JP2003037205A - Multilayer substrate with built-in ic-chip, and method of manufacturing the same - Google Patents
Multilayer substrate with built-in ic-chip, and method of manufacturing the sameInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、メモリやCPUな
どの半導体集積回路チップ(以下でICチップという)
を高密度実装した携帯端末装置などに適用して好適なI
Cチップ内蔵多層基板及びその製造方法に関する。詳し
くは、所定の厚みのICチップを実装基板の厚みに揃え
込むように薄膜化してICチップ実装基板を構成し、こ
のICチップ実装基板を基板間絶縁層と共に、外層用の
回路基板と内層用の回路基板との間に挟んで積層して、
更なるICチップの実装面積を積層方向に立体的に増加
できるようにすると共に、ICチップを高密度に実装で
きるようにしたものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit chip (hereinafter referred to as an IC chip) such as a memory or a CPU.
Suitable for applying to high-density packaging of mobile terminals such as I
The present invention relates to a C-chip built-in multilayer substrate and a method for manufacturing the same. More specifically, an IC chip mounting board is configured by thinning an IC chip having a predetermined thickness so as to be aligned with the thickness of the mounting board. The IC chip mounting board together with an inter-board insulating layer is used for an outer layer circuit board and an inner layer. Sandwiched between the circuit board and
Further, the mounting area of the IC chip can be increased three-dimensionally in the stacking direction, and the IC chips can be mounted at a high density.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、携帯電話機や、携帯用のパーソナ
ルコンピュータなどの携帯端末装置に、ベアーチップ状
態の半導体集積回路装置(以下単にICチップという)
を実装したICチップ実装基板が使用されるようになっ
てきた。この種の実装基板には個々のICチップがモー
ルド成形されることなく、複数のICチップ、抵抗なら
びにコンデンサなどの電子部品が混在して平面的に実装
されている。2. Description of the Related Art In recent years, a semiconductor integrated circuit device in a bare chip state (hereinafter simply referred to as an IC chip) is applied to a mobile terminal device such as a mobile phone or a portable personal computer.
An IC chip mounting board on which is mounted has come to be used. On this type of mounting substrate, electronic components such as a plurality of IC chips, resistors and capacitors are mixed and mounted in a planar manner without molding individual IC chips.
【0003】ところで、従来方式のICチップ実装基板
によれば、ICチップが平面的に並べて配置されるの
で、電子部品の高密度な実装要求に対して、部品搭載面
積に限界を生ずるに至っている。従って、近年のプリン
ト配線板の小型化、つまり、電子機器の小型化の要求に
満足できなくなってきた。By the way, according to the conventional IC chip mounting substrate, since the IC chips are arranged side by side in a plane, the component mounting area has reached a limit in response to high density mounting requirements of electronic components. . Therefore, it has become impossible to satisfy the recent demand for miniaturization of printed wiring boards, that is, miniaturization of electronic devices.
【0004】この種の問題に対して、技術文献である特
開平2−164096号公報の「多層電子回路基板とそ
の製造方法」には、電子回路を構成する回路素子をプリ
ント配線基板の層間に内蔵し、電子回路の高密度な実装
を図ることが記載されている。また、特開平5−343
856号公報の「多層プリント配線基板及びその製造方
法」には、電子回路などを構成するハイブリッドモジュ
ールをプリント配線基板間に挟み込み、電子回路などを
高密度に実装することが記載されている。To solve this kind of problem, in the technical document, Japanese Patent Laid-Open No. 2-164096, "Multilayer Electronic Circuit Board and Manufacturing Method Thereof", circuit elements constituting an electronic circuit are arranged between layers of a printed wiring board. It is described that it is built-in to achieve high-density mounting of electronic circuits. In addition, JP-A-5-343
In Japanese Patent No. 856, "Multilayer Printed Wiring Board and Manufacturing Method Thereof", it is described that a hybrid module that constitutes an electronic circuit or the like is sandwiched between the printed wiring boards and the electronic circuits or the like are mounted at high density.
【0005】更に、特開平3−14293号公報の「多
層高密度実装モジュール」には、電子回路などを中間層
に内蔵したプリント配線基板を積層する際に、ハンダバ
ンプと接する面に白金、あるいはパラジウムメッキを施
すことが記載されている。いずれの技術文献も、予め薄
膜化されたICチップを実装している。ICチップ単品
での薄膜化には限度があり、更なるICチップの高密度
実装の妨げとなっている。Further, in the "multilayer high-density mounting module" of Japanese Patent Laid-Open No. 14293/1993, platinum or palladium is placed on the surface in contact with the solder bump when a printed wiring board containing an electronic circuit or the like as an intermediate layer is laminated. It is described that plating is performed. In each of the technical documents, a thinned IC chip is mounted in advance. There is a limit to the thinning of an IC chip alone, which hinders further high-density mounting of IC chips.
【0006】そこで、本出願人は先にこのような従来の
問題点を解決するために、当該多層回路基板の薄型化方
法を工夫して、更なるICチップの実装面積を積層方向
に立体的に増加できるようにすると共に、ICチップを
高密度に実装できるようにしたICチップ内蔵多層基板
及びその製造方法を提供することを目的として、ICチ
ップと、このICチップを埋め込むように実装されたI
Cチップ実装基板と、このICチップ実装基板のチップ
埋込面側に設けられた基板間絶縁層と、ICチップ実装
基板のチップ非埋込面側に設けられ外層用の回路基板
と、この外層用の回路基板に対してICチップ実装基板
及び基板間絶縁層を挟み込むように積層された内層用の
回路基板とを備え、ICチップ実装基板は、チップ埋込
時に、所定の厚みのICチップを実装基板の厚みに揃え
込むように研摩して成ることを特徴とするICチップ内
蔵多層基板を提案した(特開2001−11914
8)。更にICチップを基板内に埋め込むように実装さ
れた、ICチップ実装基板のチップ埋込面側には基板間
絶縁層が設けられ、そのチップ非埋込面側には外層用の
回路基板が設けられる。しかも、ICチップ実装基板は
所定の厚みのICチップを回路基板の厚みに揃え込むよ
うに研摩して成る。この外層用の回路基板に対してIC
チップ実装基板及び基板間絶縁層を挟み込むように内層
用の回路基板を積層した多層構造を成しているものであ
る。Therefore, in order to solve such a conventional problem, the applicant of the present invention devised a method for thinning the multilayer circuit board to further increase the mounting area of the IC chip in the stacking direction three-dimensionally. In order to provide an IC chip-embedded multi-layer substrate and a method of manufacturing the same, the IC chip and the IC chip are mounted so as to be embedded therein. I
C chip mounting board, inter-substrate insulating layer provided on the chip embedding surface side of this IC chip mounting board, circuit board for outer layer provided on the chip non-embedding surface side of IC chip mounting board, and this outer layer An IC chip mounting substrate and an inner layer circuit substrate laminated so as to sandwich the inter-substrate insulating layer with respect to the circuit board for use in the IC chip mounting substrate. A multilayer substrate with a built-in IC chip is proposed, which is polished so as to be aligned with the thickness of the mounting substrate (Japanese Patent Laid-Open No. 2001-11914).
8). Further, an inter-board insulating layer is provided on the chip embedding surface side of the IC chip mounting board mounted so as to embed the IC chip in the board, and a circuit board for an outer layer is provided on the chip non-embedding surface side. To be Moreover, the IC chip mounting board is formed by polishing so that the IC chip having a predetermined thickness is aligned with the thickness of the circuit board. IC for the circuit board for this outer layer
This is a multilayer structure in which circuit boards for inner layers are laminated so as to sandwich the chip mounting board and the inter-board insulating layer.
【0007】従って、ICチップの埋込工程時に、最初
から薄型化してICチップではなく、その薄型化前の半
導体ウエハを切断した状態の回路素子非形成領域を多く
含んだICチップをそのまま取り扱うことができる。し
かも、回路基板に形成された所定の深さの穴部毎にIC
チップの高さを合わせ込むことができるし、更なるIC
チップの実装面積を積層方向に立体的に増加すること、
及び、ICチップの高密度実装を行うことができる。Therefore, in the step of embedding the IC chip, the IC chip, which is thinned from the beginning and is not the IC chip, is handled as it is, which is a state in which the semiconductor wafer before the thinning is cut and which includes many circuit element non-forming regions. You can Moreover, the IC is formed for each hole of a predetermined depth formed on the circuit board.
Chip height can be adjusted and further IC
Three-dimensionally increasing the mounting area of the chip in the stacking direction,
Also, high-density mounting of IC chips can be performed.
【0008】上記公報におけるICチップ内蔵多層基板
の第1の製造方法は、回路基板上にICチップを実装
し、該ICチップを絶縁層により閉じ込めて該回路基板
を順次積層するICチップ内蔵多層基板の製造方法にお
いて、その絶縁層を貫通して実装されるICチップの所
定の部分を回路基板の厚みに揃え込むように研摩する工
程と、ICチップの高さを低減させた後に、ICチップ
実装基板と他の回路基板とを積層し多層化する工程とを
有することを特徴とするものである。The first method of manufacturing a multilayer substrate with a built-in IC chip in the above publication is to mount an IC chip on a circuit board, confine the IC chip with an insulating layer, and stack the circuit boards one after another by stacking the IC chips. In the manufacturing method of step 1, the step of polishing so that a predetermined portion of the IC chip mounted through the insulating layer is aligned with the thickness of the circuit board, and the height of the IC chip is reduced, and then the IC chip mounting is performed. And a step of stacking the board and another circuit board to form a multilayer structure.
【0009】以上の第1の製造方法によれば、最初から
薄型化したICチップではなく、その薄型化前の半導体
ウエハを切断した状態の回路素子非形成領域を多く含ん
だICチップをそのまま取り扱うことができる。しか
も、ICチップの周囲を絶縁層で保護した状態で、その
絶縁層の表面位置に合わせ込むようにICチップを薄型
化かつ平坦化をすることができる。これにより、ICチ
ップは回路基板上に形成された所定の厚みの絶縁層毎に
その高さを合わせ込むことができるし、メモリやCPU
などのICチップを封止した薄型のICチップ内蔵多層
基板を再現性良く形成することができる。According to the first manufacturing method described above, not the thinned IC chip from the beginning, but the IC chip containing a large number of circuit element non-formed regions of the semiconductor wafer before thinning is handled as it is. be able to. Moreover, the IC chip can be thinned and flattened so as to be aligned with the surface position of the insulating layer while the periphery of the IC chip is protected by the insulating layer. As a result, the IC chip can be adjusted in height for each insulating layer of a predetermined thickness formed on the circuit board, and the memory or CPU
It is possible to reproducibly form a thin IC chip-embedded multilayer substrate in which the IC chip is sealed.
