JP2002246492A - Hermetically sealed package - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 封着面を安定的に確保し、封着時に生じる気
泡や亀裂の影響をなくし、気密性および高信頼性の向上
を図る。
【解決手段】 半導体素子13が装着されるベース部1
5と、ベース部15の周囲に形成された側壁16と、側
壁16で囲まれた開口を密閉するように開口側端面に封
着されるキャップ19とを備え、キャップ19の側壁1
6の開口側端面に封着される面およびこの封着される面
の側面がメタライズされている。これにより、メタライ
ズに用いる融着材20が金属ベース部15の側壁16と
キャップ19の互いの封着面だけでなく、キャップ19
の側面まで表面張力により回り込み封着面積を確保する
ことができる。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To stably secure a sealing surface, eliminate the influence of bubbles and cracks generated at the time of sealing, and improve airtightness and high reliability. SOLUTION: A base portion 1 on which a semiconductor element 13 is mounted.
5, a side wall 16 formed around the base portion 15, and a cap 19 sealed to an opening-side end face so as to seal the opening surrounded by the side wall 16.
The surface to be sealed to the opening-side end surface and the side surface of the surface to be sealed are metallized. As a result, the fusing material 20 used for metallization can be used not only for the sealing surfaces of the side wall 16 of the metal base portion 15 and the cap 19 but also for the cap 19.
Wraparound sealing area can be ensured by the surface tension up to the side surface.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体素子を空
間を有する外囲器に収納した半導体装置のパッケージに
関するものであり、特に、衛星通信装置や携帯電話基地
局などに用いられ高信頼性を要求される高周波用半導体
装置の気密封止パッケージに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device package in which a semiconductor element is housed in an envelope having a space. The present invention relates to a required hermetic sealing package for a high-frequency semiconductor device.
【0002】[0002]
【従来の技術】図8は、半導体素子を空間を有する外囲
器に収納した気密封止パッケージの構成を示したもので
ある。半導体素子1およびセラミック基板2、2’をマ
ウントする金属ベース部3と、金属ベース部3の周囲に
形成された側壁4と、側壁4の一部に配設された入力端
子5および出力端子6とを具備し、金属ベース部3の側
壁4の上面に封着密閉されるキャップ7より気密封止パ
ッケージが構成される。金属ベース部3の側壁4の封着
面およびキャップ7の封着面のみがメタライズされてお
り、AuSn箔などの融着材12により互いを封着密閉
する。2. Description of the Related Art FIG. 8 shows the structure of a hermetically sealed package in which a semiconductor element is housed in an envelope having a space. A metal base 3 on which the semiconductor element 1 and the ceramic substrates 2 and 2 'are mounted; a side wall 4 formed around the metal base 3; and an input terminal 5 and an output terminal 6 provided on a part of the side wall 4 And a cap 7 hermetically sealed on the upper surface of the side wall 4 of the metal base 3 to form a hermetically sealed package. Only the sealing surface of the side wall 4 of the metal base 3 and the sealing surface of the cap 7 are metallized, and they are sealed and sealed by a fusion material 12 such as AuSn foil.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】図9は、図8における
気密封止パッケージが封着密閉された状態を示したもの
である。上記従来の構成を有する半導体装置の封着面の
状態概略を図10に示す。図10は図9のA−A’断面
を示したものである。金属ベース部3の側壁4にキャッ
プ7が融着材12により封着固定されている。従来構成
においては、メタライズ面が、金属ベース部3の側壁4
上面およびキャップ7ともに一平面であるため融着材1
2の広がりが平面内であり、封着面は平坦でかつ面積が
限られる。このため、融着材12の溶け具合が悪い場合
にできる気泡や融着材12の亀裂を補えず、半導体装置
内部の気密性に欠けるという問題があった。また、従来
の構成では、気密封止パッケージへキャップを封着する
際の位置ずれも起こり易く、そのため、封着面のずれが
起こり封着面積が少なくなり、上記同様に気泡や亀裂を
補えず、半導体装置内部の気密性に欠けるという問題が
あった。衛星通信装置や携帯電話基地局などに用いられ
る半導体装置においては、いかに気密性を確保し高信頼
性を実現するかが重要である。FIG. 9 shows a state in which the hermetically sealed package in FIG. 8 is hermetically sealed. FIG. 10 schematically shows the state of the sealing surface of the semiconductor device having the conventional configuration. FIG. 10 shows a cross section taken along line AA ′ of FIG. The cap 7 is sealed and fixed to the side wall 4 of the metal base portion 3 by the fusion material 12. In the conventional configuration, the metallized surface is
Since both the upper surface and the cap 7 are flat, the fusion material 1
2 is in a plane, the sealing surface is flat and the area is limited. For this reason, there is a problem that air bubbles and cracks of the fusion material 12 which are generated when the fusion material 12 is not melted well cannot be compensated, and airtightness inside the semiconductor device is lacking. In addition, in the conventional configuration, misalignment when the cap is sealed to the hermetically sealed package is also likely to occur, so that the sealing surface is shifted and the sealing area is reduced, and the bubbles and cracks cannot be compensated as described above. However, there is a problem that the airtightness inside the semiconductor device is lacking. In a semiconductor device used for a satellite communication device, a mobile phone base station, or the like, it is important how to secure airtightness and achieve high reliability.
