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JP2003124595A - 電子回路ユニット - Google Patents

電子回路ユニット

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Publication number
JP2003124595A
JP2003124595A JP2001314243A JP2001314243A JP2003124595A JP 2003124595 A JP2003124595 A JP 2003124595A JP 2001314243 A JP2001314243 A JP 2001314243A JP 2001314243 A JP2001314243 A JP 2001314243A JP 2003124595 A JP2003124595 A JP 2003124595A
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JP
Japan
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circuit unit
electronic circuit
insulating substrate
insulating
insulating substrates
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2001314243A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshitaka Hirose
欣孝 廣瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Alps Electric Co Ltd filed Critical Alps Electric Co Ltd
Priority to JP2001314243A priority Critical patent/JP2003124595A/ja
Priority to TW091122214A priority patent/TW595292B/zh
Priority to US10/267,720 priority patent/US6759744B2/en
Priority to EP02257017A priority patent/EP1303171B1/en
Priority to KR1020020061659A priority patent/KR20030030938A/ko
Publication of JP2003124595A publication Critical patent/JP2003124595A/ja
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    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
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    • HELECTRICITY
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 横方向に小型化できると共に、電気的な性能
の良好なものを提供する。 【解決手段】 本発明の電子回路ユニットは、配線パタ
ーン2,7がそれぞれの表面に形成された第1,第2の
絶縁基板1,6と、この第1,第2の絶縁基板1,6の
表面において、配線パターン2,7に接続された状態
で、厚膜により形成された受動素子3,8とを備え、第
1,第2の絶縁基板1,6は、上下方向に対向した状態
で配置されたると共に、第1,第2の絶縁基板1,6に
設けられた配線パターン2,7が第1,第2の絶縁基板
1,6間に設けられた金属製のバンプ11を介して接続
されたため、第1,第2の絶縁基板1,6は上下方向に
配置できて、従来に比して、横方向に小さくでき、横方
向に小型の電子回路ユニットを提供できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、携帯電話機の送受
信ユニット等に使用して好適な電子回路ユニットに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の電子回路ユニットである例えば、
送受信ユニットは、配線パターンが施された1枚の絶縁
基板を有し、この絶縁基板上には、チップ抵抗やチップ
コンデンサ等の受動素子と、IC部品からなる能動素子
等が搭載されて、RF回路とベースバンド回路が形成さ
れたものとなっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の電子回路ユニッ
トは、1枚の絶縁基板で構成されているため、横方向に
大型となり、横方向の小型化が図れないという問題があ
る。また、受動素子は、チップ部品が使用されているた
め、電気的な調整が困難で、チップ部品に電気的な精度
にバラツキがある場合、電気的性能や製造工程上の歩留
まりが悪くなるという問題がある。
【0004】そこで、本発明は横方向に小型化できると
共に、電気的な性能の良好な電子回路ユニットを提供す
ることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の第1の解決手段として、配線パターンがそれぞれの表