【0010】また上記公報におけるICチップ内蔵多層
基板の第2の製造方法は、回路基板の絶縁層内にICチ
ップを閉じこめて実装し、該回路基板を順次積層するI
Cチップ内蔵多層基板の製造方法において、所望の厚み
の回路基板の絶縁層内にICチップ埋設用の穴部を形成
する工程と、この穴部の深さよりも高い厚みのICチッ
プを埋め込んで実装する工程と、この穴部から突出した
ICチップの所定部分を回路基板の厚みに揃え込むよう
に研摩してICチップ実装基板を形成する工程とを有す
ることを特徴とするものである。In the second method of manufacturing the IC chip-embedded multilayer substrate in the above publication, the IC chips are confined and mounted in the insulating layer of the circuit board, and the circuit boards are sequentially laminated I
In a method of manufacturing a multilayer substrate with a built-in C chip, a step of forming a hole for embedding an IC chip in an insulating layer of a circuit board having a desired thickness, and embedding an IC chip having a thickness higher than the depth of the hole And a step of polishing a predetermined portion of the IC chip protruding from the hole so as to be aligned with the thickness of the circuit board to form an IC chip mounting board.
【0011】以上の第2の製造方法によれば、最初から
薄型化したICチップではなく、その薄型化前の半導体
ウエハを切断した状態の回路素子非形成領域を多く含ん
だICチップをそのまま取り扱うことができる。しか
も、ICチップの周囲を穴部の側壁で保護した状態で、
その回路基板の表面位置に合わせ込むようにICチップ
を薄型化かつ平坦化をすることができる。これにより、
回路基板に形成された所定の深さの穴部毎にICチップ
の高さを合わせ込むことができるし、第1の製造方法と
同様にして、薄型のICチップ内蔵多層基板を再現性良
く形成することができる。当該ICチップ内蔵多層基板
を適用した電子機器の小型化及び多機能化を図ることが
できる。According to the second manufacturing method described above, not the thinned IC chip from the beginning, but the IC chip containing a large number of circuit element non-formed regions of the semiconductor wafer before thinning is handled as it is. be able to. Moreover, with the periphery of the IC chip protected by the side wall of the hole,
The IC chip can be thinned and flattened so as to match the surface position of the circuit board. This allows
The height of the IC chip can be adjusted for each hole of a predetermined depth formed on the circuit board, and a thin IC chip-embedded multilayer substrate is formed with good reproducibility in the same manner as the first manufacturing method. can do. It is possible to reduce the size and increase the number of functions of an electronic device to which the IC chip-embedded multilayer substrate is applied.
【0012】先の発明に係るICチップ内蔵多層基板及
びその製造方法の一実施の形態について、図面を参照し
ながら説明する。図3は実施形態としてのICチップ内
蔵多層基板の構造例を示す断面図である。この実施形態
では、所定の厚みのICチップを回路基板の厚みと同じ
高さに研摩してICチップ実装基板を構成し、このIC
チップ実装基板を基板間絶縁層と共に、外層用の回路基
板と内層用の回路基板との間に挟んで積層して、更なる
ICチップの実装面積を積層方向に立体的に増加できる
ようにすると共に、ICチップを高密度に実装できるよ
うにしたものである。An embodiment of an IC chip-embedded multilayer substrate and a method of manufacturing the same according to the above invention will be described with reference to the drawings. FIG. 3 is a cross-sectional view showing a structural example of an IC chip built-in multilayer substrate as an embodiment. In this embodiment, an IC chip having a predetermined thickness is ground to the same height as the thickness of the circuit board to form an IC chip mounting board.
A chip mounting board is laminated together with an inter-board insulating layer so as to be sandwiched between an outer layer circuit board and an inner layer circuit board, so that the mounting area of a further IC chip can be three-dimensionally increased in the stacking direction. At the same time, the IC chips can be mounted at high density.
【0013】図3に示すICチップ内蔵多層基板100
は半導体集積回路装置(以下ICチップという)3A、
3Bを高密度に実装したものである。ICチップ3A、
3Bは厚みが数百μm程度である。ICチップ内蔵多層
基板100の厚みはt0であり、その厚みt0はICチ
ップ3A、3Bの積層数にもよるが1mm前後〜数mm
程度である。A multi-layer substrate 100 with a built-in IC chip shown in FIG.
Is a semiconductor integrated circuit device (hereinafter referred to as an IC chip) 3A,
3B is mounted in high density. IC chip 3A,
3B has a thickness of about several hundred μm. The thickness of the IC chip built-in multilayer substrate 100 is t0, and the thickness t0 depends on the number of stacked IC chips 3A and 3B, but is about 1 mm to several mm.
It is a degree.
【0014】図3に示すICチップ内蔵多層基板100
の例では、一方の面にICチップ3Aを埋め込むように
実装された、厚みt1のICチップ実装基板1Aが、基
板間絶縁層としての多層化接着用のプリプレグ4を挟ん
で内層用の回路基板としての厚みt2の内層配線基板2
の一方の面に積層されると共に、ICチップ実装基板1
A及び内層配線基板2間がそのプリプレグ4により接着
され、このICチップ実装基板1Aのチップ非埋込面側
には外層用の回路基板としての厚みt3のプリント配線
基板6Aが積層される。A multi-layer substrate 100 with a built-in IC chip shown in FIG.
In the example, the IC chip mounting board 1A having a thickness t1 mounted so as to embed the IC chip 3A on one surface of the IC chip mounting board 1A is a circuit board for an inner layer with a prepreg 4 for multi-layer bonding as an inter-board insulating layer sandwiched therebetween. Inner wiring board 2 having thickness t2 as
The IC chip mounting board 1 is laminated on one surface of the
A and the inner layer wiring board 2 are bonded by the prepreg 4, and a printed wiring board 6A having a thickness t3 as a circuit board for the outer layer is laminated on the chip non-embedding surface side of the IC chip mounting board 1A.
【0015】この例では、その内層配線基板2の他方の
面に、他のプリプレグ5を挟んで同様の厚みを有して、
他のICチップ実装基板1Bが積層されると共に、IC
チップ実装基板1B及び内層配線基板2間がそのプリプ
レグ5により接着され、このICチップ実装基板1Bの
チップ非埋込面側には外層用の他のプリント配線基板6
Bが積層され、ICチップ実装基板1A及び内層配線基
板2との間や、その内層配線基板2及びICチップ実装
基板1Bとの間には各々のプリプレグ4、5を貫くよう
に導電性の基板間配線部材7、8が設けられ、この基板
間配線部材7、8により電気的に接合された多層構造を
成している。In this example, another inner prepreg 5 is sandwiched on the other surface of the inner wiring substrate 2 to have the same thickness,
Another IC chip mounting board 1B is stacked and the IC
The chip mounting board 1B and the inner layer wiring board 2 are adhered to each other by the prepreg 5, and another printed wiring board 6 for the outer layer is provided on the chip non-embedding surface side of the IC chip mounting board 1B.
B is laminated and is a conductive substrate so as to penetrate the prepregs 4 and 5 between the IC chip mounting substrate 1A and the inner layer wiring substrate 2 and between the inner layer wiring substrate 2 and the IC chip mounting substrate 1B. The inter-wiring members 7 and 8 are provided, and the inter-wiring members 7 and 8 form a multilayer structure electrically connected to each other.
【0016】ここで、多層とは配線パターンが形成され
る層をいう。この例でICチップ内蔵多層基板100は
6層構造を有している。プリプレグ4、5にはガラスク
ロスにエポキシ系樹脂を含浸させたものや、ポリイミド
ポリイミド系樹脂材料が使用される。基板間配線部材
7、8には銅や銀などが使用される。Here, the term "multilayer" means a layer in which a wiring pattern is formed. In this example, the IC chip built-in multilayer substrate 100 has a six-layer structure. For the prepregs 4 and 5, glass cloth impregnated with epoxy resin or polyimide polyimide resin material is used. Copper, silver, or the like is used for the inter-substrate wiring members 7 and 8.
【0017】この例で、ICチップ実装基板1Aは、チ
ップ埋込時に、所定の厚みのICチップ3AをICチッ
プ実装基板1Aの厚みに揃え込むように研摩して形成さ
れ、同様にして、ICチップ実装基板1Bは、チップ埋
込時に、所定の厚みのICチップ3BをICチップ実装
基板1Bの厚みに揃え込むように研摩して形成されたも
のである。通常、トランジスタやコンデンサなどの回路
素子は半導体ウエハの一方の面に形成されることが多
い。ここで、半導体ウエハの一方の面を回路素子形成領
域としたとき、その反対側の面を回路素子非形成領域と
定義する。In this example, the IC chip mounting board 1A is formed by polishing the IC chip 3A having a predetermined thickness so as to be aligned with the thickness of the IC chip mounting board 1A when the chip is embedded. The chip mounting board 1B is formed by polishing the IC chip 3B having a predetermined thickness so as to be aligned with the thickness of the IC chip mounting board 1B when the chip is embedded. Usually, circuit elements such as transistors and capacitors are often formed on one surface of a semiconductor wafer. Here, when one surface of the semiconductor wafer is a circuit element forming area, the surface on the opposite side is defined as a circuit element non-forming area.
【0018】つまり、この例のICチップ3A、3Bは
図示しない回路素子非形成領域を有し、この回路素子非
形成領域に所定の厚みの研摩しろを有している。この研
摩しろは、チップ埋込時に、ICチップ実装用の回路基
板から飛び出た部分をこの回路基板の厚みに揃え込んで
平坦化するために設けられる。いわゆる、部品間のハン
ドリングを持たせるためである。That is, the IC chips 3A and 3B of this example have a circuit element non-forming region (not shown), and the circuit element non-forming region has a polishing allowance of a predetermined thickness. This polishing allowance is provided in order to flatten the portion protruding from the circuit board for mounting the IC chip to the thickness of the circuit board when the chip is embedded. This is because the so-called handling between parts is provided.
