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JP2002116423A - Liquid crystal display device and its inspecting method - Google Patents

Liquid crystal display device and its inspecting method

Info

Publication number
JP2002116423A
JP2002116423A JP2000309395A JP2000309395A JP2002116423A JP 2002116423 A JP2002116423 A JP 2002116423A JP 2000309395 A JP2000309395 A JP 2000309395A JP 2000309395 A JP2000309395 A JP 2000309395A JP 2002116423 A JP2002116423 A JP 2002116423A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
crystal display
display device
bus line
common electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000309395A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Taniguchi
浩司 谷口
裕 ▲高▼藤
Yutaka Takato
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2000309395A priority Critical patent/JP2002116423A/en
Publication of JP2002116423A publication Critical patent/JP2002116423A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display device whose inspection can be performed easily although it has a digital source driver. SOLUTION: This device is provided with a pixel part 3 having a TFT(thin film transistor) 1 and a storage capacitor 2 a gate driver 5 turning on and off the pixel part 3 through a gate source line and a digital source driver 18 supplying a picture signal to the pixel part 3 through a source bus line 9. Moreover, in this inspecting method, an inspecting line 27 is connected to the source bus line 9 via an analog switch 25. The analog switch 25 is turned ON, OFF by a switch driving circuit 30. The current from the storage capacitor 2 to which the picture signal is supplied and on which charge is stored is drawn to the inspecting line 27 by turning the switch 25 ON with the switch driving circuit 30 to be measured with the current measuring device connected to the inspection terminal 28 of the line 27. Thus, the liquid crystal display device can be inspected easily and correctly not through the digital source driver 18.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、液晶表示装置、
特にアクティブマトリクス型液晶表示装置と、その検査
方法に関する。
The present invention relates to a liquid crystal display device,
In particular, the present invention relates to an active matrix type liquid crystal display device and an inspection method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、アクティブマトリクス型の液
晶表示装置は、図7に示すように、TFT1とこのTF
T1に接続されて電荷を蓄積する保持容量2とを有する
画素部3をマトリックス状に配置すると共に、ゲートバ
スライン6とソースバスライン9を互いに直交するよう
に配置し、TFT1のゲートをゲートバスライン6に接
続し、TFT1のソースをソースバスライン9に接続し
ている。ゲートドライバ5は、ゲートバスライン6を介
してTFT1のゲート電極に走査信号を送って、TFT
1をオンオフ制御する一方、ソースドライバ8は、ソー
スバスライン9に設けたアナログスイッチ10をオンオ
フ制御して、ビデオ入力端子12から入力された画像信
号を制御する。一方、上記保持容量2の、TFT1に接
続されていない側の端子は、ゲートバスライン6と平
行、つまり、ソースバスライン9に直交する方向の共通
電極配線15に接続されて、この共通電極配線15は、
1つの端子16に接続されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an active matrix type liquid crystal display device has a TFT 1 and a TFT 1 as shown in FIG.
A pixel section 3 having a storage capacitor 2 for storing charges connected to T1 is arranged in a matrix, a gate bus line 6 and a source bus line 9 are arranged to be orthogonal to each other, and the gate of the TFT 1 is connected to a gate bus. The source of the TFT 1 is connected to the source bus line 9. The gate driver 5 sends a scanning signal to the gate electrode of the TFT 1 via the gate bus line 6 to
On the other hand, the source driver 8 controls on / off of the analog switch 10 provided on the source bus line 9 to control the image signal input from the video input terminal 12. On the other hand, the terminal of the storage capacitor 2 not connected to the TFT 1 is connected to a common electrode wiring 15 in a direction parallel to the gate bus line 6, that is, in a direction orthogonal to the source bus line 9. 15 is
It is connected to one terminal 16.

【0003】上記アクティブマトリクス型の液晶表示装
置は、製造過程において、例えばTFT1や、ゲートバ
スライン6およびソースバスライン9の不良を検出する
ために、検査が必要である。液晶表示装置の製造途中に
おいて不良品を排除することは、製造コストの点から非
常に重要である。
In the active matrix type liquid crystal display device, an inspection is required in the manufacturing process to detect, for example, a defect in the TFT 1, the gate bus line 6, and the source bus line 9. Eliminating defective products during the production of a liquid crystal display device is very important in terms of production costs.

【0004】上記液晶表示装置は、以下のようにして検
査する。画像信号を画素部3に供給して保持容量2に電
荷を書き込んだ後、ビデオ入力端子12に図示しない電
流測定装置を接続する。その後、上記ソースドライバ8
およびゲートドライバ5を作動して、保持容量2に書き
込まれた電荷を放電し、この放電による電流を、ビデオ
ライン13を介して上記電流測定装置によって測定す
る。この測定された電流に基づいて、例えばTFT1の
スイッチング動作の不良や、保持容量2の不良、あるい
はゲートバスライン6およびソースバスライン9の不良
を検出する。
The above liquid crystal display device is inspected as follows. After an image signal is supplied to the pixel unit 3 to charge the storage capacitor 2, a current measuring device (not shown) is connected to the video input terminal 12. Then, the source driver 8
Then, the gate driver 5 is operated to discharge the electric charge written in the storage capacitor 2, and a current caused by the discharge is measured by the current measuring device via the video line 13. Based on the measured current, for example, a failure of the switching operation of the TFT 1, a failure of the storage capacitor 2, or a failure of the gate bus line 6 and the source bus line 9 are detected.

【0005】この液晶表示装置の検査方法は、上記ビデ
オライン13とソースバスライン9とが、上記アナログ
スイッチ10を介して双方向に信号を伝達できることを
利用している。すなわち、上記電流測定装置によって読
み出される信号は、ソースバスライン9を、画像信号が
画素部3に送られる場合と逆の方向に流れて、アナログ
スイッチ10を介してビデオライン13に流れる。
[0005] This method of testing a liquid crystal display device utilizes the fact that the video line 13 and the source bus line 9 can transmit signals bidirectionally via the analog switch 10. That is, the signal read by the current measuring device flows through the source bus line 9 in the opposite direction to the case where the image signal is sent to the pixel unit 3, and flows through the analog switch 10 to the video line 13.

【0006】また、上記保持容量2に書き込まれた電荷
が放電されて生じる電流を、上記共通電極配線15を介
して測定して読み出すという液晶表示装置の検査方法も
ある。すなわち、上記保持容量2に信号を書き込んだ
後、電流測定装置を端子16に接続し、その後、上記ソ
ースドライバ8およびゲートドライバ5を作動して、保
持容量2からの放電電流を、共通電極配線15を介して
上記電流測定装置によって読み出す。この検査方法によ
っても、上記TFT1、保持容量2、ソースバスライン
9およびゲートバスライン6の不良が検出される。
There is also an inspection method for a liquid crystal display device in which a current generated by discharging the electric charge written in the storage capacitor 2 is measured through the common electrode wiring 15 and read out. That is, after writing a signal to the storage capacitor 2, the current measuring device is connected to the terminal 16, and then the source driver 8 and the gate driver 5 are operated to discharge the discharge current from the storage capacitor 2 to the common electrode wiring. The data is read out by the current measuring device via 15. Even with this inspection method, defects of the TFT 1, the storage capacitor 2, the source bus line 9, and the gate bus line 6 are detected.

