JP2001319562A - 電子源形成用基板、該基板を用いた電子源並びに画像表示装置 - Google Patents
電子源形成用基板、該基板を用いた電子源並びに画像表示装置Info
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Abstract
を形成した場合、熱処理によってNaが拡散し、その電
子放出特性に悪影響を及ぼす。そこで、Naの拡散を抑
制する基板コート層を形成し、Naの拡散を抑制した電
子源形成用基板を提供する。 【解決手段】 電子放出素子が配置される電子源形成用
基板であって、基板1と、基板1の電子放出素子が配置
される表面に設けられた、メジアン値で表される平均粒
子径が6nm〜60nmの範囲の複数の金属酸化物粒子
8を含有するSiO2膜6と、更に、SiO2からなる第
2の膜7が積層されていることを特徴とする。
Description
いられる電子源形成用基板と、該基板を用いた電子源並
びに画像表示装置に関する。
て熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子を用いた2種類
のものが知られている。冷陰極電子放出素子には電界放
出型(以下、「FE型」という。)、金属/絶縁層/金
属型(以下、「MIM型」という。)や表面伝導型電子
放出素子等がある。
W.W.Dolan,”Field emissio
n”,Advance in Electoron P
hysics,8,89(1956)あるいはC.A.
Spindt,”Physical Properti
es of Thin−Film Field Emi
ssion Cathodes with Molyb
denium Cones”,J.Appl.Phy
s.,47,5248(1976)等に開示されたもの
が知られている。
M.I.Elinson,Recio Eng.Ele
ctron Phys.、10,1290,(196
5)等に開示されたものがある。
された小面積の薄膜に、膜面に並行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。こ
の表面導電型電子放出素子としては、前記エリンソン等
によるSnO2薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの
[G.Dittmer:“Thin Solid Fi
lms”,9,317(1972)]、In2O3/Sn
O2薄膜によるもの[M.Hartwell and
C.G.Fonstad:“IEEE Trans.E
D Conf.”519(1975)]、カーボン薄膜
によるもの[荒木久 他:真空、第26巻、第1号、2
2頁(1983)]等が報告されている。
置して構成された電子源を、内部を真空に保持した外囲
器中に保持して利用する為には、該電子源と外囲器、そ
の他の部材を接合する必要がある。この接合は、フリッ
トガラスを用いて加熱、融着して行うのが一般的であ
る。このときの加熱温度は、400〜500℃程度が典
型的で、時間は外囲器の大きさなどによって異なるが、
10分〜1時間程度が典型的である。
スによる接合が容易で確実であるという点と比較的安価
であるという点から、青板ガラスを用いることが好まし
い。また、Naの一部をKに置換して歪み点を上昇させ
た高歪み点ガラスもフリット接続が容易であるため、好
ましく用いることができる。また、上記電子源の基板に
関してもその材質は、外囲器との接合の確実性から、同
様に青板ガラス、あるいは上記高歪み点ガラスを用いる
ことが好ましい。
分としてアルカリ元素金属、特にNaがNa2Oとして
大量に含有されている。Na元素は熱による拡散が生じ
易いため、プロセス中で高温にさらされると、青板ガラ
ス上に形成された各種部材、特に、電子放出素子を構成
する部材中にNaが拡散し、その特性を劣化させる場合
がある。
子源の基板として上述の高歪み点ガラスを用いた場合、
Na含有量が少ない分、程度は緩和されるが発生する場
合があることがわかった。
して、例えば、特開平10−241550号公報、EP
−A−850892号公報には、Naを含有する基板の
少なくとも電子放出素子が配置される側の表層領域の該
Naを含有濃度が、他の領域よりも小さくなっている電
子源形成用の基板、更には、リン含有層を有する電子源
形成用の基板が開示されている。
る方法として、SiNやCNなどの窒化膜を形成する方
法があるが、スパッタなどの真空成膜によるもので一般
的にコストが高くなってしまう。
子の電子放出特性の経時的変化が低減される電子源形成
用基板、及びその基板を用いた電子源並びに画像表示装
置を提供することを目的とする。
を解決するに鋭意検討を行なってなされたものである。
電子放出素子が配置される電子源形成用基板であって、
基板と、前記基板の前記電子放出素子が配置される表面
に設けられた、メジアン値で表される平均粒子径が6n
m〜60nmの範囲の複数の金属酸化物粒子を含有する
絶縁材料膜とを有することを特徴とする。
好ましい特徴として、「前記絶縁材料膜は更に、リンを
含有している」こと、「前記絶縁材料膜は更に、リンを
1重量部〜10重量部含有している」こと、「前記絶縁
材料膜の厚さは、200nm〜600nmの範囲であ
る」こと、「前記絶縁材料膜の厚さは、300nm〜4
00nmの範囲である」こと、「前記絶縁材料膜上に更
に、絶縁材料からなる膜が積層されている」こと、「前
記絶縁材料からなる膜の厚さは、20nm〜150nm
の範囲である」こと、「前記絶縁材料からなる膜の厚さ
は、40nm〜100nmの範囲である」こと、を含
む。
放出素子が配置される電子源形成用基板であって、基板
と、前記基板の前記電子放出素子が配置される表面に設
けられた、メジアン値で表される平均粒子径が6nm〜
60nmの範囲の複数の金属酸化物粒子を含有するSi
O2膜とを有することを特徴とする。
好ましい特徴として、「前記SiO2膜は更に、リンを
含有している」こと、「前記SiO2膜は更に、リンを
1重量部〜10重量部含有している」こと、「前記Si
O2膜の厚さは、200nm〜600nmの範囲であ
る」こと、「前記SiO2膜の厚さは、300nm〜4
00nmの範囲である」こと、「前記SiO2膜上に更
に、SiO2からなる膜が積層されている」こと、「前
記SiO2からなる膜の厚さは、20nm〜150nm
の範囲である」こと、「前記SiO2からなる膜の厚さ
は、40nm〜100nmの範囲である」こと、を含
む。
更なる好ましい特徴として、「前記メジアン値で表され
る平均粒子径が15nm〜30nmの範囲である」こ
と、「前記金属酸化物粒子は、電子伝導性酸化物粒子で
ある」こと、「前記金属酸化物粒子は、Fe、Ni、C
u、Pd、Ir、In、Sn、Sb、Reから選ばれる
金属の酸化物粒子である」こと、「前記金属酸化物粒子
は、SnO2の粒子である」こと、「前記基板は、ナト
リウムを含有する基板である」こと、を含む。
板上に配置された、電子放出素子とを備える電子源であ
って、前記基板が、前記本発明の電子源形成用基板であ
ることを特徴とする。
徴として、「前記電子放出素子は、電子放出部を含む導
電性膜を備える電子放出素子である」こと、「前記電子
放出素子の複数が、複数の行方向配線及び複数の列方向
配線とによりマトリクス配線されている」こと、「前記
電子放出素子は、一対の電極間に、電子放出部を含む導
電性膜を備える電子放出素子である」こと、「前記電子
放出素子の複数が、複数の行方向配線及び複数の列方向
配線とによりマトリクス配線されており、前記一対の電
極が白金を主成分とする材料より構成され、かつ、前記
配線が、銀を主成分とする材料より構成されている」こ
と、を含む。
と、前記外囲器内に配置された、電子放出素子及び前記
電子放出素子からの電子の照射により画像を表示する画
像表示部材とを備える画像表示装置であって、前記電子
放出素子が配置されている基板が、前記本発明の電子源
形成用基板であることを特徴とする。
しい特徴として、「前記電子放出素子は、電子放出部を
含む導電性膜を備える電子放出素子である」こと、「前
記電子放出素子の複数が、複数の行方向配線及び複数の
列方向配線とによりマトリクス配線されている」こと、
「前記電子放出素子は、一対の電極間に、電子放出部を
含む導電性膜を備える電子放出素子である」こと、「前
記電子放出素子の複数が、複数の行方向配線及び複数の
列方向配線とによりマトリクス配線されており、前記一
対の電極が白金を主成分とする材料より構成され、か
つ、前記配線が、銀を主成分とする材料より構成されて
いる」こと、を含む。
ック層として形成する金属酸化物粒子を含む絶縁材料膜
や、この上に形成する例えばSiO2を含む膜の種類、