【0004】したがって、この発明の目的は、封着面を
安定的に確保し、封着時に生じる気泡や亀裂の影響をな
くし、かつ、封着時のキャップの位置精度も確保した気
密性の高い、高信頼性の半導体装置の気密封止パッケー
ジを提供することである。[0004] Therefore, an object of the present invention is to provide a highly airtight structure that stably secures a sealing surface, eliminates the effects of bubbles and cracks generated during sealing, and ensures the positional accuracy of the cap during sealing. Another object of the present invention is to provide a hermetically sealed package for a semiconductor device with high reliability.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の請求項1記載の気密封止パッケージは、
半導体素子が装着されるベース部と、前記ベース部の周
囲に形成された側壁と、前記側壁で囲まれた開口を密閉
するように開口側端面に封着されるキャップとを備え、
前記キャップの前記側壁の開口側端面に封着される面お
よびこの封着される面の側面がメタライズされている。In order to achieve the above object, a hermetically sealed package according to claim 1 of the present invention comprises:
A base portion on which the semiconductor element is mounted, a side wall formed around the base portion, and a cap sealed to an opening-side end surface to seal an opening surrounded by the side wall;
A surface sealed to the opening-side end surface of the side wall of the cap and a side surface of the sealed surface are metallized.
【0006】このように、キャップの側壁の開口側端面
に封着される面およびこの封着される面の側面がメタラ
イズされているので、メタライズに用いる融着材がベー
ス部の側壁とキャップの互いの封着面だけでなく、キャ
ップの側面まで表面張力により回り込み封着面積を確保
することができる。As described above, the surface to be sealed to the opening side end surface of the side wall of the cap and the side surface of the surface to be sealed are metallized, so that the fusion material used for metallizing is not formed between the side wall of the base portion and the cap. Not only the mutual sealing surfaces but also the side surfaces of the cap can be wrapped by the surface tension to secure a sealing area.
【0007】請求項2記載の気密封止パッケージは、請
求項1において、側壁の開口側端面は、平坦加工面であ
る。このように、側壁の開口側端面は、平坦加工面であ
るので、側壁の開口側端面において側壁とキャップの互
いの封着面は平坦であるが、キャップの側面がメタライ
ズされていることで気密性が向上する。According to a second aspect of the present invention, in the hermetic sealing package according to the first aspect, the opening-side end surface of the side wall is a flat processed surface. As described above, since the opening-side end surface of the side wall is a flat processed surface, the sealing surface of the side wall and the cap is flat at the opening-side end surface of the side wall. The performance is improved.
【0008】請求項3記載の気密封止パッケージは、請
求項1において、側壁の開口側端面は、凹凸加工面であ
る。このように、側壁の開口側端面は、凹凸加工面であ
るので、側壁とキャップの互いの封着時の位置精度およ
び封着面積を確保することができ、高気密性を実現す
る。According to a third aspect of the present invention, in the hermetic sealing package according to the first aspect, the end face on the opening side of the side wall is an uneven surface. In this manner, since the opening-side end surface of the side wall is an uneven surface, the positional accuracy and sealing area of the side wall and the cap at the time of sealing each other can be secured, and high airtightness is realized.
