JP2003332402A - ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 - Google Patents
ミニエンバライメント方式の半導体製造装置Info
- Publication number
- JP2003332402A JP2003332402A JP2002135222A JP2002135222A JP2003332402A JP 2003332402 A JP2003332402 A JP 2003332402A JP 2002135222 A JP2002135222 A JP 2002135222A JP 2002135222 A JP2002135222 A JP 2002135222A JP 2003332402 A JP2003332402 A JP 2003332402A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor manufacturing
- manufacturing apparatus
- side member
- mini
- air
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67772—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving removal of lid, door, cover
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Ventilation (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Filtering Of Dispersed Particles In Gases (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】ミニエンバライメント方式の半導体製造装置に
おいて、半導体製造装置の開口部と、密閉容器のウェハ
の出入口との隙間から外気が侵入して、前記密閉容器内
のウェハにダストが付着するのを防止する。 【解決手段】ウェハ73を出し入れする密閉容器71の
出入口74と、半導体製造装置76の前面板77に取付
けられたローディング部78の開口部98間の隙間96
に、空気供給装置2とフレキシブルチューブ3で連結さ
れた清浄空気噴出装置1から清浄空気を噴出してエアカ
ーテンを形成することにより、密閉容器71の蓋75を
半導体製造装置76内側へ開けた時に、密閉容器71の
出入口74と、半導体製造装置76に取付けられたロー
ディング部78の開口部98間の隙間96を通って密閉
容器71に侵入する外気を遮断する。
おいて、半導体製造装置の開口部と、密閉容器のウェハ
の出入口との隙間から外気が侵入して、前記密閉容器内
のウェハにダストが付着するのを防止する。 【解決手段】ウェハ73を出し入れする密閉容器71の
出入口74と、半導体製造装置76の前面板77に取付
けられたローディング部78の開口部98間の隙間96
に、空気供給装置2とフレキシブルチューブ3で連結さ
れた清浄空気噴出装置1から清浄空気を噴出してエアカ
ーテンを形成することにより、密閉容器71の蓋75を
半導体製造装置76内側へ開けた時に、密閉容器71の
出入口74と、半導体製造装置76に取付けられたロー
ディング部78の開口部98間の隙間96を通って密閉
容器71に侵入する外気を遮断する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造用クリ
ーンルームで使用されるミニエンバライメント方式の半
導体製造装置に関するものである。
ーンルームで使用されるミニエンバライメント方式の半
導体製造装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体製造クリーンルームでは、
投資削減、省エネのためにウェハの搬送・ハンドリング
を密閉容器に入れて行うミニエンバライメント方式が採
用され、また、1枚のウェハから多くの半導体チップを
採るためにウェハサイズは300mm径になりつつあ
る。
投資削減、省エネのためにウェハの搬送・ハンドリング
を密閉容器に入れて行うミニエンバライメント方式が採
用され、また、1枚のウェハから多くの半導体チップを
採るためにウェハサイズは300mm径になりつつあ
る。
【0003】300mm径世代のミニエンバライメント
方式では、ウェハを収納する密閉容器、および前記密閉
容器からウェハを外気に触れずに半導体製造装置内へ出
し入れするためのローディング部の仕様が世界標準とし
て決められている。
方式では、ウェハを収納する密閉容器、および前記密閉
容器からウェハを外気に触れずに半導体製造装置内へ出
し入れするためのローディング部の仕様が世界標準とし
て決められている。
【0004】クリーンルーム70内に設置された従来の
ミニエンバライメント方式の半導体製造装置は、図19
・20に示すように形成されている。すなわち、図19
は、従来のミニエンバライメント方式の半導体製造装置
の概略縦断面図であり、図20は、密閉容器とローディ
ング装置の組立分解斜視図であり、密閉容器71の収納
部72には、複数段に亘ってウェハ73が収納され、且
つ前記密閉容器71は、前記ウェハ73の出入口74を
蓋75で閉鎖することにより密閉されて、半導体製造装
置76の前面板77に一体に取付けられたローディング
部78に前後動自在に設置された台盤79上に載置され
る。
ミニエンバライメント方式の半導体製造装置は、図19
・20に示すように形成されている。すなわち、図19
は、従来のミニエンバライメント方式の半導体製造装置
の概略縦断面図であり、図20は、密閉容器とローディ
ング装置の組立分解斜視図であり、密閉容器71の収納
部72には、複数段に亘ってウェハ73が収納され、且
つ前記密閉容器71は、前記ウェハ73の出入口74を
蓋75で閉鎖することにより密閉されて、半導体製造装
置76の前面板77に一体に取付けられたローディング
部78に前後動自在に設置された台盤79上に載置され
る。
【0005】前記半導体製造装置76は、中央部を区画
壁80を設けて区画して、前方側を高清浄空間81と
し、後方側を低清浄空間82とする。
壁80を設けて区画して、前方側を高清浄空間81と
し、後方側を低清浄空間82とする。
【0006】前記高清浄空間81の上方天井面には、フ
ァン83とフィルター84を備えて形成されたファンフ
ィルターユニット85が設置され、該ファンフィルター
ユニット85より清浄空気86が高清浄空間81に送気
されて、高清浄雰囲気を保持するよう形成されている。
ァン83とフィルター84を備えて形成されたファンフ
ィルターユニット85が設置され、該ファンフィルター
ユニット85より清浄空気86が高清浄空間81に送気
されて、高清浄雰囲気を保持するよう形成されている。
【0007】前記半導体製造装置76を構成する高清浄
空間81の前記前面板77の前記密閉容器71の蓋75
に対面する位置には、該密閉容器71内のウェハ73を
該高清浄空間81内に引出したり、あるいは密閉容器7
1内に装入する際の通路となる開口部87が、ローディ
ング部78の開口部98と連通するようにして設けられ
ている。
空間81の前記前面板77の前記密閉容器71の蓋75
に対面する位置には、該密閉容器71内のウェハ73を
該高清浄空間81内に引出したり、あるいは密閉容器7
1内に装入する際の通路となる開口部87が、ローディ
ング部78の開口部98と連通するようにして設けられ
ている。
【0008】また、前記前面板77の内側下面には電動
モータ88が固定され、且つ該電動モータ88と連動す
る減速機構(図示せず)を介して上下および前後方向に
移動自在なるよう開閉アーム89が前記減速機構に連結
されると共に、該開閉アーム89の上方の前記開口部8
7側には、前記密閉容器71の蓋75に係合固定して、
該蓋75を開閉するプレート90が連結固定されてい
る。なお、図中91は前記プレート90に突設された係
合突起で、該係合突起91を蓋75に設けられた係合受
部92に係合固定して、前記プレート90と蓋75を一
体とする。
モータ88が固定され、且つ該電動モータ88と連動す
る減速機構(図示せず)を介して上下および前後方向に
移動自在なるよう開閉アーム89が前記減速機構に連結
されると共に、該開閉アーム89の上方の前記開口部8
7側には、前記密閉容器71の蓋75に係合固定して、
該蓋75を開閉するプレート90が連結固定されてい
る。なお、図中91は前記プレート90に突設された係
合突起で、該係合突起91を蓋75に設けられた係合受
部92に係合固定して、前記プレート90と蓋75を一
体とする。
【0009】また、前記高清浄空間81には、密閉容器
71から該高清浄空間81内にウェハ73を引出した
り、あるいは装入したりするためのアーム93を上方に
備えたロボット94が設置されている。前記密閉容器7
1から前記アーム93に移載されて、該高清浄空間81
内に引出されたウェハ73は、前記ロボット94により
低清浄空間82内に設置されたチャンバー95に送られ
て加工される。そして、前記加工されたウェハ73は、
前記チャンバー95から前記アーム93に移載されて、
前記密閉容器71に装入される。
71から該高清浄空間81内にウェハ73を引出した
り、あるいは装入したりするためのアーム93を上方に
備えたロボット94が設置されている。前記密閉容器7
1から前記アーム93に移載されて、該高清浄空間81
内に引出されたウェハ73は、前記ロボット94により
低清浄空間82内に設置されたチャンバー95に送られ
て加工される。そして、前記加工されたウェハ73は、
前記チャンバー95から前記アーム93に移載されて、
前記密閉容器71に装入される。
【0010】前記密閉容器71に収納されたウェハ73
をアーム93上に移載して引出すには、先ず電動モータ
88を作動させて、開閉アーム89を前方移動させて、
プレート90の係合突起91を密閉容器71の蓋75の
