JP2002359176A - 照明装置、照明制御方法、露光装置、デバイス製造方法及びデバイス - Google Patents
照明装置、照明制御方法、露光装置、デバイス製造方法及びデバイスInfo
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- JP2002359176A JP2002359176A JP2001164734A JP2001164734A JP2002359176A JP 2002359176 A JP2002359176 A JP 2002359176A JP 2001164734 A JP2001164734 A JP 2001164734A JP 2001164734 A JP2001164734 A JP 2001164734A JP 2002359176 A JP2002359176 A JP 2002359176A
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70075—Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection
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- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70091—Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
- G03F7/70108—Off-axis setting using a light-guiding element, e.g. diffractive optical elements [DOEs] or light guides
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 各々異なる最適な照明条件を有する複数種類
のパターンが描画されたマスクを高品質で露光可能な照
明装置、照明制御方法、露光装置、デバイス製造方法及
びデバイスを提供する。 【解決手段】 光源からの光をオプティカルインテグレ
ータに入射させ、該オプティカルインテグレータを構成
する複数の光学系からの複数の光束により被照明面を照
明する照明装置において、前記複数の光学系の光入射面
位置と前記マスク又はレチクルのパターンの位置とは光
学的に共役な関係にあり、前記複数の光学系のうちの少
なくとも一部の光学系に入射する光の前記光入射面での
光特性に分布を与えることによって前記マスク又はレチ
クルのパターンの互いに異なる領域を互いに異なる照明
条件で照明できることを特徴とする照明装置を提供す
る。
のパターンが描画されたマスクを高品質で露光可能な照
明装置、照明制御方法、露光装置、デバイス製造方法及
びデバイスを提供する。 【解決手段】 光源からの光をオプティカルインテグレ
ータに入射させ、該オプティカルインテグレータを構成
する複数の光学系からの複数の光束により被照明面を照
明する照明装置において、前記複数の光学系の光入射面
位置と前記マスク又はレチクルのパターンの位置とは光
学的に共役な関係にあり、前記複数の光学系のうちの少
なくとも一部の光学系に入射する光の前記光入射面での
光特性に分布を与えることによって前記マスク又はレチ
クルのパターンの互いに異なる領域を互いに異なる照明
条件で照明できることを特徴とする照明装置を提供す
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般には、照明装
置に関し、特に、半導体素子、液晶表示素子、撮像素子
(CCD等)または薄膜磁気ヘッド等を製造するための
リソグラフィ工程に使用される露光装置において、パタ
ーンが描画されたマスク又はレチクル(なお、本出願で
はこれらの用語を交換可能に使用する)を照明する照明
装置に関する。
置に関し、特に、半導体素子、液晶表示素子、撮像素子
(CCD等)または薄膜磁気ヘッド等を製造するための
リソグラフィ工程に使用される露光装置において、パタ
ーンが描画されたマスク又はレチクル(なお、本出願で
はこれらの用語を交換可能に使用する)を照明する照明
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の回路パターンの微細化と高集積化
からウェハには0.3μm以下の解像線幅が要求され、
かかる要求に応えるためにリソグラフィ工程には投影露
光装置が主に使用されている。投影露光装置は、一般
に、マスクを照明する照明光学系と、マスクと被処理体
との間に配置されて照明されたマスクの回路パターンを
被処理体に投影する投影光学系とを有する。照明光学系
は、光源からの光束をハエの目レンズなどのオプティカ
ルインテグレータに導入し、その射出面を2次光源面と
してコンデンサーレンズを利用してマスク面を均一にケ
ーラー照明する。
からウェハには0.3μm以下の解像線幅が要求され、
かかる要求に応えるためにリソグラフィ工程には投影露
光装置が主に使用されている。投影露光装置は、一般
に、マスクを照明する照明光学系と、マスクと被処理体
との間に配置されて照明されたマスクの回路パターンを
被処理体に投影する投影光学系とを有する。照明光学系
は、光源からの光束をハエの目レンズなどのオプティカ
ルインテグレータに導入し、その射出面を2次光源面と
してコンデンサーレンズを利用してマスク面を均一にケ
ーラー照明する。
【0003】回路パターンは、近接した周期的な線状パ
ターンであるラインアンドスペースパターンと、近接し
た周期的なホール状パターンであるコンタクトホールパ
ターンと、近接しておらず孤立とみなすことができる孤
立パターンとに分類できる。高解像度でパターンを転写
するためには、パターンの種類に応じて最適な露光条件
(照明条件や露光量など)を選択する必要がある。露光
条件は、例えば、照明条件や露光量などを含み、照明条
件はコヒーレンシーσを含む。コヒーレンシーσは投影
光学系のマスク側の開口数(NA)に対する照明光学系
のマスク側のNAであり、投影露光装置は、一般に、0
<σ<1のパーシャルコヒーレント照明を使用する。
ターンであるラインアンドスペースパターンと、近接し
た周期的なホール状パターンであるコンタクトホールパ
ターンと、近接しておらず孤立とみなすことができる孤
立パターンとに分類できる。高解像度でパターンを転写
するためには、パターンの種類に応じて最適な露光条件
(照明条件や露光量など)を選択する必要がある。露光
条件は、例えば、照明条件や露光量などを含み、照明条
件はコヒーレンシーσを含む。コヒーレンシーσは投影
光学系のマスク側の開口数(NA)に対する照明光学系
のマスク側のNAであり、投影露光装置は、一般に、0
<σ<1のパーシャルコヒーレント照明を使用する。
【0004】ラインアンドスペースパターンには、比較
的小さいσの照明と位相シフトマスク、又は、変形照明
とバイナリマスクの組み合わせが適している。なお、変
形照明は、Off−Axis照明、斜入射照明などとも
呼ばれ、有効光源分布を輪帯や四重極形状にして、マス
クを斜入射光で照明する技術である。一方、コンタクト
ホールパターンや孤立パターンには、比較的大きなσの
照明とハーフトーンマスク又はバイナリマスクの組み合
わせが適している。
的小さいσの照明と位相シフトマスク、又は、変形照明
とバイナリマスクの組み合わせが適している。なお、変
形照明は、Off−Axis照明、斜入射照明などとも
呼ばれ、有効光源分布を輪帯や四重極形状にして、マス
クを斜入射光で照明する技術である。一方、コンタクト
ホールパターンや孤立パターンには、比較的大きなσの
照明とハーフトーンマスク又はバイナリマスクの組み合
わせが適している。
【0005】マスクパターンに応じてマスクパターン全
体に対するコヒーレンシーσを変更することは従来から
既に提案されており、これは例えば、照明光学系の通常
オプティカルインテグレータの直後に配置される開口絞
りを円形開口絞りや輪帯開口絞りなどによって切り替え
可能に構成することによって達成することができる。
体に対するコヒーレンシーσを変更することは従来から
既に提案されており、これは例えば、照明光学系の通常
オプティカルインテグレータの直後に配置される開口絞
りを円形開口絞りや輪帯開口絞りなどによって切り替え
可能に構成することによって達成することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】近年の半導体産業は、
従来のDRAM等のメモリーチップから、より高付加価
値な、メモリーパターンとロジックパターンとが一のチ
ップに混在するシステムチップに生産が移行しつつあ
る。メモリーパターンはパターン密度が高く、ラインア
ンドスペース状のパターンが主であるため、比較的小さ
なσ又は輪帯照明が適している。一方、ロジックパター
ンはパターン密度が低く、孤立状のパターンが主である
ため、比較的大きなσでの照明が適している。システム
チップを製造するにはマスクパターンもメモリーパター
ンとロジックパターンを混在させる必要がある。
従来のDRAM等のメモリーチップから、より高付加価
値な、メモリーパターンとロジックパターンとが一のチ
ップに混在するシステムチップに生産が移行しつつあ
る。メモリーパターンはパターン密度が高く、ラインア
ンドスペース状のパターンが主であるため、比較的小さ
なσ又は輪帯照明が適している。一方、ロジックパター
ンはパターン密度が低く、孤立状のパターンが主である
ため、比較的大きなσでの照明が適している。システム
チップを製造するにはマスクパターンもメモリーパター
ンとロジックパターンを混在させる必要がある。
【0007】しかし、従来の構成はマスク面の照明条件
を部分的に変更することができなかったため、両パター
ンが混在するマスクをいずれかのパターンに適した照明
条件で照明しなければならず、リソグラフィ工程の最適
化が困難であり、所望の解像度が得られなかった。
を部分的に変更することができなかったため、両パター
ンが混在するマスクをいずれかのパターンに適した照明
条件で照明しなければならず、リソグラフィ工程の最適
化が困難であり、所望の解像度が得られなかった。
【0008】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明は、各々
異なる最適な照明条件を有する複数種類のパターンが描
画されたマスクを高品質で露光可能な照明装置及び照明
制御方法、露光装置、デバイス製造方法及びデバイスを
提供することを例示的目的とする。
異なる最適な照明条件を有する複数種類のパターンが描
画されたマスクを高品質で露光可能な照明装置及び照明
制御方法、露光装置、デバイス製造方法及びデバイスを
提供することを例示的目的とする。
