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JP2003260408A - Thin film forming method, electronic device forming method - Google Patents

Thin film forming method, electronic device forming method

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Publication number
JP2003260408A
JP2003260408A JP2002295162A JP2002295162A JP2003260408A JP 2003260408 A JP2003260408 A JP 2003260408A JP 2002295162 A JP2002295162 A JP 2002295162A JP 2002295162 A JP2002295162 A JP 2002295162A JP 2003260408 A JP2003260408 A JP 2003260408A
Authority
JP
Japan
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droplet
thin film
droplets
solution
forming
Prior art date
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Granted
Application number
JP2002295162A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4103530B2 (en
Inventor
Katsuyuki Morii
克行 森井
Takashi Masuda
貴史 増田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2002295162A priority Critical patent/JP4103530B2/en
Priority to US10/267,639 priority patent/US6808749B2/en
Publication of JP2003260408A publication Critical patent/JP2003260408A/en
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To form a thin film of a compound with a low molecular weight at a prescribed position on a substrate. <P>SOLUTION: A substrate face is divided into a plurality of regions and after a droplet is formed in one region, the next droplet formation is carried out in another region. Accordingly, droplets are formed on neighboring positions in the respective regions with time intervals and after a droplet 1-1 is dried, formation of a neighboring droplet 1-2 is carried out. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜形成材料が溶
媒に溶解している溶液を吐出することにより、前記溶液
の液滴を基板上に複数個配置し、各液滴から溶媒を蒸発
させることにより前記基板上に薄膜を形成する薄膜形成
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention discharges a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent to arrange a plurality of droplets of the solution on a substrate and evaporate the solvent from each droplet. Thus, the present invention relates to a thin film forming method for forming a thin film on the substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、インクジェット法で形成して
いる薄膜は、高分子化合物からなる薄膜である。このよ
うな高分子化合物からなる薄膜は、高分子化合物を溶媒
に溶解させた溶液をインクジェット法で基板上に配置し
た後、この配置された溶液から溶媒を蒸発させることに
より簡単に形成される。
2. Description of the Related Art Conventionally, a thin film formed by an ink jet method is a thin film made of a polymer compound. A thin film made of such a polymer compound is easily formed by arranging a solution in which a polymer compound is dissolved in a solvent on a substrate by an inkjet method and then evaporating the solvent from the arranged solution.

【0003】なお、この出願の発明に関連する先行技術
文献情報としては次のようなものがある。
The following is prior art document information related to the invention of this application.

【0004】[0004]

【特許文献1】特開平11−40358号公報[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 11-40358

【特許文献2】特開平11−54272号公報[Patent Document 2] Japanese Patent Laid-Open No. 11-54272

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、高分子
化合物に分類されない分子量の小さい化合物(以下、
「低分子化合物」と称する。)を用いて、上述の高分子
化合物の場合と同じ方法で薄膜を形成しようとしても、
低分子化合物からなる薄膜は形成されず、低分子化合物
の粒子が基板上に析出する。これは、親液性に処理され
た基板であっても、低分子化合物と基板とが結合する力
よりも低分子化合物同士の凝集力の方が遥かに大きいこ
とに起因している。
However, a compound having a small molecular weight (hereinafter,
It is referred to as a "low molecular weight compound". ) Is used to form a thin film by the same method as in the case of the above-mentioned polymer compound,
A thin film of a low molecular weight compound is not formed, and particles of a low molecular weight compound are deposited on the substrate. This is because the cohesive force between the low-molecular weight compounds is much larger than the force at which the low-molecular weight compounds are bonded to the substrate, even if the substrate is lyophilic.

【0006】このように、低分子化合物は、凝集力が高
いという点から結晶性の高い材料であると言うことがで
きる。そして、結晶性が高いということは、例えば伝導
性等の機能において大きな利点である。そのため、低分
子化合物の薄膜を形成できる方法が待望されている。ま
た、インクジェット法で溶液を吐出することにより基板
上に液滴を配置した場合、この液滴をなす溶液の溶媒と
同じ成分からなる気体の分圧が、この液滴の周囲で不均
一になっていると、液滴に歪みが生じて、前記分圧の高
い方に液滴が移動し易い。このような液滴の移動は、基
板との結合力が弱い低分子化合物の溶液を吐出した場合
に、特に生じ易い。そして、液滴の移動が生じると、基
板上の所定位置に薄膜を形成することが困難になる。
As described above, the low molecular weight compound can be said to be a material having high crystallinity because of its high cohesive force. The high crystallinity is a great advantage in the function such as conductivity. Therefore, a method capable of forming a thin film of a low molecular weight compound is desired. In addition, when droplets are arranged on the substrate by ejecting the solution by the inkjet method, the partial pressure of the gas composed of the same component as the solvent of the solution forming the droplets becomes uneven around the droplets. If so, the droplets are distorted, and the droplets are likely to move to the higher partial pressure. Such movement of droplets is particularly likely to occur when a solution of a low molecular compound having a weak bonding force with the substrate is discharged. Then, if the movement of the droplet occurs, it becomes difficult to form a thin film at a predetermined position on the substrate.

【0007】例えば、複数個の液滴を、或るラインに沿
って僅かな間隔を開けて形成した場合、ラインの最も端
に形成された液滴の周囲の前記分圧は、隣に液滴が存在
しない側で低く、隣に液滴が存在する側で高いため、不
均一となる。これは、ラインの最も端に形成された液滴
周囲の、隣に液滴が存在する側では、隣の液滴から蒸発
した溶媒蒸気によって前記気体の分圧が高くなるからで
ある。
For example, when a plurality of liquid droplets are formed along a certain line with a slight interval, the partial pressure around the liquid droplet formed at the end of the line is the same as that of the adjacent liquid droplets. Is low on the side where there are no droplets and high on the side where droplets are present next to it, so that it is non-uniform. This is because the solvent vapor evaporated from the adjacent droplet increases the partial pressure of the gas on the side where the droplet is present next to the periphery of the droplet formed at the end of the line.

【0008】一方、多くの電子デバイスでは、機能性薄
膜がパターニングされて使用されるが、仮に真空蒸着法
等によって結晶性有機薄膜が形成されたとしても、特異
な条件が必要であったり、使用材料に制約を受けたりす
る。さらに、有機薄膜はレジスト耐性が低いため、フォ
トリソグラフィ工程とエッチング工程からなる通常のパ
ターニング方法でパターニングすることは困難である。
On the other hand, in many electronic devices, a functional thin film is patterned and used, but even if a crystalline organic thin film is formed by a vacuum deposition method or the like, a unique condition is required or it is used. There are restrictions on materials. Furthermore, since the organic thin film has low resist resistance, it is difficult to perform patterning by a general patterning method including a photolithography process and an etching process.

【0009】これに対して、インクジェット法で結晶性
薄膜が形成できれば、従来の技術では困難であった、パ
ターン状の結晶性有機薄膜の形成が容易に行われるよう
になる。本発明の目的は、薄膜形成材料が溶媒に溶解し
ている溶液の液滴を基板上に複数個配置し、各液滴から
溶媒を蒸発させることにより前記基板上に薄膜を形成す
る薄膜形成方法において、基板上に形成された液滴周囲
の前記気体の分圧を均一にして、前述したような液滴の
移動を防止し、基板上の所定位置に低分子化合物の薄膜
を形成できるようにすることと、インクジェット法でパ
ターン状の結晶性薄膜(特に有機薄膜)を容易に形成で
きるようにすることである。
On the other hand, if the crystalline thin film can be formed by the ink jet method, it becomes easy to form the patterned crystalline organic thin film, which is difficult with the conventional technique. An object of the present invention is to provide a thin film forming method for forming a thin film on a substrate by arranging a plurality of droplets of a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent and evaporating the solvent from each droplet. In order to form a thin film of a low-molecular compound at a predetermined position on the substrate by making the partial pressure of the gas around the droplet formed on the substrate uniform and preventing the movement of the droplet as described above. That is, a patterned crystalline thin film (particularly an organic thin film) can be easily formed by an inkjet method.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶液
を吐出することにより、前記溶液の液滴を基板上に複数
個配置し、各液滴から溶媒を蒸発させることにより前記
基板上に薄膜を形成する方法において、前記溶媒とし
て、前記吐出時における蒸気圧が1.3×10-3Pa
(1×10-5mmHg)以下である低蒸気圧溶媒を使用
することを特徴とする薄膜形成方法を提供する。
In order to solve the above-mentioned problems, according to the present invention, a plurality of droplets of the solution are arranged on a substrate by discharging a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent. In the method of forming a thin film on the substrate by evaporating the solvent from each droplet, the solvent has a vapor pressure of 1.3 × 10 −3 Pa at the time of discharge.
There is provided a thin film forming method characterized by using a low vapor pressure solvent having a (1 × 10 −5 mmHg) or less.

