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JP2003121392A - Radiation detector - Google Patents

Radiation detector

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Publication number
JP2003121392A
JP2003121392A JP2001321564A JP2001321564A JP2003121392A JP 2003121392 A JP2003121392 A JP 2003121392A JP 2001321564 A JP2001321564 A JP 2001321564A JP 2001321564 A JP2001321564 A JP 2001321564A JP 2003121392 A JP2003121392 A JP 2003121392A
Authority
JP
Japan
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mask
radiation
ray
slit
rays
Prior art date
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Granted
Application number
JP2001321564A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3847134B2 (en
Inventor
Takayoshi Yumii
孝佳 弓井
Noriaki Kimura
憲明 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd filed Critical Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Priority to JP2001321564A priority Critical patent/JP3847134B2/en
Publication of JP2003121392A publication Critical patent/JP2003121392A/en
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily and highly accurately detect a location at which radiation is scattered backward. SOLUTION: In a transmission-side unit 110 of an X-ray detector 50, a first mask 104 is arranged above an X-ray radiating part 62 of a micro-focus-type X-ray generator 60. A drive motor 108 rotates the first mask 104 to sequentially make each hole row 110 of the first mask 104 correspond to a slit 114 of a first slit plate 112 based on the Hadamard matrix. A reception-side unit 200 comprises a second mask 204 provided with hole rows 210 based on the Hadamard matrix. A drive motor 208 rotates the second mask 204 to sequentially make each hole row 210 correspond to a slit 214 of a second slit plate 212. Backward scattering X-rays 54 incident via the hole rows 210 are passed through a pinhole of a pinhole plate 222 to be incident onto an X-ray detecting part 220, and the X-ray detecting part 220 outputs a detection signal as a current pulse.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、放射線検出装置に
係り、特に後方散乱X線のように、微弱な放射線を検出
するのに好適な放射線検出装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a radiation detector, and more particularly to a radiation detector suitable for detecting weak radiation such as backscattered X-rays.

【0002】[0002]

【従来の技術】X線は、その物質透過能力の高さから、
医療分野ではレントゲン装置などに、また産業分野では
非破壊検査装置などに広く利用されている。従来の一般
的なX線の利用方法は、検査対象にX線を照射し、検査
対象を透過したX線を検査対象の反対側で検出するよう
にしている。すなわち、図7に示したように、検査対象
10の一側にX線発生器12を配置し、検査対象10の
他側にX線14を検出するためのX線フィルムやCCD
カメラなどのX線受信器16を配置し、検査対象10を
透過してきたX線14をX線受信器16によって受信
(検出)して映像化し、検査対象10の内部欠陥18の有
無などを検査するようにしている。
2. Description of the Related Art X-rays have a high substance permeability,
It is widely used for radiographs in the medical field, and for non-destructive inspection devices in the industrial field. The conventional general method of using X-rays is to irradiate the inspection target with X-rays and detect the X-rays that have passed through the inspection target on the opposite side of the inspection target. That is, as shown in FIG. 7, the X-ray generator 12 is arranged on one side of the inspection object 10 and the X-ray film or CCD for detecting the X-rays 14 on the other side of the inspection object 10.
An X-ray receiver 16 such as a camera is arranged, and the X-ray 14 transmitted through the inspection object 10 is received by the X-ray receiver 16.
The image is detected (detected) and inspected for the presence or absence of the internal defect 18 of the inspection object 10.

【0003】また、検査対象10の三次元映像を求める
場合、コンピュータ断層撮影法(CT)と呼ばれる技術が
用いられる。このCTにおいては、図8に示したよう
に、検査対象10の一側にX線発生器12を配置し、検
査対象10の他側にCCDカメラやシンチレーション検
出器などのX線受信器20を配置する。そして、X線発
生器12を検査対象10の周囲を旋回させたり、矢印2
6のように検査対象10に沿って移動させて複数箇所に
おいてX線14を放射するとともに、X線受信器20を
検査対象10の周囲を旋回させたり、矢印24のように
検査対象10に沿って移動させて複数箇所でX線14を
受信し、X線受信器20の受信信号をコンピュータによ
って処理して検査対象10の断層像(断面画像)を求める
ものである。
A technique called computer tomography (CT) is used to obtain a three-dimensional image of the inspection object 10. In this CT, as shown in FIG. 8, an X-ray generator 12 is arranged on one side of the inspection object 10 and an X-ray receiver 20 such as a CCD camera or a scintillation detector is provided on the other side of the inspection object 10. Deploy. Then, the X-ray generator 12 is rotated around the inspection object 10 or the arrow 2
As shown in FIG. 6, the X-ray receiver 20 is moved along the inspection target 10 to radiate the X-rays 14 at a plurality of positions, and the X-ray receiver 20 is rotated around the inspection target 10 or along the inspection target 10 as indicated by an arrow 24. The tomographic image (cross-sectional image) of the inspection target 10 is obtained by processing the received signal of the X-ray receiver 20 by a computer and receiving the X-rays 14 at a plurality of positions.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記のように従来のい
わゆるX線装置においては、透過X線を検出するように
なっているため、検査対象10の一側にX線源であるX
線発生器12を配置し、検査対象10の他側にX線検出
器であるX線受信器16、20を配置する必要がある。
このため、検査対象10の厚さが厚い場合、X線14が
減衰して検査対象10を透過できないという問題があ
る。また、検査対象10が航空機などのように巨大な構
造物である場合、X線発生器12とX線受信器16との
位置合わせが困難である。しかも、透過X線によって検
査を行なうため、航空機の翼や機体の表層部に生じた亀
裂などの欠陥を検出することが困難である。
As described above, in the conventional so-called X-ray apparatus, the transmitted X-rays are detected, so that the X-ray source X-ray is provided on one side of the inspection object 10.
It is necessary to dispose the line generator 12 and dispose the X-ray receivers 16 and 20 which are X-ray detectors on the other side of the inspection object 10.
Therefore, when the inspection object 10 is thick, there is a problem that the X-ray 14 is attenuated and cannot be transmitted through the inspection object 10. Further, when the inspection target 10 is a huge structure such as an aircraft, it is difficult to align the X-ray generator 12 and the X-ray receiver 16 with each other. Moreover, since the inspection is performed by using the transmitted X-rays, it is difficult to detect defects such as cracks generated in the wing of the aircraft or the surface layer of the airframe.

【0005】そこで、X線の後方散乱を検出して映像化
する装置の開発が検討されている。しかし、X線は、物
質透過能力が大きいため、後方散乱する量が極めてわず
かである。このため、後方散乱X線の到来角度に関する
情報を残したまま極めて微弱な後方散乱X線を検出する
ことは困難であり、後方散乱X線に基づく映像を得るこ
とは、いまだに実現されていないのが現状である。
Therefore, the development of a device for detecting backscattering of X-rays and visualizing it is under study. However, since X-rays have a large substance penetrating ability, the amount of backscattering is extremely small. For this reason, it is difficult to detect extremely weak backscattered X-rays while leaving information on the angle of arrival of the backscattered X-rays, and obtaining an image based on the backscattered X-rays has not been realized yet. Is the current situation.