【0009】上記目的を達成するために、本発明の一側
面としての照明装置は、光源からの光をオプティカルイ
ンテグレータに入射させ、該オプティカルインテグレー
タを構成する複数の光学系からの複数の光束により被照
明面を照明する照明装置において、前記複数の光学系の
光入射面位置と前記マスク又はレチクルのパターンの位
置とは光学的に共役な関係にあり、前記複数の光学系の
うちの少なくとも一部の光学系に入射する光の前記光入
射面での光特性に分布を与えることによって前記マスク
又はレチクルのパターンの互いに異なる領域を互いに異
なる照明条件で照明できることを特徴とする。かかる照
明装置は、異なる領域を、異なる照明条件(例えば、オ
プティカルインテグレータの光出射側に形成される有効
光源の形状及び/又は大きさ、偏光、照度、位相など)
で照明する。例えば、マスクの一つの領域がラインアン
ドスペース状のパターンであれば小さな有効光源、互い
に異なる領域が孤立状のパターンであれば大きな有効光
源の照明光を提供することを可能とする。
面としての照明装置は、光源からの光をオプティカルイ
ンテグレータに入射させ、該オプティカルインテグレー
タを構成する複数の光学系からの複数の光束により被照
明面を照明する照明装置において、前記複数の光学系の
光入射面位置と前記マスク又はレチクルのパターンの位
置とは光学的に共役な関係にあり、前記複数の光学系の
うちの少なくとも一部の光学系に入射する光の前記光入
射面での光特性に分布を与えることによって前記マスク
又はレチクルのパターンの互いに異なる領域を互いに異
なる照明条件で照明できることを特徴とする。かかる照
明装置は、異なる領域を、異なる照明条件(例えば、オ
プティカルインテグレータの光出射側に形成される有効
光源の形状及び/又は大きさ、偏光、照度、位相など)
で照明する。例えば、マスクの一つの領域がラインアン
ドスペース状のパターンであれば小さな有効光源、互い
に異なる領域が孤立状のパターンであれば大きな有効光
源の照明光を提供することを可能とする。
【0010】本発明の別の側面としての露光装置は、光
源からの光をオプティカルインテグレータに入射させ、
該オプティカルインテグレータを構成する複数の光学系
からの複数の光束によりマスク又はレチクルを照明し、
該マスク又はレチクルのパターンを投影光学系により被
処理体上に投影する投影露光装置において、前記複数の
光学系の光入射面位置と前記マスク又はレチクルのパタ
ーンの位置とは光学的に共役な関係にあり、前記複数の
光学系のうちの少なくとも一部の光学系に入射する光の
前記光入射面での光特性に分布を与えることによって前
記マスク又はレチクルのパターンの互いに異なる領域を
互いに異なる照明条件で照明できることを特徴とする。
かかる投影露光装置は、上述の照明装置と同様の作用を
奏する。前記照明装置又は露光装置は、前記光特性の光
強度分布を形成する遮光パターン、前記光特性の偏光分
布を形成する偏光パターン、前記光特性の光強度分布を
形成する減光パターン、前記光特性の位相分布を形成す
る位相シフトパターンなどを有して光特性を可変にする
ことを可能とする。前記照明装置又は露光装置は、前記
光特性の分布を可変にするための複数の前記照明制御部
材を有し、この中から前記マスク又はレチクルのパター
ンに応じた部材を選択する制御装置を更に有する。かか
る制御装置は、マスクのパターンの互いに異なる領域に
応じて最適な照明制御部材を選択する。前記照明装置又
は露光装置は、前記マスクを照明するための照明光を均
一化するオプティカルインテグレータを有し、前記照明
制御部材は、前記オプティカルインテグレータの入射側
に配置されている。
源からの光をオプティカルインテグレータに入射させ、
該オプティカルインテグレータを構成する複数の光学系
からの複数の光束によりマスク又はレチクルを照明し、
該マスク又はレチクルのパターンを投影光学系により被
処理体上に投影する投影露光装置において、前記複数の
光学系の光入射面位置と前記マスク又はレチクルのパタ
ーンの位置とは光学的に共役な関係にあり、前記複数の
光学系のうちの少なくとも一部の光学系に入射する光の
前記光入射面での光特性に分布を与えることによって前
記マスク又はレチクルのパターンの互いに異なる領域を
互いに異なる照明条件で照明できることを特徴とする。
かかる投影露光装置は、上述の照明装置と同様の作用を
奏する。前記照明装置又は露光装置は、前記光特性の光
強度分布を形成する遮光パターン、前記光特性の偏光分
布を形成する偏光パターン、前記光特性の光強度分布を
形成する減光パターン、前記光特性の位相分布を形成す
る位相シフトパターンなどを有して光特性を可変にする
ことを可能とする。前記照明装置又は露光装置は、前記
光特性の分布を可変にするための複数の前記照明制御部
材を有し、この中から前記マスク又はレチクルのパター
ンに応じた部材を選択する制御装置を更に有する。かか
る制御装置は、マスクのパターンの互いに異なる領域に
応じて最適な照明制御部材を選択する。前記照明装置又
は露光装置は、前記マスクを照明するための照明光を均
一化するオプティカルインテグレータを有し、前記照明
制御部材は、前記オプティカルインテグレータの入射側
に配置されている。
【0011】本発明の更に別の側面としてのデバイス製
造方法は、上述の照明装置又は投影露光装置を用いて被
処理体をデバイスパターンで露光するステップと、前記
露光された被処理体に所定のプロセスを行うステップと
を有する。上述の照明装置又は露光装置の作用と同様の
作用を奏するデバイス製造方法は、中間及びその最終結
果物であるデバイス自体にもその効力が及ぶ。また、か
かるデバイスは、例えば、例えば、システムLSIなど
の半導体チップ、CCD、LCD、磁気センサー、薄膜
磁気ヘッドなどを含む。
造方法は、上述の照明装置又は投影露光装置を用いて被
処理体をデバイスパターンで露光するステップと、前記
露光された被処理体に所定のプロセスを行うステップと
を有する。上述の照明装置又は露光装置の作用と同様の
作用を奏するデバイス製造方法は、中間及びその最終結
果物であるデバイス自体にもその効力が及ぶ。また、か
かるデバイスは、例えば、例えば、システムLSIなど
の半導体チップ、CCD、LCD、磁気センサー、薄膜
磁気ヘッドなどを含む。
【0012】本発明の別の側面としての照明制御方法
は、異なる照明条件を必要とする複数種類のパターンが
各々形成されたパターン領域からなるマスクを各々照明
可能な複数の照明制御部材の中から所望の照明制御部材
を選択するステップであって、各照明制御部材は前記パ
ターン領域ごとに異なる照明条件で前記マスクを照明す
る複数の照明領域を同一平面状に有し、前記所望の照明
制御部材の前記照明領域は前記複数の照明制御部材の中
で前記パターン領域に最も適した照明条件を与えるステ
ップと、当該照明制御部材を介して前記マスクを照明す
るステップとを有する。かかる方法も、マスクが複数種
類のパターンを有する場合に各パターンに最適な照明条
件を与える照明領域を有する照明制御部材を計算・選択
して当該照明制御部材によりマスクを高品質で照明す
る。
は、異なる照明条件を必要とする複数種類のパターンが
各々形成されたパターン領域からなるマスクを各々照明
可能な複数の照明制御部材の中から所望の照明制御部材
を選択するステップであって、各照明制御部材は前記パ
ターン領域ごとに異なる照明条件で前記マスクを照明す
る複数の照明領域を同一平面状に有し、前記所望の照明
制御部材の前記照明領域は前記複数の照明制御部材の中
で前記パターン領域に最も適した照明条件を与えるステ
ップと、当該照明制御部材を介して前記マスクを照明す
るステップとを有する。かかる方法も、マスクが複数種
類のパターンを有する場合に各パターンに最適な照明条
件を与える照明領域を有する照明制御部材を計算・選択
して当該照明制御部材によりマスクを高品質で照明す
る。
【0013】本発明の更なる目的又はその他の特徴は、
以下添付図面を参照して説明される好ましい実施例によ
って明らかにされるであろう。
以下添付図面を参照して説明される好ましい実施例によ
って明らかにされるであろう。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の例示的一様態である露光装置1について説明する。こ
こで、図1は、本発明の露光装置1の概略断面図であ
る。露光装置1は、図1に示すように、転写用の回路パ
ターンが形成されたマスク10と、プレート30と、マ
スク10を照明する照明装置100と、投影光学系30
0とを有する。本発明の露光装置1は、プレート30が
メモリーパターンとロジックパターンとが一のチップに
混在するシステムチップを製造するのに使用されるウェ
ハである場合に、特に効果的である。但し、本発明の露
光装置1はメモリーチップを製造するための露光工程に
適用されることを妨げるものではない。
の例示的一様態である露光装置1について説明する。こ
こで、図1は、本発明の露光装置1の概略断面図であ
る。露光装置1は、図1に示すように、転写用の回路パ
ターンが形成されたマスク10と、プレート30と、マ
スク10を照明する照明装置100と、投影光学系30
0とを有する。本発明の露光装置1は、プレート30が
メモリーパターンとロジックパターンとが一のチップに
混在するシステムチップを製造するのに使用されるウェ
ハである場合に、特に効果的である。但し、本発明の露
光装置1はメモリーチップを製造するための露光工程に
適用されることを妨げるものではない。
【0015】露光装置1は、例えば、ステップアンドリ
ピート方式やステップアンドスキャン方式でマスク10
に形成された回路パターンをプレート30に露光する投
影露光装置である。かかる投影露光装置はサブミクロン
やクオーターミクロン以下のリソグラフィ工程に好適で
あり、以下、本実施形態ではステップアンドスキャン方
式の露光装置(「ステッパー」とも呼ばれる)を例に説
明する。ここで、「ステップアンドリピート方式」はウ
ェハのショットの一括露光ごとにウェハをステップ移動
させて次のショットを露光領域に移動させる露光法をい
う。「ステップアンドスキャン方式」は、マスクに対し
てウェハを連続的にスキャンさせてマスクのパターンを
ウェハに露光すると共に、1ショットの露光終了後ウェ
ハをステップ移動させて、次のショットの露光領域に移
動させる露光法をいう。
ピート方式やステップアンドスキャン方式でマスク10
に形成された回路パターンをプレート30に露光する投
影露光装置である。かかる投影露光装置はサブミクロン
やクオーターミクロン以下のリソグラフィ工程に好適で
あり、以下、本実施形態ではステップアンドスキャン方
式の露光装置(「ステッパー」とも呼ばれる)を例に説
明する。ここで、「ステップアンドリピート方式」はウ
ェハのショットの一括露光ごとにウェハをステップ移動
