JP2001506756A - マイクロウェーブアクティブソリッドステート コールド／ウォームノイズソース - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 放射計を校正するために使用されるマイクロ波アクティブノイズソース（１００）及び方法であって、ゲートポート、ドレインポート及びソースポートを有するノイズ等価モデルとして構成されたトランジスタを備える。

Description

【発明の詳細な説明】 マイクロウェーブアクティブソリッドステート コールド／ウォームノイズソース 本願は１９９６年１２月３日に出願されたアメリカ合衆国仮出願第60/032,290 号に基づく利益を受けようとするものである。 技術分野 本発明は、ノイズソースに基づいて行なう放射計のリファレンス温度の較正に 関し、より詳しくは、ホット(hot)及びコールド(cold)リファレンスノイズ温度( reference noise temperature)を提供するマイクロウェーブアクティブソリッド ステートに基づいて行なう放射計のリファレンス温度の較正に関する。 発明の背景 放射計は、遠い対象物から発される熱放射または輝度温度(brightness temper ature)を測定するために用いられる。対象区域(segment)は、通常シーン(scene) と称され、地球表面の一部とされ得る。大部分の洗練された計測器具のよ うに、放射計は正確な測定値を保証するために周期的な較正を必要とする。実際 上、放射計受信機を調節するために、シーンの輝度温度に多用される少くとも２ つの公知の温度較正器が用いられている。最も低い較正温度及び最も高い較正温 度は、各々コールド(cold)熱放射温度及びホット(hot)熱放射温度と称する。 放射計は、一般に、地上に置かれるか、空輸されるか、衛星に基づくシステム であり、多くは１０°Ｋ〜３００°Ｋの冷えた範囲内の輝度温度を測定する。地 上設置型のシステムでは、低い熱放射温度”Ｔｃ”を発生させるために、液体窒 素又は液体ヘリウムを用いるスターリングサイクル冷却器のような閉サイクル冷 却器が使用され得る。閉サイクル冷却器システムは、衛星設置型のシステムには 実際的ではないと考えられる。 図１〜３には、地球表面の一部から発せられアンテナ３６により受信される輝 度温度"Ta"を測定するための従来の３つの衛星システムが例示されている。輝度 温度"Ta"は、アンテナ−地球シーン(scene)ライン１２上のアンテナフィード３ ２を通じて放射計１５０の放射計受信機１６に送られる。現在、衛星設置型シス テムは、外部設置型（図１及び２）及び内部設置型（図３）のいずれかの校正技 術を使用している。 図１には、スカイホーンアプローチ(sky horn approach)として知られている 外部設置型校正技術が例示されている。スカイホーンアプローチは、アンテナ− 地球シーンライン１２及び校正ライン１４のいずれかを放射計受信機１６に接続 する第ＩＲＦスイッチ１０を備えた放射計１５０を使用する。校正ライン１４に おいては、第２のＲＦスイッチ１８がスカイホーン２０と内部ウォームロード(w arm load)２２との間での交互の切り替えを行なう。スカイホーン２０は、コー ルド空間の熱放射温度"Tc"（約２．７°Ｋ）及び内部のウォームロード"Tw"（約 ３００°Ｋ）を出力する。ウォームロード２２と熱接触する精密サーミスタ２４ は、ホット(hot)熱放射温度"Tw"に相当する電気的ホット熱放射温度"Td"を出力 する。電気的熱放射温度"Td"は、放射計受信機１６の校正に使用される。スカイ ホーンアプローチは、放射計受信機１６を校正するのに関し、複雑で高価な方法 である。主たる問題点は、アンテナ−地球シーンライン１２と校正ライン１４が 分離されたラインであり、これにより、放射計受信機１６の正確な校正のために は、ＲＦ損失、不整合損失及び各ラインの物理的温度を正確に知る必要があると いうことである。また、スカイホーン２０を使用すると、校正の複雑さが付加さ れる。