[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2003101231A - 多層回路基板の製造方法 - Google Patents

多層回路基板の製造方法

Info

Publication number
JP2003101231A
JP2003101231A JP2001290560A JP2001290560A JP2003101231A JP 2003101231 A JP2003101231 A JP 2003101231A JP 2001290560 A JP2001290560 A JP 2001290560A JP 2001290560 A JP2001290560 A JP 2001290560A JP 2003101231 A JP2003101231 A JP 2003101231A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polymer
layer
circuit board
insulating layer
ene
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001290560A
Other languages
English (en)
Inventor
Masafumi Kawasaki
雅史 川崎
Yasuhiro Wakizaka
康尋 脇坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zeon Corp
Original Assignee
Nippon Zeon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Zeon Co Ltd filed Critical Nippon Zeon Co Ltd
Priority to JP2001290560A priority Critical patent/JP2003101231A/ja
Publication of JP2003101231A publication Critical patent/JP2003101231A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 耐マイグレーション性があり、絶縁信頼性、
接続信頼性が高く電気特性に優れた多層回路基板を得
る。 【解決手段】 電気絶縁層aの上に形成された、その表
面に導電性バンプを有する導電体回路層1と、絶縁性重
合体及び硬化剤を含有する硬化性組成物のワニスを支持
体に塗布、乾燥して得られるフィルム状又はシート状成
形体とを重ね合わせ、圧力を加えて、当該成形体に導電
性バンプを貫通させた(工程A)後、当該重ね合わせた
成形体を硬化させて、前記バンプが貫通した電気絶縁層
bを形成し(工程B)、次いで電気絶縁層bの表面に導
電体回路層2を形成する(工程C)ことにより多層回路
基板を製造するする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多層回路基板の製
造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電子機器の小型化、多機能化に伴って、
電子機器に用いられている回路基板にも、より高密度化
が要求されるようになってきている。回路基板を高密度
化するためには、回路基板を多層化するのが一般的であ
る。多層回路基板の製造は、従来より、電気絶縁層a上
に形成された導電体回路層1からなる内層基板の表面
に、電気絶縁層bを積層し、次いで穴明け加工およびメ
ッキ処理によって、配線パターン層間の電気的な接続
(層間接続体)を形成した後、電気絶縁層aの上に導電
体回路層2を形成することによって得られ、さらに必要
に応じて電気絶縁層と導電体回路とを数段積層する方法
が広く用いられている。しかし、この方法では、層間接
続体の形成に際して工数が多く、多層回路基板の生産性
を高めることが困難であるという問題があった。そこ
で、層間接続体形成が容易な多層回路基板の製造方法と
して、導電体金属層1上に導電性バンプ(突起)を形成
し、この導電性バンプと対接するように、電気絶縁層と
なる電気絶縁性樹脂を含浸させたプリプレグのような合
成樹脂系シートを重ね合わせ、電気絶縁層に前記バンプ
を貫通させた後、当該バンプが露出した電気絶縁層aの
面に導電体回路層2を形成する方法(Buried B
ump Intrconnection Techno
logy)が提案されている(特開平7−86749号
公報など)。合成樹脂系シート中の電気絶縁性樹脂とし
ては、エポキシ樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、
ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、ポリエステル樹脂、
メラミン樹脂、生ゴムなどの熱硬化性樹脂が用いられて
いる。
【0003】このような方法により多層基板を得るのに
用いられるプリプレグには、通常、ガラス繊維などの補
強剤が含まれている。このため、プリプレグのような合
成樹脂系シートを対接させ、電気絶縁層aに前記バンプ
を貫通させるに当たって、ある程度の圧力を加えること
が必要となる。しかし圧力を加えることで導電性バンプ
の形状が変形すると、層間接続体を形成する導電体金属
のマイグレーションが生じやすくなる傾向にある。高密
度な配線パターンを得るためには、この層間接続体の間
隔を狭くする必要が生じてくる。しかし、この間隔を狭
くすると、層間接続体を形成する導電体金属のマイグレ
ーションによる配線間や層間接続体と配線との間での影
響を受けやすくなる。マイグレーションは、電圧の印加
された、高湿条件下で発生しやすく、電気特性に大きな
影響を与える。このため、耐マイグレーション性を確保
し、絶縁信頼性、接続信頼性などの電気特性を向上させ
ることが望まれていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】かかる従来技術の下、
本発明者らは、プリプレグのような合成樹脂系シートを
対接させ、圧力を加えて電気絶縁層に前記バンプを貫通
させて層間接続体を形成して得られる多層回路基板にお
いてマイグレーションの発生をできるだけ少なくするべ
く鋭意研究をした結果、絶縁性重合体と硬化剤とを含有
する硬化性組成物のワニスを支持体に塗布、乾燥して得
られるフィルム状又はシート状成形体とを重ね合わせ、
圧力を加えた後、当該重ね合わせた成形体を硬化させ
て、前記バンプが電気絶縁層に貫通し、当該バンプの先
端が露出した電気絶縁層を形成した場合、バンプの変形
がなく前記目的を達成することを見いだした。更に、絶
縁性重合体として重量平均分子量Mwが10,000〜
1,000,000であるものをもちいると、マイグレ