【0009】請求項4記載の気密封止パッケージは、請
求項1において、キャップの封着面は、平坦加工面であ
る。このように、キャップの封着面は、平坦加工面であ
るので、キャップの封着面において側壁とキャップの互
いの封着面は平坦であるが、キャップの側面がメタライ
ズされていることで気密性が向上する。According to a fourth aspect of the present invention, in the hermetic sealing package according to the first aspect, the sealing surface of the cap is a flat processed surface. As described above, since the sealing surface of the cap is a flat processed surface, the sealing surfaces of the side wall and the cap at the sealing surface of the cap are flat, but the side surfaces of the cap are airtight because the side surfaces of the cap are metallized. The performance is improved.
【0010】請求項5記載の気密封止パッケージは、請
求項1において、キャップの封着面は、凹凸加工面であ
る。このように、キャップの封着面は、凹凸加工面であ
るので、側壁とキャップの互いの封着時の位置精度およ
び封着面積を確保することができ、高気密性を実現す
る。According to a fifth aspect of the present invention, in the hermetic sealing package according to the first aspect, the sealing surface of the cap is an uneven surface. As described above, since the sealing surface of the cap is a textured surface, the positional accuracy and the sealing area of the side wall and the cap when sealing each other can be ensured, and high airtightness is realized.
【0011】請求項6記載の気密封止パッケージは、請
求項1,2,3,4または5において、側壁とキャップ
は封着密閉により電気的に接続され、かつ、ベース部と
も電気的に接続されている。このように、側壁とキャッ
プは封着密閉により電気的に接続され、かつ、ベース部
とも電気的に接続されているので、ベース部を接地する
ことにより半導体装置全体が電気的にシールドされ、外
来電磁波の影響を受けることがない。According to a sixth aspect of the present invention, in the hermetic sealing package according to the first, second, third, fourth or fifth aspect, the side wall and the cap are electrically connected by sealing and sealing, and also electrically connected to the base. Have been. As described above, since the side wall and the cap are electrically connected to each other by sealing and sealing, and also electrically connected to the base, the entire semiconductor device is electrically shielded by grounding the base, and the external It is not affected by electromagnetic waves.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】この発明の第1の実施の形態を図
1および図2に基づいて説明する。図1はこの発明の第
1の実施の形態の気密封止パッケージの構成を示す分解
斜視図を示す。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is an exploded perspective view showing a configuration of a hermetically sealed package according to a first embodiment of the present invention.
【0013】図1に示すように、気密封止パッケージ
は、半導体素子13およびセラミック基板14,14’
をマウントする金属製のベース部15と、ベース部15
の周囲に形成された側壁16と、側壁16の一部に配設
された入力端子17および出力端子18と、側壁16で
囲まれた開口を密閉するように開口側端面に封着される
キャップ19とを備え、キャップ19の側壁16の開口
側端面に封着される面およびこの封着される面の側面が
メタライズされている。ベース部15は金属製以外でも
よい。すなわち、半導体素子がダイスボンディングで
き、熱放散の良い材質であれば良く、例えばセラミック
板の表面にAuめっきを施したものが挙げられる。As shown in FIG. 1, the hermetically sealed package comprises a semiconductor element 13 and ceramic substrates 14, 14 '.
A metal base part 15 for mounting the
, An input terminal 17 and an output terminal 18 provided on a part of the side wall 16, and a cap sealed to an opening-side end face so as to seal the opening surrounded by the side wall 16. 19, the surface sealed to the opening end surface of the side wall 16 of the cap 19 and the side surface of the sealed surface are metallized. The base 15 may be made of a material other than metal. That is, any material can be used as long as the semiconductor element can be die-bonded and has good heat dissipation. For example, a ceramic plate having a surface plated with Au can be used.
【0014】図2はこの発明の第1の実施の形態の気密
封止パッケージの組立状態の断面図であり、図9の気密
封止パッケージのA−A’断面と同じ位置の断面を示
す。図2に示すように、ベース部15の側壁16とキャ
ップ19が封着密閉されている。この場合、側壁16の
封着面である開口側端面およびキャップ19の封着面は
平坦加工面である。そして、ベース部15の側壁16の
封着面とキャップ19の封着面および側面にメタライズ
されており、AuSn箔などの融着材20により側壁1
6とキャップ19の互いを封着密閉されている。FIG. 2 is a sectional view showing an assembled state of the hermetically sealed package according to the first embodiment of the present invention, and shows a section at the same position as the AA 'section of the hermetically sealed package of FIG. As shown in FIG. 2, the side wall 16 of the base portion 15 and the cap 19 are hermetically sealed. In this case, the opening-side end face which is the sealing face of the side wall 16 and the sealing face of the cap 19 are flat processed faces. The sealing surface of the side wall 16 of the base portion 15 and the sealing surface and the side surface of the cap 19 are metallized, and the side wall 1 is fused by a fusion material 20 such as AuSn foil.
