JP2004294177A - Sampling type measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、サンプリング式測定装置に関し、特に電圧、電流、電力を求める際の平均値演算に関する。
【0002】
【従来の技術】
ある周期をもつ交流波形の実効値、平均値、有効電力値は以下の式により求めることができる。
【数1】
ここで、RMSは信号の実効値,AVG(DC)は信号の単純平均値,f(t)は所定の信号波形,Wは電力値,v(t)は電圧波形,i(t)は電流波形,Tは波形の周期である。
【0003】
従来のサンプリング式測定装置では、入力波形のデジタルサンプリングを行い上式に基づいて実効値や平均値など算出している。
サンプリング方式で平均値を演算する場合、次の3つの手法が考えられる。
(a)波形の周期を測定し、その期間内のデータを平均する(以下、総和平均という。)。
(b)アナログのローパスフィルタで平均化するのと同様に、デジタルフィルタにて平均する(以下、デジタルローパスフィルタという。)。
(c)波形周期の整数倍のサンプルレートでFFT(高速フーリエ変換)やDFT(離散フーリエ変換)を行い周波数成分から平均値を求める。
【0004】
(c)の手法は、波形周期に同期したサンプルレートを設定しなければならないので、その設定精度と設定時間や演算時間を要するため波形の平均を求める手段としては一般的ではない。したがって、主に(a)や(b)の手法が選択される。
【0005】
(a)の手法は、波形周期に応じた演算区間設定が可能であるため応答性が良い。しかし平均化精度は波形の周期検出精度に依存するので精度と安定度にやや欠ける。
【0006】
これに対して、(b)の手法であるデジタルローパスフィルタは波形に関係なく平均化できるので精度と安定度に優れている。
しかしながら、(a)および(b)の双方ともサンプリングによって発生するエリアシングにより、正常に平均化が出来ないことがある。
【0007】
このため、正常に平均化できない時には平均値が大きく変動するということを利用し、平均値がある範囲を超えた変動があった場合、サンプリング周期を変更しているのが現状である。また、予防として、更新レート毎にサンプリング周期を変更している(例えば、特許文献1。)。
【0008】
以下にデジタルローパスフィルタで平均値を演算する場合について説明する。
図7はデジタルローパスフィルタの一例を示した構成図である。
図7において、アンプ51は信号波形を正規化する。A/Dコンバータ52はアナログ波形をサンプリングしてデジタルデータに変換する。DSP(Digital Signal Processor)53は、サンプリングした波形データに対し、デジタルローパスフィルタ演算処理を行い、サンプリングデータから平均値を求める。
【0009】
図8は、デジタルローパスフィルタの信号波形の処理工程を示した図である。
図8において、信号波形(イ)は入力された信号波形である。サンプリングした波形(ロ)は前出のA/Dコンバータで信号波形がデジタルサンプリングされた波形を示している。デジタルローパスフィルタ演算後波形(ハ)は、前出のDSPで演算処理されたデジタルローパスフィルタ演算後の波形である。サンプリング(ニ)は、前出のA/Dコンバータによるサンプリングタイミングを示している。
【0010】
任意に設定された演算時間(演算区間)内のサンプリングデータから実効値および平均値を得る。
実効値および平均値の理論式は以下通りである。
【数2】
ここで、Nは、サンプリング個数,f(n)はn番目のサンプリング値を示している。
【0011】
デジタルローパスフィルタでは以下の式により演算処理される。
【数3】
ここで、e(n)は、デジタルフィルタn回目の結果,s(n)は、n番目の信号のサンプリング値を示している。
【0012】
この演算を基本として、複数段(複数次)の演算を行う。
この結果を、
【数4】
とすることにより上記の理論値と同じ結果を得られる。
【0013】
図9は信号波形とサンプリングのタイミングを示した図である。
信号波形71は実際に装置に入力された波形である。矢印で示した各点がサンプリングタイミングである。エリアシング波形72は、信号波形をサンプリングしたことにより得られる波形である。
サンプリングは、信号周期に同期している必要はないがエリアシングにより図9のように、サンプリング値S(n)を取得する周期が実際の信号波形の周期と異なってしまう結果、演算区間内で平均化に必要となる波数が取れない場合や、サンプリング周期が信号波形の周期の1/2の整数倍で、サンプリング値がある決まった値にしかならない場合には、演算値がふらつくのでサンプリング周期を変えなければならない。
【0014】
一方、上述のように、従来のサンプリング式測定装置では、デジタルローパスフィルタと同様に応答速度や信号波形が低い周波数での平均化精度に有利な総和平均が多く用いられている。
【0015】
周期の検出には、周期の検出には信号波形をAC結合した後、ゼロ点通過を周期の1/2と見なすゼロクロス検出器を使用している。このゼロクロス検出器からの情報をもとに波形周期の整数倍の区間の平均値を計算する。
【0016】
図10は、総和平均の一例を示した構成図である。
図10において、アンプ81は信号波形を正規化する。A/Dコンバータ82はアナログ波形をサンプリングしてデジタルデータに変換する。ゼロクロス検出器84は、ゼロ点通過を周期の1/2と見なすゼロクロス検出を行う。DSP83は、サンプリングした波形データを用いて、波形周期の整数倍の区間の平均値を計算する。
【0017】
図11は、演算タイミングを示したタイミングチャートである。
図11において、信号波形(ホ)は入力された信号波形である。ゼロクロス検出信号(へ)は前出のゼロクロス検出器で検出された信号波形の周期をもった矩形波でありDSPに入力される。サンプリング(ト)は、前出のA/Dコンバータによるサンプリングタイミングを示している。図11では信号波形の周期の3倍に設定された演算期間のサンプリングデータを使用し平均値を得る。
【0018】
実効値および平均値は次式により算出される。
【数5】
ここで、Nはサンプリング数,f(n)は、n番目のサンプリング値である。また、サンプリングは、信号波形の周期に同期している必要はない。
【0019】
サンプリング方式を使用する場合、サンプリング周波数/2未満の信号波形に対しては一般的に、波形を再現できることが知られている。しかし、サンプリング周波数/2を超える周波数の信号波形ではエリアシングにより波形を再現できないが、波形の平均値を得る場合には正しい値を得ることができる。
【0020】
図12にエリアシングが発生した時に得られる波形の一例を示す。
図12において、矢印で示した各点がサンプリングタイミングである。信号波形101と周波数が異なる振幅が等しい波形データから成るエリアシング波形102が得られる。
【0021】
電圧、電流などの2信号を同時にサンプリングした場合は、信号間の位相も振幅同様に正しいので、電圧、電流の位相情報を持つ電力についても正しい値が得られる。これにより、サンプリング周波数を超える信号の測定を可能としている。
【0022】
ここで、信号波形をサンプリングすることにより得られる周波数faは、信号波形周波数をf,サンプリング周波数をfs,係数をk(整数)とすると次式のようになる。