ーションの発生をより効果的に抑制することを見いだ
し、これらの知見に基づいて本発明を完成するに到っ
た。
【0005】
【課題を解決するための手段】かくして、本発明によれ
ば、電気絶縁層aの上に形成された、その表面に導電性
バンプ(以下、単にバンプと言うことがある)を有する
導電体回路層1と、絶縁性重合体及び硬化剤を含有する
硬化性組成物のワニスを支持体に塗布、乾燥して得られ
るフィルム状又はシート状成形体(以下、単に硬化性組
成物の成形体と言うことがある)とを重ね合わせ、圧力
を加えて、前記成形体に導電性バンプを貫通させた(工
程A)後、前記重ね合わせた成形体を硬化させて、前記
バンプが貫通した電気絶縁層bを形成し(工程B)、次
いで電気絶縁層bの表面に導電体回路層2を形成する
(工程C)ことにより多層回路基板を製造する方法が提
供され、また当該方法により製造された多層回路基板が
提供される。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明の多層回路基板の製造方法
は、次の3つの工程を有する。 工程A:電気絶縁層aの上に形成された、その表面にバ
ンプを有する導電体回路層1と、硬化性組成物のワニス
の成形体とを重ね合わせ(図1−a)、圧力を加えて、
前記成形体に導電性バンプを貫通させる(図1−b)。 工程B:当該成形体を硬化させて、前記バンプが貫通し
た電気絶縁層bを形成する(図1−c)。 工程C:電気絶縁層bの表面に導電体回路層2を形成す
る(図1−d)。 各工程について、以下に詳述する。 (工程A)本発明において電気絶縁層aは、電気絶縁性
を有する絶縁性重合体により形成されたものである。こ
の電気絶縁層aの表面に導電体回路層1を有するもの
は、プリント配線基板、シリコンウェハー基板などの内
層基板であってもよい。電気絶縁層aの材料として、例
えば、脂環式オレフィン重合体、エポキシ樹脂、マレイ
ミド樹脂、(メタ)アクリル樹脂、ジアリルフタレート
樹脂、トリアジン樹脂、芳香族ポリエーテル重合体、シ
アネートエステル重合体、ポリイミドなどを含有する硬
化性組成物を、硬化してなるものが挙げられる。また、
内層基板は、ガラス繊維、樹脂繊維などを強度向上のた
めに含有させたものであってもよい。本発明において導
電体回路層1の材料は、通常、導電性金属である。本発
明において導電体回路層1の上に形成される導電性バン
プは、導電性を有する材料により形成されたものであれ
ばよい。また、その形状に格別な制限はなく、通常、円
錐形、円柱形、球形など成形体を貫通しやすい形状を選
択すればよい。導電性バンプの材料となる導電性を有す
る材料としては、たとえば銀,金,銅,半田粉などの導
電性粉末、これらの合金粉末もしくは複合(混合)金属
粉末と、たとえばポリカーボネート樹脂,ポリスルホン
樹脂,ポリエステル樹脂,フェノキシ樹脂,フェノール
樹脂,ポリイミド樹脂などのバインダー成分とを混合し
て調製された導電性組成物、あるいは導電性金属などが
挙げられる。バンプを導電性組成物で形成する場合、た
とえば比較的厚いメタルマスクを用いた印刷法により、
アスペクト比の高いバンプを形成でき、そのバンプの高
さは一般的に、100〜400μm程度である。バンプ
の高さは、硬化性組成物のフィルム状又はシート状成形
体一層分又は2層以上の高さであってもよい。また、同
じ面に形成されたバンプの高さは、すべてが同じである
必要はなく、多層化を考慮し、異なる高さのバンプが混
在していてもよい。一方、導電性金属でバンプ群を形成
する手段としては、ある程度形状もしくは寸法が一定な
微小金属魂を、粘着剤層を予め設けておいた導電性金属
層面に散布し、選択的に固着させる方法(このときマス
クを配置して行ってもよい)、電解銅箔面にメッキレジ
ストを印刷・パターニングして、銅,錫,金,銀,半田
などメッキして選択的に微小な金属柱を形成する方法、
導電性回路層に半田レジストの塗布・パターニングし
て、半田浴に浸漬して選択的に微小な金属柱を形成する
方法などが挙げられる。ここで、バンプは、異種金属を
組み合わせて成る多層構造、多層シェル構造でもよい。
たとえば銅を芯にし表面を金や銀の層で被覆して耐酸化
性を付与したり、銅を芯にし表面を半田層被覆して半田
接合性をもたせたりしてもよい。
【0007】電気絶縁層bは、硬化性組成物のフィルム
状又はシート状の成形体を用いて形成する。硬化性組成
物は、後述するとおり絶縁性重合体及び硬化剤を含有す
る。この硬化性組成物を有機溶媒に溶解してワニスを得
る。
【0008】硬化性組成物のワニスを支持体に塗布、乾
燥して得られるフィルム状又はシート状成形体(以下、
単に成形体と言うことがある))は、通常、溶液キャス
ト法や溶融キャスト法などにより成形されたものであ
る。溶液キャスト法により成形する場合は、硬化性組成
物のワニスを支持体に塗布した後に、有機溶剤を乾燥除
去する。溶液キャスト法に使用する支持体として、樹脂
フィルム(キャリアフィルム)や金属箔などが挙げられ
る。樹脂フィルムとしては、通常、熱可塑性樹脂フィル
ムが用いられ、具体的には、ポリエチレンテレフタレー
トフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリエチレンフ
ィルム、ポリカーボネイトフィルム、ポリエチレンナフ
タレートフィルム、ポリアリレートフィルム、ナイロン
フィルムなどが挙げられる。これら樹脂フィルムの中、
耐熱性や耐薬品性、積層後の剥離性などの観点からポリ
エチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタ
レートフィルムが好ましい。金属箔としては、例えば、
銅箔、アルミ箔、ニッケル箔、クロム箔、金箔、銀箔な
どが挙げられる。導電性が良好で安価である点から、銅
箔、特に電解銅箔や圧延銅箔が好適である。支持体の厚
さは特に制限されないが、作業性等の観点から、通常1
μm〜150μm、好ましくは2μm〜100μm、よ
り好ましくは3〜50μmである。
【0009】塗布方法として、デイップコート、ロール
コート、カーテンコート、ダイコート、スリットコート
などの方法が挙げられる。また有機溶剤の除去乾燥の条
件は、有機溶剤の種類により適宜選択され、乾燥温度
は、通常20〜300℃、好ましくは30〜200℃で
あり、乾燥時間は、通常30秒〜1時間、好ましくは1
分〜30分である。
【0010】フィルム又はシートの厚みは、通常0.1
〜150μm、好ましくは0.5〜100μm、より好
ましくは1.0〜80μmである。なお、フィルム又は
シートを単独で得たい場合には、支持体上にフィルム又
はシートを形成した後、支持体から剥離する。
【0011】ワニスを得る方法に格別な制限はなく、例
えば、硬化性組成物を構成する各成分と有機溶媒とを混
合することにより得られる。各成分の混合方法は、常法
に従えばよく、例えば、攪拌子とマグネチックスターラ
