JP2002148246A - Gas chromatograph - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、液体試料を加熱す
ることにより気化させた試料を分析カラムに送る試料導
入部を備えたガスクロマトグラフ装置に関し、さらに詳
細にはこの試料導入部にキャリアガスを供給するために
設けたキャリアガス供給流路の改良に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gas chromatograph provided with a sample introduction section for sending a sample vaporized by heating a liquid sample to an analytical column, and more particularly to a gas chromatography apparatus provided with a carrier gas in the sample introduction section. The present invention relates to improvement of a carrier gas supply channel provided for supplying.
【0002】[0002]
【従来の技術】液体試料をガスクロマトグラフ装置によ
り分析する際には、試料を気化して導入するための試料
導入部が用いられる。資料導入部は内部に閉空間を有し
ており、その上部にセプタムゴムが取り付けられてお
り、シリンジに分析しようとする試料を吸引し、これを
用いてセプタムゴムを刺し通すようにして試料導入部内
に分析試料を注入する。そして試料導入部に取り付けて
ある加熱機構により試料導入部を予め加熱しておくこと
により、注入された試料が瞬時に気化される。一方、試
料導入部にはキャリアガス供給流路が接続されており、
ここから送り込まれるキャリアガス(ヘリウム・水素
等)により気化試料が試料導入部下部に流路接続される
分析カラムの方に送られるようになっている。2. Description of the Related Art When a liquid sample is analyzed by a gas chromatograph, a sample introducing section for vaporizing and introducing the sample is used. The material introduction part has a closed space inside, and a septum rubber is attached to the upper part.The sample to be analyzed is sucked into the syringe, and the septum rubber is pierced using this, and inserted into the sample introduction part. Inject the analysis sample. The injected sample is instantaneously vaporized by preheating the sample introduction section by a heating mechanism attached to the sample introduction section. On the other hand, a carrier gas supply channel is connected to the sample introduction section,
The carrier gas (helium, hydrogen, or the like) sent from here allows the vaporized sample to be sent to the analysis column connected to the flow path below the sample introduction unit.
【0003】図1はガスクロマトグラフ装置のハードウ
ェア構成を示す。10は試料導入部であり、その上部に
はセプタムゴムが取り付けられている。11は試料導入
部にキャリアガスを供給するためのキャリアガス供給流
路である。12は試料導入部にて気化された試料がキャ
リアガスとともに分析カラムに流れる分析カラム流路、
13は分析カラムで分離された試料中の各成分を検出す
るための検出器である。試料導入部10には分析カラム
流路12とは別に余分な気化試料およびキャリアガスを
排出するためのスプリット流路14を備えている。この
スプリット流路14にはスプリットガス制御弁15が設
けられており、これを制御することにより適当なスプリ
ット比(分析カラム流量:スプリット流量)での分析が
行えるようになっている。又、試料導入部10は内部の
圧力をモニタするためのカラム入口圧センサ16を備え
ている。FIG. 1 shows a hardware configuration of a gas chromatograph apparatus. Reference numeral 10 denotes a sample introduction unit, on which a septum rubber is attached. Reference numeral 11 denotes a carrier gas supply flow path for supplying a carrier gas to the sample introduction unit. 12 is an analysis column flow path in which the sample vaporized in the sample introduction part flows into the analysis column together with the carrier gas,
Reference numeral 13 denotes a detector for detecting each component in the sample separated by the analysis column. The sample introduction unit 10 is provided with a split flow path 14 for discharging an excess vaporized sample and a carrier gas separately from the analysis column flow path 12. The split flow path 14 is provided with a split gas control valve 15. By controlling the split gas control valve 15, analysis at an appropriate split ratio (analysis column flow rate: split flow rate) can be performed. Further, the sample introduction unit 10 includes a column inlet pressure sensor 16 for monitoring the internal pressure.
