JP2003139735A - 水分測定装置 - Google Patents
水分測定装置Info
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Abstract
の検出レンジを変更することができ、広汎な試料を対象
として、広汎なレンジで測定することのできる、水分測
定装置を提供すること。 【解決手段】 外側電極8と所定の間隔を隔てて対向配
置される内側電極14を、上側ガード電極13および下
側ガード電極15の間において、ロング内側電極14
a、または、ショート内側電極14bおよび中側ガード
電極45を選択的に取り付けることにより構成する。こ
れによって、水分測定装置1の検出レンジを、機械的に
変更することができ、低コストで、広汎な試料を対象と
して広汎なレンジで測定することができる。
Description
しくは、誘電体中の水分を測定するための水分測定装置
に関する。
しては、カールフィッシャー法などの化学的測定法、重
量減量法などの物理的測定法、誘電率分析法などの電気
的測定法などが知られている。
大きいことに着目して、試料である誘電体を対向電極間
に配置して、その時の静電容量の変化を電気的方法によ
って測定することで、その誘電体の水分含量を測定する
ものであり、たとえば、粉体や粒体などからなる工業材
料に含まれる水分を測定するために、広く用いられてい
る。
水分測定装置において、たとえば、導電性物質を含む試
料を測定する場合と、含まない試料を測定する場合とで
は、対向電極間に流れる電流値が大幅に異なるため、1
つの水分測定装置の検出レンジで対応することができな
い。そのため、従来では、試料の種類や要求精度などに
応じて、適宜、適切な検出レンジを有する水分測定装置
を用いて測定するようにしている。
々に水分測定装置を用意すると、コスト高となり、ま
た、その度毎に、水分測定装置の全体を設置交換しなけ
ればならず、作業が煩雑となる。
ものであり、その目的とするところは、簡易な構成およ
び作業により、水分測定装置の検出レンジを変更するこ
とができ、広汎な試料を対象として、広汎なレンジで測
定することのできる、水分測定装置を提供することにあ
る。
め、請求項1に記載の発明は、所定の間隔を隔てて対向
配置される少なくとも2つの検知電極を有し、前記検知
電極間に試料を存在させて、電気的特性を測定すること
により、水分を測定する水分測定装置において、少なく
とも1つの前記検知電極は、その電極面の面積が変更可
能に構成されていることを特徴としている。
の検知電極の電極面の面積を変更することにより、その
水分測定装置の検出レンジを変更することができる。そ
のため、たとえば、試料や要求精度などが異なる毎に、
それに対応した水分測定装置を用意せずとも、1つの水
分測定装置を用いて、それぞれの試料や要求精度に対応
した検出レンジで測定することができる。その結果、低
コストで、広汎な試料を対象として広汎なレンジで測定
することができる。
に記載の発明において、少なくとも1つの前記検知電極
は、交換可能に構成されていることを特徴としている。
ることで、簡易に電極面の面積を変更することができ
る。そのため、より一層、簡易な構成および作業によっ
て、電極面の面積を変更して、水分測定装置の検出レン
ジを変更することができる。
または2に記載の発明において、少なくとも1つの前記
検知電極の両側に、ガード電極がそれぞれ設けられてお
り、各前記ガード電極の間において、前記検知電極、ま
たは、前記検知電極およびスペーサ部材が着脱自在に取
り付けられていることを特徴としている。
間において、電極面の面積が異なる検知電極を、必要に
よりスペーサ部材とともに取り付けることができるの
で、各ガード電極の配置を変更せずとも、検知電極およ
びスペーサ部材の組み合わせを適宜選択することによっ
て、任意に電極の電極面の面積を変更できるので、より
一層、簡易な構成によって、低コストで、広汎な試料を
対象として広汎なレンジで測定することができる。
ないし3のいずれかに記載の発明において、前記検知電
極間に試料を連続的に通過させて、試料の水分を連続的
に測定することを特徴としている。
過する試料の水分を連続的に測定することができる。そ
のため、低コストで、広汎な試料を対象として広汎なレ
ンジで、試料の水分を連続的に測定することができ、工
業材料の水分を汎用的に測定することができる。