【0011】この方法によれば、前記各液滴から溶媒の
蒸発が生じ難いため、比較的近い位置に隣の液滴が形成
されていても、各液滴が隣の液滴から蒸発した溶媒蒸気
の影響を受け難い。したがって、前述のような、ライン
の最も端に形成された液滴であっても、液滴が移動しな
いようにすることができる。本発明はまた、薄膜形成材
料が溶媒に溶解している溶液を吐出することにより、前
記溶液の液滴を基板上に複数個配置し、各液滴から溶媒
を蒸発させることにより前記基板上に薄膜を形成する方
法において、第1の液滴を形成した後、第2の液滴を、
前記第1の液滴の形成位置から所定距離(第1の液滴か
ら蒸発した溶媒蒸気の影響が無視できる十分な距離)だ
け離れた位置に形成することを特徴とする薄膜形成方法
を提供する。
According to this method, since it is difficult for the solvent to evaporate from each droplet, even if the adjacent droplet is formed at a relatively close position, each solvent is evaporated from the adjacent droplet. Not easily affected by steam. Therefore, it is possible to prevent the liquid droplets from moving even with the liquid droplets formed at the end of the line as described above. The present invention also discharges a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent to arrange a plurality of droplets of the solution on the substrate, and evaporates the solvent from each droplet to deposit on the substrate. In the method for forming a thin film, after forming a first droplet, a second droplet is formed.
There is provided a thin film forming method characterized in that the first droplet is formed at a position separated from the formation position of the first droplet by a predetermined distance (a sufficient distance that the influence of the solvent vapor evaporated from the first droplet can be ignored). .

【0012】この方法によれば、第2の液滴の形成を、
第1の液滴から蒸発した溶媒蒸気の影響を受けない位置
に行うことで、前述のような、ラインの最も端に形成さ
れた液滴であっても、液滴が移動しないようにすること
ができる。また、隣り合う液滴形成間隔が所定距離(第
1の液滴から蒸発した溶媒蒸気の影響が無視できる十分
な距離)より短い場合には、この方法において、或る位
置に第1の液滴を形成した後、次の第2の液滴の形成
を、隣の液滴形成位置ではなく、前記第1の液滴の形成
位置から前記所定距離だけ離れた位置に対して行い、隣
の液滴形成位置には、第1の液滴が乾燥した後に液滴を
形成することによって対応できる。
According to this method, the formation of the second droplet is
To prevent the liquid droplets from moving, even if they are the liquid droplets formed at the end of the line as described above, by performing the operation at a position that is not affected by the solvent vapor evaporated from the first liquid droplets. You can In addition, when the interval between adjacent droplets is shorter than a predetermined distance (a distance sufficient to ignore the influence of the solvent vapor evaporated from the first droplet), the first droplet is placed at a certain position in this method. After forming the second liquid droplet, the next second liquid droplet is formed not at the adjacent liquid droplet forming position but at the position separated by the predetermined distance from the first liquid droplet forming position, and the adjacent liquid droplet is formed. The drop formation location can be accommodated by forming the drop after the first drop has dried.

【0013】本発明はまた、薄膜形成材料が溶媒に溶解
している溶液を吐出することにより、前記溶液の液滴を
基板上に複数個配置し、各液滴から溶媒を蒸発させるこ
とにより前記基板上に薄膜を形成する方法において、第
1の液滴の隣の位置に対する第2の液滴の形成を、前記
第1の液滴の乾燥後に行うことを特徴とする薄膜形成方
法を提供する。
According to the present invention, a solution in which the thin film forming material is dissolved in a solvent is ejected, a plurality of droplets of the solution are arranged on a substrate, and the solvent is evaporated from each droplet. In a method for forming a thin film on a substrate, a method for forming a thin film, characterized in that the second droplet is formed at a position adjacent to the first droplet after the first droplet has been dried. .

【0014】この方法によれば、後から形成した液滴
(第2の液滴)の形成が、隣に形成された液滴(第1の
液滴)の乾燥後に行われるため、各液滴が隣の液滴から
蒸発した溶媒蒸気の影響を受け難くなる。したがって、
前述のような、ラインの最も端に形成された液滴であっ
ても、液滴が移動しないようにすることができる。本発
明の方法で使用可能な薄膜形成材料としては、オリゴフ
ェニレンまたはその誘導体、あるいはオリゴチオフェン
またはその誘導体が挙げられる。オリゴフェニレンは下
記の(1)式で表され、オリゴチオフェンは下記の
(2)式で表され、いずれの場合もnは2以上である。
また、いずれの場合もnが2以上6以下であるものが好
ましい。
According to this method, since the droplets (second droplets) formed later are formed after the droplets (first droplets) formed next to each other are dried, each droplet is formed. Are less affected by the solvent vapor evaporated from the adjacent droplet. Therefore,
As described above, it is possible to prevent the liquid droplets from moving even with the liquid droplets formed at the end of the line. Examples of the thin film forming material that can be used in the method of the present invention include oligophenylene or its derivative, or oligothiophene or its derivative. Oligophenylene is represented by the following formula (1), oligothiophene is represented by the following formula (2), and in each case, n is 2 or more.
In any case, it is preferable that n is 2 or more and 6 or less.

【0015】[0015]

【化1】 [Chemical 1]

【0016】[0016]

【化2】 [Chemical 2]

【0017】オリゴフェニレンの例としては、下記の
(3)式で示されるp−ターフェニルが挙げられる。オ
リゴチオフェンの例としては、下記の(4)式で示され
るターチオフェンが挙げられる。オリゴフェニレンの誘
導体の例としては、下記の(5)式で示される4−アミ
ノ−p−ターフェニルが挙げられる。オリゴチオフェン
の誘導体の例としては、下記の(6)式で示される2,
2':5',2"−ターチオフェン−5,5"−ジカルボキシアルデ
ヒドが挙げられる。
Examples of oligophenylene include p-terphenyl represented by the following formula (3). Examples of oligothiophene include terthiophene represented by the following formula (4). Examples of the oligophenylene derivative include 4-amino-p-terphenyl represented by the following formula (5). An example of the oligothiophene derivative is represented by the following formula (6):
2 ': 5', 2 "-terthiophene-5,5" -dicarboxaldehyde.

【0018】[0018]

【化3】 [Chemical 3]

【0019】[0019]

【化4】 [Chemical 4]

【0020】[0020]

【化5】 [Chemical 5]

【0021】[0021]

【化6】 [Chemical 6]

【0022】本発明の方法で使用可能な薄膜形成材料と
しては、また、下記の(7)式で示されるAlq3(キ
ノリノール−アルミニウム錯体)が挙げられる。
Examples of the thin film forming material usable in the method of the present invention include Alq3 (quinolinol-aluminum complex) represented by the following formula (7).

【0023】[0023]

【化7】 [Chemical 7]

【0024】本発明はまた、本発明の方法で薄膜を形成
する工程を有する電子デバイスの形成方法を提供する。
The present invention also provides a method of forming an electronic device, which comprises the step of forming a thin film by the method of the present invention.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。 <第1実施形態>前記化学式(3)で示される構造のタ
ーチオフェン(2,2':5',2"−ターチオフェン、薄膜形成
材料)を、ドデシルベンゼン(溶媒)に、濃度が0.1
重量%となるように溶解させて溶液を得た。ドデシルベ
ンゼンの20℃(吐出時の温度)での蒸気圧は1.3×
10-3Pa(1×10-5mmHg)である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below. <First Embodiment> Terthiophene (2,2 ': 5', 2 "-terthiophene, a thin film forming material) having a structure represented by the chemical formula (3) is added to dodecylbenzene (solvent) at a concentration of 0. 1
A solution was obtained by dissolving the solution so that the weight% was obtained. Vapor pressure of dodecylbenzene at 20 ℃ (temperature at the time of discharge) is 1.3 ×
It is 10 −3 Pa (1 × 10 −5 mmHg).