面に形成された第1,第2の絶縁基板と、この第1,第
2の絶縁基板の表面において、前記配線パターンに接続
された状態で、厚膜、或いは薄膜により形成された受動
素子とを備え、前記第1,第2の絶縁基板は、上下方向
に対向した状態で配置されると共に、前記第1,第2の
絶縁基板に設けられた前記配線パターンが前記第1,第
2の絶縁基板間に設けられた金属製のバンプを介して接
続された構成とした。
【0006】また、第2の解決手段として、前記第1,
第2の絶縁基板のそれぞれには、前記配線パターンに接
続されたIC部品からなる能動素子が配設された構成と
した。また、第3の解決手段として、前記第1,第2の
絶縁基板には、前記受動素子と前記能動素子とを備えた
第1,第2の電気回路が形成された構成とした。
【0007】また、第4の解決手段として、前記第1の
電気回路がRF回路で構成されると共に、前記第2の電
気回路がベースバンド回路で構成された。また、第5の
解決手段として、前記能動素子は、第1,第2の能動素
子を有すると共に、前記第1の能動素子を配置した前記
第1の絶縁基板には孔を設け、前記第2の絶縁基板の表
面に配設された前記第2の能動素子が前記孔内に配置さ
れた構成とした。
【0008】また、第6の解決手段として、前記第1の
能動素子が前記孔を覆うように前記第1の絶縁基板に配
置された構成とした。また、第7の解決手段として、前
記第1,第2の絶縁基板のそれぞれの表面には、前記バ
ンプを位置決めするための凹状の位置決め部が設けられ
た構成とした。
【0009】また、第8の解決手段として、前記位置決
め部は、前記絶縁基板に設けられた貫通孔で形成され、
球状をなした前記バンプが前記位置決め部で位置決めさ
れた構成とした。また、第9の解決手段として、前記位
置決め部は、前記絶縁基板に設けられた円錐状の凹部で
形成され、球状をなした前記バンプが前記位置決め部で
位置決めされた構成とした。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の電子回路ユニットの図面
を説明すると、図1は本発明の電子回路ユニットの第1
実施例に係る斜視図、図2は本発明の電子回路ユニット
の第1実施例に係る側面図、図3は本発明の電子回路ユ
ニットの第2実施例に係る要部断面図、図4は本発明の
電子回路ユニットの第3実施例に係り、バンプの構成を
示す要部拡大断面図、図5は本発明の電子回路ユニット
の第4実施例に係り、バンプの構成を示す要部拡大断面
図である。
【0011】次に、本発明の電子回路ユニットの第1実
施例の構成を図1,図2に基づいて説明すると、絶縁基
板1は、1枚、或いは複数枚が積層されたセラミック基
板等からなり、この絶縁基板1の上下面の表面には、導
電材が印刷等によって厚膜形成された配線パターン2が
設けられている。
【0012】また、この絶縁基板1の上面には、厚膜に
よって形成された抵抗やコンデンサ等からなる受動素子
3が形成されると共に、絶縁基板1の下面にも、厚膜、
或いは薄膜によって形成された抵抗やコンデンサ等から
なる受動素子3が形成されている。そして、受動素子3
である抵抗3aは、配線パターン2に接続された状態
で、抵抗体が絶縁基板1の表面に印刷等して形成される
と共に、受動素子3であるコンデンサ3bは、印刷等に
よって形成された誘電体3cを介して、対向する二つの
電極3dが印刷等によって配線パターン2に接続された
状態で、絶縁基板1の表面に形成されている。
【0013】更に、この絶縁基板1の上面には、半導体
のIC部品からなる第1の能動素子4が配線パターン2
に接続された状態で配置されている。そして、絶縁基板
1の上下面に設けられた配線パターン2は、ここでは図
示しないが、絶縁基板1の適宜箇所に設けられた貫通孔
に充填された接続導体により接続された構成となって、
この絶縁基板1には、RF回路である第1の電気回路5
の少なくとも主要部が形成されている。
【0014】絶縁基板6は、1枚、或いは複数枚が積層
されたセラミック基板等からなり、この絶縁基板6の上
下面の表面には、導電材が印刷等によって厚膜形成され
た配線パターン7が設けられている。
【0015】また、この絶縁基板6の上下面の表面に
は、上記と同様に、厚膜によって形成された抵抗やコン
デンサ等からなる受動素子8が配線パターン7に接続さ
れた状態で形成されている。更に、この絶縁基板6の下
面には、半導体のIC部品からなる第2の能動素子9が
配線パターン7に接続された状態で配置されている。
【0016】そして、絶縁基板6の上下面に設けられた
配線パターン7は、ここでは図示しないが、絶縁基板6
の適宜箇所に設けられた貫通孔に充填された接続導体に
より接続された構成となって、この絶縁基板6には、ベ
ースバンド回路である第2の電気回路10の少なくとも
主要部が形成されている。
【0017】第1,第2の電気回路5,10を形成した
第1,第2の絶縁基板1,6は、第1の絶縁基板1を上
部に位置させて、上下方向に対向した状態で配置すると
共に、第1,第2の絶縁基板1,6間に配置した金属製
のバンプ11を介して、配線パターン2,7間が電気的
に接続されている。このバンプ11は、第1,第2の絶
縁基板1,6間の複数の箇所に配置され、これによっ
て、第1,第2の電気回路5,10が接続されると共
に、第1,第2の絶縁基板1,6が組み合わされて、本
