JP2003051141A

JP2003051141A - 検査用光記録媒体、その作製方法およびドライブ検査方法

Info

Publication number: JP2003051141A
Application number: JP2001244802A
Authority: JP
Inventors: Hikari Shimofuku; 光下福
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 2001-05-30
Filing date: 2001-08-10
Publication date: 2003-02-21

Abstract

(57)【要約】【課題】ディスクドライブの検査を行う上で最適な検
査用光記録媒体、その容易な作製方法及びディスクドラ
イブの検査方法を提供する。【解決手段】相変化型光記録媒体であり、記録された
信号領域における訂正処理可能なエラーレート平均値が
段階的に変化している検査用光記録媒体。レーザー光を
光記録媒体に照射してその記録層に相変化を生じさせて
情報を記録し、その表面を針状物体の加重を段階的に変
化させて研削して、上記記録媒体を作製する。予め記録
パワーとパルス幅が設定されたディスクドライブにより
記録・書換えした光記録媒体の訂正処理可能なエラーレ
ート平均値が変化している各段階部分を再生し、記録信
号を比較しその良否を判定してディスクドライブの再生
能力を検査する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザービームを
照射することにより記録層材料に相変化を生じさせて、
情報の記録・再生を行い、かつ書き換えが可能である相
変化型光記録媒体を用いた検査用光記録媒体、その作製
方法およびそれを用いるディスクドライブ検査方法に関
する。

【０００２】

【従来の技術】近年における情報量の増大に伴い、高密
度かつ高速で大量のデータの記録、再生が可能なＣＤ−
Ｒ／ＲＷなどのディスクドライブおよび当該ドライブ用
の記録媒体が急速に普及している。

【０００３】ディスクドライブを出荷する場合には動作
検査が必須であるが、中でも、ＣＤ−Ｒ／ＲＷディスク
およびＣＤ−ＲＯＭディスクなどの光記録媒体を用いて
再生特性を検査することは極めて重要である。

【０００４】従来、ディスクドライブの再生特性の検査
には、さまざまな検査用光記録媒体が用いられている。
例えば、１枚の光記録媒体中に複数の異なるパターンか
らなる記録信号品質を持つ検査用光記録媒体もある。こ
の記録信号品質としては、反射率、ジッタ、ラジアルコ
ントラスト、Ｉ₃／Ｉ_TOP、Ｉ₁₁／Ｉ_TOP、プッシュプ
ル信号強度、アシンメトリ、CNR of Wobble、エラーレ
ート、クロストークまたはラジアルノイズなどがあげら
れる。

【０００５】また、光記録媒体の検査用ドライブの出力
パワー調整にも上記検査用光記録媒体が用いられてい
る。光記録媒体の検査工程中には、特定の記録パワーお
よび再生パワーで光情報記録／再生可能な検査用ドライ
ブが設置されている。しかし、検査用ドライブは、連続
運転すると出力パワー（レーザーパワー；記録パワー、
再生パワー）が変動してしまうため、出力パワー（レー
ザー光のパワー）の調整が必要となる。そこで、検査用
ドライブの出力パワーを調整するために、上記検査用光
記録媒体を基準光記録媒体として使用する。

【０００６】さらに、最近では、高線速化によるマルチ
スピード記録やマルチリード対応の光記録媒体およびこ
れらの光記録媒体用ディスクドライブの開発が活発にな
ってきている。従って、このような光記録媒体とディス
クドライブ（ディスク用評価機（検査用ドライブ）等）
とのマッチングをとる必要があり、このディスクドライ
ブのレーザーパワーや再生能力を調査、微調整しなけれ
ばならないため、検査用光記録媒体は必要不可欠なもの
となっている。

【０００７】このような検査用光記録媒体は、これまで
にさまざまな種類の方法で作製されてきた。例えば、記
録面を有する光記録媒体を成型するスタンパに対し、擬
似的な欠陥部分に対応するように複数の微少溝を集合さ
せたパターンをレーザー加工機により形成する。そし
て、このスタンパを利用して光記録媒体を成形すること
で、欠陥部分を含む基板を製造する方法がある。また、
記録時の記録パワーとパルス幅との組み合わせを複数用
意してパターン化しておき、このパターンを順次変更さ
せながらレーザー光を照射して信号記録品質が異なる複
数の記録領域を有する光記録媒体を作製する方法もあ
る。これらの方法により製造した検査用光記録媒体は、
複数の異なる記録信号品質のパターンデータが記憶され
ている。例えば、複数の異なるジッタが記録された検査
用光記録媒体を製造することもできる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、検査用
光記録媒体の作製は、上述したように専用の装置を必要
とするため、作製が極めて難しかった。また、作製装置
も上述したような性能を満たす必要があるため、工場レ
ベル（大規模、高精密性）の設備を必要とする。特に、
訂正処理の可能なレベルのエラー（情報再生可能な程度
の傷などのエラー）が含まれる検査用光記録媒体を作製
する場合、一定時間におけるエラーレートの平均値を細
かく変動させた媒体を作製しなければならない。つま
り、種々のエラーレートのエラーを設けて、ドライブが
情報再生可能な範囲のエラーレートを探し出す必要があ
るため、種々のレベルのエラーが施された領域を複数設
けられた検査用光記録媒体を用意する必要がある。その
ため、極めて精度の高い媒体作製装置を必要とし、また
熟練した作業員を要する。このように、検査用光記録媒
体を作製するためには、多くの人員、工程、費用を要す
るため、必要な時に短時間で検査用光記録媒体を得るこ
とは極めて困難であった。

