【0038】
次に、この片面積層配線基板11を製造する方法について順に説明する。
【0039】
まず、コア基板12を下記の要領で作製する。
【0040】
絶縁基材85の両面に銅箔86を貼着してなる図1のような銅張積層板81を出発材料として用いた。より具体的にいうと、松下電工株式会社製の絶縁基材85(商品名「MEGTRON R5715E」、厚さ0.8mm、410mm角)の両面に銅箔86を貼着したものを用いた。そして、この銅張積層板81にYAGレーザーまたは炭酸ガスレーザーを用いてレーザー加工を行うことにより、表裏を貫通する貫通孔82を形成する(図2参照)。次に、前記貫通孔82の内面に無電解銅めっきを施してスルーホール導体15を形成する(図3参照)。ここでスルーホール導体15を閉塞体16で閉塞した後、前記銅張積層板81の表面のほぼ全体(銅箔86の表面及び閉塞体16の端面)に電解銅めっきを施す(図4参照)。次に、ビルドアップ層形成面13及びビルドアップ層非形成面14の銅箔86のエッチングによって導体層21,22をパターニングする(図5参照)。
【0041】
なお、本実施形態ではいわゆる多数個取りの手法を採用しているため、1枚のパネル内にはコア基板12に相当するピースが複数個連結した状態で存在している。説明の便宜上、コア基板12が複数個連結した状態のものについても「コア基板12」と呼ぶことにする。
【0042】
上記のようなコア基板12を2枚用意し、それらのビルドアップ層非形成面14を対向配置する。このとき、対向配置されたコア基板12のビルドアップ層非形成面14間に離型シート83を介在させるとともに、離型シート83とビルドアップ層非形成面14との間にプリプレグ84を配置する(図6参照)。本実施形態では、離型性のよい表面を有する厚さ約300μmの樹脂板を、離型シート83として用いている。また、ガラス布基材にエポキシ樹脂を含浸させた、厚さ約60μmのプリプレグ84を用いている。
【0043】
そして、2枚のコア基板12と、1枚の離型シート83と、2枚のプリプレグ84とからなる積層体を、図示しないラミネート装置の熱板間にセットする。そして、前記積層体の厚さ方向に所定の圧力を付加して加熱下でプレスする。その結果、プリプレグ84から滲出する樹脂の接着作用によって、各層が一体化する(図7参照)。
【0044】
次に、ビルドアップ層18を下記の要領で形成する。
【0045】
まず、コア基板12のビルドアップ層形成面13(第1主面)の表面上にエポキシ樹脂を塗布した後、180℃〜200℃程度の温度に所定時間加熱してキュアする。これによりエポキシ樹脂を硬化させ、第1層めの樹脂絶縁層31とする。次に、炭酸ガスレーザーを用いたレーザー孔あけ加工を実施することにより、第1層めの樹脂絶縁層31における所定箇所に盲孔を穿孔する。そして、盲孔内に無電解銅めっきを施すことにより、ブラインドビアホール導体32を形成する。なお、本実施形態ではいわゆるフィルドビアを形成している。また、従来公知の手法によって、第1層めの樹脂絶縁層31の表面上に第1層めの導体層41をパターン形成する。具体的には、無電解銅めっきの後、露光・現像を行って所定パターンのめっきレジストを形成する。この状態で無電解銅めっき層を共通電極として電解銅めっきを施した後、まずレジストを溶解除去して、さらに不要な無電解銅めっき層をエッチングで除去する。
【0046】
次に、第1層めの樹脂絶縁層31の表面上にエポキシ樹脂を塗布した後、180℃〜200℃程度の温度に所定時間加熱してキュアする。これによりエポキシ樹脂を硬化させ、第2層めの樹脂絶縁層51とする。次に、炭酸ガスレーザーを用いたレーザー孔あけ加工を実施することにより、第2層めの樹脂絶縁層51における所定箇所に盲孔を穿孔する。そして、盲孔内に無電解銅めっきを施すことにより、ブラインドビアホール導体52を形成する。また、上述した従来公知の手法によって、第2層めの樹脂絶縁層51の表面上に第2層めの導体層61をパターン形成する。
【0047】
次に、第2層めの樹脂絶縁層51の表面上にエポキシ樹脂を塗布した後、180℃〜200℃程度の温度に所定時間加熱してキュアする。これによりエポキシ樹脂を硬化させ、第3層めの樹脂絶縁層71とする。次に、炭酸ガスレーザーを用いたレーザー孔あけ加工を実施することにより、第3層めの樹脂絶縁層71における所定箇所、即ちパッド部に対応した箇所に開口部72を形成する。そして、開口部72から露出するパッド部の表面上に無電解ニッケルめっき及び無電解金めっきを順次施した後、さらにはんだ印刷等によってはんだバンプ73を形成する。以上の結果、図8に示すような状態の積層体、つまりビルドアップ層形成面13にそれぞれビルドアップ層18を有する積層体が得られる。
【0048】
次に、前記積層体を離型シート83の箇所(具体的には、プリプレグ84に由来する樹脂絶縁層33と離型シート83との界面)で剥離して2分割する。その結果、内層に隠れていたビルドアップ層非形成面14(第2主面)側の樹脂絶縁層33を露出させる(図9参照)。この後、炭酸ガスレーザーを用いたレーザー孔あけ加工を実施することにより、樹脂絶縁層33における所定箇所に開口部34を形成する(図10参照)。そして、前記積層体を45mm角のピースに切り離し、開口部34に端子ピン35をはんだ付けすれば、図11の片面積層配線基板11が完成する。さらに片面積層配線基板11のはんだバンプ73と、半導体集積回路チップ側のバンプとを接合すれば、所望のオーガニックパッケージを得ることができる。