これは、地球又は太陽によってもたらされる汚染や宇宙船によるスカ イホーンパターンへの干渉が生じ得るからである。 図２には、アンテナスキャナ２６を使用する衛星設置型システムのための他の 外部設置型校正技術が例示されている。アンテナスキャナ２６は、校正モードの 間に使用される機械的メカニズムであり、反射プレート２８又は吸収ターゲット ３０を、各々がコールド熱放射温度"Tc"又はウォーム熱放射温度"Tw"を供給する ように、アンテナフィード３２に接続する。アンテナフィード３２は、放射計受 信機１６に接続されている。輝度温度"Ta"が測定されるアンテナモードの間、ア ンテナスキャナ２６は、アンテナ−地球シーンライン１２を放射計受信機１６に 接続する。アンテナスキャナ２６は、単一のＲＦパスを使用するという点におい てスカイホーンアプローチより優れている。しかしながら、アンテナスキャナ２ ６は、複雑で嵩高く、放射計１５０にかなりの寸法と重量を付加する。 図３には、衛星設置型システムに使用され得る内部設置型の校正技術が例示さ れている。内部的アプローチは、前に述べ図１に示したスカイホーンアプローチ に極めて近似している。しかし、内部的技術は、スカイホーンアプローチで使用 されるスカイホーン２０に代えて、約２７０°Ｋのコールド熱放射温度"Tc"を発 生させるために熱電気的クーラー３４を使用し得る。しかしながら、内部的アプ ロー チで使用されるウォーム及びコールド熱放射温度"Tc"及び"Tw"は、３０°Ｋしか 離れていない。コールド及びウォーム熱放射温度"Tc"及び"Tw"間の３０°Ｋの相 違は、約１００°Ｋから３００°Ｋの各輝度温度の全範囲をカバーしきれない。 その結果、放射計受信機１６の測定精度は、コールド熱放射温度"Tc"以下に低下 しがちである。 したがって、放射計を校正するためのコールドからホットに至る熱放射温度を 提供し得る調節可能な校正ノイズソースが要請されている。マイクロ波集積回路 (MIC)及び／又はモノリシックマイクロ波修正回路(MMIC)技術そ使用して製造さ れ得るノイズソースが要請されている。これらの要請及び他の要請は、本発明に 係る調節可能な校正用ノイズソースによって、満たされる。 発明の概要 本発明は、マイクロウェーブアクティブノイズソースを使用した放射計校正シ ステム及び放射計の校正方法に係るものである。ノイズソースは、ゲートポート 、ドレインポート及びソースポートを有したノイズ等価モデルとして設計された トランジスタを備えている。放射計の校正の間、ドレインポートは終端とされ、 バイアス回路はノイズ等価モデルにＤＣバイアスを掛ける。バイアス回路は、ホ ット熱放射温度及びコールド熱放射温度がノイズ等価モデルの ゲートポートに交互に出力されるようにＤＣバイアスを制御する。ノイズ等価モ デルのソースポートに接続されるソースインダクタンスは、ノイズソースのため の直列フィードバック(sereis feedback)を提供する。インピーダンスをノイズ 等価モデルに整合させるために、出力整合インピ整合インピーダンスネットワー クがゲートポートに接続される。入力整合インピーダンスネットワークは、放射 計の校正に使用されるホット熱放射温度及びコールド熱放射温度を出力するイン プットポートを備えている。 本発明によれば、地上設置型、空輸型、衛星設置型の放射計を校正するための ノイズソースを備えた校正システムが提供される。 本発明によればまた、ミリメータ波及びマイクロ波スペクトルで機能するノイ ズソースが提供される。 本発明によればさらに、集積回路として構成されたノイズソースを備えた校正 システムが提供される。 本発明によればさらに、ノイズ測定値(noise figure measurements)を提供す るビルトインテストが可能なノイズソースを備えた校正システムが提供される。 本発明によればまた、地球シーンの測定を最大化するために校正時間間隔を調 節し得る放射計が提供される。図面の簡単な説明 本発明は、添付図面を参照した以下の詳細な説明によってより完全に理解され るであろう。 図１は、衛星設置型放射計を校正するための従来のスカイホーンアプローチを 示す概略図である。 