【０００９】また、公知の方法を用いた場合、訂正処理
可能なエラーのレート平均値が段階的に変化している記
録信号部分を、精度のよい検査を行うために必要とされ
る十分な数有する検査用光情報記録媒体を作製すること
は極めて難しい。また、エラーレートの平均値の変化が
粗い記憶信号部分しか作製できない。このような記憶信
号部分を有する検査用光記録媒体を用いて検査を行う
と、例えば、ドライブが本来訂正可能なエラーレートを
大幅に上回る領域（訂正不可能になるエラーレートの平
均値を大幅に上回る記録信号部分）を再生することにな
り、ドライブの再生能力をきめ細かく判定することがで
きないなど、正確／精密な検査を行うことが極めて難し
かった。つまり、光記録媒体にエラーが存在する箇所か
ら読み取った情報から正確な（上記箇所の記録層に本来
記録されている）情報を再生可能か判定するために検査
用光情報記録媒体を用いているにもかかわらず、当該媒
体に設けられたエラー（記録信号部分）の数が少ないた
め、ドライブがエラー訂正可能な範囲（エラーのレート
範囲）を的確に把握することが極めて困難となってい
た。

【００１０】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
であり、訂正処理可能なエラーのレート平均値が段階的
に細かく変化する記録信号領域を複数（精度のよい検査
を行うために必要とされる十分な数）持つことができる
ような相変化型光記録媒体を利用した検査用光記録媒体
を提供することを目的とする。また、エラーレートの平
均値の変化率や変化された記録信号品質が異なる記録信
号領域を複数設けられた検査用光記録媒体を提供するこ
とを目的とする。また、この検査用光記録媒体を容易か
つ安価に作製できるようにすることを目的とする。さら
に、上記検査用光記録媒体を用いてドライブの再生能力
を詳細に決定できる検査方法を提供することを目的とす
る。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の検査用光記録媒体の発明は、円盤状
の基板上に少なくとも相変化型記録層を有する光記録媒
体において、記録された信号領域における訂正処理が可
能なエラーのレート平均値が段階的に変化していること
を特徴とする。

【００１２】請求項２記載の発明は、請求項１の検査用
光記録媒体において、記録された信号領域における訂正
処理が可能なエラーのレート平均値が、５〜１０段階に
わたって変化する。

【００１３】請求項３記載の検査用光記録媒体の発明
は、円盤状の基板上に少なくとも相変化型記録層を有す
る光記録媒体において、エラー処理が施された記録信号
領域が複数設けられたことを特徴とする。このエラー処
理は、光記録媒体におけるディスクドライブが情報を読
み取る面（いわゆるラベル面）側に施す。以下、エラー
処理が施された記録信号領域を記録信号部分と表記す
る。

【００１４】請求項４記載の発明は、請求項３の検査用
光記録媒体において、各記録信号領域のエラーのレート
平均値は、ディスクドライブが訂正処理可能な範囲の値
であり、それぞれ異なるエラーのレート平均値を有する
ことを特徴とする。別言すれば、標準化された（規格化
された）ディスクドライブが記録層に記録された情報を
読み取り可能なレベルのエラーを複数箇所に設ける。ま
た、エラーを設けた箇所（記録信号部分）毎に異なるエ
ラーのレート平均値を有するようにする。

【００１５】請求項５記載の発明は、請求項３または４
の検査用光記録媒体において、各記録信号領域は、基板
の直径方向の幅が２ｍｍ以上３ｍｍ以下であることを特
徴とする。

【００１６】請求項６記載の発明は、請求項３から５の
いずれかの検査用光記録媒体において、各記録信号領域
間には、エラーが顕著でない無研削部分が設けられたこ
とを特徴とする。

【００１７】請求項７記載の発明は、請求項６の検査用
光記録媒体において、無研削部分の基板の直径方向の幅
は、１ｍｍ以上２ｍｍ以下であることを特徴とする。

【００１８】請求項８記載の検査用光記録媒体の作製方
法の発明は、レーザー光を光記録媒体に照射して光記録
媒体の記録層に相変化を生じさせて情報を記録し、情報
を記録された光記録媒体の表面を針状物体で研削して、
しかもこの研削を該針状物体の加重を段階的に変化させ
て行うことにより、該光記録媒体中の信号領域における
訂正処理が可能なエラーのレート平均値が段階的に変化
していくようにすることを特徴とする。

【００１９】請求項９記載の発明は、請求項８の検査用
光記録媒体の作製方法において、光記録媒体中の記録さ
れた信号領域における訂正処理が可能なエラーのレート
平均値が、５〜１０段階にわたって変化していくように
する。