【0026】また、シリコン基板の表面に波長172n
mの紫外光を照射することにより、この表面を親液性
(前記溶液によって濡れ易い性質)にした。このシリコ
ン基板の表面に、前記溶液を、セイコーエプソン(株)
製のインクジェット装置「MJ−930C」を用い、1
滴当たり20ピコリットルの吐出量で吐出した。この吐
出は20℃の室内で行った。
Also, the wavelength of 172n is formed on the surface of the silicon substrate.
This surface was rendered lyophilic (property of being easily wetted by the solution) by irradiating it with ultraviolet light of m. The solution is applied to the surface of this silicon substrate by Seiko Epson Corporation.
Using the inkjet device "MJ-930C" manufactured by
The amount of discharge was 20 picoliters per drop. This discharge was performed in a room at 20 ° C.

【0027】このインクジェット装置のヘッドとして
は、ノズルを1個備えたものを使用した。この吐出は、
ヘッドのノズルと基板との距離を1mmとし、1滴当た
り20ピコリットルの吐出量で、前記ヘッドを70μm
ずつ基板の1辺に沿って移動させながら、前記溶液を吐
出することを10回繰り返した。これにより、シリコン
基板上に一直線に沿ってピッチ70μmで10個の液滴
が形成された。次に、この直線に平行であって70μm
離れた直線に沿って、70μmピッチで10個の液滴を
形成した。これを10回繰り返すことによって、シリコ
ン基板上にピッチ70μmで10列×10行の液滴を形
成した。
As the head of this ink jet device, one having one nozzle was used. This discharge is
The distance between the nozzle of the head and the substrate is 1 mm, and the head is 70 μm with a discharge amount of 20 picoliter per droplet.
Discharging the solution was repeated 10 times while moving along one side of the substrate. As a result, 10 droplets were formed on the silicon substrate along a straight line at a pitch of 70 μm. Next, parallel to this straight line and 70 μm
Ten droplets were formed at a pitch of 70 μm along the separated straight line. By repeating this 10 times, droplets of 10 columns × 10 rows were formed on the silicon substrate at a pitch of 70 μm.

【0028】次に、この状態で自然放置することによ
り、液滴から溶媒を乾燥させた。その際、形成された全
ての液滴が移動せずに、各液滴形成位置に留まっている
ことが確認できた。そして、溶媒の蒸発後に、各液滴形
成位置にターチオフェンからなる薄膜が形成された。た
だし、このターチオフェン薄膜は結晶性薄膜ではなく、
アモルファス状の薄膜であった。
Next, the solvent was dried from the droplets by leaving it standing in this state. At that time, it was confirmed that all the formed droplets did not move and remained at each droplet forming position. After evaporation of the solvent, a thin film of terthiophene was formed at each droplet formation position. However, this terthiophene thin film is not a crystalline thin film,
It was an amorphous thin film.

【0029】次に、比較例用の溶液として、ドデシルベ
ンゼンに代えて、20℃(吐出時の温度)での蒸気圧が
26Pa(0.2mmHg)である1,2,3,4−テ
トラメチルベンゼンを溶媒として用い、濃度0.1重量
%のターチオフェン溶液を得た。この溶液を用いた以外
は前記と同じ方法で、前記シリコン基板上にピッチ70
μmで10列×10行の液滴を形成し、この状態で自然
放置することにより、液滴から溶媒を乾燥させた。
Next, as a solution for the comparative example, 1,2,3,4-tetramethyl having a vapor pressure of 26 Pa (0.2 mmHg) at 20 ° C. (temperature at the time of discharge) was used in place of dodecylbenzene. Using benzene as a solvent, a terthiophene solution having a concentration of 0.1% by weight was obtained. Pitch 70 was formed on the silicon substrate in the same manner as above except that this solution was used.
Droplets of 10 columns × 10 rows having a size of μm were formed, and the solvent was dried from the droplets by allowing the droplets to stand in this state.

【0030】その際、形成された10列×10行の液滴
のうち、1列目の全ての行、10列目の全ての行、およ
び2〜9列目の1行目および10行目の液滴が移動して
いることが確認された。つまり、外周に位置する部分の
液滴が移動していた。 <第2実施形態>前記化学式(7)で示される構造のA
lq3(キノリノール−アルミニウム錯体;薄膜形成材
料)を、2,3−ジヒドロベンゾフラン(溶媒)に、濃
度が0.1重量%となるように溶解させて溶液を得た。
2,3−ジヒドロベンゾフランの25℃(吐出時の温
度)での蒸気圧は1.3×102 Pa(1×10-1mm
Hg)である。
At this time, among the formed 10-column × 10-row droplets, all the rows of the first column, all the rows of the tenth column, and the first and tenth rows of the second to ninth columns. It was confirmed that the droplets of No. 2 were moving. That is, the liquid droplets in the portion located on the outer periphery were moving. <Second Embodiment> A of the structure represented by the chemical formula (7)
lq3 (quinolinol-aluminum complex; thin film forming material) was dissolved in 2,3-dihydrobenzofuran (solvent) to a concentration of 0.1% by weight to obtain a solution.
The vapor pressure of 2,3-dihydrobenzofuran at 25 ° C. (temperature at the time of discharge) is 1.3 × 10 2 Pa (1 × 10 −1 mm
Hg).

【0031】また、シリコン基板の表面に波長172n
mの紫外光を照射することにより、この表面を親液性
(前記溶液によって濡れ易い性質)にした。このシリコ
ン基板の表面に、前記溶液を、セイコーエプソン(株)
製のインクジェット装置「MJ−930C」を用い、1
滴当たり20ピコリットルの吐出量で吐出した。この吐
出は25℃の室内で行った。
Further, a wavelength of 172n is formed on the surface of the silicon substrate.
This surface was rendered lyophilic (property of being easily wetted by the solution) by irradiating it with ultraviolet light of m. The solution is applied to the surface of this silicon substrate by Seiko Epson Corporation.
Using the inkjet device "MJ-930C" manufactured by
The amount of discharge was 20 picoliters per drop. This discharge was performed in a room at 25 ° C.

【0032】このインクジェット装置のヘッドとして
は、ノズルを1個備えたものを使用した。第1実施形態
と同様にして、70μm、210μm、280μm、3
50μm、420μm、560μmの各ピッチで10列
×10行の液滴を形成した。ヘッドのノズルと基板との
距離は1mmとした。これにより、サンプルNo. 1では
ピッチ70μmで、サンプルNo. 2ではピッチ210μ
mで、サンプルNo. 3ではピッチ280μmで、サンプ
ルNo. 4ではピッチ350μmで、サンプルNo. 5では
ピッチ420μmで、サンプルNo. 6ではピッチ560
μmで、各シリコン基板上に10列×10行の液滴が形
成された。
As the head of this ink jet device, one having one nozzle was used. Similar to the first embodiment, 70 μm, 210 μm, 280 μm, 3
Droplets of 10 columns × 10 rows were formed at each pitch of 50 μm, 420 μm, and 560 μm. The distance between the nozzle of the head and the substrate was 1 mm. As a result, sample No. 1 has a pitch of 70 μm and sample No. 2 has a pitch of 210 μm.
m, sample No. 3 has a pitch of 280 μm, sample No. 4 has a pitch of 350 μm, sample No. 5 has a pitch of 420 μm, and sample No. 6 has a pitch of 560 μm.
μm, 10 columns × 10 rows of droplets were formed on each silicon substrate.

【0033】次に、各サンプルの基板をこの状態で自然
放置することにより、液滴から溶媒を乾燥させた。その
際、液滴がピッチ350μm以上で形成されたサンプル
No.4〜6では、形成された全ての液滴が移動せずに、
各液滴形成位置に留まっていることが確認できた。そし
て、溶媒の蒸発後に、各液滴形成位置にAlq3からな
る薄膜が形成された。ただし、このAlq3薄膜は結晶
性薄膜ではなく、アモルファス状の薄膜であった。
Next, the substrate of each sample was naturally left in this state to dry the solvent from the droplets. At that time, a sample in which droplets are formed with a pitch of 350 μm or more
In Nos. 4 to 6, all the formed droplets did not move,
It was confirmed that the droplet remained at each droplet formation position. Then, after evaporation of the solvent, a thin film of Alq3 was formed at each droplet formation position. However, this Alq3 thin film was not a crystalline thin film but an amorphous thin film.

