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JP2003226965A - Sputtering target - Google Patents

Sputtering target

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Publication number
JP2003226965A
JP2003226965A JP2002026406A JP2002026406A JP2003226965A JP 2003226965 A JP2003226965 A JP 2003226965A JP 2002026406 A JP2002026406 A JP 2002026406A JP 2002026406 A JP2002026406 A JP 2002026406A JP 2003226965 A JP2003226965 A JP 2003226965A
Authority
JP
Japan
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magnetic flux
sputtering target
grooves
sputtering
target
Prior art date
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JP2002026406A
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Toshio Ohashi
敏雄 大橋
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Yamaha Corp
Original Assignee
Yamaha Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering target which can attain the prolongation of a service life, and the improvement of uniformity in a sputtering composition and a film thickness distribution. <P>SOLUTION: In a sputtering target 14 made of a magnetic material with the magnetic field applied via a backing plate 12, as to the face to be sputtered, the vicinity of a magnetic flux concentration region 14a where the formation of erosion grooves is forecast is provided with grooves 18, 22, 26 and 30 for magnetic flux leakage. By providing these grooves, the uniform consumption of the target is made possible. It is possible that the grooves for magnetic flux leakage are plurally provided, or their depths are made different. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、マグネトロン放
電型スパッタ装置に用いるに好適な磁性材製のスパッタ
リングターゲットに関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a sputtering target made of a magnetic material suitable for use in a magnetron discharge type sputtering apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種のスパッタリングターゲッ
トとしては、図7,8に示すものが知られている(例え
ば、特開平6−264218号公報参照)。
2. Description of the Related Art Conventionally, as this kind of sputtering target, those shown in FIGS. 7 and 8 have been known (for example, see Japanese Patent Laid-Open No. 6-264218).

【0003】支持部材1の上には、磁界発生装置2を介
してバッキングプレート3が設けられており、バッキン
グプレート3の表面には、磁性材製のスパッタリングタ
ーゲット4が装着されている。磁界発生装置2は、バッ
キングプレート3側がS極になるようにバッキングプレ
ート3の中央部に配置された永久磁石2aと、この永久
磁石2aを四角枠状に取囲み且つバッキングプレート3
側がN極になるように配置された永久磁石2bとを備え
ている。スパッタリングターゲット4において、スパッ
タ面には、漏れ磁束を多くするために、深さ3mm程度
の溝4Aが磁石2a,2b間の空間に対応して四角枠状
に形成されている。
A backing plate 3 is provided on the support member 1 via a magnetic field generator 2, and a sputtering target 4 made of a magnetic material is mounted on the surface of the backing plate 3. The magnetic field generator 2 includes a permanent magnet 2a arranged in the central portion of the backing plate 3 such that the backing plate 3 side becomes the S pole, and a square frame surrounding the permanent magnet 2a and the backing plate 3
The permanent magnet 2b is arranged so that the side thereof becomes the N pole. In the sputtering target 4, a groove 4A having a depth of about 3 mm is formed in a quadrangular frame shape on the sputtering surface so as to increase the leakage flux, corresponding to the space between the magnets 2a and 2b.

【0004】図9,10は、従来の磁性材製のスパッタ
リングターゲットの他の例を示すもので、図7,8と同
様の部分には同様の符号を付して詳細な説明を省略す
る。図9のスパッタリングターゲット5は、図7のスパ
ッタリングターゲット4とは4A相当の溝がない点で異
なるものである。また、図10のスパッタリングターゲ
ット6は、図7のスパッタリングターゲット4とは4A
相当の溝がない点と、形状が円形である点とで異なるも
のである。
FIGS. 9 and 10 show another example of a conventional sputtering target made of a magnetic material. The same parts as those in FIGS. 7 and 8 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. The sputtering target 5 of FIG. 9 differs from the sputtering target 4 of FIG. 7 in that it has no groove equivalent to 4A. Further, the sputtering target 6 of FIG. 10 is 4A different from the sputtering target 4 of FIG.
The difference is that there is no substantial groove and the shape is circular.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】図9,10のスパッタ
リングターゲットによると、スパッタ面において、磁石
2a,2b間の空間に対応する個所に磁束が集中するた
め、エロージョン(磁界による自己スパッタ)が進行し
てエロージョン溝5a,6aが形成される。この結果、
ターゲット寿命が短くなる。また、ターゲットの一部分
が集中的にイオンに打たれるため、スパッタ粒径が不揃
いになり、スパッタ組成や膜厚分布の均一性が低下す
る。
According to the sputtering target of FIGS. 9 and 10, since the magnetic flux is concentrated on the sputtering surface at a location corresponding to the space between the magnets 2a and 2b, erosion (self-sputtering by a magnetic field) progresses. As a result, erosion grooves 5a and 6a are formed. As a result,
Target life is shortened. In addition, since a part of the target is intensively bombarded with ions, the sputtered particle size becomes non-uniform, and the uniformity of the sputter composition and the film thickness distribution deteriorates.