【0019】このように、上記公報における第1の実施
形態としてのICチップ内蔵多層基板100によれば、
ICチップ3Aを基板内に埋め込むように実装された、
ICチップ実装基板1Aのチップ埋込面側にはプリプレ
グ4が設けられ、そのチップ非埋込面側には外層用のプ
リント配線基板6Aが設けられる。更に、ICチップ3
Bを基板内に埋め込むように実装された、ICチップ実
装基板1Bのチップ埋込面側にはプリプレグ5が設けら
れ、そのチップ非埋込面側には外層用のプリント配線基
板6Bが設けられる。しかも、ICチップ実装基板1
A、1Bは所定の厚みのICチップ3A、3Bを各々の
ICチップ実装用の回路基板の厚みに揃え込むように研
摩して成る。この外層用のプリント配線基板6A、6B
に対してICチップ実装基板1A、1B及びプリプレグ
4、5を挟み込むように内層配線基板2を積層した多層
構造を成している。As described above, according to the IC chip built-in multilayer substrate 100 according to the first embodiment of the above publication,
Mounted so that the IC chip 3A is embedded in the substrate,
A prepreg 4 is provided on the chip embedding surface side of the IC chip mounting board 1A, and a printed wiring board 6A for an outer layer is provided on the chip non-embedding surface side. Furthermore, IC chip 3
A prepreg 5 is provided on the chip embedding surface side of the IC chip mounting board 1B mounted so that B is embedded in the board, and a printed wiring board 6B for an outer layer is provided on the chip non-embedding surface side. . Moreover, the IC chip mounting board 1
A and 1B are formed by polishing IC chips 3A and 3B having a predetermined thickness so as to be aligned with the thickness of each circuit board for mounting the IC chips. Printed wiring boards 6A, 6B for this outer layer
On the other hand, the inner layer wiring board 2 is laminated so as to sandwich the IC chip mounting boards 1A and 1B and the prepregs 4 and 5 to form a multilayer structure.
【0020】従って、ICチップ3A、3Bの埋込工程
時に、最初から薄型化したICチップではなく、その薄
型化前の半導体ウエハを切断した状態の回路素子非形成
領域を多く含んだICチップ3A、3Bをそのまま取り
扱うことができる。しかも、3A、3Bを貫く絶縁層毎
にそのICチップ3A、3Bの高さを合わせ込むことが
できるし、更なるICチップ3A、3Bの実装面積を積
層方向に立体的に増加すること、及び、ICチップ3
A、3Bの高密度に実装することができる。Therefore, at the time of embedding the IC chips 3A, 3B, not the IC chip thinned from the beginning, but the IC chip 3A including many circuit element non-forming regions in a state in which the semiconductor wafer before thinning is cut. 3B can be handled as it is. Moreover, the heights of the IC chips 3A and 3B can be adjusted for each insulating layer penetrating the 3A and 3B, and the mounting area of the further IC chips 3A and 3B can be three-dimensionally increased in the stacking direction, and , IC chip 3
It can be mounted at a high density of A and 3B.
【0021】これにより、より多くのICチップの搭載
を可能とし、同時に当該ICチップ内蔵多層基板100
の小型化が図られ、これを適用した電子機器の小型化及
び多機能化を図ることができる。As a result, a larger number of IC chips can be mounted, and at the same time, the IC chip built-in multilayer substrate 100.
The size of the electronic device can be reduced, and the electronic device to which the device is applied can be downsized and multifunctional.
【0022】続いて、ICチップ内蔵多層基板100に
係る第1の製造方法について説明をする。図4A〜図4
C及び図5A〜図5Cは第1の実施形態に係るICチッ
プ内蔵多層基板100の形成例を示す工程断面図であ
る。図6はそのICチップ内蔵多層基板100の形成時
におけるICチップ実装基板1の動作検査例を示すイメ
ージ図である。図7は、そのICチップ内蔵多層基板1
00の形成例を示す工程断面図である。Next, a first manufacturing method for the IC chip built-in multilayer substrate 100 will be described. 4A to 4
5A to 5C are process cross-sectional views showing an example of forming the IC chip built-in multilayer substrate 100 according to the first embodiment. FIG. 6 is an image diagram showing an operation inspection example of the IC chip mounting substrate 1 when the IC chip built-in multilayer substrate 100 is formed. FIG. 7 shows the multi-layer substrate 1 with a built-in IC chip.
FIG. 6 is a process cross-sectional view showing a formation example of No. 00.
【0023】この例では図3に示した2つのICチップ
3A、3Bを実装した6層構造のICチップ内蔵多層基
板100を形成する場合を想定する。例えば、外層用の
プリント配線基板6A、ICチップ実装基板1A、プリ
プレグ4、内層配線基板2、プリプレグ5、ICチップ
実装基板1B及び外層用のプリント配線6Bを順に積層
したICチップ内蔵多層基板100を形成する場合を例
に採る。なお、2枚の外層用のプリント配線基板6A、
6B、1枚の内層配線基板2及び2枚のプリプレグ4、
5は予め準備されているものとし、回路基板1上にIC
チップ3を実装し、その後、そのICチップ3を絶縁層
により閉じこめてその回路基板1を順次積層する場合を
想定する。In this example, it is assumed that the IC chip built-in multi-layer substrate 100 having a six-layer structure in which the two IC chips 3A and 3B shown in FIG. 3 are mounted is formed. For example, an IC chip built-in multilayer substrate 100 in which an outer layer printed wiring board 6A, an IC chip mounting board 1A, a prepreg 4, an inner layer wiring board 2, a prepreg 5, an IC chip mounting board 1B, and an outer layer printed wiring 6B are sequentially laminated is provided. Take the case of forming as an example. In addition, two printed wiring boards 6A for outer layers,
6B, one inner wiring board 2 and two prepregs 4,
5 is prepared in advance, and the IC is mounted on the circuit board 1.
It is assumed that the chip 3 is mounted, then the IC chip 3 is enclosed by an insulating layer, and the circuit boards 1 are sequentially laminated.
【0024】これを前提として、まず、図4Aに示すI
Cチップ実装用の回路基板1を準備する。この回路基板
1には絶縁材料18の片面に銅箔11を有したもの、例
えば、ガラス布基材エポキシ樹脂銅張積層板(FR−
4)などが使用される。この基板を加工して所定の配線
パターンや電極(ラウンド)などを形成して回路基板1
を作成する。On the premise of this, first, as shown in FIG.
The circuit board 1 for C chip mounting is prepared. The circuit board 1 has a copper foil 11 on one surface of an insulating material 18, for example, a glass cloth base material epoxy resin copper clad laminate (FR-).
4) etc. are used. The circuit board 1 is formed by processing this board to form predetermined wiring patterns, electrodes (rounds), and the like.
To create.
【0025】例えば、基板の銅箔面にレジスト材料を塗
布し、その後、配線パターンや電極などの形を象ったレ
チクル(例えばネガフィルムや乾板)を使用してレジス
ト材料を露光し、その後、このレジスト膜をマスクにし
て銅箔11をエッチングすることにより配線パターンや
電極などが形成される。片面銅箔基板には、エポキシ系
の他にポリイミド系樹脂銅張積層板や、ビスマレイミド
−トリアジン(BTレジン)系樹脂銅張積層板を用いて
もよい。これら基板は耐熱性や、寸法度安定性に優れて
いる。For example, a resist material is applied to the copper foil surface of a substrate, and then the resist material is exposed using a reticle (eg, negative film or dry plate) having a shape such as a wiring pattern or an electrode, and then the resist material is exposed. By etching the copper foil 11 using this resist film as a mask, wiring patterns, electrodes, etc. are formed. For the single-sided copper foil substrate, a polyimide resin copper clad laminate or a bismaleimide-triazine (BT resin) resin copper clad laminate may be used in addition to the epoxy type. These substrates are excellent in heat resistance and dimensional stability.
【0026】その後、図4Bに示す回路基板1に端子引
き出し用の開口部9A、9Bを形成する。この開口部9
A、9BはICチップ3の裏面(又は端部)に設けられ
た複数の電極と、ICチップ実装基板1Aなどの裏面に
設けられた配線パターンや電極などに電気的かつ構造的
に接続するために設けられる。開口部9A、9Bはレー
ザーなどによる穴開け加工によって形成する。Thereafter, openings 9A and 9B for drawing out terminals are formed in the circuit board 1 shown in FIG. 4B. This opening 9
A and 9B are for electrically and structurally connecting to a plurality of electrodes provided on the back surface (or end portion) of the IC chip 3 and wiring patterns and electrodes provided on the back surface of the IC chip mounting substrate 1A and the like. It is provided in. The openings 9A and 9B are formed by punching with a laser or the like.
【0027】その後、図4Cに示す銅箔11が形成され
ていない面を上に向けるようにして、回路基板1の上に
ICチップ3を実装することにより、図3に示したよう
なICチップ実装基板1Aや1Bを形成する。この例で
は、薄型化前の回路素子非形成領域を有したICチップ
3が使用され、この回路素子非形成領域に所定の厚みの
研摩しろが設けられている。この例のICチップ3は当
初の厚みが300μm〜400μm程度を有している。
そして、ICチップ実装基板1Aなどを予め形成された
端子引き出し用の開口部9A、9Bに導電部材12A、
12Bを充填してICチップ3を裏面の配線パターンや
電極などに接合する。導電部材12A、12Bには銅や
銀などが使用される。この際の導電材料12A、12B
の充填とICチップ接続の順番は逆でもかまわない。導
電材料12A、12Bは限定されない。Thereafter, by mounting the IC chip 3 on the circuit board 1 so that the surface on which the copper foil 11 shown in FIG. 4C is not formed faces upward, the IC chip as shown in FIG. The mounting boards 1A and 1B are formed. In this example, the IC chip 3 having a circuit element non-forming region before thinning is used, and a polishing margin having a predetermined thickness is provided in the circuit element non-forming region. The IC chip 3 of this example has an initial thickness of about 300 μm to 400 μm.
Then, the conductive member 12A is formed in the IC chip mounting substrate 1A and the like in the preformed opening 9A for drawing out terminals.
12B is filled and the IC chip 3 is bonded to the wiring pattern, electrodes, etc. on the back surface. Copper, silver, or the like is used for the conductive members 12A and 12B. Conductive material 12A, 12B at this time
The order of the filling and the IC chip connection may be reversed. The conductive materials 12A and 12B are not limited.
