[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2002168716A - Pressure sensor module - Google Patents

Pressure sensor module

Info

Publication number
JP2002168716A
JP2002168716A JP2000364025A JP2000364025A JP2002168716A JP 2002168716 A JP2002168716 A JP 2002168716A JP 2000364025 A JP2000364025 A JP 2000364025A JP 2000364025 A JP2000364025 A JP 2000364025A JP 2002168716 A JP2002168716 A JP 2002168716A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure sensor
chip
section
unit
semiconductor pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000364025A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Michihiko Ueda
充彦 植田
Kazunari Kuzuhara
一功 葛原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP2000364025A priority Critical patent/JP2002168716A/en
Publication of JP2002168716A publication Critical patent/JP2002168716A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a miniaturized pressure sensor module. SOLUTION: Among three chips, that is, a semiconductor pressure sensor part 1 having a diaphragm part 1a displaceable by pressure and having the function of detecting the pressure based on the displacement of the diaphragm part 1a, an IC part 2 having the function of controlling the sensor part 1, and a ROM mounting part 3 having the trimming function of correcting the characteristics of the sensor part 1, two chips excluding a chip having an electrical connection part are mounted so that the outside dimension of the surface of the latter falls within the dimension of the largest chip, and the sensor part 1 is mounted so that the diaphragm part 1a of the sensor part 1 is displaced by the pressure from a first pressure inlet hole 9a.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、圧力を検出する圧
力モジュールに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pressure module for detecting pressure.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体圧力センサ部1と、IC部2と、
ROM搭載部3の3つのチップ部分をパッケージに搭載
した従来の圧力センサモジュールの一例を図11に示
す。図11(a)は、圧力センサモジュールの断面図で
あり、図11(b)は、圧力センサモジュールのカバー
部7を取り除いた状態の上面図である。合成樹脂製のボ
ディ部6及びカバー部7を有してなるパッケージ内に、
半導体圧力センサ部1と、IC部2と、半導体圧力セン
サ部1の特性補正を行うトリミング機能を有してなるR
OM搭載部3とがボディ部6のチップ搭載面6aの各々
異なる場所に搭載、実装される構成である。
2. Description of the Related Art A semiconductor pressure sensor unit 1, an IC unit 2,
FIG. 11 shows an example of a conventional pressure sensor module in which three chip portions of the ROM mounting section 3 are mounted on a package. FIG. 11A is a sectional view of the pressure sensor module, and FIG. 11B is a top view of the pressure sensor module with the cover 7 removed. In a package having a synthetic resin body part 6 and a cover part 7,
The semiconductor pressure sensor unit 1, the IC unit 2, and an R having a trimming function for correcting characteristics of the semiconductor pressure sensor unit 1.
The OM mounting section 3 is mounted and mounted at different locations on the chip mounting surface 6a of the body section 6.

【0003】まず、半導体圧力センサ部1について述べ
る。図11(a)の拡大図に示すように、半導体基板
(シリコン基板)の一主表面がエッチングされることに
より、薄肉構造のダイヤフラム部1aが形成されてい
る。このダイヤフラム部1aの面に、撓みにより抵抗値
が変化するピエゾ抵抗1cや金属からなる電極1dを形
成して、外部の圧力によるダイヤフラム部1aの変位や
撓みを、抵抗値の変化や、静電容量の変化として、圧力
を検知する方法がとられている。なお、ここでは特に検
知方法は限定されない。
First, the semiconductor pressure sensor unit 1 will be described. As shown in the enlarged view of FIG. 11A, a thin-walled diaphragm portion 1a is formed by etching one main surface of a semiconductor substrate (silicon substrate). A piezoresistor 1c whose resistance value changes due to bending and an electrode 1d made of metal are formed on the surface of the diaphragm portion 1a, and the displacement and bending of the diaphragm portion 1a due to external pressure can be measured by changing the resistance value or changing the electrostatic force. As a change in capacity, a method of detecting pressure is used. Here, the detection method is not particularly limited.

【0004】上述のように、パッケージはボディ部6及
びカバー部7を有してなり、略箱型に形成されたボディ
部6の底部からは略円筒型に形成された第1圧力導入孔
9aを有してなる圧力導入管9が形成されている。半導
体圧力センサ部1は、ボディ部6とカバー部7とから形
成される空間部8内部でカバー部7に対面するチップ搭
載面6a上に、ダイヤフラム部1aを含まない支持部1
bを図11(a)に示すように第1圧力導入孔9aを囲
む形で配設されている。なお、半導体圧力センサ部1の
下部とチップ搭載面6aより上面である部分とで形成さ
れる空間は、半導体圧力センサ部1のダイヤフラム部1
aに圧力を導入するための孔空間9eを形成している。
As described above, the package has the body portion 6 and the cover portion 7, and the first pressure introduction hole 9 a formed in a substantially cylindrical shape from the bottom of the substantially box-shaped body portion 6. Is formed. The semiconductor pressure sensor unit 1 includes a support unit 1 that does not include the diaphragm unit 1 a on a chip mounting surface 6 a facing the cover unit 7 in a space 8 formed by the body unit 6 and the cover unit 7.
b is disposed so as to surround the first pressure introducing hole 9a as shown in FIG. The space formed by the lower portion of the semiconductor pressure sensor unit 1 and the portion above the chip mounting surface 6a is the diaphragm unit 1 of the semiconductor pressure sensor unit 1.
A hole space 9e for introducing a pressure to a is formed.

【0005】ここで、孔空間9eの中心軸と第1圧力導
入孔9aの中心軸とは一致しており、被圧力検出流体の
圧力は、第1圧力導入孔9a及び孔空間9eを通りダイ
ヤフラム部1aに導かれる。これによりダイヤフラム部
1aが応力を受け、ダイヤフラム部1aの変位により圧
力が検出される。
Here, the center axis of the hole space 9e coincides with the center axis of the first pressure introducing hole 9a, and the pressure of the pressure-detected fluid passes through the first pressure introducing hole 9a and the hole space 9e and the diaphragm. It is led to the unit 1a. As a result, the diaphragm 1a receives stress, and the pressure is detected by the displacement of the diaphragm 1a.

【0006】なお、IC部2は、半導体圧力センサ部1
に隣接し、ROM搭載部3は、IC部2と隣接してチッ
プ搭載面6a上に実装されている。半導体圧力センサ部
1とIC部2とは、金やアルミニウム等からなるボンデ
ィングワイヤ10(以降、ワイヤ10と称する)により
電気的接続される。また、IC部2とROM搭載部3と
は、ワイヤ10により電気的接続される。さらに、別の
ワイヤ10により半導体圧力センサ部1とインサート成
形により植設されボディ部6に設けられたリード11と
が電気的接続され、ROM搭載部3とリード11とが電
気的接続される。また、半導体圧力センサ部1のダイヤ
フラム部1a上面には、JCR(ジャンクションコート
レジン)などの表面を保護するゼリー状の封止樹脂30
が設けられている。
[0006] The IC unit 2 includes a semiconductor pressure sensor unit 1.
The ROM mounting section 3 is mounted on the chip mounting surface 6a adjacent to the IC section 2. The semiconductor pressure sensor unit 1 and the IC unit 2 are electrically connected by a bonding wire 10 (hereinafter, referred to as a wire 10) made of gold, aluminum, or the like. The IC section 2 and the ROM mounting section 3 are electrically connected by wires 10. Further, the semiconductor pressure sensor section 1 and the lead 11 implanted by insert molding and provided on the body section 6 are electrically connected by another wire 10, and the ROM mounting section 3 and the lead 11 are electrically connected. On the upper surface of the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor 1, a jelly-like sealing resin 30 for protecting the surface such as JCR (junction coat resin) is provided.
Is provided.

【0007】このワイヤ10の配線状況を図11(b)
に示す。ここで、半導体圧力センサ部1は、ダイヤフラ
ム部1aの変位をピエゾ抵抗1cの抵抗値変化で検知し
て圧力信号を検出する方式を例にあげている。半導体圧
力センサ部1の中央部つまりダイヤフラム部1aの上面
部位の近傍には4個のピエゾ抵抗1cが配置されてい
る。更に、半導体圧力センサ部1周辺には、圧力信号を
出力するため及び、ピエゾ抵抗1cを有して形成される
回路に電圧を印加する等の制御を行うための電極1dが
形成されている。この半導体圧力センサ部1の電極1d
と、IC部2の電極2aとをワイヤ10により電気的接
続するとともに、IC部2の電極2aと、ROM搭載部
3の電極3aとをワイヤ10により電気的接続を行う。
FIG. 11B shows the wiring state of the wire 10.
Shown in Here, the semiconductor pressure sensor unit 1 exemplifies a method of detecting a pressure signal by detecting the displacement of the diaphragm unit 1a by a change in the resistance value of a piezo resistor 1c. Four piezoresistors 1c are arranged in the central part of the semiconductor pressure sensor part 1, that is, in the vicinity of the upper surface part of the diaphragm part 1a. Further, an electrode 1d is formed around the semiconductor pressure sensor unit 1 for outputting a pressure signal and performing control such as applying a voltage to a circuit formed with the piezoresistor 1c. Electrode 1d of this semiconductor pressure sensor unit 1
And the electrodes 2a of the IC unit 2 are electrically connected by wires 10, and the electrodes 2a of the IC unit 2 and the electrodes 3a of the ROM mounting unit 3 are electrically connected by wires 10.

【0008】また、半導体圧力センサ部1の電極1dと
リード11との電気的接続並びに、IC部2の電極2a
とリード11との電気的接続を行う。
The electrical connection between the electrode 1d of the semiconductor pressure sensor unit 1 and the lead 11 and the connection of the electrode 2a of the IC unit 2
And the leads 11 are electrically connected.