6 and the cap 19 are sealed and sealed.
【0015】この実施の形態の気密封止パッケージは、
封着面のみでなく封着面の側面までがメタライズされて
おり、AuSn箔などの融着材が互いの封着面だけでな
く側面まで表面張力により回りこみ封着面積をより多く
確保し、融着材の気泡や亀裂を補い、高い気密性を確保
している。The hermetically sealed package of this embodiment is
Not only the sealing surface but also the side surface of the sealing surface is metallized, and the fusion material such as AuSn foil wraps around not only the mutual sealing surface but also the side surface by the surface tension to secure a larger sealing area, Supplies air bubbles and cracks in the fusion material to ensure high airtightness.
【0016】この発明の第2の実施の形態を図3に基づ
いて説明する。図3はこの発明の第2の実施の形態の気
密封止パッケージの断面図であり、図9の気密封止パッ
ケージのA−A’断面と同じ位置の断面を示す。図3に
示すように、ベース部の側壁24とキャップ25が封着
密閉されている。わかりやすいように、ベース部の側壁
24とキャップ25との間を離し図示した。この実施の
形態では、ベース部の側壁24の封着面である開口側端
面およびキャップ25の封着面を凹凸加工面としてい
る。この場合、側壁24の開口側端面に凹部26aが形
成され、この凹部26aに嵌合する凸部26bがキャッ
プ25に形成されている。さらに、第1の実施の形態と
同様に、ベース部の側壁24の封着面とキャップ25の
封着面および側面がメタライズされており、AuSn箔
などの融着材27が互いの封着面だけでなく側面まで表
面張力により回りこみ、気密性を確保している。A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view of the hermetically sealed package according to the second embodiment of the present invention, showing a cross section at the same position as the AA ′ cross section of the hermetically sealed package of FIG. As shown in FIG. 3, the side wall 24 of the base portion and the cap 25 are hermetically sealed. For easy understanding, the space between the side wall 24 of the base portion and the cap 25 is illustrated as being separated. In this embodiment, the opening-side end surface, which is the sealing surface of the side wall 24 of the base portion, and the sealing surface of the cap 25 are formed as a textured surface. In this case, a concave portion 26a is formed on the opening-side end surface of the side wall 24, and a convex portion 26b that fits into the concave portion 26a is formed on the cap 25. Further, similarly to the first embodiment, the sealing surface of the side wall 24 of the base portion, the sealing surface and the side surface of the cap 25 are metallized, and the sealing material 27 such as AuSn foil seals each other. Not only that, it also wraps around to the side due to surface tension, ensuring airtightness.
【0017】この実施の形態によれば、ベース部の側壁
24およびキャップ25の封着面を凹凸加工しているの
で、側壁24とキャップ25の互いの封着時の位置精度
を確保しつつより多くの封着面積を確保し高い気密性を
実現する。According to this embodiment, since the sealing surfaces of the side wall 24 of the base portion and the cap 25 are made uneven, the positional accuracy of the side wall 24 and the cap 25 at the time of sealing each other is ensured. A large sealing area is secured to achieve high airtightness.
