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JP2003151948A - Apparatus and method of treating surface - Google Patents

Apparatus and method of treating surface

Info

Publication number
JP2003151948A
JP2003151948A JP2001343477A JP2001343477A JP2003151948A JP 2003151948 A JP2003151948 A JP 2003151948A JP 2001343477 A JP2001343477 A JP 2001343477A JP 2001343477 A JP2001343477 A JP 2001343477A JP 2003151948 A JP2003151948 A JP 2003151948A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning liquid
scanning head
plate
processed
liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001343477A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4003441B2 (en
Inventor
Hirobumi Kasuga
博文 春日
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2001343477A priority Critical patent/JP4003441B2/en
Publication of JP2003151948A publication Critical patent/JP2003151948A/en
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Publication of JP4003441B2 publication Critical patent/JP4003441B2/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and a method of treating a surface, which enables cleaning and drying of a plate to be treated by only an apparatus of simple structure. SOLUTION: In the surface treatment apparatus 1B, a plate 100 to be treated is supported on an apparatus body 11. With a leading end part 21 of a scanning head 2 being close to a treatment face 101 of the plate 100 to be treated, a cleaning liquid R is supplied into a space 20 between the treatment face 101 and the leading end 21 from a liquid outlet port 42 formed in the scanning head 2. While the cleaning liquid R is supplied, the scanning head 2 is stepped over along the plate 100, to be treated to clean the plate 100. Then, with a surface active gas being supplied near the meniscus M of the cleaning liquid, R formed at the backward side in the scanning direction of the scanning head 2 from a gas outlet port 192 formed in the scanning head 2, the scanning head 2 is stepped over along the plate 100 to be treated to make the meniscus M move along the treatment face 101 to dry the treatment face 101.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、表面処理装置およ
び表面処理方法に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a surface treatment apparatus and a surface treatment method.

【0002】[0002]

【従来の技術】基板に付着した水を乾燥して除去する方
法として、水の表面張力によるメニスカスと溶剤ガス+
不活性ガスによるマランゴニ効果を利用して基板表面に
水滴痕を生じさせることなく乾燥させる基板の乾燥方法
が知られている(特開平10−321587号公報)。
2. Description of the Related Art As a method for drying and removing water adhering to a substrate, a meniscus caused by the surface tension of water and a solvent gas +
A method of drying a substrate is known in which the Marangoni effect of an inert gas is used to dry the substrate surface without causing water droplets (Japanese Patent Laid-Open No. 10-321587).

【0003】この公報には、当該乾燥方法とともに、そ
れを実施するための乾燥装置(以下、従来の「乾燥装
置」と言う)が開示されているが、この従来の乾燥装置
には、次のような種々の欠点がある。
This publication discloses a drying device for carrying out the drying method (hereinafter referred to as a conventional "drying device"), and this conventional drying device includes the following. There are various drawbacks.

【0004】1. 従来の乾燥装置は、基板(被処理
板)に付着した水を乾燥するだけの機能を有し、その前
工程である例えば洗浄処理については、別途用意された
洗浄槽などの洗浄装置を用いて行わねばならない。
1. The conventional drying device has a function of simply drying the water attached to the substrate (plate to be processed). For the pre-process, for example, the cleaning process, a cleaning device such as a separately prepared cleaning tank is used. Must be done.

【0005】従って、例えば基板の洗浄と乾燥を連続的
に行うようなラインでは、洗浄装置と乾燥装置とを並設
し、基板をそれぞれの装置間で移動させて処理を行う必
要があり、そのため、設備コストがかかるとともに広い
設置スペースを要する。
Therefore, for example, in a line in which cleaning and drying of a substrate are continuously performed, it is necessary to install a cleaning device and a drying device in parallel and move the substrate between the respective devices for processing. However, it requires equipment cost and requires a large installation space.

【0006】特に、洗浄装置で洗浄した後の基板を乾燥
装置へ移行する際に、ゴミ(異物)が侵入して基板に付
着することを防止しなければならないため、洗浄装置か
ら乾燥装置への移送経路に防塵等の機能を持つ機構や手
段を設置しなければならない場合もある。
[0006] In particular, when the substrate after being cleaned by the cleaning device is transferred to the drying device, it is necessary to prevent dust (foreign matter) from entering and adhering to the substrate. In some cases, it is necessary to install a mechanism or means having a dustproof function in the transfer route.

【0007】2. 基板の表面には、何らかの方法で水
が付着したものであるが、水の付着量は、人為的にコン
トロールされているものではないため、変動することが
想定される。
2. Although water adheres to the surface of the substrate by some method, the amount of water adhered is not controlled artificially, and is therefore expected to fluctuate.

【0008】この場合、前述したように、水切りブロッ
ク間の間隙距離が固定されているため、基板の搬送速度
が速くなったり、基板の厚さが設計値のものよりも薄い
もの(基板表面と水切りブロックの内面との間に形成さ
れる水膜(以下単に「水膜」と言う)の厚さが厚くな
る)であったりした場合には、乾燥室(カバーで囲まれ
る混合ガス充填空間)内に流入する水の量が過剰となる
ことがある。この場合には、乾燥に長時間を要すること
となり、あるいはメニスカスが適正サイズを超えて増大
し、乾燥効率の低下や乾燥不良(水滴痕、その他パーテ
ィクルの残存等)を生じるおそれがある。
In this case, as described above, since the gap distance between the draining blocks is fixed, the transportation speed of the substrate becomes faster, and the thickness of the substrate is thinner than the designed value (the surface of the substrate and In the case of a water film formed between the inner surface of the draining block and the inner surface of the draining block (hereinafter simply referred to as "water film"), the drying chamber (mixed gas filling space surrounded by the cover) The amount of water flowing in may be excessive. In this case, it may take a long time to dry, or the meniscus may increase beyond an appropriate size, resulting in a decrease in drying efficiency and poor drying (water droplet marks, remaining particles, etc.).

【0009】逆に、基板に付着する水の付着量が過小と
なった場合には、基板表面と水切りブロックの内面との
間に、毛細管現象により水が十分に拡散し充填されない
こととなり、やはり乾燥不良の原因となる。
On the contrary, when the amount of water adhering to the substrate becomes too small, the water is not sufficiently diffused and filled between the substrate surface and the inner surface of the draining block due to the capillary phenomenon. It may cause poor drying.

【0010】3. 従来の乾燥装置においては、基板の
搬送速度が変化するとメニスカスのサイズ(メニスカス
を構成する部分の水の量)も変動するが、メニスカスの
サイズの変動は、それ以外の要因でも生じる。
3. In the conventional drying device, the size of the meniscus (the amount of water in the portion forming the meniscus) also changes when the transfer speed of the substrate changes, but the change in the meniscus size also occurs due to other factors.

【0011】例えば、固定状態にある一対の水切りブロ
ックに対し、搬送中の基板がその厚さ方向に揺動した場
合、水切りブロック間の間隙において、基板の両面にそ
れぞれ形成された前記水膜の厚さは経時的に変動する。
その結果、メニスカスに補充される水の量が変動し、メ
ニスカスのサイズが変動する。特に、その変動速度が速
い場合には、メニスカス表面(湾曲面)が振動する。こ
の場合、前記基板の揺動が僅かであっても、水膜は、毛
細管現象が生じる程度の非常に薄いものであるから、メ
ニスカスのサイズの変動は避けられない。また、このよ
うな変動はクリーンルームの環境下でも容易に生じる現
象である。特に、水膜が薄い場合にはメニスカスのサイ
ズの経時的な変動はかなり速いものであり、その影響は
大きくウォーターマークやシミなど、乾燥不良の原因と
なる。
For example, when the substrate being transported rocks in the thickness direction with respect to a pair of drainage blocks in a fixed state, the water films formed on both sides of the substrate in the gaps between the drainage blocks, respectively. The thickness varies over time.
As a result, the amount of water replenished in the meniscus fluctuates, and the size of the meniscus fluctuates. In particular, when the fluctuation speed is high, the meniscus surface (curved surface) vibrates. In this case, the fluctuation of the size of the meniscus is unavoidable because the water film is so thin that the capillary phenomenon occurs even if the substrate is slightly shaken. Further, such a variation is a phenomenon that easily occurs even in a clean room environment. In particular, when the water film is thin, the temporal change of the meniscus size is quite fast, and the influence thereof is large and causes poor drying such as water marks and stains.

【0012】このように、種々の原因でメニスカスのサ
イズが変動すると、乾燥速度との間にアンバランスが生
じ、乾燥を一定の条件で安定的に良好に行うことができ
ない。特に、基板表面全体にわたり均一で良好な乾燥を
行うことができない。
As described above, when the size of the meniscus fluctuates due to various causes, an imbalance occurs between the meniscus and the drying speed, and the drying cannot be stably and favorably performed under certain conditions. In particular, uniform and good drying cannot be performed over the entire substrate surface.

【0013】4. 従来の乾燥装置では、水切りブロッ
ク間の間隙に進入する水に汚れ(異物等)が混入した
り、水切りブロック間の間隙に存在する水(すなわち前
記水膜)において汚れが発生した場合でも、その水を除
去または交換することができずに乾燥室に持ち込まれる
ので、このような水の汚れが原因で乾燥不良を生じるお
それがある。
4. In the conventional drying device, even if dirt (for example, foreign matter) is mixed in the water entering the gap between the draining blocks, or if the water existing in the gap between the draining blocks (that is, the water film) becomes dirty, Since the water cannot be removed or replaced and is brought into the drying chamber, there is a possibility that such water stains may cause poor drying.

【0014】5. 従来の乾燥装置は、基板が一対の水
切りブロック間の間隙を通過する構成となっているが、
水切りブロック間の間隙距離が固定されているため、基
板の厚さの変化に対応することができず、一定の厚さの
基板に対してしか乾燥を行うことができない。また、基
板にパターンがある場合には、ブロックと基板間の間隙
が変動するためメニスカスが変動し、毛細管現象が生じ
ない個所が発生し水滴残りを生じるおそれがある。
5. In the conventional drying device, the substrate passes through the gap between the pair of draining blocks,
Since the gap distance between the draining blocks is fixed, it is not possible to cope with the change in the thickness of the substrate, and the drying can be performed only on the substrate having a constant thickness. When the substrate has a pattern, the gap between the block and the substrate varies, so that the meniscus varies, and there is a possibility that a portion where the capillarity phenomenon does not occur and water droplets remain.

【0015】6. 従来の乾燥装置においては、基板の
両面が水で濡れており、基板の両面を同時に乾燥する構
成となっている。従って、基板の片面のみを乾燥したい
場合には、対応が困難である。特に、基板の水で塗れた
片面は乾燥し、もう一方の面は水で濡らしたくない場合
には、対応できない。
6. In the conventional drying device, both surfaces of the substrate are wet with water, and both surfaces of the substrate are dried at the same time. Therefore, it is difficult to cope with the case where only one side of the substrate is desired to be dried. In particular, if one side of the substrate that has been wetted with water is dry and the other side is not desired to be wetted with water, this cannot be dealt with.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、被処
理板の洗浄と乾燥とを簡易な構成の一つの装置で行うこ
とができる表面処理装置および表面処理方法を提供する
ことにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a surface treatment apparatus and a surface treatment method capable of cleaning and drying a plate to be treated with one apparatus having a simple structure.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
(1)〜(15)の本発明により達成される。
The above objects are achieved by the present invention described in (1) to (15) below.

【0018】(1) 被処理板を支持する装置本体と、
前記装置本体に対し移動可能に設けられた走査ヘッド
と、前記走査ヘッドを前記装置本体に対し移動させる駆
動手段と、前記走査ヘッドに形成された洗浄液流出口よ
り前記被処理板の表面と前記走査ヘッドの先端部との隙
間に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、前記走査ヘッ
ドに形成されたガス流出口より前記先端部付近に界面活
性剤を含む界面活性ガスを供給する界面活性ガス供給手
段とを備え、前記被処理板の表面に前記走査ヘッドの先
端部を近接させた状態で、前記表面と前記先端部との隙
間に前記洗浄液流出口より洗浄液を供給して前記表面を
洗浄処理し、前記走査ヘッドの走査方向後方側に形成さ
れた前記洗浄液のメニスカス付近に前記ガス流出口より
前記界面活性ガスを供給しつつ、前記駆動手段によって
前記走査ヘッドを前記被処理板に沿って走査することに
より、前記メニスカスを前記表面に沿って移動させ、こ
れにより、前記表面を乾燥処理するよう作動することを
特徴とする表面処理装置。
(1) An apparatus main body for supporting a plate to be processed,
A scanning head movably provided with respect to the apparatus main body, a driving means for moving the scanning head with respect to the apparatus main body, a cleaning liquid outlet formed in the scanning head, and a surface of the plate to be processed and the scanning. Cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid to a gap between the head and a tip portion, and surfactant gas supply means for supplying a surfactant gas containing a surfactant near the tip portion from a gas outlet formed in the scanning head. In a state where the tip of the scanning head is brought close to the surface of the plate to be processed, the cleaning liquid is supplied from the cleaning liquid outlet to the gap between the surface and the tip to clean the surface, While supplying the surface-active gas from the gas outlet near the meniscus of the cleaning liquid formed on the rear side of the scanning head in the scanning direction, the scanning head is moved forward by the driving unit. By scanning along the treated plate, the meniscus is moved along the surface, thereby, the surface treatment apparatus characterized by operative to drying the surface.