させて次のショットを露光領域に移動させる露光法をい
う。「ステップアンドスキャン方式」は、マスクに対し
てウェハを連続的にスキャンさせてマスクのパターンを
ウェハに露光すると共に、1ショットの露光終了後ウェ
ハをステップ移動させて、次のショットの露光領域に移
動させる露光法をいう。
【0016】マスク10は、例えば、石英製で、その上
には転写されるべき回路パターン(又は像)が形成さ
れ、図示しない第1のステージ(「レチクルステージ」
と呼ばれる場合もある)に支持される。マスク10から
発せられた回折光は投影光学系300を通りプレート3
0上に投影される。本実施形態ではプレート30はシス
テムチップを製造するのに使用されるウェハで、マスク
10にも複数種類の回路パターンが混在している。
には転写されるべき回路パターン(又は像)が形成さ
れ、図示しない第1のステージ(「レチクルステージ」
と呼ばれる場合もある)に支持される。マスク10から
発せられた回折光は投影光学系300を通りプレート3
0上に投影される。本実施形態ではプレート30はシス
テムチップを製造するのに使用されるウェハで、マスク
10にも複数種類の回路パターンが混在している。
【0017】図2に、マスク10の概略平面図を示す。
同図を参照するに、マスク10は、メモリーパターン1
1が形成された右側のパターン領域12と、ロジックパ
ターン13が形成された左側のパターン領域14とから
構成されている。メモリーパターン11はパターン密度
が高く、ラインアンドスペース状のパターンが主である
ため、比較的小さなコヒーレンシーσ又は輪帯照明が適
している。一方、ロジックパターン13はパターン密度
が低く、孤立状のパターンが主であるため、比較的大き
なコヒーレンシーσでの照明が適している。このよう
に、本実施形態のマスク10は各々異なる照明条件を必
要とする複数種類のパターン領域12及び14から構成
されている。
同図を参照するに、マスク10は、メモリーパターン1
1が形成された右側のパターン領域12と、ロジックパ
ターン13が形成された左側のパターン領域14とから
構成されている。メモリーパターン11はパターン密度
が高く、ラインアンドスペース状のパターンが主である
ため、比較的小さなコヒーレンシーσ又は輪帯照明が適
している。一方、ロジックパターン13はパターン密度
が低く、孤立状のパターンが主であるため、比較的大き
なコヒーレンシーσでの照明が適している。このよう
に、本実施形態のマスク10は各々異なる照明条件を必
要とする複数種類のパターン領域12及び14から構成
されている。
【0018】プレート30はウェハや液晶基板などの被
処理体である。プレート30にはフォトレジストが塗布
されている。フォトレジスト塗布工程は、前処理と、密
着性向上剤塗布処理と、フォトレジスト塗布処理と、プ
リベーク処理とを含む。前処理は洗浄、乾燥などを含
む。密着性向上剤塗布処理は、フォトレジストと下地と
の密着性を高めるための表面改質(即ち、界面活性剤塗
布による疎水性化)処理であり、HMDS(Hexam
ethyl−disilazane)などの有機膜をコ
ート又は蒸気処理する。プリベークはベーキング(焼
成)工程であるが現像後のそれよりもソフトであり、溶
剤を除去する。
処理体である。プレート30にはフォトレジストが塗布
されている。フォトレジスト塗布工程は、前処理と、密
着性向上剤塗布処理と、フォトレジスト塗布処理と、プ
リベーク処理とを含む。前処理は洗浄、乾燥などを含
む。密着性向上剤塗布処理は、フォトレジストと下地と
の密着性を高めるための表面改質(即ち、界面活性剤塗
布による疎水性化)処理であり、HMDS(Hexam
ethyl−disilazane)などの有機膜をコ
ート又は蒸気処理する。プリベークはベーキング(焼
成)工程であるが現像後のそれよりもソフトであり、溶
剤を除去する。
【0019】プレート30は図示しない第2のステージ
(「ウェハステージ」と呼ばれる場合もある)に支持さ
れる。第2のステージは、当業界で周知のいかなる構成
をも適用することができるので、ここでは詳しい構造及
び動作の説明は省略する。例えば、第2のステージはリ
ニアモータを利用してXY方向にプレート30を移動す
る。マスク10とプレート30は、例えば、同期して走
査され、第1及び第2のステージの位置は、例えば、レ
ーザー干渉計などにより監視され、両者は一定の速度比
率で駆動される。第2のステージは、例えば、ダンパを
介して床等の上に支持されるステージ定盤上に設けら
れ、第1のステージ及び投影光学系300は、例えば、
鏡筒定盤は床等に載置されたベースフレーム上にダンパ
等を介して支持される図示しない鏡筒定盤上に設けられ
る。
(「ウェハステージ」と呼ばれる場合もある)に支持さ
れる。第2のステージは、当業界で周知のいかなる構成
をも適用することができるので、ここでは詳しい構造及
び動作の説明は省略する。例えば、第2のステージはリ
ニアモータを利用してXY方向にプレート30を移動す
る。マスク10とプレート30は、例えば、同期して走
査され、第1及び第2のステージの位置は、例えば、レ
ーザー干渉計などにより監視され、両者は一定の速度比
率で駆動される。第2のステージは、例えば、ダンパを
介して床等の上に支持されるステージ定盤上に設けら
れ、第1のステージ及び投影光学系300は、例えば、
鏡筒定盤は床等に載置されたベースフレーム上にダンパ
等を介して支持される図示しない鏡筒定盤上に設けられ
る。
【0020】照明装置100は転写用の回路パターン1
1及び13が形成されたマスク10を照明し、光源部1
10と、照明光学系120と、照明光学系120の後述
する照明制御部材200を制御する照明制御部170と
を有する。
1及び13が形成されたマスク10を照明し、光源部1
10と、照明光学系120と、照明光学系120の後述
する照明制御部材200を制御する照明制御部170と
を有する。
【0021】光源部110は、光源としてのレーザー1
12と、ビーム整形系114とを含む。
12と、ビーム整形系114とを含む。
【0022】レーザー112は、波長約193nmのA
rFエキシマレーザー、波長約248nmのKrFエキ
シマレーザー、波長約157nmのF2エキシマレーザ
ーなどを使用することができる。但し、レーザーの種類
はエキシマレーザーに限定されず、例えば、YAGレー
ザーを使用してもよいし、そのレーザーの個数も限定さ
れない。例えば、独立に動作する2個の固体レーザーを
使用すれば固体レーザー相互間のコヒーレンスはなく、
コヒーレンスに起因するスペックルはかなり低減する。
さらにスペックルを低減するために光学系を直線的又は
回転的に揺動させてもよい。また、光源部110に使用
可能な光源はレーザー112に限定されるものではな
く、一又は複数の水銀ランプやキセノンランプなどのラ
ンプも使用可能である。
rFエキシマレーザー、波長約248nmのKrFエキ
シマレーザー、波長約157nmのF2エキシマレーザ
ーなどを使用することができる。但し、レーザーの種類
はエキシマレーザーに限定されず、例えば、YAGレー
ザーを使用してもよいし、そのレーザーの個数も限定さ
れない。例えば、独立に動作する2個の固体レーザーを
使用すれば固体レーザー相互間のコヒーレンスはなく、
コヒーレンスに起因するスペックルはかなり低減する。
さらにスペックルを低減するために光学系を直線的又は
回転的に揺動させてもよい。また、光源部110に使用
可能な光源はレーザー112に限定されるものではな
く、一又は複数の水銀ランプやキセノンランプなどのラ
ンプも使用可能である。
【0023】ビーム整形系114は、例えば、複数のシ
リンドリカルレンズを備えるビームエクスパンダ等を使
用することができ、レーザー112からの平行光の断面
形状の寸法の縦横比率を所望の値に変換する(例えば、
断面形状を長方形から正方形にするなど)ことによりビ
ーム形状を所望のものに成形する。ビーム成形系114
は、後述するハエの目レンズを照明するのに必要な大き
さと発散角を持つ光束を形成する。
リンドリカルレンズを備えるビームエクスパンダ等を使
用することができ、レーザー112からの平行光の断面
形状の寸法の縦横比率を所望の値に変換する(例えば、
断面形状を長方形から正方形にするなど)ことによりビ
ーム形状を所望のものに成形する。ビーム成形系114
は、後述するハエの目レンズを照明するのに必要な大き
さと発散角を持つ光束を形成する。
【0024】また、図1には示されていないが、光源部
110は、コヒーレントなレーザー光束をインコヒーレ
ント化するインコヒーレント化光学系を使用することが
好ましい。インコヒーレント化光学系は、例えば、公開
特許平成3年第215930号公報の図1に開示されて
いるような、入射光束を光分割面で少なくとも2つの光
束(例えば、p偏光とs偏光)に分岐した後で一方の光
束を光学部材を介して他方の光束に対してレーザー光の
コヒーレンス長以上の光路長差を与えてから分割面に再
誘導して他方の光束と重ね合わせて射出されるようにし
た折り返し系を少なくとも一つ備える光学系を用いるこ
とができる。
110は、コヒーレントなレーザー光束をインコヒーレ
ント化するインコヒーレント化光学系を使用することが
好ましい。インコヒーレント化光学系は、例えば、公開
特許平成3年第215930号公報の図1に開示されて
いるような、入射光束を光分割面で少なくとも2つの光
束(例えば、p偏光とs偏光)に分岐した後で一方の光
束を光学部材を介して他方の光束に対してレーザー光の
コヒーレンス長以上の光路長差を与えてから分割面に再
誘導して他方の光束と重ね合わせて射出されるようにし
た折り返し系を少なくとも一つ備える光学系を用いるこ
とができる。
【0025】照明光学系120は、マスク10を照明す
る光学系であり、本実施例では、照明制御部材200
と、オプティカルインテグレータ130と、開口絞り1
50と、コンデンサーレンズ160とを有する。レーザ
ー112とオプティカルインテグレータ130の入射面
130aとマスク10とウェハ30とが光学的に共役な
関係に維持されている。また、開口絞り150と投影光
学系300の瞳面310とが光学的に共役な関係に維持
されている。
る光学系であり、本実施例では、照明制御部材200
と、オプティカルインテグレータ130と、開口絞り1
50と、コンデンサーレンズ160とを有する。レーザ
ー112とオプティカルインテグレータ130の入射面
130aとマスク10とウェハ30とが光学的に共役な
関係に維持されている。また、開口絞り150と投影光
学系300の瞳面310とが光学的に共役な関係に維持
されている。
【0026】照明制御部材200は、オプティカルイン
テグレータ130の入射面130aの近傍に配置され、
マスク10上の複数の領域12及び14を、パターン1
1及び13を露光するのに最適な異なる照明条件でそれ