係合受部92に係合固定して、前記プレート90と蓋7
5を一体とし、前記開閉アーム89を後方移動させて、
蓋75を高清浄空間81内に前記プレート90と共に引
き入れて開け、然る後前記開閉アーム89を下方移動さ
せて、前記密閉容器71の前面の開口部87・98を開
放して電動モータ88を停止する。
をアーム93上に移載して引出すには、先ず電動モータ
88を作動させて、開閉アーム89を前方移動させて、
プレート90の係合突起91を密閉容器71の蓋75の
係合受部92に係合固定して、前記プレート90と蓋7
5を一体とし、前記開閉アーム89を後方移動させて、
蓋75を高清浄空間81内に前記プレート90と共に引
き入れて開け、然る後前記開閉アーム89を下方移動さ
せて、前記密閉容器71の前面の開口部87・98を開
放して電動モータ88を停止する。
【0011】そして、ロボット94を作動させて、前記
アーム93を前記開口部87・98を通って密閉容器7
1の移載しようとするウェハ73の下面に移動させて、
該ウェハ73を該アーム93上に移載し、該アーム93
上に移載されたウェハ73を、前記密閉容器71から半
導体製造装置76を構成する高清浄空間81内に引出
し、更に該ウェハ73を前記ロボット94により前記半
導体製造装置76を構成する低清浄空間82内のチャン
バー95に移送して、ウェハ73の加工工程に入る。
アーム93を前記開口部87・98を通って密閉容器7
1の移載しようとするウェハ73の下面に移動させて、
該ウェハ73を該アーム93上に移載し、該アーム93
上に移載されたウェハ73を、前記密閉容器71から半
導体製造装置76を構成する高清浄空間81内に引出
し、更に該ウェハ73を前記ロボット94により前記半
導体製造装置76を構成する低清浄空間82内のチャン
バー95に移送して、ウェハ73の加工工程に入る。
【0012】前記ウェハ73を、半導体製造装置76の
高清浄空間81内に内へ引出した後、前記チャンバー9
5に移送されて加工されたウェハ73は、ロボット94
を作動させてアーム93上に移載し、開口部87・98
および再び開口された出入口74を通って密閉容器71
内に装入される。以下同様の操作を繰返して、密閉容器
71内の各ウェハ73を、順に半導体製造装置76まで
移送して加工し、密閉容器71内のすべてのウェハ73
の加工が完了すると、再び前記電動モータ88を作動さ
せて開閉アーム89を上昇させると共に、前方移動させ
て、該開閉アーム89のプレート90に一体に固定され
ていた蓋75を、密閉容器71の出入口74に装着固定
して、前記係合突起91と係合受部92の係合状態を解
除し、該密閉容器71を密閉状態とする。
高清浄空間81内に内へ引出した後、前記チャンバー9
5に移送されて加工されたウェハ73は、ロボット94
を作動させてアーム93上に移載し、開口部87・98
および再び開口された出入口74を通って密閉容器71
内に装入される。以下同様の操作を繰返して、密閉容器
71内の各ウェハ73を、順に半導体製造装置76まで
移送して加工し、密閉容器71内のすべてのウェハ73
の加工が完了すると、再び前記電動モータ88を作動さ
せて開閉アーム89を上昇させると共に、前方移動させ
て、該開閉アーム89のプレート90に一体に固定され
ていた蓋75を、密閉容器71の出入口74に装着固定
して、前記係合突起91と係合受部92の係合状態を解
除し、該密閉容器71を密閉状態とする。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の標準仕様の密閉容器71とローディング部78で
は、ローディング部78に設置された密閉容器71の蓋
75を、開閉アーム89で半導体製造装置76を構成す
る高清浄空間81の内側に開けた時に、密閉容器71内
の圧力が一時的に外気(半導体製造装置76外のクリー
ンルーム70内に送気される低清浄空気のことをいう)
より低くなり、ファンフィルターユニット85からの気
流では風量・風圧が充分でないため、図21に示すよう
に、密閉容器71の出入口74と、ローディング部78
の開口部98間の隙間96から、矢印で示す外気97を
吸い込んでしまい、外気のダストが密閉容器21内のウ
ェハ73に付着するという課題があった。
来の標準仕様の密閉容器71とローディング部78で
は、ローディング部78に設置された密閉容器71の蓋
75を、開閉アーム89で半導体製造装置76を構成す
る高清浄空間81の内側に開けた時に、密閉容器71内
の圧力が一時的に外気(半導体製造装置76外のクリー
ンルーム70内に送気される低清浄空気のことをいう)
より低くなり、ファンフィルターユニット85からの気
流では風量・風圧が充分でないため、図21に示すよう
に、密閉容器71の出入口74と、ローディング部78
の開口部98間の隙間96から、矢印で示す外気97を
吸い込んでしまい、外気のダストが密閉容器21内のウ
ェハ73に付着するという課題があった。
【0014】本発明は、前記課題を解決すべくなされた
もので、ウェハの通路となる半導体製造装置の前面板に
取付けられたローディング部の開口部の周縁部に、清浄
空気噴出装置を配設して、前記開口部と、前記密閉容器
のウェハの出入口との隙間に、前記清浄空気噴出装置か
ら清浄空気を噴出して、エアカーテンを形成することに
より、前記隙間から外気を吸い込んで該密閉容器内のウ
ェハにダストが付着することがないミニエンバライメン
ト方式の半導体製造装置を提供しようとするものであ
る。
もので、ウェハの通路となる半導体製造装置の前面板に
取付けられたローディング部の開口部の周縁部に、清浄
空気噴出装置を配設して、前記開口部と、前記密閉容器
のウェハの出入口との隙間に、前記清浄空気噴出装置か
ら清浄空気を噴出して、エアカーテンを形成することに
より、前記隙間から外気を吸い込んで該密閉容器内のウ
ェハにダストが付着することがないミニエンバライメン
ト方式の半導体製造装置を提供しようとするものであ
る。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、密閉容器に収
納されたウェハを半導体製造装置内部に引出し、または
半導体製造装置内で加工されたウェハを密閉容器に装入
するミニエンバライメント方式の半導体製造装置におい
て、ウェハを出し入れする密閉容器の出入口と、半導体
製造装置に取付けられたローディング部の開口部間の隙
間に、空気供給装置とフレキシブルチューブで連結され
た清浄空気噴出装置から清浄空気を噴出してエアカーテ
ンを形成することにより、密閉容器の蓋を半導体製造装
置内側へ開けた時に、前記密閉容器の出入口と、半導体
製造装置に取付けられたローディング部の開口部間の隙
間を通って、密閉容器に侵入する外気を遮断するという
手段を採用することにより、上記課題を解決した。
納されたウェハを半導体製造装置内部に引出し、または
半導体製造装置内で加工されたウェハを密閉容器に装入
するミニエンバライメント方式の半導体製造装置におい
て、ウェハを出し入れする密閉容器の出入口と、半導体
製造装置に取付けられたローディング部の開口部間の隙
間に、空気供給装置とフレキシブルチューブで連結され
た清浄空気噴出装置から清浄空気を噴出してエアカーテ
ンを形成することにより、密閉容器の蓋を半導体製造装
置内側へ開けた時に、前記密閉容器の出入口と、半導体
製造装置に取付けられたローディング部の開口部間の隙
間を通って、密閉容器に侵入する外気を遮断するという
手段を採用することにより、上記課題を解決した。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて詳細に説明するが、本発明については、前記従来公
知の半導体製造装置において説明した符号と共通するも
のは同一の符号を用いて説明すると共に、同一符号を付
したものの構成および作用については説明を省略する。
いて詳細に説明するが、本発明については、前記従来公
知の半導体製造装置において説明した符号と共通するも
のは同一の符号を用いて説明すると共に、同一符号を付
したものの構成および作用については説明を省略する。
【0017】本発明ミニエンバライメント方式の半導体
製造装置は、従来公知のミニエンバライメント方式の半
導体製造装置76の前面板77に、密閉容器71に収納
されたウェハ73を、該半導体製造装置76を構成する
高清浄空間81内に引出したり、あるいは密閉容器71
内に装入するための通路として開口されたローディング
部78の開口部98の周縁部に、清浄空気噴出装置1を
装置して、該清浄空気噴出装置1より前記開口部98の
外側外周縁方向へ清浄空気を噴出することにより、前記
密閉容器71の出入口74と、前記開口部98間にエア
カーテンを形成し、該密閉容器71の出入口74と開口
部98の隙間96から、ダストを含んだクリーンルーム
70内の外気を吸い込むことを阻止して、該密閉容器7
1内のウェハ73にダストが付着することがないよう形
成されている。
製造装置は、従来公知のミニエンバライメント方式の半
導体製造装置76の前面板77に、密閉容器71に収納
されたウェハ73を、該半導体製造装置76を構成する
高清浄空間81内に引出したり、あるいは密閉容器71
内に装入するための通路として開口されたローディング
部78の開口部98の周縁部に、清浄空気噴出装置1を
装置して、該清浄空気噴出装置1より前記開口部98の
外側外周縁方向へ清浄空気を噴出することにより、前記
密閉容器71の出入口74と、前記開口部98間にエア
カーテンを形成し、該密閉容器71の出入口74と開口
部98の隙間96から、ダストを含んだクリーンルーム
70内の外気を吸い込むことを阻止して、該密閉容器7
1内のウェハ73にダストが付着することがないよう形
成されている。
【0018】図1は、本発明の第1の実施の形態を示す
ミニエンバライメント方式の半導体製造装置の概略縦断
面図である。図1に示すクリーンルーム70内に設置さ
れた半導体製造装置におけるローディング部78は、世
界標準仕様で定められたものであり、清浄空気噴出装置
1aと、空気供給装置2aとが前記世界標準仕様で定め
