JP2002071579A - Method and device for inspecting film carrier tape for mounting electronic component - Google Patents
Method and device for inspecting film carrier tape for mounting electronic componentInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 121
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 26
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 22
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 claims 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 9
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープ(TAB(Tape AutomatedBondin
g)テープ、T-BGA(Tape Ball Grid Array)テープ、
CSP(Chip Size Package)テープ、ASIC(Appli
cation Specific Integrated Circuit)テープなど)
(以下、単に「電子部品実装用フィルムキャリアテー
プ」と言う。)の配線パターンの不良を検知すための電
子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法および
そのための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検
査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a film carrier tape (TAB (Tape Automate
g) Tape, T-BGA (Tape Ball Grid Array) tape,
CSP (Chip Size Package) tape, ASIC (Appli)
cation Specific Integrated Circuit) tape
A method for inspecting a film carrier tape for mounting an electronic component and a device for inspecting the film carrier tape for mounting an electronic component for detecting a failure of a wiring pattern of the film carrier tape for mounting an electronic component (hereinafter, simply referred to as “film carrier tape for mounting an electronic component”). About.
【0002】[0002]
【従来の技術】エレクトロニクス産業の発達に伴い、I
C(集積回路)、LSI(大規模集積回路)などの電子
部品を実装するプリント配線板の需要が急激に増加して
いるが、電子機器の小型化、軽量化、高機能化が要望さ
れ、これら電子部品の実装方法として、最近ではTAB
テープ、T-BGAテープおよびASICテープなどを
用いた実装方式が採用されており、特に、パーソナルコ
ンピュータなどのように高精細化、薄型化、液晶画面の
額縁面積の狭小化が要望されている液晶表示素子(LC
D)を使用する電子産業においてその重要性が高まって
いる。2. Description of the Related Art With the development of the electronics industry,
The demand for printed wiring boards on which electronic components such as C (integrated circuits) and LSIs (large-scale integrated circuits) are mounted has been rapidly increasing, but there has been a demand for smaller, lighter, and more sophisticated electronic devices. Recently, TAB has been used as a mounting method for these electronic components.
A mounting method using a tape, a T-BGA tape, an ASIC tape, or the like is employed. In particular, a liquid crystal, such as a personal computer, which is required to have a high definition, a thin shape, and a narrow frame area of a liquid crystal screen is required. Display element (LC
D) is becoming increasingly important in the electronics industry.
【0003】このような電子部品実装用フィルムキャリ
アテープにおいて、電子部品実装用フィルムキャリアテ
ープの各製造工程、および最終工程でリードの電気的な
断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などを検査す
る品質検査が実施されている。[0003] In such a film carrier tape for mounting an electronic component, a pattern defect such as an electrical disconnection, a short circuit, a chip, or a protrusion of a lead is inspected in each manufacturing process and a final process of the film carrier tape for mounting an electronic component. Quality inspections have been conducted.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の電子
部品実装用フィルムキャリアテープでは、テープの幅方
向に一つの電子部品実装部が配列されているものであ
り、スプロケット孔の位置と電子部品実装部の位置が対
応しているので、スプロケット孔を基準にして電子部品
実装用フィルムキャリアテープの搬送を停止して、顕微
鏡などの検査装置に対して正確に位置決めを行うことが
可能であった。In a conventional film carrier tape for mounting electronic components, one electronic component mounting portion is arranged in the width direction of the tape. Since the positions of the parts correspond to each other, it was possible to stop the conveyance of the film carrier tape for mounting electronic components on the basis of the sprocket holes and accurately position the film carrier tape with respect to an inspection device such as a microscope.
【0005】しかしながら、最近では、特に、上記のB
GA、CSPのように、いわゆる多数個取りと呼ばれ
る、電子部品実装用フィルムキャリアテープの幅方向に
複数の電子部品実装部を有する多数列仕様になってきて
いるのが実状である。すなわち、この多数個取りの電子
部品実装用フィルムキャリアテープ200では、図5に
示したように、電子部品実装部202が、幅方向(列方
向)および長手方向(フレーム方向)に複数個配列され
てなる電子部品実装部ブロック204が形成されてお
り、この電子部品実装部ブロック204が、長手方向に
一定間隔離間して連続して配列されている。However, recently, in particular, the above B
As in the case of GA and CSP, in reality, a multi-row specification having a plurality of electronic component mounting portions in the width direction of a film carrier tape for mounting electronic components, which is called so-called multi-cavity, is in reality. That is, in the multi-piece film carrier tape 200 for mounting electronic components, as shown in FIG. 5, a plurality of electronic component mounting portions 202 are arranged in the width direction (column direction) and the longitudinal direction (frame direction). The electronic component mounting unit block 204 is formed, and the electronic component mounting unit blocks 204 are continuously arranged in the longitudinal direction with a certain interval therebetween.
【0006】この場合、図5に示したように、スプロケ
ット孔206の間隔は、例えば、4.750mmである
のに対して、電子部品実装部202の長手方向の寸法
が、例えば、6.250mmであるので、スプロケット
孔206の位置と電子部品実装部202の位置とが対応
していないので、スプロケット孔206を基準にして、
顕微鏡などの検査装置に対して電子部品実装用フィルム
キャリアテープの搬送を停止して、正確に位置決めを行
うことは不可能である。In this case, as shown in FIG. 5, the interval between the sprocket holes 206 is, for example, 4.750 mm, while the longitudinal dimension of the electronic component mounting portion 202 is, for example, 6.250 mm. Therefore, since the position of the sprocket hole 206 and the position of the electronic component mounting portion 202 do not correspond to each other,
It is impossible to stop the transport of the film carrier tape for mounting electronic components on an inspection device such as a microscope and perform accurate positioning.
【0007】このため、従来では、スプロケット孔を基
準にして、電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬
送を停止した後、手作業で顕微鏡などの検査装置を検査
すべき電子部品実装部の検査領域まで移動させて、検査
を行わなければならず、煩雑な作業が必要で、しかも、
位置精度よく指定の箇所に検査装置を移動させることが
できず、正確な検査を実施することができなかった。[0007] For this reason, conventionally, after stopping the transport of the film carrier tape for mounting electronic components on the basis of the sprocket hole, the inspection device such as a microscope is manually moved to the inspection area of the electronic component mounting portion to be inspected. It must be moved and inspected, which requires complicated work, and
The inspection device could not be moved to a specified location with high positional accuracy, and an accurate inspection could not be performed.