形状、ドープ材料、膜厚によって特性が大きく変化し、
最適な構成をとることによって始めてその効果が十分に
発揮されることがわかった。
形成されていく電極、配線、電子放出素子膜などの材
料、プロセス、熱履歴によっても最適な構成が変わりう
ることもわかった。
板の電子放出素子が配置される表面に、メジアン値で表
される平均粒子径が6nm〜60nmの範囲の複数の金
属酸化物粒子を含有する絶縁材料膜、具体的には例えば
SnO2の粒子を含有するSiO2膜を有することによ
り、Naを含有する基板、特に主成分としてSiO2を
50〜75重量%、Naを2〜17重量%含有するガラ
ス基板のNaを効果的にブロックすることができる。こ
のため、本発明の電子源形成用基板を用いた電子放出素
子は、電子放出特性の経時的変化が低減し、安定した電
子放出特性が得られる。
伝導性酸化物粒子を用いることにより、より一層、安定
した電子放出特性が得られる。本発明において、電子伝
導性とはイオン伝導性に対して用いられたもので、電子
伝導性材料を含有する層を設けることは以下の利点を有
する。
に設けることにより、基板表面は電気伝導性を示すよう
になり、チャージアップによる駆動中の不安定性を抑制
することができる。この電気伝導性を得るために、イオ
ン伝導性材料を用いると、駆動にかかわる電圧が印可さ
れる事により長時間電圧が印可されるうちにイオンが移
動し、その結果、イオンが偏析し、電子源特性を不安定
にすることがある。これはイオンの移動に要する時間が
大きいために、例えば駆動にかかわる電圧をパルス状に
印可する場合においては、パルスとパルスの間、即ち休
止時間内にイオンの移動が完全に復元されないために生
ずるものと考えられる。このようなイオンの偏析が電子
源特性に影響をもたらす。したがって、特に基板が電子
伝導性材料を含有する層を有し、その伝導が主に電子伝
導による場合においては、イオンの偏析がほとんど生じ
ず、上述の電子源特性にもたらす影響を回避できる。
SnO2の粒子を用いるのが好ましい。このSnO2は市
場に出回っており比較的安価で、微粒子分散の技術がほ
ぼ確立している事から塗布成膜用の溶液に容易に用いる
ことができる。
に、リンを添加する事によって膜の抵抗値を容易に制御
できる。また、適度なリンの添加は、ナトリウムのブロ
ック効果を高めることができるわかった。このメカニズ
ムはまだ解明はされてはいないが、基板ガラス中のナト
リウムがリンと何らかの化合物を形成して固定される事
によって、基板表面への拡散を押さえているのではない
かと考えている。
えばSiO2膜)上に、更に第2の層である前記絶縁材
料からなる膜(例えばSiO2膜)を有する構成にする
事によって、単に各々の膜から予想されるブロック効果
よりはるかにナトリウムブロック効果が向上する。
銀を用いて例えば500℃程度の焼成プロセスを繰り返
した場合にナトリウムの表面への拡散が多いことが判っ
た。そのような構成を取った場合にでも、本発明による
ナトリウムブロック層を用いる事によって、効果的にN
aの拡散をブロックすることができる。
の好ましい実施形態について説明する。
施形態を示す断面図である。図1において、1はNaを
含有する、例えば、青板ガラス、あるいはNaの1部を
Kに置換して歪み点を上昇させた高歪み点ガラスなどの
基板、6は金属酸化物粒子を含有した第1の層、7は該
第1の層上に形成された第2の層、8は第1の層6中の
金属酸化物粒子である。
源形成用基板は、第2の層7上に電子放出素子が形成さ
れる。
はSiO2を主成分とした膜であり、その厚さは、上記
Na拡散を抑制する効果の点で、200nm以上、より
好ましくは300nm以上が好ましい。膜厚の特性上の
上限は特にないが、あまり厚くすると基板との密着性に
問題が生じる事があるために1μm以下、より好ましく
は600nm以下、特に好ましくは400nm以下であ
る。
で表される平均粒子径が6nm〜60nmが好ましく、
特に好ましくは15nm〜30nmである。この平均粒
子径が小さ過ぎると、膜形成に非常に時間とコストがか
かり、基板作成が困難である。一方、この平均粒径が大
き過ぎると、第1の層上の平坦性が阻害され、電極・配
線等の基板への密着性が悪くなり電子放出素子作成時に
悪影響を与える。
Ni、Cu、Pd、Ir、In、Sn、Sb、Reから
選ばれる金属の酸化物粒子を用いることができ、特に好
ましくはSnO2等の電子伝導性酸化物粒子が用いられ
る。
よって膜の抵抗値を容易に制御でき、適度なリンの添加
は、ナトリウムのブロック効果を高めることができる。
具体的には、第1の層中にリンを1重量部〜10重量部
含有するのが好ましい。
はSiO2を主成分とした層であり、電子放出素子が形
成される基板表面の平坦性向上、上記第1の層6中の金
属酸化物粒子8の脱落防止、Na拡散の防止を目的とし
て設けられた層である。この第2の層7は第1の層6上
に形成され、金属酸化物粒子の凹凸をカバーして平坦性
を向上し、電子放出素子の形成を容易にしている。ま
た、第1の層6だけでは金属酸化物粒子を基板に安定し
て接着するのが困難なので、第2の層7でその接着を
し、金属酸化物粒子の脱落を防ぐ役割も担う。
点で20nm以上が好ましく、また、Naの拡散防止の
効果の点から、40nm以上が好ましく、60nm以上
が特に好ましい。また、膜の応力によるクラックの発生
や膜はがれを防止するという点で、更に1μm以下が望
ましく、好ましくは150nm以下、特に好ましくは1
00nm以下である。
述の電子源形成用基板を用いた電子源の実施形態につい
て説明する。
一実施形態を示す模式図であり、図2の(a)は平面
図、図2の(b)は断面図である。本実施形態の電子源
は、上述の図1にて示された電子源形成用基板を用いて
構成された電子源であり、図2の(a),(b)におい
て1,6,7はそれぞれ上述の、Naを含有する基板、
第1の層、第2の層である。
子放出素子が配置されている。ここで、電子放出素子
は、例えば、一対の電極と、該一対の電極間に配置され
た、電子放出部を有する導電性膜とを備える電子放出素
子であって、本実施形態においては、図2の(a),
(b)に示されるように、間隙5を隔てて配置された一
対の導電性膜4と、一対の導電性膜4にそれぞれ電気的
に接続された一対の素子電極2,3とを備える表面伝導
型電子放出素子が用いられている。尚、図2の(a),
(b)に示される表面伝導型電子放出素子は、導電性膜
4上に炭素膜を有する形態の素子であることがより好ま
しい。
られた表面伝導型電子放出素子について詳述する。
ては、一般的な材料を用いることができ、例えば、N
i,Cr,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al、Cu,
Pd等の金属或いは合金、または、Pd,Ag,Au,
RuO2,Pd‐Ag等の金属或は金属酸化物とガラス
等から構成される印刷導体、または、In2O3‐SnO
2等の透明導電体、または、ポリシリコン等の半導体材
料等から適宜選択することができる。
は、Pd,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,C
u,Cr,Fe,Zn,Sn、Ta,W等の金属、また
は、PdO,SnO2,In2O3,PdO,Sb2O3等
の酸化物の中から適宜選択することができる。
ために、1nm〜20nmの範囲内の粒径を有する複数
の微粒子で構成された微粒子膜であることが好ましい。
また、導電性膜4の膜厚は、好ましくは1nm〜50n
mの範囲とするのが良い。
間に跨って形成された導電性膜に、後述するフォーミン
グ処理で亀裂を形成することにより形成される。
素膜が形成されていることが、電子放出特性の向上及び
電子放出特性の経時的変化の低減のうえで好ましい。
(b)に示されるように形成される。ここで図3の
(a)は炭素膜を有する表面伝導型電子放出素子の導電
性膜の間隙部を拡大した模式的平面図、図3の(b)は
そのA‐A’断面図である。
面伝導型電子放出素子は、上記一対の導電性膜4で形成
される間隙5よりも狭い間隙11を形成するように、該
導電性膜4に接続されて、間隙5内の基板10上及び導
電性膜4上に炭素膜12を有している。
に、一対の導電性膜4の、間隙5に面する両端に、上記
同様に炭素膜12を有する形態であっても上記同様の効
果を奏する。
(a),(b)で示された上述の電子源の製造方法の一
例について説明する。
有基板1を洗剤、純水および有機溶剤等を用いて十分に
洗浄し、かかる基板1上に第1の層6を形成する。ここ
で、第1の層6の形成法としては、スピンコート法、フ
レキソ印刷法、スリットコート等の機械的成膜方法を用
いるのが好ましい。機械的成膜法とは、その製膜元素を
