JP2003163440A - Method of manufacturing circuit board - Google Patents
Method of manufacturing circuit boardInfo
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- JP2003163440A JP2003163440A JP2001360736A JP2001360736A JP2003163440A JP 2003163440 A JP2003163440 A JP 2003163440A JP 2001360736 A JP2001360736 A JP 2001360736A JP 2001360736 A JP2001360736 A JP 2001360736A JP 2003163440 A JP2003163440 A JP 2003163440A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、高精度な回路パタ
ーンを有するとともに生産性に優れた可撓性フイルムを
用いた回路基板の製造方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a circuit board using a flexible film having a highly accurate circuit pattern and excellent in productivity.
【0002】[0002]
【従来の技術】エレクトロニクス製品の軽量化、小型化
に伴い、プリント回路基板のパターニングの高精度化が
求められている。中でも可撓性フイルム基板は、曲げる
ことができるために三次元配線ができ、エレクトロニク
ス製品の小型化に適していることから需要が拡大してい
る。液晶ディスプレイパネルへのIC接続に用いられる
TAB(Tape Automated Bondin
g)技術は、比較的細幅の長尺ポリイミドフイルム基板
を加工することで樹脂基板としては最高の微細パターン
を得ることができるが、微細化の進展に関しては限界に
近づきつつある。微細化にはライン幅やライン間のスペ
ース幅で表される指標と基板上のパターンの位置で表さ
れる指標がある。後者の指標、いわゆる累積精度は、回
路基板とICなどの電子部品とを接続する際の電極パッ
ドと回路基板パターンとの位置合わせに係わり、ICの
多ピン化の進展に従い要求される精度が厳しくなってき
ている。2. Description of the Related Art As the weight and size of electronic products are reduced, the patterning of printed circuit boards is required to be highly accurate. Among them, the flexible film substrate has a growing demand because it can be bent so that three-dimensional wiring is possible and it is suitable for downsizing of electronic products. TAB (Tape Automated Bonding) used for IC connection to a liquid crystal display panel
The g) technique can obtain the finest pattern as a resin substrate by processing a long polyimide film substrate having a relatively narrow width, but is approaching the limit with respect to the progress of miniaturization. For miniaturization, there are an index represented by a line width and a space width between lines and an index represented by a pattern position on a substrate. The latter index, so-called cumulative accuracy, is related to the alignment between the electrode pad and the circuit board pattern when connecting the circuit board and an electronic component such as an IC, and the accuracy required as the number of pins in the IC increases. It has become to.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記累積精度の点にお
いて、特にフイルム基板加工は改良が難しい状況になり
つつある。回路基板加工プロセスでは、乾燥やキュアな
どの熱処理プロセス、エッチングや現像などの湿式プロ
セスがあり、可撓性フイルムは、膨張と収縮を繰り返
す。このときのヒステリシスは、基板上の回路パターン
の位置ずれを引き起こす。また、アライメントが必要な
プロセスが複数ある場合、これらのプロセスの間に膨
張、収縮があると形成されるパターン間で位置ずれが発
生する。可撓性フイルムの膨張と収縮による変形は、比
較的大面積の基板寸法で加工を進めるFPC(フレキシ
ブルプリント基板)の場合には更に大きな影響を及ぼ
す。また、位置ずれは引っ張りや捻れなどの外力でも引
き起こされ、柔軟性を上げるために薄い基板を使う場合
は特に注意を要している。In terms of the accumulative accuracy, it is becoming difficult to improve the film substrate processing, in particular. The circuit board processing process includes a heat treatment process such as drying and curing, and a wet process such as etching and development, and the flexible film repeats expansion and contraction. The hysteresis at this time causes the displacement of the circuit pattern on the substrate. Further, when there are a plurality of processes that require alignment, if there is expansion or contraction between these processes, misalignment occurs between the formed patterns. The deformation caused by the expansion and contraction of the flexible film has a greater effect in the case of an FPC (flexible printed circuit board) in which processing is performed with a relatively large area substrate size. Further, the positional displacement is also caused by an external force such as pulling or twisting, and special attention is required when using a thin substrate to increase flexibility.
【0004】本発明の目的は、上記のような問題点を解
決し、さらに両面に回路パターンを設けた高精度な可撓
性フイルム回路基板の製造法を提供することにある。An object of the present invention is to solve the above problems and to provide a method of manufacturing a highly accurate flexible film circuit board having circuit patterns on both sides.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記本発明の目的を達成
するために、本発明は以下の構成からなる。In order to achieve the above object of the present invention, the present invention has the following constitution.
【0006】(1)補強板と可撓性フイルムとを剥離可
能な有機物層を介して貼り合わせ、次いで、可撓性フイ
ルムの補強板と貼り合わされていない方の面に回路パタ
ーンを形成してから、可撓性フイルムを剥離する回路基
板の製造方法であって、可撓性フイルムを剥離するとき
の剥離力A(g/cm)と、可撓性フイルムの厚みの逆
数B(μm-1)と、可撓性フイルムのヤング率の逆数C
(mm2/kg)との積A×B×Cが、4.3×10-6
以上4.3×10-3以下の範囲であることを特徴とする
回路基板の製造方法。(1) A reinforcing plate and a flexible film are attached to each other via an organic layer which can be peeled off, and then a circuit pattern is formed on the surface of the flexible film which is not attached to the reinforcing plate. From the above, a method of manufacturing a circuit board for peeling a flexible film, comprising: a peeling force A (g / cm) when peeling the flexible film and a reciprocal number B (μm −1 of the thickness of the flexible film). ) And the reciprocal C of Young's modulus of the flexible film
The product A × B × C with (mm 2 / kg) is 4.3 × 10 −6
A method of manufacturing a circuit board, wherein the range is 4.3 × 10 −3 or less.
【0007】(2)可撓性フイルムの一方の面に回路パ
ターンを形成した後、補強板と可撓性フイルムの回路パ
ターン形成面とを剥離可能な有機物層を介して貼り合わ
せ、次いで、可撓性フイルムのもう一方の面に回路パタ
ーンを形成してから、可撓性フイルムを剥離する回路基
板の製造方法であって、可撓性フイルムを剥離するとき
の剥離力A(g/cm)と、可撓性フイルムの厚みの逆
数B(μm-1)と、可撓性フイルムのヤング率の逆数C
(mm2/kg)との積A×B×Cが、4.3×10-6
以上4.3×10-3以下の範囲であることを特徴とする
回路基板の製造方法。(2) After forming a circuit pattern on one surface of the flexible film, the reinforcing plate and the circuit pattern forming surface of the flexible film are bonded together via a peelable organic material layer, and then the flexible film is bonded. A method of manufacturing a circuit board in which a circuit pattern is formed on the other surface of a flexible film and then the flexible film is peeled off. A peeling force A (g / cm) when peeling the flexible film And the reciprocal B (μm −1 ) of the thickness of the flexible film and the reciprocal C of the Young's modulus of the flexible film.
The product A × B × C with (mm 2 / kg) is 4.3 × 10 −6
A method of manufacturing a circuit board, wherein the range is 4.3 × 10 −3 or less.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】本発明において可撓性フイルム
は、プラスチックフイルムであって、回路パターン製造
工程および電子部品実装での熱プロセスに耐えるだけの
耐熱性を備えていることが重要であり、ポリカーボネー
ト、ポリエーテルサルファイド、ポリエチレンテレフタ
レート、ポリエチレンナフタレート、ポリフェニレンサ
ルファイド、ポリイミド、ポリアミド、液晶ポリマーな
どのフイルムを採用することができる。中でもポリイミ
ドフイルムは、耐熱性に優れるとともに耐薬品性にも優
れているので好適に採用される。また、低誘電損失など
電気的特性が優れている点で、液晶ポリマーが好適に採
用される。可撓性のガラス繊維補強樹脂板を採用するこ
とも可能である。ガラス繊維補強樹脂板の樹脂として
は、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェニレンエー
テル、マレイミド、ポリアミド、ポリイミドなどが挙げ
られる。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In the present invention, the flexible film is a plastic film, and it is important that it has heat resistance enough to withstand a thermal process in a circuit pattern manufacturing process and electronic component mounting, Films such as polycarbonate, polyether sulfide, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyphenylene sulfide, polyimide, polyamide and liquid crystal polymer can be adopted. Among them, the polyimide film is preferably used because it has excellent heat resistance and chemical resistance. A liquid crystal polymer is preferably used because it has excellent electrical characteristics such as low dielectric loss. It is also possible to employ a flexible glass fiber reinforced resin plate. Examples of the resin for the glass fiber reinforced resin plate include polyphenylene sulfide, polyphenylene ether, maleimide, polyamide, and polyimide.
【0009】可撓性フイルムの厚さは、電子機器の軽量
化、小型化、あるいは微細なビアホール形成のためには
薄い方が好ましく、一方、機械的強度を確保するためや
平坦性を維持するためには厚い方が好ましい点から、
7.5μmから125μmの範囲が好ましい。The thickness of the flexible film is preferably thin in order to reduce the weight and size of electronic equipment or to form fine via holes, while maintaining the flatness in order to secure mechanical strength. In order to be thick, it is preferable that
The range of 7.5 μm to 125 μm is preferable.
【0010】回路パターンを形成するための金属層は、
銅箔などの金属箔を接着剤層で貼り付けて形成すること
ができる他、スパッタやメッキ、あるいはこれらの組合
せで形成することができる。また、銅などの金属箔の上
に可撓性フイルムの原料樹脂あるいはその前駆体を塗
布、乾燥、キュアすることで、金属層付き可撓性フイル
ムを得ることもできる。The metal layer for forming the circuit pattern is
It can be formed by adhering a metal foil such as a copper foil with an adhesive layer, or can be formed by sputtering, plating, or a combination thereof. A flexible film with a metal layer can also be obtained by applying a raw material resin for a flexible film or a precursor thereof onto a metal foil such as copper, followed by drying and curing.
【0011】本発明において補強板として用いられる基
板は、ソーダライムガラス、ホウケイ酸系ガラス、石英
ガラスなどの無機ガラス類、ステンレススチール、イン
バー合金、チタンなどの金属からなる基板やガラス繊維
補強樹脂板などが採用できる。いずれも線膨張係数や吸
湿膨張係数が小さい点で好ましいが、回路パターン製造
工程の耐熱性、耐薬品性に優れている点や大面積で表面
平滑性が高い基板が安価に入手しやすい点や塑性変形し
にくい点で無機ガラス類からなる基板が好ましい。中で
もアルミノホウケイ酸塩ガラスに代表されるホウケイ酸
系ガラスは、高弾性率でかつ熱膨張係数が小さいため特
に好ましい。また、剥離可能な有機物層が紫外線照射で
接着力、粘着力が減少するタイプのものである場合は、
紫外線を通す基板であることが好ましい。特に、具体例
は後述するが、プロセス中にフイルム両面に補強板が貼
り合わせられた構成をとり、片側の補強板だけを剥離し
たいときには剥離可能な有機物層が紫外線照射で接着
力、粘着力が減少するタイプであり、かつ補強板が紫外
線を通す基板であることが好ましい。The substrate used as the reinforcing plate in the present invention is a substrate made of inorganic glass such as soda lime glass, borosilicate glass, and quartz glass, a metal such as stainless steel, Invar alloy, titanium, or a glass fiber reinforced resin plate. Can be adopted. Both are preferable in that the linear expansion coefficient and the hygroscopic expansion coefficient are small, but the heat resistance in the circuit pattern manufacturing process, the excellent chemical resistance, and the large surface area and high surface smoothness of the substrate are easily available at low cost. A substrate made of an inorganic glass is preferable because it is less likely to undergo plastic deformation. Above all, borosilicate glass represented by aluminoborosilicate glass is particularly preferable because it has a high elastic modulus and a small thermal expansion coefficient. Further, when the peelable organic material layer is of a type in which the adhesive force and the adhesive force are reduced by ultraviolet irradiation,
It is preferably a substrate that transmits ultraviolet rays. In particular, although a specific example will be described later, when a reinforcing plate is attached to both sides of the film during the process, and when only one reinforcing plate is desired to be peeled off, the peelable organic material layer has an adhesive force and an adhesive force by ultraviolet irradiation. It is preferable that the reinforcing plate is a type that reduces the number of rays and the reinforcing plate is a substrate that transmits ultraviolet rays.
