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JP2003330985A - Circuit design aid device, circuit design method and program - Google Patents

Circuit design aid device, circuit design method and program

Info

Publication number
JP2003330985A
JP2003330985A JP2002139549A JP2002139549A JP2003330985A JP 2003330985 A JP2003330985 A JP 2003330985A JP 2002139549 A JP2002139549 A JP 2002139549A JP 2002139549 A JP2002139549 A JP 2002139549A JP 2003330985 A JP2003330985 A JP 2003330985A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
information
circuit
circuit element
design
specific
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002139549A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ryohei Inoue
良平 井上
Mototsugu Ebisawa
元次 海老沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2002139549A priority Critical patent/JP2003330985A/en
Publication of JP2003330985A publication Critical patent/JP2003330985A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a circuit design aid device, a circuit design method and a program which reduce the influence of arrangement or wiring of a macro cell on a result of timing analysis and can accurately determine whether a circuit after arrangement and wiring satisfy a timing condition. <P>SOLUTION: Information on the macro cell is extracted at an extraction part 30 from information on a plurality of cells contained in a supplied net list, and a cell library with information substituted by information on a cell having a function equivalent to this extracted macro cell information and a smaller area is prepared at a substitution part 40. Then, based on the prepared cell library and the net list, arrangement design and wiring design of the cell are made, and based on the circuit information given this arrangement/wiring processing, a transmission delay time in each path in the circuit is analyzed. And it is determined whether the analyzed transmission delay time of each path satisfies a predetermined standard. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、回路設計支援装
置、回路設計方法およびプログラムに係り、例えば、半
導体集積回路の回路設計支援装置および回路設計方法
と、半導体集積回路の回路設計を支援する処理装置のプ
ログラムに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit design support device, a circuit design method and a program, for example, a circuit design support device and a circuit design method for a semiconductor integrated circuit, and a process for supporting the circuit design of the semiconductor integrated circuit. It relates to the program of the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】集積化技術の進歩によって、半導体集積
回路は大規模化と高集積化の一途を辿っており、またク
ロック信号の高速化も一段と進行している。このため、
半導体集積回路の設計はますます困難さの度合いを深め
ている。特にタイミング設計においてその傾向は顕著で
あり、タイミングを決められた条件の範囲内に収束させ
ることが回路設計上の大きな課題となっている。
2. Description of the Related Art Due to advances in integration technology, semiconductor integrated circuits are becoming larger and more highly integrated, and clock signals are becoming faster. For this reason,
The design of semiconductor integrated circuits is becoming increasingly difficult. This tendency is particularly noticeable in timing design, and it is a major problem in circuit design to make the timing converge within the range of the determined conditions.

【0003】タイミング違反の典型的な原因の1つとし
て、回路の大半を占めるAND回路やOR回路などの基
本機能を有したセル(スタンダード・セル)の配線が、
ROMやRAMなどの特殊機能を有した大面積のセル
(マクロ・セル)を迂回したり跨いだりすることによっ
て長くなることが挙げられる。配線が長くなることによ
り伝播遅延時間が大きくなると、この配線を通る信号経
路(パス)がタイミングの最も厳しいパス(クリティカ
ル・パス)となり、タイミング違反の原因となる。
One of the typical causes of timing violation is wiring of cells (standard cells) having basic functions such as AND circuits and OR circuits that occupy most of the circuits.
It may be lengthened by bypassing or straddling a large area cell (macro cell) having a special function such as ROM or RAM. If the propagation delay time becomes long due to the long wiring, the signal path (path) passing through this wiring becomes the path with the strictest timing (critical path), which causes timing violation.

【0004】このような原因によるタイミング違反がレ
イアウト設計段階において発生した場合には、通常、マ
クロ・セルの配置を変更したり、タイミング違反を起こ
しているパス上のセルをドライブ能力の高いセルに変更
したり、あるいはパス上にバッファを挿入したりなどの
試行を繰り返して、タイミングを条件範囲内に収束させ
ることができる。
When a timing violation due to such a cause occurs at the layout designing stage, the arrangement of macro cells is usually changed, or a cell on a path having a timing violation is changed to a cell having a high driving capability. It is possible to converge the timing within the condition range by repeating trials such as changing or inserting a buffer on the path.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】一方、タイミング違反
の原因が論理設計上の問題にあるため、レイアウト設計
におけるこのような試行作業を繰り返してもタイミング
を条件範囲内に収束させることができない場合がある。
このような場合には、再び論理設計に戻って回路設計を
やり直す必要があり、結果として、それまでに行われた
レイアウト設計の作業が無駄になってしまう問題があ
る。
On the other hand, since the cause of the timing violation is a problem in logic design, there are cases where the timing cannot be converged within the condition range even if such trial work in layout design is repeated. is there.
In such a case, it is necessary to return to the logic design again and redo the circuit design, and as a result, there is a problem that the work of the layout design performed up to that point is wasted.

【0006】そのため、レイアウト設計を行う前の段階
において、こうした論理設計上の問題の有無を予め検査
することが必要になる。通常この検査では、CADツー
ルを用いた自動配置配線を行った後、マクロ・セルのレ
イアウトに起因するクリティカル・パスの発生が極力少
なくなるように配線経路を考慮しながらマクロ・セルの
配置位置を微調整した上で、タイミング解析が行われ
る。しかしながら、このマクロ・セルの微調整作業は従
来手作業で行われており、結局この検査後に行われる本
番のレイアウト作業と変わらない手間が必要となるた
め、回路の設計期間を長期化させる大きな原因となって
いる。
Therefore, it is necessary to inspect the existence of such a problem in the logic design in advance at the stage before the layout design. Normally, in this inspection, after performing automatic placement and routing using a CAD tool, the placement position of the macro cell is considered while considering the routing route so that the occurrence of the critical path due to the layout of the macro cell is minimized. After fine adjustment, timing analysis is performed. However, the fine adjustment work of this macro cell is conventionally done manually, and after all, the same work as the actual layout work performed after this inspection is required, which is a major cause of prolonging the circuit design period. Has become.

