JP2001313224A - Manufacturing method of high-frequency module - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、携帯電話等に使用
される高周波モジュールの製造方法に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a high-frequency module used for a portable telephone or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】以下、従来の電圧制御発振器(以下、V
COという。なお、これは高周波モジュールの一例とし
て用いたものである。)の製造方法は、先ず、図17に
示すように、親基板1内に複数の同一パターンを有する
子基板2が連結して設けられており、この子基板2に電
子部品を装着する第1の工程と、この第1の工程の後
に、図18に示すように親基板1に連結されていた子基
板2を個片に分割する第2の工程と、この第2の工程の
後で、分割された子基板2の一つずつに電源を加えて動
作を確認するとともにパターンで形成された共振器のイ
ンダクタンスをレーザ光線でトリミングして周波数調整
を行う第3の工程と、この第3の工程の後で、図19に
示すように、子基板2にシールドケース3を被せる第4
の工程と、この第4の工程の後で、最終検査を行う第5
の工程とを有していた。2. Description of the Related Art A conventional voltage controlled oscillator (hereinafter referred to as V
Called CO. This is used as an example of the high-frequency module. 17), first, as shown in FIG. 17, a plurality of sub-boards 2 having the same pattern are connected to each other in a parent board 1, and a first board for mounting electronic components on the sub-board 2 is provided. And after the first step, a second step of dividing the child board 2 connected to the parent board 1 into individual pieces as shown in FIG. 18, and after the second step, A third step of applying power to each of the divided sub-substrates 2 to confirm the operation, trimming the inductance of the resonator formed in the pattern with a laser beam, and adjusting the frequency, and the third step. After the step, as shown in FIG.
And after the fourth step, a fifth inspection for performing a final inspection.
And the process of
【0003】なお、図20は、親基板1の要部拡大図で
あり、親基板1内に長方形をした子基板2が複数個連結
されており、この子基板2の端は親基板1の両端に形成
された連結部4に連結されている。5,6,7,8は信
号端子であり、子基板2の横側面10に設けられてい
る。また、9は横側面10に設けられたグランド端子で
あり、11は縦側面12に設けられたグランド端子であ
る。そして、たとえば信号端子5は、パターンで第1の
回路13に接続されており、この第1の回路13はパタ
ーンで第2の回路14を介して信号端子6に接続されて
いる。また、信号端子7はパターンで第3の回路15を
介して信号端子8に接続されている。また、16は金型
で打ち抜くダミー部であり、子基板2の横側面10を形
成するため金型で打ち抜いていた。縦側面12は、V溝
を設けておいて、後で割って子基板2を分離していた。FIG. 20 is an enlarged view of a main part of the main board 1, in which a plurality of rectangular sub boards 2 are connected in the main board 1. It is connected to connecting portions 4 formed at both ends. Reference numerals 5, 6, 7, and 8 denote signal terminals, which are provided on the lateral side surface 10 of the child board 2. Reference numeral 9 denotes a ground terminal provided on the lateral side surface 10, and reference numeral 11 denotes a ground terminal provided on the vertical side surface 12. For example, the signal terminal 5 is connected to the first circuit 13 in a pattern, and the first circuit 13 is connected to the signal terminal 6 via the second circuit 14 in a pattern. The signal terminal 7 is connected to the signal terminal 8 via a third circuit 15 in a pattern. Reference numeral 16 denotes a dummy portion punched out by a die, which was punched out by a die to form the lateral side surface 10 of the daughter board 2. The vertical side surface 12 was provided with a V-shaped groove, and was split later to separate the sub-substrate 2.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来のVCOに代表される高周波モジュールの製造方
法では、第2の工程で親基板1から子基板2を分離して
しまい、その上で第3の工程において、再び全ての子基
板2を並べて周波数調整をする必要があり、生産効率が
低かった。However, in such a conventional method of manufacturing a high-frequency module typified by a VCO, the child substrate 2 is separated from the parent substrate 1 in the second step. In this process, it was necessary to arrange all the sub-boards 2 again to adjust the frequency, and the production efficiency was low.
