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JP2003247953A - Liquid crystal panel appearance inspection method and inspection device - Google Patents

Liquid crystal panel appearance inspection method and inspection device

Info

Publication number
JP2003247953A
JP2003247953A JP2002047872A JP2002047872A JP2003247953A JP 2003247953 A JP2003247953 A JP 2003247953A JP 2002047872 A JP2002047872 A JP 2002047872A JP 2002047872 A JP2002047872 A JP 2002047872A JP 2003247953 A JP2003247953 A JP 2003247953A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
crystal panel
image
ring
face
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002047872A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiko Furuya
和彦 古屋
Eisuke Kanazawa
英祐 金澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2002047872A priority Critical patent/JP2003247953A/en
Publication of JP2003247953A publication Critical patent/JP2003247953A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513Liquid crystal panels

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 液晶パネルの外形形状、表面及び端面の割
れ、欠けを検出すること。 【解決手段】 画像処理装置11が上部・中間・下部リ
ング照明灯3,5、7をそれぞれ点灯させ、上部リング
照明灯の照明光により照射された液晶パネル1の表面の
反射光をCCDカメラ10が撮像した画像を取り込んで
2値化し、2値化した画像P中に現れた白画像P1の有
無から液晶パネルの表面の傷、欠け、割れ1aを検出
し、中間リング照明灯5の照明光により照射された液晶
パネルの側面の反射光をCCDカメラが撮像した画像及
び下部リング照明灯の照明光により照射された液晶パネ
ルの側面下部をCCDカメラが撮像した画像をそれぞれ
取り込んで2値化し、これら2値化した画像を重ね合わ
せた画像P中に現れた枠状の白画像P2から液晶パネル
の外形形状を検出し、枠状以外の白画像P3、P4の有
無から液晶パネルの端面及び下端縁の欠け、割れ1b、
1cを検出する。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To detect an outer shape of a liquid crystal panel, cracks and chips on a surface and an end face thereof. An image processing apparatus turns on upper, middle, and lower ring illuminating lights, and reflects reflected light on the surface of a liquid crystal panel irradiated by illumination light from the upper ring illuminating light. Captures an image taken, binarizes the image, binarizes the image, detects a white image P1 appearing in the binarized image P, detects a scratch, a chip, or a crack 1a on the surface of the liquid crystal panel, and illuminates the illumination light of the intermediate ring illumination lamp 5. The image taken by the CCD camera and the image taken by the CCD camera of the lower side of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light of the lower ring illuminator are respectively captured and binarized, The outer shape of the liquid crystal panel is detected from the frame-shaped white image P2 appearing in the image P obtained by superimposing these binarized images, and the edge of the liquid crystal panel is determined based on the presence or absence of the white images P3 and P4 other than the frame. Chipping of surface and lower edge, crack 1b,
1c is detected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は例えば液晶パネルの
表面及び端面の傷、欠け、割れの外観検査ができる液晶
パネル外観検査方法及び検査装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal panel appearance inspecting method and an inspecting apparatus capable of inspecting the appearance of scratches, chips and cracks on the surface and the end face of a liquid crystal panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、液晶パネルの外観検査におい
て、液晶パネルの表示における検査は例えば特開平5−
5709号公報、特開平9−318687号公報等に見
られるように画像処理技術でかなり自動化が行われてい
る。また、液晶パネルの製造途中での大板状態での表面
の傷、割れの検査の自動化も行われている。
2. Description of the Related Art Generally, in the appearance inspection of a liquid crystal panel, the inspection in the display of the liquid crystal panel is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No.
As seen in Japanese Patent No. 5709 and Japanese Patent Laid-Open No. 9-18687, image processing technology is considerably automated. In addition, the inspection of surface scratches and cracks in a large plate state during the manufacturing of liquid crystal panels is being automated.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、製造されて製
品に実装される直前の小型液晶パネル単体での欠け、割
れの検査は現在目視検査で行われており、液晶パネルの
外形形状、表面の傷、割れ、欠け及び端面の割れ、欠け
の検査の自動化はされていない。そこで、液晶パネル単
体の外形形状、表面の傷、割れ、欠け及び端面の割れ、
欠けを検出する検査方法及び装置が要望されている。
However, visual inspection is currently conducted to inspect the small liquid crystal panel for chipping and cracking just before it is manufactured and mounted on a product. Inspection of scratches, cracks, cracks and end face cracks, cracks is not automated. Therefore, the external shape of the liquid crystal panel alone, surface scratches, cracks, chips and edge cracks,
There is a need for inspection methods and devices that detect chipping.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明に係る液晶パネル
外観検査方法は、液晶パネルの外形より大きい口径のリ
ング照明灯を該液晶パネルの上部に配置すると共に、該
液晶パネルの直上に撮像手段を配置し、点灯させたリン
グ照明灯の照明光を斜め上方から液晶パネルの表面に向
けて照射し、照明光により照射された液晶パネルの表面
の反射光を撮像手段で撮像し、画像処理装置が撮像手段
により撮像された画像を取り込んで2値化し、2値化し
た画像中に現れた白画像の有無から液晶パネルの表面の
傷、欠け、割れを検出するようにしたものである。
In a liquid crystal panel appearance inspection method according to the present invention, a ring illumination lamp having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel is arranged above the liquid crystal panel, and an image pickup means is provided directly above the liquid crystal panel. And irradiating the illumination light of the lit ring illumination lamp toward the surface of the liquid crystal panel from diagonally above, and the reflected light of the surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light is imaged by the image pickup device, and the image processing device Is for taking in an image picked up by the image pickup means, binarizing it, and detecting scratches, chips, and cracks on the surface of the liquid crystal panel based on the presence or absence of a white image appearing in the binarized image.

【0005】このように、液晶パネルの表面に向けてリ
ング照明灯の照明光を斜め上方から照射し、照明光によ
り照射された液晶パネルの表面の反射光を撮像手段で撮
像し、画像処理装置が撮像手段が撮像した画像を2値化
した画像中に現れた白画像の有無から液晶パネルの表面
の傷、欠け、割れを検出するようにしたので、液晶パネ
ルの表面の傷、欠け、割の有無を白画像の有無により簡
単に検出することができる。また、その白画像の形状か
ら液晶パネルの表面の傷、欠け又は割れの判別を行うこ
ともできる。さらに、その白画像の大きさから液晶パネ
ルの表面の傷、欠け又は割れの大きさを判定することも
できる。
In this way, the illumination light of the ring illumination lamp is radiated obliquely from above toward the surface of the liquid crystal panel, and the reflected light of the surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light is imaged by the image pickup means, and the image processing device is provided. Is configured to detect a scratch, chip, or crack on the surface of the liquid crystal panel based on the presence or absence of a white image appearing in the binarized image of the image captured by the imaging means. The presence or absence of can be easily detected by the presence or absence of a white image. Further, it is possible to discriminate scratches, chips or cracks on the surface of the liquid crystal panel from the shape of the white image. Further, it is possible to determine the size of the scratch, chip or crack on the surface of the liquid crystal panel from the size of the white image.

【0006】また、本発明に係る別の液晶パネル外観検
査方法は、液晶パネルの外形より大きい口径のリング照
明灯を該液晶パネルの外周に配置すると共に、該液晶パ
ネルの直上に撮像手段を配置し、点灯させたリング照明
灯の照明光を液晶パネルの端面に向けて照射し、照明光
により照射された液晶パネルの側面の反射光を撮像手段
で撮像し、画像処理装置が撮像手段で撮像された画像を
取り込んで2値化し、画像中に現れた枠状の白画像から
液晶パネルの外形形状を検出し、それ以外の白画像の有
無から液晶パネルの端面の欠け、割れを検出するように
したものである。
Further, in another liquid crystal panel appearance inspection method according to the present invention, a ring illumination lamp having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel is arranged on the outer periphery of the liquid crystal panel, and an image pickup means is arranged immediately above the liquid crystal panel. Then, the illumination light of the lit ring illumination lamp is irradiated toward the end face of the liquid crystal panel, the reflected light of the side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light is imaged by the image capturing device, and the image processing device captures the image by the image capturing device. The detected image is binarized, the outer shape of the liquid crystal panel is detected from the frame-shaped white image that appears in the image, and the chipping or cracking of the end face of the liquid crystal panel is detected from the presence or absence of other white images. It is the one.