【0028】その後、図5Aに示すICチップ実装基板
1Aに厚み100〜200μm程度のチップ埋込用の片
面銅箔基板15を形成する。この際に、予めICチップ
3を貫通させる大きさの開口部16を片面銅箔基板15
に形成する。そして、この片面銅箔基板15の銅箔21
の面が上部に向くように、かつ、開口部16からICチ
ップ3が飛び出すようにICチップ実装基板1の上に片
面銅箔基板15を積層する。Thereafter, a single-sided copper foil substrate 15 for embedding a chip having a thickness of about 100 to 200 μm is formed on the IC chip mounting substrate 1A shown in FIG. 5A. At this time, the opening 16 having a size that allows the IC chip 3 to pass through is previously formed in the single-sided copper foil substrate 15.
To form. Then, the copper foil 21 of the single-sided copper foil substrate 15
The single-sided copper foil substrate 15 is laminated on the IC chip mounting substrate 1 so that the surface of the IC chip 3 faces upward and the IC chip 3 projects from the opening 16.
【0029】その後、図5Bに示す片面銅箔基板15か
ら飛び出した部分のICチップ3を研摩して平坦化す
る。この際の研摩に関しては研削法を適用する。この研
削法によると、図示しない研摩装置の回転駆動部に研摩
面を下に向けるようにしてICチップ実装基板1が装着
され、その装置上部から下部へICチップ実装基板1が
加圧され、ICチップ実装基板1が回転駆動されなが
ら、水平方向に移動する研摩紙17によって、ICチッ
プ3の所定部分が研摩される。After that, the portion of the IC chip 3 protruding from the single-sided copper foil substrate 15 shown in FIG. 5B is polished and flattened. For polishing at this time, a grinding method is applied. According to this grinding method, the IC chip mounting substrate 1 is mounted on the rotary drive portion of a polishing device (not shown) with the polishing surface facing downward, and the IC chip mounting substrate 1 is pressed from the upper part to the lower part of the device to While the chip mounting substrate 1 is rotationally driven, a predetermined portion of the IC chip 3 is polished by the polishing paper 17 that moves in the horizontal direction.
【0030】その際の研摩条件は、加工圧力が約2×1
05 Pa程度、回転駆動部の回転速度が30〜40秒/
1回転程度である。途中で何回か研摩紙17を交換する
ようになされる。研摩紙17の荒さは#400(粗)〜
#800(仕上げ)である。研摩時は純水を使用して流
水する。作業時間は15分/1枚程度である。この際
に、ICチップ貫通用の片面銅箔基板15の研摩側に施
された銅箔21を研摩終了検知用の金属箔として使用す
ると良い。例えば、初期の段階では、片面銅箔基板15
から飛び出した部分のICチップ3の研摩粒子が観測さ
れるが、徐々に、研摩が進行して、研摩終了段階に到達
すると、銅箔21の研摩粒子が観測されるようになる。
更に、研摩を進行させると、ICチップ3の研摩粒子に
交じって片面銅箔基板15の絶縁材料の研摩粒子が観測
されるようになる。The polishing condition at that time is that the processing pressure is about 2 × 1.
0 5 Pa or so, the rotational speed of the rotary drive unit 30 to 40 sec /
It is about one rotation. The abrasive paper 17 is changed several times on the way. The roughness of the polishing paper 17 is # 400 (coarse)
# 800 (finish). When polishing, use pure water for running. The working time is about 15 minutes / sheet. At this time, the copper foil 21 applied to the polishing side of the single-sided copper foil substrate 15 for penetrating the IC chip may be used as a metal foil for detecting polishing completion. For example, in the initial stage, the single-sided copper foil substrate 15
Abrasive particles of the IC chip 3 at the portion protruding from are observed, but when the polishing progresses gradually and reaches the polishing end stage, the abrasive particles of the copper foil 21 are observed.
Further, as the polishing progresses, the polishing particles of the insulating material of the single-sided copper foil substrate 15 are observed together with the polishing particles of the IC chip 3.
【0031】この例では、銅箔21の研摩粒子が観測さ
れた後に、ICチップの研摩粒子に交じって絶縁材料の
研摩粒子が観測された時点で研摩を終了する。この状態
は銅箔がすべて研摩され、図5Cで示す片面銅箔基板1
5の絶縁材料の表面とICチップ3の表面とが同一平面
位置に揃った状態であり、プリプレグ4、5などの良好
な下地となる。ICチップ3は厚みが100〜200μ
m程度になる。In this example, after the polishing particles of the copper foil 21 are observed, the polishing is terminated when the polishing particles of the insulating material are observed in combination with the polishing particles of the IC chip. In this state, the copper foil is all polished, and the single-sided copper foil substrate 1 shown in FIG. 5C is shown.
The surface of the insulating material of No. 5 and the surface of the IC chip 3 are aligned in the same plane position, which is a good base for the prepregs 4 and 5. The IC chip 3 has a thickness of 100 to 200 μ.
It will be about m.
【0032】そして、ICチップ3の高さを低減させた
後に、ICチップ実装基板1から動作検査用の電極が引
き出される。この動作検査用の電極は試験電圧を印加し
たり、テストデータを供給したり、その結果データを引
き出すために使用される。この電極としてテスト専用に
端子を設けてもよいが、端子数を極力少なくする観点か
ら、本来の信号入力線や信号出力線に接続される電極、
例えば、プリプレグ4、5を貫くために基板間配線部材
7、8などが形成される。この基板間配線部材7、8を
動作検査用の電極として兼用するようになされる。図5
Cには基板間配線部材7を示しており、基板間配線部材
7はラウンド電極などに銅や銀などの金属が凸状に突起
するように印刷法などにより形成する。Then, after the height of the IC chip 3 is reduced, the operation inspection electrodes are drawn out from the IC chip mounting substrate 1. The electrodes for operation inspection are used for applying a test voltage, supplying test data, and drawing out the result data. A terminal may be provided for this test only as a test electrode, but from the viewpoint of minimizing the number of terminals, the electrode connected to the original signal input line or signal output line,
For example, the inter-substrate wiring members 7 and 8 are formed to penetrate the prepregs 4 and 5. The inter-substrate wiring members 7 and 8 are also used as electrodes for operation inspection. Figure 5
The inter-substrate wiring member 7 is shown in C. The inter-substrate wiring member 7 is formed by a printing method or the like so that a metal such as copper or silver is projected in a convex shape on a round electrode or the like.
【0033】これらのICチップ実装基板1A、1Bな
どが形成できたら、ICチップ実装基板1A、1Bと他
の回路基板とを積層し多層化する前に、図6に示すIC
テスタ10などにより実装基板毎に電気的な検査を行
う。この例では1つのICチップ実装基板1を1個の回
路ブロックとして取り扱うことができ、当該ICチップ
内蔵多層基板100の積層前に、ICチップ実装基板1
に故障を生じた際には、その故障を起こしたICチップ
実装基板1のみの交換が可能となり、メンテナンス及び
その修理が容易となる。After the IC chip mounting boards 1A, 1B, etc. have been formed, the IC shown in FIG. 6 is formed before the IC chip mounting boards 1A, 1B and another circuit board are laminated to form a multilayer structure.
An electrical inspection is performed for each mounting board by the tester 10 or the like. In this example, one IC chip mounting board 1 can be handled as one circuit block, and before the IC chip built-in multilayer board 100 is stacked, the IC chip mounting board 1 is processed.
When a failure occurs in the IC chip, only the IC chip mounting board 1 in which the failure has occurred can be replaced, and maintenance and repair thereof are facilitated.
【0034】この例で動作検査用の電極には、プリプレ
グ4、5を貫く基板間配線部材7などが使用される。こ
の複数の基板間配線部材7、8にICテスタ10のプロ
ーブ13、14が接触され、回路ブロック毎にローカル
な実装試験が行われる、もちろん、この実装試験に関し
ては、予めICチップ実装基板1などに専用に作成され
たテストデータが使用される。In this example, the inter-substrate wiring member 7 penetrating the prepregs 4 and 5 is used as the electrode for the operation inspection. The probes 13 and 14 of the IC tester 10 are brought into contact with the plurality of inter-board wiring members 7 and 8, and a local mounting test is performed for each circuit block. The test data created exclusively for is used.
【0035】従って、ICチップ実装基板1や内層配線
基板2を積層する前に、ICチップ実装基板1の不良を
早期に除去することができる。この検査結果で良品と判
定されたICチップ実装基板1や内層配線基板2のみを
プリプレグ4、5を介在して積層することができる。I
Cチップ実装基板1や内層配線基板2を全部積層した後
に電気的な検査を行う場合に比べて、当該ICチップ内
蔵多層基板100の生産歩留まりを向上させることがで
きる。Therefore, before the IC chip mounting board 1 and the inner layer wiring board 2 are laminated, the defects of the IC chip mounting board 1 can be removed at an early stage. Only the IC chip mounting substrate 1 and the inner layer wiring substrate 2 which are determined to be non-defective by this inspection result can be laminated with the prepregs 4 and 5 interposed. I
The production yield of the IC chip-embedded multilayer substrate 100 can be improved as compared with the case where an electrical inspection is performed after the C chip mounting substrate 1 and the inner layer wiring substrate 2 are all stacked.
【0036】その後、図7に示すように、外層用のプリ
ント配線基板6A、ICチップ実装基板1A、プリプレ
グ4、内層配線基板2、プリプレグ5、ICチップ実装
基板1B、及び外層用のプリント配線基板6Bを位置合
わせして積層する。この際に、基板間配線部材7、8が
プリプレグ4に突き刺さるように位置合わせし、基板間
配線部材7、8がプリプレグ5に突き刺さるように位置
合わせする。Thereafter, as shown in FIG. 7, the printed wiring board 6A for the outer layer, the IC chip mounting board 1A, the prepreg 4, the inner wiring board 2, the prepreg 5, the IC chip mounting board 1B, and the printed wiring board for the outer layer. 6B is aligned and laminated. At this time, the inter-board wiring members 7 and 8 are aligned so as to pierce the prepreg 4, and the inter-board wiring members 7 and 8 are aligned so as to pierce the prepreg 5.
