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JP2002216614A - Electron source substrate and its manufacturing method and image generator using it - Google Patents

Electron source substrate and its manufacturing method and image generator using it

Info

Publication number
JP2002216614A
JP2002216614A JP2001009922A JP2001009922A JP2002216614A JP 2002216614 A JP2002216614 A JP 2002216614A JP 2001009922 A JP2001009922 A JP 2001009922A JP 2001009922 A JP2001009922 A JP 2001009922A JP 2002216614 A JP2002216614 A JP 2002216614A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron
source substrate
electron source
wiring
electrodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001009922A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tamaki Kobayashi
玉樹 小林
Kazuya Miyazaki
和也 宮崎
Yoshitaka Arai
由高 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2001009922A priority Critical patent/JP2002216614A/en
Publication of JP2002216614A publication Critical patent/JP2002216614A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent a wiring metal from degradation and variation in an electron emission characteristic of its electron emission device due to its diffu sion into a conductive thin film without contacting to the conductive thin film. SOLUTION: The image generator is provided with an electron emission device 11 containing a pair of electrodes 2/3 located via a sodium diffusion control layer 9 and wires 6/7 respectively-connected with the electrodes 2/3 on its basic substance 1. At least part of the component for these electrodes 2/3 is made of a noble metallic element having its own standard single electrode potential lower than that of the component forming the wires 6/7, while the wires 6/7 are composed of either any one of metals such as Ag, Cu, Au or any alloy containing any one of these metals. Additionally the conductive thin film 4 containing an electron emitting section 5 is composed of either Pd, PdO, or a mixture of these elements.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子を用
いた電子源基板、及びその製造方法、並びに電子源基板
を用いた画像形成装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electron source substrate using an electron-emitting device, a method for manufacturing the same, and an image forming apparatus using the electron source substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、電子放出素子を利用した画像形成
装置として、冷陰極電子放出素子を多数形成した電子源
基板と、透明電極及び蛍光体を具備した陽極基板とを平
行に対向させ、真空に排気した平面型の電子線表示パネ
ルが知られている。このような画像形成装置において、
電界放出型電子放出素子を用いたものは、例えば、I.
Brodie,”Advanced technolo
gy:flat cold−cathode CRT
s”,Information Display,1
/89,17(1989)に開示されたものがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, as an image forming apparatus using an electron-emitting device, an electron source substrate on which a number of cold cathode electron-emitting devices are formed and an anode substrate provided with a transparent electrode and a phosphor are parallelly opposed to each other. 2. Description of the Related Art A flat-type electron beam display panel that has been exhausted is known. In such an image forming apparatus,
Devices using a field emission type electron-emitting device are described in, for example, I.
Brodie, "Advanced technology"
gy: flat cold-cathode CRT
s ", Information Display, 1
/ 89, 17 (1989).

【0003】また、表面伝導型電子放出素子を用いたも
のは、例えば、米国特許第5066883号明細書等に
開示されている。平面型の電子線表示パネルは、現在広
く用いられている陰極線管(cathode ray
tube:CRT)表示装置に比ベ、軽量化、大画面化
を図ることができ、また、液晶を利用した平面型表示パ
ネルやプラズマ・ディスプレイ、エレクトロルミネッセ
ント・ディスプレイ等の他の平面型表示パネルに比べ
て、より高輝度、高品質な画像を提供することができ
る。
A device using a surface conduction electron-emitting device is disclosed, for example, in US Pat. No. 5,066,883. A flat-type electron beam display panel is a widely used cathode ray tube (cathode ray tube).
tube (CRT) display device, a lighter weight, and a larger screen can be achieved, and other flat display devices such as a flat display panel using a liquid crystal, a plasma display, and an electroluminescent display. It is possible to provide a higher-luminance, higher-quality image than a panel.

【0004】特に、表面伝導型電子放出素子は構成が単
純で製造も容易であり、電界放出型電子放出素子のよう
にフォトリソグラフィ技術を駆使した複雑な製造工程を
経ることなく、大面積にわたって多数素子を配列形成し
た電子源基板を作製できる利点がある。
In particular, surface conduction electron-emitting devices have a simple structure and are easy to manufacture, and a large number of devices over a large area can be manufactured without going through a complicated manufacturing process utilizing photolithography as in a field emission electron-emitting device. There is an advantage that an electron source substrate in which elements are arranged and formed can be manufactured.

【0005】図10、図11は、特開平6−34263
6号公報において開示された、表面伝導型電子放出素子
を用いた電子源基板の一例を示したものである。図10
は電子源の一部の平面図を示している。ここで7は上配
線、6は下配線、101は表面伝導型電子放出素子、8
は層間絶縁層である。図10は、図11における表面伝
導型電子放出素子101を取り出した斜視図である。図
11中、1は基体、2,3は電極、4は電子放出部を有
する導電性薄膜、5は電子放出部であり、電極2及び3
はそれぞれ対応する下配線6及び上配線7に接続され、
下配線6と上配線7は層間絶縁層8によって電気的に絶
縁されている。
FIGS. 10 and 11 show Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-34263.
6 shows an example of an electron source substrate using a surface conduction electron-emitting device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-206. FIG.
Shows a plan view of a part of the electron source. Here, 7 is an upper wiring, 6 is a lower wiring, 101 is a surface conduction electron-emitting device, 8
Is an interlayer insulating layer. FIG. 10 is a perspective view of the surface conduction electron-emitting device 101 of FIG. In FIG. 11, 1 is a substrate, 2 and 3 are electrodes, 4 is a conductive thin film having an electron emitting portion, 5 is an electron emitting portion, and electrodes 2 and 3 are shown.
Are connected to the corresponding lower wiring 6 and upper wiring 7, respectively.
The lower wiring 6 and the upper wiring 7 are electrically insulated by the interlayer insulating layer 8.

【0006】ここで、マトリクス状に配置された上配線
7と下配線6にそれぞれ走査信号、情報として所定の電
圧を順次印加することで、マトリクスの交点に位置する
所定の電子放出素子101を選択的に駆動できる。
Here, a predetermined voltage as a scanning signal and information is sequentially applied to the upper wiring 7 and the lower wiring 6 arranged in a matrix, respectively, thereby selecting a predetermined electron-emitting device 101 located at the intersection of the matrix. Can be driven.

【0007】このようなマトリクス配置された電子源基
板は、比較的簡単なフォトリソグラフィ技術を用いるこ
とによって作製できるが、より大きな基板を形成する場
合は、印刷技術を用いるのが好ましい。特に、走査信号
を印加する上配線については、1ラインに接続された素
子数が多くなるほど配線を流れる電流量が増加するた
め、配線抵抗による電圧降下が生じるので、配線は厚膜
で形成して抵抗をできるだけ小さくするのが好ましい。
[0007] The electron source substrates arranged in such a matrix can be manufactured by using a relatively simple photolithography technique. However, when a larger substrate is formed, it is preferable to use a printing technique. In particular, as for the upper wiring to which a scanning signal is applied, since the amount of current flowing through the wiring increases as the number of elements connected to one line increases, a voltage drop occurs due to wiring resistance. Preferably, the resistance is as low as possible.

【0008】特開平8−180797号公報等には、電
子源基板に適用可能な配線及び層間絶縁層をスクリーン
印刷法により形成する製造方法が開示されている。その
他の部材についても、例えば、特開平9−17333号
公報等には、電極をオフセット印刷法等により形成する
製造方法が開示されており、導電性薄膜については、イ
ンクジェット法により形成する製造方法が特開平9−6
9334号公報等に開示されている。これらの印刷技術
を用いることで、大面積の電子源基板を容易に製造する
ことができる。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-180797 discloses a manufacturing method for forming a wiring and an interlayer insulating layer applicable to an electron source substrate by a screen printing method. For other members, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-17333 discloses a manufacturing method in which electrodes are formed by an offset printing method or the like, and a manufacturing method in which a conductive thin film is formed by an inkjet method is disclosed. JP-A-9-6
No. 9,334, for example. By using these printing techniques, a large-area electron source substrate can be easily manufactured.

【0009】次に、表面伝導型電子放出素子について説
明する。表面伝導型電子放出素子は基板上に形成された
小面積の導電性薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。従
来の表面伝導型電子放出素子としては、SnO2 薄膜を
用いたもの[M.I.Elinson,RadioEn
g.Electron Phys.,10,1290
(1965)]、[G.Dittmer:“Thin
Solid Films”,9,317(197
2)]、In23 /SnO2 薄膜によるもの[M.H
artwell and C.G.Fonstad:
“IEEE Trans.ED Conf.”,51
9(1975)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久
他:真空、第26巻、第1号、22頁(1983)]等
が報告されているが、本出願人は、例えば、特開平2−
56822号公報において、酸化パラジウム等の金属微
粒子膜を用いた表面伝導型電子放出素子を開示してい
る。
Next, the surface conduction electron-emitting device will be described. The surface conduction electron-emitting device utilizes a phenomenon in which electron emission occurs when a current flows in a small-area conductive thin film formed on a substrate in parallel with the film surface. As a conventional surface conduction electron-emitting device, a device using a SnO 2 thin film [M. I. Elinson, RadioEn
g. Electron Phys. , 10,1290
(1965)], [G. Dittmer: “Thin
Solid Films ", 9, 317 (197
2)], an In 2 O 3 / SnO 2 thin film [M. H
artwell and C.I. G. FIG. Fonstad:
"IEEE Trans. ED Conf.", 51
9 (1975)], using a carbon thin film [Hisashi Araki]
Others: Vacuum, Vol. 26, No. 1, p. 22, p. 22 (1983)], and the like.
Japanese Patent Application No. 56822 discloses a surface conduction electron-emitting device using a metal fine particle film of palladium oxide or the like.

【0010】表面伝導型電子放出素子を作製するにあた
っては、通常、導電性薄膜4にフォーミングと呼ばれる
通電処理などによって電子放出部5を形成するのが一般
的である。フォーミングとは導電性薄膜4の両端に電圧
を印加し、導電性薄膜4の一部に亀裂(間隙)を形成す
る処理である。
In manufacturing a surface conduction electron-emitting device, it is general that the electron-emitting portion 5 is formed on the conductive thin film 4 by an energization treatment called forming or the like. The forming is a process of applying a voltage to both ends of the conductive thin film 4 to form a crack (gap) in a part of the conductive thin film 4.

【0011】さらに、例えば特開平7−235255号
公報に開示されているように、フォーミングを終えた素
子に対して活性化処理と呼ばれる処理を施し、より良好
な電子放出を得ることができる。活性化工程は、炭素化
合物質のガスを含有する雰囲気下で、フォーミング処理
同様、素子に電圧を印加することで行うことができる。
この処理により、雰囲気中に存在する炭素化合物質か
ら、炭素および/あるいは炭素化合物からなる膜が素子
上に堆積し、素子電流If 、放出電流Ie が著しく増加
するようになる。
Further, as disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-235255, a process called an activation process is performed on the element after forming, so that better electron emission can be obtained. The activation step can be performed by applying a voltage to the device in an atmosphere containing a carbon compound-based gas, similarly to the forming treatment.
By this treatment, a film composed of carbon and / or a carbon compound is deposited on the device from the carbon compound present in the atmosphere, and the device current If and the emission current Ie are significantly increased.

【0012】このような処理を経て作製された表面伝導
型電子放出素子は、例えばフラットパネルディスプレイ
等の画像形成装置に適用可能な電子源として十分な電子
放出特性を有する。
The surface conduction electron-emitting device manufactured through such a process has sufficient electron emission characteristics as an electron source applicable to an image forming apparatus such as a flat panel display.

【0013】従って、上述のように、印刷技術を用い
て、多数の表面伝導型電子放出素子を大面積の基板上に
作製することによって、大面積の画像形成装置、例えば
大画面フラットパネルディスプレイを実現することがで
きる。
Therefore, as described above, a large area image forming apparatus, for example, a large screen flat panel display is manufactured by manufacturing a large number of surface conduction electron-emitting devices on a large area substrate using a printing technique. Can be realized.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、十分な
電子放出量と寿命、及び安定性を有する電子放出素子を
大面積の電子源基板に形成する場合、以下に述べるよう
な問題がある。
However, when an electron-emitting device having a sufficient electron emission amount, lifetime, and stability is formed on a large-area electron source substrate, there are the following problems.

