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JP2002069014A - Method for producing octafluoropropane and applicatoin thereof - Google Patents

Method for producing octafluoropropane and applicatoin thereof

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Publication number
JP2002069014A
JP2002069014A JP2000260205A JP2000260205A JP2002069014A JP 2002069014 A JP2002069014 A JP 2002069014A JP 2000260205 A JP2000260205 A JP 2000260205A JP 2000260205 A JP2000260205 A JP 2000260205A JP 2002069014 A JP2002069014 A JP 2002069014A
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JP
Japan
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octafluoropropane
gas
heptafluoropropane
producing
hydrogen fluoride
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JP2000260205A
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Japanese (ja)
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Hiromoto Ono
博基 大野
Toshio Oi
敏夫 大井
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Showa Denko KK
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for producing octafluoropropane to be used in the production process for semiconductor devices, and to provide a high-purity octafluoropropane produced by the method, and to provide its applications. SOLUTION: This method for producing octafluoropropane comprises the step (1) of reacting hexafluoropropene with hydrogen fluoride in a vapor phase at 150-450 deg.C in the presence of a fluorinating catalyst, to form 2H- heptafluoropropane and step (2) of reacting the 2H-heptafluoropropane obtained in the step (1) with a fluorine gas in the absence of catalyst in a vapor phase at 250-500 deg.C to obtain the objective octafluoropropane.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はオクタフルオロプロ
パンの製造方法、オクタフルオロプロパン製品及びその
用途に関する。
The present invention relates to a method for producing octafluoropropane, an octafluoropropane product and its use.

【0002】[0002]

【従来の技術】オクタフルオロプロパンは、例えば半導
体デバイス製造プロセスにおけるドライエッチングガス
やクリーニングガスとして使用されている。その製造方
法としては、 (1)ヘキサフルオロプロペンとフッ素ガスとを直接フ
ッ素化反応させる方法(特公昭62−61572号公
報) (2)ヘキサフルオロプロペンをフッ化水素中で電解フ
ッ素化する方法(特公昭62−61115号公報) (3)ヘキサフルオロプロペンとフッ素とを触媒の存在
下で反応させる方法(特公平1−45455号公報) (4)ヘキサフルオロプロペンを高次金属フッ化物と反
応させる方法(特公昭62−54777号公報) 等が知られている。
2. Description of the Related Art Octafluoropropane is used, for example, as a dry etching gas or a cleaning gas in a semiconductor device manufacturing process. The production method includes: (1) a method of directly fluorinating hexafluoropropene with fluorine gas (Japanese Patent Publication No. 62-15772); and (2) a method of electrolytically fluorinating hexafluoropropene in hydrogen fluoride. (Japanese Patent Publication No. 62-61115) (3) A method of reacting hexafluoropropene with fluorine in the presence of a catalyst (Japanese Patent Publication No. 45455/1992) (4) Reacting hexafluoropropene with a higher metal fluoride A method (Japanese Patent Publication No. 62-54777) is known.

【0003】しかしながら、これらの方法は、テトラフ
ルオロメタン(CF4)、ヘキサフルオロエタン(C2
6)等の副生成物が開裂によって生成し、ラジカル付加
によりC612、C614等が生成し、また環化付加によ
る四員環の生成等が起こり、目的物であるオクタフルオ
ロプロパンの収率及び選択率が低下する。さらにこれら
の不純物の中には蒸留操作では分離困難な化合物があ
り、高純度のオクタフルオロプロパンを取得するには困
難を伴うという問題点があった。特に出発原料としてヘ
キサフルオロプロペンを用いる場合には、不純物として
含まれているクロロペンタフルオロエタン(CFC−1
15)はフッ素ガスとはほとんど反応せずに目的物であ
るオクタフルオロプロパン中に含有され、沸点が近接し
ているため蒸留操作では分離困難であり、高純度のオク
タフルオロプロパンを取得することは困難であった。
[0003] However, these methods use tetrafluoromethane (CF 4 ), hexafluoroethane (C 2 F).
6 ) and the like are generated by cleavage, radical addition produces C 6 F 12 , C 6 F 14 and the like, and cycloaddition produces a four-membered ring and the like. Propane yield and selectivity decrease. Furthermore, among these impurities, there are compounds that are difficult to separate by a distillation operation, and there is a problem that it is difficult to obtain high-purity octafluoropropane. In particular, when hexafluoropropene is used as a starting material, chloropentafluoroethane (CFC-1) contained as an impurity is used.
15) hardly reacts with fluorine gas and is contained in octafluoropropane, which is the target substance, and it is difficult to separate by distillation operation due to its close boiling point. Therefore, it is difficult to obtain high-purity octafluoropropane. It was difficult.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような背
景の下になされたものであって、本発明は半導体デバイ
スの製造プロセスにおいて使用されるオクタフルオロプ
ロパンを製造する方法、高純度オクタフルオロプロパン
及びその用途を提供することを課題とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made under such a background, and the present invention relates to a method for producing octafluoropropane used in a semiconductor device manufacturing process, a high-purity octafluoropropane. It is an object to provide propane and its use.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、前記の課
題を解決すべく鋭意検討した結果、(1)フッ素化触媒
の存在下、ヘキサフルオロプロペンとフッ化水素を気相
で150〜450℃で反応させて2H−ヘプタフルオロ
プロパンを得る工程、(2)工程(1)で得られる2H
−ヘプタフルオロプロパンとフッ素ガスを無触媒下、気
相で250〜500℃で反応させてオクタフルオロプロ
パンを得る工程、とを含む製造方法を用いれば高純度の
オクタフルオロプロパンを製造できることを見出し、本
発明を完成するに至った。
The present inventors have made intensive studies to solve the above-mentioned problems, and as a result, (1) in the presence of a fluorination catalyst, hexafluoropropene and hydrogen fluoride in the gaseous phase in 150-150. Reaction at 450 ° C. to obtain 2H-heptafluoropropane, (2) 2H obtained in step (1)
A step of obtaining octafluoropropane by reacting heptafluoropropane and fluorine gas in a gas phase at 250 to 500 ° C. in the absence of a catalyst to obtain octafluoropropane, and found that high-purity octafluoropropane can be produced by using a production method, The present invention has been completed.

【0006】すなわち、本発明(I)は、(1)フッ素
化触媒の存在下、ヘキサフルオロプロペンとフッ化水素
を気相で150〜450℃で反応させて2H−ヘプタフ
ルオロプロパンを得る工程、(2)工程(1)で得られ
る2H−ヘプタフルオロプロパンとフッ素ガスを無触媒
下、気相で250〜500℃で反応させてオクタフルオ
ロプロパンを得る工程、とを含むことを特徴とするオク
タフルオロプロパンの製造方法であり、本発明(I)に
おいて、ヘキサフルオロプロペンが、ジクロロジフルオ
ロメタン、クロロジフルオロメタン、クロロペンタフル
オロエタン、クロロテトラフルオロエタン及びクロロト
リフルオロエチレンからなる群から選ばれる少なくとも
1種の化合物を含有するものであること、工程(1)に
おいて、フッ素化触媒がクロムの酸化物を主成分とする
ものであり、インジウム、亜鉛及びニッケルからなる群
から選ばれる少なくとも1種を添加してなる塊状触媒で
あること、また、フッ化水素/ヘキサフルオロプロペン
のモル比が0.8〜3の範囲であることは好ましい実施
の形態である。
That is, the present invention (I) comprises (1) a step of reacting hexafluoropropene and hydrogen fluoride in the gas phase at 150 to 450 ° C. in the presence of a fluorination catalyst to obtain 2H-heptafluoropropane; (2) reacting 2H-heptafluoropropane obtained in step (1) with fluorine gas in the gas phase at 250 to 500 ° C. in the absence of a catalyst to obtain octafluoropropane. A method for producing fluoropropane, wherein in the present invention (I), hexafluoropropene is at least one selected from the group consisting of dichlorodifluoromethane, chlorodifluoromethane, chloropentafluoroethane, chlorotetrafluoroethane and chlorotrifluoroethylene. , And a fluorinated catalyst in step (1). Is a bulk catalyst containing chromium oxide as a main component, and at least one selected from the group consisting of indium, zinc and nickel, and a hydrogen fluoride / hexafluoropropene molar ratio. It is a preferred embodiment that the ratio is in the range of 0.8 to 3.

【0007】また、本発明(I)において、工程(2)
の前に、2H−ヘプタフルオロプロパン中に含まれる不
純物を除去する工程を含むこと、該不純物が、テトラフ
ルオロメタン、トリフルオロメタン、クロロトリフルオ
ロメタン、ヘキサフルオロエタン及びペンタフルオロエ
タンからなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物で
あること、該不純物を除去する工程が蒸留工程であるこ
と、2H−ヘプタフルオロプロパン中に含まれる塩素化
合物が0.01vol%以下であることは好ましい実施
の形態である。
In the present invention (I), the step (2)
Before the step of removing impurities contained in 2H-heptafluoropropane, wherein the impurities are selected from the group consisting of tetrafluoromethane, trifluoromethane, chlorotrifluoromethane, hexafluoroethane and pentafluoroethane. It is a preferred embodiment that the compound is at least one compound, the step of removing the impurities is a distillation step, and the chlorine compound contained in 2H-heptafluoropropane is 0.01 vol% or less.