【0006】ところで、到来角度に関する情報を得つつ
後方散乱X線を検出する場合、ピンホール型のX線検出
装置を使用することが考えられる。このピンホール型X
線検出装置を用いて後方散乱X線を検出し、検査対象の
内部構造を知ろうとする場合、ピンホール型X線検出装
置を移動させて多数の点において後方散乱X線を検出す
る必要がある。このため、多くの時間を必要とするばか
りでなく、後方散乱X線が極めて微弱であるため、外乱
の影響を大きく受け、内部構造を明瞭に知覚することが
困難となる。
When detecting backscattered X-rays while obtaining information on the angle of arrival, it is conceivable to use a pinhole type X-ray detector. This pinhole type X
When the backscattered X-rays are detected by using the X-ray detection apparatus and the internal structure of the inspection object is to be known, it is necessary to move the pinhole X-ray detection apparatus to detect the backscattered X-rays at many points. . For this reason, not only a lot of time is required, but also the backscattered X-rays are extremely weak, so that they are greatly affected by disturbance and it is difficult to clearly perceive the internal structure.

【0007】本発明は、前記従来技術の欠点を解消する
ためになされたもので、放射線が後方散乱された位置を
高い精度で容易に検出することができるようにすること
を目的としている。また、本発明は、測定時間の短縮を
図ることを目的としている。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned drawbacks of the prior art, and an object of the present invention is to make it possible to easily detect the backscattered position of radiation with high accuracy. Another object of the present invention is to shorten the measurement time.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は、放射線源の前方に配置され、放射線を
透過させる直交変調パターンの変調モードに従った複数
の穴列を有する第1マスクと、この第1マスクと相対移
動可能に設けられて、前記第1マスクに形成した穴列の
1つを露出させるスリットを有する第1スリット板と、
前記放射線源から放射された前記放射線の、検査対象に
より後方散乱された放射線が入射する放射線検出部と、
この放射線検出部の前方に配置され、後方散乱した放射
線を透過させる前記直交変調パターンの変調モードに従
った複数の穴列を有する第2マスクと、この第2マスク
と相対移動可能に設けられて前記放射線を遮蔽可能であ
るとともに、前記第2マスクに形成した穴列の1つを露
出させるスリットを有する第2スリット板と、この第2
マスクと前記放射線検出部との間に介在し放射線通過部
を有し、前記第2マスクと共同して前記放射線検出部に
入射した放射線の入射方向を定める入射方向特定板と、
を有することを特徴としている。第1マスクと第1スリ
ット板と第2マスクと第2スリット板とは、それぞれ円
盤状に形成するとよい。
In order to achieve the above object, the present invention provides a first plurality of holes arranged in front of a radiation source according to a modulation mode of a quadrature modulation pattern for transmitting radiation. A first mask; and a first slit plate that is provided so as to be movable relative to the first mask and has a slit that exposes one of the hole rows formed in the first mask;
Of the radiation emitted from the radiation source, a radiation detection unit on which radiation backscattered by the inspection target is incident,
A second mask, which is arranged in front of the radiation detection unit and has a plurality of hole rows according to the modulation mode of the orthogonal modulation pattern for transmitting backscattered radiation, and is provided so as to be movable relative to the second mask. A second slit plate capable of shielding the radiation and having a slit exposing one of the hole rows formed in the second mask;
An incident direction specifying plate that has a radiation passage portion that is interposed between a mask and the radiation detection portion, and that determines the incident direction of the radiation that has entered the radiation detection portion in cooperation with the second mask,
It is characterized by having. The first mask, the first slit plate, the second mask, and the second slit plate are preferably formed in a disc shape.

【0009】[0009]

【作用】上記のごとくなっている本発明は、放射線源か
ら直交変調パターンの変調モードに従って放射線を放射
(送信)し、放射線検出部側においても、検査対象によっ
て後方散乱された放射線を、直交変調パターンの変調モ
ードに従って検出(受信)する。そして、放射線検出部
は、入射方向特定板を介して入射した放射線を検出する
ようになっているため、入射方向特定板の放射線通過部
の位置と、第2マスクの穴列を構成している穴の位置と
から後方散乱された放射線の到来方向がわかる。従っ
て、放射線源からの放射線の放射方向がわかれば、放射
線が後方散乱された位置を容易に、精度よく知ることが
できる。しかも、複数の穴からなる変調モードを形成す
る穴列を介して放射線の放射、検出を行なうようにして
いるため、一度に複数の点にピンホール型の放射線検出
器を配置して検出したと同様の効果が得られて検出時間
の短縮を図ることができるばかりでなく、検出精度が向
上して微弱な後方散乱放射線による鮮明な画像(映像)を
得ることが可能となる。
The present invention, which has been made as described above, emits radiation from a radiation source according to a modulation mode of a quadrature modulation pattern.
Then, the radiation detection section also detects (receives) the radiation backscattered by the inspection object according to the modulation mode of the orthogonal modulation pattern. Since the radiation detection unit is configured to detect the radiation that has entered through the incident direction identification plate, the position of the radiation passage unit of the incident direction identification plate and the hole array of the second mask are configured. The direction of the backscattered radiation can be known from the position of the hole. Therefore, if the radiation direction of the radiation from the radiation source is known, the position where the radiation is backscattered can be easily and accurately known. Moreover, since radiation is emitted and detected through a row of holes forming a modulation mode composed of a plurality of holes, pinhole radiation detectors are arranged and detected at a plurality of points at once. Not only can the same effect be obtained and the detection time can be shortened, but also the detection accuracy can be improved and a clear image (video) can be obtained by the weak backscattered radiation.

【0010】第1マスク、第1スリット板、第2マス
ク、第2スリット板を円盤状に形成すると、マスクを回
転させるだけで直交変調パターンの変調モードに基づい
て複数の穴列を容易に切り換えて放射線の放射、検出を
行なうことができ、装置をコンパクトにすることができ
る。
When the first mask, the first slit plate, the second mask, and the second slit plate are formed in a disc shape, a plurality of hole rows can be easily switched based on the modulation mode of the orthogonal modulation pattern simply by rotating the mask. Radiation can be emitted and detected, and the device can be made compact.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明に係る放射線検出装置の好
ましい実施の形態を、添付図面に従って詳細に説明す
る。図1は、本発明の実施の形態に係る放射線検出装置
の一部を切り欠いた斜視図であって、X線の後方散乱を
検出するように構成した例を示したものである。図1に
おいて、放射線検出装置であるX線検出装置50は、X
線52を放射する送信側ユニット100と、後方散乱X
線54を検出する受信側ユニット200とから構成して
ある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Preferred embodiments of the radiation detecting apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view in which a part of a radiation detecting apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention is cut away, and shows an example configured to detect X-ray backscattering. In FIG. 1, an X-ray detection device 50 which is a radiation detection device is
Transmitting unit 100 emitting line 52 and backscattering X
It comprises a receiving unit 200 for detecting the line 54.

