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JP2002286959A - 半導体装置、光電融合基板、及びそれらの製造方法 - Google Patents

半導体装置、光電融合基板、及びそれらの製造方法

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Publication number
JP2002286959A
JP2002286959A JP2001379831A JP2001379831A JP2002286959A JP 2002286959 A JP2002286959 A JP 2002286959A JP 2001379831 A JP2001379831 A JP 2001379831A JP 2001379831 A JP2001379831 A JP 2001379831A JP 2002286959 A JP2002286959 A JP 2002286959A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
light
substrate
spherical
light receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001379831A
Other languages
English (en)
Inventor
Mamoru Uchida
護 内田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2001379831A priority Critical patent/JP2002286959A/ja
Priority to EP20010130685 priority patent/EP1219994B1/en
Priority to AT01130685T priority patent/ATE500619T1/de
Priority to DE60144137T priority patent/DE60144137D1/de
Priority to US10/025,928 priority patent/US6897430B2/en
Publication of JP2002286959A publication Critical patent/JP2002286959A/ja
Priority to US11/076,991 priority patent/US6936808B2/en
Priority to US11/188,748 priority patent/US7141778B2/en
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光伝送領域を伝搬してくる光を受光する際
に、受光部の方向依存性を低減した半導体装置を提供す
る。 【解決手段】 光伝送領域及び該光伝送領域を伝搬する
光を電気信号に変換する受光部を有する半導体装置であ
って、該光伝送領域は2次元型光導波路層を含み構成さ
れており、且つ該受光部の少なくとも一部が該光伝送領
域に埋め込まれていることを特徴とする半導体装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光伝送媒体と光電
変換を行う受光素子とが混載した半導体装置に関する。
特に、該光伝送媒体が2次元型光導波路で構成されてい
る光電融合基板に関するものである。また、本発明は電
気配線層、及び光伝送層を有する光電融合配線基板に関
する。また、本発明は、球状デバイスに関する。
【0002】
【従来の技術】近年著しい普及が目立つ携帯電話や個人
情報端末(PDA:Personal DigitalAssitant)には、
小型・軽量であることと同時にトランジスタの処理速度
が非常に高いことが求められる。
【0003】トランジスタの処理速度が上がるにつれ、
即ちCPUのクロック周波数が上がるにつれて、電子回
路基板内における配線遅延の影響が大きくなることが指
摘されている。
【0004】配線遅延は、配線抵抗と配線容量の積に比
例するため、配線抵抗あるいは配線容量の低減が必要と
なる。
【0005】配線遅延対策としては、チップ内およびチ
ップ間の配線を極力短くすることが最も単純な対策方法
となる。
【0006】一方、配線間隔が短くなると処理速度の向
上は期待できるものの、別の問題点が顕在化してくる。
【0007】それは、EMI(電磁放射干渉ノイズ:El
ectroMagnetic Interference)の問題である。
【0008】電子部品同士が近接して配置されることか
ら、配線は短くなるが、配線密度は高くなる。
【0009】この結果、近接した信号線に高速の信号が
流れた場合、相互の電磁誘導により電磁波が干渉し合っ
てノイズを発生し、信号が正しく伝送できなくなるので
ある。
【0010】特にモバイル端末では、低電圧化が進む影
響で、従来より大電流で駆動されるケースが増えてお
り、EMIの影響がより大きくなることが懸念される。
【0011】EMIの問題を解決する為に、本質的に電
磁無誘導の利点を有する光配線を用いる方法が提案され
ている。
【0012】例えば特開2000−235127号公報
には、図35に示すように電子素子と光素子とが集積化
された回路基板が示されている。
【0013】同図において、5201は電子集積回路基
板、5204は発光部、5206受光部、5207は光
路変換部、5210はコンタクト電極である。5211
は、回路基板5201と発光部や受光部とを張り合わせ
るためのポリイミドである。5212は電気配線、52
13は面発光レーザー、5214はフォトダイオード、
5215は低反射層、5216はポリマー層、5217
は第1のクラッド層、5218はコア層、5219は第
2のクラッド層、5220高反射膜である。
【0014】発光部5213から入力された光は、光路
変換部で反射され、コア層5218内を図中の矢印52
21の方向に伝搬し、再度光路変換された後、受光部5
206により受光される。
【0015】あらかじめ入力光が伝搬してくる方向が定
められている場合には、上記図35に示される構成でも
電気信号配線の一部を光配線に置き換えることが可能で
ある。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、例え
ば、コア層5218を伝搬してくる入力光が、図中に矢
印で示されている5222方向からの光の場合は、同図
の構成では受光できない。
【0017】そこで、本発明は、光伝送領域を伝搬して
くる光を受光する際に方向依存性を低減した半導体装置
を提供することを目的とする。
【0018】なお本発明は、方向依存性(指向性)の低
減に寄与し得る発光デバイスあるいは受光デバイスを提
供することも目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光電子融合
装置は、光伝送領域及び該光伝送領域を伝搬する光を電
気信号に変換する受光部を有する光電子融合装置であっ
て、該光伝送領域は2次元型光導波路層を含み構成され
ており、且つ該受光部の少なくとも一部が該光伝送領域
に埋め込まれていることを特徴とする。
【0020】本発明により光伝送領域を伝搬してくる光
を受光する際の、受光感度の方向依存性を低減すること
ができる。
【0021】また、本発明においては、前記光伝送領域
上に電気配線層を積層しておくこともできる。電気配線
層は、光伝送領域上の全面に積層しておいてもよい。勿
論、光伝送領域上に、電気配線を含むいわゆる半導体チ
ップを積層することもできる。斯かる場合には、半導体
チップと光伝送領域間に前記受光部が介在することにな
る。
【0022】なお、受光部がpn接合領域や、PIN領
域を有する場合には、当該領域の少なくとも一部が、前
記光伝送領域に埋めこまれているのがよい。もちろん、
実質的に当該領域の全部が埋めこまれていてもよい。
【0023】前記受光部は、前記2次元型光導波路層内
を伝搬する光を直接受光可能であるように該光伝送領域
に埋め込まれていてもよい。
【0024】前記受光部は、前記2次元型光導波路層の
面内を伝搬する光を実質的に指向性無く受光可能である
ように埋め込んでおくこともできる。
【0025】前記受光部の前記光伝送領域に埋め込まれ
ている部分は、球状の面を有しているのがよい。
【0026】前記受光部は、球状デバイスを含み構成さ
れていてもよい。
【0027】前記光伝送領域に光を送信する為の発光部
も、その一部を該光伝送領域に埋め込んでおくこともで
きる。
【0028】前記光伝送領域が、該光伝送領域の上に位
置する前記電気配線層と、該光伝送領域の下に位置する
別の電気配線層により挟まれており、そして、互いの電
気配線層の少なくとも一部は、該光伝送領域を貫くビア
により電気的に接続されていることもまた好ましいもの
である。
【0029】前記電気配線層上に設けられた電子デバイ
スと前記光伝送領域とのO/E変換、あるいはE/O変
換の少なくとも一方を球状デバイスを用いて行うことも
できる。
【0030】また、本発明に係る光電融合基板は、電子
デバイスおよび光デバイスが配置された基板であって、
少なくとも2層から構成され、該基板の第1層には、前
記電子デバイス、前記光デバイス及びこれらを結合する
電気配線が配置され、該基板の第2層には2次元型光導
波路が形成されており、前記光デバイスは該2次元型光
導波路を導波している光を受光する受光部を有し、該受
光部の少なくとも一部は該2次元型光導波路に埋め込ま
れていることを特徴とする。
【0031】前記2次元型光導波路が、シート状に形成
されていてもよい。
【0032】前記受光部が球状構造を有し、且つ該受光
部は前記光導波路に埋め込まれるように該基板表面から
実装されており、該基板の表面では前記電気配線と結合
さておくこともできる。
【0033】前記光デバイスには受光部とこれを駆動す
る、あるいは得られる電気信号を増幅する電気回路が形
成されていてもよい。
【0034】前記光デバイスのうち光源が、球状形状を
なし、前記基板の前記光導波路に埋め込まれるように該
基板に表面から実装され、該基板の表面では前記電気配
線と結合していてもよい。 前記基板は、球状構造の送
信用デバイス、及びパラレル信号ラインを有し、該パラ
レル信号ラインの出力端子が前記球状送信用デバイスに
結合され、該送信用デバイスでパラレルシリアル変換す
ることで、シリアル光信号として前記2次元型光導波路
に送出することもできる。
【0035】前記シリアル光信号を前記2次元型光導波
路に埋め込まれた前記受光部で受光し、電気信号に変換
されたあと、該受光部に同時に形成された電子回路によ
りシリアル/パラレル変換されて前記パラレル信号ライ
ンに伝送されることを特徴とすることもできる。
【0036】前記光電融合基板が可撓性のある基板材料
(フレキシブルシート)で構成することもできる。
【0037】本発明に係る光電融合集積回路は、球状半
導体基板表面に電子デバイスと光デバイスが集積された
光電融合集積回路であって、該光デバイスが、半径方向
にpn接合を含む多層膜を含み構成される受光素子であ
り、該電子デバイスが、該受光素子に逆バイアスをかけ
るバイアス回路および受光して電気信号に変換された信
号を増幅する増幅器を少なくとも有することを特徴とす
る。
【0038】また、本発明に係る光電融合集積回路は、
球状半導体基板表面に電子デバイスと光デバイスが集積
されており、該光デバイスが、半径方向にpn接合を含
む多層膜を含み構成される発光素子であり、該電子デバ
イスが、該発光素子に順バイアスをかけるバイアス回路
を有することを特徴とする。
【0039】また、本発明に係る光電融合集積回路は、
球状半導体基板表面に電子デバイスと光デバイスが集積
されており、該光デバイスが、前記球状半導体表面の一
部を平坦化して複数の微小平面を出したあと、該微小平
面上に半径方向にpn接合を含む多層膜を積層して形成
されており、該電子デバイスが、これに逆バイアスある
いは順バイアスをかけるバイアス回路を少なくとも有す
ることを特徴とする。
【0040】前記球状半導体表面の一部を平坦化して複
数の微小平面を出した後、該微小平面上に半径方向にp
n接合を含む多層膜を積層する工程において、前記球状
半導体表面の微小平面以外の領域を、誘電体膜等で被覆
し、有機金属エピタキシャル成長法あるいはガスソース
分子線蒸着法で微小平面のみに選択的に前記pn接合を
含む多層膜を積層することができる。
【0041】前記球状の半導体表面の一部を平坦化して
なる微小平面が、結晶工学的に等価あるいは化学的に近
い結晶面で構成されていても良い。
【0042】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態について図1を
用いて説明する。
【0043】図1において、1000は、2次元型の光
導波路層を含み構成される光伝送領域、1010は該光
伝送領域を伝搬してくる光を受光する受光部である。図
1におけるAA'での断面図が図2である。
【0044】図2に示すように、受光部1010の少な
くとも一部が光伝送領域1000に埋め込まれているこ
とで、光伝送領域を伝搬する光の該受光部が受光可能な
光の方向依存性を低減した半導体装置の提供が可能とな
る。
【0045】光伝送領域は、例えばコア層を、該コア層
よりも屈折率の低いクラッド層で挟むことにより形成さ
れる。コア層の材料としては、PMMA(ポリメチルメ
タクリレート)等の光学樹脂、石英系ガラス材料、及び
ポリスチレンやポリカーボネイトなどのプラスチック材
料を用いることができる。クラッド層としては、コア層
よりも屈折率が低ければ特に限定されるものではない
が、例えばフッ素含有のポリマー材や、PCZやアートン
などを用いることが出来る。
【0046】2次元型の光導波路層とは、予め光の伝搬
方向が一方向に定められている線状導波路ではなく、面
内の複数の方向に伝搬可能な面状の導波路を意味する。
なお、本発明においては、2次元型光導波路層を光シー
トという場合もある。
【0047】受光部は、O/E変換を行うことができる
光電変換デバイスである。いわゆるPN型、あるいはP
IN型のフォトダイオードが適用できる。受光部の形状
としては、PN接合面は、光シートに水平であっても略
垂直であってもよい。特に、前記光伝送領域に埋め込ま
れる部分の受光部の形状が多面体、あるいは球面形状を
有するのがよい。
【0048】受光部を光伝送領域に埋め込む場合には、