【0049】
続いて、本実施形態の片面積層配線基板11に関する評価試験を下記のごとく行った。
【0050】
[曲げ弾性率の比較]
コア基板12の出発材料となる絶縁基材85、即ち先に挙げた松下電工株式会社製の「MEGTRON R5715E」(厚さ0.8mm、410mm角)を実施例のサンプルとして位置付けた。これに対して、従来タイプの絶縁基材85である同社製の「MEGTRON R5715SL」(厚さ0.8mm、410mm角)を比較例のサンプルとして位置付けた。これら2種のサンプルについて、異なる温度(20℃、60℃、100℃、160℃、200℃、250℃)での曲げ弾性率(GPa)をそれぞれ測定した。なお、測定方法としてはJIS C6481に規定する3点曲げ試験を採用した。その結果を図12の表に示す。
【0051】
それによると、比較例のサンプルでは、曲げ弾性率の値は常温で比較的高い反面、高温になるに従って次第に低下し、約150℃を超えると急激に低下した。従って、約170℃を超える温度において10GPa以上の曲げ弾性率とはならず、「150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上」という条件を満たさないことが明白であった。従って、かかる比較例のサンプルを用いてコア基板12を構成したとしても、150℃以上200℃以下の温度域での剛性が不足し、ひいては片面積層配線基板11の反りの効果的な低減が図れないであろうことが示唆された。
【0052】
一方、実施例のサンプルでも、曲げ弾性率の値は常温で比較的高い反面、高温になるに従って次第に低下する傾向が見られた。しかし、その低下の度合いは比較例よりも緩やかであって、約150℃を超えても急激なものではなかった。このため、曲げ弾性率の値は200℃においても250℃においても、10GPa以上であった。従って、かかる実施例のサンプルを用いてコア基板12を構成すれば、150℃以上200℃以下の温度域で十分な剛性が確保され、ひいては片面積層配線基板11の反りを効果的に低減できるであろうことが示唆された。
[単板反り量の比較]
【0053】
次に、上記実施例及び比較例の絶縁基材85のサンプルの片側面に厚さ60μmのプリプレグを配置し、約200℃の温度で加熱プレスして、プリプレグを貼着した。そして、前記2つのサンプルを常温まで冷却した後、発生した反りの量(即ち単板反り量:mm)を測定した。具体的には、1枚の絶縁基材85のプリプレグ貼着面における複数の点の高さを測定し、高さの差の最大値を求めた。その結果も図12の表に示す。
【0054】
それによると、比較例では単板反り量が8.14mmであったのに対し、実施例では5.45mmであった。従って、実施例のほうが比較例に比べて小さい値を示した。
[2/2/0反り量]
【0055】
次に、上記実施例及び比較例の絶縁基材85のサンプルの片側面に、ビルドアップ層18の構成要素である第1層めの樹脂絶縁層31、第2層めの樹脂絶縁層51、及びソルダーレジストに相当する第3層めの樹脂絶縁層71を形成した。そして、これらを最終製品の大きさ(即ちパッケージサイズ)である45mm角にカットした。そして、このようにして得られた2種の試験片についての反り量(即ち2/2/0反り量:μm)を測定した結果も図12の表に示す。
【0056】
それによると、比較例では2/2/0反り量が125.2μmであったのに対し、実施例では110.6μmであった。従って、実施例のほうが比較例に比べて小さい値を示した。
【0057】
従って、本実施形態によれば以下の効果を得ることができる。
【0058】
(1)本実施形態の片面積層配線基板11の構成によれば、150℃以上200℃以下の温度域の全般、言い換えるとビルドアップ層18の形成時における加熱温度域の全般において、コア基板12に高い剛性(高い曲げ弾性)が確保される。それゆえ、片面積層配線基板11を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力に耐えることが可能となり、もって片面積層配線基板11の反りを効果的に低減することができる。従って、反りに起因するいくつかの問題(各工程での治具のセットが困難であること、パターン形成工程での位置合わせ精度が大幅に悪化すること等)が解消される。ゆえに、パターン形成精度に優れた片面積層配線基板11を実現することができる。
【0059】
(2)また、本実施形態の製造方法によると、2枚のコア基板12を貼り合わせることによりトータルの厚さが厚くなるため、剛性が高くなった状態でビルドアップ層18の形成を行うことができる。しかも、前記コア基板12は150℃以上200℃以下の温度域全般における剛性が高い。以上の2つの理由から、ビルドアップ層18の形成時に発生する応力(即ち片面積層配線基板11を構成している樹脂材料の硬化収縮及び熱膨張に伴う応力)に耐えることが可能となる。よって、片面積層配線基板の反りを効果的に低減することができ、パターン形成精度に優れた片面積層配線基板11を高い歩留まりで得ることができる。しかも、貼り合わされた2枚のコア基板12間には離型シート83等が介在されるので、両コア基板12を剥離して2分割する工程を比較的容易に実施することができる。また、その際にコア基板12に大きな応力が加わることを防止することができ、このことも歩留まりの向上に寄与している。