【0034】これに対して、液滴がピッチ280μm以
下で形成されたサンプルNo. 1〜3では、形成された1
0列×10行の液滴のうち、1列目の全ての行、10列
目の全ての行、および2〜9列目の1行目および10行
目の液滴が移動していることが確認された。つまり、外
周に位置する部分の液滴が移動していた。以上のことか
ら、この実施形態では、350μm以上間隔を開けて隣
り合う液滴の形成を行うことで、各液滴が隣の液滴から
蒸発した溶媒(2,3−ジヒドロベンゾフラン)蒸気の
影響を受けない状態となって、2,3−ジヒドロベンゾ
フランからなる気体の分圧が各液滴の周囲で均一になっ
たと考えられる。 <第3実施形態>第2実施形態と同じAlq3の2,3
−ジヒドロベンゾフラン溶液からなる液滴を用い、以下
の方法で液滴の形成を行った。この方法を図1を使用し
て説明する。
On the other hand, in sample Nos. 1 to 3 in which the droplets were formed with a pitch of 280 μm or less, the formed droplet was 1
Of the droplets of 0 column × 10 rows, all the rows of the 1st column, all the rows of the 10th column, and the droplets of the 1st and 10th rows of the 2nd to 9th columns have moved. Was confirmed. That is, the liquid droplets in the portion located on the outer periphery were moving. From the above, in this embodiment, by forming adjacent droplets with an interval of 350 μm or more, each droplet is affected by the solvent (2,3-dihydrobenzofuran) vapor evaporated from the adjacent droplet. It is considered that the partial pressure of the gas composed of 2,3-dihydrobenzofuran became uniform around each droplet as a result of not receiving the pressure. <Third Embodiment> Same as the second embodiment, 2 and 3 of Alq3
-Using a droplet composed of a dihydrobenzofuran solution, the droplet was formed by the following method. This method will be described with reference to FIG.

【0035】ノズルを1個有するヘッドを用い、図1の
1−1、2−1、3−1、・・・30−1(図1では1
2−2までが表示されている)の順に移動させながら、
前記溶液を吐出することにより、350μmピッチで3
列×10行の液滴を形成した。次に、1−1の右隣の7
0μm離れた位置に、1−2の液滴を形成し、順次2−
2、3−2、・・・30−2の順に移動させながら、前
記溶液を吐出することにより、350μmピッチで3列
×10行の液滴を形成した。
Using a head having one nozzle, 1-1, 2-1, 3-1, ... 30-1 in FIG. 1 (1 in FIG.
2-2 are displayed),
By discharging the above solution, 3 at a pitch of 350 μm can be obtained.
Droplets were formed in columns x 10 rows. Next, 7 to the right of 1-1
1-2 droplets are formed at a position apart by 0 μm, and sequentially 2-
The solution was discharged while moving in the order of 2, 3-2, ..., 30-2 to form droplets of 3 columns × 10 rows at a 350 μm pitch.

【0036】これを繰り返し、1−6〜30−6の液滴
形成までを行った後、1−1の下隣の70μm離れた位
置に、1−7の液滴を形成し、順次2−7、3−7、・
・・30−7の順に移動させながら、前記溶液を吐出す
ることにより、350μmピッチで3列×10行の液滴
を形成した。以上のことを繰り返して、図1に1点鎖線
で示す境界線で分割された3列×10行の各領域に、そ
れぞれ36個の液滴を、縦横ともに70μmのピッチで
形成した。その結果、基板面全体で、縦横ともに70μ
mピッチで36×30個の液滴が形成された。
This process is repeated until droplets 1-6 to 30-6 are formed, and then droplets 1-7 are formed at a position 70 μm away from the bottom of 1-1, and the droplets are sequentially formed 2- 7, 3-7, ...
The droplets of 3 columns × 10 rows were formed at a pitch of 350 μm by ejecting the solution while moving in the order of 30-7. By repeating the above, 36 droplets were formed in each region of 3 columns × 10 rows divided by the boundary line indicated by the one-dot chain line in FIG. 1 at a pitch of 70 μm in both length and width. As a result, the entire substrate surface is 70μ in both length and width.
36 × 30 droplets were formed at m pitch.

【0037】また、この実施形態では、ヘッドの移動プ
ログラムによって、各液滴が1〜60秒毎に順次形成さ
れるようにした。これにより、既に形成された液滴(第
1の液滴)の70μm離れた隣の位置に液滴(第2の液
滴)を形成する際には、第1の液滴が乾燥した状態とな
っていた。以上のように、この実施形態の方法では、同
時またはほぼ同時に形成される液滴を、隣の液滴から蒸
発した溶媒蒸気の影響を受けないピッチ350μmで形
成するとともに、既に形成された液滴が乾燥した状態と
なってからその隣の位置に液滴を形成している。そのた
め、各液滴に関して、2,3−ジヒドロベンゾフランか
らなる気体の分圧が液滴周囲で均一になって、形成され
た全ての液滴が移動せずに、各液滴形成位置に留まって
いることが確認できた。
Also, in this embodiment, each droplet is sequentially formed every 1 to 60 seconds by the head moving program. As a result, when forming a droplet (second droplet) at a position 70 μm away from an already formed droplet (first droplet), the first droplet is in a dry state. Was becoming. As described above, in the method of this embodiment, the droplets formed simultaneously or almost simultaneously are formed with a pitch of 350 μm that is not affected by the solvent vapor evaporated from the adjacent droplets, and the already formed droplets are formed. After it has become dry, droplets are formed at the position next to it. Therefore, for each droplet, the partial pressure of the gas composed of 2,3-dihydrobenzofuran becomes uniform around the droplet, and all the formed droplets do not move and remain at each droplet formation position. I was able to confirm that

【0038】なお、既に形成された第1の液滴の隣の位
置に対する第2の液滴の形成が、前記第1の液滴の乾燥
後に行われるように、複数個の液滴の形成順序を設定す
る方法としては、例えば、この実施形態のように、基板
面を複数の領域に分割して、或る領域に液滴を形成した
次の液滴の形成は別の領域に対して行うことによって、
各領域内で隣合う位置に対して時間を開けて液滴を形成
する方法が挙げられる。
The order of forming a plurality of droplets is such that the second droplet is formed at a position adjacent to the already formed first droplet after the drying of the first droplet. As a method of setting, for example, as in this embodiment, the substrate surface is divided into a plurality of regions, a droplet is formed in a certain region, and the next droplet is formed in another region. By
There is a method of forming droplets by allowing time to be adjacent to each other in each region.

【0039】別の例としては、先ず、基板の四隅の位置
に形成した後に、中心に形成し、次に四隅の間の位置・
・・といった順序で、既に形成された第1の液滴の隣の
位置に対する第2の液滴の形成が、前記第1の液滴の乾
燥後に行われるようにしながら、生産性を考慮してイン
クジェットヘッドの全移動距離ができるだけ小さくなる
ように、形成順序を設定する方法が挙げられる。
As another example, first, the substrate is formed at the four corners, then at the center, and then at the positions between the four corners.
In consideration of the productivity, the second droplet is formed at a position adjacent to the already formed first droplet after the drying of the first droplet in such an order. There is a method of setting the formation order so that the total movement distance of the inkjet head is as small as possible.

【0040】全ての液滴が隣の液滴の乾燥後に形成され
るようにでき、しかも生産性が良い方法については、液
滴の配置と大きさ、および使用する溶媒の蒸気圧等に基
づいてシミュレーションを行うことによって、最適な方
法を設定することができる。 <第4実施形態>インクジェット法で結晶性薄膜を形成
するためには、配置された液滴をなす溶液を過飽和状態
にするとともに、前記液滴近傍での前記溶媒と同じ成分
からなる気体の分圧を、当該液滴をなす溶液から溶媒が
蒸発し難い第1の分圧(例えば、飽和蒸気圧と同じかほ
ぼ同じ分圧)に制御することにより、前記液滴に結晶核
を生成させ、前記結晶核の生成後に、前記液滴近傍での
前記気体の分圧を、当該結晶核の結晶成長が更なる結晶
核の生成よりも優先的に生じる第2の分圧(例えば、飽
和蒸気圧の1/10〜1/100)となるまで低下させ
る必要がある。以下、このインクジェット法による結晶
性薄膜の形成方法について説明する。
Regarding a method in which all the liquid droplets are formed after the adjacent liquid droplets are dried and the productivity is high, the method based on the arrangement and size of the liquid droplets, the vapor pressure of the solvent to be used, etc. is used. The optimum method can be set by performing a simulation. <Fourth Embodiment> In order to form a crystalline thin film by an ink jet method, a solution forming droplets placed therein is made into a supersaturated state, and a gas containing the same component as the solvent in the vicinity of the droplets is dispersed. By controlling the pressure to a first partial pressure (for example, the same or almost the same partial pressure as the saturated vapor pressure) at which the solvent is difficult to evaporate from the solution forming the droplet, crystal nuclei are generated in the droplet, After the generation of the crystal nuclei, the partial pressure of the gas in the vicinity of the droplet is changed to a second partial pressure (for example, saturated vapor pressure) at which the crystal growth of the crystal nuclei takes precedence over the generation of further crystal nuclei. 1/10 to 1/100). Hereinafter, a method for forming a crystalline thin film by the inkjet method will be described.