【0007】ところで、最近、同一の基板上に、ドライ
バを外付けするのではなく、TFTや保持容量からなる
画素部と共に、ゲートドライバ5やソースドライバ8等
の駆動回路を形成したいわゆるモノリシックパネル型の
液晶表示装置が利用されつつある。このモノリシックパ
ネル型の液晶表示装置は、電子の移動度等の電気的性能
が良いポリSiを用いて、駆動回路としてのゲートドラ
イバや、デジタルの画像信号が入力されるデジタルソー
スドライバを、上記画素部のTFTや保持容量と共に同
一基板上に形成している。このモノリシックパネル型の
液晶表示装置は、高精細化、小型化が容易であるため、
利用されつつある。
In recent years, a so-called monolithic panel type in which a driver circuit such as a gate driver 5 and a source driver 8 is formed together with a pixel portion including a TFT and a storage capacitor, instead of mounting a driver externally on the same substrate. Liquid crystal display devices are being used. This monolithic panel-type liquid crystal display device uses poly-Si having good electric performance such as electron mobility, and uses a gate driver as a driving circuit and a digital source driver to which a digital image signal is input, as described above. It is formed on the same substrate together with the TFT and the storage capacitor of the portion. This monolithic panel type liquid crystal display device is easy to achieve high definition and small size,
It is being used.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の液晶表示装置の検査方法は、上記モノリシックパネ
ル型の液晶表示装置には適用できない場合がある。すな
わち、図8に示すように、デジタルソースドライバ18
を有する液晶表示装置は、画像信号はデジタルビデオ入
力端子22から入力されて、デジタルビデオライン23
を介してラッチ回路とDAC(デジタル・アナログ変換
回路)を経てソースバスライン9に送られる。このラッ
チ回路およびDACは逆方向電流を流さないので、画素
部3の保持容量2が放出する電荷による電流を、デジタ
ルビデオライン23を介してデジタルビデオ入力端子2
2から読み出せない。したがって、保持容量2からの放
電電流を、ビデオ入力端子に接続した電流測定装置によ
って測定するという従来の液晶表示装置の検査方法は、
デジタルソースドライバ18を有する液晶表示装置には
適用できない。
However, in some cases, the above-described conventional method for inspecting a liquid crystal display device cannot be applied to the above-described monolithic panel type liquid crystal display device. That is, as shown in FIG.
The image signal is input from the digital video input terminal 22 and the digital video line 23
Through a latch circuit and a DAC (digital-to-analog conversion circuit). Since the latch circuit and the DAC do not flow a reverse current, the current due to the charge released by the storage capacitor 2 of the pixel unit 3 is transferred to the digital video input terminal 2 via the digital video line 23.
2 cannot be read. Therefore, the conventional inspection method for a liquid crystal display device, in which the discharge current from the storage capacitor 2 is measured by a current measuring device connected to the video input terminal,
It cannot be applied to a liquid crystal display device having the digital source driver 18.

【0009】また、デジタルソースドライバを有する液
晶表示装置、あるいはアナログソースドライバを有する
液晶表示装置に共通に利用できる共通電極配線15を介
して、保持容量2への電流を測定する液晶表示装置の検
査方法は、保持容量2への電流を正確に計測できないと
いう問題がある。すなわち、上記共通電極配線15は、
上記ソースバスライン9に略直交して配線されているの
で、比較的強い電流である画像信号が流れる上記ソース
バスライン9との直交部分24において、浮遊容量が生
じる。この浮遊容量の容量値は、数pF(ピコファラデ
ー)から数十pFであり、0.1pF程度の容量値の保
持容量と比較して、非常に大きい。したがって、上記浮
遊容量による電流によって、保持容量2への電流が埋も
れてしまうので、共通電極配線15を介して保持容量2
への電流を正確に測定できない。その結果、液晶表示装
置を正しく検査できないという問題がある。
Inspection of the liquid crystal display device for measuring a current to the storage capacitor 2 via a common electrode wiring 15 which can be used commonly for a liquid crystal display device having a digital source driver or a liquid crystal display device having an analog source driver. The method has a problem that the current to the storage capacitor 2 cannot be measured accurately. That is, the common electrode wiring 15 is
Since the wiring is arranged substantially orthogonal to the source bus line 9, a stray capacitance is generated in a portion 24 orthogonal to the source bus line 9 where an image signal which is a relatively strong current flows. The capacitance value of the stray capacitance is several pF (picofaraday) to several tens pF, which is much larger than a storage capacitance having a capacitance value of about 0.1 pF. Therefore, the current to the storage capacitor 2 is buried by the current due to the stray capacitance.
Current cannot be measured accurately. As a result, there is a problem that the liquid crystal display device cannot be inspected correctly.

【0010】そこで、この発明の目的は、デジタルソー
スドライバを有するモノリシックパネル型の液晶表示装
置であるにも拘らず、容易に検査が可能な液晶表示装置
と、その液晶表示装置の検査方法を提供することにあ
る。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device which can be easily inspected in spite of a monolithic panel type liquid crystal display device having a digital source driver, and a method of inspecting the liquid crystal display device. Is to do.

【0011】また、共通電極配線を介して正確な結果が
得られる液晶表示装置の検査方法を提供することにあ
る。
It is another object of the present invention to provide a method of inspecting a liquid crystal display device which can obtain an accurate result through a common electrode wiring.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の液晶表示装置は、TFTと保持容量を含む
画素部と、デジタル信号が入力されるデジタルソースド
ライバと、ゲートドライバとが同一の基板上に形成され
たモノリシックパネル型の液晶表示装置において、上記
デジタルソースドライバと画素部とを接続する各ソース
バスラインを、検査用回路に接続するアナログスイッチ
と、上記アナログスイッチを順次制御するスイッチ制御
回路とを有する。
In order to achieve the above object, in a liquid crystal display device according to the present invention, a pixel portion including a TFT and a storage capacitor, a digital source driver to which a digital signal is input, and a gate driver are the same. In the liquid crystal display device of the monolithic panel type formed on the substrate of (1), each source bus line connecting the digital source driver and the pixel unit is connected to an inspection circuit, and the analog switch is sequentially controlled. A switch control circuit.

【0013】本発明によれば、上記デジタルソースドラ
イバとは別個に、ソースバスラインに、アナログスイッ
チと、このアナログスイッチを制御するスイッチ制御回
路を設ける。このスイッチ制御回路によって上記アナロ
グスイッチを順次駆動して、画素部の保持容量に蓄積さ
れた電荷を放電する。この放電による電流が、アナログ
スイッチを介して検査回路に導かれて、この検査回路に
接続した例えば電流測定装置によって計測される。した
がって、上記液晶表示装置は、画素部の表示動作の際と
逆方向の電流を流さない上記デジタルソースドライバを
有するモノリシックパネル型の液晶表示装置であるにも
拘らず、従来と同様に電流測定装置を用いて液晶表示装
置の検査が実施される。
According to the present invention, an analog switch and a switch control circuit for controlling the analog switch are provided on the source bus line separately from the digital source driver. The analog switches are sequentially driven by this switch control circuit to discharge the electric charges stored in the storage capacitors of the pixel units. The current due to the discharge is guided to the test circuit via the analog switch, and is measured by, for example, a current measuring device connected to the test circuit. Therefore, although the liquid crystal display device is a monolithic panel type liquid crystal display device having the digital source driver that does not flow a current in a direction opposite to the direction of the display operation of the pixel portion, a current measuring device is used as in the related art. The inspection of the liquid crystal display device is performed by using.