図２は、アンテナスキャナを使用する従来の校正技術を示す概略図である。 図３は、熱電気クーラーを使用する従来の内部設置型校正技術の概略図である 。 図４は、調節可能なノイズソースを伴った本発明に係る衛星設置型放射計校正 システムの概略図である。 図５Ａ〜図５Ｄは、放射計校正システムに使用される校正曲線を示す。 図６Ａ、６Ｂは、マイクロプロセッサにより図４に示す調節可能なノイズソー ス及びドライブに送信される校正及びポートスイッチコマンドを示す。 図７は、マイクロウェーブ集積回路として構成されたマイクロウェーブアクテ ィブソリッドステート コールド／ホットノイズソースを示す概略図である。 図８は、ＤＥバイアスが掛けられた状態で１９ＧＨｚ及び２２ＧＨｚで作動す るノイズソースのための熱放射曲線 を示すグラフである。 図９は、図７に示した放射計受信機のノイズ測定値を示すグラフである。 発明の詳細な説明 図４を参照すれば、本発明の放射計を較正するためのノイズソース100が開示 されている。 ノイズソース100は、放射計較正システム150を取り入れて記載されているが、 当業者は、この種の適用態様は、本発明のノイズソースを利用するための多くの 態様の一つに過ぎないということを認めるだろう。それゆえに、記載されている ノイズソース100は、制限して解釈されてはならない。 衛星に基づく放射計の校正と関連して生じる主たるエラーは、以下の要因から 起こる：（1）コールド（cold）較正輝度（brightness）温度；（2）ウォーム（ warm）較正輝度温度；(3)放射計受信機転送機能：（4）地上修正アルゴリズム； 及び(5)アンテナ（空中線）輝度温度。 主な要因となるエラーの各々は、放射計較正システム150のために全範囲に亘 る正確な機構を確立する際に、別々にアドレスされ、結合されなければならない 。コールド及びウォーム較正輝度温度と関連するエラーは、ノイズソー ス100によってアドレスされる。ノイズソース100の詳細な説明は、放射計較正シ ステム150とノイズソースとの相互作用を記述した後に説明する。 図４を参照すれば、ノイズソース100を含む衛星に基づく放射計較正システム1 50の図が示されている。地球の表層の成るセグメントから発された輝度温度“Ta ”は、アンテナ反射鏡36によって受信されて、アンテナ給電装置32に伝送される 。アンテナ給電装置32は、アンテナ−地球シーン（scene）ライン12に輝度温度 “Ta”を出力する。アンテナ−地球シーンライン12は、セレクタスイッチ62に接 続され、セレクタスイッチ12は、アンテナ−地球シーンライン12又は較正ライン 64の何れかを、放射計受信機16の入力端子66に切り替える。較正ライン64は、ノ イズソース100を放射計受信機16に接続する。セレクタスイッチ62は、好ましく は低損失RF（無線周波数）のフェライトスイッチである。 ドライバ68は、マイクロプロセッサ70から受け取ったコマンドに従ってセレク タスイッチ62を駆動し、制御する。最初、マイクロプロセッサ70は、ライン80上 の外部のソース（図示せず）から“テストコマンド”信号を受信する。前記テス トコマンドは、較正シーケンスを開始させる。 図4、図6A、及び図6Bを参照すれば、マイクロプロセッ サ70は、アンテナ・モード82又は較正モード84（図6A）の何れかを駆動するため に、ドライバ68に、ライン72上のアンテナ／校正コマンドを伝送する。アンテナ モード82においては、セレクタスイッチ62は、アンテナ−地球シーンライン12を 、放射計受信機16の入力端子66に接続するように駆動される。較正モード84では 、セレクタスイッチ62は、較正ライン64を、放射計受信機16の入力端子66に接続 するように駆動される。短い継続時間の選ばれた時間間隔での較正モード84の選 択は、輝度温度“Ta”の測定値を最大にする。 マイクロプロセッサ70は、ライン74上のバイアスコマンド信号86（図6B）をも ノイズソース100に送信する。