【0007】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、特定の回路要素の配置や配線が伝
播遅延時間の解析結果にもたらす影響を低減させた上
で、配置配線後の回路が伝播遅延時間に関する所定の基
準を満たすか否かを的確に判定することができる回路設
計支援装置、回路設計方法、およびこのような回路設計
を支援する処理装置のプログラムを提供することにあ
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to reduce the influence of the layout and wiring of specific circuit elements on the analysis result of the propagation delay time, and to reduce the influence after the layout and wiring. (EN) Provided are a circuit design support device capable of accurately determining whether or not a circuit satisfies a predetermined criterion regarding a propagation delay time, a circuit design method, and a program of a processing device supporting such circuit design. .

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の第1の観点に係る回路設計支援装置は、供
給される回路情報に含まれる複数の回路要素の情報の中
から、特定の回路要素の情報を抽出する抽出手段と、上
記抽出手段において抽出された上記特定の回路要素の情
報を、当該特定の回路要素と同等の機能を有するととも
に当該特定の回路要素に比べて面積が小さい回路要素の
情報に置換する置換手段と、上記置換手段において回路
要素の情報が置換された回路情報に基づいて、回路要素
の配置設計および配線設計を行う配置配線手段と、上記
配置配線手段において回路要素の配置設計および配線設
計が行われた回路情報に基づいて、回路中の各信号経路
における伝播遅延時間を解析する解析手段と、上記解析
手段において解析された各信号経路の伝播遅延時間が所
定の基準を満たしているか否か判定する判定手段とを有
する。
In order to achieve the above object, a circuit design support apparatus according to a first aspect of the present invention selects from among a plurality of circuit element information included in supplied circuit information, The extraction means for extracting the information of the specific circuit element and the information of the specific circuit element extracted by the extraction means have the same function as the specific circuit element and have an area larger than that of the specific circuit element. Replacing means for replacing the circuit element information with smaller information, placement and wiring means for performing layout design and wiring design of the circuit element based on the circuit information obtained by replacing the circuit element information by the replacing means, and the placement and wiring means. Analysis means for analyzing the propagation delay time in each signal path in the circuit based on the circuit information on which the layout design and wiring design of the circuit elements are performed, and the analysis means Propagation delay time of each signal path which has a determination means whether it meets a predetermined criterion.

【0009】本発明の第1の観点に係る回路設計支援装
置によれば、上記抽出手段において、供給される回路情
報に含まれる複数の回路要素の情報の中から、特定の回
路要素の情報が抽出される。上記置換手段において、上
記抽出手段において抽出された上記特定の回路要素の情
報が、当該特定の回路要素と同等の機能を有するととも
に当該特定の回路要素に比べて面積が小さい回路要素の
情報に置換される。上記は位置配線手段において、上記
回路要素の情報が置換された回路情報に基づいて、回路
要素の配置設計および配線設計が行われる。上記解析手
段において、上記回路要素の配置設計および配線設計が
行われた回路情報に基づいて、回路中の各信号経路にお
ける伝播遅延時間が解析される。上記判定手段におい
て、上記解析された各信号経路の伝播遅延時間が所定の
基準を満たしているか否か判定される。
According to the circuit design support apparatus of the first aspect of the present invention, in the extraction means, information on a specific circuit element is selected from information on a plurality of circuit elements included in the supplied circuit information. To be extracted. In the replacing means, the information of the specific circuit element extracted by the extracting means is replaced with information of a circuit element having a function equivalent to that of the specific circuit element and having an area smaller than that of the specific circuit element. To be done. In the above position wiring means, the layout design and wiring design of the circuit elements are performed based on the circuit information obtained by replacing the information of the circuit elements. In the analysis means, the propagation delay time in each signal path in the circuit is analyzed based on the circuit information on which the layout design and wiring design of the circuit elements have been performed. The determining means determines whether or not the propagation delay time of each analyzed signal path satisfies a predetermined criterion.

【0010】また、上記置換手段において、上記特定の
回路要素の情報を、当該特定の回路要素に比べて小さい
一定の面積を有した回路要素の情報に置換させても良
い。
Further, in the replacing means, the information of the specific circuit element may be replaced with the information of the circuit element having a constant area smaller than that of the specific circuit element.

【0011】本発明の第2の観点に係る回路設計方法
は、供給される回路情報に含まれる複数の回路要素の情
報の中から、特定の回路要素の情報を抽出し、上記抽出
された特定の回路要素の情報を、当該特定の回路要素と
同等の機能を有するとともに当該特定の回路要素に比べ
て面積が小さい回路要素の情報に置換し、上記回路要素
の情報が置換された回路情報に基づいて、回路要素の配
置設計および配線設計を行い、上記回路要素の配置設計
および配線設計が行われた回路情報に基づいて、回路中
の各信号経路における伝播遅延時間を解析し、上記解析
された各信号経路の伝播遅延時間が所定の基準を満たし
ているか否か判定する。
A circuit designing method according to a second aspect of the present invention extracts information on a specific circuit element from information on a plurality of circuit elements included in supplied circuit information, and extracts the specified information. The information of the circuit element is replaced with the information of the circuit element having the same function as that of the specific circuit element and having a smaller area than the specific circuit element, and the information of the circuit element is replaced with the replaced circuit information. Based on the circuit information on which the layout design and wiring design of the circuit elements are performed, the propagation delay time in each signal path in the circuit is analyzed, and the above-mentioned analysis is performed. It is determined whether or not the propagation delay time of each signal path satisfies a predetermined criterion.