【００２０】請求項１０記載の検査用光記録媒体の作製
方法の発明は、レーザー光を光記録媒体に照射して該媒
体の記録層に相変化を生じさせて情報を記録するステッ
プと、光記録媒体のレーベル面の記録信号領域の研削基
点に針状物体の研削部分を接するステップと、針状物体
から光記録媒体側へ圧力を印加し、針状物体を光記録媒
体に対して相対的に移動させて、ディスクドライブが記
録層に記録された情報を解読可能な範囲のレート平均値
内のエラーを有する記録信号領域を作製するステップと
を有し、記録媒体上に複数の記録信号領域を作製するこ
とを特徴とする。

【００２１】請求項１１記載の発明は、請求項１０の検
査用光記録媒体の作製方法において、針状物体を研削基
点から光記録媒体の半径方向に一定長移動させて記録信
号領域中にエラーレート平均値が異なる部分を複数作製
することを特徴とする。

【００２２】請求項１２記載の発明は、請求項１０の検
査用光記録媒体の作製方法において、針状物体を研削基
点から光記録媒体の半径方向に２ｍｍ以上３ｍｍ以下の
範囲で移動させて記録信号領域中にエラーレート平均値
が異なる部分を複数作製することを特徴とする。

【００２３】請求項１３記載の発明は、請求項１０から
１２のいずれかの検索用光記録媒体の作製方法におい
て、各記録信号領域間には所定の距離以上の無研削部分
を設けることを特徴とする。

【００２４】請求項１４記載の発明は、請求項１０から
１２のいずれかの検索用光記録媒体の作製方法におい
て、各記録信号領域間には１ｍｍ以上２ｍｍ以下の距離
の無研削部分を設けることを特徴とする。

【００２５】請求項１５記載のディスクドライブ検査方
法の発明は、予め記録パワーとパルス幅が設定されたデ
ィスクドライブにより記録および書き換えが行われた光
記録媒体の訂正処理が可能なエラーのレート平均値が変
化している各段階部分を再生し、各段階部分の記録信号
を比較してその良否を判定することによりディスクドラ
イブの再生能力を検査することを特徴とする。

【００２６】請求項１６記載の発明は、請求項１３のデ
ィスクドライブ検査方法において、訂正処理が可能なエ
ラーのレート平均値が変化している各段階部分が、５〜
１０段階である。

【００２７】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る検査用光記録
媒体を説明し、あわせてその作製方法およびドライブ検
査方法についても詳述する。

【００２８】本発明に係る検査用光記録媒体は、円盤状
の基板上に少なくとも相変化型記録層を有する光記録媒
体であり、記録された信号領域における訂正処理の可能
なエラーのレート平均値が段階的に変化していることを
特徴とする。また、異なるエラーレート平均値が設けら
れた領域を複数有することを特徴とする。

【００２９】この検査用光記録媒体には、レーザービー
ムの照射による記録、再生および消去が可能な光メモリ
ー媒体のひとつである、結晶−非結晶相間あるいは結晶
−結晶相間の転移を利用する、いわゆる相変化型記録媒
体を使用している。

【００３０】この相変化型記録媒体の形態の一例を図１
に示す。基本的な構成は、たとえば、案内溝を有する基
板１上に第１保護層２、記録層３、第２保護層４、反射
放熱層５およびオーバーコート層６を順に有する。さら
に、オーバーコート層上に印刷層７、基板鏡面にハード
コート層８を有することが好ましい。なお、層構成は、
採用する規格等にあわせて任意に変更可能である。

【００３１】基板１の材料は、通常、ガラス、セラミッ
クス、あるいは樹脂であり、中でも樹脂基板が成型性、
コストの点で好適である。樹脂の例としては、ポリカー
ボネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチ
レン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、
ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコーン系
樹脂、フッ素系樹脂、ＡＢＳ樹脂、ウレタン樹脂などが
あげられるが、中でも、成型性、光学特性、コストの点
で優れるポリカーボネート樹脂、アクリル系樹脂が好ま
しい。

【００３２】なお、書き換え可能なコンパクトディスク
（ＣＤ−ＲＷ）に応用する場合には、以下のような特定
の条件が付与されることが望ましい。その条件は、使用
する基板に形成される案内溝（グルーブ）の幅が、０．
２５〜０．６５μｍ、好適には０．３０〜０．５５μｍ
であり、その案内溝の深さが、２５０〜６５０Å、好適
には３００〜５５０Åである。基板の厚さは、特に制限
されるものではないが、１．２ｍｍ、０．６ｍｍ程度が
好適である。

【００３３】記録層３としては、Ａｇ、Ｉｎ、Ｓｂおよ
びＴｅを含む４元系の相変化型記録材料を主成分として
含有する材料が、記録（アモルファス化）感度・速度、
消去（結晶化）感度・速度、および消去比が極めて良好
なため適している。