られた半導体製造装置76の高清浄空間81の限られた
空間内に配設されている。
ミニエンバライメント方式の半導体製造装置の概略縦断
面図である。図1に示すクリーンルーム70内に設置さ
れた半導体製造装置におけるローディング部78は、世
界標準仕様で定められたものであり、清浄空気噴出装置
1aと、空気供給装置2aとが前記世界標準仕様で定め
られた半導体製造装置76の高清浄空間81の限られた
空間内に配設されている。
【0019】前記清浄空気噴出装置1aは、図2の概略
斜視図に示すように、空気供給装置2aとフレキシブル
チューブ3で連結され、前記半導体製造装置76内の限
られた空間に、該清浄空気噴出装置1aおよび空気供給
装置2aが分離して装置できるよう配慮されている。
斜視図に示すように、空気供給装置2aとフレキシブル
チューブ3で連結され、前記半導体製造装置76内の限
られた空間に、該清浄空気噴出装置1aおよび空気供給
装置2aが分離して装置できるよう配慮されている。
【0020】前記清浄空気噴出装置1aは、薄型の枠状
に形成されて、プレート90の上下・前後移動に支障が
ないよう、前記ローディング部78の開口部98の周縁
部に装着固定され、また、前記空気供給装置2aは、電
動モータ88と開閉アーム89の作動に支障がないよう
薄型に形成されて、前面板77の内側面に前記電動モー
タ88と間隔を有して固定されている。
に形成されて、プレート90の上下・前後移動に支障が
ないよう、前記ローディング部78の開口部98の周縁
部に装着固定され、また、前記空気供給装置2aは、電
動モータ88と開閉アーム89の作動に支障がないよう
薄型に形成されて、前面板77の内側面に前記電動モー
タ88と間隔を有して固定されている。
【0021】前記空気供給装置2aは、薄型のものを使
用する必要があるため、図2に示すようにシロッコファ
ン4により吸気する環状の吸気部5を備えて形成されて
おり、該シロッコファン4により高清浄空間81内の清
浄空気を吸引して、フレキシブルチューブ3を介して清
浄空気噴出装置1aに送気する。
用する必要があるため、図2に示すようにシロッコファ
ン4により吸気する環状の吸気部5を備えて形成されて
おり、該シロッコファン4により高清浄空間81内の清
浄空気を吸引して、フレキシブルチューブ3を介して清
浄空気噴出装置1aに送気する。
【0022】前記清浄空気噴出装置1aは、図3に示す
ように半導体製造装置76の前面板77に取付けられた
ローディング部78の開口部98の周縁部に設置され
て、該開口部98の外側外周縁方向に清浄空気が噴出さ
れるように形成されている。本発明の実施の形態におい
ては、前記清浄空気噴出装置1aは、方形状の開口部9
8に適合するよう方形枠状に形成されている。
ように半導体製造装置76の前面板77に取付けられた
ローディング部78の開口部98の周縁部に設置され
て、該開口部98の外側外周縁方向に清浄空気が噴出さ
れるように形成されている。本発明の実施の形態におい
ては、前記清浄空気噴出装置1aは、方形状の開口部9
8に適合するよう方形枠状に形成されている。
【0023】すなわち、前記清浄空気噴出装置1aは、
枠状の噴出管6と、該噴出管6の前面に配設される枠状
のガイドカバー7とにより構成されている。前記噴出管
6は、図6・図7に示すように、中央に前記開口部98
の外周形状と略一致する空間部8を有する枠状の内周壁
板9の底縁外側方向に底板10を直角に周設して前面側
部材11を形成すると共に、中央に前記前面側部材11
と同様の空間部8を有する天板12の外周縁部に外周壁
板13を垂設して後面側部材14を形成し、且つ該後面
側部材14を前記前面側部材11に取外し可能に被冠固
定して、該前面側部材11および後面側部材14間に環
状の送風通路15が形成され、且つ前記送風通路15に
おいて、前記内周壁板9の上周縁部と底板10の外周縁
部とに、複数枚のダスト除去用のフィルター16を積層
して角錐状に設置して、該フィルター16を区画壁とし
て、天板12寄りを流入空気通路17とすると共に、底
板10寄りを清浄空気通路18として前記送風通路15
を区画し、更に前記底板10の全周に亘り清浄空気噴出
用のスリット19を周設して形成されている。
枠状の噴出管6と、該噴出管6の前面に配設される枠状
のガイドカバー7とにより構成されている。前記噴出管
6は、図6・図7に示すように、中央に前記開口部98
の外周形状と略一致する空間部8を有する枠状の内周壁
板9の底縁外側方向に底板10を直角に周設して前面側
部材11を形成すると共に、中央に前記前面側部材11
と同様の空間部8を有する天板12の外周縁部に外周壁
板13を垂設して後面側部材14を形成し、且つ該後面
側部材14を前記前面側部材11に取外し可能に被冠固
定して、該前面側部材11および後面側部材14間に環
状の送風通路15が形成され、且つ前記送風通路15に
おいて、前記内周壁板9の上周縁部と底板10の外周縁
部とに、複数枚のダスト除去用のフィルター16を積層
して角錐状に設置して、該フィルター16を区画壁とし
て、天板12寄りを流入空気通路17とすると共に、底
板10寄りを清浄空気通路18として前記送風通路15
を区画し、更に前記底板10の全周に亘り清浄空気噴出
用のスリット19を周設して形成されている。
【0024】前記スリット19は、図5に示すように、
前記噴出管6の外側に開口された吸気口20側に近い所
は、その幅gが狭く、該吸気口20から遠くなるに従っ
て徐々に広く、すなわち、g1<g2<g3<g4<g
5となるように形成する。前記のようにスリット19を
形成することにより、流入空気通路17および清浄空気
通路18を通る空気の圧力損失による前記吸気口20か
ら離れたスリット19よりの清浄空気噴出量の低下を補
い、スリット19全周面から均一に清浄空気を噴出させ
ることができる。
前記噴出管6の外側に開口された吸気口20側に近い所
は、その幅gが狭く、該吸気口20から遠くなるに従っ
て徐々に広く、すなわち、g1<g2<g3<g4<g
5となるように形成する。前記のようにスリット19を
形成することにより、流入空気通路17および清浄空気
通路18を通る空気の圧力損失による前記吸気口20か
ら離れたスリット19よりの清浄空気噴出量の低下を補
い、スリット19全周面から均一に清浄空気を噴出させ
ることができる。
【0025】更に、前記清浄空気噴出装置1aを構成す
るガイドカバー7は、図8に示すように、前記噴出管6
のスリット19から噴出された清浄空気を整流すると共
に、風速分布の均一化を図るため、両側先端方向が徐々
に狭くなる2枚の整流板21を備え、且つ該整流板21
の先端に同一巾のガイドスリット22を周設して、前記
噴出管6の前面部に配設されるよう空間部23を設けて
形成されている。
るガイドカバー7は、図8に示すように、前記噴出管6
のスリット19から噴出された清浄空気を整流すると共
に、風速分布の均一化を図るため、両側先端方向が徐々
に狭くなる2枚の整流板21を備え、且つ該整流板21
の先端に同一巾のガイドスリット22を周設して、前記
噴出管6の前面部に配設されるよう空間部23を設けて
形成されている。
【0026】前記構成より成るガイドカバー7を前記噴
出管6の前面(下流側)に固定して清浄空気噴出装置1
aが形成される(図9・図10)。これにより、前記噴
出管6のスリット19からは、噴出風量を調整すると共
に、風量が均一化されてガイドカバー7内に噴出した清
浄空気が、整流板21によって整流されると共に、風速
分布が均一化されてガイドスリット22から噴出される
のである。
出管6の前面(下流側)に固定して清浄空気噴出装置1
aが形成される(図9・図10)。これにより、前記噴
出管6のスリット19からは、噴出風量を調整すると共
に、風量が均一化されてガイドカバー7内に噴出した清
浄空気が、整流板21によって整流されると共に、風速
分布が均一化されてガイドスリット22から噴出される
のである。
【0027】前記構成より成る清浄空気噴出装置1aの
ガイドスリット22側が、前記密閉容器71の出入口7
4と開口部98の隙間96方向に面するようにして、前
記清浄空気噴出装置1aを該開口部98の周縁部に固定
し、更に前記空気供給装置2aの送気口24と、清浄空
気噴出装置1aの流入空気通路17側に設けた吸気口2
0とをフレキシブルチューブ3で連結する。
ガイドスリット22側が、前記密閉容器71の出入口7
4と開口部98の隙間96方向に面するようにして、前
記清浄空気噴出装置1aを該開口部98の周縁部に固定
し、更に前記空気供給装置2aの送気口24と、清浄空
気噴出装置1aの流入空気通路17側に設けた吸気口2
0とをフレキシブルチューブ3で連結する。
【0028】なお、清浄空気噴出装置1aの噴出管6を
構成するフィルター16を角錐状に設置することによ
り、該フィルター16の表面積が広くなって濾過面積が
大となると共に、単位面積当りの風量が少なくなって、
圧力損失を低減できるという作用を有する。また、清浄
空気噴出装置1aを、前面側部材11を後面側部材14
に取外し可能に被冠固定することにより、清浄空気噴出
装置1a全体を前面板77から取外すことなく、後面側
部材14だけを取外すことにより、フィルター16の交
換が容易にできる。
構成するフィルター16を角錐状に設置することによ
り、該フィルター16の表面積が広くなって濾過面積が
大となると共に、単位面積当りの風量が少なくなって、
圧力損失を低減できるという作用を有する。また、清浄
空気噴出装置1aを、前面側部材11を後面側部材14
に取外し可能に被冠固定することにより、清浄空気噴出
装置1a全体を前面板77から取外すことなく、後面側
部材14だけを取外すことにより、フィルター16の交
換が容易にできる。
【0029】また、図11は本発明の第2の実施の形態
を示すミニエンバライメント方式の半導体製造装置にお
ける清浄空気噴出装置と空気供給装置を示す概略斜視
図、図12は同清浄空気噴出装置の横断面図である。前
記本発明の第1の実施の形態における清浄空気噴出装置