【0008】本発明は、このような現状を考慮して、B
GA、CSPのように、いわゆる多数個取りと呼ばれる
多数列仕様の電子部品実装用フィルムキャリアテープに
おいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短
絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を、正
確にしかも精度良く実施することの可能な電子部品実装
用フィルムキャリアテープの検査方法およびそのための
電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置を提
供することを目的とする。[0008] The present invention takes into account such a current situation,
For film carrier tapes for mounting multiple electronic components, such as GA and CSP, so-called multi-cavity specifications, the quality of the leads of each electronic component mounting area such as electrical disconnection, short-circuit, chipping, projections, and other pattern defects. It is an object of the present invention to provide a method for inspecting a film carrier tape for mounting electronic components and an apparatus for inspecting a film carrier tape for mounting electronic components, which can perform the inspection accurately and accurately.
【0009】また、本発明は、リードの電気的な断線、
短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査の結
果に基づいて、不良箇所に正確に位置精度よくパンチン
グ、インキングなどによる不良マーキングを施すことの
可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方
法およびそのための電子部品実装用フィルムキャリアテ
ープの検査装置を提供することを目的とする。Further, the present invention provides an electric disconnection of a lead,
Inspection method for film carrier tape for mounting electronic components, which can perform defective marking by punching, inking, etc. on the defective part accurately and accurately based on the result of quality inspection such as short circuit, chipping, protrusion and other pattern defects It is another object of the present invention to provide an inspection device for a film carrier tape for mounting electronic components.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明は、前述したよう
な従来技術における課題及び目的を達成するために発明
なされたものであって、本発明の電子部品実装用フィル
ムキャリアテープの検査方法は、電子部品実装部が幅方
向および長手方向に複数個配列されてなる電子部品実装
部ブロックが、長手方向に一定間隔離間して連続して配
列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの配線
パターンの不良を検査する電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの検査方法であって、前記電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープの長手方向に連続して形成された
スプロケット孔を基準にして、検査すべき電子部品実装
部ブロックが、検査装置の検査位置に位置するように、
電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送を停止す
るとともに、前記電子部品実装部ブロックの中の基準と
なる電子部品実装部の中心の基準位置を基準原点O
(0,0)として、幅方向に相互に隣接する電子部品実
装部の基準位置までの距離をaとし、長手方向に相互に
隣接する電子部品実装部の基準位置までの距離をbとし
て、各電子部品実装部の位置Pm,n(ma,nb)を
演算し、但し、ここで、mは、基準となる電子部品実装
部から幅方向の電子部品実装部のm番目の位置、nは、
基準となる電子部品実装部から長手方向の電子部品実装
部のn番目の位置を示し、前記各電子部品実装部の位置
Pm,n(ma,nb)の位置情報と、電子部品実装部
の幅方向の寸法xと、長手方向の寸法yとに基づいて、
各電子部品実装部の検査領域の検査領域データを演算
し、前記各電子部品実装部の検査領域データに基づい
て、検査装置を幅方向Xおよび/または長手方向Yに移
動させて、各電子部品実装部の検査領域を検査すること
を特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to achieve the above-mentioned problems and objects in the prior art, and the method for inspecting a film carrier tape for mounting electronic parts according to the present invention is described below. An electronic component mounting section block in which a plurality of electronic component mounting sections are arranged in the width direction and the longitudinal direction is a wiring pattern of an electronic component mounting film carrier tape in which the electronic component mounting section blocks are continuously arranged at regular intervals in the longitudinal direction. What is claimed is: 1. A method for inspecting a film carrier tape for mounting an electronic component, the method comprising the steps of: detecting sprocket holes formed continuously in a longitudinal direction of the film carrier tape for mounting an electronic component; So that the block is located at the inspection position of the inspection device,
The transport of the electronic component mounting film carrier tape is stopped, and the reference position at the center of the electronic component mounting portion serving as the reference in the electronic component mounting portion block is set to the reference origin O.
As (0,0), a is the distance to the reference position of the electronic component mounting portions adjacent to each other in the width direction, and b is the distance to the reference position of the electronic component mounting portions adjacent to each other in the longitudinal direction. The position Pm, n (ma, nb) of the electronic component mounting portion is calculated, where m is the m-th position of the electronic component mounting portion in the width direction from the reference electronic component mounting portion, and n is
The n-th position of the electronic component mounting unit in the longitudinal direction from the electronic component mounting unit serving as a reference is shown. The position information of the position Pm, n (ma, nb) of each electronic component mounting unit, and the width of the electronic component mounting unit Based on the dimension x in the direction and the dimension y in the longitudinal direction,
Inspection area data of the inspection area of each electronic component mounting unit is calculated, and based on the inspection area data of each electronic component mounting unit, the inspection device is moved in the width direction X and / or the longitudinal direction Y, and each electronic component is mounted. The inspection area of the mounting unit is inspected.
【0011】また、本発明の電子部品実装用フィルムキ
ャリアテープの検査装置は、電子部品実装部が幅方向お
よび長手方向に複数個配列されてなる電子部品実装部ブ
ロックが、長手方向に一定間隔離間して連続して配列さ
れた電子部品実装用フィルムキャリアテープの配線パタ
ーンの不良を検査する電子部品実装用フィルムキャリア
テープの検査装置であって、前記電子部品実装用フィル
ムキャリアテープの長手方向に連続して形成されたスプ
ロケット孔を基準にして、検査すべき電子部品実装部ブ
ロックが、検査装置の検査位置に位置するように、電子
部品実装用フィルムキャリアテープの搬送を停止すると
ともに、前記電子部品実装部ブロックの中の基準となる
電子部品実装部の中心の基準位置を基準原点O(0,
0)として、幅方向に相互に隣接する電子部品実装部の
基準位置までの距離をaとし、長手方向に相互に隣接す
る電子部品実装部の基準位置までの距離をbとして、各
電子部品実装部の位置Pm,n(ma,nb)を演算
し、但し、ここで、mは、基準となる電子部品実装部か
ら幅方向の電子部品実装部のm番目の位置、nは、基準
となる電子部品実装部から長手方向の電子部品実装部の
n番目の位置を示し、前記各電子部品実装部の位置P
m,n(ma,nb)の位置情報と、電子部品実装部の
幅方向の寸法xと、長手方向の寸法yとに基づいて、各
電子部品実装部の検査領域の検査領域データを演算処理
する検査領域演算処理装置を備え、前記位置情報および
演算処理装置からの検査領域データに基づいて、検査装
置を幅方向Xおよび/または長手方向Yに移動させる検
査装置移動制御装置とを備えることを特徴とする。In the inspection apparatus for a film carrier tape for mounting an electronic component according to the present invention, the electronic component mounting section block, in which a plurality of electronic component mounting sections are arranged in the width direction and the longitudinal direction, is separated by a predetermined distance in the longitudinal direction. An electronic component mounting film carrier tape inspection device for inspecting the wiring pattern of the electronic component mounting film carrier tape that is continuously arranged in a continuous manner in the longitudinal direction of the electronic component mounting film carrier tape. On the basis of the sprocket hole formed as a reference, the transport of the electronic component mounting film carrier tape is stopped so that the electronic component mounting block to be inspected is located at the inspection position of the inspection device, and the electronic component is mounted. The reference position at the center of the electronic component mounting portion serving as the reference in the mounting portion block is set to the reference origin O (0, 0,
0), the distance to the reference position of the electronic component mounting portions adjacent to each other in the width direction is a, and the distance to the reference position of the electronic component mounting portions adjacent to each other in the longitudinal direction is b. The position Pm, n (ma, nb) of the component is calculated, where m is the m-th position of the electronic component mounting portion in the width direction from the electronic component mounting portion serving as a reference, and n is the reference. The n-th position of the electronic component mounting portion in the longitudinal direction from the electronic component mounting portion is shown, and the position P of each of the electronic component mounting portions is shown.