含む化合物を用い、スピンコーター、スリットコータ
ー、フレキソ印刷機等の装置を使って塗布、その後、乾
燥工程を経て、有機化合物の焼成を行って成膜する方法
である。これらの方法によれば、膜厚が比較的均一な膜
ができるといった利点を有する。
形成する。ここで第2の層7の形成法としては、第1の
層6の形成法と同じ機械的成膜法を用いると、上記第1
の層6の形成に続けて連続的に形成できるため好まし
い。例として、スピンコート法にて電子伝導性酸化物を
含有する塗布液を塗布し、乾燥を行い続いて、SiO2
を主成分とする塗布液を続けて塗布し、その後一括で焼
成することで、第1の層が、第2の層にて被覆される。
6、第2の層7がこの順にて積層された電子源形成用基
板が作成される(図5(a))。
素子、とりわけ、表面伝導型電子放出素子が形成され
る。
ト印刷法等により素子電極材料を堆積後、例えばフォト
リソグラフィー技術を用いて第2の層7表面に素子電極
2,3を形成する(図5(b))。
上に、有機金属溶液を塗布して、有機金属薄膜を形成す
る。有機金属溶液には、前述の導電性膜4の材料の金属
を主元素とする有機金属化合物の溶液を用いることがで
きる。有機金属薄膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エ
ッチング等によりパターニングし、導電性膜4を形成す
る(図5(c))。ここでは、有機金属溶液の塗布法を
挙げて説明したが、導電性膜4の形成法はこれに限られ
るものでなく、真空蒸着法、スパッタ法、化学的気相堆
積法、分散塗布法、ディッピング法、スピンナー法等を
用いることもできる。
ォーミング工程の方法の一例として通電処理による方法
を説明する。素子電極2,3間に、不図示の電源を用い
て、通電を行うと、導電性膜4に、間隙5が形成される
(図5(d))。通電フォーミングの電圧波形の例を図
6に示す。
にはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印可
する図6の(a)に示した手法と、パルス波高値を増加
させながら電圧パルスを印可する図6の(b)に示した
手法がある。
のパルス幅とパルス間隔である。通常T1は1μse
c.〜10msec.、T2は、10μsec.〜10
0msec.の範囲で設定される。三角波の波高値(通
電フォーミング時のピーク電圧)は、電子放出素子形態
に応じて適宜選択される。このような条件のもと、例え
ば、数秒から数十分間電圧を印可する。パルス波形は三
角波に限定されるものではなく、矩形波など所望の波形
を採用することができる。
の(a)に示したものと同様とすることができる。三角
波の波高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例
えば0.1V/ステップ程度ずつ、増加させることがで
きる。通電フォーミング処理の終了は、パルス間隔T2
中に、例えば0.1V程度の抵抗を示したとき、通電フ
ォーミングを終了させる。
呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程とは、こ
の工程により、素子電流If、放出電流Ieが、著しく
変化する工程である。
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、パル
スの印可を繰り返すことで行うことができる。この雰囲
気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用
いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有
機ガスを利用して形成することができるほか、イオンポ
ンプなどにより一旦十分に排気した真空中に適当な有機
物質のガスを導入することによっても得られる。このと
きの好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、
真空容器の形状や、有機物質の種類などにより異なるた
め場合に応じて適宜設定される。適当な有機物質として
は、、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族
炭化水素類、アルコール類、アルデヒド類、ケント類、
アミン類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機
酸類等を挙げることが出来、具体的には、メタン、エタ
ン、プロパンなどのCnH2n+2で表される飽和炭化水
素、エチレン、プロピレンなどのCnH2n等の組成式で
表される不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノ
ール、エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒ
ド、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エ
チルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等
あるいはこれらの混合物が使用できる。この処理によ
り、雰囲気中に存在する有機物質から、炭素膜が素子上
に堆積し、素子電流If、放出電流Ieが著しく変化す
るようになる。
放出電流Ieを測定しながら、適宜行う。尚、パルス
幅、パルス間隔、パルス波高値などは、適宜設定され
る。
ゆるHOPG、PG、GCを含有する。HOPGはほぼ
完全なグラファイトの結晶構造、PGは結晶粒が20n
m程度で結晶構造がやや乱れたもの、GCは結晶粒が2
nm程度になり結晶構造の乱れがさらに大きくなったも
のをさす。)、非晶質カーボン(アモルファスカーボン
及び、アモルファスカーボンと前記グラファイトの微結
晶の混合物を指す)の膜であり、その膜厚は、50nm
以下の範囲とするのが好ましく、30nm以下の範囲と
するのがより好ましい。
示された電子源が製造される。
された電子源の別の実施形態として、複数の電子放出素
子が配列された電子源、およびその電子源を用いた画像
形成装置の例について以下に説明する。
成用基板上に複数の電子放出素子がマトリクス配線され
た電子源を示す模式図である。図7において、71は基
板であり、上記の第1の層と第2の層が予め設けられて
いる。72は行方向配線、73は列方向配線である。ま
た、76は電子放出素子、75は結線である。
2、…、Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパッ
タ法等を用いて形成された導電性金属等で構成すること
ができる。列方向配線73は、Dy1、Dy2、…、D
ynのn本の配線よりなり、行方向配線72と同様に形
成される。これらのm本の行方向配線72とn本の列方
向配線73との間には、不図示ではあるが層間絶縁層が
設けられており、両者を電気的に分離している(m,n
は共に正の整数。)。
ッタ法等を用いて形成されたSiO 2等で構成される。
例えば、列方向配線73を形成した電子源基板71の全
面或は一部に所望の形状で形成され、特に、行方向配線
72と列方向配線73の交差部の電位差に耐えうるよう
に、膜厚、材料、製法が、適宜設定される。
ぞれ外部端子として引き出されている。
2とn本の列方向配線73とに導電性金属等からなる結
線75によって電気的に接続されている。
子放出素子76の行を選択するための走査信号を印可す
る不図示の走査信号印可手段が接続される。一方、列方
向配線73には、Y方向に配列した電子放出素子76の
各列を入力信号に応じて変調するための不図示の変調信
号発生手段が接続される。各電子放出素子に印可される
駆動電圧は、当該素子に印可される走査信号と変調信号
の差電圧として供給される。
リクス配線を用いて、上述の電子源形成用基板上に、複
数の表面伝導型電子放出素子を単純マトリクス配線し
た。
成装置について、図8と図9及び図10を用いて説明す
る。
を示す模式図であり、図9は図8の画像形成装置に使用
される蛍光膜の模式図である。図10は、NTSC方式
のテレビ信号に応じて表示を行うための駆動回路の一例
を示すブロック図である。
出素子76を複数配した、上述の図7で示される基板、
81は基板71を固定したリアプレート、86はガラス
基板83の内面に蛍光膜84とメタルバック85が形成
されたフェースプレートである。82は支持枠であり、
該支持枠82には、リアプレート81、フェースプレー
ト86が低融点のフリットガラスなどを用いて、接合さ
れている。
6と接合された行方向配線及び列方向配線である。
レート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、リアプレート81間に、スペーサー