【0006】一方、図7,8のスパッタリングターゲッ
トによると、溝4Aに放電プラズマが集中的に作用する
ため、高速のスパッタリングが可能になるものの、溝4
Aにてエロージョンが進行するのを避けることができな
い。このため、ターゲット寿命が短くなると共にスパッ
タ粒径が不揃いになるという問題点を免れない。
On the other hand, according to the sputtering targets of FIGS. 7 and 8, since discharge plasma concentrates on the groove 4A, high-speed sputtering is possible, but the groove 4
Inevitably erosion progresses at A. For this reason, the target life is shortened, and the sputtered particles are not uniform in size.

【0007】この発明の目的は、ターゲット寿命の延長
とスパッタ組成及び膜厚分布の均一性向上とを達成でき
る新規なスパッタリングターゲットを提供することにあ
る。
An object of the present invention is to provide a novel sputtering target which can extend the life of the target and improve the uniformity of sputtering composition and film thickness distribution.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明に係るスパッタ
リングターゲットは、バッキングプレートを介して磁界
が印加される磁性材製のスパッタリングターゲットであ
って、スパッタ面においてエロージョン溝の形成が予想
される磁束集中領域の近傍に磁束漏洩用の溝を設けたこ
とを特徴とするものである。
A sputtering target according to the present invention is a sputtering target made of a magnetic material to which a magnetic field is applied via a backing plate, and a magnetic flux concentration in which an erosion groove is expected to be formed on the sputtering surface. It is characterized in that a groove for magnetic flux leakage is provided in the vicinity of the region.

【0009】この発明のスパッタリングターゲットによ
れば、スパッタ面においてエロージョン溝の形成が予想
される磁束集中領域の近傍に磁束漏洩用の溝を設けたの
で、放電プラズマは、磁束集中領域のみならず磁束漏洩
用の溝及びその近傍にも作用するようになり、スパッタ
面積が拡大される。このため、ターゲットの均一消費が
可能となり、ターゲット寿命が延長される。また、スパ
ッタ粒径が揃うようになり、スパッタ組成の均一性及び
スパッタ膜厚分布の均一性が向上する。
According to the sputtering target of the present invention, since the groove for magnetic flux leakage is provided in the vicinity of the magnetic flux concentration region where the formation of the erosion groove is expected on the sputtering surface, the discharge plasma can generate not only the magnetic flux concentration region but also the magnetic flux concentration region. It also acts on the leakage groove and its vicinity, and the sputtering area is expanded. Therefore, the target can be consumed uniformly and the target life is extended. Also, the sputtered particle diameters are made uniform, and the uniformity of the sputter composition and the uniformity of the sputtered film thickness distribution are improved.

【0010】この発明のスパッタリングターゲットにお
いては、磁束集中領域を両側から挟むように磁束漏洩用
の溝を複数設けたり、磁束集中領域の一方側及び他方側
にそれぞれ磁束漏洩用の溝を複数並設したりしてもよ
く、磁束漏洩用の溝を複数並設したときは磁束集中領域
に近い溝より磁束集中領域から遠い溝を深く形成しても
よい。このようにすると、スパッタ面積が一層拡大さ
れ、ターゲット消費の均一性が一層向上する。
In the sputtering target of the present invention, a plurality of grooves for magnetic flux leakage are provided so as to sandwich the magnetic flux concentration area from both sides, or a plurality of grooves for magnetic flux leakage are arranged in parallel on one side and the other side of the magnetic flux concentration area. When a plurality of grooves for magnetic flux leakage are arranged in parallel, the groove farther from the magnetic flux concentration area may be formed deeper than the groove near the magnetic flux concentration area. By doing so, the sputtering area is further expanded, and the uniformity of target consumption is further improved.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】図1,2は、この発明の一実施形
態に係るスパッタリングターゲットを示すもので、図1
は、図2のA−A’線に沿う断面を示す。
1 and 2 show a sputtering target according to an embodiment of the present invention.
Shows a cross section taken along the line AA 'in FIG.