【0037】そして、ICチップ実装基板1Aと内層配
線基板2との間にプリプレグ4を挟み込むと共に、内層
配線基板2とICチップ実装基板1Bとの間にプリプレ
グ5を挟み込む。この状態で、ICチップ実装基板1A
と内層配線基板2とをプリプレグ4により構造的に接合
し、ICチップ実装基板1Aと内層配線基板2とを基板
間配線部材7、8により電気的に接合する。これと共
に、内層配線基板2とICチップ実装装置1Bとをプリ
プレグ5により構造的に接合し、内層配線基板2とIC
チップ実装基板1Bとを基板間配線部材7、8により電
気的に接合する。Then, the prepreg 4 is sandwiched between the IC chip mounting substrate 1A and the inner layer wiring substrate 2, and the prepreg 5 is sandwiched between the inner layer wiring substrate 2 and the IC chip mounting substrate 1B. In this state, the IC chip mounting board 1A
And the inner layer wiring board 2 are structurally joined by the prepreg 4, and the IC chip mounting board 1A and the inner layer wiring board 2 are electrically joined by the inter-board wiring members 7, 8. At the same time, the inner layer wiring board 2 and the IC chip mounting apparatus 1B are structurally joined by the prepreg 5, and the inner layer wiring board 2 and the IC are mounted.
The chip mounting board 1B is electrically joined by the inter-board wiring members 7 and 8.
【0038】この場合に関してはICチップ実装基板1
A、1B、内層配線基板2、プリプレグ4、5及び外層
用のプリント配線基板6A、6Bを同一の熱処理工程に
より加圧熱接合する。例えば、外層用のプリント配線基
板6A、ICチップ実装基板1A、プリプレグ4、内層
配線基板6Bから成る積層物を170℃程度で加熱す
る。そして、真空プレス機などにより、この積層物を4
0kg/cm2 程度に加圧する。In this case, the IC chip mounting board 1
A, 1B, the inner layer wiring board 2, the prepregs 4, 5, and the printed wiring boards 6A, 6B for outer layers are pressure-heat bonded in the same heat treatment step. For example, a laminate including the outer layer printed wiring board 6A, the IC chip mounting board 1A, the prepreg 4, and the inner layer wiring board 6B is heated at about 170 ° C. Then, using a vacuum press or the like,
Pressurize to about 0 kg / cm 2 .
【0039】これにより、基板間配線部材7、8を構成
する金属がつぶれて電気的に基板間が接続されると共
に、各々の部材間が熱接合され、図3に示したICチッ
プ内蔵多層基板100を形成することができる。このよ
うにして得られたICチップ内蔵多層基板100の外面
に更に抵抗や、コンデンサなどの部品を更に実装するよ
うになされる。As a result, the metal forming the inter-board wiring members 7 and 8 is crushed and the boards are electrically connected to each other, and the respective members are thermally bonded to each other, and the IC chip built-in multilayer board shown in FIG. 100 can be formed. Components such as resistors and capacitors are further mounted on the outer surface of the IC chip-embedded multilayer substrate 100 thus obtained.
【0040】このように、先の発明に係る第1の実施形
態に係るICチップ内蔵多層基板の製造方法によれば、
最初から薄型化したICチップではなく、その薄型化前
の半導体ウエハを切断した状態の回路素子非形成領域を
多く含んだ、厚み300μm程度のICチップ3A、3
Bをそのまま取り扱うことができる。As described above, according to the method of manufacturing the IC chip built-in multilayer substrate according to the first embodiment of the present invention,
The IC chips 3A, 3A having a thickness of about 300 μm and including not a thinned IC chip from the beginning but a large number of circuit element non-forming regions in a state where the semiconductor wafer before thinning is cut
B can be handled as it is.
【0041】しかも、ICチップ3A、3Bの周囲を片
面銅箔基板15で保護した状態で、その片面銅箔基板1
5の絶縁材料の表面位置に合わせ込むようにICチップ
3A、3Bなどを薄型化かつ平坦化をすることができ
る。これにより、ICチップ実装基板1A、1B毎にそ
のICチップ3A、3Bの高さを合わせ込むことができ
るし、メモリやCPUなどのICチップ3A、3Bを封
止した薄型のICチップ内蔵多層基板100を再現性良
く形成することができる。より多くのICチップ3A、
3Bを搭載することができると共に、プリント基板の小
型化を図ることができる。Moreover, with the periphery of the IC chips 3A, 3B protected by the single-sided copper foil substrate 15, the single-sided copper foil substrate 1 is formed.
The IC chips 3A and 3B can be thinned and flattened so as to be aligned with the surface position of the insulating material of No. 5. As a result, the heights of the IC chips 3A and 3B can be adjusted for each of the IC chip mounting boards 1A and 1B, and a thin IC chip built-in multilayer board in which the IC chips 3A and 3B such as a memory and a CPU are sealed. 100 can be formed with good reproducibility. More IC chips 3A,
3B can be mounted, and the printed circuit board can be downsized.
【0042】また、本実施形態では、ICチップ実装基
板1A、1B、内層配線基板2、プリプレグ4、5及び
外層用のプリント配線基板6A、6Bを同一の熱処理工
程により加圧熱接合しているので、工程中のリペア、リ
ワークによる生産歩留まりが向上し、これによるコスト
ダウンを図ることができる。積層工程においては、金属
の突起物により、電気的な層間接続を行っているので、
より簡易で安価なICチップ内蔵多層基板100を製造
することができる。Further, in this embodiment, the IC chip mounting boards 1A and 1B, the inner wiring board 2, the prepregs 4 and 5 and the printed wiring boards 6A and 6B for outer layers are pressure-heat bonded in the same heat treatment step. Therefore, the production yield due to repair and rework during the process is improved, and the cost can be reduced accordingly. In the stacking process, the metal projections are used to electrically connect the layers, so
It is possible to manufacture a simpler and cheaper IC chip-embedded multilayer substrate 100.
【0043】この発明者らが基板面積をシミュレーショ
ンした結果によれば、実装基板上に平面に5個のICチ
ップを表面実装する場合(現行のCSP:Chip Size
Package を使用した場合)に比べて、5個のLSIチッ
プを基板内に内蔵する本発明方式では、従来方式の40
〜50%の小型化が図れることが明確になった。従って
当該ICチップ内蔵多層基板100を適用した電子機器
の小型化を図ることができる。According to the results of the present inventors simulating the board area, when five IC chips are surface-mounted on a mounting board in a plane (current CSP: Chip Size).
Compared with the case of using the Package), the method of the present invention in which five LSI chips are built in the substrate is 40
It became clear that the size can be reduced by 50%. Therefore, it is possible to reduce the size of an electronic device to which the IC chip-embedded multilayer substrate 100 is applied.
【0044】この実施形態では、チップ実装後に、IC
チップ貫通用の片面銅箔基板15を挿入する場合につい
て説明したが、これに限られることはなく、ICチップ
3の実装用の回路基板1と、そのICチップ3の厚みよ
りも浅い深さの開口部16を有した片面銅箔基板15と
を最初に接合して穴部を構成してから、ICチップ3を
実装してもよい、としている。In this embodiment, after the chip is mounted, the IC
Although the case of inserting the single-sided copper foil substrate 15 for penetrating the chip has been described, the present invention is not limited to this, and the circuit board 1 for mounting the IC chip 3 and the depth of a shallower depth than the thickness of the IC chip 3 are provided. It is stated that the IC chip 3 may be mounted after the holes are formed by first joining the single-sided copper foil substrate 15 having the openings 16 to each other.
【0045】然しながら以上の公報における発明におい
ては次のような問題点を有するものである。すなわち、
LSIの実装前の容易なハンドリングと実装後の薄型化
後の信頼性および完成多層基板の高密度を実現するため
に、LSIを内層基板上に実装し、該LSIを基板層間
の絶縁層に閉じ込める多層基板において、内層基板の厚
みを予めLSI外装部と共に研摩することによって薄型
化している。However, the inventions in the above publications have the following problems. That is,
To realize easy handling before mounting the LSI, reliability after mounting and thinning after mounting, and high density of the completed multilayer board, the LSI is mounted on the inner layer board and the LSI is confined in the insulating layer between the board layers. In a multilayer substrate, the thickness of the inner layer substrate is thinned by previously polishing it together with the LSI exterior portion.
【0046】その実施形態に示される平面研削法は、内
蔵されるICチップを実装した内層用回路基板のあつみ
偏りによる平行度のばらつきが存在する場合、研摩平面
の基準面を加工面に取ったとしても、うねりも同時に存
在することがほとんどであり、正確な研摩が非常に困難
になる。In the surface grinding method shown in the embodiment, when there is a variation in parallelism due to uneven bias of the inner layer circuit board on which the built-in IC chip is mounted, the reference surface of the polishing surface is taken as the processed surface. In most cases, however, undulations are present at the same time, which makes accurate polishing extremely difficult.
【0047】また、研摩の初期の内層用回路基板の表面
と研摩されるICチップ間の段差の存在により、均一な
あたり面が出にくくICチップや内層用基板の配線部に
まで研摩が進行し、配線欠損を生じる可能性がある。回
路素子非形成領域の側の研摩しろである絶縁層の厚みを
大きくすることで、前述の配線欠損を抑えることは可能
であるが、金属箔を用いた終点検知が可能なレベルまで
厚く出来ないときは、必然的に研摩量が少なくなり終点
検知が難しくなり、上述の配線欠損の問題が避け難くな
る。更に、銅箔とICチップの研摩速度が一致しないた
め(銅箔の方が遅い)、研摩紙が充分にリジッドでない
場合は、終点検知前にICチップの一部が消失してしま
う恐れがある。Further, due to the presence of a step between the surface of the inner layer circuit board at the initial stage of polishing and the IC chip to be polished, it is difficult to form a uniform contact surface, and the polishing proceeds to the wiring portion of the IC chip or the inner layer substrate. , There is a possibility of wiring loss. By increasing the thickness of the insulating layer, which is the polishing allowance on the circuit element non-formation area side, it is possible to suppress the above-mentioned wiring loss, but it cannot be thick enough to detect the end point using a metal foil. In this case, the amount of polishing is inevitably reduced, the end point detection becomes difficult, and it becomes difficult to avoid the above-mentioned problem of wiring loss. Further, since the polishing speeds of the copper foil and the IC chip do not match (the copper foil is slower), if the polishing paper is not sufficiently rigid, a part of the IC chip may disappear before the end point is detected. .