一実施形態を示す、概略構成図である。図1において、
この水分測定装置1は、たとえば、樹脂ペレットなどの
粉粒体の乾燥水分を連続的に測定するために用いられ、
試料(粉粒体)の電気的特性および温度を連続的に検知
するセンサ部2と、センサ部2によって検知された検知
信号から試料の水分を連続的に算出するコントロールユ
ニット3とを備えている。
に、外側筒部4、内側筒部5、上側蓋部材6および熱電
対7を備えている。
状の金属からなる外側電極8と、大径円筒状の金属から
なるカバー部材9と、所定の厚みを有する円筒状の断熱
材10と、略十字板状の金属からなる下側支持部材11
とを備えている。外側電極8は、カバー部材9の内側に
配置されており、外側電極8およびカバー部材9によっ
て2重円筒形状とされた状態で、外側電極8とカバー部
材9との間に断熱材10が介装されている。そして、こ
の断熱材10に外側電極8とカバー部材9とが固着され
るとともに、外側電極8の下端部に、下側支持部材11
が溶接固定されることにより、これらが一体として形成
されている。なお、下側支持部材11には、十字状の交
差部分に後述する下側ボルト20を螺着するためのボル
ト固定孔12が形成されている。
配置され、ガード電極としての上側ガード電極13、検
知電極としての内側電極14、ガード電極としての下側
ガード電極15および支持筒16を備えている。
側に向かって縮径する円錐状をなし、外側電極8の下部
と所定の間隔を隔てて対向するように配置されている。
この下側ガード電極15には、その中央部に凹部17が
形成されており、この凹部17に、絶縁体からなるブッ
シュ19を介して下側ボルト20を受け入れて、その下
側ボルト20をボルト固定孔12に螺着固定させること
によって、下側支持部材11に固定されている。
ガード電極15の中心部までを径方向に貫通する配線管
18が設けられている。この配線管18の外側端部は、
絶縁体からなるブッシュ26を介して外側電極8に支持
されるとともに、内側端部は、凹部17内に開口形成さ
れている。
4より小径の円筒状をなし、下側ガード電極15から立
設するように設けられている。この支持筒16の上端部
には、上側に向かって突出する支持ボルト21が固着さ
れている。
8よりも小径であって、上側ガード電極13の下端部お
よび下側ガード電極15の上端部と同径に形成される円
筒状をなし、外側電極8の中部および支持筒16と所定
の間隔を隔てて対向するように配置され、リング板状の
絶縁体からなる下側スペーサ23を介して、下側ガード
電極15上に載置されている。
側に向かって縮径する円錐状をなし、外側電極8の上部
と所定の間隔を隔てて対向するように配置されている。
この上側ガード電極13の軸心部には、後述する上側ボ
ルト30および支持ボルト21を螺着させるための螺着
孔22が貫通形成されている。この上側ガード電極13
は、リング板状の絶縁体からなる上側スペーサ24を介
して、内側電極14上に載置されている。
5の上に、下側スペーサ23、内側電極14および上側
スペーサ24を順次載置した状態で、支持筒16の支持
ボルト21に上側ガード電極13を螺着させることによ
り、上側ガード電極13と下側ガード電極15との間
で、下側スペーサ23および上側スペーサ24を介し
て、内側電極14を押圧挟持することによって、組み付
けられている。
に、プレート状をなし、外側筒部4と対向する円環部分
27と、円環部分27の内側に配置され、内側筒部5と
対向する円板部分28と、円環部分27と円板部分28
とを連結する十字状の連結部分29とが一体的に形成さ
れており、連結部分29における十字状の交差部分に
は、後述する上側ボルト30を螺着するためのボルト固
定孔31が形成されている。また、円環部分27には、
その周方向に沿って、このセンサ部2を、試料を処理す
るための処理装置などに取り付けるためのボルト孔25
が複数形成されている。
は、外側筒部4および内側筒部5の上側を蓋う状態で、
ボルト固定孔31に、絶縁体からなるブッシュ32を介
して、上側ボルト30を挿通し、その上側ボルト30を
上側ガード電極13の螺着孔22に螺着させることによ
って、組み付けられている。
図3にも示すように、外側筒部4の側方から、カバー部
材9、断熱材10および外側電極8を介して、その先端
部分(温度検知部分)が外側電極8と内側電極14との
間に配置されるように挿入されており、ボルト33によ