【0014】1実施形態の液晶表示装置は、上記スイッ
チ制御回路は、シフトレジスタと、NAND回路を有す
る。
In one embodiment of the invention, the switch control circuit has a shift register and a NAND circuit.

【0015】上記実施形態によれば、上記スイッチ制御
回路によって、上記アナログスイッチを順次駆動するこ
とによって、予め電荷が保持された画素部の保持容量を
放電し、この放電による電流が検査回路に導かれる。こ
の検査回路に導かれた電流を、従来の電流測定装置を用
いて測定して、液晶表示装置が検査される。
According to the above embodiment, the switch control circuit sequentially drives the analog switches to discharge the storage capacity of the pixel portion in which the charges are stored in advance, and the current resulting from the discharge is conducted to the inspection circuit. I will The current guided to this inspection circuit is measured using a conventional current measuring device, and the liquid crystal display device is inspected.

【0016】1実施形態の液晶表示装置を検査する液晶
表示装置の検査方法は、上記アナログスイッチに接続し
た検査回路によって、上記保持容量に蓄えられている電
荷を計測する。
In one embodiment of the present invention, a test circuit for testing a liquid crystal display device measures an electric charge stored in the storage capacitor by a test circuit connected to the analog switch.

【0017】上記実施形態によれば、予め電荷が蓄えら
れた上記保持容量からの電流を、上記ソースバスライン
とアナログスイッチを介して計測する。すなわち、従来
のビデオラインに電流測定装置を接続する代わりに、上
記検査回路としての例えば検査ラインに電流測定装置を
接続する。そして、この電流測定装置によって測定され
た電流に基づいて、例えばTFTのスイッチング動作の
不良や、保持容量の不良、あるいはソースバスラインお
よびゲートバスラインの不良を検知する。
According to the above embodiment, the current from the storage capacitor in which electric charges are stored in advance is measured via the source bus line and the analog switch. That is, instead of connecting a current measuring device to a conventional video line, a current measuring device is connected to, for example, a test line as the test circuit. Then, based on the current measured by the current measuring device, for example, a failure of the switching operation of the TFT, a failure of the storage capacitor, or a failure of the source bus line and the gate bus line are detected.

【0018】本発明の液晶表示装置は、TFTと保持容
量を含む画素部と、上記画素部を駆動するゲートドライ
バおよびソースドライバと、上記ゲートドライバと画素
部とを接続するゲートバスラインと、上記ソースドライ
バと画素部とを接続するソースバスラインと、上記保持
容量のTFTに接続されていない側の端子に接続された
共通電極配線とを備える液晶表示装置において、上記共
通電極配線は、上記ソースバスラインと交差し難い方向
に配置している。
According to the liquid crystal display device of the present invention, a pixel portion including a TFT and a storage capacitor, a gate driver and a source driver for driving the pixel portion, a gate bus line connecting the gate driver and the pixel portion, In a liquid crystal display device including a source bus line connecting a source driver and a pixel portion, and a common electrode line connected to a terminal of the storage capacitor that is not connected to the TFT, the common electrode line includes the source bus line. It is located in a direction that does not easily cross the bus line.

【0019】本発明によれば、上記共通電極配線は、上
記ソースバスラインと交差し難い方向に配置されている
ので、上記共通電極配線とソースバスラインとの間に浮
遊容量が殆ど生じない。したがって、上記浮遊容量によ
る電流によって、保持容量からの電流が埋もれてしまう
ことが殆どないので、共通電極配線を介して保持容量か
らの電流が正確に測定される。その結果、液晶表示装置
が正確に検査される。
According to the present invention, since the common electrode wiring is arranged in a direction hardly intersecting with the source bus line, there is almost no floating capacitance between the common electrode wiring and the source bus line. Therefore, since the current from the storage capacitor is hardly buried by the current due to the floating capacitance, the current from the storage capacitor is accurately measured via the common electrode wiring. As a result, the liquid crystal display device is accurately inspected.

【0020】1実施形態の液晶表示装置は、上記共通電
極配線は櫛型に配置されていて、上記ソースバスライン
と略平行である。
In one embodiment, the common electrode wiring is arranged in a comb shape, and is substantially parallel to the source bus line.

【0021】上記実施形態によれば、上記共通電極配線
は櫛型に配置されていて、上記ソースバスラインとほぼ
平行であるから、上記共通電極配線とソースバスライン
は交差しない。したがって、上記共通電極配線に浮遊容
量が生じないから、上記保持容量からの電流が正確に測
定されて、液晶表示装置が正確に検査される。
According to the above embodiment, since the common electrode wiring is arranged in a comb shape and is substantially parallel to the source bus line, the common electrode wiring does not cross the source bus line. Therefore, since no stray capacitance is generated in the common electrode wiring, the current from the storage capacitor is accurately measured, and the liquid crystal display device is accurately inspected.

【0022】1実施形態の液晶表示装置は、上記共通電
極配線は複数のグループに分かれていて、上記複数のグ
ループは夫々1つの端子に接続されている。
In one embodiment, the common electrode wiring is divided into a plurality of groups, and each of the plurality of groups is connected to one terminal.

【0023】上記実施形態によれば、上記共通電極配線
は複数のグループに分かれていて、これらの複数のグル
ープは夫々1つの端子に接続されているので、これらの
端子に夫々電流測定装置を接続することによって、1度
に上記グループの数に対応する数の画素部からの電流が
計測される。その結果、液晶表示装置の検査時間が短縮
される。
According to the above embodiment, the common electrode wiring is divided into a plurality of groups, and each of the plurality of groups is connected to one terminal. Therefore, a current measuring device is connected to each of these terminals. By doing so, currents from the pixel units corresponding to the number of the groups are measured at a time. As a result, the inspection time of the liquid crystal display device is reduced.

【0024】1実施形態の液晶表示装置を検査する液晶
表示装置の検査方法は、上記共通電極配線を介して、上
記画素部からの電流を計測する。
In one embodiment of the present invention, a method for inspecting a liquid crystal display device measures a current from the pixel portion via the common electrode wiring.

【0025】上記実施形態によれば、ソースバスライン
との間に浮遊容量が殆ど生じない共通電極配線を介し
て、浮遊容量による電流に埋もれることなく、画素部の
保持容量からの電流が正確に測定される。その結果、液
晶表示装置の例えばTFTのスイッチング動作の不良
や、保持容量の不良、あるいはソースバスラインおよび
ゲートバスラインの不良が、正確に検知される。
According to the above-described embodiment, the current from the storage capacitor of the pixel portion can be accurately measured without being buried in the current due to the floating capacitance via the common electrode wiring where the floating capacitance hardly occurs between the source bus line. Measured. As a result, a defective switching operation of, for example, a TFT of the liquid crystal display device, a defective storage capacitor, or a defective source bus line and a gate bus line can be accurately detected.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、この発明を図示の実施の形
態により詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments.