1aが、フィルター16を送風通路15内に角錐状に設
置して、該送風通路15を流入空気通路17と清浄空気
通路18とに区画している。これに対し、本発明の第2
の実施の形態においては、前面側部材11と後面側部材
14間に形成される送風通路25にはフィルターは設置
されていない。
を示すミニエンバライメント方式の半導体製造装置にお
ける清浄空気噴出装置と空気供給装置を示す概略斜視
図、図12は同清浄空気噴出装置の横断面図である。前
記本発明の第1の実施の形態における清浄空気噴出装置
1aが、フィルター16を送風通路15内に角錐状に設
置して、該送風通路15を流入空気通路17と清浄空気
通路18とに区画している。これに対し、本発明の第2
の実施の形態においては、前面側部材11と後面側部材
14間に形成される送風通路25にはフィルターは設置
されていない。
【0030】すなわち、本発明の第2の実施の形態にお
いては、前面側部材11と後面側部材14とで形成され
る送風通路25全体が、清浄空気送風通路として作用す
るものがある。そして、清浄空気噴出装置1bの吸気口
26の上方部に取外し可能に連通して取付けられたフィ
ルター容器28内に、複数枚のダスト除去用のフィルタ
ー27が積層して配設され、且つ空気供給装置2bの送
気口24と前記フィルター容器28とがフレキシブルチ
ューブ3で連結されると共に、これら清浄空気噴出装置
1bと空気供給装置2bが、前記第1の実施の形態にお
けると同様、半導体製造装置76の高清浄空間81内に
設置される。
いては、前面側部材11と後面側部材14とで形成され
る送風通路25全体が、清浄空気送風通路として作用す
るものがある。そして、清浄空気噴出装置1bの吸気口
26の上方部に取外し可能に連通して取付けられたフィ
ルター容器28内に、複数枚のダスト除去用のフィルタ
ー27が積層して配設され、且つ空気供給装置2bの送
気口24と前記フィルター容器28とがフレキシブルチ
ューブ3で連結されると共に、これら清浄空気噴出装置
1bと空気供給装置2bが、前記第1の実施の形態にお
けると同様、半導体製造装置76の高清浄空間81内に
設置される。
【0031】前記第2の実施の形態における空気供給装
置2bからフレキシブルチューブ3を介して送気された
空気が、前記フィルター27によって清浄化されて、前
記吸気口26に連通する送風通路25に送気され、前記
噴出管6に設けられたスリット19からガイドカバー7
内に噴出され、更にガイドスリット22を経て清浄空気
が、前記開口部98の外側外周縁方向へ噴出する。な
お、フィルター容器28内のフィルター27は、該フィ
ルター容器28を取外すことにより、新しいフィルター
との交換が可能である。そして、その他の作用は、前記
第1の実施の形態に示すものと同一なので説明を省略す
る。
置2bからフレキシブルチューブ3を介して送気された
空気が、前記フィルター27によって清浄化されて、前
記吸気口26に連通する送風通路25に送気され、前記
噴出管6に設けられたスリット19からガイドカバー7
内に噴出され、更にガイドスリット22を経て清浄空気
が、前記開口部98の外側外周縁方向へ噴出する。な
お、フィルター容器28内のフィルター27は、該フィ
ルター容器28を取外すことにより、新しいフィルター
との交換が可能である。そして、その他の作用は、前記
第1の実施の形態に示すものと同一なので説明を省略す
る。
【0032】更に、図13は本発明の第3の実施の形態
を示すミニエンバライメント方式の半導体製造装置にお
ける清浄空気噴出装置と空気供給装置を示す一部切欠概
略斜視図、図14は同清浄空気噴出装置の横断面図であ
る。前記本発明の第1の実施の形態における清浄空気噴
出装置1aが、フィルター16を送風通路15内に角錐
状に設置して、該送風通路15を流入空気通路17と清
浄空気通路18とに区画すると共に、空気供給装置2a
がシロッコファン4を備えて形成されている。
を示すミニエンバライメント方式の半導体製造装置にお
ける清浄空気噴出装置と空気供給装置を示す一部切欠概
略斜視図、図14は同清浄空気噴出装置の横断面図であ
る。前記本発明の第1の実施の形態における清浄空気噴
出装置1aが、フィルター16を送風通路15内に角錐
状に設置して、該送風通路15を流入空気通路17と清
浄空気通路18とに区画すると共に、空気供給装置2a
がシロッコファン4を備えて形成されている。
【0033】これに対し、本発明の第3の実施の形態に
おいては、清浄空気噴出装置1cは、前記第2の実施の
形態におけると同様に、前面側部材11と後面側部材1
4とで形成される送風通路31全体が、清浄空気送風通
路として作用するよう形成され、且つ空気供給装置2c
は、半導体製造装置76の高清浄空間81内に設置され
たファン32とフィルター33とを備えた小型ファンフ
ィルターユニット34により形成されている。そして、
前記空気供給装置2cの送気口35と清浄空気噴出装置
1cの吸気口36とがフレキシブルチューブ3で連結さ
れると共に、これら清浄空気噴出装置1cと空気供給装
置2cが、前記第1の実施の形態におけると同様、半導
体製造装置76の高清浄空間81内に設置される。
おいては、清浄空気噴出装置1cは、前記第2の実施の
形態におけると同様に、前面側部材11と後面側部材1
4とで形成される送風通路31全体が、清浄空気送風通
路として作用するよう形成され、且つ空気供給装置2c
は、半導体製造装置76の高清浄空間81内に設置され
たファン32とフィルター33とを備えた小型ファンフ
ィルターユニット34により形成されている。そして、
前記空気供給装置2cの送気口35と清浄空気噴出装置
1cの吸気口36とがフレキシブルチューブ3で連結さ
れると共に、これら清浄空気噴出装置1cと空気供給装
置2cが、前記第1の実施の形態におけると同様、半導
体製造装置76の高清浄空間81内に設置される。
【0034】前記第3の実施の形態における小型ファン
フィルターユニット34で高清浄空間81内の清浄空気
を吸引して更に清浄化して、フレキシブルチューブ3を
経て吸気口36に連通する送風通路31に送気され、前
記噴出管6に設けられたスリット19からガイドカバー
7内に噴出され、更にガイドスリット22を経て清浄空
気が、前記開口部98の外側外周縁方向へ噴出する。な
お、小型ファンフィルターユニット34内のフィルター
33を新しいフィルターと交換することも簡単にでき
る。そして、その他の作用は、前記第1の実施の形態に
示すものと同一なので説明を省略する。
フィルターユニット34で高清浄空間81内の清浄空気
を吸引して更に清浄化して、フレキシブルチューブ3を
経て吸気口36に連通する送風通路31に送気され、前
記噴出管6に設けられたスリット19からガイドカバー
7内に噴出され、更にガイドスリット22を経て清浄空
気が、前記開口部98の外側外周縁方向へ噴出する。な
お、小型ファンフィルターユニット34内のフィルター
33を新しいフィルターと交換することも簡単にでき
る。そして、その他の作用は、前記第1の実施の形態に
示すものと同一なので説明を省略する。
【0035】また更に、図15は本発明の第4の実施の
形態を示すミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置と空気供給装置を示す一部切
欠概略斜視図、図16は同清浄空気噴出装置の横断面図
である。清浄空気噴出装置1dは、前記第2および第3
の実施の形態におけると同様に、前面側部材11と後面
側部材14とで形成される送風通路41全体が、清浄空
気送風通路として作用するよう形成され、且つ空気供給
装置2dは、半導体製造装置76外のクリーンルーム7
0に送気されているクリーンエアを吸気して圧送するコ
ンプレッサー43が、前記半導体製造装置76外である
クリーンルーム70内に設置されると共に、該コンプレ
ッサー43が、前記半導体製造装置76の高清浄空間8
1内において、複数枚のダスト除去用のフィルター44
を積層して形成されたフィルター装置45と、該半導体
製造装置76の前面板77を貫通した連結チューブ46
によって連結して形成されている。そして、前記空気供
給装置2dを構成するフィルター装置45と、清浄空気
噴出装置1dの吸気口47とがフレキシブルチューブ3
で連結されると共に、フィルター装置45と清浄空気噴
出装置1dが、前記第1の実施の形態におけると同様、
半導体製造装置76の高清浄空間81内に設置される。
形態を示すミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置と空気供給装置を示す一部切
欠概略斜視図、図16は同清浄空気噴出装置の横断面図
である。清浄空気噴出装置1dは、前記第2および第3
の実施の形態におけると同様に、前面側部材11と後面
側部材14とで形成される送風通路41全体が、清浄空
気送風通路として作用するよう形成され、且つ空気供給
装置2dは、半導体製造装置76外のクリーンルーム7
0に送気されているクリーンエアを吸気して圧送するコ
ンプレッサー43が、前記半導体製造装置76外である
クリーンルーム70内に設置されると共に、該コンプレ
ッサー43が、前記半導体製造装置76の高清浄空間8
1内において、複数枚のダスト除去用のフィルター44
を積層して形成されたフィルター装置45と、該半導体
製造装置76の前面板77を貫通した連結チューブ46
によって連結して形成されている。そして、前記空気供
給装置2dを構成するフィルター装置45と、清浄空気
噴出装置1dの吸気口47とがフレキシブルチューブ3
で連結されると共に、フィルター装置45と清浄空気噴
出装置1dが、前記第1の実施の形態におけると同様、
半導体製造装置76の高清浄空間81内に設置される。
【0036】前記第4の実施の形態におけるコンプレッ
サー43で吸引されたクリーンルーム70内の低清浄空
気は、フィルター装置45により更に清浄化されて、フ
レキシブルチューブ3を介して吸気口47に連通する送
風通路41に送気され、前記噴出管6に設けられたスリ
ット19からガイドカバー7内に噴出され、更にガイド
スリット22を経て清浄空気が、前記開口部98の外側