【0005】そこで本発明は、この問題を解決したもの
で、生産効率の高い高周波モジュールの製造方法を提供
することを目的としたものである。Accordingly, the present invention has been made to solve this problem, and has as its object to provide a method of manufacturing a high-frequency module with high production efficiency.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の高周波モジュールの製造方法は、同一の回路
パターンが設けられるとともに略四角形をした複数個の
子基板と、この子基板同士が連結して形成されるととも
に両端には連結部を有した親基板とから成り、前記子基
板の横側面に第1の回路に接続された信号端子を設ける
とともに、この信号端子は隣接して形成された他の子基
板の第2の回路に接続された信号端子と一体成形され、
これらの子基板に電子部品を装着する第1の工程と、こ
の第1の工程の後に、前記一体成形された前記子基板の
信号端子と隣接する他の子基板の信号端子とを前記親基
板の両端に設けられた連結部を残して電気的に分離する
第2の工程と、この第2の工程の後に、前記子基板の信
号端子に検査治具のピンを当接させて第1の検査を行う
第3の工程と、この第3の工程の後に、前記子基板の縦
側面を切断して前記子基板を前記親基板から分離する第
4の工程を有するものである。これにより、高周波モジ
ュールの生産性が向上する。In order to achieve this object, a method for manufacturing a high-frequency module according to the present invention comprises a plurality of substantially rectangular sub-boards provided with the same circuit pattern and having a plurality of substantially rectangular sub-boards. A signal terminal connected to the first circuit is provided on a lateral side surface of the child substrate, and the signal terminal is formed adjacently. Formed integrally with the signal terminal connected to the second circuit of the other daughter board,
A first step of mounting electronic components on these child boards, and after this first step, the signal terminals of the integrally formed child board and the signal terminals of other adjacent child boards are connected to the parent board. A second step of electrically separating leaving the connection portions provided at both ends of the first substrate, and after the second step, a pin of an inspection jig is brought into contact with a signal terminal of the daughter board by the first step. The method includes a third step of performing an inspection and, after the third step, a fourth step of cutting the vertical side surface of the child substrate to separate the child substrate from the parent substrate. Thereby, the productivity of the high-frequency module is improved.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、同一の回路パターンが設けられるとともに略四角形
をした複数個の子基板と、この子基板同士が連結して形
成されるとともに両端には連結部を有した親基板とから
成り、前記子基板の横側面に第1の回路に接続された信
号端子を設けるとともに、この信号端子は隣接して形成
された他の子基板の第2の回路に接続された信号端子と
一体成形され、これらの子基板に電子部品を装着する第
1の工程と、この第1の工程の後に、前記一体成形され
た前記子基板の信号端子と隣接する他の子基板の信号端
子とを前記親基板の両端に設けられた連結部を残して電
気的に分離する第2の工程と、この第2の工程の後に、
前記子基板の信号端子に検査治具のピンを当接させて第
1の検査を行う第3の工程と、この第3の工程の後に、
前記子基板の縦側面を切断して前記子基板を前記親基板
から分離する第4の工程を有する高周波モジュールの製
造方法であり、連結して設けられた子基板の横側面同士
に一体的に設けられた信号端子を互いに電気的に分離す
る第2の工程を有しているので、第3の工程の検査まで
ワークシート状で行うことが可能となる。このようにす
ることにより、子基板の個片への分割は、第3の工程の
後となり、従来のように、分割したものを再び並べ直し
て検査するというような手間が省け生産性が著しく向上
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention is directed to a method of forming a plurality of substantially rectangular sub-boards provided with the same circuit pattern and connecting these sub-boards to each other. A signal terminal connected to the first circuit is provided on the lateral side surface of the child substrate, and the signal terminal is provided on both sides of the parent substrate having a connecting portion. A first step of integrally molding the signal terminals connected to the second circuit and mounting electronic components on these child boards; and, after the first step, the signal terminals of the integrally formed child boards. A second step of electrically separating the signal terminals of the other adjacent sub-boards from the signal terminals of the other sub-boards, leaving connection portions provided at both ends of the main board; and after the second step,
A third step of performing a first inspection by bringing a pin of an inspection jig into contact with a signal terminal of the daughter board, and after the third step,
A method for manufacturing a high-frequency module having a fourth step of cutting the vertical side surface of the child substrate and separating the child substrate from the parent substrate, wherein the lateral side surfaces of the child substrate provided in an integrated manner are integrally formed. Since the second step of electrically separating the provided signal terminals from each other is provided, it is possible to perform the inspection in the third step in a worksheet shape. By doing so, the division of the daughter board into individual pieces is performed after the third step, and the labor of re-arranging and inspecting the divided parts as in the related art is omitted, and productivity is remarkably increased. improves.