【0027】図1は、本発明の第1実施形態としての液
晶表示装置を示す図である。この液晶表示装置の一部分
は、図8に示した液晶表示装置と同一の構成を有する。
図8に示した液晶表示装置と同一の部分には同一の参照
番号を付して、詳細な説明を省略する。
FIG. 1 is a diagram showing a liquid crystal display device as a first embodiment of the present invention. A part of this liquid crystal display has the same configuration as the liquid crystal display shown in FIG.
The same parts as those of the liquid crystal display device shown in FIG. 8 are denoted by the same reference numerals, and detailed description will be omitted.

【0028】本発明の液晶表示装置は、デジタルソース
ドライバ18から送られた画像信号を画素部3に伝達す
る複数のソースバスライン9に、夫々アナログスイッチ
25が設けられている。この複数のアナログスイッチ2
5を介して、上記複数のソースバスライン9に、検査回
路としての検査ライン27を接続している。この検査ラ
イン27のアナログスイッチ25を接続していない側の
端部に、検査端子28が設けられている。さらに、この
液晶表示装置は、上記複数のアナログスイッチ25を制
御するスイッチ制御回路30が設けられている。
In the liquid crystal display device of the present invention, an analog switch 25 is provided on each of the plurality of source bus lines 9 for transmitting the image signal sent from the digital source driver 18 to the pixel section 3. This plurality of analog switches 2
A test line 27 as a test circuit is connected to the plurality of source bus lines 9 via the reference numeral 5. An inspection terminal 28 is provided at an end of the inspection line 27 on the side where the analog switch 25 is not connected. Further, the liquid crystal display device is provided with a switch control circuit 30 for controlling the plurality of analog switches 25.

【0029】この液晶表示装置は、以下のように検査す
る。
This liquid crystal display is inspected as follows.

【0030】まず、アナログスイッチ25によってソー
スバスライン9と検査ライン27とを遮断した状態で、
ゲートドライバ5およびデジタルソースドライバ18に
よって、画素部3に画像信号を書き込む。すなわち、ゲ
ートドライバ5によってオンされた画素部3の保持容量
2に、デジタルソースドライバ18からソースバスライ
ン9を介して送られた画像信号によって電荷が蓄積され
る。
First, in a state where the source bus line 9 and the inspection line 27 are cut off by the analog switch 25,
An image signal is written to the pixel section 3 by the gate driver 5 and the digital source driver 18. That is, charges are accumulated in the storage capacitor 2 of the pixel unit 3 turned on by the gate driver 5 by an image signal sent from the digital source driver 18 via the source bus line 9.

【0031】その後、上記デジタルソースドライバ18
をソースバスライン9から遮断して、上記スイッチ制御
回路30によって上記アナログスイッチ25を順次オン
して、上記ソースバスライン9を検査ライン27に順次
接続する。そうすると、上記画素部3の保持容量2に蓄
積されていた電荷が放電されて、ソースバスライン9を
経て上記検査ライン27に電流が流れる。この電流を、
検査ライン27の検査端子28に接続された図示しない
電流測定装置によって測定する。この電流の測定結果に
基づいて、例えばTFT1のスイッチング動作の不良
や、保持容量2の不良、あるいはソースバスライン9お
よびゲートバスライン6の不良を検出する。したがっ
て、本実施形態の液晶表示装置は、デジタルソースドラ
イバ18を有するにもかかわらず、上記スイッチ制御回
路30によって駆動されるアナログスイッチ25を介し
た検査ライン27によって、上記画素部3からの電流を
測定することによって、従来と同様に容易に液晶表示装
置の検査が実施できる。
Thereafter, the digital source driver 18
Is disconnected from the source bus line 9, the analog switch 25 is sequentially turned on by the switch control circuit 30, and the source bus line 9 is sequentially connected to the inspection line 27. Then, the charges stored in the storage capacitor 2 of the pixel unit 3 are discharged, and a current flows to the inspection line 27 via the source bus line 9. This current
The measurement is performed by a current measuring device (not shown) connected to the inspection terminal 28 of the inspection line 27. Based on the measurement result of the current, for example, a failure of the switching operation of the TFT 1, a failure of the storage capacitor 2, or a failure of the source bus line 9 and the gate bus line 6 are detected. Therefore, despite the fact that the liquid crystal display device of the present embodiment has the digital source driver 18, the current from the pixel section 3 is transmitted by the inspection line 27 via the analog switch 25 driven by the switch control circuit 30. By performing the measurement, the inspection of the liquid crystal display device can be easily performed as in the related art.

【0032】なお、上記スイッチ制御回路30は、図2
(a)に示すように、シフトレジスタSR1,SR2・・・お
よびNAND回路33,33・・・を有する。上記シフ
トレジスタSR1,SR2・・・への信号と、イネーブル信号
ライン34への信号によって、アナログスイッチ25,
25・・・をオンオフする。より詳しくは、イネーブル
信号ライン34に、図2(b)および(c)に示す波形
の信号を入力することによって、シフトレジスタSR1,S
R2・・・への入力信号に対応して順次アナログスイッチ
25をオンする。一方、検査時以外は、図2(d)に示
す波形の信号をイネーブル信号ライン34に入力する、
あるいは、イネーブル信号ライン34をフロートにする
ことによって、アナログスイッチ25,25・・・を全
てオフする。また、検査が完了した後、イネーブル信号
ライン25,25・・・をグランドレベルにすること
で、アナログスイッチ25,25・・・を全てオフに保
持する。
Note that the switch control circuit 30 corresponds to FIG.
As shown in (a), the circuit includes shift registers SR1, SR2,... And NAND circuits 33, 33,. The signals to the shift registers SR1, SR2,...
25 are turned on and off. More specifically, by inputting signals having the waveforms shown in FIGS. 2B and 2C to the enable signal line 34, the shift registers SR1, S2
The analog switches 25 are sequentially turned on in response to the input signals to R2. On the other hand, except for the time of inspection, a signal having a waveform shown in FIG.
Alternatively, all the analog switches 25, 25... Are turned off by making the enable signal line 34 float. After the inspection is completed, the analog switches 25, 25,... Are all kept off by setting the enable signal lines 25, 25.