【0012】送信側ユニット100は、円筒状ケーシン
グ102の側部の一部が切り欠かれ、X線発生器60の
X線放射部62をケーシング102の内部に挿入できる
ようになっている。X線発生装置60は、実施形態の場
合、マイクロフォーカス型のX線発生器であって、10
μm以下の焦点サイズが得られるようになっている。そ
して、X線放射部62には、ケーシング102の半径方
向に配置した扇上の放射ガイド64が装着してあって、
扇上のX線ビームを図の上方に放射するようにしてあ
る。
In the transmitting side unit 100, a part of the side portion of the cylindrical casing 102 is cut out so that the X-ray emitting portion 62 of the X-ray generator 60 can be inserted into the casing 102. In the embodiment, the X-ray generator 60 is a microfocus type X-ray generator, and
A focus size of less than μm can be obtained. A fan-shaped radiation guide 64 arranged in the radial direction of the casing 102 is attached to the X-ray radiation unit 62,
The X-ray beam on the fan is radiated upward in the figure.

【0013】送信側ユニット100は、X線放射部62
の前方側、すなわちケーシング102の上部に円盤状の
第1マスク104が配置してある。この第1マスク10
4は、中心部がケーシング102の底板106に固定し
た駆動手段となるモータ108の回転軸に取り付けてあ
って、回転自在となっている。そして、第1マスク10
4は、複数の穴列110が設けられている。これらの穴
列110は、詳細を後述するように、直交変調パターン
であるアダマール行列に基づく変調モードに従って形成
してあり、第1マスク104の中心に対して放射状に等
間隔に配置してある。穴列110を構成している穴は、
第1マスク104を厚さ方向に貫通していて、この穴を
介してX線52を外部に放射可能となっている。
The transmitter unit 100 includes an X-ray emitting section 62.
A disk-shaped first mask 104 is arranged on the front side of the casing, that is, on the upper part of the casing 102. This first mask 10
The central portion 4 is attached to a rotating shaft of a motor 108, which serves as a driving unit, whose central portion is fixed to the bottom plate 106 of the casing 102, and is rotatable. Then, the first mask 10
4 has a plurality of hole rows 110. As will be described in detail later, these hole rows 110 are formed according to a modulation mode based on a Hadamard matrix that is an orthogonal modulation pattern, and are arranged radially at equal intervals with respect to the center of the first mask 104. The holes that make up the hole array 110 are
The first mask 104 penetrates in the thickness direction, and the X-ray 52 can be radiated to the outside through this hole.

【0014】第1マスク104の上には、第1マスク1
04に近接させて、または第1マスク104と接触させ
て第1スリット板112が配置してある。この第1スリ
ット板112は、ケーシング102の上端部に固定して
ある。従って、第1マスク104と第1スリット板11
2とは、相対回転(相対移動)可能となっている。そし
て、第1スリット板112は、金属などによりX線52
を遮蔽できる厚さに形成してあって、半径方向に1つの
スリット114を有している。このスリット114は、
幅および長さが、第1マスク104に形成した任意の穴
列110を露出させることができる大きさとなってお
り、X線発生装置60の放射ガイド64の上方に位置し
ている。このため、X線発生器60のX放射部62から
出射されたX線52は、第1マスク104の、第1スリ
ット板112に設けたスリット114と一致した位置の
穴列110のみから外部に放射され、図2に示したよう
に検査対象10に照射される。
On the first mask 104, the first mask 1
The first slit plate 112 is arranged in close proximity to 04 or in contact with the first mask 104. The first slit plate 112 is fixed to the upper end of the casing 102. Therefore, the first mask 104 and the first slit plate 11
2 is capable of relative rotation (relative movement). Then, the first slit plate 112 is made of a metal or the like so that the X-ray 52
Is formed to have a thickness capable of shielding the light, and has one slit 114 in the radial direction. This slit 114 is
The width and length are such that any row 110 of holes formed in the first mask 104 can be exposed, and it is located above the radiation guide 64 of the X-ray generator 60. Therefore, the X-rays 52 emitted from the X-ray emitting unit 62 of the X-ray generator 60 are exposed to the outside only from the hole array 110 of the first mask 104 at the position corresponding to the slit 114 provided in the first slit plate 112. It is emitted and irradiates the inspection object 10 as shown in FIG.

【0015】直交変調パターンを形成するためのアダマ
ール行列は、要素が「+1」と「−1」とからなってい
て、対角線に沿って対称位置にある要素が同じである対
称行列となっている。このアダマール行列Hは、次の数
式1の漸化式によって定義される。
The Hadamard matrix for forming the quadrature modulation pattern is a symmetric matrix in which the elements are composed of "+1" and "-1", and the elements at symmetrical positions along the diagonal line are the same. . The Hadamard matrix H is defined by the following recurrence formula (1).

【数1】 ただし、数式1において、kは次数である。[Equation 1] However, in Formula 1, k is an order.

【0016】すなわち、例えば3次のアダマール行列H
(3)は、図3(1)に示したように表される。従って、送
信側ユニット100の第1マスク104に設けた各穴列
110は、3次のアダマール行列に基づいた場合、穴列
110を構成する穴の形成パターンが同図(2)に示した
ようになる。この図3(2)において、白抜きの四角がア
ダマール行列の「1」に対応していて穴があけられ、X線
52の放射が可能であることを示し、斜線を施した四角
がアダマール行列の「−1」に対応していて穴があけられ
ておらず、X線52を放射できないことを示している。
そして、各穴列110からのX線52の放射は、第1マ
スク104と第1スリット板112とを重ねた状態にお
いて、第1マスクを図3(3)の矢印120のように回転
させ、穴列110を第1スリット板112のスリット1
14から露出させることによって行なわれる。
That is, for example, a third-order Hadamard matrix H
(3) is represented as shown in FIG. Therefore, when each hole array 110 provided in the first mask 104 of the transmission side unit 100 is based on the cubic Hadamard matrix, the formation pattern of the holes forming the hole array 110 is as shown in FIG. become. In FIG. 3 (2), the white squares correspond to “1” of the Hadamard matrix, and holes are made to indicate that X-rays 52 can be emitted. The shaded squares indicate the Hadamard matrix. It corresponds to “−1” of No., and no holes are made, indicating that the X-ray 52 cannot be emitted.
Then, the radiation of the X-rays 52 from each hole array 110 causes the first mask 104 to rotate in the state where the first mask 104 and the first slit plate 112 are overlapped, as indicated by an arrow 120 in FIG. The hole array 110 is formed by the slits 1 of the first slit plate 112.
By exposing from 14.