【0004】キャリアガス供給流路11にはキャリアガ
スが充填されたボンベ21が配管接続されている。ボン
ベ21から試料導入部10に至る配管の途中にはボンベ
から供給されるガスの圧力を測定するための一次圧圧力
センサ22、抵抗管23、キャリアガス制御弁25、フ
ィルタ26がこの順で接続され、さらに抵抗管23の両
端に生じる差圧を測定するための差圧センサ24が取り
付けてある。[0004] A cylinder 21 filled with a carrier gas is connected to the carrier gas supply channel 11 by piping. A primary pressure sensor 22 for measuring the pressure of gas supplied from the cylinder, a resistance pipe 23, a carrier gas control valve 25, and a filter 26 are connected in this order along the pipe from the cylinder 21 to the sample introduction unit 10. Further, a differential pressure sensor 24 for measuring a differential pressure generated at both ends of the resistance tube 23 is attached.
【0005】一次圧圧力センサ22、抵抗管23、差圧
センサ24とにより、キャリアガス供給流路11を流れ
るキャリアガスの流量を測定することができるので、こ
れらで流量センサ27として機能を発揮する。即ち、キ
ャリアガス流量、抵抗管23の上流側圧力、差圧センサ
によって測定される差圧との間には、Q=K*P1*△
PQ:キャリアガス流量K:抵抗管23によって決定さ
れる係数(抵抗管形状により決定される既知量)P1:
抵抗管23上流の圧力(一次圧圧力センサ22の示す圧
力)△P:差圧センサ24により測定される圧力の関係
があるので一次圧圧力センサ22と差圧センサ24との
測定によりキャリアガス流量Qが求められる。The flow rate of the carrier gas flowing through the carrier gas supply flow path 11 can be measured by the primary pressure sensor 22, the resistance tube 23, and the differential pressure sensor 24. These functions as a flow sensor 27. . That is, Q = K * P 1 * △ between the carrier gas flow rate, the upstream pressure of the resistance tube 23, and the differential pressure measured by the differential pressure sensor.
PQ: Carrier gas flow rate K: Coefficient determined by resistance tube 23 (known amount determined by resistance tube shape) P 1 :
Pressure upstream of the resistance tube 23 (pressure indicated by the primary pressure sensor 22) △ P: Since there is a relationship of the pressure measured by the differential pressure sensor 24, the carrier gas flow rate is determined by measuring the primary pressure sensor 22 and the differential pressure sensor 24. Q is required.
【0006】また、抵抗管23の後段に設けられたキャ
リアガス流量を制御するためのキャリアガス制御弁25
は、この開度を調節することにより任意に流量を制御で
きるようにしてある。キャリアガス制御弁25と試料導
入部10との間に設けられるフィルタ26は、キャリア
ガス制御弁25、差圧センサ24、一次圧圧力センサ2
2、ボンベ21、さらにはこれらの間を接続する配管に
て生じた油成分・汚れ等が試料導入部10に侵入するの
を防止しゴーストピークの発生を除去するためのもので
ある。フィルタ26には細かいメッシュ、焼結部材等が
充填されており、キャリアガス中の粒径の大きな異物が
下流側に流れるのを防ぐことができるようにしてある。[0006] A carrier gas control valve 25 provided at the subsequent stage of the resistance tube 23 for controlling a carrier gas flow rate.
Is designed so that the flow rate can be arbitrarily controlled by adjusting the opening degree. The filter 26 provided between the carrier gas control valve 25 and the sample introduction unit 10 includes a carrier gas control valve 25, a differential pressure sensor 24, a primary pressure sensor 2
2. The purpose is to prevent oil components, dirt, and the like generated in the cylinder 21 and the piping connecting them from entering the sample introduction part 10 and to remove the occurrence of ghost peaks. The filter 26 is filled with a fine mesh, a sintered member, or the like, so that foreign substances having a large particle diameter in the carrier gas can be prevented from flowing downstream.