【0041】この結晶性薄膜の形成方法によれば、先
ず、基板上に配置された直後の液滴をなす溶液が過飽和
状態となることによって、結晶化に必要な結晶核が前記
溶液内に生成される。次に、前記液滴近傍での前記気体
(溶媒と同じ成分からなる気体)の分圧を、前記第1の
分圧(液滴をなす溶液から溶媒が蒸発し難い高い分圧)
から前記第2の分圧(既に生じた結晶核の結晶成長が、
更なる結晶核の生成よりも優先的に生じる低い分圧)と
なるまで低下させることにより、結晶成長が始まる。
According to this method of forming a crystalline thin film, first, the solution forming the droplet immediately after being placed on the substrate becomes supersaturated, so that crystal nuclei necessary for crystallization are generated in the solution. To be done. Next, the partial pressure of the gas (gas composed of the same component as the solvent) in the vicinity of the droplet is set to the first partial pressure (high partial pressure at which the solvent is difficult to evaporate from the solution forming the droplet).
From the second partial pressure (the crystal growth of already generated crystal nuclei is
Crystal growth is initiated by lowering to a lower partial pressure (which occurs preferentially over the formation of further crystal nuclei).

【0042】したがって、この方法において、例えば、
前記液滴の配置をインクジェット法により所定パターン
で行うことによって、パターン状の結晶性薄膜を基板上
に容易に形成することができる。ここで、液滴配置工程
を例えばインクジェット法で行った場合のように、基板
上に配置された液滴の体積が例えば20ピコリットルと
極少量である場合には、液滴近傍での前記気体(液滴を
なす溶液の溶媒と同じ成分からなる気体)の分圧が低い
と、溶媒が液滴から蒸発し易いため、液滴をなす溶液の
濃度が急上昇して溶液の過飽和度も急激に高くなり、多
数の結晶核が形成されて溶質が粉末化し易い。これに対
して、前記結晶性薄膜の形成方法では、液滴配置直後の
液滴近傍での前記気体の分圧を、前記第1の分圧(液滴
をなす溶液から溶媒が蒸発し難い高い分圧)に制御する
ことにより、液滴をなす溶液が比較的低い過飽和度の過
飽和状態で安定する(すなわち、液滴をなす溶液の過飽
和度の上昇度合いが穏やかになる)ため、少数(理想的
には1個)の核が生成される。
Therefore, in this method, for example,
By arranging the droplets in a predetermined pattern by an inkjet method, a patterned crystalline thin film can be easily formed on the substrate. Here, when the volume of the droplets placed on the substrate is extremely small, for example, 20 picoliters, as in the case where the droplet placement step is performed by, for example, an inkjet method, the gas in the vicinity of the droplets If the partial pressure of (gas consisting of the same component as the solvent of the solution forming the droplet) is low, the solvent easily evaporates from the droplet, so the concentration of the solution forming the droplet rises rapidly and the degree of supersaturation of the solution also sharply increases. As the solute becomes high, many crystal nuclei are formed and the solute is easily pulverized. On the other hand, in the method of forming a crystalline thin film, the partial pressure of the gas in the vicinity of the droplets immediately after the droplets are arranged is higher than the first partial pressure (the solvent is difficult to evaporate from the solution forming the droplets). By controlling the partial pressure), the solution that forms the droplet stabilizes in a supersaturated state with a relatively low degree of supersaturation (that is, the degree of increase in the degree of supersaturation of the solution that forms the droplet becomes moderate). Nuclei are generated).

【0043】また、単結晶の薄膜を形成するためには、
1個の核が生成された後にこの核のみを結晶成長させ、
他の核形成を生じさせないようにする必要があるが、液
滴配置直後の液滴近傍での前記気体の分圧が高いままで
あると、更なる核が生成されることになる。これに対し
て、前記結晶性薄膜の形成方法では、結晶核の生成後に
前記分圧を、既に生じた結晶核の結晶成長が更なる結晶
核の生成よりも優先的に生じる低い分圧(第2の分圧)
となるまで低下させることにより、更なる核生成を防止
しながら結晶成長を促進している。
In order to form a single crystal thin film,
After one nucleus is generated, only this nucleus is crystal-grown,
Other nucleation needs to be prevented, but if the partial pressure of the gas remains high in the vicinity of the droplet immediately after droplet placement, further nucleation will occur. On the other hand, in the method for forming a crystalline thin film, the partial pressure after the generation of the crystal nuclei is set to a low partial pressure (the first partial growth in which the crystal growth of the already-generated crystal nuclei occurs preferentially over the generation of the further crystal nuclei (second 2 partial pressure)
By lowering the value until it becomes, the crystal growth is promoted while preventing further nucleation.

【0044】したがって、前記結晶性薄膜の形成方法に
おいては、前記第1の分圧から第2の分圧への分圧低下
を、前記溶液に少数(理想的には1個)の結晶核が生成
した直後に急激に行うことによって、例えば、飽和蒸気
圧と同じかほぼ同じ分圧である第1の分圧から、1.3
Pa(10-2torr)である第2の分圧まで、1〜10秒
間で低下させることことによって、液滴をなす溶液の過
飽和度を急激に高くして、単結晶の結晶性薄膜を得るこ
とができる。
Therefore, in the method of forming a crystalline thin film, a decrease in the partial pressure from the first partial pressure to the second partial pressure is caused by a small number (ideally one) of crystal nuclei in the solution. By rapidly performing immediately after the generation, for example, from the first partial pressure that is the same or almost the same partial pressure as the saturated vapor pressure, 1.3
By lowering to a second partial pressure of Pa (10 -2 torr) in 1 to 10 seconds, the degree of supersaturation of a solution forming a droplet is rapidly increased to obtain a single crystal crystalline thin film. be able to.

【0045】前記結晶性薄膜の形成方法において、前記
第1の分圧への分圧制御方法としては、前記液滴の吐
出間隔を調整する方法、前記溶液の吐出量を調整する
方法、前記液滴配置工程前に、液滴が配置される位置
の前記気体の分圧を調整する方法が挙げられる。前記結
晶性薄膜の形成方法において、前記分圧低下方法として
は、前記液滴近傍の雰囲気を減圧する方法、前記液
滴近傍の温度を上昇させる方法、前記液滴近傍の雰囲
気を不活性ガス雰囲気に置換する方法が挙げられる。な
お、の方法では前記気体の分圧低下が生じない場合
(一連の工程を密閉空間で行う場合等)もあるが、その
場合でも、温度上昇によって飽和蒸気圧が高くなり、液
滴の溶媒が蒸発し易い状態となるため、前記気体の分圧
低下が生じた場合と同じ作用(液滴をなす溶液の過飽和
度を急激に高くする)が得られる。
In the method of forming a crystalline thin film, as a partial pressure control method for the first partial pressure, a method of adjusting the discharge interval of the droplets, a method of adjusting the discharge amount of the solution, the liquid Before the droplet arrangement step, a method of adjusting the partial pressure of the gas at the position where the droplet is arranged can be mentioned. In the method of forming a crystalline thin film, as the partial pressure reducing method, a method of decompressing an atmosphere in the vicinity of the droplet, a method of increasing a temperature in the vicinity of the droplet, an atmosphere of the vicinity of the droplet in an inert gas atmosphere The method of substituting In the method, there is a case where the partial pressure of the gas does not decrease (such as a case where a series of steps is performed in a closed space), but even in that case, the saturated vapor pressure increases due to the temperature increase, and the solvent of the droplets becomes Since it is in a state of being easily vaporized, the same action as that in the case where the partial pressure of the gas is lowered (the supersaturation degree of the solution forming the droplet is rapidly increased) can be obtained.