【0048】この問題点を図示して説明すれば以下のよ
うである。図8に示すように、絶縁材Aの厚みに偏りが
有る場合、加工基準面を図示のとおりに取ると過剰研摩
によりICに欠損が生ずる。これに対して図9に示すよ
うに加工基準面を取るとICの欠損は妨げるが、このよ
うな加工基準面を設定することは非常に困難である。更
に、実際には図10に示すように絶縁材Aにはうねりも
同時に存在するので、基準面が取れず、研摩は非常に困
難になる。また、研摩材が砥石のように非常に硬いもの
であれば、図11に示すように研摩材がたわむことなく
平行に研摩できる。然しながら、研摩材が柔軟(研摩紙
のようなもの)でたわむ余地があると削れやすいIC部
が先にえぐれてしまう。This problem is illustrated and explained as follows. As shown in FIG. 8, when the thickness of the insulating material A is uneven, if the processing reference plane is taken as shown in the figure, the IC will be damaged due to excessive polishing. On the other hand, if the processing reference plane is taken as shown in FIG. 9, the IC is prevented from being damaged, but it is extremely difficult to set such a processing reference plane. Further, in reality, as shown in FIG. 10, undulations are also present in the insulating material A, so that the reference surface cannot be taken and polishing becomes very difficult. Further, if the abrasive material is very hard like a grindstone, the abrasive material can be polished in parallel without bending as shown in FIG. However, if the abrasive material is flexible (like abrasive paper) and there is room for bending, the easily eroded IC part will be scooped out first.
【0049】[0049]
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述のような
問題点を解決するICチップ内蔵多層基板及びその製造
方法を提供することを課題とする。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an IC chip-embedded multilayer substrate and a method for manufacturing the same, which solves the above problems.
【0050】[0050]
【課題を解決するための手段】以上の課題は、ICチッ
プと、前記ICチップを埋め込むように実装されたIC
チップ実装基板と、前記ICチップ実装基板のチップ埋
込面側に設けられた基板間絶縁層と、前記ICチップ実
装基板のチップ非埋込面側に設けられた外層用の回路基
板と、前記外層用の回路基板に対して前記ICチップ実
装基板及び基板間絶縁層を挟み込むように積層された内
層用の回路基板とを備え、前記ICチップ実装基板は、
チップ埋込時に、所定の厚みのICチップを実装基板の
厚みに揃え込むようにブラスティングにより薄膜化して
成ることを特徴とするICチップ内蔵多層基板、又は、
回路基板上にICチップを実装し、該ICチップを絶縁
層により閉じこめて該回路基板を順次積層するICチッ
プ内蔵多層基板の製造方法において、前記絶縁層を貫通
して実装される前記ICチップの所定の部分を前記回路
基板の厚みに揃え込むようにブラスティングにより薄膜
化する工程と、前記ICチップの高さを低減させた後
に、ICチップ実装基板と他の回路基板とを積層し多層
化する工程とを有することを特徴とするICチップ内蔵
多層基板の製造方法、又は、回路基板の絶縁層内にIC
チップを閉じこめて実装し、該回路基板を順次積層する
ICチップ内蔵多層基板の製造方法において、所望の厚
みの回路基板の絶縁層内にICチップ埋設用の穴部を形
成する工程と、前記穴部の深さよりも高い厚みのICチ
ップを埋め込んで実装する工程と、前記穴部から突出し
たICチップの所定部分を前記回路基板の厚みに揃え込
むようにブラスティングにより薄膜化して前記ICチッ
プ実装基板を形成する工程とを有することを特徴とする
ICチップ内蔵多層基板の製造方法、によって解決され
る。[Means for Solving the Problems] The above-mentioned problems are solved by an IC chip and an IC mounted so as to embed the IC chip.
A chip mounting board; an inter-board insulating layer provided on the chip embedding surface side of the IC chip mounting board; an outer layer circuit board provided on the chip non-embedding surface side of the IC chip mounting board; An IC chip mounting board and an inner layer circuit board stacked so as to sandwich the inter-board insulating layer with respect to an outer layer circuit board;
A multi-layer substrate with a built-in IC chip, characterized in that when a chip is embedded, an IC chip having a predetermined thickness is thinned by blasting so as to be aligned with the thickness of a mounting substrate, or
In a method for manufacturing an IC chip-embedded multilayer substrate, wherein an IC chip is mounted on a circuit board, the IC chip is confined by an insulating layer, and the circuit boards are sequentially stacked, the IC chip being mounted through the insulating layer. A step of forming a thin film by blasting so that a predetermined portion is aligned with the thickness of the circuit board, and after reducing the height of the IC chip, the IC chip mounting board and another circuit board are laminated to form a multilayer structure. Or a method of manufacturing a multi-layer substrate with a built-in IC chip, or an IC in an insulating layer of a circuit board.
In a method of manufacturing an IC chip-embedded multilayer substrate in which chips are confined and mounted and the circuit boards are sequentially laminated, a step of forming a hole for embedding an IC chip in an insulating layer of a circuit board having a desired thickness; A step of embedding and mounting an IC chip having a thickness higher than the depth of the portion, and a step of thinning the IC chip by blasting so that a predetermined portion of the IC chip protruding from the hole is aligned with the thickness of the circuit board. And a method of manufacturing a multilayer substrate having a built-in IC chip, the method including the step of forming a substrate.
【0051】[0051]
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、本出願人
の先の提案(特開2001−119148)とはICチ
ップの薄膜化の工程においてのみ異なるので、この工程
について図1A〜図1Fを参照して説明する。まず図1
Aに示すようにICチップ実装用の回路基板31を準備
する。これはガラスクロス布基材エポキシ樹脂銅張積層
板(FR−4)32でなり、熱硬化性樹脂を用いてい
る。FR−4を用いた通常の基板作製工程と同様にフォ
トリソグラフィ工法を用いて所定の配線パターンや電極
などを形成している。図1Aにおいて、絶縁材料32の
片側にのみこのような銅箔もしくは導電部材から回路パ
ターン33を形成させている。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The embodiment of the present invention differs from the applicant's previous proposal (Japanese Patent Laid-Open No. 2001-119148) only in the step of thinning an IC chip. A description will be given with reference to 1F. Figure 1
As shown in A, a circuit board 31 for mounting an IC chip is prepared. This is a glass cloth cloth base material epoxy resin copper clad laminate (FR-4) 32 and uses a thermosetting resin. A predetermined wiring pattern, electrodes, etc. are formed by the photolithography method as in the ordinary substrate manufacturing process using FR-4. In FIG. 1A, the circuit pattern 33 is formed from such a copper foil or a conductive member only on one side of the insulating material 32.
【0052】次に図1Bに示すように搭載するICチッ
プ34と回路パターン33とを電気的に接続するため、
回路基板31に開口部35を形成する。これはレーザな
どを用いて形成する。Next, as shown in FIG. 1B, in order to electrically connect the mounted IC chip 34 and the circuit pattern 33,
The opening 35 is formed in the circuit board 31. This is formed using a laser or the like.
【0053】図1Cに示すように開口部35に導電部材
36が充填され、回路パターン33と対向する面からI
Cチップ34が導電部材36上に実装する(これをA層
と称する)。後に薄膜化される面には、内層回路の配線
面は存在しない。As shown in FIG. 1C, the opening 35 is filled with the conductive member 36, and from the surface facing the circuit pattern 33, I
The C chip 34 is mounted on the conductive member 36 (this is referred to as the A layer). The wiring surface of the inner layer circuit does not exist on the surface to be thinned later.
【0054】次いで図1Dに示すようにICチップ34
の外形サイズと同じか、やや大きい開口部37を形成さ
せた絶縁材38を準備する(これはB層と称する)。A
層とB層とは開口部37にICチップ34を嵌める位置
合わせをして接着剤により積層される。Next, as shown in FIG. 1D, the IC chip 34
An insulating material 38 having an opening 37 that is the same as or slightly larger than the outer size is prepared (this is referred to as layer B). A
The layer and the B layer are aligned with each other so that the IC chip 34 is fitted in the opening 37 and are laminated by an adhesive.
【0055】次に図1Eで示すようにICチップ34と
同サイズもしくはICチップ34より大きな開口39を
形成させたメタルマスク40を被処理基板、すなわちA
層とB層との積層物に位置合わせをして組み付けられ
る。次いでICチップ34の表面がサンドブラストで薄
型化加工される。サンドブラスト加工自体には加工部の
選択性はないが、メタルマスク40によって選択部のみ
加工が進行する。所定の厚みまで加工した後、メタルマ
スク40を取り外し、砥粒や残留物を洗浄により除去す
る。静電耐圧の低いICチップを取り扱う場合、静電対
策上、導電性の砥粒を使うことが望ましい。更には、加
工後の洗浄で除去可能な水溶性砥粒であることが望まし
い。ICチップのストック状態では、厚みの管理がされ
ているため、一定のブラスト条件に対してどれだけの時
間で、ICチップのB層から突出している部分が加工さ
れるか決定されるので、特開2001−119148に
開示された研摩法のように、例えば金属箔や絶縁層研摩
しろを用いた終点検知手段は必要でない。また、研摩基
準面が不要なので、内層基板(A層、B層)に平坦性や
平行性が出ていない場合であっても正確に薄型化が可能
になる。よって図8〜図12の問題点は一挙に解決され
る。また、ブラスト研削されるICチップの表面は、砥
粒サイズを変えることで、仕上がり面を調整できるの
で、多層積層時の樹脂との密着性を制御することも可能
である。また、ICチップの表面のみの選択加工である
ので、ICチップ及びICチップ外装部へのダメージが
無い。なお、サンドブラスト機の噴出ノズルの径はIC
チップに比べ非常に小さいので、メタルマスク40の開
口39の大きさを越えてノズルが何度かスキャンされ
る。また、逆にメタルマスク40側を移動させるように
してもよい。Next, as shown in FIG. 1E, a metal mask 40 having an opening 39 of the same size as the IC chip 34 or larger than the IC chip 34 is formed on the substrate to be processed, that is, A.