【0008】また、本発明(I)において、工程(2)
が希釈ガスの存在下で行うものであり、該希釈ガスが、
フッ化水素、テトラフルオロメタン、ヘキサフルオロエ
タン及びオクタフルオロプロパンからなる群から選ばれ
る少なくとも1種であること、工程(2)において、フ
ッ素ガス/2H−ヘプタフルオロプロパンのモル比が
0.9〜1.5の範囲であること、2H−ヘプタフルオ
ロプロパンの反応器入口濃度が8モル%以下であるこ
と、は好ましい実施の形態である。
In the present invention (I), the step (2)
Is performed in the presence of a diluent gas, wherein the diluent gas is
Being at least one member selected from the group consisting of hydrogen fluoride, tetrafluoromethane, hexafluoroethane, and octafluoropropane; in step (2), the molar ratio of fluorine gas / 2H-heptafluoropropane is 0.9 to 0.9; It is a preferred embodiment that the range is 1.5 and the concentration of 2H-heptafluoropropane at the reactor inlet is 8 mol% or less.

【0009】さらに、本発明(I)において、工程
(2)の出口ガスの少なくとも一部を循環し、工程
(2)の希釈ガスとして再使用すること、工程(2)の
出口ガスの少なくとも一部とハイドロフルオロカーボン
類を反応させ、出口ガス中の未反応フッ素ガスを除去す
る工程を含むこと、該ハイドロフルオロカーボン類が、
トリフルオロメタン、テトラフルオロエタン、ペンタフ
ルオロエタン、2H−ヘプタフルオロプロパンからなる
群から選ばれる少なくとも1種の化合物であること、工
程(2)の出口ガスに含まれるフッ化水素を分離し、分
離したフッ化水素を工程(1)及び/または工程(2)
に戻すこと、フッ化水素を分離したガスからオクタフル
オロプロパンの少なくとも一部を分離し、残りのガスを
工程(1)及び/または工程(2)へ戻すことは好まし
い実施の形態である。
Furthermore, in the present invention (I), at least a part of the outlet gas of the step (2) is circulated and reused as a diluent gas of the step (2), and at least one of the outlet gases of the step (2) is used. Part and reacting the hydrofluorocarbons, including a step of removing unreacted fluorine gas in the outlet gas, the hydrofluorocarbons,
Being at least one compound selected from the group consisting of trifluoromethane, tetrafluoroethane, pentafluoroethane, and 2H-heptafluoropropane; and separating and separating hydrogen fluoride contained in the outlet gas of step (2). Hydrogen fluoride in step (1) and / or step (2)
It is a preferred embodiment to return to the above, to separate at least a part of octafluoropropane from the gas from which hydrogen fluoride has been separated, and to return the remaining gas to the step (1) and / or the step (2).

【0010】本発明(II)は、純度が99.995vo
l%以上であるオクタフルオロプロパンを含有すること
を特徴とするオクタフルオロプロパン製品であり、分子
内に塩素原子を含有する化合物と環状化合物の総量が5
0volppm以下であることは好ましい実施の形態で
ある。また、本発明(III)は、前記のオクタフルオロ
プロパン製品を含有することを特徴とするエッチングガ
スであり、本発明(IV)は、前記のオクタフルオロプロ
パン製品を含有することを特徴とするクリーニングガス
である。
The present invention (II) has a purity of 99.995 vo.
An octafluoropropane product containing 1% or more of octafluoropropane, wherein the total amount of a compound containing a chlorine atom in a molecule and a cyclic compound is 5%.
A preferred embodiment is below 0 volppm. Further, the present invention (III) is an etching gas containing the above octafluoropropane product, and the present invention (IV) is a cleaning gas containing the above octafluoropropane product. Gas.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明について詳しく説明
する。本発明(I)で用いられるヘキサフルオロプロペ
ン(CF3CF=CF2)は、例えばクロロジフルオロメ
タン(CHClF2)の熱分解によってテトラフルオロ
エチレン(CF2=CF2)を製造する工程における副生
物として得られ、あるいは特開平4−145033号公
報に記載されているように、プロパン、プロピレンある
いは部分的にハロゲン化されているC3非環状炭化水素
類を、クロロフルオロ化して脱ハロゲン化する方法等に
より得られる。しかしながら、これらの方法で得られる
ヘキサフルオロプロペンは、不純物としてジクロロジフ
ルオロメタン、クロロジフルオロメタン、クロロペンタ
フルオロエタン、クロロテトラフルオロエタン、クロロ
トリフルオロエチレン等の分子内に塩素原子を含む化合
物が混入している場合が多い。本発明はこれらの不純物
を含んでいてもよいヘキサフルオロプロペンを出発原料
とするオクタフルオロプロパンの製造方法を提供するも
のであるが、ここで、中間体の2H−ヘプタフルオロプ
ロパン、目的物のオクタフルオロプロパンとこれらの不
純物の沸点を表1に示す。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described in detail. Hexafluoropropene used in the present invention (I) (CF 3 CF = CF 2) , for example chlorodifluoromethane sub in the production step of tetrafluoroethylene (CF 2 = CF 2) by the thermal decomposition of (CHClF 2) Biological Or propane, propylene or partially halogenated C3 non-cyclic hydrocarbons obtained by chlorofluorination to dehalogenate as described in JP-A-4-14503. Is obtained by However, hexafluoropropene obtained by these methods contains impurities such as dichlorodifluoromethane, chlorodifluoromethane, chloropentafluoroethane, chlorotetrafluoroethane, and chlorotrifluoroethylene, which contain chlorine atoms in the molecule. Often have. The present invention provides a process for producing octafluoropropane from hexafluoropropene, which may contain these impurities, as a starting material. Here, an intermediate 2H-heptafluoropropane and a target octafluoropropane are provided. Table 1 shows the boiling points of fluoropropane and these impurities.

【0012】[0012]

【表1】 表1に示した沸点から明らかなように、出発原料である
ヘキサフルオロプロペン中に含まれる、分子内に塩素原
子を含む化合物の沸点はオクタフルオロプロパンの沸点
と近接し、蒸留操作のみでは分離困難である。
[Table 1] As is clear from the boiling point shown in Table 1, the boiling point of the compound containing a chlorine atom in the molecule contained in the starting material hexafluoropropene is close to the boiling point of octafluoropropane, and it is difficult to separate the compound by distillation alone. It is.

【0013】そこで、本発明(I)のオクタフルオロプ
ロパンの製造方法は、先ず、フッ素化触媒の存在下、へ
キサフルオロプロペンとフッ化水素を気相で反応温度1
50〜450℃で反応させて2H−ヘプタフルオロプロ
パンを得る工程(1)を行う。工程(1)は、次の二つ
のポイントを有している。すなわち、 〔1〕ヘキサフルオロプロペンをフッ素ガスと直接フッ
素化反応させる場合、あるいは触媒や高次金属フッ化物
等の存在下でフッ素ガスと直接フッ素化反応させる場
合、炭素−炭素結合の開裂反応、ラジカル付加反応、環
化付加反応等により様々な副生物が生成する。このた
め、収率、選択率の低下のみならず、高純度のオクタフ
ルオロプロパンを取得することは困難であった。本発明
は触媒の存在下、ヘキサフルオロプロペンにフッ化水素
を付加し、中間体である2H−ヘプタフルオロプロパン
を収率、選択率よく得ることにより、これらの反応によ
る副生物の生成を抑制することができる。
Therefore, the process for producing octafluoropropane according to the present invention (I) comprises first reacting hexafluoropropene and hydrogen fluoride in the gas phase in the presence of a fluorination catalyst at a reaction temperature of 1: 1.
Step (1) of reacting at 50 to 450 ° C. to obtain 2H-heptafluoropropane is performed. Step (1) has the following two points. That is, [1] when hexafluoropropene is directly fluorinated with fluorine gas, or when directly fluorinated with fluorine gas in the presence of a catalyst or a higher metal fluoride, a cleavage reaction of a carbon-carbon bond, Various by-products are generated by a radical addition reaction, a cycloaddition reaction and the like. For this reason, it has been difficult not only to reduce the yield and the selectivity but also to obtain high-purity octafluoropropane. The present invention suppresses the generation of by-products due to these reactions by adding hydrogen fluoride to hexafluoropropene in the presence of a catalyst to obtain 2H-heptafluoropropane as an intermediate with high yield and selectivity. be able to.

【0014】〔2〕前述のように、ヘキサフルオロプロ
ペン中には不純物として分子内に塩素原子を含む化合物
が含まれている場合が多く、蒸留操作ではこれらの化合
物を分離することは困難である。本発明では、ヘキサフ
ルオロプロペンにフッ化水素を付加し、中間体である2
H−ヘプタフルオロプロパンを得る反応と同時に、分子
内に塩素原子を含む化合物を、フッ化水素を用いてフッ
素化し、蒸留分離し易い化合物に変換することができ
る。
[2] As described above, hexafluoropropene often contains a compound containing a chlorine atom in the molecule as an impurity, and it is difficult to separate these compounds by distillation. . In the present invention, hydrogen fluoride is added to hexafluoropropene to give an intermediate 2
At the same time as the reaction for obtaining H-heptafluoropropane, a compound containing a chlorine atom in the molecule can be fluorinated using hydrogen fluoride and converted into a compound that can be easily separated by distillation.