【0019】(2) 前記被処理板を搬送する搬送手段
を有する上記(1)に記載の表面処理装置。
(2) The surface treatment apparatus according to the above (1), which has a conveying means for conveying the plate to be treated.

【0020】(3) 前記被処理板の搬送停止位置を位
置決めする位置決め手段を有する上記(2)に記載の表
面処理装置。
(3) The surface treatment apparatus according to the above (2), which has a positioning means for positioning a carrying stop position of the plate to be processed.

【0021】(4) 前記搬送手段の搬送方向は、前記
走査ヘッドの走査方向とほぼ直交する方向である上記
(2)または(3)に記載の表面処理装置。
(4) The surface treatment apparatus according to (2) or (3), wherein the carrying direction of the carrying means is a direction substantially orthogonal to the scanning direction of the scanning head.

【0022】(5) 前記駆動手段によって前記走査ヘ
ッドを前記被処理板に沿って走査しつつ前記洗浄処理を
行う上記(1)ないし(4)のいずれかに記載の表面処
理装置。
(5) The surface treatment apparatus according to any one of the above (1) to (4), wherein the drive unit scans the scan head along the plate to be processed to perform the cleaning process.

【0023】(6) 前記ガス流出口より供給された界
面活性ガスを前記走査ヘッドに形成されたガス流入口よ
り吸入して排出する排気手段を有する上記(1)ないし
(5)のいずれかに記載の表面処理装置。
(6) In any one of the above (1) to (5), there is provided exhaust means for sucking in and discharging the surface-active gas supplied from the gas outlet from the gas inlet formed in the scanning head. The surface treatment device described.

【0024】(7) 前記被処理板の表面と前記対向面
との隙間に供給された洗浄液を除去する除去手段を有す
る上記(1)ないし(6)のいずれかに記載の表面処理
装置。
(7) The surface treatment apparatus according to any one of the above (1) to (6), which has a removing means for removing the cleaning liquid supplied to the gap between the surface of the plate to be processed and the facing surface.

【0025】(8) 前記除去手段は、前記走査ヘッド
に形成された液流入口より洗浄液を吸入して排出する排
液手段で構成されている上記(7)に記載の表面処理装
置。
(8) The surface treatment apparatus according to (7), wherein the removing means is a draining means for sucking and discharging the cleaning liquid from a liquid inlet formed in the scanning head.

【0026】(9) 前記除去手段により洗浄液を除去
するとともに、前記洗浄液流出口より洗浄液を供給する
ことにより、前記被処理板の表面と前記走査ヘッドの先
端部との隙間の洗浄液を交換しつつ前記表面を洗浄処理
可能とする上記(7)または(8)に記載の表面処理装
置。
(9) While removing the cleaning liquid by the removing means and supplying the cleaning liquid from the cleaning liquid outlet, the cleaning liquid in the gap between the surface of the plate to be processed and the tip of the scanning head is exchanged. The surface treatment apparatus according to (7) or (8) above, which enables cleaning treatment of the surface.

【0027】(10) 前記洗浄液流出口は、1または
2列以上に配置された複数の小孔で構成されている上記
(1)ないし(9)のいずれかに記載の表面処理装置。
(10) The surface treatment apparatus according to any one of (1) to (9), wherein the cleaning liquid outlet is composed of a plurality of small holes arranged in one or two or more rows.

【0028】(11) 被処理板の表面と走査ヘッドの
先端部とを近接させた状態で、前記走査ヘッドに形成さ
れた洗浄液流出口より前記表面と前記先端部との隙間に
洗浄液を供給して前記表面を洗浄処理し、前記走査ヘッ
ドの走査方向後方側に形成された前記洗浄液のメニスカ
ス付近に、前記走査ヘッドに形成されたガス流出口より
界面活性剤を含む界面活性ガスを供給しつつ、前記走査
ヘッドを前記被処理板に沿って走査することにより、前
記メニスカスを前記表面に沿って移動させ、これによ
り、前記表面を乾燥処理することを特徴とする表面処理
方法。
(11) With the surface of the plate to be processed and the tip of the scanning head in close proximity, the cleaning liquid is supplied from the cleaning liquid outlet formed in the scanning head to the gap between the surface and the tip. While cleaning the surface, and supplying a surface-active gas containing a surfactant from a gas outlet formed in the scanning head near the meniscus of the cleaning liquid formed on the scanning direction rear side of the scanning head. The surface treatment method is characterized in that the meniscus is moved along the surface by scanning the scanning head along the plate to be processed, whereby the surface is dried.

【0029】(12) 前記走査ヘッドを前記被処理板
に沿って走査しつつ前記洗浄処理を行う上記(11)に
記載の表面処理方法。
(12) The surface treatment method as described in (11) above, wherein the cleaning treatment is performed while scanning the scanning head along the plate to be treated.

【0030】(13) 前記洗浄処理は、前記被処理板
の表面と前記走査ヘッドの先端部との隙間の洗浄液を除
去するとともに前記洗浄液流出口より洗浄液を供給する
ことにより、洗浄液を交換しつつ行う上記(11)また
は(12)に記載の表面処理方法。
(13) In the cleaning process, while removing the cleaning liquid in the gap between the surface of the plate to be processed and the tip of the scanning head and supplying the cleaning liquid from the cleaning liquid outlet, the cleaning liquid is exchanged. The surface treatment method according to (11) or (12) above, which is performed.

【0031】(14) 前記乾燥処理は、前記ガス流出
口より供給された界面活性ガスを前記走査ヘッドに形成
されたガス流入口より吸入して排出しつつ行う上記(1
1)ないし(13)のいずれかに記載の表面処理方法。
(14) The drying process is performed while sucking and discharging the surface-active gas supplied from the gas outlet from the gas inlet formed in the scanning head.
The surface treatment method according to any one of 1) to (13).

【0032】(15) 前記洗浄液は、純水またはオゾ
ン水である上記(11)ないし(14)のいずれかに記
載の表面処理方法。
(15) The surface treatment method according to any one of (11) to (14), wherein the cleaning liquid is pure water or ozone water.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】以下、本発明の表面処理装置およ
び表面処理方法を添付図面に示す好適な実施形態に基づ
いて詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A surface treating apparatus and a surface treating method of the present invention will be described below in detail with reference to the preferred embodiments shown in the accompanying drawings.

【0034】図1は、本発明の表面処理装置の実施形態
を模式的に示す図(ブロック図)、図2は、図1に示す
表面処理装置における走査ヘッドの底面図、図3は、図
1に示す表面処理装置における乾燥処理中の走査ヘッド
の先端部を拡大して示す部分断面側面図である。
FIG. 1 is a diagram (block diagram) schematically showing an embodiment of a surface treatment apparatus of the present invention, FIG. 2 is a bottom view of a scanning head in the surface treatment apparatus shown in FIG. 1, and FIG. FIG. 3 is a partial cross-sectional side view showing, in an enlarged manner, the tip of the scanning head during the drying process in the surface treatment apparatus shown in FIG.

【0035】これらの図に示す表面処理装置1Bは、被
処理板100の表面(処理面101)に対し、処理液T
による処理と、洗浄液Rによる洗浄処理と、乾燥処理と
を行う(施す)装置である。
In the surface treatment apparatus 1B shown in these figures, the treatment liquid T is applied to the surface (treatment surface 101) of the plate 100 to be treated.
Is a device that performs (performs) the processing by (1), the cleaning processing by the cleaning liquid R, and the drying processing.

【0036】この表面処理装置1Bは、被処理板100
を支持する装置本体11と、装置本体11に対し移動
(変位)可能に設けられた走査ヘッド2と、走査ヘッド
2を装置本体11に対し移動する(変位させる)駆動手
段5と、被処理板100の処理面101と走査ヘッド2
の先端部21との隙間20に処理液Tを供給する処理液
供給手段9と、隙間20に洗浄液Rを供給する洗浄液供
給手段4と、先端部21付近に界面活性ガスを供給する
界面活性ガス供給手段19と、被処理板100を搬送す
る搬送手段18と、被処理板100の搬送停止位置を位
置決めする位置決め手段13と、隙間20の処理液Tや
洗浄液Rを吸入して排出する排液手段16と、先端部2
1付近に供給された界面活性ガスを排気する排気手段1
7とを備えている。
This surface treatment apparatus 1B is provided with a plate 100 to be treated.
A device main body 11 that supports the device, a scanning head 2 that is movable (displaceable) with respect to the device main body 11, a drive unit 5 that moves (displaces) the scanning head 2 with respect to the device main body 11, and a plate to be processed. 100 processing surface 101 and scanning head 2
Processing liquid supply means 9 for supplying the processing liquid T to the gap 20 with the tip portion 21, the cleaning liquid supply means 4 for supplying the cleaning liquid R to the gap 20, and the surfactant gas for supplying the surfactant gas near the tip portion 21. A supply unit 19, a transport unit 18 for transporting the plate 100 to be processed, a positioning unit 13 for positioning the transport stop position of the plate 100 to be processed, and a drainage liquid for sucking and discharging the processing liquid T or the cleaning liquid R in the gap 20. Means 16 and tip 2
Exhaust means 1 for exhausting the surface-active gas supplied near 1
7 and 7.

【0037】本実施形態では、長方形の平板状をなす被
処理板100を対象とする場合について説明する。この
被処理板100は、図1中の左右方向が長辺方向であ
り、図1の紙面に垂直な方向が短辺方向になっている。
In this embodiment, a case will be described in which the target plate 100 having a rectangular flat plate shape is targeted. In the plate 100 to be processed, the horizontal direction in FIG. 1 is the long side direction, and the direction perpendicular to the paper surface of FIG. 1 is the short side direction.

【0038】本発明における被処理板100の種類、材
質等は、特に限定されず、例えば、半導体基板、LCD
(液晶表示画面)基板等の基板、水晶板、ガラス板、ス
テンレス鋼板等の金属板等が挙げられる。また、被処理
板100の形状も、長方形に限らず、例えば円形、楕円
形等であってもよく、大きさについても、いかなる大き
さのものにも適用することができる。すなわち、本発明
は、いかなる板物(板状部材)に対する処理にも適用す
ることができる。
The type, material, etc. of the plate 100 to be processed in the present invention are not particularly limited, and examples thereof include a semiconductor substrate and an LCD.
(Liquid crystal display screen) Substrate such as substrate, crystal plate, glass plate, metal plate such as stainless steel plate, and the like. Further, the shape of the plate to be processed 100 is not limited to a rectangle, and may be, for example, a circle, an ellipse, or the like, and the size can be applied to any size. That is, the present invention can be applied to the treatment of any plate (plate-shaped member).

【0039】装置本体11は、被処理板100をほぼ水
平な状態で支持することができる。表面処理装置1B
は、装置本体11に支持された被処理板100の上側の
表面である処理面101に対し、後述するような処理を
行う。
The apparatus main body 11 can support the plate 100 to be processed in a substantially horizontal state. Surface treatment device 1B
Performs processing as described below on the processing surface 101, which is the upper surface of the processing target plate 100 supported by the apparatus main body 11.

【0040】装置本体11には、被処理板100を搬送
する搬送手段18が設置されている。搬送手段18は、
並設された複数のローラ181を有しており、これらの
ローラ181の上に載置された被処理板100をほぼ水
平状態で図1の紙面の奥側から手前側に向かって(図1
の紙面にほぼ垂直な方向に)搬送する。
A transfer means 18 for transferring the plate 100 to be processed is installed in the apparatus main body 11. The transport means 18 is
It has a plurality of rollers 181 arranged side by side, and the processed plate 100 placed on these rollers 181 is in a substantially horizontal state from the back side of the paper surface of FIG. 1 toward the front side (FIG.
Transport in a direction almost perpendicular to the paper surface of.

【0041】被処理板100は、この搬送手段18によ
り、1枚ずつ、図1の紙面奥側に位置する図示しない前
工程から表面処理装置1Bに搬入され、表面処理装置1
Bでの処理を終えた後、図1の紙面手前側に位置する図
示しない後工程へと搬出される。
The plates 100 to be processed are carried into the surface processing apparatus 1B one by one from the front step (not shown) located on the back side of the paper surface of FIG.
After the processing in B is completed, it is carried out to a post process (not shown) located on the front side of the paper surface of FIG.

【0042】装置本体11には、搬送手段18により搬
入された被処理板100の搬送停止位置を位置決めする
位置決め手段13が設けられている。この位置決め手段
13は、ストッパ131を有しており、このストッパ1
31は、被処理板100の搬送経路上に突出した状態
(図1に示す状態)と、搬送経路から退避した状態(図
示せず)とに変位可能になっている。
The apparatus main body 11 is provided with positioning means 13 for positioning the carrying stop position of the plate 100 to be processed carried in by the carrying means 18. The positioning means 13 has a stopper 131, and the stopper 1
Reference numeral 31 is displaceable between a state in which the plate 100 to be processed is projected onto the transport path (a state shown in FIG. 1) and a state in which it is retracted from the transport path (not shown).