って、カバー部材9の上端部に固定されている。
ントロールユニット3からのシールド線34が配線され
ている。すなわち、このシールド線34は、3つに分岐
可能な同軸ケーブルなどからなり、第1接続線34aが
カバー部材9に接続されるとともに、残りが接続管25
内に挿通され、支持筒16内において第2接続線34b
と第3接続線34cとに分岐して、第2接続線34b
が、支持筒16に設けられる端子35に接続されるとと
もに、第3接続線34cが、内側電極14に設けられる
端子36に接続されている。なお、カバー部材9と外側
電極8とは、たとえば、上側蓋部材6などを介して導通
されており、また、支持筒16と上側ガード電極13お
よび下側ガード電極15とも、直接または支持ボルト2
1などを介して導通されている。ちなみに、外側電極
8、内側電極14、上側ガード電極13および下側ガー
ド電極15は、それぞれ、所定の間隔やスペーサあるい
はブッシュなどによって絶縁されている。
燥ホッパなどの乾燥・加熱装置などの処理装置の内部に
装着され、所定の間隔を隔てて対向配置される外側電極
8の内側の電極面と内側電極14の外側の電極面との間
を、図1に示す矢印方向に沿って連続的に通過(流下)
する粉粒体などの試料の電気的特性を連続的に検知す
る。また、このセンサ部2では、熱電対7によって、測
定時における雰囲気温度も連続的に検知している。
うに、変換器部37、データ処理部38および表示部3
9を備えている。
1、検波回路42、検波用A/D変換器43および温度
用A/D変換器44を備えている。
極8および内側電極14とともに、閉回路を形成してい
る。すなわち、交流電源40、電流計41、内側電極1
4および外側電極8が、接続線によって順次接続される
ことにより、クローズドラインによる閉回路が形成され
ている。
内側電極14とが上記した第3接続線34cによって接
続され、交流電源40と外側電極8とがカバー部材9を
介して上記した第1接続線34aによって接続されてい
る。また、交流電源40と電流計41との間の接続線か
らは、分岐接続線が分岐されており、この分岐接続線
が、上記した第2接続線34bとして、支持筒16を介
して上側ガード電極13および下側ガード電極15にそ
れぞれ接続されている。
よび電流計41がそれぞれ接続されており、さらに、検
波用A/D変換器43には、この検波回路42が接続さ
れている。また、熱電対9には、温度用A/D変換器4
4が接続されている。
って印加される電流値が、外側電極8および内側電極1
4の間に存在する試料によって変化するので、その電流
値の変化を電流計41で検出し、検波回路42によって
特定の波形として検知する。ここで検知された波形にお
いて、位相のずれの変化成分が誘電損失に対応し、振幅
の大きさの変化成分が静電容量に対応する。そして、こ
の検波回路42によって検知された波形が、検波用A/
D変換器43によってデジタル信号に変換された後、次
に述べるデータ処理部4に送信される。また、熱電対9
によって検知された温度も、温度用A/D変換器44に
よってデジタル信号に変換された後、次に述べるデータ
処理部4に送信される。
れており、検波用A/D変換器43、温度用A/D変換
器44および表示部5が接続されている。このデータ処
理部4では、検波用A/D変換器43から送信されてく
る電流の測定値(誘電損失および静電容量)と、温度用
A/D変換器44から送信されてくる温度値(温度)と
から、公知の演算方法によって水分含量を算出する。誘
電損失、静電容量および温度から水分含量を算出する方
法は、たとえば、特公平5−70786号公報に記載さ
れる方法など、適宜公知の方法に準拠すればよい。そし
て、データ処理部4において算出された水分含量が、L
EDなどからなる表示部5において表示される。
たように、たとえば、センサ部2を、乾燥ホッパなどの
乾燥・加熱装置など処理装置の内部に装着して、外側電
極8と内側電極14との対向電極間を連続的に通過する
粉粒体などの微量な水分を、連続的に精度よく測定する
ことができる。
が、導電性物質が含まれていない試料を対象として設計
されている場合において、たとえば、カーボンなどの導
電性粒子が含まれている粉粒体など、導電性物質が含ま
れている試料を、この水分測定装置1によって測定する
と、対向電極間に流れる電流値の大幅に変化に起因し