受光部の一部を埋め込んでもよいし、実質的にその全部
を埋め込んでも良い。PN接合部が少なくともコア層に
埋め込まれているのがよい。
【0049】光伝送領域がコア層とクラッド層を含み構
成されている場合には、コア層に達する深さまで受光部
は埋め込まれているのが良い。
【0050】光伝送領域としての2次元型光導波路層上
に電気配線領域を形成することもできる。その例を図3
に示す。
【0051】図3において、1101は光電融合基板、
1102はその内部に形成された2次元光導波路層(以
下、「光シート」と称する。)である。1103および
1106は、電気配線領域1108上に形成された電子
デバイス(たとえばCPU、RAM、RF発振器等であ
る)、1104は表面に形成された電気配線、図中矢印
で示される1105は前記光シート中を伝播する光が形
成する光配線である。1109は、支持基板である。勿
論、支持基板は必要に応じて設ければよい。あるいは支
持基板自身がクラッド層として機能しても良い。同図に
おいては、電子デバイス1106から光シートを利用し
て、他の電子デバイス1107などに信号を伝送する様
子が示されている。
【0052】例えば、電子デバイス1106から110
7への配線を光配線で行う場合、電子デバイス1106
からの電気信号をE/O変換部(図示せず)で光信号に
変換し、当該光信号を光シート1102に拡散させる。
光信号は、光シート内で全方位の方向に放射状に伝搬す
るが、主としてある特定方向に伝搬するように光シート
に機能を持たせることもできる。
【0053】光シート内を伝播した光信号は、O/E変
換部(図示せず)を経て、電子デバイス1107で受信
される。こうして光配線が実現する。
【0054】また、2次元型の光導波路層を用いるため
に、例えば当初の回路パターンでは、電子デバイス11
07が存在していない場合でも、電気配線領域1108
の任意の位置(例えば図1)に配置することができる。
勿論、任意の位置といっても電子デバイス1107を配
置する為の空き領域は必要である。
【0055】そして、光配線を利用することでEMIの
影響を少なくすることができると共に、受光部の少なく
と一部が光導波路に埋め込まれているので、種々の方向
からの信号光を受光することが可能となる。
【0056】更にまた、光シートに信号光を送る発光部
も、光シート内に少なくとも一部が埋め込まれているの
が良い。その一例を図4を用いて示す。同図において
は、電子デバイスをフリップチップ実装した場合につい
て描いている。1103は電子デバイス、1104は金
属配線領域、1201は受光部、1202は金属バン
プ、1205は上部クラッド層、1206はコア層、1
207は下部クラッド層、1208は発光部である。1
210は、伝搬する光が受光部1201で受信される様
子を示している。1203は、受光部で受光した光をO
/E変換した電気信号が電子デバイスに送信される様子
を示している。1211は、発光部1208からコア層
1206内を伝搬する光が送信される様子を示してい
る。
【0057】図4において、発光部1208の一部がコ
ア層1206に埋め込まれ、かつ球状のデバイス(詳細
は後述する。)を用いてるので、コア層内の面内方向に
拡散するように光が伝搬する。
【0058】なお、ボールICの作製方法は、たとえ
ば、以下の様に行われる。 (1)まず、Si球を作製する。粒状多結晶Siを直径
2mmのパイプの中に入れて溶融し、ほぼ球形状の単結
晶にする。この後、ボールベアリングを作製する要領で
表面研磨を行い、1mmφの真球にする。 (2)次に、ICプロセスパイプの中を通して、酸化や
拡散プロセスを行う。パターン焼き付けは、たとえば、
特開平10−294254号公報や特開平11−544
06号公報に開示されている方法で実現可能である。前
者では、Si球材料の球面に対応した回路パターンを備
え、該Si球材料の球面に該回路パターンを全球面の半
分以上の領域に渡って一括露光する。後者では、球状I
Cの中心を通る軸を任意に取り決め、該軸を中心にして
球状ICを間欠的に回転させながら、この回転角に対応
する球状IC表面の露光領域を、これに対応するマスク
を用いて露光する。ここまでの工程でSiボールICが
完成する。
【0059】なお、2次元の光導波路へ光を効果的に出
射あるいは入射する際に、ミラー、プリズム、グレーテ
ィング、ホログラムなどを付加的に用いることもでき
る。
【0060】なお、本発明に用いられる球状半導体部材
としては、Si、GaAs、InP、あるいはGaN、G
e、AlN、SiGe、GaAsNなどの材料で構成す
ることができる。勿論、これら材料は単結晶であること
が好ましいが、受光部あるいは発光部として十分機能す
る場合には、多結晶、あるいは非晶質であっても良い。
【0061】前記受光素子あるいは発光素子を構成する
多層膜としては、例えば p−Si/i−Si/n−Siで構成したり、p−Ga
As/GaAsN/n−GaAsで構成したり、p−
(Al,Ga)(As,P,N)/i−(Al,Ga)
(As,P,N)/n−(Al,Ga)(As,P,
N)で構成することができる。
【0062】なお、(A,B)(C,D,E)との記載
において、A,BはIII族元素を、C,D,EはV族元
素を示す。(A,B)(C,D,E)との記載は、A
−x1−y−zを表す。
【0063】
【実施例】(実施例1:光シート+球状型受光デバイ
ス)第1の実施例について図1、図2、図5、及び図6
を用いて説明する。光伝送媒体1000のコア層とし
て、光学樹脂であるPMMAを用いた。該コア層を挟む
ように形成されるクラッド層としては、ポリイミドを用
いた。光伝送媒体全体の厚さは約0.8mm(コア層
0.2mm、クラッド層0.3mm)、大きさは30×
30mmであった。なお、光伝送媒体の具体的な製造方
法は、後述する。
【0064】受光部1010としては、球状のデバイス
を用いることができる。
【0065】球状光デバイスの模式的断面図を図5に示
した。同図において、1501は球状p型Si部材であ
る。なお、Si球自体は、例えば粒状多結晶Siを溶融
し、ほぼ球形状の単結晶にした後、ボールベアリングを
作製する要領で表面研磨を行い真球にすることにより得
られる。球状のSi部材1501上に、第1のクラッド
層1502としてP型AlGaAsNを、活性層150
3としてアンドープGaAsN、第2のクラッド層13
04としてn型AlGaAsNを成長させる。
【0066】ここでGaAsN系の化合物半導体を用い
たのは、バンドギャップがGaAsに対して小さくかつ
温度特性に優れていること、更にSiと格子整合しやす
いからである。
【0067】勿論、球状Si上に化合物半導体薄膜を成
長させるのではなく、P型球状シリコン表面にN型のシ
リコン薄膜を成長させ、PN接合を形成することでも受
光部(フォトダイオード)は作製される。また、薄膜成
長によってPN接合を作る替わりに、イオン注入法や拡
散法(熱拡散あるいは固相拡散)を用いても良い。
【0068】このボールICの極点部には、カソード1
504と、ビアホール1506を介して電気的に接続さ
れたアノード1505が形成されている。ビアホール1
506は、エッチングやレーザー加工により形成するこ
とができる。
【0069】受光部1010を次に光伝送媒体に埋め込
む。具体的には、図6に示すように、クラッド層160
5とコア層1606に達する程度にまで埋め込む。16
07はクラッド層である。
【0070】受光部を埋め込む為には、埋め込み領域に
対応する穴を光伝送媒体にあける必要がある。穴あけ用
の金属の金型を熱した後、光伝送媒体に押しつけること
で、受光部に対応する穴は形成される。形成された穴に
受光部1010を埋め込むことで、本発明にいう半導体
装置ができあがる。受光部1010は、カソード150
4およびアノード1505間に逆バイアスをかけておく
ことで、入射した光は、PN接合で吸収され電気信号と
して得られる。
【0071】以上説明したように、光伝送媒体を伝搬し
てくる光の方向依存性(指向性)が著しく低減された半
導体装置が作製される。また、光伝送領域を伝送してき
た光を受光部が直接受光することができる。
【0072】なお、受光部として、球状のデバイスを用
いたが、光伝送媒体に埋め込むことが出来れば球状に限
定されるものではなく、PN接合を有する通常のフォト
ダイオードでもよい。
【0073】また、受光部とともに、発光部をも球状デ
バイスで作製し、その一部を光伝送媒体に埋め込んでも
よい。更に、光シート上の全体に電気配線層を形成して
おくことも可能である。電気配線用のプリント基板の下
層に予め上述の光シートを設けておき、必要に応じて、
配線の一部を光配線にすることも好ましい形態である。
【0074】(実施例2:電子デバイスの追加方法)本
発明において受光部の方向依存性が低減されることに鑑
み次のような電子デバイスの追加方法が可能である。
【0075】図7から図9を用いて説明する。図7にお
いて、1750は光電融合基板を示している。1700
は光伝送媒体、1720は電気配線層、1707及び1
705は電子デバイスである。1705は、光伝送媒体
1700に信号光を伝搬させることが可能な発光部(図
示せず)を備えている。1720は電気配線層(例えば
プリント基板)である。
【0076】光電融合基板1750に新たに電子デバイ
ス1706を空き領域1730に追加する場合、光伝送
媒体が備えられていなければ、単に電子デバイス170
6を追加し、個々のデバイス間で電気配線を行うしかな
い。しかし、光電融合基板1750の場合は、例えば電
子デバイス1705と1706間を光配線を利用するこ
とができる。図7において、1780は、既述の方法に
より作製される受光部である。
【0077】光伝送媒体1700は、図8に示すように
予め埋め込み用の穴を形成しておく。埋め込み様の穴
は、一つでも複数でも良い。予め、複数個の穴が形成さ
れているのが配置の自由度の観点からは良い。例えば、
穴をアレイ状に形成しておくのである。図8において、
1741は電子デバイス1705の発光部が埋め込まれ
る為の穴である。なお、使用していない穴1744は、
樹脂等で埋めておくこともできる。光伝送媒体内を伝搬
する光が、未使用の穴により不必要に散乱されるような
場合には効果的である。なお、穴の充填物を取り除きや
すいように、穴を埋める樹脂とその周囲とのエッチング
特性に差を持たせておくのも好ましい。
【0078】本実施例においては電子デバイス1706
を追加するにあたり、穴1740を利用する。
【0079】図9に示すように、電子デバイス1706
を追加しようとする領域を除去して、穴1740を露出
させる。勿論、図7に示す1730の領域に電気配線層
1720が形成されていない場合には斯かる工程は省略
できる。その後、穴1740に充填物がある場合には、
それをエッチング等により除去する。そして、電子デバ
イス1706の受光部1780が穴1740に埋め込ま
れるように、該デバイスを追加する。電子デバイス17
05は発光部を有しているので、電子デバイス1706
が追加されるまでは、使用されていなかった光伝送体1
700を用いて、電子デバイス1705と1706間の
一部を光配線により接続することが可能となる。
【0080】本実施例によれば、携帯電話に内蔵される
ような非常に小さなプリント基板に新たにデバイスを追
加する場合に、光配線を用いることができ、電子デバイ
スの追加に伴うEMIの影響を低減することができる。
【0081】既存の配線パターンを前提に、新たに電子
デバイスを追加しようとする場合、新たに追加される電
子デバイスによって既存の回路群がEMIの影響を受け
る場合もある。かかる場合には、本実施例のように光配
線を用いることができる。
【0082】新たに追加される電子デバイスの位置に対
応して、線状の導波路があらかじめ形成されていれば、
図35に示すような構成でも光配線が可能であるが、こ
れでは配置の自由度が極めて低くなってしまう。予め形
成されている線状の導波路位置に、新たなデバイスの追
加位置が依存してしまうからである。本実施例のように
2次元型の光導波路を用いることで、デバイス配置の自
由度が高い光配線が可能となる。
【0083】(実施例3:光電気2層基板+球状光I/
Oデバイス)図3は本発明の実施例を説明するための模
式的斜視図である。
【0084】図3において1101は光電融合基板、1
102はその内部に形成された2次元光導波路層(以
下、「光シート」と称する。)、1103、1106及
び1107はその表面に形成された電子デバイス(たと
えばCPU、RAM、RF発振器等)、1104は表面
に形成された電気配線、1105は前記光シート中を伝
播する光が形成する光配線である。
【0085】まず、光シートの作製方法について説明す
る。
【0086】光シートの構造は、光を所定の距離、伝送
できれば特に限定されるものではないが、以下の条件を
満たすものがより好ましい。 (1)光を導波する2次元スラブ型光導波路を有するこ
と。
【0087】伝播損失は、小さければ小さいほど良い
が、伝送距離に依存する。たとえば、0.1dB/cm
のものであれば、数cm角の基板が使用できる。 (2)表面に電気配線が作製できること。
【0088】これは、従来の電気配線パターンをそのま
ま生かすためである。
【0089】支持基板およびクラッド層としてPMMA
を用い、光導波路層にはポリイミド等の有機樹脂を使用
することで、上記(1)と(2)を満たすものが得られ
る。なお、光伝送層は、電気配線層下の全面に設けてあ
ることが望ましい。
【0090】図4に、図3中のB部における断面図を示
す。電子デバイス1103が、光シート1102を利用
して光インタコネクションを行う場合を説明する。同図
においては、受光部1201と発光部1208が電子デ
バイス1103から分離している場合を示す。勿論、電
子デバイス1103自体に受光部、発光部が内蔵されて
いてもよい。
【0091】1207は樹脂基板(兼クラッド層)、1
205はクラッド層、1206は1205や1207よ
りも屈折率の高いコア層である。それぞれの厚さは、基
板0.5mm、コア層0.1mm、クラッド層0.3m
mとしたが、これらのサイズに限るものではない。
【0092】この3層を一体化したものが、光シートで
ある。基板に可撓性のあるPMMA基板を用い、且つコ
ア層及びクラッド層を塗布して成膜可能なポリイミド樹
脂を用いることで、曲げに強いフレキシブル基板とする
ことができる。
【0093】本実施例では球状Si基板上に化合物半導