【0007】制御部28は、一次圧圧力センサ22、差
圧センサ24、カラム入口圧センサ16の信号を読み、
キャリアガス制御弁25、スプリットガス制御弁15を
制御する。具体的には一次圧圧力センサ22と差圧セン
サ24の信号からキャリアガス流量を算出し、所望の流
量となるようにキャリアガス制御弁25の開度を調節す
る。又、カラム入口圧センサ16の信号をモニタして所
望の圧力となるようにスプリットガス制御弁15の開度
を調節する。The control unit 28 reads signals from the primary pressure sensor 22, the differential pressure sensor 24, and the column inlet pressure sensor 16,
The carrier gas control valve 25 and the split gas control valve 15 are controlled. Specifically, the flow rate of the carrier gas is calculated from the signals of the primary pressure sensor 22 and the differential pressure sensor 24, and the opening of the carrier gas control valve 25 is adjusted so as to obtain a desired flow rate. Further, the signal of the column inlet pressure sensor 16 is monitored, and the opening degree of the split gas control valve 15 is adjusted so as to obtain a desired pressure.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】キャリアガス供給流路
には、上述したように試料導入部に異物が混入しないよ
うにするためのフィルタが取り付けられている。ガスク
ロマト分析を何度も繰り返すうちに、このフィルタに汚
れ等が徐々に蓄積され目詰まりを起こすことがあるの
で、フィルタを交換する必要が生じる。従来、フィルタ
の交換作業の時期的な基準は特になく、装置使用者が経
験によって交換時期を定めていた。その交換時期は、装
置使用中に目詰まりによるトラブルが発生することを防
止する観点から、本来はまだまだ使用できる状態であっ
ても安全のために早めにフィルタ交換時期を定めている
のが一般的である。この交換作業は煩わしく、又、交換
後にシールチェック等も必要となるのでできるだけ交換
作業の回数を減らしたいものである。そのためには、正
確にフィルタ交換が必要であるかどうかを把握する必要
がある。そこで、本発明はフィルタの交換が必要である
かどうかを、経験によらず実際のデータから判断できる
ようにして不要なフィルタ交換を減らすようにしたガス
クロマトグラフ装置を提供することを目的とする。又、
本発明は従来装置のハードを特に変更することなく、ソ
フトウェアの変更により簡単にフィルタ交換の必要性を
判断できる機能を持たせるようにしたガスクロマトグラ
フ装置を提供することを目的とする。As described above, the carrier gas supply channel is provided with a filter for preventing foreign matter from entering the sample introduction section. As the gas chromatographic analysis is repeated many times, dirt or the like is gradually accumulated in the filter, which may cause clogging. Therefore, it is necessary to replace the filter. Conventionally, there is no particular criterion for the time for replacing the filter, and the user of the apparatus determines the replacement time based on experience. In order to prevent troubles due to clogging during the use of the device, it is common to set the filter replacement time earlier for safety even if the device can be used even now. It is. This replacement is troublesome, and a seal check or the like is required after the replacement. Therefore, it is desirable to reduce the number of replacements as much as possible. For that purpose, it is necessary to accurately determine whether or not the filter needs to be replaced. Therefore, an object of the present invention is to provide a gas chromatograph apparatus which can determine whether or not the filter needs to be replaced based on actual data without any experience, thereby reducing unnecessary filter replacement. or,
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a gas chromatograph apparatus having a function of easily determining the necessity of replacing a filter by changing software without changing the hardware of the conventional apparatus.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
になされた本発明のガスクロマトグラフ装置は、試料を
気化する試料導入部を有し、試料導入部には分析カラム
が接続される分析カラム流路、スプリットガス制御弁を
有するスプリット流路、キャリアガスが送り込まれるキ
ャリアガス供給流路が流路接続されるとともに、試料導
入部のカラム入口圧をモニタするカラム入口圧センサが
設けられ、前記キャリアガス供給流路にはキャリアガス
源、一次圧圧力センサ、両端の差圧を測定する差圧セン
サが設けられた抵抗管、キャリアガス制御弁、フィルタ
が設けられたガスクロマトグラフ装置において、一次圧
圧力センサ、差圧センサ、カラム入口圧センサの信号に
基づいてフィルタの流路抵抗を算出するフィルタ抵抗算
出機能を有する制御部を備えたことを特徴とする。A gas chromatograph apparatus according to the present invention, which has been made to solve the above-mentioned problems, has a sample introducing section for vaporizing a sample, and the analytical column is connected to the sample introducing section. A flow path, a split flow path having a split gas control valve, and a carrier gas supply flow path into which a carrier gas is fed are connected in flow path, and a column inlet pressure sensor for monitoring a column inlet pressure of the sample introduction section is provided, In a carrier gas supply channel, a primary pressure sensor is provided. In a gas chromatograph apparatus provided with a resistance tube provided with a differential pressure sensor for measuring a differential pressure between both ends, a carrier gas control valve, and a filter, a primary pressure is provided. A control having a filter resistance calculating function of calculating a flow path resistance of a filter based on signals from a pressure sensor, a differential pressure sensor, and a column inlet pressure sensor. Characterized by comprising a part.