ーを使用した攪拌、高速ホモジナイザー、ディスパージ
ョン、遊星攪拌機、二軸攪拌機、ボールミル、三本ロー
ルなどを使用した方法などで行うことができる。これら
を混合する際の温度は、硬化剤による反応が作業性に影
響を及ぼさない範囲であり、さらには安全性の点から混
合時に使用する有機溶剤の沸点以下が好ましい。
【0012】有機溶剤としては、例えば、トルエン、キ
シレン、エチルベンゼン、トリメチルベンゼンなどの芳
香族炭化水素系有機溶剤;n−ペンタン、n−ヘキサ
ン、n−ヘプタンなどの脂肪族炭化水素系有機溶剤;シ
クロペンタン、シクロヘキサンなどの脂環式炭化水素系
有機溶剤;クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、トリク
ロロベンゼンなどのハロゲン化炭化水素系有機溶剤;メ
チルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロペ
ンタノン、シクロヘキサノンなどのケトン系有機溶剤な
どを挙げることができる。これらの有機溶剤は、それぞ
れ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いること
ができる。
【0013】これら有機溶剤のなかでも、気泡等を生じ
させないものとして、芳香族炭化水素系有機溶剤や脂環
式炭化水素系有機溶剤のような非極性有機溶剤とケトン
系有機溶剤のような極性有機溶剤とを混合した混合有機
溶剤が好ましい。これらの非極性有機溶剤と極性有機溶
剤との混合比は適宜選択できるが、重量比で、通常5:
95〜95:5、好ましくは10:90〜90:10、
より好ましくは20:80〜80:20の範囲である。
【0014】有機溶剤の使用量は、厚みの制御や平坦性
向上などの目的に応じて適宜選択されるが、ワニスの固
形分濃度が、通常5〜70重量%、好ましくは10〜6
5重量%、より好ましくは20〜60重量%になる範囲
である。
【0015】本発明において、導電体回路層1表面に形
成された導電性バンプと前記成形体とを重ね合わせ、圧
力を加えることで、成形体にバンプが貫通する。成形体
にバンプを貫通させるために、通常、加圧ラミネータ、
プレス、真空ラミネータ、真空プレス、ロールラミネー
タなどの加圧機を使用して加熱圧着する。加熱圧着は、
配線への埋め込み性を向上させ、気泡等の発生を抑える
ために真空下で行うのが好ましい。加熱圧着時の温度
は、通常30〜250℃、好ましくは70〜200℃、
圧着力は、通常10kPa〜20MPa、好ましくは1
00kPa〜10MPa、圧着時間は、通常30秒〜5
時間、好ましくは1分〜3時間であり、通常100kP
a〜1Pa、好ましくは40kPa〜10Paに雰囲気
を減圧する。
【0016】上述してきた工程Aにおいて用いられる硬
化性組成物を構成する絶縁性重合体は電気絶縁性を有す
るものであれば特に制限されない。また、絶縁性重合体
として重量平均分子量Mwが10,000〜1,00
0,000、好ましくは50,000〜500,000
である重合体を用いると、より優れた耐マイグレーショ
ン性を示すので好ましい。このような重量平均分子量を
有する重合体は、硬化性組成物に含まれる絶縁性重合体
成分100重量部中、20重量部以上、好ましくは30
重量部以上100重量部以下の割合で存在するのが、電
気絶縁層bの平滑性を保持する観点から望ましい。重量
平均分子量Mwが10,000〜1,000,000、
好ましくは50,000〜500,000である重合体
以外の絶縁性重合体として、重量平均分子量Mwが当該
範囲の下限未満である重合体や重量平均分子量Mwが当
該範囲の上限を超過する重合体を併用することが可能で
ある。本発明において、重量平均分子量Mwは、ゲル・
パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)で測
定されるポリスチレン又はポリイソプレン換算の重量平
均分子量である。
【0017】絶縁性重合体としては、エポキシ樹脂、マ
レイミド樹脂、(メタ)アクリル樹脂、ジアリルフタレ
ート樹脂、トリアジン樹脂、脂環式オレフィン重合体、
芳香族ポリエーテル重合体、ベンゾシクロブテン重合
体、シアネートエステル重合体、液晶ポリマー、ポリイ
ミドなどが挙げられる。これらの中でも、脂環式オレフ
ィン重合体、芳香族ポリエーテル重合体、ベンゾシクロ
ブテン重合体、シアネートエステル重合体又はポリイミ
ドが好ましく、脂環式オレフィン重合体又は芳香族ポリ
エーテル重合体が特に好ましく、脂環式オレフィン重合
体がとりわけ好ましい。これらの重合体の他に、液晶ポ
リマーも好ましい絶縁性重合体として用いることができ
る。液晶ポリマーとしては、芳香族または脂肪族ジヒド
ロキシ化合物の重合体、芳香族または脂肪族ジカルボン
酸の重合体、芳香族ヒドロキシカルボン酸の重合体、芳
香族ジアミン、芳香族ヒドロキシアミンまたは芳香族ア
ミノカルボン酸の重合体などの熱可塑性液晶ポリマーが
好ましい例として挙げられる。
【0018】脂環式オレフィン重合体は、脂環式構造を
有する不飽和炭化水素の重合体である。脂環式構造とし
ては、シクロアルカン構造やシクロアルケン構造などが
挙げられるが、機械的強度、耐熱性などの観点から、シ
クロアルカン構造が好ましい。また、脂環式構造として
は、単環、多環(縮合多環、橋架け環、これらの組み合
わせ多環など)のいずれであっても良い。脂環式構造を
構成する炭素原子数に格別な制限はないが、通常4〜3
0個、好ましくは5〜20個、より好ましくは5〜15
個の範囲であるときに、機械的強度、耐熱性、及び成形
性の諸特性が高度にバランスされ好適である。また、本
発明で使用される脂環式オレフィン重合体は、通常、熱
可塑性のものである。
【0019】脂環式オレフィン重合体は、極性基を有す
るものが好ましい。極性基としては、ヒドロキシル基、
カルボキシル基、アルコキシル基、エポキシ基、グリシ
ジル基、オキシカルボニル基、カルボニル基、アミノ
基、エステル基、カルボン酸無水物基などが挙げられ、
特に、カルボキシル基又はカルボン酸無水物基が好適で
ある。
【0020】脂環式オレフィン重合体は、通常、脂環式
オレフィンを付加重合又は開環重合し、そして必要に応
じて不飽和結合部分を水素化することによって、或いは
芳香族オレフィンを付加重合又は開環重合し、そして当
該重合体の芳香環部分を水素化することによって得られ
る。また、極性基を有する脂環式オレフィン重合体は、
例えば、1)前記脂環式オレフィン重合体に極性基を変
性反応により導入することによって、2)極性基を含有
する単量体を共重合成分として共重合することによっ
て、あるいは3)エステル基などの極性基を含有する単
量体を共重合成分として共重合した後、エステル基など
を加水分解などにより脱離することによって得られる。
【0021】脂環式オレフィン重合体を得るために使用
される脂環式オレフィンとしては、ビシクロ[2.2.
