JP2003149081A - 表示装置の検査方法及びそれを用いた検査装置 - Google Patents
表示装置の検査方法及びそれを用いた検査装置Info
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- JP2003149081A JP2003149081A JP2001342894A JP2001342894A JP2003149081A JP 2003149081 A JP2003149081 A JP 2003149081A JP 2001342894 A JP2001342894 A JP 2001342894A JP 2001342894 A JP2001342894 A JP 2001342894A JP 2003149081 A JP2003149081 A JP 2003149081A
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- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 表示装置の検査を精度良く詳細に行い、表示
装置の定量的な評価を行うことによって安定した検査を
行い、製造ラインの特性などの見極めを行う。 【解決手段】 複数のドット（表示エリアの最小単位）
で構成される表示装置Ｚｎ１００において、各ドットを
１ドット毎に点灯表示していき、輝度などの表示特性を
１ドット毎に検出し、データ化し、それらを比較する等
の解析を行う。
装置の定量的な評価を行うことによって安定した検査を
行い、製造ラインの特性などの見極めを行う。 【解決手段】 複数のドット（表示エリアの最小単位）
で構成される表示装置Ｚｎ１００において、各ドットを
１ドット毎に点灯表示していき、輝度などの表示特性を
１ドット毎に検出し、データ化し、それらを比較する等
の解析を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、表示装置の検査方
法およびそれを用いた検査装置に関する。
法およびそれを用いた検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の表示装置の検査においては、フリ
ッカー検査等、一部自動的にデータ化される検査項目は
あるものの、目視による感覚的な検査が主であった。
ッカー検査等、一部自動的にデータ化される検査項目は
あるものの、目視による感覚的な検査が主であった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来例のような目視検
査の場合、測定者の技術レベルにより合否基準が異なる
ため検査が安定しないこと、画面全体の表示特性の合否
は判定出来ても、どの画素がどの程度の不良であるか
や、不良画素の分布傾向はどうか等を把握し難いこと、
評価結果を定量的データとして蓄積し難いこと、製造ラ
インの特性の見極めまでは難しいこと、といった問題が
あった。
査の場合、測定者の技術レベルにより合否基準が異なる
ため検査が安定しないこと、画面全体の表示特性の合否
は判定出来ても、どの画素がどの程度の不良であるか
や、不良画素の分布傾向はどうか等を把握し難いこと、
評価結果を定量的データとして蓄積し難いこと、製造ラ
インの特性の見極めまでは難しいこと、といった問題が
あった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本願請求項１の発明は、
複数のドット（表示エリアの最小単位）で構成される表
示装置において、各ドットを１ドット毎に点灯表示して
いき、例えば輝度などの表示特性を１ドット毎に検出
し、データ化し、それらを比較する等の解析を行うこと
によって、例えば表示ムラや点欠陥等を検出する検査方
法、であることを特徴とする。
複数のドット（表示エリアの最小単位）で構成される表
示装置において、各ドットを１ドット毎に点灯表示して
いき、例えば輝度などの表示特性を１ドット毎に検出
し、データ化し、それらを比較する等の解析を行うこと
によって、例えば表示ムラや点欠陥等を検出する検査方
法、であることを特徴とする。
【０００５】本願請求項２の発明は、複数のピクセル
（白表示を行うことが出来る表示エリアの最小単位で一
般にＲＧＢの３ドットで構成されることが多いがここで
はそれに限らない）で構成される表示装置において、各
ピクセルを１ピクセル毎に点灯表示していき、例えば輝
度などの表示特性を１ピクセル毎に検出し、データ化
し、それらを比較する等の解析を行うことによって、例
えば表示ムラや点欠陥等を検出する検査方法、であるこ
とを特徴とする。
（白表示を行うことが出来る表示エリアの最小単位で一
般にＲＧＢの３ドットで構成されることが多いがここで
はそれに限らない）で構成される表示装置において、各
ピクセルを１ピクセル毎に点灯表示していき、例えば輝
度などの表示特性を１ピクセル毎に検出し、データ化
し、それらを比較する等の解析を行うことによって、例
えば表示ムラや点欠陥等を検出する検査方法、であるこ
とを特徴とする。
【０００６】本願請求項３の発明は、請求項１若しくは
請求項２記載の検査方法を自動的に行う検査装置、であ
ることを特徴とする。
請求項２記載の検査方法を自動的に行う検査装置、であ
ることを特徴とする。
【０００７】上記の検査方法または検査装置を用いて作
製された表示装置は、表示ムラや点欠陥等が著しく少な
い。
製された表示装置は、表示ムラや点欠陥等が著しく少な
い。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明第１における表示装置の検
査方法は、具体的手段が本発明第２における表示装置の
検査方法と同じであると考えられること、との理由によ
り、本発明第２における表示装置の検査方法を、本発明
弟３における表示装置の検査装置を用いて検査する場合
をもって、発明の実施の形態の説明とする。なお説明に
は図１〜図４を用いる。
査方法は、具体的手段が本発明第２における表示装置の