【0008】また、子基板同士の分離は、横側面に設け
られた信号端子を直接分離しているので、従来のように
金型で打ち抜くダミー部分が不要となり、基板の材料取
りが改善され、低価格化が実現できる。Further, since the signal terminals provided on the lateral side surfaces are directly separated from each other, the dummy portion punched out by a mold is not required as in the prior art, and the material removal of the substrate is improved. Low price can be realized.
【0009】請求項2に記載の発明は、第2の工程にお
ける信号端子の分離をスリットで分離する請求項1に記
載の高周波モジュールの製造方法であり、スリットで分
離しているので、隣接する信号端子同士の電気的な分離
が確実に行われる。また、分離が機構的に行われるた
め、例えば子基板の横側面を後で製造者の手で割るとい
うような手間が省ける。According to a second aspect of the present invention, there is provided the method of manufacturing a high-frequency module according to the first aspect, wherein the separation of the signal terminals in the second step is performed by slits. Electrical separation between the signal terminals is ensured. Further, since the separation is performed mechanically, it is possible to save the trouble of, for example, dividing the lateral side surface of the child substrate later by the manufacturer's hand.
【0010】請求項3に記載の発明は、第2の工程にお
ける信号端子の分離は、溝を形成することにより分離す
る請求項1に記載の高周波モジュールの製造方法であ
り、溝での分離のため電気的には分離されていても機構
的には分離されていないので、第3の工程でピンを当接
しても子基板が当接力で変形して曲がることはなく確実
に当接され、第3の工程における第1の検査の信頼性が
向上する。According to a third aspect of the present invention, there is provided the method for manufacturing a high-frequency module according to the first aspect, wherein the separation of the signal terminals in the second step is performed by forming a groove. Therefore, even if it is electrically separated, it is not mechanically separated, so that even when the pins are brought into contact in the third step, the child substrate is not deformed and bent by the contact force and is securely brought into contact, The reliability of the first inspection in the third step is improved.
【0011】請求項4に記載の発明は、第3の工程にお
けるピンの当接時には、どのピンよりもグランドピンを
先に当接させるとともに、ピンの離脱時にはどのピンよ
りも後で前記グランドピンを離脱させる請求項1に記載
の高周波モジュールの製造方法であり、このような電源
投入のシールドケースを行うことにより、電気的に安定
した検査が実現できる。According to a fourth aspect of the present invention, in the third step, the ground pin is brought into contact with any of the pins before the pins are brought into contact with each other, and the ground pins are put behind any of the pins when the pins are detached. 2. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 1, wherein an electrically stable inspection can be realized by performing such a shield case of turning on the power.
【0012】請求項5に記載の発明の第1の検査は、複
数個の子基板を同時に検査する請求項1に記載の高周波
モジュールの製造方法であり、検査効率が向上する。The first inspection of the invention according to the fifth aspect is the method for manufacturing a high-frequency module according to the first aspect, wherein a plurality of daughter boards are inspected simultaneously, and the inspection efficiency is improved.
【0013】請求項6に記載の発明は、請求項1に記載
の高周波モジュールの製造方法において、第4の工程の
後に、第2の検査を行う第5の工程と、この第5の工程
の後に、高周波モジュールをテーピング実装する第6の
工程を有する高周波モジュールの製造方法であり、個片
にした後、最終的に第2の検査を行っているので、性能
の均一した高周波モジュールが得られる。また、この高
周波モジュールはテーピングされるので、装置への組み
込み効率が向上する。更に、テーピングするので管理が
容易となる。According to a sixth aspect of the present invention, in the method of manufacturing a high-frequency module according to the first aspect, a fifth step of performing a second inspection after the fourth step, This is a method for manufacturing a high-frequency module having a sixth step of taping and mounting the high-frequency module later. Since the second inspection is finally performed after individualizing the high-frequency module, a high-frequency module with uniform performance can be obtained. . Further, since the high-frequency module is taped, the efficiency of assembling into the device is improved. Furthermore, since taping is performed, management becomes easy.