【0012】本発明の第3の観点に係る回路設計方法
は、供給される回路情報を処理する処理装置に、上記回
路情報に含まれる複数の回路要素の情報の中から、特定
の回路要素の情報を抽出するステップと、上記抽出され
た特定の回路要素の情報を、当該特定の回路要素と同等
の機能を有するとともに当該特定の回路要素に比べて面
積が小さい回路要素の情報に置換するステップと、上記
回路要素の情報が置換された回路情報に基づいて、回路
要素の配置設計および配線設計を行うステップと、上記
回路要素の配置設計および配線設計が行われた回路情報
に基づいて、回路中の各信号経路における伝播遅延時間
を解析するステップと、上記解析された各信号経路の伝
播遅延時間が所定の基準を満たしているか否か判定する
ステップとを有した処理を実行させる。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a circuit design method, wherein a processing device for processing supplied circuit information selects a specific circuit element from among information of a plurality of circuit elements included in the circuit information. A step of extracting information and a step of replacing the extracted information of the specific circuit element with information of a circuit element having a function equivalent to that of the specific circuit element and having an area smaller than that of the specific circuit element. And a step of performing a layout design and a wiring design of the circuit element based on the circuit information in which the information of the circuit element is replaced, and a circuit based on the circuit information on which the layout design and the wiring design of the circuit element are performed. And a step of analyzing the propagation delay time in each of the signal paths therein, and a step of determining whether or not the propagation delay time of each of the analyzed signal paths satisfies a predetermined criterion. To perform the management.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の実
施形態に係る回路設計支援装置の構成例を示す概略的な
ブロック図である。図1に示す回路設計支援装置は、ネ
ットリスト記憶部10、セル・ライブラリ記憶部20、
抽出部30、置換部40、配置配線部50、解析部6
0、判定部70および表示部80を有する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic block diagram showing a configuration example of a circuit design support device according to an embodiment of the present invention. The circuit design support device shown in FIG. 1 includes a netlist storage unit 10, a cell library storage unit 20,
Extraction unit 30, replacement unit 40, layout wiring unit 50, analysis unit 6
0, the determination unit 70 and the display unit 80.

【0014】ネットリスト記憶部10は、回路の各構成
要素(以降、単にセルと呼ぶ)およびそれらの接続関係
を示す情報(以降、単にネットリストと呼ぶ)を記憶す
る。このネットリストは、レイアウト設計前のデジタル
回路設計やアナログ回路設計によって得られる回路の設
計情報であり、実装対象の半導体チップ上(または回路
基板上)におけるセルの配置や配線に関する情報は含ま
れていない。セル・ライブラリ記憶部20は、回路中の
構成要素として用いられる様々な種類のセルに関する情
報をライブラリとして記憶する。例えば、セルに入出力
される信号の情報や、セル内の回路構成(トランジスタ
の接続など)に関する情報や、セルの形状・大きさに関
する情報、遅延時間などの特性に関する情報などを記憶
する。
The netlist storage unit 10 stores each component of the circuit (hereinafter simply referred to as a cell) and information indicating a connection relationship between them (hereinafter simply referred to as a netlist). This netlist is circuit design information obtained by digital circuit design or analog circuit design before layout design, and includes information on cell placement and wiring on the semiconductor chip (or circuit board) to be mounted. Absent. The cell library storage unit 20 stores information on various types of cells used as constituent elements in a circuit as a library. For example, information about signals input to and output from the cell, information about the circuit configuration (connection of transistors, etc.) in the cell, information about the shape and size of the cell, information about characteristics such as delay time are stored.

【0015】抽出部30は、ネットリスト記憶部10よ
り供給されるネットリストに含まれた複数のセルの情報
から、セル・ライブラリ記憶部20に記憶された各種セ
ルの情報を参照して、特定のセルの情報を抽出する。例
えば、セルの種類を、AND回路やOR回路などの基本
機能を有したスタンダード・セルと、ROMやRAM、
D/Aコンバータなどの特殊機能を有したマクロ・セル
とに分けた場合において、前者のスタンダード・セルよ
り面積が大きい後者のマクロ・セルの情報を抽出する。
この抽出は、例えば、セル・ライブラリ記憶部20に記
憶されているマクロ・セルの種類名と各セルの種類名と
を比較して、これらが一致するセルを検索することによ
り行われる。
The extraction unit 30 identifies the information of a plurality of cells included in the net list supplied from the net list storage unit 10 by referring to the information of various cells stored in the cell library storage unit 20. Extract the cell information. For example, the types of cells are standard cells having basic functions such as AND circuits and OR circuits, ROM and RAM,
When divided into a macro cell having a special function such as a D / A converter, information of the latter macro cell having an area larger than that of the former standard cell is extracted.
This extraction is performed, for example, by comparing the type name of the macro cell stored in the cell library storage unit 20 with the type name of each cell and searching for a cell that matches them.