【0009】以上のような構成と電気配線により、第1
圧力導入孔9aに伝わる被測定流体の圧力は、半導体圧
力センサ部1で検知され、この検知された圧力信号はI
C部2で信号処理されて、リード11により外部回路
(図示せず)に出力される。半導体圧力センサ部1は、
IC部2で制御され、ROM搭載部3でソフト的な特性
補正(電子トリミング)が行われる。
With the above configuration and electric wiring, the first
The pressure of the fluid to be measured transmitted to the pressure introducing hole 9a is detected by the semiconductor pressure sensor unit 1, and the detected pressure signal is I
The signal is processed by the C section 2 and output to an external circuit (not shown) by the lead 11. The semiconductor pressure sensor unit 1 includes:
Controlled by the IC section 2, soft characteristic correction (electronic trimming) is performed by the ROM mounting section 3.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上述のよう
な圧力センサモジュールは、各チップの電気的接続はワ
イヤボンディングを用いて行われているため、圧力セン
サモジュールの更なる小型化のニーズに対応していく
際、半導体圧力センサ部1、IC部2及びROM搭載部
3を平面上に配置することにはチップの実装面積を小さ
くする上で限界があった。
However, in the above-described pressure sensor module, since the electrical connection of each chip is performed by wire bonding, the pressure sensor module meets the need for further downsizing of the pressure sensor module. In doing so, arranging the semiconductor pressure sensor unit 1, the IC unit 2, and the ROM mounting unit 3 on a plane has a limit in reducing the chip mounting area.

【0011】本発明は上記問題点を改善するためになさ
れたものであり、小型化した圧力センサモジュールを提
供することを目的とするものである。
The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide a downsized pressure sensor module.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の圧力セ
ンサモジュールは、圧力により変位するダイヤフラム部
1aを有し該ダイヤフラム部1aの変位により圧力を検
出する機能を有してなる半導体圧力センサ部1と、該半
導体圧力センサ部1を制御する機能を有してなるIC部
2と、前記半導体圧力センサ部1の特性補正を行うトリ
ミング機能を有してなるROM搭載部3と、前記半導体
圧力センサ部1と前記IC部2と前記ROM搭載部3と
を搭載し前記ダイヤフラム部1aに圧力を導入する第1
圧力導入孔9aを有してなるパッケージとを備えてなる
圧力センサモジュールにおいて、前記半導体圧力センサ
部1と前記IC部2と前記ROM搭載部3の3つのチッ
プのうち、電気的接続部を有するチップ面の外形サイズ
が最も大きいチップサイズ内に収まるように、その他の
2つのチップを搭載し、前記半導体圧力センサ部1のダ
イヤフラム部1aが前記第1圧力導入孔9aからの圧力
を受けて変位するように前記半導体圧力センサ部1を搭
載することを特徴とするものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a pressure sensor module comprising: a semiconductor pressure sensor having a diaphragm portion that is displaced by pressure and having a function of detecting pressure by displacement of the diaphragm portion. Unit 1, an IC unit 2 having a function of controlling the semiconductor pressure sensor unit 1, a ROM mounting unit 3 having a trimming function of correcting characteristics of the semiconductor pressure sensor unit 1, and the semiconductor A first sensor for mounting a pressure sensor unit, the IC unit, and the ROM mounting unit, and introducing pressure to the diaphragm unit;
In a pressure sensor module including a package having a pressure introduction hole 9a, an electrical connection portion is provided among three chips of the semiconductor pressure sensor portion 1, the IC portion 2, and the ROM mounting portion 3. The other two chips are mounted so that the outer size of the chip surface is within the largest chip size, and the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor unit 1 is displaced by receiving the pressure from the first pressure introduction hole 9a. Thus, the semiconductor pressure sensor unit 1 is mounted.

【0013】また、請求項2に記載の圧力センサモジュ
ールは、請求項1に記載の発明において、前記半導体圧
力センサ部1と前記IC部2と前記ROM搭載部3の3
つのチップは、前記パッケージのチップ搭載面6aから
順に最下部のチップ、中間部のチップ、最上部のチップ
を形成するように積層して搭載したことを特徴とするも
のである。
Further, in the pressure sensor module according to the present invention, the semiconductor pressure sensor unit 1, the IC unit 2, and the ROM mounting unit 3 are connected to each other.
The two chips are stacked and mounted in order from the chip mounting surface 6a of the package to form a lowermost chip, an intermediate chip, and an uppermost chip.

【0014】また、請求項3に記載の圧力センサモジュ
ールは、請求項1に記載の発明において、前記半導体圧
力センサ部1と前記IC部2と前記ROM搭載部3の3
つのチップのうち、電気的接続部を有するチップ面の外
形サイズが最も大きい1つのチップに、その他の2つの
チップを並設するように搭載することを特徴とするもの
である。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the pressure sensor module according to the first aspect, wherein the semiconductor pressure sensor unit, the IC unit, and the ROM mounting unit are connected to each other.
One of the chips has the largest external size of the chip surface having the electrical connection portion, and the other two chips are mounted so as to be arranged side by side.

【0015】また、請求項4に記載の圧力センサモジュ
ールは、請求項1に記載の発明において、前記IC部2
と前記ROM搭載部3とを積層してなる積層部20を形
成し、該積層部20には該積層部20を貫通し前記第1
圧力導入孔9aと連通する収容部21を有してなり、該
収容部21に前記半導体圧力センサ部1のダイヤフラム
部1aが前記第1圧力導入孔9aからの圧力を受けて変
位するように前記第1圧力導入孔9aを取り囲む形で前
記半導体圧力センサ部1を搭載することを特徴とするも
のである。
The pressure sensor module according to a fourth aspect of the present invention is the pressure sensor module according to the first aspect.
And the ROM mounting section 3 are laminated to form a laminated section 20. The laminated section 20 penetrates the laminated section 20 and the first
A housing 21 that communicates with the pressure introducing hole 9a, and the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor unit 1 is displaced in the housing 21 by receiving the pressure from the first pressure introducing hole 9a. The semiconductor pressure sensor unit 1 is mounted so as to surround the first pressure introducing hole 9a.

【0016】また、請求項5に記載の圧力センサモジュ
ールは、請求項1に記載の発明において、前記IC部2
又は前記ROM搭載部3のどちらか一方のチップは、前
記パッケージのチップ搭載面6aに対して最下部のチッ
プを形成し、該最下部のチップには該最下部のチップを
貫通し前記第1圧力導入孔9aと連通する第2圧力導入
孔9bを有してなり、前記最下部のチップの上に前記半
導体圧力センサ部1が前記第2圧力導入孔9bを取り囲
むようにして搭載され、前記最下部のチップの上面で、
前記半導体圧力センサ部1が搭載されていない部分に前
記半導体圧力センサ部1を収容することができる収容部
21を設けた他方のチップが搭載されてなることを特徴
とするものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the pressure sensor module according to the first aspect of the present invention, the IC unit includes:
Alternatively, one of the chips of the ROM mounting section 3 forms a lowermost chip with respect to the chip mounting surface 6a of the package, and the lowermost chip penetrates the lowermost chip to form the first chip. The semiconductor pressure sensor unit 1 is mounted on the lowermost chip so as to surround the second pressure introduction hole 9b, and the second pressure introduction hole 9b communicates with the pressure introduction hole 9a. On the top surface of the bottom chip,
The other chip provided with an accommodating portion 21 capable of accommodating the semiconductor pressure sensor unit 1 is mounted on a portion where the semiconductor pressure sensor unit 1 is not mounted.

【0017】また、請求項6に記載の圧力センサモジュ
ールは、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の発明
において、前記半導体圧力センサ部1と前記IC部2と
前記ROM搭載部3の前記電気的接続部は、バンプ4と
TAB5とを併用して電気的接続を行うことを特徴とす
るものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a pressure sensor module according to any one of the first to fifth aspects, wherein the semiconductor pressure sensor unit, the IC unit, and the ROM mounting unit are provided. The electrical connection portion is characterized in that electrical connection is performed by using both the bump 4 and the TAB 5.

【0018】また、請求項7に記載の圧力センサモジュ
ールは、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の発明
において、前記半導体圧力センサ部と前記IC部と前記
ROM搭載部の前記電気的接続部は、バンプ4とボンデ
ィングワイヤ10とを併用して電気的接続を行うことを
特徴とするものである。
According to a seventh aspect of the present invention, in the pressure sensor module according to any one of the first to fifth aspects, the electric pressure of the semiconductor pressure sensor section, the IC section, and the ROM mounting section is changed. The connection portion is characterized by performing electrical connection by using both the bump 4 and the bonding wire 10.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の前提部分を図1
1に基づいて説明するが、詳細の説明は前述しているた
め省略する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The premise of the present invention will be described below with reference to FIG.
1 will be described, but a detailed description has been given above and will not be repeated.

【0020】図11は、合成樹脂製のボディ部6及びカ
バー部7を有してなるパッケージ内に、ダイヤフラム部
1aの面に撓みにより抵抗値が変化するピエゾ抵抗1c
や金属からなる電極1dを形成してなる半導体圧力セン
サ部1と、IC部2と、半導体圧力センサ部1の特性補
正を行うトリミング機能を有してなるROM搭載部3と
がボディ部6のチップ搭載面6aの各々異なる場所に搭
載、実装される構成である圧力センサモジュールを示し
ている。第1圧力導入孔9aに伝わる被測定流体の圧力
は、IC部2で制御され、ROM搭載部3でソフト的な
特性補正(電子トリミング)が行われる半導体圧力セン
サ部1で検知され、この検知された圧力信号はIC部2
で信号処理されて、リード11により外部回路(図示せ
ず)に出力される。以下の本発明の各実施形態において
も、上述の圧力センサモジュールと基本的動作は同様で
あるため、動作に関する説明は省略する。また、半導体
圧力センサ部1は、ダイヤフラム部1aの面に金属から
なる電極1dやピエゾ抵抗1cなどを有してなるが、以
下の第1実施形態乃至第10実施形態では便宜上これら
の図示を省略する。また、以下の第1実施形態乃至第1
0実施形態において、パッケージを構成するボディ6の
形状は、チップのサイズに応じて各々かえる構成として
いる。
FIG. 11 shows a piezoresistor 1c in which a resistance value changes due to bending of a surface of a diaphragm portion 1a in a package having a body portion 6 and a cover portion 7 made of synthetic resin.
A semiconductor pressure sensor unit 1 having electrodes 1d made of metal or metal, an IC unit 2, and a ROM mounting unit 3 having a trimming function for correcting characteristics of the semiconductor pressure sensor unit 1 The pressure sensor module is configured to be mounted and mounted at different locations on the chip mounting surface 6a. The pressure of the fluid to be measured transmitted to the first pressure introducing hole 9a is controlled by the IC unit 2 and is detected by the semiconductor pressure sensor unit 1 in which the ROM mounting unit 3 performs soft characteristic correction (electronic trimming). The output pressure signal is the IC unit 2
, And is output to an external circuit (not shown) by the lead 11. In each of the following embodiments of the present invention, since the basic operation is the same as that of the above-described pressure sensor module, the description of the operation is omitted. The semiconductor pressure sensor unit 1 has an electrode 1d made of metal, a piezoresistor 1c, and the like on the surface of the diaphragm unit 1a, but these are not shown in the following first to tenth embodiments for convenience. I do. In addition, the following first embodiment to first embodiment
In the zero embodiment, the shape of the body 6 constituting the package is changed depending on the size of the chip.