と呼ばれる不図示の支持体を設置することにより、大気
圧に対して十分な強度を持つ外囲器88を構成すること
もできる。
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみから構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列によりブラックストライプ(図9(a))或はブラッ
クマトリクス(図9(b))などと呼ばれる黒色導電材
91と蛍光体92とからすることができる。ブラックス
トライプ、ブラックマトリクスを設ける目的は、カラー
表示の場合、必要となる三原色蛍光体の各蛍光体92間
の塗り分け部を黒くすることで混色等を目立たなくする
ことと、蛍光膜84における外光反射によるコントラス
トの低下を抑制することにある。黒色導電材91の材料
としては、通常用いられている黒鉛を主成分とする材料
のほか、導電性があり、光の透過及び反射が少ない材料
を用いることができる。
ノクローム、カラーによらず、沈殿法、印刷法等が採用
できる。
ク85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、蛍
光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート86
側へ鏡面反射させることにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印可するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作成後、蛍光膜の内面側の表面の平滑化処
理(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、そ
の後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製で
きる。
84の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明
電極(不図示)を設けても良い。
各色蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、
十分な位置合わせが不可欠となる。
例を以下に説明する。
す模式図である。外囲器88は、排気管132を介して
真空チャンバー133に連結され、さらにゲートバルブ
134を介して排気装置135に接続されている。真空
チャンバー133には、内部の圧力及び雰囲気中の各成
分の分圧を測定するために、圧力計136、四重極質量
分析器137等が取り付けられている。外囲器88内部
の圧力などを直接測定することは困難であるため、該真
空チャンバー133内の圧力などで代用する。真空チャ
ンバー133には、さらに必要なガスを真空チャンバー
内に導入して雰囲気を制御するため、ガス導入ライン1
38が接続されている。該ガス導入ライン138の他端
には導入物質源140が接続されており、導入物質がア
ンプルやボンベなどに入れて貯蔵されている。
質を導入するレートを制御するための導入手段139が
設けられている。該導入量制御手段としては具体的に
は、スローリークバルブなど逃がす流量を制御可能なバ
ルブや、マスフローコントローラーなどが、導入物質の
種類の応じて、それぞれの使用が可能である。
気し、フォーミングを行う。この際、例えば図12に示
すように、列方向配線73を共通電極141に接続し、
行方向配線72のうちのひとつに接続された素子に電源
142によって、同時に電圧パルスを印可して、フォー
ミングを行うことができる。パルスの形状や、処理の終
了の判定などの条件は、個別素子のフォーミングについ
ての既述の方法に準じて選択すれば良い。また、複数の
行方向配線に、位相をずらせたパルスを順次印可(スク
ロール)することにより、複数の行方向配線に接続され
た素子をまとめてフォーミングすることも可能である。
図中143は電流測定用抵抗を、144は電流測定用の
オシロスコープを示す。
外囲器88内は、十分に排気した後有機物質がガス導入
ライン138から導入される。或いは、個別素子の活性
化方法として記述のように、まず油拡散ポンプやロータ
リーポンプで排気し、これによって真空雰囲気中に残留
する有機物質を用いても良い。また、必要に応じて有機
物質以外の物質も導入される場合がある。このようにし
て形成した、有機物質を含む雰囲気中で、各電子放出素
子に電圧を印可することにより、炭素あるいは炭素化合
物、ないし両者の混合物が電子放出部に堆積し、電子放
出量がドラスティックに上昇するのは、個別素子の場合
と同様である。このときの電圧の印可方法は、上記フォ
ーミングの場合と同様の結線により、一つの行方向につ
ながった素子に、同時に電圧パルスを印可すれば良い。
また、複数の行方向配線に、位相をずらせたパルスを順
次印可(スクロール)することにより、複数の行方向配
線に接続された素子をまとめて活性化することも可能で
あり、その場合には、各行方向配線に対して、素子電流
をそろえることが可能となる。
様に、安定化工程を行うことが好ましい。この工程は、
電子放出素子が配置される外囲器88内を真空排気する
工程である。具体的には、外囲器88を加熱して、80
〜250℃に保持しながら、イオンポンプ、ソープショ
ンポンプなどのオイルを使用しない排気装置135によ
り排気管132を通じて排気し、有機物質の十分少ない
雰囲気にした後、排気管をバーナーで熱して融解させて
封じきる。
に、ゲッター処理を行うこともできる。これは、外囲器
88の封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱ある
いは高周波加熱等を用いた加熱により、外囲器88内の
所定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、
封着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba等が
主成分であり、該封着膜の吸着作用により、外囲器88
内の雰囲気を維持するものである。
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行うための駆動回路の構成
例について、図10を用いて説明する。図10におい
て、101は図8に示したような画像表示パネル、10
2は走査回路、103は制御回路、104はシフトレジ
スタである。105はラインメモリ、106は同期信号
分離回路、107は変調信号発生器、Vx及びVaは直
流電圧源である。
oxm、端子Doy1乃至Doyn、及び高圧端子Hv
を介して外部の電気回路と接続している。端子Dox1
乃至Doxmには、表示パネル内に設けられている電子
源、即ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された電
子放出素子群を1行(n素子)ずつ順次駆動するための
走査信号が印可される。
信号により選択された1行の電子放出素子の各素子の出
力電子ビームを制御するための変調信号が印可される。
高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、例えば10k
Vの直流電圧が供給されるが、これは電子放出素子から
放出される電子ビームに蛍光体を励起するのに十分なエ
ネルギーを付与するための加速電圧である。
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしくは0
V(グランドレベル)のいずれか一方を選択し、表示パ
ネル101の端子Dox1乃至Doxmと電気的に接続
される。S1乃至Smの各スイッチング素子は、制御回
路103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作
するものであり、例えばFETのようなスイッチング素
子を組み合わせることにより構成することができる。
出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基づき走査さ
れていない素子に印可される駆動電圧が電子放出しきい
値電圧以下となるような一定電圧を出力するように設定
されている。
信号に基づいて適切な表示が行われるように各部の動作
を整合させる機能を有する。制御回路103は、同期信
号分離回路106より送られる同期信号Tsyncに基
づいて、各部に対してTscan及びTsft及びTm
ryの各制御信号を発生する。
るNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝度信
号成分とを分離するための回路である。同期信号分離回