体で形成した光I/Oデバイス(球状光デバイス)を用
いている。
【0094】この球状光デバイスについて簡単に説明す
る(球状デバイスに関連する事項が、例えば特開平12
−31190号公報に記載されている)。
【0095】球状光デバイスの模式図を図5に示した。
同図において、1501は球状p型Si基板、1502
はP型AlGaAsNクラッド層、1503アンドープ
GaAsN活性層、1504はn型AlGaAsNクラ
ッド層である。ここでGaAsN系の化合物半導体を用
いたのは、1)バンドギャップが小さくかつ温度特性に
優れていること、2)Siと格子整合しやすいことから
である。基板を含め他の材料系を用いても良い。
【0096】このボールICの極点部には、カソード1
504と、ビアホール1506を介して接続されたアノ
ード1505が形成されている。本実施例では、発光素
子と受光素子を同構造のものを用いたが異なる構造とし
ても良い。カソード1504は光の入出力を行うため、
窓構造やメッシュ構造となっていることが望ましい。
【0097】発光素子としてボールIC動作させる場合
には、カソード1504およびアノード1505間に順
バイアスをかけることにより、キャリアがPN接合に注
入され、発光する。発光した光は光出射窓から広角に放
射される。
【0098】一方、受光素子として動作させる場合に
は、カソード1504およびアノード1505間に逆バ
イアスをかけることにより、光入射窓から広角から入射
した光は、PN接合で吸収され電気信号として近接した
電子デバイスに取り込まれる。
【0099】発光デバイスの場合も受光デバイスの場合
も、その表面は球面形状を有しているため、広い角度
で、出射および入射が可能なことが大きな特徴となって
いる。
【0100】なお、本実施例のボールICは、光I/O
部だけでなく、他のICも同時作製することが可能であ
る。ICの作製方法については、その露光方法などにつ
いて特開平10−294254号公報(米国特許第60
97472号公報)「球状デバイス露光装置及び製造方
法」等に開示されている。
【0101】本実施例では、受光素子用としてCMOS
構成の3.3V動作プリアンプを使用した。
【0102】次に、この球状光デバイスの実装方法につ
いて図10から12を用いて説明する。
【0103】まず、前記光シート基板に前記ボールIC
をはめ込むことの可能な半球状の穴をあける。あける方
法は任意でよい。フォトリソグラフィとエッチングを用
いて予め決まった場所に形成しても良いし、レーザ等を
用いて任意の場所に個別にホールを形成しても良い。本
実施例においては、熱溶解プロセスを用いた。
【0104】図10のように、メタルのボールを金型2
000としてこれを熱して上記樹脂基板1207に押し
当て(図11)、半球状のくぼみ2100を作製した
(図12)。その深さは、光配線基板のコア層近傍に達
するまでとした。勿論、穴がコア層の下側に届く程度に
くぼませてもよい。
【0105】当該工程の後に、光シートの上に図4に示
すように、電気配線1104をプリントした後、LSI
に代表される電子デバイスを実装する。この実装方法は
任意でよいが、ここではフリップチップ実装法を用い
た。
【0106】次に、光シートのくぼみに光I/O部がく
ぼみの底になるように実装する。光取り出しおよび光取
り込みが可能なようにくぼみの底に光I/O部が接する
ように位置合わせし固定する(図13参照)。本実施例
の場合、球面なので、細かい位置合わせ精度は必要とし
ない。くぼみ2100と球状デバイスの位置合わせを行
った後、紫外線硬化樹脂等で固定した。
【0107】最後に、球状光I/Oデバイスと表面実装
した電子デバイスとをプリント電気配線でつなぐ。これ
には、バンプかメッキが望ましい。図13は、バンプ2
302で、プリント配線1104と電極1504とを接
続した例を示している。
【0108】なお、E/O、及びO/E変換部として球
状ICを用いた例を示したが、これに限定されるもので
はない。
【0109】(動作原理)以下動作原理について説明す
る。
【0110】まず、送信機能について説明する。
【0111】図4は、図3のA部の拡大図である。図4
において、LSI1103のI/O部の出力電気信号
(CMOSロジック)は、電気配線1104を介して近
傍の電子デバイスに信号を伝送することができる。
【0112】しかし、近接した光I/Oデバイス(たと
えば、球状光デバイス)を直接駆動して出力光信号12
11を発生し、光導波路層(光シート)1206を介し
て、光配線として用いることも可能である。必要に応じ
て、どちらかの方法を選択することもできる。
【0113】近接した球状光デバイスを駆動する場合を
考える。
【0114】LSIのロジック信号(たとえばCMOS
なら3.3V)は、前記球状光デバイスを駆動するのに
十分な電圧である。球状光デバイスに順バイアスとなる
ようロジック信号を印加することで、電気信号は光信号
に変換される。
【0115】このとき、光は球面全体に放射されるた
め、特別な光学系なしで、光シート全面に拡散伝播して
いく。この結果、導波路への結合効率は80%以上を確
保できる。
【0116】次に、受信機能について説明する。
【0117】光シート1206の任意の方向から伝播し
てくる入力光信号1210は、球状受光素子1201の
表面に達すると内部に取り込まれ、逆バイアスをかけた
PN接合付近で吸収され電子信号に変換される。
【0118】変換された電気信号は入力電気信号120
3として近接するLSI1103内部に取り込まれ処理
される。この際、球状光デバイス表面に電気信号を増幅
するプリアンプを集積していれば、CMOSコンパチブ
ルの電圧に復元することができる。
【0119】以上のように本発明を用いれば、受光部の
方向依存性を低減することができるとともに。
【0120】なお、複数のメタル配線が互いに近接して
配置されているときに高速データ通信(例えば1Gbp
s)を行うと、その近傍の電磁放射ノイズの強さは、
「発生源の強さ(周波数、波形、駆動電流)」×「伝達
係数(電源ラインとの共振、近接するラインとの結
合)」×「アンテナ要因(コネクタ、電極)」で表わさ
れる。
【0121】つまり、配線長が長いほど、あるいは電流
値が大きいほど、あるいは信号のスピードが速いほど、
若しくは信号パルスが矩形波に近いほどノイズレベルが
高くなる。
【0122】従って、高速処理が必要となるCPU等の
近傍でメタル配線を用いる場合はEMIを根本的に除去
することはできない。
【0123】一方、本実施例のように配線に光を用いる
ことで、これらを改善することが可能である。光配線で
は電磁誘導がないため伝達係数がゼロになるからであ
る。
【0124】とりわけ本実施例のように、電気配線層と
光伝送層を2層に分離して配置し、且つ該光伝送層を2
次元光導波路(光シート)とすることにより、特定のデ
バイスによるEMIの影響を防止し、作製プロセスも容
易な光電融合配線基板を提供することができる。
【0125】一方、光配線の1本当たりの配線に要する
その物理的な大きさは、光導波路(いわゆる一次元型の
導波路)を用いる場合、電気配線に比べ一桁以上大き
い。それ故、すべての電気配線を光配線に変更すること
は、サイズが大きくなったり、曲げによる損失が大きく
なるなどのデメリットの方が大きくなる。
【0126】更に、光配線を導入することで、従来の電
気配線パターンの変更を余儀なくされるデメリットもあ
る。
【0127】本実施例では、該光伝送層を2次元光導波
路(光シート)とすることで、上記2つのデメリットを
改善している。 光配線となる光導波路に2次元導波路
(シート状光導波路)を適用することで、配置の自由度
を高めている。また、発光部から光シートに光を伝送す
る場合には、当該発光デバイスからその全方向に2次元
的に光データを送信するができる。
【0128】なお、2次元光導波路に接続できる発光デ
バイスとしては、2Dの全方位に光を放射でき、また、
受光デバイスとしては2Dの全方位からの光を受けるこ
とができることが望ましい。当該デバイスとは例えば、
球面上に作製された光デバイスである。
【0129】受光素子の表面を球状とした場合、全ての
方位からの光を受光可能なようにデバイス設計すること
ができる。これは、伝播方向が固定の導波路の光を取り
込む際には、実装精度の大幅な緩和効果として現れる。
【0130】球状の光デバイスにバイアス回路が増幅回
路を作り込むことで、この球状デバイス単独で、光I/
O素子として動作させることができる。このことは、従
来の電子回路の設計に与える影響を少なくして、光イン
タコネクトを実現できる。
【0131】(実施例4:クロック配信)次に本発明の
応用例について説明する。
【0132】図3において、1つの基板1101上に複
数の電子部品(CPUやメモリなど)1103が実装さ
れ、その配線の一部が実施例3のように、球状光デバイ
ス1201で基板に結合している場合を考える。
【0133】図3おいて、LSI1106はクロックジ
ェネレータとする。
【0134】このとき、クロック信号を球状光デバイス
1208を介して信号を光電融合基板の光導波路部に送
る(図4)。光配線を選択された信号は、球状光デバイ
スに出力され、これはCMOSで送られる信号そのもの
で駆動される。特別にドライバは必要としない。そのた
めに光デバイスとしては低電圧で動作するGaAsN系
の半導体レーザを用いる。
【0135】球状光デバイス1208はクロック信号を
光に変換し、基板上のすべてのデバイスに光信号となっ
たクロック信号を配信する。基板上の任意の電子デバイ
ス(たとえばMPU1103)もまた、球状光デバイス
1201を有しているので、クロックジェネレータ11
06からの光信号を受光する。球状光デバイス1201
は球面形状を有しているため、任意の方向からの光を高
い受光効率で受けることができる。
【0136】受光した光は、電子とホール対に分かれ、
球状光デバイス上あるいは近接するLSIに作製された
プリアンプによって、電気信号が増幅され、MPUに取
り込まれる。他のデバイス(たとえばRAM)も同様な
方法でクロック信号を受けることができるため、共通の
クロックで動作させることができる。
【0137】従来、個々のデバイスにクロック信号を分
配しようとすると、自由に配線パターンを選べないた
め、あるいは、配線距離が等長にできないために配線遅
延や高速大電流動作によるEMIの影響が無視できなか
ったが、本実施例によれば、光配線を用い最短距離でか
つ電磁無誘導で配線できるため、これら問題点を一挙に
解決できる。
【0138】(実施例5:MPU→メモリ(シリアル伝
送))つぎに他の応用例について説明する。
【0139】図14は、本発明の実施例を説明するため
の模式図である。図において、2407、2408は2
つのCPUである。2409は、この2つのCPUが共
有するRAMである。同図において、2401はパラレ
ル伝送用の電気配線、2402はシリアル伝送用の光配
線である。
【0140】通常の電気配線では、たとえば、6本の伝
送路で64ビット幅のデータ線2401を必要としてい
る。
【0141】大容量のデータ高速で送る用途(動画な
ど)では、従来の配線では、先に述べた理由(配線遅延
やEMI)により、正しくデータを送ることはできない
場合がある。このような場合に光配線を使うことができ
る。具体的には、CPUとRAM間の信号のやり取りの
全部あるいは一部に光配線2402を用いる。
【0142】また、図14において、2400がMP
U、2407と2408がメモリの場合を考える。MP
Uからメモリに64ビット幅でデータを送るため、電気
配線としては6本必要だが、MPUの最終段でパラレル
・シリアル変換し、1個の光I/O素子を接続すること
で、電気信号が、光信号として、光電融合基板の光導波
路部で伝送され、受け側の光I/O素子で受光したあ
と、シリアル・パラレル変換することで、64ビット幅
のパラレル信号とする。パラレルからシリアル変換する
ことで、クロックは高くなるが、光導波路に伝播するた
めEMIの心配はない。
【0143】本実施例では最初から光配線を選択してい
るが、かならずしも光配線のみを使用する必要はない。
つまり、電気配線のパスも選択できるようにしておくこ
とで、あるときは電気配線、あるときは光配線として接
続することが可能である。この柔軟性が本発明の特長の
一つである。
【0144】電気配線では、EMIを避けるため、他の
デバイスを避けるように配線する場合があり、その結果
配線長が長くなり、今度は配線遅延や波形歪の原因とな
る場合がある。このとき、光配線を選択することで、最
短でEMIフリーの接続ができるため、配線遅延も波形
歪を生じない。
【0145】どの信号を電気配線あるいは光配線にする
かは最終判断は、バスを管理するデバイスが決定する。
【0146】光に変換された光は、2Dの光導波路中を
拡散して伝播し、他所に配置された、ICへ到達する。
このIC近傍にもO/E変換用のボールICが設置され
ている。本実施例は、同一のボールICを設置した。表
面が球形状をしているために、プリズムやミラー等を用
いなくとも、直接光がpn接合面に当たるため、きわめ
て簡便に実装可能である。
【0147】(実施例6:ボールSiにpin−PDと
アンプを集積)図15は本発明に係る実施例を説明する
ための模式図である。
【0148】図において2508は球状Si基板であ
り、その北半球部は表面を示し、その南半球部は断面図
を示している。2509はその南半球部に形成された受
光素子、2503はそれを駆動するバイアス回路や電気
信号を増幅するプリアンプ等のICである。なお、25
10は光導波路基板、2506はコア層、2505はク
ラッド層、2506は電極、2512はプリント配線、
2504はバンプ、2511は出力光、2507は入力
光である。
【0149】以下、図15に示す半導体装置の製造方法
について説明する。
【0150】まず、図16のように、アンドープ球状S
i基板2601(直径約1mmφ)のほぼ半分(南半球
部)に、イオン注入により、p−Si層2521、i−
Si層2509、n−Si層2520を形成し、受光素
子領域とする。深さはそれぞれ0.3um程度である。
必要に応じて、アニール処理により結晶回復を行う。
【0151】次に、図17(上半分は球表面を、下半分
は球断面を表している)に示すように、残りの球表面領
域(北半球部)に、この受光素子に逆バイアスをかける
ためのバイアス回路2701、光信号から変換された電
気信号を所望の電圧レベルまで増幅するプリアンプ回路
2702、および波形整形回路2703等を作製する。