【0021】まず、以下の第1実施形態乃至第4実施形
態には、チップサイズを電気的接続部を有するチップ面
の外形サイズが最も大きいチップ内に収まるように、半
導体圧力センサ部1、IC部2、ROM搭載部3の3つ
のチップを積層して搭載するタイプの例を示す。
First, in the following first to fourth embodiments, the semiconductor pressure sensor unit 1 and the IC are mounted so that the chip size can be accommodated in the chip having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. 3 shows an example of a type in which three chips of a unit 2 and a ROM mounting unit 3 are stacked and mounted.

【0022】以下、本発明の第1実施形態を図1に基づ
いて説明する。図1は本発明の第1実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図(パッケージのチップ搭
載面6aに対する半導体圧力センサ部1、IC部2、R
OM搭載部3の配置状態を主に示しており、パッケージ
のカバー部やボディ部の詳細は記載していない)であ
る。
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a cross-sectional view showing a pressure sensor module according to a first embodiment of the present invention (a semiconductor pressure sensor unit 1, an IC unit 2, and an R unit with respect to a chip mounting surface 6a of a package).
This mainly shows the arrangement state of the OM mounting unit 3 and does not show details of the cover and the body of the package).

【0023】図1に示すように、パッケージのチップ搭
載面6aに対して、半導体圧力センサ部1は、ダイヤフ
ラム部1aが第1圧力導入孔9aからの圧力を受けて変
位するように第1圧力導入孔9aを取り囲む形で最下部
のチップに搭載されている。最下部のチップの上面であ
る中間部のチップには、IC部2が搭載されており、中
間部のチップの上面である最上部のチップには、ROM
搭載部3が搭載されてなる構成である。
As shown in FIG. 1, with respect to the chip mounting surface 6a of the package, the semiconductor pressure sensor section 1 applies a first pressure so that the diaphragm section 1a is displaced by receiving a pressure from the first pressure introducing hole 9a. It is mounted on the lowermost chip so as to surround the introduction hole 9a. The IC section 2 is mounted on the middle chip which is the upper surface of the lowermost chip, and the IC chip 2 is mounted on the uppermost chip which is the upper surface of the middle chip.
This is a configuration in which the mounting unit 3 is mounted.

【0024】IC部2の上下の両面には、金属からなる
電極(図示せず)及び電極と電気的接触がなされる配線
パターン(図示せず)が形成され、上下面を貫通し配線
パターン(図示せず)に電気的接続された貫通配線14
が設けられている。ROM搭載部3の下面には、金属か
らなる電極(図示せず)が設けられている。電気的接続
部とは、これらの電極や配線パターンのことをいう。
On both upper and lower surfaces of the IC unit 2, electrodes (not shown) made of metal and wiring patterns (not shown) for making electrical contact with the electrodes are formed. Through wiring 14 electrically connected to (not shown)
Is provided. An electrode (not shown) made of metal is provided on the lower surface of the ROM mounting section 3. The electrical connection part refers to these electrodes and wiring patterns.

【0025】半導体圧力センサ部1の電極(図示せず)
とIC部2の貫通配線14とは、バンプ4により電気的
接続されている。また、IC部2の配線パターン(図示
せず)とROM搭載部3の電極(図示せず)とは、バン
プ4により電気的接続されており、半導体圧力センサ部
1とIC部2とROM搭載部3との電気的接続が行われ
ている。IC部2の電極(図示せず)とインサート成形
により植設されたリード11とは、バンプ4とTAB
(TAPE AUTOMATED BONDING)5
により電気的接続されている。
Electrodes of semiconductor pressure sensor unit 1 (not shown)
And the through wiring 14 of the IC part 2 are electrically connected by the bump 4. The wiring pattern (not shown) of the IC section 2 and the electrodes (not shown) of the ROM mounting section 3 are electrically connected by bumps 4, and the semiconductor pressure sensor section 1, the IC section 2 and the ROM mounting section are mounted. The electrical connection with the unit 3 is established. The electrodes (not shown) of the IC section 2 and the leads 11 implanted by insert molding are connected to the bumps 4 and TAB.
(TAPE AUTOMATED BONDING) 5
Are electrically connected to each other.

【0026】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4とTAB5を用いた電気的接続を行い、半導体
圧力センサ部1とROM搭載部3を、電気的接続部を有
するチップ面の外形サイズが最も大きいIC部2に収ま
るように各々を積層するように立体的に配置すること
で、チップの実装面積を小さくすることができる。
In such a pressure sensor module,
Electrical connection using the bump 4 and the TAB 5 is performed, and the semiconductor pressure sensor unit 1 and the ROM mounting unit 3 are stacked so as to fit in the IC unit 2 having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. With such a three-dimensional arrangement, the chip mounting area can be reduced.

【0027】以下、本発明の第2実施形態を図2に基づ
いて説明する。図2は本発明の第2実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図である。第2実施形態
は、第1実施形態において、IC部2とリード11との
電気的接続をワイヤボンディングとしたものであるた
め、第1実施形態との共通部分の説明は省略する。
Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a sectional view showing a pressure sensor module according to a second embodiment of the present invention. In the second embodiment, the electrical connection between the IC unit 2 and the lead 11 is made by wire bonding in the first embodiment, and therefore, the description of the common parts with the first embodiment will be omitted.

【0028】図2に示すように、IC部2の貫通配線1
4とリード11とは、ワイヤ10により電気的接続がな
されている。
As shown in FIG. 2, the through wiring 1 of the IC section 2
The wires 4 and the leads 11 are electrically connected by wires 10.

【0029】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4とワイヤ10を用いた電気的接続を行い、半導
体圧力センサ部1とROM搭載部3を、電気的接続部を
有するチップ面の外形サイズが最も大きいIC部2に収
まるように各々を積層するように立体的に配置すること
で、チップの実装面積を小さくすることができる。
In such a pressure sensor module,
Electrical connection using the bumps 4 and the wires 10 is performed, and the semiconductor pressure sensor unit 1 and the ROM mounting unit 3 are stacked so as to fit in the IC unit 2 having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. By arranging the chips three-dimensionally, the chip mounting area can be reduced.

【0030】以下、本発明の第3実施形態を図3に基づ
いて説明する。図3は本発明の第3実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図である。第3実施形態
は、第1実施形態において、IC部2とROM搭載部3
との電気的接続方法を変更したものであるとしたもので
あるため、第1実施形態との共通部分の説明は省略す
る。
Hereinafter, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a sectional view showing a pressure sensor module according to a third embodiment of the present invention. The third embodiment is different from the first embodiment in that the IC unit 2 and the ROM mounting unit 3
Since the electrical connection method with the first embodiment has been changed, the description of the common parts with the first embodiment will be omitted.

【0031】IC部2の下面には、金属からなる電極
(図示せず)及び電極と電気的接触がなされる配線パタ
ーン(図示せず)が設けられている。ROM搭載部3の
上面には、金属からなる電極(図示せず)が設けられて
いる。
An electrode (not shown) made of metal and a wiring pattern (not shown) for making electrical contact with the electrode are provided on the lower surface of the IC section 2. On the upper surface of the ROM mounting section 3, an electrode (not shown) made of metal is provided.

【0032】図3に示すように、半導体圧力センサ部1
の電極(図示せず)とIC部2の電極(図示せず)と
は、バンプ4により電気的接続されている。また、IC
部2の電極(図示せず)とリード11とは、バンプ4と
TAB5により電気的接続されている。ROM搭載部3
の電極(図示せず)とリード11とは、ワイヤ10によ
り電気的接続がなされている。
As shown in FIG. 3, the semiconductor pressure sensor 1
The electrodes (not shown) of the IC section 2 and the electrodes (not shown) of the IC section 2 are electrically connected by bumps 4. Also, IC
The electrode (not shown) of the portion 2 and the lead 11 are electrically connected by the bump 4 and the TAB 5. ROM mounting part 3
The electrodes (not shown) and the leads 11 are electrically connected by wires 10.

【0033】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4、TAB5及びワイヤ10を用いた電気的接続
を行い、半導体圧力センサ部1、IC部2、ROM搭載
部3を、電気的接続部を有するチップ面の外形サイズが
最も大きいIC部2に収まるように各々を積層するよう
に立体的に配置することで、チップの実装面積を小さく
することができる。
In such a pressure sensor module,
Electrical connection using bumps 4, TABs 5, and wires 10 is performed, and the semiconductor pressure sensor unit 1, the IC unit 2, and the ROM mounting unit 3 are connected to the IC unit 2 having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. By three-dimensionally arranging the chips so as to fit them, the chip mounting area can be reduced.

【0034】ここで、第1実施形態乃至第3実施形態に
おいて、チップの積層方法は、中間部のチップがIC部
2であり、最上部のチップがROM搭載部3である例を
示したが、中間部のチップがROM搭載部3であり、最
上部のチップがIC部2であっても勿論よい。
Here, in the first to third embodiments, the example of the chip stacking method has been described in which the middle chip is the IC section 2 and the uppermost chip is the ROM mounting section 3. Of course, the middle chip may be the ROM mounting section 3 and the uppermost chip may be the IC section 2.