【0007】このように、液晶パネルの端面に向けてリ
ング照明灯の照明光を照射し、照明光により照射された
液晶パネルの側面下部の反射光を撮像手段で撮像し、画
像処理装置によって撮像手段が撮像した画像を2値化し
た画像中に現れた枠状の白画像から液晶パネルの外形形
状を検出でき、さらに枠状以外の白画像の有無から液晶
パネルの端面の欠け、割れを検出するようにしたので、
液晶パネルの外形形状を枠状の白画像から検出でき、液
晶パネルの端面の欠け、割れの有無を白画像の有無によ
り簡単に検出することができる。また、枠状以外の白画
像の形状から液晶パネルの端面の傷、欠け又は割れの判
別を行うこともできる。さらに、枠状以外の白画像の大
きさから液晶パネルの端面の傷、欠け又は割れの大きさ
を判定することもできる。
In this way, the illumination light of the ring illumination lamp is radiated toward the end face of the liquid crystal panel, the reflected light of the lower side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light is imaged by the image pickup means, and is picked up by the image processing device. The outer shape of the liquid crystal panel can be detected from the frame-shaped white image appearing in the image obtained by binarizing the image captured by the means, and further, the presence or absence of the white image other than the frame can detect the chipping or cracking of the end face of the liquid crystal panel. I decided to do so,
The outer shape of the liquid crystal panel can be detected from the frame-shaped white image, and the presence or absence of a crack or break in the end surface of the liquid crystal panel can be easily detected by the presence or absence of the white image. Further, it is possible to discriminate scratches, chips or cracks on the end surface of the liquid crystal panel from the shape of the white image other than the frame shape. Furthermore, it is possible to determine the size of the scratch, chip or crack on the end surface of the liquid crystal panel from the size of the white image other than the frame shape.

【0008】また、本発明に係る他の別の液晶パネル外
観検査方法は、液晶パネルの外形より大きい口径のリン
グ照明灯を該液晶パネルの下部に配置すると共に、該液
晶パネルの直上に撮像手段を配置し、点灯させたリング
照明灯の照明光を斜め下方から液晶パネルの端面に向け
て照射し、照明光により照射された液晶パネルの側面下
部の反射光を撮像手段で撮像し、画像処理装置が撮像手
段により撮像された画像を取り込んで2値化し、2値化
した画像中に現れた白画像の有無から液晶パネルの端面
の欠け、割れを検出するようにしたものである。
Further, in another another liquid crystal panel appearance inspection method according to the present invention, a ring illumination lamp having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel is arranged below the liquid crystal panel, and an image pickup means is provided directly above the liquid crystal panel. The illuminating light of the lit ring illuminating lamp is radiated from diagonally downward toward the end face of the liquid crystal panel, and the reflected light of the lower side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illuminating light is imaged by the image pickup means, and image processing is performed. The apparatus takes in the image picked up by the image pickup means, binarizes it, and detects the chipping or cracking of the end face of the liquid crystal panel from the presence or absence of a white image appearing in the binarized image.

【0009】このように、液晶パネルの端面に向けてリ
ング照明灯の照明光を斜め下方から照射し、照明光によ
り照射された液晶パネルの側面下部の反射光を撮像手段
で撮像し、画像処理装置によって撮像手段が撮像した画
像を2値化した画像中に現れた白画像の有無から液晶パ
ネルの下端縁の欠け、割れを検出するようにしたので、
液晶パネルの下端縁の欠け、割れの有無を白画像の有無
により簡単に検出することができる。また、その白画像
の形状から液晶パネルの下端縁の欠け又は割れの判別を
行うこともできる。さらに、その白画像の大きさから液
晶パネルの下端縁の欠け又は割れの大きさを判定するこ
ともできる。
As described above, the illumination light of the ring illumination lamp is emitted obliquely from the lower side toward the end face of the liquid crystal panel, and the reflected light of the lower side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light is imaged by the image pickup means, and image processing is performed. Since the chipping or cracking of the lower edge of the liquid crystal panel is detected based on the presence / absence of a white image appearing in the binarized image of the image picked up by the image pickup means by the device,
The presence or absence of cracks or cracks in the lower edge of the liquid crystal panel can be easily detected by the presence or absence of a white image. Further, it is possible to determine whether the lower edge of the liquid crystal panel is chipped or broken from the shape of the white image. Further, the size of the chip or crack at the lower edge of the liquid crystal panel can be determined from the size of the white image.

【0010】また、本発明に係る液晶パネル外観検査装
置は、液晶パネルが設置された透明なパネル支持基板
と、液晶パネルの外形より大きい口径で、該液晶パネル
の上部に配置されてリング中心で且つ液晶パネルの表面
に向けて照明光を照射する上部リング照明灯と、上部リ
ング照明灯を点灯させる上部点灯装置と、液晶パネルの
外形より大きい口径で、該液晶パネルの外周に配置され
てリング中心で且つ液晶パネルの端面に向けて照明光を
照射する中間リング照明灯と、中間リング照明灯を点灯
させる中間点灯装置と、液晶パネルの外形より大きい口
径で、該液晶パネルの下部に配置されてリング中心で且
つ液晶パネルの端面に向けて照明光を照射する下部リン
グ照明灯と、下部リング照明灯を点灯させる下部点灯装
置と、液晶パネルの直上に配置された撮像手段と、上部
点灯装置、中間点灯装置及び下部点灯装置を制御して上
部リング照明灯、中間リング照明灯及び下部リング照明
灯をそれぞれ点灯させ、点灯した上部リング照明灯の照
明光により照射された液晶パネルの表面からの反射光を
撮像手段が撮像した画像を取り込んで2値化し、画像中
に現れた白画像の有無から液晶パネルの表面の傷、欠
け、割れを検出し、点灯した中間リング照明灯の照明光
により照射された液晶パネルの側面の反射光を撮像手段
が撮像した画像と、点灯した下部リング照明灯の照明光
により照射された液晶パネルの側面下部の反射光を撮像
手段が撮像した画像とをそれぞれ取り込んで2値化し、
これら2値化し画像を重ね合わせた画像中に現れた枠状
の白画像から液晶パネルの外形形状を検出すると共に枠
状以外の白画像の有無から液晶パネルの端面又は下端縁
の欠け、割れを検出する画像処理装置と備えて構成され
ている。
Further, the liquid crystal panel visual inspection apparatus according to the present invention has a transparent panel support substrate on which the liquid crystal panel is installed and a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel, and is disposed above the liquid crystal panel at the center of the ring. Also, an upper ring illumination lamp that illuminates the surface of the liquid crystal panel with illumination light, an upper lighting device that lights the upper ring illumination lamp, and a ring that is arranged on the outer periphery of the liquid crystal panel with a diameter larger than the outer diameter of the liquid crystal panel. An intermediate ring illumination lamp that irradiates illumination light toward the end face of the liquid crystal panel at the center, an intermediate lighting device that lights the intermediate ring illumination lamp, and an aperture that is larger than the outer diameter of the liquid crystal panel, and is arranged at the bottom of the liquid crystal panel. Of the liquid crystal panel, a lower ring illumination lamp that emits illumination light toward the end face of the liquid crystal panel at the center of the ring, a lower lighting device that lights the lower ring illumination lamp, and a liquid crystal panel. By controlling the imaging means arranged above and the upper lighting device, the intermediate lighting device, and the lower lighting device to light the upper ring illumination light, the intermediate ring illumination light, and the lower ring illumination light, respectively. The reflected light from the surface of the liquid crystal panel illuminated by the illuminating light is taken in by the image captured by the imaging means and binarized, and the scratches, cracks, or cracks on the surface of the liquid crystal panel are detected from the presence or absence of a white image appearing in the image. Then, the image of the reflected light on the side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illuminating light of the lit middle ring illuminating lamp and an image of the lower side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illuminating light of the lit lower ring illuminating lamp. The reflected light and the image picked up by the image pickup means are respectively captured and binarized,
The outer shape of the liquid crystal panel is detected from the frame-shaped white image that appears in the binarized images and the presence or absence of the white image other than the frame-shaped image causes the chipping or cracking of the end face or the lower edge of the liquid crystal panel. It is provided with an image processing device for detection.

【0011】このように、本発明に係る液晶パネル外観
検査装置によれば、画像処理装置が上部リング照明灯、
中間リング照明灯及び下部リング照明灯をそれぞれ点灯
させ、点灯した上部リング照明灯の照明光により照射さ
れた液晶パネルの表面の反射光を撮像手段が撮像した画
像を取り込んで2値化し、画像中に現れた白画像の有無
から液晶パネルの表面の傷、欠け、割れを検出し、点灯
した中間リング照明灯の照明光により照射された液晶パ
ネルの側面の反射光を撮像手段が撮像した画像と、点灯
した下部リング照明灯の照明光によりが照射された液晶
パネルの側面下部の反射光を撮像手段が撮像した画像と
をそれぞれ取り込んで2値化し、これら2値化し画像を
重ね合わせた画像中に現れた枠状の白画像から液晶パネ
ルの外形形状を検出すると共に枠状以外の白画像の有無
から液晶パネルの端面又は下端縁の欠け、割れを検出す
るようにしたので、液晶パネルの表面の傷、欠け、割れ
や、液晶パネルの外形寸法の計測及び液晶パネルの端面
又は下端縁の欠け、割れの検出の自動化が図れることと
なった。
As described above, according to the liquid crystal panel visual inspection device of the present invention, the image processing device is the upper ring illumination lamp,
The intermediate ring illumination lamp and the lower ring illumination lamp are each turned on, and the reflected light on the surface of the liquid crystal panel illuminated by the illuminated illumination light of the upper ring illumination lamp is captured by the image capturing means, binarized, and From the presence or absence of the white image appearing on the LCD panel, scratches, chips, and cracks on the surface of the liquid crystal panel are detected, and the reflected light from the side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light of the lit intermediate ring illumination lamp is taken by the imaging means. , The reflected light of the lower side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illuminating light of the lit lower ring illuminating lamp is respectively binarized with the image taken by the imaging means, and these binarized images are superposed. Since the outer shape of the liquid crystal panel is detected from the frame-shaped white image that appears in Fig. 2, the presence or absence of a white image other than the frame shape is used to detect the chipping or cracking of the end face or the lower edge of the liquid crystal panel. The wound surface of the liquid crystal panel, chipping, cracking and chipping of the end surface or the lower edge of the measurement and the liquid crystal panel of external dimension of the liquid crystal panel, becomes the attained automation of the detection of cracks.