なお、2704は電気配線、2705は受光素子電極、
2506は電子回路電極である。電極2705はp−S
i層に2521、2706はn−Si層2520にそれ
ぞれ電極を印加するための電極であるので、電極270
5の電位がn−Si層2520に印加されないようにし
ておく。
【0152】ここでは、すべての電子回路は3.3V
CMOSロジック回路を用いる。同時に、受光素子の正
電極2705および負電極2706および配線パターン
2704を形成する。また、2506は、電子回路入出
力用の外部電極である。
【0153】以下に実装方法の一例を示す。図15にお
いて,たとえば、2510はPMMAでできた基板を兼
ねたクラッド層であり、2506は光導波路となるコア
層(シート状になっている)、2505はクラッド層で
ある。コア層2506およびクラッド層2505は、感
光性ポリイミド等を塗布し、本発明の球状光電融合デバ
イスが、はめ込むことができる窪みをホトリソ技術等で
作製する。この上に所望の配線パターンをプリントした
あと、紫外線硬化樹脂(図示せず)で本発明の光電融合
デバイスを固定する。
【0154】この後、図18に示すようにAuバンプ2
804等を用いて配線パターン2803とデバイス上の
電極2506とのコンタクトをとる。この工程は、バン
プのかわりに、メッキを用いてもよい。
【0155】以下動作原理について説明する。
【0156】図15あるいは図17において、光電融合
デバイスのpn接合に、バイアス回路2701によっ
て、逆バイアス(たとえば3.3V)をかける。このと
き、この光電融合デバイスは、2次元の光コア層250
6中を任意の方向から伝播してくる光信号を受光するこ
とができる。これは光伝送媒体に受光部の少なくとも一
部が埋め込まれているからである。
【0157】入力光信号は内部に取り込まれ、逆バイア
スをかけたPN接合付近で吸収され、電子信号に変換さ
れる。変換された電気信号は入力電気信号として近接す
るプリアンプ2702でCMOSロジックレベルまで増
幅されたあと、さらに波形整形回路図17の2701等
で処理されたあと、バンプでコンタクトされたプリント
配線に伝送される。
【0158】以上、説明した実施例により、(1)2次
元の任意の方向からの光を受信でき、(2)集積された
電子回路で、増幅や波形整形ができ、(3)実装が容易
となる。更に、(4)既存の電子回路に与える影響少な
くして、1つのデバイスで、光インタコネクトのI/O
とすることができる。
【0159】(実施例7:III−VN on ボールG
aAs)本実施例は、球状Si基板の代わりに、球状G
aAs基板を使用するものである。
【0160】図19を用いてその製造方法について説明
する。
【0161】高純度アンドープ球状GaAs基板290
1の表面から、イオン注入により、2902p型GaA
s層、2903GaAsN光吸収層、2904n型Ga
As層を形成する。
【0162】p型の不純物濃度は1E19cm−3、n
型の不純物濃度は1E18cm−3程度である(イオン
種は任意に定めることができる)。アンドープGaAs
Nは、GaAsに対しNを高濃度にイオン注入(例え
ば、1E21cm−3)することで構成される。イオン
注入時のダメージを除去するためには、RTA(Rap
id Thermal Annealing)が効果的
である。
【0163】注入深さは、GaAsN層が厚さ0.2u
mとなるように他の層のイオン注入条件を設定した。
【0164】後のプロセスや実装工程は、実施例6に準
ずる。
【0165】電子回路部は、Bipolaプロセスで行
うことで実施例6と同等以上の機能を有する電子回路を
作製することができる。電極は、完全な窓構造ではな
く、メッシュ構造でも良い。
【0166】以下、実施例6と異なる点を中心に説明す
る。
【0167】受光デバイスとして動作させる場合には、
実施例6の場合と同じである。すなわち、図19におけ
るp−GaAs層2902とn−GaAs層2904に
それぞれ逆バイアスをかけることにより、光入射窓から
広角から入射した光は、PN接合で吸収され電気信号と
して近接した電子デバイスに取り込まれる。GaAsN
はGaAsよりもバンドギャップが小さいのでGaAs
よりも低電圧で動作する。
【0168】さらには、Siよりも移動度が大きいため
高速応答が可能である。なお、2903は、i−GaA
sN層である。
【0169】GaAsNは直接遷移型の化合物半導体で
あるため、発光素子としても使用可能である。発光素子
として動作させる場合には、図15あるいは図17にお
いて、電極2705および2706に順バイアスをかけ
ることにより、PN接合で発光した光は光出射窓から広
角に放射される。ロジックデータそのもので駆動しても
よいし、ドライバ回路を介して駆動してもよい。
【0170】発光デバイスの場合も受光デバイスの場合
も、その表面は球面形状を有しているため、広い角度
で、出射および入射が可能なことが大きな特徴となって
いる。
【0171】(実施例8: GaAsN films
on facets of Ball Si) 図20は本実施例を説明するための模式図である。
【0172】本実施例は、ボールSi基板にGaAsN
/AlGaAsNを積層して、発光素子あるいは受光素
子としたものである。3101は球状半導体基板、31
02はIC、3103は光デバイス、3104はバン
プ、3105は光導波路基板、3106はコア層、31
07はクラッド層、3108はプリント配線、3109
は出力光、3110は入力光である。
【0173】以下、製造方法について説明する。
【0174】(ボールICの作製)図21のように、ア
ンドープ球状Si基板(1mmφ)3101の半球表面
(ここでは北半球表面)に、IC3102を作製する。
このICは、発光素子の場合、駆動ICだったり、パラ
レルシリアル変換回路だったりする。受光素子の場合に
は、バイアス回路、プリアンプ、波形調整回路、あるい
はシリアルパラレル変換回路だったりする。もちろん両
方の機能を兼ねる場合は、それに応じた電子回路を付加
する。これらの回路は、通常のCMOSプロセスで作製
可能で、そのロジック電圧は、3.3Vである。311
1は電気配線である。
【0175】(光デバイスの作製)SiボールICプロ
セスがほぼ終了したあと、光デバイスを作製する。
【0176】まず、球全体を窒化膜(SiN)等でカバ
ーし、光デバイス作製部分を平面に研磨およびポリッシ
ングする。窒化膜で覆うのは、光デバイスプロセス中に
電子デバイスを保護するためと、選択成長用マスクとし
て使用するためである。球面を覆うため、応力の小さい
膜を形成することが望ましい(ここではSi3N4(厚
さ200nm)を用いた)。
【0177】光デバイス作製領域として、本実施例で
は、南半球における(111)面およびそれに準ずる面
((100)、(010)、(−100)、(0−1
0)全部で4面)3301を用いた(1辺約20μm程
度の三角平面)。図22は、図21をS極方向から見た
平面図であり、3101は球状基板、3301は(11
1)相当面である。
【0178】図23は、このひとつの面の断面図であ
る。必要であれば再び窒化膜等で全体を覆ったあと、デ
バイス作製領域のみに窓を開ける。開口部の形状に応じ
て選択成長するので、本実施例では円筒状になるよう開
口部を制御した。3101は球状半導体基板、3301
は(111)面、3401はSiN膜である。
【0179】ここで(111)相当面を選んだ理由は以
下の通り。 (1)化学的に等価であることから、次に行う結晶成長
で均一な構造を作製できる。(もし、他の結晶面を含む
場合、組成や膜厚、結晶成長方向には異方性が生じ
る。) (2)S極に接する面(光の伝播方向に、少なくとも4
つの方向に光を放出、あるいは少なくとも四方向からの
光を受光できるためである。上記と同等以上の機能を有
するのであれば、(111)相当面に限るものではな
い。
【0180】(結晶成長)図24を用いてデバイス構造
について説明する。ガスソースMBE(分子線エピタキ
シィ)法あるいはMOCVD(有機金属蒸着)法を用い
て、選択領域(開口部)のみにGaNxAs1−xをバ
ッファ層3501としてまず積層する。このときの格子
定数はクラッド層および活性層の条件に応じて適宜選べ
ばよい。
【0181】ここでは、In0.1Ga0.9Asに格
子整合するよう窒素組成Xを0.2から0まで徐々に変
化させたあと、Inの組成を徐々に変化させながらIn
GaAsをさらに積層した。この後、n−InAlGa
Asクラッド層3502、GaInNAs/InAlG
aAsMQW(多重量子井戸)活性層(発光波長1.3
um)3503、p−InAlGaAsクラッド層35
04およびp−InGaAsコンタクト層3505を順
次積層する。光入出射用の窓3507をつけたあと正電
極3506を形成する。引き続き負電極を球内部から所
望の位置に形成し、不必要な窒化膜を除去し、ICの電
極と配線して本実施例は完成する。3101は球状半導
体基板、3401は選択マスクである。
【0182】(実装)実装例を図25に示す。図におい
て3601はPMMA等の基板であり、3602はその
上に形成されたポリイミド等からなる光導波路コア層で
ある。その上にPMMAに準じたクラッド層3603が
形成されている。このクラッド層3603およびコア層
3602に上記球状光電融合デバイスをはめ込むことが
できるような窪みをフォトリソ等で形成する。そのあ
と、該デバイスを紫外線硬化樹脂等(図示せず)で固定
する。この後、Auバンプ3502を用いてプリント配
線3501とコンタクトをとる。
【0183】(動作原理)次に動作原理について説明す
る。
【0184】(発光素子の場合)図20あるいは図21
において、ドライバーIC3102から供給される電気
信号によって、発光素子3103は、光信号を発する。
この光信号は実装されたコア層に出力光として放出され
る。コア層に直接光結合しているため、効率良く光を光
導波路に導くことができる。
【0185】2次元全方位に光信号を送出したい場合に
は、同一の信号を同時に変調して光信号を出せばよい。
現在の場合4方位だが、この発光素子はLEDであるの
で、指向性は弱いため、実質全方位に一様に近い強度分
布で伝播される。さらに均一な強度分布にしたい場合に
は、(111)相当面以外のより高次数の面方位に発光
素子を作製すればよい。放射光はその後、2次元光導波
路を伝播することで、他の光電融合デバイスにその光信
号を伝える。
【0186】(受光素子)の場合 本実施例は受光素子としても使用することができる。
【0187】図20あるいは図22において、光電融合
デバイスのpn接合に、バイアス回路3301によっ
て、逆バイアス(たとえば3.3V)をかける。このと
き、この光電融合デバイスは、2次元の光コア層310
6中を任意の方向から伝播してくる光信号を受光するこ
とができる。これは受光面が球面形状を有しているから
である。入力光信号は内部に取り込まれ、逆バイアスを
かけたPN接合付近で吸収され、電子信号に変換され
る。変換された電気信号は入力電気信号として近接する
プリアンプ3102でCMOSロジックレベルまで増幅
(あるいは減衰)されたあと、さらに波形整形回路31
02等で処理されたあと、バンプでコンタクトされたプ
リント配線に伝送される。
【0188】(効果)本実施例の効果は以下の通り。 (1)2次元の任意の方向からの光を受信できること (2)集積された電子回路で、増幅や波形整形が可能な
こと (3)実装が容易なこと (4)既存の電子回路に与える影響を少なくし、1つの
デバイスで、光インタコネクトのI/Oとすることがで
きること。(実施例9:III−VNonボールGaA
s) 本実施例は、球状Si基板の代わりに、球状GaAs基
板を使用するものである。GaInNAsは、GaAs
に格子整合するためSi基板を用いる場合よりも、簡単
にバンドギャップ制御できる特長がある。
【0189】図24を用いてその製造方法について説明
する。
【0190】(ボールICの作製)図21のように、ア
ンドープ球状Si基板(1mmφ)3101の一部、た
とえば半球表面部(ここでは北半球表面)にIC310
2を作製する。このICは、発光素子の場合、駆動IC
だったり、パラレルシリアル変換回路だったりする。受
光素子の場合には、バイアス回路、プリアンプ、波形調
整回路、あるいはシリアルパラレル変換回路だったりす
る。もちろん両方の機能を兼ねる場合は、それに応じた
電子回路を付加する。
【0191】これらの回路は、通常のFETあるいはB
ipolarプロセスで作製可能である。図24中、3
101は球状半導体基板、3501はバッファ層、35
02はクラッド層、3505はコンタクト層、3506
は電極、3507は窓、3401は選択マスクである。
【0192】(光デバイスの作製)GaAsボールIC
プロセスがほぼ終了したあと、光デバイスを作製する。
【0193】まず、球全体を窒化膜等でカバーし、光デ
バイス作製部分を平面に研磨およびポリッシングする。
窒化膜で覆うのは、光デバイスプロセス中電子デバイス
を保護するためと、選択成長用マスクとして使用するた
めである。球面を覆うため、応力の小さい膜を形成する
ことが望ましい。光デバイス作製領域として、本実施例
では、南半球における(111)面およびそれに準ずる
面((100)、(010)、(−100)、(0−1
0)全部で4面)3301を用いた(1辺約20um程
度の三角平面)。図14は、図21をS極方向から見た
平面図である。図23はこのひとつの面の断面図であ
る。必要であれば再び窒化膜等で全体を覆ったあと、デ
バイス作製領域のみに窓を開ける。開口部の形状に応じ
て選択成長するので、本実施例では円筒状になるよう開
口部を制御した。
【0194】ここで(111)相当面を選んだ理由は以
下の通り。 (1)化学的に等価であることから、次に行う結晶成長
で均一な構造を作製できる。(もし、他の結晶面を含む
場合、組成や膜厚、結晶成長方向には異方性が生じ
る。) (2)S極に接する面(光の伝播方向に、少なくとも4
つの方向に光を放出、あるいは少なくとも四方向からの
光を受光できるためである。上記と同等以上の機能を有
するのであれば、(111)相当面に限るものではな
い。
【0195】(結晶成長)図24を用いてデバイス構造
について説明する。ガスソースMBE(分子線エピタキ
シィ)法あるいはMOCVD(有機金属蒸着)法を用い
て、選択領域(開口部)のみにGaAsをバッファ層3
501としてまず積層する。次に、たとえば、In0.