路106により分離された同期信号は、垂直同期信号と
水平同期信号よりなるが、ここでは説明の便宜上Tsy
nc信号として図示した。前記テレビ信号から分離され
た画像の輝度信号成分は便宜上DATA信号と表した。
該DATA信号はシフトレジスタ104に入力される。
アル入力される前記DATA信号を、画像の1ラインご
とにシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトロックであるということもできる。)。
シリアル/パラレル変換された画像1ライン分(電子放
出素子n素子分の駆動データに相当)のデータは、Id
1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフトレジス
タ104より出力される。
データを必要時間の間だけ記憶するための装置であり、
制御回路103より送られる制御信号Tmryに従って
適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶された内
容は、Id’1乃至Id’nとして出力され、変調信号
発生器107に入力される。
d’1乃至Id’nのそれぞれに応じて表面伝導型電子
放出素子のそれぞれを適切に駆動変調するための信号源
であり、その出力信号は、端子Doy1乃至Doynを
通じて表示パネル101内の表面伝導型電子放出素子に
印可される。
は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有している。
即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vthがあり、
Vth以上の電圧を印可されたときのみ電子放出が生じ
る。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、素子への
印可電圧の変化に応じて放出電流も変化する。この事か
ら、本素子にパルス状の電圧を印可する場合、例えば電
子放出しきい値未満の電圧を印可しても電子放出は生じ
ないが、電子放出しきい値以上の電圧を印可する場合は
電子ビームが出力される。その際、パルスの波高値Vm
を変化させることにより出力電子ビームの強度を制御す
ることが可能である。また、パルス幅Pwを変化させる
ことにより出力される電子ビームの電荷量を制御するこ
とが可能である。従って、入力信号に応じて、電子放出
素子を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅
変調方式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際
しては、変調信号発生器107として、一定長さの電圧
パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜パルス
の波高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いる
ことができる。
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ことができる。
5は、デジタル信号式のものもアナログ信号式のものを
も採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変化や記
憶が所定の速度で行われれば良いからである。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路な
どを付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生
器107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力す
る波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力
値と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を表面伝導型
電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅
器を付加することもできる。
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプなど
を用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフ
ト回路などを付加することもできる。パルス幅変調方式
の場合には、例えば、電圧制御型発振回路(VOC)を
採用でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動
電圧まで電圧増幅するための増幅器を付加することもで
きる。
能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1乃至Doxm、Doy1乃至Doynを
介して電圧を印可することにより、電子放出が生ずる。
高圧端子Hvを介してメタルバック85、あるいは透明
電極(不図示)に高圧を印可し、電子ビームを加速す
る。加速された電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が生
じて画像が形成される。
形成された電子源のさらに別の実施形態として、上述し
た図1で示される電子源形成用基板上に複数の電子がは
しご型配置された電子源およびかかる電子源を用いた画
像形成装置を図13及び図14を用いて説明する。
示す模式図である。図13おいて、110は前記第1の
層と第2の層が予め形成された基板、111は表面伝導
型電子放出素子である。112(Dx1乃至Dx10)
は、表面伝導型電子放出素子111を接続するための共
通配線である。
10上に、X方向に並列に複数個配されている(これを
素子行と呼ぶ)。この素子行が複数個配されて、電子源
を構成している。各素子行の共通配線間に駆動電圧を印
可することで、各素子行を独立に駆動させることができ
る。即ち、電子ビームを放出させたい素子行には、電子
放出しきい値以上の電圧を、電子ビームを放出しない素
子行には、電子放出しきい値未満の電圧を印可する。各
素子行間の共通配線Dx2乃至Dx9は、例えばDx
2、Dx3を同一配線とすることもできる。
画像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図で
ある。120はグリッド電極、121は電子が通過する
ため開口、122はDox1,Dox2,…,Doxm
よりなる容器外端子である。123は、グリッド電極1
20と接続されたG1,G2,…,Gnからなる容器外
端子、110は各素子行間の共通配線を同一配線とした
電子源基板である。
部位と同じ部位には、同じ符号を付している。図8に示
した単純マトリクス配置の画像形成装置との大きな違い
は、電子源基板110とフェースプレート86の間にグ
リッド電極120を備えているか否かである。
放出された電子ビームを変調するためのものであり、は
しご型配置の素子行と直交して設けられたストライプ状
の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応し
て1個ずつ円形の開口121が設けられている。この開
口121としては、例えばメッシュ上に多数の通過口を
設けることもでき、グリッドを電子放出素子の周囲や近
傍に設けることもできる。
123は、不図示の制御回路と電気的に接続されてい
る。
つ順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印可する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
は、本発明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本
発明の技術思想に基づいて種々の変形が可能である。入
力信号についてはNTSC方式を挙げたが、入力信号は
これに限られるものではなく、PAL、SECAM方式
など他、これよりも、多数の走査線からなるTV信号
(例えば、高品位TV)方式をも採用できる。
送の表示装置、テレビ会議システムやコンピューター等
の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成された光
プリンターとしての画像形成装置等としても用いること
ができる。
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。
の分析は、SIMS分析装置(Physical El
ectronics社製 6650)を用いた。測定