ぞれ照明するために照明光を制御する。照明条件は、例
えば、コヒーレンシーσ、偏光、照度、及び/又は、マ
スク10と光学的に共役な位置における照明光の形状と
しての有効光源の形状などを含む。
テグレータ130の入射面130aの近傍に配置され、
マスク10上の複数の領域12及び14を、パターン1
1及び13を露光するのに最適な異なる照明条件でそれ
ぞれ照明するために照明光を制御する。照明条件は、例
えば、コヒーレンシーσ、偏光、照度、及び/又は、マ
スク10と光学的に共役な位置における照明光の形状と
しての有効光源の形状などを含む。
【0027】まず、本実施形態の照明制御部材200
が、メモリーパターン11を有する領域12を小さなコ
ヒーレンシーσで、ロジックパターン13を有する領域
14を大きなコヒーレンシーσで照明する場合について
説明する。
が、メモリーパターン11を有する領域12を小さなコ
ヒーレンシーσで、ロジックパターン13を有する領域
14を大きなコヒーレンシーσで照明する場合について
説明する。
【0028】図3を参照して、照明制御部材200の照
明領域とマスク10のパターン領域12及び14との対
応について説明する。ここで、図3(a)は、照明制御
部材200に円形開口を有する照明制御部材を適用した
場合の光入射側から見た平面図である。照明制御部材2
00は複数の太線で囲まれた領域(以下セルとする)2
40に分割されている。図3(b)は図3(a)に示す
照明制御部材200のセル240の拡大平面図である。
各セル240は、左側照明領域242及び右側照明領域
244に分割されている。
明領域とマスク10のパターン領域12及び14との対
応について説明する。ここで、図3(a)は、照明制御
部材200に円形開口を有する照明制御部材を適用した
場合の光入射側から見た平面図である。照明制御部材2
00は複数の太線で囲まれた領域(以下セルとする)2
40に分割されている。図3(b)は図3(a)に示す
照明制御部材200のセル240の拡大平面図である。
各セル240は、左側照明領域242及び右側照明領域
244に分割されている。
【0029】図3(a)を参照するに、照明制御部材2
00は、半径Rの円である大きなコヒーレンシーσの開
口領域210と、半径rの円である小さなコヒーレンシ
ーσの開口領域220と、遮光部230とを有する。コ
ヒーレンシーσは投影光学系300のマスク10側の開
口数(NA)に対する照明光学系100のマスク10側
のNAである。投影光学系300のマスク10側のNA
は本実施形態では一定で、照明光学系100のマスク1
0側のNAは図3(a)に示す開口の半径に比例するか
らコヒーレンシーσは図3(a)に示す開口の半径(R
やrなど)に比例する。本実施形態では、半径がrより
大きくRまでであればコヒーレンシーσは大きく、半径
がr以下であればコヒーレンシーσは小さいとしてい
る。図3(a)ではr=R/2である。投影露光装置1
はパーシャルコヒーレンシー照明を使用するので、R=
1と置くことができ、r=R/2であるので、本実施形
態では、例示的に、0.5<σ<1であれば大きなコヒ
ーレンシー、0<σ≦0.5であれば小さなコヒーレン
シーであるとしている。
00は、半径Rの円である大きなコヒーレンシーσの開
口領域210と、半径rの円である小さなコヒーレンシ
ーσの開口領域220と、遮光部230とを有する。コ
ヒーレンシーσは投影光学系300のマスク10側の開
口数(NA)に対する照明光学系100のマスク10側
のNAである。投影光学系300のマスク10側のNA
は本実施形態では一定で、照明光学系100のマスク1
0側のNAは図3(a)に示す開口の半径に比例するか
らコヒーレンシーσは図3(a)に示す開口の半径(R
やrなど)に比例する。本実施形態では、半径がrより
大きくRまでであればコヒーレンシーσは大きく、半径
がr以下であればコヒーレンシーσは小さいとしてい
る。図3(a)ではr=R/2である。投影露光装置1
はパーシャルコヒーレンシー照明を使用するので、R=
1と置くことができ、r=R/2であるので、本実施形
態では、例示的に、0.5<σ<1であれば大きなコヒ
ーレンシー、0<σ≦0.5であれば小さなコヒーレン
シーであるとしている。
【0030】各セル240は、後述するオプティカルイ
ンテグレータ130に適用可能なハエの目レンズの各微
小レンズにそれぞれ対応している。従って、ハエの目レ
ンズの微小レンズの大きさを調節することによってセル
240の寸法を変更することができる。照明制御部材2
00はマスク10と光学的にほぼ共役の関係に維持され
ているので、左側照明領域242は右側パターン領域1
2に対応して右側照明領域244は左側パターン領域1
4に対応する。図2に示すマスク10の領域12及び1
4と図3(b)に示す領域242及び244の左右が逆
転しているのは後述するコンデンサレンズ160が倒立
像を形成するためである。コンデンサレンズ160が正
立像を形成することができれば照明制御部材200の対
応する部分も逆転する。
ンテグレータ130に適用可能なハエの目レンズの各微
小レンズにそれぞれ対応している。従って、ハエの目レ
ンズの微小レンズの大きさを調節することによってセル
240の寸法を変更することができる。照明制御部材2
00はマスク10と光学的にほぼ共役の関係に維持され
ているので、左側照明領域242は右側パターン領域1
2に対応して右側照明領域244は左側パターン領域1
4に対応する。図2に示すマスク10の領域12及び1
4と図3(b)に示す領域242及び244の左右が逆
転しているのは後述するコンデンサレンズ160が倒立
像を形成するためである。コンデンサレンズ160が正
立像を形成することができれば照明制御部材200の対
応する部分も逆転する。
【0031】従って、左側領域242を小さなコヒーレ
ンシーσで照明し、右側領域244を大きなコヒーレン
シーσで照明すればマスク10の領域12及び14をそ
れぞれ最適に照明することになることが理解されるであ
ろう。図3(a)に示す全ての領域242及び244は
それぞれ遮光されずに半径Rの円の範囲に広がっている
ので、図3(a)に示す照明制御部材は照明領域242
及び244を共に大きなコヒーレンシーσで照明してい
る。図3(a)に示す照明制御部材は領域12及び14
を同一の大きなコヒーレンシーσで照明するので、コヒ
ーレンシーに関する限り、図1に示す照明制御部材20
0に適用することは好ましくない。本実施形態では、照
明制御部材200は、マスク10の各領域12及び14
を異なる照明条件で照明しなければならない。もっと
も、後述するように照度の調整などその他の照明条件の
調整が照明領域242及び244に対して施されている
場合には図3に示す照明制御部材を使用することができ
る。
ンシーσで照明し、右側領域244を大きなコヒーレン
シーσで照明すればマスク10の領域12及び14をそ
れぞれ最適に照明することになることが理解されるであ
ろう。図3(a)に示す全ての領域242及び244は
それぞれ遮光されずに半径Rの円の範囲に広がっている
ので、図3(a)に示す照明制御部材は照明領域242
及び244を共に大きなコヒーレンシーσで照明してい
る。図3(a)に示す照明制御部材は領域12及び14
を同一の大きなコヒーレンシーσで照明するので、コヒ
ーレンシーに関する限り、図1に示す照明制御部材20
0に適用することは好ましくない。本実施形態では、照
明制御部材200は、マスク10の各領域12及び14
を異なる照明条件で照明しなければならない。もっと
も、後述するように照度の調整などその他の照明条件の
調整が照明領域242及び244に対して施されている
場合には図3に示す照明制御部材を使用することができ
る。
【0032】左側照明領域242を小さなコヒーレンシ
ーσで照明し、右側照明領域244を大きなコヒーレン
シーσで照明するための照明制御部材200の例を図4
及び図5に示す。ここで、図4(a)は、図1に示す照
明制御部材200に適用可能な照明制御部材200Aを
入射側から見た概略平面図であり、図4(b)及び
(c)はその部分拡大平面図である。図5(a)は、図
1に示す照明制御部材200に適用可能な別の例として
の照明制御部材200Bを入射側から見た概略平面図で
あり、図5(b)はその部分拡大平面図である。図4及
び図5に示す例では、照明制御部材200はマスクのパ
ターン領域12及び14に照射される照明光のコヒーレ
ンシーσを変更しているが、これを有効光源の形状(即
ち、投影光学系300の瞳面に現れる形状)として把握
してもよい。即ち、図4及び図5に示す照明制御部材は
パターン領域12及び14に対する有効光源の形状を変
更する例でもある。
ーσで照明し、右側照明領域244を大きなコヒーレン
シーσで照明するための照明制御部材200の例を図4
及び図5に示す。ここで、図4(a)は、図1に示す照
明制御部材200に適用可能な照明制御部材200Aを
入射側から見た概略平面図であり、図4(b)及び
(c)はその部分拡大平面図である。図5(a)は、図
1に示す照明制御部材200に適用可能な別の例として
の照明制御部材200Bを入射側から見た概略平面図で
あり、図5(b)はその部分拡大平面図である。図4及
び図5に示す例では、照明制御部材200はマスクのパ
ターン領域12及び14に照射される照明光のコヒーレ
ンシーσを変更しているが、これを有効光源の形状(即
ち、投影光学系300の瞳面に現れる形状)として把握
してもよい。即ち、図4及び図5に示す照明制御部材は
パターン領域12及び14に対する有効光源の形状を変
更する例でもある。
【0033】図4(a)及び(b)を参照するに、セル
240の左側領域242は、半径rからRまでの輪帯部
分において遮光部232によって遮光されている点で、
照明制御部材200Aは図3に示す照明制御部材と異な
る。一方、セル240の右側領域244は半径Rの円の
範囲に亘って開口している。この結果、領域242は半
径rの円の範囲でのみ開口して小さなコヒーレンシーσ
の照明をもたらし、領域244は半径Rの円の範囲に亘
って開口して大きなコヒーレンシーσの照明をもたら
す。これにより、マスク10の領域12及び14はそれ
ぞれ最適に照明されることが理解されるであろう。な
お、有効光源の形状の観点から見れば、図4(a)及び
(b)は領域12を半径の小さな円の有効光源により照
明し、領域14を半径の大きな円の有効光源により照明
していると考えることができる。
240の左側領域242は、半径rからRまでの輪帯部
分において遮光部232によって遮光されている点で、
照明制御部材200Aは図3に示す照明制御部材と異な
る。一方、セル240の右側領域244は半径Rの円の
範囲に亘って開口している。この結果、領域242は半
径rの円の範囲でのみ開口して小さなコヒーレンシーσ