【0015】前述した様に、配線材料としてAgペース
トなどを用い、スクリーン印刷等の手法で配線を形成す
る際、熱処理工程を繰り返した場合、電極や、基板と電
極との界面を伝わって、基板表面に平行方向への拡散が
生じる場合がある。
As described above, when a wiring is formed by a method such as screen printing using an Ag paste or the like as the wiring material, if the heat treatment process is repeated, the wiring is transferred to the electrode or the interface between the substrate and the electrode to form the substrate. Diffusion in the direction parallel to the surface may occur.

【0016】このような拡散により、配線材料が、導電
性薄膜と接触する場合がある。ここで、更に熱処理が行
われたり、駆動のための電界が印加されると、熱や電界
によるマイグレーションによって配線金属と導電性薄膜
が混合し、電子放出素子が本来の電子放出特性を維持す
ることが困難になり、特性の劣化や変動を引き起こす。
従って、できる限り配線金属の導電性薄膜への拡散を抑
える必要があった。
Due to such diffusion, the wiring material may come into contact with the conductive thin film. Here, when a heat treatment is further performed or an electric field for driving is applied, the wiring metal and the conductive thin film are mixed by migration due to the heat or the electric field, and the electron emission element maintains the original electron emission characteristics. Becomes difficult, causing deterioration and fluctuation of characteristics.
Therefore, it is necessary to suppress the diffusion of the wiring metal into the conductive thin film as much as possible.

【0017】本発明の目的は、上述した技術課題を解決
し、配線金属が導電性薄膜と接触することを抑制し、そ
の結果、配線金属の導電性薄膜への拡散による電子放出
素子の電子放出特性の劣化や変動を抑制した、高性能な
電子源基板及びその製造方法を提供することにある。ま
た、本発明の別の目的は、かかる電子源基板を用いて良
好な画像を長時間にわたり保持し得る大画面の平面型の
画像形成装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned technical problem, to suppress the contact of the wiring metal with the conductive thin film, and as a result, the electron emission of the electron-emitting device due to the diffusion of the wiring metal into the conductive thin film. An object of the present invention is to provide a high-performance electron source substrate in which deterioration and fluctuation of characteristics are suppressed, and a method of manufacturing the same. Another object of the present invention is to provide a large-screen flat-type image forming apparatus capable of holding a good image for a long time by using such an electron source substrate.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課
題、すなわち、配線金属の導電性薄膜への拡散による電
子放出素子の特性の劣化を解決するために成されたもの
であり、下述する構成のものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, that is, the deterioration of the characteristics of the electron-emitting device due to the diffusion of the wiring metal into the conductive thin film. This is a configuration of

【0019】即ち、本発明の第1は、基体上に、一対の
電極を有する電子放出素子と、該電極に接続された配線
と、を有する電子源基板であって、前記電極は、構成元
素の少なくとも一部が貴金属元素よりなり、且つ、前記
配線を構成する元素と比較して、該貴金属元素の標準単
極電位が低いことを特徴とする電子源基板である。
That is, a first aspect of the present invention is an electron source substrate having, on a substrate, an electron-emitting device having a pair of electrodes, and a wiring connected to the electrodes, wherein the electrodes are composed of constituent elements Wherein at least a part of the noble metal element is made of a noble metal element, and the standard monopolar potential of the noble metal element is lower than that of the element constituting the wiring.

【0020】上記本発明の第1は、さらなる特徴とし
て、「前記配線は、Ag、Cu、及びAuのいずれかの
金属、並びにこれらいずれかの金属を含む合金のうちの
いずれかからなる」こと、「前記配線は、構成元素の少
なくとも一部がAgである」こと、「前記電極は、前記
配線と接する部位において、Ru、Rh、及びOsより
選ばれた1種類以上の元素によりなる」こと、の少なく
ともいずれかを包含していてもよい。本発明の第2は、
基体上に、一対の電極を有する電子放出素子と、該電極
に接続された配線と、を有する電子源基板であって、前
記配線は、Ag、Cu、及びAuのいずれかの金属、あ
るいは、前記いずれかの金属を含む合金を含み、前記電
極は、Ru、Rh、及びOsより選ばれた1種類以上の
元素を含む、ことを特徴とする電子源基板である。上記
本発明の第1または第2の電子源基板は、「前記基体
は、前記電極及び前記配線の少なくともいずれかと接す
る部位において、主成分がシリカよりなる」こと、「前
記電子放出素子は、さらにその一部に電子放出部を有す
る導電性膜を有する」こと、「前記電子放出部を有する
導電性薄膜は、Pd、PdO、及びそれらの混合物のい
ずれかよりなる」こと、「前記電子放出素子は、表面伝
導型電子放出素子である」こと、「前記電子放出素子が
複数個配置され、入力信号に応じて電子を放出する」こ
と、「前記電子放出素子を複数個並列に配置し、個々の
電子放出素子の両端を前記配線に接続した電子放出素子
の行を複数もち、更に、該電子放出素子に変調信号を印
加する変調手段を有する」こと、「互いに電気的に絶縁
されたm本のX方向配線とn本のY方向配線とに、前記
電子放出素子の一対の電極を接続し、電子放出素子をマ
トリクス状に配列した」こと、「前記基体が無アルカリ
ガラスからなる」こと、「前記基体の表面にナトリウム
拡散制御層を形成し、該ナトリウム拡散制御層上に前記
電子放出素子及び配線を配置した」こと、の少なくとも
いずれかを包含していてもよい。
A first feature of the present invention is that the wiring is made of any one of a metal of Ag, Cu, and Au, and an alloy containing any of these metals. "The wiring is at least a part of the constituent elements of Ag", and "the electrode is made of at least one element selected from Ru, Rh and Os at a portion in contact with the wiring". May be included. The second aspect of the present invention is
An electron source substrate including, on a base, an electron-emitting device having a pair of electrodes and a wiring connected to the electrodes, wherein the wiring is any one of Ag, Cu, and Au, or An electron source substrate comprising: an alloy containing any one of the metals; and the electrode includes one or more elements selected from Ru, Rh, and Os. The first or second electron source substrate according to the present invention may be configured such that “the base is made of silica at a portion in contact with at least one of the electrode and the wiring”; "A conductive film having an electron-emitting portion in a part thereof";"the conductive thin film having an electron-emitting portion is made of any of Pd, PdO, and a mixture thereof"; Is a surface conduction electron-emitting device "," the plurality of electron-emitting devices are arranged and emits electrons in response to an input signal ", and" the plurality of electron-emitting devices are arranged in parallel and individually "Having a plurality of rows of electron-emitting devices having both ends connected to the wiring, and having a modulating means for applying a modulation signal to the electron-emitting devices." X "A pair of electrodes of the electron-emitting device were connected to the direction wiring and n number of Y-direction wirings, and the electron-emitting devices were arranged in a matrix";"the base was made of non-alkali glass"; Forming a sodium diffusion control layer on the surface of the base, and disposing the electron-emitting device and the wiring on the sodium diffusion control layer. "

【0021】本発明の第3は、前記配線が、金属ペース
トの印刷と加熱焼成によって形成されることを特徴とす
る電子源基板の製造方法である。この場合、炭素化合物
質を含有する雰囲気中で前記電子放出素子に活性化処理
を施す工程と、該活性化処理時に導入した炭素化合物質
の残留物を排出する工程とを含むことが可能である。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing an electron source substrate, wherein the wiring is formed by printing a metal paste and heating and baking. In this case, the method may include a step of performing an activation process on the electron-emitting device in an atmosphere containing the carbon compound, and a step of discharging a residue of the carbon compound introduced during the activation process. .

【0022】本発明の第4は、入力信号に基づいて画像
を形成する画像形成装置であって、少なくとも、画像形
成部材と上記のいずれかの電子源基板より構成された画
像形成装置である。また本発明は、電子源基板と、画像
形成部材を有する基板とを対向して配置させた画像形成
装置であって、前記電子源基板が、上記のいずれかの電
子源基板である画像形成装置であってもよい。
A fourth aspect of the present invention is an image forming apparatus for forming an image based on an input signal, and is an image forming apparatus comprising at least an image forming member and any one of the above-mentioned electron source substrates. According to another aspect of the invention, there is provided an image forming apparatus in which an electron source substrate and a substrate having an image forming member are arranged to face each other, wherein the electron source substrate is any one of the above electron source substrates. It may be.

【0023】本発明は、電子源基板として、印刷によっ
て配線を形成する場合に有効であり、配線金属が導電性
薄膜へ拡散し難いため、電子放出特性の劣化を効果的に
防止できる。
The present invention is effective when a wiring is formed by printing as an electron source substrate. Since the wiring metal is hardly diffused into the conductive thin film, deterioration of the electron emission characteristics can be effectively prevented.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態を説明する。図1は、本発明の実施の形態
に係る電子源基板の一例を示す概略構成図(平面図)で
あり、電子源基板の一部のみを示している。また、図2
は、図1に示した電子源基板の一つの電子放出素子を拡
大した鳥瞰図である。そして、図3は、図2におけるA
−A’断面図である。図1、図2、及び図3に示す電子
源基板61において、1は基体、2,3は電極、4は導
電性薄膜、5は電子放出部、6,7はそれぞれ電極2,
3に接続された配線、8は配線6と配線7を電気的に絶
縁するための層間絶縁層、9はナトリウム拡散抑制層で
ある。11は電子放出素子である。ここで示した形態の
電子放出素子11では、ナトリウム拡散抑制層9を介し
て基体1上に、一対の電極2,3、導電性薄膜4、及び
電子放出部5等を備えて構成されている。しかしなが
ら、このナトリウム拡散抑制層は必ずしも必要としな
い。即ち、基板1上に直接電子放出素子や配線を配置し
た形態であっても本発明は満たされる。なお、配線6,
7はそれぞれ、図1中の座標に照らして、Y方向配線、
X方向配線と呼び、また層間絶縁層8との位置関係によ
り、それぞれ下配線、上配線と呼ぶことがある。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram (plan view) showing an example of an electron source substrate according to an embodiment of the present invention, and shows only a part of the electron source substrate. FIG.
2 is an enlarged bird's-eye view of one electron-emitting device of the electron source substrate shown in FIG. FIG. 3 is a diagram showing A in FIG.
It is -A 'sectional drawing. In the electron source substrate 61 shown in FIGS. 1, 2 and 3, reference numeral 1 denotes a base, reference numerals 2 and 3 denote electrodes, reference numeral 4 denotes a conductive thin film, reference numeral 5 denotes an electron emitting portion, and reference numerals 6 and 7 denote electrodes 2 and 2, respectively.
The wiring connected to 3, 8 is an interlayer insulating layer for electrically insulating the wiring 6 and the wiring 7, and 9 is a sodium diffusion suppressing layer. Reference numeral 11 denotes an electron-emitting device. The electron-emitting device 11 of the embodiment shown here includes a pair of electrodes 2 and 3, a conductive thin film 4, an electron-emitting portion 5, and the like on the base 1 via the sodium diffusion suppressing layer 9. . However, this sodium diffusion suppressing layer is not always necessary. That is, the present invention is satisfied even in a mode in which electron-emitting devices and wirings are directly arranged on the substrate 1. The wiring 6,
Reference numeral 7 denotes a Y-direction wiring in the light of the coordinates in FIG.
The wiring may be called an X-direction wiring, or may be called a lower wiring or an upper wiring, respectively, depending on the positional relationship with the interlayer insulating layer 8.