【0015】ヘキサフルオロプロペンにフッ化水素を付
加する反応は、フッ素化触媒の存在下、以下に示す式
(1)に従って進行する。 CF3CF=CF2 + HF → CF3CHFCF3 (1) フッ素化触媒としては、通常使用されるクロム系触媒を
用いることができる。ヘキサフルオロプロペンが塩素系
の不純物を含んでおり、その塩素系不純物をフッ素化し
て他の化合物に転化させる場合には、反応温度がより高
温となるため、活性(性能)、安定性(寿命)に優れた
触媒として、クロムの酸化物を主成分とし、これにイン
ジウム、亜鉛及びニッケルのうち、少なくとも1種を添
加してなる塊状触媒を用いることが好ましい。担持型触
媒(例えばアルミナ担体)でもよいが、活性、安定性の
点で塊状触媒が好ましい。これらの触媒は反応に使用す
る前に、フッ化水素によってフッ素化処理する活性化を
行って反応に使用することができる。
The reaction of adding hydrogen fluoride to hexafluoropropene proceeds according to the following formula (1) in the presence of a fluorination catalyst. CF 3 CF = CF 2 + HF → CF 3 CHFCF 3 (1) As the fluorination catalyst, a chromium-based catalyst that is usually used can be used. Hexafluoropropene contains chlorine-based impurities, and when the chlorine-based impurities are fluorinated and converted to other compounds, the reaction temperature is higher, so the activity (performance) and stability (lifetime) As an excellent catalyst, it is preferable to use a bulk catalyst comprising a chromium oxide as a main component and adding at least one of indium, zinc and nickel thereto. A supported catalyst (for example, an alumina carrier) may be used, but a bulk catalyst is preferred in view of activity and stability. These catalysts can be activated for fluorination treatment with hydrogen fluoride before use in the reaction and used in the reaction.

【0016】工程(1)において、ヘキサフルオロプロ
ペン中の不純物の種類や含有量によって左右されるが、
反応温度は150〜450℃の範囲であり、好ましくは
200〜350℃である。また、ヘキサフルオロプロペ
ン中に不純物としてCFC−115が含まれている場合
には、反応温度は350〜450℃の範囲がよく、好ま
しくは350〜400℃である。反応温度が450℃以
上では、触媒の安定性が低下する傾向があり好ましくな
い。また、150℃以下では、目的の反応の転化率が低
下することと、不純物化合物のフッ素化反応が遅く、好
ましくない。また、フッ化水素とヘキサフルオロプロペ
ン(FC−1216)のモル比(HF/FC−121
6)は0.8〜3.0が好ましく、さらに好ましくは
1.0〜2.0の範囲がよい。フッ化水素とヘキサフル
オロプロペンのモル比が0.8以下では、ヘキサフルオ
ロプロピレンの転化率が低下し、3.0以上では未反応
HFの回収設備等にコストがかかり好ましくない。
In step (1), it depends on the type and content of impurities in hexafluoropropene.
The reaction temperature ranges from 150 to 450 ° C, preferably from 200 to 350 ° C. When CFC-115 is contained as an impurity in hexafluoropropene, the reaction temperature is preferably in the range of 350 to 450 ° C, and more preferably 350 to 400 ° C. When the reaction temperature is 450 ° C. or higher, the stability of the catalyst tends to decrease, which is not preferable. On the other hand, when the temperature is 150 ° C. or lower, the conversion of the target reaction is reduced, and the fluorination reaction of the impurity compound is slow. The molar ratio of hydrogen fluoride to hexafluoropropene (FC-1216) (HF / FC-121
6) is preferably 0.8 to 3.0, more preferably 1.0 to 2.0. If the molar ratio of hydrogen fluoride to hexafluoropropene is 0.8 or less, the conversion of hexafluoropropylene decreases, and if the molar ratio is 3.0 or more, the cost of the unreacted HF recovery equipment increases, which is not preferable.

【0017】前述のように、原料のヘキサフルオロプロ
ペン中には不純物として分子内に塩素原子を含む化合物
が含まれていてもよく、これらの不純物を蒸留操作で分
離することは通常困難である。分子内に塩素原子を含む
化合物としては、クロロジフルオロメタン、クロロペン
タフルオロエタン、ジクロロジフルオロメタン、クロロ
トリフルオロエチレン、クロロテトラフルオロエタン等
が挙げられる。本発明(I)は、フッ素化触媒の存在
下、主反応であるヘキサフルオロプロペンをフッ化水素
と反応させて2H−へプタフルオロプロパンを得る工程
で、これらの塩素を含む化合物を蒸留工程で分離しやす
い他のフッ素化合物に変換する。
As described above, hexafluoropropene as a raw material may contain a compound containing a chlorine atom in a molecule as an impurity, and it is usually difficult to separate these impurities by a distillation operation. Examples of the compound containing a chlorine atom in the molecule include chlorodifluoromethane, chloropentafluoroethane, dichlorodifluoromethane, chlorotrifluoroethylene, chlorotetrafluoroethane, and the like. The present invention (I) is a step of reacting hexafluoropropene, which is the main reaction, with hydrogen fluoride in the presence of a fluorination catalyst to obtain 2H-heptafluoropropane, and distilling these chlorine-containing compounds in a distillation step. Convert to other fluorine compounds that are easy to separate.

【0018】例えば、以下に示す(2)〜(5)のよう
な反応により、塩素化合物を他のフッ素化合物に変換す
ることができる。 CHClF2 + HF → CHF3 + HCl (2) CF2=CClF + HF → CF3CHClF (3) CF3CHClF + HF → CF3CHF2 + HCl (4) CF3CClF2 + HF → CF3CF3 + HCl (5) これらのフッ素化された化合物と中間体である2H−ヘ
プタフルオロプロパンの沸点を表2に示す。
For example, a chlorine compound can be converted to another fluorine compound by the following reactions (2) to (5). CHClF 2 + HF → CHF 3 + HCl (2) CF 2 = CCIF + HF → CF 3 CHClF (3) CF 3 CHClF + HF → CF 3 CHF 2 + HCl (4) CF 3 CCLF 2 + HF → CF 3 CF 3 + HCl (5) Table 2 shows the boiling points of these fluorinated compounds and the intermediate, 2H-heptafluoropropane.

【0019】[0019]

【表2】 表2から明らかなように、中間体の2H−ヘプタフルオ
ロプロパンと上記反応に従ってフッ素化された化合物は
明らかに沸点差が大きくなり、蒸留操作により容易に分
離することが可能となる。
[Table 2] As is clear from Table 2, the intermediate 2H-heptafluoropropane and the compound fluorinated according to the above reaction clearly have a large difference in boiling point, and can be easily separated by distillation.

【0020】次に、工程(1)で得られる、2H−ヘプ
タフルオロプロパンを主成分とするガスは、塩化水素及
び未反応のフッ化水素を分離する脱酸工程へ導かれる。
塩化水素とフッ化水素は蒸留にてさらに分離され、塩化
水素はアルカリ水溶液にて中和処理される。またフッ化
水素はヘキサフルオロプロペンをフッ素化する工程へ戻
してもよく、アルカリ水溶液にて中和処理してもよい。
脱酸工程で塩化水素とフッ化水素を分離した後、2H−
ヘプタフルオロプロパンを主成分とするガスは続いて工
程(2)が行われるが、その前に蒸留塔へ導き、2H−
ヘプタフルオロプロパン中に含まれる不純物を除去する
ことが好ましい。
Next, the gas containing 2H-heptafluoropropane as a main component obtained in the step (1) is led to a deoxidizing step for separating hydrogen chloride and unreacted hydrogen fluoride.
Hydrogen chloride and hydrogen fluoride are further separated by distillation, and hydrogen chloride is neutralized with an aqueous alkali solution. Hydrogen fluoride may be returned to the step of fluorinating hexafluoropropene, or may be neutralized with an aqueous alkali solution.
After separating hydrogen chloride and hydrogen fluoride in the deacidification step, 2H-
The gas containing heptafluoropropane as a main component is subsequently subjected to the step (2), but before that, it is led to a distillation column and 2H-
It is preferable to remove impurities contained in heptafluoropropane.

【0021】2H−ヘプタフルオロプロパン中に含まれ
る不純物としては、テトラフルオロメタン、トリフルオ
ロメタン、クロロトリフルオロメタン、ヘキサフルオロ
エタン、ペンタフルオロエタン等が挙げられるが、これ
らの不純物は蒸留により除去することが好ましい。蒸留
塔においては、低沸分であるテトラフルオロメタン、ト
リフルオロメタン、クロロトリフルオロメタン、ヘキサ
フルオロエタン、ペンタフルオロエタンが蒸留塔の塔頂
より抜き出され、ボトム部より2H−ヘプタフルオロプ
ロパンが抜き出される。この2H−ヘプタフルオロプロ
パンを主成分とするガスはフッ素ガスとの直接フッ素化
反応の原料として使用されるが、脱酸工程後の蒸留の有
無にかかわらず、2H−ヘプタフルオロプロパン中に含
まれる不純物の塩素化合物は0.01vol%以下であ
ることが好ましく、さらに好ましくは0.005vol
%以下である。
The impurities contained in 2H-heptafluoropropane include tetrafluoromethane, trifluoromethane, chlorotrifluoromethane, hexafluoroethane, pentafluoroethane and the like, and these impurities can be removed by distillation. preferable. In the distillation column, tetrafluoromethane, trifluoromethane, chlorotrifluoromethane, hexafluoroethane, and pentafluoroethane, which have low boiling points, are extracted from the top of the distillation column, and 2H-heptafluoropropane is extracted from the bottom. It is. The gas containing 2H-heptafluoropropane as a main component is used as a raw material for a direct fluorination reaction with fluorine gas, and is contained in 2H-heptafluoropropane regardless of the presence or absence of distillation after the deoxidizing step. The chlorine compound as an impurity is preferably 0.01 vol% or less, more preferably 0.005 vol%.
% Or less.