【0012】また、液晶パネルの表面の傷、欠け、割れ
を現す白画像の形状から液晶パネルの表面の傷、欠け又
は割れの判別を行い、該白画像の大きさから液晶パネル
の表面の傷、欠け又は割れの大きさを判定することもで
きる。さらに、液晶パネルの端面又は下端縁の欠け、割
れを現す白画像の形状から液晶パネルの端面の欠け又は
割れの判別を行い、該白画像の大きさから液晶パネルの
端面又は下端縁の欠け又は割れの大きさを判定すること
もできる。
The surface of the liquid crystal panel is scratched, chipped or cracked. The shape of the white image reveals scratches, chips or cracks on the surface of the liquid crystal panel, and the size of the white image scratches the surface of the liquid crystal panel. It is also possible to determine the size of the chip or crack. Further, the edge or bottom edge of the liquid crystal panel is cracked or broken, and the edge of the liquid crystal panel is checked for cracks or cracks based on the shape of the white image. It is also possible to determine the size of the crack.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態に係る
液晶パネル外観検査装置の構成を示すブロック図、図2
は同液晶パネル外観検査装置の液晶パネルに対する上部
リング照明灯とCCDカメラの配置を示す説明図、図3
は図2のCCDカメラが表面傷、欠け、割れを取り込ん
だ画像の説明図、図4は図2のCCDカメラが表面傷、
欠け、割れを検出できる原理を示す模式図、図5は同液
晶パネル外観検査装置の液晶パネルに対する中間リング
照明灯とCCDカメラの配置を示す説明図、図6は図5
のCCDカメラが端面外形形状と端面欠け、割れを取り
込んだ画像の説明図、図7は図5のCCDカメラが端面
外形形状と端面欠け、割れを検出できる原理を示す模式
図、図8は同液晶パネル外観検査装置の液晶パネルに対
する下部リング照明灯とCCDカメラの配置を示す説明
図、図9は図8のCCDカメラが端面欠け、割れを取り
込んだ画像の説明図、図10は図8のCCDカメラが端
面欠け、割れを検出できる原理を示す模式図、図11は
同液晶パネル外観検査装置の動作を示すフローチャー
ト、図12は同液晶パネル外観検査装置の端面欠け、割
れを検出する画像処理の説明図である。
1 is a block diagram showing a configuration of a liquid crystal panel appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG.
3 is an explanatory view showing the arrangement of the upper ring illumination lamp and the CCD camera with respect to the liquid crystal panel of the liquid crystal panel appearance inspection device, FIG.
2 is an explanatory view of an image in which the CCD camera of FIG. 2 captures surface scratches, chips, and cracks, and FIG. 4 shows the CCD camera of FIG.
FIG. 5 is a schematic view showing the principle of detecting a chip or crack, FIG. 5 is an explanatory view showing the arrangement of an intermediate ring illumination lamp and a CCD camera with respect to the liquid crystal panel of the liquid crystal panel appearance inspection device, and FIG.
7 is an explanatory view of an image in which the CCD camera captures the outer shape of the end face and the chipping and cracking of the end face. FIG. 7 is a schematic diagram showing the principle that the CCD camera of FIG. FIG. 9 is an explanatory view showing the arrangement of the lower ring illumination lamp and the CCD camera with respect to the liquid crystal panel of the liquid crystal panel appearance inspection device. FIG. 9 is an explanatory view of an image in which the CCD camera of FIG. FIG. 11 is a schematic diagram showing the principle by which the CCD camera can detect chipping and cracking on the end face, FIG. 11 is a flowchart showing the operation of the liquid crystal panel visual inspection device, and FIG. 12 is image processing for detecting chipping and cracking on the liquid crystal panel visual inspection device. FIG.

【0014】図1において、1は透明なパネル支持板2
に設置された単体の液晶パネル、3はリング中心に向け
て照射する上部リング照明灯で、多数のLED3aをリ
ング状に複数段配置して構成されている。4は上部リン
グ照明灯3を点灯させる上部点灯装置、5はリング中心
に向けて照射する中間リング照明灯で、多数のLED5
aをリング状に複数段配置して構成されている。6は中
間リング照明灯5を点灯させる上部点灯装置、7はリン
グ中心に向けて照射する下部リング照明灯で、多数のL
ED7aをリング状に複数段配置して構成されている。
8は下部リング照明灯3を点灯させる下部点灯装置であ
る。10は上部リング照明灯3、中間リング照明灯5又
は下部リング照明灯7で照射された液晶パネル1を撮像
する撮像手段であるCCDカメラ、11は後述する画像
処理をし、液晶パネル1の良否判定を行い、上部点灯装
置4、中間点灯装置6及び下部点灯装置8を駆動制御す
る画像処理装置、12は画像処理装置11が画像処理し
た画像を表示するモニタである。
In FIG. 1, 1 is a transparent panel support plate 2
The single liquid crystal panel 3 installed in 1 is an upper ring illumination lamp that irradiates toward the center of the ring, and is configured by arranging a number of LEDs 3a in a plurality of stages in a ring shape. Reference numeral 4 is an upper lighting device for lighting the upper ring lighting lamp 3, and 5 is an intermediate ring lighting lamp that illuminates toward the center of the ring.
a is arranged in a plurality of stages in a ring shape. 6 is an upper lighting device that lights the intermediate ring illumination lamp 5, and 7 is a lower ring illumination lamp that emits light toward the center of the ring.
A plurality of EDs 7a are arranged in a ring shape.
A lower lighting device 8 lights the lower ring illumination lamp 3. Reference numeral 10 is a CCD camera which is an image pickup means for picking up an image of the liquid crystal panel 1 illuminated by the upper ring illumination light 3, the intermediate ring illumination light 5 or the lower ring illumination light 7, and 11 is a quality judgment of the liquid crystal panel 1 by performing image processing described later. An image processing device that makes a determination and drives and controls the upper lighting device 4, the intermediate lighting device 6, and the lower lighting device 8, and 12 is a monitor that displays the image processed by the image processing device 11.

【0015】次に、本発明の実施の形態の液晶パネル外
観検査装置のCCDカメラが表面傷、欠け、割れを検出
できる原理について図2〜図4に基づいて説明する。図
2に示すように、液晶パネル1の外形より大きい口径の
上部リング照明灯3を液晶パネル1の上部に配置し、液
晶パネル1の直上にCCDカメラ10を配置する。そし
て、上部リング照明灯3の各LED3aを点灯させる
と、図2及び図4に示すように各LED3aの照明光は
斜め上方から液晶パネル1の表面に向けて照射され、そ
の照明光は液晶パネル1の表面で反射されて破線で示す
正反射光となる。従って、液晶パネル1の直上のCCD
カメラ10が撮像する画像は正反射光がCCDカメラ1
0に向わないために暗い画像となる。
Next, the principle by which the CCD camera of the liquid crystal panel appearance inspection apparatus according to the embodiment of the present invention can detect surface scratches, chips, and cracks will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 2, an upper ring illumination lamp 3 having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel 1 is arranged above the liquid crystal panel 1, and a CCD camera 10 is arranged directly above the liquid crystal panel 1. Then, when each LED 3a of the upper ring illumination lamp 3 is turned on, the illumination light of each LED 3a is emitted obliquely from above and toward the surface of the liquid crystal panel 1 as shown in FIGS. 2 and 4, and the illumination light is emitted from the liquid crystal panel. The light is reflected by the surface of No. 1 and becomes specular reflection light shown by a broken line. Therefore, the CCD directly above the liquid crystal panel 1
In the image captured by the camera 10, the specularly reflected light is the CCD camera 1.
Since it does not go to 0, it becomes a dark image.

【0016】ところが、液晶パネル1の表面に傷や欠け
や割れ1aがあると、その傷や欠けや割れ1aを照射し
た照明光は正反射光とならず、図4に示すように散乱光
となってCCDカメラ10に向かうことになる。このた
め、CCDカメラ10が撮像する画像Pに、図3に示す
ように液晶パネル1の表面の傷や欠けや割れ1aを示す
白画像P1が現れることとなる。従って、白画像P1が
あることによって液晶パネル1の表面に傷や欠けや割れ
1aがあることが分かり、白画像P1の形状によって傷
や欠けや割れ1aの区別がつき、白画像P1の大きさに
よって傷や欠けや割れ1aの程度がわかることになる。
なお、白画像P1の大きさは白画素数の数で判断する。
However, when the surface of the liquid crystal panel 1 has a scratch, a chip or a crack 1a, the illumination light irradiating the scratch, the chip or the crack 1a does not become specularly reflected light but becomes scattered light as shown in FIG. Then, it goes to the CCD camera 10. Therefore, in the image P captured by the CCD camera 10, as shown in FIG. 3, a white image P1 showing scratches, chips or cracks 1a on the surface of the liquid crystal panel 1 appears. Therefore, it can be seen that the surface of the liquid crystal panel 1 has scratches, chips or cracks 1a due to the presence of the white image P1, and the scratches, chips or cracks 1a can be distinguished by the shape of the white image P1, and the size of the white image P1. The degree of scratches, chips, and cracks 1a can be understood by the above.
The size of the white image P1 is determined by the number of white pixels.