Based on the position information of m, n (ma, nb), the width dimension x of the electronic component mounting part, and the longitudinal dimension y, arithmetic processing of the inspection area data of the inspection area of each electronic component mounting part is performed. And an inspection device movement control device for moving the inspection device in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on the position information and the inspection region data from the arithmetic processing device. Features.
【0012】このように構成することによって、電子部
品実装用フィルムキャリアテープのスプロケット孔を基
準にすることなく、電子部品実装部ブロックの中の基準
となる電子部品実装部を基準として、各電子部品実装部
に位置を演算して、その位置情報を得ることができる。
そして、この位置情報と、電子部品実装部の幅方向の寸
法xと、長手方向の寸法yとに基づいて、各電子部品実
装部の検査領域の検査領域データを演算処理することに
よって得ることができる。[0012] With this configuration, each electronic component can be referenced with respect to the electronic component mounting portion serving as the reference in the electronic component mounting portion block, without reference to the sprocket hole of the film carrier tape for mounting electronic components. The position is calculated by the mounting unit, and the position information can be obtained.
Then, based on the position information, the dimension x in the width direction of the electronic component mounting portion, and the dimension y in the longitudinal direction, it can be obtained by performing arithmetic processing on the inspection region data of the inspection region of each electronic component mounting portion. it can.
【0013】従って、これらのデータに基づいて、検査
装置を幅方向Xおよび/または長手方向Yに移動させる
ことによって、各電子部品実装部の検査領域について、
位置精度よく正確な品質検査を実施することができる。
また、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープ
の検査方法は、前記各電子部品実装部の検査領域の検査
結果に基づいて、不良が検出された各電子部品実装部の
検査領域に、前記各電子部品実装部の検査領域データに
基づいて、不良マーキング装置を幅方向Xおよび/また
は長手方向Yに移動させて、不良マーキングを施すこと
を特徴とする。Accordingly, by moving the inspection device in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on these data, the inspection area of each electronic component mounting portion can be obtained.
Accurate quality inspection can be performed with high positional accuracy.
In addition, the inspection method of the electronic component mounting film carrier tape of the present invention, based on the inspection result of the inspection region of each of the electronic component mounting unit, the inspection area of each electronic component mounting unit where a defect is detected, The defective marking is performed by moving the defective marking device in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on the inspection area data of the electronic component mounting section.
【0014】また、本発明の電子部品実装用フィルムキ
ャリアテープの検査装置は、前記各電子部品実装部の検
査領域の検査結果に基づいて、不良が検出された各電子
部品実装部の検査領域に、前記各電子部品実装部の検査
領域データに基づいて、幅方向Xおよび/または長手方
向Yに移動させて、不良マーキングを施す不良マーキン
グ装置を備えることを特徴とする。Further, according to the inspection apparatus for a film carrier tape for electronic component mounting of the present invention, based on the inspection result of the inspection region of each electronic component mounting section, the inspection area of each electronic component mounting section where a defect is detected is provided. A defect marking device for performing defect marking by moving in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on the inspection area data of each of the electronic component mounting units.
【0015】このように構成することによって、各電子
部品実装部の検査領域の検査結果に基づいて、不良マー
キング装置を、幅方向Xおよび/または長手方向Yに移
動させることによって、不良が検出された各電子部品実
装部の検査領域に位置させることができ、各電子部品実
装部の検査領域について、位置精度よく正確な品質検査
を実施することができる。With this configuration, the defect is detected by moving the defect marking device in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on the inspection result of the inspection area of each electronic component mounting portion. In addition, the inspection area of each electronic component mounting unit can be positioned, and the inspection area of each electronic component mounting unit can be accurately inspected with good positional accuracy.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態(実施例)について説明する。図1は、本
発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装
置の正面図である。図1に示したように、10は全体で
本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査
装置を示している。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments (examples) of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a front view of an inspection device for a film carrier tape for mounting electronic components according to the present invention. As shown in FIG. 1, reference numeral 10 denotes an inspection device for a film carrier tape for mounting electronic components according to the present invention.
【0017】電子部品実装用フィルムキャリアテープの
検査装置10は、図1に示したように、送り出し装置2
0と、不良パターン検査装置30と、マーキング装置4
0と、巻き取り装置50とを備えている。送り出し装置
20には、例えば、CSP、BGAのようなタイプの電
子部品実装用フィルムキャリアテープであって、その製
造工程が終了した電子部品実装用フィルムキャリアテー
プTが、スペーサSを介して巻装されたリールRが、送
り出し駆動軸22に装着されている。そして、図示しな
い駆動モータの駆動により、送り出し駆動軸22が回転
して、電子部品実装用フィルムキャリアテープTがリー
ルRからスペーサSとともに繰り出されて、案内ローラ
21を介して、不良パターン検査装置30へと供給され
るようになっている。As shown in FIG. 1, an inspection device 10 for a film carrier tape for mounting an electronic component includes
0, defective pattern inspection device 30, and marking device 4
0 and a winding device 50. The delivery device 20 is wound with a film carrier tape T for mounting an electronic component, which is a type of electronic component mounting film carrier tape T such as CSP or BGA, for which the manufacturing process has been completed, via a spacer S. The reel R thus mounted is mounted on the delivery drive shaft 22. Then, by driving a drive motor (not shown), the feed drive shaft 22 rotates, and the film carrier tape T for mounting electronic components is fed out from the reel R together with the spacer S. To be supplied to
【0018】なお、送り出し装置20には、図1に示し
たように、上下方向に3個の位置センサー28が設けら
れており、下方の位置センサーによって、電子部品実装
用フィルムキャリアテープTの弛み部分の下端T’が検
知された際には、送り出し装置20の駆動モータの駆動
を停止して、電子部品実装用フィルムキャリアテープが
弛みすぎて床に接触して損傷するのを防止するようにな
っている。また、上方の位置センサーによって、電子部
品実装用フィルムキャリアテープTの弛み部分の下端
T’が検知された際には、送り出し装置20の駆動モー
タの駆動を開始して一定の電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの弛みを維持するようになっている。As shown in FIG. 1, the feeding device 20 is provided with three position sensors 28 in the vertical direction. The lower position sensors allow the film carrier tape T for mounting electronic components to be loosened. When the lower end T 'of the portion is detected, the driving of the drive motor of the feeding device 20 is stopped to prevent the electronic component mounting film carrier tape from being excessively slack and coming into contact with the floor and being damaged. Has become. When the lower end T 'of the slack portion of the electronic component mounting film carrier tape T is detected by the upper position sensor, the drive motor of the feeding device 20 starts to be driven and a certain electronic component mounting film is started. The carrier tape is kept loose.