【0035】以下、本発明の第4実施形態を図4に基づ
いて説明する。図4は本発明の第4実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図である。
Hereinafter, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a sectional view showing a pressure sensor module according to a fourth embodiment of the present invention.

【0036】図4に示すように、パッケージのチップ搭
載面6aに対して、ROM搭載部3が最下部のチップで
あり、IC部2が中間部のチップであり、ROM搭載部
3及びIC部2を貫通し第1圧力導入孔9aに連通する
連通圧力導入孔9cを設け、半導体圧力センサ部1のダ
イヤフラム部1aが連通圧力導入孔9cからの圧力を受
けて変位するように半導体圧力センサ部1が連通圧力導
入孔9cを取り囲む形でIC部2の上面に搭載されてな
る。連通圧力導入孔9cは、連通圧力導入孔9cの中心
軸と第1圧力導入孔9aの中心軸とが一致するように設
け、第1圧力導入孔9aに加わる圧力が連通圧力導入孔
9cを通過する途中で低下しないように、ROM搭載部
3とIC部2との間の部分を閉塞するような構成にして
いる。
As shown in FIG. 4, with respect to the chip mounting surface 6a of the package, the ROM mounting section 3 is the lowermost chip, the IC section 2 is an intermediate chip, and the ROM mounting section 3 and the IC section. A communication pressure introducing hole 9c penetrating through the second pressure introducing hole 9a and communicating with the first pressure introducing hole 9a is provided, and the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor unit 1 is displaced by receiving the pressure from the communication pressure introducing hole 9c. 1 is mounted on the upper surface of the IC unit 2 so as to surround the communication pressure introducing hole 9c. The communication pressure introduction hole 9c is provided so that the central axis of the communication pressure introduction hole 9c and the central axis of the first pressure introduction hole 9a coincide, and the pressure applied to the first pressure introduction hole 9a passes through the communication pressure introduction hole 9c. The configuration is such that the portion between the ROM mounting unit 3 and the IC unit 2 is closed so as not to drop during the operation.

【0037】また、連通圧力導入孔9cとボディ部6の
第1圧力導入孔9aとの接続部は、段差がなく連続とな
るような構成にしている。このため、非測定物が液体の
ときには、エア(気泡)が接続部に残ることを防止する
ことができる。このため、エアが圧力により縮小して正
確な液体の圧力測定に支障をきたすことを防止すること
ができる。
The connecting portion between the communication pressure introducing hole 9c and the first pressure introducing hole 9a of the body portion 6 is configured to be continuous without any step. For this reason, when the non-measurement object is a liquid, it is possible to prevent air (bubbles) from remaining at the connection portion. For this reason, it is possible to prevent the air from contracting due to the pressure and hindering accurate measurement of the liquid pressure.

【0038】IC部2の上下の両面には、金属からなる
電極(図示せず)及び電極と電気的接触がなされる配線
パターン(図示せず)が形成され、上下面を貫通し配線
パターン(図示せず)に電気的接続された貫通配線14
が設けられている。ROM搭載部3の上面には、金属か
らなる電極(図示せず)が設けられている。
On both upper and lower surfaces of the IC portion 2, electrodes (not shown) made of metal and wiring patterns (not shown) for making electrical contact with the electrodes are formed. Through wiring 14 electrically connected to (not shown)
Is provided. On the upper surface of the ROM mounting section 3, an electrode (not shown) made of metal is provided.

【0039】半導体圧力センサ部1の電極(図示せず)
とIC部2の貫通配線14とは、ワイヤ10により電気
的接続がなされている。IC部2の貫通配線14とRO
M搭載部3の電極(図示せず)とは、バンプ4により電
気的接続がなされている。また、IC部2の貫通配線1
4とリード11とは、ワイヤ10により電気的接続がな
されている。また、半導体圧力センサ部1のダイヤフラ
ム部1a上面には、JCR(ジャンクションコートレジ
ン)などの表面を保護するゼリー状の封止樹脂30が設
けられている。
Electrodes of semiconductor pressure sensor 1 (not shown)
The wire 10 is electrically connected to the through wiring 14 of the IC unit 2. RO and the through wiring 14 of the IC unit 2
The electrodes (not shown) of the M mounting section 3 are electrically connected by bumps 4. Also, the through wiring 1 of the IC unit 2
The wires 4 and the leads 11 are electrically connected by wires 10. On the upper surface of the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor 1, a jelly-like sealing resin 30 for protecting the surface such as JCR (junction coat resin) is provided.

【0040】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4とワイヤ10を用いた電気的接続を行い、半導
体圧力センサ部1を、電気的接続部を有するチップ面の
外形サイズが最も大きいチップ(IC部2、ROM搭載
部3)に収まるように立体的に配置することで、チップ
の実装面積を小さくすることができる。
In such a pressure sensor module,
Electrical connection using the bumps 4 and the wires 10 is performed so that the semiconductor pressure sensor unit 1 is accommodated in a chip (IC unit 2, ROM mounting unit 3) having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. The three-dimensional arrangement can reduce the mounting area of the chip.

【0041】ここで、第4実施形態において、チップの
積層方法は、最下部のチップがROM搭載部3であり、
中間部のチップがIC部2である例を示したが、最下部
のチップがROM搭載部3であり、中間部のチップがR
OM搭載部3であっても勿論よい。また、連通圧力導入
孔9cは、テーパ状であっても勿論よく、複数個の孔で
形成されていても勿論よい。特に、連通圧力導入孔9c
が複数個の孔で構成されているときは、急激な圧力を緩
和することができ、圧力センサモジュールの破壊を防止
することができる。
Here, in the fourth embodiment, in the method of stacking chips, the lowermost chip is the ROM mounting portion 3,
Although the example in which the chip in the middle is the IC unit 2 is shown, the lowermost chip is the ROM mounting unit 3 and the chip in the middle is R
Of course, the OM mounting section 3 may be used. Further, the communication pressure introducing hole 9c may be tapered or may be formed of a plurality of holes. In particular, the communication pressure introduction hole 9c
When is formed with a plurality of holes, a sudden pressure can be relieved and the pressure sensor module can be prevented from being broken.

【0042】なお、半導体圧力センサ部1、IC部2、
ROM搭載部3を積層するように搭載する例は、第1実
施形態乃至第4実施形態に記載したものに限らず、例え
ばパッケージのチップ搭載面6aに対して、半導体圧力
センサ部1が中間部のチップであり、最下部のチップ
(IC部2又はROM搭載部3)にはその最下部のチッ
プを貫通し第1圧力導入孔9aに連通する連通圧力導入
孔(図示せず)を、連通圧力導入孔の中心軸と第1圧力
導入孔9aの中心軸とが一致するように設け、半導体圧
力センサ部1のダイヤフラム部1aが前記連通圧力導入
孔からの圧力を受けて変位するように半導体圧力センサ
部1が前記連通圧力導入孔を取り囲む形で最下部のチッ
プの上面に搭載され、半導体圧力センサ部1の上面にそ
の他(中間部のチップ、最下部のチップで使用していな
いチップ)を搭載するような構成でも勿論よい。
The semiconductor pressure sensor unit 1, the IC unit 2,
The example in which the ROM mounting sections 3 are mounted so as to be stacked is not limited to those described in the first to fourth embodiments. For example, the semiconductor pressure sensor section 1 may A communication pressure introducing hole (not shown) which penetrates the lowermost chip (the IC unit 2 or the ROM mounting unit 3) and penetrates the lowermost chip and communicates with the first pressure introducing hole 9a. The semiconductor pressure sensor is provided such that the central axis of the pressure introducing hole coincides with the central axis of the first pressure introducing hole 9a, and the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor unit 1 is displaced by receiving the pressure from the communication pressure introducing hole. The pressure sensor unit 1 is mounted on the upper surface of the lowermost chip so as to surround the communication pressure introducing hole, and the other is disposed on the upper surface of the semiconductor pressure sensor unit 1 (an intermediate chip, a chip not used in the lowermost chip). Equipped with Of course it may be of a configuration like.

【0043】以下の第5実施形態乃至第8実施形態に
は、半導体圧力センサ部1、IC部2、ROM搭載部3
の3つのチップのうち、2つのチップを、電気的接続部
を有するチップ面の外形サイズが最も大きいチップに並
設して搭載し、電気的接続部を有するチップ面の外形サ
イズが最も大きいチップにチップサイズを収めるタイプ
の例を示す。
In the following fifth to eighth embodiments, a semiconductor pressure sensor unit 1, an IC unit 2, a ROM mounting unit 3
Of the three chips, the two chips are mounted side by side on the chip having the largest external size of the chip surface having the electrical connection portion, and the chip having the largest external size of the chip surface having the electrical connection portion is provided. Fig. 1 shows an example of a type that accommodates the chip size.

【0044】以下、本発明の第5実施形態を図5に基づ
いて説明する。図5は本発明の第5実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図である。
Hereinafter, a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a sectional view showing a pressure sensor module according to a fifth embodiment of the present invention.

【0045】図5は、パッケージのチップ搭載面6aか
ら順に、1つの最下部のチップ、2つの最上部のチップ
を形成し、1つの最下部のチップに2つの最上部のチッ
プを並設するように搭載する場合を示している。電気的
接続部を有するチップ面の外形サイズが最も大きいチッ
プがIC部2(最下部のチップ)であり、IC部2には
このIC部2を貫通し第1圧力導入孔9aに連通する連
通圧力導入孔9dを、連通圧力導入孔9dの中心軸と第
1圧力導入孔9aの中心軸とが一致するように設け、半
導体圧力センサ部1のダイヤフラム部1aが連通圧力導
入孔9dからの圧力を受けて変位するように半導体圧力
センサ部1が連通圧力導入孔9dを取り囲む形でIC部
2の上面に搭載されてなる。また、IC部2の上面で半
導体圧力センサ部1が搭載されていない部分にROM搭
載部3を搭載してなる。
FIG. 5 shows that one lowermost chip and two uppermost chips are formed in this order from the chip mounting surface 6a of the package, and the two uppermost chips are arranged side by side on one lowermost chip. This is a case where it is mounted as follows. The chip having the largest outer surface size of the chip surface having the electrical connection portion is the IC portion 2 (the lowermost chip), and the IC portion 2 communicates with the first pressure introducing hole 9a through the IC portion 2. The pressure introducing hole 9d is provided so that the central axis of the communication pressure introducing hole 9d and the central axis of the first pressure introducing hole 9a coincide with each other, and the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor unit 1 applies pressure from the communicating pressure introducing hole 9d. The semiconductor pressure sensor section 1 is mounted on the upper surface of the IC section 2 so as to be displaced in response to the pressure and surrounding the communication pressure introducing hole 9d. Further, a ROM mounting section 3 is mounted on a portion of the upper surface of the IC section 2 where the semiconductor pressure sensor section 1 is not mounted.