【0016】置換部40は、抽出部30において抽出さ
れた特定のセルの情報を、この特定のセルと同等の機能
を有するとともにこの特定のセルに比べて面積が小さい
セルの情報に置換する。例えば、抽出部30において抽
出されたマクロ・セルの情報におけるセルの形状に関す
る情報を書き換えて、マクロ・セルを本来よりも形状の
小さいセルに変更する。このようにセルの形状を変更さ
せた新しいセル・ライブラリを作成して、ネットリスト
と共に配置配線部50へ供給する。
The replacing unit 40 replaces the information on the specific cell extracted by the extracting unit 30 with the information on the cell having the same function as the specific cell and having a smaller area than the specific cell. For example, the information on the shape of the cell in the information on the macro cell extracted by the extraction unit 30 is rewritten to change the macro cell to a cell having a smaller shape than it should be. In this way, a new cell library in which the cell shape is changed is created and supplied to the placement and routing section 50 together with the netlist.

【0017】配置配線部50は、置換部40においてセ
ル情報が置換された新しいセル・ライブラリおよびネッ
トリストに基づいて、実装対象の半導体チップ上におけ
るセルの配置設計および配線設計を行う。この配置設計
および配線設計には、一般的な回路設計用のCADツー
ルに用いられている自動配置配線の設計手法を適用する
ことができる。
The placement and routing unit 50 designs the placement and wiring of cells on the semiconductor chip to be mounted, based on the new cell library and netlist in which the cell information has been replaced by the replacement unit 40. For this layout design and wiring design, the automatic placement and routing design method used in a general CAD tool for circuit design can be applied.

【0018】解析部60は、配置配線部50においてセ
ルの配置設計および配線設計が行われた回路情報に基づ
いて、回路中の各パスにおける伝播遅延時間を解析す
る。この回路情報には、ネットリストに加えて、セルの
配置および配線に関する情報が含まれる。伝播遅延時間
の解析方法としては、例えばSTA(static timing an
alysis)を実行する。STAは、回路中のフリップ・フ
ロップの出力と入力との間に存在する全てのパスの伝播
遅延時間を単純に解析するものであり、実動作のシミュ
レーションに比べて簡易的ではあるが高速な解析を行う
ことができる。
The analysis unit 60 analyzes the propagation delay time in each path in the circuit based on the circuit information in which the layout and wiring of the cells have been designed by the layout and wiring unit 50. This circuit information includes, in addition to the netlist, information about cell placement and wiring. As a method of analyzing the propagation delay time, for example, STA (static timing an
alysis). The STA simply analyzes the propagation delay time of all paths existing between the output and the input of the flip-flop in the circuit, and is simpler but faster than the actual operation simulation. It can be performed.

【0019】判定部70は、解析部60において解析さ
れた各パスの伝播遅延時間が所定の合格基準を満たして
いるか否か判定する。通常、パスの伝播遅延時間はクロ
ック信号の周期によって制限されるとともに、フリップ
・フロップに対するセットアップ時間やホールド時間な
どによっても制限される。判定部70では、こうした制
限に基づいて設定されたそれぞれのパスにおける伝播遅
延時間の合格基準と、解析部60における伝播遅延時間
の解析結果とを比較して、それぞれのパスがタイミング
条件を満たしているか否かを判定する。
The determination unit 70 determines whether or not the propagation delay time of each path analyzed by the analysis unit 60 satisfies a predetermined acceptance criterion. Normally, the propagation delay time of the path is limited by the cycle of the clock signal and also by the setup time and hold time for the flip-flop. The determination unit 70 compares the pass delay time pass criterion set for each path based on these restrictions with the analysis result of the propagation delay time set by the analysis unit 60 so that each path satisfies the timing condition. Determine whether or not.

【0020】表示部80は、判定部70における各パス
の伝播遅延時間の判定結果に関する情報を処理して表示
用のデータを作成し、これを例えばCRTやLCDなど
の画像表示装置において表示させる。表示させる情報と
しては、画像だけでなく例えば音声などを含んでも良
い。また、判定結果に関する情報の他に、伝播遅延時間
の解析結果と合格基準との差をパスごとに示した情報な
どを表示させても良い。
The display unit 80 processes information relating to the determination result of the propagation delay time of each path in the determination unit 70 to create display data, and displays this on an image display device such as a CRT or LCD. The information to be displayed may include not only an image but also a sound, for example. Further, in addition to the information on the determination result, information indicating the difference between the analysis result of the propagation delay time and the acceptance criterion for each path may be displayed.

【0021】次に、上述した構成を有する回路設計支援
装置の動作について説明する。図2は、図1に示す回路
設計支援装置の動作の一例を説明するためのフローチャ
ートである。 ステップST10:ネットリスト記憶部10より供給さ
れるネットリストに含まれた複数のセルの情報から、セ
ル・ライブラリ記憶部20に記憶された各種セルの情報
を参照して、マクロ・セルの情報が抽出される。すなわ
ち、セル・ライブラリ記憶部20に記憶されているマク
ロ・セルの種類名と一致する種類名を有したセルが、供
給されたネットリストから抽出される。
Next, the operation of the circuit design support device having the above-mentioned configuration will be described. FIG. 2 is a flowchart for explaining an example of the operation of the circuit design support device shown in FIG. Step ST10: By referring to the information of the various cells stored in the cell library storage unit 20 from the information of the plurality of cells included in the netlist supplied from the netlist storage unit 10, the information of the macro cell is obtained. To be extracted. That is, a cell having a type name that matches the type name of the macro cell stored in the cell library storage unit 20 is extracted from the supplied netlist.