【0043】ストッパ131を昇降(変位)させる機構
としては、例えば、ラックギアとピニオンギアとこのピ
ニオンギアを回転するモータとを有する機構で構成する
ことにより実現できる。なお、本実施形態においては、
前記機構を複数(2つ)配置することにより実現してい
る。
The mechanism for moving the stopper 131 up and down (displacement) can be realized by, for example, a mechanism having a rack gear, a pinion gear, and a motor for rotating the pinion gear. In the present embodiment,
This is realized by arranging a plurality of (two) the above-mentioned mechanisms.

【0044】搬送手段18より表面処理装置1Bに搬入
された被処理板100は、図1中の手前側の縁部が突出
状態にあるストッパ131に当接することにより、装置
本体11に対し停止する。この搬送停止状態で、表面処
理装置1Bによる処理が行われる。
The plate to be processed 100 carried into the surface processing apparatus 1B by the conveying means 18 is stopped with respect to the apparatus main body 11 by the stopper 131 whose front edge in FIG. 1 is in a protruding state. . In this transportation stopped state, the processing by the surface processing apparatus 1B is performed.

【0045】被処理板100に対する処理が終了する
と、位置決め手段13は、ストッパ131を退避状態と
し、被処理板100に対する位置決め状態(停止状態)
を解除する。これにより、処理の終了した被処理板10
0は、搬送手段18により、後工程へ搬出される。次い
で、位置決め手段13は、ストッパ131を突出状態と
し、搬送手段18は、次の被処理板100を前記搬送停
止位置に搬入する。そして、表面処理装置1Bは、この
被処理板100に対し、処理を行う。
When the processing on the plate 100 to be processed is completed, the positioning means 13 puts the stopper 131 in the retracted state, and sets the plate 100 to the plate 100 to be processed (stopped state).
To cancel. As a result, the plate 10 to be processed is completed.
0 is carried out to the subsequent process by the carrying means 18. Next, the positioning means 13 brings the stopper 131 into the protruding state, and the carrying means 18 carries in the next plate to be processed 100 to the carrying stop position. Then, the surface processing apparatus 1B performs processing on the plate 100 to be processed.

【0046】このように、表面処理装置1Bは、枚葉処
理型の装置であり、被処理板100を一枚ずつ処理す
る。
As described above, the surface processing apparatus 1B is a single-wafer processing type apparatus, and processes the target plate 100 one by one.

【0047】なお、搬送手段18および位置決め手段1
3は、それぞれ、図示のような構成に限らず、同様の機
能を発揮し得るものであればいかなる構成のものでもよ
い。
Incidentally, the conveying means 18 and the positioning means 1
Each of the components 3 is not limited to the configuration shown in the drawing, and may have any configuration as long as it can exhibit the same function.

【0048】走査ヘッド2は、このような装置本体11
に対し移動可能に設けられている。この走査ヘッド2
は、駆動手段5によって駆動(移動)される。駆動手段
5は、少なくとも、走査ヘッド2の先端部21(図1中
の下端部)が処理面101に近接した状態で、走査ヘッ
ド2を処理面101にほぼ平行な方向に移動可能になっ
ている。すなわち、走査ヘッド2は、駆動手段5によ
り、被処理板100に沿って走査可能に設けられてい
る。
The scanning head 2 has such a device body 11 as described above.
It is provided to be movable. This scanning head 2
Are driven (moved) by the driving means 5. The driving unit 5 can move the scanning head 2 in a direction substantially parallel to the processing surface 101, at least in a state where the leading end portion 21 (the lower end portion in FIG. 1) of the scanning head 2 is close to the processing surface 101. There is. That is, the scanning head 2 is provided so as to be able to scan along the plate 100 to be processed by the driving means 5.

【0049】図示の構成では、走査ヘッド2は、図1中
の左右方向に走査される。すなわち、走査ヘッド2の走
査方向と、搬送手段18による被処理板100の搬送方
向とは、ほぼ直交するようになっている。
In the configuration shown, the scanning head 2 scans in the left-right direction in FIG. That is, the scanning direction of the scanning head 2 and the transportation direction of the processing target plate 100 by the transportation means 18 are substantially orthogonal to each other.

【0050】また、駆動手段5は、走査ヘッド2を図1
中の上下方向にも移動可能になっている。すなわち、駆
動手段5は、走査ヘッド2を図中の上側に退避させた状
態と、被処理板100に近接させた状態とに移動可能に
なっている。
Further, the driving means 5 includes the scanning head 2 as shown in FIG.
It can also be moved up and down. That is, the driving means 5 is movable between a state in which the scanning head 2 is retracted to the upper side in the drawing and a state in which the scanning head 2 is brought close to the plate 100 to be processed.

【0051】駆動手段5としては、例えばサーボモー
タ、流体圧シリンダ、送りネジ、カム機構、歯車機構、
リンク機構等を適宜組み合わせて用いた公知の各種の駆
動機構を利用することができる。
As the driving means 5, for example, a servo motor, a fluid pressure cylinder, a feed screw, a cam mechanism, a gear mechanism,
It is possible to use various known drive mechanisms that are appropriately combined and used with link mechanisms and the like.

【0052】また、駆動手段5は、走査ヘッド2の走査
方向に沿って設けられたレール部材(図示せず)を有し
ており、このレール部材に沿って走査ヘッド2を移動す
ることにより、走査ヘッド2の先端部21と処理面10
1との間隙距離(隙間20の距離)を一定に保った状態
で、走査ヘッド2を走査可能になっている。
Further, the driving means 5 has a rail member (not shown) provided along the scanning direction of the scanning head 2, and by moving the scanning head 2 along this rail member, The tip 21 of the scanning head 2 and the processing surface 10
The scanning head 2 is capable of scanning while maintaining a constant gap distance with respect to 1 (distance of the gap 20).

【0053】走査ヘッド2の幅(図2中の上下方向の長
さ)は、被処理板100の幅(図1の紙面に垂直な方向
の長さ)とほぼ同じかまたはやや大きくなっている。
The width of the scanning head 2 (length in the vertical direction in FIG. 2) is almost the same as or slightly larger than the width of the plate 100 to be processed (length in the direction perpendicular to the paper surface of FIG. 1). .

【0054】表面処理装置1Bは、走査ヘッド2の先端
部21を処理面101に近接させた状態で、先端部21
と処理面101との間に形成された隙間20に処理液T
や洗浄液Rを供給し、処理液Tによる処理や洗浄処理を
行う。この処理を行う際の処理面101と先端部21と
の間隔(隙間20の間隙距離)は、処理液Tや洗浄液R
が隙間20に十分に行き渡るとともに、処理液Tや洗浄
液Rが表面張力により隙間20(または隙間20の付近
一帯、以下、単に「隙間20」と言う)に滞留し得るよ
うな大きさとされ、1〜5mm程度であるのが好まし
い。
The surface treatment apparatus 1B has the tip 21 of the scanning head 2 in a state where the tip 21 is brought close to the processing surface 101.
In the gap 20 formed between the processing liquid 101 and the processing surface 101.
The cleaning liquid R is supplied, and the treatment and the cleaning treatment with the treatment liquid T are performed. The distance between the processing surface 101 and the tip portion 21 (gap distance of the gap 20) when performing this processing is the processing liquid T or the cleaning liquid R.
Is sufficiently spread over the gap 20, and the treatment liquid T and the cleaning liquid R are sized so that the treatment liquid T and the cleaning liquid R can be retained in the gap 20 (or a region near the gap 20, hereinafter, simply referred to as a "gap 20") due to surface tension. It is preferably about 5 mm.

【0055】本発明では、このように隙間20に処理液
Tや洗浄液Rを供給して処理を行うことにより、処理液
Tや洗浄液Rを貯留した槽に被処理板100を浸漬して
処理するような場合と比べ、処理液Tや洗浄液Rの使用
量を大幅に低減することができる。
In the present invention, the processing liquid T or the cleaning liquid R is supplied to the gap 20 in this manner to perform the processing, so that the plate 100 to be processed is immersed in the tank storing the processing liquid T or the cleaning liquid R for the processing. Compared to such a case, the usage amounts of the processing liquid T and the cleaning liquid R can be significantly reduced.

【0056】また、本発明では、処理液Tや洗浄液Rが
隙間20に表面張力により滞留する(保持される)の
で、図示と異なり、被処理板100が水平面に対し傾斜
した状態や垂直な状態でも処理を行うことができる。
Further, in the present invention, the treatment liquid T and the cleaning liquid R are retained (held) in the gap 20 due to the surface tension. Therefore, unlike the drawing, the plate 100 to be treated is inclined or perpendicular to the horizontal plane. But it can be processed.

【0057】本実施形態では、前述のように走査ヘッド
2の走査方向と被処理板100の搬送方向とをほぼ直交
する方向としたことにより、走査ヘッド2の走査方向
は、被処理板100の長辺方向であり、被処理板100
の搬送方向は、被処理板100の短辺方向になってい
る。これにより、走査ヘッド2の幅を比較的小さくする
ことができ、よって、液やガスの供給、排出を被処理板
100の幅方向により均一に行うことができるととも
に、搬送手段18による被処理板100の搬送距離を短
縮することができる利点がある。また、その他、走査
ヘッド2待機時の待機位置として、被処理板100搬送
経路上にないことから、走査ヘッド2による被処理板1
00の汚染、例えば走査ヘッド2のクリーニング時の飛
散や液ダレによる汚染などを防止することができる、
走査ヘッド2の走査方向を限定することにより、装置機
構が非常に簡素化できる、という利点もある。
In the present embodiment, the scanning direction of the scanning head 2 and the conveyance direction of the plate 100 to be processed are substantially orthogonal to each other as described above. Longitudinal direction, the processed plate 100
The conveyance direction of is in the direction of the short side of the plate 100 to be processed. As a result, the width of the scanning head 2 can be made relatively small, so that the supply and discharge of the liquid or gas can be performed more uniformly in the width direction of the plate 100 to be processed, and the plate to be processed by the carrying means 18 can be processed. There is an advantage that the transport distance of 100 can be shortened. Further, in addition, since the standby position when the scan head 2 is on standby is not on the transport path of the plate 100 to be processed, the plate 1 to be processed by the scan head 2 is
00, for example, scattering during cleaning of the scanning head 2 or contamination due to liquid dripping can be prevented.
By limiting the scanning direction of the scanning head 2, there is also an advantage that the device mechanism can be greatly simplified.

【0058】図2に示すように、走査ヘッド2には、処
理液Tや洗浄液Rが流出する複数の液流出口42と、処
理液Tや洗浄液Rが流入する複数の液流入口161と、
界面活性ガスが流出する複数のガス流出口192と、界
面活性ガスが流入する複数のガス流入口171とがそれ
ぞれ形成されている。これらの液流出口42、液流入口
161、ガス流出口192およびガス流入口171は、
それぞれ、小孔(オリフィス)で構成されている。
As shown in FIG. 2, the scanning head 2 has a plurality of liquid outlets 42 through which the processing liquid T and the cleaning liquid R flow out, and a plurality of liquid inlets 161 through which the processing liquid T and the cleaning liquid R flow in.
A plurality of gas outlets 192 through which the surface-active gas flows out and a plurality of gas inlets 171 through which the surface-active gas flows are formed. These liquid outlet 42, liquid inlet 161, gas outlet 192 and gas inlet 171 are
Each is composed of a small hole (orifice).

【0059】複数の液流出口42、液流入口161、ガ
ス流出口192およびガス流入口171は、それぞれ、
走査ヘッド2の走査方向と垂直な方向に、好ましくはほ
ぼ等間隔で、一列に配設されている。これにより、液や
ガスの供給、排出を処理面101の幅方向に均一に行う
ことができる。
The plurality of liquid outlets 42, liquid inlet 161, gas outlet 192 and gas inlet 171 are respectively
The scanning heads 2 are arranged in a line in a direction perpendicular to the scanning direction of the scanning head 2, preferably at substantially equal intervals. As a result, it is possible to uniformly supply and discharge the liquid or gas in the width direction of the processing surface 101.

【0060】図1に示すように、液流出口42および液
流入口161は、それぞれ、走査ヘッド2の先端部21
(先端面)に開口している。また、ガス流出口192お
よびガス流入口171は、それぞれ、液流出口42およ
び液流入口161の図中右側に形成されており、液流出
口42および液流入口161よりやや基端側に開口して
いる。
As shown in FIG. 1, the liquid outlet 42 and the liquid inlet 161 are respectively provided at the tip portion 21 of the scanning head 2.
There is an opening on the tip surface. Further, the gas outlet 192 and the gas inlet 171 are formed on the right side of the liquid outlet 42 and the liquid inlet 161 in the drawing, respectively, and are opened slightly closer to the base end side than the liquid outlet 42 and the liquid inlet 161. is doing.

【0061】このように、本実施形態では、液流出口4
2とガス流出口192が、さらには液流入口161とガ
ス流入口171を含む4種が一つの走査ヘッド2にまと
めて形成されていることにより、装置の構成のさらなる
簡素化、小型化を図ることができる。なお、走査ヘッド
2は、このような構成に限らず、これらの開口が形成さ
れた部位が2以上に別体になっているようなものであっ
てもよい。
As described above, in this embodiment, the liquid outlet 4
2 and the gas outflow port 192, and four types including the liquid inflow port 161 and the gas outflow port 171 are collectively formed in one scanning head 2, thereby further simplifying and downsizing the configuration of the apparatus. Can be planned. The scanning head 2 is not limited to such a configuration, and may have a structure in which these openings are formed in two or more separate bodies.