【0033】上記液晶表示装置の検査時において、上記
スイッチ制御回路30は、図7の従来の液晶表示装置の
検査時におけるソースドライバ8と同様の働きをする。
より詳しくは、従来において、ソースドライバ8がアナ
ログスイッチ10をオンオフ制御したのと同様に、上記
スイッチ制御回路30が上記アナログスイッチ25をオ
ンオフ駆動する。しかし、上記スイッチ制御回路30
と、従来のソースドライバ8とは、シフトレジスタの駆
動周波数が異なる。なぜならば、従来のソースドライバ
8は、画素部3の表示動作の際にフリッカーを防止する
ために、1秒に60フレームの書き込み動作をする必要
があったからである。そのため、ソースドライバ8のシ
フトレジスタは駆動周波数が高く、したがって、短時間
に書き込み電荷の充電および放電を可能にするために、
従来のソースドライバ8には比較的大容量のトランジス
タが設けられていた。一方、本発明におけるスイッチ制
御回路30は、画素部3からの電流を順次検査ライン2
7に送る際にアナログスイッチ25を制御するのみであ
って、画素部3の表示品質を考慮する必要はないから、
スイッチ制御回路30のトランジスタは小型のものでよ
く、また、配線抵抗を下げるために配線幅を広く形成す
る必要がない。したがって、上記アナログスイッチ25
およびスイッチ制御回路30は、液晶表示装置の基板上
に形成される領域が比較的小さくなる。この形成される
領域が比較的小さいアナログスイッチ25およびスイッ
チ制御回路30と、上記スイッチ制御回路入力端子31
と、検査ライン27および検査端子28は、液晶表示装
置の表示領域の外周部分における幅約1〜2mmのシー
ル領域に形成する。こうして、液晶表示装置の寸法を拡
大することなく、容易に検査が実施できる液晶表示装置
が得られる。
At the time of inspection of the liquid crystal display device, the switch control circuit 30 functions similarly to the source driver 8 at the time of inspection of the conventional liquid crystal display device of FIG.
More specifically, the switch control circuit 30 drives the analog switch 25 on and off in the same manner as the source driver 8 controls the analog switch 10 on and off in the related art. However, the switch control circuit 30
The driving frequency of the shift register differs from that of the conventional source driver 8. This is because the conventional source driver 8 needs to perform a write operation of 60 frames per second in order to prevent flicker during the display operation of the pixel unit 3. Therefore, the shift register of the source driver 8 has a high driving frequency. Therefore, in order to enable charging and discharging of the write charge in a short time,
The conventional source driver 8 is provided with a relatively large-capacity transistor. On the other hand, the switch control circuit 30 according to the present invention sequentially supplies the current from the pixel unit 3 to the inspection line 2.
7, only the analog switch 25 is controlled, and there is no need to consider the display quality of the pixel unit 3.
The transistor of the switch control circuit 30 may be small, and it is not necessary to form a wide wiring in order to reduce the wiring resistance. Therefore, the analog switch 25
In the switch control circuit 30, the area formed on the substrate of the liquid crystal display device is relatively small. The analog switch 25 and the switch control circuit 30 in which the formed area is relatively small, and the switch control circuit input terminal 31
And the inspection line 27 and the inspection terminal 28 are formed in a seal area having a width of about 1 to 2 mm in the outer peripheral portion of the display area of the liquid crystal display device. Thus, a liquid crystal display device that can be easily inspected without increasing the size of the liquid crystal display device is obtained.

【0034】上記実施形態において、複数のソースバス
ライン9,9・・・を検査ライン27に接続して、この
検査ライン27の検査端子28に接続された1つの電流
測定装置で複数の画素部3からの電流を順次測定した
が、複数のソースバスラインを複数の電流測定装置に直
接接続して、複数の画素部3からの電流を同時に測定し
てもよい。こうすることによって、液晶表示装置の検査
時間を短縮できる。
In the above embodiment, a plurality of source bus lines 9, 9,... Are connected to a test line 27, and a plurality of pixel sections are connected by one current measuring device connected to a test terminal 28 of the test line 27. Although the currents from the pixel units 3 are sequentially measured, the currents from the pixel units 3 may be simultaneously measured by connecting a plurality of source bus lines directly to a plurality of current measuring devices. By doing so, the inspection time of the liquid crystal display device can be reduced.

【0035】図3(a)は、本発明の第2実施形態とし
ての液晶表示装置を示す図であり、図1(a)に示した
液晶表示装置と同一の機能を有する部分には同一の参照
番号を付して詳細な説明を省く。
FIG. 3A is a view showing a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention. Parts having the same functions as those of the liquid crystal display device shown in FIG. The detailed description is omitted by attaching a reference number.

【0036】この液晶表示装置は、櫛型をなす共通電極
配線15が、画素部3が形成されてなる表示領域におい
て、ソースバスライン9に略平行に配置されている。
In this liquid crystal display device, a comb-shaped common electrode wiring 15 is arranged substantially parallel to the source bus line 9 in a display region where the pixel portion 3 is formed.

【0037】この液晶表示装置は、液晶表示装置の検査
時に、画素部3をゲートドライバ5及びデジタルソース
ドライバ18によって表示動作させて、その際に共通電
極配線15に流れる電流を測定する。この電流に基づい
て、液晶表示装置の不良を検知する。
In this liquid crystal display device, when inspecting the liquid crystal display device, the pixel section 3 is operated for display by the gate driver 5 and the digital source driver 18, and the current flowing through the common electrode wiring 15 at that time is measured. Based on this current, a defect of the liquid crystal display device is detected.

【0038】上記液晶表示装置の検査時において、ソー
スバスライン9には、デジタルソースドライバ18から
供給される比較的大きい電流が流れる。しかし、上記共
通電極配線15は、上記ソースバスライン9に略平行に
配置されていて、上記ソースバスライン9と交差してい
ない。したがって、従来の液晶表示装置におけるソース
バスラインと共通電極配線との交差位置で生じた浮遊容
量は、本実施形態の共通電極配線15では生じない。そ
の結果、液晶表示装置の検査時に、上記浮遊容量による
電流で、保持容量2からの電流が埋もれることがない。
すなわち、浮遊容量の影響を殆ど受けることなく、保持
容量2からの電流を正確に読み出すことができて、液晶
表示装置のTFT1、保持容量2、あるいはソースバス
ラインおよびゲートバスラインの不良を正確に検知でき
る。
During the inspection of the liquid crystal display device, a relatively large current supplied from the digital source driver 18 flows through the source bus line 9. However, the common electrode wiring 15 is arranged substantially parallel to the source bus line 9 and does not cross the source bus line 9. Therefore, the stray capacitance generated at the intersection of the source bus line and the common electrode line in the conventional liquid crystal display device does not occur in the common electrode line 15 of the present embodiment. As a result, at the time of inspection of the liquid crystal display device, the current from the storage capacitor 2 is not buried by the current due to the stray capacitance.
That is, the current from the storage capacitor 2 can be accurately read out with almost no influence of the stray capacitance, and the failure of the TFT 1, the storage capacitor 2, or the source bus line and the gate bus line of the liquid crystal display device can be accurately determined. Can be detected.

【0039】図3(b)は、図3(a)に示した液晶表
示装置の変形例である。この液晶表示装置は、共通電極
配線15が櫛型をなさずに、1つのソースバスライン9
に対応して1つの共通電極配線15が形成されている。
この共通電極配線15もまた、画素部3が配置された表
示領域においてソースバスライン9に平行に配置され、
共通電極配線15の端部には端子16を備えている。こ
の液晶表示装置は、複数の端子16,16・・・に各々
電流測定装置を接続して、複数の画素部3からの電流を
同時に測定できるので、液晶表示装置の検査時間を短縮
できる。液晶表示装置の検査が終了した後、所定のパタ
ーンが設けられたFPC(可撓性プリント回路)配線を
端子16,16・・・に接続することによって、上記共
通電極配線15,15・・・を互いに接続して束ねるこ
とができる。そうすると、液晶表示装置の完成時に画素
部3の駆動動作に影響を与えることがなく、また、検査
の後に共通電極配線15,15・・・を互いに接続する
工程を省くことができる。
FIG. 3B is a modification of the liquid crystal display device shown in FIG. In this liquid crystal display device, one common source bus line 9
, One common electrode wiring 15 is formed.
This common electrode wiring 15 is also arranged in parallel with the source bus line 9 in the display area where the pixel section 3 is arranged,
A terminal 16 is provided at an end of the common electrode wiring 15. In this liquid crystal display device, a current measuring device is connected to each of the plurality of terminals 16, 16..., And the current from the plurality of pixel units 3 can be measured at the same time. After the inspection of the liquid crystal display device is completed, the FPC (flexible printed circuit) wiring provided with a predetermined pattern is connected to the terminals 16, 16,. Can be connected and bound together. Then, the driving operation of the pixel portion 3 is not affected when the liquid crystal display device is completed, and the step of connecting the common electrode wirings 15, 15,... After the inspection can be omitted.