の照明をもたらし、領域244は半径Rの円の範囲に亘
って開口して大きなコヒーレンシーσの照明をもたら
す。これにより、マスク10の領域12及び14はそれ
ぞれ最適に照明されることが理解されるであろう。な
お、有効光源の形状の観点から見れば、図4(a)及び
(b)は領域12を半径の小さな円の有効光源により照
明し、領域14を半径の大きな円の有効光源により照明
していると考えることができる。
【0034】図4(a)においては半径rの円を形成す
る境界線は遮光部232と交差するため、図4(c)に
示すように、開口部242aと遮光部242bが混在す
る領域242が存在することになる。このため、かかる
領域に関してはマスク10のメモリーパターン11を部
分的に遮光して照明することになって好ましくない。
る境界線は遮光部232と交差するため、図4(c)に
示すように、開口部242aと遮光部242bが混在す
る領域242が存在することになる。このため、かかる
領域に関してはマスク10のメモリーパターン11を部
分的に遮光して照明することになって好ましくない。
【0035】そこで、図5(a)及び(b)に示すよう
に、図4(c)に示す領域242aを遮光部232で覆
ってもよい。代替的に、図示しないが、図4(c)に示
す領域242bの遮光部を開口部に変更してもよい。な
お、図5に示す照明制御部材200Bでは、半径rの境
界線上の照明領域のコヒーレンシーが完全には上述で定
義した「大きい」又は「小さい」範囲から多少外れるが
かかる範囲は本発明の範囲内であるとする。なお、図5
のように半径rの境界線と交差する照明領域の面積を小
さくするには上述したようにオプティカルインテグレー
タ130に適用可能なハエの目レンズの微小レンズの寸
法を小さくすればよい。
に、図4(c)に示す領域242aを遮光部232で覆
ってもよい。代替的に、図示しないが、図4(c)に示
す領域242bの遮光部を開口部に変更してもよい。な
お、図5に示す照明制御部材200Bでは、半径rの境
界線上の照明領域のコヒーレンシーが完全には上述で定
義した「大きい」又は「小さい」範囲から多少外れるが
かかる範囲は本発明の範囲内であるとする。なお、図5
のように半径rの境界線と交差する照明領域の面積を小
さくするには上述したようにオプティカルインテグレー
タ130に適用可能なハエの目レンズの微小レンズの寸
法を小さくすればよい。
【0036】図5(b)は半径rの円と交差する照明領
域について述べているが、半径Rの円と交差する照明領
域についても同様のことが当てはまることが理解される
であろう。但し、この場合にはプティカルインテグレー
タ130にケラレないことが重要となる。
域について述べているが、半径Rの円と交差する照明領
域についても同様のことが当てはまることが理解される
であろう。但し、この場合にはプティカルインテグレー
タ130にケラレないことが重要となる。
【0037】なお、有効光源の形状の観点から見れば、
図5(a)及び(b)は領域12を半径の大きな円の有
効光源により照明し、領域14を半径の小さく、縁がい
びつな円の有効光源により照明していると考えることが
できる。
図5(a)及び(b)は領域12を半径の大きな円の有
効光源により照明し、領域14を半径の小さく、縁がい
びつな円の有効光源により照明していると考えることが
できる。
【0038】以上により、本発明の照明制御部材200
は、メモリーパターン11を有する領域12を小さなコ
ヒーレンシーσで照明し、ロジックパターン13を有す
る領域14を大きなコヒーレンシーσで照明することが
でき、異なる種類のパターンの混在したマスク10を領
域ごとに最適な条件で照明することができる。また、本
発明は二重露光ではなく一の照明制御部材200による
一回の露光でマスク10上の異なるパターン12及び1
4を同時に露光するために装置構成が簡単になり、二重
露光よりも重ねあわせ精度及びスループットも高い。
は、メモリーパターン11を有する領域12を小さなコ
ヒーレンシーσで照明し、ロジックパターン13を有す
る領域14を大きなコヒーレンシーσで照明することが
でき、異なる種類のパターンの混在したマスク10を領
域ごとに最適な条件で照明することができる。また、本
発明は二重露光ではなく一の照明制御部材200による
一回の露光でマスク10上の異なるパターン12及び1
4を同時に露光するために装置構成が簡単になり、二重
露光よりも重ねあわせ精度及びスループットも高い。
【0039】照明制御部材200はそのパターンを変え
ることによって、様々なパターンが混在するマスク10
を領域ごとに異なるコヒーレンシー又は有効光源形状で
照明することができる。例えば、図8は、領域242が
大きなコヒーレンシーσで半径r(=R/2)乃至Rの
輪帯照明、領域244が半径Rの大きなコヒーレンシー
σの円形照明をもたらす照明制御部材200Dの入射側
の概略平面図である。図9は、領域242が大きなコヒ
ーレンシーσで半径r(=2R/3)乃至Rの輪帯照
明、領域244が半径Rの大きなコヒーレンシーσの円
形照明をもたらす照明制御部材200Eの入射側の概略
平面図である。図10は、領域242が小さなコヒーレ
ンシーσで半径rの円形照明、領域244が半径r(=
R/2)乃至Rの大きなコヒーレンシーσの輪帯照明を
もたらす照明制御部材200Fの入射側の概略平面図で
ある。図11は、領域242が小さなコヒーレンシーσ
で半径rの円形照明、領域244が大きなコヒーレンシ
ーσで半径r(=2R/3)乃至Rの輪帯照明をもたら
す照明制御部材200Gの入射側の概略平面図である。
図12は、領域242が四重極照明で、領域244が半
径Rの大きなコヒーレンシーσの円形照明をもたらす照
明制御部材200Hの入射側の概略平面図である。図1
3は、領域242が四重極照明で、領域244が半径r
(=R/2)乃至Rの大きなコヒーレンシーσの輪帯照
明をもたらす照明制御部材200Iの入射側の概略平面
図である。図14は、領域242が四重極照明で、領域
244が半径rの小さなコヒーレンシーσの円形照明を
もたらす照明制御部材200Jの入射側の概略平面図で
ある。
ることによって、様々なパターンが混在するマスク10
を領域ごとに異なるコヒーレンシー又は有効光源形状で
照明することができる。例えば、図8は、領域242が
大きなコヒーレンシーσで半径r(=R/2)乃至Rの
輪帯照明、領域244が半径Rの大きなコヒーレンシー
σの円形照明をもたらす照明制御部材200Dの入射側
の概略平面図である。図9は、領域242が大きなコヒ
ーレンシーσで半径r(=2R/3)乃至Rの輪帯照
明、領域244が半径Rの大きなコヒーレンシーσの円
形照明をもたらす照明制御部材200Eの入射側の概略
平面図である。図10は、領域242が小さなコヒーレ
ンシーσで半径rの円形照明、領域244が半径r(=
R/2)乃至Rの大きなコヒーレンシーσの輪帯照明を
もたらす照明制御部材200Fの入射側の概略平面図で
ある。図11は、領域242が小さなコヒーレンシーσ
で半径rの円形照明、領域244が大きなコヒーレンシ
ーσで半径r(=2R/3)乃至Rの輪帯照明をもたら
す照明制御部材200Gの入射側の概略平面図である。
図12は、領域242が四重極照明で、領域244が半
径Rの大きなコヒーレンシーσの円形照明をもたらす照
明制御部材200Hの入射側の概略平面図である。図1
3は、領域242が四重極照明で、領域244が半径r
(=R/2)乃至Rの大きなコヒーレンシーσの輪帯照
明をもたらす照明制御部材200Iの入射側の概略平面
図である。図14は、領域242が四重極照明で、領域
244が半径rの小さなコヒーレンシーσの円形照明を
もたらす照明制御部材200Jの入射側の概略平面図で
ある。
【0040】照明制御部材200は、マスク10の領域
12及び14を異なる照度で照明することもできる。こ
の場合、照明制御部材200は、後述するオプティカル
インテグレータ130に適用されるハエの目レンズを構
成する複数の微小レンズの少なくとも一の微小レンズを
透過する光量を調節する。光量調節は、例えば、照明制
御部材200の各セル240の開口部又は光透過部に、
色に影響を与えずに光量調節(又は減光)を行う光量調
製フィルタ(NDフィルタ)を使用することによって実
現することができる。図示しないNDフィルタ及び遮光
部232及び233は、ガラス基板面上にクロム(C
r)等の金属膜や誘電体多層膜を蒸着したりして所望の
透過率が得られるように構成している。NDフィルタに
は吸収性ガラスフィルタと金属コーティングを施した反
射性フィルタを使用することができる。金属コーティン
グを施したフィルタはよりニュートラルで、吸収性ガラ
スは組み合わせて使用されることもある。なお、NDフ
ィルタと同様の光学的性質を示すものであれば、他の部
材を用いても良い。例えば、液晶表示素子等を用いれ
ば、各セル240内の所定の部分領域を所望の透過率に
制御することができる。
12及び14を異なる照度で照明することもできる。こ
の場合、照明制御部材200は、後述するオプティカル
インテグレータ130に適用されるハエの目レンズを構
成する複数の微小レンズの少なくとも一の微小レンズを
透過する光量を調節する。光量調節は、例えば、照明制
御部材200の各セル240の開口部又は光透過部に、
色に影響を与えずに光量調節(又は減光)を行う光量調
製フィルタ(NDフィルタ)を使用することによって実
現することができる。図示しないNDフィルタ及び遮光
部232及び233は、ガラス基板面上にクロム(C
r)等の金属膜や誘電体多層膜を蒸着したりして所望の
透過率が得られるように構成している。NDフィルタに
は吸収性ガラスフィルタと金属コーティングを施した反
射性フィルタを使用することができる。金属コーティン
グを施したフィルタはよりニュートラルで、吸収性ガラ
スは組み合わせて使用されることもある。なお、NDフ
ィルタと同様の光学的性質を示すものであれば、他の部
材を用いても良い。例えば、液晶表示素子等を用いれ
ば、各セル240内の所定の部分領域を所望の透過率に
制御することができる。
【0041】照明制御部材200は、マスク10の領域
12及び14を異なる偏光で照明することもできる。特
に、ラインアンドスペースの線幅が1μm以下の場合や
周期パターンがサブミクロンで且つ露光装置1のNAが
大きい場合は、光の振動方向をパターンの長手方向と一
致させることで解像度を上げることができる。例えば、
図6に示すように、縦方向に整列する回路パターン15
を有する領域16と横方向に整列する回路パターン17
を有する領域18とを有するマスク10Aを露光する場
合、図7に示すように、各セル240に対して領域24
2を縦方向(P方向)に振動する光のみを透過させ、領
域244を横方向(S方向)に振動する光のみを透過さ
せるように偏光を制御するとよい。オプティカルインテ