【００３４】また、記録層信号の再生劣化や信号の寿命
低下は、非晶質マークの結晶化が原因であったが、非晶
質マークの結晶化を抑制するためには、以下の中から選
ばれる少なくとも一種類以上の元素を記録層に添加する
ことが効果的である。｛Ｇａ、Ｚｎ、Ｓｎ、Ｓｉ、Ｐｂ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｃｕ、
Ｇｅ、Ａｕ、Ｐｄ、Ｐｔ、Ｓ、Ｓｅ、Ｔａ、Ｎｂ、Ｖ、
Ｂｉ、Ｚｒ、Ｔｉ、Ａｌ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｒｈ、Ｃ、Ｎ、
Ｏ｝これらの元素を記録層に添加することにより非晶質マー
クの結晶化を抑制するメカニズムは明確ではないが、こ
れらの元素は、ＡｇＩｎＳｂＴｅの空間的隙間に入った
り、ＡｇＩｎＳｂＴｅとの化合物または合金を形成する
ことで、非晶質マークの結晶化を抑制する添加剤として
働いていると考えられている。よって、原子半径が小さ
かったり、ＡｇＩｎＳｂＴｅとの化学結合力が大きかっ
たり、化学結合手が多い元素を添加剤とすれば、非晶質
マークの結晶かを効果的に防止できる。特に、Ｃ、Ｎ、
Ｏ、Ｓｉ、Ｓｎ、Ｇｅは、記録層信号の再生劣化や信号
の寿命低下を効果的に防止する。

【００３５】記録層の膜厚としては、１０〜５０ｎｍ、
好適には１２〜３０ｎｍとするのがよい。１０ｎｍより
薄いと光吸収能が著しく低下し、記録層としての役割を
果たさなくなる。また、５０ｎｍより厚いと高速で均一
な相変化が起こりにくくなる。

【００３６】このような記録層は、各種気相成長法、た
とえば、真空蒸着法、スパッタリング法、プラズマＣＶ
Ｄ法、光ＣＶＤ法、イオンプレーティング法、電子ビー
ム蒸着法などによって形成できる。中でも、スパッタリ
ング法が、量産性、膜質等に優れている。

【００３７】第１誘電体層（第１保護層）および第２誘
電体層（第２保護層）の材料としては、ＳｉＯ、ＳｉＯ
₂、ＺｎＯ、ＳｎＯ₂、Ａｌ₂Ｏ₃、ＴｉＯ₂、Ｉｎ₂
Ｏ₃、ＭｇＯ、ＺｒＯ₂などの金属酸化物、Ｓｉ
₃Ｎ₄、ＡｌＮ、ＴｉＮ、ＢＮ、ＺｒＮなどの窒化物、
ＺｎＳ、Ｉｎ₂Ｓ₃、ＴａＳ₄などの硫化物、ＳｉＣ、
ＴａＣ、Ｂ₄Ｃ、ＷＣ、ＴｉＣ、ＺｒＣなどの炭化物や
ダイヤモンド状カーボン、あるいはそれらの混合物など
を好適に用いる。これらの材料は、単独で保護層とする
こともできるが、２種類以上の混合物としてもよい。ま
た、必要に応じて不純物を含んでもよく、必要に応じて
誘電体層（保護層）を多層化することもできる。

【００３８】ただし、第１誘電体層（第１保護層）およ
び第２誘電体層（第２保護層）の融点は記録層よりも高
いことが必要である。このような第１誘電体層および第
２誘電体層の材料としては、各種気相成長法、たとえ
ば、真空蒸着法、スパッタリング法、プラズマＣＶＤ
法、光ＣＶＤ法、イオンプレーティング法、電子ビーム
蒸着法などによって形成できる。なかでも、スパッタリ
ング法が、量産性、膜質等に優れている。

【００３９】第１誘電体層（第１保護層）の膜厚は、反
射率に大きく影響する。７８０ｎｍと６５０ｎｍの再生
波長でＣＤ−ＲＷディスクの規格である反射率０．１５
〜０．２５を満足するためには、第１誘電体層を６５〜
１３０ｎｍとすることが要求される。この膜厚に設定す
ることにより、６５０ｎｍであるＤＶＤの再生波長の反
射率を満足し、ＤＶＤの再生互換も得ることができる。

【００４０】第２誘電体層の膜厚としては、１５〜４５
ｎｍ、好適には２０〜４０ｎｍとするのがよい。１５ｎ
ｍより薄くなると耐熱性保護層としての機能を果たさな
くなり、また、感度の低下を生じる。一方、４５ｎｍよ
り厚くなると、界面剥離を生じやすくなり、繰り返し記
録性能も低下する。

【００４１】反射放熱層５としては、Ａｌ、Ａｕ、Ａ
ｇ、Ｃu 、Ｔａ、Ｔｉ、Ｗなどの金属材料、またはそれ
らの合金などを用いることができる。また、添加元素と
しては、Ｃｒ、Ｔｉ、Ｓｉ、Ｃｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｔａな
どが使用される。

【００４２】このような反射放熱層は、各種気相成長
法、たとえば、真空蒸着法、スパッタリング法、プラズ
マＣＶＤ法、光ＣＶＤ法、イオンプレーティング法、電
子ビーム蒸着法などによって形成できる。

【００４３】合金または金属層の膜厚としては、７０〜
２００ｎｍ、好適には１００〜１６０ｎｍとするのがよ
い。また、合金または金属層を多層化することも可能で
ある。多層化した場合では、各層の膜厚は少なくとも１
０ｎｍ以上必要で、多層化膜の合計膜厚は５０〜１６０
ｎｍとするのがよい。