【0010】フィルタ交換が必要であるかどうかは、フ
ィルタの配管抵抗の大小から判断することができる。一
般に配管における流路抵抗、流量、差圧の関係は、電気
回路における電気抵抗、電流、電圧の関係とほぼ類似の
関係がある。したがって流路抵抗は電気抵抗と同じよう
に、配管両端の圧力差(電圧差に相当)を配管に流れる
流量(電流に相当)で除することにより配管抵抗の概略
値を計算で求めることができる。そこでフイルタの前後
位置の圧力値とフィルタを流れる流量値がわかればフィ
ルタの抵抗も求めることができ、この値によりフィルタ
の交換の必要性を判断することにより、フィルタを外す
ことなく交換の必要性を正確に判断することができる。Whether or not the filter needs to be replaced can be determined from the magnitude of the pipe resistance of the filter. In general, the relationship among the flow path resistance, the flow rate, and the differential pressure in a pipe has a relationship substantially similar to the relationship between the electrical resistance, current, and voltage in an electric circuit. Therefore, in the same way as the electric resistance, the flow path resistance can be calculated by calculating the approximate value of the pipe resistance by dividing the pressure difference (corresponding to the voltage difference) at both ends of the pipe by the flow rate (corresponding to the current) flowing through the pipe. . Therefore, if the pressure value at the front and rear positions of the filter and the flow rate value flowing through the filter are known, the resistance of the filter can also be determined. By determining the necessity of replacement of the filter based on this value, the necessity of replacement without removing the filter Can be accurately determined.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の態様を図を
用いて説明する。図1は本発明の一実施例を示すガスク
ロマトグラす装置のハード構成を示す図である。本発明
を実施するために用いるハード構成については従来装置
と同様であるので説明を省略する。本発明の特徴部分は
制御部28において実行されるソフトウェア構成にあ
る。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a hardware configuration of a gas chromatographing apparatus showing one embodiment of the present invention. The hardware configuration used to carry out the present invention is the same as that of the conventional device, and a description thereof will be omitted. The feature of the present invention lies in the software configuration executed in the control unit 28.
【0012】次に本発明で実行されるフィルタ抵抗の算
出原理について図2に示すブロック図により説明する。
フィルタ抵抗を求めるときには、適当な流量でキャリア
ガスを流しておくとともに、予めキャリアガス制御弁2
5を全開状態にしてこの弁による配管抵抗が無視できる
ようにしておく。続いてスプリットガス制御弁15の開
度を絞ることにより試料導入部に適当な圧力を発生させ
(即ちキャリアガス供給流路11から試料導入部に供給
されるキャリアガス流量と、分析カラム流路及びスプリ
ット流路14から排出されるガス流量との関係で試料導
入部10内に一定の圧力P2が発生する)、この値P2
をカラム入口圧センサ16によりモニタしておく。フィ
ルタ26から試料導入部までの配管抵抗は無視できるの
で、フィルタ26後部(図1のB点)位置の圧力PBは
PB=P2と見なすことができる。Next, the principle of calculating the filter resistance executed in the present invention will be described with reference to the block diagram shown in FIG.
When obtaining the filter resistance, the carrier gas is flowed at an appropriate flow rate, and the carrier gas control valve 2 is set in advance.