【0019】この不良パターン検査装置30に供給され
た電子部品実装用フィルムキャリアテープTは、案内ロ
ーラ31を介して、不良パターン検査装置30内に配設
されたバックテンションギア32とドライブギア34の
間を通過する際に、ドライブギア34の駆動が一時停止
されて、電子部品実装用フィルムキャリアテープの送給
が停止されるとともに、電子部品実装用フィルムキャリ
アテープのスプロケット孔に係合するバックテンション
ギア32の逆転によって、電子部品実装用フィルムキャ
リアテープが正確に所定の位置に位置決めされる。The film carrier tape T for mounting electronic components supplied to the defective pattern inspection device 30 is connected to a back tension gear 32 and a drive gear 34 provided in the defective pattern inspection device 30 via a guide roller 31. During the passage, the drive of the drive gear 34 is temporarily stopped, the supply of the electronic component mounting film carrier tape is stopped, and the back tension engaging with the sprocket hole of the electronic component mounting film carrier tape is stopped. The reverse rotation of the gear 32 accurately positions the film carrier tape for mounting electronic components at a predetermined position.
【0020】ところで、BGA、CSPのような電子部
品実装用フィルムキャリアテープTでは、図2に示した
ように、いわゆる多数個取りと呼ばれる、電子部品実装
用フィルムキャリアテープの幅方向に複数の電子部品実
装部を有する多数列仕様になってきているのが実状であ
る。すなわち、図2に示したように、この多数個取りの
電子部品実装用フィルムキャリアテープ100では、電
子部品実装部102が、幅方向(列方向)Xおよび長手
方向(フレーム方向)Yに複数個配列されてなる電子部
品実装部ブロック104が形成されており、この電子部
品実装部ブロック104が、長手方向に一定間隔離間し
て連続して配列されている。As shown in FIG. 2, a film carrier tape T for mounting electronic components such as BGA and CSP has a plurality of electronic components in a width direction of the film carrier tape for mounting electronic components. The reality is that the multi-row specification having a component mounting section has been adopted. That is, as shown in FIG. 2, in the multi-piece film carrier tape 100 for mounting electronic components, a plurality of electronic component mounting portions 102 are provided in the width direction (column direction) X and the longitudinal direction (frame direction) Y. The arrayed electronic component mounting block 104 is formed, and the electronic component mounting block 104 is continuously arrayed at a predetermined interval in the longitudinal direction.
【0021】この場合、図2に示したように、スプロケ
ット孔106の間隔は、例えば、4.750mmである
のに対して、電子部品実装部102の長手方向の寸法
が、例えば、6.250mmであるので、スプロケット
孔106の位置と電子部品実装部102の位置とが対応
していないので、スプロケット孔106を基準にして、
CCDカメラ、顕微鏡などの検査装置に対して電子部品
実装用フィルムキャリアテープの搬送を停止して、正確
に位置決めを行うことは不可能である。In this case, as shown in FIG. 2, the interval between the sprocket holes 106 is, for example, 4.750 mm, while the longitudinal dimension of the electronic component mounting portion 102 is, for example, 6.250 mm. Therefore, the position of the sprocket hole 106 and the position of the electronic component mounting portion 102 do not correspond to each other.
It is impossible to stop the transport of the film carrier tape for mounting electronic components to an inspection device such as a CCD camera or a microscope to perform accurate positioning.
【0022】このため、本発明では、先ず、図2に示し
たように、電子部品実装部ブロック104内の電子部品
実装部102の中で、スプロケット孔106の位置と電
子部品実装部102の中心103の位置が一致する電子
部品実装部102aを選択する。そして、電子部品実装
部102aの中心103aが、検査装置の検査中心位置
に位置するように、電子部品実装部102aの中心10
3aと位置が一致するスプロケット孔106aを基準に
して、電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送を
停止する。Therefore, in the present invention, first, as shown in FIG. 2, in the electronic component mounting portion 102 in the electronic component mounting portion block 104, the position of the sprocket hole 106 and the center of the electronic component mounting portion 102 The electronic component mounting unit 102a having the same position 103 is selected. The center 10a of the electronic component mounting unit 102a is positioned so that the center 103a of the electronic component mounting unit 102a is located at the inspection center position of the inspection apparatus.
The transport of the electronic component mounting film carrier tape is stopped with reference to the sprocket hole 106a whose position coincides with 3a.
【0023】この状態で、図3に示したように、電子部
品実装部ブロック104中の基準となる電子部品実装部
102aの中心103aの基準位置を基準原点OO
(0,0)とする。そして、幅方向に相互に隣接する電
子部品実装部の基準位置までの距離をaとし、長手方向
に相互に隣接する電子部品実装部の基準位置までの距離
をbとして、各電子部品実装部の位置Pm,n(ma,
nb)を演算する。In this state, as shown in FIG. 3, the reference position of the center 103a of the electronic component mounting portion 102a serving as the reference in the electronic component mounting portion block 104 is set to the reference origin OO.
(0, 0). The distance to the reference position of the electronic component mounting portions adjacent to each other in the width direction is defined as a, and the distance to the reference position of the electronic component mounting portions adjacent to each other in the longitudinal direction is defined as b. The position Pm, n (ma,
nb) is calculated.
【0024】例えば、図2に示した電子部品実装用フィ
ルムキャリアテープ100では、a、bとも6.250
mmである。また、ここで、mは、基準となる電子部品
実装部から幅方向の電子部品実装部のm番目の位置、n
は、基準となる電子部品実装部から長手方向の電子部品
実装部のn番目の位置を示ている。For example, in the electronic component mounting film carrier tape 100 shown in FIG. 2, both a and b are 6.250.
mm. Here, m is the m-th position of the electronic component mounting portion in the width direction from the reference electronic component mounting portion, n
Indicates the n-th position of the electronic component mounting portion in the longitudinal direction from the reference electronic component mounting portion.