外周縁方向へ噴出する。なお、フィルター装置45のフ
ィルター44を、新しいフィルターと交換することも簡
単にできる。そして、その他の作用は、前記第1の実施
の形態に示すものと同一なので説明を省略する。
サー43で吸引されたクリーンルーム70内の低清浄空
気は、フィルター装置45により更に清浄化されて、フ
レキシブルチューブ3を介して吸気口47に連通する送
風通路41に送気され、前記噴出管6に設けられたスリ
ット19からガイドカバー7内に噴出され、更にガイド
スリット22を経て清浄空気が、前記開口部98の外側
外周縁方向へ噴出する。なお、フィルター装置45のフ
ィルター44を、新しいフィルターと交換することも簡
単にできる。そして、その他の作用は、前記第1の実施
の形態に示すものと同一なので説明を省略する。
【0037】図17は、本発明における清浄空気噴出装
置1を構成する噴出管6の他の実施の形態を示す正面図
である。前記図5に示す噴出管6が、スリット19を設
けて形成されているのに対し、図17に示す噴出管6
は、前記スリットに代えて多数の同径の噴出孔48が穿
設されて形成されている。すなわち、吸気口20側に近
い所は、間隔を広く取り、且つ該吸気口20から遠くな
るに従って徐々に間隔が狭くなると共に、数が多くなる
ようにして噴出孔48が穿設されている。そして、前記
構成の噴出管6の前面部には、前記と同一構成のガイド
カバー7が配設される。図17に示す噴出管6の作用
は、前記図5に示すものと同一なので説明を省略する。
なお、図に示す噴出管6は、清浄空気噴出装置1a〜1
dのすべてに使用することかできる。
置1を構成する噴出管6の他の実施の形態を示す正面図
である。前記図5に示す噴出管6が、スリット19を設
けて形成されているのに対し、図17に示す噴出管6
は、前記スリットに代えて多数の同径の噴出孔48が穿
設されて形成されている。すなわち、吸気口20側に近
い所は、間隔を広く取り、且つ該吸気口20から遠くな
るに従って徐々に間隔が狭くなると共に、数が多くなる
ようにして噴出孔48が穿設されている。そして、前記
構成の噴出管6の前面部には、前記と同一構成のガイド
カバー7が配設される。図17に示す噴出管6の作用
は、前記図5に示すものと同一なので説明を省略する。
なお、図に示す噴出管6は、清浄空気噴出装置1a〜1
dのすべてに使用することかできる。
【0038】また、図18は、本発明における清浄空気
噴出装置1を構成する噴出管6の更に他の実施の形態を
示す正面図である。前記図5に示す噴出管6が、スリッ
ト19を設けて形成されているのに対し、図18に示す
噴出管6は、前記スリットに代えて多数の径の異なる噴
出孔49が穿設されて形成されている。すなわち、吸気
口20側に近い所は、径小の噴出孔49が穿設され、且
つ該吸気口20から遠くなるに従って徐々に径大な噴出
孔49が穿設されている。そして、前記構成の噴出管6
の前面部には、前記と同一構成のガイドカバー7が配設
される。図18に示す噴出管6の作用は、前記図5に示
すものと同一であるので説明を省略する。なお、図18
に示す噴出管6は、清浄空気噴出装置1a〜1dのすべ
てに使用することかできる。
噴出装置1を構成する噴出管6の更に他の実施の形態を
示す正面図である。前記図5に示す噴出管6が、スリッ
ト19を設けて形成されているのに対し、図18に示す
噴出管6は、前記スリットに代えて多数の径の異なる噴
出孔49が穿設されて形成されている。すなわち、吸気
口20側に近い所は、径小の噴出孔49が穿設され、且
つ該吸気口20から遠くなるに従って徐々に径大な噴出
孔49が穿設されている。そして、前記構成の噴出管6
の前面部には、前記と同一構成のガイドカバー7が配設
される。図18に示す噴出管6の作用は、前記図5に示
すものと同一であるので説明を省略する。なお、図18
に示す噴出管6は、清浄空気噴出装置1a〜1dのすべ
てに使用することかできる。
【0039】前記構成より成る本発明によれば、密閉容
器71の蓋75を半導体製造装置76内に開いてウエハ
73をアーム93に移載して引出す際、または、加工さ
れたウェハ73を前記アーム93を介して、前記密閉容
器71に装入する際、図3に示すように、半導体製造装
置76の開口部98の外側外周縁方向に、空気供給装置
2とフレキシブルチューブ3で連結された清浄空気噴出
装置1のスリット19から、矢印で示す清浄空気を噴出
することにより、前記開口部98と前記密閉容器71の
出入口74と隙間96にエアカーテンを形成し、該開口
部98および出入口74間の隙間96から、湾曲した矢
印で示すように、ダストを含んだ外気が密閉容器71内
に侵入するのが阻止されて、前記密閉容器71内のウェ
ハ73へのダストの付着が防止される。
器71の蓋75を半導体製造装置76内に開いてウエハ
73をアーム93に移載して引出す際、または、加工さ
れたウェハ73を前記アーム93を介して、前記密閉容
器71に装入する際、図3に示すように、半導体製造装
置76の開口部98の外側外周縁方向に、空気供給装置
2とフレキシブルチューブ3で連結された清浄空気噴出
装置1のスリット19から、矢印で示す清浄空気を噴出
することにより、前記開口部98と前記密閉容器71の
出入口74と隙間96にエアカーテンを形成し、該開口
部98および出入口74間の隙間96から、湾曲した矢
印で示すように、ダストを含んだ外気が密閉容器71内
に侵入するのが阻止されて、前記密閉容器71内のウェ
ハ73へのダストの付着が防止される。
【0040】
【発明の効果】本発明は上述のようであるから、密閉容
器からウェハをアームに移載して引出す際、または、加
工されたウェハを前記アームを介して前記密閉容器に装
入する際に、該密閉容器の出入口部と、半導体製造装置
に取付けられたローディング部の開口部間の隙間に、空
気供給装置とフレキシブルチューブで連結された清浄空
気噴出装置から清浄空気を噴出してエアカーテンを形成
することにより、該隙間からダストを含んだ外気の侵入
を阻止して、前記密閉容器内のウェハへのダストの付着
を防止することができる。
器からウェハをアームに移載して引出す際、または、加
工されたウェハを前記アームを介して前記密閉容器に装
入する際に、該密閉容器の出入口部と、半導体製造装置
に取付けられたローディング部の開口部間の隙間に、空
気供給装置とフレキシブルチューブで連結された清浄空
気噴出装置から清浄空気を噴出してエアカーテンを形成
することにより、該隙間からダストを含んだ外気の侵入
を阻止して、前記密閉容器内のウェハへのダストの付着
を防止することができる。
【図1】本発明の第1の実施の形態を示すミニエンバラ
イメント方式の半導体製造装置の全体の概略縦断面図で
ある。
イメント方式の半導体製造装置の全体の概略縦断面図で
ある。
【図2】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置と空気供給装置を示す概略斜
視図である。
における清浄空気噴出装置と空気供給装置を示す概略斜
視図である。
【図3】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装置
の要部を示す概略縦断面図である。
の要部を示す概略縦断面図である。
【図4】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置の全体を示す斜視図である。
における清浄空気噴出装置の全体を示す斜視図である。
【図5】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の全体を示
す斜視図である。
における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の全体を示
す斜視図である。
【図6】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の組立分解
断面図である。
における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の組立分解
断面図である。
【図7】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の横断面図
である。
における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の横断面図
である。
【図8】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置を構成するガイドカバーの全
体を示す斜視図である。
における清浄空気噴出装置を構成するガイドカバーの全
体を示す斜視図である。
【図9】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装置
における清浄空気噴出装置の正面図である。
における清浄空気噴出装置の正面図である。
【図10】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装
置における清浄空気噴出装置の横断面図である。
置における清浄空気噴出装置の横断面図である。
【図11】本発明の第2の実施の形態を示すミニエンバ
ライメント方式の半導体製造装置における清浄空気噴出
装置の全体の斜視図である。
ライメント方式の半導体製造装置における清浄空気噴出
装置の全体の斜視図である。
【図12】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装
置における清浄空気噴出装置の横断面図である。
置における清浄空気噴出装置の横断面図である。
【図13】本発明の第3の実施の形態を示すミニエンバ
ライメント方式の半導体製造装置における清浄空気噴出
装置と空気供給装置の一部切欠概略斜視図である。
ライメント方式の半導体製造装置における清浄空気噴出
装置と空気供給装置の一部切欠概略斜視図である。
【図14】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装