【0014】請求項7に記載の発明は、同一の回路パタ
ーンが設けられるとともに略四角形をした複数個の子基
板と、この子基板同士が連結して形成されるとともに両
端には連結部を有した親基板とから成り、前記子基板の
横側面に第1の回路に接続された信号端子を設けるとと
もに、この信号端子は隣接して形成された他の子基板の
第2の回路に接続された横側面の信号端子と一体成形さ
れ、これらの子基板の縦側面を電気的に分離する第1の
工程と、この第1の工程の後に子基板に電子部品を装着
する第2の工程と、この第2の工程の後に、前記一体成
形された前記子基板の信号端子と隣接する他の子基板の
信号端子とを前記親基板の両端に設けられた連結部を残
して電気的に分離する第3の工程と、この第3の工程の
後に、前記子基板の信号端子に検査治具のピンを当接さ
せて検査を行う第4の工程と、この第4の工程の後に、
前記子基板の縦側面を切断して前記子基板を前記親基板
から分離する第5の工程を有する高周波モジュールの製
造方法であり、第1の工程で子基板同士の縦側面での電
気的結合を切り離すとともに、横側面を電気的に分離す
る第3の工程を有しているので、略最終工程である第4
の工程の検査までワークシート状で行うことが可能とな
る。このようにすることにより、子基板の個片への分割
は、第4の工程の後となり、従来のように、分割したも
のを再び並べ直して検査することなく、子基板としては
最終の電気検査まで行うことができるので、従来に比べ
て大幅な手間が省け生産性が著しく向上する。According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a plurality of substantially rectangular sub-boards provided with the same circuit pattern and formed by connecting the sub-boards with connecting portions at both ends. A signal terminal connected to the first circuit is provided on a lateral side surface of the child substrate, and the signal terminal is connected to a second circuit of another child substrate formed adjacently. A first step of being integrally formed with the signal terminals on the lateral side and electrically separating the vertical sides of these daughter boards, and a second step of mounting electronic components on the daughter boards after the first step. After the second step, the signal terminals of the integrally formed sub-board and the signal terminals of the adjacent sub-boards are electrically separated except for the connecting portions provided at both ends of the parent board. A third step to be performed, and after the third step, A fourth step of performing an inspection by contacting the pins of the test fixture to the signal terminal, after the fourth step,
A method of manufacturing a high-frequency module, comprising: a fifth step of cutting a vertical side surface of the child substrate and separating the child substrate from the parent substrate. And a third step of electrically separating the lateral side surface, so that the fourth step, which is almost the final step, is performed.
It is possible to perform the inspection of the process in the form of a work sheet. In this way, the sub-substrate is divided into the individual pieces after the fourth step, and the sub-substrate is finally divided into electric components without being rearranged and inspected as in the related art. Since the inspection can be performed, a great deal of trouble is saved as compared with the related art, and productivity is remarkably improved.
【0015】また、子基板同士の分離は、横側面に設け
られた信号端子を直接電気的に分離しているので、従来
のように金型で打ち抜くダミー部分が不要となり、基板
の材料取りが改善され、低価格化が実現できる。In addition, since the signal terminals provided on the lateral side surfaces are directly electrically separated from each other, the dummy portions punched out by a die as in the related art become unnecessary, and material removal of the substrates is not required. Improved and lower prices can be realized.
【0016】請求項8に記載の発明は、第3の工程にお
ける信号端子の分離をスリットで分離する請求項7に記
載の高周波モジュールの製造方法であり、スリットで分
離しているので、隣接する信号端子同士の電気的分離が
確実に行われる。また、分離が機構的に行われるため、
例えば子基板の横側面を後で製造者の手で割るというよ
うな手間が省ける。The invention according to claim 8 is the method for manufacturing a high-frequency module according to claim 7, wherein the separation of the signal terminals in the third step is performed by slits. The electrical separation between the signal terminals is ensured. Also, because separation is performed mechanically,
For example, it is possible to eliminate the trouble of dividing the lateral side of the daughter board later by the manufacturer.