【0046】さらに、前記結晶性薄膜の形成方法におい
ては、前記溶液として、(1)吐出時に飽和状態となる
量の薄膜形成材料を含有している溶液、または(2)吐
出時に濃度が飽和濃度の1/10以上飽和濃度未満とな
る量で、薄膜形成材料を含有している溶液、または
(3)吐出時に過飽和状態となる量の薄膜形成材料を含
有している溶液を使用することが好ましい。これによ
り、基板上に配置された液滴をなす溶液が、吐出された
直後に過飽和状態となり易くなるため、結晶核の形成が
確実に行われるようになる。
Further, in the method for forming a crystalline thin film, as the solution, (1) a solution containing an amount of a thin film forming material that is saturated when ejected, or (2) a saturated concentration when ejected. It is preferable to use a solution containing the thin film forming material in an amount of 1/10 or more and less than the saturation concentration, or (3) a solution containing an amount of the thin film forming material in a supersaturated state at the time of ejection. . As a result, the solution forming the droplets arranged on the substrate is likely to be in a supersaturated state immediately after being ejected, so that the formation of crystal nuclei is surely performed.

【0047】前記結晶性薄膜の形成方法で基板上に前記
溶液の液滴を配置する際に、本発明の方法を採用して前
記液滴に移動が生じないようにすることによって、基板
上の所定位置に結晶性薄膜を形成することができる。こ
の第4実施形態は、前記結晶性薄膜の形成方法を行う際
に、本発明の方法を適用した実施形態である。
When the droplets of the solution are arranged on the substrate by the method for forming the crystalline thin film, the method of the present invention is adopted to prevent the droplets from moving, thereby making it possible to prevent the movement of the droplets on the substrate. A crystalline thin film can be formed at a predetermined position. The fourth embodiment is an embodiment to which the method of the present invention is applied when performing the method for forming the crystalline thin film.

【0048】図2に示す薄膜形成装置を使用して、前記
シリコン基板に対する薄膜形成を行った。この装置は、
密閉容器1と、この密閉容器1内に設置されたX−Yス
テージ2と、インクジェット装置のヘッド3と、密閉容
器1内を減圧するためのポンプ6と配管7とで構成され
ている。ヘッド3は密閉容器1の上部に固定されてお
り、このヘッド3内に外部から、前記溶液が供給される
ように構成されている。ヘッド3とX−Yステージ2
は、互いに向かい合う位置に配置されている。ポンプ6
用の配管7は密閉容器1の底部に接続されている。
A thin film forming apparatus shown in FIG. 2 was used to form a thin film on the silicon substrate. This device
It is composed of a closed container 1, an XY stage 2 installed in the closed container 1, a head 3 of an inkjet device, a pump 6 for depressurizing the inside of the closed container 1 and a pipe 7. The head 3 is fixed to the upper part of the closed container 1, and the solution is supplied into the head 3 from the outside. Head 3 and XY stage 2
Are arranged at positions facing each other. Pump 6
The pipe 7 for use is connected to the bottom of the closed container 1.

【0049】先ず、前記密閉容器(密閉空間)1内を2
5℃に保持しながら、ターチオフェン(薄膜形成材料)
をドデシルベンゼン(溶媒)に濃度が0.1重量%とな
るように溶解させ溶液を、第3実施形態と同じ方法で、
前記シリコン基板上にインクジェット法により吐出し
た。ただし、第3実施形態では液滴の配置位置をヘッド
3の移動により行っていたが、この実施形態ではX−Y
ステージ2の移動により行った。
First, the inside of the closed container (closed space) 1 is set to 2
Terthiophene (thin film forming material) while maintaining at 5 ℃
Was dissolved in dodecylbenzene (solvent) to a concentration of 0.1% by weight, and the solution was dissolved by the same method as in the third embodiment.
It was ejected onto the silicon substrate by an inkjet method. However, in the third embodiment, the arrangement position of the liquid droplets is set by moving the head 3, but in this embodiment, XY is arranged.
It was performed by moving the stage 2.

【0050】25℃(溶液吐出時の温度)でのドデシル
ベンゼンに対するターチオフェンの飽和濃度は1.0重
量%である。したがって、このターチオフェン溶液は吐
出時に飽和濃度の1/10となっている。この液滴形成
を終了すると同時に、減圧ポンプ6を稼働させてこの密
閉空間内を1.3Pa(10-2torr)まで減圧し、この
状態を6時間保持した。6時間後に密閉空間から取り出
したシリコン基板1には、各液滴が形成された各位置
に、20μm×30μmの略長方形のターチオフェン薄
膜(厚さ50μm)が、略単結晶の状態で形成されてい
た。ターチオフェン単結晶薄膜は、有機半導体膜として
好適に使用可能な機能性薄膜である。
The saturated concentration of terthiophene with respect to dodecylbenzene at 25 ° C. (temperature at the time of discharging the solution) is 1.0% by weight. Therefore, this terthiophene solution has a saturation concentration of 1/10 when ejected. Simultaneously with the completion of the droplet formation, the decompression pump 6 was operated to decompress the closed space to 1.3 Pa (10 -2 torr), and this state was maintained for 6 hours. On the silicon substrate 1 taken out from the sealed space after 6 hours, a substantially rectangular terthiophene thin film (thickness: 50 μm) of 20 μm × 30 μm was formed in a substantially single crystal state at each position where each droplet was formed. Was there. The terthiophene single crystal thin film is a functional thin film that can be suitably used as an organic semiconductor film.

【0051】この実施形態では、吐出時の溶液の濃度が
飽和濃度の1/10であるため、基板上に配置された直
後に液滴をなす溶液が過飽和状態になり易い。また、1
滴当たりの吐出量を20ピコリットルとし、液滴をピッ
チ70μmで形成していることで、液滴周囲のドデシル
ベンゼン(溶媒と同じ成分)からなる気体の分圧が、液
滴となっている溶液から2,3−ジヒドロベンゾフラン
(溶媒)が蒸発し難い高い分圧となっている。これらの
ことから、液滴となっている溶液が比較的低い過飽和度
の過飽和状態で安定して、少数の核形成がなされたと考
えられる。
In this embodiment, since the concentration of the solution at the time of ejection is 1/10 of the saturation concentration, the solution forming droplets is likely to be in a supersaturated state immediately after being placed on the substrate. Also, 1
Since the discharge amount per droplet is 20 picoliters and the droplets are formed with a pitch of 70 μm, the partial pressure of the gas composed of dodecylbenzene (the same component as the solvent) around the droplets becomes droplets. The high partial pressure makes it difficult for 2,3-dihydrobenzofuran (solvent) to evaporate from the solution. From these facts, it is considered that a small number of nuclei were formed because the solution in the form of droplets was stable in a supersaturated state with a relatively low degree of supersaturation.

【0052】また、液滴形成を終了すると同時に密閉空
間内の減圧を開始することによって、液滴近傍での溶媒
蒸気の分圧が、少数の結晶核が形成された段階で急激に
低下し、液滴となっている溶液の過飽和度が急激に高く
なって、更なる結晶核の形成よりも結晶成長が優先的に
生じる状態となり、この減圧状態を6時間保持すること
によって、結晶成長が促進されたと考えられる。
Further, by starting the pressure reduction in the closed space at the same time when the formation of the droplets is completed, the partial pressure of the solvent vapor in the vicinity of the droplets is drastically reduced when a small number of crystal nuclei are formed, The degree of supersaturation of the solution in the form of droplets increases rapidly, and crystal growth occurs preferentially over the formation of further crystal nuclei. By maintaining this reduced pressure state for 6 hours, crystal growth is promoted. It is thought that it was done.

【0053】さらに、溶媒として低蒸気圧溶媒を使用し
ているため、形成された全ての液滴が移動せずに各液滴
形成位置に留まって、基板上の液滴形成位置(所定位
置)に結晶性薄膜が形成されたと考えられる。なお、本
実施形態では図2に示す薄膜形成装置を使用している
が、減圧をより確実に行うために、図2の薄膜形成装置
のヘッド3とステージ2および配管7とを隔てる仕切り
板を設けたものを使用してもよい。この仕切り板を設け
ることにより、密閉容器1内部のヘッド設置側は減圧さ
せずに、ステージ設置側のみを減圧することができる。 <第5実施形態>この第5実施形態も、第4実施形態と
同様に、前記結晶性薄膜の形成方法を行う際に、本発明
の方法を適用した実施形態である。
Further, since the low vapor pressure solvent is used as the solvent, all the formed droplets do not move and remain at each droplet forming position, and the droplet forming position (predetermined position) on the substrate. It is considered that a crystalline thin film was formed on the. Although the thin film forming apparatus shown in FIG. 2 is used in the present embodiment, a partition plate for separating the head 3 of the thin film forming apparatus of FIG. You may use what was provided. By providing this partition plate, it is possible to depressurize only the stage installation side without depressurizing the head installation side inside the closed container 1. <Fifth Embodiment> Like the fourth embodiment, the fifth embodiment is also an embodiment in which the method of the present invention is applied when performing the method for forming the crystalline thin film.