【００４４】反射放熱層５の上には、その酸化防止のた
めオーバーコート層６を有することが望ましい。オーバ
ーコート層は、一般に、紫外線硬化樹脂をスピンコート
により塗布して形成する。反射放熱層５の厚さは、３〜
１５μｍが適当である。３μｍ以下では、オーバーコー
ト層上に印刷層を設ける場合、必要以上のエラーの増大
が認められることがある。一方、１５μｍ以上の厚さで
は、内部応力が大きくなってしまい、ディスクの機械特
性に大きく影響してしまう。

【００４５】ハードコート層８は、一般に、紫外線硬化
型樹脂をスピンコートにより塗布して形成する。ハード
コート層８の厚さは、２〜６μｍが適当である。２μｍ
以下では、十分な耐擦傷性が得られない。６μｍ以上の
厚さでは、内部応力が大きくなってしまい、ディスクの
機械特性に大きく影響してしまう。ハードコート層８の
硬度は、布でこすっても大きな傷がつかない鉛筆硬度で
あるＨ以上とする必要がある。なお、必要に応じて、導
電性の材料を混入させて、帯電防止を図り、埃等の付着
を防止することも効果的である。

【００４６】以上の層構成からなる光記録媒体は、光記
録媒体用の記録再生装置により情報の記録および再生が
行われる。

【００４７】図４に示すように、記録再生装置では、相
変化型光記録媒体をスピンドルモータからなる駆動手段
により回転駆動し、記録再生用ピックアップにて光源駆
動手段としてのレーザー駆動回路により半導体レーザー
からなる光源を駆動してレーザー光を発し、このレーザ
ー光を、図示しない光学系を介して上記の回転駆動して
いる光記録媒体に照射する。例えば、図２に示したよう
な単一の記録パルス波形として繰り返し照射したり、複
数の周波数パルスを交互に繰り返し照射する。

【００４８】この照射により、光記録媒体の記録層に相
変化を生じさせ、光記録媒体からの反射光を記録再生用
ピックアップで受光して光記録媒体に対する情報の記録
および再生を行う。最適な記録パワーは、記録パワー設
定手段としての記録パワー設定回路により設定される。

【００４９】また、この記録再生装置では、記録すべき
信号を変調部で変調して記録再生用ピックアップにて光
記録媒体に記録することにより情報の記録を行う記録手
段を備えている。このピックアップを含む記録手段は、
光記録媒体の記録層に対してマークの幅として信号を記
録するようマークを記録する、いわゆるＰＷＭ記録方式
で情報の記録を行う。記録手段は記録すべき信号を変調
部にてクロックを用いて、例えば、書き換え型コンパク
トディスクの情報記録に適したＥＦＭ（Eightto Four
teen Modulation）変調方式、あるいはその改良変調方
式で変調する。

【００５０】記録手段は、ＰＷＭ記録を行う際に、変調
後の信号幅がｎＴ（ｎは所定の値、Ｔはクロック時間：
信号の変調に用いるクロックの周期に相当する時間）で
ある０信号の記録あるいは書き換えを行う時の記録光を
パワーレベルｅの連続光とし、変調後の信号幅がｎＴで
ある１信号の記録あるいは書き換えを行う時の記録光の
パルス列、時間幅ｘとパワーレベルａを持つパルス部ｆ
ｐと、合計でＴの時間幅を持つパワーレベルｂの低レベ
ルパルスとパワーレベルｃの高レベルパルスとが交互に
出て、デューティ比ｙで計（ｎ−ｎ' ）回連続するマル
チパルス部ｍｐと、時間幅ｚとパワーレベルｄを持つパ
ルス部e ｐからなるレーザー波パルス列とし、ｘ、ｙ、
ｚをそれぞれ０．５Ｔ≦ｘ≦２．０Ｔ、０．１２５Ｔ≦
ｙ≦０．８７５Ｔ、０．１２５Ｔ≦ｚ≦１．０Ｔとし、
ｎを１以上の正の整数とし、ｎ'をｎ' ≦ｎの正の整数
とし、（ａおよびｃ）＞ｅ＞（ｂおよびｄ）とすること
が望ましい。

【００５１】（第１の検査用光記録媒体の作製）以上の
ように作製され、記録が行われた光記録媒体に、該媒体
のレーベル面の所定の位置を針状物体により所定の加重
で研削する。この際、この加重を段階的に変化させる。
たとえば、段階的に加重を増加させることにより、光記
録媒体の訂正処理の可能なエラーのレート平均値が段階
的に変化していくような検査用光記録媒体を作製でき
る。つまり、上記光記録媒体のレーベル面で上記記録信
号部分（意図的にエラーを作る部分）を針状物体により
作製する。針状物体から光記録媒体のレーベル面へ所定
の圧力を印加させ、針状物体を光記録媒体上で相対的に
移動させて検査用光記録媒体を作製する。この際、上記
圧力を順次変化させれば、エラーレートの平均値が異な
る記録信号部分を複数設けられた検査用光記録媒体を作
製できる。また、上記圧力を所定の範囲内に設定すれ
ば、ディスクドライブがエラー訂正処理可能な範囲のエ
ラーレート平均値を有する記録信号部分を複数設けるこ
とも可能となる。