1Ga0.9Asに格子整合するようInの組成を徐々
に変化させながらInGaAsをさらに積層した。この
後、n−InAlGaAsクラッド層3502、GaI
nNAs/InAlGaAsMQW(多重量子井戸)活
性層(発光波長1.3um)3503、p−InAlG
aAsクラッド層3504およびp−InGaAsコン
タクト層3505を順次積層する。この結晶成長の工程
は、III−V族同士の積層なので、実施例8のSi上
のIII−V族形成よりも容易であるという特長があ
る。次に、光入出射用の窓3507をつけたあと正電極
3506を形成する。引き続き負電極を球内部から所望
の位置に形成し、不必要な窒化膜を除去し、ICの電極
と配線して本実施例は完成する。
【0196】(実装)実装例を図25に示す。図におい
て3601はPMMA等の基板であり、3602はその
上に形成されたポリイミド等からなる光導波路コア層で
ある。そのうえにPMMAに準じたクラッド層3603
が形成されている。このクラッド層3603およびコア
層3602に上記球状光電融合デバイスをはめ込むこと
ができるような窪みをフォトリソ等で形成する。そのあ
と、該デバイスを紫外線硬化樹脂等(図示せず)で固定
する。このあと、Auバンプ3502をもちいてプリン
ト配線3501とコンタクトをとる。
【0197】(動作原理)受光デバイスとして動作させ
る場合には、前述の実施例の場合と同じである。すなわ
ち、光デバイスに逆バイアスをかけることにより、光入
射窓から広角から入射した光は、PN接合で吸収され電
気信号として近接した電子デバイスに取り込まれる。G
a(In)NAsはGaAsよりもバンドギャップが小
さいのでGaAsよりも低電圧で動作する。さらには、
Siよりも移動度が大きいため高速応答が可能である。
【0198】GaInNAsは直接遷移型の化合物半導
体であるため、発光素子としても使用可能である。発光
素子として動作させる場合には、図20あるいは図22
において、発光素子の駆動電極に順バイアスをかけるこ
とにより、PN接合で発光した光は光出射窓から広角に
放射される。ロジックデータそのもので駆動してもよい
し、ドライバ回路を介して駆動してもよい。
【0199】発光デバイスの場合も受光デバイスの場合
も、その表面は球面形状を有しているため、広い角度
で、出射および入射が可能なことが大きな特徴となって
いる。
【0200】(効果)本発明特有の効果は以下のとお
り。 (1)GaAsにくらべより長波長の光を光を受光でき
る。光源が、0.85um帯の場合、実施例1のSi−
pinPDでは、受光感度が不足する場合があるが、本
実施例ではその心配はない。このことは電気回路の負担
も少なくなる。 (2)CMOSは使えないが、代わりにFETやGaA
s バイポーラ回路を使えるため高速処理に有利であ
る。 (3)高速処理できること利用して、パラレルデータを
シリアルデータに変換して転送することができる。 (4)本構造では、GaAsNは直接遷移型であるた
め、発光素子としても使用可能である。
【0201】本実施例では、球状GaAs基板を用いた
が、これに限るものではない。
【0202】(実施例10:III−VN on 球状
InP基板)基板に球状InP基板を用いることで、
他の効果を得ることができる。図24を再度用いて説明
する。
【0203】(ボールICの作製)図21のように、ア
ンドープ球状InPi基板(1mmφ)3101の半球
表面(ここでは北半球表面)にIC3102を作製す
る。このICは、発光素子の場合、駆動ICであった
り、パラレルシリアル変換回路だったりする。受光素子
の場合には、バイアス回路、プリアンプ、波形調整回
路、あるいはシリアルパラレル変換回路だったりする。
もちろん両方の機能を兼ねる場合は、それに応じた電子
回路を付加する。これらの回路は、通常のFETあるい
はBipolarプロセスで作製可能である。GaAs
に比べ、バンドギャップが小さくかつ移動度が大きいの
で高速なドライバ回路を使用することができる。
【0204】(光デバイスの作製)InPボールICプ
ロセスがほぼ終了したあと、光デバイスを作製する。
【0205】まず、球全体を窒化膜等でカバーし、光デ
バイス作製部分を平面に研磨およびポリッシングする。
窒化膜で覆うのは、光デバイスプロセス中電子デバイス
を保護するためと、選択成長用マスクとして使用するた
めである。球面を覆うため、応力の小さい膜を形成する
ことが望ましい。光デバイス作製領域として、本実施例
では、南半球における(111)面およびそれに準ずる
面((100)、(010)、(−100)、(0−1
0)全部で4面)3301を用いた(1辺約20um程
度の三角平面)。図22は、図21をS極方向から見た
平面図である。図23はこのひとつの面の断面図であ
る。必要であれば再び窒化膜等で全体を覆ったあと、デ
バイス作製領域のみに窓を開ける。開口部の形状に応じ
て選択成長するので、本実施例では円筒状になるよう開
口部を制御した。
【0206】ここで(111)相当面を選んだ理由は以
下の通り。 (1)化学的に等価であることから、次に行う結晶成長
で均一な構造を作製できる。(もし、他の結晶面を含む
場合、組成や膜厚、結晶成長方向には異方性が生じ
る。) (2)S極に接する面(光の伝播方向に、少なくとも4
つの方向に光を放出、あるいは少なくとも四方向からの
光を受光できるためである。上記と同等以上の機能を有
するのであれば、(111)相当面に限るものではな
い。
【0207】(結晶成長)図24を用いてデバイス構造
について説明する。ガスソースMBE(分子線エピタキ
シィ)法あるいはMOCVD(有機金属蒸着)法を用い
て、選択領域(開口部)のみにInPをバッファ層35
01としてまず積層する。次に、たとえば、In0.9
Ga0.1Pに格子整合するようInの組成を徐々に変
化させながらInGaPをさらに積層した。この後、n
−InAlGaPクラッド層3502、GaInNP/
InAlGaPMQW(多重量子井戸)活性層(発光波
長1.5um)3503、p−InAlGaPクラッド
層3504およびp−InGaPコンタクト層3505
を順次積層する。光入出射用の窓3507をつけたあと
正電極3506を形成する。引き続き負電極を球内部か
ら所望の位置に形成し、不必要な窒化膜を除去し、IC
の電極と配線して本実施例は完成する。
【0208】(実装)実装例を図25に示す。図におい
て3601はPMMA等の基板であり、3602はその
上に形成されたポリイミド等からなる光導波路コア層で
ある。その上にPMMAに準じたクラッド層3603が
形成されている。このクラッド層3603およびコア層
3602に上記球状光電融合デバイスをはめ込むことが
できるような窪みをフォトリソ等で形成する。そのあ
と、該デバイスを紫外線硬化樹脂等(図示せず)で固定
する。このあと、Auバンプ3606を用いてプリント
配線3605とコンタクトをとる。
【0209】(動作原理)受光デバイスとして動作させ
る場合には、光デバイスに逆バイアスをかけることによ
り、光入射窓から広角から入射した光は、PN接合で吸
収され電気信号として近接した電子デバイスに取り込ま
れる。InGaPNはInPよりもバンドギャップが小
さいのでInPよりも低電圧で動作する。さらにはGa
Asよりも移動度が大きいため高速応答が可能である。
【0210】InGaPNは直接遷移型の化合物半導体
であるため、発光素子として使用可能である。発光素子
として動作させる場合には、図12あるいは図14にお
いて、光デバイスに順バイアスをかけることにより、P
N接合で発光した光は光出射窓から広角に放射される。
ロジックデータそのもので駆動してもよいし、ドライバ
回路を介して駆動してもよい。
【0211】発光デバイスの場合も受光デバイスの場合
も、その表面は球面形状を有しているため、広い角度
で、出射および入射が可能なことが大きな特徴となって
いる。
【0212】(効果)本発明特有の効果は以下のとお
り。 (1)バンドギャップが小さいので電気回路への負担が
小さい。 (2)SiやGaAsに比べさらに高速な回路を作製で
きる。 (3)1.5um帯の光が使用できるので、中継回路な
しで低損失ファイバとも直接結合でき、長距離高速伝送
が可能になる。
【0213】(実施例11:III−VN on Ga
N基板)基板に球状GaN基板を用いることで、他の効
果を得ることができる。
【0214】図24他を再度用いて説明する。
【0215】(ボールICの作製)図21のように、ア
ンドープ球状GaN基板(1mmφ)3101の半球表
面(ここでは北半球表面)にIC3102を作製する。
このICは、発光素子の場合、駆動ICだったり、パラ
レルシリアル変換回路だったりする。受光素子の場合に
は、バイアス回路、プリアンプ、波形調整回路、あるい
はシリアルパラレル変換回路だったりする。もちろん両
方の機能を兼ねる場合は、それに応じた電子回路を付加
する。これらの回路は、通常のFETあるいはBipo
larプロセス(たとえば、S.C. Binari,
K. Doverspike, G.Kelner
H. B. Dietrich, and A.E.
Wickenden; Solid State El
ectronics, 41(1997), p.9
7,あるいは、S. Yoshida and J.