【0022】次に工程(2)について説明する。工程
(2)は、前記の工程(1)のフッ素化工程で得られる
2H−ヘプタフルオロプロパンとフッ素ガスを無触媒
下、気相で反応温度250〜500℃で反応させてオク
タフルオロプロパンを得る直接フッ素化反応工程であ
り、次の3つのポイントを有している。すなわち、 〔1〕ハイドロフルオロカーボンとフッ素ガスを反応さ
せてパーフルオロカーボンを製造する場合、非常に大き
な反応熱を伴う。反応熱は1分子当たりの反応するフッ
素のモル数に比例し、フッ素量が多いほど反応熱が大き
くなり、炭素−炭素結合の切断、重合、環化付加、また
場合によっては爆発等が起こりやすく、収率が低下して
工業的製造、操業上の問題となる。このため、直接フッ
素化法における反応熱の急激な発生を抑える方法とし
て、フッ素を他の不活性ガス(例えば窒素、ヘリウム
等)で希釈する方法、基質である有機物を希釈する方法
がある。窒素やヘリウム等の不活性ガスは、目的物のパ
ーフルオロカーボンと蒸留工程での分離、精製等を考慮
するとコスト面から、有利な方法でなく、本発明(I)
は、希釈ガスとしてフッ化水素、テトラフルオロメタ
ン、ヘキサフルオロエタン、オクタフルオロプロパンか
ら選ばれる少なくとも1種を希釈ガスとして用いること
により上記の問題を解決することができる。
Next, the step (2) will be described. In the step (2), octafluoropropane is obtained by reacting 2H-heptafluoropropane obtained in the fluorination step of the above step (1) with fluorine gas at a reaction temperature of 250 to 500 ° C. in the gas phase without using a catalyst. This is a direct fluorination reaction step and has the following three points. That is, [1] When a perfluorocarbon is produced by reacting a hydrofluorocarbon with a fluorine gas, very large heat of reaction is involved. The heat of reaction is proportional to the number of moles of reacting fluorine per molecule, and the larger the amount of fluorine, the greater the heat of reaction, which tends to cause carbon-carbon bond cleavage, polymerization, cycloaddition, and, in some cases, explosion. In addition, the yield is reduced, which causes problems in industrial production and operation. For this reason, as a method for suppressing rapid generation of reaction heat in the direct fluorination method, there are a method of diluting fluorine with another inert gas (for example, nitrogen, helium, etc.) and a method of diluting an organic substance as a substrate. The inert gas such as nitrogen and helium is not an advantageous method from the viewpoint of cost in consideration of separation and purification in the distillation step from perfluorocarbon as a target substance, and the present invention (I)
Can solve the above problem by using at least one selected from hydrogen fluoride, tetrafluoromethane, hexafluoroethane, and octafluoropropane as a diluent gas.

【0023】〔2〕本発明(I)は、反応基質である2
H−ヘプタフルオロプロパンの反応器入口濃度を希釈ガ
スで爆発範囲以下にして反応を行い、具体的には8モル
%以下にして反応を行う。前述のようにフッ素ガスを使
用する直接フッ素化反応は、極めて反応性に富むフッ素
ガスを用いるため、基質である有機化合物(特に水素を
含有する化合物)は、フッ素ガスにさらされると燃焼あ
るいは爆発する危険性がある。工程(2)では、基質と
して水素原子を含有する2H−ヘプタフルオロプロパン
を用いるため、2H−ヘプタフルオロプロパンとフッ素
ガスの爆発防止が重要なポイントとなる。爆発を防ぐた
めには混合ガス組成が爆発範囲の中に入らないようにす
る必要があり、本発明者らが、2H−ヘプタフルオロプ
ロパンとフッ素ガスとの爆発範囲を検討したところ、2
H−ヘプタフルオロプロパンの爆発範囲の下限値が8モ
ル%以下であることが判明し、2H−ヘプタフルオロプ
ロパンの反応器入口濃度の安全な範囲を設定することが
できる。
[2] In the present invention (I), the reaction substrate 2
The reaction is carried out by reducing the concentration of H-heptafluoropropane at the inlet of the reactor with a diluent gas to an explosion range or less, specifically, to 8 mol% or less. As described above, the direct fluorination reaction using fluorine gas uses extremely reactive fluorine gas, so the organic compound (particularly, a compound containing hydrogen) serving as a substrate burns or explodes when exposed to fluorine gas. There is a risk of doing. In step (2), since 2H-heptafluoropropane containing a hydrogen atom is used as a substrate, prevention of explosion of 2H-heptafluoropropane and fluorine gas is an important point. In order to prevent the explosion, it is necessary to prevent the mixed gas composition from being within the explosion range. The present inventors have studied the explosion range between 2H-heptafluoropropane and fluorine gas, and found that
The lower limit of the explosion range of H-heptafluoropropane was found to be 8 mol% or less, and a safe range for the reactor inlet concentration of 2H-heptafluoropropane can be set.

【0024】〔3〕2H−ヘプタフルオロプロパンとフ
ッ素ガスを反応させる直接フッ素化反応では、フッ素ガ
スに対して過剰な2H−ヘプタフルオロプロパンを用い
ると、フッ素ガスを除去する工程が不要となるものの、
後の分離精製に大きな困難をもたらす。本発明(I)の
工程(2)では、反応効率を高めるために2H−ヘプタ
フルオロプロパンに対して過剰モルのフッ素ガスを使用
することができ、過剰モルのフッ素ガスを使用した場合
には、反応工程から流出する反応生成ガスは主にパーフ
ルオロカーボンとフッ化水素の他に過剰分のフッ素ガス
が含まれている。過剰分のフッ素ガスを処理する方法と
して、アルミナ、ソーダライムなどの無機酸化物と反応
させる方法が知られているが、この方法は反応により水
が生成するため、装置材料の腐食等の原因となるため好
ましくない。本発明(I)はこの過剰なフッ素ガスに対
して化学当量比で1.1倍モルのハイドロフルオロカー
ボンと接触させて過剰のフッ素ガスを除去することがで
きる。
[3] In the direct fluorination reaction of reacting 2H-heptafluoropropane with fluorine gas, the use of excess 2H-heptafluoropropane relative to fluorine gas eliminates the need for a step of removing fluorine gas. ,
This brings great difficulty to subsequent separation and purification. In step (2) of the present invention (I), an excess molar amount of fluorine gas can be used relative to 2H-heptafluoropropane in order to increase the reaction efficiency. The reaction product gas flowing out of the reaction step mainly contains excess fluorine gas in addition to perfluorocarbon and hydrogen fluoride. As a method of treating an excessive amount of fluorine gas, a method of reacting with an inorganic oxide such as alumina and soda lime is known, but this method generates water by the reaction, which causes corrosion of equipment materials and the like. Is not preferred. In the present invention (I), the excess fluorine gas can be removed by contacting it with a 1.1 times molar equivalent of hydrofluorocarbon with respect to the excess fluorine gas.

【0025】2H−ヘプタフルオロプロパンとフッ素ガ
スを反応させる直接フッ素化反応は以下に示す式(6)
に従って進行する。 CF3CHFCF3 + F2 → CF3CF2CF3 + HF (6) この反応は、触媒を用いてもよいが、無触媒下で行うこ
とができる。また、前述したようにハイドロフルオロカ
ーボンとフッ素ガスとを反応させる直接フッ素化反応は
反応熱が大きく、希釈ガスの存在下で反応を行うことが
好ましい。希釈ガスとしてはフッ化水素、テトラフルオ
ロメタン、ヘキサフルオロエタン、オクタフルオロプロ
パンから選ばれる少なくとも1種を用いることができ、
好ましくはフッ化水素及び/またはオクタフルオロプロ
パンであり、さらに好ましくはフッ化水素に富むガスを
用いるのがよい。
The direct fluorination reaction of reacting 2H-heptafluoropropane with fluorine gas is represented by the following formula (6)
Proceed according to. CF 3 CHFCF 3 + F 2 → CF 3 CF 2 CF 3 + HF (6) This reaction may be carried out without a catalyst, although a catalyst may be used. Further, as described above, the direct fluorination reaction for reacting hydrofluorocarbon and fluorine gas has a large heat of reaction, and it is preferable to carry out the reaction in the presence of a diluent gas. Hydrogen fluoride, tetrafluoromethane, hexafluoroethane, at least one selected from octafluoropropane can be used as the diluting gas,
Preferably, hydrogen fluoride and / or octafluoropropane is used, and more preferably, a gas rich in hydrogen fluoride is used.

【0026】希釈ガスの導入方法は、2H−ヘプタフル
オロプロパンとフッ素ガスを反応器に導入する前に、い
ずれか一方、または両方を希釈ガスで希釈した後、反応
器へ導入する。基質である2H−ヘプタフルオロプロパ
ンの反応器入口濃度は爆発範囲以下である8モル%以下
が好ましく、さらに好ましくは6%以下である。フッ素
ガスの反応器入口濃度としては、フッ素ガス/2H−ヘ
プタフルオロプロパンのモル比が0.9〜1.5の範囲
となる濃度が好ましく、さらに好ましくは0.9〜1.
2の範囲となる濃度がよい。フッ素ガス/2H−ヘプタ
フルオロプロパンのモル比が0.9以下となるフッ素濃
度では2H−ヘプタフルオロプロパンの転化率が低くな
り、1.5以上では未反応フッ素除去工程に負担がかか
るので好ましくない。また、フッ素ガス/2H−ヘプタ
フルオロプロパンのモル比が1.5以上では、工程
(2)の出口ガスを循環し、工程(2)の希釈ガスとし
て再使用する場合、循環ガス(希釈ガス)中のフッ素濃
度が高くなり爆発等の問題が起こるので好ましくない。
Before introducing 2H-heptafluoropropane and fluorine gas into the reactor, one or both of them are diluted with a diluent gas and then introduced into the reactor. The concentration of 2H-heptafluoropropane as a substrate at the inlet of the reactor is preferably 8 mol% or less, which is less than the explosion range, and more preferably 6% or less. The concentration of fluorine gas at the inlet of the reactor is preferably such that the molar ratio of fluorine gas / 2H-heptafluoropropane is in the range of 0.9 to 1.5, and more preferably 0.9 to 1.5.
A concentration in the range of 2 is preferred. When the fluorine concentration is such that the molar ratio of fluorine gas / 2H-heptafluoropropane is 0.9 or less, the conversion of 2H-heptafluoropropane becomes low. . When the molar ratio of fluorine gas / 2H-heptafluoropropane is 1.5 or more, when the outlet gas of step (2) is circulated and reused as the diluent gas of step (2), the circulating gas (diluent gas) This is not preferable because the concentration of fluorine therein becomes high and problems such as explosion occur.