【0018】この発明の第3の実施の形態を図4に基づ
いて説明する。図4はこの発明の第3の実施の形態の気
密封止パッケージの断面図であり、図9の気密封止パッ
ケージのA−A’断面と同じ位置の断面を示す。図4に
示すように、ベース部の側壁36とキャップ37が封着
密閉されている。わかりやすいように、ベース部の側壁
36とキャップ37との間を離し図示した。この実施の
形態では、ベース部の側壁36の封着面である開口側端
面およびキャップ37の封着面を凹凸加工面としてい
る。この場合、側壁36の開口側端面の内周側を凹設し
た段部38aが形成され、この段部38aに嵌合する段
部38bがキャップ37に形成されている。さらに、第
1の実施の形態と同様に、ベース部の側壁36の封着面
とキャップ37の封着面および側面がメタライズされて
おり、AuSn箔などの融着材39が互いの封着面だけ
でなく側面まで表面張力により回りこみ、気密性を確保
している。A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view of the hermetically sealed package according to the third embodiment of the present invention, and shows a cross section at the same position as the AA ′ cross section of the hermetically sealed package of FIG. As shown in FIG. 4, the side wall 36 of the base portion and the cap 37 are hermetically sealed. For clarity, the space between the side wall 36 of the base portion and the cap 37 is shown separately. In this embodiment, the opening-side end surface, which is the sealing surface of the side wall 36 of the base portion, and the sealing surface of the cap 37 are formed as a textured surface. In this case, a step 38a is formed in which the inner peripheral side of the opening-side end face of the side wall 36 is recessed, and a step 38b fitted to the step 38a is formed in the cap 37. Further, similarly to the first embodiment, the sealing surface of the side wall 36 of the base portion and the sealing surface and the side surface of the cap 37 are metallized, and the sealing material 39 such as AuSn foil is sealed to each other. Not only that, it also wraps around to the side due to surface tension, ensuring airtightness.
【0019】また、図5に示すように、側壁40の開口
側端面の外周側を凹設した段部42aが形成され、この
段部42aに嵌合する段部42bがキャップ41に形成
されてもよい。この場合も、ベース部の側壁40の封着
面とキャップ41の封着面および側面がメタライズされ
ており、AuSn箔などの融着材43が互いの封着面だ
けでなく側面まで表面張力により回りこみ、気密性を確
保している。As shown in FIG. 5, a step portion 42a is formed by recessing the outer peripheral side of the opening end surface of the side wall 40, and a step portion 42b fitted to the step portion 42a is formed in the cap 41. Is also good. Also in this case, the sealing surface of the side wall 40 of the base portion and the sealing surface and side surface of the cap 41 are metallized, and the fusion material 43 such as AuSn foil is not only bonded to each other but also to the side surface by surface tension. It keeps round and airtight.
【0020】この実施の形態によれば、ベース部の側壁
36,40およびキャップ37,41の封着面を凹凸加
工しているので、側壁36,40とキャップ37,41
の互いの封着時の位置精度を確保しつつより多くの封着
面積を確保し高い気密性を実現する。According to this embodiment, since the sealing surfaces of the side walls 36 and 40 of the base portion and the caps 37 and 41 are made uneven, the side walls 36 and 40 and the caps 37 and 41 are formed.
To secure a larger sealing area while ensuring the positional accuracy at the time of sealing with each other, and realize high airtightness.
【0021】この発明の第4の実施の形態を図6に基づ
いて説明する。図6はこの発明の第4の実施の形態の気
密封止パッケージの断面図であり、図9の気密封止パッ
ケージのA−A’断面と同じ位置の断面を示す。図6に
示すように、ベース部の側壁28とキャップ29が封着
密閉されている。わかりやすいように、ベース部の側壁
28とキャップ29との間を離し図示した。この実施の
形態では、ベース部の側壁28の封着面である開口側端
面を平坦加工面とし、キャップ29の封着面を凹凸加工
面としている。この場合、側壁28の開口側端面の内周
部に嵌合する凹部30がキャップ29に形成されてい
る。さらに、第1の実施の形態と同様に、ベース部の側
壁28の封着面とキャップ29の封着面および側面がメ
タライズされており、AuSn箔などの融着材31が互
いの封着面だけでなく側面まで表面張力により回りこ
み、気密性を確保している。A fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a cross-sectional view of the hermetically sealed package according to the fourth embodiment of the present invention, and shows a cross section at the same position as the AA 'cross section of the hermetically sealed package of FIG. As shown in FIG. 6, the side wall 28 of the base portion and the cap 29 are hermetically sealed. For easy understanding, the space between the side wall 28 of the base portion and the cap 29 is shown as being separated. In this embodiment, the opening-side end surface, which is the sealing surface of the side wall 28 of the base portion, is a flat processing surface, and the sealing surface of the cap 29 is an uneven processing surface. In this case, a recess 30 is formed in the cap 29 so as to fit into the inner peripheral portion of the opening-side end face of the side wall 28. Further, similarly to the first embodiment, the sealing surface of the side wall 28 of the base portion, the sealing surface and the side surface of the cap 29 are metallized, and the sealing material 31 such as AuSn foil seals each other. Not only that, it also wraps around to the side due to surface tension, ensuring airtightness.