【0062】また、液流出口42、液流入口161、ガ
ス流出口192およびガス流入口171の数は、それぞ
れ、図示の構成に限らず、被処理板100の大きさ等に
合わせて適宜設定される。また、液流出口42、液流入
口161、ガス流出口192およびガス流入口171
は、それぞれ、2列以上に配置されていてもよい。ま
た、液流出口42、液流入口161、ガス流出口192
およびガス流入口171は、それぞれ、少なくとも1つ
設けられていればよい。また、図示の構成では、液流出
口42、液流入口161、ガス流出口192およびガス
流入口171の形状は、それぞれ、円形になっている
が、これに限らず、例えば楕円形、長方形等であっても
よい。
The numbers of the liquid outlets 42, the liquid inlets 161, the gas outlets 192 and the gas inlets 171 are not limited to those shown in the drawings, but may be appropriately set according to the size of the plate 100 to be processed. To be done. Further, the liquid outlet 42, the liquid inlet 161, the gas outlet 192 and the gas inlet 171.
May be arranged in two or more rows. Further, the liquid outlet 42, the liquid inlet 161, and the gas outlet 192.
At least one gas inlet 171 and each gas inlet 171 may be provided. Further, in the illustrated configuration, the liquid outlet 42, the liquid inlet 161, the gas outlet 192, and the gas inlet 171 each have a circular shape, but the shape is not limited to this, and for example, an elliptical shape, a rectangular shape, or the like. May be

【0063】図示の構成では、液流出口42を形成する
孔46、液流入口161を形成する孔163、ガス流出
口192を形成する孔195およびガス流入口171を
形成する孔174は、それぞれ、走査ヘッド2の基端部
23まで貫通して形成されている。そして、孔46、孔
163、孔195および孔174の基端開口部には、流
路を形成する細長いケーシング47、164、196お
よび175がそれぞれ固着されている。これにより、複
数の液流出口42、液流入口161、ガス流出口192
およびガス流入口171への流路は、それぞれ、ケーシ
ング47、164、196および175内において互い
に連通している。
In the illustrated structure, the hole 46 forming the liquid outlet 42, the hole 163 forming the liquid inlet 161, the hole 195 forming the gas outlet 192, and the hole 174 forming the gas inlet 171 are respectively , Is formed so as to penetrate to the base end portion 23 of the scanning head 2. Then, elongated casings 47, 164, 196, and 175 that form flow paths are fixed to the base end openings of the holes 46, 163, 195, and 174, respectively. Thereby, the plurality of liquid outlets 42, the liquid inlet 161 and the gas outlet 192.
And the flow paths to the gas inlet 171 communicate with each other in the casings 47, 164, 196 and 175, respectively.

【0064】また、図示の構成では、走査ヘッド2に
は、ガス流出口192より供給された界面活性ガスが逃
げる(拡散する)のを防止するフード(風防)22が設
けられている。これにより、界面活性ガスの供給効率の
向上や、環境への拡散防止が図れる。
Further, in the configuration shown in the figure, the scanning head 2 is provided with a hood (windshield) 22 for preventing the surface-active gas supplied from the gas outlet 192 from escaping (diffusing). As a result, it is possible to improve the supply efficiency of the surface-active gas and prevent diffusion into the environment.

【0065】隙間20に処理液Tを供給する処理液供給
手段9は、処理液Tを貯留する処理液タンク91と、走
査ヘッド2に形成された液流出口42および孔46と、
ケーシング47と、処理液タンク91と切替えバルブ4
0とを接続する供給ライン(流路)93と、供給ライン
93の途中に設置されたポンプ94と、切替えバルブ4
0とケーシング47とを接続する供給ライン(流路)4
5とで構成されている。
The processing liquid supply means 9 for supplying the processing liquid T to the gap 20 has a processing liquid tank 91 for storing the processing liquid T, a liquid outlet 42 and a hole 46 formed in the scanning head 2.
Casing 47, processing liquid tank 91, switching valve 4
0, a supply line (flow path) 93, a pump 94 installed in the middle of the supply line 93, and a switching valve 4
0 for connecting the casing 47 to the supply line (flow path) 4
It is composed of 5 and 5.

【0066】処理液Tは、処理面101に対し、各種の
処理を行うものであり、切替えバルブ40が後述する第
2の状態のとき、ポンプ94の作動により、処理液タン
ク91から供給ライン93、供給ライン45、ケーシン
グ47内、孔46を順次通って液流出口42から流出
し、隙間20に供給される。
The treatment liquid T is for performing various treatments on the treatment surface 101, and when the switching valve 40 is in a second state described later, the pump 94 operates to feed the treatment liquid tank 91 to the supply line 93. , The supply line 45, the inside of the casing 47, and the hole 46 in order, and then flows out from the liquid outlet 42 and is supplied to the gap 20.

【0067】処理液Tによる処理としては、いかなる処
理でもよく、例えば、レジスト等を塗布する(レジス
ト)塗布処理、レジスト等を剥離する剥離処理、エッチ
ング処理、洗浄処理、マスキング被膜等の除去処理、メ
ッキ処理等が挙げられる。
The treatment with the treatment liquid T may be any treatment, for example, (resist) coating treatment for coating a resist or the like, peeling treatment for peeling the resist or the like, etching treatment, cleaning treatment, treatment for removing a masking film, etc. Examples include plating treatment.

【0068】レジストの剥離処理を行う場合の処理液T
としては、オゾン水(オゾン水溶液)または希弗酸であ
るのが好ましい。これにより、レジスト残渣、ポリマー
等を除去する効果をより高めることができる。
Treatment liquid T for stripping the resist
It is preferably ozone water (aqueous ozone solution) or dilute hydrofluoric acid. As a result, the effect of removing the resist residue, polymer, etc. can be further enhanced.

【0069】なお、処理液供給手段9は、複数種の処理
液T(例えば、オゾン水とSC1(アンモニア水+過
水)、または、オゾン水と希弗酸)をそれぞれ供給可能
なものであってもよい。すなわち、処理液供給手段9
は、処理面101に対し複数種の処理を行うものであっ
てもよい。
The treatment liquid supply means 9 is capable of supplying a plurality of treatment liquids T (for example, ozone water and SC1 (ammonia water + perhydrogen), or ozone water and dilute hydrofluoric acid). May be. That is, the processing liquid supply means 9
May perform a plurality of types of processing on the processing surface 101.

【0070】隙間20に洗浄液(すすぎ液)Rを供給す
る洗浄液供給手段4は、洗浄液Rを貯留する洗浄液タン
ク41と、走査ヘッド2に形成された液流出口42およ
び孔46と、ケーシング47と、洗浄液タンク41と切
替えバルブ40とを接続する供給ライン(流路)43
と、供給ライン43の途中に設置されたポンプ44と、
切替えバルブ40とケーシング47とを接続する供給ラ
イン(流路)45とで構成されている。
The cleaning liquid supply means 4 for supplying the cleaning liquid (rinsing liquid) R to the gap 20 has a cleaning liquid tank 41 for storing the cleaning liquid R, a liquid outlet 42 and a hole 46 formed in the scanning head 2, and a casing 47. , A supply line (flow path) 43 connecting the cleaning liquid tank 41 and the switching valve 40
And a pump 44 installed in the middle of the supply line 43,
It is configured by a supply line (flow path) 45 that connects the switching valve 40 and the casing 47.

【0071】切替えバルブ40は、供給ライン43と供
給ライン45とを連通し、供給ライン93を閉塞(遮
断)する第1の状態と、供給ライン93と供給ライン4
5とを連通し、供給ライン43を閉塞(遮断)する第2
の状態とに切り換えることができるようになっている。
The switching valve 40 connects the supply line 43 and the supply line 45, and closes (blocks) the supply line 93, and the supply line 93 and the supply line 4.
5 for communicating with 5 and for blocking (blocking) the supply line 43
The state can be switched to.

【0072】洗浄液Rは、処理面101の洗浄処理(す
すぎ処理)を行うものであり、切替えバルブ40が前記
第1の状態のとき、ポンプ44の作動により、洗浄液タ
ンク41から供給ライン43、供給ライン45、ケーシ
ング47内、孔46を順次通って液流出口42から流出
し、隙間20に供給される。
The cleaning liquid R is for cleaning the processing surface 101 (rinsing process), and when the switching valve 40 is in the first state, the pump 44 operates to supply the cleaning liquid tank 41 with the supply line 43. The liquid flows out of the liquid outlet 42 through the line 45, the casing 47, and the hole 46, and is supplied to the gap 20.

【0073】このように、本実施形態では、洗浄液供給
手段4と処理液供給手段9とが、液流出口42、孔4
6、供給ライン45およびケーシング47を共有(共
用)するものとなっている。すなわち、液流出口42
は、洗浄液Rが流出する洗浄液流出口と処理液Tが流出
する処理液流出口とに兼用されるものとなっている。こ
のように、本実施形態では、処理液Tの供給ラインと洗
浄液Rの供給ラインにおいて流路の一部を共有(共用)
することにより、装置の構成のさらなる簡素化、小型化
を図ることができる。
As described above, in the present embodiment, the cleaning liquid supply means 4 and the processing liquid supply means 9 are provided with the liquid outlet 42 and the hole 4.
6, the supply line 45 and the casing 47 are shared (shared). That is, the liquid outlet 42
Is used both as a cleaning liquid outflow port through which the cleaning liquid R flows out and as a processing liquid outflow port through which the processing liquid T flows out. As described above, in this embodiment, a part of the flow path is shared (shared) between the processing liquid T supply line and the cleaning liquid R supply line.
By doing so, the configuration of the device can be further simplified and downsized.

【0074】本発明では、このような構成と異なり、洗
浄液流出口と処理液流出口とが別個に設けられているよ
うなものであってもよい。
In the present invention, unlike this configuration, the cleaning liquid outlet and the treatment liquid outlet may be provided separately.

【0075】洗浄液Rとしては、洗浄処理を行うもので
あれば特に限定されないが、純水またはオゾン水である
のが好ましい。これにより、洗浄効果をさらに向上する
ことができる。
The cleaning liquid R is not particularly limited as long as it can be used for cleaning, but it is preferably pure water or ozone water. Thereby, the cleaning effect can be further improved.

【0076】洗浄液Rとして純水を用いる場合には、例
えば、蒸留水、イオン交換水、超純水、RO水等を用い
ることができる。また、洗浄液Rとしてオゾン水を用い
る場合には、前記処理液Tとして用いるオゾン水よりも
濃度の低いものであるのが好ましい。
When pure water is used as the cleaning liquid R, for example, distilled water, ion-exchanged water, ultrapure water, RO water or the like can be used. When ozone water is used as the cleaning liquid R, it is preferable that the concentration thereof is lower than that of the ozone water used as the treatment liquid T.

【0077】走査ヘッド2の先端部21付近に界面活性
ガスを供給する界面活性ガス供給手段19は、界面活性
ガスを貯留する界面活性ガスタンク191と、走査ヘッ
ド2に形成されたガス流出口192および孔195と、
ケーシング196と、界面活性ガスタンク191とケー
シング196とを接続する供給ライン(流路)193
と、供給ライン193の途中に設けられたポンプ194
とを有している。
The surface-active gas supply means 19 for supplying surface-active gas near the tip portion 21 of the scanning head 2 has a surface-active gas tank 191 for storing the surface-active gas, a gas outlet 192 formed in the scanning head 2, and Hole 195,
A casing 196, and a supply line (flow path) 193 that connects the surfactant gas tank 191 and the casing 196.
And a pump 194 provided in the middle of the supply line 193
And have.

【0078】界面活性ガスは、界面活性剤を含むガスで
あり、洗浄液Rに溶解する(吸収される)と、洗浄液R
の表面張力を小さくする性質を有するものである。
The surface-active gas is a gas containing a surface-active agent, and when dissolved in (absorbed by) the cleaning liquid R, the cleaning liquid R
It has the property of reducing the surface tension of.

【0079】この界面活性ガスに含まれる界面活性剤と
しては、例えば、イソプロピルアルコール(IPA)、
メチルアルコール、エチルアルコール等の各種アルコー
ル類等を用いることができる。
The surface active agent contained in the surface active gas is, for example, isopropyl alcohol (IPA),
Various alcohols such as methyl alcohol and ethyl alcohol can be used.

【0080】界面活性ガスは、このような界面活性剤の
ガスそのものであってもよいが、例えば窒素(N)ガ
ス等の不活性ガス(反応性に乏しいガス)に、界面活性
剤のガスを0.1〜10%程度混合したものであるのが
好ましい。このように希釈されたものであっても、本発
明における界面活性ガスとしての機能を十分に発揮する
ことができるため、揮発性有機化合物(VOC)の放出
量(使用量)をより低減する観点で好ましいからであ
る。
The surface-active gas may be such a surface-active agent gas itself. However, for example, an inert gas (poorly reactive gas) such as nitrogen (N 2 ) gas may be used as the surface-active agent gas. Is preferably a mixture of about 0.1 to 10%. Even when diluted in this way, the function as the surface-active gas in the present invention can be sufficiently exerted, so that the emission amount (use amount) of the volatile organic compound (VOC) can be further reduced. Because it is preferable.