【0025】すなわち、図3に示したように、幅方向を
X軸、長手方向をY軸とすれば、基準原点Oは、P0,
0=(0,0)、そして、各電子部品実装部の中心位置
は、P1,0=(a、0)、P2,0=(2a、0)、
P3,0=(3a、0)、・・・・、Pm,0=(ma、
0)、・・・・P0,1=(0,b)、P0,2=(0,2
b)、P0,3=(0,3b)、・・・・・・・・Pm,n(m
a,nb)のように演算される。That is, as shown in FIG. 3, if the width direction is the X axis and the longitudinal direction is the Y axis, the reference origin O is P0,
0 = (0,0), and the center position of each electronic component mounting portion is P1,0 = (a, 0), P2,0 = (2a, 0),
P3,0 = (3a, 0),..., Pm, 0 = (ma,
0),... P0,1 = (0, b), P0,2 = (0,2
b), P0,3 = (0,3b),... Pm, n (m
a, nb).
【0026】このように得られた位置情報と、電子部品
実装部102の幅方向の寸法xと、長手方向の寸法yと
に基づいて、各電子部品実装部の検査領域の検査領域デ
ータDが演算される。すなわち、D=(ma+Xa,nb
+Yb)の式で表される検査領域データが得られること
になる。ここで、Xaは製品のX方向のサイズ、Ybは
製品のY方向のサイズを示す。Based on the position information thus obtained, the width dimension x of the electronic component mounting section 102, and the longitudinal dimension y, the inspection area data D of the inspection area of each electronic component mounting section is obtained. Is calculated. That is, D = (ma + Xa, nb
+ Yb) is obtained as the inspection area data. Here, Xa indicates the size of the product in the X direction, and Yb indicates the size of the product in the Y direction.
【0027】そして、このように得られた各電子部品実
装部の検査領域データに基づいて、不良パターン検査装
置30を、図示しない公知のXYステージ機構によっ
て、幅方向Xおよび/または長手方向Yに移動させて、
各電子部品実装部の検査領域(図3の斜線D1から開始
するなど)を検査するようになっている。なお、不良パ
ターン検査装置30は、実体顕微鏡として、目視によっ
て、電子部品実装用フィルムキャリアテープの配線パタ
ーンの不良である断線、短絡、欠け、突起などの各種の
品質検査を実施することができる。Then, based on the inspection area data of each electronic component mounting portion obtained in this manner, the defective pattern inspection device 30 is moved in the width direction X and / or the longitudinal direction Y by a known XY stage mechanism (not shown). Move it,
The inspection area of each electronic component mounting section (eg, starting from the oblique line D1 in FIG. 3) is inspected. The defective pattern inspection device 30 can visually inspect various quality inspections such as disconnection, short circuit, chipping, and protrusion of the wiring pattern of the film carrier tape for mounting electronic components as a stereo microscope.
【0028】しかしながら、下記のように配線パターン
を自動的に実施することもできる。すなわち、不良パタ
ーン検査装置30内の電子部品実装用フィルムキャリア
テープTの下方に配置された反射光照射装置36から投
射された反射光が、電子部品実装用フィルムキャリアテ
ープTに照射される。そして、電子部品実装用フィルム
キャリアテープTに反射した反射光が、不良パターン検
査装置30内の電子部品実装用フィルムキャリアテープ
Tの下方に配置されたラインセンサーと呼ばれるCCD
カメラ38によって受光されるようになっている。な
お、本実施例では、反射光を利用したパターン検査につ
いて述べたが、本発明は、何らこれに限定されるもので
はなく、例えば、透過光を用いたパターン検査にも用い
ることができる。However, the wiring pattern can be automatically implemented as follows. That is, the reflected light projected from the reflected light irradiation device 36 disposed below the electronic component mounting film carrier tape T in the defective pattern inspection device 30 is applied to the electronic component mounting film carrier tape T. Then, the reflected light reflected on the film carrier tape T for mounting electronic components is transferred to a CCD called a line sensor disposed below the film carrier tape T for mounting electronic components in the defective pattern inspection device 30.
The light is received by the camera 38. In this embodiment, the pattern inspection using the reflected light has been described. However, the present invention is not limited to this, and can be used for a pattern inspection using transmitted light, for example.
【0029】ところで、上記不良パターン検査装置30
では、図4に示したように、CCDカメラ38によって
認識されたリードの配線パターン情報が、制御装置80
に入力されるようになっている。この制御装置80内で
は、入力された情報が、RAMなどの記憶部82内に記
憶されるとともに、記憶部82内に予め入力された正常
な配線パターン(マスターパターン)と、比較演算部8
4において比較される。比較演算部84において、不良
と判断された場合、その結果が、CRTなどの表示装置
86に出力される。By the way, the defective pattern inspection apparatus 30
Then, as shown in FIG. 4, the lead wiring pattern information recognized by the CCD camera 38 is transmitted to the control device 80.
To be entered. In the control device 80, the input information is stored in a storage unit 82 such as a RAM, and a normal wiring pattern (master pattern) input in advance in the storage unit 82 is compared with a comparison operation unit 8.
4 are compared. If the comparison calculation unit 84 determines that the data is defective, the result is output to a display device 86 such as a CRT.
【0030】すなわち、比較演算部84において、不良
と判断された場合には、RAMなどの記憶部82内から
不良と判断された配線パターンと、正常なマスターパタ
ーンとの情報が、画像処理回路81によってパターンマ
ッチングの方法によって画像処理が行われ、CRTなど
の表示装置86に出力され、表示装置86上で画像が位
置あわせされ重ね合わされるようになっている。That is, when the comparison operation section 84 determines that the wiring pattern is defective, the information of the wiring pattern determined to be defective from the storage section 82 such as a RAM and the normal master pattern are stored in the image processing circuit 81. The image processing is performed by a pattern matching method, and is output to a display device 86 such as a CRT. The images are aligned and superimposed on the display device 86.
【0031】なお、このCCDカメラ38によって撮像
した(取り込んだ)配線パターンの情報は、例えば、特
開平6−27312号公報、特開平7−110863号
公報のようにA/D変換器でデジタル情報化するととも
に、濃淡画像処理して二値化に変換してエッジデータを
得、これと予め記憶された良品のマスターパターンのエ
ッジデータ(二値化情報)と比較することなどによっ
て、配線パターンの不良を検査するようになっている。The information of the wiring pattern imaged (taken in) by the CCD camera 38 is converted into digital information by an A / D converter as disclosed in, for example, JP-A-6-27312 and JP-A-7-110863. The edge pattern data is obtained by converting the image into a gray level image and converted into a binary image. The edge data is compared with the edge data (binary information) of the master pattern of a non-defective product stored in advance. Inspection for defects.
【0032】そして、不良パターン検査装置30で不良
と判断した場合には、不良部分の位置、すなわち、不良
部分の電子部品実装用フィルムキャリアテープの長手方
向の位置、幅方向の位置が、別途インキング、パンチン
グなどによって電子部品実装用フィルムキャリアテープ
に不良マークを施すマーキング装置40の制御装置90
へ出力されるようになっている。When the defective pattern inspection device 30 determines that the position is defective, the position of the defective portion, that is, the position of the defective portion in the longitudinal direction and the width direction of the film carrier tape for mounting electronic components is separately input. Control device 90 of marking device 40 for marking a defect on a film carrier tape for mounting electronic components by king, punching, or the like.