The assembly of the layer and the B layer is aligned and assembled. Next, the surface of the IC chip 34 is thinned by sandblasting. Although the sandblast process itself does not have the selectivity of the processed portion, the metal mask 40 allows the processing of only the selected portion to proceed. After processing to a predetermined thickness, the metal mask 40 is removed, and abrasive grains and residues are removed by washing. When handling IC chips having a low electrostatic breakdown voltage, it is desirable to use conductive abrasive grains as a countermeasure against static electricity. Furthermore, it is desirable that the water-soluble abrasive grains can be removed by washing after processing. In the stock state of the IC chip, since the thickness is controlled, it is determined how long the part protruding from the B layer of the IC chip is processed under a constant blast condition. There is no need for end point detection means such as using a metal foil or an insulating layer polishing allowance as in the polishing method disclosed in U.S. Pat. Further, since the polishing reference surface is not necessary, even if the inner layer substrates (A layer and B layer) do not have flatness or parallelism, it is possible to accurately reduce the thickness. Therefore, the problems of FIGS. 8 to 12 are solved at once. In addition, since the finished surface of the surface of the IC chip to be blast-ground can be adjusted by changing the abrasive grain size, it is also possible to control the adhesion with the resin during multilayer lamination. Further, since only the surface of the IC chip is selectively processed, there is no damage to the IC chip and the IC chip exterior part. The diameter of the jet nozzle of the sandblast machine is IC
Since it is much smaller than the chip, the nozzle is scanned several times over the size of the opening 39 of the metal mask 40. On the contrary, the metal mask 40 side may be moved.
【0056】ICチップがほぼ面一に研削された後、図
1Fで示すようにA層、B層の積層体に貫通孔が開けら
れ、ここに基板間配線部材41が充填、突出された後
は、特開2001−119148と同様に、もう一方の
同様にサンドブラスト加工されたICチップ実装基板と
共に、表層配線基板、プリプレグ、内層配線基板、もう
一方の表層配線基板と図3のように積層されて完成品と
なる。After the IC chip is ground substantially flush, a through hole is formed in the laminate of A layer and B layer as shown in FIG. 1F, and the inter-board wiring member 41 is filled therein and projected. As in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-119148, a surface layer wiring board, a prepreg, an inner layer wiring board, and another surface layer wiring board are laminated together with the other similarly sandblasted IC chip mounting board as shown in FIG. And become a finished product.
【0057】図2は本発明の第2の実施の形態を示す
が、絶縁材として熱可塑性樹脂基材50が用いられる。
この一面には銅箔で成る回路パターン51が形成されて
いる。PPS、LCP、PEEK、SPS、PESなど
の熱可塑性樹脂が適用可能である。ヒーターチップ(図
示せず)熱プレスによりICチップ34’上に設けた接
続用バンプ52(導電性部材)を樹脂基材50に押し付
けることで、この熱可塑性樹脂50が軟化し、ICチッ
プ34’が図2Bで示すように埋め込められた状態で、
樹脂基材50の表面に形成された配線パターン51や電
極などに接続される。この実施の形態でも第1の実施の
形態と同様にしてメタルマスクをしてICチップ34’
の突出部がサンドブラスト加工されるが、第1の実施の
形態と比べ、図1BのB層の形成工程が省略される。よ
って、より低コストで多層積層物を生産することができ
る。なお、回路基板として熱可塑性樹脂材を用いる場合
には、例えば本出願人が先に提案(特願2001−05
0989)した「転写用金型」を用いて、直接、配線パ
ターン用溝を形成し、これに金属ペースト等の導電部材
を埋め込んで配線パターンを形成するようにしてもよ
い。フォトリソグラフィ工法により回路パターンを形成
するより、短時間で、低コストで同じ回路パターンを形
成することができる。FIG. 2 shows a second embodiment of the present invention, in which a thermoplastic resin base material 50 is used as an insulating material.
A circuit pattern 51 made of copper foil is formed on this one surface. Thermoplastic resins such as PPS, LCP, PEEK, SPS and PES are applicable. By pressing the connection bumps 52 (conductive member) provided on the IC chip 34 ′ by a heater chip (not shown) hot pressing against the resin base material 50, the thermoplastic resin 50 is softened and the IC chip 34 ′ is formed. Is embedded as shown in FIG. 2B,
It is connected to the wiring pattern 51 and electrodes formed on the surface of the resin base material 50. Also in this embodiment, as in the first embodiment, the metal mask is used to form the IC chip 34 '.
Although the projecting portion is sandblasted, the step of forming the layer B in FIG. 1B is omitted as compared with the first embodiment. Therefore, a multilayer laminate can be produced at a lower cost. When a thermoplastic resin material is used for the circuit board, for example, the present applicant has previously proposed (Japanese Patent Application No. 2001-05).
It is also possible to form a wiring pattern groove directly by using the “transfer die” described above and form a wiring pattern by embedding a conductive member such as a metal paste in the groove. The same circuit pattern can be formed in a short time and at low cost as compared with the case where the circuit pattern is formed by the photolithography method.
【0058】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、勿論、本発明はこれらに限定されることなく、本
発明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。The embodiments of the present invention have been described above. Of course, the present invention is not limited to these, and various modifications can be made based on the technical idea of the present invention.
【0059】例えば以上の実施の形態では、ICチップ
を加工するのにサンドブラストを用いたが、これに限る
こと無く、ブラスト用の研削材としては、けい砂、川
砂、鋳鉄グリット、鋳鋼グリット、カットワイヤー、ア
ルミナグリット、炭化ケイ素グリット、スラググリット
等を用いることができる。For example, in the above embodiments, the sand blast is used to process the IC chip, but the abrasives for the blast are not limited to this, and silica sand, river sand, cast iron grit, cast steel grit, and cut are used. Wire, alumina grit, silicon carbide grit, slag grit, or the like can be used.
【0060】また以上の実施の形態では、絶縁材に1個
のICチップを埋め込む場合を示したが、勿論、2個以
上のICチップを埋め込む場合にも本発明は適用可能で
ある。この場合には、勿論、この埋め込まれたICチッ
プの数に対応する開口部を有するメタルマスクを準備
し、これら開口部にICチップを整合、位置決めして合
わせ、上述と同様にサンドブラストによりICチップを
加工するようにすればよい。この場合には、ICチップ
間に絶縁材から突出している部分の高さが異なる場合が
あるが、この場合には最も突出量の小さいICチップに
合わせてサンドブラストの加工時間を定めればよい。ま
た、メタルマスクに代えて、サンドブラストの研削がI
Cチップより悪い合成樹脂製のマスクを用いてもよい。In the above embodiments, the case where one IC chip is embedded in the insulating material has been described, but the present invention can be applied to the case where two or more IC chips are embedded. In this case, of course, a metal mask having openings corresponding to the number of embedded IC chips is prepared, the IC chips are aligned and aligned with these openings, and the IC chips are sandblasted as described above. Should be processed. In this case, the heights of the portions protruding from the insulating material may differ between the IC chips, but in this case, the sandblasting processing time may be determined according to the IC chip having the smallest amount of protrusion. Also, instead of the metal mask, sandblast grinding is
A synthetic resin mask that is worse than the C chip may be used.
【0061】[0061]
【発明の効果】以上述べたように本発明のICチップ内
蔵多層基板及びその製造方法によれば、ICチップの実
装面積を積層方向に立体的に増加して、ICチップの高
密度実装を行うことができ、かつ従来より更に加工コス
トを低下させることができ、品質の優れた多層構造を提
供することができる。As described above, according to the IC chip-embedded multilayer substrate and the method of manufacturing the same of the present invention, the mounting area of the IC chips is three-dimensionally increased in the stacking direction to perform high-density mounting of the IC chips. In addition, the processing cost can be further reduced as compared with the conventional one, and a multi-layer structure having excellent quality can be provided.
【図1】本発明の第1の実施の形態によるICチップ実
装基板の製造工程を示し、Aは回路基板の断面図、Bは
開口部を形成させた回路基板の断面図、Cは導電部材を
充填させて、これにICチップを実装させた状況を示す
断面図、Dは開口部を形成させた絶縁材とICチップを
実装させた回路基板との関連を示す断面図、Eはメタル
マスクを当ててサンドブラスト施している状況を示す断
面図、及びFは加工後のICチップと基板間配線部材を
充填させた配線基板の断面図である。FIG. 1 shows a manufacturing process of an IC chip mounting substrate according to a first embodiment of the present invention, A is a sectional view of a circuit board, B is a sectional view of a circuit board having an opening formed therein, and C is a conductive member. Is a cross-sectional view showing a state where an IC chip is mounted on the IC chip, D is a cross-sectional view showing a relation between an insulating material having an opening and a circuit board on which the IC chip is mounted, and E is a metal mask. FIG. 4 is a cross-sectional view showing a situation in which sandblasting is performed by applying, and F is a cross-sectional view of the wiring board filled with the processed IC chip and the inter-board wiring member.
【図2】本発明の第2の実施の形態による製造工程を示
し、AはICチップを熱可塑性樹脂基材に熱圧着させる
状況を示す断面図、Bは同熱可塑性樹脂基材に埋め込ま
れたICチップが裏面の配線パターンと電気的に接続さ
れている状況を示す断面図である。FIG. 2 shows a manufacturing process according to a second embodiment of the present invention, in which A is a cross-sectional view showing a state in which an IC chip is thermocompression-bonded to a thermoplastic resin base material, and B is embedded in the thermoplastic resin base material. FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which the IC chip is electrically connected to the wiring pattern on the back surface.
【図3】特開2001−119148における第1の実
施形態としてのICチップ内蔵多層基板100の構造例
を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a structural example of an IC chip built-in multilayer substrate 100 according to a first embodiment of JP 2001-119148 A.
【図4】A〜Cは同第1の実施形態としてのICチップ
内蔵多層基板100の形成例を示す工程断面図である。4A to 4C are process cross-sectional views showing an example of forming the IC chip-embedded multilayer substrate 100 according to the first embodiment.
【図5】A〜Cは同第1の実施形態としてのICチップ
内蔵多層基板100の形成例を示す工程断面図である。5A to 5C are process cross-sectional views showing an example of forming the IC chip built-in multilayer substrate 100 according to the first embodiment.
【図6】そのICチップ内蔵多層基板100の形成時に
おけるICチップ実装基板1の動作検査例を示すイメー
ジ図である。FIG. 6 is an image diagram showing an operation inspection example of the IC chip mounting substrate 1 when the IC chip-embedded multilayer substrate 100 is formed.