【0017】次に、本発明の実施の形態の液晶パネル外
観検査装置のCCDカメラが端面欠け、割れを検出でき
る原理について図5〜図7に基づいて説明する。図5に
示すように、液晶パネル1の外形より大きい口径の中間
リング照明灯5を液晶パネル1の外周に配置し、液晶パ
ネル1の直上にCCDカメラ10を配置する。そして、
中間リング照明灯5の各LED5aを点灯させると、図
5及び図7に示すように各LED5aの照明光は液晶パ
ネル1の端面に向けて照射され、その照明光は液晶パネ
ル1の端面で大部分反射されて正反射光となり、照明光
を照射するLED5aに向けて大部分が反射されること
となる。また、その照明光の一部は液晶パネル1の端縁
に照射され、端縁を照射した照明光は正反射光となら
ず、図7の右の破線に示すように散乱光となってCCD
カメラ10に向かう。従って、液晶パネル1の直上のC
CDカメラ10が撮像する画像Pに、図6に示すように
液晶パネル1の端縁の散乱光により液晶パネル1の端面
の外形を示す枠状の白画像P2が現れ、それ以外の部分
は正反射光も散乱光も向かわないために暗い画像とな
る。
Next, the principle by which the CCD camera of the liquid crystal panel visual inspection apparatus according to the embodiment of the present invention can detect chipping and cracking of the end face will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 5, an intermediate ring illumination lamp 5 having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel 1 is arranged on the outer periphery of the liquid crystal panel 1, and a CCD camera 10 is arranged directly above the liquid crystal panel 1. And
When each LED 5a of the intermediate ring illumination lamp 5 is turned on, the illumination light of each LED 5a is emitted toward the end face of the liquid crystal panel 1 as shown in FIGS. 5 and 7, and the illumination light is largely emitted at the end face of the liquid crystal panel 1. It is partially reflected to become specularly reflected light, and most of it is reflected toward the LED 5a that illuminates the illumination light. A part of the illumination light is applied to the edge of the liquid crystal panel 1, and the illumination light applied to the edge is not specularly reflected light but becomes scattered light as shown by the broken line on the right side of FIG.
Head to camera 10. Therefore, C directly above the liquid crystal panel 1
In the image P captured by the CD camera 10, as shown in FIG. 6, a frame-shaped white image P2 showing the outer shape of the end face of the liquid crystal panel 1 appears due to the scattered light at the edge of the liquid crystal panel 1, and the other parts are positive. Since neither reflected light nor scattered light is directed, the image becomes dark.

【0018】また、液晶パネル1の端面に欠けや割れ1
bがあると、その欠けや割れ1bを照射した照明光は正
反射光とならず、図7の左側に示すように散乱光となっ
てその一部がCCDカメラ10に向かうことになる。こ
のため、CCDカメラ10が撮像する画像Pに、図6に
示すように液晶パネル1の端面の欠けや割れ1bを示す
白画像P3が液晶パネル1の外形を示す枠状の白画像P
2近辺に現れることとなる。従って、液晶パネル1の端
面の外形を示す枠状の白画像P2近辺に別の白画像P3
があることによって液晶パネル1の端面に欠けや割れ1
bがあることが分かり、その別の白画像P3の形状によ
って欠けや割れ1bの区別がつき、白画像P3の大きさ
によって欠けや割れ1bの程度がわかることになる。な
お、液晶パネル1の端面の外形を示す枠状の白画像P2
はその白画素数の数で液晶パネル1の外形の大きさを判
断し、別の白画像P3の大きさはその白画素数の数で判
断する。
Further, the end face of the liquid crystal panel 1 is chipped or cracked 1.
If there is b, the illumination light irradiating the chip or crack 1b does not become specular reflection light, but becomes scattered light as shown on the left side of FIG. Therefore, in the image P captured by the CCD camera 10, as shown in FIG. 6, a white image P3 showing a chip or a crack 1b on the end face of the liquid crystal panel 1 is a frame-shaped white image P showing the outer shape of the liquid crystal panel 1.
It will appear near 2. Therefore, another white image P3 is provided near the frame-shaped white image P2 showing the outer shape of the end face of the liquid crystal panel 1.
The presence of cracks or cracks on the end face of the liquid crystal panel 1
It can be seen that there is b, and the shape of the other white image P3 distinguishes the cracks or cracks 1b, and the size of the white image P3 indicates the degree of the cracks or cracks 1b. A frame-shaped white image P2 showing the outer shape of the end face of the liquid crystal panel 1
Determines the size of the outer shape of the liquid crystal panel 1 based on the number of white pixels, and the size of another white image P3 based on the number of white pixels.

【0019】次に、本発明の実施の形態の液晶パネル外
観検査装置のCCDカメラが下端縁欠け、割れを検出で
きる原理について図8〜図10に基づいて説明する。図
8に示すように、液晶パネル1の外形より大きい口径の
下部リング照明灯7を液晶パネル1の下部に配置し、液
晶パネル1の直上にCCDカメラ10を配置する。そし
て、下部リング照明灯7の各LED7aを点灯させる
と、図8及び図10に示すように各LED3aの照明光
は斜め下方から液晶パネル1の端面に向けて照射され、
その照明光は液晶パネル1の端面で反射されてCCDカ
メラ10に向かわない正反射光となる。従って、液晶パ
ネル1の直上のCCDカメラ10が撮像する画像Pは正
反射光がCCDカメラ10に向わないために暗い画像と
なる。
Next, the principle by which the CCD camera of the liquid crystal panel appearance inspecting apparatus according to the embodiment of the present invention can detect a chip or crack at the lower edge will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 8, a lower ring illumination lamp 7 having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel 1 is arranged below the liquid crystal panel 1, and a CCD camera 10 is arranged directly above the liquid crystal panel 1. Then, when each LED 7a of the lower ring illumination lamp 7 is turned on, the illumination light of each LED 3a is radiated toward the end face of the liquid crystal panel 1 from diagonally below as shown in FIGS. 8 and 10.
The illumination light is reflected by the end surface of the liquid crystal panel 1 and becomes specular reflection light that does not go to the CCD camera 10. Therefore, the image P captured by the CCD camera 10 directly above the liquid crystal panel 1 is a dark image because the specularly reflected light does not go to the CCD camera 10.

【0020】ところが、液晶パネル1の下端縁に欠けや
割れ1cがあると、その欠けや割れ1cを照射した照明
光は正反射光とならず、図10に破線で示すような散乱
光となってその一部がCCDカメラ10に向かうことに
なる。このため、CCDカメラ10が撮像する画像P
に、図9に示すように液晶パネル1の下端縁の欠けや割
れ1cを示す白画像P4が現れることとなる。従って、
白画像P4があることによって液晶パネル1の下端縁に
欠けや割れ1cがあることが分かり、白画像P4の形状
によって欠けや割れ1cの区別がつき、白画像P4の大
きさによって欠けや割れ1cの程度がわかることにな
る。なお、白画像P4の大きさは白画素数の数で判断す
る。
However, if the liquid crystal panel 1 has a chip or a crack 1c at the lower edge, the illumination light irradiated to the chip or the crack 1c does not become specularly reflected light, but becomes scattered light as shown by the broken line in FIG. Part of it goes to the CCD camera 10. Therefore, the image P captured by the CCD camera 10
Then, as shown in FIG. 9, a white image P4 showing a chip or a crack 1c at the lower edge of the liquid crystal panel 1 appears. Therefore,
The presence of the white image P4 reveals that the lower edge of the liquid crystal panel 1 has a chip or a crack 1c. The shape of the white image P4 distinguishes the chip or the crack 1c, and the size of the white image P4 allows the chip or the crack 1c. You will know the degree of. The size of the white image P4 is determined by the number of white pixels.

【0021】次に、本発明の実施の形態の液晶パネル外
観検査装置の動作について図1及び図11のフローチャ
ートに基づいて説明する。まず、パネル支持板2に検査
すべき液晶パネル1がセットされて検査がスタートする
(ステップS1)。次に、画像処理装置11は上部点灯
装置4を駆動させて上部リング照明灯3を点灯させる。
そして、画像処理装置11はCCDカメラ10が撮像し
た上部リング照明灯3により照射された液晶パネル1の
画像を取り込む(ステップS2)。
Next, the operation of the liquid crystal panel appearance inspection apparatus according to the embodiment of the present invention will be described based on the flowcharts of FIGS. 1 and 11. First, the liquid crystal panel 1 to be inspected is set on the panel support plate 2 and the inspection is started (step S1). Next, the image processing device 11 drives the upper lighting device 4 to turn on the upper ring illumination lamp 3.
Then, the image processing device 11 captures the image of the liquid crystal panel 1 illuminated by the upper ring illumination lamp 3 captured by the CCD camera 10 (step S2).