fa=|f−kfs|
このため、装置が測定対象とする信号の周波数faは信号波形周波数fと異なるため入力される信号波形の周期で平均化すると正しい値が得られない場合がある。サンプリング周波数fsと信号波形周波数fとが近づくと低い周波数faの信号を測定するのと等価となることがあるため、演算期間内に1周期を認識できないからである。
【0023】
また、例えば、図12のA点からZ点までが信号波形101の周期の整数倍であるので使用するデータはA点からB点までとなる。しかし、この場合求めるべき区間はA点からZa点なので、使用するデータはA点からC点である必要がある。このように、期待するサンプリング個数を得ることができない。
【0024】
【特許文献1】
特開平7−98336号公報
【0025】
【発明が解決しようとする課題】
従来のデジタルローパスフィルタを適用したサンプリング式測定装置では、エリアシングが原因で平均値がふらつく時には、サンプリング周期を変えることで正しい値を得ることが可能となる。
しかし、この方法ではエリアシングの影響により平均値が安定しないのか、信号そのものが安定していないのかが判断できない。
【0026】
また、判断できないだけなら良いが信号が安定してないために平均値が安定していないのにもかかわらず、エリアシングであると判断してサンプリング周期を変えてしまう。変えたことにより、今度はエリアシングの影響が現れてしまい未だふらつくので、またサンプリング周期を変更する。このような動作を繰り返してしまうという状態が発生する。このため、実際の信号を正確に平均することが出来なくなるという問題があった。
【0027】
一方、従来の総和平均を適用したサンプリング式測定装置でも、測定値に大きな変動があった場合サンプリング周波数を変え、上記faが十分高い周波数となるような対策が採られている。
【0028】
しかし、総和平均の場合、前回の測定値と比較してサンプリング周波数を変えているのでエリアシングによって値が変動しているのか、測定信号の振幅が変動しているため値が変動しているのかの判別ができない。
【0029】
そのため、自らfaを小さくしてしまうサンプリング周波数に変更してしまい、安定した測定ができなくなる場合がある。
【0030】
また、ゼロクロス信号で得られる周期は信号波形の周期なので、エリアシングの周期の整数倍の演算期間を設定することができないことがあるという問題があった。
【0031】
本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、エリアシングによって発生する周期を検出する手段を有することにより、測定値のふらつきの原因が、測定信号が変動していることによるのか、エリアシングによる影響なのかを明確にすることで、安定した精度のよい測定を可能としたサンプリング式測定装置を提供することを目的とする。
【0032】
【課題を解決するための手段】
本発明は次の通りの構成になったサンプリング式測定装置である。
【0033】
(1) 所定のアナログ信号をデジタルサンプリングして測定するサンプリング式測定装置において、
前記アナログ信号をデジタルサンプリングすることによって発生する周期を検出する周期検出器を設けたことを特徴とするサンプリング式測定装置。
【0034】
(2) 前記アナログ信号のゼロクロス信号を前記デジタルサンプリングのサンプリング信号でラッチした結果を出力する第1のフリップフロップと、
前記ゼロクロス信号を前記サンプリング信号の反転信号でラッチした結果を出力する第2のフリップフロップと、
前記第1のフリップフロップの出力を前記第2のフリップフロップの出力でラッチした結果を出力する第3のフリップフロップから構成されることを特徴とする(1)に記載のサンプリング式測定装置。
【0035】
(3) 予め設定されたサンプリング数の限界値と、
前記周期検出器で検出された周期の1周期換算でのサンプリング周波数と、
の比較に基づきサンプリング周波数の変更を行うことを特徴とする(1)または(2)に記載のサンプリング式測定装置。
【0036】
(4) 前記周期検出器の検出結果が、デジタルローパスフィルタの所定の演算区間に満たない場合には、その演算区間を変更することを特徴とする(1)乃至(3)のいずれかに記載のサンプリング式測定装置。
【0037】
(5) 前記周期検出器の検出結果が、所定の平均値演算区間に満たない場合には、その平均値演算区間を変更することを特徴とする(1)乃至(3)のいずれかに記載のサンプリング式測定装置。
【0038】
【発明の実施の形態】
図1は本発明の一実施例を示した構成図である。
従来あるゼロクロス検出器とDSPの間に周期検出器を入れ、サンプリングにより発生する周期(エリアシングの周期)を検出するものである。
【0039】
アンプ1は、測定対象の信号波形を正規化する。A/Dコンバータ2は、DSP3からのサンプリング信号により測定波形をデジタルサンプリングして、そのデータをDSP3に出力する。ゼロクロス検出器4は、信号波形からゼロクロスを検出し、信号波形の周期Tに等しい周期のゼロクロス信号を出力する。周期検出器5は、このゼロクロス信号とサンプリング信号とを取り込み、ゼロクロス信号と共に、エリアシングの周期Taに等しい周期の周期検出信号をDSP3に出力する。ゼロクロスとはゼロ電位と信号波形とが交差する点である。
【0040】
図2は、周期検出器の一例を示した構成図である。
Dフリップフロップ11は、D端子に前出のゼロクロス信号が入力されCLK端子に遅延回路16を介してマスタークロックが入力されることにより再構成された周期Tの信号signalをQ端子から出力する。
Dフリップフロップ12は、D端子にsignalが入力され、CLK端子に遅延回路17を介してサンプリング周期Tsの信号sampleが入力される。
Dフリップフロップ13は、D端子にsignalが入力され、CLK端子にインバータ15を介してsampleの反転信号sample−が入力される。ここでは、便宜上sampleの反転信号をsample−と記している。
【0041】
これにより、このsignalは、sampleとその反転信号sample−によりサンプルされ、フリップフロップ12のQ端子からは信号mainが出力され、Dフリップフロップ13のQ端子から信号subが出力される。
【0042】
Dフリップフロップ14は、D端子にmainが入力され、CLK端子には、subが入力されmainをsubでラッチすることにより、周期Taの周期検出信号をQ端子から出力する。
【0043】
詳細には、sampleの周期Tsとsignalの周期Tの時間差の整数倍がサンプリング周期以上となった時不連続が発生し、これが周期となり繰り返される。mainとsubではサンプリング周期/2ずれてsignalをラッチしているので、繰り返しの周期が等しく1/2ずれる。これによりエリアシングの周期Taの検出を可能としている。遅延回路16,17はフリップフロップなどのゲートICの遅延を補償するためのものである。
【0044】
尚、Dフリップフロップ11のゼロクロス信号の再構成は、ゼロクロス信号の検出器までの遅れの補償をしたり、サンプルリング信号もマスタークロックから生成されるため周期検出器内での全信号の同期化をしたり、マスタークロックでゼロクロス信号の周期Tの調整を行うことによりサンプルリング信号とセロクロス信号との周期の時間差の上限を設定して、検出精度の適正化を図るものである。また、ゼロクロス信号の再構成をしなくても、他に適切な時間調整手段(遅延回路)が介在していれば良くDフリップフロップ11は必ずしも必要ではない。