1]−ヘプト−2−エン(慣用名:ノルボルネン)、5
−メチル−ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エ
ン、5,5−ジメチル−ビシクロ[2.2.1]−ヘプ
ト−2−エン、5−エチル−ビシクロ[2.2.1]−
ヘプト−2−エン、5−ブチル−ビシクロ[2.2.
1]−ヘプト−2−エン、5−ヘキシル−ビシクロ
[2.2.1]−ヘプト−2−エン、5−オクチル−ビ
シクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、5−オクタ
デシル−ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、
5−エチリデン−ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2
−エン、5−メチリデン−ビシクロ[2.2.1]−ヘ
プト−2−エン、5−ビニル−ビシクロ[2.2.1]
−ヘプト−2−エン、
【0022】5−プロペニル−ビシクロ[2.2.1]
−ヘプト−2−エン、5−メトキシ−カルボニル−ビシ
クロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、5−シアノ−
ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、5−メチ
ル−5−メトキシカルボニル−ビシクロ[2.2.1]
−ヘプト−2−エン、5−エトキシカルボニル−ビシク
ロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、ビシクロ[2.
2.1]−ヘプト−5−エニル−2−メチルプロピオネ
イト、ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−5−エニル−
2−メチルオクタネイト、
【0023】ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エ
ン−5,6−ジカルボン酸無水物、5−ヒドロキシメチ
ルビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、5,6
−ジ(ヒドロキシメチル)−ビシクロ[2.2.1]−
ヘプト−2−エン、5−ヒドロキシ−i−プロピルビシ
クロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、5,6−ジカ
ルボキシ−ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エ
ン、ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン−5,
6−ジカルボン酸イミド、5−シクロペンチル−ビシク
ロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、5−シクロヘキ
シル−ビシクロ[2.2.1]−ヘプト−2−エン、5
−シクロヘキセニル−ビシクロ[2.2.1]−ヘプト
−2−エン、5−フェニル−ビシクロ[2.2.1]−
ヘプト−2−エン、
【0024】トリシクロ[4.3.0.12,5]デカ
−3,7−ジエン(慣用名:ジシクロペンタジエン)、
トリシクロ[4.3.0.12,5]デカ−3−エン、
トリシクロ[4.4.0.12,5]ウンデカ−3,7
−ジエン、トリシクロ[4.4.0.12,5]ウンデ
カ−3,8−ジエン、トリシクロ[4.4.0.1
,5]ウンデカ−3−エン、テトラシクロ[7.4.
0.110,13.02, ]−トリデカ−2,4,6
−11−テトラエン(別名:1,4−メタノ−1,4,
4a,9a−テトラヒドロフルオレン)、テトラシクロ
[8.4.0.1 1,14.03,8]−テトラデカ
−3,5,7,12−11−テトラエン(別名:1,4
−メタノ−1,4,4a,5,10,10a−ヘキサヒ
ドロアントラセン)、
【0025】テトラシクロ[4.4.0.12,5.1
7,10]−ドデカ−3−エン(慣用名:テトラシクロ
ドデセン)、8−メチル−テトラシクロ[4.4.0.
,5.17,10]−ドデカ−3−エン、8−エチ
ル−テトラシクロ[4.4.0.12,5
7,10]−ドデカ−3−エン、8−メチリデン−テ
トラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]−ド
デカ−3−エン、8−エチリデン−テトラシクロ[4.
4.0.12,5.17,10]−ドデカ−3−エン、
8−ビニル−テトラシクロ[4.4.0.12,5.1
7,10]−ドデカ−3−エン、8−プロペニル−テト
ラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]−ドデ
カ−3−エン、8−メトキシカルボニル−テトラシクロ
[4.4.0.1 ,5.17,10]−ドデカ−3−
エン、8−メチル−8−メトキシカルボニル−テトラシ
クロ[4.4.0.12,5.17,10]−ドデカ−
3−エン、8−ヒドロキシメチル−テトラシクロ[4.
4.0.12,5.17,10]−ドデカ−3−エン、
8−カルボキシ−テトラシクロ[4.4.0.
2,5.1 ,10]−ドデカ−3−エン、
【0026】8−シクロペンチル−テトラシクロ[4.
4.0.12,5.17,10]−ドデカ−3−エン、
8−シクロヘキシル−テトラシクロ[4.4.0.1
2,5.17,10]−ドデカ−3−エン、8−シクロ
ヘキセニル−テトラシクロ[4.4.0.12,5.1
7,10]−ドデカ−3−エン、8−フェニル−テトラ
シクロ[4.4.0.12,5.17,10]−ドデカ
−3−エン、ペンタシクロ[6.5.1.13,6.0
2,7.09,13]ペンタデカ−3,10−ジエン、
ペンタシクロ[7.4.0.13,6.110,13
2,7]−ペンタデカ−4,11−ジエンのごときノ
ルボルネン系単量体;
【0027】シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘ
キセン、3,4−ジメチルシクロペンテン、3−メチル
シクロヘキセン、2−(2−メチルブチル)−1−シク
ロヘキセン、シクロオクテン、3a,5,6,7a−テ
トラヒドロ−4,7−メタノ−1H−インデン、シクロ
ヘプテンのごとき単環のシクロアルケン;ビニルシクロ
ヘキセンやビニルシクロヘキサンのごときビニル系脂環
式炭化水素系単量体;シクロペンタジエン、シクロヘキ