【0025】基体1は、一般に青板ガラスと呼ばれるソ
ーダライムガラスが安価であるため好ましく用いられる
が、ソーダライムガラス中に含有されるナトリウムを一
部カリウムに置換して歪み点を上昇させた、高歪み点ガ
ラスを用いることができる。上記ソーダライムガラスな
ど、ナトリウムを含有する基板を用いる場合には、ナト
リウムが電子放出素子に悪影響を及ぼす場合があるの
で、前述したナトリウム拡散抑制層9を用いることが好
ましい。また液晶パネルなどに用いられる無アルカリガ
ラス基板を使用することもできる。この場合にはナトリ
ウム拡散抑制層9を形成しなくてもよい。なお、本実施
の形態の電子源基板61及びそれを用いた画像形成装置
は、その製造過程で何度かの熱処理が行われる。この時
の熱処理温度の設定、及びその熱処理温度における基板
の歪みの許容値に応じて上記基体1の材料を選択すれば
よい。
As the base 1, soda lime glass, which is generally called blue plate glass, is preferably used because it is inexpensive. However, sodium contained in soda lime glass is partially replaced with potassium to increase the strain point. Strain point glass can be used. When a substrate containing sodium such as the above-mentioned soda lime glass is used, it is preferable to use the above-mentioned sodium diffusion suppressing layer 9 because sodium may adversely affect the electron-emitting device. Alternatively, an alkali-free glass substrate used for a liquid crystal panel or the like can be used. In this case, the sodium diffusion suppressing layer 9 need not be formed. The electron source substrate 61 and the image forming apparatus using the same according to the present embodiment are subjected to several heat treatments during the manufacturing process. The material of the base 1 may be selected according to the setting of the heat treatment temperature at this time and the allowable value of the distortion of the substrate at the heat treatment temperature.

【0026】ナトリウム拡散抑制層9は、基体1から電
子放出素子11へのナトリウムの拡散を抑制する役割
と、電子放出素子11に電流が流れるときの発熱を基体
1に伝え難くする役割をもつことができる。ナトリウム
拡散抑制層9としては、例えばシリカを主成分とした被
膜層を好ましく用いることができる。ここでシリカと
は、SiO2 、SiO、またはそれらの混合物を意味す
る。中でも、SiO2 の層や、リンを数wt%含有させ
たリンドープシリカガラス(PSG)からなる層が、ナ
トリウム拡散抑制層として、より好ましく用いられる。
これらのナトリウム拡散抑制層はその厚みを500nm
以上で形成すると、ナトリウムの拡散を効果的に止めら
れるので、好ましい。
The sodium diffusion suppressing layer 9 has a role of suppressing the diffusion of sodium from the substrate 1 to the electron-emitting device 11 and a role of making it difficult to transmit heat generated when a current flows through the electron-emitting device 11 to the substrate 1. Can be. As the sodium diffusion suppressing layer 9, for example, a coating layer containing silica as a main component can be preferably used. Here, silica means SiO 2 , SiO, or a mixture thereof. Above all, an SiO 2 layer or a layer made of phosphorus-doped silica glass (PSG) containing several wt% of phosphorus is more preferably used as a sodium diffusion suppressing layer.
These sodium diffusion suppressing layers have a thickness of 500 nm.
The above formation is preferable because diffusion of sodium can be effectively stopped.

【0027】対向する電極2,3の材料としては、以後
の熱処理工程を経ても安定した導電性を有し、かつ配線
6,7を構成する金属が熱拡散しないものが好ましい。
即ち、大気中の熱処理工程においても導電性を失うこと
なく、配線6,7を構成する金属がイオン化して拡散す
ることを防ぐ金属が好ましい。従って、電極2,3は、
構成金属の一部、或いは全てが貴金属元素よりなり、且
つ配線6,7を構成する元素と比較して、該貴金属元素
の標準単極電位が低い材料が用いられる。例えば配線
6,7の構成元素の一部、或いは全てがAgである場
合、該配線6,7と接する部位において、Ru、Rh、
またはOsより選ばれた1種類以上の元素よりなる金属
または合金が好ましく用いられる。なお、電極2,3
は、複数の層よりなる積層構造であっても一向に構わな
く、この場合、配線6,7と接する部位において、R
u、Rh、もしくはOsより選ばれた1種類以上の元素
よりなる金属または合金となるようにすればよい。な
お、電極2,3の膜厚は、数十nm程度とすると十分な
導電性を有しかつ導電性薄膜4のステップカバレージが
良好となり好ましい。
As the material of the opposed electrodes 2 and 3, it is preferable to use a material which has stable conductivity even after a heat treatment step and does not cause thermal diffusion of the metal constituting the wirings 6 and 7.
That is, it is preferable to use a metal that prevents the metal constituting the wirings 6 and 7 from being ionized and diffused without losing conductivity even in the heat treatment step in the atmosphere. Therefore, the electrodes 2 and 3 are
A material is used in which some or all of the constituent metals are made of a noble metal element and the standard monopolar potential of the noble metal element is lower than that of the elements forming the wirings 6 and 7. For example, when a part or all of the constituent elements of the wirings 6 and 7 are Ag, Ru, Rh,
Alternatively, a metal or alloy composed of one or more elements selected from Os is preferably used. The electrodes 2, 3
May be a laminated structure composed of a plurality of layers. In this case, R
What is necessary is just to make it the metal or alloy which consists of one or more types of elements selected from u, Rh, or Os. Note that the thickness of the electrodes 2 and 3 is preferably about several tens of nm, since it has sufficient conductivity and the step coverage of the conductive thin film 4 is good.

【0028】導電性薄膜4の熱的安定性は電子放出特性
の寿命を支配する重要なパラメータであるため、導電性
薄膜4の材料として、より高融点な材料を用いるのが望
ましい。しかしながら、通常、導電性薄膜4の融点が高
いほど後述する通電フォーミングが困難となり、電子放
出部5の形成のためにより大きな電力が必要となる。さ
らに、その結果得られる電子放出部5は、電子放出し得
る印加電圧(しきい値電圧)が上昇するという問題が生
じる場合がある。従って、導電性薄膜4の材料は、適度
に高い融点を有し、比較的低いフォーミング電力で良好
な電子放出部5が形成可能な材料、形態のものを選ぶの
がよい。
Since the thermal stability of the conductive thin film 4 is an important parameter that governs the life of the electron emission characteristics, it is desirable to use a material having a higher melting point as the material of the conductive thin film 4. However, usually, the higher the melting point of the conductive thin film 4 is, the more difficult it is to carry out the energization forming, which will be described later. Further, the resulting electron-emitting portion 5 may have a problem that the applied voltage (threshold voltage) at which electrons can be emitted increases. Therefore, as the material of the conductive thin film 4, it is preferable to select a material having a moderately high melting point and capable of forming a good electron-emitting portion 5 with a relatively low forming power.

【0029】上述の条件に対し、PdOは、有機パラジ
ウム化合物の大気中焼成により容易に薄膜形成できるこ
と、半導体であるため比較的電気伝導度が低くフォーミ
ングに要する電力が低いこと、電子放出部5の形成時あ
るいはその後、容易に還元して金属パラジウムとするこ
とができるので膜抵抗を低減し得ること、等から導電性
薄膜4に好適な材料として用いることができる。その膜
厚は、電極2,3へのステップカバレージ、電極2,3
間の抵抗値及び後述するフォーミング条件等を考慮して
設定される。
Under the above-mentioned conditions, PdO can easily form a thin film by baking an organic palladium compound in the air, and since it is a semiconductor, it has relatively low electric conductivity and low power required for forming. At the time of formation or thereafter, it can be easily reduced to metal palladium, so that the film resistance can be reduced. Therefore, it can be used as a material suitable for the conductive thin film 4. The film thickness depends on the step coverage for the electrodes 2 and 3 and the electrodes 2 and 3
The resistance is set in consideration of the resistance value between them, forming conditions described later, and the like.

【0030】電子放出部5は、導電性薄膜4の一部に形
成された、間隙(亀裂)を含む。この間隙は、導電性薄
膜4の膜厚及び後述する通電処理条件等の製法に依存す
る。
The electron emitting portion 5 includes a gap (crack) formed on a part of the conductive thin film 4. This gap depends on the manufacturing method such as the thickness of the conductive thin film 4 and the energization processing conditions described later.

【0031】また、電子放出部5には、更に、後述する
活性化工程を経ることにより、炭素及び/あるいは炭素
化合物からなる膜(カーボン膜)が配置される。
Further, a film (carbon film) made of carbon and / or a carbon compound is disposed in the electron emitting portion 5 through an activation step described later.

【0032】配線6,7は、図1に示すように、複数の
電子放出素子11に給電するためのものである。m本の
X方向配線7は、DX1、DX2、…、…、DXm、n
本のY方向配線6は、DY1、DY2、…、…、DYn
からなり、それぞれ、多数の電子放出素子11にほぼ均
等な電圧が供給されるように、材料、膜厚、配線幅等が
設定される。これらm本のX方向配線7とn本のY方向
配線6の間には、層間絶縁層8が設置され、電気的に分
離されて、マトリクス配線を構成する(このm、nは、
共に正の整数である)。
The wirings 6 and 7 are for supplying power to a plurality of electron-emitting devices 11 as shown in FIG. The m X-direction wirings 7 are DX1, DX2,..., DXm, n
, DYn, DY2,..., DYn
The material, the film thickness, the wiring width, and the like are set so that a substantially uniform voltage is supplied to each of the electron-emitting devices 11. An interlayer insulating layer 8 is provided between the m X-directional wirings 7 and the n Y-directional wirings 6 and electrically separated to form a matrix wiring (where m and n are:
Both are positive integers).

【0033】配線6,7としては、熱処理工程を経ても
安定した導電性を有する金属が好ましいが、特に、大面
積の基板を安価に形成できる印刷法が適用できるものが
望ましい。金属ぺーストを用いスクリーン印刷によって
パターン形成し、熱処理して得られる金属膜は、数ミク
ロン以上の厚膜の抵抗が小さい配線を大面積に形成する
のに適している。そのため、印刷可能な金属ペーストが
比較的安価に得られる、Ag、Cu、もしくはAuのぺ
ーストが前記金属ペーストに用いられる。そして、それ
を熱処理して得られるAg、Cu、もしくはAuが配線
材料として好ましく用いられる。また、これらの金属ペ
ーストを混合したもの等を用いてもよい。
The wirings 6 and 7 are preferably made of a metal having stable conductivity even after a heat treatment process, but in particular, a printing method capable of forming a large-area substrate at low cost is preferably used. A metal film obtained by forming a pattern by screen printing using a metal paste and heat-treating is suitable for forming a wiring having a large resistance of several microns or more and a small resistance over a large area. Therefore, a paste of Ag, Cu, or Au from which a printable metal paste can be obtained relatively inexpensively is used for the metal paste. Then, Ag, Cu, or Au obtained by heat-treating it is preferably used as a wiring material. Further, a mixture of these metal pastes or the like may be used.

【0034】層間絶縁層8の形状、材料、膜厚、製法
は、配線6と配線7の交差部の電位差に耐え得るように
適宜設定できるが、配線同様、印刷法により形成できる
ものが好ましく、またガラスペーストを印刷して得られ
るガラスの厚膜層が用いられる。図1に示した構成、す
なわちマトリクス配置の構成において、X方向配線7に
は、X方向に配列した電子放出素子11の行を選択する
ための走査信号を印加する不図示の走査信号印加手段が
接続され、Y方向配線6には、Y方向に配列した電子放
出素子11の各列を入力信号に応じて、変調するための
不図示の変調信号発生手段が接続される。各電子放出素
子11に印加される駆動電圧は、当該素子に印加される
走査信号と変調信号の差電圧として供給され、単純なマ
トリクス配線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆
動可能とすることができる。
The shape, material, film thickness, and manufacturing method of the interlayer insulating layer 8 can be appropriately set so as to withstand the potential difference at the intersection of the wiring 6 and the wiring 7. Further, a thick glass layer obtained by printing a glass paste is used. In the configuration shown in FIG. 1, that is, the configuration of the matrix arrangement, a scanning signal applying unit (not shown) for applying a scanning signal for selecting a row of the electron-emitting devices 11 arranged in the X direction is provided to the X-direction wiring 7. The Y-direction wiring 6 is connected to a modulation signal generator (not shown) for modulating each column of the electron-emitting devices 11 arranged in the Y-direction according to an input signal. The driving voltage applied to each electron-emitting device 11 is supplied as a difference voltage between a scanning signal and a modulation signal applied to the device, and individual devices can be selected and driven independently using a simple matrix wiring. It can be.