【0060】
(3)さらに、2枚のコア基板12を貼り合わせた状態でビルドアップ層18を形成するこの製造方法によれば、従来とほぼ同じ工数であるにもかかわらず、2倍の数の片面積層配線基板11を製造することができる。よって、貼り合わせを行わない場合に比べて確実に製造コストを削減することができる。
【0061】
なお、本発明の実施形態は以下のように変更してもよい。
【0062】
・ビルドアップ層18を構成する樹脂絶縁層及び導体層の層数は、任意に増減することが可能である。
【0063】
・離型シート83とプリプレグ84とがあらかじめ積層一体化されているものを用いて、2枚のコア基板12を貼り合わせる工程を行うようにしてもよい。また、各コア基板12のビルドアップ層非形成面14側にプリプレグ84を貼り付けて樹脂絶縁層33をあらかじめ形成しておき、この状態で離型シート83を介してコア基板12同士を貼り合わせる工程を行うようにしてもよい。
【0064】
・開口部34の形成及びその部分への端子ピン35(外部接続端子)の取り付けは、実施形態のように前記積層体をピースに切り離す工程の後に行われてもよいほか、同工程の前に行われてもよい。なお、外部接続端子はピン状のものに限定されず、例えばバンプであってもよい。
【0065】
・実施形態では樹脂絶縁層31,33,51,71に対する孔明けをレーザーを用いて行っていたが、これに限定されることはなく、例えばフォトリソグラフィ技術を用いて行ってもよい。
【0066】
次に、特許請求の範囲に記載された技術的思想のほかに、前述した実施形態によって把握される技術的思想を以下に列挙する。
【0067】
(1)第1主面及び第2主面を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板を2枚用いるとともに、それらコア基板の前記両第2主面を対向配置し、離型シート及びその離型シートを挟む一対の樹脂層を介して前記両コア基板同士を貼り合わせる工程と、貼り合わされた前記両コア基板の前記第1主面上にのみ、樹脂絶縁層と導体層とを交互に積層してなるビルドアップ層を形成する工程と、その樹脂絶縁層はキュア温度が150℃以上200℃以下の樹脂材料からなることと、貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程と、を含むことを特徴とする片面積層配線基板の製造方法。
【0068】
(2)第1主面及び第2主面を有し、150℃以上250℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上であって、ガラス布基材と熱硬化性樹脂とセラミックフィラーとを含んで構成される樹脂製のコア基板を2枚用いるとともに、それらコア基板の前記両第2主面を対向配置し、離型シート及びその離型シートを挟む一対のプリプレグを介して前記両コア基板同士を加熱プレスによって貼り合わせる工程と、貼り合わされた前記両コア基板の前記第1主面上にのみ、樹脂絶縁層と導体層とを交互に積層してなるビルドアップ層を形成する工程と、その樹脂絶縁層はキュア温度が150℃以上200℃以下の樹脂材料からなることと、前記導体層は厚さ20μm以上の銅めっき層からなることと、貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程と、を含むことを特徴とする片面積層配線基板の製造方法。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を具体化した一実施形態の片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図2】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図3】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図4】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図5】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図6】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図7】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図8】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図9】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図10】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図11】片面積層配線基板の製造手順を説明するための部分概略断面図。
【図12】実施例及び比較例の片面積層配線基板に関する評価試験の結果を示した表。
【符号の説明】
11…片面積層配線基板
12…コア基板
13…第1主面としてのビルドアップ層形成面