【0081】界面活性ガスは、ポンプ194の作動によ
り、界面活性ガスタンク191から供給ライン193、
ケーシング196内、孔195を順次通って、ガス流出
口192から流出し、走査ヘッド2の先端部21付近
(先端部21の図中の右側)に供給される。
The surface active gas is supplied from the surface active gas tank 191 to the supply line 193 by the operation of the pump 194.
After passing through the hole 195 in the casing 196 sequentially, the gas flows out from the gas outlet 192 and is supplied to the vicinity of the tip 21 of the scanning head 2 (the right side of the tip 21 in the drawing).

【0082】隙間20の処理液Tや洗浄液Rを吸入して
排出する排液手段16は、走査ヘッド2に形成された液
流入口161および孔163と、ケーシング164と、
ケーシング164から延びる排液ライン162と、排液
ライン162の途中に設けられたポンプ165とで構成
されている。
The drainage means 16 for sucking and discharging the treatment liquid T and the cleaning liquid R in the gap 20 includes a liquid inlet 161 and a hole 163 formed in the scanning head 2, a casing 164.
A drainage line 162 extending from the casing 164 and a pump 165 provided in the middle of the drainage line 162.

【0083】ポンプ165が作動すると、隙間20の処
理液Tや洗浄液Rは、液流入口161から吸入されて排
出(除去)される。すなわち、排液手段16は、隙間2
0に供給された処理液Tや洗浄液Rを除去する除去手段
となるものである。
When the pump 165 operates, the processing liquid T and the cleaning liquid R in the gap 20 are sucked in and discharged (removed) from the liquid inlet 161. That is, the drainage means 16 has the gap 2
It serves as a removing means for removing the processing liquid T and the cleaning liquid R supplied to 0.

【0084】本実施形態では、このような排液手段16
が設けられていることにより、液流出口42より処理液
Tや洗浄液Rを供給しつつ、液流入口161より処理液
Tや洗浄液Rを吸入、排出した状態で処理を行うことが
できる。これにより、隙間20の処理液Tや洗浄液Rを
徐々に交換しながら処理を行うことができ、よって、処
理液Tや洗浄液Rに変質、劣化、汚れ等のない新鮮な状
態を維持することができ、処理効率をより向上すること
ができ、乾燥後の処理面101の清浄度合いもより向上
する。
In the present embodiment, such drainage means 16 is used.
Since the processing liquid T and the cleaning liquid R are supplied from the liquid outlet 42, the processing can be performed while the processing liquid T and the cleaning liquid R are sucked and discharged from the liquid inlet 161. As a result, the processing liquid T or the cleaning liquid R in the gap 20 can be processed while being gradually exchanged, and thus the processing liquid T or the cleaning liquid R can be maintained in a fresh state without deterioration, deterioration, and dirt. Therefore, the processing efficiency can be further improved, and the cleanliness of the processed surface 101 after drying can be further improved.

【0085】また、排液手段16を作動することによ
り、隙間20にある処理液Tや洗浄液Rの量(処理面1
01に対する処理液Tや洗浄液Rの付着量)を調節する
こともできる。これにより、隙間20に入りきらない
(保持しきれない)処理液Tや洗浄液Rが処理面101
上に液滴として残存するのを防止することができる。
By operating the drainage means 16, the amount of the processing liquid T or the cleaning liquid R in the gap 20 (processing surface 1
It is also possible to adjust the adhesion amount of the treatment liquid T or the cleaning liquid R to 01). As a result, the processing liquid T or the cleaning liquid R that does not completely fill the gap 20 (cannot be held) is treated.
It is possible to prevent the droplets from remaining on the surface.

【0086】なお、走査ヘッド2の先端部21付近に、
水分を検知する液滴センサ(図示せず)を設置し、隙間
20にある処理液Tや洗浄液Rの量を検出して自動的に
適量に調節するような構成になっていてもよい。
In the vicinity of the tip 21 of the scanning head 2,
A liquid drop sensor (not shown) for detecting water may be provided to detect the amount of the processing liquid T or the cleaning liquid R in the gap 20 and automatically adjust the amount to an appropriate amount.

【0087】先端部21付近に供給された界面活性ガス
を排気する排気手段17は、走査ヘッド2に形成された
ガス流入口171および孔174と、ケーシング175
と、ケーシング175から延びる排気ライン172と、
排気ライン172の途中に設けられたポンプ173とで
構成されている。
The exhaust means 17 for exhausting the surface-active gas supplied in the vicinity of the tip portion 21 includes a gas inlet 171 and a hole 174 formed in the scanning head 2 and a casing 175.
And an exhaust line 172 extending from the casing 175,
It is composed of a pump 173 provided in the middle of the exhaust line 172.

【0088】ポンプ173が作動すると、ガス流出口1
92より供給された界面活性ガスは、ガス流入口171
から吸入されて排出される。
When the pump 173 operates, the gas outlet 1
The surface-active gas supplied from 92 is supplied to the gas inlet 171.
Inhaled and discharged from.

【0089】本実施形態では、このような排気手段17
が設けられていることにより、先端部21付近に供給さ
れた界面活性ガスが環境中に拡散するのを防止すること
ができ、環境への負担をより低減することができる。
In the present embodiment, such an exhaust means 17
With the provision of, it is possible to prevent the surface-active gas supplied near the tip portion 21 from diffusing into the environment, and it is possible to further reduce the burden on the environment.

【0090】また、図3に示すように、ガス流出口19
2より供給された界面活性ガスがガス流入口171より
吸入されることにより、洗浄液RのメニスカスM付近に
気流Fが生じ、これにより、パーティクルPの除去効率
およびメニスカスMの端部M1付近の乾燥効率をより向
上することができる。
Further, as shown in FIG. 3, the gas outlet 19
The surface active gas supplied from No. 2 is sucked from the gas inflow port 171 to generate an air flow F in the vicinity of the meniscus M of the cleaning liquid R, thereby removing the particles P and drying the vicinity of the end M1 of the meniscus M. The efficiency can be further improved.

【0091】この排気手段17は、処理液Tによる処理
を行っているときにも作動することとしてもよい。これ
により、隙間20の処理液Tから発生するガスが環境中
に拡散するのを防止することができ、環境への負担をよ
り低減することができる。
The evacuation means 17 may be operated even during the processing with the processing liquid T. This can prevent the gas generated from the treatment liquid T in the gap 20 from diffusing into the environment and further reduce the burden on the environment.

【0092】駆動手段5、処理液供給手段9のポンプ9
4、洗浄液供給手段4のポンプ44、界面活性ガス供給
手段19のポンプ194、排液手段16のポンプ16
5、排気手段17のポンプ173、搬送手段18、位置
決め手段13および切替えバルブ40は、それぞれ、制
御手段50に対し電気的に接続されており、この制御手
段50からの信号(制御信号)に基づいて作動する。
Pump 9 of drive means 5 and processing liquid supply means 9
4, pump 44 of cleaning liquid supply means 4, pump 194 of surface-active gas supply means 19, pump 16 of drainage means 16
5, the pump 173 of the exhaust means 17, the conveying means 18, the positioning means 13, and the switching valve 40 are electrically connected to the control means 50, respectively, and are based on a signal (control signal) from the control means 50. Works.

【0093】このような表面処理装置1Bには、処理面
101上からこぼれた処理液Tや洗浄液Rを除去または
回収する回収手段が設けられていてもよい。この回収手
段としては、例えば、処理液Tや洗浄液Rを受ける受け
皿(液溜め)や、処理液Tや洗浄液Rを吸収する吸収材
のようなものが挙げられる。
Such a surface treatment apparatus 1B may be provided with a recovery means for removing or recovering the processing liquid T and the cleaning liquid R spilled from the processing surface 101. Examples of the recovery means include a receiving tray (reservoir) that receives the processing liquid T and the cleaning liquid R, and an absorbent material that absorbs the processing liquid T and the cleaning liquid R.

【0094】また、表面処理装置1Bでは、搬送手段1
8、位置決め手段13、排液手段16および排気手段1
7は、それぞれ、なくてもよい。
Further, in the surface treatment apparatus 1B, the conveying means 1
8, positioning means 13, drainage means 16 and exhaust means 1
Each of 7 may be omitted.

【0095】次に、表面処理装置1Bを用いた本発明の
表面処理方法の実施形態(表面処理装置1Bの作用)に
ついて説明する。
Next, an embodiment of the surface treatment method of the present invention using the surface treatment apparatus 1B (function of the surface treatment apparatus 1B) will be described.

【0096】[1] 駆動手段5により走査ヘッド2を
上側に退避させた状態で、搬送手段18により被処理板
100を搬入する。被処理板100は、ストッパ131
により所定位置に位置決めされて停止する。
[1] With the scanning head 2 retracted to the upper side by the driving means 5, the plate 100 to be processed is carried in by the carrying means 18. The processed plate 100 has a stopper 131.
Is positioned at a predetermined position and stops.

【0097】[2] 次いで、駆動手段5により走査ヘ
ッド2を下降させ、先端部21を処理面101に近接さ
せる。このとき、先端部21と処理面101との隙間2
0の間隙距離は、前述したような大きさになるようにす
る。
[2] Next, the scanning head 2 is moved down by the driving means 5 to bring the tip portion 21 close to the processing surface 101. At this time, the gap 2 between the tip 21 and the processing surface 101
The gap distance of 0 is set to the magnitude as described above.

【0098】本発明では、このときの走査ヘッド2の下
降停止位置を調整することにより、隙間20の間隙距離
を調整することができる。この間隙距離の調整により、
処理面101に対する処理液Tや洗浄液Rの付着量をコ
ントロールすることができる。また、被処理板100の
板厚が異なるものにも対応することができる。
In the present invention, the gap distance of the gap 20 can be adjusted by adjusting the descent stop position of the scanning head 2 at this time. By adjusting this gap distance,
The amount of the processing liquid T or the cleaning liquid R attached to the processing surface 101 can be controlled. Further, it is possible to deal with the plate 100 having different plate thicknesses.

【0099】なお、表面処理装置1Bは、搬入された被
処理板100の処理面101の位置をセンサにより検出
し、隙間20の間隙距離を設定した値に自動的に調整す
るような構成になっていてもよい。これにより、複数の
被処理板100に対し連続して処理を行う際、板厚が途
中から変わるような場合にも対応することができる。
The surface treatment apparatus 1B has a structure in which the position of the processing surface 101 of the plate 100 to be processed carried in is detected by a sensor and the gap distance of the gap 20 is automatically adjusted to a set value. May be. This makes it possible to deal with a case where the plate thickness changes from the middle when the plurality of plates 100 to be processed are continuously processed.

【0100】また、前記[1]と異なり、走査ヘッド2
が所定の下降停止位置にある状態で、被処理板100を
搬入することとしてもよい。
Further, unlike the above [1], the scanning head 2
The plate 100 to be processed may be loaded in a state in which the predetermined lowering stop position is set.

【0101】[3] 次いで、駆動手段5により走査ヘ
ッド2を被処理板100の図中左側または右側の縁部に
移動し、切替えバルブ40を供給ライン93と供給ライ
ン45とを連通する状態として、ポンプ94を作動す
る。これにより、隙間20に液流出口42より処理液T
が供給される。隙間20が処理液Tで充填されたら、ポ
ンプ94を停止し、駆動手段5により走査ヘッド2を被
処理板100に沿って反対側の縁部まで徐々に走査す
る。このようにして、処理面101に対し処理液Tによ
る所定の処理を行う。必要に応じ、走査ヘッド2を被処
理板100に沿って1または2回以上往復させてもよ
い。
[3] Next, the scanning head 2 is moved to the left or right edge of the plate 100 to be processed by the driving means 5 so that the switching valve 40 establishes a state in which the supply line 93 and the supply line 45 are in communication with each other. , Operate the pump 94. As a result, the processing liquid T flows from the liquid outlet 42 into the gap 20.
Is supplied. When the gap 20 is filled with the processing liquid T, the pump 94 is stopped, and the driving unit 5 gradually scans the scanning head 2 along the plate 100 to be processed to the opposite edge. In this way, the processing surface 101 is subjected to the predetermined processing with the processing liquid T. If necessary, the scanning head 2 may be reciprocated once or twice or more along the plate 100 to be processed.

【0102】また、処理液Tによる処理を行う間、ポン
プ94の作動を続けるとともに排液手段16を作動させ
ることにより、液流出口42より処理液Tを供給しつつ
液流入口161より処理液Tを吸入する状態としてもよ
い。これにより、隙間20の処理液Tを適正な量に維持
しながら、隙間20の処理液Tを徐々に交換しつつ処理
を行うことができ、よって、処理液Tに変質、劣化、汚
れ等のない新鮮な状態を維持することができ、処理効率
(効果)のさらなる向上、処理時間のさらなる短縮を図
ることができる。
While the treatment with the treatment liquid T is being performed, the pump 94 is continuously operated and the drainage means 16 is operated so that the treatment liquid T is supplied from the liquid outlet 42 while the treatment liquid T is supplied from the liquid inlet 161. It may be in a state of inhaling T. As a result, the treatment liquid T in the gap 20 can be maintained while maintaining an appropriate amount, and the treatment liquid T in the gap 20 can be gradually replaced while performing the treatment. It is possible to maintain a fresh state, and further improve the processing efficiency (effect) and further shorten the processing time.