【0027】希釈ガスで爆発範囲以下の濃度に希釈され
た2H−ヘプタフルオロプロパンとフッ素ガスは気相で
反応することができる。反応温度は250〜500℃が
よく、好ましくは350〜450℃である。反応温度が
250℃以下では反応が遅く、500℃以上では目的物
のオクタフルオロプロパンの炭素−炭素結合の開裂が進
む傾向があるので好ましくない。
2H-heptafluoropropane diluted with a diluent gas to a concentration below the explosion range and fluorine gas can react in the gas phase. The reaction temperature is preferably from 250 to 500C, preferably from 350 to 450C. When the reaction temperature is 250 ° C. or lower, the reaction is slow, and when the reaction temperature is 500 ° C. or higher, the cleavage of the carbon-carbon bond of octafluoropropane, which is the target substance, tends to proceed, which is not preferable.

【0028】この工程(2)の出口ガスは主としてフッ
化水素、オクタフルオロプロパンであり、本発明(I)
は、この出口ガスの少なくとも一部を循環して(2)の
工程の希釈ガスとして再使用することができる。また出
口ガス中に、未反応のフッ素ガスが含まれている場合が
あるため、未反応のフッ素ガス濃度を検出する方法とし
て、連続的に流れる金属ヨウ化物を含む溶液に出口ガス
のごく一部を連続的に導入してヨウ素を生成させ、該溶
液の特定波長域の可視光線の透過度を測定することによ
り生成したヨウ素を連続的に定量し未反応フッ素ガス濃
度を算出する方法を用いることができる。また、フッ素
化合物を検出して反応率を求める方法として、混合ガス
中に含まれるパーフルオロカーボン、ハイドロフルオロ
カーボン、フッ化水素の濃度を赤外分光法を用いて測定
する方法を用いることができ、工業的に安全な条件で連
続運転ができる。
The outlet gas in this step (2) is mainly hydrogen fluoride and octafluoropropane.
Can circulate at least a part of this outlet gas and reuse it as a diluent gas in the step (2). In addition, since unreacted fluorine gas may be contained in the outlet gas, as a method of detecting the concentration of unreacted fluorine gas, only a small part of the outlet gas is added to a solution containing a metal iodide which continuously flows. Is continuously introduced to generate iodine, and a method of continuously quantifying the generated iodine by measuring the transmittance of visible light of a specific wavelength range of the solution to calculate the concentration of unreacted fluorine gas is used. Can be. In addition, as a method of detecting a fluorine compound and obtaining a reaction rate, a method of measuring the concentration of perfluorocarbon, hydrofluorocarbon, and hydrogen fluoride contained in a mixed gas using infrared spectroscopy can be used. Continuous operation can be performed under safe conditions.

【0029】また、工程(2)の出口ガスは、希釈ガス
として循環再使用する他に、未反応のフッ素ガスを含む
場合には、例えば供給される2H−ヘプタフルオロプロ
パンと約同量の反応出口ガスを抜き出して、未反応フッ
素を除去する工程へ導き、過剰なフッ素ガスに対して化
学等量比で1.1倍モルのハイドロフルオロカーボンと
接触させてフッ素ガスを除去することが好ましい。フッ
素ガス除去工程の接触温度はハイドロフルオロカーボン
の種類によって異なるが、好ましくは250〜500
℃、さらに好ましくは350〜450℃がよい。フッ素
除去工程後の出口ガス中のフッ素濃度は通常50ppm
以下であり、条件によっては10ppm以下とすること
ができる。過剰のフッ素ガスと反応させるハイドロフル
オロカーボンとしては、トリフルオロメタン、テトラフ
ルオロエタン、ペンタフルオロエタン、2H−ヘプタフ
ルオロプロパンを用いることができる。
The outlet gas in the step (2) may be recycled and reused as a diluent gas, and when it contains unreacted fluorine gas, for example, about the same amount of 2H-heptafluoropropane as the supplied It is preferable that the outlet gas is extracted to lead to a step of removing unreacted fluorine, and the excess fluorine gas is contacted with 1.1 times mol of hydrofluorocarbon in a stoichiometric ratio to remove the fluorine gas. The contact temperature in the fluorine gas removal step varies depending on the type of hydrofluorocarbon, but is preferably 250 to 500.
C, more preferably 350 to 450C. The fluorine concentration in the outlet gas after the fluorine removal step is usually 50 ppm
Or less, and can be 10 ppm or less depending on conditions. As the hydrofluorocarbon to be reacted with an excessive fluorine gas, trifluoromethane, tetrafluoroethane, pentafluoroethane, and 2H-heptafluoropropane can be used.

【0030】工程(2)の出口ガスは、工程(2)の希
釈ガスとして循環再使用される一部を除き、フッ素ガス
が残存している場合にはフッ素除去工程を経た後に分縮
工程へ導かれる。ガスの主成分はフッ化水素とオクタフ
ルオロプロパンであり、分縮工程では冷却することによ
りフッ化水素を液分離し、主としてオクタフルオロプロ
パンをガスとして分離する。分離されたフッ化水素はフ
ッ素化工程(1)及び/または直接フッ素化工程(2)
に戻し、循環再使用することができる。ガスとして分離
された、主としてオクタフルオロプロパンを含むガスは
脱水工程を経て、コンプレッサ−で昇圧され蒸留塔へ導
入される。
The outlet gas of the step (2) is, except for a part of the gas reused as a diluent gas in the step (2), if a fluorine gas remains, passes through a fluorine removal step and then to a decompression step. Be guided. The main components of the gas are hydrogen fluoride and octafluoropropane. In the condensation step, hydrogen fluoride is separated into liquid by cooling, and octafluoropropane is mainly separated as a gas. The separated hydrogen fluoride is subjected to a fluorination step (1) and / or a direct fluorination step (2).
And can be reused by circulation. The gas mainly containing octafluoropropane separated as a gas passes through a dehydration step and is pressurized by a compressor and introduced into a distillation column.

【0031】蒸留塔へ導入された、主としてオクタフル
オロプロパンを含むガスは、例えば第一蒸留塔で低沸分
が塔頂より抜き出される。低沸分としては、イナートガ
ス、テトラフルオロメタン、ヘキサフルオロエタン等で
あり、これらは直接フッ素化工程(2)の希釈ガスとし
て利用することができる。一方、ボトムより抜き出され
たオクタフルオロプロパンを主成分とするガスは第二蒸
留塔へ導かれ、第二蒸留塔では塔頂より低沸分としてオ
クタフルオロプロパンが抜き出され、製品工程へと導か
れる。第二蒸留塔においてボトムより抜き出された高沸
分は、工程(2)へ戻して希釈ガスとして用いることが
でき、また場合によっては除害剤等を用いて分解処理し
てもよい。
The gas mainly containing octafluoropropane introduced into the distillation column has, for example, a low-boiling component extracted from the top in the first distillation column. Examples of low boiling components include inert gas, tetrafluoromethane, hexafluoroethane, and the like, which can be directly used as a diluent gas in the fluorination step (2). On the other hand, the gas containing octafluoropropane as the main component extracted from the bottom is led to the second distillation column, where octafluoropropane is extracted as a low-boiling component from the top of the second distillation column, and goes to the product process. Be guided. The high-boiling components extracted from the bottom in the second distillation column can be returned to the step (2) and used as a diluent gas, and in some cases, may be subjected to a decomposition treatment using a harmless agent or the like.

【0032】製品工程へ導かれた目的物であるオクタフ
ルオロプロパンは、必要に応じてさらに精製し、場合に
よっては脱水工程を経て製品タンクへ導かれる。製品タ
ンクに導かれたオクタフルオロプロパンは、(1)ガス
クロマトグラフィ−(GC)のTCD法、FID法およ
びECD法、(2)ガスクロマトグラフィ−質量分析計
(GC−MS)等の分析方法を用いて純度を求めること
ができる。本発明(II)は、本発明(I)の製造方法を
用いることによって得られる、純度99.995vol
%以上の高純度オクタフルオロプロパンであり、オクタ
フルオロプロパンに含まれる不純物としては、分子内に
塩素原子を含有する化合物と環状化合物の総量が50v
olppm以下であり、この不純物の総量を10vol
ppm以下にすることもできる。
Octafluoropropane, which is the target product led to the product process, is further purified if necessary, and in some cases is led to a product tank through a dehydration process. Octafluoropropane guided to the product tank is analyzed by using an analysis method such as (1) TCD method, FID method and ECD method of gas chromatography (GC), and (2) gas chromatography-mass spectrometer (GC-MS). To determine the purity. The present invention (II) provides a purity of 99.995 vol obtained by using the production method of the present invention (I).
% Of high-purity octafluoropropane, and impurities contained in octafluoropropane include a compound containing a chlorine atom in a molecule and a cyclic compound in a total amount of 50 v
olppm or less, and the total amount of these impurities is 10 vol.
It can be below ppm.