て、たとえ電気的に調整してもレンジオーバーとなる場
合がある。
ような試料でも測定できるように、機械的に、外側電極
8の電極面および内側電極14の電極面の対向面積を変
更すべく、内側電極14を交換可能としている。
図2に対応する正断面図が示されている。
極15の上に、下側スペーサ23を介して、上記した内
側電極14の約半分の軸方向長さを有する円筒状の金属
からなるスペーサ部材としてのガード電極である中側ガ
ード電極45が載置され、その上に、リング板状の絶縁
体からなるスペーサ部材としての中側スペーサ46を介
して、上記した内側電極14の約半分の軸方向長さの内
側電極14(以下、互いに区別する場合には、図2に示
す内側電極14をロング内側電極14a、図5に示す内
側電極14をショート内側電極14bとする。)が載置
され、その上に、上側スペーサ24を介して上側ガード
電極13が載置されている。そして、これらは、上記と
同様に、支持筒16の支持ボルト21に上側ガード電極
13を螺着させることにより、上側ガード電極13と下
側ガード電極15との間で、下側スペーサ23、中側ス
ペーサ46および上側スペーサ24を介して、中側ガー
ド電極45およびショート内側電極14bを押圧挟持す
ることによって、組み付けられている。
らは、さらに第2接続線34bが引き出されて、これが
中側ガード電極45に設けられる端子47に接続されて
いる。
極14aからショート内側電極14bに変更すれば、外
側電極8と内側電極14との電極面の対向面積が、約半
分となるので、上記したような導電性物質が含まれてい
る試料を測定しても、対向電極間に流れる電流値を大幅
に減少させることができ、この水分測定装置1の検出レ
ンジ内において精度よく測定することができる。
について、たとえば、図2に示すロング内側電極14a
が装着されている状態から、図5に示すショート内側電
極14bに交換する場合を例示して説明する。
極14bに交換するには、図2において、まず、上側ボ
ルト30を取り外して、上側蓋部材6を取り外す。そう
すると、外側筒部4の内側に内側筒部5が露出するの
で、次に、上側ガード電極13を支持ボルト21から螺
退させることにより取り外す。そうすると、上側スペー
サ24、ロング内側電極14aおよび下側スペーサ23
は、載置されているのみであるので、端子36から第3
接続線34cを外せば、上側スペーサ24およびロング
内側電極14aを容易に取り外すことができる。なお、
下側スペーサ23はそのまま残しておくようにする。
ード電極45、中側スペーサ46、ショート内側電極1
4bおよび上側スペーサ24を順次載置した後、支持ボ
ルト21に上側ガード電極13を螺着させて締め込むこ
とにより、上側ガード電極13と下側ガード電極15と
の間で、下側スペーサ23、中側スペーサ46および上
側スペーサ24を介して、中側ガード電極45およびシ
ョート内側電極14bを押圧挟持することによって、組
み付ける。その後、端子36に第3接続線34cを接続
し、端子35から、さらに第2接続線34bを引き出し
て端子47に接続した後、上側蓋部材6を外側筒部4お
よび内側筒部3の上に載置して、これを、上側ボルト3
0を螺着孔22に螺着させることにより固定すれば、交
換作業を終了することができる。
が装着されている状態から、図2に示すロング内側電極
14aに交換する場合には、上記した交換手順を逆に作
業すればよい。
ショート内側電極14bとロング内側電極14aとを交
換可能に構成され、内側電極14の電極面の面積を変更
することができるので、この水分測定装置1の検出レン
ジを、機械的に変更することができる。そのため、上記
したように、たとえば、導電性物質が含まれていない試
料および導電性物質が含まれている試料を、適宜、ロン
グ内側電極14aおよびショート内側電極14bを交換
することにより、この1つの水分測定装置1において、
それぞれの試料に対応した検出レンジで測定することが
できる。その結果、これらを測定するために、それらに
個々に対応した水分測定装置1を用意しなくてもよく、
低コストで、広汎な試料を対象として広汎なレンジで、
試料の水分を連続的に測定することができる。そのた
め、工業材料の水分を汎用的に測定することができる。
14ごと交換することで、簡易に電極面の面積を変更し
ているので、より一層、簡易な構成および作業によっ
て、電極面の面積を変更して、水分測定装置1の検出レ