14…第2主面としてのビルドアップ層非形成面
18…ビルドアップ層
83…離型シート
Claims (3)
- 第1主面及び第2主面を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板と、
前記第1主面上にのみ形成されたビルドアップ層と
を備えることを特徴とする片面積層配線基板。 - 前記コア基板は、ガラス布基材と、熱硬化性樹脂と、セラミックフィラーとを含んで構成されることを特徴とする請求項1に記載の片面積層配線基板。
- 第1主面及び第2主面を有し、150℃以上200℃以下の温度域全般において曲げ弾性率が10GPa以上である樹脂製または金属製のコア基板を2枚用いるとともに、それらコア基板の前記両第2主面を対向配置し、離型シートを介して前記両コア基板同士を貼り合わせる工程と、
貼り合わされた前記両コア基板の前記第1主面上にのみビルドアップ層を形成する工程と、
貼り合わされた前記両コア基板を前記離型シートの箇所で剥離して2分割する工程と
を含むことを特徴とする片面積層配線基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002379415A JP2004214271A (ja) | 2002-12-27 | 2002-12-27 | 片面積層配線基板及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002379415A JP2004214271A (ja) | 2002-12-27 | 2002-12-27 | 片面積層配線基板及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004214271A true JP2004214271A (ja) | 2004-07-29 |
Family
ID=32815925
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002379415A Withdrawn JP2004214271A (ja) | 2002-12-27 | 2002-12-27 | 片面積層配線基板及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004214271A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7352061B2 (en) * | 2005-05-20 | 2008-04-01 | Intel Corporation | Flexible core for enhancement of package interconnect reliability |
JP2011071348A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Panasonic Electric Works Co Ltd | インターポーザ用の金属張積層板とそれを用いた半導体パッケージ |
KR101037450B1 (ko) | 2009-09-23 | 2011-05-26 | 삼성전기주식회사 | 패키지 기판 |
JP2014082489A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-05-08 | Hitachi Chemical Co Ltd | 多層配線基板の製造方法 |
US8942006B2 (en) | 2013-01-19 | 2015-01-27 | Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. | PCB stackup having high- and low-frequency conductive layers and having insulating layers of different material types |
WO2017111125A1 (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | 太陽誘電株式会社 | プリント配線板、及びカメラモジュール |
-
2002
- 2002-12-27 JP JP2002379415A patent/JP2004214271A/ja not_active Withdrawn
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7352061B2 (en) * | 2005-05-20 | 2008-04-01 | Intel Corporation | Flexible core for enhancement of package interconnect reliability |
US7633142B2 (en) | 2005-05-20 | 2009-12-15 | Intel Corporation | Flexible core for enhancement of package interconnect reliability |
KR101037450B1 (ko) | 2009-09-23 | 2011-05-26 | 삼성전기주식회사 | 패키지 기판 |