【0022】ステップST20:ステップST10にお
いて、ネットリストからマクロ・セルが抽出されたか否
かが判定される。供給されたネットリストにマクロ・セ
ルが含まれておらず、ステップST10における抽出が
実行されなかった場合には、ステップST30の処理が
スキップされ、ステップST40へ処理が移行される。
マクロ・セルが抽出された場合にはステップST30へ
処理が移行される。
Step ST20: In step ST10, it is judged whether or not the macro cell is extracted from the net list. If the supplied netlist does not include a macro cell and the extraction in step ST10 is not executed, the process of step ST30 is skipped and the process proceeds to step ST40.
When the macro cell is extracted, the process proceeds to step ST30.

【0023】ステップST30:ステップST20にお
いて抽出されたマクロ・セルの情報が、このマクロ・セ
ルと同等の機能を有するとともにこれより面積が小さい
セルの情報へそれぞれ置換される。これにより、抽出部
30において抽出されたマクロ・セルの情報におけるセ
ルの形状に関する情報が、本来の大きさよりも小さい形
状となるように書き換えられた新しいセル・ライブラリ
が作成される。
Step ST30: The information of the macro cell extracted in step ST20 is replaced with the information of the cell having a function equivalent to that of the macro cell and having a smaller area. As a result, a new cell library is created in which the information about the cell shape in the macro cell information extracted by the extraction unit 30 is rewritten so that the information has a shape smaller than the original size.

【0024】ステップST40:供給されたネットリス
トおよびセル・ライブラリに基づいて、実装対象の半導
体チップ上におけるセルの配置設計および配線設計が行
われる。ただし、この配置配線処理において参照される
セル・ライブラリは、マクロ・セルの抽出と置換が行わ
れた場合には、ステップST30において新しく作成さ
れたセル・ライブラリであり、ネットリストにマクロ・
セルが含まれていない場合には、セル・ライブラリ記憶
部20に記憶されている元のセル・ライブラリである。
Step ST40: Based on the supplied netlist and cell library, layout design and wiring design of cells on the semiconductor chip to be mounted are performed. However, when the macro cell is extracted and replaced, the cell library referred to in this placement and routing processing is the cell library newly created in step ST30, and the macro library is added to the netlist.
When the cell is not included, the cell library is the original cell library stored in the cell library storage unit 20.

【0025】ステップST50:ステップST40にお
いてセルの配置設計および配線設計が行われた回路情報
に基づいて、回路中の各パスにおける伝播遅延時間の解
析、例えばSTAが実行される。 ステップST60:ステップST50において解析され
た各パスの伝播遅延時間が、所定の合格基準を満たして
いるか否か判定される。 ステップST70:ステップST60における各パスの
伝播遅延時間の判定結果に関する情報から表示用のデー
タが作成され、これに応じた画像などの情報がユーザに
向けて表示される。
Step ST50: Analysis of the propagation delay time in each path in the circuit, for example, STA is executed based on the circuit information for which the cell layout design and wiring design have been performed in step ST40. Step ST60: It is determined whether or not the propagation delay time of each path analyzed in step ST50 satisfies a predetermined acceptance criterion. Step ST70: Data for display is created from the information regarding the result of determination of the propagation delay time of each path in step ST60, and information such as an image corresponding to this is displayed to the user.

【0026】ここで、マクロ・セルの大きさに応じた配
置配線処理後のレイアウトの変化について説明する。図
3は、最適なマクロ・セルの配置が行われた場合のレイ
アウト例を示す図である。図3において、符号LAは半
導体チップ上のレイアウト領域を、符号MCはマクロ・
セルを、符号SAはスタンダード・セルが配置される領
域を示す。
Here, the change in layout after the placement and routing processing according to the size of the macro cell will be described. FIG. 3 is a diagram showing a layout example when optimal macro cell placement is performed. In FIG. 3, reference numeral LA indicates a layout area on the semiconductor chip, and reference numeral MC indicates a macro area.
A cell and a symbol SA indicate an area in which a standard cell is arranged.

【0027】図3の最適なレイアウト例においては、長
方形状をしたレイアウト領域LAの一辺に4つのマクロ
・セルMCが並んで配置され、この辺に向かい合うレイ
アウト領域LAの他方の辺にも4つのマクロ・セルMC
が並んで配置される。スタンダード・セルは、この互い
に向かい合うマクロ・セルによって挟まれた領域SAに
配置される。例えばこのような配置によって、スタンダ
ード・セルの配線がマクロ・セルを避けるために迂回し
たり、マクロ・セル上を跨ったりするために必要以上に
長くなることが起こり難くなり、これによりタイミング
違反が発生するような事態が極力抑えられる。
In the optimum layout example of FIG. 3, four macro cells MC are arranged side by side on one side of the rectangular layout area LA, and four macro cells MC are also arranged on the other side of the layout area LA facing this side.・ Cell MC
Are arranged side by side. The standard cells are arranged in the area SA sandwiched by the macro cells facing each other. For example, such an arrangement makes it difficult for the standard cell wiring to bypass the macro cell in order to avoid it or to extend over the macro cell. Situations that occur will be suppressed as much as possible.