【0045】
図3は、エリアシングの周期Taを検出する原理を示した説明図である。
図3において、t0はオフセットでありsignalの所定の立ち上がり点に対するsampleの立ち上がり点の時間のズレを示しており、sampleの周期をTsとすると−Ts<t0<Tsの範囲の値となる。
【0046】
tn(nは整数)はsignalの周期Tに対するサンプルの位置のズレであり、signalの変化点(立ち上がりと立下り)を基準にして、その変化点に対するsampleの立ち上がりまでの時間差である。この関係を次式に示す。
tn=mT−kTs−t0
ここで、mは、signalの繰り返し数を示し、kは、そのsignalの繰り返し数の起点となるsignalの変化点直後のsampleの立ち上がりからm回繰り返したsignalの変化点直後に発生するsampleの立ち上がりまでのsampleの繰り返し数を示している。
【0047】
つまり、tnはsignalの変化点からその変化点直後のsampleの立ち上がりまでの時間差であり、時間の経過と共に増加していく。この差がsampleの周期Tsと等しくなったときに1サンプル周期Ts分つまりkが1増加し、その分だけtnが小さくなる。したがってtnは−Ts<tn<−Tsの範囲で変動し、この変動が繰り返され周期となる。
図3において、A点でのsignalのレベルが、時間の経過と共にL−H−L−H−Hとt4で変化(不連続)が発生しているとことがkの1増加を示している。
【0048】
一方、Ts/2ずれたタイミングでサンプルしても同様な動作をし、Ts/2分の時間tnの変動に差があるため、約Ta/2だけ周期がずれる。前出の信号mainと信号subに相当するこの両者を比較、一方でラッチすることで周期Taを求めることができる。
【0049】
図4は、周期検出器の動作を説明するタイミングチャートである。
図4において、前出の信号と同じ信号には同じ信号名を付けている。
signalは、測定波形をゼロクロス検出して形成した矩形波である。sampleは、A/Dコンバータのサンプリングタイミングを決定する矩形波である。mainは、signalをsampleの立ち上がりでラッチして形成される矩形波である。subは、signalをsampleの立下りでラッチして形成される矩形波である。周期検出信号は、mainをsubの立ち上がりでラッチして形成される矩形波である。
【0050】
図4においてab間およびcd間のsampleの繰り返し数に対してbc間およびde間のsampleの繰り返し数が1だけ増加している。これをmainとsubにより検出してサンプリングにより発生した周期に等しい周期の信号を出力している。これがエリアシングの周期検出信号である。
【0051】
デジタルローパスフィルタで周期検出信号を用いた平均値の演算処理は以下の通りである。
前出の信号Taが存在する場合、Taの周期と現在ある更新レート(演算区間)の評価を行い、演算区間が短い場合、演算区間に対してサンプリング周期を変更する。
【0052】
それでも、演算区間が不足する場合は更新レートに対するアラームを出す。Taが存在しないがsignalの周期Tが存在する場合は、サンプリング周期を変更する。その後再評価する。T,Taとも存在しない場合は、現サンプリング周期の設定にて演算を行う。
【0053】
サンプリング周期の妥当性については、従来の演算値による評価ではなく、周期検出信号の周期Taや、エリアシングが発生しない場合での信号波形の周期Tの1周期換算での有効サンプル数(NW)によって判定する。目標とする測定精度に応じて設定されるサンプリング周波数の限界値(MINW)に対してNWが満足しない場合は、次の演算区間に対しサンプリング周期を変更する。サンプリング周期の変更は、例えば、コントローラがサンプリング信号を発生させているICに、サンプリング信号の分周比を下げる命令を送ってサンプリング周波数を増加させる。
【0054】
また、更新レート内で1周期を検出できなければ、その測定は誤りとなるため、その周期に応じた更新レートに変更する。デジタルフィルタの場合は、フィルタのカットオフ周波数が存在するため、これに応じた更新レートの設定を行う。例えば、デジタルローパスフィルタの時定数に対して出力が安定するまでの時間を更新レートに設定する。
【0055】
以上により、サンプリング式測定装置で平均値を求める際に問題となるエリアシングに対して、サンプリングにより実際に現れる周期を基にサンプリング周期や更新レートを設定するため、エリアシングと入力変動の混同による値の変動や誤動作をなくすことができる。また、実際の信号を正確に平均することができ、精度の高い平均値が演算可能となる。
【0056】
さらに、ノイズが多い環境においても、そのノイズが発生する周期を、サンプリング周期から求めることができるためノイズ除去率が高くなり、高S/N比を得ることができる。
【0057】
一方、総和平均で周期検出信号を用いた平均値の演算処理は以下の通りである。
周期検出信号が存在する場合、周期Taにて演算を行う。また、周期検出信号が存在しない場合は、signalの周期Tにて演算を行う。T,Taとも存在しない場合は、全区間にて演算を行う。
【0058】
サンプリング周波数の妥当性は、従来と異なり、演算値による評価ではなく、エリアシングのようなサンプリングにより実際に現れる周期の1周期換算での有効サンプル数(NW)によって判定する。目標とする測定精度に応じて設定されるサンプリング周波数の限界値(MINW)に対してNWが満足しない場合は、次の平均値区間からサンプリング周期を変更する。
【0059】
サンプリング周期の変更は、例えば、コントローラがサンプリング信号を発生させているICに、サンプリング信号の分周比を下げる命令を送ってサンプリング周波数を増加させる。
また、平均区間内で1周期を検出できなければ、その測定は誤りとなるため、その周期に応じた更新レートに変更する。例えば、周期検出器が検出した周期に対して少なくとも1波取れるような更新レートに設定する。
【0060】
図5および図6は、総和平均方式における処理工程を示したフローチャートである。
このフローチャートの処理手順に従って説明する。
【0061】
S1 測定を開始する。
S2 信号波形をサンプリングしてn番目のサンプリングデータDnを取得する。
S3 サンプリングデータを積算する。
【0062】
S4 ゼロクロス信号のエッジの有無を判断する。エッジが有れば工程S5の処理を行い、エッジが無い場合は工程S19の処理をする。
S5 ゼロクロス信号のエッジの方向が予め設定された方向Zsと同じか判断する。方向が異なる場合は工程S11の処理を行い、方向が同じ場合は工程S12の処理を行う。
S6 周期検出信号のエッジの方向が予め設定された方向Zaと同じか判断する。方向が同じなら工程S7の処理を行い、方向が異なる場合は工程S13の処理を行う。
【0063】
S7 サンプリングデータの加算値Snを周期検出信号の同期加算値Saとする。加算に用いたサンプリング数nを周期検出信号間のサンプリング数Naとする。