Output to
【0033】このように、不良パターン検査装置30に
よって、配線パターンの不良が検査された電子部品実装
用フィルムキャリアテープTは、続いて、案内ローラ3
3、41を介して、マーキング装置40に供給されるよ
うになっている。そして、マーキング装置40に供給さ
れた電子部品実装用フィルムキャリアテープTは、図1
に示したように、案内ローラ41から案内ローラ42を
通過する間に、不良パターン検査装置30で検知された
不良箇所の検知情報に基づいて、すなわち、電子部品実
装部の検査領域の検査結果に基づいて、不良が検出され
た各電子部品実装部の検査領域に、前記各電子部品実装
部の検査領域データに基づいて、マーキング装置40
を、図示しない公知のXYステージ機構によって、幅方
向Xおよび/または長手方向Yに移動させるようになっ
ている。As described above, the film carrier tape T for mounting electronic components, for which the defect of the wiring pattern has been inspected by the defect pattern inspection device 30, is subsequently transferred to the guide roller 3
It is supplied to the marking device 40 via 3 and 41. The film carrier tape T for mounting electronic components supplied to the marking device 40 is the same as that shown in FIG.
As shown in the figure, based on the detection information of the defective portion detected by the defective pattern inspection device 30 while passing through the guide roller 41 from the guide roller 41, that is, based on the inspection result of the inspection area of the electronic component mounting portion, Based on the inspection area data of each electronic component mounting unit, the marking device 40
Are moved in the width direction X and / or the longitudinal direction Y by a known XY stage mechanism (not shown).
【0034】これにより、不良箇所(電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープの表面または裏面に)にインキ、
パンチングなどによるマーキングが正確に位置精度良く
施されるようになっている。このように、マーキング装
置40によって、電子部品実装用フィルムキャリアテー
プTの表面または裏面の不良箇所の所定位置に、マーキ
ングが施された後、電子部品実装用フィルムキャリアテ
ープTは、案内ローラ42を通過して、次の巻き取り装
置50に供給される。In this way, ink or ink is applied to the defective portion (on the front surface or back surface of the film carrier tape for mounting electronic components).
Marking by punching or the like is performed accurately and with high positional accuracy. As described above, after marking is performed at a predetermined position of a defective portion on the front surface or the back surface of the electronic component mounting film carrier tape T by the marking device 40, the electronic component mounting film carrier tape T applies the guide roller 42 to the guide roller 42. After passing through, it is supplied to the next winding device 50.
【0035】図1に示したように、巻き取り装置50に
供給された電子部品実装用フィルムキャリアテープT
は、巻き取り駆動軸52に装着されたリールRに、案内
ローラ53を介して、図示しない駆動モータの駆動によ
り巻き取り軸52が回転することにより、電子部品実装
用フィルムキャリアテープTが巻き取られる。この際、
送り出し装置20のリールRから繰り出されたスペーサ
Sが、案内ローラ57、56及び巻き弛み防止器59を
介して、巻き取り装置50のリールRに供給され電子部
品実装用フィルムキャリアテープの間に介装され、電子
部品実装用フィルムキャリアテープ同士が接触してイン
キが別の部分に付着したり、電子部品実装用フィルムキ
ャリアテープが損傷しないように保護するようになって
いる。As shown in FIG. 1, the film carrier tape T for mounting electronic parts supplied to the winding device 50 is provided.
The film carrier tape T for mounting an electronic component is wound on the reel R mounted on the winding drive shaft 52 via a guide roller 53 and driven by a drive motor (not shown). Can be On this occasion,
The spacer S fed from the reel R of the feeding device 20 is supplied to the reel R of the winding device 50 via the guide rollers 57 and 56 and the winding slack preventer 59 and is interposed between the electronic component mounting film carrier tapes. The electronic component mounting film carrier tapes are mounted so as to prevent the ink from adhering to another portion due to contact with each other and the electronic component mounting film carrier tape from being damaged.
【0036】なお、巻き取り装置50には、図1に示し
たように、送り出し装置20と同様に、上下方向に3個
の位置センサー51が設けられており、下方の位置セン
サーによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープ
Tの弛み部分の下端T’が検知された際には、巻き取り
装置50の駆動モータの駆動を停止して、電子部品実装
用フィルムキャリアテープが弛みすぎて床に接触して損
傷するのを防止するようになっている。また、上方の位
置センサーによって、電子部品実装用フィルムキャリア
テープTの弛み部分の下端T’が検知された際には、巻
き取り装置50の駆動モータの駆動を開始して一定の電
子部品実装用フィルムキャリアテープの弛みを維持する
ようになっている。As shown in FIG. 1, the winding device 50 is provided with three position sensors 51 in the vertical direction, similarly to the feeding device 20. When the lower end T 'of the slack portion of the mounting film carrier tape T is detected, the drive of the drive motor of the winding device 50 is stopped, and the electronic component mounting film carrier tape is too loose and comes into contact with the floor. To prevent damage. When the lower end T 'of the slack portion of the electronic component mounting film carrier tape T is detected by the upper position sensor, the drive motor of the winding device 50 is started to drive the electronic component mounting fixed. The slack of the film carrier tape is maintained.
【0037】以上、本発明の好ましい実施の態様を説明
してきたが、本発明はこれに限定されることはなく、上
記実施例では、電子部品実装部の中心を基準にしたが、
適当に電子部品内に基準点を設けておき、これを基準と
することも可能であるなど、本発明の目的を逸脱しない
範囲で種々の変更が可能である。Although the preferred embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to this. In the above embodiment, the center of the electronic component mounting portion was used as a reference.
Various changes can be made without departing from the object of the present invention, such as by providing a reference point appropriately in the electronic component and using the reference point as a reference.
【0038】[0038]
【発明の効果】本発明によれば、電子部品実装用フィル
ムキャリアテープのスプロケット孔を基準にすることな
く、電子部品実装部ブロックの中の基準となる電子部品
実装部を基準として、各電子部品実装部に位置を演算し
て、その位置情報を得ることができる。According to the present invention, each electronic component can be referenced with respect to the electronic component mounting portion, which is the reference in the electronic component mounting portion block, without reference to the sprocket holes of the film carrier tape for mounting electronic components. The position is calculated by the mounting unit, and the position information can be obtained.
【0039】そして、この位置情報と、電子部品実装部
の幅方向の寸法xと、長手方向の寸法yとに基づいて、
各電子部品実装部の検査領域の検査領域データを演算処
理することによって得ることができる。従って、これら
のデータに基づいて、検査装置を幅方向Xおよび/また
は長手方向Yに移動させることによって、各電子部品実
装部の検査領域について、位置精度よく正確な品質検査
を実施することができる。Then, based on the position information, the dimension x in the width direction and the dimension y in the longitudinal direction of the electronic component mounting portion,
It can be obtained by performing arithmetic processing on the inspection area data of the inspection area of each electronic component mounting unit. Therefore, by moving the inspection device in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on these data, an accurate quality inspection can be performed with good positional accuracy on the inspection region of each electronic component mounting portion. .