【0103】また、走査ヘッド2を被処理板100の縁
部を超えて外側まで移動することにより、隙間20の処
理液Tを処理面101からこぼして除去した後、処理液
供給手段9によって再度処理液Tを供給することによ
り、処理液Tをほぼ全部交換して処理を続行してもよ
い。これにより、処理効率のさらなる向上が図れる。こ
の処理液Tの交換は、必要に応じ複数回行ってもよい。
なお、処理面101からこぼれた処理液Tは、前記回収
手段により除去または回収される(洗浄液Rについても
同様)。
Further, by moving the scanning head 2 beyond the edge of the plate to be processed 100 to the outside, the processing liquid T in the gap 20 is spilled and removed from the processing surface 101, and then the processing liquid supply means 9 is used again. By supplying the treatment liquid T, almost all the treatment liquid T may be exchanged and the treatment may be continued. Thereby, the processing efficiency can be further improved. The exchange of the treatment liquid T may be performed plural times as needed.
The processing liquid T spilled from the processing surface 101 is removed or recovered by the recovery means (the same applies to the cleaning liquid R).

【0104】また、処理液Tによる処理を行う間、排気
手段17を作動して、隙間20の処理液Tから発生する
ガスを排気することとしてもよい。
Further, during the processing with the processing liquid T, the exhaust means 17 may be operated to exhaust the gas generated from the processing liquid T in the gap 20.

【0105】[4] 複数種の処理液Tによる処理を行
う場合(処理液供給手段9が複数種の処理液Tを供給可
能なものである場合)には、処理液Tを異種のものに切
り替えて前記[3]と同様の工程を行う。これにより、
複数種の処理を行うことができる。処理液Tの種類を切
り替える際には、前記と同様に、走査ヘッド2を被処理
板100の縁部を超えて外側まで移動して隙間20の処
理液Tを処理面101からこぼして除去した後、次の処
理液Tを供給する。これにより、隙間20の処理液Tを
迅速に、かつ、液残りなく交換することができる。
[4] In the case of performing treatment with a plurality of types of treatment liquids T (when the treatment liquid supply means 9 is capable of supplying a plurality of types of treatment liquids T), the treatment liquids T should be different types. The process is switched to perform the same process as the above [3]. This allows
Multiple types of processing can be performed. When switching the type of the processing liquid T, the scanning head 2 is moved to the outside beyond the edge of the plate 100 to be processed and the processing liquid T in the gap 20 is spilled and removed from the processing surface 101, as described above. Then, the next processing liquid T is supplied. As a result, the processing liquid T in the gap 20 can be replaced quickly and without any liquid remaining.

【0106】[5] 処理液Tによる処理が終了した
ら、走査ヘッド2を被処理板100の縁部を超えて外側
まで移動して隙間20の処理液Tを処理面101からこ
ぼして除去する。
[5] When the treatment with the treatment liquid T is completed, the scanning head 2 is moved to the outside beyond the edge of the plate 100 to be treated, and the treatment liquid T in the gap 20 is spilled and removed from the treatment surface 101.

【0107】[6] 次いで、走査ヘッド2が被処理板
100の図中左側または右側の縁部にある位置で、切替
えバルブ40を供給ライン43と供給ライン45とを連
通する状態として、ポンプ44を作動する。これによ
り、隙間20に液流出口42より洗浄液Rが供給され
る。隙間20が洗浄液Rで充填されたら、ポンプ44を
停止し、駆動手段5により走査ヘッド2を被処理板10
0に沿って反対側の縁部まで徐々に走査する。このよう
にして、処理面101に対し洗浄液Rによる洗浄処理
(すすぎ処理)を行う。必要に応じ、走査ヘッド2を被
処理板100に沿って1または2回以上往復させてもよ
い。
[6] Next, at the position where the scanning head 2 is located on the left or right edge of the plate to be processed 100 in the drawing, the switching valve 40 is set to connect the supply line 43 and the supply line 45, and the pump 44 is connected. To operate. As a result, the cleaning liquid R is supplied to the gap 20 from the liquid outlet 42. When the gap 20 is filled with the cleaning liquid R, the pump 44 is stopped and the driving means 5 moves the scanning head 2 to the processed plate 10.
Gradually scan along 0 to the opposite edge. In this way, the cleaning processing (rinsing processing) with the cleaning liquid R is performed on the processing surface 101. If necessary, the scanning head 2 may be reciprocated once or twice or more along the plate 100 to be processed.

【0108】また、洗浄液Rによる処理を行う間、ポン
プ44の作動を続けるとともに排液手段16を作動させ
ることにより、液流出口42より洗浄液Rを供給しつつ
液流入口161より洗浄液Rを吸入する状態としてもよ
い。これにより、隙間20の洗浄液Rを適正な量に維持
しながら、隙間20の洗浄液Rを徐々に交換しつつ処理
を行うことができ、よって、洗浄液Rに変質、劣化、汚
れ等のない新鮮な状態を維持することができ、洗浄効率
(効果)の向上、洗浄時間の短縮を図ることができる。
また、処理面101をより清浄に洗浄することができ、
乾燥後の処理面101の清浄度合いをより向上すること
ができる。
While the treatment with the cleaning liquid R is performed, the pump 44 is continuously operated and the drainage means 16 is operated to supply the cleaning liquid R from the liquid outlet 42 and suck the cleaning liquid R from the liquid inlet 161. It may be in a state of performing. As a result, the cleaning liquid R in the gap 20 can be maintained while maintaining an appropriate amount, and the cleaning liquid R in the gap 20 can be gradually replaced while performing the treatment. Therefore, the cleaning liquid R can be fresh without deterioration, deterioration, and dirt. The state can be maintained, the cleaning efficiency (effect) can be improved, and the cleaning time can be shortened.
Further, the processing surface 101 can be cleaned more cleanly,
The degree of cleanliness of the treated surface 101 after drying can be further improved.

【0109】また、走査ヘッド2を被処理板100の縁
部を超えて外側まで移動することにより、隙間20の洗
浄液Rを処理面101からこぼして除去した後、洗浄液
供給手段4によって再度洗浄液Rを供給することによ
り、洗浄液Rをほぼ全部交換して洗浄処理を続行しても
よい。これにより、洗浄効率のさらなる向上が図れる。
この洗浄液Rの交換は、必要に応じ複数回行ってもよ
い。
Further, by moving the scanning head 2 beyond the edge of the plate to be processed 100 to the outside, the cleaning liquid R in the gap 20 is spilled and removed from the processing surface 101, and then the cleaning liquid R is again supplied by the cleaning liquid supply means 4. By supplying the cleaning liquid R, almost all of the cleaning liquid R may be exchanged and the cleaning process may be continued. Thereby, the cleaning efficiency can be further improved.
The exchange of the cleaning liquid R may be performed a plurality of times if necessary.

【0110】また、さらに洗浄効果を高める方法とし
て、走査ヘッド2に超音波付与手段(図示せず)を設置
し、超音波洗浄を併用してもよい。
As a method for further enhancing the cleaning effect, ultrasonic wave applying means (not shown) may be installed in the scanning head 2 and ultrasonic cleaning may be used together.

【0111】[7] 次いで、処理面101の乾燥処理
を行う。この乾燥処理は、隙間20に洗浄液Rがある状
態で、駆動手段5により走査ヘッド2を被処理板100
の図中右側の縁部から左側の縁部まで1回徐々に走査し
て行う。すなわち、乾燥処理における走査ヘッド2の走
査方向は、図中の右側から左側に向かう方向になる。
[7] Next, the treatment surface 101 is dried. In this drying process, the scanning head 2 is moved to the plate 100 to be processed by the driving means 5 in a state where the cleaning liquid R is present in the gap 20.
In the figure, scanning is gradually performed once from the right edge to the left edge. That is, the scanning direction of the scanning head 2 in the drying process is from the right side to the left side in the drawing.

【0112】図3に示すように、この方向に走査ヘッド
2を走査すると、隙間20の洗浄液Rの走査方向後方側
(図中の右側)には、洗浄液RのメニスカスM(曲面)
が形成される。乾燥処理は、界面活性ガス供給手段19
のポンプ194を作動し、このメニスカスMの付近にガ
ス流出口192より界面活性ガスを供給しつつ行う。
As shown in FIG. 3, when the scanning head 2 scans in this direction, the meniscus M (curved surface) of the cleaning liquid R is located behind the cleaning liquid R in the gap 20 in the scanning direction (on the right side in the drawing).
Is formed. The drying process is performed by the surface-active gas supply means 19
The pump 194 is operated to supply the surface-active gas from the gas outlet 192 in the vicinity of the meniscus M.

【0113】この界面活性ガスが洗浄液Rに溶解するこ
とにより、メニスカスMの付近では、洗浄液Rの表面張
力が小さくなる。これにより、処理面101にパーティ
クル(ほこり等の異物)Pが付着していたような場合、
パーティクルPと処理面101との間に洗浄液Rが入り
込み、パーティクルPが洗浄液Rに浮遊した状態にな
る。
By dissolving this surface-active gas in the cleaning liquid R, the surface tension of the cleaning liquid R becomes small in the vicinity of the meniscus M. As a result, when particles (foreign matter such as dust) P adhere to the processing surface 101,
The cleaning liquid R enters between the particles P and the processing surface 101, and the particles P are suspended in the cleaning liquid R.

【0114】また、メニスカスMにおいては、端部M1
(処理面101側の端部)の付近から中央部M2に向か
って界面活性剤濃度が小さくなる(漸減する)濃度勾配
を生じ、よって、表面張力は、端部M1付近から中央部
M2に向かって大きくなる(漸増する)。これは、端部
M1の付近では、中央部M2付近よりも洗浄液Rの膜厚
(処理面101とのメニスカスMとの距離)が小さい
(薄い)ので、溶解(吸収)した界面活性ガス(界面活
性剤)が希釈される度合いが小さいからである。
In the meniscus M, the end portion M1
A concentration gradient is generated in which the surfactant concentration decreases (decreases) from the vicinity of (the end portion on the processing surface 101 side) toward the central portion M2, and therefore the surface tension is directed from the vicinity of the end portion M1 toward the central portion M2. Becomes larger (increasing gradually). This is because the thickness of the cleaning liquid R (distance between the treatment surface 101 and the meniscus M) is smaller (thinner) in the vicinity of the end M1 than in the vicinity of the center M2. This is because the degree of dilution of the active agent) is small.

【0115】前記のような表面張力の差(勾配)によ
り、メニスカスM付近の洗浄液Rには、図3中の矢印で
示すように、端部M1から中央部M2に向かう流れが生
じる。このように表面張力(の差)によって生じる効果
をマランゴニ効果と言い、この流れをマランゴニ流と言
う。
Due to the difference (gradient) in surface tension as described above, the cleaning liquid R near the meniscus M has a flow from the end portion M1 toward the central portion M2 as shown by the arrow in FIG. The effect caused by (difference) in surface tension is called the Marangoni effect, and this flow is called the Marangoni flow.

【0116】このようなマランゴニ流が生じることによ
り、メニスカスMの端部M1付近では、洗浄液Rの膜厚
がさらに薄くなりつつ、洗浄液Rが蒸発し、処理面10
1が乾燥する。このように、洗浄液Rが薄膜の状態で蒸
発・乾燥することにより、水滴痕(ウォーターマーク)
を残すことなく処理面101を乾燥することができる。
Due to such Marangoni flow, in the vicinity of the end M1 of the meniscus M, the film thickness of the cleaning liquid R is further reduced and the cleaning liquid R is evaporated, and the treated surface 10 is treated.
1 dries. In this way, the cleaning liquid R is evaporated and dried in the state of a thin film, so that a water mark
The treated surface 101 can be dried without leaving any residue.

【0117】また、パーティクルPは、このマランゴニ
流により、メニスカスMの端部M1付近から中央部M2
に向かって流される。よって、処理面101上にパーテ
ィクルPを残すことなく乾燥することができる。
The particles P are moved from the vicinity of the end M1 of the meniscus M to the center M2 by the Marangoni flow.
Shed towards. Therefore, it is possible to dry without leaving the particles P on the processing surface 101.

【0118】また、本実施形態では、排気手段17を作
動することにより、ガス流出口192より供給された界
面活性ガスがガス流入口171より吸入されることによ
り、気流Fが生じ、パーティクルPはさらに強力にメニ
スカスMの端部M1付近から中央部M2に向かって流さ
れる。よって、処理面101上にパーティクルPが残る
のをより確実に防止することができる。
Further, in this embodiment, by operating the exhaust means 17, the surface active gas supplied from the gas outlet 192 is sucked from the gas inlet 171 to generate the airflow F and the particles P. Further, the meniscus M is made to flow more strongly from the vicinity of the end portion M1 toward the central portion M2. Therefore, it is possible to more reliably prevent the particles P from remaining on the processing surface 101.