【0035】一方、このほかに、並列に配置した多数の
電子放出素子11の個々を両端で接続し、電子放出素子
11の行を多数個配し、この配線と直交する方向で、該
電子放出素子11の上方に配した制御電極により、電子
放出素子11からの電子を制御駆動するはしご状配置の
もの等があるが、本発明は、特にこれらの配置によって
限定されるものではない。
On the other hand, in addition to the above, each of a large number of electron-emitting devices 11 arranged in parallel is connected at both ends, and a large number of rows of the electron-emitting devices 11 are arranged. There is a ladder-like arrangement in which electrons from the electron-emitting device 11 are controlled and driven by a control electrode disposed above the element 11, but the present invention is not particularly limited by these arrangements.

【0036】前述したように、本実施の形態では、配線
6,7は、電極2,3と接続される。ここで、電極2,
3は、構成元素の一部、或いは全てが貴金属元素よりな
り、且つ、配線6,7を構成する元素と比較して、該貴
金属元素の標準単極電位が低い材料が選ばれる。電極
2,3が、Pt、またはAu等の貴金属で形成され、且
つ、配線6,7がAgよりなる場合、配線6,7を構成
する金属、すなわちAgが、上述の貴金属よりなる電極
2,3および導電性膜4へ拡散する現象がみられる。こ
の拡散の詳しいメカニズムは明確にはなっていないが、
配線6,7を構成する金属が一旦、電極2,3を構成す
る金属中に拡散し、電極2,3を介して導電性膜4に拡
散すると思われる。なお、Pt、及びAuのいずれの標
準単極電位も、Agと比較して高い。一方、電極2,3
が、Ru、Rh、またはOsの貴金属で形成され、且
つ、配線6,7がAgよりなる場合、配線金属は電極
2,3中に拡散し難く、上記界面拡散はほとんど起こら
ない。これは、Ru、Rh、またはOsの貴金属の標準
単極電位が、Agと比較して小さいためであり、Agが
イオン化して電極2,3中に拡散するのを効果的に抑制
するためである。
As described above, in the present embodiment, the wirings 6 and 7 are connected to the electrodes 2 and 3. Here, electrodes 2,
For 3, a material is selected in which some or all of the constituent elements are made of a noble metal element, and the standard monopolar potential of the noble metal element is lower than the elements forming the wirings 6 and 7. When the electrodes 2 and 3 are formed of Pt or a noble metal such as Au and the wires 6 and 7 are made of Ag, the metal constituting the wires 6 and 7, that is, the electrode 2 made of the above-mentioned noble metal is Ag. 3 and the phenomenon of diffusion into the conductive film 4. The exact mechanism of this spread is not clear,
It is considered that the metal forming the wirings 6 and 7 diffuses once into the metal forming the electrodes 2 and 3 and then diffuses into the conductive film 4 via the electrodes 2 and 3. Note that the standard monopolar potentials of Pt and Au are higher than Ag. On the other hand, electrodes 2, 3
Is formed of a noble metal of Ru, Rh, or Os, and the wirings 6, 7 are made of Ag, the wiring metal hardly diffuses into the electrodes 2, 3, and the interface diffusion hardly occurs. This is because the standard monopolar potential of the noble metal of Ru, Rh, or Os is smaller than that of Ag, and it is to effectively suppress the ionization of Ag and diffusion into the electrodes 2 and 3. is there.

【0037】前述したように、配線6,7を構成する金
属が拡散する場合には、最終的には導電性薄膜4、さら
には電子放出部5にまで達することがある。ここで、電
子放出素子11を駆動するための電界が印加されると、
電界によるマイグレーションや駆動時の熱によって配線
6,7を構成する金属と導電性薄膜4が混合し、合金化
したり、膜質が変化したりする場合があるため、電子放
出素子11が本来の電子放出特性を維持することが困難
になり、特性の劣化や変動を引き起こす場合がある。従
って、本実施の形態のごとく、配線6,7を構成する元
素と比較して、電極2,3中の貴金属元素の標準単極電
位を低く構成することで、配線6,7を構成する金属が
イオン化して電極2,3中に拡散するのを効果的に抑制
し、ひいては安定した電子放出特性を長時間保持するこ
とができる。
As described above, when the metal forming the wirings 6 and 7 is diffused, the metal may eventually reach the conductive thin film 4 and further reach the electron emitting portion 5. Here, when an electric field for driving the electron-emitting device 11 is applied,
Since the metal constituting the wirings 6 and 7 and the conductive thin film 4 may be mixed and alloyed or the quality of the film may be changed due to migration due to an electric field or heat during driving, the electron emission element 11 emits the original electron. It becomes difficult to maintain the characteristics, which may cause deterioration or fluctuation of the characteristics. Therefore, as in the present embodiment, the standard monopolar potential of the noble metal element in the electrodes 2 and 3 is set lower than that of the elements forming the wirings 6 and 7, so that the metal forming the wirings 6 and 7 can be reduced. Can be effectively suppressed from being ionized and diffused into the electrodes 2 and 3, and stable electron emission characteristics can be maintained for a long time.

【0038】さて、本発明の実施の形態に係る電子源基
板の製造方法としては様々な方法が考えられるが、ここ
では、その一例を図4に示す。
Now, various methods can be considered as a method of manufacturing the electron source substrate according to the embodiment of the present invention. Here, one example is shown in FIG.

【0039】以下、順を追って製造方法の説明を図1、
図2、図3、図4に基づいて説明する。
Hereinafter, the manufacturing method will be described step by step with reference to FIG.
A description will be given based on FIGS. 2, 3, and 4.

【0040】(1) 基板1を洗剤、純水及び有機溶剤
により十分に洗浄した後、スパッタ法等により、ナトリ
ウム拡散抑制層9を形成する(図4(a))。ここで
は、基板1としてナトリウム含有基板を用いたために、
ナトリウム拡散抑制層9を形成したが、このナトリウム
拡散抑制層9は必ずしも必要としない。
(1) After sufficiently washing the substrate 1 with a detergent, pure water and an organic solvent, a sodium diffusion suppressing layer 9 is formed by a sputtering method or the like (FIG. 4A). Here, since a sodium-containing substrate was used as the substrate 1,
Although the sodium diffusion suppressing layer 9 is formed, the sodium diffusion suppressing layer 9 is not always required.

【0041】(2) 続いて、基板1に、上述した本発
明の電極材料を、真空蒸着法、スパッタ法等により堆積
した後、フォトリソグラフィ技術により、電極2,3を
形成する(図4(b))。なお、電極2,3の形成は、
オフセット印刷等の印刷技術を用いて形成することもで
きる。
(2) Subsequently, after the above-mentioned electrode material of the present invention is deposited on the substrate 1 by a vacuum deposition method, a sputtering method, or the like, the electrodes 2 and 3 are formed by photolithography (FIG. b)). The electrodes 2 and 3 are formed as follows.
It can also be formed using a printing technique such as offset printing.

【0042】(3) 電極2,3を形成した基体1に、
スクリーン印刷法により導電性ペーストのパターンを形
成し、該導電性ペーストのパターンを焼成することで金
属から成る下配線6を形成する(図4(c))。導電性
ペーストとしては、Ag、Cu、及びAuのいずれかの
金属、並びにこれらいずれかの金属を含む合金のうちの
いずれかからなる導電性材料を含有するペーストを用い
た。
(3) On the substrate 1 on which the electrodes 2 and 3 are formed,
A conductive paste pattern is formed by a screen printing method, and the conductive paste pattern is baked to form a lower wiring 6 made of metal (FIG. 4C). As the conductive paste, a paste containing a conductive material made of any one of Ag, Cu, and Au and an alloy containing any one of these metals was used.

【0043】(4) さらに、下配線6上の所望の位
置、すなわち、以後の工程で形成する上配線7と交差す
る位置に、層間絶縁層8を形成する(図4(d))。層
間絶縁層8についても、スクリーン印刷法によりガラス
ペーストのパターンを形成し、該ガラスペーストのパタ
ーンを焼成することで形成できる。なお、層間絶縁層8
に十分な絶縁性を付与するために膜厚を厚くしたい場合
は、上記印刷、焼成を所望の回数繰り返すこともでき
る。
(4) Further, an interlayer insulating layer 8 is formed at a desired position on the lower wiring 6, that is, at a position crossing the upper wiring 7 to be formed in a subsequent step (FIG. 4D). The interlayer insulating layer 8 can also be formed by forming a glass paste pattern by a screen printing method and firing the glass paste pattern. The interlayer insulating layer 8
If it is desired to increase the film thickness in order to provide sufficient insulation, the above printing and baking can be repeated a desired number of times.

【0044】(5) 続いて、下配線6上に形成された
層間絶縁層8上で交差するように、上配線7を形成する
(図4(e))。上配線7も、下配線6と同様の材料に
て、導電性ペーストのパターンを形成し、該導電性ペー
ストのパターンを焼成することで形成できる。
(5) Subsequently, the upper wiring 7 is formed so as to cross on the interlayer insulating layer 8 formed on the lower wiring 6 (FIG. 4E). The upper wiring 7 can also be formed by forming a conductive paste pattern from the same material as the lower wiring 6 and firing the conductive paste pattern.

【0045】(6) 上記基体1上に設けられた電極2
と電極3との間に、有機金属化合物の溶液を塗布して乾
燥することにより、有機金属化合物からなる膜を形成す
る。この後、有機金属化合物膜を加熱焼成処理し、リフ
トオフ、エッチング等によりパターニングし、導電性薄
膜4を形成する(図4(f))。なお、ここでは、有機
金属溶液の塗布法により説明したが、これに限るもので
なく、真空蒸着法、スパッタ法、CVD法、分散塗布
法、ディッピング法、スピンナー法、インクジェット法
等によって形成される場合もある。
(6) The electrode 2 provided on the base 1
A film of an organometallic compound is formed by applying and drying a solution of an organometallic compound between the substrate and the electrode 3. Thereafter, the organometallic compound film is heated and baked, and is patterned by lift-off, etching, or the like to form a conductive thin film 4 (FIG. 4F). Note that, here, the description has been made with the application method of the organometallic solution, but the present invention is not limited thereto, and is formed by a vacuum evaporation method, a sputtering method, a CVD method, a dispersion coating method, a dipping method, a spinner method, an inkjet method, or the like. In some cases.

【0046】(7) 続いて、フォーミングと呼ばれる
電圧印加処理を、電極2,3間、すなわち配線6,7間
に行い、導電性薄膜4の一部に間隙が形成される。
(7) Subsequently, a voltage application process called forming is performed between the electrodes 2 and 3, that is, between the wirings 6 and 7, and a gap is formed in a part of the conductive thin film 4.

【0047】フォーミング処理は、パルス波高値が定電
圧のパルスを印加する場合と、パルス波高値を増加させ
ながら、電圧パルスを印加する場合とがある。まず、パ
ルス波高値が定電圧のパルスを印加する場合の電圧波形
を図5(a)に示す。図5(a)中、T1及びT2は電
圧波形のパルス幅及びパルス間隔であり、T1を1μs
ec〜10msec、T2を10μsec〜100ms
ecとし、三角波の波高値(フォーミング時のピーク電
圧)は適宜選択する。
In the forming process, there are a case where a pulse having a constant pulse peak value is applied and a case where a voltage pulse is applied while increasing the pulse peak value. First, FIG. 5A shows a voltage waveform when a pulse having a constant pulse height is applied. In FIG. 5A, T1 and T2 are the pulse width and pulse interval of the voltage waveform, and T1 is 1 μs.
ec to 10 msec, T2 is 10 μsec to 100 ms
ec, the peak value of the triangular wave (peak voltage at the time of forming) is appropriately selected.

【0048】次に、パルス波高値を増加させながら、電
圧パルスを印加する場合の電圧波形を、図5(b)に示
す。図5(b)中、T1及びT2は電圧波形のパルス幅
及びパルス間隔であり、T1を1μsec〜10mse
c、T2を10μsec〜100msecとし、三角波
の波高値(フォーミング時のピーク電圧)は、例えば
0.1Vステップ程度ずつ、増加させる。なお、フォー
ミング処理は、フォーミング用パルスの間に、導電性薄
膜4を局所的に破壊、変形しない程度の電圧例えば0.
1V程度のパルス電圧を挿入して素子電流を測定し、そ
の電流が所定の値以下に減少したところで終了する。
Next, FIG. 5B shows a voltage waveform when a voltage pulse is applied while increasing the pulse peak value. In FIG. 5B, T1 and T2 are the pulse width and pulse interval of the voltage waveform, and T1 is 1 μsec to 10 msec.
c, T2 is set to 10 μsec to 100 msec, and the peak value of the triangular wave (the peak voltage at the time of forming) is increased by, for example, about 0.1 V steps. The forming process is performed at a voltage that does not locally break or deform the conductive thin film 4 during the forming pulse.
The device current is measured by inserting a pulse voltage of about 1 V, and the process ends when the current decreases below a predetermined value.