【0046】また、連通圧力導入孔9dとボディ4の第
1圧力導入孔9aとの接続部は、段差がなく連続となる
ような構成にしており、第4実施形態で記載のよう効果
が得られる。
The connecting portion between the communication pressure introduction hole 9d and the first pressure introduction hole 9a of the body 4 is configured to be continuous without any step, and the effect as described in the fourth embodiment can be obtained. Can be

【0047】IC部2の上面には、金属からなる電極
(図示せず)及び電極と電気的接触がなされる配線パタ
ーン(図示せず)が設けられている。ROM搭載部3の
上面には、金属からなる電極(図示せず)が設けられて
いる。
An electrode (not shown) made of metal and a wiring pattern (not shown) for making electrical contact with the electrode are provided on the upper surface of the IC section 2. On the upper surface of the ROM mounting section 3, an electrode (not shown) made of metal is provided.

【0048】半導体圧力センサ部1の電極(図示せず)
及びROM搭載部3の電極(図示せず)は、ワイヤ10
によりIC部2の電極(図示せず)と電気的接続がなさ
れている。また、IC部2の電極(図示せず)とリード
11とは、ワイヤ10により電気的接続がなされてい
る。また、半導体圧力センサ部1のダイヤフラム部1a
上面には、JCR(ジャンクションコートレジン)など
の表面を保護するゼリー状の封止樹脂30が設けられて
いる。
Electrodes of semiconductor pressure sensor unit 1 (not shown)
And an electrode (not shown) of the ROM mounting section 3 is connected to a wire 10
Thus, an electrical connection is made with an electrode (not shown) of the IC unit 2. Further, an electrode (not shown) of the IC unit 2 and the lead 11 are electrically connected by a wire 10. Further, the diaphragm part 1a of the semiconductor pressure sensor part 1
A jelly-shaped sealing resin 30 for protecting the surface such as a JCR (junction coat resin) is provided on the upper surface.

【0049】かかる圧力センサモジュールにあっては、
ワイヤ10を用いた電気的接続を行い、半導体圧力セン
サ部1とROM搭載部3を、電気的接続部を有するチッ
プ面の外形サイズが最も大きいIC部2に収まるように
立体的に配置することで、チップの実装面積を小さくす
ることができる。
In such a pressure sensor module,
The electrical connection using the wire 10 is performed, and the semiconductor pressure sensor unit 1 and the ROM mounting unit 3 are three-dimensionally arranged so as to fit in the IC unit 2 having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. Thus, the chip mounting area can be reduced.

【0050】ここで、第5実施形態において、チップの
配置方法は、1つの最下部のチップがIC部2である例
を示したが、1つの最下部のチップがROM搭載部3で
あり、ROM搭載部3に連通圧力導入孔(図示せず)に
設ける構成であっても勿論よい。また、連通圧力導入孔
9dは、第4実施形態にも記載したようにテーパ状であ
っても、複数個の孔で形成されていても勿論よい。
Here, in the fifth embodiment, an example in which one lowermost chip is the IC unit 2 has been described as a method of arranging chips, but one lowermost chip is the ROM mounting unit 3. Of course, the configuration may be such that the ROM mounting portion 3 is provided in a communication pressure introducing hole (not shown). Further, the communication pressure introducing hole 9d may be tapered as described in the fourth embodiment, or may be formed of a plurality of holes.

【0051】以下、本発明の第6実施形態を図6に基づ
いて説明する。図6は本発明の第6実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図である。
Hereinafter, a sixth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a sectional view showing a pressure sensor module according to a sixth embodiment of the present invention.

【0052】図6は、パッケージのチップ搭載面6aか
ら順に、2つの最下部のチップ、1つの最上部のチップ
を形成し、1つの最上部のチップに2つの最下部のチッ
プを並設するように搭載する場合を示している。前記外
形サイズが最も大きいチップがIC部2(最上部のチッ
プ)であり、最下部のチップが半導体圧力センサ部1と
ROM搭載部3であり、半導体圧力センサ部1のダイヤ
フラム部1aが第1圧力導入孔9aからの圧力を受けて
変位するように第1圧力導入孔9aを取り囲む形で搭載
してなる。
FIG. 6 shows that two lowermost chips and one uppermost chip are formed in order from the chip mounting surface 6a of the package, and the two lowermost chips are arranged side by side on one uppermost chip. This is a case where it is mounted as follows. The chip having the largest external size is the IC section 2 (uppermost chip), the lowermost chip is the semiconductor pressure sensor section 1 and the ROM mounting section 3, and the diaphragm section 1a of the semiconductor pressure sensor section 1 is the first. It is mounted so as to surround the first pressure introducing hole 9a so as to be displaced by receiving the pressure from the pressure introducing hole 9a.

【0053】IC部2の上下の両面には、金属からなる
電極(図示せず)及び電極と電気的接触がなされる配線
パターン(図示せず)が形成され、上下面を貫通し配線
パターン(図示せず)に電気的接続された貫通配線14
が設けられている。ROM搭載部3の上面には、金属か
らなる電極(図示せず)及び電極と電気的接触がなされ
る配線パターン(図示せず)が設けられている。
On both upper and lower surfaces of the IC section 2, electrodes (not shown) made of metal and wiring patterns (not shown) for making electrical contact with the electrodes are formed. Through wiring 14 electrically connected to (not shown)
Is provided. On the upper surface of the ROM mounting portion 3, there are provided an electrode (not shown) made of metal and a wiring pattern (not shown) for making electrical contact with the electrode.

【0054】半導体圧力センサ部1の電極(図示せず)
は、バンプ4によりIC部2の貫通配線14及び電極
(図示せず)と電気的接続がなされている。ROM搭載
部3の電極(図示せず)は、バンプ4によりIC部2の
貫通配線14及び電極(図示せず)と電気的接続がなさ
れている。また、IC部2の貫通配線14とリード11
とは、ワイヤ10により電気的接続がなされている。
Electrodes of semiconductor pressure sensor unit 1 (not shown)
Are electrically connected to the through wires 14 and electrodes (not shown) of the IC section 2 by the bumps 4. The electrodes (not shown) of the ROM mounting section 3 are electrically connected to the through wirings 14 and the electrodes (not shown) of the IC section 2 by the bumps 4. Also, the through wiring 14 and the lead 11 of the IC unit 2
Is electrically connected by the wire 10.

【0055】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4とワイヤ10を用いた電気的接続を行い、半導
体圧力センサ部1、IC部2、ROM搭載部3を、電気
的接続部を有するチップ面の外形サイズが最も大きいI
C部2に収まるように立体的に配置することで、チップ
の実装面積を小さくすることができる。
In such a pressure sensor module,
Electrical connection using the bumps 4 and the wires 10 is performed, and the semiconductor pressure sensor unit 1, the IC unit 2, and the ROM mounting unit 3 are connected to the IC surface having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit.
By arranging three-dimensionally so as to fit in the C section 2, the mounting area of the chip can be reduced.

【0056】以下、本発明の第7実施形態を図7に基づ
いて説明する。図7は本発明の第7実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図である。第7実施形態
は、第6実施形態において、IC部2とリード11との
電気的接続方法を変更したものであるとしたものである
ため、第6実施形態との共通部分の説明は省略する。
Hereinafter, a seventh embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a sectional view showing a pressure sensor module according to a seventh embodiment of the present invention. The seventh embodiment is different from the sixth embodiment in that the electrical connection method between the IC unit 2 and the lead 11 is changed. Therefore, the description of the common parts with the sixth embodiment will be omitted. .

【0057】図7に示すように、IC部2の下面には、
金属からなる電極(図示せず)及び電極と電気的接触が
なされる配線パターン(図示せず)が設けられている。
As shown in FIG. 7, on the lower surface of the IC section 2,
An electrode (not shown) made of metal and a wiring pattern (not shown) for making electrical contact with the electrode are provided.

【0058】半導体圧力センサ部1の電極(図示せず)
は、バンプ4によりIC部2電極(図示せず)と電気的
接続がなされている。ROM搭載部3の電極(図示せ
ず)は、バンプ4によりIC部2の電極(図示せず)と
電気的接続がなされている。また、IC部2の電極(図
示せず)とリード11とは、ワイヤ10により電気的接
続がなされている。そのため、第6実施形態のようにI
C部2には貫通配線14を施す必要はない。
Electrodes of semiconductor pressure sensor 1 (not shown)
Are electrically connected to the electrodes (not shown) of the IC unit 2 by the bumps 4. The electrodes (not shown) of the ROM mounting section 3 are electrically connected to the electrodes (not shown) of the IC section 2 by bumps 4. Further, an electrode (not shown) of the IC unit 2 and the lead 11 are electrically connected by a wire 10. Therefore, as in the sixth embodiment, I
It is not necessary to provide the through wiring 14 in the C portion 2.

【0059】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4とTAB5を用いた電気的接続を行い、半導体
圧力センサ部1とROM搭載部3を、電気的接続部を有
するチップ面の外形サイズが最も大きいIC部2に収ま
るように立体的に配置することで、チップの実装面積を
小さくすることができる。
In such a pressure sensor module,
Electrical connection using the bump 4 and the TAB 5 is performed, and the semiconductor pressure sensor unit 1 and the ROM mounting unit 3 are three-dimensionally arranged so as to fit in the IC unit 2 having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. By doing so, the mounting area of the chip can be reduced.