【0022】この実施の形態によれば、キャップ29の
封着面を凹凸加工しているので、側壁28とキャップ2
9の互いの封着時の位置精度を確保しつつより多くの封
着面積を確保し高い気密性を実現する。According to this embodiment, since the sealing surface of the cap 29 is made uneven, the side wall 28 and the cap 2
9 to secure a larger sealing area while ensuring the positional accuracy when sealing each other, thereby realizing high airtightness.
【0023】この発明の第5の実施の形態を図7に基づ
いて説明する。図7はこの発明の第5の実施の形態の気
密封止パッケージの断面図であり、図9の気密封止パッ
ケージのA−A’断面と同じ位置の断面を示す。図7に
示すように、ベース部の側壁32とキャップ33が封着
密閉されている。わかりやすいように、ベース部の側壁
32とキャップ33との間を離し図示した。この実施の
形態では、ベース部の側壁32の封着面である開口側端
面を凹凸加工面とし、キャップ33の封着面を平坦加工
面としている。この場合、キャップ33の周縁部が嵌合
する凹部34が側壁32の開口側端面に形成されてい
る。さらに、第1の実施の形態と同様に、ベース部の側
壁32の封着面とキャップ33の封着面および側面がメ
タライズされており、AuSn箔などの融着材35が互
いの封着面だけでなく側面まで表面張力により回りこ
み、気密性を確保している。A fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a cross-sectional view of a hermetically sealed package according to a fifth embodiment of the present invention, and shows a cross section at the same position as the AA 'cross section of the hermetically sealed package of FIG. As shown in FIG. 7, the side wall 32 of the base portion and the cap 33 are hermetically sealed. In order to make it easy to understand, the space between the side wall 32 of the base portion and the cap 33 is shown as being separated. In this embodiment, the opening-side end surface, which is the sealing surface of the side wall 32 of the base portion, is an uneven surface, and the sealing surface of the cap 33 is a flat processed surface. In this case, a concave portion 34 into which the peripheral portion of the cap 33 fits is formed on the opening-side end surface of the side wall 32. Further, similarly to the first embodiment, the sealing surface of the side wall 32 of the base portion, the sealing surface and the side surface of the cap 33 are metallized, and the sealing material 35 such as AuSn foil seals each other. Not only that, it also wraps around to the side due to surface tension, ensuring airtightness.
【0024】この実施の形態によれば、側壁32の封着
面を凹凸加工しているので、側壁32とキャップ33の
互いの封着時の位置精度を確保しつつより多くの封着面
積を確保し高い気密性を実現する。According to this embodiment, since the sealing surface of the side wall 32 is made uneven, a larger sealing area can be obtained while ensuring the positional accuracy of the side wall 32 and the cap 33 at the time of sealing each other. Secure high airtightness.
【0025】すなわち、本発明の実施の形態の構成を用
いることで、衛星通信装置や携帯電話基地局などに用い
られる半導体装置において、高信頼性を実現することが
できる。That is, by using the configuration of the embodiment of the present invention, high reliability can be realized in a semiconductor device used for a satellite communication device, a mobile phone base station, or the like.
【0026】尚、側壁およびキャップの材質として、セ
ラミックの表面にAuめっきを施したものが一例として
挙げられる。また、ベース部の側壁およびキャップその
ものが、AuSnなどの融着材と接着性の良いメタル自
体で形成されていても本発明の実施の形態同様の気密性
を確保し高信頼性を実現できることは言うまでもない。
また、側壁とキャップは封着密閉により電気的に接続さ
れ、かつ、ベース部とも電気的に接続されていてもよ
い。As a material of the side wall and the cap, a material in which a surface of a ceramic is plated with Au can be cited as an example. Further, even if the side wall of the base portion and the cap itself are formed of a metal itself having a good adhesive property with a fusion bonding material such as AuSn, it is possible to secure the same airtightness as in the embodiment of the present invention and realize high reliability. Needless to say.
Further, the side wall and the cap may be electrically connected by sealing and sealing, and may also be electrically connected to the base portion.