ノイズソース100は、前記バイアスコマンド信号に 応答して、かわるがわるに、コールド熱放射温度“Tc”またはウォーム熱放射温 度“Tw”を出力する。ウォームおよびコールド熱放射温度“Tc”，“Tw”間の交 替は、較正モード84の間に生じる。アンテナモード82の間は、ノイズソース100 は、コールド熱放射温度“Tc”またはウォーム熱放射温度“Tw”を出力しない。 再び図４を参照すれば、ノイズソース100は、ノイズソースと熱的に接触し且 つマイクロプロセッサ70にライン78によって接続された補正高精度サーミスタ（ correction pr ecision thermistor）76を有している。補正高精度サーミスタ76は、ノイズソー ス100の物理的温度“Td”における変化のための補償を提供する。熱的絶縁被覆7 1は、ノイズソース100を取り囲むために使用され得る。前記補償、ＤＣバイアス 、および補償高精度サーミスタ76は、ノイズソース100の要素であり、後に詳細 に説明する。 放射計較正システム150を使用する前に、ノイズソース100が、まず最初に室内 の放射計（図示せず）において校正される。放射計較正システム150の前記最初 の較正の間に、一連の参照較正曲線が作り出され、該曲線がマイクロプロセッサ 70に記録される。前記較正曲線は、較正モード84の間に、マイクロプロセッサ70 によってアクセスされ、放射計受信機16からのライン98上の補正されてない出力 電圧を調節し、ライン99上に補正された出力電圧を出力する。 図5A、5B、5Cおよび5Dを参照すれば、前記較正曲線には、高精度サーミスタ較 正曲線88、ノイズソース放射温度ドリフト曲線90、放射計較正曲線92および補正 された放射計較正曲線94が、含まれている。 高精度サーミスタ曲線88（図5A）は、信号ライン78に沿って検知されたノイズ ソース100の温度“Td”に対する電圧“Vd”における変化を図示している。“Vd ”は、公知の物理的温度“Td”に対応する校正されたサーミスタ出力電 圧である。 ライン64に沿って検知されたノイズソース放射温度ドリフト曲線90（図5B）お よびライン98に沿って検知された放射計較正曲線92（図5C）は、補正された放射 計較正曲線94（図5D）に結合される。補正された放射計較正曲線94は、ライン98 上の放射計受信機16によって生成された補正されていない出力電圧の必要な補正 量と、マイクロプロセッサー70への入力量とを示す。放射計較正曲線92（図5c） は、較正モード84の間における、放射計較正性能を図示している。図における不 確定性は、ノイズソース100の前記物理的温度“Td”における変動による。高精 度サーミスタ曲線88によって示されたデータを利用しているマイクロプロセッサ 70は、補正された電圧をライン99上に発生させるために、補正されてないライン 98上の電圧を調節する。こうして補正された出力電圧は、ノイズソース100の物 理的温度“Td”を考慮に入れることによって正しい出力を示す。較正曲線88、90 、92および94におけるシフトは、放射計較正システム150の補正手順を図示する ために誇張されている。さらに、アンテナモード82において作動するときに、較 正曲線88、90、92および94によって表されたデータはまた、放射計受信機16の出 力信号を校正するために利用される。 図７に、マイクロ波集積回路として実現されるアクティ ブ固体コールド／ホットノイズソース(active solid state cold/hot noises ou rce)100の単純化された構成図を例示する。マイクロ波集積回路には、マイクロ 波集積回路(MIC)又はモノリシックマイクロ波集積回路(MMIC)技術のいずれかが 利用される。ノイズソース100は、１８〜４０ＧＨｚの範囲の周波数を有する、 マイクロ波及びミリメータ波のスペクトルで動作するように設計される。 ノイズソース100は、入力ポート110を有し、そこには、前記ホット熱放射温度 “Tw”及びコールド熱放射温度“Tc”は、校正モード84において、校正ライン64 （図4）に反射され、放射計受信機16（図4）に付与される。