【0060】ここで、第6実施形態及び第7実施形態に
おいて、チップの配置方法は、2つの最下部のチップが
半導体圧力センサ部1とROM搭載部3である例を示し
たが、2つの最下部のチップが半導体圧力センサ部1と
IC部2である構成であっても勿論よい。
Here, in the sixth embodiment and the seventh embodiment, the example of the chip arrangement method has shown an example in which the two lowermost chips are the semiconductor pressure sensor unit 1 and the ROM mounting unit 3. Of course, the lowermost chip may have a configuration in which the semiconductor pressure sensor unit 1 and the IC unit 2 are provided.

【0061】以下、本発明の第8実施形態を図8に基づ
いて説明する。図8は本発明の第8実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図である。
Hereinafter, an eighth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a sectional view showing a pressure sensor module according to an eighth embodiment of the present invention.

【0062】図8は、パッケージのチップ搭載面6aに
対して、チップ搭載面6aから順に、1つの最下部のチ
ップ、2つの最上部のチップを形成し、最下部のチップ
にその他の2つのチップを並設するように搭載する場合
を示している。前記外形サイズが最も大きいチップが半
導体圧力センサ部1であり、半導体圧力センサ部1のダ
イヤフラム部1aが第1圧力導入孔9aからの圧力を受
けて変位するように第1圧力導入孔9aを取り囲む形で
半導体圧力センサ部1を搭載してなる。
FIG. 8 shows that one lowermost chip and two uppermost chips are formed on the chip mounting surface 6a of the package in order from the chip mounting surface 6a, and the other two chips are formed on the lowermost chip. This shows a case where chips are mounted so as to be arranged side by side. The chip having the largest external size is the semiconductor pressure sensor unit 1, and surrounds the first pressure introduction hole 9a such that the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor unit 1 is displaced by receiving the pressure from the first pressure introduction hole 9a. The semiconductor pressure sensor unit 1 is mounted in the form.

【0063】IC部2の下面には、金属からなる電極
(図示せず)及び電極と電気的接触がなされる配線パタ
ーン(図示せず)が設けられている。ROM搭載部3の
下面には、金属からなる電極(図示せず)が設けられて
いる。
An electrode (not shown) made of metal and a wiring pattern (not shown) for making electrical contact with the electrode are provided on the lower surface of the IC section 2. An electrode (not shown) made of metal is provided on the lower surface of the ROM mounting section 3.

【0064】半導体圧力センサ部1の電極(図示せず)
は、バンプ4によりIC部2の電極(図示せず)及びR
OM搭載部3の電極(図示せず)とワイヤ10により電
気的接続がなされている。また、IC部2の電極(図示
せず)とROM搭載部3の電極(図示せず)とは、ワイ
ヤ10により電気的接続がなされている。また、半導体
圧力センサ部1のダイヤフラム部1a上面には、JCR
(ジャンクションコートレジン)などの表面を保護する
ゼリー状の封止樹脂30が設けられている。
Electrodes of semiconductor pressure sensor unit 1 (not shown)
Are connected to the electrodes (not shown) of the IC section 2 and the R
The electrodes (not shown) of the OM mounting unit 3 are electrically connected to the wires 10 by wires 10. Further, an electrode (not shown) of the IC section 2 and an electrode (not shown) of the ROM mounting section 3 are electrically connected by wires 10. Also, a JCR is provided on the upper surface of the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor 1.
A jelly-shaped sealing resin 30 for protecting the surface of (junction coat resin) or the like is provided.

【0065】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4とワイヤ10を用いた電気的接続を行い、IC
部2とROM搭載部3を、電気的接続部を有するチップ
面の外形サイズが最も大きい半導体圧力センサ部1に収
まるように立体的に配置することで、チップの実装面積
を小さくすることができる。
In such a pressure sensor module,
The electrical connection using the bump 4 and the wire 10 is performed, and the IC
The mounting area of the chip can be reduced by arranging the unit 2 and the ROM mounting unit 3 in a three-dimensional manner so as to fit in the semiconductor pressure sensor unit 1 having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. .

【0066】なお、第8実施形態に記載したチップの配
置方法に限らず、例えばパッケージのチップ搭載面6a
から順に2つの最下部のチップ及び1つの最上部のチッ
プを形成し、最上部のチップにその他の2つのチップを
並設するように搭載する場合、前記外形サイズが最も大
きいチップが半導体圧力センサ部1であるとき、IC部
2及びROM搭載部3をチップ搭載面6aに搭載し、I
C部2及びROM搭載部3の各々の端部一部を支持部と
して半導体圧力センサ部1のダイヤフラム部1aが第1
圧力導入孔9aからの圧力を受けて変位するように第1
圧力導入孔9aを取り囲む形で半導体圧力センサ部1を
搭載した構成であっても勿論よい。
The present invention is not limited to the chip placement method described in the eighth embodiment.
When two lowermost chips and one uppermost chip are formed in this order, and the other two chips are mounted side by side on the uppermost chip, the chip having the largest external size is the semiconductor pressure sensor. In the case of the unit 1, the IC unit 2 and the ROM mounting unit 3 are mounted on the chip mounting surface 6a.
The diaphragm part 1a of the semiconductor pressure sensor part 1 is a first part with a part of each end of the C part 2 and the ROM mounting part 3 as a support part.
The first so as to be displaced by receiving the pressure from the pressure introducing hole 9a.
Of course, a configuration in which the semiconductor pressure sensor unit 1 is mounted so as to surround the pressure introducing hole 9a may be used.

【0067】以降には、上述の第1実施形態乃至第8実
施形態に記載した半導体圧力センサ部1、IC部2、R
OM搭載部3の3チップの搭載タイプ以外の例を示す。
Hereinafter, the semiconductor pressure sensor unit 1, the IC unit 2, and the R are described in the first to eighth embodiments.
Examples other than the three-chip mounting type of the OM mounting unit 3 are shown.

【0068】以下、本発明の第9実施形態を図9に基づ
いて説明する。図9は本発明の第9実施形態に係る圧力
センサモジュールを示す断面図である。
Hereinafter, a ninth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a sectional view showing a pressure sensor module according to a ninth embodiment of the present invention.

【0069】図9に示すように、下層部がROM搭載部
3であり上層部がIC部2であるIC部2とROM搭載
部3とを積層してなる積層部20を形成し、積層部20
にはこの積層部20を貫通し第1圧力導入孔9aと連通
する収容部21を有してなり、収容部21に半導体圧力
センサ部1のダイヤフラム部1aが第1圧力導入孔9a
からの圧力を受けて変位するように第1圧力導入孔9a
を取り囲む形で半導体圧力センサ部1を搭載してなる。
As shown in FIG. 9, a laminated portion 20 is formed by laminating an IC portion 2 in which a lower layer portion is a ROM mounting portion 3 and an upper layer portion is an IC portion 2 and a ROM mounting portion 3. 20
Has a housing 21 which penetrates through the laminated portion 20 and communicates with the first pressure introducing hole 9a. The diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor 1 is provided in the housing 21 with the first pressure introducing hole 9a.
1st pressure introducing hole 9a so as to be displaced by receiving pressure from
The semiconductor pressure sensor unit 1 is mounted so as to surround the device.

【0070】IC部2の上下の両面には、金属からなる
電極(図示せず)及び電極と電気的接触がなされる配線
パターン(図示せず)が形成され、上下面を貫通し配線
パターン(図示せず)に電気的接続された貫通配線14
が設けられている。ROM搭載部3には、金属からなる
電極(図示せず)が設けられている。
On both upper and lower surfaces of the IC section 2, electrodes (not shown) made of metal and wiring patterns (not shown) for making electrical contact with the electrodes are formed. Through wiring 14 electrically connected to (not shown)
Is provided. The ROM mounting section 3 is provided with an electrode (not shown) made of metal.

【0071】半導体圧力センサ部1の電極(図示せず)
とIC部2の貫通配線14とは、ワイヤ10により電気
的接続がなされている。IC部2の貫通配線14とRO
M搭載部3の電極(図示せず)とは、バンプ4により電
気的接続がなされている。また、IC部2の貫通配線1
4とリード11とは、ワイヤ10により電気的接続がな
されている。また、半導体圧力センサ部1のダイヤフラ
ム部1a上面には、JCR(ジャンクションコートレジ
ン)などの表面を保護するゼリー状の封止樹脂30が設
けられている。
Electrodes of semiconductor pressure sensor unit 1 (not shown)
The wire 10 is electrically connected to the through wiring 14 of the IC unit 2. RO and the through wiring 14 of the IC unit 2
The electrodes (not shown) of the M mounting section 3 are electrically connected by bumps 4. Also, the through wiring 1 of the IC unit 2
The wires 4 and the leads 11 are electrically connected by wires 10. On the upper surface of the diaphragm 1a of the semiconductor pressure sensor 1, a jelly-like sealing resin 30 for protecting the surface such as JCR (junction coat resin) is provided.

【0072】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4とワイヤ10を用いた電気的接続を行い、半導
体圧力センサ部1を、電気的接続部を有するチップ面の
外形サイズが最も大きいチップ(IC部2、ROM搭載
部3)に収まるように立体的に配置することで、チップ
の実装面積を小さくすることができる。
In such a pressure sensor module,
Electrical connection using the bumps 4 and the wires 10 is performed so that the semiconductor pressure sensor unit 1 is accommodated in a chip (IC unit 2, ROM mounting unit 3) having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. The three-dimensional arrangement can reduce the mounting area of the chip.

【0073】ここで、第9実施形態において、チップの
配置方法は、積層部20を構成する下層部がROM搭載
部3であり、積層部20を構成する上層部がIC部2で
ある例を示したが、積層部20を構成する下層部がIC
部2であり、積層部20を構成する上層部がROM搭載
部3である構成であっても勿論よい。
Here, in the ninth embodiment, the method of arranging the chips is such that the lower layer constituting the laminated section 20 is the ROM mounting section 3 and the upper layer constituting the laminated section 20 is the IC section 2. As shown in FIG.
It is a matter of course that the upper part constituting the laminated part 20 which is the part 2 is the ROM mounting part 3.