JP2011071348A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Panasonic Electric Works Co Ltd | インターポーザ用の金属張積層板とそれを用いた半導体パッケージ |
JP2014082489A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-05-08 | Hitachi Chemical Co Ltd | 多層配線基板の製造方法 |
US8942006B2 (en) | 2013-01-19 | 2015-01-27 | Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. | PCB stackup having high- and low-frequency conductive layers and having insulating layers of different material types |
WO2017111125A1 (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | 太陽誘電株式会社 | プリント配線板、及びカメラモジュール |
JP2017204650A (ja) * | 2015-12-25 | 2017-11-16 | 太陽誘電株式会社 | プリント配線板、及びカメラモジュール |
CN108432352A (zh) * | 2015-12-25 | 2018-08-21 | 太阳诱电株式会社 | 印刷布线板和摄像组件 |
CN108432352B (zh) * | 2015-12-25 | 2019-11-26 | 太阳诱电株式会社 | 印刷布线板和摄像组件 |
US10674601B2 (en) | 2015-12-25 | 2020-06-02 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Printed wiring board and camera module |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4199198B2 (ja) | 多層配線基板およびその製造方法 | |
JP5079059B2 (ja) | 多層配線基板 | |
JP3619395B2 (ja) | 半導体素子内蔵配線基板およびその製造方法 | |
JP3429734B2 (ja) | 配線基板、多層配線基板、回路部品実装体及び、配線基板の製造方法 | |
TWI475932B (zh) | 帶有補強材之配線基板 | |
KR100517009B1 (ko) | 다층배선기판및이의제조방법 | |
US6258449B1 (en) | Low-thermal expansion circuit board and multilayer circuit board | |
JP4201436B2 (ja) | 多層配線基板の製造方法 | |
JPWO2010024233A1 (ja) | 機能素子を内蔵可能な配線基板及びその製造方法 | |
JPH06310870A (ja) | 配線基板構造及びその製造方法 | |
WO1997048260A1 (fr) | Plaquette a circuit sur un seul cote pour carte a circuits imprimes multicouche, carte a circuits imprimes multicouche, et procede pour sa production | |
JP4694007B2 (ja) | 三次元実装パッケージの製造方法 | |
JP4061137B2 (ja) | 積層樹脂配線基板及びその製造方法 | |
JP2004214271A (ja) | 片面積層配線基板及びその製造方法 | |
KR101019423B1 (ko) | 매립형 패턴을 이용한 인쇄회로기판 제조방법 | |
KR101109287B1 (ko) | 전자부품 내장형 인쇄회로기판 및 그 제조방법 | |
JPH11163522A (ja) | 多層配線基板およびその製造方法 | |
JP2004214273A (ja) | 片面積層配線基板の製造方法 | |
JP2008098202A (ja) | 多層配線基板、多層配線基板構造体 | |
JP3961909B2 (ja) | 多層プリント配線基板 | |
JPH05144973A (ja) | ポリイミド多層配線基板およびその製造方法 | |
JPH0786749A (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
JP5449413B2 (ja) | 多層配線基板 | |
KR20110030160A (ko) | 인쇄회로기판의 제조방법 | |
JP2004319645A (ja) | 多層プリント配線板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050509 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20070406 |