入力ポート110は、 入力整合インピーダンスネットワーク112の要素であり、これは、前記入力ポー ト及びノイズ等価モデル114のインピーダンスを整合させるように構成された複 数の入力転送ラインを有している。この複数の入力転送ラインは、好ましくは、 Ａｌ₂Ｏ₃で形成され、ほぼ0.015インチの厚みである。前記入力整合インピーダ ンスネットワーク112は、ノイズ等価モデル114のゲートポート116に接続されて いる。 ノイズ等価モデル114は、ＤＣバイアスがかけられた時に、ホット及びコール ド熱放射温度“Tw”及び“Tc”のよなノイズ温度をシミュレートするように設計 されたマイク ロ波アクティブ回路である。あるモデルを用いたノイズ温度のシミュレーション に関するレポートが、１９９５年のＩＥＥＥ国際マイクロ波シンポジウムにおい て、ピー．ビー．ウィンソン，エス．エム．ランディザバル，及びエル．ピー． ダンリービィにより、“A Table Based Bias and Temperature Dependent Small Signal and Noise Equivalent Circuit Model（テーブルに基づくバイアス及び 温度依存小信号及びノイズ等価回路モデル）”という表題で報告されている。 “ノイズ温度”の語は、特定の周波数ｆでのノイズパワー・スペクトル密度の ための表現であって、プランクの黒体公式（blackbody formula）に由来する。 温度Ｔでの発振器の平均エネルギーは、以下の通りである ここで、ｆは周波数である；ｈはプランク定数である；そして、ｋは熱伝導率 である。高温および低周波では、〈ε〉はkＴに近づくので、バンド幅Ｂ内のパ ワーは、P=kTB（ナイキストの公式（Nyquist's formula））となるだろう。量φ =P/kBは、熱的ノイズパワー・スペクトル密度の便利な単位として扱われ、“ノ イズ温度”と称される。 ノイズ等価モデル114は、ドレンポート118、ソースポート120、及びゲートポ ート116を有する電界効果型トランジスタ（ＦＥＴ）を用いている。ドレンポー ト118は、ノイズソース100の操作の間に転送される。ソースポート120は、ソー スインダクタンス122に接続され、ノイズソース100のための連続フィードバック （直列フィードバック）を提供し、そこでは、ソースインダクタンス122は、好 ましくは、20-700pHの範囲である。 バイアス回路128は、較正モード84の間、ノイズソース100に加えられるＤＣバ イアスを発生させる。マイクロプロセッサ70は、ＤＣバイアスの大きさを調節し 、コールドおよびホット熱放射温度“Tct”及び“Tw”の値を変える。特に、前 記ＤＣバイアスは、ホット熱放射温度“Tw”及びコールド熱放射温度“Tc”が、 代わる代わるノイズ等価モデル114のゲートポート116に反射されるように、マイ クロプロセッサ70（図4）から転送されたバイアスコマンド信号74に応答する。 ノイズ等価モデル114と連絡し、マイクロプロセッサ70（図４）と接続する安 定補償回路(stabilizing compensation circuit)130は、ＤＣバイアスのさらな る制御を提供する。安定補償回路130は、高精度サーミスタ76を備え、ノイズソ ース100の物理的温度(physical temperature)” Ｔｄ”を測定する。安定補償回路130を使用しない場合、ノイズソース100の物理 的温度“Td”の変動がノイズソースの性能に悪影響を及ぼし得る。 出力整合インピーダンスネットワーク(output matching impedance network)1 24は、負荷126と、負荷及びノイズ等価モデル114のドレインポート(drain port) 118のインピーダンスと整合するように構成及び寸法決めされた複数の出力伝達 ラインとを備える。出力整合ネットワーク124は、ドレインポート118に接続され る。複数の出力伝達ラインは、好適にはＡｌ₂Ｏ₃から製造され、厚さ約０．０１ ５インチである。 図８に、ＤＣバイアスのもとに１９ＧＨｚ及び２２ＧＨｚで動作するノイズソ ース100の熱輻射曲線のグラフを示す。