【0017】受信側ユニット200は、送信側ユニット
100に対して適宜の間隔をもって、検査対象10に対
して送信側ユニット100と同じ側に配置される。そし
て、受信側ユニット200は、送信側ユニット100と
同様に、円筒状のケーシング202の上部に第2マスク
204が回転自在に配設してある。この第2マスク20
4は、中心部がケーシング202の底板206に固定し
た駆動モータ208の取り付けてあって、ケーシング2
02に対して回転自在となっている。なお、実施形態の
場合、駆動モータ108、208は、ステッピングモー
タを用いているが、サーボモータなどであってもよい
し、シリンダやラチェットなどを用いて間欠的に移動さ
せる機構などであってもよい。
The receiving side unit 200 is arranged on the same side as the transmitting side unit 100 with respect to the inspection object 10 at an appropriate interval with respect to the transmitting side unit 100. Then, in the reception side unit 200, as in the transmission side unit 100, the second mask 204 is rotatably arranged on the upper part of the cylindrical casing 202. This second mask 20
4 has a drive motor 208 whose center is fixed to the bottom plate 206 of the casing 202, and
It is rotatable with respect to 02. In the case of the embodiment, the drive motors 108 and 208 use stepping motors, but may be servo motors or may be mechanisms that intermittently move using cylinders or ratchets. Good.

【0018】第2マスク204には、送信側ユニット1
00の第1マスク104と同様に、アダマール行列に基
づく変調モードに従った複数の穴列210が、第2マス
ク204の中心に対して放射状に等間隔で形成してあ
る。そして、第2マスク204の上には、ケーシング2
02に固定した第2スリット板212が配設してある。
この第2スリット板212は、金属などによって後方散
乱X線54を遮蔽できる厚さに形成してある。また、第
2スリット板212は、半径方向に1つのスリット21
4を有している。このスリット214は、第2マスク2
04に設けた複数の穴列210の任意の穴列を露出させ
ることができる大きさとなっている。従って、検査対象
10からの後方散乱X線54は、第2マスク204に設
けた穴列210の、第2スリット板212のスリット2
14と対応した位置にある穴列210のみからケーシン
グ202内に入射するようにしてある。
The second mask 204 has a transmitting unit 1
Similar to the first mask 104 of No. 00, a plurality of hole arrays 210 according to the modulation mode based on the Hadamard matrix are formed radially at equal intervals with respect to the center of the second mask 204. Then, on the second mask 204, the casing 2
A second slit plate 212 fixed to No. 02 is arranged.
The second slit plate 212 is formed of metal or the like with a thickness that can shield the backscattered X-rays 54. In addition, the second slit plate 212 has one slit 21 in the radial direction.
Have four. This slit 214 is used for the second mask 2
The size is such that an arbitrary hole row of the plurality of hole rows 210 provided in 04 can be exposed. Therefore, the back-scattered X-rays 54 from the inspection object 10 are the slits 2 of the second slit plate 212 of the hole array 210 provided in the second mask 204.
Only the row 210 of holes located at the position corresponding to 14 enters the casing 202.

【0019】受信側ユニット200のケーシング202
の内部には、X線検出部220が設けてある。このX線
検出部220は、第2スリット板212に設けたスリッ
ト214の下方に位置していて、ケーシング202の底
板206に固定してある。また、X線検出部220と第
2マスク204との間には、入射方向特定板であるピン
ホール板222が配設してある。このピンホール板22
2は、第2マスク204と適宜の間隔をもって配置して
あって、図5に示したように、作用を後述する放射線通
過部であるピンホール223を有し、X線検出部220
に近接して配置してある。そして、X線検出部220
は、図5に示したように、ピンホール板222の下面に
対面して設けた、後方散乱X線54を光に変換するシン
チレータ224と、このシンチレータ224の放射した
光を電子に変換して電子の数を増倍する光電子増倍管2
26とを有している。
The casing 202 of the receiving unit 200
An X-ray detection unit 220 is provided inside. The X-ray detector 220 is located below the slit 214 provided in the second slit plate 212 and is fixed to the bottom plate 206 of the casing 202. Further, a pinhole plate 222, which is an incident direction specifying plate, is arranged between the X-ray detection unit 220 and the second mask 204. This pinhole plate 22
2 is arranged at an appropriate distance from the second mask 204, has a pinhole 223 which is a radiation passage section whose operation will be described later, and has an X-ray detection section 220, as shown in FIG.
It is located close to. Then, the X-ray detection unit 220
As shown in FIG. 5, is a scintillator 224 provided to face the lower surface of the pinhole plate 222 for converting the backscattered X-rays 54 into light, and the light emitted from the scintillator 224 is converted into electrons. Photomultiplier tube 2 to multiply the number of electrons
26 and.

【0020】このように構成してあるX線検出装置50
は、図2に示したように、送信側ユニット100と受信
側ユニット200とが検査対象10に対して同じ側に配
置される。そして、送信側ユニット100の駆動モータ
108と受信側ユニット200の駆動モータ208と
は、モータ駆動制御器70に接続され、モータ駆動制御
器70によって回転が制御されるようになっている。こ
のモータ駆動制御器70は、映像生成装置となるコンピ
ュータ72に接続してあり、駆動モータ108、208
に与えた駆動信号をコンピュータ72に入力する。
The X-ray detection device 50 having the above structure
As shown in FIG. 2, the transmission side unit 100 and the reception side unit 200 are arranged on the same side with respect to the inspection target 10. The drive motor 108 of the transmission side unit 100 and the drive motor 208 of the reception side unit 200 are connected to the motor drive controller 70, and the rotation is controlled by the motor drive controller 70. The motor drive controller 70 is connected to a computer 72 that serves as an image generation device, and drive motors 108 and 208 are connected.
The drive signal given to the computer is input to the computer 72.

【0021】一方、X線発生装置60は、X線制御器7
4に接続してあって、X線制御器74によって出力など
を制御できるようになっている。そして、受信側ユニッ
ト200に設けたX線検出部220の光電子増倍管22
6は、電流・電圧変換器76に接続してあって、電流パ
ルスとして出力する検出信号が電流・電圧変換器76に
より電圧パルスに変換される。この電流・電圧変換器7
6の出力する電圧パルスは、増幅器78によって増幅さ
れたのち、コンピュータ72に入力される。
On the other hand, the X-ray generator 60 includes an X-ray controller 7
4 and the output and the like can be controlled by the X-ray controller 74. Then, the photomultiplier tube 22 of the X-ray detection unit 220 provided in the reception side unit 200
Reference numeral 6 is connected to a current / voltage converter 76, and a detection signal output as a current pulse is converted into a voltage pulse by the current / voltage converter 76. This current / voltage converter 7
The voltage pulse output by 6 is input to the computer 72 after being amplified by the amplifier 78.