【0049】(8) 次に、フォーミングが終了した電
子放出素子11に活性化処理を施し電子放出部5を形成
する(図4(g))。活性化処理の工程は、炭素化合物
質を含有する雰囲気下で、上記フォーミング処理同様、
電圧を印加することによって行うが、この雰囲気は、電
子源基板61を真空容器内に配し、適当な炭素化合物質
を導入することによって得られる。なお、後述する画像
形成装置のように、電子源基板61を用いて真空外囲器
69(図6参照)を形成する場合は、その真空外囲器6
9内は炭素化合物質を導入することで活性化処理を行う
ことができる。
(8) Next, an activation process is performed on the electron-emitting device 11 for which the forming has been completed to form an electron-emitting portion 5 (FIG. 4G). The activation process is performed under an atmosphere containing a carbon compound, as in the above-described forming process.
This atmosphere is obtained by applying a voltage. The atmosphere is obtained by disposing the electron source substrate 61 in a vacuum vessel and introducing an appropriate carbon compound. When the vacuum envelope 69 (see FIG. 6) is formed using the electron source substrate 61 as in an image forming apparatus described later, the vacuum envelope 6 is used.
An activation treatment can be performed in 9 by introducing a carbon compound.

【0050】適当な炭素化合物としては有機物質が好ま
しく、さらに有機物質としては、アルカン、アルケン、
アルキンの脂肪炭化水素類、芳香族炭化水素類、アルコ
ール類、アルデヒド類、ケトン類、アミン類、ニトリル
類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機酸類等
を挙げることができ、具体的には、メタン、エタン、プ
ロパンなどCn 2n+2で表される飽和炭化水素、エチレ
ン、プロピレンなどC n 2n等の組成式で表される不飽
和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノール、エタノ
ール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エチルアミ
ン、フェノール、ベンゾニトリル、アセトニトリル、蟻
酸、酢酸、プロピオン酸等が使用できる。
Organic substances are preferred as suitable carbon compounds.
In addition, as organic substances, alkanes, alkenes,
Alkyne fatty hydrocarbons, aromatic hydrocarbons, alcohols
Aldehydes, ketones, amines, nitriles
, Phenols, carboxyls, organic acids such as sulfonic acids, etc.
Specific examples include methane, ethane, and methane.
C such as LopinnH2n + 2A saturated hydrocarbon represented by the formula
C nH2nUnsaturation represented by a composition formula such as
Japanese hydrocarbon, benzene, toluene, methanol, etano
, Formaldehyde, acetaldehyde, aceto
, Methyl ethyl ketone, methylamine, ethylamine
, Phenol, benzonitrile, acetonitrile, ants
Acids, acetic acid, propionic acid and the like can be used.

【0051】この処理により、雰囲気中に存在する有機
物質から、炭素および/あるいは炭素化合物からなる膜
(カーボン膜)が電子放出素子11上に堆積し、素子電
流I f 、放出電流Ie が、著しく変化するようになる。
活性化工程の終了判定は、素子電流If 及び/または放
出電流Ie を測定しながら、適宜行う。なおパルス幅、
パルス間隔、パルス波高値などは適宜設定される。
By this treatment, the organic substances existing in the atmosphere
A film made of carbon and / or carbon compound from a substance
(Carbon film) is deposited on the electron-emitting device 11,
Style I f, Emission current IeChanges significantly.
The end of the activation step is determined by the device current IfAnd / or release
Output current IeThe measurement is performed as appropriate while measuring. Note that the pulse width,
The pulse interval, pulse crest value, and the like are set as appropriate.

【0052】上記炭素、炭素化合物とは、例えばグラフ
ァイト(いわゆるHOPG、PG、GCを包含する;H
OPGはほぼ完全なグラファイトの結晶構造、PGは結
晶粒が20nm程度で結晶構造がやや乱れたもの、GC
は結晶粒が2nm程度になり結晶構造の乱れがさらに大
きくなったものを指す。)、非晶質カーボン(アモルフ
ァスカーボン及びアモルファスカーボンと前記グラファ
イトの微結晶の混合物を指す)である。
The carbon and carbon compound include, for example, graphite (including so-called HOPG, PG, and GC;
OPG is a crystal structure of almost perfect graphite, PG is a crystal having a crystal grain of about 20 nm and a slightly disordered crystal structure, GC
Indicates that the crystal grain is about 2 nm and the disorder of the crystal structure is further increased. ), Amorphous carbon (refers to amorphous carbon and a mixture of amorphous carbon and the microcrystals of graphite).

【0053】(9) こうして作製した電子源基板に、
好ましくは、安定化工程にて処理を行う。この工程は、
活性化処理時に導入した有機物質の残留物を排気する工
程である。真空容器内の圧力は、1.3〜4.0×10
-5Pa以下が好ましく、更に1.3×10-6Pa以下が
特に好ましい。真空容器を排気する真空排気装置は、装
置から発生するオイルが素子の特性に影響を与えないよ
うに、オイルを使用しないものを用いるのが好ましい。
(9) On the electron source substrate thus manufactured,
Preferably, the treatment is performed in a stabilization step. This step is
This is a step of exhausting residues of organic substances introduced during the activation process. The pressure in the vacuum vessel is 1.3 to 4.0 × 10
-5 Pa or less, more preferably 1.3 × 10 -6 Pa or less. It is preferable to use a vacuum exhaust device that does not use oil so that the oil generated from the device does not affect the characteristics of the element.

【0054】具体的には、ソープションポンプ、イオン
ポンプ等の真空排気装置を挙げることができる。さら
に、真空容器内を排気するときには、真空容器全体を加
熱して、真空容器内壁や、電子源基板に吸着した有機物
質分子を排気しやすくするのが好ましい。このときの加
熱条件は、80〜250℃、好ましくは150℃以上に
て、できるだけ長時間行うのが望ましいが、特にこの条
件に限るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子
源基板の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件によ
り行う。
Specifically, a vacuum pumping device such as a sorption pump or an ion pump can be used. Further, when evacuating the inside of the vacuum vessel, it is preferable that the entire vacuum vessel is heated so that the organic substance molecules adsorbed on the inner wall of the vacuum vessel and the electron source substrate are easily evacuated. The heating condition at this time is desirably 80 to 250 ° C., preferably 150 ° C. or more, and it is desirable to perform the heating for as long as possible. However, it is not particularly limited to this condition, and the size and shape of the vacuum vessel and the configuration of the electron source substrate This is performed under conditions appropriately selected according to various conditions such as the above.

【0055】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了後の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することができる。
It is preferable that the atmosphere during the driving after the stabilization step is performed is the same as the atmosphere after the above stabilization processing, but the present invention is not limited to this. However, even if the pressure itself slightly increases, sufficiently stable characteristics can be maintained.

【0056】このような真空雰囲気を採用することによ
り、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆積を抑制でき、
結果として素子電流If 、及び放出電流Ie が安定す
る。
By employing such a vacuum atmosphere, the deposition of new carbon or a carbon compound can be suppressed.
As a result, the element current If and the emission current Ie are stabilized.

【0057】以上が、本発明における電子源基板の製造
工程であるが、該電子源基板を用いて画像形成装置を構
成した例を、図6と図7を用いて以下に説明する。図6
は、画像形成装置の画像形成部材による基本構成図であ
り、図7は蛍光膜を示す図である。
The above is the manufacturing process of the electron source substrate according to the present invention. An example in which an image forming apparatus is formed by using the electron source substrate will be described below with reference to FIGS. FIG.
Is a basic configuration diagram of an image forming member of the image forming apparatus, and FIG. 7 is a diagram illustrating a fluorescent film.

【0058】図6において、61は複数の電子放出素子
11を配置した電子源基板、62は電子源基板61を固
定したリアプレート、67はガラス基板(リアプレート
基板)64とその内面に形成された蛍光膜65とメタル
バック66等からなるフェースプレートである。63は
支持枠である。該支持枠63には、リアプレート62、
フェースプレート67がフリットガラス等を用いて接続
されている。69は真空外囲器であり、例えば大気中あ
るいは窒素中で、400〜500℃の温度範囲にて10
分間以上焼成することで、封着して構成される。
In FIG. 6, reference numeral 61 denotes an electron source substrate on which a plurality of electron-emitting devices 11 are arranged; 62, a rear plate on which the electron source substrate 61 is fixed; 67, a glass substrate (rear plate substrate) 64; This is a face plate including a phosphor film 65 and a metal back 66. 63 is a support frame. The support frame 63 includes a rear plate 62,
The face plate 67 is connected using frit glass or the like. Reference numeral 69 denotes a vacuum envelope, for example, in a temperature range of 400 to 500 ° C.
By baking for more than a minute, it is configured by sealing.

【0059】真空外囲器69は、上述の如く、フェース
プレート67、支持枠63、及びリアプレート62で構
成したが、リアプレート62は主に電子源基板61の強
度を補強する目的で設けられるため、電子源基板61自
体で十分な強度を持つ場合は別体のリアプレート62は
不要であり、電子源基板61に直接支持枠63を封着
し、フェースプレート67、支持枠63、及び電子源基
板61で真空外囲器69を構成してもよい。
The vacuum envelope 69 includes the face plate 67, the support frame 63, and the rear plate 62 as described above. The rear plate 62 is provided mainly for the purpose of reinforcing the strength of the electron source substrate 61. Therefore, if the electron source substrate 61 itself has sufficient strength, the separate rear plate 62 is unnecessary, and the support frame 63 is directly sealed to the electron source substrate 61, and the face plate 67, the support frame 63, and the The source container 61 may constitute the vacuum envelope 69.

【0060】一方、フェースプレート67、リアプレー
ト62間に、スペーサーと呼ばれる不図示の支持体を設
置することにより、大気圧に対して十分な強度をもつ真
空外囲器69を構成することもできる。
On the other hand, by providing a support (not shown) called a spacer between the face plate 67 and the rear plate 62, a vacuum envelope 69 having sufficient strength against atmospheric pressure can be formed. .

【0061】図7は、蛍光膜を示す図である。蛍光膜6
5は、モノクロームの場合は蛍光体のみから成るが、カ
ラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配列により、(a)に
示すブラックストライプあるいは(b)に示すブラック
マトリクスなどと呼ばれる黒色導電体71と蛍光体72
とで構成される。ブラックストライプ、またはブラック
マトリクスが設けられる目的は、カラー表示の場合必要
となる3原色蛍光体の、各蛍光体72間の塗り分け部を
黒くすることで、混色等を目立たなくすることと、蛍光
膜65における外光反射によるコントラストの低下を抑
制することにある。ブラックストライプの材料として
は、通常よく用いられている黒鉛を主成分とする材料だ
けでなく、導電性があり、光の透過及び反射が少ない材
料であればこれに限るものではない。ガラス基板64に
蛍光体を塗布する方法は、モノクローム、カラーによら
ず、沈澱法、印刷法等が用いられる。
FIG. 7 is a diagram showing a fluorescent film. Fluorescent film 6
In the case of a monochrome phosphor, a black conductor 71 called a black stripe or a black matrix shown in (a) or (b) depends on the arrangement of the phosphors in the case of a color phosphor film. And phosphor 72
It is composed of The purpose of providing the black stripes or the black matrix is to make the color separation between the respective phosphors 72 of the three primary color phosphors necessary for color display black so that mixed colors and the like are inconspicuous. The object is to suppress a decrease in contrast due to reflection of external light on the film 65. The material of the black stripe is not limited to a commonly used material containing graphite as a main component, as long as it is conductive and has little light transmission and reflection. As a method of applying the phosphor on the glass substrate 64, a precipitation method, a printing method, or the like is used regardless of monochrome or color.