【００５２】例えば、記録を行った光記録媒体のレーベ
ル面上のある決まった半径位置に定重量の針状物体を固
定し、この光記録媒体を一定速度でスライドさせながら
一定長削ることにより、その針状物体の重量の変化に伴
ってＣ１エラーレートの平均値が変化していく検査用メ
ディア（光記録媒体）を容易に作製することが可能とな
る。針状物体の加重は５〜１０段階で変化させることが
Ｃ１エラーレートの平均値を細かく変化させるのに必要
かつ充分であり、好適には６〜８段階のような７段階付
近で変化させることが望ましい。図５を用いて説明する
と、スライド台に光記録媒体をおく。図５のスライド面
と反対側の面（針状物体が設置されている側の面）にレ
ーベル面が向くようにする。針状物体は光記録媒体へ所
定の圧力を印加するように設定する。そして、スライド
台を移動させる。これにより、研削前とエラーレートの
異なる記録信号部分を作成できる。また、印加する圧力
をかえれば、エラーレベルの平均値が異なる複数の記録
信号部分を作製できる。

【００５３】上記方法で作製した検査用メディアの訂正
処理可能なエラーのレート平均値が段階的に変化してい
る記録信号部分を再生して、それぞれの記録信号を比較
し記録信号の良否を判定することにより、各ディスクド
ライブの再生能力を検査することが可能となる。この検
査としては、ディスクドライブの出荷時の再生能力や光
記録媒体の製造工程中で使用される検査用ドライブの再
生能力の点検、または各種光記録媒体の開発用に使用さ
れるディスク用評価機およびマッチング用の各種ドライ
ブの再生能力の検査などが挙げられる。検査用メディア
の訂正処理可能なエラーのレート平均値が段階的に変化
している記録信号部分は５〜１０段階、好適には６〜８
段階のような約７段階程度再生することが望ましい。

【００５４】これまでの検査用光記録媒体では訂正処理
可能なエラーのレート平均値が段階的に変化している記
録信号部分が少なく、かつエラーレートの平均値の変化
が粗かったため、例えば、ドライブに対する本来訂正可
能なエラーレートを通り越して、訂正不可能になるエラ
ーレート平均値を大幅に上回る記録信号部分を再生する
ことにより、ドライブの再生能力を粗く判定していた。
しかし、本発明で作製した検査用光記録媒体は訂正処理
が可能なエラーレートの平均値が細かく変動しているた
め、再生することによりドライブの再生能力をきめ細か
く把握することができ、また検査用ドライブの再生レー
ザーパワーを微調整することも可能となる。

【００５５】（第２の検査用光記録媒体の作製）第２の
検査用光記録媒体は、上記第１の検査用光記録媒体と後
述する点を除き同様に作製できる。つまり、上記光記録
媒体に、該媒体のレーベル面の所定の位置を針状物体に
より所定の荷重で研削する。この研削部分を複数設け、
各検索部分を検索する際の針状物体への荷重を変化させ
る。これにより、訂正処理可能なエラーのレート平均値
が異なる領域を複数有する検査用光記録媒体を容易に作
成できる。例えば、記録を行った光記録媒体のレーベル
面上のある決まった半径位置に定重量の針状物体を固定
し、この光記録媒体を一定速度で半径方向へスライドさ
せながら一定長削ることにより、研削部分と無研削部分
のそれぞれに対応する領域のＣ１エラーレートの平均値
が異なる検査用メディアを容易に作製できる。例えば、
それぞれの研削部分ごとに針状物体の重量を増減させる
と、その針状物体の重量の変化に伴って各領域のＣ１エ
ラーレートの平均値が変化していくだけでなく、平均値
の差が顕著に出る検査用メディアを容易に作製できる。
これにより、Ｃ１エラーレートの平均値が５〜１０段階
で変化された検査用光記録媒体を作製できる。この媒体
は、ドライブの再生能力をきめ細かく把握するのに必要
かつ十分な能力を有する。

【００５６】第２の検査用光記録媒体は、各記録信号部
分（研削部分）の半径方向の幅（研削の起点から一方の
端までの長さ）を２〜３ｍｍとする。このような幅を有
すれば、各部分（領域）は、上述したような検査を行う
ために十分な広さとなる。また、媒体上にレートの異な
る領域を数多く設けることが可能となる。なお、研削部
分を３ｍｍ以上とすると、光記録媒体上の記録信号部分
（訂正処理可能なエラーのレート平均値が異なる領域）
の数が減少する。このため、例えば検査用メディアの訂
正処理可能なエラーのレート平均値が段階的に変化して
いる記録信号部分を再生して、それぞれの記録信号を比
較し記録信号の良否を判定する際に、ドライブの再生能
力を十分にきめ細かく把握できない。また、研削部分を
２ｍｍ以下とすると、研削時に針状物体あるいは光記録
媒体をより精密に制御しなければならないため検査用光
記録媒体の作製が困難になり、また再生する一領域を十
分に確保できなくなる。