Suzuki ; Journal of Appli
ed Physics Letters, 85(19
99), p.7931など)と球状Siプロセス(実
施例8参照)を組み合わせることで作製可能である。S
iに比べ、バンドギャップがきわめて大きいため、高
温、高耐圧、高周波動作が可能であるというSiや他の
III−V材料とは別の性能指数をもつ。
【0216】(光デバイスの作製)GaNボールICプ
ロセスがほぼ終了したあと、光デバイスを作製する。
【0217】まず、球全体を窒化膜(SiN等)でカバ
ーし、光デバイス作製部分を平面に研磨およびポリッシ
ングする。窒化膜で覆うのは、光デバイスプロセス中電
子デバイスを保護するためと、選択成長用マスクとして
使用するためである。球面を覆うため、応力の小さい膜
を形成することが望ましい。光デバイス作製領域とし
て、本実施例では、南半球における(111)面および
それに準ずる面((100)、(010)、(−10
0)、(0−10)全部で4面)3301を用いた(1
辺約20um程度の三角平面)。図22は、図21をS
極方向から見た平面図である。図23はこのひとつの面
の断面図である。必要であれば再び窒化膜等で全体を覆
ったあと、デバイス作製領域のみに窓を開ける。開口部
の形状に応じて選択成長するので、本実施例では円筒状
になるよう開口部を制御した。
【0218】ここで(111)相当面を選んだ理由は以
下の通り。 (1)化学的に等価であることから、次に行う結晶成長
で均一な構造を作製できる。(もし、他の結晶面を含む
場合、組成や膜厚、結晶成長方向には異方性が生じ
る。) (2)S極に接する面(光の伝播方向に、少なくとも4
つの方向に光を放出、あるいは少なくとも四方向からの
光を受光できるためである。上記と同等以上の機能を有
するのであれば、(111)相当面に限るものではな
い。
【0219】(結晶成長)図24を用いてデバイス構造
について説明する。ガスソースMBE(分子線エピタキ
シィ)法あるいはMOCVD(有機金属蒸着)法を用い
て、選択領域(開口部)のみにGaNをバッファ層35
01としてまず積層する。次に、n−AlGaNクラッ
ド層3502、GaInN/AlGaNMQW(多重量
子井戸)活性層(発光波長0.4um)3503、p−
AlGaNクラッド層3504およびp−GaNコンタ
クト層3505を順次積層する。光入出射用の窓350
7をつけたあと正電極3506を形成する。引き続き負
電極を球内部から所望の位置に形成し、不必要な窒化膜
を除去し、ICの電極と配線して本実施例は完成する。
【0220】(実装)実装例を図25に示す。図におい
て3601はPMMA等の基板であり、3602はその
上に形成されたポリイミド等からなる光導波路コア層で
ある。そのうえにPMMAに準じたクラッド層3603
が形成されている。このクラッド層3603およびコア
層3602に上記球状光電融合デバイスをはめ込むこと
ができるような窪みをフォトリソ等で形成する。そのあ
と、該デバイスを紫外線硬化樹脂等(図示せず)で固定
する。このあと、Auバンプ3606をもちいてプリン
ト配線3605とコンタクトをとる。
【0221】(動作原理)受光デバイスとして動作させ
る場合には、実施例8の場合と全く同じである。
【0222】すなわち、光デバイスに逆バイアスをかけ
ることにより、光入射窓から広角から入射した光は、P
N接合で吸収され電気信号として近接した電子デバイス
に取り込まれる。GaNはSiやGaAs、あるいはI
nPよりもはるかにバンドギャップが大きいため、高電
圧が必要だが、反面、電子デバイスおよび光デバイス共
通に高温動作が可能である長所がある。
【0223】発光素子として動作させる場合には、図2
0あるいは図22において、光デバイスに順バイアスを
かけることにより、PN接合で発光した光は光出射窓から
広角に放射される。ロジックデータそのもので駆動して
もよいし、ドライバ回路を介して駆動してもよい。
【0224】発光デバイスの場合も受光デバイスの場合
も、その表面は球面形状を有しているため、広い角度
で、出射および入射が可能なことが大きな特徴となって
いる。本実施例における効果は以下の通り。 (1)バンドギャップが大きいので高温動作が可能であ
る。 (2)SiやGaAsに比べ高耐圧動作が可能である。 (3)0.4um帯の光が使用できるので、On/Of
fを肉眼で確認できる。
【0225】(実施例12:単層電気配線層+光配線層
+フォトニックボールIC)図26は本発明に係る実施
例を説明するための模式図である。
【0226】図26において4101は保持基板、41
08および4107はその上に形成された光配線層およ
び電気配線層である。4102は、電気配線層4102
上に実装されたICチップである。
【0227】図27は図1のB部の拡大図であり、41
03はIC4102を実装するためのバンプ(たとえば
ボールハンダ)、4104はフォトニックボールIC、
4105はそれらを電気的に接続する電極パッドであ
る。4106および4109は光配線層4108を構成
する2次元光導波路層(以下光フィルムと称する)およ
びクラッド層である。以上の構成を光電融合基板と称す
る。
【0228】本実施例においては、ICチップ4102
を電気配線層4107に接続するに際して、複数の金属
バンプを用いている(図26)。そして、複数の金属バ
ンプの一部を、それと同程度大きさのフォトニックボー
ルIC4104に替えている。フォトニックボールIC
4104の一部は、光配線層4108に埋め込まれてい
る。
【0229】光配線層4108を構成する、基板411
1は0.5mm、コア層4106は0.1mm、クラッ
ド層4109は0.3mmとしたが、このサイズに限る
ものではない。なお、クラッド層は省いても良い。電気
配線層4107としては単層のCuマイクロストリップ
ライン4110を内蔵した熱溶融性樹脂材(厚さ0.3
mm)を用いることができる。
【0230】(フォトニックボールIC)本発明の特徴
のひとつは、光電融合基板へのICチップの実装を、E
OあるいはOEデバイスを介して行う点にある。
【0231】次に、このEOあるいはOEデバイスの一
例である、フォトニックボールICについて簡単に説明
する(なお、製造方法については、例えば特開平200
1―284635号公報に記載されている。)。
【0232】図28において、アンドープ球状Si基板
(たとえば1mmφ)4201であり、4202はその
半球表面(ここでは北半球表面)に形成されたICであ
る。4203は、南半球部表面に形成された、発光素子
あるいは受光素子等の光デバイスである(ここでは、4
つの(111)相当面に形成された、GaInNAs/
AlGaAs系の面発光レーザや面型フォトダイオード
用いることができる)。
【0233】IC4202は、発光素子4203と集積
する場合、駆動ICだったり、パラレルシリアル変換回
路だったりする。受光素子4203と集積する場合に
は、バイアス回路、プリアンプ、波形調整回路、あるい
はシリアルパラレル変換回路だったりする。もちろん両
方の機能を兼ねる場合は、それに応じた電子回路を付加
する。これらの回路は、通常のCMOSプロセスで作製
可能で、そのロジック電圧は3.3Vである。
【0234】図29はフォトニックボールICの別の形
態を示している。図において電子回路部は上記と変わら
ないが、光デバイス部分が大きく異なっている。430
5は半球状に形成された活性層であり、発光デバイスの
場合、光デバイス用電極4307から注入されたキャリ
アが再結合して発光する。受光デバイスの場合、活性層
4305には逆バイアスがかけられ、受光した光が電子
−ホール対を形成する。どちらの場合も、球形状をして
いることがら、光放出あるいは光吸収ともに特別な光学
系を用意することなく、高効率でEOあるいはOE変換
することができる。
【0235】(光電融合基板へのフォトニックICの実
装)次に、この球状光デバイスの実装方法について説明
する。まず、光電融合基板の表面(本実施例の場合、電
気配線層4107)に前記フォトニックボールICをは
め込むことの可能な半球状の穴をあける。穴のあけ方は
については既述のとおりである。
【0236】次に、光シートのくぼみに光Iデバイス部
がくぼみの底になるように実装する。光取り出しおよび
光取り込みが可能なようにくぼみの底に光I/O部が接
するように位置合わせし固定する(図30参照)。位置
合わせ後紫外線効果樹脂等で固定することができる。
【0237】次に電気的接続をフリップチップ実装法で
行う。図30において、4103はバンプ、4105は
電極パッドである。IC側電極パッド4105にバンプ
を載せ、基板側と前記フォトニックボールIC4104
を位置合わせし、リフローによってバンプを溶融したあ
と冷却することで一挙に電気的コンタクトを得ることが
できる。
【0238】このようにフリップチップ実装とフォトニ
ックボールICの実装を同時に行うことで、工程が簡便
になるだけでなく、フォトニックボールICの機械的強
度を高めることができる。
【0239】ここで、バンプは矩形のものをイメージし
て表記してあるがこれにこだわる必要はない。最後に、
ICチップと光電融合基板の隙間をリフィル等で充填す
る(図示せず)ことでさらに、安定な実装状態とするこ
とができる。バンプにボールハンダを用いて、BGA
(Ball Grid Array)のように実装して
ももちろんよい。
【0240】(動作原理)以下動作原理について説明す
る。
【0241】(送信機能)図30において、LSI41
02の電極パッド4105は、バンプ4104を介して
近傍の電子デバイスに信号を伝送したり、受けたりする
ことができる。LSIのロジック信号(たとえばCMO
Sなら3.3V)は、前記球状光デバイスを直接駆動す
るのに十分な電圧である。
【0242】フォトニックボールIC4104上の発光
デバイス(たとえばLED)に順バイアスとなるようロ
ジック信号を印加することで、電気信号は光信号に変換
される(パワーが必要な場合や所定のバイアス電圧をか
けたい場合には、フォトニックボールIC上にドライバ
回路やバイアスをつくりこんでおけば良い)。発光した
光はコア層4106に放出され、特別な光学系なしで、
光シート全面に出力光4109として拡散伝播してい
く。基板サイズが30mm□程度および伝播損失が0.