【0028】図4は、図3におけるマクロ・セルの大き
さを変更させないまま配置配線処理を行った場合のレイ
アウト例を示す図である。図4と図3の同一符号は同一
の構成要素を示す。図4のレイアウト例においては、図
3のレイアウト例とは逆に、レイアウト領域LAの向か
い合う2辺にそれぞれ長方形状をしたスタンダード・セ
ル領域SAが形成され、この2つのスタンダード・セル
領域SAに挟まれて、8つのマクロ・セルMCが配置さ
れる。このような配置のために、向かい合う2つのスタ
ンダード・セル領域SAの間を渡る配線SIGがマクロ
・セルを迂回または跨って配線されている。このためこ
れらの配線SIGの配線長は、図3の最適なレイアウト
例に比べて長くなっており、タイミング違反を発生させ
る要因となる。
FIG. 4 is a diagram showing a layout example when the placement and routing processing is performed without changing the size of the macro cell in FIG. The same symbols in FIG. 4 and FIG. 3 indicate the same components. In the layout example of FIG. 4, contrary to the layout example of FIG. 3, a rectangular standard cell area SA is formed on each of two opposite sides of the layout area LA, and the standard cell area SA is sandwiched between the two standard cell areas SA. Then, eight macro cells MC are arranged. Due to such an arrangement, the wiring SIG that crosses between two facing standard cell areas SA is wired so as to bypass or straddle the macro cell. Therefore, the wiring length of these wirings SIG is longer than that in the optimum layout example of FIG. 3, and becomes a factor that causes timing violation.

【0029】これに対し、図5は、図1に示す回路設計
支援装置によって配置配線処理が行われた後のレイアウ
ト例を示す図である。図5と図3の同一符号は同一の構
成要素を示す。図5のレイアウト例においては、図3お
よび図4における大面積のマクロ・セルMCが小面積の
マクロ・セルMC’に置換されており、スタンダード・
セル領域SAの中にマクロ・セルMC’が配置されてい
る。すなわち、スタンダード・セルとマクロ・セルとが
区別無く配置されている。したがって、マクロ・セルM
C’を迂回したり跨ったりする配線は存在するものの、
それらの配線長は図4のようにマクロ・セルが大面積の
場合と比べて短いため、これによる伝播遅延時間の増大
が抑えられる。このように、マクロ・セルのレイアウト
の影響による伝播遅延時間の増大が抑えられるため、こ
れが原因となってタイミング違反が発生する確率を少な
くすることができる。もし、こうしてマクロ・セルのレ
イアウトの影響を除いたにも関わらずタイミング違反が
発生するようであれば、このタイミング違反は論理設計
上の問題に起因するものであることが疑われる。
On the other hand, FIG. 5 is a diagram showing a layout example after the placement and wiring process is performed by the circuit design support device shown in FIG. The same reference numerals in FIG. 5 and FIG. 3 indicate the same components. In the layout example of FIG. 5, the macro cell MC having a large area in FIGS. 3 and 4 is replaced with a macro cell MC ′ having a small area.
The macro cell MC 'is arranged in the cell area SA. That is, standard cells and macro cells are arranged without distinction. Therefore, the macro cell M
Although there are wirings that bypass or cross C ',
Since the wiring lengths thereof are shorter than those in the case where the macro cell has a large area as shown in FIG. 4, an increase in propagation delay time due to this is suppressed. As described above, since the increase of the propagation delay time due to the influence of the layout of the macro cell is suppressed, the probability that the timing violation occurs due to this can be reduced. If a timing violation occurs even though the influence of the layout of the macro cell is removed in this way, it is suspected that the timing violation is caused by a logic design problem.

【0030】以上説明したように、図1に示す回路設計
支援装置によれば、供給されるネットリストに含まれる
複数のセルの情報の中から特定のセルの情報が抽出さ
れ、この抽出された特定のセルの情報を、これと同等の
機能を有するとともに面積が小さいセルの情報に置換し
たセル・ライブラリが作成される。次いで、作成された
セル・ライブラリとネットリストに基づいて、セルの配
置設計および配線設計が行なわれ、この配置配線処理が
なされた回路情報に基づいて、回路中の各パスにおける
伝播遅延時間が解析される。そして、解析された各パス
の伝播遅延時間が所定の基準を満たしているかが判定さ
れる。したがって、面積の大きいマクロ・セルのレイア
ウトの影響によってタイミング違反が発生してしまう確
率を抑えながら、設計した回路のタイミング解析をおこ
なうことができる。これにより、論理設計上の問題に起
因するタイミング違反を的確に検出することができ、無
駄なレイアウト設計を行うことによって設計期間を長期
化させてしまう事態を防止することができる。
As described above, according to the circuit design support apparatus shown in FIG. 1, the information of a specific cell is extracted from the information of a plurality of cells included in the supplied netlist, and this extracted information is extracted. A cell library is created in which the information of a specific cell is replaced with the information of a cell having a function equivalent to this and having a small area. Then, the cell layout design and wiring design are performed based on the created cell library and netlist, and the propagation delay time in each path in the circuit is analyzed based on the circuit information on the placement and routing processing. To be done. Then, it is determined whether the analyzed propagation delay time of each path satisfies a predetermined criterion. Therefore, the timing analysis of the designed circuit can be performed while suppressing the probability that the timing violation will occur due to the influence of the layout of the macro cell having a large area. As a result, it is possible to accurately detect a timing violation due to a problem in logic design, and prevent a situation in which a design period is prolonged due to wasteful layout design.

【0031】また、従来のように、配置配線処理後のマ
クロ・セルの配置を手作業で微調整しながら、タイミン
グ解析に対するマクロ・セルのレイアウトの影響を除去
する従来の方法に比べて、設計者の作業負担を軽減する
ことができる。更に、マクロ・セルの配置を動かすだけ
では解消されない配線の回り込みによる配線長の増加も
起きないので、マクロ・セルのレイアウトがタイミング
解析に及ぼす影響がさらに低減され、論理設計上の問題
をより的確に検出することができる。
Further, as compared with the conventional method in which the influence of the layout of the macro cell on the timing analysis is removed while manually adjusting the placement of the macro cell after the placement and routing processing as in the conventional method, It is possible to reduce the work burden on the person. Furthermore, since the wiring length does not increase due to the wraparound of the wiring, which cannot be solved simply by moving the macro cell layout, the influence of the macro cell layout on the timing analysis can be further reduced, and the logic design problem can be solved more accurately. Can be detected.