【0040】図4は、本発明の第3実施形態の液晶表示
装置である。この液晶表示装置は、共通電極配線15
を、ソースバスライン9に略直交させて、ゲートバスラ
イン6に略平行に配置している。上記共通電極配線15
は浮遊容量を誘発するソースバスライン9と交差してい
るが、1つのゲートバスライン6に対応して1つの共通
電極配線15を配置して、各々の共通電極配線15に端
子16を設けている。こうして、1つの共通電極配線1
5に関して交差するソースバスライン9の数を少なくし
て、ソースバスライン9による浮遊容量の影響を最小限
に抑えている。したがって、従来におけるように、櫛型
に形成した共通電極配線に1つの端子を設けて、ソース
バスラインとの交差部分で誘発された浮遊容量による影
響が全て集中した場合に比べて、本実施形態の端子16
における浮遊容量の影響は小さい。したがって、液晶表
示装置の検査時において、端子16に接続した図示しな
い電流測定装置によって、共通電極配線15に流れる電
流を略正確に読み出すことができて、液晶表示装置の不
良を良好に検出できる。
FIG. 4 shows a liquid crystal display device according to a third embodiment of the present invention. This liquid crystal display device has a common electrode wiring 15
Are arranged substantially orthogonal to the source bus line 9 and substantially parallel to the gate bus line 6. Common electrode wiring 15
Intersects with the source bus line 9 that induces a stray capacitance, but one common electrode wiring 15 is arranged corresponding to one gate bus line 6, and a terminal 16 is provided for each common electrode wiring 15. I have. Thus, one common electrode wiring 1
The number of source bus lines 9 that intersect with each other at 5 is reduced to minimize the influence of stray capacitance due to the source bus lines 9. Therefore, as compared with a conventional case in which one terminal is provided on the common electrode wiring formed in a comb shape and all the effects of the stray capacitance induced at the intersection with the source bus line are concentrated, as compared with the related art. Terminal 16 of
The effect of stray capacitance is small. Therefore, at the time of inspection of the liquid crystal display device, the current flowing through the common electrode wiring 15 can be read out almost accurately by a current measuring device (not shown) connected to the terminal 16, and a defect of the liquid crystal display device can be detected satisfactorily.

【0041】ところで、図3(a)に示した第2実施形
態において、オンされたゲートバスライン上の複数の画
素部3からの電流を、共通電極配線15を介して測定す
る際、画素部3を特定するために、上記ゲートバスライ
ン6上の画素部3の数に対応する信号を用いる。すなわ
ち、図5(a)に示す信号Sa,Sb,Sc,Sd,S
e,Sfを、図5(b)の液晶表示装置におけるソース
バスラインa,b,c,d,e,fを介して画素部3
a,3b,3c,3d,3e,3fに順次印加する。そ
して、端子16に接続した図示しない電流測定装置によ
って、オンされたゲートバスライン6on上の画素3
a,3b・・・からの電流を順次測定する。こうして、
画素部3a,3b・・・を特定して液晶表示装置を検査
する。しかし、この液晶表示装置が、1024×768
個の画素数の液晶表示装置である場合、1つのゲートバ
スライン当りに、1024個の信号を順次印加すること
になって、信号データ数と検査時間とが膨大になる。
By the way, in the second embodiment shown in FIG. 3A, when the current from the plurality of pixel units 3 on the turned-on gate bus line is measured via the common electrode wiring 15, the pixel unit In order to specify the number 3, a signal corresponding to the number of the pixel units 3 on the gate bus line 6 is used. That is, the signals Sa, Sb, Sc, Sd, S shown in FIG.
e, Sf are connected to the pixel unit 3 via the source bus lines a, b, c, d, e, f in the liquid crystal display device of FIG.
a, 3b, 3c, 3d, 3e, 3f. The pixel 3 on the gate bus line 6on which is turned on by a current measuring device (not shown) connected to the terminal 16.
a, 3b... are sequentially measured. Thus,
The liquid crystal display device is inspected by specifying the pixel portions 3a, 3b,. However, this liquid crystal display device is 1024 × 768.
In the case of a liquid crystal display device having the number of pixels, 1024 signals are sequentially applied to one gate bus line, so that the number of signal data and the inspection time become enormous.

【0042】図6(a)は、第4実施形態の液晶表示装
置を示す図であり、この液晶表示装置は、少ない信号デ
ータ数と検査時間で検査が可能である。図6(a)に示
すように、この液晶表示装置は、複数の共通電極配線グ
ループ151,152,153に分割された共通電極配
線を備える。この共通電極配線グループ151,15
2,153毎は、電極端子161,162,163を各
々備える。共通電極配線グループ151は画素3a,3
bに接続し、共通電極配線グループ152は画素3c,
3dに接続し、共通電極配線グループ153は画素3
e,3fに接続する。そして、図6(b)に示す信号S
1,S2を、順次、ソースバスラインa,b,c,d,
e,fを介して画素部3a,3b,3c,3d,3e,
3fに印加する。上記信号S1で画素部3a,3c,3
eに同時に信号を印加し、信号S2で画素部3b,3
d,3fに同時に信号を印加する。このとき、端子16
1,162,163を介して、画素部3a,3c,3e
および画素部3b,3d,3fからの電流が各々同時に
観測される。こうして、共通電極配線を複数のグループ
に分けることによって、画素部3a,3b,3c,3
d,3e,3fに印加する信号数を減少できると共に、
液晶表示装置の検査にかかる時間を短縮できる。
FIG. 6A is a diagram showing a liquid crystal display device according to the fourth embodiment. This liquid crystal display device can perform inspection with a small number of signal data and inspection time. As shown in FIG. 6A, this liquid crystal display device includes common electrode wirings divided into a plurality of common electrode wiring groups 151, 152, and 153. The common electrode wiring groups 151 and 15
Each of 2,153 includes electrode terminals 161,162,163. The common electrode wiring group 151 includes the pixels 3a, 3
b, and the common electrode wiring group 152 is connected to the pixels 3c,
3d, and the common electrode wiring group 153 is connected to the pixel 3
e, 3f. Then, the signal S shown in FIG.
1, S2 are sequentially transferred to source bus lines a, b, c, d,
The pixel units 3a, 3b, 3c, 3d, 3e,
3f. The pixel portions 3a, 3c, 3
e at the same time, a signal S2 is applied to the pixel portions 3b and 3
Signals are applied to d and 3f at the same time. At this time, the terminal 16
Pixel units 3a, 3c, 3e via 1, 162, 163
And currents from the pixel units 3b, 3d, 3f are simultaneously observed. Thus, by dividing the common electrode wiring into a plurality of groups, the pixel units 3a, 3b, 3c, 3
The number of signals applied to d, 3e, 3f can be reduced, and
The time required for inspection of the liquid crystal display device can be reduced.