【0012】金属やガラス繊維補強樹脂を補強板に採用
する場合は、長尺連続体での製造もできるが、位置精度
を確保しやすい点で、本発明の回路基板の製造方法は枚
葉式で行うことが好ましい。枚葉とは、長尺連続体でな
く、個別のシート状でハンドリングされる状態を言う。When a metal or glass fiber reinforced resin is used for the reinforcing plate, a long continuous body can be manufactured, but the method of manufacturing the circuit board of the present invention is a single-wafer type because it is easy to secure positional accuracy. It is preferable to carry out. The sheet is not a long continuous body but a state of being handled as individual sheets.
【0013】補強板に用いられるガラス基板は、ヤング
率が小さかったり、厚みが小さいと可撓性フイルムの膨
張・収縮力で反りやねじれが大きくなり、平坦なステー
ジ上に真空吸着したときにガラス基板が割れることがあ
る。また、真空吸着・脱着で可撓性フイルムが変形する
ことになり位置精度の確保が難しくなる傾向がある。一
方、ガラス基板が厚いと、肉厚ムラにより平坦性が悪く
なることがあり、露光精度が悪くなる傾向がある。ま
た、ロボット等によるハンドリング時に負荷が大きくな
り、素早い取り回しが難しくなって生産性が低下する要
因になる他、運搬コストも増大する傾向がある。この点
から、枚葉補強板であるガラス基板のヤング率(kg/
mm2)と厚さ(mm)の3乗の積が、850kg・m
m以上860000kg・mm以下の範囲であることが
好ましく、1500kg・mm以上190000kg・
mm以下の範囲であることがさらに好ましく、2400
kg・mm以上110000kg・mm以下の範囲が最
も好ましい。なおガラス基板のヤング率は、JIS R
1602によって求められる値とする。The glass substrate used for the reinforcing plate has a small Young's modulus or a small thickness, and the warping and twisting of the flexible film increases due to the expansion and contraction force of the flexible film. The board may crack. In addition, the vacuum adsorption / desorption deforms the flexible film, which tends to make it difficult to secure positional accuracy. On the other hand, when the glass substrate is thick, the flatness may be deteriorated due to the uneven thickness and the exposure accuracy tends to be deteriorated. In addition, the load increases during handling by a robot or the like, which makes quick handling difficult, which causes a decrease in productivity, and also tends to increase transportation costs. From this point, the Young's modulus (kg /
The product of the cube of mm 2 ) and the thickness (mm) is 850 kg · m
The range is preferably m or more and 860000 kg · mm or less, and 1500 kg · mm or more and 190000 kg ·
It is more preferable that the range is less than or equal to mm
The most preferable range is from kg · mm to 110000 kg · mm. The Young's modulus of the glass substrate is JIS R
The value is obtained by 1602.
【0014】補強板に金属基板を用いる場合、金属基板
のヤング率が小さかったり、厚みが薄いと可撓性フイル
ムの膨張・収縮力で反りやねじれが大きくなり、平坦な
ステージ上に真空吸着できなくなったり、金属基板の反
りやねじれ分、可撓性フイルムが変形することにより、
位置精度の保持が難しくなる。また、折れがあるとその
時点で不良品になる。一方、金属基板が厚いと、肉厚ム
ラにより平坦性が悪くなることがあり、露光精度が悪く
なる。また、ロボット等によるハンドリング時に負荷が
大きくなり、素早い取り回しが難しくなって生産性が低
下する要因になる他、運搬コストも増大する。この点か
ら、枚葉補強板である金属基板のヤング率(kg/mm
2)と厚さ(mm)の3乗の積が、2kg・mm以上1
62560kg・mm以下の範囲であることが好まし
く、10kg・mm以上30000kg・mm以下の範
囲であることがさらに好ましく、15kg・mm以上2
0500kg・mm以下の範囲であることが最も好まし
い。When a metal substrate is used as the reinforcing plate, if the Young's modulus of the metal substrate is small or the metal substrate is thin, warping or twisting is increased due to the expansion / contraction force of the flexible film, and vacuum adsorption onto a flat stage is possible. It disappears, the warp and twist of the metal substrate, the flexible film deforms,
It becomes difficult to maintain the position accuracy. Also, if there is a break, it becomes a defective product at that time. On the other hand, if the metal substrate is thick, the flatness may be deteriorated due to the uneven thickness, and the exposure accuracy may be deteriorated. In addition, the load is increased during handling by a robot or the like, which makes it difficult to handle it quickly, which reduces productivity, and also increases transport costs. From this point, the Young's modulus (kg / mm
2 ) The product of the cube of thickness (mm) is 2kg · mm or more 1
It is preferably in the range of 62560 kg · mm or less, more preferably in the range of 10 kg · mm or more and 30,000 kg · mm or less, and 15 kg · mm or more 2
Most preferably, the range is 0500 kg · mm or less.
【0015】本発明に用いられる剥離可能な有機物層は
接着剤または粘着剤からなるものであって、可撓性フイ
ルムを該有機物層を介して補強板に貼り付けて加工後、
可撓性フイルムを剥離しうるものであれば特に限定され
ない。このような接着剤または粘着剤としては、アクリ
ル系またはウレタン系の再剥離粘着剤と呼ばれる粘着剤
を挙げることができる。また、分子設計が容易に行える
ことや耐溶剤性が優れることから、接着剤または粘着剤
の主剤と硬化剤を混合する架橋型と呼ばれるものが好ま
しい。可撓性フイルム加工中は十分な接着力があり、剥
離時は容易に剥離でき、可撓性フイルム基板に歪みを生
じさせないために、弱粘着呼ばれる領域の粘着力のもの
が好ましい。シリコーン樹脂膜は離型剤として用いられ
ることがあるが、タック性があるものは本発明において
剥離可能な有機物層として使用することができる。その
他、タック性があるエポキシ系樹脂膜を剥離可能な有機
物層として使用することも可能である。The releasable organic material layer used in the present invention is composed of an adhesive or a pressure-sensitive adhesive. After the flexible film is attached to the reinforcing plate via the organic material layer and processed,
There is no particular limitation as long as the flexible film can be peeled off. Examples of such adhesives or pressure-sensitive adhesives include pressure-sensitive adhesives called acrylic or urethane-based removable pressure-sensitive adhesives. Further, a cross-linking type in which a main agent of an adhesive or a pressure-sensitive adhesive and a curing agent are mixed is preferable because the molecule can be easily designed and the solvent resistance is excellent. It has a sufficient adhesive force during the processing of the flexible film, can be easily peeled off at the time of peeling, and does not cause distortion in the flexible film substrate, and thus the adhesive force in the region called weak adhesion is preferable. The silicone resin film may be used as a release agent, but one having tackiness can be used as the peelable organic material layer in the present invention. In addition, it is also possible to use an epoxy resin film having tackiness as the peelable organic material layer.
【0016】本発明において剥離力とは、有機物層を介
して補強板と貼り合わせた1cm幅の可撓性フイルムを
剥離するときの180°方向ピール強度である。また、
剥離力を測定するときの剥離速度は300mm/min
とした。剥離力の測定装置は特に限定されず、強度や伸
度の測定などで一般に使用されるテンシロンが好適に採
用できる。In the present invention, the peeling force is a 180 ° peel strength when peeling a 1 cm wide flexible film bonded to a reinforcing plate via an organic material layer. Also,
Peeling speed when measuring peeling force is 300 mm / min
And The peeling force measuring device is not particularly limited, and a tensilon generally used for measuring strength and elongation can be preferably used.
【0017】接着剤または粘着剤の粘着力を弱粘着と呼
ばれる領域に制御するためには、接着剤または粘着剤の
主剤と硬化剤の一方あるいは両方を高分子量化すること
により、架橋後の流動性を小さくし、接着剤または粘着
剤の可撓性フイルムへの投錨性を制御することができ
る。一方、接着剤または粘着剤の耐熱性を向上するため
にも、接着剤または粘着剤の主剤と硬化剤の一方あるい
は両方を高分子量化することが好ましい。また、接着剤
または粘着剤の粘着力を弱粘着と呼ばれる領域に制御す
るためには、接着剤または粘着剤の主剤の分子鎖に導入
する官能基数を増やすことにより硬化剤との架橋部位を
増やすことも有効であり、さらに、主剤と硬化剤の混合
比を変えることで、剥離力を調整することができ好まし
い。また、接着剤または粘着剤の粘着力を弱粘着と呼ば
れる領域に制御するために、接着剤または粘着剤の可撓
性フイルムへの投錨性を制御する方法として、接着剤ま
たは粘着剤の厚みを適性化することが比較的容易に行
え、有効である。In order to control the adhesive force of the adhesive or the pressure-sensitive adhesive to a region called weak adhesion, one or both of the main component of the adhesive or the pressure-sensitive adhesive and the curing agent are made to have a high molecular weight so that the flow after cross-linking can be improved. Therefore, it is possible to control the anchoring property of the adhesive or the pressure-sensitive adhesive to the flexible film. On the other hand, in order to improve the heat resistance of the adhesive or pressure-sensitive adhesive, it is preferable that one or both of the main component of the adhesive or pressure-sensitive adhesive and the curing agent have a high molecular weight. Further, in order to control the adhesive strength of the adhesive or the pressure-sensitive adhesive to a region called weak adhesion, the number of functional groups introduced into the molecular chain of the main agent of the adhesive or the pressure-sensitive adhesive is increased to increase the cross-linking site with the curing agent. This is also effective, and it is preferable that the peeling force can be adjusted by changing the mixing ratio of the main agent and the curing agent. In addition, in order to control the adhesive strength of the adhesive or pressure sensitive adhesive to a region called weak adhesion, as a method of controlling the anchoring property of the adhesive or pressure sensitive adhesive to the flexible film, the thickness of the adhesive or pressure sensitive adhesive is adjusted. It is effective because it can be optimized easily.
【0018】この点から有機物層の厚みは、1μmから
30μmまでの範囲であることが好ましい。薄すぎると
平面性が悪くなり、厚すぎると接着剤または粘着剤の可
撓性フイルムへの投錨性が良くなるために粘着力が強く
なりすぎる。From this point, the thickness of the organic layer is preferably in the range of 1 μm to 30 μm. If it is too thin, the flatness becomes poor, and if it is too thick, the adhesive property of the adhesive or pressure-sensitive adhesive to the flexible film is improved, so that the adhesive strength becomes too strong.
【0019】可撓性フイルムを有機物層から剥離すると
きの剥離力は、低すぎると回路パターン形成中に可撓性
フイルムが有機物層から剥離する。一方、可撓性フイル
ムを有機物層から剥離するときの剥離力が高すぎると、
可撓性フイルムは変形したりカールする。また、可撓性
フイルムの厚みが薄くなるに連れて、剥離後の該可撓性
フイルムは変形したりカールし易くなる。さらに、可撓
性フイルムのヤング率が小さくなるに連れて、剥離後の
可撓性フイルムは変形したりカールし易くなる。この点
から本発明においては、可撓性フイルムを剥離するとき
の剥離力A(g/cm)と、可撓性フイルムの厚みの逆
数B(μm-1)と、可撓性フイルムのヤング率の逆数C
(mm2/kg)との積A×B×Cを数値で表したと
き、4.3×10-6以上4.3×10-3以下の範囲とす
ることが重要であり、8.6×10 -6以上8.6×10
-4以下の範囲とすることが好ましく、2.15×10-5
以上5.16×10-4以下の範囲とすることがより好ま
しい。A×B×Cが4.3×10-6未満であると、有機
物層を介して補強板と貼り合わせた可撓性フイルム上へ
回路パターン形成中に該可撓性フイルムが有機物層から
剥離するため、該可撓性フイルム上に高精度な回路パタ
ーンを形成できない。When the flexible film is peeled from the organic layer,
If the peel force is too low, it will be flexible during circuit pattern formation.