3dB/cm以下なら、光出力1mW程度で十分最小受
信感度に必要な受信入力を得ることができる。
【0243】(受信機能)逆に、光配線層(光フィル
ム)4108の任意の方向から伝播してくる入力光信号
4110は、フォトニックボールICの受光素子410
2表面に達すると内部に取り込まれ、逆バイアスをかけ
たPN接合付近で吸収され電子信号に変換される。変換
された電気信号は入力電気信号として、近接するLSI
4102内部に取り込まれ処理される。
【0244】(電気パラレル・光シリアル伝送)電気パ
ラレル・光シリアル伝送について図31を用いて説明す
る。図31において、4601は光電融合基板であり、
4602および4608はCPU、4603は、この2
つのCPUが共有するRAM、4604はその他デバイ
ス、4605は電気配線、4606は光配線である。
【0245】通常の電気配線では、たとえば、6本の伝
送路で64ビット幅のデータ線を必要としている。低速
のデータ処理は問題は起きなくても、大容量のデータ高
速で送る用途(動画など)では、基板上に配置された他
のデバイスの動作から影響を受けやすくなったり、EM
Iの影響を与えやすくなる。従来の配線では、常時安定
したデータを送ることは極めて困難である。このような
用途のみに光配線を使う。
【0246】たとえば図31において、CPU4602
からRAM4603に64ビット幅でデータを送るた
め、電気配線としては6本必要だが、CPUの最終段で
パラレル・シリアル変換し、1個の光I/O素子を接続
することで、電気信号が、光信号として、光電融合基板
の光導波路部で伝送され、受け側の光I/O素子で受光
したあと、シリアル・パラレル変換することで、64ビ
ット幅のパラレル信号とする。パラレルからシリアル変
換することで、クロックは高くなるが、光導波路に伝播
するためEMIの心配はない。
【0247】なお、実装方法としてフリップチップ実装
やBGA法を用いることで、光配線のために新たな実装
方法を適用することなく、容易に実装することができ
る。BGA(Ball Grid Array)法は、
ICの電極パッドと基板の電極パッドを、バンプとよば
れるハンダによってアレイ状に接続するもので、従来の
ワイヤボンディングに比べ、高速化、低占有面積、低抵
抗化など極めて優れた特性を有している。
【0248】BGAのピッチとボールハンダの典型なサ
イズは、それぞれ1mmおよび0.50mmφ程度であ
る。つまり、上記ホトニックボールICが1mmφ以下
であれば、通常のBGAのプロセスを用いることができ
る。
【0249】フォトニックボールICとは、球状の半導
体基板(通常球状Si基板)上に、電子デバイスと光デ
バイスを集積したものであり、これ1つでOE/EO変
換できる。光電融合基板状のLSIからのロジック信号
の電圧で直接駆動できるものを使用すれば、特別な付加
回路は必要はない。また球形状を有しているので、独別
な光学系を必要としないで前記光電融合基板の光フィル
ム部に光学結合させることができる。
【0250】(実施例13:電気配線層と光配線層の順
番を入れ替える)図32は本発明の実施例を説明するた
めの模式図である。実施例12と異なっているのは、電
気配線層が多層からなっており、光配線層がその上に積
層される構成になっている点である。
【0251】図32において4107は多層の内部配線
4110からなる電気配線層であり、4108はコア層
4106およびクラッド層4109からなる光配線層
(光フィルム)である。
【0252】光配線層の最表面には電極パッド4105
および配線パターン(図示せず)が配置されており、電
気配線層4107とは、ビアホール4111により結合
されている。このビアホールは光配線層を貫いて形成さ
れるが、光は2次元的に伝播するので、高密度にビアが
形成されない限り影響は小さい。
【0253】本実施例特有の効果は、電気配線層の厚さ
によらず、光配線層を設置できる点にある。
【0254】(実施例14:多層PCB基板中に光シート
を2枚入れる。)図33は、本発明他の実施例を説明す
るための模式図である。
【0255】実施例12と異なっているのは、電気配線
層だけでなく光フィルムが両面に形成されている点であ
る。
【0256】図33において4101は保持基板であ
り、保持基板の両面に実施例13の構造が形成されてい
る。さらに、保持基板4101を貫通するビアホール4
111を形成することで、両面の電気的接続を行うこと
ができる。その他の工程は実施例12あるいは実施例1
3と同様である。
【0257】特別な場合として、保持基板101を除去
してもよい。
【0258】図34は、この場合の例を説明する模式図
である。
【0259】光電融合基板が2組の光配線層(410
8)および1つの多層配線層(4107)からなってい
る。多層配線層および光配線層両方に可とう性のある材
料をもちいることで光電融合フレキシブル基板とするこ
とができる。
【0260】この構成の利点は、実装面積が大きくでき
ることはもちろん、多層配線層中の配線が近接して、E
MIが無視できなくなる状況では、光フィルムを用いて
EMIフリーの光配線ができること、および、保持基板
を取り除いたことで、よりフレキシブルな基板にするこ
とができることである。たとえば、基板自体を90度折
り曲げて実装することも可能である。
【0261】
【発明の効果】以上、本発明により、光伝送領域(光シ
ート)を伝搬してくる光を受光する際に方向依存性を低
減した半導体装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態について説明するための模式
的斜視図である。
【図2】本発明の実施形態について説明するための模式
的断面図である。
【図3】本発明を説明する為の斜視図である。
【図4】本発明を説明する為の模式的断面図である。
【図5】球状光デバイスの模式的断面図である。
【図6】本発明を説明するための模式的断面図である。
【図7】本発明を説明する為の図である。
【図8】本発明を説明する為の図である。
【図9】本発明を説明する為の図である。
【図10】本発明を説明する為の図である。
【図11】本発明を説明する為の図である。
【図12】本発明を説明する為の図である。
【図13】本発明を説明する為の図である。
【図14】本発明を説明する為の図である。
【図15】本発明を説明する為の図である。
【図16】本発明を説明する為の図である。
【図17】本発明を説明する為の図である。
【図18】本発明を説明する為の図である。
【図19】本発明を説明する為の図である。
【図20】本発明を説明する為の図である。
【図21】本発明を説明する為の図である。
【図22】本発明を説明する為の図である。
【図23】本発明を説明する為の図である。
【図24】本発明を説明する為の図である。
【図25】本発明を説明する為の図である。
【図26】本発明を説明する為の図である。
【図27】本発明を説明する為の図である。
【図28】本発明を説明する為の図である。
【図29】本発明を説明する為の図である。
【図30】本発明を説明する為の図である。
【図31】本発明を説明する為の図である。
【図32】本発明を説明する為の図である。
【図33】本発明を説明する為の図である。
【図34】本発明を説明する為の図である。
【図35】従来例を説明する為の図である。
【符号の説明】
1000 光伝送領域 1010 受光部 1101 光電融合基板 1102 2次元光導波路層 1103 電子デバイス 1104 電気配線 1105 光配線 1106 電子デバイス 1107 電子デバイス 1108 電気配線領域 1109 支持基板 1201 受光部 1202 金属バンプ 1501 球状部材 1502 第1のクラッド層 1503 活性層 1504 カソード 505 アノード 506 ビアホール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 25/16 H01L 29/06 601B 5F044 25/18 33/00 M 5F073 27/14 H01S 5/026 618 5F088 27/15 H05K 1/02 T G02B 6/12 B 29/06 601 H01L 31/02 D 31/0232 27/14 J 33/00 25/08 B H01S 5/026 618 H05K 1/02 Fターム(参考) 2H037 BA02 BA11 DA03 DA06 2H047 KA02 KB09 MA07 QA04 QA05 TA05 4M118 AA10 AB05 BA02 BA30 CA03 CA05 CB01 CB02 CB03 CB05 CB06 CB07 EA01 EA05 FC04 FC06 FC15 FC17 FC18 FC20 GA09 GD20 HA27 HA31 5E338 AA03 BB75 CC01 CC10 CD11 EE21 5F041 CA04 CA05 CA34 CA65 CA74 EE25 FF16 5F044 KK02 LL01 LL13 5F073 AA74 AB12 CA07 CB02 CB04 DA05 5F088 AB03 GA04 GA05 HA20

Claims (36)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光伝送領域及び該光伝送領域を伝搬する
    光を電気信号に変換する受光部を有する半導体装置であ
    って、該光伝送領域は2次元型光導波路層を含み構成さ
    れており、且つ該受光部の少なくとも一部が該光伝送領
    域に埋め込まれていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記光伝送領域上に電気配線層が積層さ
    れている請求項1記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記受光部は、前記2次元型光導波路層
    内を伝搬する光を直接受光可能であるように該光伝送領
    域に埋め込まれている請求項1記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記受光部は、前記2次元型光導波路層
    の面内を伝搬する光を指向性無く受光可能であるように
    埋め込まれている請求項1記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】 前記受光部の前記光伝送領域に埋め込ま
    れている部分が球状の面を有している請求項1記載の半
    導体装置。
  6. 【請求項6】 前記受光部は、球状デバイスを含み構成
    されている請求項1記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 前記光伝送領域に光を送信する為の発光
    部も、その一部が該光伝送領域に埋め込まれている請求
    項1記載の半導体装置。
  8. 【請求項8】 前記光伝送領域は、該光伝送領域の上に
    位置する前記電気配線層と、該光伝送領域の下に位置す
    る別の電気配線層により挟まれており、互いに電気配線
    層の少なくとも一部は、該光伝送領域を貫くビアにより
    電気的に接続されていることを特徴とする請求項2記載
    の半導体装置。
  9. 【請求項9】 前記電気配線層上に設けられた電子デバ
    イスと前記光伝送領域とのO/E変換、あるいはE/O
    変換の少なくとも一方が球状デバイスを用いて行われる
    請求項2記載の半導体装置。
  10. 【請求項10】 電子デバイスおよび光デバイスが配置
    された基板であって、少なくとも2層から構成され、該
    基板の第1層には、前記電子デバイス、前記光デバイス
    及びこれらを結合する電気配線が配置され、該基板の第
    2層には2次元型光導波路が形成されており、前記光デ
    バイスは該2次元型光導波路を導波している光を受光す
    る受光部を有し、該受光部の少なくとも一部は該2次元
    型光導波路に埋め込まれていることを特徴とする光電融
    合基板。
  11. 【請求項11】 前記2次元型光導波路が、シート状に
    形成されていることを特徴とする請求項10記載の光電
    融合基板。
  12. 【請求項12】 前記受光部が球状構造を有し、且つ該
    受光部は前記光導波路に埋め込まれるように該基板表面
    から実装されており、該基板の表面では前記電気配線と
    結合していることを特徴とする請求項10記載の光電融
    合基板。
  13. 【請求項13】 前記光デバイスには受光部とこれを駆
    動する、あるいは得られる電気信号を増幅する電気回路
    が形成されていることを特徴とする請求項10記載の光
    電融合基板。
  14. 【請求項14】 前記光デバイスのうち光源が、球状形
    状をなし、前記基板の前記光導波路に埋め込まれるよう
    に該基板に表面から実装され、該基板の表面では前記電
    気配線と結合していることを特徴とする請求項10記載
    の光電融合基板。
  15. 【請求項15】 前記光デバイスが球状構造であり、該
    光デバイスに光源および受光器かつ、それらを駆動する
    電子回路が集積されていることを特徴とする請求項10
    記載の光電融合基板。
  16. 【請求項16】 前記基板は、球状構造の送信用デバイ
    ス、及びパラレル信号ラインを有し、該パラレル信号ラ
    インの出力端子が前記球状送信用デバイスに結合され、
    該送信用デバイスでパラレルシリアル変換することで、
    シリアル光信号として前記2次元型光導波路に送出する
    ことを特徴とする請求項10記載の光電融合基板。
  17. 【請求項17】 前記シリアル光信号を前記2次元型光
    導波路に埋め込まれた前記受光部で受光し、電気信号に
    変換されたあと、該受光部に同時に形成された電子回路
    によりシリアル/パラレル変換されて前記パラレル信号
    ラインに伝送されることを特徴とする請求項16記載の
    光電融合配線基板。
  18. 【請求項18】 前記光電融合基板が可撓性のある基板
    材料で構成されている請求項10記載の光電融合基板。
  19. 【請求項19】 球状半導体基板表面に電子デバイスと
    光デバイスが集積された光電融合集積回路であって、該
    光デバイスが、半径方向にpn接合を含む多層膜を含み
    構成される受光素子であり、該電子デバイスが、該受光
    素子に逆バイアスをかけるバイアス回路および受光して
    電気信号に変換された信号を増幅する増幅器を少なくと
    も有することを特徴とする光電融合集積回路。
  20. 【請求項20】 前記受光素子の少なくとも一部が光伝
    送媒体に埋め込まれている請求項19記載の光電融合集
    積回路。
  21. 【請求項21】 前記球状半導体基板がSi単結晶で構
    成されていることを特徴とする請求項19記載の光電融
    合集積回路。
  22. 【請求項22】 前記球状半導体基板がGaAs単結晶
    で構成されていることを特徴とする請求項19記載の光
    電融合集積回路。
  23. 【請求項23】 前記受光素子を構成する多層膜が、p
    −Si、i−Si、n−Siで構成されることを特徴と
    する請求項19記載の光電融合集積回路。
  24. 【請求項24】 前記受光素子を構成する多層膜が、p
    −GaAs、GaAsNおよびn−GaAsで構成され
    ることを特徴とする請求項19記載の光電融合集積回
    路。
  25. 【請求項25】 前記受光素子を構成する多層膜を作製
    する方法が、イオン注入法によるものであることを特徴
    とする請求項19記載の光電融合集積回路の製造方法。
  26. 【請求項26】 球状半導体基板表面に電子デバイスと
    光デバイスが集積された光電融合集積回路であって、該
    光デバイスが、半径方向にpn接合を含む多層膜を含み
    構成される発光素子であり、該電子デバイスが、該発光
    素子に順バイアスをかけるバイアス回路を有することを
    特徴とする光電融合集積回路。
  27. 【請求項27】 前記発光素子の少なくとも一部が光伝
    送媒体に埋め込まれている請求項26記載の光電融合集
    積回路。
  28. 【請求項28】 球状半導体基板表面に電子デバイスと
    光デバイスが集積された光電融合集積回路であって、該
    光デバイスが、前記球状半導体表面の一部を平坦化して
    複数の微小平面を出したあと、該微小平面上にpn接合
    を含む多層膜を積層して形成されており、該電子デバイ
    スが、これに逆バイアスあるいは順バイアスをかけるバ
    イアス回路を少なくとも有することを特徴とする光電融
    合集積回路。
  29. 【請求項29】 前記光デバイスが光伝送媒体に埋め込
    まれている請求項23記載の光電融合集積回路。
  30. 【請求項30】 前記球状半導体基板がSi単結晶で構
    成されていることを特徴とする請求項28記載の光電融
    合集積回路。
  31. 【請求項31】 前記球状半導体基板がGaAs単結晶
    で構成されていることを特徴とする請求項28記載の光
    電融合集積回路。
  32. 【請求項32】 前記球状半導体基板がInP単結晶で
    構成されていることを特徴とする請求記28記載の光電
    融合集積回路。
  33. 【請求項33】 前記球状半導体基板がGaN単結晶で
    構成されていることを特徴とする請求項28記載の光電
    融合集積回路。
  34. 【請求項34】 前記pn接合を含む多層膜が、p−
    (Al,Ga)(As,P,N)、i−(Al,Ga)
    (As,P,N)、n−(Al,Ga)(As,P,
    N)で構成されることを特徴とする請求項28記載の光
    電融合集積回路。
  35. 【請求項35】 前記球状半導体表面の一部を平坦化し
    て複数の微小平面を出したあと、該微小平面上に半径方
    向にpn接合を含む多層膜を積層する工程において、前
    記球状半導体表面の微小平面以外の領域を、誘電体膜等
    で被覆し、有機金属エピタキシャル成長法あるいはガス
    ソース分子線蒸着法で微小平面のみに選択的に前記pn
    接合を含む多層膜を積層することを特徴とする請求項2
    8に記載の光電誘導集積回路の製造方法。
  36. 【請求項36】 前記球状の半導体表面の一部を平坦化
    してなる微小平面が、結晶工学的に等価あるいは化学的
    に近い結晶面からなることを特徴とする請求項28に記
    載の光電融合集積回路の製造方法。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005039230A (ja) * 2003-07-01 2005-02-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装体、光伝送路および光電気回路基板
JP2007504615A (ja) * 2003-09-05 2007-03-01 キタイ,エイドリアン 球支持薄膜蛍光体エレクトロルミネセンス素子
US7200293B2 (en) 2003-04-15 2007-04-03 Canon Kabushiki Kaisha Reconfigurable optoelectronic circuit
JP2007310016A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Olympus Corp 光学系
US7386200B2 (en) 2002-12-11 2008-06-10 Canon Kabushiki Kaisha Photonic circuit board
WO2009131213A1 (ja) * 2008-04-24 2009-10-29 パナソニック電工株式会社 Ledモジュールおよびそれを用いた照明器具
JP2009283801A (ja) * 2008-05-26 2009-12-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光半導体装置
JP2011138909A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Clean Venture 21 Corp 光電変換素子およびその製造方法、ならびに光電変換装置およびその製造方法
JP2013514540A (ja) * 2009-12-16 2013-04-25 テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン(パブル) オンチップ光導波路