【0062】また、蛍光膜65の内面側には通常メタル
バック66が設けられる。メタルバック66の目的は、
蛍光体72の発光のうち内面側への光をフェースプレー
ト67側へ鏡面反射させることにより輝度を向上させる
こと、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として
作用させること、真空外囲器69内で発生した負イオン
の衝突によるダメージからの蛍光体72の保護等であ
る。メタルバック66は、蛍光膜65を作製後、蛍光膜
65の内面側表面の平滑化処理(通常フィルミングと呼
ばれる)を行い、その後Alを、真空蒸着等を用いて堆
積させることで作製できる。フェースプレート67に
は、更に蛍光膜65の導電性を高めるため、蛍光膜65
の外面側に透明電極(不図示)を設けてもよい。前述の
封着を行う際、カラーの場合は各色蛍光体と電子放出素
子11とを対応させなくてはいけないため、十分な位置
合わせを行う必要がある。
A metal back 66 is usually provided on the inner side of the fluorescent film 65. The purpose of the metal back 66 is
Improving the brightness by mirror-reflecting the light toward the inner surface side of the light emitted from the phosphor 72 toward the face plate 67, acting as an electrode for applying an electron beam acceleration voltage, and using the inside of the vacuum envelope 69. And protection of the phosphor 72 from damage due to the collision of the negative ions generated in the above. The metal back 66 can be manufactured by performing a smoothing process (usually called filming) on the inner surface of the fluorescent film 65 after manufacturing the fluorescent film 65, and then depositing Al using vacuum evaporation or the like. In order to further increase the conductivity of the fluorescent film 65, a fluorescent film 65
May be provided with a transparent electrode (not shown) on the outer surface side. When the above-mentioned sealing is performed, in the case of color, the phosphors of each color must correspond to the electron-emitting devices 11, so that it is necessary to perform sufficient alignment.

【0063】真空外囲器69は、不図示の排気管を通じ
て、1.3×10-5Pa程度の真空度にした後、封止が
行われる。また、真空外囲器69の封止後の真空度を維
持するために、ゲッタ処理を行う場合もある。これは、
真空外囲器69の封止を行う直前あるいは封止後に、抵
抗加熱あるいは高周波加熱等の加熱法により、真空外囲
器69内の所定の位置(不図示)に配置されたゲッタを
加熱し、蒸着膜を形成する処理である。ゲッタは通常B
a等が主成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、例え
ば1.3×10-3Paないしは1.3×10-5Paの真
空度を維持するものである。
After the vacuum envelope 69 is evacuated to about 1.3 × 10 −5 Pa through an exhaust pipe (not shown), sealing is performed. In addition, getter processing may be performed to maintain the degree of vacuum after sealing the vacuum envelope 69. this is,
Immediately before or after the sealing of the vacuum envelope 69, a getter disposed at a predetermined position (not shown) in the vacuum envelope 69 is heated by a heating method such as resistance heating or high-frequency heating, This is a process for forming a deposition film. Getter is usually B
a is a main component, and maintains a degree of vacuum of, for example, 1.3 × 10 −3 Pa or 1.3 × 10 −5 Pa by the adsorption action of the deposited film.

【0064】以上により完成した本実施の形態に係る画
像形成装置において、各電子放出素子11には、容器外
端子Dox1ないしDoxmと、容器外端子Doy1な
いしDoynとを通じて、電圧を印加することにより、
電子放出させ、高圧端子68を通じて、メタルバック6
6あるいは透明電極(不図示)に数kV以上の高圧を印
加し、電子ビームを加速し、蛍光膜65に衝突させ、励
起・発光させることで画像を表示するものである。
In the image forming apparatus according to the present embodiment completed as described above, a voltage is applied to each electron-emitting device 11 through external terminals Dox1 to Doxm and external terminals Doy1 to Doyn.
Electrons are emitted and the metal back 6
An image is displayed by applying a high voltage of several kV or more to 6 or a transparent electrode (not shown), accelerating the electron beam, causing the electron beam to collide with the fluorescent film 65, exciting and emitting light.

【0065】なお、以上述べた構成は、表示等に用いら
れる好適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成
であり、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述の内
容に限られるものではなく、画像形成装置の用途に適す
るよう適宜選択する。
The configuration described above is a schematic configuration necessary for producing a suitable image forming apparatus used for display and the like. For example, detailed portions such as materials of each member are limited to those described above. Instead, it is appropriately selected so as to be suitable for the use of the image forming apparatus.

【0066】また、本発明に係る画像形成装置は、テレ
ビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコンピ
ュータ等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成
された光プリンタとしての画像形成装置等としても用い
ることができる。
The image forming apparatus according to the present invention is a display apparatus for a television broadcast, a display apparatus such as a video conference system or a computer, and an image forming apparatus as an optical printer using photosensitive drums and the like. Etc. can also be used.

【0067】[0067]

【実施例】以下、具体的な実施例を挙げて本発明を詳し
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to specific examples, but the present invention is not limited to these examples, and each element within a range in which the object of the present invention is achieved. This also includes those in which substitutions or design changes have been made.

【0068】(実施例1)本実施例に係る基本的な電子
源基板の構成は、図1、図2、及び図3に示したのと同
様である。本実施例における電子源基板の製造法は、図
4に示している。以下、図1、図2、図4を用いて、本
実施例に係る画像形成装置の基本的な構成及び製造法を
説明する。図4は簡便のため、一個の電子放出素子11
のみとその近傍を拡大して示しているが、本実施例は、
多数の電子放出素子11を単純マトリクス配置した電子
源基板61の製造工程の例である。
(Embodiment 1) The basic structure of an electron source substrate according to this embodiment is the same as that shown in FIGS. 1, 2 and 3. FIG. 4 shows a method of manufacturing the electron source substrate in this embodiment. Hereinafter, a basic configuration and a manufacturing method of the image forming apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1, 2, and 4. FIG. FIG. 4 shows one electron-emitting device 11 for simplicity.
Only and the vicinity thereof are shown in an enlarged manner.
This is an example of a manufacturing process of an electron source substrate 61 in which a large number of electron-emitting devices 11 are arranged in a simple matrix.

【0069】工程−a 清浄化した青板ガラス基体1上に、ナトリウム拡散制御
層9として厚さ1.0μmのSiO2 膜をスパッタ法で
形成する。
Step-a A 1.0 μm thick SiO 2 film is formed as a sodium diffusion control layer 9 on a cleaned blue glass substrate 1 by a sputtering method.

【0070】工程−b 次に、ナトリウム拡散制御層9を形成した基体1上に、
スパッタ法により厚さ5nmのTi、続いて50nmの
Ruを堆積する。その後、電極2,3のパターンをフォ
トレジストで形成し、ドライエッチング処理によって電
極2,3のパターン以外のTi上にRuが形成された積
層膜を除去し、最後にフォトレジストパターンを除去し
て、電極2,3を形成する。
Step-b Next, on the substrate 1 on which the sodium diffusion control layer 9 is formed,
5 nm thick Ti and 50 nm Ru are deposited by sputtering. Thereafter, the patterns of the electrodes 2 and 3 are formed of photoresist, the laminated film in which Ru is formed on Ti other than the patterns of the electrodes 2 and 3 by dry etching is removed, and finally the photoresist pattern is removed. , Electrodes 2 and 3 are formed.

【0071】工程−c ナトリウム拡散制御層9、及び電極2,3を形成した基
体1上に、スクリーン印刷により、配線6のパターンを
Agペーストを用いて形成し、乾燥後、500℃で焼成
し、Agからなる所望の形状の配線6を形成する。
Step-c On the substrate 1 on which the sodium diffusion control layer 9 and the electrodes 2 and 3 are formed, a pattern of the wiring 6 is formed by screen printing using an Ag paste, dried, and baked at 500 ° C. , Ag of a desired shape is formed.

【0072】工程−d 次に層間絶縁層8のパターンを、スクリーン印刷によ
り、ガラスペーストを用いて形成し、乾燥後、500℃
で焼成する。十分な絶縁性を得るために、再度、ガラス
ペーストを用いた印刷、その乾燥、及び焼成を繰り返し
て、ガラスからなる所望の形状の層間絶縁層8を形成す
る。
Step-d Next, a pattern of the interlayer insulating layer 8 is formed by screen printing using a glass paste.
Baking. In order to obtain sufficient insulating properties, printing using a glass paste, drying and baking are repeated again to form an interlayer insulating layer 8 of a desired shape made of glass.

【0073】工程−e 層間絶縁層8を形成した部位において下配線6と交差す
るように、上配線7のパターンを、スクリーン印刷によ
り、Agペーストを用いて形成し、乾燥後、500℃で
焼成し、Agからなる所望の形状の上配線7を形成す
る。
Step-e The pattern of the upper wiring 7 is formed by screen printing using an Ag paste so as to intersect the lower wiring 6 at the portion where the interlayer insulating layer 8 is formed, dried, and fired at 500 ° C. Then, an upper wiring 7 of a desired shape made of Ag is formed.

【0074】以上の工程により、電極2,3が配線6,
7によってマトリクス状に結線された基板が形成でき
る。
By the above steps, the electrodes 2 and 3 are connected to the wiring 6 and
7, a substrate connected in a matrix can be formed.

【0075】ここで、図2中のA−A' で示す線に沿っ
て、エレクトロンプローブマイクロアナリシス(EPM
A)の手法により、横軸に配線6からの距離(μm)を
とって、本発明に係る電子源基板61におけるAg元素
の分布を計測した結果の例を、図8に示す。また、比較
のため、Agよりも標準単極電位の高いPtよりなる電
極2,3及びAgよりなる配線6,7を形成した場合
の、同様のAg元素の分布を計測した結果の例を、図9
に示す。図8及び図9から分かるように、本発明によ
り、配線6,7からのAgの電極2,3への拡散が抑え
られていることが分かる。
Here, along the line indicated by AA ′ in FIG. 2, the electron probe microanalysis (EPM) is performed.
FIG. 8 shows an example of the result of measuring the distribution of Ag elements in the electron source substrate 61 according to the present invention by taking the distance (μm) from the wiring 6 on the horizontal axis by the method A). For comparison, an example of the result of measuring the distribution of the same Ag element when the electrodes 2 and 3 made of Pt having a higher standard monopolar potential than Ag and the wirings 6 and 7 made of Ag are formed is shown below. FIG.
Shown in As can be seen from FIGS. 8 and 9, it is understood that the diffusion of Ag from the wirings 6 and 7 to the electrodes 2 and 3 is suppressed by the present invention.

【0076】工程−f 次に、導電性薄膜4を電極2,3のギャップ間にまたが
るように形成する。導電性薄膜4の形成は、有機パラジ
ウム溶液をインクジェット法により所望の位置に塗布
し、350℃で30分間の加熱焼成処理をする。こうし
て得られた導電性薄膜4はPdOが主成分となり、膜厚
は約10nmであった。
Step-f Next, a conductive thin film 4 is formed so as to span the gap between the electrodes 2 and 3. The conductive thin film 4 is formed by applying an organic palladium solution to a desired position by an inkjet method, and performing a heating and baking treatment at 350 ° C. for 30 minutes. The conductive thin film 4 thus obtained contained PdO as a main component and had a thickness of about 10 nm.

【0077】以上の工程により、基体1上にナトリウム
拡散制御層9、下配線6、層間絶縁層8、上配線7、電
極2,3、及び導電性薄膜4を形成し、電子源基板61
を作製した。
Through the above steps, the sodium diffusion control layer 9, the lower wiring 6, the interlayer insulating layer 8, the upper wiring 7, the electrodes 2, 3 and the conductive thin film 4 are formed on the base 1, and the electron source substrate 61
Was prepared.

【0078】以下に、本実施例に係る電子源基板を用い
て、画像形成装置を構成した例を、図6と図1を用いて
説明する。
Hereinafter, an example in which an image forming apparatus is configured using the electron source substrate according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.