【図7】同第1の実施形態としてのICチップ内蔵多層
基板100の形成例を示す工程断面図である。FIG. 7 is a process cross-sectional view showing a formation example of an IC chip built-in multilayer substrate 100 according to the first embodiment.
【図8】ICチップが埋め込まれた絶縁材の厚みに偏り
がある場合の加工面と加工基準面との関係を示す模式図
である。FIG. 8 is a schematic diagram showing a relationship between a processing surface and a processing reference surface when the thickness of the insulating material in which the IC chip is embedded is uneven.
【図9】図8において加工面を加工基準面とした場合の
模式図である。FIG. 9 is a schematic diagram in the case where the processing surface is the processing reference surface in FIG.
【図10】ICチップが埋め込まれた絶縁材の厚みにう
ねりがある場合の模式図である。FIG. 10 is a schematic diagram when the thickness of the insulating material in which the IC chip is embedded has undulations.
【図11】研摩材が砥石のように非常に硬いものであれ
ば、研摩材がたわむことにより平行に研摩できることを
示す模式図である。FIG. 11 is a schematic diagram showing that if the abrasive material is very hard like a grindstone, the abrasive material can be ground in parallel by bending.
【図12】研摩材が柔軟でたわむ場合に削れ易いIC部
が先にえぐられてしまうことを示す模式図である。FIG. 12 is a schematic diagram showing that an IC portion which is easily scraped when the abrasive material is flexible and bends is scooped out first.
31……回路基板、32……絶縁材料、33……回路パ
ターン、34……ICチップ、38……絶縁材料、39
……開口部、40……メタルマスク。31 ... Circuit board, 32 ... Insulating material, 33 ... Circuit pattern, 34 ... IC chip, 38 ... Insulating material, 39
…… Aperture, 40 …… Metal mask.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 25/18 G06K 19/00 K H05K 3/46 H01L 25/08 Z Fターム(参考) 2C005 MA16 MA21 MA33 MA40 NB30 NB32 PA04 PA18 RA04 RA06 RA15 RA30 5B035 BA03 BB09 CA01 5E346 AA12 AA43 BB20 DD34 FF18 GG15 GG40 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H01L 25/18 G06K 19/00 K H05K 3/46 H01L 25/08 Z F term (reference) 2C005 MA16 MA21 MA33 MA40 NB30 NB32 PA04 PA18 RA04 RA06 RA15 RA30 5B035 BA03 BB09 CA01 5E346 AA12 AA43 BB20 DD34 FF18 GG15 GG40
Claims (15)
実装基板と、 前記ICチップ実装基板のチップ埋込面側に設けられた
基板間絶縁層と、 前記ICチップ実装基板のチップ非埋込面側に設けられ
た外層用の回路基板と、 前記外層用の回路基板に対して前記ICチップ実装基板
及び基板間絶縁層を挟み込むように積層された内層用の
回路基板とを備え、 前記ICチップ実装基板は、 チップ埋込時に、所定の厚みのICチップを実装基板の
厚みに揃え込むようにブラスティングにより薄膜化して
成ることを特徴とするICチップ内蔵多層基板。1. An IC chip, an IC chip mounting substrate mounted so as to embed the IC chip, an inter-substrate insulating layer provided on the chip embedding surface side of the IC chip mounting substrate, and the IC chip mounting A circuit board for an outer layer provided on the chip non-embedded surface side of the board, and a circuit board for an inner layer laminated so as to sandwich the IC chip mounting board and the inter-board insulating layer on the circuit board for the outer layer. The IC chip mounting substrate comprises a thin film formed by blasting so that an IC chip having a predetermined thickness is aligned with the thickness of the mounting substrate when the chip is embedded.
Cチップを絶縁層により閉じこめて該回路基板を順次積
層するICチップ内蔵多層基板の製造方法において、 前記絶縁層を貫通して実装される前記ICチップの所定
の部分を前記回路基板の厚みに揃え込むようにブラステ
ィングにより薄膜化する工程と、 前記ICチップの高さを低減させた後に、ICチップ実
装基板と他の回路基板とを積層し多層化する工程とを有
することを特徴とするICチップ内蔵多層基板の製造方
法。2. An IC chip is mounted on a circuit board,
In a method of manufacturing an IC chip-embedded multilayer substrate in which C chips are confined by an insulating layer and the circuit boards are sequentially laminated, a predetermined portion of the IC chip mounted through the insulating layer is aligned with the thickness of the circuit board. And a step of stacking the IC chip mounting board and another circuit board to form a multi-layer after the height of the IC chip is reduced. Manufacturing method of chip-embedded multilayer substrate.
有し、 前記回路素子非形成領域の側に所定の厚みの薄膜化しろ
を有することを特徴とする請求項2に記載のICチップ
内蔵多層基板の製造方法。3. The IC chip built-in according to claim 2, wherein the IC chip has a circuit element non-forming region, and has a thinning margin of a predetermined thickness on the side of the circuit element non-forming region. Manufacturing method of multilayer substrate.
路基板と内層用の回路基板との間に、前記ICチップ実
装基板及び基板間絶縁層を挟んで積層し多層化すること
を特徴とする請求項2に記載のICチップ内蔵多層基板
の製造方法。4. An IC chip mounting board and an inter-board insulating layer are sandwiched between at least an outer layer circuit board to which wiring is provided and an inner layer circuit board to form a multilayer structure. The method for manufacturing a multilayer substrate with a built-in IC chip according to claim 2.
こめて実装し、該回路基板を順次積層するICチップ内
蔵多層基板の製造方法において、 所望の厚みの回路基板の絶縁層内にICチップ埋設用の
穴部を形成する工程と、 前記穴部の深さよりも高い厚みのICチップを埋め込ん
で実装する工程と、 前記穴部から突出したICチップの所定部分を前記回路
基板の厚みに揃え込むようにブラスティングにより薄膜
化して前記ICチップ実装基板を形成する工程とを有す
ることを特徴とするICチップ内蔵多層基板の製造方
法。5. A method of manufacturing a multi-layer substrate with a built-in IC chip, in which an IC chip is confined and mounted in an insulating layer of a circuit board, and the circuit boards are sequentially stacked, wherein an IC chip is provided in the insulating layer of the circuit board having a desired thickness. Forming a hole for embedding, embedding and mounting an IC chip having a thickness higher than the depth of the hole, and aligning a predetermined portion of the IC chip protruding from the hole with the thickness of the circuit board And a step of forming a thin film by blasting so as to form the IC chip mounting substrate.
有し、 前記回路素子非形成領域の側に所定の厚みの薄膜化しろ
を有することを特徴とする請求項5に記載のICチップ
内蔵多層基板の製造方法。6. The IC chip built-in according to claim 5, wherein the IC chip has a circuit element non-forming region, and has a thinning margin of a predetermined thickness on the side of the circuit element non-forming region. Manufacturing method of multilayer substrate.
絶縁層とを接合して構成されることを特徴とする請求項
5に記載のICチップ内蔵多層基板の製造方法。7. The hole is formed by joining a circuit board for mounting the IC chip and an insulating layer having an opening having a depth shallower than the thickness of the IC chip. The method for manufacturing a multi-layer substrate with a built-in IC chip according to claim 5.
路基板と内層用の回路基板との間に、前記ICチップ実
装基板及び基板間絶縁層を挟んで積層し多層化すること
を特徴とする請求項5に記載のICチップ内蔵多層基板
の製造方法。8. An IC chip mounting board and an inter-board insulating layer are sandwiched between at least an outer layer circuit board to which wiring is provided and an inner layer circuit board to form a multilayer structure. The method for manufacturing a multi-layer substrate with a built-in IC chip according to claim 5.
側に基板間用の絶縁部材を形成する工程と、 前記外層用の回路基板に対して前記ICチップ実装基板
及び基板間用の絶縁部材を挟み込むように内層用の回路
基板を形成する工程とを有することを特徴とする請求項
8に記載のICチップ内蔵多層基板の製造方法。9. A step of forming a board-to-board insulating member on the chip embedding surface side of the IC chip-mounted board, and the IC chip-mounted board and the board-to-board insulating member with respect to the outer layer circuit board. 9. The method of manufacturing a multilayer substrate with a built-in IC chip according to claim 8, further comprising the step of forming a circuit board for an inner layer so as to sandwich it.
装基板、基板間用の絶縁部材及び内層用の回路基板とを
同一の熱処理工程により加圧熱接合することを特徴とす
る請求項8に記載のICチップ内蔵多層基板の製造方
法。10. The circuit board for the outer layer, the IC chip mounting board, the insulating member for the board and the circuit board for the inner layer are pressure-heat bonded in the same heat treatment step. A method for manufacturing a multilayer substrate having a built-in IC chip as described above.
実装基板を形成した後に、 前記ICチップ実装基板毎に電気的な検査を行うことを
特徴とする請求項8に記載のICチップ内蔵多層基板の
製造方法。11. The IC chip-embedded multilayer substrate according to claim 8, wherein after the IC chips are mounted to form an IC chip mounting substrate, an electrical inspection is performed for each IC chip mounting substrate. Manufacturing method.
実装基板から動作検査用の電極を引き出すことを特徴と
する請求項8に記載のICチップ内蔵多層基板の製造方
法。12. The method of manufacturing an IC chip-embedded multilayer substrate according to claim 8, wherein electrodes for operation inspection are drawn from the IC chip mounting substrate on which the IC chip is mounted.
することを特徴とする請求項12に記載のICチップ内
蔵多層基板の製造方法。13. The method of manufacturing an IC chip-embedded multilayer substrate according to claim 12, wherein the operation inspection electrode also serves as an electrode for electrically connecting to an inner layer circuit board.
であることを特徴とする請求項1〜13のいずれかに記
載のICチップ内蔵多層基板の製造方法。14. The method of manufacturing a multi-layer substrate with a built-in IC chip according to claim 1, wherein the blasting is sandblasting.
方の面に転写金型により配線パターンを形成し、該配線
パターンに導電ペーストを埋めたことを特徴とする請求
項14に記載のICチップ内蔵多層基板の製造方法。15. The IC according to claim 14, wherein the insulating layer is made of a thermoplastic resin, a wiring pattern is formed on one surface by a transfer mold, and a conductive paste is embedded in the wiring pattern. Manufacturing method of chip-embedded multilayer substrate.
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