サジエンのごとき脂環式共役ジエン系モノマー;などが
挙げられる。
【0028】芳香族オレフィンとしては、スチレン、α
−メチルスチレン、ジビニルベンゼンなどが挙げられ
る。
【0029】脂環式オレフィン及び/又は芳香族オレフ
ィンは、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わ
せて用いることができる。
【0030】脂環式オレフィン重合体は、前記脂環式オ
レフィン及び/又は芳香族オレフィンと、これら共重合
可能な単量体とを共重合して得られるものであってもよ
い。脂環式オレフィン又は芳香族オレフィンと共重合可
能な単量体としては、エチレン;プロピレン、1−ブテ
ン、1−ペンテン、1−ヘキセン、3−メチル−1−ブ
テン、3−メチル−1−ペンテン、3−エチル−1−ペ
ンテン、4−メチル−1−ペンテン、4−メチル−1−
ヘキセン、4,4−ジメチル−1−ヘキセン、4,4−
ジメチル−1−ペンテン、4−エチル−1−ヘキセン、
3−エチル−1−ヘキセン、1−オクテン、1−デセ
ン、1−ドデセン、1−テトラデセン、1−ヘキサデセ
ン、1−オクタデセン、1−エイコセンなどの炭素数3
〜20のα−オレフィン;1,4−ヘキサジエン、4−
メチル−1,4−ヘキサジエン、5−メチル−1,4−
ヘキサジエン、1,7−オクタジエンなどの非共役ジエ
ン;等が挙げられる。これらの単量体は、それぞれ単独
で、あるいは2種以上を組み合わせて使用することがで
きる。
【0031】脂環式オレフィンや芳香族オレフィンの重
合方法、及び必要に応じて行われる水素添加の方法は、
格別な制限はなく、公知の方法に従って行うことができ
る。
【0032】脂環式オレフィン重合体の具体例として
は、ノルボルネン系単量体の開環重合体及びその水素添
加物、ノルボルネン系単量体の付加重合体、ノルボルネ
ン系単量体とビニル化合物との付加重合体、単環シクロ
アルケン重合体、脂環式共役ジエン重合体、ビニル系脂
環式炭化水素重合体及びその水素添加物、芳香族オレフ
ィン重合体の芳香環水素添加物などが挙げられる。これ
らの中でも、ノルボルネン系単量体の開環重合体及びそ
の水素添加物、ノルボルネン系単量体の付加重合体、ノ
ルボルネン系単量体とビニル化合物との付加重合体、芳
香族オレフィン重合体の芳香環水素添加物が好ましく、
特にノルボルネン系単量体の開環重合体の水素添加物が
好ましい。前記の脂環式オレフィン重合体は、それぞれ
単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることが
できる。なお、脂環式オレフィン重合体のなかでも、ノ
ルボルネン系単量体の開環重合体及びその水素添加物
は、その構造の違いから、C2nで表される非環状
オレフィンを共重合して得られるポリオレフィン樹脂と
は異種のポリマーに分類されるものである。
【0033】脂環式オレフィン重合体のMwを調整する
方法としては、例えば、チタン系又はタングステン系触
媒を用いた脂環式オレフィンの開環重合に際して、ビニ
ル化合物又はジエン化合物のような分子量調整剤を、単
量体全量に対して0.1〜10モル%程度を添加する方
法が挙げられる。このとき分子量調整剤の量を少な目に
用いると比較的高いMwの重合体が得られ、多めに用い
ると比較的低いMwの重合体が得られる。分子量調整剤
として用いるビニル化合物としては、1−ブテン、1−
ペンテン、1−ヘキセン、1−オクテンなどのα−オレ
フィン化合物;スチレン、ビニルトルエンなどのスチレ
ン化合物;エチルビニルエーテル、イソブチルビニルエ
ーテル、アリルグリシジルエーテルなどのエーテル化合
物;アリルクロライドなどのハロゲン含有ビニル化合
物;酢酸アリル、アリルアルコール、グリシジルメタク
リレートなどの酸素含有ビニル化合物;アクリルアミド
などの窒素含有ビニル化合物;などが挙げられる。ジエ
ン化合物としては、1,4−ペンタジエン、1,5−ヘ
キサジエン、1,6−ヘプタジエン、2−メチル−1,
4−ペンタジエン、2,5−ジメチル−1,5−ヘキサ
ジエンなどの非共役ジエン化合物;1,3−ブタジエ
ン、2−メチル−1,3−ブタジエン、2,3−ジメチ
ル−1,3−ブタジエン、1,3−ペンタジエン、1,
3−ヘキサジエンなどの共役ジエン化合物;が挙げられ
る。
【0034】脂環式オレフィン重合体のガラス転移温度
は、使用目的に応じて適宜選択できるが、通常50℃以
上、好ましくは70℃以上、より好ましくは100℃以
上、最も好ましくは125℃以上である。
【0035】本発明に用いる硬化性組成物を構成する硬
化剤に格別な限定はなく、例えば、イオン性硬化剤、ラ
ジカル性硬化剤又はイオン性とラジカル性とを兼ね備え
た硬化剤等が用いられる。たとえば、1−アリル−3,
5−ジグリシジルイソシアヌレート、1,3−ジアリル
−5−グリシジルイソシアヌレートのごときアリル基と
エポキシ基とを含有するハロゲン不含のイソシアヌレー
ト系硬化剤などの窒素系硬化剤;ビスフェノールAビス
(エチレングリコールグリシジルエーテル)エーテル、
ビスフェノールAビス(ジエチレングリコールグリシジ
ルエーテル)エーテル、ビスフェノールAビス(トリエ
チレングリコールグリシジルエーテル)エーテル、ビス
フェノールAビス(プロピレングリコールグリシジルエ
ーテル)エーテルなどのビスフェノールA系グリシジル
エーテル型エポキシ化合物のようなグリシジルエーテル
型エポキシ化合物、脂環式エポキシ化合物、グリシジル
エステル型エポキシ化合物などの多価エポキシ化合物;
酸無水物やジカルボン酸化合物などのジカルボン酸誘導
体;ジオール化合物、トリオール化合物、多価フェノー
ル化合物などのポリオール化合物;等の硬化剤があげら
れる。これらの中でも、多価エポキシ化合物が好まし
く、特に耐クラック性を高める観点からグリシジルエー
テル型エポキシ化合物が好ましい。
【0036】脂環式オレフィン重合体と硬化剤との硬化
反応を促進させるために、硬化促進剤や硬化助剤を使用
することもできる。硬化促進剤は、特に限定されない。
硬化剤が、例えば多価エポキシ化合物の場合には、第3
級アミン系化合物や三弗化ホウ素錯化合物などが好適で
ある。なかでも、第3級アミン系化合物を使用すると、
微細配線に対する積層性、絶縁抵抗性、耐熱性、耐薬品
性が向上する。
【0037】第3級アミン系化合物の具体例としては、
ベンジルジメチルアミン、トリエタノールアミン、トリ
エチルアミン、トリブチルアミン、トリベンジルアミ