【0027】[0027]
【発明の効果】この発明の請求項1記載の気密封止パッ
ケージによれば、キャップの側壁の開口側端面に封着さ
れる面およびこの封着される面の側面がメタライズされ
ているので、メタライズに用いる融着材がベース部の側
壁とキャップの互いの封着面だけでなく、キャップの側
面まで表面張力により回り込み封着面積を確保すること
ができる。According to the hermetically sealed package according to the first aspect of the present invention, the surface to be sealed to the opening-side end surface of the side wall of the cap and the side surface of the surface to be sealed are metallized. The fusion material used for metallization can be secured not only to the sealing surface of the side wall of the base portion and the sealing surface of the cap but also to the side surface of the cap by surface tension to secure a sealing area.
【0028】このため、衛星通信装置や携帯電話基地局
などに用いられ、高い信頼性が求められる半導体装置の
気密封止パッケージにおいて、従来の構成では不十分で
あった気密性を確保することができ高信頼性を実現する
ことができる。For this reason, in a hermetically sealed package of a semiconductor device which is used for a satellite communication device or a cellular phone base station and requires high reliability, it is possible to secure the hermeticity which was insufficient with the conventional structure. And high reliability can be realized.
【0029】請求項2では、側壁の開口側端面は、平坦
加工面であるので、側壁の開口側端面において側壁とキ
ャップの互いの封着面は平坦であるが、キャップの側面
がメタライズされていることで気密性が向上する。According to the second aspect, since the end face on the opening side of the side wall is a flat processing surface, the sealing face between the side wall and the cap is flat at the end face on the opening side of the side wall, but the side face of the cap is metallized. Airtightness is improved.
【0030】請求項3では、側壁の開口側端面は、凹凸
加工面であるので、側壁とキャップの互いの封着時の位
置精度および封着面積を確保することができ、高気密性
を実現する。According to the third aspect, since the end face on the opening side of the side wall is a textured surface, the positional accuracy and the sealing area of the side wall and the cap at the time of sealing each other can be secured, and high airtightness is realized. I do.
【0031】請求項4では、キャップの封着面は、平坦
加工面であるので、キャップの封着面において側壁とキ
ャップの互いの封着面は平坦であるが、キャップの側面
がメタライズされていることで気密性が向上する。According to the fourth aspect, since the sealing surface of the cap is a flat processed surface, the sealing surfaces of the side wall and the cap are flat at the sealing surface of the cap, but the side surfaces of the cap are metalized. Airtightness is improved.
【0032】請求項5では、キャップの封着面は、凹凸
加工面であるので、側壁とキャップの互いの封着時の位
置精度および封着面積を確保することができ、高気密性
を実現する。According to the fifth aspect, since the sealing surface of the cap is an uneven surface, the positional accuracy and the sealing area of the side wall and the cap at the time of sealing each other can be secured, and high airtightness is realized. I do.
【0033】請求項6では、側壁とキャップは封着密閉
により電気的に接続され、かつ、ベース部とも電気的に
接続されているので、ベース部を接地することで半導体
装置全体が電気的にシールドされ、外来電磁波の影響を
受けることがない。According to the sixth aspect, the side wall and the cap are electrically connected to each other by sealing and sealing, and are also electrically connected to the base. Therefore, by grounding the base, the entire semiconductor device is electrically connected. Shielded and not affected by extraneous electromagnetic waves.
【図1】この発明の第1の実施の形態の気密封止パッケ
ージの構成を示す分解斜視図である。FIG. 1 is an exploded perspective view showing a configuration of a hermetically sealed package according to a first embodiment of the present invention.
【図2】この発明の第1の実施の形態の気密封止パッケ
ージの組立状態の断面図である。FIG. 2 is a sectional view showing an assembled state of the hermetically sealed package according to the first embodiment of the present invention.
【図3】この発明の第2の実施の形態の気密封止パッケ
ージの断面図である。FIG. 3 is a sectional view of a hermetically sealed package according to a second embodiment of the present invention.
【図4】この発明の第3の実施の形態の気密封止パッケ
ージの断面図である。FIG. 4 is a sectional view of a hermetically sealed package according to a third embodiment of the present invention.
【図5】この発明の第3の実施の形態の気密封止パッケ
ージの別の例を示す断面図である。FIG. 5 is a sectional view showing another example of the hermetically sealed package according to the third embodiment of the present invention.