【0022】CCDカメラ10が撮像した液晶パネル1
の画像を取り込んだ画像処理装置11は、液晶パネルの
1の画像Pを2値化処理し、その2値化した画像に白画
像P1が有るかどうかを判断する。白画像P1が有れ
ば、その白画素数を計測する。なお、2値化処理した液
晶パネルの1の画像は検査経過を見るためにモニタ12
に映し出される。この液晶パネル1の総画素数は約10
0万画素であり、液晶パネル1の大きさによるが、1画
素が10ミクロンの大きさであれば、白画素数が10画
素以上であれば、液晶パネルの1の表面に傷、割れ、欠
け1aがあると判定し、10画素以下であればそれはノ
イズ等によるものとして液晶パネルの1の表面に傷、割
れ、欠け1aがないと判定する。そして、白画像P1の
形状により表面の傷、割れ、欠け1aの判別をし、白画
像P1の画素数の数により液晶パネルの1の表面の傷、
割れ、欠け1aの大きさを判定するという良否判定を含
む表面傷、割れ、欠け検出処理を行う(ステップS
3)。なお、この段階で液晶パネル1の表面に傷、割
れ、欠け1aが有ると判定された場合には、その液晶パ
ネル1は不良品であり、それ以降の検査は必要ないた
め、パネル支持板2から液晶パネル1が取り除かれる。
従って、液晶パネル1の表面に傷、割れ、欠け1aが無
いと判定された場合に次のステップに進むことになる。
Liquid crystal panel 1 imaged by CCD camera 10
The image processing apparatus 11 that has captured the image of 1 performs the binarization process on the image P of 1 on the liquid crystal panel, and determines whether the binarized image includes the white image P1. If there is a white image P1, the number of white pixels is measured. It should be noted that the one image of the liquid crystal panel which has been binarized is displayed on the monitor 12 to see the progress of the inspection.
Is projected on. The total number of pixels of this liquid crystal panel 1 is about 10
The number of pixels is 0,000, and depending on the size of the liquid crystal panel 1, if one pixel has a size of 10 microns, and if the number of white pixels is 10 pixels or more, the surface of the liquid crystal panel 1 is scratched, cracked, or chipped. It is determined that 1a is present, and if it is 10 pixels or less, it is determined that it is due to noise or the like, and it is determined that there is no scratch, crack, or chip 1a on the surface of the liquid crystal panel 1. Then, the shape of the white image P1 is used to determine whether the surface is scratched, cracked or chipped 1a, and the number of pixels of the white image P1 determines the scratches on the surface of the liquid crystal panel 1.
Surface scratches, cracks, and chipping detection processing including a quality determination of determining the size of the cracks and chips 1a is performed (step S
3). If it is determined that the surface of the liquid crystal panel 1 has scratches, cracks, or chips 1a at this stage, the liquid crystal panel 1 is defective and no further inspection is required, so the panel support plate 2 is not necessary. The liquid crystal panel 1 is removed from the.
Therefore, when it is determined that the surface of the liquid crystal panel 1 is not scratched, cracked, or chipped 1a, the process proceeds to the next step.

【0023】次に、画像処理装置11は上部リング照明
灯3の消灯を確認したら、中間点灯装置6を駆動させて
中間リング照明灯5を点灯させる。そして、画像処理装
置11はCCDカメラ10が撮像した中間リング照明灯
5により照射された液晶パネル1の画像を取り込む(ス
テップS4)。さらに、画像処理装置11は中間リング
照明灯5の消灯を確認したら、下部点灯装置8を駆動さ
せて下部リング照明灯7を点灯させる。そして、画像処
理装置11はCCDカメラ10が撮像した下部リング照
明灯7により照射された液晶パネル1の画像を取り込む
(ステップS5)。
Next, after confirming that the upper ring illumination lamp 3 is turned off, the image processing apparatus 11 drives the intermediate lighting device 6 to turn on the intermediate ring illumination lamp 5. Then, the image processing device 11 captures the image of the liquid crystal panel 1 illuminated by the intermediate ring illumination lamp 5 captured by the CCD camera 10 (step S4). Further, after confirming that the intermediate ring illumination lamp 5 is turned off, the image processing apparatus 11 drives the lower lighting device 8 to turn on the lower ring illumination lamp 7. Then, the image processing device 11 captures the image of the liquid crystal panel 1 illuminated by the lower ring illumination lamp 7 captured by the CCD camera 10 (step S5).

【0024】中間リング照明灯5により照射された液晶
パネル1の画像Pと下部リング照明灯7により照射され
た液晶パネル1の画像Pとを取り込んだ画像処理装置1
1では、図12に示すようにそれぞれの画像を2値化処
理した後に、2値化した画像を重ね合わせる画像演算を
行う。この重ね合わせて画像演算された画像も検査経過
を見るためにモニタ12に映し出される。画像演算され
た画像Pには液晶パネル1の端面の外形形状が枠状の白
画像P2として現されるので、その縦と横の外形の画素
数を計測することによって縦と横の外形寸法を測定する
ことができる。さらに、液晶パネル1の端面の外形形状
を現す枠状の白画像P2の他に、別の白画像P3、P4
が有るかどうかを判断し、別の白画像P3,P4が有れ
ば、それそれの白画素数を計測する。白画素数が10画
素以上であれば、液晶パネルの1の端面及び下端縁に割
れ、欠け1b,1cがあると判定し、10画素以下であ
ればそれはノイズ等によるものとして液晶パネル1の端
面及び下端縁に割れ、欠け1b、1cがないと判定す
る。そして、白画像P3、P4の形状により端面及び下
端縁の割れ、欠け1b、1cの判別をし、白画像P3、
P4の画素数の数により液晶パネルの1の端面及び下端
縁の割れ、欠け1b、1cの大きさを判定するという良
否判定を含む端面割れ、欠け検出処理を行う(ステップ
S6)。
The image processing apparatus 1 that has captured the image P of the liquid crystal panel 1 illuminated by the intermediate ring illumination lamp 5 and the image P of the liquid crystal panel 1 illuminated by the lower ring illumination lamp 7.
In No. 1, as shown in FIG. 12, each image is binarized, and then an image calculation for superimposing the binarized images is performed. The image obtained by superimposing the images is also displayed on the monitor 12 to see the progress of the inspection. Since the outer shape of the end face of the liquid crystal panel 1 is shown as a frame-shaped white image P2 in the image P that has been image-calculated, the vertical and horizontal outer dimensions are determined by measuring the number of pixels in the vertical and horizontal outer shapes. Can be measured. Further, in addition to the frame-shaped white image P2 showing the outer shape of the end face of the liquid crystal panel 1, other white images P3 and P4 are provided.
If there are other white images P3 and P4, the number of white pixels of each of them is measured. If the number of white pixels is 10 pixels or more, it is determined that the end face and the lower end edge of the liquid crystal panel 1 have cracks, and there are chips 1b and 1c. If the number of white pixels is 10 pixels or less, it is considered to be due to noise or the like and the end face of the liquid crystal panel 1 is detected. Also, it is determined that the lower edge does not have cracks or chips 1b and 1c. Then, based on the shapes of the white images P3 and P4, it is determined whether or not the end face and the lower end edge are cracked or chipped 1b and 1c, and the white images P3 and P3 are determined.
The end face cracking and chipping detection processing including the cracking of the end face and the bottom edge of the liquid crystal panel 1 and the quality of judging the size of the chips 1b and 1c is performed according to the number of pixels of P4 (step S6).

【0025】こうして液晶パネル1の端面割れ、欠け検
出処理が終了したら、画像処理装置11は液晶パネル1
の表面傷、割れ、欠けの検査結果と、液晶パネル1の外
形寸法、端面及び下端縁の割れ、欠けの検査結果である
良否判定結果を出力してモニタ12に表示させる(ステ
ップS7)。モニタ12への良否判定結果の表示が終了
すれば、画像処理装置11は検査完了信号を出力し(ス
テップS8)、検査完了をモニタ12に表示させる。こ
うして1つの液晶パネル1の検査が終了すれば、その液
晶パネル1をパネル支持板2から取り外し、次の検査す
べき液晶パネル1をパネル支持板2にセットすることに
より、次の検査が行われることとなる。
After the end face cracking and chipping detection processing of the liquid crystal panel 1 is completed in this way, the image processing apparatus 11 operates the liquid crystal panel 1
The surface scratches, cracks, and chipping inspection results, and the external dimensions of the liquid crystal panel 1, the end face and lower end edge cracking and chipping inspection results, are output and displayed on the monitor 12 (step S7). When the display of the pass / fail judgment result on the monitor 12 is completed, the image processing apparatus 11 outputs an inspection completion signal (step S8) and causes the monitor 12 to display the inspection completion. When the inspection of one liquid crystal panel 1 is completed in this manner, the liquid crystal panel 1 is removed from the panel support plate 2 and the next liquid crystal panel 1 to be inspected is set on the panel support plate 2 to perform the next inspection. It will be.