【0054】前記化学式(5)で示される構造の4−ア
ミノ−p−ターフェニル(薄膜形成材料)を、ジメチル
ホルムアミド(溶媒)に、濃度が1.0重量%となるよ
うに溶解させて溶液を得た。25℃(溶液吐出時の温
度)でのジメチルホルムアミドに対する4−アミノ−p
−ターフェニルの飽和濃度は1.0重量%である。した
がって、この溶液は、吐出時に、4−アミノ−p−ター
フェニルが飽和状態となる。
A solution of 4-amino-p-terphenyl having the structure represented by the chemical formula (5) (material for forming a thin film) is dissolved in dimethylformamide (solvent) to a concentration of 1.0% by weight. Got 4-Amino-p to dimethylformamide at 25 ° C. (temperature at the time of solution discharge)
The saturation concentration of terphenyl is 1.0% by weight. Therefore, in this solution, 4-amino-p-terphenyl becomes saturated upon ejection.

【0055】この溶液を用いた以外は第4実施形態と同
様にして、液滴形成を行った。この液滴形成を終了する
と同時に、減圧ポンプ6を稼働させてこの密閉空間内を
1.3Pa(10-2torr)まで減圧し、この状態を6時
間保持した。6時間後に密閉空間から取り出したシリコ
ン基板1には、各液滴が形成された各位置に、20μm
×30μmの略長方形の4−アミノ−p−ターフェニル
薄膜(厚さ50μm)が、略単結晶の状態で形成されて
いた。4−アミノ−p−ターフェニル結晶性薄膜は、各
種電子デバイス用の半導体膜として好適に使用可能な機
能性薄膜である。
Droplets were formed in the same manner as in the fourth embodiment except that this solution was used. Simultaneously with the completion of the droplet formation, the decompression pump 6 was operated to decompress the closed space to 1.3 Pa (10 -2 torr), and this state was maintained for 6 hours. The silicon substrate 1 taken out from the closed space after 6 hours had a thickness of 20 μm at each position where each droplet was formed.
An approximately rectangular 4-amino-p-terphenyl thin film (thickness 50 μm) of 30 μm was formed in a substantially single crystal state. The 4-amino-p-terphenyl crystalline thin film is a functional thin film that can be suitably used as a semiconductor film for various electronic devices.

【0056】この実施形態では、吐出時に溶液が飽和状
態となるため、基板上に配置された直後に液滴をなす溶
液が過飽和状態になり易いことと、第4実施形態と同様
の作用によって、少数の核形成がなされたと考えられ
る。また、結晶成長についても、第4実施形態と同様の
作用によって促進されたと考えられる。 <第6実施形態>この第6実施形態も、第4実施形態と
同様に、前記結晶性薄膜の形成方法を行う際に、本発明
の方法を適用した実施形態である。
In this embodiment, since the solution becomes saturated at the time of ejection, the solution forming droplets immediately after being placed on the substrate is likely to become supersaturated, and due to the same operation as the fourth embodiment, It is thought that a small number of nuclei were formed. Further, it is considered that the crystal growth was also promoted by the same action as in the fourth embodiment. <Sixth Embodiment> Similar to the fourth embodiment, the sixth embodiment is an embodiment in which the method of the present invention is applied when the method of forming the crystalline thin film is performed.

【0057】前記化学式(6)で示される構造の2,2':
5',2"−ターチオフェン−5,5"−ジカルボキシアルデヒ
ド(ターチオフェンの誘導体、薄膜形成材料)を、ジメ
チルホルムアミド(溶媒)に、濃度が1.0重量%とな
るように溶解させて溶液を得た。25℃(溶液吐出時の
温度)でのジメチルホルムアミドに対する前記誘導体の
飽和濃度は1.0重量%である。したがって、この溶液
は、吐出時に、前記誘導体が飽和状態となる。
2,2 ′ of the structure represented by the chemical formula (6):
Dissolve 5 ', 2 "-terthiophene-5,5" -dicarboxaldehyde (terthiophene derivative, thin film forming material) in dimethylformamide (solvent) to a concentration of 1.0% by weight. A solution was obtained. The saturated concentration of the above derivative with respect to dimethylformamide at 25 ° C. (temperature at the time of discharging the solution) is 1.0% by weight. Therefore, in this solution, the above-mentioned derivative becomes saturated when ejected.

【0058】この溶液を用いた以外は第4実施形態と同
様にして、液滴形成を行った。この液滴形成を終了する
と同時に、減圧ポンプ6を稼働させてこの密閉空間内を
1.3Pa(10-2torr)まで減圧し、この状態を6時
間保持した。6時間後に密閉空間から取り出したシリコ
ン基板1には、各液滴が形成された各位置に、20μm
×30μmの略長方形の2,2':5',2"−ターチオフェン−
5,5"−ジカルボキシアルデヒド薄膜(厚さ50μm)
が、略単結晶の状態で形成されていた。2,2':5',2"−タ
ーチオフェン−5,5"−ジカルボキシアルデヒド結晶性薄
膜は、各種電子デバイス用の半導体膜として好適に使用
可能な機能性薄膜である。
Droplets were formed in the same manner as in the fourth embodiment except that this solution was used. Simultaneously with the completion of the droplet formation, the decompression pump 6 was operated to decompress the closed space to 1.3 Pa (10 -2 torr), and this state was maintained for 6 hours. The silicon substrate 1 taken out from the closed space after 6 hours had a thickness of 20 μm at each position where each droplet was formed.
× 30μm approximately rectangular 2,2 ': 5', 2 "-terthiophene-
5,5 "-dicarboxaldehyde thin film (thickness 50 μm)
However, it was formed in a substantially single crystal state. The 2,2 ′: 5 ′, 2 ″ -terthiophene-5,5 ″ -dicarboxaldehyde crystalline thin film is a functional thin film that can be suitably used as a semiconductor film for various electronic devices.

【0059】この実施形態では、吐出時に溶液が飽和状
態となるため、基板上に配置された直後に液滴をなす溶
液が過飽和状態になり易いことと、第4実施形態と同様
の作用によって、少数の核形成がなされたと考えられ
る。また、結晶成長についても、第4実施形態と同様の
作用によって促進されたと考えられる。なお、前記第4
〜第6実施形態では、液滴形成を終了すると同時に密閉
空間内の減圧を開始することによって、第1の分圧を第
2の分圧に急激に低下させて、液滴をなす溶液の過飽和
度を急激に高くして単結晶の結晶性薄膜を得ているが、
前記減圧開始のタイミングは液滴形成の終了と同時に限
定されるものではなく、他の条件等によって適切なタイ
ミングで行うことができる。
In this embodiment, since the solution becomes saturated at the time of ejection, the solution forming droplets immediately after being placed on the substrate is likely to become supersaturated, and due to the same operation as in the fourth embodiment, It is thought that a small number of nuclei were formed. Further, it is considered that the crystal growth was also promoted by the same action as in the fourth embodiment. The fourth
-In the sixth embodiment, the first partial pressure is rapidly reduced to the second partial pressure by starting the pressure reduction in the closed space at the same time when the droplet formation is completed, and the solution forming the droplet is supersaturated. The crystallinity thin film of single crystal is obtained by rapidly increasing the degree,
The timing of starting the depressurization is not limited to the same time as the end of the droplet formation, and may be performed at an appropriate timing depending on other conditions and the like.

【0060】本発明の形成方法により形成された結晶性
薄膜は、各種電子デバイス(トランジスタ、ダイオー
ド、キャパシタ、有機EL装置における発光層や正孔注
入/輸送層等)用の半導体膜として好適に使用できる。
また、本発明の方法で薄膜形成がなされた電子デバイス
を備えた表示装置としては、液晶表示装置や有機EL表
示装置等が挙げられる。これらの表示装置は、例えば、
図3に示す各種電子機器に適用することができる。
The crystalline thin film formed by the forming method of the present invention is suitably used as a semiconductor film for various electronic devices (transistors, diodes, capacitors, light emitting layers in organic EL devices, hole injection / transport layers, etc.). it can.
A liquid crystal display device, an organic EL display device, or the like can be given as a display device including an electronic device on which a thin film is formed by the method of the present invention. These display devices are, for example,
It can be applied to various electronic devices shown in FIG.