【0043】上記第4実施形態において、共通電極配線
を3つのグループに分割したが、同時に測定する画素部
からの電流の個数に対応して、何個のグループに分割し
てもよい。また、共通電極配線のグループによって測定
する画素部の数は、何個でもよい。
In the fourth embodiment, the common electrode wiring is divided into three groups. However, the common electrode wiring may be divided into any number of groups corresponding to the number of currents from the pixel unit to be measured simultaneously. Further, the number of pixel units measured by the group of the common electrode wirings may be any number.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上より明らかなように、本発明の液晶
表示装置は、デジタル信号が入力されるデジタルソース
ドライバを有するモノリシックパネル型の液晶表示装置
において、上記デジタルソースドライバと画素部とを接
続する各ソースバスラインを、検査用回路に接続するア
ナログスイッチと、上記アナログスイッチを順次制御す
るスイッチ制御回路とを有するので、上記スイッチ制御
回路によって駆動される上記アナログスイッチを介し
て、画素部の保持容量からの電流を計測できるから、画
素部の表示動作の際と逆方向の電流を流さない上記デジ
タルソースドライバを有するにも拘らず、従来と同様の
電流測定装置を用いて検査が実施できる。
As is apparent from the above description, the liquid crystal display device of the present invention is a monolithic panel type liquid crystal display device having a digital source driver to which a digital signal is inputted. Since each of the source bus lines includes an analog switch that connects to the inspection circuit and a switch control circuit that sequentially controls the analog switch, the pixel section of the pixel unit is connected via the analog switch driven by the switch control circuit. Since the current from the storage capacitor can be measured, the inspection can be performed using the same current measuring device as before, despite having the digital source driver that does not allow the current to flow in the opposite direction to the display operation of the pixel portion. .

【0045】1実施形態の液晶表示装置は、上記スイッ
チ制御回路は、シフトレジスタと、NAND回路を有す
るので、従来のソースドライバと同様の構成を有する上
記スイッチ制御回路によって上記アナログスイッチを駆
動して、上記画素部の保持容量からの電流を測定して液
晶表示装置の検査が実施できる。
In the liquid crystal display device of one embodiment, since the switch control circuit has a shift register and a NAND circuit, the analog switch is driven by the switch control circuit having the same configuration as the conventional source driver. The inspection of the liquid crystal display device can be performed by measuring the current from the storage capacitor of the pixel portion.

【0046】1実施形態の液晶表示装置を検査する液晶
表示装置の検査方法は、上記アナログスイッチに接続し
た検査回路によって、上記保持容量に蓄えられている電
荷を計測するので、従来のビデオラインに電流測定装置
を接続した場合と同様に、上記検査回路に電流測定装置
を接続して上記電荷による電流を測定して、例えばTF
Tのスイッチング動作の不良や、保持容量の不良、ある
いはソースバスラインおよびゲートバスラインの不良を
検知できる。
In the inspection method of the liquid crystal display device for inspecting the liquid crystal display device according to the embodiment, the electric charge stored in the storage capacitor is measured by the inspection circuit connected to the analog switch. As in the case where the current measuring device is connected, a current measuring device is connected to the inspection circuit to measure the current due to the charge, and for example, TF
A failure in the switching operation of T, a failure in the storage capacitance, or a failure in the source bus line and the gate bus line can be detected.

【0047】本発明の液晶表示装置は、TFTと保持容
量を含む画素部と、上記画素部を駆動するゲートドライ
バおよびソースドライバと、上記ゲートドライバと画素
部とを接続するゲートバスラインと、上記ソースドライ
バと画素部とを接続するソースバスラインと、上記保持
容量のTFTに接続されていない側の端子に接続された
共通電極配線とを備える液晶表示装置において、上記共
通電極配線は、上記ソースバスラインと交差し難い方向
に配置しているので、上記共通電極配線とソースバスラ
インとの間に浮遊容量が生じることが殆ど無いから、保
持容量からの電流が上記浮遊容量による電流によって埋
もれてしまうこと無く正確に測定されて、正確に検査可
能な液晶表示装置が得られる。
According to the liquid crystal display device of the present invention, a pixel portion including a TFT and a storage capacitor, a gate driver and a source driver for driving the pixel portion, a gate bus line connecting the gate driver and the pixel portion, In a liquid crystal display device including a source bus line connecting a source driver and a pixel portion, and a common electrode line connected to a terminal of the storage capacitor that is not connected to the TFT, the common electrode line includes the source bus line. Since the stray capacitance is hardly generated between the common electrode wiring and the source bus line since the stray capacitance is arranged in a direction that does not easily cross the bus line, the current from the storage capacitor is buried by the current due to the stray capacitance. A liquid crystal display device which can be accurately measured without any trouble and can be accurately inspected is obtained.

【0048】1実施形態の液晶表示装置は、上記共通電
極配線は櫛型に配置されていて、上記ソースバスライン
と略平行であるので、上記共通電極配線とソースバスラ
インは交差しないから、上記共通電極配線に浮遊容量を
生じさせないで上記保持容量からの電流を正確に測定で
き、その結果、液晶表示装置を正確に検査できる。
In the liquid crystal display device of one embodiment, since the common electrode wiring is arranged in a comb shape and is substantially parallel to the source bus line, the common electrode wiring does not intersect with the source bus line. The current from the storage capacitor can be accurately measured without causing a stray capacitance in the common electrode wiring, and as a result, the liquid crystal display device can be accurately inspected.

【0049】1実施形態の液晶表示装置は、上記共通電
極配線は複数のグループに分かれていて、上記複数のグ
ループは夫々1つの端子に接続されているので、上記端
子に夫々電流測定装置を接続することによって、1度に
上記グループの数に対応する数の画素部からの電流を計
測でき、その結果、液晶表示装置の検査時間を短縮でき
る。
In the liquid crystal display device according to one embodiment, the common electrode wiring is divided into a plurality of groups, and the plurality of groups are connected to one terminal, respectively. By doing so, it is possible to measure currents from the pixel units corresponding to the number of the groups at one time, and as a result, the inspection time of the liquid crystal display device can be reduced.

【0050】1実施形態の液晶表示装置を検査する液晶
表示装置の検査方法は、ソースバスラインとの間に浮遊
容量が殆ど生じない上記共通電極配線を介して、上記画
素部からの電流を計測するので、浮遊容量による電流に
埋もれることなく画素部の保持容量からの電流を正確に
測定して、液晶表示装置の例えばTFTのスイッチング
動作の不良や、保持容量の不良、あるいはソースバスラ
インおよびゲートバスラインの不良を、正確に検知でき
る。
In the liquid crystal display device inspection method for inspecting the liquid crystal display device according to one embodiment, the current from the pixel portion is measured through the common electrode wiring where little stray capacitance is generated between the source bus line and the source bus line. Therefore, the current from the storage capacitor in the pixel portion is accurately measured without being buried in the current due to the stray capacitance, and the switching operation of the TFT of the liquid crystal display device is defective, the storage capacitance is defective, or the source bus line and the gate are defective. Defective bus lines can be accurately detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1実施形態による液晶表示装置を
示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図2(a)は、第1実施形態におけるスイッ
チ制御回路30を示す図であり、図2(b),(c),
(d)は、スイッチ制御回路30のイネーブル信号ライ
ンに34に供給する信号を示した図である。
FIG. 2A is a diagram illustrating a switch control circuit 30 according to the first embodiment, and FIGS. 2B, 2C, and 2C;
(D) is a diagram showing a signal supplied to the enable signal line of the switch control circuit 30 to the enable signal line.