グレータ130はマスク10に照明される照明光を均一
化し、本実施例では、例えば、入射光の角度分布を位置
分布に変換して出射するハエの目レンズとして構成され
る。ハエの目レンズは、その入射面130aと出射面1
30bとは光学的に物体面と瞳面(又は瞳面と像面)の
関係になる。かかる関係を本出願ではフーリエ変換の関
係と呼ぶ場合がある。但し、後述するように、本発明が
使用可能なオプティカルインテグレータ130はハエの
目レンズに限定されるものではない。
12及び14を異なる偏光で照明することもできる。特
に、ラインアンドスペースの線幅が1μm以下の場合や
周期パターンがサブミクロンで且つ露光装置1のNAが
大きい場合は、光の振動方向をパターンの長手方向と一
致させることで解像度を上げることができる。例えば、
図6に示すように、縦方向に整列する回路パターン15
を有する領域16と横方向に整列する回路パターン17
を有する領域18とを有するマスク10Aを露光する場
合、図7に示すように、各セル240に対して領域24
2を縦方向(P方向)に振動する光のみを透過させ、領
域244を横方向(S方向)に振動する光のみを透過さ
せるように偏光を制御するとよい。オプティカルインテ
グレータ130はマスク10に照明される照明光を均一
化し、本実施例では、例えば、入射光の角度分布を位置
分布に変換して出射するハエの目レンズとして構成され
る。ハエの目レンズは、その入射面130aと出射面1
30bとは光学的に物体面と瞳面(又は瞳面と像面)の
関係になる。かかる関係を本出願ではフーリエ変換の関
係と呼ぶ場合がある。但し、後述するように、本発明が
使用可能なオプティカルインテグレータ130はハエの
目レンズに限定されるものではない。
【0042】ハエの目レンズは互いの焦点位置がそれと
異なるもう一方の面にあるレンズ(レンズ素子)を複数
個並べたものである。また、ハエの目レンズを構成する
各レンズ素子の断面形状は、各レンズ素子のレンズ面が
球面である場合、照明装置の照明領域と略相似である方
が照明光の利用効率が高い。これは、ハエの目レンズと
照明領域が瞳と像の関係(フーリエ変換の関係)である
からである。
異なるもう一方の面にあるレンズ(レンズ素子)を複数
個並べたものである。また、ハエの目レンズを構成する
各レンズ素子の断面形状は、各レンズ素子のレンズ面が
球面である場合、照明装置の照明領域と略相似である方
が照明光の利用効率が高い。これは、ハエの目レンズと
照明領域が瞳と像の関係(フーリエ変換の関係)である
からである。
【0043】ハエの目レンズは、本実施形態では図3に
示すようにセル240の形状が正方形であるので正方形
断面のレンズ素子を多数組み合わせて構成されている
が、本発明は、断面円形、四角形、六角形その他の断面
形状を有するレンズ素子を排除するものではない。ハエ
の目レンズの出射面130b又はその近傍に形成された
複数の点光源(有効光源)からの各光束をコンデンサー
レンズ160によりマスク10に重畳している。これに
より、多数の点光源(有効光源)によりマスク10全体
が均一に照明される。
示すようにセル240の形状が正方形であるので正方形
断面のレンズ素子を多数組み合わせて構成されている
が、本発明は、断面円形、四角形、六角形その他の断面
形状を有するレンズ素子を排除するものではない。ハエ
の目レンズの出射面130b又はその近傍に形成された
複数の点光源(有効光源)からの各光束をコンデンサー
レンズ160によりマスク10に重畳している。これに
より、多数の点光源(有効光源)によりマスク10全体
が均一に照明される。
【0044】本発明で適用可能なオプティカルインテグ
レータ130はハエの目レンズに限定されず、例えば、
図15に示すオプティカルインテグレータ140に置換
されてもよい。ここで、図15は、オプティカルインテ
グレータ140の拡大斜視図である。オプティカルイン
テグレータ140は2組のシリンドリカルレンズアレイ
(又はレンチキュラーレンズ)板142及び144を重
ねることによって構成されている。1枚目と4枚目の組
のシリンドリカルレンズアレイ板142a及び142b
はそれぞれ焦点距離f1を有し、2枚目と3枚目の組の
シリンドリカルレンズアレイ板144a及び144bは
f1とは異なる焦点距離f2を有する。同一組のシリン
ドリカルレンズアレイ板は相手の焦点位置に配置され
る。2組のシリンドリカルレンズアレイ板142及び1
44は直角に配置され、直交方向でFナンバー(即ち、
レンズの焦点距離/有効口径)の異なる光束を作る。な
お、オプティカルインテグレータ140の組数が2に限
定されないことはいうまでもない。
レータ130はハエの目レンズに限定されず、例えば、
図15に示すオプティカルインテグレータ140に置換
されてもよい。ここで、図15は、オプティカルインテ
グレータ140の拡大斜視図である。オプティカルイン
テグレータ140は2組のシリンドリカルレンズアレイ
(又はレンチキュラーレンズ)板142及び144を重
ねることによって構成されている。1枚目と4枚目の組
のシリンドリカルレンズアレイ板142a及び142b
はそれぞれ焦点距離f1を有し、2枚目と3枚目の組の
シリンドリカルレンズアレイ板144a及び144bは
f1とは異なる焦点距離f2を有する。同一組のシリン
ドリカルレンズアレイ板は相手の焦点位置に配置され
る。2組のシリンドリカルレンズアレイ板142及び1
44は直角に配置され、直交方向でFナンバー(即ち、
レンズの焦点距離/有効口径)の異なる光束を作る。な
お、オプティカルインテグレータ140の組数が2に限
定されないことはいうまでもない。
【0045】ハエの目レンズ130は光学ロッドに置換
される場合もある。光学ロッドは、入射面で不均一であ
った照度分布を出射面で均一にし、ロッド軸と垂直な断
面形状が照明領域とほぼ同一な縦横比を有する矩形断面
を有する。なお、光学ロッドはロッド軸と垂直な断面形
状にパワーがあると出射面での照度が均一にならないの
で、そのロッド軸に垂直な断面形状は直線のみで形成さ
れる多角形である。その他、ハエの目レンズ130は、
拡散作用をもった回折素子に置換されてもよい。
される場合もある。光学ロッドは、入射面で不均一であ
った照度分布を出射面で均一にし、ロッド軸と垂直な断
面形状が照明領域とほぼ同一な縦横比を有する矩形断面
を有する。なお、光学ロッドはロッド軸と垂直な断面形
状にパワーがあると出射面での照度が均一にならないの
で、そのロッド軸に垂直な断面形状は直線のみで形成さ
れる多角形である。その他、ハエの目レンズ130は、
拡散作用をもった回折素子に置換されてもよい。
【0046】ハエの目レンズ130の出射面134の直
後には、形状及び径が固定された開口絞り150が設け
られている。開口絞り150は、例えば、円形の開口を
有する。選択的に、開口絞り150は、例えば、図16
(a)に示す輪帯形状の透光部151と遮光部152及
び153を有する輪帯形状の開口絞り150Aとして構
成されてもよい。ここで、図16(a)は開口絞り15
0に適用可能な開口絞り150Aの平面図である。代替
的に、図16(b)に示すように、開口絞り150は透
光部154と遮光部155とを有する開口絞り150B
として構成されてもよい。ここで、図16(b)は開口
絞り150に適用可能な4重極形状の開口絞り150B
の平面図である。透光部154は透光部155の±45
度と±135度の部分に対応している。開口絞り150
A、150Bはマスク10のパターンを露光する際、限
界解像近傍での焦点深度を増加させる変形照明(又は斜
入射照明)として効果的である。
後には、形状及び径が固定された開口絞り150が設け
られている。開口絞り150は、例えば、円形の開口を
有する。選択的に、開口絞り150は、例えば、図16
(a)に示す輪帯形状の透光部151と遮光部152及
び153を有する輪帯形状の開口絞り150Aとして構
成されてもよい。ここで、図16(a)は開口絞り15
0に適用可能な開口絞り150Aの平面図である。代替
的に、図16(b)に示すように、開口絞り150は透
光部154と遮光部155とを有する開口絞り150B
として構成されてもよい。ここで、図16(b)は開口
絞り150に適用可能な4重極形状の開口絞り150B
の平面図である。透光部154は透光部155の±45
度と±135度の部分に対応している。開口絞り150
A、150Bはマスク10のパターンを露光する際、限
界解像近傍での焦点深度を増加させる変形照明(又は斜
入射照明)として効果的である。
【0047】コンデンサーレンズ160はハエの目レン
ズ130から出た光をできるだけ多く集めて主光線が平
行、すなわちテレセントリックになるようにマスク10
をケーラー照明する。マスク10とハエの目レンズ13
0の出射面130bとはフーリエ変換の関係に配置され
ている。
ズ130から出た光をできるだけ多く集めて主光線が平
行、すなわちテレセントリックになるようにマスク10
をケーラー照明する。マスク10とハエの目レンズ13
0の出射面130bとはフーリエ変換の関係に配置され
ている。
【0048】露光装置1は、必要があれば、照度ムラ制
御用の幅可変スリットや走査中の露光領域制限用のマス
キングブレード(絞り又はスリット)等を有する。マス
キングブレードが設けられる場合には マスキングブレ
ードとハエの目レンズ130の出射面130bとはフー
リエ変換の関係に配置される。マスキングブレードの開
口部を透過した光束をマスク10の照明光として使用す
る。
御用の幅可変スリットや走査中の露光領域制限用のマス
キングブレード(絞り又はスリット)等を有する。マス
キングブレードが設けられる場合には マスキングブレ
ードとハエの目レンズ130の出射面130bとはフー
リエ変換の関係に配置される。マスキングブレードの開
口部を透過した光束をマスク10の照明光として使用す
る。
【0049】照明制御部170は、検出部172と、演
算部174と、駆動部176とを有する。検出部172
は、マスク10及び演算部174に接続され、マスク1
0のパターン11及び13の種類を読み取る。例えば、
検出部172は、マスク10に予め記載されて、回路パ
ターン11及び13を識別する識別子又はバーコード等
を読み取る。読み取られたマスク10のパターン11及
び13のデータは、演算部110に送信される。演算部
174は、検出部172及び駆動部176に接続され、
検出部172からのデータに基づいてマスク10の各領
域12及び14に対する最適な照明条件を算出して駆動
部176に送信する。駆動部176は、演算部110及
び照明制御部材200に接続され、演算部174の算出
した最適な照明条件をもたらすように照明制御部材20
0を駆動する。例えば、演算部174は以下に説明する
ように複数の照明制御部材の中から最適な照明制御部材
を照明制御部材200として選択する。