ン、ジメチルホルムアミドなどの鎖状3級アミン化合
物;ピラゾール類、ピリジン類、ピラジン類、ピリミジ
ン類、インダゾール類、キノリン類、イソキノリン類、
イミダゾール類、トリアゾール類などの化合物が挙げら
れる。これらの中でも、イミダゾール類、特に置換基を
有する置換イミダゾール化合物が好ましい。
【0038】置換イミダゾール化合物の具体例として
は、2−エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチル
イミダゾール、ビス−2−エチル−4−メチルイミダゾ
ール、1−メチル−2−エチルイミダゾール、2−イソ
プロピルイミダゾール、2,4−ジメチルイミダゾー
ル、2−ヘプタデシルイミダゾールなどのアルキル置換
イミダゾール化合物;2−フェニルイミダゾール、2−
フェニル−4−メチルイミダゾール,1−ベンジル−2
−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−エチルイミ
ダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、
ベンズイミダゾール、2−エチル−4−メチル−1−
(2’−シアノエチル)イミダゾール、2−エチル−4
−メチル−1−[2’−(3”,5”−ジアミノトリア
ジニル)エチル]イミダゾールなどのアリール基やアラ
ルキル基などの環構造を含有する炭化水素基で置換され
たイミダゾール化合物などが挙げられる。これらの中で
も、環構造含有の置換基を有するイミダゾールが脂環式
オレフィン重合体との相溶性の観点から好ましく、特
に、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾールが好まし
い。
【0039】硬化促進剤は、単独で、あるいは2種以上
を組み合わせて用いられる。硬化促進剤の配合量は、使
用目的に応じて適宜選択されるが、絶縁性重合体100
重量部に対して、通常0.001〜30重量部、好まし
くは0.01〜10重量部、より好ましくは0.03〜
5重量部である。
【0040】硬化助剤は、必要に応じて使用される。硬
化助剤としては、例えば、キノンジオキシム、ベンゾキ
ノンジオキシム、p−ニトロソフェノール等のオキシム
・ニトロソ系硬化助剤;N,N−m−フェニレンビスマ
レイミド等のマレイミド系硬化助剤;ジアリルフタレー
ト、トリアリルシアヌレート、トリアリルイソシアヌレ
ート等のアリル系硬化助剤;エチレングリコールジメタ
クリレート、トリメチロールプロパントリメタクリレー
ト等のメタクリレート系硬化助剤;ビニルトルエン、エ
チルビニルベンゼン、ジビニルベンゼンなどのビニル系
硬化助剤;1−ベンジル−2−フェニルイミダゾールな
どの第3級アミン系化合物等が挙げられる。この他、ア
リル基を有する硬化剤に対して硬化助剤として機能する
過酸化物を用いることもできる。
【0041】本発明に係る硬化性組成物には、所望に応
じて、その他の成分を配合することができる。
【0042】このほか、難燃剤、軟質重合体、耐熱安定
剤、耐候安定剤、老化防止剤、レベリング剤、帯電防止
剤、スリップ剤、アンチブロッキング剤、防曇剤、滑
剤、染料、顔料、天然油、合成油、ワックス、乳剤、充
填剤、紫外線吸収剤などをその他の成分として用いるこ
とができる。その配合割合は、本発明の目的を損ねない
範囲で適宜選択される。
【0043】(工程B)硬化性組成物の成形体を重ね合
わせて成形体に導電性バンプを貫通させた(工程A)
後、当該成形体を硬化することで、バンプが貫通した電
気絶縁層bが形成される。電気絶縁層bに貫通したバン
プが層間接続体となる。工程Aで成形体として支持体付
きフィルム又はシートを用いた場合には、前記支持体を
剥がした後に、この工程Bを行う。成形体の硬化は、通
常、成形体を加熱することにより行う。硬化剤の種類に
応じて硬化条件は適宜選択されるが、硬化させるための
温度は、通常30〜400℃、好ましくは70〜300
℃、より好ましくは100〜200℃であり、硬化時間
は、通常0.1〜5時間、好ましくは0.5〜3時間で
ある。加熱の方法は特に制限されず、例えばオーブンな
どを用いて行えばよい。
【0044】(工程C)工程Bにおいて形成された電気
絶縁層bの上に導電体回路層2を形成する。導電体回路
層2を形成する方法は特に制限されず、例えば、電気絶
縁層bの上に湿式又は乾式メッキにより金属薄膜層を形
成した後、常法に従って金属薄膜上に感光性ドライフィ
ルムを重ね、これにメッキレジストパターンを形成さ
せ、更にその上に電解メッキ等の湿式メッキによりメッ
キを成長させ、次いで、メッキレジストを除去し、更に
エッチングにより金属薄膜と成長させたメッキからなる
導電体回路層2を形成する方法や、電気絶縁層b上に金
属箔を接着させた後、エッチングレジストを貼り付け、
常法に従ってレジストパターン形成し、金属箔をエッチ
ングした後、エッチングレジストを除去して導電体回路
層2を形成する方法などが挙げられる。
【0045】このようにして得られた多層基板表面にあ
る導電体回路層2表面に導電性バンプを形成し、本発明
における工程A〜Cを繰り返すことで、更なる多層化も
可能である。こうして得られる本発明の多層回路基板
は、コンピューターや携帯電話等の電子機器において、
CPUやメモリなどの半導体素子、その他の実装部品を
実装するためのプリント配線板として使用できる。特
に、微細配線を有するものは高密度プリント配線基板と
して、高速コンピューターや、高周波領域で使用する携
帯端末の配線基板として好適である。
【0046】
【実施例】以下に、実施例及び比較例を挙げて本発明を
具体的に説明する。なお、実施例中、部及び%は、特に
断りのない限り重量基準である。本実施例において行っ
た評価方法は以下のとおりである。 (1)分子量 トルエンを溶媒とするゲル・パーミエーション・クロマ
トグラフィー(GPC)によるポリスチレン換算値とし
て測定した。 (2)水素添加率及びマレイン酸残基含有率 水素添加前の重合体中の不飽和結合のモル数に対する水
素添加率及び重合体中の総モノマー単位数に対する(無
水)マレイン酸残基のモル数の割合(マレイン酸残基含
有率)はH−NMRスペクトルにより測定した。 (3)ガラス移転温度(Tg) 示差走査熱量法(DSC法)により測定した。
【0047】(4)絶縁信頼性 内層基板の両面に電気絶縁層がそれぞれ2層積層された
両面合計4層の多層回路基板の1層目と2層目におい
て、JPCA規格のJPCA−BU01に定める9.1.