【0040】また、本発明によれば、各電子部品実装部
の検査領域の検査結果に基づいて、不良マーキング装置
を、幅方向Xおよび/または長手方向Yに移動させるこ
とによって、不良が検出された各電子部品実装部の検査
領域に位置させることができ、各電子部品実装部の検査
領域について、位置精度よく正確な品質検査を実施する
ことができるなどの幾多の作用効果を奏する極めて優れ
た発明である。Further, according to the present invention, a defect is detected by moving the defect marking device in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on the inspection result of the inspection region of each electronic component mounting portion. It can be positioned in the inspection area of each electronic component mounting part, and it is possible to perform an accurate quality inspection with high positional accuracy on the inspection area of each electronic component mounting part. It is an invention.
【図1】図1は、本発明の電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの検査装置の正面図である。FIG. 1 is a front view of an inspection device for a film carrier tape for mounting electronic components according to the present invention.
【図2】図2は、本発明の電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの検査方法を説明する平面図である。FIG. 2 is a plan view illustrating a method of inspecting a film carrier tape for mounting electronic components according to the present invention.
【図3】図3は、本発明の電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの検査方法を説明する概略平面図である。FIG. 3 is a schematic plan view illustrating a method for inspecting a film carrier tape for mounting electronic components according to the present invention.
【図4】図4は、本発明の電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの検査装置の概略構成図である。FIG. 4 is a schematic configuration diagram of an inspection device for a film carrier tape for mounting electronic components according to the present invention.
【図5】図5は、多数個取りの電子部品実装用フィルム
キャリアテープの平面図である。FIG. 5 is a plan view of a film carrier tape for mounting multiple electronic components.
10 検査装置 20 送り出し装置 21 案内ローラ 22 駆動軸 28 位置センサー 30 不良パターン検査装置 31 案内ローラ 32 バックテンションギア 33 案内ローラ 34 ドライブギア 36 反射光照射装置 38 カメラ 40 マーキング装置 41 案内ローラ 42 案内ローラ 50 巻き取り装置 51 位置センサー 52 駆動軸 53 案内ローラ 57 案内ローラ 59 ダンサーローラ 80 制御装置 81 画像処理回路 82 記憶部 84 比較演算部 86 表示装置 90 制御装置 100 電子部品実装用フィルムキャリアテープ 102 電子部品実装部 102a 電子部品実装部 103 中心 103a 中心 104a スプロケット孔 104 電子部品実装部ブロック 106 スプロケット孔 200 電子部品実装用フィルムキャリアテープ 202 電子部品実装部 204 電子部品実装部ブロック 206 スプロケット孔 O 基準原点 Pm,n 位置 R リール D 検査領域データ S スペーサ T 電子部品実装用フィルムキャリアテープ X 幅方向 Y 長手方向 x 寸法 y 寸法 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Inspection device 20 Sending device 21 Guide roller 22 Drive shaft 28 Position sensor 30 Defective pattern inspection device 31 Guide roller 32 Back tension gear 33 Guide roller 34 Drive gear 36 Reflected light irradiation device 38 Camera 40 Marking device 41 Guide roller 42 Guide roller 50 Take-up device 51 Position sensor 52 Drive shaft 53 Guide roller 57 Guide roller 59 Dancer roller 80 Control device 81 Image processing circuit 82 Storage unit 84 Comparison operation unit 86 Display device 90 Control device 100 Film carrier tape for electronic component mounting 102 Electronic component mounting Part 102a Electronic part mounting part 103 Center 103a Center 104a Sprocket hole 104 Electronic part mounting part block 106 Sprocket hole 200 Electronic part mounting film carrier tape 2 2 electronic component mounting portion 204 electronic component mounting portion block 206 sprocket hole O reference origin Pm, n position R reel D inspection region data S spacer T film carrier tape X width direction Y longitudinal direction x dimension y dimension
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 萩 原 弘 太 山口県下関市彦島西山町1丁目1−1 株 式会社エム・シー・エス内 Fターム(参考) 2G051 AA65 AA90 AB02 AC21 CA04 CB01 DA06 DA15 EA11 EB01 ED11 5F044 MM00 MM03 MM14 MM40 MM48 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Hirota Hagiwara 1-1-1 Hikoshima Nishiyamacho, Shimonoseki-shi, Yamaguchi Pref. M.C.S. DA15 EA11 EB01 ED11 5F044 MM00 MM03 MM14 MM40 MM48
Claims (4)
に複数個配列されてなる電子部品実装部ブロックが、長
手方向に一定間隔離間して連続して配列された電子部品
実装用フィルムキャリアテープの配線パターンの不良を
検査する電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査
方法であって、 前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの長手方向
に連続して形成されたスプロケット孔を基準にして、検
査すべき電子部品実装部ブロックが、検査装置の検査位
置に位置するように、電子部品実装用フィルムキャリア
テープの搬送を停止するとともに、 前記電子部品実装部ブロックの中の基準となる電子部品
実装部の中心の基準位置を基準原点O(0,0)とし
て、 幅方向に相互に隣接する電子部品実装部の基準位置まで
の距離をaとし、 長手方向に相互に隣接する電子部品実装部の基準位置ま
での距離をbとして、 各電子部品実装部の位置Pm,n(ma,nb)を演算
し、 但し、ここで、mは、基準となる電子部品実装部から幅
方向の電子部品実装部のm番目の位置、nは、基準とな
る電子部品実装部から長手方向の電子部品実装部のn番
目の位置を示し、 前記各電子部品実装部の位置Pm,n(ma,nb)の
位置情報と、電子部品実装部の幅方向の寸法xと、長手
方向の寸法yとに基づいて、 各電子部品実装部の検査領域の検査領域データを演算
し、 前記各電子部品実装部の検査領域データに基づいて、検
査装置を幅方向Xおよび/または長手方向Yに移動させ
て、各電子部品実装部の検査領域を検査することを特徴
とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方
法。An electronic component mounting film carrier tape in which a plurality of electronic component mounting blocks in which a plurality of electronic component mounting portions are arranged in a width direction and a longitudinal direction are continuously arranged at predetermined intervals in a longitudinal direction. A method for inspecting a film carrier tape for electronic component mounting for inspecting a defect of a wiring pattern of the above, wherein the inspection should be performed with reference to sprocket holes continuously formed in the longitudinal direction of the film carrier tape for electronic component mounting. The electronic component mounting unit block stops transporting the electronic component mounting film carrier tape so that the electronic component mounting unit block is located at the inspection position of the inspection device, and the center of the electronic component mounting unit serving as a reference in the electronic component mounting unit block. Is defined as the reference origin O (0,0), and the distance to the reference position of the electronic component mounting portions adjacent to each other in the width direction is defined as a, The position Pm, n (ma, nb) of each electronic component mounting part is calculated by setting the distance to the reference position of the electronic component mounting parts adjacent to each other in the hand direction as b, where m is the reference and The n-th position of the electronic component mounting portion in the width direction from the electronic component mounting portion, and n indicates the n-th position of the electronic component mounting portion in the longitudinal direction from the reference electronic component mounting portion. Inspection area data of the inspection area of each electronic component mounting section based on the position information of the position Pm, n (ma, nb) of the section, the width x of the electronic component mounting section, and the length y of the electronic component mounting section. The inspection device is moved in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on the inspection area data of each of the electronic component mounting sections, and the inspection area of each of the electronic component mounting sections is inspected. Of electronic component mounting film carrier tape Method.