【0012】Cu等の導電材からなるバッキングプレー
ト12の一方の主面には、磁界発生装置10が設けられ
と共に、バッキングプレート12の他方の主面には、F
e等の磁性材からなるスパッタリングターゲット14が
設けられている。磁界発生装置10は、バッキングプレ
ート12側がN極になるようにバッキングプレート12
の中央部に配置された永久磁石10aと、この永久磁石
10aを四角枠状に取囲み且つバッキングプレート12
側がS極になるように配置された永久磁石10bとを備
えている。スパッタリングターゲット14には、破線M
で磁束分布を示すように磁界発生装置10からバッキン
グプレート12を介して磁界が印加される。
The magnetic field generator 10 is provided on one main surface of the backing plate 12 made of a conductive material such as Cu, and F is provided on the other main surface of the backing plate 12.
A sputtering target 14 made of a magnetic material such as e is provided. The magnetic field generator 10 includes a backing plate 12 so that the backing plate 12 side becomes the N pole.
And a backing plate 12 that surrounds the permanent magnet 10a in the shape of a square frame and that is arranged in the central portion of the
The permanent magnet 10b is arranged so that the side thereof becomes the S pole. For the sputtering target 14, a broken line M
A magnetic field is applied from the magnetic field generator 10 through the backing plate 12 so as to show the magnetic flux distribution.

【0013】スパッタリングターゲット14のスパッタ
面において、エロージョン溝の形成が予想される磁束集
中領域14aの内側には、磁石10aの4つの外側壁に
それぞれ対応して磁束漏洩用の溝16,18,20,2
2が形成されると共に、磁束集中領域14aの外側に
は、磁石10bの4つの内側壁にそれぞれ対応して磁束
漏洩用の溝24,26,28,30が形成されている。
溝16〜30について、深さDは、0.2〜0.6mm
程度とすることができる。溝16〜30の形成は、切削
加工等により行うことができる。
On the sputtering surface of the sputtering target 14, inside the magnetic flux concentration region 14a where erosion grooves are expected to be formed, the magnetic flux leakage grooves 16, 18 and 20 corresponding to the four outer walls of the magnet 10a, respectively. , 2
2, and grooves 24, 26, 28, 30 for magnetic flux leakage are formed outside the magnetic flux concentration region 14a corresponding to the four inner side walls of the magnet 10b.
For the grooves 16 to 30, the depth D is 0.2 to 0.6 mm.
It can be a degree. The grooves 16 to 30 can be formed by cutting or the like.

【0014】溝16〜30を設けたので、磁束集中領域
14aのみならず磁束漏洩用の溝16〜30及びその近
傍にも導電プラズマが作用するようになり、スパッタ面
積が拡大される。このため、ターゲット14の均一消費
が可能となり、ターゲット寿命が延長される。また、ス
パッタ粒径が揃うようになり、スパッタ組成や膜厚分布
の均一性が向上する。
Since the grooves 16 to 30 are provided, the conductive plasma acts not only on the magnetic flux concentration region 14a but also on the grooves 16 to 30 for magnetic flux leakage and in the vicinity thereof, thereby expanding the sputtering area. Therefore, the target 14 can be consumed uniformly and the target life is extended. Further, the particle diameters of the sputters are made uniform, and the uniformity of the sputter composition and the film thickness distribution is improved.