【図6】この発明の第4の実施の形態の気密封止パッケ
ージの断面図である。FIG. 6 is a sectional view of a hermetically sealed package according to a fourth embodiment of the present invention.
【図7】この発明の第5の実施の形態の気密封止パッケ
ージの断面図である。FIG. 7 is a sectional view of a hermetically sealed package according to a fifth embodiment of the present invention.
【図8】従来の気密封止パッケージの構成を示す分解斜
視図である。FIG. 8 is an exploded perspective view showing a configuration of a conventional hermetically sealed package.
【図9】図8の組立状態の斜視図である。FIG. 9 is a perspective view of the assembled state of FIG. 8;
【図10】図9のA−A’断面図である。FIG. 10 is a sectional view taken along line A-A ′ of FIG. 9;
【符号の説明】 1,13 半導体素子 2,14 セラミック基板 3,15 気密封止パッケージのベース部 4,16,24,28,32,36,40 ベース部
の側壁 5,17 入力端子 6,18 出力端子 7,19,25,29,33,37,41 キャップ 12,20,27,31,35,39,43 融着材 26a,26b,30,34,38a,38b,42
a,42b 凹凸加工DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,13 Semiconductor element 2,14 Ceramic substrate 3,15 Base part of hermetic sealing package 4,16,24,28,32,36,40 Side wall of base part 5,17 Input terminal 6,18 Output terminal 7, 19, 25, 29, 33, 37, 41 Cap 12, 20, 27, 31, 35, 39, 43 Fusing material 26a, 26b, 30, 34, 38a, 38b, 42
a, 42b Uneven processing
Claims (6)
記ベース部の周囲に形成された側壁と、前記側壁で囲ま
れた開口を密閉するように開口側端面に封着されるキャ
ップとを備え、前記キャップの前記側壁の開口側端面に
封着される面およびこの封着される面の側面がメタライ
ズされていることを特徴とする気密封止パッケージ。1. A base portion on which a semiconductor element is mounted, a side wall formed around the base portion, and a cap sealed to an opening-side end surface to seal an opening surrounded by the side wall. A hermetically sealed package, characterized in that a surface sealed to the opening-side end surface of the side wall of the cap and a side surface of the sealed surface are metallized.
請求項1記載の気密封止パッケージ。2. The hermetically sealed package according to claim 1, wherein the opening-side end surface of the side wall is a flat processed surface.
請求項1記載の気密封止パッケージ。3. The hermetically sealed package according to claim 1, wherein the opening-side end surface of the side wall is an uneven surface.
請求項1記載の気密封止パッケージ。4. The hermetically sealed package according to claim 1, wherein the sealing surface of the cap is a flat processed surface.
請求項1記載の気密封止パッケージ。5. The hermetically sealed package according to claim 1, wherein the sealing surface of the cap is a textured surface.
に接続され、かつ、ベース部とも電気的に接続されてい
る請求項1,2,3,4または5記載の気密封止パッケ
ージ。6. The hermetically sealed package according to claim 1, wherein the side wall and the cap are electrically connected by sealing and hermetically sealed, and are also electrically connected to the base portion.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001043740A JP2002246492A (en) | 2001-02-20 | 2001-02-20 | Hermetically sealed package |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2001043740A JP2002246492A (en) | 2001-02-20 | 2001-02-20 | Hermetically sealed package |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family
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JP2001043740A Pending JP2002246492A (en) | 2001-02-20 | 2001-02-20 | Hermetically sealed package |
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JP (1) | JP2002246492A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100943370B1 (en) * | 2007-03-06 | 2010-02-18 | 히타치 긴조쿠 가부시키가이샤 | Functional device package |
US7851903B2 (en) | 2007-06-04 | 2010-12-14 | Showa Optronics Co., Ltd. | Infrared detector with plurality of metallization between first and second container members |
-
2001
- 2001-02-20 JP JP2001043740A patent/JP2002246492A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100943370B1 (en) * | 2007-03-06 | 2010-02-18 | 히타치 긴조쿠 가부시키가이샤 | Functional device package |
US7939938B2 (en) | 2007-03-06 | 2011-05-10 | Hitachi Metals, Inc. | Functional device package with metallization arrangement for improved bondability of two substrates |
US7851903B2 (en) | 2007-06-04 | 2010-12-14 | Showa Optronics Co., Ltd. | Infrared detector with plurality of metallization between first and second container members |
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