【0032】なお、本発明は上述した実施形態に限定さ
れない。例えば、置換部40による変更後のマクロ・セ
ルの形状を、マクロ・セルの種類によらず一定の形状に
揃えても良い。すなわち、置換後におけるマクロ・セル
の形状を全て同一形状にしても良いし、あるいは互いに
相似した形状にしても良い。これにより、配置配線処理
の計算量が削減されるので、その処理時間を短縮するこ
とができる。また、置換部40による変更後のマクロ・
セルの形状をスタンダード・セルと同一形状にすれば、
さらに配置配線処理の時間を短縮させることができる。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, the shape of the macro cell after being changed by the replacement unit 40 may be made uniform to a constant shape regardless of the type of macro cell. That is, the macro cells after replacement may all have the same shape or may have similar shapes. As a result, the amount of calculation of the placement and routing process is reduced, and the processing time can be shortened. Also, the macro after the change by the replacement unit 40
If the shape of the cell is the same as the standard cell,
Further, it is possible to shorten the time for the placement and wiring process.

【0033】例えば、図2のフローチャートに示した処
理の一部または全部が含まれたプログラムをハードディ
スクなどの記憶装置に記憶させておき、これを、コンピ
ュータなどの処理装置に読み込ませて実行させること
で、図1に示す一部または全部の構成を、このような処
理装置に置き換えることもできる。このプログラムは、
ハードディスクのように固定的に設置された記憶装置に
保持させることができる他、CD−ROMやDVDなど
のリムーバブルな記録媒体から読み込ませて処理装置に
実行させても良いし、あるいは、ネットワークを介して
随時読み込ませながら処理装置に実行させても良い。
For example, a program including a part or all of the processing shown in the flowchart of FIG. 2 is stored in a storage device such as a hard disk, and the program is read and executed by a processing device such as a computer. Then, a part or all of the configuration shown in FIG. 1 can be replaced with such a processing device. This program
It can be held in a fixed storage device such as a hard disk, or may be read from a removable recording medium such as a CD-ROM or DVD and executed by a processing device, or via a network. It may be read by the processing device at any time and executed by the processing device.

【0034】同様に、ネットリスト記憶部10やセル・
ライブラリ記憶部20は、ハードディスクなどの固定的
な記憶装置によって実現することもできるし、CD−R
OMやDVDなどのリムーバブルな記録媒体とその読み
出し装置によって実現することも可能である。
Similarly, the netlist storage unit 10 and cells
The library storage unit 20 can be realized by a fixed storage device such as a hard disk, or a CD-R.
It can also be realized by a removable recording medium such as OM or DVD and its reading device.

【0035】表示部80に変えて、例えばファイル形式
のデータ作成して記憶装置などに出力するユニットを備
えても良い。
Instead of the display unit 80, a unit for creating data in a file format and outputting it to a storage device or the like may be provided.

【0036】[0036]

【発明の効果】本発明によれば、特定の回路要素の配置
や配線が伝播遅延時間の解析結果にもたらす影響を低減
させた上で、配置配線後の回路が伝播遅延時間に関する
所定の基準を満たすか否かを的確に判定することができ
る。
According to the present invention, the influence of the placement and wiring of a specific circuit element on the analysis result of the propagation delay time is reduced, and the circuit after the placement and routing meets a predetermined criterion for the propagation delay time. It is possible to accurately determine whether or not the condition is satisfied.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施形態に係る回路設計支援装置の構
成例を示す概略的なブロック図である。
FIG. 1 is a schematic block diagram showing a configuration example of a circuit design support device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す回路設計支援装置の動作の一例を説
明するためのフローチャートである。
2 is a flowchart for explaining an example of the operation of the circuit design support device shown in FIG.

【図3】最適なマクロ・セルの配置が行われた場合のレ
イアウト例を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a layout example when optimum macro cell placement is performed.

【図4】図3におけるマクロ・セルの大きさを変更させ
ないまま配置配線処理を行った場合のレイアウト例を示
す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a layout example when a placement and routing process is performed without changing the size of the macro cell in FIG.

【図5】図5は、図1に示す回路設計支援装置によって
配置配線処理が行われた後のレイアウト例を示す図であ
る。
5 is a diagram showing a layout example after the placement and wiring process is performed by the circuit design support device shown in FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…ネットリスト記憶部、20…セル・ライブラリ記
憶部、30…抽出部、40…置換部、50…配置配線
部、60…解析部、70…判定部、80…表示部。
10 ... Net list storage unit, 20 ... Cell library storage unit, 30 ... Extraction unit, 40 ... Substitution unit, 50 ... Placement / wiring unit, 60 ... Analysis unit, 70 ... Judgment unit, 80 ... Display unit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 海老沢 元次 神奈川県横浜市保土ヶ谷区神戸町134番地 ソニー・エルエスアイ・デザイン株式会 社内 Fターム(参考) 5B046 AA08 BA05 BA06 JA01 KA06 5F064 AA04 DD02 DD07 EE02 EE08 EE47 HH06 HH10 HH12 HH14   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Genji Ebisawa             134, Kobe-cho, Hodogaya-ku, Yokohama-shi, Kanagawa               Sony LSI Design Stock Association             In-house F-term (reference) 5B046 AA08 BA05 BA06 JA01 KA06                 5F064 AA04 DD02 DD07 EE02 EE08                       EE47 HH06 HH10 HH12 HH14