【0026】上記実施の形態では、上部リング照明灯
3,中間リング照明灯5及び下部リング照明灯7の順に
点灯してCCDカメラ10により、液晶パネル1の画像
をそれぞれ取り込み、まず液晶パネル1の表面のキズ、
欠け、割れを検出し、その後に液晶パネル1の端面の外
形形状、端面及び下端縁の欠け、割れを検出するように
しているが、かかる順番にとらわれる必要はない。ま
た、液晶パネル1の表面のキズ、欠け、割れ、端面の外
形形状、端面の欠け、割れを個々に検出するようにして
もよいことは勿論である。さらに、撮像手段としてCC
Dカメラ10を用いているが、これに限定されるもので
はなく、TVカメラであってもよい。また、上部リング
照明灯3,中間リング照明灯5及び下部リング照明灯7
を構成するのにLEDを用いているが、これに限定され
るものではない。
In the above embodiment, the upper ring illuminating lamp 3, the intermediate ring illuminating lamp 5 and the lower ring illuminating lamp 7 are turned on in this order, and the images of the liquid crystal panel 1 are captured by the CCD camera 10, respectively. Surface scratches,
Although cracks and cracks are detected, and thereafter, the outer shape of the end face of the liquid crystal panel 1 and the cracks and cracks on the end face and the lower end edge are detected, it is not necessary to be caught in this order. Further, it goes without saying that the surface of the liquid crystal panel 1, scratches, cracks, outer shape of the end face, chipping of the end face, cracks may be individually detected. Furthermore, as an image pickup means, CC
Although the D camera 10 is used, the present invention is not limited to this, and may be a TV camera. In addition, the upper ring illumination light 3, the intermediate ring illumination light 5 and the lower ring illumination light 7
Although an LED is used to configure the above, the present invention is not limited to this.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上のように本発明の液晶パネル外観検
査方法によれば、液晶パネルの表面に向けてリング照明
灯の照明光を斜め上方から照射し、照明光により照射さ
れた液晶パネルの表面の反射光を撮像手段で撮像し、画
像処理装置が撮像手段が撮像した画像を2値化した画像
中に現れた白画像の有無から液晶パネルの表面の傷、欠
け、割れを検出するようにしたので、液晶パネルの表面
の傷、欠け、割の有無を白画像の有無により簡単に検出
することができるという効果がある。また、その白画像
の形状から液晶パネルの表面の傷、欠け又は割れの判別
を行うこともできる。さらに、その白画像の大きさから
液晶パネルの表面の傷、欠け又は割れの大きさを判定す
ることもできる。
As described above, according to the liquid crystal panel appearance inspection method of the present invention, the illumination light of the ring illumination lamp is applied obliquely from above toward the surface of the liquid crystal panel, and the liquid crystal panel illuminated by the illumination light is irradiated. The reflected light on the surface is picked up by the image pickup device, and the image processing device detects a scratch, chip, or crack on the surface of the liquid crystal panel from the presence or absence of a white image appearing in the binarized image of the image picked up by the image pickup device. Therefore, it is possible to easily detect the presence or absence of scratches, chips, and cracks on the surface of the liquid crystal panel by the presence or absence of a white image. Further, it is possible to discriminate scratches, chips or cracks on the surface of the liquid crystal panel from the shape of the white image. Further, it is possible to determine the size of the scratch, chip or crack on the surface of the liquid crystal panel from the size of the white image.

【0028】また、本発明の別の液晶パネル外観検査方
法によれば、液晶パネルの端面に向けてリング照明灯の
照明光を照射し、照明光により照射された液晶パネルの
側面の反射光を撮像手段で撮像し、画像処理装置によっ
て撮像手段が撮像した画像を2値化した画像中に現れた
枠状の白画像から液晶パネルの外形形状を検出でき、さ
らに枠状以外の白画像の有無から液晶パネルの端面の欠
け、割れを検出するようにしたので、液晶パネルの外形
形状を枠状の白画像から検出でき、液晶パネルの端面の
欠け、割れの有無を白画像の有無により簡単に検出する
ことができるという効果がある。また、枠状以外の白画
像の形状から液晶パネルの端面の欠け又は割れの判別を
行うこともできる。さらに、枠状以外の白画像の大きさ
から液晶パネルの端面の欠け又は割れの大きさを判定す
ることもできる。
Further, according to another liquid crystal panel appearance inspection method of the present invention, the illumination light of the ring illumination lamp is emitted toward the end face of the liquid crystal panel, and the reflected light of the side face of the liquid crystal panel emitted by the illumination light is emitted. The outer shape of the liquid crystal panel can be detected from the frame-shaped white image appearing in the binarized image of the image captured by the image processing device by the image processing device, and the presence or absence of the white image other than the frame-shaped image. Since it is designed to detect chipping and cracking of the end face of the liquid crystal panel, the outer shape of the liquid crystal panel can be detected from the frame-shaped white image, and the presence or absence of chipping and cracking of the end face of the liquid crystal panel can be easily detected by the presence or absence of the white image. The effect is that it can be detected. Further, it is also possible to determine whether the end face of the liquid crystal panel is chipped or broken from the shape of the white image other than the frame shape. Further, it is possible to determine the size of the chip or crack on the end face of the liquid crystal panel from the size of the white image other than the frame shape.

【0029】また、本発明の他の別の液晶パネル外観検
査方法によれば、液晶パネルの端面に向けてリング照明
灯の照明光を斜め下方から照射し、照明光により照射さ
れた液晶パネルの側面下部の反射光を撮像手段で撮像
し、画像処理装置によって撮像手段が撮像した画像を2
値化した画像中に現れた白画像の有無から液晶パネルの
下端縁の欠け、割れを検出するようにしたので、液晶パ
ネルの下端縁の欠け、割れの有無を白画像の有無により
簡単に検出することができるという効果がある。また、
その白画像の形状から液晶パネルの下端縁の欠け又は割
れの判別を行うこともできる。さらに、その白画像の大
きさから液晶パネルの下端縁の欠け又は割れの大きさを
判定することもできる。
According to another method of inspecting the appearance of a liquid crystal panel of the present invention, the illumination light of the ring illumination lamp is applied obliquely from below toward the end face of the liquid crystal panel, and the liquid crystal panel illuminated by the illumination light is irradiated. The reflected light from the lower part of the side surface is captured by the image capturing device, and the image captured by the image capturing device by the image processing device is
The presence or absence of a white image that appears in the binarized image is used to detect chipping or cracking at the bottom edge of the liquid crystal panel, making it easy to detect the presence or absence of a chipping or cracking at the bottom edge of the liquid crystal panel. There is an effect that can be done. Also,
It is also possible to determine whether the lower edge of the liquid crystal panel is chipped or broken from the shape of the white image. Further, the size of the chip or crack at the lower edge of the liquid crystal panel can be determined from the size of the white image.

【0030】また、本発明の液晶パネル外観検査装置に
よれば、画像処理装置が上部リング照明灯、中間リング
照明灯及び下部リング照明灯をそれぞれ点灯させ、点灯
した上部リング照明灯の照明光により照射された液晶パ
ネルの表面の反射光を撮像手段が撮像した画像を取り込
んで2値化し、画像中に現れた白画像の有無から液晶パ
ネルの表面の傷、欠け、割れを検出し、点灯した中間リ
ング照明灯の照明光により照射された液晶パネルの側面
の反射光を撮像手段が撮像した画像及び点灯した下部リ
ング照明灯の照明光により照射された液晶パネルの側面
下部の反射光を撮像手段が撮像した画像とをそれぞれ取
り込んで2値化し、これら2値化した画像を重ね合わせ
た画像中に現れた枠状の白画像から液晶パネルの外形形
状を検出すると共に枠状以外の白画像の有無から液晶パ
ネルの端面及び下端縁の欠け、割れを検出するようにし
たので、液晶パネルの表面の傷、欠け、割れや、液晶パ
ネルの外形寸法の計測及び液晶パネルの端面及び下端縁
の欠け、割れの検出の自動化が図れるという効果があ
る。
Further, according to the liquid crystal panel visual inspection apparatus of the present invention, the image processing apparatus turns on the upper ring illumination lamp, the intermediate ring illumination lamp and the lower ring illumination lamp, respectively. The reflected light on the surface of the liquid crystal panel which has been irradiated is binarized by taking in an image taken by the image pickup means, detecting a scratch, chip, or crack on the surface of the liquid crystal panel from the presence or absence of a white image appearing in the image, and lighting up. An image of the reflected light of the side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light of the intermediate ring illumination lamp, and an image of the reflected light of the lower side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light of the illuminated lower ring illumination lamp. And the image captured by each of them are binarized, and the outer shape of the liquid crystal panel is detected from the frame-shaped white image appearing in the image in which these binarized images are superimposed. The presence or absence of a white image other than the frame shape is used to detect chipping and cracking on the edge and bottom edges of the liquid crystal panel, so scratches, chips, and cracks on the surface of the liquid crystal panel, and measurement of the external dimensions of the liquid crystal panel and the liquid crystal panel This has the effect of automating the detection of cracks and cracks on the end face and bottom edge of the.