【0022】このようになっている実施形態のX線検出
装置50による後方散乱X線54の検出と、この後方散
乱X線54による映像化は、次のようにして行なわれ
る。まず、図2に示したように、送信側ユニット100
と送信側ユニット200とを検査対象10の同じ側の初
期位置に配置、それぞれのスリット板112、212を
検査対象10に対面させる。実施形態の場合、送信側ユ
ニット100と受信側ユニット200とは、移動可能な
台車などに設置してあって、一体に移動できるようにし
てある。そして、図4のステップ300に示したよう
に、X制御器74を介してX線発生器60をオンすると
ともに、コンピュータ72に検査開始の指令が入力され
ると、コンピュータ72がモータ制御器70に駆動指令
を与える。
The detection of the backscattered X-rays 54 by the X-ray detection device 50 of the embodiment and the visualization by the backscattered X-rays 54 are performed as follows. First, as shown in FIG.
And the transmission side unit 200 are arranged at the same initial position of the inspection target 10, and the respective slit plates 112 and 212 are made to face the inspection target 10. In the case of the embodiment, the transmission side unit 100 and the reception side unit 200 are installed on a movable carriage or the like so that they can be moved integrally. Then, as shown in step 300 of FIG. 4, when the X-ray generator 60 is turned on via the X controller 74 and an inspection start command is input to the computer 72, the computer 72 causes the motor controller 70 to operate. Give a drive command to.

【0023】モータ制御器70は、予め与えられた制御
プログラムに従って、送信側ユニット100の駆動モー
タ(ステッピングモータ)を駆動し第1マスク104を回
転させ、図4のステップ301に示したように、第1マ
スク104の所定の第1穴列110、例えば図3(2)の
1番上の穴パターンからなる穴列110を第1マスク1
12のスリット114と対応した位置し、スリット11
4に対応した穴列の番号情報(穴パターン情報)をコンピ
ュータ72に送出する。また、モータ制御器70は、受
信側ユニット200の駆動モータ(ステッピングモータ)
208を駆動して第2マスク204を回転し、所定の第
1の穴列210を第2スリット板212のスリット21
4と対応した位置に移動させ(ステップ302)、この穴
列210の番号情報(穴パターン情報)をコンピュータ7
2に入力する。これにより、X線52が送信側ユニット
100のスリット114と対応した穴列110の各孔か
ら放射され、このX線52の検査対象10による後方散
乱X線54が、受信側ユニット200のスリット214
に対応した穴列210の各孔を介して検出される。な
お、このステップ300からステップ302までの処理
は、任意の順序で行なうことができる。
The motor controller 70 drives the drive motor (stepping motor) of the transmission side unit 100 to rotate the first mask 104 in accordance with a control program given in advance, and as shown in step 301 of FIG. 4, A predetermined first hole array 110 of the first mask 104, for example, the hole array 110 composed of the top hole pattern of FIG.
12 corresponding to the slit 114, and the slit 11
The number information (hole pattern information) of the hole row corresponding to No. 4 is sent to the computer 72. In addition, the motor controller 70 is a drive motor (stepping motor) for the receiving unit 200.
The second mask 204 is rotated by driving 208, and a predetermined first hole array 210 is formed in the slit 21 of the second slit plate 212.
4 is moved to a position corresponding to 4 (step 302), and the number information (hole pattern information) of this hole array 210 is transferred to the computer 7.
Enter 2. Thereby, the X-ray 52 is radiated from each hole of the hole array 110 corresponding to the slit 114 of the transmission side unit 100, and the backscattered X-ray 54 by the inspection object 10 of the X-ray 52 is the slit 214 of the reception side unit 200.
Is detected through each hole of the hole array 210 corresponding to. The processing from step 300 to step 302 can be performed in any order.

【0024】検査対象10に照射されたX線52の後方
散乱されたX線54は、受信ユニット200の第2スリ
ット板212のスリット214、第2マスク204の穴
列210を介してケーシング202内に入射し、X線検
出部によって検出される。すなわち、ケーシング202
内に入射した後方散乱X線54の一部は、図5に示した
ように、ピンホール板222のピンホール223を介し
て、X線検出部220のシンチレータ224に入射して
光に変換される。このシンチレータ224の発した光
は、光電子増倍管226に入射する。光電子倍増管22
6は、シンチレータ224からの光を光電変換面におい
て電子に変換し、さらにこの電子を増倍して電流パルス
として出力する。
The backscattered X-rays 54 of the X-rays 52 radiated to the inspection object 10 are passed through the slits 214 of the second slit plate 212 of the receiving unit 200 and the hole array 210 of the second mask 204 in the casing 202. And is detected by the X-ray detection unit. That is, the casing 202
As shown in FIG. 5, a part of the backscattered X-rays 54 entering the inside enters the scintillator 224 of the X-ray detector 220 via the pinhole 223 of the pinhole plate 222 and is converted into light. It The light emitted from the scintillator 224 enters the photomultiplier tube 226. Photomultiplier tube 22
6 converts the light from the scintillator 224 into electrons on the photoelectric conversion surface, further multiplies the electrons, and outputs them as current pulses.

【0025】この電流パルスは、電流・電圧変換器76
によって電圧パルスに変換されたのち、増幅器78によ
って増幅され、コンピュータ72に入力される。コンピ
ュータ72は、増幅器78から入力した電圧パルス(受
信信号)を、モータ制御器70の送出した第1マスク1
04の穴列110の番号と、第2マスク204の穴列2
10の番号との組み合わせに対応させて記憶する(ステ
ップ303)。
This current pulse is converted into a current / voltage converter 76.
After being converted into a voltage pulse by the amplifier, it is amplified by the amplifier 78 and input to the computer 72. The computer 72 sends the voltage pulse (received signal) input from the amplifier 78 to the first mask 1 sent by the motor controller 70.
The number of the hole row 110 of No. 04 and the hole row 2 of the second mask 204
It is stored in association with the combination with the number of 10 (step 303).

【0026】モータ制御器70は、第2マスク204の
回転制御を行なってから所定の時間が経過すると、ステ
ップ304に示したように、第2マスク204の穴列2
10のすべてを第2スリット板212のスリット214
と対応した位置に移動させた可否かを判断する。すべて
の穴列210がスリット214との対応位置に移動させ
ていない場合、駆動モータ208を駆動して次の穴列2
10をスリット214と対応した位置にし(ステップ3
05)、その穴列210の番号情報をコンピュータ72
に入力する。そして、前記と同様にして後方散乱X線5
4の検出が行なわれ、コンピュータ72が受信信号を記
憶する(ステップ303)。このステップ303〜ステッ
プ305の処理は、第2マスク204のすべての穴列2
10による後方散乱X線54の検出が終了するまで繰り
返される。
When the motor controller 70 controls the rotation of the second mask 204 and a predetermined time elapses, as shown in step 304, the hole array 2 of the second mask 204.
All of the 10 slits 214 of the second slit plate 212
It is determined whether it has been moved to a position corresponding to. When all the hole rows 210 are not moved to the positions corresponding to the slits 214, the drive motor 208 is driven to move to the next hole row 2
10 to the position corresponding to the slit 214 (step 3
05), the number information of the hole row 210 is calculated by the computer 72
To enter. Then, in the same manner as described above, the backscattered X-ray 5
4 is detected, and the computer 72 stores the received signal (step 303). The processing of steps 303 to 305 is performed for all the hole rows 2 of the second mask 204.
It is repeated until the detection of the backscattered X-rays 54 by 10 is completed.