The film peels from the organic material layer. On the other hand, flexible film
If the peeling force when peeling the film from the organic layer is too high,
The flexible film deforms and curls. Also flexible
As the film becomes thinner, the flexibility after peeling
The film is easily deformed and curled. Furthermore, it is flexible
As the Young's modulus of the film becomes smaller,
The flexible film is easy to deform and curl. This point
In the present invention, when peeling the flexible film
Of peeling force A (g / cm) and thickness of flexible film
Number B (μm-1) And the reciprocal C of Young's modulus of the flexible film
(Mm2/ Kg) and the product A × B × C is expressed numerically
When 4.3 × 10-6Above 4.3 × 10-3The following range
8.6 × 10 -68.6 x 10 or more
-FourThe following range is preferable, and 2.15 × 10-Five
5.16 x 10 or more-FourThe following range is more preferable
Good A × B × C is 4.3 × 10-6Less than organic
Onto a flexible film laminated with a reinforcing plate through the product layer
During the circuit pattern formation, the flexible film is separated from the organic layer.
For peeling, a highly accurate circuit pattern is formed on the flexible film.
Can not be formed.
【0020】4.3×10-3を超えると、有機物層を介
して補強板と貼り合わせた可撓性フイルム上へ高精度な
回路パターンを形成できるが、該可撓性フイルムを該有
機物層から剥離するときに該可撓性フイルムが変形し、
形成した回路パターンの精度が低下する。When it exceeds 4.3 × 10 -3 , a highly accurate circuit pattern can be formed on a flexible film laminated with a reinforcing plate through an organic material layer. The flexible film is deformed when peeled from
The accuracy of the formed circuit pattern decreases.
【0021】剥離の界面は、補強板と有機物層との界面
でも有機物層と可撓性フイルムとの界面でもどちらでも
良いが、可撓性フイルムから有機物層を除去する工程が
省略できるので有機物層と可撓性フイルムとの界面で剥
離する方が好ましい。The peeling interface may be either the interface between the reinforcing plate and the organic material layer or the interface between the organic material layer and the flexible film, but since the step of removing the organic material layer from the flexible film can be omitted, the organic material layer can be omitted. It is more preferable to peel at the interface between the film and the flexible film.
【0022】その他、低温領域で接着力、粘着力が減少
するもの、紫外線照射で接着力、粘着力が減少するもの
や加熱処理で接着力、粘着力が減少するものも好適に用
いられる。これらの中でも紫外線照射によるものは、接
着力、粘着力の変化が大きく好ましい。紫外線照射で接
着力、粘着力が減少するものの例としては、2液架橋型
のアクリル系粘着剤が挙げられる。また、低温領域で接
着力、粘着力が減少するものの例としては、結晶状態と
非結晶状態間を可逆的に変化するアクリル系粘着剤が挙
げられる。In addition, those having reduced adhesive strength and adhesive strength in the low temperature region, those having decreased adhesive strength and adhesive strength by irradiation of ultraviolet rays, and those having decreased adhesive strength and adhesive strength by heat treatment are also preferably used. Among these, ultraviolet irradiation is preferable because of large changes in adhesive strength and adhesive strength. As an example of the adhesive whose adhesive strength and adhesive strength are reduced by irradiation with ultraviolet rays, a two-liquid cross-linking acrylic adhesive can be mentioned. Further, as an example of the adhesive whose adhesive strength and adhesive strength are reduced in a low temperature region, there is an acrylic adhesive which reversibly changes between a crystalline state and an amorphous state.
【0023】なお本発明の第1の製造方法は、補強板と
可撓性フイルムとを剥離可能な有機物層を介して貼り合
わせ、次いで、可撓性フイルムの補強板と貼り合わされ
ていない方の面に回路パターンを形成してから、可撓性
フイルムを剥離するものであるが、第2の製造方法にお
いては、さらに、可撓性フイルムには補強板との貼り付
けに先立って、貼り付け面である一方の面に回路パター
ンが形成されていることが必要である。この場合、該パ
ターン形成と同時に、もう一方の面に形成される回路パ
ターンとの位置合わせ用マークを形成することが好まし
い。貼り合わせ面とは反対側の面に形成する高精細パタ
ーンの高精細さを活かすために位置合わせマークを設け
て位置合わせすることは非常に有効である。位置合わせ
マークは、透明な補強板を通して読みとっても良いし、
可撓性フイルムを通して読みとっても良いが、可撓性フ
イルムの貼り合わせ面とは反対側に金属層が形成されて
いる場合は、該金属層のパターンによらず読み取りがで
きることから補強板側からの読み取りが好ましい。この
位置合わせマークは、該可撓性フイルムを補強板と貼り
合わせる際の位置合わせにも利用することができる。該
位置合わせマークの形状は特に限定されず、露光機など
で一般に使用される形状が好適に採用できる。According to the first manufacturing method of the present invention, the reinforcing plate and the flexible film are bonded to each other via the peelable organic material layer, and then the flexible film is not bonded to the reinforcing plate. The flexible film is peeled off after the circuit pattern is formed on the surface. In the second manufacturing method, the flexible film is further attached prior to the attachment with the reinforcing plate. It is necessary that a circuit pattern is formed on one of the surfaces. In this case, it is preferable to form the alignment mark with the circuit pattern formed on the other surface at the same time when the pattern is formed. It is very effective to provide an alignment mark for alignment in order to utilize the high definition of the high definition pattern formed on the surface opposite to the bonding surface. You can read the alignment mark through a transparent reinforcing plate,
Although it may be read through the flexible film, when a metal layer is formed on the side opposite to the laminating surface of the flexible film, the reading can be performed regardless of the pattern of the metal layer, so that the reading from the reinforcing plate side is possible. Read is preferred. This alignment mark can also be used for alignment when the flexible film is attached to the reinforcing plate. The shape of the alignment mark is not particularly limited, and a shape generally used in an exposure device or the like can be preferably adopted.
【0024】補強板に貼り付けた後に、可撓性フイルム
の該貼り付け面とは反対面に形成される回路パターン
は、補強板及び金属層により加工時に生じる可撓性フイ
ルムの変形を防止できるため、特に高精度なパターンを
形成することができる。一方、補強板に貼り付ける前、
または補強板から剥離した後、補強板との貼り付け面に
形成されるパターンは、主にプリント配線板などへの入
出力端子およびその周辺の配線や電源と接地電位配線の
役割を持たせるものであり、補強板への貼り付け面とは
反対面に形成されるパターンほどの高精細を要求されな
い場合がある。本発明によれば、このように、片面に特
に高精細なパターンを形成した両面配線の回路基板も容
易に提供できる。両面配線であることのメリットとして
は、スルーホールを介しての配線交差ができ、配線設計
の自由度が増すこと、太い配線で接地電位を必要な場所
の近傍まで伝搬することで高速動作するLSIのノイズ
低減ができること、同様に太い配線で電源電位を必要な
場所の近傍まで伝搬することにより、高速スイッチング
でも電位の低下を防ぎ、LSIの動作を安定化させるこ
と、電磁波シールドとして外部ノイズを遮断することな
どが挙げられ、LSIが高速化し、また、多機能化によ
る多ピン化が進むと非常に重要になる。The circuit pattern formed on the surface of the flexible film opposite to the surface to which the flexible film is attached after being attached to the reinforcing plate can prevent the flexible film from being deformed by the reinforcing plate and the metal layer during processing. Therefore, a highly accurate pattern can be formed. On the other hand, before attaching to the reinforcing plate,
Or, the pattern formed on the surface to be attached to the reinforcing plate after being peeled off from the reinforcing plate mainly serves as the input / output terminals for the printed wiring board and the surrounding wiring, and the power supply and ground potential wiring. Therefore, there is a case where the high definition as high as that of the pattern formed on the surface opposite to the surface attached to the reinforcing plate is not required. According to the present invention, it is possible to easily provide a double-sided wiring circuit board in which a particularly fine pattern is formed on one surface as described above. The advantage of being double-sided wiring is that LSI can be operated at high speed by allowing wiring to intersect through through holes, increasing the degree of freedom in wiring design, and by propagating the ground potential to the vicinity of the required location with thick wiring. Noise can be reduced. Similarly, by propagating the power supply potential to the vicinity of the required place with a thick wiring, the potential drop is prevented even at high speed switching, the operation of the LSI is stabilized, and external noise is shielded as an electromagnetic wave shield. This is very important as the speed of the LSI increases and the number of pins increases due to the multi-functionalization.
【0025】その他、最初に回路パターンが形成される
面の加工においてもガラス基板に貼り合わせられている
ことで、両面に高精細なパターンを形成することができ
る。In addition, even in the processing of the surface on which the circuit pattern is first formed, since it is attached to the glass substrate, a high-definition pattern can be formed on both surfaces.
【0026】本発明の回路基板の製造方法の一例を以下
に説明するが、本発明はこれに限定されるものではな
い。An example of the method of manufacturing the circuit board of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to this.
【0027】厚さ0.7mmのアルミノホウケイ酸塩ガ
ラスにスピンコーター、ブレードコーター、ロールコー
ター、バーコーター、ダイコーター、スクリーン印刷な
どで、弱粘着性再剥離剤を塗布する。間欠的に送られて
くる枚葉基板に均一に塗布するためには、ダイコーター
の使用が好ましい。再剥離剤塗布後、加熱乾燥や真空乾
燥などにより乾燥し、厚みが20μmの再剥離剤層を得
る。塗布した再剥離剤層にポリエステルフイルム上にシ
リコーン樹脂層を設けた離型フイルムからなる空気遮断
用フイルムを貼り付けて1週間熟成させる。空気遮断用
フイルムを貼り合わせる代わりに、窒素雰囲気中や真空
中で保管することもできる。弱粘着性再剥離剤を長尺フ
イルム基体に塗布、乾燥後、枚葉基板に転写することも
可能である。A weakly tacky re-release agent is applied to a 0.7 mm thick aluminoborosilicate glass by a spin coater, a blade coater, a roll coater, a bar coater, a die coater, screen printing or the like. It is preferable to use a die coater to uniformly coat a single-wafer substrate that is intermittently sent. After the re-release agent is applied, it is dried by heating or vacuum drying to obtain a re-release agent layer having a thickness of 20 μm. An air barrier film consisting of a release film having a silicone resin layer provided on a polyester film is attached to the applied re-release agent layer and aged for 1 week. Instead of attaching the air barrier film, it can be stored in a nitrogen atmosphere or in a vacuum. It is also possible to apply the weakly adhesive re-release agent to a long film substrate, dry it, and transfer it to a single-wafer substrate.
【0028】次に上記空気遮断用フイルムを剥がしてポ
リイミドフイルムを貼り付ける。該ポリイミドフイルム
の厚さは7.5μmから125μmが好ましい。前述の
ように、該ポリイミドフイルムの片面または両面に金属
層があらかじめ形成されていても良い。ポリイミドフイ
ルムの補強板貼り付け面側に金属層を設けておくと、電
磁波遮断用のためのグラウンド層などとして利用するこ
とができ好ましい。該ポリイミドフイルムはあらかじめ
所定の大きさのカットシートにしておいて貼り付けても
良いし、長尺ロールから巻きだしながら、貼り付けと切
断をしてもよい。このような貼り付け作業には、ロール
式ラミネーターや真空ラミネーターを使用することがで
きる。Next, the air barrier film is peeled off and a polyimide film is attached. The thickness of the polyimide film is preferably 7.5 μm to 125 μm. As described above, a metal layer may be previously formed on one side or both sides of the polyimide film. It is preferable to provide a metal layer on the side of the polyimide film on which the reinforcing plate is attached because it can be used as a ground layer for shielding electromagnetic waves. The polyimide film may be formed into a cut sheet having a predetermined size in advance and attached, or may be attached and cut while being unwound from a long roll. A roll type laminator or a vacuum laminator can be used for such a pasting operation.