算部174と、駆動部176とを有する。検出部172
は、マスク10及び演算部174に接続され、マスク1
0のパターン11及び13の種類を読み取る。例えば、
検出部172は、マスク10に予め記載されて、回路パ
ターン11及び13を識別する識別子又はバーコード等
を読み取る。読み取られたマスク10のパターン11及
び13のデータは、演算部110に送信される。演算部
174は、検出部172及び駆動部176に接続され、
検出部172からのデータに基づいてマスク10の各領
域12及び14に対する最適な照明条件を算出して駆動
部176に送信する。駆動部176は、演算部110及
び照明制御部材200に接続され、演算部174の算出
した最適な照明条件をもたらすように照明制御部材20
0を駆動する。例えば、演算部174は以下に説明する
ように複数の照明制御部材の中から最適な照明制御部材
を照明制御部材200として選択する。
【0050】以下、図17を参照して、本発明の照明制
御方法の一例について説明する。図4乃至図14に示す
照明制御部材200A乃至200Jなど様々な種類のパ
ターンが領域242と244に割り当てられた複数の照
明制御部材が用意されて駆動部176によって選択可能
に配置される。まずマスク10及びプレート30が露光
装置1にセットされると、照明制御部170の検出部1
72がマスク10上のパターンを読み取る(ステップ1
002)。次いで、検出部172の検出結果は演算部1
74に送信され、演算部174はマスク10が複数の種
類のパターンを有するかどうか判断する(ステップ10
04)。「複数の種類」とはメモリーパターンやロジッ
クパターンなど異なる照明条件を要求するものをいう。
演算部174は、複数のパターンを有しないと判断すれ
ば(ステップ1004)、照明制御部材200を光軸か
ら除去するように駆動部176を制御する(ステップ1
006)。演算部174は、複数のパターンを有すると
判断すれば(ステップ1004)、各パターン領域に最
適の照明領域を有する照明制御部材を算出及び選択する
(ステップ1008)。その後、演算部174は、複数
の照明制御部材の中から所望の照明制御部材を照明制御
部材200として選択するように駆動部176を駆動す
る(ステップ1010)。この結果、露光装置1にはマ
スク10を露光するのに最適な照明制御部材200が搭
載される。
御方法の一例について説明する。図4乃至図14に示す
照明制御部材200A乃至200Jなど様々な種類のパ
ターンが領域242と244に割り当てられた複数の照
明制御部材が用意されて駆動部176によって選択可能
に配置される。まずマスク10及びプレート30が露光
装置1にセットされると、照明制御部170の検出部1
72がマスク10上のパターンを読み取る(ステップ1
002)。次いで、検出部172の検出結果は演算部1
74に送信され、演算部174はマスク10が複数の種
類のパターンを有するかどうか判断する(ステップ10
04)。「複数の種類」とはメモリーパターンやロジッ
クパターンなど異なる照明条件を要求するものをいう。
演算部174は、複数のパターンを有しないと判断すれ
ば(ステップ1004)、照明制御部材200を光軸か
ら除去するように駆動部176を制御する(ステップ1
006)。演算部174は、複数のパターンを有すると
判断すれば(ステップ1004)、各パターン領域に最
適の照明領域を有する照明制御部材を算出及び選択する
(ステップ1008)。その後、演算部174は、複数
の照明制御部材の中から所望の照明制御部材を照明制御
部材200として選択するように駆動部176を駆動す
る(ステップ1010)。この結果、露光装置1にはマ
スク10を露光するのに最適な照明制御部材200が搭
載される。
【0051】投影光学系300は、複数のレンズ素子の
みからなる光学系、複数のレンズ素子と少なくとも一枚
の凹面鏡とを有する光学系(カタディオプトリック光学
系)、複数のレンズ素子と少なくとも一枚のキノフォー
ムなどの回折光学素子とを有する光学系、全ミラー型の
光学系等を使用することができる。色収差の補正が必要
な場合には、互いに分散値(アッベ値)の異なるガラス
材からなる複数のレンズ素子を使用したり、回折光学素
子をレンズ素子と逆方向の分散が生じるように構成した
りする。投影光学系300の瞳面310に形成される有
効光源の形状は図3乃至図14に示す形状と同様であ
る。
みからなる光学系、複数のレンズ素子と少なくとも一枚
の凹面鏡とを有する光学系(カタディオプトリック光学
系)、複数のレンズ素子と少なくとも一枚のキノフォー
ムなどの回折光学素子とを有する光学系、全ミラー型の
光学系等を使用することができる。色収差の補正が必要
な場合には、互いに分散値(アッベ値)の異なるガラス
材からなる複数のレンズ素子を使用したり、回折光学素
子をレンズ素子と逆方向の分散が生じるように構成した
りする。投影光学系300の瞳面310に形成される有
効光源の形状は図3乃至図14に示す形状と同様であ
る。
【0052】露光において、レーザー112から発せら
れた光束は、ビーム成形系114によりそのビーム形状
が所望のものに成形された後で、照明光学系120の照
明制御部材200に入射する。照明制御部材200には
マスク10の各領域12及び14に対応した照明領域2
42及び244が既に形成されており、領域12及び1
4のそれぞれに最適な照明条件の照明をマスク10とほ
ぼ共役な位置において形成する。次いで、かかる照明光
はオプティカルインテグレータ130に導入されて均一
化される。その後、均一化された照明光は開口絞り15
0を経てコンデンサーレンズ160を介してマスク10
の領域12及び14を最適な照明条件でそれぞれ照明す
る。
れた光束は、ビーム成形系114によりそのビーム形状
が所望のものに成形された後で、照明光学系120の照
明制御部材200に入射する。照明制御部材200には
マスク10の各領域12及び14に対応した照明領域2
42及び244が既に形成されており、領域12及び1
4のそれぞれに最適な照明条件の照明をマスク10とほ
ぼ共役な位置において形成する。次いで、かかる照明光
はオプティカルインテグレータ130に導入されて均一
化される。その後、均一化された照明光は開口絞り15
0を経てコンデンサーレンズ160を介してマスク10
の領域12及び14を最適な照明条件でそれぞれ照明す
る。
【0053】マスク10を通過した光束は投影光学系3
00の結像作用によって、プレート30上に所定倍率で
縮小投影される。ステップアンドスキャン方式の露光装
置1であれば、光源部110と投影光学系300は固定
して、マスク10とプレート30の同期走査してショッ
ト全体を露光する。更に、プレート30のステージをス
テップして、次のショットに移り、プレート30上に多
数のショットを露光転写する。これにより、マスク10
のパターン11及び13をプレート30上に転写する。
なお、露光装置1がステップアンドリピート方式であれ
ば、マスク10とプレート30を静止させた状態で露光
を行う。これにより、露光装置1はレジストへのパター
ン転写を高精度に行って高品位なデバイス(半導体素
子、LCD素子、撮像素子(CCDなど)、薄膜磁気ヘ
ッドなど)を提供することができる。
00の結像作用によって、プレート30上に所定倍率で
縮小投影される。ステップアンドスキャン方式の露光装
置1であれば、光源部110と投影光学系300は固定
して、マスク10とプレート30の同期走査してショッ
ト全体を露光する。更に、プレート30のステージをス
テップして、次のショットに移り、プレート30上に多
数のショットを露光転写する。これにより、マスク10
のパターン11及び13をプレート30上に転写する。
なお、露光装置1がステップアンドリピート方式であれ
ば、マスク10とプレート30を静止させた状態で露光
を行う。これにより、露光装置1はレジストへのパター
ン転写を高精度に行って高品位なデバイス(半導体素
子、LCD素子、撮像素子(CCDなど)、薄膜磁気ヘ
ッドなど)を提供することができる。
【0054】次に、図18及び図19を参照して、上述
の露光装置1を利用したデバイスの製造方法の実施例を
説明する。図18は、デバイス(ICやLSIなどの半
導体チップ、LCD、CCD等)の製造を説明するため
のフローチャートである。ここでは、半導体チップの製
造を例に説明する。ステップ1(回路設計)ではデバイ
スの回路設計を行う。ステップ2(マスク製作)では、
設計した回路パターンを形成したマスクを製作する。ス
テップ3(ウェハ製造)ではシリコンなどの材料を用い
てウェハを製造する。ステップ4(ウェハプロセス)は
前工程と呼ばれ、マスクとウェハを用いて本発明のリソ
グラフィ技術によってウェハ上に実際の回路を形成す
る。ステップ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステッ
プ4によって作成されたウェハを用いて半導体チップ化
する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボン
ディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工
程を含む。ステップ6(検査)では、ステップ5で作成
された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト
などの検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイス
が完成し、これが出荷(ステップ7)される。
の露光装置1を利用したデバイスの製造方法の実施例を
説明する。図18は、デバイス(ICやLSIなどの半
導体チップ、LCD、CCD等)の製造を説明するため
のフローチャートである。ここでは、半導体チップの製
造を例に説明する。ステップ1(回路設計)ではデバイ
スの回路設計を行う。ステップ2(マスク製作)では、
設計した回路パターンを形成したマスクを製作する。ス
テップ3(ウェハ製造)ではシリコンなどの材料を用い
てウェハを製造する。ステップ4(ウェハプロセス)は
前工程と呼ばれ、マスクとウェハを用いて本発明のリソ
グラフィ技術によってウェハ上に実際の回路を形成す
る。ステップ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステッ
プ4によって作成されたウェハを用いて半導体チップ化
する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボン
ディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工
程を含む。ステップ6(検査)では、ステップ5で作成
された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト
などの検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイス
が完成し、これが出荷(ステップ7)される。
【0055】図19は、ステップ4のウェハプロセスの
詳細なフローチャートである。ステップ11(酸化)で
はウェハの表面を酸化させる。ステップ12(CVD)
では、ウェハの表面に絶縁膜を形成する。ステップ13
(電極形成)では、ウェハ上に電極を蒸着などによって
形成する。ステップ14(イオン打ち込み)ではウェハ
にイオンを打ち込む。ステップ15(レジスト処理)で
はウェハに感光剤を塗布する。ステップ16(露光)で
は、露光装置1によってマスクの回路パターンをウェハ
に露光する。ステップ17(現像)では、露光したウェ
ハを現像する。ステップ18(エッチング)では、現像
したレジスト像以外の部分を削り取る。ステップ19
(レジスト剥離)では、エッチングが済んで不要となっ
たレジストを取り除く。これらのステップを繰り返し行
うことによってウェハ上に多重に回路パターンが形成さ
れる。
詳細なフローチャートである。ステップ11(酸化)で
はウェハの表面を酸化させる。ステップ12(CVD)
では、ウェハの表面に絶縁膜を形成する。ステップ13
(電極形成)では、ウェハ上に電極を蒸着などによって
形成する。ステップ14(イオン打ち込み)ではウェハ
にイオンを打ち込む。ステップ15(レジスト処理)で
はウェハに感光剤を塗布する。ステップ16(露光)で
は、露光装置1によってマスクの回路パターンをウェハ
に露光する。ステップ17(現像)では、露光したウェ
ハを現像する。ステップ18(エッチング)では、現像
したレジスト像以外の部分を削り取る。ステップ19
(レジスト剥離)では、エッチングが済んで不要となっ
たレジストを取り除く。これらのステップを繰り返し行
うことによってウェハ上に多重に回路パターンが形成さ
れる。
【0056】以上、本発明の好ましい実施例を説明した
が、本発明はこれらに限定されずにその趣旨の範囲内で
様々な変形や変更が可能である。
が、本発明はこれらに限定されずにその趣旨の範囲内で
様々な変形や変更が可能である。
【0057】
【発明の効果】本発明によれば、各々異なる最適な照明
条件を有する複数種類のパターンが描画されたマスクを
高解像度で露光することができる。また、かかる装置及
び方法を使用したデバイス製造方法は高品位なデバイス
を製造することができる。
条件を有する複数種類のパターンが描画されたマスクを
高解像度で露光することができる。また、かかる装置及
び方法を使用したデバイス製造方法は高品位なデバイス
を製造することができる。
【図1】 本発明の一側面としての露光装置の概略断面
図である。
図である。
【図2】 図1に示す露光装置のマスクの概略平面図で
ある。
ある。
【図3】 図1に示す露光装置の照明制御部材の領域と
マスクパターンとの関係を説明するための図であって、
図3(a)は円形開口を有する照明制御部材の概略平面
図で、図3(b)は図3に示す照明制御部材の部分拡大
平面図である。
マスクパターンとの関係を説明するための図であって、
図3(a)は円形開口を有する照明制御部材の概略平面
図で、図3(b)は図3に示す照明制御部材の部分拡大
平面図である。
【図4】 図4(a)は図1に示す照明制御部材に適用
可能な一例の概略平面図で、図4(b)は図4(a)の
部分拡大平面図で、図4(c)は図4(a)に示す照明制
御部材の他の部分拡大平面図である。
可能な一例の概略平面図で、図4(b)は図4(a)の
部分拡大平面図で、図4(c)は図4(a)に示す照明制
御部材の他の部分拡大平面図である。
【図5】 図5(a)は図4(a)に示す照明制御部材
の変形例の概略平面図で、図5(b)は図5(a)の部
分拡大平面図である。
の変形例の概略平面図で、図5(b)は図5(a)の部
分拡大平面図である。
【図6】 図2に示すマスクの変形例の概略平面図であ
る。
る。
【図7】 図6に示したマスクに対応する照明制御部材
の部分拡大平面図である。
の部分拡大平面図である。
【図8】 図1に示す照明制御部材に適用可能な別の例
の概略平面図である。
の概略平面図である。
【図9】 図1に示す照明制御部材に適用可能な更に別
の例の概略平面図である。
の例の概略平面図である。
【図10】 図1に示す照明制御部材に適用可能な更に
別の例の概略平面図である。
別の例の概略平面図である。
【図11】 図1に示す照明制御部材に適用可能な更に
別の例の概略平面図である。
別の例の概略平面図である。
【図12】 図1に示す照明制御部材に適用可能な更に
別の例の概略平面図である。
別の例の概略平面図である。
【図13】 図1に示す照明制御部材に適用可能な更に
別の例の概略平面図である。
別の例の概略平面図である。
【図14】 図1に示す照明制御部材に適用可能な更に
別の例の概略平面図である。
別の例の概略平面図である。
【図15】 図1に示す露光装置のオプティカルインテ
グレータに適用可能なインテグレータの拡大斜視図であ
る。
グレータに適用可能なインテグレータの拡大斜視図であ
る。
【図16】 図1に示す開口絞りを変形照明用の開口絞
りとして構成した場合の概略平面図であって、図2
(a)は輪帯状の開口を有する開口絞り、図2(b)は
四重極形状の開口を有する開口絞りの形状を示す図であ
る。
りとして構成した場合の概略平面図であって、図2
(a)は輪帯状の開口を有する開口絞り、図2(b)は
四重極形状の開口を有する開口絞りの形状を示す図であ
る。
【図17】 本発明の照明制御方法を示すフローチャー
トである。
トである。
【図18】 本発明の露光装置を有するデバイス製造方
法を説明するためのフローチャートである。
法を説明するためのフローチャートである。
【図19】 図18に示すステップ4の詳細なフローチ
ャートである。
ャートである。
1 露光装置 10 マスク又はレチクル 12 パターン領域 14 パターン領域 30 プレート 100 照明装置 130 オプティカルインテグレータ 140 オプティカルインテグレータ 170 照明制御部 172 検出部 174 演算部 176 選択部 200 照明制御部材 242 照明領域 244 照明領域
Claims (17)
- 【請求項1】 光源からの光をオプティカルインテグレ
ータに入射させ、該オプティカルインテグレータを構成
する複数の光学系からの複数の光束により被照明面を照
明する照明装置において、前記複数の光学系の光入射面
位置と前記マスク又はレチクルのパターンの位置とは光
学的に共役な関係にあり、前記複数の光学系のうちの少
なくとも一部の光学系に入射する光の前記光入射面での
光特性に分布を与えることによって前記マスク又はレチ
クルのパターンの互いに異なる領域を互いに異なる照明
条件で照明できることを特徴とする照明装置。 - 【請求項2】 光源からの光をオプティカルインテグレ
ータに入射させ、該オプティカルインテグレータを構成
する複数の光学系からの複数の光束によりマスク又はレ
チクルを照明し、該マスク又はレチクルのパターンを投
影光学系により被処理体上に投影する投影露光装置にお
いて、前記複数の光学系の光入射面位置と前記マスク又
はレチクルのパターンの位置とは光学的に共役な関係に
あり、前記複数の光学系のうちの少なくとも一部の光学
系に入射する光の前記光入射面での光特性に分布を与え
ることによって前記マスク又はレチクルのパターンの互
いに異なる領域を互いに異なる照明条件で照明できるこ
とを特徴とする投影露光装置。 - 【請求項3】 前記照明条件は前記オプティカルインテ
グレータの光出射側に形成される有効光源の形状及び/
又は大きさであり、前記光特性は光強度分布であること
を特徴とする請求項1記載の照明装置又は請求項2に記
載の投影露光装置。 - 【請求項4】 前記光強度分布を形成するための遮光パ
ターンを有する部材を備えることを特徴とする請求項3
に記載の照明装置又は投影露光装置。 - 【請求項5】 前記照明条件は偏光であり、前記光特性
は偏光状態の分布であることを特徴とする請求項1記載
の照明装置又は請求項2に記載の投影露光装置。 - 【請求項6】 前記照明条件は照度であり、前記光特性
は光強度分布であることを特徴とする請求項1に記載の
照明装置又は請求項2記載の投影露光装置。 - 【請求項7】 前記照明条件は位相であり、前記光特性
は位相分布であることを特徴とする請求項1に記載の照
明装置又は請求項2に記載の投影露光装置。 - 【請求項8】 前記偏光分布を形成するための偏光パタ
ーンを有する部材を備えることを特徴とする請求項5に
記載の照明装置又は投影露光装置。 - 【請求項9】 前記光強度分布を形成するための減光パ
ターンを有する部材を備えることを特徴とする請求項6
に記載の照明装置又は投影露光装置。 - 【請求項10】 前記位相分布を形成するための位相シ
フトパターンを有する部材を備えることを特徴とする請
求項7に記載の照明装置又は投影露光装置。 - 【請求項11】 前記有効光源は輪帯状の光源又は四重
極状の光源を含むことを特徴とする請求項3に記載の照
明装置又は投影露光装置。 - 【請求項12】 前記光特性の分布が可変であることを
特徴とする請求項1乃至11のうちいずれか一項記載の
照明装置又は投影露光装置。 - 【請求項13】 前記光特性の分布を可変にするための
複数の前記照明制御部材を有し、この中から前記マスク
又はレチクルのパターンに応じた部材を選択する制御装
置を更に有する請求項12に記載の照明装置又は投影露
光装置。 - 【請求項14】 前記オプティカルインテグレータの前
記複数の光学系はそれぞれロッド型の両凸レンズを有す
ることを特徴とする請求項1乃至13に記載の照明装置
及び投影露光装置。 - 【請求項15】 請求項1乃至14のいずれか1項に記
載の照明装置又は投影露光装置を用いて被処理体をデバ
イスパターンで露光するステップと、前記露光された被
処理体に所定のプロセスを行うステップとを有するデバ
イス製造方法。 - 【請求項16】 前記デバイスがシステムLSIである
ことを特徴とする請求項15に記載のデバイス製造方
法。 - 【請求項17】 異なる照明条件を必要とする複数種類
のパターンが各々形成されたパターン領域からなるマス
クを各々照明可能な複数の照明制御部材の中から所望の
照明制御部材を選択するステップであって、各照明制御
部材は前記パターン領域ごとに異なる照明条件で前記マ
スクを照明する複数の照明領域を同一平面状に有し、前
記所望の照明制御部材の前記照明領域は前記複数の照明
制御部材の中で前記パターン領域に最も適した照明条件
を与えるステップと、 当該照明制御部材を介して前記マスクを照明するステッ
プとを有する照明制御方法。
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