【0027】モータ制御部70は、ステップ304にお
いて、第2マスク204のすべての穴列210を第2ス
リット板212のスリット214と対応した位置に移動
させたと判断すると、さらにステップ306に進んで第
1マスク104の穴列110のすべてを第1スリット板
112のスリット114と対応した位置に移動させたか
否かを判断する。第1マスク104のすべての穴列11
0をスリット114と対応した位置に移動させていない
と判断した場合、送信側ユニット100の駆動モータ1
08を駆動して次の穴列110をスリット114と対応
した位置に移動させ(ステップ307)、さらにステップ
302に戻る。そして、モータ制御器70は、受信側ユ
ニット200の駆動モータ208を駆動し、第2マスク
204の第1の穴列210を第2スリット板212のス
リット214と対応した位置に移動させる。モータ制御
器70は、第1マスク104の穴列110と第2マスク
204の穴列210との番号情報をコンピュータ72に
入力する。
When the motor controller 70 determines in step 304 that all the hole arrays 210 of the second mask 204 have been moved to the positions corresponding to the slits 214 of the second slit plate 212, the process further proceeds to step 306. It is determined whether or not all the hole arrays 110 of the one mask 104 have been moved to positions corresponding to the slits 114 of the first slit plate 112. All holes 11 in the first mask 104
0 is not moved to the position corresponding to the slit 114, the drive motor 1 of the transmission side unit 100 is determined.
08 is driven to move the next hole array 110 to a position corresponding to the slit 114 (step 307), and the process returns to step 302. Then, the motor controller 70 drives the drive motor 208 of the reception-side unit 200 to move the first hole array 210 of the second mask 204 to a position corresponding to the slit 214 of the second slit plate 212. The motor controller 70 inputs the number information of the hole array 110 of the first mask 104 and the hole array 210 of the second mask 204 to the computer 72.

【0028】以下、ステップ302〜ステップ307ま
での処理は、第1マスク104のすべての穴列110が
第1スリット板112のスリット114と対応した位置
に移動され、最後の穴列110から放射されたX線52
についての、第2マスク204のすべての穴列210を
介した後方散乱X線54の検出が終了するまで繰り返さ
れる。これにより、第1マスク104の穴列110の数
がN、第2マスク204の穴列210の数がNであると
すると、N×Nとおりのアダマールマスクの組が得られ
る。
Hereinafter, in the processing from step 302 to step 307, all the hole rows 110 of the first mask 104 are moved to the positions corresponding to the slits 114 of the first slit plate 112, and are emitted from the last hole row 110. X-ray 52
Is repeated until the detection of the backscattered X-rays 54 through all the hole rows 210 of the second mask 204 is finished. Thus, assuming that the number of hole rows 110 of the first mask 104 is N and the number of hole rows 210 of the second mask 204 is N, N × N sets of Hadamard mask sets are obtained.

【0029】モータ制御部70は、第1マスク104の
穴列110と第2マスク204の穴列210とのすべて
の組み合せを終了すると、ステップ306においてその
旨をコンピュータ72に入力する。コンピュータ72
は、ステップ308に示したように、記憶した受信デー
タ(検出データ)をアダマール逆変換し、第1マスク10
4のX線52を放射した穴列110を構成している穴の
位置と、ピンホール板222のピンホール223に後方
散乱X線54を入射させた第1マスク204の穴列21
0を構成している穴の位置とを求め、後方散乱X線54
による画像を生成して表示装置などの出力装置に出力す
る(ステップ309)。
When all combinations of the hole array 110 of the first mask 104 and the hole array 210 of the second mask 204 are completed, the motor control unit 70 inputs the fact to the computer 72 in step 306. Computer 72
Performs Hadamard inverse transformation of the stored reception data (detection data) as shown in step 308, and the first mask 10
No. 21 of the first mask 204 in which the backscattered X-rays 54 are incident on the pin holes 223 of the pinhole plate 222.
The positions of the holes forming 0 and the backscattered X-rays 54
Image is generated and output to an output device such as a display device (step 309).

【0030】すなわち、アダマール逆変換することによ
り、図5に示したように、X線発生器60の微小な焦点
Fから放射されたX線52を検査対象10に照射した、
送信側ユニット100の第1マスク104に設けた穴列
110を構成している穴Aの位置と、受信側ユニット2
00のピンホール板222に設けたピンホール223に
後方散乱X線54を入射させた、第2マスク204に形
成した穴列210を構成している穴Bの位置をとを特定
することができる。従って、検査対象10の後方散乱が
生じた位置は、送信側ユニット100における焦点Fと
X線52を通過させた穴Aとを結ぶ直線の延長線L
1 と、受信側ユニット200のピンホール223と後方
散乱X線54を通過させた穴Bとを結ぶ直線の延長線L
2 との交点Pとして求めることができる。すなわち、後
方散乱X線54の検出を容易に行なえるとともに、後方
散乱X線54の到来方向を容易に知ることができ、検査
対象10の断面画像(二次元画像)を得ることができる。
そして、検査対象10が一様でなく、空洞や異物などの
内部欠陥18が存在すると、その部分における後方散乱
の確率が検査対象10自体の後方散乱の確率と異なるた
め、内部欠陥18の画像(映像)を得ることができる。
That is, by performing the Hadamard inverse transformation, as shown in FIG. 5, the inspection object 10 is irradiated with the X-ray 52 emitted from the minute focus F of the X-ray generator 60.
The position of the holes A forming the hole array 110 provided in the first mask 104 of the transmission side unit 100 and the reception side unit 2
It is possible to specify the positions of the holes B that form the hole array 210 formed in the second mask 204 when the backscattered X-rays 54 are incident on the pinhole 223 provided on the pinhole plate 222 of No. 00. . Therefore, the position where the backscattering of the inspection target 10 occurs is a straight extension line L connecting the focal point F of the transmission side unit 100 and the hole A through which the X-ray 52 has passed.
1 and a straight line L connecting the pinhole 223 of the receiving unit 200 and the hole B through which the backscattered X-ray 54 has passed
It can be obtained as the intersection P with 2 . That is, the backscattered X-rays 54 can be easily detected, the arrival direction of the backscattered X-rays 54 can be easily known, and a cross-sectional image (two-dimensional image) of the inspection object 10 can be obtained.
If the inspection object 10 is not uniform and there are internal defects 18 such as cavities and foreign particles, the probability of backscattering at that portion is different from the probability of backscattering of the inspection object 10 itself, so an image of the internal defect 18 ( Video) can be obtained.