は、電極間の2μm×4μmの範囲をO2+イオンビー
ムを6keVであててスパッタして出てきたプラスの二
次イオンを質量分析して、深さ方向の各イオンの濃度を
定量化した。
(a),(b)に示す電子源を、図5の(a)〜(d)
に示す製造工程に従って作製した。尚、本実施例、及び
後述する実施例、比較例とも、同一基板上にそれぞれ6
素子ずつ作製して、Na拡散抑制効果の再現性について
も検討した。
板を作成する(図5の(a))。
O:4%、K2O:7%を含む)を良く洗浄し、その上
に以下に示す膜を作った。
る装置を用いて各材料溶液を塗布し、ホットプレートを
用いて80℃の乾燥を行ったのち、オーブンで500
℃、60minの焼成を行った。
0℃で焼成したものを粉砕した微粒子を、水、エタノー
ルを主とした溶媒に分散させる。分散した粒子のメジア
ン値で表される平均粒子径は、55nmであった。更に
SnO2に対してSiO2が約15wt%となるようにシ
ラノール溶液を添加したものを、第1の層となる膜の塗
布液とした。乾燥焼成後の残存固形分は、約5wt%で
ある。なお成膜後の膜厚は360nmであった。この膜
材料を以下ではA種と呼ぶことにする。
を用いた。焼成後の固形分としては約2wt%である。
成膜後の膜厚は60nmであった。
素子電極2、3を形成する(図5の(b))。
形成し、フォトリソグラフィー技術により、フォトレジ
スト層に素子電極の形状に対応する開口部を形成した。
この上にスパッタ法により、Ti5nm、Pt100n
mを成膜し、有機溶剤で上記フォトレジスト層を融解除
去し、リフトオフにより、素子電極2、3を形成した。
このとき、図2の(a)に示される、素子電極間隔Lは
20μm、電極長さWは600μmとした。
間に、導電性膜4を形成する(図5の(c))。
ジェット(登録商標)方式のインクジェット噴射装置を
用いて、幅が90μmとなるよう付与して行った。その
後350℃で30分間の加熱処理を行って、酸化パラジ
ウム微粒子からなる導電性膜4を得た。
にスクリーン印刷で配線を形成した。配線材料は、ノリ
タケ機材社製のNP−4035C銀ペーストを用いて印
刷後、480℃で焼成を行った。
ミング・活性化を行った(図5の(d))。
を作成するにはこの後も多くの熱工程がかかってくる
が、実験の便宜上ここでは上記の480℃焼成を3回通
すことでそれの代用とした。
部の表面ナトリウム濃度(約30nm付近)を分析した
ところ、1×1019atom/cm3となっていた。こ
れは高歪み点ガラス中のナトリウム濃度1×1021at
om/cm3と比較して100分の1に低下しており、
ナトリウムブロック効果が大きい事がわかった。
様に、以下に示すような膜を作成し、ナトリウムの濃度
を測定した。
ブロックされている事がわかる。しかし、比較例1では
下層がないため、ナトリウムがほとんどブロックされて
いない。
な範囲から外れるために、結果としてナトリウムブロッ
クの効果が実施例1および実施例2と比較して少ない。
なお、電子放出特性の寿命という観点から、表面ナトリ
ウム濃度(約30nm付近)が2×1019atom/c
m3以下である事が特に望ましい。
銀の拡散量が他と比べて一桁ほど高くなっていた。
じようにナトリウムブロック層を形成した後、電極、配
線を形成し、熱工程を施したサンプルの表面ナトリウム
濃度(約30nm付近)を測定した。
nO2の粉砕条件を変えて、メジアン値で表される平均
粒子径が18nmにし、比較例2では120nmとなる
ようにした。
リウム濃度(約30nm付近)は4×1018atom/
cm3となりナトリウムブロック効果がより高い事がわ
かった。
た後の表面の平滑性が悪く、電極、配線の基板への密着
性が悪くうまく素子を作ることができなかった。
表される平均粒子径を5nm以下にしようとしたが、時
間とコストが非常にかかりうまく行かなかった。
子のメジアン値で表される平均粒子径は6nm〜60n
mの範囲が好ましく、15nm〜30nmの範囲である
のが特に好ましいと思われる。
りにアンチモンを2%ドープしたサンプルを実施例1と
同様に作成して表面ナトリウム濃度(約30nm付近)
を測定した。
m付近)は、1×1020atom/cm3となり、実施
例1に比較するとナトリウムブロック効果が低下した。
成した基板を用いてその上に、図2に示した表面伝導型
電子放出素子を図15に示すように複数形成し、電子源
を作成した。そして、この電子源を用いて図8に示した
ような画像形成装置を製造した。
セスを図16を用いて説明する。
形成した基板71上に対電極2、3を複数対配置した。
トを電極2の一部を覆うように前述のスクリーン印刷法
により形成した。その後、焼成を行い、幅100μm、
厚み12μmのY方向配線73を形成した(図16
(b))。
間絶縁層74をスクリーン印刷法により塗布し、焼成す
ることで形成した。ここで使用した絶縁性ペースト(イ
ンキ)材料は、酸化鉛を主成分としてガラスバインダー
及び樹脂を混合したペースト(インキ)を用いた。この
印刷、焼成を4回繰り返し行い櫛歯状の層間絶縁層74
を形成した(図16(c))。
用いた導電性銀ペースト(インキ)を電極3の一部を覆
うようにスクリーン印刷法により形成した。その後、焼
成を行い、幅100μm、厚さ12μmのX方向配線7
2を形成した(図16(d))。
ライプ状のY方向配線(下配線)73とストライプ状の
X方向配線(上配線)72が直交したマトリクス配線が
形成される。
導電性膜4を形成した。有機パラジウム含有溶液を、バ
ブルジェット方式のインクジェット噴射装置を用いて、
幅が100μmとなるよう付与して行った。その後30
0℃で30分間の加熱処理を行って、酸化パラジウム微
粒子からなる導電性膜4を得た(図16(e))。
ォーミング・活性化を行い、パネル化して、駆動した。
1上に固定し、このリアプレートの上方に、3原色
(R、G、B)の蛍光体を有するフェイスプレート86
を位置合わせするとともに、フェースプレートとリアプ
レート間にフリットガラスを予め接合部に設けた高さ2
mmの外枠82を配置した。その後、真空チャンバー中
で加熱しながら加圧することで、各部材を接合(封着)
することで、外囲器(気密容器)88を形成した(図
8)。
駆動回路に接続して駆動したところ、長時間に渡り極め
て良好な画像を表示することができた。尚、表面付近で
のナトリウム濃度が特に2×1019atom/cm3程
度以下なら同様に長時間に渡り極めて良好な画像を表示
することができた。
ような効果が得られる。
の拡散を防止する事ができ、Naの拡散を原因とする電
子放出素子の電子放出特性の経時的変化が低減される電
子源形成用基板、電子源及び画像表示装置を提供するこ
とができる。
断面図である。
(a)は平面図、(b)は断面図である。
出素子の一例を示す模式的部分拡大図であり、(a)は
平面図、(b)は断面図である。
出素子の別の例を示す模式的部分拡大図であり、(a)
は平面図、(b)は断面図である。
の模式図である。
波形の模式図である。
る。
である。
示す模式図である。
す模式図である。
性化工程のための結線方法を示す図である。
ある。
式図である。
である。
るための模式図である。
Claims (31)
- 【請求項1】 電子放出素子が配置される電子源形成用
基板であって、基板と、前記基板の前記電子放出素子が
配置される表面に設けられた、メジアン値で表される平
均粒子径が6nm〜60nmの範囲の複数の金属酸化物
粒子を含有する絶縁材料膜とを有することを特徴とする
電子源形成用基板。 - 【請求項2】 前記絶縁材料膜は更に、リンを含有して
いる請求項1に記載の電子源形成用基板。 - 【請求項3】 前記絶縁材料膜は更に、リンを1重量部
〜10重量部含有している請求項1に記載の電子源形成
用基板。 - 【請求項4】 前記絶縁材料膜の厚さは、200nm〜
600nmの範囲である請求項1〜3のいずれかに記載
の電子源形成用基板。 - 【請求項5】 前記絶縁材料膜の厚さは、300nm〜
400nmの範囲である請求項1〜3のいずれかに記載
の電子源形成用基板。 - 【請求項6】 前記絶縁材料膜上に更に、絶縁材料から
なる膜が積層されている請求項1〜5のいずれかに記載
の電子源形成用基板。 - 【請求項7】 前記絶縁材料からなる膜の厚さは、20
nm〜150nmの範囲である請求項6に記載の電子源
形成用基板。 - 【請求項8】 前記絶縁材料からなる膜の厚さは、40
nm〜100nmの範囲である請求項6に記載の電子源
形成用基板。 - 【請求項9】 電子放出素子が配置される電子源形成用
基板であって、基板と、前記基板の前記電子放出素子が
配置される表面に設けられた、メジアン値で表される平
均粒子径が6nm〜60nmの範囲の複数の金属酸化物
粒子を含有するSiO2膜とを有することを特徴とする