【図3】 図3(a)は、本発明の第2実施形態による
液晶表示装置を示す図であり、図3(b)は、図3
(a)に示した液晶表示装置の変形例である。
FIG. 3A is a view showing a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 3B is a view showing FIG.
It is a modification of the liquid crystal display device shown in FIG.

【図4】 本発明の第3実施形態による液晶表示装置を
示す図である。
FIG. 4 is a view illustrating a liquid crystal display according to a third embodiment of the present invention.

【図5】 図5(a)は、第2実施形態による液晶表示
装置において、デジタルソースドライバ18から画素部
3a,3b,3c,3d,3e,3fに供給される信号
を示した図であり、図5(b)は、図5(a)の信号を
画素部3a,3b,3c,3d,3e,3fに供給する
際の液晶表示装置を示す図である。
FIG. 5A is a diagram illustrating signals supplied from a digital source driver 18 to pixel units 3a, 3b, 3c, 3d, 3e, and 3f in the liquid crystal display device according to the second embodiment. FIG. 5B is a diagram showing a liquid crystal display device when the signal of FIG. 5A is supplied to the pixel units 3a, 3b, 3c, 3d, 3e, and 3f.

【図6】 図6(a)は、本発明の第4実施形態による
液晶表示装置を示す図であり、図6(b)は、図6
(a)の液晶表示装置を検査する際に、画素部3a,3
b,3c,3d,3e,3fに供給される信号を示した
図である。
FIG. 6A is a view showing a liquid crystal display according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 6B is a view showing FIG.
When inspecting the liquid crystal display device of (a), the pixel units 3a, 3
It is the figure which showed the signal supplied to b, 3c, 3d, 3e, 3f.

【図7】 従来の液晶表示装置を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a conventional liquid crystal display device.

【図8】 従来のモノリシックパネル型の液晶表示装置
を示す図である。
FIG. 8 is a view showing a conventional monolithic panel type liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 TFT 2 保持容量 3 画素部 5 ゲートドライバ 6 ゲートバスライン 8 ソースドライバ 9 ソースバスライン 15 共通電極配線 16 端子 18 デジタルソースドライバ 22 デジタルビデオ入力端子 23 デジタルビデオライン 25 アナログスイッチ 27 検査ライン 28 検査端子 30 スイッチ制御回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 TFT 2 Storage capacity 3 Pixel part 5 Gate driver 6 Gate bus line 8 Source driver 9 Source bus line 15 Common electrode wiring 16 Terminal 18 Digital source driver 22 Digital video input terminal 23 Digital video line 25 Analog switch 27 Test line 28 Test terminal 30 Switch control circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G036 AA19 AA27 BA33 CA10 2H088 FA11 HA08 MA20 2H092 JA24 JA37 JA41 JB67 NA29 NA30 2H093 NA16 NA41 NC22 NC26 NC34 ND53 ND56 NE10  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G036 AA19 AA27 BA33 CA10 2H088 FA11 HA08 MA20 2H092 JA24 JA37 JA41 JB67 NA29 NA30 2H093 NA16 NA41 NC22 NC26 NC34 ND53 ND56 NE10

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 TFTと保持容量を含む画素部と、デジ
タル信号が入力されるデジタルソースドライバと、ゲー
トドライバとが同一の基板上に形成されたモノリシック
パネル型の液晶表示装置において、 上記デジタルソースドライバと画素部とを接続する各ソ
ースバスラインを、検査用回路に接続するアナログスイ
ッチと、 上記アナログスイッチを順次制御するスイッチ制御回路
とを有することを特徴とする液晶表示装置。
1. A monolithic panel-type liquid crystal display device in which a pixel portion including a TFT and a storage capacitor, a digital source driver to which a digital signal is input, and a gate driver are formed on the same substrate. A liquid crystal display device comprising: an analog switch for connecting each source bus line connecting a driver and a pixel portion to a circuit for inspection; and a switch control circuit for sequentially controlling the analog switch.
【請求項2】 請求項1による液晶表示装置において、 上記スイッチ制御回路は、シフトレジスタと、NAND
回路を有することを特徴とする液晶表示装置。
2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the switch control circuit includes a shift register and a NAND circuit.
A liquid crystal display device having a circuit.
【請求項3】 請求項1または2による液晶表示装置を
検査する液晶表示装置の検査方法において、 上記アナログスイッチに接続した検査回路によって、上
記保持容量に蓄えられている電荷を計測することを特徴
とする液晶表示装置の検査方法。
3. The method for testing a liquid crystal display device according to claim 1, wherein the charge stored in the storage capacitor is measured by a test circuit connected to the analog switch. Inspection method for a liquid crystal display device.
【請求項4】 TFTと保持容量を含む画素部と、上記
画素部を駆動するゲートドライバおよびソースドライバ
と、上記ゲートドライバと画素部とを接続するゲートバ
スラインと、上記ソースドライバと画素部とを接続する
ソースバスラインと、上記保持容量のTFTに接続され
ていない側の端子に接続された共通電極配線とを備える
液晶表示装置において、 上記共通電極配線は、上記ソースバスラインと交差し難
い方向に配置したことを特徴とする液晶表示装置。
4. A pixel section including a TFT and a storage capacitor; a gate driver and a source driver for driving the pixel section; a gate bus line connecting the gate driver and the pixel section; And a common electrode line connected to a terminal of the storage capacitor not connected to the TFT, wherein the common electrode line hardly intersects with the source bus line. A liquid crystal display device characterized by being arranged in a direction.
【請求項5】 請求項4による液晶表示装置において、 上記共通電極配線は櫛型に配置されていて、上記ソース
バスラインと略平行であることを特徴とする液晶表示装
置。
5. The liquid crystal display device according to claim 4, wherein the common electrode wiring is arranged in a comb shape, and is substantially parallel to the source bus line.
【請求項6】 請求項4または5による液晶表示装置に
おいて、上記共通電極配線は複数のグループに分かれて
いて、上記複数のグループは夫々1つの端子に接続され
ていることを特徴とする液晶表示装置。
6. The liquid crystal display according to claim 4, wherein the common electrode wiring is divided into a plurality of groups, and the plurality of groups are connected to one terminal, respectively. apparatus.
【請求項7】 請求項4乃至6のいずれか1つによる液
晶表示装置を検査する液晶表示装置の検査方法におい
て、 上記共通電極配線を介して、上記保持容量に蓄えられて
いる電荷を計測することを特徴とする液晶表示装置の検
査方法。
7. A method for testing a liquid crystal display device for testing a liquid crystal display device according to claim 4, wherein the charge stored in the storage capacitor is measured via the common electrode wiring. A method for inspecting a liquid crystal display device, comprising:
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