【0029】該ポリイミドフイルムの貼り合わせ面にあ
らかじめ金属層が設けられていない場合は、フルアディ
ティブ法やセミアディティブ法で金属層を形成すること
ができる。When a metal layer is not previously provided on the bonding surface of the polyimide film, the metal layer can be formed by a full additive method or a semi-additive method.
【0030】フルアディティブ法は、以下のようなプロ
セスである。金属層を形成する面にパラジウム、ニッケ
ルやクロムなどの触媒付与処理をし、乾燥する。ここで
言う触媒とは、そのままではメッキ成長の核としては働
かないが、活性化処理をすることでメッキ成長の核とな
るものである。次いでフォトレジストをスピンコータ
ー、ブレードコーター、ロールコーター、バーコータ
ー、ダイコーター、スクリーン印刷などで塗布して乾燥
する。該フォトレジストを所定パターンのフォトマスク
を介して露光、現像して、メッキ膜が不要な部分にレジ
スト層を形成する。この後、触媒の活性化処理をしてか
ら、硫酸銅とホルムアルデヒドの組合せからなる無電解
メッキ液に、該ポリイミドフイルムを浸漬し、厚さ2μ
mから20μmの銅メッキ膜を形成して、回路パターン
を得る。The full additive method is the following process. The surface on which the metal layer is formed is treated with a catalyst such as palladium, nickel or chromium, and dried. The catalyst here does not act as a nucleus for plating growth as it is, but becomes a nucleus for plating growth by performing activation treatment. Next, the photoresist is applied by a spin coater, a blade coater, a roll coater, a bar coater, a die coater, screen printing or the like and dried. The photoresist is exposed and developed through a photomask having a predetermined pattern to form a resist layer on a portion where the plating film is unnecessary. Then, after activating the catalyst, the polyimide film is dipped in an electroless plating solution composed of a combination of copper sulfate and formaldehyde to have a thickness of 2 μm.
A circuit pattern is obtained by forming a copper plating film of m to 20 μm.
【0031】セミアディティブ法は、以下のようなプロ
セスである。金属層を形成する面に、クロム、ニッケ
ル、銅またはこれらの合金をスパッタし、下地層を形成
する。該下地層の厚みは1nmから1000nmの範囲
である。該下地層の上に銅スパッタ膜をさらに50nm
から3000nm積層することは、後に続く電解メッキ
のために十分な導通を確保したり、金属層の接着力向上
やピンホール欠陥防止に効果がある。該下地層形成に先
立ち、ポリイミドフイルム表面に接着力向上のために、
プラズマ処理、逆スパッタ処理、プライマー層塗布、接
着剤層塗布が行われることは適宜許される。中でもエポ
キシ樹脂系、アクリル樹脂系、ポリアミド樹脂系、ポリ
イミド樹脂系、NBR系などの接着剤層塗布は接着力改
善効果が大きく好ましい。これらの処理や塗布は、ガラ
ス基板貼り付け前に実施されても良いし、ガラス基板貼
り付け後に実施されても良い。ガラス基板貼り付け前に
長尺のポリイミドフイルムに対してロールツーロールで
連続処理されることは生産性向上が図れ好ましい。この
ようにして形成した下地層上にフォトレジストをスピン
コーター、ブレードコーター、ロールコーター、ダイコ
ーター、スクリーン印刷などで塗布して乾燥する。該フ
ォトレジストを所定パターンのフォトマスクを介して露
光、現像して、メッキ膜が不要な部分にレジスト層を形
成する。次いで該下地層を電極として電解メッキをおこ
なう。電解メッキ液としては、硫酸銅メッキ液、シアン
化銅メッキ液、ピロ燐酸銅メッキ液などが用いられる。
厚さ2μmから20μmの銅メッキ膜を形成後、さらに
必要に応じて金、ニッケル、錫などのメッキを施し、フ
ォトレジストを剥離し、続いてスライトエッチングにて
下地層を除去して、回路パターンを得る。The semi-additive method is the following process. On the surface on which the metal layer is formed, chromium, nickel, copper or an alloy thereof is sputtered to form a base layer. The thickness of the underlayer is in the range of 1 nm to 1000 nm. A copper sputtered film having a thickness of 50 nm is further formed on the underlayer.
To 3000 nm is effective for ensuring sufficient conduction for the subsequent electrolytic plating, improving the adhesive force of the metal layer, and preventing pinhole defects. Prior to forming the underlayer, in order to improve the adhesive strength on the surface of the polyimide film,
Plasma treatment, reverse sputtering treatment, primer layer coating, and adhesive layer coating are appropriately permitted. Of these, epoxy resin-based, acrylic resin-based, polyamide resin-based, polyimide resin-based, and NBR-based adhesive layer coatings are preferable because they have a large effect of improving the adhesive strength. These treatments and coatings may be performed before the glass substrate is attached or after the glass substrate is attached. It is preferable to perform continuous roll-to-roll treatment on a long polyimide film before sticking the glass substrate, because productivity can be improved. A photoresist is applied to the underlayer thus formed by a spin coater, a blade coater, a roll coater, a die coater, screen printing or the like and dried. The photoresist is exposed and developed through a photomask having a predetermined pattern to form a resist layer on a portion where the plating film is unnecessary. Next, electrolytic plating is performed using the base layer as an electrode. As the electrolytic plating solution, a copper sulfate plating solution, a copper cyanide plating solution, a copper pyrophosphate plating solution, or the like is used.
After forming a copper plating film with a thickness of 2 μm to 20 μm, further plating with gold, nickel, tin, etc. is performed if necessary, the photoresist is peeled off, and then the underlying layer is removed by slight etching to remove the circuit pattern. To get
【0032】上記ガラス基板上の空気遮断用フイルムを
剥がして、回路パターンが形成された面を貼り合わせ面
としてポリイミドフイルムをガラス基板に貼り付けた
後、上述のセミアディティブ法、フルアディティブ法、
もしくはサブトラクティブ法で貼り合わせ面と反対側の
面に高精細な回路パターンを形成する。After peeling off the air barrier film on the glass substrate and bonding the polyimide film to the glass substrate with the surface on which the circuit pattern is formed as the bonding surface, the above-mentioned semi-additive method, full-additive method,
Alternatively, a high-definition circuit pattern is formed on the surface opposite to the bonding surface by the subtractive method.
【0033】なお、サブトラクティブ法とは、ポリイミ
ドフイルムにベタの金属層が形成されている場合、フォ
トレジストとエッチング液を使って回路パターンを形成
する方法であり、製造プロセスが短く、低コストな方法
である。The subtractive method is a method of forming a circuit pattern by using a photoresist and an etching solution when a solid metal layer is formed on a polyimide film, and the manufacturing process is short and the cost is low. Is the way.
【0034】特に高精細な回路パターンを得るために
は、セミアディティブ法、フルアディティブ法の採用が
好ましい。In order to obtain a particularly fine circuit pattern, it is preferable to employ the semi-additive method or the full-additive method.
【0035】さらに、ポリイミドフイルムに接続孔を設
けることができる。すなわち、ガラス基板との貼り合わ
せ面側に設けた金属層との電気的接続を取るビアホール
を設けたり、ボールグッリドアレーのボール設置用の孔
を設けたりすることができる。接続孔の設け方として
は、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー、エキシマレー
ザーなどのレーザー孔開けやケミカルエッチングを採用
することができる。レーザーエッチングを採用する場合
は、エッチングストッパ層として、ポリイミドフイルム
のガラス基板貼り付け面側に金属層があることが好まし
い。Further, the polyimide film may be provided with a connection hole. That is, it is possible to provide a via hole for electrical connection with the metal layer provided on the bonding surface side with the glass substrate, or to provide a hole for ball installation in the ball grinder array. As the method of providing the connection hole, laser hole formation such as carbon dioxide gas laser, YAG laser, excimer laser, or chemical etching can be adopted. When laser etching is adopted, it is preferable that the etching stopper layer has a metal layer on the glass substrate attachment surface side of the polyimide film.
【0036】ポリイミドフイルムのケミカルエッチング
液としては、ヒドラジン、水酸化カリウム水溶液などを
採用することができる。また、ケミカルエッチング用マ
スクとしては、パターニングされたフォトレジストや金
属層が採用できる。電気的接続を取る場合は、接続孔形
成後、前述の金属層パターン形成と同時にメッキ法で孔
内面を導体化することが好ましい。電気的接続をとるた
めの接続孔は、直径が15μmから200μmが好まし
い。ボール設置用の孔は、直径が80μmから800μ
mが好ましい。As the chemical etching liquid for the polyimide film, hydrazine, potassium hydroxide aqueous solution or the like can be adopted. A patterned photoresist or a metal layer can be used as the chemical etching mask. In the case of making electrical connection, it is preferable that after forming the connection hole, the inner surface of the hole is made conductive by a plating method at the same time when the metal layer pattern is formed. The diameter of the connection hole for electrical connection is preferably 15 μm to 200 μm. The hole for ball installation has a diameter of 80 μm to 800 μm.
m is preferred.
【0037】特に、可撓性フイルムのガラス基板との貼
り合わせ面の反対面から接続孔を形成することが好まし
い。Particularly, it is preferable to form the connection hole from the surface opposite to the surface of the flexible film bonded to the glass substrate.
【0038】次に回路パターンが形成されたポリイミド
フイルムをガラス基板から剥離する。該回路パターンへ
の電子部品マウント装置などで取り扱い易いように、レ
ーザー、高圧水ジェットやカッターなどを用いて、剥離
前に個片または個片の集合体に該回路パターン付きポリ
イミドフイルムを切り分けておくことが好ましい。さら
に、電子部品との接続の位置精度を保つために、ポリイ
ミドフイルム上の回路パターンへ電子部品を接続後に該
フイルムをガラス基板から剥離することがさらに好まし
い。電子部品との接続方法としては、ハンダ接続、異方
導電性フイルムによる接続、金属共晶による接続、非導
電性接着剤による接続、ワイヤーボンディング接続など
が採用できる。Next, the polyimide film having the circuit pattern formed thereon is peeled off from the glass substrate. The polyimide film with the circuit pattern is cut into individual pieces or an assembly of individual pieces before peeling by using a laser, a high-pressure water jet, a cutter, or the like so that the electronic component mounting device for the circuit pattern can be easily handled. It is preferable. Further, in order to maintain the positional accuracy of the connection with the electronic component, it is more preferable to peel the film from the glass substrate after connecting the electronic component to the circuit pattern on the polyimide film. As a method of connecting with an electronic component, solder connection, anisotropic conductive film connection, metal eutectic connection, non-conductive adhesive connection, wire bonding connection, or the like can be adopted.
【0039】上述の例は、ポリイミドフイルムの貼り付
け面側に金属層を設け、まず固定されていない可撓性フ
イルムの一方の面に回路パターンを形成した後、該可撓
性フイルムをガラス基板に貼り合わせてからもう一方の
面の回路パターンを形成したが、可撓性フイルムの両面
に特に高精細の回路パターンを形成する場合は、最初に
回路パターンが形成される面の加工においてもガラス基
板に貼り合わせられていることが好ましい。この場合
は、まず、後から加工される面をガラス基板に貼り合わ
せて、サブトラクティブ法、セミアディティブ法やフル
アディティブ法で回路パターンを形成し、次いで別のガ
ラス基板に回路形成面側を貼り合わせてから、最初のガ
ラス基板を剥離し、もう一方の面に、サブトラクティブ
法、セミアディティブ法やフルアディティブ法で回路パ
ターンを形成し、その後、ガラス基板を剥離する。可撓
性フイルムを有機物層から剥離するときの剥離力は、
0.4g/cmから300g/cmが好ましい。In the above-mentioned example, a metal layer is provided on the surface of the polyimide film to be attached, and a circuit pattern is first formed on one surface of the flexible film which is not fixed, and then the flexible film is attached to a glass substrate. Although the circuit pattern on the other surface was formed after it was attached to the surface of the flexible film, if a particularly high-definition circuit pattern is formed on both surfaces of the flexible film, the glass is also used when processing the surface on which the circuit pattern is first formed. It is preferably attached to the substrate. In this case, first, the surface to be processed later is attached to a glass substrate to form a circuit pattern by the subtractive method, semi-additive method or full-additive method, and then the circuit forming surface side is attached to another glass substrate. After the matching, the first glass substrate is peeled off, a circuit pattern is formed on the other surface by a subtractive method, a semi-additive method or a full additive method, and then the glass substrate is peeled off. The peeling force when peeling the flexible film from the organic layer is
It is preferably 0.4 g / cm to 300 g / cm.