ンジを変更することができる。
ガード電極13および下側ガード電極15が固定される
一方で、これらの間において、ロング内側電極14a、
または、ショート内側電極14bおよび中側ガード電極
45を選択的に取り付けることで、上側ガード電極13
および下側ガード電極15の配置を変更せずとも、任意
に内側電極14の電極面の面積を変更できるので、より
一層、簡易な構成によって、低コストで、広汎な試料を
対象として広汎なレンジで測定することができる。
側電極14aと、そのロング内側電極14aの約半分の
電極面を有するショート内側電極14bとを交換する場
合について説明したが、交換に用いられる内側電極14
の電極面の面積は、適宜決定され、たとえば、ロング内
側電極14aの軸方向長さに対して、1/3の内側電極
14および2/3の中側ガード電極45と、2/3の内
側電極14および1/3の中側ガード電極45とを用意
して、3段階に切り替えて交換可能とすることもでき
る。また、内側電極14および中側ガード電極45、お
よび、それに対応する中側スペーサ46を複数設けても
よい。
ペーサ46のみを用いてもよく、さらには、外側電極8
の電極面の面積を可変に構成してもよい。
発明によれば、水分測定装置の検出レンジを変更するこ
とができるので、低コストで、広汎な試料を対象として
広汎なレンジで測定することができる。
層、簡易な構成および作業によって、電極面の面積を変
更して、水分測定装置の検出レンジを変更することがで
きる。
層、簡易な構成によって、低コストで、広汎な試料を対
象として広汎なレンジで測定することができる。
で、広汎な試料を対象として広汎なレンジで、試料の水
分を連続的に測定することができ、工業材料の水分を汎
用的に測定することができる。
略構成図である。
である。
である。
ある。
形態の正断面図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 所定の間隔を隔てて対向配置される少な
くとも2つの検知電極を有し、前記検知電極間に試料を
存在させて、電気的特性を測定することにより、水分を
測定する水分測定装置において、 少なくとも1つの前記検知電極は、その電極面の面積が
変更可能に構成されていることを特徴とする、水分測定
装置。 - 【請求項2】 少なくとも1つの前記検知電極は、交換
可能に構成されていることを特徴とする、請求項1に記
載の水分測定装置。 - 【請求項3】 少なくとも1つの前記検知電極の両側
に、ガード電極がそれぞれ設けられており、 各前記ガード電極の間において、前記検知電極、また
は、前記検知電極およびスペーサ部材が着脱自在に取り
付けられていることを特徴とする、請求項1または2に
記載の水分測定装置。 - 【請求項4】 前記検知電極間に試料を連続的に通過さ
せて、試料の水分を連続的に測定することを特徴とす
る、請求項1ないし3のいずれかに記載の水分測定装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001339940A JP3717444B2 (ja) | 2001-11-05 | 2001-11-05 | 水分測定装置 |
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JP3717444B2 JP3717444B2 (ja) | 2005-11-16 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012118030A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Maruboshi Su Kk | 誘電特性測定用耐圧容器センサー及びその測定条件変更方法 |
-
2001
- 2001-11-05 JP JP2001339940A patent/JP3717444B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2012118030A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Maruboshi Su Kk | 誘電特性測定用耐圧容器センサー及びその測定条件変更方法 |
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