【0119】走査ヘッド2を被処理板100の図中右側
の縁部から左側の縁部まで走査することにより、メニス
カスMは、被処理板100の図中右側の縁部から左側の
縁部まで移動する。これにより、処理面101のほぼ全
域に対し、前記のような乾燥処理がなされる。
By scanning the scanning head 2 from the right edge of the plate 100 to the left edge in the figure, the meniscus M is moved from the right edge of the plate 100 to the left edge in the figure. Moving. As a result, the above-described drying process is performed on almost the entire processing surface 101.

【0120】本発明では、メニスカスMが移動する際、
メニスカスM付近の表面張力が小さくなっていること
や、端部M1から中央部M2に向かうマランゴニ流が生
じることにより、端部M1付近の液膜がちぎれて洗浄液
Rの液滴が処理面101上に残るようなことがなく、よ
って、水滴痕(ウォーターマーク)やパーティクルP等
の残存のない良好な乾燥が可能となる。
In the present invention, when the meniscus M moves,
Since the surface tension near the meniscus M is small and the Marangoni flow from the end M1 toward the center M2 is generated, the liquid film near the end M1 is broken and the droplets of the cleaning liquid R on the processing surface 101. Therefore, it is possible to perform good drying without remaining water droplets (watermarks), particles P, and the like.

【0121】また、本実施形態では、排気手段17を作
動してガス流入口171より界面活性ガスを吸入、排出
しつつ乾燥処理を行うことにより、メニスカスMに沿っ
て界面活性ガスの気流Fが生じ、これにより、端部M1
付近での乾燥効率をより向上することができる。また、
この気流Fがマランゴニ流を助長(円滑化)するように
も作用し、よって、端部M1付近の液膜がちぎれて洗浄
液Rの液滴が処理面101上に残るようなことをより確
実に防止することもできる。
Further, in the present embodiment, the exhaust means 17 is operated to suck and discharge the surface-active gas from the gas inlet 171 to perform the drying process, so that the air flow F of the surface-active gas is generated along the meniscus M. Occurs, which causes the end M1
The drying efficiency in the vicinity can be further improved. Also,
This air flow F also acts to promote (smooth) the Marangoni flow, and thus more reliably prevents the liquid film near the end M1 from being broken and the droplets of the cleaning liquid R to remain on the processing surface 101. It can also be prevented.

【0122】なお、メニスカスMの移動速度は、走査ヘ
ッド2の走査(走行)速度を調整することにより、良好
な乾燥が行われるような速度に適宜調整することができ
る。本発明では、このメニスカスMの移動速度の調整
と、隙間20の間隙距離の調整との組み合わせにより、
種類の異なる被処理板100や洗浄液R等にも対応する
ことができる。
The moving speed of the meniscus M can be appropriately adjusted by adjusting the scanning (traveling) speed of the scanning head 2 so that good drying is performed. In the present invention, by adjusting the moving speed of the meniscus M and adjusting the gap distance of the gap 20,
It is possible to deal with different types of target plate 100, cleaning liquid R, and the like.

【0123】また、この乾燥処理においては、前記のよ
うにして隙間20の洗浄液Rを徐々に交換しつつ行って
もよい。
Further, in this drying process, the cleaning liquid R in the gap 20 may be gradually replaced as described above.

【0124】なお、上記では、洗浄処理(前記[6])
の後に別個に(連続して)乾燥処理(前記[7])を行
う場合について説明したが、本発明では、洗浄処理と乾
燥処理とを平行して(同時に)行ってもよい。すなわ
ち、前記のようにして走査ヘッド2を被処理板100の
図中右側の縁部から左側の縁部まで1回徐々に走査する
間に、洗浄と乾燥とを一度に行うようにしてもよい。
In the above, the cleaning process (the above [6]).
Although the case where the drying process (the above [7]) is separately (continuously) performed after the above is described, in the present invention, the cleaning process and the drying process may be performed in parallel (at the same time). That is, cleaning and drying may be performed at one time while the scanning head 2 is gradually scanned once from the edge portion on the right side to the edge portion on the left side of the plate 100 in the figure as described above. .

【0125】また、本実施形態の表面処理装置および表
面処理方法は、処理面101の洗浄処理および乾燥処理
に先だって、処理液Tによる処理を行うものであるが、
本発明では、処理液Tによる処理を行わないもの(処理
液供給手段9を有しないもの)であってもよい。
Further, although the surface treatment apparatus and the surface treatment method of this embodiment perform the treatment with the treatment liquid T prior to the cleaning treatment and the drying treatment of the treated surface 101,
In the present invention, the treatment liquid T may not be treated (the treatment liquid supply means 9 is not provided).

【0126】以上説明したように、本発明では、マラン
ゴニ効果を利用することにより、処理面101に対し、
確実かつ均一な乾燥処理を行うことができるとともに、
乾燥後の処理面101の清浄度合いも高い。
As described above, according to the present invention, by utilizing the Marangoni effect,
A reliable and uniform drying process can be performed, and
The degree of cleanliness of the treated surface 101 after drying is also high.

【0127】また、被処理板100の洗浄と乾燥とを一
つの装置で行うこと、特に、洗浄と乾燥とを連続して行
うことができ、またこれらを簡易な構成の装置で達成す
ることができる。そのため、洗浄装置と乾燥装置とを別
個に用意し、被処理板100をそれらの間で移動させて
順次処理を行う必要がなく、よって、設備コストを低減
することができるとともに、装置の設置スペースも小さ
くてよいという利点を有する。
Further, the cleaning and drying of the plate 100 to be processed can be performed by one apparatus, in particular, the cleaning and the drying can be continuously performed, and these can be achieved by an apparatus having a simple structure. it can. Therefore, it is not necessary to separately prepare a cleaning device and a drying device and move the plate to be processed 100 between them to perform sequential processing. Therefore, the equipment cost can be reduced and the installation space of the device can be reduced. Also has the advantage of being small.

【0128】特に、本発明の表面処理装置1Bは、被処
理板100をその処理面101方向に搬送しつつ洗浄お
よび乾燥を行うものではないため、従来の乾燥装置のよ
うに、被処理板100の乾燥のために搬送経路を確保す
る必要がなく、よって、装置の小型化、省スペース化が
図れる。
In particular, the surface treatment apparatus 1B of the present invention does not perform cleaning and drying while conveying the plate 100 to be treated toward the treatment surface 101, so that the plate 100 to be treated is different from the conventional drying device. Since it is not necessary to secure a transport path for drying, the apparatus can be downsized and the space can be saved.

【0129】また、洗浄と乾燥とを一つの装置で連続し
て行うことができることから、被処理板100から除去
されたパーティクルP等の異物が再付着するのを確実に
防止することができ、よって、乾燥後の処理面101の
清浄度合いが高い。
Further, since cleaning and drying can be continuously performed by one apparatus, it is possible to reliably prevent re-adhesion of foreign matter such as particles P removed from the plate 100 to be processed, Therefore, the degree of cleanliness of the treated surface 101 after drying is high.

【0130】また、前述したように、本発明では、乾燥
に際し、隙間20の間隙距離を調節することにより処理
面101の洗浄液Rの付着量をコントロールすることが
可能で、また、被処理板100を固定した状態で行うこ
とから被処理板100の厚さ方向の揺動もないため、メ
ニスカスMを適正なサイズに維持して乾燥することがで
きる。これにより、さらなる乾燥効率の向上が図れ、処
理面101の全体にわたって均一な乾燥ができ、乾燥後
の処理面101の清浄度合いも向上する。
Further, as described above, in the present invention, the amount of the cleaning liquid R deposited on the processing surface 101 can be controlled by adjusting the gap distance of the gap 20 during drying, and the plate 100 to be treated can be controlled. Since the process is performed in a fixed state, the plate 100 to be processed does not swing in the thickness direction, so that the meniscus M can be maintained in an appropriate size and dried. As a result, the drying efficiency can be further improved, uniform drying can be performed over the entire processing surface 101, and the cleanliness of the processing surface 101 after drying can be improved.

【0131】なお、本実施形態では、処理面101の洗
浄液Rの付着量のコントロールは、排液手段16を併用
して行ってもよい。
In the present embodiment, the amount of the cleaning liquid R deposited on the processing surface 101 may be controlled by using the drainage means 16 in combination.

【0132】また、本発明では、従来のエアナイフノズ
ルから噴出させた乾燥用エアを吹き付けて乾燥処理を行
うような場合と異なり、洗浄液Rの液滴の飛散がなく、
よって、乾燥後の処理面101の清浄度合いが格段に高
い。
In the present invention, unlike the case where the drying process is performed by spraying the drying air ejected from the conventional air knife nozzle, the droplets of the cleaning liquid R are not scattered,
Therefore, the degree of cleanliness of the treated surface 101 after drying is remarkably high.

【0133】また、従来のIPA(イソプロピルアルコ
ール)蒸気乾燥処理を行うような場合と比べ、揮発性有
機化合物の使用量(放出量)が格段に少ない。よって、
装置の防爆仕様が不要となるなど、設備をより簡略化す
ることができ、さらなる設備コスト低減が図れるととも
に、環境への負担も小さい。
Further, compared with the case where the conventional IPA (isopropyl alcohol) vapor drying treatment is performed, the usage amount (release amount) of the volatile organic compound is remarkably small. Therefore,
The equipment can be simplified, such as eliminating the need for explosion-proof specifications of the equipment, and the equipment cost can be further reduced, and the burden on the environment is small.

【0134】なお、本実施形態では、被処理板100が
水平の状態で処理を行うものであるが、本発明では、被
処理板100が水平面に対し傾斜した状態または垂直な
状態で処理を行うものでもよい。この場合には、被処理
板100が比較的大きいものの場合であっても、場所を
とらず、よって、装置の設置スペースをより小さくする
ことができる。
In the present embodiment, the plate 100 to be processed is processed in a horizontal state, but in the present invention, the plate 100 to be processed is processed in a state in which it is inclined or perpendicular to the horizontal plane. It may be one. In this case, even if the plate 100 to be processed is relatively large, it does not take up much space, and therefore the installation space of the apparatus can be made smaller.

【0135】以上、本発明の表面処理装置および表面処
理方法を図示の実施形態について説明したが、本発明
は、これに限定されるものではない。また、本発明の表
面処理装置を構成する各部は、同様の機能を発揮し得る
任意の構成のものと置換することができる。
The surface treating apparatus and the surface treating method of the present invention have been described above with reference to the illustrated embodiment, but the present invention is not limited to this. Moreover, each part which comprises the surface treatment apparatus of this invention can be replaced by the thing of arbitrary structure which can exhibit the same function.

【0136】[0136]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、被
処理板の洗浄と乾燥とを一つの装置で行うこと、特に、
洗浄と乾燥とを並行して(同時に)または連続して行う
ことができ、またこれらを簡易な構成の装置で達成する
ことができる。そのため、洗浄装置と乾燥装置とを別個
に用意し、被処理板をそれらの間で移動させて順次処理
を行う必要がなく、よって、設備コストを低減すること
ができるとともに、装置の設置スペースも小さくてよい
という利点を有する。
As described above, according to the present invention, the cleaning and drying of the plate to be processed can be performed by one apparatus, and in particular,
Washing and drying can be performed in parallel (simultaneously) or continuously, and these can be achieved by a device having a simple structure. Therefore, it is not necessary to separately prepare a cleaning device and a drying device and move the plate to be processed between them to perform sequential processing. Therefore, it is possible to reduce the equipment cost and the installation space of the device. It has the advantage of being small.

【0137】特に、本発明の装置は、被処理板をその処
理面方向に搬送しつつ洗浄および乾燥を行うものではな
いため、従来の乾燥装置のように、被処理板の乾燥のた
めの搬送経路を確保する必要がなく、よって、装置の小
型化、省スペース化が図れる。
In particular, the apparatus of the present invention does not carry out cleaning and drying while conveying the plate to be treated in the direction of the treatment surface thereof, and therefore conveys the plate for drying unlike the conventional drying device. It is not necessary to secure a route, and therefore the device can be downsized and the space can be saved.

【0138】また、洗浄液流出口とガス流出口が、さら
には洗浄液流入口とガス流入口を含む4種が一つの走査
ヘッドにまとめて形成されている場合には、さらなる装
置の構成の簡素化、小型化が図れる。
Further, in the case where the cleaning liquid outlet and the gas outlet, and further four kinds including the cleaning liquid inlet and the gas inlet are formed in one scanning head, the structure of the apparatus is further simplified. , Downsizing can be achieved.

【0139】そして、本発明では、洗浄に際し、洗浄液
を除去または交換することが可能なので、汚れた洗浄液
のままで洗浄されることがなく、また、そのような洗浄
を行いつつあるいは洗浄の直後に乾燥を行うことができ
るので、乾燥がなされた表面の清浄度合いが高い。
In the present invention, since the cleaning liquid can be removed or exchanged at the time of cleaning, the cleaning liquid is not cleaned as it is, and the cleaning liquid is not washed as it is or immediately after the cleaning. Since the drying can be performed, the degree of cleanliness of the dried surface is high.