結果に基づいて、不良が検出された各電子部品実装部の
検査領域に、前記各電子部品実装部の検査領域データに
基づいて、不良マーキング装置を幅方向Xおよび/また
は長手方向Yに移動させて、不良マーキングを施すこと
を特徴とする請求項1に記載の電子部品実装用フィルム
キャリアテープの検査方法。2. An inspection area of each electronic component mounting section in which a defect is detected, based on an inspection result of an inspection area of each electronic component mounting section, based on an inspection area data of each electronic component mounting section. The method for inspecting a film carrier tape for mounting electronic components according to claim 1, wherein the defect marking is performed by moving the defective marking device in the width direction X and / or the longitudinal direction Y.
に複数個配列されてなる電子部品実装部ブロックが、長
手方向に一定間隔離間して連続して配列された電子部品
実装用フィルムキャリアテープの配線パターンの不良を
検査する電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査
装置であって、 前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの長手方向
に連続して形成されたスプロケット孔を基準にして、検
査すべき電子部品実装部ブロックが、検査装置の検査位
置に位置するように、電子部品実装用フィルムキャリア
テープの搬送を停止するとともに、 前記電子部品実装部ブロックの中の基準となる電子部品
実装部の中心の基準位置を基準原点O(0,0)とし
て、 幅方向に相互に隣接する電子部品実装部の基準位置まで
の距離をaとし、 長手方向に相互に隣接する電子部品実装部の基準位置ま
での距離をbとして、 各電子部品実装部の位置Pm,n(ma,nb)を演算
し、 但し、ここで、mは、基準となる電子部品実装部から幅
方向の電子部品実装部のm番目の位置、nは、基準とな
る電子部品実装部から長手方向の電子部品実装部のn番
目の位置を示し、 前記各電子部品実装部の位置Pm,n(ma,nb)の
位置情報と、電子部品実装部の幅方向の寸法xと、長手
方向の寸法yとに基づいて、 各電子部品実装部の検査領域の検査領域データを演算処
理する検査領域演算処理装置を備え、 前記位置情報および演算処理装置からの検査領域データ
に基づいて、検査装置を幅方向Xおよび/または長手方
向Yに移動させる検査装置移動制御装置とを備えること
を特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの
検査装置。3. A film carrier tape for mounting an electronic component in which a plurality of electronic component mounting blocks each having a plurality of electronic component mounting portions arranged in a width direction and a longitudinal direction are continuously arranged at predetermined intervals in a longitudinal direction. An electronic component mounting film carrier tape inspection device for inspecting a defect of a wiring pattern of the electronic component mounting film carrier tape, wherein the inspection should be performed based on sprocket holes continuously formed in a longitudinal direction of the electronic component mounting film carrier tape. The electronic component mounting unit block stops transporting the electronic component mounting film carrier tape so that the electronic component mounting unit block is located at the inspection position of the inspection device, and the center of the electronic component mounting unit serving as a reference in the electronic component mounting unit block. Is defined as the reference origin O (0,0), and the distance to the reference position of the electronic component mounting portions adjacent to each other in the width direction is defined as a, The position Pm, n (ma, nb) of each electronic component mounting part is calculated by setting the distance to the reference position of the electronic component mounting parts adjacent to each other in the hand direction as b, where m is the reference and The n-th position of the electronic component mounting portion in the width direction from the electronic component mounting portion, and n indicates the n-th position of the electronic component mounting portion in the longitudinal direction from the reference electronic component mounting portion. Inspection area data of the inspection area of each electronic component mounting section based on the position information of the position Pm, n (ma, nb) of the section, the width x of the electronic component mounting section, and the length y of the electronic component mounting section. An inspection device movement control device for operating the inspection device in the width direction X and / or the longitudinal direction Y based on the position information and the inspection region data from the arithmetic processing device. Characterized by comprising The film carrier tape of the inspection apparatus.
結果に基づいて、不良が検出された各電子部品実装部の
検査領域に、前記各電子部品実装部の検査領域データに
基づいて、幅方向Xおよび/または長手方向Yに移動さ
せて、不良マーキングを施す不良マーキング装置を備え
ることを特徴とする請求項3に記載の電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープの検査装置。4. An inspection area of each electronic component mounting section in which a defect is detected, based on an inspection result of the inspection area of each electronic component mounting section, based on an inspection area data of each electronic component mounting section. The inspection device for a film carrier tape for mounting electronic components according to claim 3, further comprising a defect marking device that moves in the width direction X and / or the longitudinal direction Y to perform defect marking.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000259050A JP2002071579A (en) | 2000-08-29 | 2000-08-29 | Method and device for inspecting film carrier tape for mounting electronic component |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP2000259050A JP2002071579A (en) | 2000-08-29 | 2000-08-29 | Method and device for inspecting film carrier tape for mounting electronic component |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002071579A true JP2002071579A (en) | 2002-03-08 |
Family
ID=18747272
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000259050A Pending JP2002071579A (en) | 2000-08-29 | 2000-08-29 | Method and device for inspecting film carrier tape for mounting electronic component |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002071579A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007273628A (en) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Fujitsu Ltd | Manufacturing method of semiconductor device |
KR20180088085A (en) * | 2017-01-26 | 2018-08-03 | 주식회사 제니스테크 | Devices of inspecting films, patterning devices having the same and methods of inspecting films |
-
2000
- 2000-08-29 JP JP2000259050A patent/JP2002071579A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007273628A (en) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Fujitsu Ltd | Manufacturing method of semiconductor device |
KR20180088085A (en) * | 2017-01-26 | 2018-08-03 | 주식회사 제니스테크 | Devices of inspecting films, patterning devices having the same and methods of inspecting films |
KR101933079B1 (en) | 2017-01-26 | 2019-03-15 | 주식회사 제니스테크 | Devices of inspecting films, patterning devices having the same and methods of inspecting films |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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