【0079】以上のようにして作製した電子源基板61
をリアプレート62上に固定した後、電子源基板61の
5mm上方に、フェースプレート67(ガラス基板64
の内面に蛍光膜65とメタルバック66が形成されて構
成される)を、支持枠63を介して配置し、フェースプ
レート67、支持枠63、及びリアプレート62の接合
部にフリットガラスを塗布し、大気中で400℃にて1
0分焼成することで接合部の固定を行った。またリアプ
レート62への電子源基板61の固定もフリットガラス
で行った。
The electron source substrate 61 manufactured as described above
Is fixed on the rear plate 62, and a face plate 67 (glass substrate 64) is placed 5 mm above the electron source substrate 61.
Is formed with a fluorescent film 65 and a metal back 66 formed on the inner surface of the support plate 63 via a support frame 63, and frit glass is applied to a joint between the face plate 67, the support frame 63, and the rear plate 62. At 400 ° C in air
The joint was fixed by baking for 0 minutes. The fixing of the electron source substrate 61 to the rear plate 62 was also performed using frit glass.

【0080】蛍光膜65は、モノクロームの場合は蛍光
体72のみから成るが、本実施例では蛍光体72はスト
ライプ形状を採用し、先に黒色導電体71のブラックス
トライプを形成し、その間隙部に各色蛍光体を塗布し、
蛍光膜65を作製した。ブラックストライプの材料とし
て通常よく用いられている黒鉛を主成分とする材料を用
いた。ガラス基板64に蛍光体を塗布する方法はスラリ
ー法を用いた。
The fluorescent film 65 is composed of only the fluorescent material 72 in the case of monochrome, but in this embodiment, the fluorescent material 72 adopts a stripe shape, a black stripe of the black conductor 71 is formed first, and the gap portion is formed. Apply each color phosphor to
The fluorescent film 65 was produced. As a material for the black stripe, a material mainly containing graphite, which is generally used, was used. A slurry method was used to apply the phosphor to the glass substrate 64.

【0081】また、蛍光膜65の内面側には通常メタル
バック66が設けられる。メタルバック66は、蛍光膜
65の作製後、蛍光膜65の内面側表面の平滑化処理
(通常フィルミングと呼ばれる)を行い、その後、Al
を真空蒸着することで作製した。フェースプレート67
には、更に蛍光膜65の導電性を高めるため、蛍光膜6
5の外面側に透明電極(不図示)が設けられる場合もあ
るが、本実施例では、メタルバック66のみで十分な導
電性が得られたので省略した。前述の封着を行う際、カ
ラーの場合は各色蛍光体と電子放出素子11とを対応さ
せなくてはいけないため、十分な位置合わせを行った。
A metal back 66 is usually provided on the inner side of the fluorescent film 65. After the fluorescent film 65 is formed, the metal back 66 performs a smoothing process (usually called filming) on the inner surface of the fluorescent film 65, and then forms an Al film.
Was produced by vacuum evaporation. Face plate 67
In order to further increase the conductivity of the fluorescent film 65,
In some cases, a transparent electrode (not shown) is provided on the outer surface side of 5, but in this embodiment, it was omitted because only the metal back 66 provided sufficient conductivity. At the time of performing the above-described sealing, in the case of color, the phosphors of each color and the electron-emitting device 11 must correspond to each other, so that sufficient alignment was performed.

【0082】以上のようにして完成したガラス容器内の
雰囲気を排気管(図示せず)を通じて真空ポンプにて排
気し、十分な真空度に達した後、容器外端子Dox1な
いしDoxmと、容器外端子Doy1ないしDoynと
を通じて、電極2,3間に電圧を印加し、導電性薄膜4
をフォーミング処理した。フォーミング処理の電圧波形
は、図5(b)に示したのと同様である。本実施例では
電圧波形のパルス幅T1を1msec,パルス間隔T2
を10msecとし、約1.3×10-3Paの真空雰囲
気下でフォーミング処理を行った。
The atmosphere in the glass container completed as described above is exhausted by a vacuum pump through an exhaust pipe (not shown), and after reaching a sufficient degree of vacuum, external terminals Dox1 to Doxm and external terminals A voltage is applied between the electrodes 2 and 3 through the terminals Doy1 to Doyn, and the conductive thin film 4
Was formed. The voltage waveform of the forming process is the same as that shown in FIG. In this embodiment, the pulse width T1 of the voltage waveform is 1 msec and the pulse interval T2
Was set to 10 msec, and forming was performed in a vacuum atmosphere of about 1.3 × 10 −3 Pa.

【0083】次に、パネル形ガラス容器内の圧力が1.
3×10-6Pa台に達するまで排気を続けた後、パネル
形ガラス容器の排気管より、全圧が1.3×10-4Pa
となるように有機物質をパネル形ガラス容器内に導入
し、維持した。容器外端子Dox1ないしDoxmと、
容器外端子Doy1ないしDoynとを通じて電極2,
3間に、15Vの波高値のパルス電圧を印加し、活性化
処理を行った。
Next, when the pressure in the panel-shaped glass container is 1.
After evacuation was continued until the pressure reached 3 × 10 −6 Pa, the total pressure was 1.3 × 10 −4 Pa from the exhaust pipe of the panel-shaped glass container.
An organic substance was introduced into and maintained in the panel-shaped glass container such that External terminals Dox1 to Doxm;
Electrodes 2 through external terminals Doy1 to Doyn
During the period 3, a pulse voltage having a peak value of 15 V was applied to perform an activation process.

【0084】このように、フォーミング処理、及び活性
化処理を行い、各電子放出素子11の電子放出部5を形
成した。
As described above, the forming process and the activating process were performed to form the electron-emitting portions 5 of the respective electron-emitting devices 11.

【0085】次に、1.3×10-4Pa程度の圧力まで
排気し、不図示の排気管をガスバーナで熱することで溶
着し、真空外囲器69としてガラス容器の封止を行っ
た。最後に、封止後の圧力を維持するために、高周波加
熱法でゲッタ処理を行った。
Next, the gas was evacuated to a pressure of about 1.3 × 10 −4 Pa, and an exhaust pipe (not shown) was welded by heating with a gas burner, and the glass container was sealed as a vacuum envelope 69. . Finally, gettering was performed by a high-frequency heating method in order to maintain the pressure after sealing.

【0086】以上のようにして完成した本実施例に係る
画像形成装置において、各電子放出素子11には、容器
外端子Dox1ないしDoxmと、容器外端子Doy1
ないしDoynとを通じて、走査信号及び変調信号を不
図示の信号発生手段よりそれぞれ印加することにより、
電子放出させ、高圧端子68を通じて、メタルバック6
6、あるいは透明電極(不図示)に5kV以上の高圧を
印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜65に衝突させ、
励起・発光させることで画像を表示した。
In the image forming apparatus according to the present embodiment completed as described above, each of the electron-emitting devices 11 has an outer container terminal Dox1 to Doxm and an outer container terminal Doy1.
Through Doyn, by applying a scanning signal and a modulation signal from signal generation means (not shown), respectively.
Electrons are emitted and the metal back 6
6, or a high voltage of 5 kV or more is applied to a transparent electrode (not shown) to accelerate the electron beam and collide it with the fluorescent film 65;
An image was displayed by excitation and light emission.

【0087】本実施例における画像形成装置は、テレビ
ジョンとして十分満足できる輝度(約150fL)で良
好な画像を長時間にわたって安定に表示することができ
た。
The image forming apparatus according to the present embodiment was able to display a good image stably over a long period of time at a luminance (about 150 fL) sufficiently satisfactory for a television.

【0088】(実施例2)本実施例に係る基本的な電子
源基板61の構成は、実施例1と同様である。
(Embodiment 2) The basic configuration of an electron source substrate 61 according to this embodiment is the same as that of Embodiment 1.

【0089】工程−a 清浄化した青板ガラス基体1上に、ナトリウム拡散制御
層9として厚さ1.0μmのリンドープシリカガラス
(PSG)膜をCVD法で形成する。
Step-a A 1.0 μm-thick phosphorus-doped silica glass (PSG) film is formed as a sodium diffusion control layer 9 on the cleaned blue glass substrate 1 by a CVD method.

【0090】工程−b 次に、ナトリウム拡散制御層9を形成した基体1上に、
スパッタ法により厚さ5nmのTi、続いて50nmの
Rhを堆積する。その後、電極2,3のパターンをフォ
トレジストで形成し、ドライエッチング処理によって電
極2,3のパターン以外のTi上にRhが形成された積
層膜を除去し、最後にフォトレジストパターンを除去し
て、電極2,3を形成する。
Step-b Next, on the substrate 1 on which the sodium diffusion control layer 9 was formed,
Ti having a thickness of 5 nm is deposited by sputtering, followed by Rh having a thickness of 50 nm. Thereafter, the patterns of the electrodes 2 and 3 are formed of photoresist, the laminated film in which Rh is formed on Ti other than the patterns of the electrodes 2 and 3 is removed by dry etching, and finally the photoresist pattern is removed. , Electrodes 2 and 3 are formed.

【0091】工程−c ナトリウム拡散制御層9、及び電極2,3を形成した基
体1上に、スクリーン印刷により、配線6のパターン
を、Agペーストを用いて形成し、乾燥後、500℃で
焼成し、Agからなる所望の形状の配線6を形成する。
Step-c On the substrate 1 on which the sodium diffusion control layer 9 and the electrodes 2 and 3 are formed, a pattern of the wiring 6 is formed using an Ag paste by screen printing, dried, and fired at 500 ° C. Then, a wiring 6 having a desired shape made of Ag is formed.

【0092】工程−d 次に、層間絶縁層8のパターンを、スクリーン印刷によ
り、ガラスペーストを用いて形成し、乾燥後、500℃
で焼成する。十分な絶縁性を得るために、再度、ガラス
ペーストを用いた印刷、その乾燥、及び焼成を繰り返し
て、ガラスからなる所望の形状の層間絶縁層8を形成す
る。
Step-d Next, a pattern of the interlayer insulating layer 8 is formed by screen printing using a glass paste.
Baking. In order to obtain sufficient insulating properties, printing using a glass paste, drying and baking are repeated again to form an interlayer insulating layer 8 of a desired shape made of glass.

【0093】工程−e 層間絶縁層8を形成した部位において下配線6と交差す
るように、上配線7のパターンを、スクリーン印刷によ
り、Agペーストを用いて形成し、乾燥後、500℃で
焼成し、Agからなる所望の形状の上配線7を形成す
る。
Step-e The pattern of the upper wiring 7 is formed by screen printing using an Ag paste so as to intersect with the lower wiring 6 at the portion where the interlayer insulating layer 8 is formed, dried, and fired at 500 ° C. Then, an upper wiring 7 of a desired shape made of Ag is formed.

【0094】以上の工程により、電極2,3が配線6,
7によってマトリクス状に結線された電子源基板61が
形成された。
By the above steps, the electrodes 2 and 3 are connected to the wiring 6 and
7, the electron source substrates 61 connected in a matrix were formed.

【0095】ここで、図2中のA−A' の線に沿って、
エレクトロンプローブマイクロアナリシス(EPMA)
の手法により、Ag元素の分布を計測したところ、図8
に示したのと同様の結果が得られ、本実施例により、配
線6,7からのAgの電極2,3への拡散が抑えられて
いることが分かる。
Here, along the line AA ′ in FIG.
Electron probe microanalysis (EPMA)
The distribution of Ag element was measured by the method of FIG.
The results similar to those shown in FIG. 4 are obtained, and it is understood that the diffusion of Ag from the wirings 6 and 7 to the electrodes 2 and 3 is suppressed by the present embodiment.

【0096】工程−f 次に、導電性薄膜4を電極2,3のギャップ間にまたが
るように形成する。導電性薄膜4の形成は、有機パラジ
ウム溶液をインクジェット法により所望の位置に塗布
し、350℃で30分間の加熱焼成処理をする。こうし
て得られた導電性薄膜4はPdOが主成分となり、膜厚
は約10nmであった。
Step-f Next, a conductive thin film 4 is formed so as to span the gap between the electrodes 2 and 3. The conductive thin film 4 is formed by applying an organic palladium solution to a desired position by an inkjet method, and performing a heating and baking treatment at 350 ° C. for 30 minutes. The conductive thin film 4 thus obtained contained PdO as a main component and had a thickness of about 10 nm.