【0040】該可撓性フイルムの両面にガラス基板が貼
り付けられた状態から、片側だけのガラス基板を剥がす
プロセスにおいては、剥離可能な有機物層が、紫外線照
射で接着力、粘着力が減少するタイプであり、かつ可撓
性フイルムが紫外線を遮断する性能を持つか可撓性フイ
ルム上にベタの金属層があり、この金属層が紫外線を遮
断することが好ましい。In the process of peeling off the glass substrate on only one side from the state where the glass substrates are adhered on both sides of the flexible film, the peelable organic material layer reduces the adhesive force and the adhesive force by ultraviolet irradiation. It is preferred that the flexible film is of a type and has a function of blocking ultraviolet rays or has a solid metal layer on the flexible film, and that this metal layer blocks ultraviolet rays.
【0041】本発明の製造方法によって得られる回路基
板は、電子機器の配線板、ICパッケージ用インターポ
ーザーなどに好ましく使用される。回路パターンに抵抗
素子や容量素子を入れ込むことは適宜許される。The circuit board obtained by the manufacturing method of the present invention is preferably used as a wiring board for electronic equipment, an interposer for IC packages, and the like. It is appropriately permitted to insert a resistance element or a capacitance element in the circuit pattern.
【0042】[0042]
【実施例】以下、実施例を挙げて本発明をさらに具体的
に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではな
い。なお、本発明においてヤング率は、JIS R16
02によって求められる値とする。The present invention will be described in more detail below with reference to examples, but the present invention is not limited thereto. The Young's modulus in the present invention is JIS R16.
The value obtained by 02.
【0043】<剥離力測定方法>ポリイミドフイルムの
剥離力の測定は次の方法で行なった。補強板上に形成し
た再剥離剤層上にポリイミドフイルムを貼り合わせた
後、該ポリイミドフイルムを10mm幅に裁断した。T
MI社製テンシロンを用いて300mm/minの剥離
速度で10mm幅のポリイミドフイルムを180゜方向
に剥離するときの力を剥離力とした。<Peeling Force Measuring Method> The peeling force of the polyimide film was measured by the following method. After the polyimide film was stuck on the re-release agent layer formed on the reinforcing plate, the polyimide film was cut into a width of 10 mm. T
The peeling force was defined as the force when peeling a 10 mm wide polyimide film in the 180 ° direction at a peeling speed of 300 mm / min using MI Tensilon.
【0044】実施例1
金属層接着力向上のための接着剤を以下のようにして用
意した。フラスコ内を窒素雰囲気に置換し、N,N−ジ
メチルアセトアミド228重量部を入れ、1,1,3,
3−テトラメチル−1,3−ビス(3−アミノプロピ
ル)ジシロキサン19.88重量部を溶解した。次い
で、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボ
ン酸二無水物25.76重量部を加え、窒素雰囲気下で
10℃、1時間撹拌した。続いて50℃で3時間撹拌し
ながら反応させ、ポリイミド前駆体ワニスからなる接着
剤を得た。Example 1 An adhesive for improving the metal layer adhesive strength was prepared as follows. The inside of the flask was replaced with a nitrogen atmosphere, 228 parts by weight of N, N-dimethylacetamide was added, and 1,1,3,
19.88 parts by weight of 3-tetramethyl-1,3-bis (3-aminopropyl) disiloxane was dissolved. Next, 25.76 parts by weight of 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride was added, and the mixture was stirred under a nitrogen atmosphere at 10 ° C. for 1 hour. Subsequently, the mixture was reacted at 50 ° C. for 3 hours while stirring to obtain an adhesive composed of a polyimide precursor varnish.
【0045】コンマコーターを用いて、ヤング率930
kg/mm2、厚さ25μm、幅300mmの長尺のポ
リイミドフイルム(”ユーピレックス”宇部興産(株)
製)の片面に該接着剤を連続的に塗布した。次いで、8
0℃で10分間、130℃で10分間、150℃で15
分間乾燥し、250℃で5分間キュアした。キュア後の
接着剤層の膜厚は1μmであった。ポリイミドフイルム
はロット違いのもの5点を用意した。Young's modulus of 930 using a comma coater
Long polyimide film of kg / mm 2 , thickness of 25 μm and width of 300 mm (“Upilex” Ube Industries, Ltd.)
The adhesive was continuously applied to one side of the product. Then 8
10 minutes at 0 ℃, 10 minutes at 130 ℃, 15 at 150 ℃
It was dried for 1 minute and cured at 250 ° C. for 5 minutes. The film thickness of the adhesive layer after curing was 1 μm. Five polyimide films with different lots were prepared.
【0046】厚さ0.7mm、300mm角のアルミノ
ホウケイ酸塩ガラスにダイコーターで、アクリル系の弱
粘着性再剥離剤”オリバイン”EXK01−257(東
洋インキ(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋イン
キ(株)製)を100:9で混合したものを塗布し、1
00℃で30秒間乾燥した。乾燥後の再剥離剤厚みを1
5μmとした。次いで再剥離剤層に、ポリエステルフイ
ルム上に離型容易なシリコーン樹脂層を設けたフイルム
からなる空気遮断用フイルムを貼り付けて(アルミノホ
ウケイ酸塩ガラス/再剥離剤層/シリコーン樹脂層/ポ
リエステルフイルムの構成)1週間おいた。Aluminoborosilicate glass having a thickness of 0.7 mm and 300 mm square was dye-coated by a die coater and was used as an acrylic weak adhesive re-release agent "Olivine" EXK01-257 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and a curing agent BXX5134 ( Apply a mixture of Toyo Ink Co., Ltd. at 100: 9 and apply 1
It was dried at 00 ° C. for 30 seconds. The thickness of the removable agent after drying is 1
It was 5 μm. Then, an air-blocking film made of a film having a silicone resin layer on the polyester film which facilitates release is attached to the re-release agent layer (aluminoborosilicate glass / re-release agent layer / silicone resin layer / polyester film). It's been a week.
【0047】上記ポリエステルフイルムとシリコーン樹
脂層からなる空気遮断用フイルムを剥がしつつ、ガラス
基板の再剥離剤層が形成されている側にロール式ラミネ
ーターでポリイミドフイルムを貼り付けた。While peeling off the air barrier film consisting of the polyester film and the silicone resin layer, a polyimide film was stuck on the side of the glass substrate on which the removable agent layer was formed by a roll laminator.
【0048】スパッタにて厚さ50nmのクロム−ニッ
ケル合金膜と厚さ100nmの銅膜をこの順に貼り合わ
せ面とは反対側の面に設けられた接着剤層上に積層し
た。該銅膜上にポジ型フォトレジストをスピンコーター
で塗布して80℃で10分間乾燥した。該フォトレジス
トをフォトマスクを介して露光した。該フォトレジスト
を現像して、メッキ膜が不要な部分に厚さ10μmのレ
ジスト層を形成した。テスト用フォトマスクパターン
は、線幅10μmで、ピッチが500μmの格子状パタ
ーンとした。現像後、120℃で10分間ポストベーク
した。次いで該銅膜を電極として電解メッキをおこなっ
た。電解メッキ液は、硫酸銅メッキ液とした。厚さ6μ
mの銅メッキ膜を形成後、フォトレジストをフォトレジ
スト剥離液で剥離し、続いて塩化鉄水溶液によるソフト
エッチングにてレジスト層の下にあった金属膜およびク
ロム−ニッケル合金膜を除去して、格子状パターンを得
た。A chromium-nickel alloy film having a thickness of 50 nm and a copper film having a thickness of 100 nm were laminated in this order on the adhesive layer provided on the surface opposite to the bonding surface in this order. A positive photoresist was applied on the copper film with a spin coater and dried at 80 ° C. for 10 minutes. The photoresist was exposed through a photomask. The photoresist was developed to form a resist layer having a thickness of 10 μm on the portion where the plating film was unnecessary. The test photomask pattern was a grid pattern having a line width of 10 μm and a pitch of 500 μm. After development, it was post-baked at 120 ° C. for 10 minutes. Next, electrolytic plating was performed using the copper film as an electrode. The electrolytic plating solution was a copper sulfate plating solution. Thickness 6μ
After forming the copper-plated film of m, the photoresist is removed with a photoresist remover, and then the metal film and the chromium-nickel alloy film under the resist layer are removed by soft etching with an aqueous iron chloride solution. A grid pattern was obtained.
【0049】ポリイミドフイルムの剥離力およびポリイ
ミドフイルムを剥離するときの剥離力A(g/cm)
と、ポリイミドフイルムの厚みの逆数B(μm-1)と、
ポリイミドフイルムのヤング率の逆数C(mm2/k
g)との積A×B×C(以下A×B×Cはこれらの積を
示す。表1についても同じである。)は表1に示した。
回路パターン形成中にポリイミドフイルムが有機物層か
ら剥離することはなかった。また、ポリイミドフイルム
は、有機物層との界面で剥離し、カールすることはなか
った。Peeling force of the polyimide film and peeling force A (g / cm) when peeling the polyimide film
And the reciprocal B of the thickness of the polyimide film (μm −1 ),
Reciprocal number of Young's modulus of polyimide film C (mm 2 / k
The product A x B x C (hereinafter, A x B x C represents these products; the same applies to Table 1) with g) is shown in Table 1.
The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. Further, the polyimide film did not peel off and curl at the interface with the organic layer.
【0050】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all five polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0051】実施例2
実施例1と同様にしてポリイミド前駆体ワニスからなる
接着剤を得た。Example 2 An adhesive composed of a polyimide precursor varnish was obtained in the same manner as in Example 1.
【0052】実施例1と同様にコンマコーターを用い
て、ヤング率930kg/mm2、厚さ25μm、幅3
00mmの長尺のポリイミドフイルム(”ユーピレック
ス”宇部興産(株)製)に前記接着剤を連続的に塗布し
た。次いで、80℃で10分間、130℃で10分間、
150℃で15分間乾燥し、250℃で5分間キュアし
た。キュア後の接着剤層の膜厚は1μmであった。ポリ
イミドフイルムはロット違いのもの5点を用意した。Using a comma coater as in Example 1, Young's modulus 930 kg / mm 2 , thickness 25 μm, width 3
The adhesive was continuously applied to a 00 mm long polyimide film ("UPILEX" manufactured by Ube Industries, Ltd.). Then, at 80 ° C for 10 minutes, 130 ° C for 10 minutes,
It was dried at 150 ° C. for 15 minutes and cured at 250 ° C. for 5 minutes. The film thickness of the adhesive layer after curing was 1 μm. Five polyimide films with different lots were prepared.
【0053】次いでスパッタ法にて厚さ50nmのクロ
ム−ニッケル合金膜と厚さ100nmの銅膜をこの順に
ポリイミドフイルムの接着剤層上に積層した。合金膜を
設けたのは、ポリイミドフイルムの補強板との貼り合わ
せ面側である。該合金膜を電極として、硫酸銅液中で電
解メッキをおこない、厚さ5μmの銅メッキ膜を形成し
た。Then, a chromium-nickel alloy film having a thickness of 50 nm and a copper film having a thickness of 100 nm were laminated in this order on the adhesive layer of the polyimide film by the sputtering method. The alloy film was provided on the side of the surface of the polyimide film which is to be attached to the reinforcing plate. Using the alloy film as an electrode, electrolytic plating was performed in a copper sulfate solution to form a copper plating film having a thickness of 5 μm.