発明の電子回路ユニットが構成されている。
【0018】また、第1,第2の絶縁基板1,6の組合
せに際しては、ぞれそれ個々に電気的な検査が行われ、
この時、厚膜により形成された受動素子3,8が削る等
の方法によって調整され、これによって、それぞれ第
1,第2の電気回路5,10が所望の電気的な性能を有
するように調整された後、第1,第2の絶縁基板1,6
が組み合わされるようになっている。
【0019】なお、受動素子3,8は、厚膜、或いは薄
膜により形成された導電材からなるストリップラインで
も良い。また、能動素子4,9は、両者を第1,第2の
絶縁基板1,6の何れか一方に搭載しても良い。
【0020】また、図3は本発明の電子回路ユニットの
第2実施例を示し、この第2実施例は、第1の絶縁基板
1に孔1aを設け、第2の絶縁基板6の上面に配設され
た第2の能動素子9が孔1a内に位置すると共に、第1
の絶縁基板1の上面に配設された第1の能動素子4が孔
1aを覆うように配置されている。
【0021】更に、第1の絶縁基板1に対して上下方向
に対向した状態で配置された第2の絶縁基板10は、第
1の絶縁基板1より大きく形成されて、一部が第1の絶
縁基板1の端部から突出し、この突出した箇所には、ス
イッチ、或いはフイルター等の電気部品12が配線パタ
ーン7に接続された状態で取り付けられた構成となって
いる。その他の構成は、前記第1実施例と同様の構成を
有し、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を
省略する。
【0022】また、図4は本発明の電子回路ユニットの
第3実施例を示し、この第3実施例は、第1,第2の絶
縁基板1,6の表面において、貫通孔1b、6bからな
る凹状の位置決め部13,14が設けられている。そし
て、この貫通孔1b、6b内には、それぞれの第1,第
2の絶縁基板1,6の上下面に位置する配線パターン
2,7を接続する接続導体15,16が充填されると共
に、球状のバンプ11が位置決め部13,14に位置決
めされた状態で、配線パターン2,7と接続導体15,
16に半田17付けされて、配線パターン2,7が球状
のバンプ11を介して接続された構成となっている。
【0023】また、図5は本発明の電子回路ユニットの
第4実施例を示し、この第4実施例は、第1,第2の絶
縁基板1,6の表面において、円錐状の凹部1c、6c
からなる凹状の位置決め部18,19が設けられてい
る。そして、この凹部1c、6c内には、それぞれの第
1,第2の絶縁基板1,6に設けられた配線パターン
2,7が延出して設けられ、球状のバンプ11が位置決
め部18,19に位置決めされた状態で、配線パターン
2,7に半田20付けされて、配線パターン2,7が球
状のバンプ11を介して接続された構成となっている。
【0024】
【発明の効果】本発明の電子回路ユニットは、配線パタ
ーン2,7がそれぞれの表面に形成された第1,第2の
絶縁基板1,6と、この第1,第2の絶縁基板1,6の
表面において、配線パターン2,7に接続された状態
で、厚膜、或いは薄膜により形成された受動素子3,8
とを備え、第1,第2の絶縁基板1,6は、上下方向に
対向した状態で配置されたると共に、第1,第2の絶縁
基板1,6に設けられた配線パターン2,7が第1,第
2の絶縁基板1,6間に設けられた金属製のバンプ11
を介して接続されたため、第1,第2の絶縁基板1,6
は上下方向に配置できて、従来に比して、横方向に小さ
くでき、横方向に小型の電子回路ユニットを提供でき
る。また、第1,第2の絶縁基板1,6の表面には、厚
膜により形成された受動素子3,8が設けられたため、
受動素子3,8の調整が容易となり、性能の良好な電子
回路ユニットを提供できる。また、第1,第2の絶縁基
板1,6がバンプ11により組み合わされるため、両者
の間隔を近接した状態で配置できて、小型で、組合せ作
業の良好な電子回路ユニットを提供できる。
【0025】また、第1,第2の絶縁基板1,6のそれ
ぞれには、配線パターン2,7に接続されたIC部品か
らなる能動素子4,8が配設されたため、回路の異なる
主要部を別々に形成できて、生産性の良好なものが得ら
れる。
【0026】また、第1,第2の絶縁基板1,6には、
受動素子と能動素子とを備えた第1,第2の電気回路
5,10が形成されたため、回路の異なる主要部を別々
に形成できて、生産性の良好なものが得られる。
【0027】また、第1の電気回路5がRF回路で構成
されると共に、第2の電気回路10がベースバンド回路
で構成されたため、特に、携帯電話機の送受信ユニット
に適用して好適な電子回路ユニットを提供できる。
【0028】また、能動素子は、第1,第2の能動素子
4,9を有すると共に、第1の能動素子4を配置した第
1の絶縁基板1には孔1aを設け、第2の絶縁基板6の
表面に配設された第2の能動素子9が孔1a内に配置さ
れたため、上下方向の高さを小さくできて、小型の電子
回路ユニットを提供できる。
【0029】また、第1の能動素子4が孔1aを覆うよ
うに第1の絶縁基板1に配置されたため、第1の能動素
子4で占める第1の絶縁基板1の表面が少なくできて、
第1の絶縁基板1への部品の配置を大きくできる。
【0030】また、第1,第2の絶縁基板1,6のそれ
ぞれの表面には、バンプ11を位置決めするための凹状
の位置決め部が設けられたため、バンプ11の位置が確
実となり、第1,第2の絶縁基板1,6の組合せと、配
線の確実なものが得られる。