【0097】以上の工程により基体1上にナトリウム拡
散制御層9、下配線6、層間絶縁層8、上配線7、電極
2,3、及び導電性薄膜4を形成し、電子源基板61を
作製した。
Through the above steps, the sodium diffusion control layer 9, the lower wiring 6, the interlayer insulating layer 8, the upper wiring 7, the electrodes 2, 3 and the conductive thin film 4 are formed on the base 1, and the electron source substrate 61 is manufactured. did.

【0098】以後、実施例1と同様に、本実施例に係る
電子源基板61を用いて画像形成装置を構成したとこ
ろ、本実施例における画像形成装置においても、テレビ
ジョンとして十分満足できる輝度(約150fL)で良
好な画像を長時間にわたって安定に表示することができ
た。
After that, similarly to the first embodiment, when the image forming apparatus is configured by using the electron source substrate 61 according to the present embodiment, the image forming apparatus according to the present embodiment also has a luminance (which can be sufficiently satisfied as a television). At about 150 fL), a good image could be stably displayed for a long time.

【0099】[0099]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電極材科として構成元素の少なくとも一部が貴金属元素
よりなり、且つ、配線を構成する元素と比較して、該貴
金属元素の標準単極電位が低い材料を用いることによ
り、配線金属が電極中を拡散し難いため、電子放出特性
の劣化の原因となる配線金属の拡散を抑制することがで
き、その結果、特性の良好な電子源基板を得ることがで
きる。さらにそれを用いて、良好な画像を長時間にわた
り保持し得る大画面の平面型の画像形成装置、例えば、
カラーフラットテレビが実現できる。
As described above, according to the present invention,
As a material of the electrode material, at least a part of the constituent elements is composed of a noble metal element, and, compared to the element constituting the wiring, by using a material having a standard single-pole potential lower than that of the noble metal element, the wiring metal is formed in the electrode Since diffusion is difficult, diffusion of wiring metal which causes deterioration of electron emission characteristics can be suppressed, and as a result, an electron source substrate having good characteristics can be obtained. Furthermore, using it, a large screen flat type image forming apparatus capable of holding a good image for a long time, for example,
A color flat TV can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態に係る電子源基板の概略
構成の一例を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an example of a schematic configuration of an electron source substrate according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施の形態に係る電子源基板の電子
放出素子とその近傍の鳥瞰図である。
FIG. 2 is a bird's-eye view of an electron-emitting device of an electron source substrate according to an embodiment of the present invention and the vicinity thereof;

【図3】 本発明の実施の形態に係る電子源基板の電子
放出素子とその近傍の断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of an electron-emitting device of an electron source substrate according to an embodiment of the present invention and its vicinity.

【図4】 本発明の実施の形態に係る電子源基板の基本
的な製造方法を説明するための斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view for explaining a basic method of manufacturing the electron source substrate according to the embodiment of the present invention.

【図5】 本発明に係るフォーミング処理における電圧
波形の一例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a voltage waveform in a forming process according to the present invention.

【図6】 本発明に係る画像形成装置の基本構成を示す
斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view illustrating a basic configuration of an image forming apparatus according to the present invention.

【図7】 図6の画像形成装置に用いられる蛍光膜の例
を示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view illustrating an example of a fluorescent film used in the image forming apparatus of FIG. 6;

【図8】 実施例における本発明の効果を説明するため
の図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining an effect of the present invention in the example.

【図9】 実施例における本発明の効果を説明するため
の比較図である。
FIG. 9 is a comparative diagram for explaining the effect of the present invention in an example.

【図10】 従来の電子源基板の構成を示す平面図であ
る。
FIG. 10 is a plan view showing a configuration of a conventional electron source substrate.

【図11】 従来の電子源基板の構成を示す鳥瞰図であ
る。
FIG. 11 is a bird's-eye view showing a configuration of a conventional electron source substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:基体、2,3:電極、4:導電性薄膜、5:電子放
出部、6,7:配線、8:層間絶縁層、9:ナトリウム
拡散制御層、11:電子放出素子、61:電子源基板、
62:リアプレート、63:支持枠、64:ガラス基
板、65:蛍光膜、66:メタルバック、67:フェー
スプレート、68:高圧端子、69:真空外囲器、7
1:黒色導電体、72:蛍光体。
1: Base, 2, 3: electrode, 4: conductive thin film, 5: electron emitting portion, 6, 7: wiring, 8: interlayer insulating layer, 9: sodium diffusion control layer, 11: electron emitting element, 61: electron Source board,
62: rear plate, 63: support frame, 64: glass substrate, 65: fluorescent film, 66: metal back, 67: face plate, 68: high voltage terminal, 69: vacuum envelope, 7
1: black conductor, 72: phosphor.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒井 由高 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内 Fターム(参考) 5C031 DD17 DD19 5C036 EE08 EE14 EF01 EF06 EF09 EG12 EH08  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Yoshitaka Arai 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo F-term in Canon Inc. (Reference) 5C031 DD17 DD19 5C036 EE08 EE14 EF01 EF06 EF09 EG12 EH08

Claims (18)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基体上に、一対の電極を有する電子放出
素子と、該電極に接続された配線と、を有する電子源基
板であって、 前記電極は、構成元素の少なくとも一部が貴金属元素よ
りなり、且つ、前記配線を構成する元素と比較して、該
貴金属元素の標準単極電位が低いことを特徴とする電子
源基板。
1. An electron source substrate comprising: an electron-emitting device having a pair of electrodes on a substrate; and a wiring connected to the electrodes, wherein the electrodes are configured such that at least a part of constituent elements is a noble metal element. An electron source substrate, wherein the standard monopolar potential of the noble metal element is lower than that of the element constituting the wiring.
【請求項2】 前記配線は、Ag、Cu、及びAuのい
ずれかの金属、並びにこれらのいずれかの金属を含む合
金のうちのいずれかからなることを特徴とする請求項1
に記載の電子源基板。
2. The wiring according to claim 1, wherein the wiring is made of any one of Ag, Cu, and Au, and an alloy containing any one of these metals.
3. The electron source substrate according to claim 1.
【請求項3】 前記配線は、構成元素の少なくとも一部
が、Agであることを特徴とする請求項1または2に記
載の電子源基板。
3. The electron source substrate according to claim 1, wherein at least a part of constituent elements of the wiring is Ag.
【請求項4】 前記電極は、前記配線と接する部位にお
いて、Ru、Rh、及びOsより選ばれた1 種類以上の
元素により構成されることを特徴とする請求項1〜3の
いずれかに記載の電子源基板。
4. The electrode according to claim 1, wherein the electrode is made of at least one element selected from the group consisting of Ru, Rh, and Os at a portion in contact with the wiring. Electron source substrate.
【請求項5】 基体上に、一対の電極を有する電子放出
素子と、該電極に接続された配線と、を有する電子源基
板であって、 前記配線は、Ag、Cu、及びAuのいずれかの金属、
あるいは、前記いずれかの金属を含む合金を含み、 前記電極は、Ru、Rh、及びOsより選ばれた1種類
以上の元素を含む、ことを特徴とする電子源基板。
5. An electron source substrate comprising: an electron-emitting device having a pair of electrodes on a substrate; and a wiring connected to the electrodes, wherein the wiring is any one of Ag, Cu, and Au. Metal,
Alternatively, the electron source substrate includes an alloy including any one of the metals, and the electrode includes at least one element selected from Ru, Rh, and Os.
【請求項6】 前記基体は、前記電極及び前記配線の少
なくともいずれかと接する部位において、主成分がシリ
カよりなることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに
記載の電子源基板。
6. The electron source substrate according to claim 1, wherein a main component of the base is made of silica at a portion in contact with at least one of the electrode and the wiring.
【請求項7】 前記電子放出素子は、さらにその一部に
電子放出部を有する導電性膜を有することを特徴とする
請求項1〜6のいずれかに記載の電子源基板。
7. The electron source substrate according to claim 1, wherein said electron-emitting device further includes a conductive film having an electron-emitting portion in a part thereof.
【請求項8】 前記導電性膜は、Pd、PdO、及びそ
れらの混合物のいずれかよりなることを特徴とする請求
項7に記載の電子源基板。
8. The electron source substrate according to claim 7, wherein the conductive film is made of one of Pd, PdO, and a mixture thereof.
【請求項9】 前記電子放出素子は、表面伝導型電子放
出素子であることを特徴とする請求項1〜8のいずれか
に記載の電子源基板。
9. The electron source substrate according to claim 1, wherein said electron-emitting device is a surface conduction electron-emitting device.
【請求項10】 前記電子放出素子が複数個配置され、
入力信号に応じて電子を放出することを特徴とする請求
項1〜9のいずれかに記載の電子源基板。
10. A plurality of said electron-emitting devices are arranged,
The electron source substrate according to claim 1, wherein electrons are emitted in response to an input signal.
【請求項11】 前記電子放出素子を複数個並列に配置
し、個々の電子放出素子の両端を前記配線に接続した電
子放出素子の行を複数もち、更に、該電子放出素子に変
調信号を印加する変調手段を有することを特徴とする請
求項10に記載の電子源基板。
11. A plurality of said electron-emitting devices are arranged in parallel, a plurality of rows of electron-emitting devices having both ends of each electron-emitting device connected to said wiring, and a modulation signal is applied to said electron-emitting device. The electron source substrate according to claim 10, further comprising a modulating unit that performs the modulation.
【請求項12】 互いに電気的に絶縁されたm本のX方
向配線とn本のY方向配線とに、前記電子放出素子の一
対の電極を接続し、該電子放出素子をマトリクス状に配
列したことを特徴とする請求項10または11に記載の
電子源基板。
12. A pair of electrodes of the electron-emitting device are connected to m X-directional wires and n Y-directional wires electrically insulated from each other, and the electron-emitting devices are arranged in a matrix. The electron source substrate according to claim 10, wherein:
【請求項13】 前記基体が無アルカリガラスからなる
ことを特徴とする請求項1〜12のいずれかに記載の電
子源基板。
13. The electron source substrate according to claim 1, wherein said base is made of non-alkali glass.
【請求項14】 前記基体の表面にナトリウム拡散制御
層を形成し、該ナトリウム拡散制御層上に前記電子放出
素子及び配線を配置したことを特徴とする請求項1〜1
2のいずれかに記載の電子源基板。
14. The device according to claim 1, wherein a sodium diffusion control layer is formed on the surface of the base, and the electron-emitting device and the wiring are arranged on the sodium diffusion control layer.
3. The electron source substrate according to any one of 2.
【請求項15】 請求項1〜14のいずれかに記載の電
子源基板の製造方法であって、前記配線は、金属ぺース
トの印刷と加熱焼成によって形成されることを特徴とす
る電子源基板の製造方法。
15. The method of manufacturing an electron source substrate according to claim 1, wherein the wiring is formed by printing a metal paste and heating and baking. Manufacturing method.
【請求項16】 炭素化合物質を含有する雰囲気中で前
記電子放出素子に活性化処理を施す工程と、該活性化処
理時に導入した炭素化合物質の残留物を排出する工程と
を含むことを特徴とする請求項15に記載の電子源基板
の製造方法。
16. A method comprising the steps of: activating an electron-emitting device in an atmosphere containing a carbon compound; and discharging a residue of the carbon compound introduced during the activation. The method for manufacturing an electron source substrate according to claim 15, wherein
【請求項17】 入力信号に基づいて画像を形成する装
置であって、少なくとも、画像形成部材と請求項1〜1
4のいずれかに記載の電子源基板より構成されたことを
特徴とする画像形成装置。
17. An apparatus for forming an image based on an input signal, comprising at least an image forming member and an image forming member.
5. An image forming apparatus comprising the electron source substrate according to any one of 4.
【請求項18】 電子源基板と、画像形成部材を有する
基板とを対向して配置させた画像形成装置であって、前
記電子源基板が、請求項1〜14のいずれかに記載の電
子源基板であることを特徴とする画像形成装置。
18. An image forming apparatus in which an electron source substrate and a substrate having an image forming member are arranged to face each other, wherein the electron source substrate is any one of claims 1 to 14. An image forming apparatus, which is a substrate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100849567B1 (en) * 2005-12-13 2008-07-31 캐논 가부시끼가이샤 Method of fabricating electron-emitting device and method of fabricating image display apparatus as well as electron source therewith

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