S8 周期検出信号のエッジ数Caが0ではないかを判断する。
判断結果がNO(Ca=0)であれば工程S9の処理を行い、YESであれば工程S10の処理を行う。
S9 周期検出信号の同期加算値Saの値を、周期検出信号の最初のエッジまでの加算値Sa0とする。
周期検出信号のエッジ区間でのサンプル数Naを、周期検出信号の最初のエッジまでのサンプル数Na0とする。
【0064】
S10 Caに1を加算して工程S2の処理に戻る。
S11 ゼロクロス信号のエッジ数CzがCz=0かを判定する。判定結果がYESの場合は工程S12の処理を行い、NOの場合は工程S19の処理を行う。
S12 工程S5で検出したエッジ方向にZsを設定し直して工程S6の処理を行う。
【0065】
S13 Ca=0かを判定する。判定結果がYESの場合は工程S14の処理を行い、NOであれば工程S15の処理を行う。
S14 工程S6で検出したエッジ方向にZaを設定し直す。
S15 Snをゼロクロス同期加算値Ssとする。サンプリング数nをゼロクロス信号のエッジ区間でのサンプル数Nsとする。
【0066】
S16 Czが0でないことを判断する。
判断結果がNO(Cz=0)であれば工程S17の処理を行い、YESであれば工程S18の処理を行いう。
S17 Ssの値をゼロクロス信号の最初のエッジまでの加算値Ss0とする。ゼロクロス信号のエッジ区間でのサンプル数Nsをゼロクロス信号の最初のエッジまでのサンプル数Ns0とする。
S18 Czに1を加算して工程S2の処理に戻る。
【0067】
S19 測定を終了するか判断する。終了しない場合は、工程S2に戻り、終了する場合は、工程S20の処理を行う。
S20 Caが2以上か判断する。判断結果がNOの場合は、工程S21の処理を行い、YESの場合は、工程S22の処理を行う。
S21 Czが2以上か判断する。判断結果がYESの場合は工程S23の処理を行い、NOの場合は工程S24の処理を行う。
【0068】
S22 Na−Na0を演算し有効サンプル数Nを求める。N/Caを演算し周期検出信号の1周期に対するサンプル数NWを求める。Sa−Sa0を演算し有効加算値Sを求める。次に工程S25の処理を行う。
S23 Ns−Ns0を演算して有効サンプル数Nを求める。N/Czを演算してゼロクロス信号の1周期に対するサンプル数NWを求める。Ss−Ss0を演算し有効加算値Sを求める。次に工程S25の処理を行う。
S24 Nsを有効サンプル数Nとする。周期検出信号の1周期に対するサンプル数NWを0とする。Ssを有効加算値Sとする。次に工程S25の処理を行う。
【0069】
S25 NWが予め設定された最低NW(限界値)以上かを判断する。判断結果がNOであれば工程S26の処理を行い、YESであれば工程S27の処理を行う。
S26 サンプリング周波数を変更する。
S27 AVG=S/Nを演算し単純平均AVGを求める。
【0070】
実効値RMSを測定する場合は、の工程S2と工程S27において以下のように変更すればよい。
S2 信号波形をサンプリングしてn番目のサンプリングデータDnを取得し、Dn×Dnを演算する。
S27 RMS=(S/N)1/2を演算し実効値RMSを求める。
【0071】
平均値整流実行値換算値MEANを測定する場合は、工程S2と工程S27を以下ように変更すればよい。
S2 信号波形をサンプリングしてn番目のサンプリングデータDnを取得し、Dnの絶対値|Dn|を求める。
S27 MEAN=(π/2)×(S/N)を演算し平均値整流実行値換算値MEANを求める。
【0072】
以上により、平均値などを求める際に、重要である平均値区間を実際に現れる周期をもとに決定することができるため、精度の高い平均値が演算可能となり、エリアシングと入力変動の混同による値の変動や誤動作をなくすことができる。
【0073】
さらに、ノイズが多い環境においても、そのノイズが発生する周期を、サンプリング周期から求めることができるためノイズ除去率が高くなり、高S/N比を得ることができる。
【0074】
【発明の効果】
本発明によれば、以下のような効果がある。
【0075】
請求項1に記載の発明によれば、信号波形をサンプリングしたことにより生ずるエリアシングの周期を検出する周期検出器を有することにより、測定値のふらつきの原因が、測定信号が変動していることによるのか、エリアシングによる影響なのかを明確にすることで、安定した精度のよい測定を可能とした。
【0076】
請求項2に記載の発明によれば、周期検出器をフリップフロップなどのゲートICで構成しているため簡単な付加回路で周期検出を実現できる。
【0077】
請求項3に記載の発明によれば、サンプリング周期の妥当性を容易に判断することができる。
【0078】
請求項4に記載の発明によれば、デジタルローパスフィルタで平均値を求める際に問題となるエリアシングに対して、周期検出器で検出した実際に現れる周期を基にサンプリング周期や更新レートを設定するため、エリアシングと入力変動の混同による値の変動や誤動作をなくすことができる。また、実際の信号を正確に平均することができ、精度の高い平均値が演算可能となる。
さらに、ノイズが多い環境においても、そのノイズが発生する周期を、サンプリング周期から求めることができるためノイズ除去率が高くなり、高S/N比を得ることができる。
【0079】
請求項5に記載の発明によれば、総和平均により平均値などを求める際に、重要である平均値区間を周期検出器で検出した実際に現れる周期をもとに決定することができるため、精度の高い平均値が演算可能となり、エリアシングと入力変動の混同による値の変動や誤動作をなくすことができる。
さらに、ノイズが多い環境においても、そのノイズが発生する周期を、サンプリング周期から求めることができるためノイズ除去率が高くなり、高S/N比を得ることができる
【0080】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図2】周期検出器の一例を示した構成図である。
【図3】エリアシングの周期Taを検出する原理を示した説明図である。
【図4】周期検出器の動作を説明するタイミングチャートである。
【図5】総和平均方式における処理工程を示したフローチャートである。
【図6】総和平均方式における処理工程を示したフローチャートである。
【図7】デジタルローパスフィルタの一例を示した構成図である。
【図8】デジタルローパスフィルタの信号波形の処理工程を示した図である。
【図9】信号波形とサンプリングのタイミングを示した図である。
【図10】総和平均の一例を示した構成図である。
【図11】演算タイミングを示したタイミングチャートである。
【図12】エリアシングが発生した時に得られる波形の一例を示した図である。
【符号の説明】
1 アンプ
2 A/Dコンバータ
3 DSP
4 ゼロクロス検出器
5 周期検出器
11、12、13、14 Dフリッププロップ
15 インバータ
17、18 遅延回路[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a sampling type measuring device, and more particularly to an average value calculation for obtaining a voltage, a current, and a power.