置における清浄空気噴出装置の横断面図である。
置における清浄空気噴出装置の横断面図である。
【図15】本発明の第4の実施の形態を示すミニエンバ
ライメント方式の半導体製造装置における清浄空気噴出
装置と空気供給装置の一部切欠概略斜視図である。
ライメント方式の半導体製造装置における清浄空気噴出
装置と空気供給装置の一部切欠概略斜視図である。
【図16】同ミニエンバライメント方式の半導体製造装
置における清浄空気噴出装置の横断面図である。
置における清浄空気噴出装置の横断面図である。
【図17】本発明ミニエンバライメント方式の半導体製
造装置における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の他
の実施の形態を示す正面図である。
造装置における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の他
の実施の形態を示す正面図である。
【図18】本発明ミニエンバライメント方式の半導体製
造装置における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の更
に他の実施の形態を示す正面図である。
造装置における清浄空気噴出装置を構成する噴出管の更
に他の実施の形態を示す正面図である。
【図19】従来のミニエンバライメント方式の半導体製
造装置の全体を示す概略縦断面図である。
造装置の全体を示す概略縦断面図である。
【図20】従来のミニエンバライメント方式の半導体製
造装置における密閉容器とローディング装置の組立分解
斜視図である。
造装置における密閉容器とローディング装置の組立分解
斜視図である。
【図21】従来のミニエンバライメント方式の半導体製
造装置における要部を示す概略縦断面図である。
造装置における要部を示す概略縦断面図である。
1・1a〜1d 清浄空気噴出装置、 2・2a〜2d
空気供給装置、 3フレキシブルチューブ、 4 シ
ロッコファン、 6 噴出管、 7 ガイドカバー、
8 空間部、 11 前面側部材、 14 後面側部
材、 15 送風通路、 16 フィルター、 17
流入空気通路、 18 清浄空気通路、19 スリッ
ト、 20 吸気口、 21 整流板、 22 ガイド
スリット、 23 空間部、 24 送気口、 25
送風通路、 26 吸気口、 27 フィルター、 2
8 フィルター容器、 31 送風通路、 32 ファ
ン、 33 フィルター、 34 ファンフィルター
ユニット、 35 送気口、 36 吸気口、 41
送風通路、 43 コンプレッサー、 44 フィル
ター、 45 フィルター装置、47 吸気口、 48
・49 噴出孔、70 クリーンルーム、 71 密閉
容器、 73 ウェハ、 74 出入口、75 蓋、
76 半導体製造装置、 78 ローディング部、 8
1 高清浄空間、 87 開口部、 96 隙間、 9
8 開口部。
空気供給装置、 3フレキシブルチューブ、 4 シ
ロッコファン、 6 噴出管、 7 ガイドカバー、
8 空間部、 11 前面側部材、 14 後面側部
材、 15 送風通路、 16 フィルター、 17
流入空気通路、 18 清浄空気通路、19 スリッ
ト、 20 吸気口、 21 整流板、 22 ガイド
スリット、 23 空間部、 24 送気口、 25
送風通路、 26 吸気口、 27 フィルター、 2
8 フィルター容器、 31 送風通路、 32 ファ
ン、 33 フィルター、 34 ファンフィルター
ユニット、 35 送気口、 36 吸気口、 41
送風通路、 43 コンプレッサー、 44 フィル
ター、 45 フィルター装置、47 吸気口、 48
・49 噴出孔、70 クリーンルーム、 71 密閉
容器、 73 ウェハ、 74 出入口、75 蓋、
76 半導体製造装置、 78 ローディング部、 8
1 高清浄空間、 87 開口部、 96 隙間、 9
8 開口部。
フロントページの続き
Fターム(参考) 5F031 CA02 DA08 EA14 FA01 FA07
FA11 NA02 NA10 NA14 PA18
PA23
Claims (7)
- 【請求項1】密閉容器に収納されたウェハを半導体製造
装置内部に引出し、または半導体製造装置内で加工され
たウェハを密閉容器に装入するミニエンバライメント方
式の半導体製造装置において、ウェハを出し入れする密
閉容器の出入口と、半導体製造装置に取付けられたロー
ディング部の開口部間の隙間に、空気供給装置とフレキ
シブルチューブで連結された清浄空気噴出装置から清浄
空気を噴出してエアカーテンを形成することにより、密
閉容器の蓋を半導体製造装置内側へ開けた時に、前記密
閉容器の出入口と、半導体製造装置に取付けられたロー
ディング部の開口部間の隙間を通って、密閉容器に侵入
する外気を遮断することを特徴とするミニエンバライメ
ント方式の半導体製造装置。 - 【請求項2】請求項1記載のミニエンバライメント方式
の半導体製造装置において、空間部を有する前面側部材
と後面側部材とを取外し可能に接合固定して、該前面側
部材と後面側部材間に送風通路を設けると共に、前記送
風通路にフィルターを角錐状に装着固定して、該フィル
ターにより該送風通路を流入空気通路と清浄空気通路と
に区画し、且つ前面側部材の底板に、吸気口側に近い所
は狭く、且つ該吸気口から遠くなるに従って徐々に広く
形成されたスリットを周設して枠状の噴出管を設け、更
に両側先端方向が徐々に狭くなる2枚の整流板を備え、
且つ該整流板の先端に同一巾のガイドスリットを周設し
て枠状のガイドカバーを形成すると共に、該ガイドカバ
ーを前記噴出管の前面に配設して清浄空気噴出装置を形
成する一方、該清浄空気噴出装置と、半導体製造装置の
高清浄空間内に設置されたシロッコファンを備えた空気
供給装置とをフレキシブルチューブで連結したことを特
徴とするミニエンバライメント方式の半導体製造装置。 - 【請求項3】請求項1記載のミニエンバライメント方式
の半導体製造装置において、空間部を有する前面側部材
と後面側部材とを接合固定して、該前面側部材と後面側
部材間に送風通路を設けると共に、前記送風通路の吸気
口にフィルターを配設し、且つ前面側部材の底板に、吸
気口側に近い所は狭く、且つ該吸気口から遠くなるに従
って徐々に広く形成されたスリットを周設して枠状の噴
出管を設け、更に両側先端方向が徐々に狭くなる整流板
を備え、且つ該整流板の先端に同一巾のガイドスリット
を周設して枠状のガイドカバーを形成すると共に、該ガ
イドカバーを前記噴出管の前面に配設して清浄空気噴出
装置を形成する一方、該清浄空気噴出装置と、半導体製
造装置の高清浄空間内に設置されたシロッコファンを備
えた空気供給装置とをフレキシブルチューブで連結した
ことを特徴とするミニエンバライメント方式の半導体製
造装置。 - 【請求項4】請求項1記載のミニエンバライメント方式
の半導体製造装置において、空間部を有する前面側部材
と後面側部材とを接合固定して、該前面側部材と後面側
部材間に送風通路を設けると共に、且つ前面側部材の底
板に、吸気口側に近い所は狭く、且つ該吸気口から遠く
なるに従って徐々に広く形成されたスリットを周設して
枠状の噴出管を設け、更に両側先端方向が徐々に狭くな
る整流板を備え、且つ該整流板の先端に同一巾のガイド
スリットを周設して枠状のガイドカバーを形成すると共
に、該ガイドカバーを前記噴出管の前面に配設して清浄
空気噴出装置を形成する一方、該清浄空気噴出装置と、
半導体製造装置の高清浄空間内に設置された小型ファン
フィルターユニットを備えた空気供給装置とをフレキシ
ブルチューブで連結したことを特徴とするミニエンバラ
イメント方式の半導体製造装置。 - 【請求項5】請求項1記載のミニエンバライメント方式
の半導体製造装置において、空間部を有する前面側部材
と後面側部材とを接合固定して、該前面側部材と後面側
部材間に送風通路を設けると共に、且つ前面側部材の底
板に、吸気口側に近い所は狭く、且つ該吸気口から遠く
なるに従って徐々に広く形成されたスリットを周設して
枠状の噴出管を設け、更に両側先端方向が徐々に狭くな
る整流板を備え、且つ該整流板の先端に同一巾のガイド
スリットを周設して枠状のガイドカバーを形成すると共
に、該ガイドカバーを前記噴出管の前面に配設して清浄
空気噴出装置を形成する一方、半導体製造装置外のクリ
ーンルームに設置されたコンプレッサーと、前記半導体
製造装置の高清浄空間内に設置されたフィルター装置を
連結チューブで連結すると共に、前記清浄空気噴出装置
とフィルター装置とをフレキシブルチューブで連結した
ことを特徴とするミニエンバライメント方式の半導体製
造装置。 - 【請求項6】請求項2〜5に記載のスリットに代えて、
吸気口に近い所は、間隔を広く取り、且つ該吸気口から
遠くなるに従い徐々に間隔を狭くすると共に、数が多く
なるよう多数の同径の噴出孔を穿設したものを使用する
請求項2〜5のいずれかに記載のミニエンバライメント
方式の半導体製造装置。 - 【請求項7】請求項2〜5に記載のスリットに代えて、
吸気口に近い所は径小の噴出孔を穿設すると共に、該吸
気口から遠くなるに従い徐々に径大な噴出孔を多数穿設
したものを使用する請求項2〜5のいずれかに記載のミ
ニエンバライメント方式の半導体製造装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002135222A JP2003332402A (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 |
PCT/JP2002/010584 WO2003096395A1 (fr) | 2002-05-10 | 2002-10-11 | Appareil de fabrication a semi-conducteurs de systeme de micro-environnement |
KR1020047018069A KR100927293B1 (ko) | 2002-05-10 | 2002-10-11 | 미니인바이런먼트 방식의 반도체 제조장치 |