【0074】以下、本発明の第10実施形態を図10に
基づいて説明する。図10は本発明の第10実施形態に
係る圧力センサモジュールを示す断面図である。
Hereinafter, a tenth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 10 is a sectional view showing a pressure sensor module according to a tenth embodiment of the present invention.

【0075】図10に示すように、ROM搭載部3は、
パッケージのチップ搭載面6aに対して、チップ搭載面
6aから最下部のチップを形成し、ROM搭載部3には
このROM搭載部3を貫通し第1圧力導入孔9aと連通
する第2圧力導入孔9bを有してなり、第2圧力導入孔
9bは、第2圧力導入孔9bの中心軸と第1圧力導入孔
9aの中心軸とが一致するように設け、ROM搭載部3
の上面に半導体圧力センサ部1が第2圧力導入孔9bを
取り囲むようにして搭載され、半導体圧力センサ部1が
搭載されていないROM搭載部3の上面に、半導体圧力
センサ部1を収容することができる収容部21を設けた
IC部2が搭載されてなる。電気的接続方法は、第9実
施形態に示した方法と同様であるため説明は省略する。
As shown in FIG. 10, the ROM mounting section 3
A lowermost chip is formed from the chip mounting surface 6a with respect to the chip mounting surface 6a of the package, and a second pressure introduction penetrating the ROM mounting portion 3 and communicating with the first pressure introducing hole 9a is formed in the ROM mounting portion 3. The second pressure introducing hole 9b is provided so that the central axis of the second pressure introducing hole 9b and the central axis of the first pressure introducing hole 9a coincide with each other.
The semiconductor pressure sensor unit 1 is mounted on the upper surface of the ROM so as to surround the second pressure introducing hole 9b, and the semiconductor pressure sensor unit 1 is accommodated on the upper surface of the ROM mounting unit 3 on which the semiconductor pressure sensor unit 1 is not mounted. The IC section 2 provided with the accommodating section 21 capable of mounting is mounted. The electrical connection method is the same as the method described in the ninth embodiment, and a description thereof will not be repeated.

【0076】また、第2圧力導入孔9bとボディ4の第
1圧力導入孔9aとの接続部は、段差がなく連続となる
ような構成にしており、第4実施形態で記載のよう効果
が得られる。
Further, the connecting portion between the second pressure introducing hole 9b and the first pressure introducing hole 9a of the body 4 is configured to be continuous without any step, and the effect as described in the fourth embodiment is obtained. can get.

【0077】かかる圧力センサモジュールにあっては、
バンプ4とワイヤ10を用いた電気的接続を行い、半導
体圧力センサ部1、IC部2、ROM搭載部3を、電気
的接続部を有するチップ面の外形サイズが最も大きいチ
ップに収まるように立体的に配置することで、チップの
実装面積を小さくすることができる。
In such a pressure sensor module,
Electrical connection using the bumps 4 and the wires 10 is performed, and the semiconductor pressure sensor unit 1, the IC unit 2, and the ROM mounting unit 3 are three-dimensionally mounted so as to fit on the chip having the largest external size of the chip surface having the electrical connection unit. With such an arrangement, the chip mounting area can be reduced.

【0078】ここで、第10実施形態において、チップ
の配置方法は、最下部のチップが第2圧力導入孔9bを
有してなるROM搭載部3であり、最下部のチップの上
部が収容部21を有してなるIC部2である例を示した
が、最下部のチップが第2圧力導入孔9bを有してなる
IC部2であり、最下部のチップの上部が収容部21を
有してなるROM搭載部3である構成であっても勿論よ
い。また、第2圧力導入孔9bは、第4実施形態にも記
載したようにテーパ状であっても、複数個の孔で形成さ
れていても勿論よい。
Here, in the tenth embodiment, the method of arranging the chips is such that the lowermost chip is the ROM mounting section 3 having the second pressure introducing hole 9b, and the upper part of the lowermost chip is the accommodation section. Although the example in which the IC part 2 includes the IC chip 21 is shown, the lowermost chip is the IC part 2 having the second pressure introduction hole 9b, and the upper part of the lowermost chip is the housing part 21. Of course, the configuration may be the ROM mounting section 3 provided. Further, the second pressure introducing hole 9b may be tapered as described in the fourth embodiment or may be formed of a plurality of holes.

【0079】なお、本発明は上記の実施形態の圧力セン
サモジュールに限定されるものではなく、特許請求の範
囲の請求項に記載する内容の範囲で、各種の変形が可能
であり、本発明はこれらの全てを含むものである。
Note that the present invention is not limited to the pressure sensor module of the above embodiment, and various modifications are possible within the scope of the claims. All of these are included.

【0080】[0080]

【発明の効果】上記のように本発明に係る請求項1乃至
請求項5のいずれかに記載の圧力センサモジュールにあ
っては、圧力により変位するダイヤフラム部を有し該ダ
イヤフラム部の変位により圧力を検出する機能を有して
なる半導体圧力センサ部と、該半導体圧力センサ部を制
御する機能を有してなるIC部と、前記半導体圧力セン
サ部の特性補正を行うトリミング機能を有してなるRO
M搭載部の3つのチップのうち、電気的接続部を有する
チップ面の外形サイズが最も大きいチップサイズ内に収
まるように、その他の2つのチップを搭載し、前記半導
体圧力センサ部のダイヤフラム部が第1圧力導入孔から
の圧力を受けて変位するように前記半導体圧力センサ部
を搭載するようにしたもので、前記3つのチップを立体
的に配置することで、チップの実装面積を小さくするこ
とができ、小型化した圧力センサモジュールを提供する
ことができるという効果を奏する。
As described above, in the pressure sensor module according to any one of the first to fifth aspects of the present invention, the pressure sensor module has a diaphragm portion that is displaced by pressure, and the pressure is increased by the displacement of the diaphragm portion. A semiconductor pressure sensor unit having a function of detecting the pressure, an IC unit having a function of controlling the semiconductor pressure sensor unit, and a trimming function of correcting characteristics of the semiconductor pressure sensor unit. RO
Of the three chips of the M mounting portion, the other two chips are mounted so that the outer size of the chip surface having the electrical connection portion is within the largest chip size, and the diaphragm portion of the semiconductor pressure sensor portion is The semiconductor pressure sensor unit is mounted so as to be displaced by receiving a pressure from the first pressure introduction hole. The three-dimensional arrangement of the three chips reduces the chip mounting area. Therefore, it is possible to provide a pressure sensor module having a reduced size.

【0081】また、請求項6又は請求項7に記載の圧力
センサモジュールにあっては、請求項1乃至請求項5の
いずれかに記載の発明において、前記半導体圧力センサ
部と前記IC部と前記ROM搭載部の前記電気的接続部
は、バンプとTAB又は、バンプとボンディングワイヤ
とを併用して電気的接続を行うもので、ボンディングワ
イヤのみを用いた場合に比べ各チップ間を立体的に搭載
するに際し、電気的接続の作業がしやすいという効果を
奏する。また、チップ及びその電気的接続部分を接続す
る手段からなる実装空間がより小さくなるという効果を
奏する。
According to a sixth aspect of the present invention, in the pressure sensor module according to any one of the first to fifth aspects, the semiconductor pressure sensor unit, the IC unit, The electrical connection portion of the ROM mounting portion is used for making an electrical connection using both a bump and a TAB or a bump and a bonding wire, and is mounted three-dimensionally between chips as compared to a case where only a bonding wire is used. In doing so, there is an effect that the work of electrical connection is easy. In addition, there is an effect that the mounting space including the means for connecting the chip and the electrical connection portion thereof becomes smaller.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a pressure sensor module according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a pressure sensor module according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 3 is a view showing a pressure sensor module according to a third embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第4実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a pressure sensor module according to a fourth embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第5実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 5 is a view showing a pressure sensor module according to a fifth embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第6実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 6 is a view showing a pressure sensor module according to a sixth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第7実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 7 is a view showing a pressure sensor module according to a seventh embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第8実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 8 is a view showing a pressure sensor module according to an eighth embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第9実施形態に係る圧力センサモジュ
ールを示す図である。
FIG. 9 is a view showing a pressure sensor module according to a ninth embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第10実施形態に係る圧力センサモ
ジュールを示す図である。
FIG. 10 is a view showing a pressure sensor module according to a tenth embodiment of the present invention.

【図11】従来例に係る圧力センサモジュールを示す図
である。
FIG. 11 is a diagram showing a pressure sensor module according to a conventional example.

【符号の説明】 1 半導体圧力センサ部 2 IC部 3 ROM搭載部 4 バンプ 5 TAB 6 ボディ部 7 カバー部 8 空間部 9 圧力導入管 10 ワイヤ 11 リード 14 貫通配線 20 積層部 21 収容部 30 封止樹脂[Description of Signs] 1 Semiconductor pressure sensor section 2 IC section 3 ROM mounting section 4 Bump 5 TAB 6 Body section 7 Cover section 8 Space section 9 Pressure introduction pipe 10 Wire 11 Lead 14 Through wiring 20 Stacking section 21 Housing section 30 Sealing resin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F055 AA40 BB20 CC02 DD04 EE13 FF11 FF23 GG12 GG14 GG25 HH05 4M112 AA01 BA01 CA12 CA13 CA15 DA17 GA01 GA03  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2F055 AA40 BB20 CC02 DD04 EE13 FF11 FF23 GG12 GG14 GG25 HH05 4M112 AA01 BA01 CA12 CA13 CA15 DA17 GA01 GA03