【００５７】また、隣接する研削部分間に、一定長の無
研削部分を設けることが望ましい。無検索部分の幅は、
１〜２ｍｍとすることが好適である。無研削部分を設定
しない場合あるいは１ｍｍ以下とした場合、隣接する研
削部分に該当する各領域の開始および終了位置の判別が
困難となり、ドライブ再生能力を正確に把握できない。
また、採用する開始および終了位置によって訂正処理可
能なエラーのレート平均値が変化してしまう。また、無
研削部分を２ｍｍ以上とすると、研削する部分の領域が
狭くなるため、訂正処理可能なエラーレートの平均値が
異なる記録信号部分の数が減少してしまう。このため、
検査用メディアの訂正処理可能なエラーのレート平均値
が段階的に変化している記録信号部分を再生して、それ
ぞれの記録信号を比較し記録信号の良否を判定する際
に、各ディスクドライブの再生能力を粗く把握してしま
う。

【００５８】（実施例）以下、実施例を用いて本発明を
具体的に説明する。

【００５９】検査用光記録媒体に使用した相変化型光記
録媒体は、幅０．５μｍ、深さ３５ｎｍの案内溝を有す
る１．２ｍｍ厚のポリカーボネート基板を成型し、この
基板上に第１保護層、記録層、第２保護層および反射放
熱層を順次スパッタ法により積層したものである。第１
保護層および第２保護層にはＺｎＳ−ＳｉＯ₂が用いら
れ、膜厚はそれぞれ９０ｎｍ、３０ｎｍであり、記録層
の組成はＡｇ_4.0Ｉｎ _6.0Ｓｂ_61.0Ｔｅ_29.0、膜厚は１
８ｎｍとした。反射放熱層にはアルミニウム合金を使用
し、基板／ＺｎＳ−ＳｉＯ₂（９０ｎｍ）／Ａｇ_4.0Ｉ
ｎ_6.0Ｓｂ_61.0Ｔｅ_29.0（１８ｎｍ）／ＺｎＳ−ＳｉＯ
₂（３０ｎｍ）／Ａｌ合金（１４０ｎｍ）という層構成
を形成した。

【００６０】さらに、紫外線硬化樹脂のスピンコートに
よるオーバーコート、ハードコートを形成した。該光記
録媒体は大口径ＬＤを有する初期化装置によって、光記
録媒体の記録層の全面結晶化処理を施した。さらに、オ
ーバーコート層上に印刷層を形成した。

【００６１】この相変化型光記録媒体を、図３に示した
ような記録線速度４．８ｍ／ｓ、ならびにｍｐ部のデュ
ーティ比０．６２５を持つパルス波で全面記録した。

【００６２】この記録に用いた光記録装置は、図４に示
すようなレーザー駆動回路、記録パワー設定回路、スピ
ンドルモーターからなる駆動部、および波長７８０ｎ
ｍ、ＮＡ０．５のピックアップを有するものである。

【００６３】記録を行った後、上記光記録媒体の表面の
研削を、図５に示すような駆動部を有し、水平一直線方
向にスライドする台を持つ装置を使用して行った。

【００６４】スライド台上に光記録媒体を固定し、光記
録媒体のレーベル面上を研削する半径位置の始点にダイ
ヤモンド製針状物体を合致させ、該光記録媒体を含むス
ライド台を内周から外周方向へ一直線上に毎秒１ｍｍの
速さで移動させることによりレーベル面の研削を行っ
た。表１に示すように、光記録媒体の各半径位置に対す
る針状物体の加重を段階的に変化させ、研削部分と無研
削部分とが連続するように研磨した。

【００６５】それぞれの加重で研削した位置に対応する
ＡＴＩＰＴｉｍｅ範囲、具体的には、研削範囲の中間
点に対応するＡＴＩＰＴｉｍｅを中心とする１分間分
の記録信号を線速１．２ｍ／ｓで７段階分再生した結
果、表１に示すように、Ｃ１エラーレートの１分間の平
均値が針状物体の加重の増加に伴って、段階的に細かく
増加していくディスクを作製することができた。

【００６６】また、光記録媒体の異なる加重による研削
領域に対応する記録部分を７段階それぞれ再生すること
により、光記録媒体生産ラインの検査工程に使用される
ディスクドライブが持つエラー読み取り能力の検査をよ
り詳細に行うことが可能となった。さらに再生用レーザ
ーパワーの微調整に使用することができた。即ち、標準
の検査用光記録媒体として利用することが可能であっ
た。

【００６７】

【表１】

【００６８】

【発明の効果】本発明によれば、少なくとも相変化型記
録層を有する光記録媒体を使用し、記録後に光記録媒体
のレーベル面を針状物体により研削し、同時に針状物体
の加重を段階的に変化させていくことにより、記録され
た信号領域における訂正処理可能なエラーのレート平均
値が段階的に変化する光記録媒体を作製することができ
る。

【００６９】また、上記光記録媒体の訂正処理可能なエ
ラーのレート平均値が段階的に変化する信号領域を保持
させることにより、ディスクドライブの検査を行う上で
最適な標準ディスク（光記録媒体）となりうる。具体的
にはこの検査用光記録媒体を用いることで、ドライブの
再生能力を詳細に把握することやドライブの再生レーザ
ーパワーの微調整を実施することが可能となる。