【0015】図3,4は、この発明の他の実施形態に係
るスパッタリングターゲットを示すもので、図3は、図
4のB−B’線断面を示す。図3,4において、図1,
2と同様の部分には同様の符号を付して詳細な説明を省
略する図3,4のスパッタリングターゲット14は、図
1,2に関して前述したスパッタリングターゲットにお
いて、溝16〜30をいずれも2本にしたものに相当す
る。すなわち、エロージョン溝の形成が予想される磁束
集中領域14aの内側には、4組の磁束漏洩用の溝16
a−16b,18a−18b,20a−20b,22a
−22bが磁石10aの4つの外側壁にそれぞれ対応し
て設けられると共に、磁束集中領域14aの外側には、
4組の磁束漏洩用の溝24a−24b,26a−26
b,28a−28b,30a−30bが磁石10bの4
つの内側壁にそれぞれ対応して設けられている。磁束漏
洩用の各組の2本の溝は、ほぼ平行に延長するように形
成されている。
3 and 4 show a sputtering target according to another embodiment of the present invention, and FIG. 3 shows a cross section taken along the line BB 'of FIG. 3 and 4, in FIG.
The same reference numerals are given to the same parts as those in FIG. 2 and detailed description thereof will be omitted. The sputtering target 14 of FIGS. Equivalent to what you did. That is, four sets of the magnetic flux leakage grooves 16 are provided inside the magnetic flux concentration region 14a where the formation of the erosion groove is expected.
a-16b, 18a-18b, 20a-20b, 22a
-22b is provided corresponding to each of the four outer walls of the magnet 10a, and outside the magnetic flux concentration region 14a,
Four sets of magnetic flux leakage grooves 24a-24b, 26a-26
b, 28a-28b, 30a-30b are 4 of the magnet 10b.
It is provided corresponding to each inner wall. The two grooves of each set for magnetic flux leakage are formed so as to extend substantially in parallel.

【0016】図5は、図3,4のスパッタリングターゲ
ットの変形例を示すもので、図3,4と同様の部分には
同様の符号を付して詳細な説明を省略する。
FIG. 5 shows a modification of the sputtering target shown in FIGS. 3 and 4. The same parts as those in FIGS. 3 and 4 are designated by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted.

【0017】図5のスパッタリングターゲット14は、
図3,4に関して前述したスパッタリングターゲットに
おいて、磁束漏洩用の各組の2本の溝のうち磁束集中領
域14aに近い溝より磁束集中領域14aから遠い溝を
深く形成したものに相当する。すなわち、溝16a〜3
0aより溝16b〜30bが深く形成されている。溝1
6a〜30aについて、深さDは、0.2〜0.6m
mとすることができると共に、溝16b〜30bについ
て、深さDは、0.6〜0.7mmとすることができ
る。
The sputtering target 14 shown in FIG.
This corresponds to the sputtering target described above with reference to FIGS. 3 and 4 in which the groove farther from the magnetic flux concentration area 14a is formed deeper than the groove closer to the magnetic flux concentration area 14a among the two grooves of each group for magnetic flux leakage. That is, the grooves 16a to 3
The grooves 16b to 30b are formed deeper than 0a. Groove 1
For 6a to 30a, the depth D 1 is 0.2 to 0.6 m.
The depth D 2 of the grooves 16b to 30b can be 0.6 to 0.7 mm.

【0018】図6は、図3,4のスパッタリングターゲ
ットの他の変形例を示すもので、図3,4と同様の部分
には同様の符号を付して詳細な説明を省略する。
FIG. 6 shows another modification of the sputtering targets of FIGS. 3 and 4. The same parts as those of FIGS. 3 and 4 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0019】図6のスパッタリングターゲット14は、
図3,4に関して前述したスパッタリングターゲットに
おいて、磁束漏洩用の各組の2本の溝をそれぞれ複数に
分割したものに相当する。すなわち、溝16a,16
b、20a,20b、24a,24b、28a,28b
は、各組毎に2分割されると共に、溝18a,18b、
22a,22b、26a,26b、30a,30bは、
各組毎に3分割されている。
The sputtering target 14 shown in FIG.
This corresponds to the sputtering target described above with reference to FIGS. 3 and 4 in which each pair of two grooves for magnetic flux leakage is divided into a plurality of grooves. That is, the grooves 16a, 16
b, 20a, 20b, 24a, 24b, 28a, 28b
Is divided into two for each set, and the grooves 18a, 18b,
22a, 22b, 26a, 26b, 30a, 30b are
Each group is divided into three.