【0054】銅メッキ膜が形成されたポリイミドフイル
ムをシート状に切断してから、銅メッキ膜上にドライフ
イルムをラミネートし、該ドライフイルムレジストを所
定パターンのフォトマスクを介して露光、現像して、ド
ライフイルムレジストパターンを形成した。塩化鉄の銅
エッチング液にドライフイルムレジストパターンが形成
されたポリイミドフイルムを浸漬し、銅膜をパターニン
グすると同時に銅膜下のクロム−ニッケル合金膜もパタ
ーニングし、配線回路と位置合わせ用のマークを形成し
た。次にドライフイルムレジストを剥離剤で剥離した。The polyimide film having the copper plating film formed thereon is cut into a sheet shape, a dry film is laminated on the copper plating film, and the dry film resist is exposed and developed through a photomask having a predetermined pattern. , A dry film resist pattern was formed. Immerse the polyimide film on which the dry film resist pattern is formed in the copper chloride etching solution to pattern the copper film and at the same time pattern the chromium-nickel alloy film under the copper film to form the wiring circuit and alignment mark. did. Next, the dry film resist was stripped with a stripping agent.
【0055】厚さ0.7mm、300mm角のアルミノ
ホウケイ酸塩ガラスにダイコーターで、アクリル系の弱
粘着性再剥離剤”オリバイン”EXK01−257(東
洋インキ(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋イン
キ(株)製)を100:9で混合したものを塗布し、1
00℃で30秒間乾燥した。乾燥後の再剥離剤厚みを1
5μmとした。次いで再剥離剤層に、ポリエステルフイ
ルム上に離型容易なシリコーン樹脂層を設けたフイルム
からなる空気遮断用フイルムを貼り付けて(アルミノホ
ウケイ酸塩ガラス/再剥離剤層/シリコーン樹脂層/ポ
リエステルフイルムの構成)1週間おいた。Aluminoborosilicate glass having a thickness of 0.7 mm and 300 mm square was dye-coated by a die coater with an acrylic weak adhesive removability agent "Olivine" EXK01-257 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and a curing agent BXX5134 ( Apply a mixture of Toyo Ink Co., Ltd. at 100: 9 and apply 1
It was dried at 00 ° C. for 30 seconds. The thickness of the removable agent after drying is 1
It was 5 μm. Then, an air barrier film consisting of a film having a silicone resin layer on the polyester film for easy release is attached to the removable layer (aluminoborosilicate glass / removable agent layer / silicone resin layer / polyester film). It's been a week.
【0056】上記ガラス基板から、ポリエステルフイル
ムとシリコーン樹脂層からなる空気遮断用フイルムを剥
がしつつ、ガラス基板の再剥離剤層が形成されている側
にロール式ラミネーターで、回路パターンを形成したポ
リイミドフイルムを、回路パターン形成面がガラス基板
と対向するように貼り付けた。A polyimide film having a circuit pattern formed by a roll laminator on the side of the glass substrate on which the re-release agent layer is formed while peeling off the air barrier film made of the polyester film and the silicone resin layer from the glass substrate. Was attached so that the surface on which the circuit pattern was formed faces the glass substrate.
【0057】次いで、炭酸ガスレーザーを用いて、直径
100μmの接続孔を10mmピッチで格子状に配置し
て形成した。接続孔は、貼り付け面側の配線回路に到達
している。Next, carbon dioxide laser was used to form connection holes having a diameter of 100 μm arranged in a grid pattern at a pitch of 10 mm. The connection hole reaches the wiring circuit on the attachment surface side.
【0058】スパッタにて厚さ50nmのクロム−ニッ
ケル合金膜と厚さ100nmの銅膜をこの順に貼り合わ
せ面とは反対側の面に設けられた接着剤層上に積層し
た。銅膜上にポジ型フォトレジストをスピンコーターで
塗布して80℃で10分間乾燥した。ガラスとの貼り合
わせ面側に形成した位置合わせマークを使って、貼り合
わせ面の回路パターンに位置合わせして該フォトレジス
トをフォトマスクを介して露光した。該フォトレジスト
を現像して、メッキ膜が不要な部分に厚さ10μmのレ
ジスト層を形成した。テスト用フォトマスクパターン
は、線幅10μmで、ピッチが500μmの格子状パタ
ーンと10mmピッチのレーザーで孔開けした部分には
直径300μmの円形を繰り返して配置したパターンを
白黒反転したパターンとした。すなわち、格子状のメッ
キパターンと10mmピッチの円形パターンが得られ
る。現像後、120℃で10分間ポストベークした。次
いで銅膜を電極として電解メッキをおこなった。電解メ
ッキ液は、硫酸銅メッキ液とした。厚さ6μmの銅メッ
キ膜を形成後、フォトレジストをフォトレジスト剥離液
で剥離し、続いて塩化鉄水溶液によるソフトエッチング
にてレジスト層の下にあった金属膜およびクロム−ニッ
ケル合金膜を除去して、格子状パターンを得た。A chromium-nickel alloy film having a thickness of 50 nm and a copper film having a thickness of 100 nm were stacked in this order on the adhesive layer provided on the surface opposite to the bonding surface in this order. A positive photoresist was applied on the copper film with a spin coater and dried at 80 ° C. for 10 minutes. The photoresist was exposed through a photomask in alignment with the circuit pattern on the bonding surface using the alignment mark formed on the bonding surface side with the glass. The photoresist was developed to form a resist layer having a thickness of 10 μm on the portion where the plating film was unnecessary. The test photomask pattern was a black-and-white inverted pattern in which a grid pattern having a line width of 10 μm and a pitch of 500 μm and a circle having a diameter of 300 μm repeatedly arranged in a portion perforated with a laser having a pitch of 10 mm. That is, a grid-shaped plating pattern and a circular pattern with a pitch of 10 mm can be obtained. After development, it was post-baked at 120 ° C. for 10 minutes. Next, electrolytic plating was performed using the copper film as an electrode. The electrolytic plating solution was a copper sulfate plating solution. After forming a copper plating film having a thickness of 6 μm, the photoresist is stripped with a photoresist stripping solution, and then the metal film and the chromium-nickel alloy film under the resist layer are removed by soft etching with an aqueous iron chloride solution. To obtain a grid pattern.
【0059】ポリイミドフイルムの剥離力およびA×B
×Cは表1に示した。回路パターン形成中にポリイミド
フイルムが有機物層から剥離することはなかった。ま
た、ポリイミドフイルムは、有機物層との界面で剥離
し、カールすることはなかった。Peeling force and A × B of polyimide film
× C is shown in Table 1. The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. Further, the polyimide film did not peel off and curl at the interface with the organic layer.
【0060】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all five polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0061】実施例3
厚さ0.7mm、300mm角のアルミノホウケイ酸塩
ガラスにダイコーターで、アクリル系の弱粘着性再剥離
剤”オリバイン”BPS5227−1(東洋インキ
(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋インキ(株)
製)を100:5で混合したものを塗布し、100℃で
30秒間乾燥し、乾燥後の再剥離剤厚みを15μmとし
たこと以外は実施例1と同様にして金属膜パターンを形
成したポリイミドフイルムを真空吸着し、端部から徐々
に補強板から剥離した。ポリイミドフイルムの剥離力お
よびA×B×Cは表1に示した。回路パターン形成中に
ポリイミドフイルムが有機物層から剥離することはなか
った。また、ポリイミドフイルムは、有機物層との界面
で剥離し、カールすることはなかった。Example 3 Aluminoborosilicate glass having a thickness of 0.7 mm and 300 mm square was cured with a die coater using an acrylic weakly adhesive removable agent "Olivine" BPS5227-1 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.). Agent BXX5134 (Toyo Ink Co., Ltd.)
A polyimide having a metal film pattern formed in the same manner as in Example 1 except that a mixture of 100: 5) was applied, dried at 100 ° C. for 30 seconds, and the thickness of the removable agent after drying was 15 μm. The film was vacuum-adsorbed and gradually peeled from the reinforcing plate from the end. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. Further, the polyimide film did not peel off and curl at the interface with the organic layer.
【0062】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±10μm以内にあり、非常に良
好であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 10 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0063】実施例4
厚さ0.7mm、300mm角のアルミノホウケイ酸塩
ガラスにダイコーターで、アクリル系の弱粘着性再剥離
剤”オリバイン”BPS5227−1(東洋インキ
(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋インキ(株)
製)を100:2で混合したものを塗布し、100℃で
30秒間乾燥し、乾燥後の再剥離剤厚みを15μmとし
たこと以外は実施例2と同様にして金属パターンを形成
したポリイミドフイルムを真空吸着し、端部から徐々に
補強板から剥離した。ポリイミドフイルムの剥離力およ
びA×B×Cは表1に示した。2.58×10-3であっ
た。回路パターン形成中にポリイミドフイルムが有機物
層から剥離することはなかった。また、ポリイミドフイ
ルムは少しカールしたが、有機物層との界面で剥離し
た。Example 4 A 0.7 mm thick, 300 mm square aluminoborosilicate glass was cured with a die coater using an acrylic weakly adhesive removable agent "Olivine" BPS5227-1 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.). Agent BXX5134 (Toyo Ink Co., Ltd.)
A polyimide film having a metal pattern formed thereon in the same manner as in Example 2 except that a mixture of 100: 2 of the above) was applied, dried at 100 ° C. for 30 seconds, and the thickness of the removable agent after drying was 15 μm. Was vacuum-adsorbed and gradually separated from the reinforcing plate from the end. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. It was 2.58 × 10 -3 . The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. The polyimide film was slightly curled, but peeled off at the interface with the organic layer.
【0064】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、フォトマスクパターンに対して基板外側に向かっ
て26μm歪んだものがあった。銅メッキ配線ピッチが
120μm以下の比較的細かな加工では問題になるレベ
ルであったが比較例に比べるとたいへん良好であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, some of the photomask patterns were distorted by 26 μm toward the outside of the substrate. Although the level was a problem in comparatively fine processing with a copper-plated wiring pitch of 120 μm or less, it was very good as compared with the comparative example.
【0065】実施例5
紫外線照射による硬化で粘着力が低下するアクリル系の
粘着剤”SKダイン”SW−11A(綜研化学(株)
製)と硬化剤L45(綜研化学(株)製)を50:1で
混合したものをガラス基板に塗布し、80℃で2分乾燥
し、乾燥後の粘着剤厚みを20μmとすると共に、補強
板から剥離する前に、ガラス基板側から紫外線を100
0mJ/cm2照射したこと以外は実施例2と同様にし
て金属パターンを形成したポリイミドフイルムを真空吸
着し、端部から徐々に補強板から剥離した。ポリイミド
フイルムの剥離力およびA×B×Cは表1に示した。回
路パターン形成中にポリイミドフイルムが有機物層から
剥離することはなかった。また、ポリイミドフイルム
は、有機物層との界面で剥離し、カールすることはなか
った。Example 5 Acrylic adhesive "SKDyne" SW-11A (Soken Chemical Co., Ltd.) whose adhesive strength is reduced by curing by ultraviolet irradiation
50%) and a curing agent L45 (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) in a ratio of 50: 1 are applied to a glass substrate and dried at 80 ° C. for 2 minutes to give a pressure-sensitive adhesive thickness after drying of 20 μm and reinforcement. Before peeling from the plate, 100% UV light from the glass substrate side
A polyimide film having a metal pattern formed thereon was vacuum-adsorbed in the same manner as in Example 2 except that irradiation with 0 mJ / cm 2 was performed, and the polyimide film was gradually peeled from the end portion from the end. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. Further, the polyimide film did not peel off and curl at the interface with the organic layer.