【0031】また、位置決め部13,14は、絶縁基板
1,6に設けられた貫通孔1b、6bで形成され、球状
をなしたバンプ11が位置決め部13,14で位置決め
されたため、その構成が簡単で、且つ、バンプ11の位
置が確実となり、第1,第2の絶縁基板1,6の組合せ
と、配線の確実なものが得られる。
【0032】また、位置決め部18,19は、絶縁基板
1,6に設けられた円錐状の凹部1c、6cで形成さ
れ、球状をなしたバンプ11が位置決め部18,19で
位置決めされたため、その構成が簡単で、且つ、バンプ
11の位置が確実となり、第1,第2の絶縁基板1,6
の組合せと、配線の確実なものが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子回路ユニットの第1実施例に係る
斜視図。
【図2】本発明の電子回路ユニットの第1実施例に係る
側面図。
【図3】本発明の電子回路ユニットの第2実施例に係る
要部断面図。
【図4】本発明の電子回路ユニットの第3実施例に係
り、バンプの構成を示す要部拡大断面図。
【図5】本発明の電子回路ユニットの第4実施例に係
り、バンプの構成を示す要部拡大断面図。
【符号の説明】
1 第1の絶縁基板 1a 孔 1b 貫通孔 1c 凹部 2 配線パターン 3 受動素子 3a 抵抗 3b コンデンサ 3c 誘電体 3d 電極 4 能動素子 5 第1の電気回路 6 第2の絶縁基板 6b 貫通孔 6c 凹部 7 配線パターン 8 受動素子 9 能動素子 10 第2の電気回路 11 バンプ 12 電気部品 13 位置決め部 14 位置決め部 15 接続導体 16 接続導体 17 半田 18 位置決め部 19 位置決め部 20 半田

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 配線パターンがそれぞれの表面に形成さ
    れた第1,第2の絶縁基板と、この第1,第2の絶縁基
    板の表面において、前記配線パターンに接続された状態
    で、厚膜、或いは薄膜により形成された受動素子とを備
    え、前記第1,第2の絶縁基板は、上下方向に対向した
    状態で配置されると共に、前記第1,第2の絶縁基板に
    設けられた前記配線パターンが前記第1,第2の絶縁基
    板間に設けられた金属製のバンプを介して接続されたこ
    とを特徴とする電子回路ユニット。
  2. 【請求項2】 前記第1,第2の絶縁基板のそれぞれに
    は、前記配線パターンに接続されたIC部品からなる能
    動素子が配設されたことを特徴とする請求項1記載の電
    子回路ユニット。
  3. 【請求項3】 前記第1,第2の絶縁基板には、前記受
    動素子と前記能動素子とを備えた第1,第2の電気回路
    が形成されたことを特徴とする請求項2記載の電子回路
    ユニット。
  4. 【請求項4】 前記第1の電気回路がRF回路で構成さ
    れると共に、前記第2の電気回路がベースバンド回路で
    構成されたことを特徴とする請求項3記載の電子回路ユ
    ニット。
  5. 【請求項5】 前記能動素子は、第1,第2の能動素子
    を有すると共に、前記第1の能動素子を配置した前記第
    1の絶縁基板には孔を設け、前記第2の絶縁基板の表面
    に配設された前記第2の能動素子が前記孔内に配置され
    たことを特徴とする請求項2から4の何れかに記載の電
    子回路ユニット。
  6. 【請求項6】 前記第1の能動素子が前記孔を覆うよう
    に前記第1の絶縁基板に配置されたことを特徴とする請
    求項5記載の電子回路ユニット。
  7. 【請求項7】 前記第1,第2の絶縁基板のそれぞれの
    表面には、前記バンプを位置決めするための凹状の位置
    決め部が設けられたことを特徴とする請求項1から6の
    何れかに記載の電子回路ユニット。
  8. 【請求項8】 前記位置決め部は、前記絶縁基板に設け
    られた貫通孔で形成され、球状をなした前記バンプが前
    記位置決め部で位置決めされたことを特徴とする請求項
    7記載の電子回路ユニット。
  9. 【請求項9】 前記位置決め部は、前記絶縁基板に設け
    られた円錐状の凹部で形成され、球状をなした前記バン
    プが前記位置決め部で位置決めされたことを特徴とする
    請求項7記載の電子回路ユニット。
JP2001314243A 2001-10-11 2001-10-11 電子回路ユニット Withdrawn JP2003124595A (ja)

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US10/267,720 US6759744B2 (en) 2001-10-11 2002-10-09 Electronic circuit unit suitable for miniaturization
EP02257017A EP1303171B1 (en) 2001-10-11 2002-10-09 Electronic circuit unit suitable for miniaturization
KR1020020061659A KR20030030938A (ko) 2001-10-11 2002-10-10 전자회로유닛

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