CNB028289307A CN100347818C (zh) | 2002-05-10 | 2002-10-11 | 微环境方式半导体制造装置 |
US10/513,899 US20050201854A1 (en) | 2002-05-10 | 2002-10-11 | Semiconductor manufacturing apparatus of minienvironment system |
EP02807402A EP1505637A1 (en) | 2002-05-10 | 2002-10-11 | Semiconductor manufacturing apparatus of minienvironment system |
TW091124378A TW563175B (en) | 2002-05-10 | 2002-10-22 | Semiconductor manufacturing apparatus of minienvironment system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002135222A JP2003332402A (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003332402A true JP2003332402A (ja) | 2003-11-21 |
Family
ID=29416740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002135222A Pending JP2003332402A (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20050201854A1 (ja) |
EP (1) | EP1505637A1 (ja) |
JP (1) | JP2003332402A (ja) |
KR (1) | KR100927293B1 (ja) |
CN (1) | CN100347818C (ja) |
TW (1) | TW563175B (ja) |
WO (1) | WO2003096395A1 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005310809A (ja) * | 2004-04-16 | 2005-11-04 | Kondo Kogyo Kk | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 |
JP2009218309A (ja) * | 2008-03-10 | 2009-09-24 | Kondo Kogyo Kk | ミニエンバイラメント方式の半導体製造装置 |
JP2010056296A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Tdk Corp | 密閉容器の蓋開閉システム及び蓋開閉方法 |
JP2015165604A (ja) * | 2015-06-26 | 2015-09-17 | Tdk株式会社 | パージノズル |
JP2020150091A (ja) * | 2019-03-13 | 2020-09-17 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | Efem |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090272461A1 (en) * | 2005-08-03 | 2009-11-05 | Alvarez Jr Daniel | Transfer container |
JP4194051B2 (ja) * | 2006-05-31 | 2008-12-10 | Tdk株式会社 | 防塵機能を備えたロードポート装置及びミニエンバイロンメントシステム |
US8827695B2 (en) * | 2008-06-23 | 2014-09-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Wafer's ambiance control |
CN106033713B (zh) * | 2015-03-10 | 2018-11-16 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种区域隔离装置、区域隔离系统和刻蚀方法 |
US10403514B1 (en) * | 2018-04-12 | 2019-09-03 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate transporting system, storage medium and substrate transporting method |
TWI825940B (zh) * | 2022-08-23 | 2023-12-11 | 靄崴科技股份有限公司 | 晶圓盒之氣簾裝置 |
Family Cites Families (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3715966A (en) * | 1971-04-30 | 1973-02-13 | T Miettinen | Lapping anticondensation ventilation for windows of vehicles |
JPS60187839U (ja) * | 1984-05-24 | 1985-12-12 | 進和テツク株式会社 | クリ−ンベンチ |
JPS62222625A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | Shimizu Constr Co Ltd | 半導体製造装置 |
US4724874A (en) * | 1986-05-01 | 1988-02-16 | Asyst Technologies | Sealable transportable container having a particle filtering system |
US4904153A (en) * | 1986-11-20 | 1990-02-27 | Shimizu Construction Co., Ltd. | Transporting robot for semiconductor wafers |
JPS63248449A (ja) * | 1987-04-03 | 1988-10-14 | Tadahiro Omi | ドラフトチヤンバ |
US4927438A (en) * | 1987-12-01 | 1990-05-22 | Varian Associates, Inc. | Horizontal laminar air flow work station |
EP0319145A3 (en) * | 1987-12-01 | 1991-05-29 | Varian Associates, Inc. | Horizontal laminar air flow work station |
US5145303A (en) * | 1991-02-28 | 1992-09-08 | Mcnc | Method and apparatus for reducing particulate contamination in processing chambers |
DE4207341C1 (ja) * | 1992-03-09 | 1993-07-15 | Acr Automation In Cleanroom Gmbh, 7732 Niedereschach, De | |
EP0582018B1 (en) * | 1992-08-04 | 1995-10-18 | International Business Machines Corporation | Pressurized interface apparatus for transferring a semiconductor wafer between a pressurized sealable transportable container and a processing equipment |
KR970006728B1 (ko) * | 1992-08-31 | 1997-04-29 | 마쯔시다 덴기 산교 가부시끼가이샤 | 환경제어장치 |
JP3275390B2 (ja) * | 1992-10-06 | 2002-04-15 | 神鋼電機株式会社 | 可搬式密閉コンテナ流通式の自動搬送システム |
KR100221983B1 (ko) * | 1993-04-13 | 1999-09-15 | 히가시 데쓰로 | 처리장치 |
US5842917A (en) * | 1996-01-11 | 1998-12-01 | United Microelectronics Corproration | Automated manufacturing plant for semiconductor devices |
US5752796A (en) * | 1996-01-24 | 1998-05-19 | Muka; Richard S. | Vacuum integrated SMIF system |
US5879458A (en) * | 1996-09-13 | 1999-03-09 | Semifab Incorporated | Molecular contamination control system |
US6010399A (en) * | 1996-12-02 | 2000-01-04 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Use of a sensor to control the fan filter unit of a standard mechanical inter face |