検査方法と同じであると考えられること、との理由によ
り、本発明第２における表示装置の検査方法を、本発明
弟３における表示装置の検査装置を用いて検査する場合
をもって、発明の実施の形態の説明とする。なお説明に
は図１〜図４を用いる。
【０００９】ここでは、ピクセル毎の輝度を測定し、表
示装置の輝度バラツキの分布傾向を求めるまでを例に説
明するが、この発明は輝度バラツキのみではなく、色味
の分布や、黒点数、輝点数など表示装置の様々な特性の
検査に利用することが出来る。 また、特に表示装置の
種類を限定せずに説明をするが、液晶表示装置、プラズ
マ表示装置、有機ＥＬ表示装置等、複数のドット若しく
はピクセルで構成されるあらゆる表示装置で利用できる
検査方法である。
示装置の輝度バラツキの分布傾向を求めるまでを例に説
明するが、この発明は輝度バラツキのみではなく、色味
の分布や、黒点数、輝点数など表示装置の様々な特性の
検査に利用することが出来る。 また、特に表示装置の
種類を限定せずに説明をするが、液晶表示装置、プラズ
マ表示装置、有機ＥＬ表示装置等、複数のドット若しく
はピクセルで構成されるあらゆる表示装置で利用できる
検査方法である。
【００１０】図１には検査全体のイメージ図を示す。信
号発生器３００から信号を送り、Ｚｎ枚目の表示装置１
００の（Ｘｌ、Ｙｍ）座標のピクセル１０１のみを、あ
る階調３０１で点灯させている。そしてピクセル１０１
の輝度を測定器２００でピックアップし、計算機４００
で処理している。また信号発生器３００も計算機４００
で制御しているので、測定結果は自動的にＺ枚目（Ｘ、
Ｙ）座標ピクセルの輝度として、データ化される。この
操作をＺｎ枚目の表示装置１００の全てのピクセルに対
し順次行い、更に全ての表示装置に対し同じ測定を行っ
ていく。Ｚｎ枚目の表示装置１００の各ピクセルの輝度
をグラフ化したのが、グラフ５００である。
号発生器３００から信号を送り、Ｚｎ枚目の表示装置１
００の（Ｘｌ、Ｙｍ）座標のピクセル１０１のみを、あ
る階調３０１で点灯させている。そしてピクセル１０１
の輝度を測定器２００でピックアップし、計算機４００
で処理している。また信号発生器３００も計算機４００
で制御しているので、測定結果は自動的にＺ枚目（Ｘ、
Ｙ）座標ピクセルの輝度として、データ化される。この
操作をＺｎ枚目の表示装置１００の全てのピクセルに対
し順次行い、更に全ての表示装置に対し同じ測定を行っ
ていく。Ｚｎ枚目の表示装置１００の各ピクセルの輝度
をグラフ化したのが、グラフ５００である。
【００１１】図２にグラフ５００の詳細を示す。ある階
調３０１であるピクセル（Ｘ、Ｙ）を点灯した場合、そ
のピクセルが正常であれば輝度５０１になるとする。輝
度バラツキの許容範囲を５０２とすると、一目瞭然で５
０３、５０４、５０５は不良と判断できる。特に５０４
は黒点、５０５は輝点である。
調３０１であるピクセル（Ｘ、Ｙ）を点灯した場合、そ
のピクセルが正常であれば輝度５０１になるとする。輝
度バラツキの許容範囲を５０２とすると、一目瞭然で５
０３、５０４、５０５は不良と判断できる。特に５０４
は黒点、５０５は輝点である。
【００１２】図３はＺｎ枚目の表示装置の各ピクセルの
輝度データをピクセルの座標に当てはめた輝度分布図６
００である。輝度分布図６００では表示装置の輝度分布
がより正確明瞭にわかる。図４は検査した表示装置全て
の輝度分布図６００を重ね合わせた、輝度分布傾向図７
００である。こうすることで表示装置の輝度分布の傾向
が鮮明に浮かび上がってくる。輝度分布傾向図７００の
場合は斜めに輝度ムラが存在している。この製造ライン
で流した表示装置には斜めに輝度ムラが出る傾向がある
ことを示唆している。
輝度データをピクセルの座標に当てはめた輝度分布図６
００である。輝度分布図６００では表示装置の輝度分布
がより正確明瞭にわかる。図４は検査した表示装置全て
の輝度分布図６００を重ね合わせた、輝度分布傾向図７
００である。こうすることで表示装置の輝度分布の傾向
が鮮明に浮かび上がってくる。輝度分布傾向図７００の
場合は斜めに輝度ムラが存在している。この製造ライン
で流した表示装置には斜めに輝度ムラが出る傾向がある
ことを示唆している。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、表示装置の検査を精度
良く詳細に行う事が可能であり、表示装置の定量的な評
価を行うことが出来るため、測定者の技術レベルに依存
することなく安定した検査を行うことが可能である。ま
た、データを蓄積することが容易であるため、製造ライ
ンの特性などを見極めることも可能となる。
良く詳細に行う事が可能であり、表示装置の定量的な評
価を行うことが出来るため、測定者の技術レベルに依存
することなく安定した検査を行うことが可能である。ま
た、データを蓄積することが容易であるため、製造ライ
ンの特性などを見極めることも可能となる。
【図１】本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の
形態３における測定系を示す図
形態３における測定系を示す図
【図２】本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の
形態３における測定データを示す図
形態３における測定データを示す図
【図３】本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の
形態３における輝度分布図
形態３における輝度分布図
【図４】本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の
形態３における輝度分布傾向図
形態３における輝度分布傾向図
１００ 表示装置Ｚｎ
１０１ （Ｘｌ、Ｙｍ）座標点灯ピクセル
２００ 輝度計
３００ 信号発生器
３０１ 輝度測定に使用するある階調
４００ 計算機
５００ 表示装置Ｚｎの輝度−座標データ
５０１ 階調３０１で点灯したときの所望の輝度
５０２ 輝度バラツキ許容範囲
５０３ 不良ピクセル