2 3)ビア(ランド)−ライン間マイグレーション評
価用パターンを形成した。該評価用パターンを形成した
多層回路基板を85℃、85%RH条件下に放置した。
該評価用多層回路基板を300時間後に取り出して常態
(25℃、50%RH)に放置し、1時間後に直流電圧
5.5Vを印加して常態におけるビア(ランド)−ライ
ン間の電気絶縁抵抗値を測定した。電気絶縁抵抗値が1
オーム以上のものは○、10オーム以上で10
オーム未満のものは△、10 オーム未満のものは×と
評価した。
【0048】(5)接続信頼性 内層基板の両面に電気絶縁層がそれぞれ2層積層された
両面合計4層の多層回路基板の1層目で直径100μm
の円形パッドで配線幅50μmの長さ300μmのダン
ベルパターンを形成し、2層目でビア径40μmでラン
ド幅30μm、配線幅50μmのビア中心間距離200
μmのダンベルパターンを形成し、1層目と2層目との
パッド間で層間接続体を行い1000穴のデイジーチェ
ーンを形成した。当該デイジーチェーンを形成した多層
回路基板を−25℃のガルデン溶液に3分間、次いで1
15℃のガルデン溶液に3分間浸漬することを1サイク
ルとしこれを連続200サイクル処理した。前述した熱
衝撃試験前後おけるデイジーチェーンの始端−終端間の
抵抗値を直流電圧5.5Vを印加して測定した。得られ
た抵抗値から次式に従い抵抗値の変動率を算出した。 {(熱衝撃試験後の抵抗値/熱衝撃試験前の抵抗値)−1}×100 (単位%) 抵抗値の変動率が10%未満のものは○、10%以上で
50%未満のものは△、50%以上のものは×と評価し
た。
【0049】(製造例)8−エチル−テトラシクロ
[4.4.0.12,5.17,10]−ドデカ−3−
エンを開環重合し、次いで水素添加反応を行い、数平均
分子量(Mn)=31,200、重量平均分子量(M
w)=55,800、Tg=約140℃の水素化重合体
を得た。得られたポリマーの水素化率は99%以上であ
った。得られた重合体100部、無水マレイン酸40部
及びジクミルパーオキシド5部をt−ブチルベンゼン2
50部に溶解し、140℃で6時間反応を行った。得ら
れた反応生成物溶液を1000部のイソプロピルアルコ
ール中に注ぎ、反応生成物を凝固させマレイン酸変性水
素化重合体を得た。この変性水素化重合体を100℃で
20時間真空乾燥した。この変性水素化重合体の分子量
はMn=33,200、Mw=68,300でTgは1
70℃であった。マレイン酸残基含有率は25モル%で
あった。
【0050】前記変性水素化重合体100部、ビスフェ
ノールAビス(プロピレングリコールグリシジルエーテ
ル)エーテル40部、2−[2−ヒドロキシ−3,5−
ビス(α,α−ジメチルベンジル)フェニル]ベンゾト
リアゾール5部及び1−ベンジル−2−フェニルイミダ
ゾール0.1部をキシレン215部及びシクロペンタノ
ン54部からなる混合溶剤に溶解させてワニスを得た。
【0051】(実施例1)製造例で得られたワニスを孔
径5.0μmのポリテトラフルオロエチレン製カプセル
フィルタ(ロキテクノ社製)でろ過した後、ダイコータ
ーを用いて、300mm角の厚さ40μmのポリエチレ
ンナフタレートフィルム(キャリアフィルム)に塗工
し、その後、窒素オーブン中、120℃で10分間乾燥
させ樹脂厚み40μmのキャリアフィルム付きドライフ
ィルムを得た。
【0052】一方、2−ジブチルアミノ−4,6−ジメ
ルカプト−s−トリアジンの0.1%イソプロピルアル
コール溶液を調製し、この溶液に配線幅及び配線間距離
が50μm、導体表面がマイクロエッチング処理された
導体厚み18μmの内層回路を形成した厚さ0.8mm
の両面銅張り基板(ガラスフィラー及びハロゲン不含エ
ポキシ樹脂を含有するワニスをガラスクロスに含浸させ
て得られたコア材)を25℃で1分間浸漬した後、90
℃で15分間、窒素置換されたオーブン中で乾燥させて
プライマー層を形成させて内層基板を得た。
【0053】前述の内層基板上において、上層と層間接
続体を行う所定個所に直径40μmの円形の穴を開けた
メタルマスクを配置した後、導電性ペーストをスクリー
ン印刷・乾燥して、高さが50μm、底辺の直径が40
μmの円錐状の導電性バンプを形成した。
【0054】前記円錐状の導電性バンプを形成した内層
基板に、前述のキャリアフィルム付きドライフィルム
を、樹脂面が内側となるようにして両面銅張り基板両面
に重ね合わせた。これを、一次プレスとして耐熱ゴム製
プレス板を上下に備えた真空積層装置を用いて200P
aに減圧した後、温度110℃、圧力0.5MPaで6
0秒間加熱圧着した。次いで、二次プレスとして1.0
mmSUS製プレス板で覆われた耐熱ゴム製プレス板を
上下に備えた真空積層装置を用い200Paに減圧した
後、温度140℃、1.0MPaで60秒間加熱圧着し
た。そして、ポリエチレンナフタレートフィルムのみを
剥がし、170℃の窒素オーブン中に60分間放置し、
内層基板上に電気絶縁層を形成した回路基板を得た。
【0055】得られた回路基板を周波数13.56MH
z、出力100W、ガス圧0.8Paのアルゴンプラズ
マに、基板表面温度を約130℃に保持して、10分間
さらした。次にプラズマ処理された回路基板を出力50
0W、ガス圧0.8Paでニッケルスパッタ処理し、厚
さ0.1μmのニッケル膜を形成させ、次いで出力50
0W、ガス圧0.8Paで銅スパッタ処理し、厚さ0.3
μmの銅薄膜を形成させて、金属薄膜を有する積層板を
得た。この積層板表面に市販の感光性ドライフィルムを
熱圧着して貼り付け、さらに、このドライフィルム上に
所定のパターンのマスクを密着させ露光した後、現像し
てメッキレジストパターンを得た。次にレジスト非形成
部分に電解銅めっきを施し厚さ18μmの電解銅めっき
膜を形成させた。次いで、レジストパターンを剥離液に
て剥離除去し、塩化第二銅と塩酸混合溶液によりエッチ
ング処理を行うことにより、前記金属薄膜及び電解銅め
っき膜からなる配線パターンを形成した。そして最後
に、170℃で30分間アニール処理をして配線パター
ン付き回路基板を得た。
【0056】得られた配線パターン付き回路基板の導体
表面をマイクロエッチング処理した後、前述と同様にプ
ライマー層を形成させた。次いで、前述と同様に上層と
層間接続体を行う所定個所に導電性ペーストを用いて円
錐状の導電性バンプを形成した。次いで、前述と同様に
キャリアフィルム付きドライフィルムを用いて電気絶縁
層を形成した。次いで、得られた当該積層版の絶縁層部
分に前述と同様にして導体層を形成し、最外層の配線パ
ターンを形成することにより両面合計4層の多層回路基
板を得た。この多層回路基板について、絶縁信頼性、接
続信頼性の評価を行った。評価結果を表1に示す。
【0057】(実施例2)前記実施例1において、層間
接続体の為に形成された円錐状の導電性バンプの代わり
にボールボンダを用いて直径40μmのハンダボールバ
ンプを形成したこと以外は実施例1と同様にして、実施
例2の両面合計4層の多層回路基板を作製した。評価結
果を表1に示す。
【0058】(比較例1)実施例1のワニス作製に用い
た変性水素化重合体100部にかえて、エポキシ樹脂
(商品名:エピコート1001:油化シェルエポキシ株
式会社製:Mw=1300)100部を用いた以外は実
施例1と同様にワニスを作製した。得られたワニスを用
いて実施例1と同様にして比較例1の両面合計4層の多
層回路基板を作製した。評価結果を表1に示す。
【0059】
【0060】これらの結果から、絶縁性重合体及び硬化