JP3737604B2 (ja) * | 1997-06-03 | 2006-01-18 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
US6704998B1 (en) * | 1997-12-24 | 2004-03-16 | Asyst Technologies, Inc. | Port door removal and wafer handling robotic system |
US6319297B1 (en) * | 1998-03-27 | 2001-11-20 | Asyst Technologies, Inc. | Modular SMIF pod breather, adsorbent, and purge cartridges |
US6804285B2 (en) * | 1998-10-29 | 2004-10-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Gas supply path structure for a gas laser |
TW463207B (en) * | 1999-03-17 | 2001-11-11 | Fujitsu Ltd | Double-sealed work conveying and transferring apparatus and container inspecting method |
DE19913886A1 (de) * | 1999-03-26 | 2000-09-28 | Siemens Ag | Anlage zur Fertigung von Halbleiterprodukten |
JP2000357641A (ja) * | 1999-06-14 | 2000-12-26 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | クリーンルーム設備 |
JP2001182978A (ja) * | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | クリーンルーム設備 |
JP3939101B2 (ja) * | 2000-12-04 | 2007-07-04 | 株式会社荏原製作所 | 基板搬送方法および基板搬送容器 |
US6790286B2 (en) * | 2001-01-18 | 2004-09-14 | Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. | Substrate processing apparatus |
US6875282B2 (en) * | 2001-05-17 | 2005-04-05 | Ebara Corporation | Substrate transport container |
JP2004235516A (ja) * | 2003-01-31 | 2004-08-19 | Trecenti Technologies Inc | ウエハ収納治具のパージ方法、ロードポートおよび半導体装置の製造方法 |
-
2002
- 2002-05-10 JP JP2002135222A patent/JP2003332402A/ja active Pending
- 2002-10-11 EP EP02807402A patent/EP1505637A1/en not_active Withdrawn
- 2002-10-11 WO PCT/JP2002/010584 patent/WO2003096395A1/ja active Application Filing
- 2002-10-11 US US10/513,899 patent/US20050201854A1/en not_active Abandoned
- 2002-10-11 KR KR1020047018069A patent/KR100927293B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2002-10-11 CN CNB028289307A patent/CN100347818C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-10-22 TW TW091124378A patent/TW563175B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005310809A (ja) * | 2004-04-16 | 2005-11-04 | Kondo Kogyo Kk | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 |
JP4523792B2 (ja) * | 2004-04-16 | 2010-08-11 | 近藤工業株式会社 | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 |
JP2009218309A (ja) * | 2008-03-10 | 2009-09-24 | Kondo Kogyo Kk | ミニエンバイラメント方式の半導体製造装置 |
JP2010056296A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Tdk Corp | 密閉容器の蓋開閉システム及び蓋開閉方法 |
JP2015165604A (ja) * | 2015-06-26 | 2015-09-17 | Tdk株式会社 | パージノズル |
JP2020150091A (ja) * | 2019-03-13 | 2020-09-17 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | Efem |
JP7299474B2 (ja) | 2019-03-13 | 2023-06-28 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | Efem |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20050020795A (ko) | 2005-03-04 |
CN1625795A (zh) | 2005-06-08 |
WO2003096395A1 (fr) | 2003-11-20 |
TW563175B (en) | 2003-11-21 |
EP1505637A1 (en) | 2005-02-09 |
CN100347818C (zh) | 2007-11-07 |
US20050201854A1 (en) | 2005-09-15 |
KR100927293B1 (ko) | 2009-11-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3759492B2 (ja) | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 | |
TWI851779B (zh) | 盒蓋打開裝置、用於無塵室設備的組件、以及用於打開和淨化晶圓盒的方法 | |
JP2003332402A (ja) | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 | |
KR101090350B1 (ko) | 퓸 제거장치 및 이를 이용한 반도체 제조장치 | |
TWI379374B (en) | Method of processing an object in a container and lid opening/closing system used in the method | |
US9543177B2 (en) | Pod and purge system using the same | |
JP4632612B2 (ja) | 制御された小環境を有するウエハの大気圧搬送モジュール、大気圧搬送モジュールを作成するための方法 | |
JP6198043B2 (ja) | ロードポートユニット及びefemシステム | |
CA2387996A1 (en) | Fume extraction apparatus and assembly | |
JP7269966B2 (ja) | レンジフードおよびその制御方法 | |
WO2016000558A1 (zh) | 吸尘器 | |
JP2006334394A (ja) | 真空掃除機のモータ保護装置 | |
JP5061660B2 (ja) | レーザー加工方法及びこれに用いる集塵装置 | |
CN216115423U (zh) | 用于石墨化的吸卸料天车 | |
JP5049827B2 (ja) | ミニエンバイラメント方式の半導体製造装置 | |
JP4523792B2 (ja) | ミニエンバライメント方式の半導体製造装置 | |
JP3697275B2 (ja) | 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム | |
JP2002034861A (ja) | 電気掃除機 | |
TWI829100B (zh) | 基板處理裝置 | |
JP2004273473A (ja) | 半導体ウェハ収納容器 | |
TWI709441B (zh) | 基板容器及用於該基板容器之清潔塔總成 | |
JP2001346725A (ja) | 電気掃除機 | |
JPH0828919A (ja) | 換気装置付き筐体 | |
TW202302425A (zh) | 基板容器系統 | |
JP2021136386A (ja) | 基板収納容器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050621 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20051018 |