【0031】コンピュータ72は、検査対象10につい
て三次元画像を求める場合、図4のステップ310に示
したように、検査領域のすべてについて後方散乱X線5
4の検出(検査)を行なったか否かを判断する。検査領域
のすべてについて検査を行なっていない場合、ステップ
311に示したように、X線検出装置50を所定量だけ
移動(トラバース)させる。以後、最初のステップ301
に戻って上記したステップ301〜ステップ311の処
理が繰り返される。
When the computer 72 obtains a three-dimensional image of the inspection object 10, the backscattered X-rays 5 for all of the inspection area are shown in step 310 of FIG.
It is determined whether the detection (inspection) of 4 has been performed. When the inspection is not performed on all the inspection areas, the X-ray detection apparatus 50 is moved (traversed) by a predetermined amount as shown in step 311. After that, the first step 301
Then, the processing of steps 301 to 311 described above is repeated.

【0032】このように、実施の形態においては、微小
焦点Fから放射したX線52を、アダマール行列に基づ
いた穴パターンを有する穴列110を介して検査対象1
0に照射し、その後方散乱X線54をアダマール行列に
基づいた穴パターンを有する穴列210とピンホール2
23とを介して受信するようになっているため、X線の
後方散乱を生じた位置を容易、正確に求めることができ
る。しかも、多数の穴から構成された穴列110、21
0を介してX線の放射、検出を行なうようにしてあるた
め、それぞれの穴列110、210の数をNとした場
合、ピンホール型のX線検出装置を使用した場合に比較
してN2 /4倍効率がよくなり、検出精度も向上する。
As described above, in the embodiment, the X-ray 52 emitted from the micro focus F is passed through the hole array 110 having the hole pattern based on the Hadamard matrix to be inspected 1
0, and the backscattered X-rays 54 are used for the hole array 210 and the pinhole 2 having a hole pattern based on the Hadamard matrix.
The position where the backscattering of the X-ray is generated can be easily and accurately determined because the signal is received via the signal. In addition, the hole rows 110, 21 composed of a large number of holes
Since X-rays are radiated and detected via 0, if the number of hole arrays 110 and 210 is N, the number is N compared with the case of using a pinhole type X-ray detector. 2/4 times more efficient is improved, thereby improving the detection accuracy.

【0033】なお、上記した実施形態は、本発明の一態
様の説明であって、例えば、前記実施形態においては、
検査対象10の三次元映像を求める場合に、各検査位置
において後方散乱X線の検出を終了するごと画像(映像)
を生成して表示する場合について説明したが、検査領域
のすべてについてX線検出を終了したのち、画像の生成
を行なうようにしてもよい。また、前記実施形態におい
ては、スリット板112、212をマスク104、20
4の上に配置した場合について説明したが、マスク10
4、204に下に配置してもよい。そして、前記実施形
態においては、マスク104、204を回転させる場合
について説明したが、これらを直線的に移動させるよう
にしてもよい。また、前記実施の形態においては、放射
線がX線である場合について説明したが、放射線はカン
マ線や粒子線であってもよい。
The above embodiment is an explanation of one aspect of the present invention. For example, in the above embodiment,
When obtaining a three-dimensional image of the inspection object 10, an image (image) every time the detection of backscattered X-rays ends at each inspection position.
Although the case of generating and displaying is described, the image may be generated after the X-ray detection is completed for all the inspection areas. Further, in the above-described embodiment, the slit plates 112 and 212 are connected to the masks 104 and 20.
The case where the mask 10 is arranged above
4, 204 may be placed below. In the above embodiment, the case where the masks 104 and 204 are rotated has been described, but they may be moved linearly. Further, in the above embodiment, the case where the radiation is X-rays has been described, but the radiation may be comma rays or particle rays.

【0034】さらに、前記実施形態においては、入射方
向特定板がピンホール板222である場合について説明
したが、図6に示したようなスリット板であってもよ
い。すなわち、この入射方向特定スリット板230は、
X線検出部220の前面に配置され、後方散乱X線54
を通過させる通過スリット232を備えている。この通
過スリット232は、同図(2)に示したように、矢印2
34のように回転する第2マスク204に形成した穴列
210と直交するように配置してある。このように、ピ
ンホール223の代わりに通過スリット232を用いる
ことにより、送信側ユニット100側の第1マスク10
4の面と、受信側ユニット200の第2マスク204の
面とが同一平面内になくともよく、X線検出装置の組立
てが容易となる。
Further, in the above embodiment, the case where the incident direction specifying plate is the pinhole plate 222 has been described, but it may be a slit plate as shown in FIG. That is, this incident direction specific slit plate 230 is
The backscattered X-rays 54 are arranged on the front surface of the X-ray detection unit 220.
Is provided with a passage slit 232. This passage slit 232 is, as shown in FIG.
It is arranged so as to be orthogonal to the hole array 210 formed in the second mask 204 rotating like 34. As described above, by using the passing slit 232 instead of the pinhole 223, the first mask 10 on the transmission side unit 100 side is formed.
4 does not have to be on the same plane as the surface of the second mask 204 of the reception-side unit 200, which facilitates the assembly of the X-ray detection apparatus.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、放射線源からの放射線を、直交変調パターンの変調
モードに従った第1マスクを介して放射(送信)し、放射
線検出部側において、検査対象によって後方散乱された
放射線を、直交変調パターンの変調モードに従った第2
マスクと入射方向特定板とを介して検出するようにして
いるため、放射線の到来方向を容易、正確に知ることが
できる。従って、放射線源からの放射線の放射方向がわ
かれば、放射線が後方散乱された位置を容易に、精度よ
く知ることができる。しかも、複数の穴からなる変調モ
ードを形成する穴列を介して放射線の放射、検出を行な
うようにしているため、一度に複数の点にピンホール型
の放射線検出器を配置して検出したと同様の効果が得ら
れて検出時間の短縮を図ることができるばかりでなく、
検出精度が向上して微弱な後方散乱放射線による鮮明な
画像(映像)を得ることが可能となる。
As described above, according to the present invention, the radiation from the radiation source is radiated (transmitted) through the first mask according to the modulation mode of the orthogonal modulation pattern, and the radiation detection unit side At the second backscattered radiation by the inspection object according to the modulation mode of the quadrature modulation pattern.
Since the detection is performed via the mask and the incident direction specifying plate, the arrival direction of the radiation can be easily and accurately known. Therefore, if the radiation direction of the radiation from the radiation source is known, the position where the radiation is backscattered can be easily and accurately known. Moreover, since radiation is emitted and detected through a row of holes forming a modulation mode composed of a plurality of holes, pinhole radiation detectors are arranged and detected at a plurality of points at once. Not only can similar effects be obtained and detection time can be shortened, but
It is possible to improve the detection accuracy and obtain a clear image (video) due to the weak backscattered radiation.