[0002]
[Prior art]
The effective value, average value, and active power value of an AC waveform having a certain period can be obtained by the following equations.
(Equation 1)
Here, RMS is an effective value of the signal, AVG (DC) is a simple average value of the signal, f (t) is a predetermined signal waveform, W is a power value, v (t) is a voltage waveform, and i (t) is a current. The waveform, T, is the period of the waveform.
[0003]
In a conventional sampling type measuring apparatus, an input waveform is digitally sampled, and an effective value, an average value, and the like are calculated based on the above equation.
When the average value is calculated by the sampling method, the following three methods can be considered.
(A) The cycle of the waveform is measured, and the data within the period is averaged (hereinafter, referred to as a sum average).
(B) Similar to averaging with an analog low-pass filter, averaging with a digital filter (hereinafter referred to as digital low-pass filter).
(C) FFT (Fast Fourier Transform) or DFT (Discrete Fourier Transform) is performed at a sample rate that is an integral multiple of the waveform period, and an average value is obtained from frequency components.
[0004]
The method (c) requires setting a sample rate synchronized with the waveform period, and thus requires a setting accuracy, a setting time, and a calculation time. Therefore, it is not a general means for obtaining an average of waveforms. Therefore, the methods (a) and (b) are mainly selected.
[0005]
The method (a) has good responsiveness because the calculation section can be set according to the waveform cycle. However, since the averaging accuracy depends on the accuracy of detecting the period of the waveform, the accuracy and stability are somewhat lacking.
[0006]
On the other hand, the digital low-pass filter, which is the method (b), can perform averaging irrespective of the waveform, and thus has excellent accuracy and stability.
However, in both cases (a) and (b), averaging cannot be performed normally due to aliasing caused by sampling.
[0007]
For this reason, taking advantage of the fact that the average value fluctuates greatly when averaging cannot be performed normally, and if the average value fluctuates beyond a certain range, the sampling period is currently changed. As a precaution, the sampling period is changed for each update rate (for example, Patent Document 1).
[0008]
Hereinafter, a case where an average value is calculated by a digital low-pass filter will be described.
FIG. 7 is a configuration diagram showing an example of a digital low-pass filter.
In FIG. 7, an
[0009]
FIG. 8 is a diagram showing a process of processing a signal waveform of a digital low-pass filter.
In FIG. 8, a signal waveform (a) is an input signal waveform. The sampled waveform (b) indicates a waveform obtained by digitally sampling the signal waveform by the A / D converter described above. The waveform after the digital low-pass filter operation (c) is a waveform after the digital low-pass filter operation that has been processed by the DSP. Sampling (d) indicates the sampling timing by the A / D converter described above.
[0010]
An effective value and an average value are obtained from sampling data within an arbitrarily set operation time (operation section).
The theoretical formulas of the effective value and the average value are as follows.
(Equation 2)
Here, N indicates the number of samples, and f (n) indicates the n-th sampled value.
[0011]
In the digital low-pass filter, arithmetic processing is performed by the following equation.
[Equation 3]
Here, e (n) indicates the result of the nth digital filter, and s (n) indicates the sampling value of the nth signal.
[0012]
Based on this calculation, a plurality of stages (multiple orders) are performed.
This result
(Equation 4)
As a result, the same result as the above theoretical value can be obtained.
[0013]
FIG. 9 is a diagram showing a signal waveform and sampling timing.
The signal waveform 71 is a waveform actually input to the device. Each point indicated by an arrow is a sampling timing. The aliasing waveform 72 is a waveform obtained by sampling a signal waveform.
The sampling does not need to be synchronized with the signal period, but as shown in FIG. 9, the period for acquiring the sampling value S (n) differs from the period of the actual signal waveform due to aliasing. If the wave number required for averaging cannot be obtained, or if the sampling period is an integral multiple of half the period of the signal waveform and the sampling value is only a certain value, the calculated value will fluctuate. Must be changed.
[0014]
On the other hand, as described above, in the conventional sampling type measuring apparatus, a sum average which is advantageous in averaging accuracy at a low response speed and a low frequency of the signal waveform is often used similarly to the digital low-pass filter.
[0015]
For the detection of the period, a zero-crossing detector is used which detects the passage of the zero point as の of the period after AC-coupling the signal waveform. Based on the information from the zero-cross detector, an average value of a section that is an integral multiple of the waveform period is calculated.
[0016]
FIG. 10 is a configuration diagram showing an example of the sum total average.
In FIG. 10, an
[0017]
FIG. 11 is a timing chart showing the operation timing.
In FIG. 11, a signal waveform (e) is an input signal waveform. The zero-cross detection signal (H) is a rectangular wave having the cycle of the signal waveform detected by the above-described zero-cross detector, and is input to the DSP. Sampling (g) indicates the sampling timing by the A / D converter described above. In FIG. 11, the average value is obtained by using the sampling data of the calculation period set to three times the cycle of the signal waveform.
[0018]
The effective value and the average value are calculated by the following equations.
(Equation 5)
Here, N is the sampling number, and f (n) is the n-th sampling value. Further, the sampling need not be synchronized with the period of the signal waveform.
[0019]
When the sampling method is used, it is generally known that a waveform can be reproduced for a signal waveform of less than sampling frequency / 2. However, although a signal waveform having a frequency exceeding the sampling frequency / 2 cannot be reproduced by aliasing, a correct value can be obtained when an average value of the waveform is obtained.
[0020]
FIG. 12 shows an example of a waveform obtained when aliasing occurs.
In FIG. 12, each point indicated by an arrow is a sampling timing. An aliasing waveform 102 composed of waveform data different in frequency and equal in amplitude from the signal waveform 101 is obtained.