ノイズソース100によって発生する典型的 なノイズ温度は、１００°Ｋ〜１４００°Ｋの範囲にある。 図９において、放射計受信機１６のノイズ指数測定値のグラフを示す。ノイズ 指数測定値は、標準ノイズ温度２９０°Ｋでの、ノイズソース100の出力におけ る、入力終端に起因するノイズパワーの部分に対する単位バンド幅あたりの総ノ イズパワーの比率を定量的に決定するプロセスである。ノイズ指数（Ｆ）の式は 、以下の式によって表され得る。 Ｆ＝Ｔｒ／Ｔｏ＋１ （２） ここで、”Ｔｒ”は受信機のノイズ温度であり、”Ｔｏ”は放射計受信機１６の 温度を表す。”Ｔｏ”は、放射計受信機１６におけるＲＦコンポーネントに搭載 された高精度受信機サーミスタ（図示せず）を用いて測定される。 以下に示す式は図９を参照して導出され、上述のようなリニア放射計受信機１ ６を利用したノイズ指数測定の計算に関連する： リニア放射計受信機において-- Tin=Tc成いはTw（放射計受信機に付与される） （４） Tin=０において及び ノイズ指数は、 Ｆ＝Ｔｒ／Ｔｏ＋１ （７） ここで、”Ｖｃ””Ｖｒ”及び”Ｖｗ”は、放射計の出力電圧であり、それぞれ ”Ｔｃ”、”Ｔｒ”及び”Ｔｗ”に対応する。 本発明を例示的な実施形態を参照して説明したが、この例示をもって本発明を 限定するわけではなく、むしろ、以下の請求の範囲で規定される本発明の精神及 び範囲に含まれ得る変形、改良、及び等価物を包含することが意図される。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０３Ｂ 29/00 Ｈ０３Ｂ 29/00 (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ， ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，Ｌ Ｕ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＣＡ，ＪＰ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．放射計を校正するためのアクティブノイズソースであって、 ゲートポート、ドレインポート及びソースポートを備えたノイズ等価回路と、 前記ノイズ等価回路の前記ソースポートに結合された直列フィードバック(ser ies feedback)を行うソースインダクタンスと、 前記ノイズ等価回路における前記ドレインポートを終端とし、負荷を有する出 力インピーダンス整合ネットワークと、 前記ノイズ等価回路における前記ゲートポートに接続され、前記放射計を校正 するためのホット(hot)熱放射温度及びコールド(cold)熱放射温度を反射(reflec t)する入力ポートを有する入力インピーダンス整合ネットワークと、 前記ノイズ等価回路における前記ゲートポートにおいて、前記ホット熱放射温 度及び前記コールド熱放射温度を交互に発生させるために、直流バイアスを前記 出力インピーダンス整合ネットワーク及び前記入力インピーダンス整合ネットワ ークに供給するバイアス回路とを備えているノイズ ソース。 ２． 前記バイアス回路に接続されたマイクロプロセッサを更に備えており、該 マイクロプロセッサは、前記ホット熱放射温度及び前記コールド熱放射温度を設 定するように直流バイアスを調整するための制御信号を発生させる請求項１に記 載のノイズソース。 ３． 前記ノイズ等価回路と熱的接触し、前記直流バイアスの制御に応じた温度 を与えるようにマイクロプロセッサに接続された安定補償回路を更に備えている 請求項２に記載のノイズソース。 ４． 前記安定補償回路は、前記ノイズ等価回路に熱的接触する高精度サーミス タを更に備えている請求項３に記載のノイズソース。 ５． 前記ノイズ等価回路は、小さな信号パラメータに依存する直流バイアス及 び温度を有するマイクロ波アクティブＦＥＴを備えている請求項１に記載のノイ ズソース。 ６． 前記ノイズ等価回路は、１８ＧＨｚから４０ＧＨｚの間で作動する請求項 ５に記載のノイズソース。 ７．放射計受信機と、 アンテナから受けた輝度温度を前記放射計受信機に与えることができるアンテ ナモードと校正モードとの間で選択するためのスイッチと、 校正モードにおいて、前記スイッチを介して前記放射計受信機に接続され、コ ールド熱放射温度又はホット熱放射温度を与えるマイクロ波アクティブノイズソ ースと、 前記スイッチの作動を制御するためのドライバと、 前記放射計受信機の出力を校正するために、前記放射計受信機、前記ノイズソ ース及び前記ドライバに結合されたマイクロプロセッサとを備えてなる放射計。 ８．前記マイクロプロセッサは、更に、前記コールド熱放射温度及び前記ホット 熱放射温度を交互に切り替えるために、前記ノイズソースからの出力を制御する バイアスコマンドを発する請求項７に記載の放射計。 ９．前記マイクロプロセッサは、前記放射計受信機からの電圧出力を校正するた めに、前記ノイズソースからの校正カーブ信号に反応する請求項７に記載の放射 計。 10．前記ノイズソースは、該ノイズソースに熱的接触するサーミスタを更に備え ており、前記サーミスタは、前記ノイズソースの物理的温度に相当する前記マイ クロプロセッサへの信号を発生させる請求項９に記載の放射計。 11．前記マイクロプロセッサは、前記放射計受信機からの電圧出力を校正するた めの複数の基準カーブを記憶するメモリを更に備えている請求項１０に記載の放 射計。 12．アクティブノイズソースを使用する放射計受信機を校 正するための方法であって、 マイクロプロセッサからのバイアスコマンドを前記ノイズソースに送るステッ プと、 前記ノイズソースにおいて、前記バイアスコマンドに応じた大きさのコールド 熱放射温度又はホット熱放射温度を発生させるステップと、 前記コールド熱放射温度またはホット熱放射温度を、前記放射計受信機に結び つけるステップと、 前記放射計受信機への前記コールド熱放射温度及びホット熱放射温度の結びつ きを交互に切り替えるために、前記マイクロプロセッサから前記ノイズソースに 伝達される前記バイアスコマンドを交互に切り替えるステップとを備える方法。 13．前記放射計受信機からの電圧出力を安定化させるステップを更に備える請求 項１２に記載の方法。 14．固体ノイズソースからの線形放射計のノイズ形状を測定する方法であって、 放射計受信機のノイズ温度を測定するステップと、 前記放射計受信機の物理的温度を測定するステップと、 前記物理的温度を前記ノイズ温度に分けることによって前記ノイズ形状を計算 し、等式Ｆ＝Ｔｒ／Ｔｏ＋１に従って１を付加するステップとを備える方法。 15．放射計を校正するためにホット熱放射温度及びコールド熱放射温度を与える 固体ノイズソースであって、 ＦＥＴがゲートポート、ドレインポート及びソースポートを備えるＦＥＴマイ クロ波アクティブノイズ等価回路と、 前記ＦＥＴフィードバックの前記ソースポートに結合されたフィードバックネ ットワークと、 前記ＦＥＴの前記ドレインポートを終端とする出力整合ネットワークと、 前記ＦＥＴの前記ゲートポートに接続され、前記ホット熱放射温度及びコール ド熱放射温度を前記放射計受信機に入力するための入力ポートを有する入力整合 ネットワークと、 前記ＦＥＴの前記ゲートポートにおいて出力される前記ホット熱放射温度及び コールド熱放射温度を交互に発生させるために、前記出力整合ネットワーク及び 前記入力整合ネットワークに結合されるバイアスネットワークとを備えている固 体ノイズソース。 16．前記バイアス回路は、前記ホット熱放射温度及び前記コールド熱放射温度の 大きさを制御するように直流バイアスを制御するためのプロセッサを更に備えて いる請求項１５に記載のノイズソース。 17．前記プロセッサに結合され、前記直流バイアスを補 償し制御するための安定回路を更に備えている請求項１６に記載のノイズソース 。 18．前記安定回路は、前記ＦＥＴに接触するサーミスタを備えている請求項１７ に記載のノイズソース。 19．前記ＦＥＴは、１８ＧＨｚから４０ＧＨｚの間で作動する請求項１５に記載 のノイズソース。