電子源形成用基板。 - 【請求項10】 前記SiO2膜は更に、リンを含有し
ている請求項9に記載の電子源形成用基板。 - 【請求項11】 前記SiO2膜は更に、リンを1重量
部〜10重量部含有している請求項9に記載の電子源形
成用基板。 - 【請求項12】 前記SiO2膜の厚さは、200nm
〜600nmの範囲である請求項9〜11のいずれかに
記載の電子源形成用基板。 - 【請求項13】 前記SiO2膜の厚さは、300nm
〜400nmの範囲である請求項9〜11のいずれかに
記載の電子源形成用基板。 - 【請求項14】 前記SiO2膜上に更に、SiO2から
なる膜が積層されている請求項9〜13のいずれかに記
載の電子源形成用基板。 - 【請求項15】 前記SiO2からなる膜の厚さは、2
0nm〜150nmの範囲である請求項14に記載の電
子源形成用基板。 - 【請求項16】 前記SiO2からなる膜の厚さは、4
0nm〜100nmの範囲である請求項14に記載の電
子源形成用基板。 - 【請求項17】 前記メジアン値で表される平均粒子径
が15nm〜30nmの範囲である請求項1〜16のい
ずれかに記載の電子源形成用基板。 - 【請求項18】 前記金属酸化物粒子は、電子伝導性酸
化物粒子である請求項1〜17のいずれかに記載の電子
源形成用基板。 - 【請求項19】 前記金属酸化物粒子は、Fe、Ni、
Cu、Pd、Ir、In、Sn、Sb、Reから選ばれ
る金属の酸化物粒子である請求項1〜17のいずれかに
記載の電子源形成用基板。 - 【請求項20】 前記金属酸化物粒子は、SnO2の粒
子である請求項1〜17のいずれかに記載の電子源形成
用基板。 - 【請求項21】 前記基板は、ナトリウムを含有する基
板である請求項1〜20のいずれかに記載の電子源形成
用基板。 - 【請求項22】 基板と、前記基板上に配置された、電
子放出素子とを備える電子源であって、前記基板が、請
求項1〜21のいずれかに記載された電子源形成用基板
であることを特徴とする電子源。 - 【請求項23】 前記電子放出素子は、電子放出部を含
む導電性膜を備える電子放出素子である請求項22に記
載の電子源。 - 【請求項24】 前記電子放出素子の複数が、複数の行
方向配線及び複数の列方向配線とによりマトリクス配線
されている請求項22又は23に記載の電子源。 - 【請求項25】 前記電子放出素子は、一対の電極間
に、電子放出部を含む導電性膜を備える電子放出素子で
ある請求項22に記載の電子源。 - 【請求項26】 前記電子放出素子の複数が、複数の行
方向配線及び複数の列方向配線とによりマトリクス配線
されており、前記一対の電極が白金を主成分とする材料
より構成され、かつ、前記配線が、銀を主成分とする材
料より構成されている請求項25に記載の電子源。 - 【請求項27】 外囲器と、前記外囲器内に配置され
た、電子放出素子及び前記電子放出素子からの電子の照
射により画像を表示する画像表示部材とを備える画像表
示装置であって、前記電子放出素子が配置されている基
板が、請求項1〜21のいずれかに記載された電子源形
成用基板であることを特徴とする画像表示装置。 - 【請求項28】 前記電子放出素子は、電子放出部を含
む導電性膜を備える電子放出素子である請求項27に記
載の画像表示装置。 - 【請求項29】 前記電子放出素子の複数が、複数の行
方向配線及び複数の列方向配線とによりマトリクス配線
されている請求項27又は28に記載の画像表示装置。 - 【請求項30】 前記電子放出素子は、一対の電極間
に、電子放出部を含む導電性膜を備える電子放出素子で
ある請求項27に記載の画像表示装置。 - 【請求項31】 前記電子放出素子の複数が、複数の行
方向配線及び複数の列方向配線とによりマトリクス配線
されており、前記一対の電極が白金を主成分とする材料
より構成され、かつ、前記配線が、銀を主成分とする材
料より構成されている請求項30に記載の画像表示装
置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000134824A JP3530800B2 (ja) | 2000-05-08 | 2000-05-08 | 電子源形成用基板、該基板を用いた電子源並びに画像表示装置 |
US09/847,420 US6815884B2 (en) | 2000-05-08 | 2001-05-03 | Electron source forming substrate, and electron source and image display apparatus using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000134824A JP3530800B2 (ja) | 2000-05-08 | 2000-05-08 | 電子源形成用基板、該基板を用いた電子源並びに画像表示装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001319562A true JP2001319562A (ja) | 2001-11-16 |
JP3530800B2 JP3530800B2 (ja) | 2004-05-24 |
JP2001319562A5 JP2001319562A5 (ja) | 2005-01-06 |
Family
ID=18643025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000134824A Expired - Fee Related JP3530800B2 (ja) | 2000-05-08 | 2000-05-08 | 電子源形成用基板、該基板を用いた電子源並びに画像表示装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6815884B2 (ja) |
JP (1) | JP3530800B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008192465A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Kochi Prefecture Sangyo Shinko Center | 電界放出型電極及び電子機器 |
US7442469B2 (en) | 2006-02-13 | 2008-10-28 | Sony Corporation | Cathode active material and non-aqueous electrolyte secondary battery |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3840164B2 (ja) * | 2001-09-25 | 2006-11-01 | キヤノン株式会社 | 電子源の製造方法 |
US6903504B2 (en) * | 2002-01-29 | 2005-06-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron source plate, image-forming apparatus using the same, and fabricating method thereof |
US7067236B2 (en) * | 2002-07-19 | 2006-06-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of manufacturing member pattern, method of manufacturing wiring structure, method of manufacturing electron source, and method of manufacturing image display device |
US7458872B2 (en) * | 2004-01-05 | 2008-12-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of manufacturing electron-emitting device, electron source, and image display device |
US7285428B2 (en) | 2004-02-02 | 2007-10-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Production method of electron source and image display |