【0031】また、液晶パネルの表面の傷、欠け、割れ
を現す白画像の形状から液晶パネルの表面の傷、欠け又
は割れの判別を行い、該白画像の大きさから液晶パネル
の表面の傷、欠け又は割れの大きさを判定することもで
きる。さらに、液晶パネルの端面及び下端縁の欠け、割
れを現す白画像の形状から液晶パネルの端面及び下端縁
の欠け又は割れの判別を行い、該白画像の大きさから液
晶パネルの端面及び下端縁の欠け又は割れの大きさを判
定することもできる。
Further, the surface of the liquid crystal panel is scratched, chipped, or cracked, and the surface of the liquid crystal panel is discriminated from the shape of the white image, and the surface of the liquid crystal panel is scratched based on the size of the white image. It is also possible to determine the size of the chip or crack. Furthermore, the end surface and the bottom edge of the liquid crystal panel are judged from the shape of the white image that shows the cracks and cracks on the end surface and the bottom edge of the liquid crystal panel, and the end surface and the bottom edge of the liquid crystal panel are judged from the size of the white image. It is also possible to determine the size of chipping or cracking of the.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施の形態に係る液晶パネル外観検
査装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a liquid crystal panel appearance inspection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同液晶パネル外観検査装置の液晶パネルに対
する上部リング照明灯とCCDカメラの配置を示す説明
図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an arrangement of an upper ring illumination lamp and a CCD camera with respect to a liquid crystal panel of the liquid crystal panel visual inspection device.

【図3】 図2のCCDカメラが表面傷、欠け、割れを
取り込んだ画像の説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an image in which the CCD camera of FIG. 2 captures surface scratches, chips, and cracks.

【図4】 図2のCCDカメラが表面傷、欠け、割れを
検出できる原理を示す模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing the principle by which the CCD camera of FIG. 2 can detect surface scratches, chips, and cracks.

【図5】 同液晶パネル外観検査装置の液晶パネルに対
する中間リング照明灯とCCDカメラの配置を示す説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing an arrangement of an intermediate ring illumination lamp and a CCD camera with respect to a liquid crystal panel of the liquid crystal panel visual inspection device.

【図6】 図5のCCDカメラが端面外形形状と端面欠
け、割れを取り込んだ画像の説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of an image in which the CCD camera of FIG. 5 captures the outer shape of the end surface and the chipping and cracking of the end surface.

【図7】 図5のCCDカメラが端面外形形状と端面欠
け、割れを検出できる原理を示す模式図である。
FIG. 7 is a schematic diagram showing the principle by which the CCD camera of FIG. 5 can detect the outer shape of the end face and the chipping and cracking of the end face.

【図8】 同液晶パネル外観検査装置の液晶パネルに対
する下部リング照明灯とCCDカメラの配置を示す説明
図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing an arrangement of a lower ring illumination lamp and a CCD camera with respect to a liquid crystal panel of the liquid crystal panel visual inspection device.

【図9】 図8のCCDカメラが端面欠け、割れを取り
込んだ画像の説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of an image in which the CCD camera of FIG. 8 captures an end face chipping and a crack.

【図10】 図8のCCDカメラが端面欠け、割れを検
出できる原理を示す模式図である。
10 is a schematic diagram showing the principle by which the CCD camera of FIG. 8 can detect chipping and cracking on the end face.

【図11】 同液晶パネル外観検査装置の動作を示すフ
ローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart showing an operation of the liquid crystal panel visual inspection device.

【図12】 同液晶パネル外観検査装置の端面欠け、割
れを検出する画像処理の説明図である。
FIG. 12 is an explanatory diagram of image processing for detecting chipping and cracking of an end face of the liquid crystal panel visual inspection apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・液晶パネル、2・・・パネル支持板、3・・・
上部リング照明灯、4・・・上部点灯装置、5・・・中
間リング照明灯、6・・・中間点灯装置、7・・・下部
リング照明灯、8・・・下部点灯装置、10・・・CC
Dカメラ(撮像手段)、11・・・画像処理装置
1 ... Liquid crystal panel, 2 ... Panel support plate, 3 ...
Upper ring illumination light, 4 ... upper lighting device, 5 ... intermediate ring illumination light, 6 ... intermediate lighting device, 7 ... lower ring illumination light, 8 ... lower lighting device, 10 ...・ CC
D camera (imaging means), 11 ... Image processing device