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 圧力により変位するダイヤフラム部を有
し該ダイヤフラム部の変位により圧力を検出する機能を
有してなる半導体圧力センサ部と、該半導体圧力センサ
部を制御する機能を有してなるIC部と、前記半導体圧
力センサ部の特性補正を行うトリミング機能を有してな
るROM搭載部と、前記半導体圧力センサ部と前記IC
部と前記ROM搭載部とを搭載し前記ダイヤフラム部に
圧力を導入する第1圧力導入孔を有してなるパッケージ
と、を備えてなる圧力センサモジュールにおいて、 前記半導体圧力センサ部と前記IC部と前記ROM搭載
部の3つのチップのうち、電気的接続部を有するチップ
面の外形サイズが最も大きいチップサイズ内に収まるよ
うに、その他の2つのチップを搭載し、前記半導体圧力
センサ部のダイヤフラム部が前記第1圧力導入孔からの
圧力を受けて変位するように前記半導体圧力センサ部を
搭載することを特徴とする圧力センサモジュール。
1. A semiconductor pressure sensor unit having a diaphragm part displaced by pressure and having a function of detecting pressure by displacement of the diaphragm part, and a function of controlling the semiconductor pressure sensor part. An IC section, a ROM mounting section having a trimming function for correcting characteristics of the semiconductor pressure sensor section, the semiconductor pressure sensor section and the IC
And a package having a first pressure introducing hole for introducing pressure into the diaphragm portion, the semiconductor pressure sensor portion and the IC portion. The other two chips are mounted so that the outer size of the chip surface having the electrical connection portion is within the largest chip size among the three chips of the ROM mounting portion, and the diaphragm portion of the semiconductor pressure sensor portion is mounted. Wherein the semiconductor pressure sensor is mounted so that the semiconductor pressure sensor is displaced by receiving a pressure from the first pressure introduction hole.
【請求項2】 前記半導体圧力センサ部と前記IC部と
前記ROM搭載部の3つのチップは、前記パッケージの
チップ搭載面から順に最下部のチップ、中間部のチッ
プ、最上部のチップを形成するように積層して搭載した
ことを特徴とする請求項1に記載の圧力センサモジュー
ル。
2. The three chips of the semiconductor pressure sensor part, the IC part, and the ROM mounting part form a lowermost chip, an intermediate chip, and an uppermost chip in order from the chip mounting surface of the package. The pressure sensor module according to claim 1, wherein the pressure sensor module is mounted in a stacked manner as described above.
【請求項3】 前記半導体圧力センサ部と前記IC部と
前記ROM搭載部の3つのチップのうち、電気的接続部
を有するチップ面の外形サイズが最も大きい1つのチッ
プに、その他の2つのチップを並設するように搭載する
ことを特徴とする請求項1に記載の圧力センサモジュー
ル。
3. The three chips of the semiconductor pressure sensor section, the IC section, and the ROM mounting section, one chip having the largest external size of a chip surface having an electrical connection section, and the other two chips The pressure sensor module according to claim 1, wherein the pressure sensor modules are mounted so as to be arranged side by side.
【請求項4】 前記IC部と前記ROM搭載部とを積層
してなる積層部を形成し、該積層部には該積層部を貫通
し前記第1圧力導入孔と連通する収容部を有してなり、
該収容部に前記半導体圧力センサ部のダイヤフラム部が
前記第1圧力導入孔からの圧力を受けて変位するように
前記第1圧力導入孔を取り囲む形で前記半導体圧力セン
サ部を搭載することを特徴とする請求項1に記載の圧力
センサモジュール。
4. A laminated portion is formed by laminating the IC portion and the ROM mounting portion, and the laminated portion has an accommodating portion penetrating through the laminated portion and communicating with the first pressure introducing hole. Become
The semiconductor pressure sensor unit is mounted in the housing so as to surround the first pressure introduction hole such that a diaphragm of the semiconductor pressure sensor unit is displaced by receiving a pressure from the first pressure introduction hole. The pressure sensor module according to claim 1, wherein
【請求項5】 前記IC部又は前記ROM搭載部のどち
らか一方のチップは、前記パッケージのチップ搭載面に
対して最下部のチップを形成し、該最下部のチップには
該最下部のチップを貫通し前記第1圧力導入孔と連通す
る第2圧力導入孔を有してなり、前記最下部のチップの
上に前記半導体圧力センサ部が前記第2圧力導入孔を取
り囲むようにして搭載され、前記最下部のチップの上面
で、前記半導体圧力センサ部が搭載されていない部分に
前記半導体圧力センサ部を収容することができる収容部
を設けた他方のチップが搭載されてなることを特徴とす
る請求項1に記載の圧力センサモジュール。
5. The chip of one of the IC section and the ROM mounting section forms a lowermost chip with respect to a chip mounting surface of the package, and the lowermost chip includes the lowermost chip. And a second pressure introducing hole communicating with the first pressure introducing hole. The semiconductor pressure sensor is mounted on the lowermost chip so as to surround the second pressure introducing hole. Wherein the other chip provided with a housing portion capable of housing the semiconductor pressure sensor unit is mounted on a portion of the upper surface of the lowermost chip where the semiconductor pressure sensor unit is not mounted. The pressure sensor module according to claim 1.
【請求項6】 前記半導体圧力センサ部と前記IC部と
前記ROM搭載部の前記電気的接続部は、バンプとTA
Bとを併用して電気的接続を行うことを特徴とする請求
項1乃至請求項5のいずれかに記載の圧力センサモジュ
ール。
6. The semiconductor pressure sensor section, the IC section, and the electrical connection section of the ROM mounting section are provided with bumps and TAs.
The pressure sensor module according to any one of claims 1 to 5, wherein the electrical connection is performed by using together with B.
【請求項7】 前記半導体圧力センサ部と前記IC部と
前記ROM搭載部の前記電気的接続部は、バンプとボン
ディングワイヤとを併用して電気的接続を行うことを特
徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の圧力
センサモジュール。
7. The semiconductor pressure sensor section, the IC section, and the electrical connection section of the ROM mounting section perform electrical connection by using both a bump and a bonding wire. The pressure sensor module according to claim 5.
JP2000364025A 2000-11-30 2000-11-30 Pressure sensor module Pending JP2002168716A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000364025A JP2002168716A (en) 2000-11-30 2000-11-30 Pressure sensor module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000364025A JP2002168716A (en) 2000-11-30 2000-11-30 Pressure sensor module

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002168716A true JP2002168716A (en) 2002-06-14

Family

ID=18835039

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000364025A Pending JP2002168716A (en) 2000-11-30 2000-11-30 Pressure sensor module

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002168716A (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006098206A (en) * 2004-09-29 2006-04-13 Kyocera Corp Package for pressure detection device, and pressure detection device
JP2006189418A (en) * 2004-12-06 2006-07-20 Denso Corp Sensor device
US7228745B2 (en) 2004-09-16 2007-06-12 Denso Corporation Pressure sensor
JP2007192773A (en) * 2006-01-23 2007-08-02 Denso Corp Mounting structure of pressure sensor element
US7268435B2 (en) 2003-03-07 2007-09-11 Denso Corporation Capacitive semiconductor sensor
JP2010078451A (en) * 2008-09-25 2010-04-08 Panasonic Electric Works Co Ltd Infrared sensor and infrared sensor module
JP2010078452A (en) * 2008-09-25 2010-04-08 Panasonic Electric Works Co Ltd Infrared sensor and infrared sensor module
US8426864B2 (en) 2008-09-25 2013-04-23 Panasonic Corporation Infrared sensor
US8445848B2 (en) 2009-03-31 2013-05-21 Panasonic Corporation Infrared array sensor
JP2015068800A (en) * 2013-09-30 2015-04-13 セイコーエプソン株式会社 Pressure sensor, electronic device, and mobile body

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7268435B2 (en) 2003-03-07 2007-09-11 Denso Corporation Capacitive semiconductor sensor
US7228745B2 (en) 2004-09-16 2007-06-12 Denso Corporation Pressure sensor
JP2006098206A (en) * 2004-09-29 2006-04-13 Kyocera Corp Package for pressure detection device, and pressure detection device
JP4535825B2 (en) * 2004-09-29 2010-09-01 京セラ株式会社 Pressure detection device package and pressure detection device
JP2006189418A (en) * 2004-12-06 2006-07-20 Denso Corp Sensor device
JP2007192773A (en) * 2006-01-23 2007-08-02 Denso Corp Mounting structure of pressure sensor element
JP2010078451A (en) * 2008-09-25 2010-04-08 Panasonic Electric Works Co Ltd Infrared sensor and infrared sensor module
JP2010078452A (en) * 2008-09-25 2010-04-08 Panasonic Electric Works Co Ltd Infrared sensor and infrared sensor module
US8426864B2 (en) 2008-09-25 2013-04-23 Panasonic Corporation Infrared sensor
US8445848B2 (en) 2009-03-31 2013-05-21 Panasonic Corporation Infrared array sensor
JP2015068800A (en) * 2013-09-30 2015-04-13 セイコーエプソン株式会社 Pressure sensor, electronic device, and mobile body
US9664581B2 (en) 2013-09-30 2017-05-30 Seiko Epson Corporation Pressure sensor, electronic apparatus, and moving object

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8881370B2 (en) Method of fabricating an inertial sensor
US7282397B2 (en) Methods for designing bond pad rerouting elements for use in stacked semiconductor device assemblies and for assembling semiconductor devices
US20090282917A1 (en) Integrated multi-axis micromachined inertial sensing unit and method of fabrication
US20100013067A9 (en) Stress Mitigation in Packaged Microchips
US7849749B2 (en) Pressure sensor module
US9638597B2 (en) Differential pressure sensor assembly
JP2007248212A (en) Pressure sensor package and electronic component
JP2002168716A (en) Pressure sensor module
JPH09210829A (en) Pressure sensor device with integrated circuit
EP2248168B1 (en) Pressure sense die pad layout and method for direct wire bonding to programmable compensation integrated circuit die
EP2790214B1 (en) Device with a micro- or nanoscale structure
US7968807B2 (en) Package having a plurality of mounting orientations
JP2003028646A (en) Multi-shaft semiconductor sensor
JP5815624B2 (en) Waterproof pressure sensor
US20150143926A1 (en) Area-efficient pressure sensing device
JP2001311675A (en) Pressure sensor module
JP2002188975A (en) Pressure sensor module
JP2008122304A (en) Electrostatic capacitance type acceleration sensor
US9362257B2 (en) Mirco-electro-mechanical system module and manufacturing method thereof
JP4923937B2 (en) Sensor device
JP4566066B2 (en) Circuit device and manufacturing method thereof
JP2002162306A (en) Pressure sensor module
KR100945501B1 (en) Semiconductor package
JP2002071490A (en) Pressure sensor module
JPH11211599A (en) Pressure sensor