JP2007335241A (ja) * | 2006-06-15 | 2007-12-27 | Canon Inc | 配線基板、電子源、画像表示装置及び画像再生装置 |
JP4065551B2 (ja) * | 2006-07-03 | 2008-03-26 | キヤノン株式会社 | 電子源、画像表示装置、画像再生装置、配線基板、及び配線基板の製造方法 |
JP2008016226A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Canon Inc | 電子源、画像表示装置、画像再生装置、配線基板、及び電子デバイス |
JP2008016413A (ja) * | 2006-07-10 | 2008-01-24 | Canon Inc | 配線基板の製造方法、電子源の製造方法、画像表示装置の製造方法、画像再生装置 |
JP4303308B2 (ja) * | 2007-11-20 | 2009-07-29 | シャープ株式会社 | 電子放出素子、電子放出装置、自発光デバイス、画像表示装置、送風装置、冷却装置、帯電装置、画像形成装置、電子線硬化装置、および電子放出素子の製造方法 |
JP4314307B1 (ja) * | 2008-02-21 | 2009-08-12 | シャープ株式会社 | 熱交換装置 |
US8299700B2 (en) * | 2009-02-05 | 2012-10-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Electron emitting element having an electron acceleration layer, electron emitting device, light emitting device, image display device, cooling device, and charging device |
CN101814405B (zh) | 2009-02-24 | 2012-04-25 | 夏普株式会社 | 电子发射元件及其制造方法、使用电子发射元件的各装置 |
JP5073721B2 (ja) * | 2009-05-19 | 2012-11-14 | シャープ株式会社 | 電子放出素子、電子放出装置、自発光デバイス、画像表示装置、送風装置、冷却装置、帯電装置、画像形成装置、電子線硬化装置、電子放出素子の製造方法 |
JP4732533B2 (ja) * | 2009-05-19 | 2011-07-27 | シャープ株式会社 | 電子放出素子及びその製造方法、並びに、電子放出装置、帯電装置、画像形成装置、電子線硬化装置、自発光デバイス、画像表示装置、送風装置、冷却装置 |
JP4880740B2 (ja) * | 2009-12-01 | 2012-02-22 | シャープ株式会社 | 電子放出素子及びその製造方法、並びに、電子放出装置、帯電装置、画像形成装置、電子線硬化装置、自発光デバイス、画像表示装置、送風装置、冷却装置 |
US9863900B2 (en) * | 2014-01-28 | 2018-01-09 | Transtech Systems, Inc. | Planar sensor array for non-destructive evaluation of material using electromagnetic impedance |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5749763A (en) * | 1987-07-15 | 1998-05-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Display device with electron-emitting device with electron-emitting region insulted from electrodes |
JP2630983B2 (ja) | 1988-05-02 | 1997-07-16 | キヤノン株式会社 | 電子放出素子 |
JP2646236B2 (ja) | 1988-05-02 | 1997-08-27 | キヤノン株式会社 | 電子放出素子及びその製造方法 |
JP2630988B2 (ja) | 1988-05-26 | 1997-07-16 | キヤノン株式会社 | 電子線発生装置 |
US5598052A (en) * | 1992-07-28 | 1997-01-28 | Philips Electronics North America | Vacuum microelectronic device and methodology for fabricating same |
CA2126535C (en) * | 1993-12-28 | 2000-12-19 | Ichiro Nomura | Electron beam apparatus and image-forming apparatus |
US5831387A (en) * | 1994-05-20 | 1998-11-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus and a method for manufacturing the same |
US6208071B1 (en) | 1996-12-26 | 2001-03-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron source substrate with low sodium upper surface |
JP3595669B2 (ja) | 1996-12-26 | 2004-12-02 | キヤノン株式会社 | 電子源形成用基板、電子源、画像形成装置、及びそれらの製造方法 |
JP3104639B2 (ja) * | 1997-03-31 | 2000-10-30 | 日本電気株式会社 | 電界放出型冷陰極 |
US5965898A (en) * | 1997-09-25 | 1999-10-12 | Fed Corporation | High aspect ratio gated emitter structure, and method of making |
US6492769B1 (en) * | 1998-12-25 | 2002-12-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron emitting device, electron source, image forming apparatus and producing methods of them |
JP3595744B2 (ja) * | 1999-02-26 | 2004-12-02 | キヤノン株式会社 | 電子放出素子、電子源及び画像形成装置 |
-
2000
- 2000-05-08 JP JP2000134824A patent/JP3530800B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2001
- 2001-05-03 US US09/847,420 patent/US6815884B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7442469B2 (en) | 2006-02-13 | 2008-10-28 | Sony Corporation | Cathode active material and non-aqueous electrolyte secondary battery |
JP2008192465A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Kochi Prefecture Sangyo Shinko Center | 電界放出型電極及び電子機器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6815884B2 (en) | 2004-11-09 |
US20020070677A1 (en) | 2002-06-13 |
JP3530800B2 (ja) | 2004-05-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080305 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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