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液晶パネルの外形より大きい口径のリン
グ照明灯を該液晶パネルの上部に配置すると共に、該液
晶パネルの直上に撮像手段を配置する工程と、 点灯させたリング照明灯の照明光を斜め上方から液晶パ
ネルの表面に向けて照射し、照明光により照射された液
晶パネルの表面の反射光を撮像手段で撮像する工程と、 画像処理装置が撮像手段により撮像された画像を取り込
んで2値化し、2値化した画像中に現れた白画像の有無
から液晶パネルの表面の傷、欠け、割れを検出する工程
と、 を含むことを特徴とする液晶パネル外観検査方法。
1. A step of arranging a ring illuminating lamp having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel on the upper part of the liquid crystal panel, and arranging an image pickup means directly on the liquid crystal panel, and illuminating light of the lit ring illuminating lamp. Illuminating the surface of the liquid crystal panel obliquely from above, and capturing the reflected light of the surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light with the image capturing means, and the image processing device capturing the image captured by the image capturing means. A method for inspecting the appearance of a liquid crystal panel, which comprises: binarizing, and detecting a flaw, chip, or crack on the surface of the liquid crystal panel based on the presence or absence of a white image appearing in the binarized image.
【請求項2】 前記白画像の形状から液晶パネルの表面
の傷、欠け又は割れの判別を行うことを特徴とする請求
項1記載の液晶パネル外観検査方法。
2. The liquid crystal panel appearance inspection method according to claim 1, wherein the surface of the liquid crystal panel is discriminated from scratches, cracks, or cracks based on the shape of the white image.
【請求項3】 前記白画像の大きさから液晶パネルの表
面の傷、欠け又は割れの大きさを判定することを特徴と
する請求項1記載の液晶パネル外観検査方法。
3. The liquid crystal panel appearance inspection method according to claim 1, wherein the size of the scratch, chip or crack on the surface of the liquid crystal panel is determined from the size of the white image.
【請求項4】 液晶パネルの外形より大きい口径のリン
グ照明灯を該液晶パネルの外周に配置すると共に、該液
晶パネルの直上に撮像手段を配置する工程と、 点灯させたリング照明灯の照明光を液晶パネルの端面に
向けて照射し、照明光により照射された液晶パネルの側
面の反射光を撮像手段で撮像する工程と、 画像処理装置が撮像手段で撮像された画像を取り込んで
2値化し、画像中に現れた枠状の白画像から液晶パネル
の外形形状を検出し、それ以外の白画像の有無から液晶
パネルの端面の欠け、割れを検出する工程と、 を含むことを特徴とする液晶パネル外観検査方法。
4. A step of arranging a ring illuminating lamp having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel on the outer periphery of the liquid crystal panel, and arranging an image pickup means directly above the liquid crystal panel, and illumination light of the lit ring illuminating lamp. Of the reflected light on the side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light with the image capturing means, and the image processing device captures the image captured by the image capturing means and binarizes it. , A step of detecting the outer shape of the liquid crystal panel from the frame-shaped white image appearing in the image and detecting the chipping or cracking of the end face of the liquid crystal panel from the presence or absence of other white images. LCD panel appearance inspection method.
【請求項5】 前記枠状以外の白画像の形状から液晶パ
ネルの端面の欠け又は割れの判別を行うことを特徴とす
る請求項4記載の液晶パネル外観検査方法。
5. The method for inspecting the appearance of a liquid crystal panel according to claim 4, wherein the end face of the liquid crystal panel is checked for cracks or cracks based on the shape of the white image other than the frame shape.
【請求項6】 前記枠状以外の白画像の大きさから液晶
パネルの端面の欠け又は割れの大きさを判定することを
特徴とする請求項4記載の液晶パネル外観検査方法。
6. The liquid crystal panel appearance inspection method according to claim 4, wherein the size of the chip or crack on the end face of the liquid crystal panel is determined from the size of the white image other than the frame shape.
【請求項7】 液晶パネルの外形より大きい口径のリン
グ照明灯を該液晶パネルの下部に配置すると共に、該液
晶パネルの直上に撮像手段を配置する工程と、 点灯させたリング照明灯の照明光を斜め下方から液晶パ
ネルの端面に向けて照射し、照明光により照射された液
晶パネルの側面下部の反射光を撮像手段で撮像する工程
と、 画像処理装置が撮像手段により撮像された画像を取り込
んで2値化し、2値化した画像中に現れた白画像の有無
から液晶パネルの下端縁の欠け、割れを検出する工程
と、 を含むことを特徴とする液晶パネル外観検査方法。
7. A step of arranging a ring illuminating lamp having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel at the lower part of the liquid crystal panel and arranging an image pickup means directly above the liquid crystal panel, and illuminating light of the lit ring illuminating lamp. Irradiating the end face of the liquid crystal panel from diagonally below and capturing the reflected light of the lower side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light with the image capturing means, and the image processing device capturing the image captured by the image capturing means. And a step of detecting a crack or a crack at the lower edge of the liquid crystal panel based on the presence or absence of a white image appearing in the binarized image.
【請求項8】 前記白画像の形状から液晶パネルの下端
縁の欠け又は割れの判別を行うことを特徴とする請求項
7記載の液晶パネル外観検査方法。
8. The method for inspecting the appearance of a liquid crystal panel according to claim 7, wherein the shape or the shape of the white image is used to determine whether the lower edge of the liquid crystal panel is chipped or broken.
【請求項9】 前記白画像の大きさから液晶パネルの下
端縁の欠け又は割れの大きさを判定することを特徴とす
る請求項7記載の液晶パネル外観検査方法。
9. The liquid crystal panel appearance inspection method according to claim 7, wherein the size of the chip or crack at the lower edge of the liquid crystal panel is determined from the size of the white image.
【請求項10】 前記リング照明灯は多数のLEDをリ
ング状に複数段配置し、リング中心に向けて照射するよ
うに構成されていることを特徴とする請求項1、4又は
7のいずれかに記載の液晶パネル外観検査方法。
10. The ring illumination lamp is configured by arranging a large number of LEDs in a plurality of stages in a ring shape so as to irradiate toward the center of the ring. Liquid crystal panel appearance inspection method described in.
【請求項11】 前記撮像手段はCCDカメラであるこ
とを特徴とする請求項1、4又は7のいずれかに記載の
液晶パネル外観検査方法。
11. The liquid crystal panel appearance inspection method according to claim 1, wherein the image pickup means is a CCD camera.
【請求項12】 液晶パネルが設置された透明なパネル
支持基板と、 液晶パネルの外形より大きい口径で、該液晶パネルの上
部に配置されてリング中心で且つ液晶パネルの表面に向
けて照明光を照射する上部リング照明灯と、 上部リング照明灯を点灯させる上部点灯装置と、 液晶パネルの外形より大きい口径で、該液晶パネルの外
周に配置されてリング中心で且つ液晶パネルの端面に向
けて照明光を照射する中間リング照明灯と、 中間リング照明灯を点灯させる中間点灯装置と、 液晶パネルの外形より大きい口径で、該液晶パネルの下
部に配置されてリング中心で且つ液晶パネルの端面に向
けて照明光を照射する下部リング照明灯と、 下部リング照明灯を点灯させる下部点灯装置と、 液晶パネルの直上に配置された撮像手段と、 上部点灯装置、中間点灯装置及び下部点灯装置を制御し
て上部リング照明灯、中間リング照明灯及び下部リング
照明灯をそれぞれ点灯させ、点灯した上部リング照明灯
の照明光により照射された液晶パネルの表面の反射光を
撮像手段が撮像した画像を取り込んで2値化し、画像中
に現れた白画像の有無から液晶パネルの表面の傷、欠
け、割れを検出し、点灯した中間リング照明灯の照明光
により照射された液晶パネルの側面の反射光を撮像手段
が撮像した画像及び点灯した下部リング照明灯の照明光
により照射された液晶パネルの側面下部の反射光を撮像
手段が撮像した画像をそれぞれ取り込んで2値化し、こ
れら2値化した画像を重ね合わせた画像中に現れた枠状
の白画像から液晶パネルの外形形状を検出すると共に枠
状以外の白画像の有無から液晶パネルの端面又は下端縁
の欠け、割れを検出する画像処理装置と、 を備えたことを特徴とする液晶パネル外観検査装置。
12. A transparent panel support substrate on which a liquid crystal panel is installed, and an illuminating light having a diameter larger than the outer shape of the liquid crystal panel and arranged at the upper part of the liquid crystal panel at the center of the ring and toward the surface of the liquid crystal panel. An upper ring illuminating lamp for illuminating, an upper lighting device for illuminating the upper ring illuminating lamp, and a caliber larger than the outer diameter of the liquid crystal panel, which is arranged on the outer periphery of the liquid crystal panel and illuminates toward the center of the ring and the end face of the liquid crystal panel. An intermediate ring illumination lamp that emits light, an intermediate lighting device that lights the intermediate ring illumination lamp, and an aperture that is larger than the outer shape of the liquid crystal panel, and that is placed at the bottom of the liquid crystal panel and is directed toward the end face of the liquid crystal panel at the center of the ring. Lower ring illumination lamp that illuminates the illumination light, a lower lighting device that lights the lower ring illumination lamp, an image pickup unit arranged directly above the liquid crystal panel, and an upper lighting The upper ring illumination lamp, the middle ring illumination lamp, and the lower ring illumination lamp by controlling the lighting unit, the intermediate lighting apparatus, and the lower lighting apparatus, and the surface of the liquid crystal panel irradiated by the illumination light of the illuminated upper ring illumination lamp. The reflected light is captured by the image capturing means and binarized, and the scratches, chips, and cracks on the surface of the liquid crystal panel are detected from the presence or absence of a white image appearing in the image, and the illumination light of the lit intermediate ring illumination lamp is used. The image captured by the imaging means is the reflected light from the side surface of the illuminated liquid crystal panel and the image captured by the imaging means is the reflected light from the lower side surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light of the lit lower ring illumination lamp. The outer shape of the liquid crystal panel is detected from the frame-shaped white image appearing in the binarized and superposed images of these binarized images, and liquid is detected from the presence or absence of the non-frame-shaped white image. Chipping of the end face or lower edge of the panel, the liquid crystal panel appearance inspection apparatus characterized by comprising an image processing apparatus for detecting cracks, the.
【請求項13】 前記上部リング照明灯、中間リング照
明灯及び下部リング照明灯のいずれも、多数のLEDを
リング状に複数段配置し、リング中心に向けて照射する
ように構成されていることを特徴とする請求項12記載
の液晶パネル外観検査装置。
13. The upper ring illuminating lamp, the intermediate ring illuminating lamp, and the lower ring illuminating lamp each have a large number of LEDs arranged in a plurality of stages in a ring shape and irradiate toward the center of the ring. 13. The liquid crystal panel appearance inspection device according to claim 12.
【請求項14】 前記撮像手段はCCDカメラであるこ
とを特徴とする請求項12記載の液晶パネル外観検査装
置。
14. The liquid crystal panel visual inspection apparatus according to claim 12, wherein the image pickup means is a CCD camera.
【請求項15】 モニタを備え、前記画像処理装置は該
モニタに前記撮像手段が撮像した画像の2値化した画像
を表示させることを特徴とする請求項12記載の液晶パ
ネル外観検査装置。
15. The liquid crystal panel appearance inspection device according to claim 12, further comprising a monitor, wherein the image processing device displays a binarized image of the image captured by the imaging means on the monitor.
【請求項16】 前画像処理装置は、前記上部リング照
明灯の照明光により表面が照射された液晶パネルの画像
中に現れた白画像の形状から液晶パネルの表面の傷、欠
け又は割れの判別を行い、該白画像の大きさから液晶パ
ネルの表面の傷、欠け又は割れの大きさを判定すること
を特徴とする請求項12記載の液晶パネル外観検査装
置。
16. The pre-image processing apparatus determines a scratch, chip, or crack on the surface of the liquid crystal panel from the shape of a white image appearing in the image of the liquid crystal panel whose surface is illuminated by the illumination light of the upper ring illumination lamp. 13. The liquid crystal panel appearance inspection apparatus according to claim 12, wherein the size of the scratch, chip or crack on the surface of the liquid crystal panel is determined from the size of the white image.
【請求項17】 前画像処理装置は、前記中間リング照
明灯の照明光により照射された液晶パネルの表面からの
反射光の画像及び前記下部リング照明灯の照明光により
端面が照射された液晶パネルの画像とを重ね合わせた画
像中に現れた枠状以外の白画像の形状から液晶パネルの
端面又は下端縁の欠け又は割れの判別を行い、該枠状以
外の白画像の大きさから液晶パネルの端面又は下端縁の
欠け又は割れの大きさを判定することを特徴とする請求
項12記載の液晶パネル外観検査装置。
17. The pre-image processing device, wherein the image of reflected light from the surface of the liquid crystal panel illuminated by the illumination light of the intermediate ring illumination lamp and the liquid crystal panel whose end face is illuminated by the illumination light of the lower ring illumination lamp. From the shape of the white image other than the frame-shaped image appearing in the image superposed with the image of No. 1, the liquid crystal panel is determined from the size of the white image other than the frame-shaped, by determining the lack or crack of the end face or the lower edge of the liquid crystal panel. 13. The liquid crystal panel appearance inspecting apparatus according to claim 12, wherein the size of the chipping or cracking of the end face or the bottom edge of the liquid crystal panel is determined.
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