【0036】第1マスク、第1スリット板、第2マス
ク、第2スリット板を円盤状に形成すると、マスクを回
転させるだけで直交変調パターンの変調モードに基づい
て複数の穴列を容易に切り換えて放射線の放射、検出を
行なうことができ、装置をコンパクトにすることができ
る。
When the first mask, the first slit plate, the second mask and the second slit plate are formed in a disc shape, a plurality of hole rows can be easily switched based on the modulation mode of the orthogonal modulation pattern simply by rotating the mask. Radiation can be emitted and detected, and the device can be made compact.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施の形態に係る放射線検出装置の
一部を切り欠いた斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view in which a part of a radiation detection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention is cut away.

【図2】 実施に形態に係る放射線検出装置を用いた映
像装置の概略構成の説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a schematic configuration of an imaging device using the radiation detection device according to the exemplary embodiment.

【図3】 実施の形態に係る第1マスクに形成した穴列
を構成する穴パターンの説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a hole pattern forming a hole row formed in the first mask according to the embodiment.

【図4】 実施の形態に係る映像装置の作用を説明する
フローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating an operation of the video device according to the embodiment.

【図5】 実施の形態に係る放射線検出装置により、後
方散乱放射線の到来方向の求め方を説明する模式図であ
る。
FIG. 5 is a schematic diagram illustrating how to determine the arrival direction of backscattered radiation by the radiation detection apparatus according to the exemplary embodiment.

【図6】 他の実施形態に係る入射方向特定板の説明図
であって、(1)は斜視図、(2)は入射方向特定板の通過
スリットと第2マスクの穴列との関係を説明する図であ
る。
6A and 6B are explanatory views of an incident direction specifying plate according to another embodiment, in which FIG. 6A is a perspective view, and FIG. 6B is a view showing a relationship between a passing slit of the incident direction specifying plate and a hole array of a second mask. It is a figure explaining.

【図7】 従来の一般的なX線の検出方法の一例を説明
する図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a conventional general X-ray detection method.

【図8】 従来のX線を用いたコンピュータ断層撮影法
を説明する模式図である。
FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a conventional computer tomography method using X-rays.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10………検査対象、18………内部欠陥、50………
放射線検出装置(X線検出装置)、52………X線、54
………後方散乱X線、60………X線発生器、100…
……送信側ユニット、104………第1マスク、10
8、208………駆動モータ、110、210………穴
列、112………第1スリット板、114、214……
…スリット、200………受信側ユニット、204……
…第2マスク、212………第2スリット板、220…
……X線検出部、222、230………入射方向特定板
(ピンホール板、入射方向特定スリット板)、223、
232………放射線通過部(ピンホール、通過スリッ
ト)。
10 ………… Inspection target, 18 ………… Internal defect, 50 …………
Radiation detector (X-ray detector), 52 ... X-ray, 54
……… Backscattered X-rays, 60 ……… X-ray generators, 100…
...... Sending unit, 104 ………… First mask, 10
8, 208 ......... Drive motor, 110, 210 ......... Hole row, 112 ......... First slit plate, 114, 214 ...
… Slit, 200 ………… Receiver unit, 204 ……
… Second mask, 212 ……… Second slit plate, 220…
...... X-ray detector 222, 230 ………… Incident direction specific plate (pinhole plate, incident direction specific slit plate) 223,
232 ......... Radiation passage part (pinhole, passage slit).

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01T 7/00 G01T 7/00 B G21K 1/02 G21K 1/02 G 1/04 1/04 S 5/02 5/02 X Fターム(参考) 2G001 AA01 AA10 BA15 CA01 DA01 DA03 FA06 HA13 JA01 JA06 KA03 LA02 SA01 SA04 2G088 EE29 EE30 FF02 FF14 GG18 JJ01 JJ09 JJ12 JJ22 KK32 KK33 KK35 LL09 4C093 AA22 BA18 CA27 CA50 EA02 EA13 EB22 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 identification code FI theme code (reference) G01T 7/00 G01T 7/00 B G21K 1/02 G21K 1/02 G 1/04 1/04 S 5 / 02 5/02 XF Term (reference) 2G001 AA01 AA10 BA15 CA01 DA01 DA03 FA06 HA13 JA01 JA06 KA03 LA02 SA01 SA04 2G088 EE29 EE30 FF02 FF14 GG18 JJ01 JJ09 JJ12 JJ22 KK32 KK33 KK35 LL09 4C093 CA13 A5022

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 放射線源の前方に配置され、放射線を透
過させる直交変調パターンの変調モードに従った複数の
穴列を有する第1マスクと、 この第1マスクと相対移動可能に設けられて、前記第1
マスクに形成した穴列の1つを露出させるスリットを有
する第1スリット板と、 前記放射線源から放射された前記放射線の、検査対象に
より後方散乱された放射線が入射する放射線検出部と、 この放射線検出部の前方に配置され、後方散乱した放射
線を透過させる前記直交変調パターンの変調モードに従
った複数の穴列を有する第2マスクと、 この第2マスクと相対移動可能に設けられて前記放射線
を遮蔽可能であるとともに、前記第2マスクに形成した
穴列の1つを露出させるスリットを有する第2スリット
板と、 この第2マスクと前記放射線検出部との間に介在して放
射線通過部を有し、前記第2マスクと共同して前記放射
線検出部に入射した放射線の入射方向を定める入射方向
特定板と、 を有することを特徴とする放射線検出装置。
1. A first mask, which is arranged in front of a radiation source and has a plurality of hole rows according to a modulation mode of a quadrature modulation pattern which transmits radiation, and a first mask which is provided so as to be movable relative to the first mask. The first
A first slit plate having a slit that exposes one of the hole rows formed in the mask, a radiation detection unit on which radiation backscattered by an inspection target of the radiation emitted from the radiation source is incident, and this radiation A second mask, which is arranged in front of the detection unit and has a plurality of hole rows according to the modulation mode of the orthogonal modulation pattern for transmitting backscattered radiation, and the second mask provided so as to be movable relative to the second mask. And a second slit plate having a slit that exposes one of the hole rows formed in the second mask, and a radiation passage section interposed between the second mask and the radiation detection section. And an incident-direction specifying plate that determines an incident direction of the radiation that has entered the radiation detection unit in cooperation with the second mask.
【請求項2】 前記第1マスクと前記第1スリット板と
前記第2マスクと前記第2スリット板とは、それぞれ円
盤状に形成してあることを特徴とする請求項1に記載の
放射線検出装置。
2. The radiation detection device according to claim 1, wherein the first mask, the first slit plate, the second mask and the second slit plate are each formed in a disk shape. apparatus.
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