【0066】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all five polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0067】実施例6
紫外線照射による硬化で粘着力が低下するアクリル系の
粘着剤”SKダイン”SW−11A(綜研化学(株)
製)と硬化剤L45(綜研化学(株)製)と硬化剤E−
5XM(綜研化学(株)製)を100:2:0.7で混
合したものをガラス基板に塗布し、80℃で2分乾燥
し、乾燥後の粘着剤厚みを10μmとしたこと以外は実
施例5と同様にして金属パターンを形成したポリイミド
フイルムを真空吸着し、端部から徐々に補強板から剥離
した。ポリイミドフイルムの剥離力およびA×B×Cは
表1に示した。回路パターン形成中にポリイミドフイル
ムの端部の一部が有機物層から剥離したが、該回路パタ
ーンを形成した領域は有機物層から剥離しなかった。ま
た、ポリイミドフイルムは、有機物層との界面で剥離
し、カールすることはなかった。Example 6 Acrylic adhesive "SKDyne" SW-11A (Soken Chemical Co., Ltd.) whose adhesive strength is lowered by curing by ultraviolet irradiation
Manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) and a curing agent E-
5XM (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) mixed at 100: 2: 0.7 was applied to a glass substrate, dried at 80 ° C. for 2 minutes, and the thickness of the adhesive after drying was 10 μm. A polyimide film having a metal pattern formed thereon was vacuum-sucked in the same manner as in Example 5, and was gradually peeled from the end portion from the reinforcing plate. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. A part of the edge of the polyimide film was peeled from the organic layer during the formation of the circuit pattern, but the region where the circuit pattern was formed was not peeled from the organic layer. Further, the polyimide film did not peel off and curl at the interface with the organic layer.
【0068】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all five polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0069】実施例7
コンマコーターを用いて、ヤング率930kg/m
m2、厚さ125μm、幅300mmの長尺のポリイミ
ドフイルム(”ユーピレックス”宇部興産(株)製)に
金属層接着力向上のための接着剤を連続的に塗布したこ
とと、厚さ0.7mm、300mm角のアルミノホウケ
イ酸塩ガラスにダイコーターで、アクリル系の弱粘着性
再剥離剤”オリバイン”BPS5227−1(東洋イン
キ(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋インキ
(株)製)を100:4で混合したものを塗布し、10
0℃で30秒間乾燥し、乾燥後の再剥離剤厚みを15μ
mとしたこと以外は実施例2と同様にして金属膜パター
ンを形成したポリイミドフイルムを真空吸着し、端部か
ら徐々に補強板から剥離した。ポリイミドフイルムの剥
離力およびA×B×Cは表1に示した。回路パターン形
成中にポリイミドフイルムが有機物層から剥離すること
はなかった。また、該ポリイミドフイルムは、有機物層
との界面で剥離し、カールすることはなかった。Example 7 Young's modulus of 930 kg / m using a comma coater
A long polyimide film (“upilex” manufactured by Ube Industries, Ltd.) of m 2 , thickness of 125 μm and width of 300 mm was continuously coated with an adhesive for improving the adhesive strength of the metal layer, and a thickness of 0. 7mm, 300mm square aluminoborosilicate glass with a die coater, acrylic weak adhesive removability agent "Olivine" BPS5227-1 (Toyo Ink Co., Ltd.) and curing agent BXX5134 (Toyo Ink Co., Ltd.) The mixture of 100: 4 was applied and 10
Dry for 30 seconds at 0 ° C, and remove the re-peeling agent to a thickness of 15μ
A polyimide film having a metal film pattern formed thereon was vacuum-adsorbed in the same manner as in Example 2 except that m was set, and the polyimide film was gradually peeled from the end portion from the end portion. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. Further, the polyimide film was not peeled off and curled at the interface with the organic layer.
【0070】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0071】実施例8
コンマコーターを用いて、ヤング率930kg/m
m2、厚さ75μm、幅300mmの長尺のポリイミド
フイルム(”ユーピレックス”宇部興産(株)製)に金
属層接着力向上のための接着剤を連続的に塗布したこと
と、乾燥後の粘着剤厚みを15μmとしたこと以外は実
施例6と同様にして金属パターンを形成したポリイミド
フイルムを真空吸着し、端部から徐々に補強板から剥離
した。ポリイミドフイルムの剥離力およびA×B×Cは
表1に示した。回路パターン形成中にポリイミドフイル
ムの端部の一部が有機物層から剥離したが、該回路パタ
ーンを形成した領域は有機物層から剥離しなかった。ま
た、該ポリイミドフイルムは、有機物層との界面で剥離
し、カールすることはなかった。Example 8 Young's modulus of 930 kg / m 2 using a comma coater
m 2, a thickness of 75 [mu] m, and that the adhesive for the metal layer adhesion improvement was continuously coated on the polyimide film of the long width 300 mm ( "UPILEX" manufactured by Ube Industries, Ltd.), the adhesive after drying A polyimide film having a metal pattern formed thereon was vacuum-adsorbed in the same manner as in Example 6 except that the agent thickness was 15 μm, and the polyimide film was gradually peeled from the end portion from the reinforcing plate. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. A part of the edge of the polyimide film was peeled from the organic layer during the formation of the circuit pattern, but the region where the circuit pattern was formed was not peeled from the organic layer. Further, the polyimide film was not peeled off and curled at the interface with the organic layer.
【0072】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all five polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0073】実施例9
コンマコーターを用いて、ヤング率930kg/m
m2、厚さ75μm、幅300mmの長尺のポリイミド
フイルム(”ユーピレックス”宇部興産(株)製)に金
属層接着力向上のための接着剤を連続的に塗布したこと
以外は実施例6と同様にして金属パターンを形成したポ
リイミドフイルムを真空吸着し、端部から徐々に補強板
から剥離した。ポリイミドフイルムの剥離力A×B×C
は表1に示した。回路パターン形成中にポリイミドフイ
ルムの端部から数mmの領域が有機物層から剥離した
が、該回路パターンを形成した領域は有機物層から剥離
しなかった。また、該ポリイミドフイルムは、有機物層
との界面で剥離し、カールすることはなかった。Example 9 Young's modulus of 930 kg / m using a comma coater
Example 6 except that a long polyimide film (“upilex” manufactured by Ube Industries, Ltd.) of m 2 , thickness of 75 μm and width of 300 mm was continuously coated with an adhesive for improving the metal layer adhesive strength. Similarly, a polyimide film having a metal pattern formed thereon was vacuum-adsorbed and gradually peeled from the end portion from the reinforcing plate. Peeling force of polyimide film A × B × C
Are shown in Table 1. During formation of the circuit pattern, a region of several mm from the end of the polyimide film was peeled from the organic layer, but the region where the circuit pattern was formed was not peeled from the organic layer. Further, the polyimide film was not peeled off and curled at the interface with the organic layer.
【0074】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all five polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0075】実施例10
コンマコーターを用いて、ヤング率650kg/m
m2、厚さ25μm、幅300mmの長尺のポリイミド
フイルム(”カプトン”東レ・デュポン(株)製)に金
属層接着力向上のための接着剤を連続的に塗布したこと
以外は実施例2と同様にして金属パターンを形成したポ
リイミドフイルムを真空吸着し、端部から徐々に補強板
から剥離した。ポリイミドフイルムの剥離力およびA×
B×Cは表1に示した。回路パターン形成中にポリイミ
ドフイルムが有機物層から剥離することはなかった。ま
た、該ポリイミドフイルムは、有機物層との界面で剥離
し、カールすることはなかった。Example 10 Young's modulus of 650 kg / m using a comma coater
Example 2 except that a long polyimide film (“Kapton” manufactured by DuPont Toray Co., Ltd.) having a width of m 2 , a thickness of 25 μm and a width of 300 mm was continuously coated with an adhesive for improving the adhesive strength of the metal layer. In the same manner as above, the polyimide film having a metal pattern formed thereon was vacuum-adsorbed, and gradually peeled from the end portion from the reinforcing plate. Peeling force of polyimide film and A ×
B × C is shown in Table 1. The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. Further, the polyimide film was not peeled off and curled at the interface with the organic layer.
【0076】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±8μm以内にあり、非常に良好
であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 8 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0077】実施例11
コンマコーターを用いて、ヤング率650kg/m
m2、厚さ50μm、幅300mmの長尺のポリイミド
フイルム(”カプトン”東レ・デュポン(株)製)に金
属層接着力向上のための接着剤を連続的に塗布したこと
と、厚さ0.7mm、300mm角のアルミノホウケイ
酸塩ガラスにダイコーターで、アクリル系の弱粘着性再
剥離剤”オリバイン”BPS5227−1(東洋インキ
(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋インキ(株)
製)を100:2で混合したものを塗布し、100℃で
30秒間乾燥し、乾燥後の再剥離剤厚みを15μmとし
たこと以外は実施例2と同様にして金属パターンを形成
したポリイミドフイルムを真空吸着し、端部から徐々に
補強板から剥離した。ポリイミドフイルムの剥離力およ
びA×B×Cは表1に示した。回路パターン形成中にポ
リイミドフイルムが有機物層から剥離することはなかっ
た。また、ポリイミドフイルムは少しカールしたが、有
機物層との界面で剥離した。Example 11 Young's modulus of 650 kg / m using a comma coater
A continuous polyimide film (“Kapton” manufactured by Toray-DuPont Co., Ltd.) of m 2 , thickness of 50 μm and width of 300 mm was continuously coated with an adhesive for improving the adhesive strength of the metal layer, and the thickness was 0. Aluminoborosilicate glass of 0.7 mm and 300 mm square is die-coated with an acrylic weak adhesive re-release agent "Olivine" BPS5227-1 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and a curing agent BXX5134 (Toyo Ink Co., Ltd.).
A polyimide film having a metal pattern formed thereon in the same manner as in Example 2 except that a mixture of 100: 2 of the above) was applied, dried at 100 ° C. for 30 seconds, and the thickness of the removable agent after drying was 15 μm. Was vacuum-adsorbed and gradually separated from the reinforcing plate from the end. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. The polyimide film was slightly curled, but peeled off at the interface with the organic layer.
【0078】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、フォトマスクパターンに対して基板外側に向かっ
て21μm歪んだものがあった。比較例に比べると良好
ではあるが、銅メッキ配線ピッチが120μm以下の比
較的細かな加工では問題になるレベルであった。他実施
例よりは劣るものの事実上問題なかった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, some of the photomask patterns were distorted by 21 μm toward the outside of the substrate. Although it was better than the comparative example, it was at a level that would be a problem in comparatively fine processing with a copper plating wiring pitch of 120 μm or less. Although inferior to the other examples, there was virtually no problem.
【0079】実施例12
コンマコーターを用いて、ヤング率930kg/m
m2、厚さ125μm、幅300mmの長尺のポリイミ
ドフイルム(”ユーピレックス”宇部興産(株)製)に
金属層接着力向上のための接着剤を連続的に塗布したこ
とと、厚さ0.7mm、300mm角のアルミノホウケ
イ酸塩ガラスにダイコーターで、アクリル系の弱粘着性
再剥離剤”サイアバイン”SH−101(東洋インキ
(株)製)と硬化剤T−501B(東洋インキ(株)
製)を100:3で混合したものを塗布し、100℃で
2分間乾燥し、乾燥後の再剥離剤厚みを30μmとした
こと以外は実施例2と同様にして金属パターンを形成し
たポリイミドフイルムを真空吸着し、端部から徐々に補
強板から剥離した。ポリイミドフイルムの剥離力および
A×B×Cは表1に示した。回路パターン形成中にポリ
イミドフイルムが有機物層から剥離することはなかっ
た。また、ポリイミドフイルムは、有機物層との界面で
剥離し、カールすることはなかった。Example 12 Young's modulus of 930 kg / m using a comma coater
A long polyimide film (“upilex” manufactured by Ube Industries, Ltd.) of m 2 , thickness of 125 μm and width of 300 mm was continuously coated with an adhesive for improving the adhesive strength of the metal layer, and a thickness of 0. 7mm, 300mm square aluminoborosilicate glass with a die coater, acrylic weak adhesive re-release agent "Ciavine" SH-101 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and curing agent T-501B (Toyo Ink Co., Ltd.)