【0020】図3〜6に関して前述したパッタリングタ
ーゲットによれば、図1,2に関して前述したパッタリ
ングターゲットに比べてスパッタ面積が一層拡大され
る。従って、ターゲット寿命が一層延長されると共に、
スパッタ組成や膜厚分布の均一性が一層向上する。
According to the sputtering target described above with reference to FIGS. 3 to 6, the sputtering area is further expanded as compared with the sputtering target described above with reference to FIGS. Therefore, the target life is further extended and
The uniformity of sputtering composition and film thickness distribution is further improved.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、磁性
材製のスパッタリングターゲットのスパッタ面において
エロージョン溝の形成が予想される磁束集中領域の近傍
に磁束漏洩用の溝を設けてターゲットの均一消費を可能
としたので、ターゲット寿命の延長とスパッタ組成及び
膜厚分布の均一性向上とを達成できる効果が得られる。
As described above, according to the present invention, a groove for magnetic flux leakage is provided in the vicinity of a magnetic flux concentration region where an erosion groove is expected to be formed on the sputtering surface of a sputtering target made of a magnetic material. Since the uniform consumption is possible, it is possible to obtain the effect of extending the target life and improving the uniformity of the sputtering composition and the film thickness distribution.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明の一実施形態に係るスパッタリング
ターゲットを示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing a sputtering target according to an embodiment of the present invention.

【図2】 図1のスパッタリングターゲットのスパッタ
面を示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a sputtering surface of the sputtering target of FIG.

【図3】 この発明の他の実施形態に係るスパッタリン
グターゲットを示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing a sputtering target according to another embodiment of the present invention.

【図4】 図3のスパッタリングターゲットのスパッタ
面を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a sputtering surface of the sputtering target of FIG.

【図5】 図3,4のスパッタリングターゲットの変形
例を示す断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a modified example of the sputtering target shown in FIGS.

【図6】 図3,4のスパッタリングターゲットの他の
変形例を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing another modification of the sputtering target shown in FIGS.

【図7】 従来のスパッタリングターゲットの一例を示
す斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing an example of a conventional sputtering target.

【図8】 図7のX−X’線に沿う断面図である。8 is a cross-sectional view taken along line X-X 'of FIG.

【図9】 従来のスパッタリングターゲットの他の例を
示す一部断面斜視図である。
FIG. 9 is a partial cross-sectional perspective view showing another example of a conventional sputtering target.

【図10】 従来のスパッタリングターゲットの更に他
の例を示す一部断面斜視図である。
FIG. 10 is a partial cross-sectional perspective view showing still another example of the conventional sputtering target.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10:磁界発生装置、12:バッキングプレート、1
4:スパッタリングターゲット、14a:磁束集中領
域、16〜30,16a〜30a,16b〜30b:磁
束漏洩用の溝。
10: magnetic field generator, 12: backing plate, 1
4: sputtering target, 14a: magnetic flux concentration region, 16 to 30, 16a to 30a, 16b to 30b: grooves for magnetic flux leakage.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 バッキングプレートを介して磁界が印加
される磁性材製のスパッタリングターゲットであって、 スパッタ面においてエロージョン溝の形成が予想される
磁束集中領域の近傍に磁束漏洩用の溝を設けたことを特
徴とするスパッタリングターゲット。
1. A sputtering target made of a magnetic material, to which a magnetic field is applied via a backing plate, wherein a groove for magnetic flux leakage is provided in the vicinity of a magnetic flux concentration region where an erosion groove is expected to be formed on the sputtering surface. A sputtering target characterized in that.
【請求項2】 前記磁束集中領域を両側から挟むように
前記溝を複数設けたことを特徴とする請求項1記載のス
パッタリングターゲット。
2. The sputtering target according to claim 1, wherein a plurality of the grooves are provided so as to sandwich the magnetic flux concentration region from both sides.
【請求項3】 前記磁束集中領域の一方側及び他方側に
それぞれ前記溝を複数並設したことを特徴とする請求項
1記載のスパッタリングターゲット。
3. The sputtering target according to claim 1, wherein a plurality of the grooves are arranged in parallel on one side and the other side of the magnetic flux concentration region.
【請求項4】 前記磁束集中領域に近い溝より前記磁束
集中領域から遠い溝を深く形成したことを特徴とする請
求項3記載のスパッタリングターゲット。
4. The sputtering target according to claim 3, wherein a groove farther from the magnetic flux concentration region is formed deeper than a groove closer to the magnetic flux concentration region.
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