【００７０】また、研削の起点より半径方向に２〜３ｍ
ｍの一定長研削して記録信号部分を作製し、隣接する研
削部分（記録信号部分）間に１〜２ｍｍの無研削部分を
設けることで、ドライブの再生能力を詳細に把握可能と
なり、また、ドライブの再生レーザーパワーの微調整が
可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】相変化型光記録媒体の層構成例を示す。

【図２】記録パルス波形例を示す。

【図３】本発明による光記録媒体の記録パルス波形例で
ある。

【図４】本発明による記録再生装置の構成例を示す。

【図５】本発明による光記録媒体のレーベル面研削装置
の構成例を示す。

【符号の説明】

１基板２第１保護層３記録層４第２保護層５反射放熱層６オーバーコート層７印刷層８ハードコート層

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】円盤状の基板上に少なくとも相変化型記
録層を有する光記録媒体において、記録された信号領域
における訂正処理が可能なエラーのレート平均値が段階
的に変化していることを特徴とする検査用光記録媒体。
【請求項２】記録された信号領域における訂正処理が
可能なエラーのレート平均値が、５〜１０段階にわたっ
て変化する請求項１に記載の検査用光記録媒体。
【請求項３】円盤状の基板上に少なくとも相変化型記
録層を有する光記録媒体において、エラー処理が施され
た記録信号領域が複数設けられたことを特徴とする検査
用光記録媒体。
【請求項４】各記録信号領域のエラーのレート平均値
は、ディスクドライブが訂正処理可能な範囲の値であ
り、それぞれ異なるエラーのレート平均値を有すること
を特徴とする請求項３記載の検査用光記録媒体。
【請求項５】各記録信号領域は、基板の直径方向の幅
が２ｍｍ以上３ｍｍ以下であることを特徴とする請求項
３または４記載の検査用光記録媒体。
【請求項６】各記録信号領域間には、エラーが顕著で
ない無研削部分が設けられたことを特徴とする請求項３
から５のいずれかに記載の検査用光記録媒体。
【請求項７】前記無研削部分の基板の直径方向の幅
は、１ｍｍ以上２ｍｍ以下であることを特徴とする請求
項６記載の検査用光記録媒体。
【請求項８】レーザー光を光記録媒体に照射して光記
録媒体の記録層に相変化を生じさせて情報を記録し、情
報を記録された光記録媒体の表面を針状物体で研削し
て、しかもこの研削を該針状物体の加重を段階的に変化
させて行うことにより、該光記録媒体中の信号領域にお
ける訂正処理が可能なエラーのレート平均値が段階的に
変化していくようにすることを特徴とする検査用光記録
媒体の作製方法。
【請求項９】前記光記録媒体中の記録された信号領域
における訂正処理が可能なエラーのレート平均値が、５
〜１０段階にわたって変化していくようにする請求項８
に記載の検査用光記録媒体の作製方法。
【請求項１０】レーザー光を光記録媒体に照射して該
媒体の記録層に相変化を生じさせて情報を記録するステ
ップと、前記光記録媒体のレーベル面の記録信号領域の研削基点
に針状物体の研削部分を接するステップと、前記針状物体から光記録媒体側へ圧力を印加し、前記針
状物体を前記光記録媒体に対して相対的に移動させて、
ディスクドライブが前記記録層に記録された情報を解読
可能な範囲のレート平均値内のエラーを有する記録信号
領域を作製するステップとを有し、前記記録媒体上に複数の記録信号領域を作製することを
特徴とする検査用光記録媒体の作製方法。
【請求項１１】前記針状物体を前記研削基点から前記
光記録媒体の半径方向に一定長移動させて記録信号領域
中にエラーレート平均値が異なる部分を複数作成するこ
とを特徴とする請求項１０に記載の検査用光記録媒体の
作製方法。
【請求項１２】前記針状物体を前記研削基点から前記
光記録媒体の半径方向に２ｍｍ以上３ｍｍ以下の範囲で
移動させて記録信号領域中にエラーレート平均値が異な
る部分を複数作成することを特徴とする請求項１０に記
載の検査用光記録媒体の作製方法。
【請求項１３】各記録信号領域間には所定の距離以上
の無研削部分を設けることを特徴とする請求項１０から
１２のいずれかに記載の検索用光記録媒体の作製方法。
【請求項１４】各記録信号領域間には１ｍｍ以上２ｍ
ｍ以下の距離の無研削部分を設けることを特徴とする請
求項１０から１２のいずれかに記載の検索用光記録媒体
の作製方法。
【請求項１５】予め記録パワーとパルス幅が設定され
たディスクドライブにより記録および書き換えが行われ
た光記録媒体の訂正処理が可能なエラーのレート平均値
が変化している各段階部分を再生し、各段階部分の記録
信号を比較してその良否を判定することによりディスク
ドライブの再生能力を検査することを特徴とするディス
クドライブ検査方法。
【請求項１６】前記訂正処理が可能なエラーのレート
平均値が変化している各段階部分が、５〜１０段階であ
る請求項１５に記載のディスクドライブ検査方法。