[0021]
When two signals such as voltage and current are sampled at the same time, the phase between the signals is correct as well as the amplitude, so that a correct value can be obtained for the power having the phase information of the voltage and current. This enables measurement of signals exceeding the sampling frequency.
[0022]
Here, the frequency fa obtained by sampling the signal waveform is given by the following equation, where f is the signal waveform frequency, fs is the sampling frequency, and k is an integer (integer).
fa = | f−kfs |
For this reason, since the frequency fa of the signal to be measured by the device is different from the signal waveform frequency f, a correct value may not be obtained if the signal fa is averaged with the period of the input signal waveform. This is because if the sampling frequency fs and the signal waveform frequency f are close to each other, it may be equivalent to measuring a signal with a low frequency fa, and one cycle cannot be recognized within the calculation period.
[0023]
Further, for example, the data used from point A to point B in FIG. However, in this case, since the section to be obtained is the point A to the point Za, the data to be used needs to be the point A to the point C. Thus, the expected number of samples cannot be obtained.
[0024]
[Patent Document 1]
JP-A-7-98336
[0025]
[Problems to be solved by the invention]
In a sampling type measuring apparatus to which a conventional digital low-pass filter is applied, when an average value fluctuates due to aliasing, a correct value can be obtained by changing a sampling period.
However, in this method, it cannot be determined whether the average value is unstable due to the influence of aliasing or the signal itself is not stable.
[0026]
In addition, if it is not possible to judge, the signal is not stable and the average value is not stable. However, it is determined that aliasing has occurred, and the sampling cycle is changed. This change causes the influence of aliasing to appear and still fluctuates, so the sampling cycle is changed again. A state occurs in which such an operation is repeated. For this reason, there has been a problem that it is impossible to accurately average the actual signal.
[0027]
On the other hand, even in a conventional sampling type measuring apparatus to which the sum average is applied, a measure is taken to change the sampling frequency when the measured value fluctuates greatly, so that the fa becomes a sufficiently high frequency.
[0028]
However, in the case of sum average, whether the value fluctuates due to aliasing because the sampling frequency is changed compared to the previous measurement value, or whether the value fluctuates because the amplitude of the measurement signal fluctuates. Cannot be determined.
[0029]
Therefore, the sampling frequency may be changed to a value that reduces fa by itself, and stable measurement may not be performed.
[0030]
In addition, since the cycle obtained by the zero-cross signal is the cycle of the signal waveform, there is a problem that an arithmetic period that is an integral multiple of the aliasing cycle may not be set.
[0031]
The present invention has been made in order to solve the above-described problem, and has a means for detecting a cycle generated by aliasing, so that the fluctuation of the measurement value is caused by the fluctuation of the measurement signal. An object of the present invention is to provide a sampling-type measuring device capable of performing stable and accurate measurement by clarifying whether the influence is caused by aliasing.
[0032]
[Means for Solving the Problems]
The present invention is a sampling type measuring device having the following configuration.
[0033]
(1) In a sampling type measuring device for digitally sampling and measuring a predetermined analog signal,
A sampling type measuring device comprising a period detector for detecting a period generated by digitally sampling the analog signal.
[0034]
(2) a first flip-flop that outputs a result obtained by latching a zero-cross signal of the analog signal with a sampling signal of the digital sampling;
A second flip-flop that outputs a result of latching the zero-cross signal with an inverted signal of the sampling signal;
The sampling type measuring apparatus according to (1), further comprising a third flip-flop that outputs a result obtained by latching an output of the first flip-flop with an output of the second flip-flop.
[0035]
(3) a preset limit value of the sampling number;
A sampling frequency in one cycle conversion of the cycle detected by the cycle detector;
The sampling type measuring apparatus according to (1) or (2), wherein the sampling frequency is changed based on the comparison of (1).
[0036]
(4) In the case where the detection result of the period detector is less than a predetermined calculation section of the digital low-pass filter, the calculation section is changed, any one of (1) to (3). Sampling type measuring device.
[0037]
(5) The method according to any one of (1) to (3), wherein when the detection result of the period detector is less than a predetermined average value calculation section, the average value calculation section is changed. Sampling type measuring device.
[0038]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention.
A period detector is inserted between a conventional zero-cross detector and a DSP to detect a period (aliasing period) generated by sampling.
[0039]
The
[0040]
FIG. 2 is a configuration diagram illustrating an example of the cycle detector.
The D flip-
In the D flip-
In the D flip-
[0041]
As a result, the signal is sampled by the sample and its inverted signal sample-, the signal main is output from the Q terminal of the flip-
[0042]
The D flip-
[0043]
More specifically, when an integer multiple of the time difference between the sample period Ts and the signal period T is equal to or longer than the sampling period, discontinuity occurs, and this is a period and is repeated. Since the signal is latched between main and sub at a sampling period / 2 offset, the repetition period is equally shifted by 1/2. This makes it possible to detect the aliasing cycle Ta. The
[0044]
The reconstruction of the zero-cross signal of the D flip-
[0045]
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the principle of detecting the aliasing cycle Ta.
In FIG. 3, t0 is an offset, which indicates a time lag between a rising point of the sample and a predetermined rising point of the signal. If the period of the sample is Ts, the value is in a range of −Ts <t0 <Ts.
[0046]
tn (n is an integer) is a deviation of the position of the sample with respect to the cycle T of the signal, and is a time difference from the change point (rise and fall) of the signal to the rise of the sample with respect to the change point. This relationship is shown in the following equation.
tn = mT-kTs-t0
Here, m indicates the number of repetitions of the signal, and k indicates the rise of the sample generated immediately after the change point of the signal repeated m times from the rise of the sample immediately after the change point of the signal which is the starting point of the number of repetitions of the signal. Up to the number of repetitions of sample.
[0047]
In other words, tn is a time difference from the signal change point to the rise of the sample immediately after the signal change point, and increases with time. When this difference becomes equal to the sample period Ts, one sample period Ts, that is, k increases by 1, and tn decreases by that amount. Therefore, tn fluctuates in the range of -Ts <tn <-Ts, and this fluctuation is repeated to form a cycle.
In FIG. 3, the fact that the signal level at point A changes (discontinuous) at LHLHH and t4 with the passage of time indicates that k increases by 1. .
[0048]
On the other hand, even if sampling is performed at a timing shifted by Ts / 2, the same operation is performed, and there is a difference in the variation of the time tn of Ts / 2, so that the period is shifted by about Ta / 2. The period Ta can be obtained by comparing the above-mentioned signal main and the signal sub corresponding to each other and latching one of them.
[0049]
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the cycle detector.
In FIG. 4, the same signals as those described above are given the same signal names.