【0061】図3(a)は、携帯電話の一例を示した斜
視図である。図3(a)において、符号600は携帯電
話本体を示し、符号601は前記表示装置を用いた表示
部を示している。図3(b)は、ワープロ、パソコンな
どの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。
図3(b)において、符号700は情報処理装置、符号
701はキーボードなどの入力部、符号703は情報処
理装置本体、符号702は前記表示装置を用いた表示部
を示している。
FIG. 3A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 3A, reference numeral 600 denotes a mobile phone main body, and reference numeral 601 denotes a display unit using the display device. FIG. 3B is a perspective view showing an example of a portable information processing device such as a word processor and a personal computer.
In FIG. 3B, reference numeral 700 is an information processing apparatus, reference numeral 701 is an input unit such as a keyboard, reference numeral 703 is the information processing apparatus main body, and reference numeral 702 is a display unit using the display device.

【0062】図3(c)は、腕時計型電子機器の一例を
示した斜視図である。図3(c)において、符号800
は時計本体を示し、符号801は前記表示装置を用いた
表示部を示している。図3(a)〜(c)に示すそれぞ
れの電子機器は、前記実施形態の方法で形成された結晶
性薄膜を半導体膜として使用した電子デバイスを備えた
表示装置を表示部として備えたものであり、本発明の薄
膜形成方法の特徴を有する。そのため、本発明の薄膜形
成方法によれば、これらの電子機器の製造方法を容易に
することができる。
FIG. 3C is a perspective view showing an example of a wristwatch type electronic device. In FIG. 3C, reference numeral 800
Indicates a watch body, and reference numeral 801 indicates a display unit using the display device. Each of the electronic devices shown in FIGS. 3A to 3C has a display unit including a display device including an electronic device using the crystalline thin film formed by the method of the embodiment as a semiconductor film. There is a feature of the thin film forming method of the present invention. Therefore, according to the thin film forming method of the present invention, the manufacturing method of these electronic devices can be facilitated.

【0063】[0063]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の方法によ
れば、低分子化合物の薄膜を基板上の所定位置に形成で
きるようになる。また、本発明の方法を、インクジェッ
ト法によりパターン状の結晶性薄膜を形成する方法に適
用することによって、結晶性薄膜がパターンに応じた基
板上の所定位置に安定的に形成され易くなる。その結
果、パターン状の結晶性薄膜を容易に形成できるように
なる。
As described above, according to the method of the present invention, a thin film of a low molecular weight compound can be formed at a predetermined position on a substrate. Further, by applying the method of the present invention to a method of forming a patterned crystalline thin film by an inkjet method, the crystalline thin film is likely to be stably formed at a predetermined position on the substrate according to the pattern. As a result, the patterned crystalline thin film can be easily formed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 第3実施形態で行った液滴の形成順序を説明
する平面図である。
FIG. 1 is a plan view illustrating a droplet forming order performed in a third embodiment.

【図2】 第4〜第6実施形態で使用した薄膜形成装置
を示す概略構成図である。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a thin film forming apparatus used in fourth to sixth embodiments.

【図3】 本発明の方法で薄膜形成がなされた電子デバ
イスを備えた表示装置を有する電子機器の例を示す斜視
図である。
FIG. 3 is a perspective view showing an example of an electronic apparatus having a display device including an electronic device on which a thin film is formed by the method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…密閉容器、2…X−Yステージ、3…ヘッド(イン
クジェット装置)、6…ポンプ、7…配管、1−1〜1
−36…液滴、2−1,2−2…液滴、3−1,3−2
…液滴、4−1,4−2…液滴、5−1,5−2…液
滴、6−1,6−2…液滴、7−1,7−2…液滴、8
−1,8−2…液滴、9−1,9−2…液滴、10−
1,10−2…液滴、11−1,11−2…液滴、12
−1,12−2…液滴、600…携帯電話本体、601
…表示部、700…情報処理装置、701…入力部、7
03…情報処理装置本体、702…表示部、800…時
計本体、801…表示部。
1 ... Airtight container, 2 ... XY stage, 3 ... Head (inkjet device), 6 ... Pump, 7 ... Piping, 1-1 to 1
-36 ... Droplet, 2-1 and 2-2 ... Droplet, 3-1 and 3-2
... Droplets, 4-1 and 4-2 ... Droplets, 5-1 and 5-2 ... Droplets, 6-1, 6-2 ... Droplets, 7-1, 7-2 ... Droplets, 8
-1,8-2 ... Droplet, 9-1, 9-2 ... Droplet, 10-
1, 10-2 ... Droplet, 11-1, 11-2 ... Droplet, 12
-1,12-2 ... Droplet, 600 ... Mobile phone main body, 601
Display unit 700 Information processing device 701 Input unit 7
03 ... Information processing apparatus main body, 702 ... Display unit, 800 ... Clock body, 801, ... Display unit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05B 33/14 H01L 29/28 Fターム(参考) 3K007 AB18 BA06 DB03 FA01 4D075 AC06 AC09 AC88 AE02 BB24Y BB24Z CA22 DA06 DB13 DB14 DC19 DC22 DC24 EA07 EB44 EB47 EC07 EC30 EC51 5F053 AA00 AA48 BB60 DD20 FF01 GG01 HH01 LL10 RR04 RR11 5G435 AA17 BB05 CC09 HH20 KK05 KK10 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H05B 33/14 H01L 29/28 F term (reference) 3K007 AB18 BA06 DB03 FA01 4D075 AC06 AC09 AC88 AE02 BB24Y BB24Z CA22 DA06 DB13 DB14 DC19 DC22 DC24 EA07 EB44 EB47 EC07 EC30 EC51 5F053 AA00 AA48 BB60 DD20 FF01 GG01 HH01 LL10 RR04 RR11 5G435 AA17 BB05 CC09 HH20 KK05 KK10

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶液
を吐出することにより、前記溶液の液滴を基板上に複数
個配置し、各液滴から溶媒を蒸発させることにより前記
基板上に薄膜を形成する方法において、 前記溶媒として、前記吐出時における蒸気圧が1.3×
10-3Pa(1×10 -5mmHg)以下である低蒸気圧
溶媒を使用することを特徴とする薄膜形成方法。
1. A solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent.
By ejecting a plurality of droplets of the solution onto the substrate.
Individually arranged and by evaporating the solvent from each droplet
In the method of forming a thin film on a substrate, As the solvent, the vapor pressure at the time of the discharge is 1.3 ×
10-3Pa (1 x 10 -FivemmHg) or lower low vapor pressure
A method for forming a thin film, which comprises using a solvent.
【請求項2】 薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶液
を吐出することにより、前記溶液の液滴を基板上に複数
個配置し、各液滴から溶媒を蒸発させることにより前記
基板上に薄膜を形成する方法において、 第1の液滴を形成した後、第2の液滴を、前記第1の液
滴の形成位置から所定距離だけ離れた位置に形成するこ
とを特徴とする薄膜形成方法。
2. A plurality of droplets of the solution are arranged on a substrate by ejecting a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent, and the solvent is evaporated from each droplet to deposit on the substrate. In the method for forming a thin film, after forming the first droplet, the second droplet is formed at a position separated from the formation position of the first droplet by a predetermined distance. Method.
【請求項3】 薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶液
を吐出することにより、前記溶液の液滴を基板上に複数
個配置し、各液滴から溶媒を蒸発させることにより前記
基板上に薄膜を形成する方法において、 第1の液滴の隣の位置に対する第2の液滴の形成を、前
記第1の液滴の乾燥後に行うことを特徴とする薄膜形成
方法。
3. A plurality of droplets of the solution are arranged on a substrate by ejecting a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent, and the solvent is evaporated from each droplet to deposit on the substrate. A method of forming a thin film, comprising forming the second droplet at a position adjacent to the first droplet after drying the first droplet.
【請求項4】 薄膜形成材料はオリゴフェニレンまたは
その誘導体である請求項1乃至3のいずれか1項に記載
の薄膜形成方法。
4. The thin film forming method according to claim 1, wherein the thin film forming material is oligophenylene or a derivative thereof.
【請求項5】 薄膜形成材料はオリゴチオフェンまたは
その誘導体である請求項1乃至3のいずれか1項に記載
の薄膜形成方法。
5. The method for forming a thin film according to claim 1, wherein the thin film forming material is oligothiophene or a derivative thereof.
【請求項6】 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の
方法で薄膜を形成する工程を有する電子デバイスの形成
方法。
6. A method for forming an electronic device, comprising the step of forming a thin film by the method according to claim 1.
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