【0033】次に、本発明(III)及び(IV)である、
本発明(I)の製造方法を用いて得られる高純度オクタ
フルオロプロパンの用途について説明する。本発明(I
I)の高純度オクタフルオロプロパンは、半導体デバイ
ス製造工程の中のエッチング工程におけるエッチングガ
スとして用いることができる。また、半導体デバイス製
造工程の中のクリーニング工程のクリーニングガスとし
ても用いられる。LISやTFTなどの半導体デバイス
の製造プロセスでは、CVD法、スパッタリング法ある
いは蒸着法などを用いて薄膜や厚膜を形成し、回路パタ
ーンを形成するためにエッチングを行う。また、薄膜や
厚膜を形成する装置においては、装置内壁、治具、配管
等に堆積した不要な堆積物を除去するためのクリーニン
グが行われる。これは、不要な堆積物が生成するとパー
ティクル発生の原因となるためであり、良質な膜を製造
するために随時除去する必要がある。エッチングあるい
はクリーニングガスとして使用する際、本発明のオクタ
フルオロプロパンはHe、Ar、N2等の不活性ガスで
希釈してもよく、またF2、NF3、C24、HCl、O
2、H2等のガスと適切な割合で混合して使用してもよ
い。
Next, the present invention (III) and (IV)
The use of high-purity octafluoropropane obtained by using the production method of the present invention (I) will be described. The present invention (I
The high-purity octafluoropropane of I) can be used as an etching gas in an etching step in a semiconductor device manufacturing process. It is also used as a cleaning gas in a cleaning step in a semiconductor device manufacturing process. In a manufacturing process of a semiconductor device such as an LIS or a TFT, a thin film or a thick film is formed by using a CVD method, a sputtering method, an evaporation method, or the like, and etching is performed to form a circuit pattern. In an apparatus for forming a thin film or a thick film, cleaning is performed to remove unnecessary deposits accumulated on the inner wall of the apparatus, a jig, a pipe, and the like. This is because the generation of unnecessary deposits causes the generation of particles, and it is necessary to remove the deposits as needed to produce a high-quality film. When used as an etching or cleaning gas, the octafluoropropane of the present invention may be diluted with an inert gas such as He, Ar, N 2 or the like, or may be diluted with F 2 , NF 3 , C 2 F 4 , HCl, O 2 or the like.
2, were mixed in suitable proportions and gas H 2 or the like may be used.

【0034】[0034]

【実施例】以下に実施例及び比較例により本発明をより
詳細に説明するが、本発明は これらの実施例に限定さ
れるものではない。 [原料例1]HCFC−22(CHClF2)を水蒸気
とともにアルミナ上で熱分解してTFE(テトラフルオ
ロエチレン)を製造する工程で、副産物として得られる
HFP(ヘキサフルオロプロペン)を分離、蒸留操作
後、表3に示す組成の原料ヘキサフルオロプロペンを得
た。
The present invention will be described in more detail with reference to the following Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to these Examples. [Raw material example 1] HFP (hexafluoropropene) obtained as a by-product in a process of producing TFE (tetrafluoroethylene) by pyrolyzing HCFC-22 (CHClF 2 ) together with water vapor on alumina with steam, and after performing a distillation operation A raw material hexafluoropropene having the composition shown in Table 3 was obtained.

【0035】[0035]

【表3】 [Table 3]

【0036】[原料例2]市販されているヘキサフルオ
ロプロペンを分析したところ、表4に示す組成を有して
いた。
[Raw material example 2] When commercially available hexafluoropropene was analyzed, it had the composition shown in Table 4.

【表4】 [Table 4]

【0037】[フッ素化触媒の製造]純水0.6Lを入
れた10Lの容器に、452gのCr(NO33・9H
2Oと42gのIn(NO3)3・nH2O(nは約5)を
純水1.2Lに溶かした溶液と、0.31Lの28%ア
ンモニア水とを攪拌しながら、反応液のPHが7.5〜
8.5の範囲内になるように、2種の水溶液の流量をコ
ントロールしながら約1時間かけて滴下した。得られた
水酸化物のスラリーを濾別し、純水でよく洗浄した後、
120℃で12時間乾燥した。得られた固体を粉砕後、
黒鉛と混合し、打錠成型器によってペレット化した。窒
素気流下、このペレットを400℃で4時間焼成し、触
媒前駆体を得た。触媒前駆体をインコネル製反応器に充
填し、常圧下350℃で、窒素希釈したHF気流下で、
次いで100%HF気流下でフッ素化処理(触媒の活性
化処理)を行い、触媒の調製を行った。
[0037] container 10L containing the pure water 0.6 L [Production of a fluorination catalyst], Cr (NO 3) of 452 g 3 · 9H
While stirring a solution obtained by dissolving 2 O and 42 g of In (NO 3 ) 3 .nH 2 O (n is about 5) in 1.2 L of pure water, and 0.31 L of 28% ammonia water, stirring the reaction solution PH is 7.5-
The two aqueous solutions were added dropwise over about one hour while controlling the flow rates of the two aqueous solutions so as to be in the range of 8.5. The obtained hydroxide slurry is separated by filtration, washed well with pure water,
Dry at 120 ° C. for 12 hours. After crushing the obtained solid,
It was mixed with graphite and pelletized by a tablet press. The pellet was fired at 400 ° C. for 4 hours under a nitrogen stream to obtain a catalyst precursor. The catalyst precursor was charged into an Inconel reactor, and at 350 ° C. under normal pressure under a nitrogen-diluted HF gas stream,
Next, a fluorination treatment (catalyst activation treatment) was performed under a 100% HF stream to prepare a catalyst.

【0038】(実施例1)内径1インチ、長さ1mのイ
ンコネル600型反応器に、前記の[フッ素化触媒の製
造]で示した方法により調製した触媒100mlを充填
し、窒素を流しながら温度を400℃とした。フッ化水
素を6.32NL/hrで供給し、次いで[原料例1]
で示したヘキサフルオロプロペンを主成分とするガスを
3.24NL/hrで供給した。窒素ガスの供給を停止
し、反応を開始した。2時間後、排出ガスを水酸化カリ
ウム水溶液で洗浄して酸分を除去した後、ガス組成をガ
スクロマトグラフィーで分析したところ、表5に示す組
成を有するガスを得た。
Example 1 An Inconel 600 type reactor having an inner diameter of 1 inch and a length of 1 m was charged with 100 ml of the catalyst prepared by the method shown in the above [Production of fluorination catalyst], and the temperature was increased while flowing nitrogen. Was set to 400 ° C. Hydrogen fluoride was supplied at 6.32 NL / hr, and then [raw material example 1].
Was supplied at a rate of 3.24 NL / hr. The supply of nitrogen gas was stopped, and the reaction was started. Two hours later, the exhaust gas was washed with an aqueous potassium hydroxide solution to remove acid components, and the gas composition was analyzed by gas chromatography. As a result, a gas having the composition shown in Table 5 was obtained.

【0039】[0039]

【表5】 [Table 5]

【0040】酸分除去後のガスをシリンダー容器を用い
て冷却捕集し、公知の方法により低沸分と高沸分をカッ
トする蒸留精製を行った。蒸留精製後に得られた組成物
をガスクロマトグラフィ−にて分析したところ、表6に
示す組成を有していた。
The gas from which the acid content had been removed was collected by cooling using a cylinder vessel, and distillation purification was performed by a known method to cut low boiling and high boiling components. When the composition obtained after the purification by distillation was analyzed by gas chromatography, it had the composition shown in Table 6.

【0041】[0041]

【表6】 表6に示した結果から、2H−ヘプタフルオロプロパン
中に含まれる不純物の塩素化合物は蒸留操作により、
0.01vol%以下とすることができることが分かっ
た。
[Table 6] From the results shown in Table 6, the impurity chlorine compound contained in 2H-heptafluoropropane was subjected to a distillation operation,
It turned out that it can be set to 0.01 vol% or less.

【0042】(実施例2)実施例1で得られた、蒸留後
の2H−ヘプタフルオロプロパンを主成分とするガスを
用いて、フッ素ガスとの直接フッ素化反応を行った。内
径20.6mmΦ、長さ500mmのニッケル製反応器
(電気ヒーター加熱:反応器はフッ素ガスで温度500
℃で不動態化処理を実施)を窒素ガスを20NL/hr
供給しながら、温度を400℃とした。次にフッ化水素
(希釈ガス)を60NL/hrで二分岐して供給し、一
方のガスに前記の2H−ヘプタフルオロプロパンを主成
分とするガスを3.24NL/hrで供給した。その
後、もう一方のフッ化水素のガス流にフッ素ガスを3.
55NL/hrで供給し、窒素ガスの供給を停止し直接
フッ素化反応を行った。3時間後、反応生成ガスを水酸
化カリウム水溶液及びヨウ化カリウム水溶液を用いて洗
浄し、フッ化水素及び未反応フッ素ガスを分析し、次い
でこれらの酸分除去を行ってガスクロマトグラフィ−で
分析したところ、有機物のガス組成は表7に示す通りで
あった。
Example 2 Using the gas obtained in Example 1 and containing 2H-heptafluoropropane as a main component after distillation, a direct fluorination reaction with fluorine gas was performed. Nickel reactor having an inner diameter of 20.6 mmΦ and a length of 500 mm (electric heater heating: the reactor is a fluorine gas at a temperature of 500
At 20 ° C.) and nitrogen gas at 20 NL / hr.
While supplying, the temperature was set to 400 ° C. Next, hydrogen fluoride (diluting gas) was bifurcated and supplied at 60 NL / hr, and the gas containing 2H-heptafluoropropane as a main component was supplied at 3.24 NL / hr to one gas. Then, fluorine gas is added to the other hydrogen fluoride gas flow.
The gas was supplied at 55 NL / hr, the supply of nitrogen gas was stopped, and a direct fluorination reaction was performed. After 3 hours, the reaction product gas was washed with an aqueous solution of potassium hydroxide and an aqueous solution of potassium iodide, hydrogen fluoride and unreacted fluorine gas were analyzed, and then acid components were removed and analyzed by gas chromatography. However, the gas composition of the organic substance was as shown in Table 7.