５０４ 不良ピクセル（黒点）
５０５ 不良ピクセル（輝点）
６００ 表示装置Ｚｎの輝度分布図
７００ 測定した表示装置全ての輝度分布傾向図
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０９Ｇ 3/20 Ｇ０９Ｇ 3/20 ６７０Ｑ ５Ｇ４３５
3/36 3/36
Ｆターム(参考） 2G020 AA08 DA02 DA03 DA04 DA23
DA31 DA34 DA35 DA42
2G086 EE10
2H088 FA13 FA25 FA30 MA20
5C006 AA11 AA22 AF45 AF51 AF53
AF54 BB11 BF14 BF15 BF39
EB01 EB04
5C080 AA05 AA06 AA10 BB05 CC03
DD15 DD28 JJ01 JJ02 JJ05
5G435 AA17 CC09 CC12 KK05 KK10
Claims (3)
- 【請求項１】 複数のドット（表示エリアの最小単位）
で構成される表示装置の検査方法であって、前記複数の
ドットを１ドット毎に点灯表示していき、輝度、色度、
色味などの表示特性を１ドット毎に検出し、データ化し
て、解析を行うことによって、表示装置の表示ムラや点
欠陥を検出することを特徴とする表示装置の検査方法。 - 【請求項２】 複数のドットで構成される表示画素（ピ
クセル）を配置した表示装置の検査方法であって、前記
表示画素を１表示画素毎に点灯表示していき、輝度、色
度、色味などの表示特性を１表示画素毎に検出し、デー
タ化して、解析を行うことによって、表示装置の表示ム
ラや点欠陥を検出することを特徴とする表示装置の検査
方法。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２のいずれかに記
載の検査方法を有する検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001342894A JP2003149081A (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | 表示装置の検査方法及びそれを用いた検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001342894A JP2003149081A (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | 表示装置の検査方法及びそれを用いた検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003149081A true JP2003149081A (ja) | 2003-05-21 |
Family
ID=19156674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001342894A Pending JP2003149081A (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | 表示装置の検査方法及びそれを用いた検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003149081A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007018876A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Eastman Kodak Co | 有機ｅｌ表示装置の製造方法 |
| EP1840864A1 (en) * | 2006-03-27 | 2007-10-03 | Funai Electric Co., Ltd. | Display apparatus, burn-in correction system and burn-in correction method |
| JP2009527018A (ja) * | 2006-02-15 | 2009-07-23 | ドウジン セミケム カンパニー リミテッド | 平板表示装置の検査システム及び検査方法 |
| JP2014157108A (ja) * | 2013-02-18 | 2014-08-28 | Oji Holdings Corp | 偏光解消効果を評価するための偏光解析装置 |
-
2001
- 2001-11-08 JP JP2001342894A patent/JP2003149081A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007018876A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Eastman Kodak Co | 有機ｅｌ表示装置の製造方法 |
| JP2009527018A (ja) * | 2006-02-15 | 2009-07-23 | ドウジン セミケム カンパニー リミテッド | 平板表示装置の検査システム及び検査方法 |
| EP1840864A1 (en) * | 2006-03-27 | 2007-10-03 | Funai Electric Co., Ltd. | Display apparatus, burn-in correction system and burn-in correction method |
| JP2007264088A (ja) * | 2006-03-27 | 2007-10-11 | Funai Electric Co Ltd | 表示装置、焼き付き補正システム及び焼き付き補正方法 |
| JP2014157108A (ja) * | 2013-02-18 | 2014-08-28 | Oji Holdings Corp | 偏光解消効果を評価するための偏光解析装置 |
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