剤を含有する硬化性組成物のフィルム状又はシート状成
形体を用いると、良好な耐マイグレーション性を示し、
絶縁信頼性、接続信頼性が高く電気特性に優れた多層回
路基板の得られることが判った。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施態様を工程順に説明するための要
部拡大断面図である。
【符号の説明】
1. 電気絶縁層aを有する内層基板 2. 導電体回路層1 3. 導電性バンプ 4. フィルム状成形体 5. 硬化前成形体 6. 電気絶縁層b 7.導電体回路層2
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E317 AA24 BB12 CC17 CC25 CC31 CD27 CD32 GG14 GG16 5E346 AA04 AA06 AA12 AA15 AA22 AA32 AA43 AA51 BB11 BB16 CC32 DD22 EE06 EE07 EE31 EE32 FF01 FF18 GG15 GG17 GG28 HH11 HH31

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電気絶縁層aの上に形成された、その表
    面に導電性バンプを有する導電体回路層1と、絶縁性重
    合体及び硬化剤を含有する硬化性組成物のワニスを支持
    体に塗布、乾燥して得られるフィルム状又はシート状成
    形体とを重ね合わせ、圧力を加えて、前記成形体に導電
    性バンプを貫通させた(工程A)後、前記重ね合わせた
    成形体を硬化させて、前記バンプが貫通した電気絶縁層
    bを形成し(工程B)、次いで電気絶縁層bの表面に導
    電体回路層2を形成する(工程C)ことにより多層回路
    基板を製造する方法。
  2. 【請求項2】 絶縁性重合体の重量平均分子量Mwが1
    0,000〜1,000,000である請求項1記載の
    多層回路基板の製造方法。
  3. 【請求項3】 絶縁性重合体が脂環式オレフィン重合
    体、芳香族ポリエーテル重合体、ベンゾシクロブテン重
    合体、シアネートエステル重合体、液晶ポリマー又はポ
    リイミドである請求項1又は2記載の多層回路基板の製
    造方法。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかの方法により製
    造された多層回路基板。
JP2001290560A 2001-09-25 2001-09-25 多層回路基板の製造方法 Pending JP2003101231A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001290560A JP2003101231A (ja) 2001-09-25 2001-09-25 多層回路基板の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001290560A JP2003101231A (ja) 2001-09-25 2001-09-25 多層回路基板の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003101231A true JP2003101231A (ja) 2003-04-04

Family

ID=19112853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001290560A Pending JP2003101231A (ja) 2001-09-25 2001-09-25 多層回路基板の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003101231A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100986000B1 (ko) * 2008-06-09 2010-10-06 삼성전기주식회사 인쇄회로기판 및 그 제조방법
JP2010241851A (ja) * 2009-03-31 2010-10-28 Nippon Zeon Co Ltd 硬化性樹脂組成物および回路基板用絶縁膜
KR101032463B1 (ko) 2008-04-02 2011-05-03 삼성전기주식회사 인쇄회로기판 및 그 제조방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101032463B1 (ko) 2008-04-02 2011-05-03 삼성전기주식회사 인쇄회로기판 및 그 제조방법
KR100986000B1 (ko) * 2008-06-09 2010-10-06 삼성전기주식회사 인쇄회로기판 및 그 제조방법
JP2010241851A (ja) * 2009-03-31 2010-10-28 Nippon Zeon Co Ltd 硬化性樹脂組成物および回路基板用絶縁膜

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4231976B2 (ja) 硬化性組成物及び多層回路基板
US20050175824A1 (en) Method for forming multilayer circuit structure and base having multilayer circuit structure
KR101018944B1 (ko) 다층 프린트 배선판의 제조방법 및 다층 프린트 배선판
KR20150094633A (ko) 경화성 수지 조성물, 절연 필름, 프리프레그, 경화물, 복합체, 및 전자 재료용 기판
JP2014133877A (ja) 硬化性樹脂組成物及び硬化物
JP5673685B2 (ja) 多層回路基板の製造方法
JP3810311B2 (ja) プリント基板及びその製造方法
JP2003101231A (ja) 多層回路基板の製造方法
JP2001284821A (ja) 多層回路基板
JP2015138921A (ja) 電子材料用基板
JP4168223B2 (ja) 硬化性樹脂組成物、絶縁材料及び回路基板
JP3899757B2 (ja) 硬化性重合体組成物及びそれを用いた多層回路基板
JP2007269929A (ja) 硬化性樹脂組成物およびその利用
JP2001160689A (ja) 多層回路基板
JP4637984B2 (ja) 多層回路基板の製法及び多層回路基板
WO2001063990A1 (fr) Materiau composite et procede de fabrication de carte a circuit imprime multicouche
JP4277440B2 (ja) 硬化性組成物、絶縁材料および回路基板
JP2003053879A (ja) 回路基板及びその製造方法
JP2015138922A (ja) 電子材料用基板及び電子材料用基板の製造方法
JP2013055301A (ja) 多層プリント配線板の製造方法
WO2007111314A1 (ja) 多層プリント配線板の製造方法および複合フィルム
JP4300389B2 (ja) 多層回路基板の製造方法
JP2003022711A (ja) 電気絶縁膜、回路基板及び硬化性組成物
JP2006278922A (ja) 多層回路基板の製造方法
JP2003060355A (ja) 回路基板の製造方法