5 is fully opened so that the pipe resistance by this valve can be ignored. Subsequently, an appropriate pressure is generated in the sample introduction section by narrowing the opening of the split gas control valve 15 (that is, the flow rate of the carrier gas supplied from the carrier gas supply flow path 11 to the sample introduction section, the flow rate of the analysis column flow path, and the like). constant pressure P 2 is generated in the split flow channel 14 the sample introducing section 10 in relation to the gas flow discharged from) the value P 2
Is monitored by the column inlet pressure sensor 16. Since piping resistance from the filter 26 to the sample inlet is negligible, (B point in FIG. 1) filter 26 rear pressure P B of the position can be regarded as P B = P 2.
【0013】フィルタ26前部(図1のA点)位置の圧
力は以下のようにして求める。即ち、A点より上流に
は、配管抵抗に起因して圧力勾配を生じる要素として抵
抗管23とキャリアガス制御弁25とが存在する。そし
て一次圧圧力センサ22により抵抗管23の上流側の圧
力値P1が求められている。ここでキャリアガス制御弁
25は上述したように全開にして抵抗が発生しないよう
にしてあるのでこの部分での圧力勾配は生じない。した
がって抵抗管23の両端に生じる圧力勾配△Pのみが生
じることになる。そこでA点の圧力はPA=(P1−△
P)として求めることができる。The pressure at the position in front of the filter 26 (point A in FIG. 1) is determined as follows. That is, upstream of the point A, the resistance pipe 23 and the carrier gas control valve 25 exist as elements that cause a pressure gradient due to the pipe resistance. Then, the pressure value P 1 on the upstream side of the resistance tube 23 is obtained by the primary pressure sensor 22. Here, since the carrier gas control valve 25 is fully opened as described above so that no resistance is generated, no pressure gradient is generated in this portion. Therefore, only the pressure gradient ΔP generated at both ends of the resistance tube 23 occurs. Therefore, the pressure at point A is P A = (P 1 − △
P).
【0014】フィルタ26を流れる流量は、以下のよう
にして求める。即ち、フィルタ26を流れる流量は抵抗
管23を流れる流量に等しい。先に述べたように一次圧
圧力センサ22、抵抗管23、差圧センサ24との組み
合わせにより、抵抗管23を流れる流量を測定する流量
センサとして機能し、その流量はQ=K*P1*△Pと
して求めることができる。The flow rate flowing through the filter 26 is determined as follows. That is, the flow rate flowing through the filter 26 is equal to the flow rate flowing through the resistance tube 23. As mentioned earlier the primary pressure pressure sensor 22, the resistance tube 23, in combination with a differential pressure sensor 24 functions as a flow sensor for measuring the flow rate through the resistance tube 23, the flow rate Q = K * P 1 * ΔP can be obtained.
【0015】以上のことからフィルタ抵抗Rfは、 Rf=(PA−PB)/Q=(P1−△P−P2)/K*P1*△P (1) として算出することができる。そしてこの値が予め定め
た基準値より大きくなったときにフィルタ交換時期が到
来したと判断することにより、正確な交換時期の適切な
判断をすることができる。[0015] or more filter resistor Rf from it, Rf = (P A -P B ) / Q = - be calculated as (P 1 △ P-P 2 ) / K * P 1 * △ P (1) it can. By determining that the filter replacement time has arrived when this value becomes larger than a predetermined reference value, it is possible to appropriately determine the correct replacement time.
【0016】図3は本発明におけるフィルタ抵抗算出の
流れを示すフローチャートである。まず、ボンベ21の
栓を開いてキャリアガスを流し(st1)、キャリアガ
ス制御弁25を全開にする(st2)。さらにスプリッ
トガス制御弁15を絞ることにより試料導入部10に適
当な圧力を発生させる(st3)。この状態で、一次圧
圧力センサ22、差圧センサ24、カラム入口圧センサ
16の各圧力を読み取り(st4)、これらの値に基づ
いてフィルタ抵抗Rfを(1)式により算出する(st
5)。算出された結果を制御部に接続された図示しない
CRT画面に表示し、分析者にフィルタの交換が必要か
どうかを知らせる(st6)。なお、制御部に予め交換
時期の基準となるフィルタ抵抗の基準値を記憶させてお
いて、その値に達したときにアラーム表示するようにし
てもよい。FIG. 3 is a flowchart showing the flow of calculating the filter resistance in the present invention. First, the stopper of the cylinder 21 is opened to flow the carrier gas (st1), and the carrier gas control valve 25 is fully opened (st2). Further, an appropriate pressure is generated in the sample introduction unit 10 by squeezing the split gas control valve 15 (st3). In this state, the respective pressures of the primary pressure sensor 22, the differential pressure sensor 24, and the column inlet pressure sensor 16 are read (st4), and the filter resistance Rf is calculated based on these values by the equation (1) (st).