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 供給される回路情報に含まれる複数の回
路要素の情報の中から、特定の回路要素の情報を抽出す
る抽出手段と、 上記抽出手段において抽出された上記特定の回路要素の
情報を、当該特定の回路要素と同等の機能を有するとと
もに当該特定の回路要素に比べて面積が小さい回路要素
の情報に置換する置換手段と、 上記置換手段において回路要素の情報が置換された回路
情報に基づいて、回路要素の配置設計および配線設計を
行う配置配線手段と、 上記配置配線手段において回路要素の配置設計および配
線設計が行われた回路情報に基づいて、回路中の各信号
経路における伝播遅延時間を解析する解析手段と、 上記解析手段において解析された各信号経路の伝播遅延
時間が所定の基準を満たしているか否か判定する判定手
段とを有する回路設計支援装置。
1. Extracting means for extracting information of a specific circuit element from information of a plurality of circuit elements included in supplied circuit information, and information of the specific circuit element extracted by the extracting means. Replacing the information of a circuit element having a function equivalent to that of the specific circuit element and having an area smaller than that of the specific circuit element, and circuit information in which the information of the circuit element is replaced by the replacing means. Based on the circuit element layout design and wiring design based on the above, and circuit information on the circuit element layout design and wiring design performed by the layout and routing means, propagation in each signal path in the circuit An analysis unit that analyzes the delay time and a determination unit that determines whether or not the propagation delay time of each signal path analyzed by the analysis unit satisfies a predetermined criterion. Circuit design support apparatus to be.
【請求項2】 上記置換手段は、上記特定の回路要素の
情報を、当該特定の回路要素に比べて小さい一定の面積
を有した回路要素の情報に置換する、請求項1に記載の
回路設計支援装置。
2. The circuit design according to claim 1, wherein the replacing means replaces the information on the specific circuit element with information on a circuit element having a small constant area as compared with the specific circuit element. Support device.
【請求項3】 供給される回路情報に含まれる複数の回
路要素の情報の中から、特定の回路要素の情報を抽出
し、 上記抽出された特定の回路要素の情報を、当該特定の回
路要素と同等の機能を有するとともに当該特定の回路要
素に比べて面積が小さい回路要素の情報に置換し、 上記回路要素の情報が置換された回路情報に基づいて、
回路要素の配置設計および配線設計を行い、 上記回路要素の配置設計および配線設計が行われた回路
情報に基づいて、回路中の各信号経路における伝播遅延
時間を解析し、 上記解析された各信号経路の伝播遅延時間が所定の基準
を満たしているか否か判定する回路設計方法。
3. Information of a specific circuit element is extracted from information of a plurality of circuit elements included in the supplied circuit information, and the extracted information of the specific circuit element is used as the specific circuit element. Substituting information of a circuit element having a function equivalent to and having a smaller area than the specific circuit element, based on the circuit information in which the information of the circuit element is replaced,
The layout design and wiring design of the circuit elements are performed, and the propagation delay time in each signal path in the circuit is analyzed based on the circuit information on which the layout design and the wiring design of the circuit elements are performed. A circuit design method for determining whether or not a propagation delay time of a path satisfies a predetermined criterion.
【請求項4】 上記回路要素の置換において、上記特定
の回路要素の情報を、当該特定の回路要素に比べて小さ
い一定の面積を有した回路要素の情報に置換する、 請求項3に記載の回路設計方法。
4. The replacement of the circuit element according to claim 3, wherein the information of the specific circuit element is replaced with the information of the circuit element having a constant area smaller than that of the specific circuit element. Circuit design method.
【請求項5】 供給される回路情報を処理する処理装置
に、 上記回路情報に含まれる複数の回路要素の情報の中か
ら、特定の回路要素の情報を抽出するステップと、 上記抽出された特定の回路要素の情報を、当該特定の回
路要素と同等の機能を有するとともに当該特定の回路要
素に比べて面積が小さい回路要素の情報に置換するステ
ップと、 上記回路要素の情報が置換された回路情報に基づいて、
回路要素の配置設計および配線設計を行うステップと、 上記回路要素の配置設計および配線設計が行われた回路
情報に基づいて、回路中の各信号経路における伝播遅延
時間を解析するステップと、 上記解析された各信号経路の伝播遅延時間が所定の基準
を満たしているか否か判定するステップとを有した処理
を実行させるプログラム。
5. A processing device for processing supplied circuit information, extracting information of a specific circuit element from information of a plurality of circuit elements included in the circuit information, and the extracted specific information. Replacing the information of the circuit element with information of a circuit element having a function equivalent to that of the specific circuit element and having an area smaller than that of the specific circuit element, and a circuit in which the information of the circuit element is replaced. Based on the information
A step of performing a layout design and a wiring design of the circuit element; a step of analyzing a propagation delay time in each signal path in the circuit based on the circuit information on which the layout design and the wiring design of the circuit element are performed; And a step of determining whether the propagation delay time of each signal path satisfies a predetermined criterion.
【請求項6】 上記回路要素の置換ステップにおいて、
上記特定の回路要素の情報を、当該特定の回路要素に比
べて小さい一定の面積を有した回路要素の情報に置換す
る、 請求項5に記載のプログラム。
6. The circuit element replacement step,
The program according to claim 5, wherein the information on the specific circuit element is replaced with information on a circuit element having a constant area smaller than that of the specific circuit element.
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KR20160014505A (en) * 2014-07-29 2016-02-11 삼성전자주식회사 Method and program for designing integrated circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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