A polyimide film having a metal pattern formed thereon in the same manner as in Example 2 except that a mixture of 100: 3) was applied, dried at 100 ° C. for 2 minutes, and the thickness of the removable agent after drying was 30 μm. Was vacuum-adsorbed and gradually separated from the reinforcing plate from the end. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. Further, the polyimide film did not peel off and curl at the interface with the organic layer.
【0080】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフイルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±13μm以内にあり、非常に良
好であった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all five polyimide films of different lots were within ± 13 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.
【0081】比較例1
紫外線照射による硬化で粘着力が低下するアクリル系の
粘着剤”SKダイン”SW−11A(綜研化学(株)
製)と硬化剤L45(綜研化学(株)製)と硬化剤E−
5XM(綜研化学(株)製)を100:3:1.5で混
合したものを塗布し、80℃で2分乾燥した。乾燥後の
粘着剤厚みを5μmとしたこと以外は実施例5と同様に
して金属パターンを形成したポリイミドフイルムを真空
吸着し、端部から徐々に補強板から剥離した。ポリイミ
ドフイルムの剥離力およびA×B×Cは表1に示した。
回路パターン形成中にポリイミドフイルムが有機物層か
ら剥離したことでレジストパターンが欠け、回路パター
ンにも欠けが発生した。Comparative Example 1 Acrylic pressure sensitive adhesive "SKDyne" SW-11A (Soken Chemical Co., Ltd.) whose adhesive strength is reduced by curing by ultraviolet irradiation
Manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) and a curing agent E-
A mixture of 5XM (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) at 100: 3: 1.5 was applied and dried at 80 ° C. for 2 minutes. A polyimide film having a metal pattern formed thereon was vacuum-adsorbed in the same manner as in Example 5 except that the thickness of the adhesive after drying was set to 5 μm, and the polyimide film was gradually peeled from the end portion from the end portion. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1.
The polyimide film peeled from the organic layer during the formation of the circuit pattern, resulting in the chipping of the resist pattern and the chipping of the circuit pattern.
【0082】比較例2
アクリル系の中粘着性再剥離剤”オリバイン”BPS−
5673(東洋インキ(株)製)と硬化剤BHS−85
15(東洋インキ(株)製)を100:5で混合したも
のを塗布し、100℃で2分乾燥した。乾燥後の粘着剤
厚みを8μmとした。粘着剤を変更したこと以外は実施
例2と同様にして金属膜パターンを形成したポリイミド
フイルムを真空吸着し、端部から徐々に補強板から剥離
した。ポリイミドフイルムの剥離力およびA×B×Cは
表1に示した。回路パターン形成中にポリイミドフイル
ムが有機物層から剥離することはなかった。また、ポリ
イミドフイルムは有機物層との界面で剥離したが、著し
くカールした。Comparative Example 2 Acrylic medium adhesive re-release agent "Olivine" BPS-
5673 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and curing agent BHS-85
A mixture of 15 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) at 100: 5 was applied and dried at 100 ° C. for 2 minutes. The thickness of the adhesive after drying was set to 8 μm. A polyimide film having a metal film pattern formed thereon was vacuum-adsorbed in the same manner as in Example 2 except that the pressure-sensitive adhesive was changed, and the polyimide film was gradually peeled from the end portion from the reinforcing plate. The peeling force and A × B × C of the polyimide film are shown in Table 1. The polyimide film was not peeled from the organic layer during the circuit pattern formation. Further, the polyimide film was peeled off at the interface with the organic layer, but was significantly curled.
【0083】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、フォトマスクパターンに対して基板外側に向かっ
て130μm歪んだものがあった。200μmピッチ以
上の比較的粗い加工でも問題になるレベルであった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, some of the photomask patterns were distorted by 130 μm toward the outside of the substrate. Even a relatively rough processing with a pitch of 200 μm or more was at a level to be a problem.
【0084】比較例3
コンマコーターを用いて、ヤング率930kg/m
m2、厚さ125μm、幅300mmの長尺のポリイミ
ドフイルム(”ユーピレックス”宇部興産(株)製)に
金属層接着力向上のための接着剤を連続的に塗布したこ
と以外は実施例6と同様にして金属パターンを形成した
ポリイミドフイルムを真空吸着し、端部から徐々に補強
板から剥離した。ポリイミドフイルムの剥離力およびA
×B×Cは表1に示した。回路パターン形成中にポリイ
ミドフイルムが有機物層から剥離したことでレジストパ
ターンが欠け、回路パターンにも欠けが発生した。Comparative Example 3 Young's modulus of 930 kg / m 2 using a comma coater
Example 6 except that a long polyimide film (“upilex” manufactured by Ube Industries, Ltd.) having a length of m 2 , a thickness of 125 μm and a width of 300 mm was continuously coated with an adhesive for improving the adhesive strength of the metal layer. Similarly, a polyimide film having a metal pattern formed thereon was vacuum-adsorbed and gradually peeled from the end portion from the reinforcing plate. Peeling force of polyimide film and A
× B × C is shown in Table 1. The polyimide film peeled from the organic layer during the formation of the circuit pattern, resulting in the chipping of the resist pattern and the chipping of the circuit pattern.
【0085】比較例4
コンマコーターを用いて、ヤング率930kg/m
m2、厚さ12.5μm、幅300mmの長尺のポリイ
ミドフイルム(”ユーピレックス”宇部興産(株)製)
に金属層接着力向上のための接着剤を連続的に塗布した
こと以外は実施例4と同様にして金属膜パターンを形成
したポリイミドフイルムを真空吸着し、端部から徐々に
補強板から剥離した。ポリイミドフイルムの剥離力およ
びA×B×Cは回路パターン形成中にポリイミドフイル
ムが有機物層から剥離することはなかった。また、ポリ
イミドフイルムは有機物層との界面で剥離したが、著し
くカールした。Comparative Example 4 Young's modulus of 930 kg / m 2 using a comma coater
Long polyimide film of m 2 , thickness of 12.5 μm and width of 300 mm (“UPILEX” manufactured by Ube Industries, Ltd.)
A polyimide film having a metal film pattern formed thereon was vacuum-adsorbed in the same manner as in Example 4 except that an adhesive for improving the adhesive strength of the metal layer was continuously applied, and the polyimide film was gradually peeled from the end portion from the reinforcing plate. . Regarding the peeling force of the polyimide film and A × B × C, the polyimide film was not peeled from the organic layer during the formation of the circuit pattern. Further, the polyimide film was peeled off at the interface with the organic layer, but was significantly curled.
【0086】測長機SNIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、フォトマスクパターンに対して基板外側に向かっ
て110μm歪んだものがあった。200μmピッチ以
上の比較的粗い加工でも問題になるレベルであった。Length measuring machine SNIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, it was found that the photomask pattern was distorted 110 μm toward the outside of the substrate. Even a relatively rough processing with a pitch of 200 μm or more was at a level to be a problem.
【0087】[0087]
【表1】 [Table 1]
【0088】[0088]
【発明の効果】本発明は、可撓性フイルムを補強板と貼
り合わせて、該フイルムの補強板との貼り合わせ面の反
対面に回路パターンを加工し、その後可撓性フイルムを
剥離するものであり、この時の剥離力A、可撓性フイル
ムの厚みおよびヤング率の逆数B、Cの積を4.3×1
0−6以上4.3×10−3以下とする回路基板の製造
方法である。、A×B×Cを特定の範囲にすることで、
加工工程での熱処理プロセス、湿式プロセスによる膨張
と収縮、あるいは引っ張りや捻れなどの外力による可撓
性フイルムの変形を抑制して、より設計値に近い微細加
工を可能とし、少なくとも片面に特に高精度な回路パタ
ーンを形成した回路基板を製造することができる。特
に、ICなどの電子部品を接続する際の電極パッドと回
路基板パターンとの位置合わせ精度に係わる累積精度の
改善に効果が大きい。また、補強板と可撓性フイルムを
貼り合わせる前に、該フイルムの補強板貼り合わせ面
に、予め回路パターンを形成し、補強板と該回路パター
ン形成面とを剥離可能な有機物層を介して貼り合わせる
ことで、両面配線の回路基板とすることも出来る。According to the present invention, a flexible film is bonded to a reinforcing plate, a circuit pattern is processed on the surface of the film opposite to the bonding surface to the reinforcing plate, and then the flexible film is peeled off. And the product of the peeling force A, the thickness of the flexible film and the reciprocal B and C of the Young's modulus at this time is 4.3 × 1.
It is a method of manufacturing a circuit board having a size of 0-6 or more and 4.3 × 10-3 or less. , A × B × C within a specific range,
It suppresses the deformation of the flexible film by heat treatment process in the processing process, expansion and contraction by the wet process, or external force such as pulling and twisting, enabling microfabrication closer to the design value, and particularly high precision on at least one side It is possible to manufacture a circuit board on which various circuit patterns are formed. In particular, it is highly effective in improving the accumulative accuracy relating to the alignment accuracy between the electrode pad and the circuit board pattern when connecting an electronic component such as an IC. In addition, before bonding the reinforcing plate and the flexible film, a circuit pattern is formed in advance on the reinforcing plate bonding surface of the film, and the reinforcing plate and the circuit pattern forming surface are separated via an organic material layer. By sticking them together, a double-sided wiring circuit board can be obtained.
Claims (3)
機物層を介して貼り合わせ、次いで、可撓性フイルムの
補強板と貼り合わされていない方の面に回路パターンを
形成してから、可撓性フイルムを剥離する回路基板の製
造方法であって、可撓性フイルムを剥離するときの剥離
力A(g/cm)と、可撓性フイルムの厚みの逆数B
(μm-1)と、可撓性フイルムのヤング率の逆数C(m
m2/kg)との積A×B×Cが、4.3×10-6以上
4.3×10-3以下の範囲であることを特徴とする回路
基板の製造方法。1. A reinforcing plate and a flexible film are adhered to each other via a peelable organic layer, and then a circuit pattern is formed on the surface of the flexible film which is not adhered to the reinforcing plate. A method of manufacturing a circuit board for peeling a flexible film, comprising a peeling force A (g / cm) when peeling the flexible film and a reciprocal B of the thickness of the flexible film.
(Μm −1 ) and the reciprocal of the Young's modulus of the flexible film C (m
m 2 / kg) and the product A × B × C are in the range of 4.3 × 10 −6 or more and 4.3 × 10 −3 or less.
を形成した後、補強板と可撓性フイルムの回路パターン
形成面とを剥離可能な有機物層を介して貼り合わせ、次
いで、可撓性フイルムのもう一方の面に回路パターンを
形成してから、可撓性フイルムを剥離する回路基板の製
造方法であって、可撓性フイルムを剥離するときの剥離
力A(g/cm)と、可撓性フイルムの厚みの逆数B
(μm-1)と、可撓性フイルムのヤング率の逆数C(m
m2/kg)との積A×B×Cが、4.3×10-6以上
4.3×10-3以下の範囲であることを特徴とする回路
基板の製造方法。2. A circuit pattern is formed on one surface of a flexible film, and a reinforcing plate and a circuit pattern forming surface of the flexible film are bonded together via a peelable organic material layer, and then flexible. A method of manufacturing a circuit board in which a circuit pattern is formed on the other surface of a flexible film and then the flexible film is peeled off, and a peeling force A (g / cm) for peeling the flexible film , The reciprocal of the thickness of the flexible film B
(Μm −1 ) and the reciprocal of the Young's modulus of the flexible film C (m
m 2 / kg) and the product A × B × C are in the range of 4.3 × 10 −6 or more and 4.3 × 10 −3 or less.
記載の回路基板の製造方法。3. The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the reinforcing plate is glass.
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