【0043】[0043]

【表7】 [Table 7]

【0044】一方、反応出口ガス中の未反応フッ素ガス
量は0.26NL/hrであった。酸分除去後のガスを
シリンダー容器を用いて冷却捕集し、公知の方法により
低沸分と高沸分をカットする蒸留精製を行った。蒸留精
製後に得られた組成物をガスクロマトグラフィ−にて分
析を行ったところ、表8に示す組成を有していた。
On the other hand, the amount of unreacted fluorine gas in the reaction outlet gas was 0.26 NL / hr. The gas from which the acid content had been removed was collected by cooling using a cylinder vessel, and distillation purification was performed by a known method to cut low boiling and high boiling components. When the composition obtained after the distillation purification was analyzed by gas chromatography, it had the composition shown in Table 8.

【0045】[0045]

【表8】 表8に示した結果から、得られたオクタフルオロプロパ
ンの純度は99.999vol%以上であることが分か
った。
[Table 8] From the results shown in Table 8, it was found that the purity of the obtained octafluoropropane was 99.999 vol% or more.

【0046】(実施例3)実施例2で得られた、未反応
フッ素ガスを含む直接フッ素化反応の出口ガスを、内径
20.6mmΦ、長さ500mmのニッケル製反応器に
導入した。ガス組成は、フッ化水素62.82NL/h
r、有機物3.16NL/hr、未反応フッ素ガス約
0.26NL/hrであり、反応器温度を390℃に昇
温し、反応器入口部より、ハイドロフルオロカーボンと
してトリフルオロメタンを約0.286NL/hr供給
し、未反応フッ素及び有機物組成をそれぞれ滴定とガス
クロマトグラフィーにて分析した。トリフルオロメタン
と反応した後の出口ガス中の未反応フッ素ガス量は50
ppm以下であり、そのガス組成は表9に示す通りであ
った。
Example 3 The outlet gas of the direct fluorination reaction containing the unreacted fluorine gas obtained in Example 2 was introduced into a nickel reactor having an inner diameter of 20.6 mm and a length of 500 mm. The gas composition was 62.82 NL / h of hydrogen fluoride.
r, organic matter 3.16 NL / hr, unreacted fluorine gas about 0.26 NL / hr, the reactor temperature was raised to 390 ° C., and trifluoromethane as hydrofluorocarbon was added at about 0.286 NL / hr through the reactor inlet. hr, and the unreacted fluorine and organic composition were analyzed by titration and gas chromatography, respectively. The amount of unreacted fluorine gas in the outlet gas after reacting with trifluoromethane is 50
ppm or less, and the gas composition was as shown in Table 9.

【0047】[0047]

【表9】 [Table 9]

【0048】次に、残存するフッ素ガスを除去した出口
ガスを水酸化カリウム水溶液を用いて洗浄し、フッ化水
素を除去した。酸分除去後のガスをシリンダー容器を用
いて冷却捕集し、公知の方法により低沸分と高沸分をカ
ットする蒸留精製を行った。蒸留精製後に得られたガス
をガスクロマトグラフィーにて分析を行ったところ、表
10に示す組成であった。
Next, the outlet gas from which the remaining fluorine gas was removed was washed with an aqueous potassium hydroxide solution to remove hydrogen fluoride. The gas from which the acid content had been removed was collected by cooling using a cylinder vessel, and distillation purification was performed by a known method to cut low boiling and high boiling components. The gas obtained after the purification by distillation was analyzed by gas chromatography and found to have the composition shown in Table 10.

【0049】[0049]

【表10】 [Table 10]

【0050】(比較例1)ヘキサフルオロプロペンとフ
ッ素ガスを反応させる直接フッ素化反応を行った。内径
20.6mmΦ、長さ500mmのニッケル製反応器
(電気ヒーター加熱:反応器はフッ素ガスで温度500
℃で不動態化処理実施)を窒素ガスを60NL/hrで
二分岐して供給しながら温度を50℃とした。一方の窒
素ガス流に[原料例1]で示したヘキサフルオロプロペ
ンを主成分とするガスを3.24NL/hrで供給し、
次いでもう一方の窒素ガス流にフッ素ガスを3.55N
L/hrで供給し、直接フッ素化反応を行った。2時間
後、反応生成ガスを水酸化カリウム水溶液及びヨウ化カ
リウム水溶液を用いて洗浄し、未反応フッ素ガスを除去
し、ガスクロマトグラフィ−で分析したところ、ガス組
成は表11に示す通りであった。
Comparative Example 1 A direct fluorination reaction was performed in which hexafluoropropene was reacted with fluorine gas. Nickel reactor having an inner diameter of 20.6 mmΦ and a length of 500 mm (electric heater heating: the reactor is a fluorine gas at a temperature of 500
The temperature was set to 50 ° C. while supplying nitrogen gas in two branches at 60 NL / hr. A gas containing hexafluoropropene as a main component shown in [Raw material example 1] is supplied to one nitrogen gas stream at 3.24 NL / hr,
Next, fluorine gas was added to the other nitrogen gas stream at 3.55N.
L / hr and the fluorination reaction was performed directly. Two hours later, the reaction product gas was washed with an aqueous solution of potassium hydroxide and an aqueous solution of potassium iodide to remove unreacted fluorine gas, and analyzed by gas chromatography. The gas composition was as shown in Table 11. .

【0051】[0051]

【表11】 表11に示した結果から明らかなように、ヘキサフルオ
ロプロペンとフッ素ガスを直接フッ素化反応させてオク
タフルオロプロパンを製造する方法は、重合、環化付加
等が起こり、収率が低下することが分かった。
[Table 11] As is clear from the results shown in Table 11, the method of producing octafluoropropane by directly fluorinating hexafluoropropene and fluorine gas may cause polymerization, cycloaddition, and the like, and the yield may be reduced. Do you get it.

【0052】次に、酸分除去後のガスをシリンダー容器
を用いて冷却捕集し、公知の方法により低沸分と高沸分
をカットする蒸留精製を行った。蒸留精製後に得られた
組成物をガスクロマトグラフィ−にて分析を行ったとこ
ろ、表12に示す組成を有していた。
Next, the gas from which the acid content had been removed was collected by cooling using a cylinder vessel, and distillation purification was performed by a known method to cut low boiling and high boiling components. When the composition obtained after the distillation purification was analyzed by gas chromatography, it had the composition shown in Table 12.

【表12】 表12の結果から明らかなように、オクタフルオロプロ
パンと、塩素化合物であるクロロペンタフルオロエタン
及び環状化合物であるオクタフルオロシクロブタンを分
離して高純度に精製することは困難である。
[Table 12] As is clear from the results in Table 12, it is difficult to separate octafluoropropane from chloropentafluoroethane, which is a chlorine compound, and octafluorocyclobutane, which is a cyclic compound, and to purify them with high purity.

【0053】(実施例4)ヘキサフルオロプロペン原料
を[原料例2]とした以外、(実施例1)と同様な操作
及び条件で反応させ、酸分除去後のガスを分析したとこ
ろ、表13に示す組成を有していた。
Example 4 A reaction was conducted under the same operation and conditions as in Example 1 except that the raw material for hexafluoropropene was changed to [Raw material example 2], and the gas after acid removal was analyzed. The composition shown in FIG.

【表13】 [Table 13]

【0054】酸分除去後のガスをシリンダー容器を用い
て冷却捕集し、公知の方法により低沸分と高沸分をカッ
トする蒸留精製を行い、蒸留精製後に得られた組成物を
ガスクロマトグラフィ−にて分析したところ、表14に
示す組成を有していた。
The gas from which the acid content has been removed is collected by cooling using a cylinder vessel, subjected to distillation purification in which low-boiling and high-boiling components are cut off by a known method, and the composition obtained after the distillation purification is subjected to gas chromatography. As a result of the analysis at-, it had the composition shown in Table 14.

【表14】 表14に示した結果から、2H−ヘプタフルオロプロパ
ン中に含まれる不純物である塩素化合物は蒸留により、
0.01vol%以下とすることができることが分かっ
た。
[Table 14] From the results shown in Table 14, chlorine compounds as impurities contained in 2H-heptafluoropropane were distilled,
It turned out that it can be set to 0.01 vol% or less.

【0055】(実施例5)2H−ヘプタフルオロプロペ
ンを(実施例4)の蒸留精製品を用いた以外は(実施例
2)と同様な操作及び条件で反応させ、酸分除去後のガ
スをシリンダーに冷却捕集し、公知の方法により低沸分
と高沸分をカットする蒸留精製により得られた組成物を
ガスクロマトグラフィ−で分析したところ、表15に示
す組成を有していた。
(Example 5) 2H-Heptafluoropropene was reacted under the same operation and conditions as in (Example 2) except that the purified distilled product of (Example 4) was used, and the gas after removing the acid component was removed. The composition obtained by cooling and collecting in a cylinder and purifying by distillation to cut low-boiling components and high-boiling components by a known method was analyzed by gas chromatography to find that it had the composition shown in Table 15.