【0140】特に、洗浄液として、純水またはオゾン水
を用いた場合には、洗浄効果をさらに向上することがで
きる。
Particularly, when pure water or ozone water is used as the cleaning liquid, the cleaning effect can be further improved.

【0141】また、本発明によれば、被処理板の板厚が
異なるものに対しても、対応することができる。
Further, according to the present invention, it is possible to cope with different plates to be processed.

【0142】また、本発明では、乾燥効率が高く、水滴
痕やパーティクル等の残存のない良好な乾燥が可能とな
る。特に、乾燥に際し、被処理板表面の洗浄液の付着量
をコントロールすることが可能で、また、被処理板の厚
さ方向の揺動もないため、メニスカスを適正サイズに維
持して乾燥することができ、これにより、さらなる乾燥
効率の向上が図れ、被処理板の乾燥すべき表面の全体に
わたって均一な乾燥ができ、乾燥がなされた表面の清浄
度合いも向上する。
Further, according to the present invention, the drying efficiency is high, and good drying can be performed without leaving water droplet marks or particles. In particular, during drying, it is possible to control the amount of cleaning liquid deposited on the surface of the plate to be processed, and since there is no shaking in the thickness direction of the plate to be processed, it is possible to maintain the meniscus in an appropriate size for drying. As a result, the drying efficiency can be further improved, the entire surface of the target plate to be dried can be uniformly dried, and the cleanliness of the dried surface can be improved.

【0143】また、本発明では、被処理板の片面のみを
洗浄、乾燥することもでき、片面洗浄・乾燥、両面洗浄
・乾燥など、種々のパターンに対応することができる。
Further, in the present invention, it is possible to wash and dry only one side of the plate to be treated, and it is possible to deal with various patterns such as single side washing / drying and double side washing / drying.

【0144】また、被処理板の搬送手段を有する場合や
さらに位置決め手段を有する場合には、複数の被処理板
を処理する場合、特にこれらを連続的に処理する場合な
ど、処理の自動化に有利であり、量産性の向上に寄与す
る。
Further, in the case of having a means for transporting the plate to be processed or further having a positioning means, it is advantageous for automation of the process when processing a plurality of plates to be processed, especially when these are processed continuously. And contributes to the improvement of mass productivity.

【0145】また、界面活性ガスの排気手段を有する場
合には、メニスカス付近の界面活性ガスの流れを良好に
し、乾燥効率をさらに向上することができる。
Further, when the means for exhausting the surface-active gas is provided, the flow of the surface-active gas near the meniscus can be improved and the drying efficiency can be further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の表面処理装置の実施形態を模式的に
示す図(ブロック図)である。
FIG. 1 is a diagram (block diagram) schematically showing an embodiment of a surface treatment apparatus of the present invention.

【図2】 図1に示す表面処理装置における走査ヘッド
の底面図である。
FIG. 2 is a bottom view of a scanning head in the surface treatment apparatus shown in FIG.

【図3】 図1に示す表面処理装置における乾燥処理中
の走査ヘッドの先端部を拡大して示す部分断面側面図で
ある。
FIG. 3 is a partial cross-sectional side view showing an enlarged tip portion of the scanning head during a drying process in the surface treatment apparatus shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1B……表面処理装置 2……走査ヘッド 21……先
端部 22……フード 23……基端部 4……洗浄液供給手段 41……洗浄
液タンク 42……液流出口 43……供給ライン 4
4……ポンプ 45……供給ライン 46……孔 47
……ケーシング 5……駆動手段 9……処理液供給手
段 91……処理液タンク 93……供給ライン 94
……ポンプ 11……装置本体 13……位置決め手段
131……ストッパ 16……排液手段 161……
液流入口 162……排液ライン 163……孔 164……ケー
シング 165……ポンプ 17……排気手段 171
……ガス流入口 172……排気ライン 173……ポ
ンプ 174……孔 175……ケーシング 18……
搬送手段 181……ローラ 19……界面活性ガス供
給手段 191……界面活性ガスタンク 192……ガス流出口 193……供給ライン 194
……ポンプ 195……孔 196……ケーシング 2
0……隙間 50……制御手段 40……切替えバルブ
100……被処理板 101……処理面 T……処理
液 R……洗浄液 M……メニスカス M1……端部
M2……中央部 F……気流 P……パーティクル
1B ... Surface treatment device 2 ... Scan head 21 ... Tip part 22 ... Hood 23 ... Base part 4 ... Cleaning solution supply means 41 ... Cleaning solution tank 42 ... Solution outlet 43 ... Supply line 4
4 ... Pump 45 ... Supply line 46 ... Hole 47
...... Casing 5 ...... Driving means 9 ...... Treatment liquid supply means 91 ...... Treatment liquid tank 93 ...... Supply line 94
...... Pump 11 …… Device body 13 …… Positioning means 131 …… Stopper 16 …… Draining means 161 ……
Liquid inlet 162 ... Drain line 163 ... Hole 164 ... Casing 165 ... Pump 17 ... Exhaust means 171
...... Gas inlet 172 ...... Exhaust line 173 ...... Pump 174 ...... Hole 175 ...... Casing 18 ......
Conveying means 181 ... Roller 19 ... Surfactant gas supply means 191 ... Surfactant gas tank 192 ... Gas outlet 193 ... Supply line 194
…… Pump 195 …… hole 196 …… Casing 2
0 ... Gap 50 ... Control means 40 ... Switching valve 100 ... Processed plate 101 ... Processing surface T ... Processing liquid R ... Cleaning liquid M ... Meniscus M1 ... End
M2: central part F: air flow P: particles

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被処理板を支持する装置本体と、 前記装置本体に対し移動可能に設けられた走査ヘッド
と、 前記走査ヘッドを前記装置本体に対し移動させる駆動手
段と、 前記走査ヘッドに形成された洗浄液流出口より前記被処
理板の表面と前記走査ヘッドの先端部との隙間に洗浄液
を供給する洗浄液供給手段と、 前記走査ヘッドに形成されたガス流出口より前記先端部
付近に界面活性剤を含む界面活性ガスを供給する界面活
性ガス供給手段とを備え、 前記被処理板の表面に前記走査ヘッドの先端部を近接さ
せた状態で、前記表面と前記先端部との隙間に前記洗浄
液流出口より洗浄液を供給して前記表面を洗浄処理し、 前記走査ヘッドの走査方向後方側に形成された前記洗浄
液のメニスカス付近に前記ガス流出口より前記界面活性
ガスを供給しつつ、前記駆動手段によって前記走査ヘッ
ドを前記被処理板に沿って走査することにより、前記メ
ニスカスを前記表面に沿って移動させ、これにより、前
記表面を乾燥処理するよう作動することを特徴とする表
面処理装置。
1. A device main body that supports a plate to be processed, a scanning head that is movably provided with respect to the device main body, a drive unit that moves the scanning head with respect to the device main body, and the scan head. Cleaning liquid supply means for supplying the cleaning liquid to the gap between the surface of the plate to be processed and the tip of the scanning head from the cleaning liquid outlet, and the surface activity near the tip from the gas outlet formed in the scanning head. And a cleaning liquid in a gap between the surface and the tip portion in a state where the tip portion of the scanning head is brought close to the surface of the plate to be processed. A cleaning liquid is supplied from an outlet to clean the surface, and the surface-active gas is supplied from the gas outlet to the vicinity of the meniscus of the cleaning liquid formed on the rear side in the scanning direction of the scanning head. While driving the scanning head along the plate to be processed by the drive means, the meniscus is moved along the surface, thereby operating to dry the surface. Surface treatment equipment.
【請求項2】 前記被処理板を搬送する搬送手段を有す
る請求項1に記載の表面処理装置。
2. The surface processing apparatus according to claim 1, further comprising a transfer unit that transfers the plate to be processed.
【請求項3】 前記被処理板の搬送停止位置を位置決め
する位置決め手段を有する請求項2に記載の表面処理装
置。
3. The surface processing apparatus according to claim 2, further comprising a positioning unit that positions a transportation stop position of the plate to be processed.
【請求項4】 前記搬送手段の搬送方向は、前記走査ヘ
ッドの走査方向とほぼ直交する方向である請求項2また
は3に記載の表面処理装置。
4. The surface treatment apparatus according to claim 2, wherein the carrying direction of the carrying means is a direction substantially orthogonal to the scanning direction of the scanning head.
【請求項5】 前記駆動手段によって前記走査ヘッドを
前記被処理板に沿って走査しつつ前記洗浄処理を行う請
求項1ないし4のいずれかに記載の表面処理装置。
5. The surface treatment apparatus according to claim 1, wherein the cleaning process is performed while the scanning unit scans the scan head along the plate to be processed.
【請求項6】 前記ガス流出口より供給された界面活性
ガスを前記走査ヘッドに形成されたガス流入口より吸入
して排出する排気手段を有する請求項1ないし5のいず
れかに記載の表面処理装置。
6. The surface treatment according to claim 1, further comprising exhaust means for sucking and discharging the surface-active gas supplied from the gas outlet from a gas inlet formed in the scanning head. apparatus.
【請求項7】 前記被処理板の表面と前記対向面との隙
間に供給された洗浄液を除去する除去手段を有する請求
項1ないし6のいずれかに記載の表面処理装置。
7. The surface treatment apparatus according to claim 1, further comprising a removing unit that removes the cleaning liquid supplied to the gap between the surface of the plate to be processed and the facing surface.
【請求項8】 前記除去手段は、前記走査ヘッドに形成
された液流入口より洗浄液を吸入して排出する排液手段
で構成されている請求項7に記載の表面処理装置。
8. The surface treatment apparatus according to claim 7, wherein the removing unit is a draining unit that sucks and discharges the cleaning liquid from a liquid inlet formed in the scanning head.
【請求項9】 前記除去手段により洗浄液を除去すると
ともに、前記洗浄液流出口より洗浄液を供給することに
より、前記被処理板の表面と前記走査ヘッドの先端部と
の隙間の洗浄液を交換しつつ前記表面を洗浄処理可能と
する請求項7または8に記載の表面処理装置。
9. The cleaning solution is removed by the removing means, and the cleaning solution is supplied from the cleaning solution outlet, thereby exchanging the cleaning solution in the gap between the surface of the plate to be processed and the tip of the scanning head. The surface treatment apparatus according to claim 7, wherein the surface can be washed.
【請求項10】 前記洗浄液流出口は、1または2列以
上に配置された複数の小孔で構成されている請求項1な
いし9のいずれかに記載の表面処理装置。
10. The surface treatment apparatus according to claim 1, wherein the cleaning liquid outlet comprises a plurality of small holes arranged in one or two or more rows.
【請求項11】 被処理板の表面と走査ヘッドの先端部
とを近接させた状態で、前記走査ヘッドに形成された洗
浄液流出口より前記表面と前記先端部との隙間に洗浄液
を供給して前記表面を洗浄処理し、 前記走査ヘッドの走査方向後方側に形成された前記洗浄
液のメニスカス付近に、前記走査ヘッドに形成されたガ
ス流出口より界面活性剤を含む界面活性ガスを供給しつ
つ、前記走査ヘッドを前記被処理板に沿って走査するこ
とにより、前記メニスカスを前記表面に沿って移動さ
せ、これにより、前記表面を乾燥処理することを特徴と
する表面処理方法。
11. A cleaning liquid is supplied from a cleaning liquid outlet formed in the scanning head to a gap between the surface and the tip while the surface of the plate to be processed and the tip of the scanning head are close to each other. Cleaning the surface, near the meniscus of the cleaning liquid formed on the scanning direction rear side of the scanning head, while supplying a surfactant gas containing a surfactant from a gas outlet formed in the scanning head, A surface treatment method, characterized in that the meniscus is moved along the surface by scanning the scanning head along the plate to be treated, whereby the surface is dried.
【請求項12】 前記走査ヘッドを前記被処理板に沿っ
て走査しつつ前記洗浄処理を行う請求項11に記載の表
面処理方法。
12. The surface treatment method according to claim 11, wherein the cleaning treatment is performed while scanning the scanning head along the plate to be treated.
【請求項13】 前記洗浄処理は、前記被処理板の表面
と前記走査ヘッドの先端部との隙間の洗浄液を除去する
とともに前記洗浄液流出口より洗浄液を供給することに
より、洗浄液を交換しつつ行う請求項11または12に
記載の表面処理方法。
13. The cleaning process is performed while exchanging the cleaning liquid by removing the cleaning liquid in the gap between the surface of the plate to be processed and the tip of the scanning head and supplying the cleaning liquid from the cleaning liquid outlet. The surface treatment method according to claim 11.
【請求項14】 前記乾燥処理は、前記ガス流出口より
供給された界面活性ガスを前記走査ヘッドに形成された
ガス流入口より吸入して排出しつつ行う請求項11ない
し13のいずれかに記載の表面処理方法。
14. The drying process according to claim 11, wherein the drying process is performed while sucking and discharging the surface-active gas supplied from the gas outlet from a gas inlet formed in the scanning head. Surface treatment method.
【請求項15】 前記洗浄液は、純水またはオゾン水で
ある請求項11ないし14のいずれかに記載の表面処理
方法。
15. The surface treatment method according to claim 11, wherein the cleaning liquid is pure water or ozone water.
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