The signal is a rectangular wave formed by detecting a zero-crossing of the measured waveform. “sample” is a rectangular wave that determines the sampling timing of the A / D converter. main is a rectangular wave formed by latching signal at the rising edge of sample. The sub is a rectangular wave formed by latching the signal at the falling edge of the sample. The period detection signal is a rectangular wave formed by latching main at the rising edge of sub.
[0050]
In FIG. 4, the number of sample repetitions between bc and de is increased by 1 with respect to the number of sample repetitions between ab and cd. This is detected by main and sub, and a signal having a period equal to the period generated by sampling is output. This is the aliasing cycle detection signal.
[0051]
The arithmetic processing of the average value using the period detection signal in the digital low-pass filter is as follows.
When the signal Ta described above is present, the cycle of Ta and the current update rate (calculation section) are evaluated. If the calculation section is short, the sampling cycle is changed for the calculation section.
[0052]
If the calculation section is still insufficient, an alarm for the update rate is issued. If Ta does not exist but the signal cycle T exists, the sampling cycle is changed. Then re-evaluate. If neither T nor Ta exists, the calculation is performed with the current sampling period set.
[0053]
The validity of the sampling period is not evaluated by conventional calculation values, but is the number Ta of effective samples (NW) in terms of the period Ta of the period detection signal and the period T of the signal waveform when aliasing does not occur. Determined by If the NW does not satisfy the sampling frequency limit value (MINW) set according to the target measurement accuracy, the sampling period is changed for the next calculation section. To change the sampling period, for example, the controller sends an instruction to lower the frequency division ratio of the sampling signal to an IC that is generating the sampling signal to increase the sampling frequency.
[0054]
Also, if one cycle cannot be detected within the update rate, the measurement is erroneous, so the update rate is changed to the cycle. In the case of a digital filter, the update rate is set according to the cutoff frequency of the filter. For example, the time until the output stabilizes with respect to the time constant of the digital low-pass filter is set as the update rate.
[0055]
As described above, since the sampling period and the update rate are set based on the period actually appearing by sampling for the aliasing which is a problem when the average value is obtained by the sampling type measurement device, the aliasing is confused with the input fluctuation. Fluctuations in values and malfunctions can be eliminated. In addition, an actual signal can be accurately averaged, and a highly accurate average value can be calculated.
[0056]
Further, even in an environment with a lot of noise, the cycle in which the noise occurs can be obtained from the sampling cycle, so that the noise removal rate is high and a high S / N ratio can be obtained.
[0057]
On the other hand, the arithmetic processing of the average value using the period detection signal in the sum average is as follows.
When the period detection signal exists, the calculation is performed in the period Ta. If there is no cycle detection signal, the calculation is performed at the signal cycle T. If neither T nor Ta exists, the calculation is performed in all sections.
[0058]
The validity of the sampling frequency is determined based on the number of effective samples (NW) in terms of one cycle of a cycle actually appearing by sampling such as aliasing, not evaluation based on a calculation value, unlike the related art. If the NW does not satisfy the sampling frequency limit value (MINW) set according to the target measurement accuracy, the sampling period is changed from the next average value section.
[0059]
To change the sampling period, for example, the controller sends an instruction to lower the frequency division ratio of the sampling signal to an IC that is generating the sampling signal to increase the sampling frequency.
Further, if one cycle cannot be detected in the average section, the measurement becomes erroneous, so that the update rate is changed to an update rate corresponding to the cycle. For example, the update rate is set so that at least one wave can be obtained for the cycle detected by the cycle detector.
[0060]
FIG. 5 and FIG. 6 are flowcharts showing processing steps in the sum total averaging method.
A description will be given according to the processing procedure of this flowchart.
[0061]
S1 Start measurement.
S2 The signal waveform is sampled to obtain the n-th sampling data Dn.
S3 Integrate the sampling data.
[0062]
S4 It is determined whether there is an edge of the zero cross signal. If there is an edge, the process of step S5 is performed, and if there is no edge, the process of step S19 is performed.
S5 It is determined whether or not the edge direction of the zero cross signal is the same as the preset direction Zs. If the directions are different, the process of step S11 is performed, and if the directions are the same, the process of step S12 is performed.
S6: It is determined whether the edge direction of the cycle detection signal is the same as the direction Za set in advance. If the directions are the same, the process of step S7 is performed, and if the directions are different, the process of step S13 is performed.
[0063]
S7 The added value Sn of the sampling data is set as the synchronous added value Sa of the cycle detection signal. The sampling number n used for the addition is set as the sampling number Na between the period detection signals.
S8: It is determined whether the number of edges Ca of the cycle detection signal is not zero.
If the determination result is NO (Ca = 0), the process of step S9 is performed, and if it is YES, the process of step S10 is performed.
S9 The value of the synchronous addition value Sa of the cycle detection signal is set to the addition value Sa0 up to the first edge of the cycle detection signal.
The number of samples Na in the edge section of the cycle detection signal is set to the number of samples Na0 up to the first edge of the cycle detection signal.
[0064]
S1 is added to Ca, and the process returns to step S2.
S11 It is determined whether the number of edges Cz of the zero cross signal is Cz = 0. When the result of the determination is YES, the process of step S12 is performed, and when the result of the determination is NO, the process of step S19 is performed.
S12 The process of step S6 is performed by resetting Zs in the edge direction detected in step S5.
[0065]
S13 Determine whether Ca = 0. If the result of the determination is YES, the process of step S14 is performed, and if NO, the process of step S15 is performed.
S14 Za is reset in the edge direction detected in step S6.
S15 Let Sn be the zero-cross synchronous addition value Ss. The number of samples n is set to the number of samples Ns in the edge section of the zero cross signal.
[0066]
It is determined that S16 Cz is not 0.
If the determination result is NO (Cz = 0), the process of step S17 is performed, and if it is YES, the process of step S18 is performed.
S17 The value of Ss is defined as an added value Ss0 up to the first edge of the zero cross signal. The number of samples Ns in the edge section of the zero-cross signal is defined as the number of samples Ns0 up to the first edge of the zero-cross signal.
S1 is added to Cz, and the process returns to step S2.
[0067]
S19: It is determined whether to end the measurement. If not, the process returns to step S2, and if completed, the process of step S20 is performed.
S20 Determine whether Ca is 2 or more. If the determination result is NO, the process of step S21 is performed, and if the determination result is YES, the process of step S22 is performed.
It is determined whether S21 Cz is 2 or more. When the result of the determination is YES, the process of step S23 is performed, and when the result is NO, the process of step S24 is performed.