【表15】 表15に示した結果から明らかなように、純度が99.
995vol%以上であるオクタフルオロプロパンを得
ることができる。
[Table 15] As is apparent from the results shown in Table 15, the purity was 99.
Octafluoropropane having a content of 995 vol% or more can be obtained.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の方法を用
いれば、塩素系不純物を含んでいてもよいヘキサフルオ
ロプロペンを用いて、高純度のオクタフルオロプロパン
を製造することができ、本発明を用いて製造された、高
純度のオクタフルオロプロパンは、半導体デバイスの製
造工程でエッチングガスあるいはクリーニングガスとし
て用いることができる。
As described above, according to the method of the present invention, high-purity octafluoropropane can be produced using hexafluoropropene which may contain chlorine-based impurities. High-purity octafluoropropane manufactured by using the method described above can be used as an etching gas or a cleaning gas in a semiconductor device manufacturing process.

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Claims (20)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 次の2つの工程を含むことを特徴とする
オクタフルオロプロパンの製造方法。 (1)フッ素化触媒の存在下、ヘキサフルオロプロペン
とフッ化水素を気相で150〜450℃で反応させて2
H−ヘプタフルオロプロパンを得る工程 (2)工程(1)で得られる2H−ヘプタフルオロプロ
パンとフッ素ガスを無触媒下、気相で250〜500℃
で反応させてオクタフルオロプロパンを得る工程
1. A method for producing octafluoropropane, comprising the following two steps. (1) Hexafluoropropene and hydrogen fluoride are reacted in the gas phase at 150 to 450 ° C. in the presence of a fluorination catalyst,
Step of obtaining H-heptafluoropropane (2) 250-500 ° C. in the gas phase without using 2H-heptafluoropropane and fluorine gas obtained in step (1) in the presence of a catalyst.
Obtaining octafluoropropane by reacting with
【請求項2】 ヘキサフルオロプロペンが、ジクロロジ
フルオロメタン、クロロジフルオロメタン、クロロペン
タフルオロエタン、クロロテトラフルオロエタン及びク
ロロトリフルオロエチレンからなる群から選ばれる少な
くとも1種の化合物を含有するものである請求項1に記
載のオクタフルオロプロパンの製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the hexafluoropropene contains at least one compound selected from the group consisting of dichlorodifluoromethane, chlorodifluoromethane, chloropentafluoroethane, chlorotetrafluoroethane and chlorotrifluoroethylene. Item 10. The method for producing octafluoropropane according to Item 1.
【請求項3】 工程(1)において、フッ素化触媒がク
ロムの酸化物を主成分とするものであり、インジウム、
亜鉛及びニッケルからなる群から選ばれる少なくとも1
種を添加してなる塊状触媒である請求項1または2に記
載のオクタフルオロプロパンの製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein in the step (1), the fluorination catalyst contains chromium oxide as a main component, and comprises indium,
At least one selected from the group consisting of zinc and nickel
The method for producing octafluoropropane according to claim 1 or 2, which is a bulk catalyst obtained by adding a seed.
【請求項4】 工程(1)において、フッ化水素/ヘキ
サフルオロプロペンのモル比が0.8〜3の範囲である
請求項1〜3のいずれかに記載のオクタフルオロプロパ
ンの製造方法。
4. The process for producing octafluoropropane according to claim 1, wherein in the step (1), the molar ratio of hydrogen fluoride / hexafluoropropene is in the range of 0.8 to 3.
【請求項5】 工程(2)の前に、2H−ヘプタフルオ
ロプロパン中に含まれる不純物を除去する工程を含む請
求項1〜4のいずれかに記載のオクタフルオロプロパン
の製造方法。
5. The method for producing octafluoropropane according to claim 1, further comprising a step of removing impurities contained in 2H-heptafluoropropane before the step (2).
【請求項6】 不純物が、テトラフルオロメタン、トリ
フルオロメタン、クロロトリフルオロメタン、ヘキサフ
ルオロエタン及びペンタフルオロエタンからなる群から
選ばれる少なくとも1種の化合物である請求項5に記載
のオクタフルオロプロパンの製造方法。
6. The production of octafluoropropane according to claim 5, wherein the impurity is at least one compound selected from the group consisting of tetrafluoromethane, trifluoromethane, chlorotrifluoromethane, hexafluoroethane and pentafluoroethane. Method.
【請求項7】 2H−ヘプタフルオロプロパン中に含ま
れる不純物を除去する工程が蒸留工程である請求項5ま
たは6に記載のオクタフルオロプロパンの製造方法。
7. The method for producing octafluoropropane according to claim 5, wherein the step of removing impurities contained in 2H-heptafluoropropane is a distillation step.
【請求項8】 2H−ヘプタフルオロプロパン中に含ま
れる塩素化合物が0.01vol%以下である請求項1
〜7のいずれかに記載のオクタフルオロプロパンの製造
方法。
8. The chlorine compound contained in 2H-heptafluoropropane is 0.01 vol% or less.
8. The method for producing octafluoropropane according to any one of items 1 to 7.
【請求項9】 工程(2)が希釈ガスの存在下で行うも
のであり、該希釈ガスが、フッ化水素、テトラフルオロ
メタン、ヘキサフルオロエタン及びオクタフルオロプロ
パンからなる群から選ばれる少なくとも1種である請求
項1〜8のいずれかに記載のオクタフルオロプロパンの
製造方法。
9. The step (2) is performed in the presence of a diluent gas, wherein the diluent gas is at least one selected from the group consisting of hydrogen fluoride, tetrafluoromethane, hexafluoroethane, and octafluoropropane. The method for producing octafluoropropane according to any one of claims 1 to 8, wherein
【請求項10】 工程(2)において、フッ素ガス/2
H−ヘプタフルオロプロパンのモル比が0.9〜1.5
の範囲である請求項1〜9のいずれかに記載のオクタフ
ルオロプロパンの製造方法。
10. In the step (2), fluorine gas / 2
The molar ratio of H-heptafluoropropane is 0.9 to 1.5.
The method for producing octafluoropropane according to any one of claims 1 to 9, wherein
【請求項11】 工程(2)において、2H−ヘプタフ
ルオロプロパンの反応器入口濃度が8モル%以下である
請求項1〜10のいずれかに記載のオクタフルオロプロ
パンの製造方法。
11. The process for producing octafluoropropane according to claim 1, wherein in step (2), the concentration of 2H-heptafluoropropane at the inlet of the reactor is 8 mol% or less.
【請求項12】 工程(2)の出口ガスの少なくとも一
部を循環し、工程(2)の希釈ガスとして再使用する請
求項1〜11のいずれかに記載のオクタフルオロプロパ
ンの製造方法。
12. The method for producing octafluoropropane according to claim 1, wherein at least a part of the outlet gas in step (2) is circulated and reused as a diluent gas in step (2).
【請求項13】 工程(2)の出口ガスの少なくとも一
部とハイドロフルオロカーボン類を反応させ、出口ガス
中の未反応フッ素ガスを除去する工程を含む請求項1〜
12のいずれかに記載のオクタフルオロプロパンの製造
方法。
13. The method according to claim 1, further comprising the step of reacting at least a part of the outlet gas of step (2) with a hydrofluorocarbon to remove unreacted fluorine gas in the outlet gas.
13. The method for producing octafluoropropane according to any one of 12.
【請求項14】 ハイドロフルオロカーボン類が、トリ
フルオロメタン、テトラフルオロエタン、ペンタフルオ
ロエタン、2H−ヘプタフルオロプロパンからなる群か
ら選ばれる少なくとも1種の化合物である請求項13に
記載のオクタフルオロプロパンの製造方法。
14. The production of octafluoropropane according to claim 13, wherein the hydrofluorocarbon is at least one compound selected from the group consisting of trifluoromethane, tetrafluoroethane, pentafluoroethane, and 2H-heptafluoropropane. Method.
【請求項15】 工程(2)の出口ガスに含まれるフッ
化水素を分離し、分離したフッ化水素を工程(1)及び
/または工程(2)に戻す請求項1〜14のいずれかに
記載のオクタフルオロプロパンの製造方法。
15. The method according to claim 1, wherein hydrogen fluoride contained in the outlet gas of the step (2) is separated, and the separated hydrogen fluoride is returned to the step (1) and / or the step (2). A process for producing the octafluoropropane described.
【請求項16】 フッ化水素を分離したガスからオクタ
フルオロプロパンの少なくとも一部を分離し、残りのガ
スを工程(1)及び/または工程(2)へ戻す請求項1
〜15のいずれかに記載のオクタフルオロプロパンの製
造方法。
16. The method according to claim 1, wherein at least part of octafluoropropane is separated from the gas from which hydrogen fluoride has been separated, and the remaining gas is returned to step (1) and / or step (2).
16. The method for producing octafluoropropane according to any one of items 15 to 15.
【請求項17】 純度が99.995vol%以上であ
るオクタフルオロプロパンを含有することを特徴とする
オクタフルオロプロパン製品。
17. An octafluoropropane product containing octafluoropropane having a purity of 99.995 vol% or more.
【請求項18】 分子内に塩素原子を含有する化合物と
環状化合物の総量が50volppm以下である請求項
17に記載のオクタフルオロプロパン製品。
18. The octafluoropropane product according to claim 17, wherein the total amount of the compound containing a chlorine atom in the molecule and the cyclic compound is 50 vol ppm or less.
【請求項19】 請求項17または18に記載のオクタ
フルオロプロパン製品を含有することを特徴とするエッ
チングガス。
19. An etching gas comprising the octafluoropropane product according to claim 17 or 18.
【請求項20】 請求項17または18に記載のオクタ
フルオロプロパン製品を含有することを特徴とするクリ
ーニングガス。
20. A cleaning gas comprising the octafluoropropane product according to claim 17 or 18.
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