5). The calculated result is displayed on a CRT screen (not shown) connected to the control unit to inform the analyst whether the filter needs to be replaced (st6). The control unit may store in advance a reference value of the filter resistance as a reference for the replacement time, and display an alarm when the reference value is reached.
【0017】[0017]
【発明の効果】以上、説明したように本発明のガスクロ
マトグラフ装置では、一次圧圧力センサ、差圧センサ、
カラム入口センサの圧力値からフィルタ抵抗を算出する
ことができるようにしたので、この値を参照することに
より適切なフィルタ交換時期の判断をすることができ
る。特にハード構成については従来装置に何らの追加を
することなくフィルタ抵抗を算出することができるので
装置のコストを上昇させることなく機能を追加すること
ができる。As described above, in the gas chromatograph apparatus of the present invention, the primary pressure sensor, the differential pressure sensor,
Since the filter resistance can be calculated from the pressure value of the column inlet sensor, it is possible to determine appropriate filter replacement time by referring to this value. In particular, with regard to the hardware configuration, the filter resistance can be calculated without any addition to the conventional device, so that the function can be added without increasing the cost of the device.
【図1】ガスクロマトグラフ装置のハード構成を示す
図。FIG. 1 is a diagram showing a hardware configuration of a gas chromatograph device.
【図2】本発明の一実施例であるフィルタ抵抗を算出す
るための構成を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration for calculating a filter resistance according to an embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施例であるフィルタ抵抗を算出す
るためのフローチャート図。FIG. 3 is a flowchart for calculating a filter resistance according to an embodiment of the present invention.
Claims (1)
入部には分析カラムが接続される分析カラム流路、スプ
リットガス制御弁を有するスプリット流路、キャリアガ
スが送り込まれるキャリアガス供給流路が流路接続され
るとともに、試料導入部のカラム入口圧をモニタするカ
ラム入口圧センサが設けられ、前記キャリアガス供給流
路にはキャリアガス源、一次圧圧力センサ、両端の差圧
を測定する差圧センサが設けられた抵抗管、キャリアガ
ス制御弁、フィルタが設けられたガスクロマトグラフ装
置において、一次圧圧力センサ、差圧センサ、カラム入
口圧センサの信号に基づいてフィルタの流路抵抗を算出
するフィルタ抵抗算出機能を有する制御部を備えたこと
を特徴とするガスクロマトグラフ装置。1. A sample introduction section for vaporizing a sample, an analysis column flow path to which an analysis column is connected, a split flow path having a split gas control valve, and a carrier gas supply into which a carrier gas is fed. The flow path is connected to the flow path, and a column inlet pressure sensor for monitoring the column inlet pressure of the sample introduction section is provided. The carrier gas supply flow path includes a carrier gas source, a primary pressure sensor, and a differential pressure between both ends. In a gas chromatograph equipped with a resistance tube provided with a differential pressure sensor to be measured, a carrier gas control valve, and a filter, the flow path resistance of the filter is determined based on signals from a primary pressure sensor, a differential pressure sensor, and a column inlet pressure sensor. A gas chromatograph apparatus comprising a control unit having a filter resistance calculating function of calculating a filter resistance.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2000346004A JP2002148246A (en) | 2000-11-14 | 2000-11-14 | Gas chromatograph |
Applications Claiming Priority (1)
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JP (1) | JP2002148246A (en) |
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- 2000-11-14 JP JP2000346004A patent/JP2002148246A/en active Pending
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Legal Events
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100112 |