[0068]
In step S22, Na-Na0 is calculated to determine the effective sample number N. By calculating N / Ca, the number of samples NW for one cycle of the cycle detection signal is obtained. Sa-Sa0 is calculated to obtain an effective addition value S. Next, the process of step S25 is performed.
S23 Ns-Ns0 is calculated to determine the effective sample number N. By calculating N / Cz, the number of samples NW for one cycle of the zero-cross signal is obtained. Ss-Ss0 is calculated to obtain an effective addition value S. Next, the process of step S25 is performed.
S24 Let Ns be the number N of valid samples. The number of samples NW for one cycle of the cycle detection signal is set to 0. Let Ss be the effective addition value S. Next, the process of step S25 is performed.
[0069]
S25 It is determined whether the NW is equal to or more than a preset minimum NW (limit value). If the determination result is NO, the process of step S26 is performed, and if it is YES, the process of step S27 is performed.
S26: Change the sampling frequency.
S27 AVG = S / N is calculated to obtain a simple average AVG.
[0070]
When measuring the effective value RMS, the following changes may be made in steps S2 and S27.
S2 The signal waveform is sampled to obtain the n-th sampling data Dn, and Dn × Dn is calculated.
S27 RMS = (S / N) 1/2 Is calculated to obtain an effective value RMS.
[0071]
When the average value rectification execution value conversion value MEAN is measured, steps S2 and S27 may be changed as follows.
S2 The signal waveform is sampled to obtain the n-th sampled data Dn, and the absolute value | Dn | of Dn is obtained.
S27 MEAN = (π / 2) × (S / N) is calculated to obtain an average value rectification execution value conversion value MEAN.
[0072]
As described above, when calculating the average value and the like, the important average value section can be determined based on the period that actually appears, so that a highly accurate average value can be calculated, and confusion between aliasing and input fluctuation can be achieved. Can be prevented from fluctuating values and malfunctions.
[0073]
Further, even in an environment with a lot of noise, the cycle in which the noise occurs can be obtained from the sampling cycle, so that the noise removal rate is high and a high S / N ratio can be obtained.
[0074]
【The invention's effect】
According to the present invention, the following effects can be obtained.
[0075]
According to the first aspect of the present invention, by having a period detector that detects a period of aliasing caused by sampling a signal waveform, the cause of the fluctuation of the measured value is that the measured signal fluctuates. By clarifying whether this is due to the influence of aliasing, stable and accurate measurement was made possible.
[0076]
According to the second aspect of the present invention, since the cycle detector is constituted by a gate IC such as a flip-flop, the cycle detection can be realized by a simple additional circuit.
[0077]
According to the third aspect of the present invention, the validity of the sampling period can be easily determined.
[0078]
According to the fourth aspect of the present invention, the sampling cycle and the update rate are set based on the actually appearing cycle detected by the cycle detector for the aliasing which is a problem when the average value is obtained by the digital low-pass filter. Therefore, value fluctuation and malfunction due to confusion between aliasing and input fluctuation can be eliminated. In addition, an actual signal can be accurately averaged, and a highly accurate average value can be calculated.
Further, even in an environment with a lot of noise, the cycle in which the noise occurs can be obtained from the sampling cycle, so that the noise removal rate is high and a high S / N ratio can be obtained.
[0079]
According to the invention described in
Furthermore, even in an environment where there is a lot of noise, the cycle in which the noise occurs can be obtained from the sampling cycle, so that the noise removal rate is high and a high S / N ratio can be obtained.
[0080]
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram illustrating an example of a cycle detector.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a principle of detecting an aliasing cycle Ta.
FIG. 4 is a timing chart illustrating the operation of the cycle detector.
FIG. 5 is a flowchart illustrating processing steps in a sum average method.
FIG. 6 is a flowchart showing processing steps in a sum average method.
FIG. 7 is a configuration diagram illustrating an example of a digital low-pass filter.
FIG. 8 is a diagram showing a process of processing a signal waveform of a digital low-pass filter.
FIG. 9 is a diagram showing signal waveforms and sampling timings.
FIG. 10 is a configuration diagram showing an example of a sum average.
FIG. 11 is a timing chart showing calculation timing.
FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a waveform obtained when aliasing occurs.
[Explanation of symbols]
1 amplifier
2 A / D converter
3 DSP
4 Zero cross detector
5 Period detector
11,12,13,14 D flip prop
15 Inverter
17, 18 delay circuit
Claims (5)
前記アナログ信号をデジタルサンプリングすることによって発生する周期を検出する周期検出器を設けたことを特徴とするサンプリング式測定装置。In a sampling type measuring device that digitally samples and measures a predetermined analog signal,
A sampling type measuring device comprising a period detector for detecting a period generated by digitally sampling the analog signal.
前記アナログ信号のゼロクロス信号を前記デジタルサンプリングのサンプリング信号でラッチした結果を出力する第1のフリップフロップと、
前記ゼロクロス信号を前記サンプリング信号の反転信号でラッチした結果を出力する第2のフリップフロップと、
前記第1のフリップフロップの出力を前記第2のフリップフロップの出力でラッチした結果を出力する第3のフリップフロップから構成されることを特徴とする請求項1に記載のサンプリング式測定装置。The period detector,
A first flip-flop that outputs a result of latching the zero-cross signal of the analog signal with a sampling signal of the digital sampling;
A second flip-flop that outputs a result of latching the zero-cross signal with an inverted signal of the sampling signal;
The sampling type measuring apparatus according to claim 1, further comprising a third flip-flop that outputs a result obtained by latching an output of the first flip-flop with an output of the second flip-flop.
前記周期検出器で検出された周期の1周期換算でのサンプリング周波数と、
の比較に基づきサンプリング周波数の変更を行うことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のサンプリング式測定装置。A preset limit on the number of samples,
A sampling frequency in one cycle conversion of the cycle detected by the cycle detector;
The sampling type measuring apparatus according to claim 1 or 2, wherein the sampling frequency is changed based on the comparison of (1).
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---|---|
JP (1) | JP4192647B2 (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011058921A (en) * | 2009-09-09 | 2011-03-24 | Hioki Ee Corp | Device and method for measuring electrical property |
JP2014016254A (en) * | 2012-07-09 | 2014-01-30 | Keihin Corp | Cell voltage monitoring device |
JP2014025705A (en) * | 2012-07-24 | 2014-02-06 | Mitsubishi Electric Corp | Input signal level detector |
KR101908459B1 (en) | 2018-03-20 | 2018-10-17 | (주)에이디디에스 | Method And Apparatus for Detecting Current and Voltage by Using Prediction Algorithm |
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---|---|---|---|---|
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