JP2021044563A (ja) * 2020-11-11 2021-03-18 浜松ホトニクス株式会社 受光装置、及び受光装置の製造方法

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002286959A (ja) * 2000-12-28 2002-10-03 Canon Inc 半導体装置、光電融合基板、及びそれらの製造方法
USRE44438E1 (en) 2001-02-27 2013-08-13 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device and method of dissipating heat from thin package-on-package mounted to substrate
US20020121707A1 (en) * 2001-02-27 2002-09-05 Chippac, Inc. Super-thin high speed flip chip package
US8143108B2 (en) * 2004-10-07 2012-03-27 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device and method of dissipating heat from thin package-on-package mounted to substrate
US6936854B2 (en) * 2001-05-10 2005-08-30 Canon Kabushiki Kaisha Optoelectronic substrate
EP1286194A3 (en) 2001-08-21 2004-05-19 Canon Kabushiki Kaisha Optical waveguide apparatus
JP3768901B2 (ja) * 2002-02-28 2006-04-19 松下電器産業株式会社 立体光導波路の製造方法
JP3833132B2 (ja) * 2002-03-25 2006-10-11 キヤノン株式会社 光導波装置の製造方法
JP3833131B2 (ja) * 2002-03-25 2006-10-11 キヤノン株式会社 光伝送装置
JP3848210B2 (ja) * 2002-05-29 2006-11-22 キヤノン株式会社 電子回路基板
JP2004031508A (ja) * 2002-06-24 2004-01-29 Nec Corp 光電気複合モジュールおよびそのモジュールを構成要素とする光入出力装置
TWI294262B (en) 2002-06-28 2008-03-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd A light reception/emission device built-in module with optical and electrical wiring combined therein and method of making the same
US20040012978A1 (en) * 2002-07-18 2004-01-22 Yutaka Doi Direct deposition waveguide mirror
JP2004069798A (ja) 2002-08-02 2004-03-04 Canon Inc 光電融合ビアをもつ光電融合配線基板
JP3927883B2 (ja) 2002-08-02 2007-06-13 キヤノン株式会社 光導波装置、およびそれを用いた光電融合基板
JP4058764B2 (ja) * 2003-06-26 2008-03-12 住友電気工業株式会社 通信モジュール
KR20050004005A (ko) * 2003-07-01 2005-01-12 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 실장체, 광 전송로 및 광 전기 회로기판
US7248757B2 (en) * 2003-12-15 2007-07-24 Canon Kabushiki Kaisha Method, device and computer program for designing a circuit having electric wires and optical connections
AT413891B (de) 2003-12-29 2006-07-15 Austria Tech & System Tech Leiterplattenelement mit wenigstens einem licht-wellenleiter sowie verfahren zur herstellung eines solchen leiterplattenelements
US7251393B2 (en) * 2004-03-30 2007-07-31 Lockheed Martin Corporation Optical router
JP2006053662A (ja) * 2004-08-10 2006-02-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多重プロセッサ
EP1679749A1 (en) * 2005-01-11 2006-07-12 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne Epfl - Sti - Imm - Lmis3 Semiconductor photodiode and method of making
JP5309990B2 (ja) * 2006-04-14 2013-10-09 オムロン株式会社 光伝送モジュール、電子機器
JPWO2010038871A1 (ja) * 2008-10-03 2012-03-01 ソニー株式会社 半導体装置
US8041229B2 (en) * 2008-12-12 2011-10-18 Fujitsu Limited System and method for optoelectrical communication
US8041230B2 (en) * 2008-12-12 2011-10-18 Fujitsu Limited System and method for optoelectrical communication
US20120153340A1 (en) * 2009-06-05 2012-06-21 Advanced Photonics, Inc. Submount, optical module provided therewith, and submount manufacturing method
JP2011053354A (ja) * 2009-08-31 2011-03-17 Toshiba Corp 光電気配線フィルムおよび光電気配線モジュール
CA2791321C (en) 2010-02-25 2018-05-22 Luminator Holding Lp System and method for wireless control of signs
CN104977086B (zh) * 2014-04-01 2018-08-24 热映光电股份有限公司 外接式温度感测模块及其温度感测方法、及温度感测系统
US10627490B2 (en) 2016-01-31 2020-04-21 Velodyne Lidar, Inc. Multiple pulse, LIDAR based 3-D imaging
JP7165587B2 (ja) 2016-06-01 2022-11-04 ベロダイン ライダー ユーエスエー,インコーポレイテッド 多重ピクセル走査lidar
JP2018105925A (ja) * 2016-12-22 2018-07-05 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置およびその製造方法
CN110462857B (zh) 2017-02-01 2024-02-27 D-波系统公司 用于制造超导集成电路的系统和方法
WO2018183843A1 (en) * 2017-03-31 2018-10-04 Velodyne Lidar, Inc. Integrated lidar illumination power control
CN110809704B (zh) 2017-05-08 2022-11-01 威力登激光雷达美国有限公司 Lidar数据获取与控制
JP2019197126A (ja) * 2018-05-09 2019-11-14 日本電信電話株式会社 光デバイスおよび光結合方法
US10712434B2 (en) 2018-09-18 2020-07-14 Velodyne Lidar, Inc. Multi-channel LIDAR illumination driver
US11885958B2 (en) 2019-01-07 2024-01-30 Velodyne Lidar Usa, Inc. Systems and methods for a dual axis resonant scanning mirror
US12102017B2 (en) 2019-02-15 2024-09-24 D-Wave Systems Inc. Kinetic inductance for couplers and compact qubits
CN113707787B (zh) * 2020-05-22 2023-07-18 重庆康佳光电技术研究院有限公司 球形倒装微型led及其制造方法、显示面板

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2554626C3 (de) * 1975-12-04 1981-05-07 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Abschirmeinrichtung und Verfahren zu deren Aufbringung
JPS553673A (en) 1978-06-23 1980-01-11 Toshiba Electric Equip Wiring device
JPS58225746A (ja) * 1982-06-24 1983-12-27 Ricoh Co Ltd コントロ−ル用の光パス
JPS5975656A (ja) 1982-10-25 1984-04-28 Agency Of Ind Science & Technol 半導体集積回路構造
JPS6128240A (ja) * 1984-07-18 1986-02-07 Kuraray Co Ltd 基板間信号伝送方式
JPH0642527B2 (ja) 1989-10-10 1994-06-01 日本電気株式会社 光導波路を用いた情報処理装置
WO1994006052A1 (en) * 1992-09-10 1994-03-17 Fujitsu Limited Optical circuit system and its constituents
JPH06281831A (ja) 1993-03-25 1994-10-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電気配線・光配線混載フレキシブルプリント配線板及びその基板
US5562838A (en) * 1993-03-29 1996-10-08 Martin Marietta Corporation Optical light pipe and microwave waveguide interconnects in multichip modules formed using adaptive lithography
US5712504A (en) * 1995-02-02 1998-01-27 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Pin type light-receiving device, opto electronic conversion circuit, and opto-electronic conversion module
JPH08220357A (ja) 1995-02-15 1996-08-30 Nippon Sheet Glass Co Ltd 光学接続装置およびその製造方法
US5835646A (en) 1995-09-19 1998-11-10 Fujitsu Limited Active optical circuit sheet or active optical circuit board, active optical connector and optical MCM, process for fabricating optical waveguide, and devices obtained thereby
JPH0996746A (ja) 1995-09-29 1997-04-08 Fujitsu Ltd アクティブ光回路シートまたはアクティブ光回路基板
JP3500843B2 (ja) 1996-04-01 2004-02-23 富士ゼロックス株式会社 光バス及び情報処理装置
US6204545B1 (en) * 1996-10-09 2001-03-20 Josuke Nakata Semiconductor device
US5955776A (en) * 1996-12-04 1999-09-21 Ball Semiconductor, Inc. Spherical shaped semiconductor integrated circuit
US6097472A (en) 1997-04-17 2000-08-01 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus and method for exposing a pattern on a ball-like device material
JPH10294254A (ja) 1997-04-17 1998-11-04 Canon Inc 球状デバイス露光装置及び製造方法
JPH1154406A (ja) 1997-08-04 1999-02-26 Mitsui High Tec Inc 球状icの露光方法
JPH1172750A (ja) 1997-08-29 1999-03-16 Oki Electric Ind Co Ltd 自由空間光配線用光学装置
JPH11111609A (ja) 1997-10-02 1999-04-23 Ball Semiconductor Kk 球状半導体用照明装置
JP3724215B2 (ja) 1997-11-10 2005-12-07 富士ゼロックス株式会社 光信号伝送装置および信号処理装置
CN1280755C (zh) * 1997-12-10 2006-10-18 精工爱普生株式会社 系统大规模集成电路与电子设备
JP2000031189A (ja) 1998-07-09 2000-01-28 Nippon Steel Corp 球状半導体装置
JP3955394B2 (ja) 1998-07-09 2007-08-08 新日鉄マテリアルズ株式会社 球状半導体装置の製造方法
US6343171B1 (en) * 1998-10-09 2002-01-29 Fujitsu Limited Systems based on opto-electronic substrates with electrical and optical interconnections and methods for making
JP3100584B2 (ja) 1999-02-15 2000-10-16 日本電信電話株式会社 光電子集積回路およびその作製方法
JP4270647B2 (ja) 1999-05-31 2009-06-03 ボールセミコンダクター株式会社 傾斜計
US6516104B1 (en) * 1999-06-25 2003-02-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical wiring device
US6324904B1 (en) * 1999-08-19 2001-12-04 Ball Semiconductor, Inc. Miniature pump-through sensor modules
US6499889B1 (en) * 1999-12-08 2002-12-31 Yazaki Corporation Method of assembling optical connector, optical connector and hybrid connector
JP3689615B2 (ja) * 2000-03-29 2005-08-31 キヤノン株式会社 立体形状を有する光電融合デバイス
JP2001280973A (ja) * 2000-03-31 2001-10-10 Canon Inc 3次元リングレーザ装置およびこれを用いたジャイロ・コンパス
JP2002286959A (ja) * 2000-12-28 2002-10-03 Canon Inc 半導体装置、光電融合基板、及びそれらの製造方法
US6611000B2 (en) * 2001-03-14 2003-08-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Lighting device
US6936854B2 (en) * 2001-05-10 2005-08-30 Canon Kabushiki Kaisha Optoelectronic substrate

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7386200B2 (en) 2002-12-11 2008-06-10 Canon Kabushiki Kaisha Photonic circuit board
US7200293B2 (en) 2003-04-15 2007-04-03 Canon Kabushiki Kaisha Reconfigurable optoelectronic circuit
JP2005039230A (ja) * 2003-07-01 2005-02-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装体、光伝送路および光電気回路基板
JP4510532B2 (ja) * 2003-07-01 2010-07-28 パナソニック株式会社 実装体、光伝送路および光電気回路基板
JP2007504615A (ja) * 2003-09-05 2007-03-01 キタイ,エイドリアン 球支持薄膜蛍光体エレクトロルミネセンス素子
JP2007310016A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Olympus Corp 光学系
US8823021B2 (en) 2008-04-24 2014-09-02 Panasonic Corporation LED module and lighting device using the same
WO2009131213A1 (ja) * 2008-04-24 2009-10-29 パナソニック電工株式会社 Ledモジュールおよびそれを用いた照明器具
JP2009283801A (ja) * 2008-05-26 2009-12-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光半導体装置
JP2013514540A (ja) * 2009-12-16 2013-04-25 テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン(パブル) オンチップ光導波路
JP2011138909A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Clean Venture 21 Corp 光電変換素子およびその製造方法、ならびに光電変換装置およびその製造方法
JP2021044563A (ja) * 2020-11-11 2021-03-18 浜松ホトニクス株式会社 受光装置、及び受光装置の製造方法
JP7138149B2 (ja) 2020-11-11 2022-09-15 浜松ホトニクス株式会社 受光装置、及び受光装置の製造方法

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