【0017】請求項9に記載の発明は、第3の工程にお
ける信号端子の分離は、溝を形成することにより分離す
る請求項7に記載の高周波モジュールの製造方法であ
り、溝での分離のため電気的には分離されていても機構
的には分離されていないので、第4の工程でピンを当接
しても子基板が当接力で変形して曲がることはなく確実
に当接され、第4の工程における検査の信頼性が向上す
る。According to a ninth aspect of the present invention, in the method of manufacturing a high-frequency module according to the seventh aspect, the separation of the signal terminals in the third step is performed by forming a groove. Therefore, even if electrically separated, it is not mechanically separated, so even if the pins are brought into contact in the fourth step, the child substrate is not deformed by the contact force and bent without being bent, The reliability of the inspection in the fourth step is improved.
【0018】請求項10に記載の発明は、第4の工程に
おけるピンの当接時には、どのピンよりもグランドピン
を先に当接させるとともに、ピンの離脱時にはどのピン
よりも後で前記グランドピンを離脱させる請求項7に記
載の高周波モジュールの製造方法であり、このような電
源投入のシーケンスを行うことにより、電気的に安定し
た検査が実現できる。According to a tenth aspect of the present invention, in the fourth step, when the pins are brought into contact with each other, the ground pin is brought into contact with any of the pins first, and when the pins are released, the ground pin comes after any of the pins. 8. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 7, wherein an electrically stable inspection can be realized by performing such a power-on sequence.
【0019】請求項11に記載の発明は、第4の工程に
おける検査は、複数個の子基板を同時に検査する請求項
7に記載の高周波モジュールの製造方法であり、検査効
率が向上する。According to an eleventh aspect of the present invention, the inspection in the fourth step is a method for manufacturing a high-frequency module according to the seventh aspect, wherein a plurality of daughter boards are inspected simultaneously, and the inspection efficiency is improved.
【0020】請求項12に記載の発明は、第4の工程に
おける検査は、個々の子基板の信号端子に対して略同一
の場所にピンを押圧して電気信号を導通させる請求項1
1に記載の高周波モジュールの製造方法であり、夫々の
子基板に対して同一条件で検査することができる。According to a twelfth aspect of the present invention, in the inspection in the fourth step, an electrical signal is conducted by pressing a pin at substantially the same position with respect to a signal terminal of each daughter board.
1. The method for manufacturing a high-frequency module according to item 1, wherein each sub-substrate can be inspected under the same conditions.
【0021】請求項13に記載の発明は、親基板の両端
に設けられた連結部を残して隣接する子基板同士を電気
的に分離する第3の工程の後に、前記子基板にシールド
ケースを挿入する工程を設けた請求項8に記載の高周波
モジュールの製造方法であり、子基板にシールドケース
を被せるので、モジュールとしての扱いが容易になる。
また、外部からのノイズの影響を受けることもないし、
外部へノイズを放出することもない。According to a thirteenth aspect of the present invention, after the third step of electrically separating adjacent child substrates while leaving the connecting portions provided at both ends of the parent substrate, a shield case is attached to the child substrate. 9. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 8, further comprising the step of inserting, wherein the shield case is put on the daughter board, so that the module can be easily handled.
Also, it is not affected by external noise,
It does not emit noise to the outside.
【0022】請求項14に記載の発明は、スリットで分
離する子基板の切断面はシールドケースよりも突出する
ように切断された請求項13に記載の高周波モジュール
の製造方法であり、子基板の切断面はシールドケースよ
りも突出するので、親基板から子基板を分割するとき、
分割のための刃物でシールドケースに擦り傷を付けるこ
とはない。また、例え外力が加わったとしても、シール
ドケースの半田付け部分にこの外力が直接伝達されるこ
とはなく、クラックの発生を防止することができる。According to a fourteenth aspect of the present invention, there is provided the method of manufacturing a high-frequency module according to the thirteenth aspect, wherein a cut surface of the sub-substrate separated by the slit is cut so as to protrude from the shield case. Since the cut surface protrudes from the shield case, when dividing the child board from the parent board,
The blade for splitting does not scratch the shield case. Further, even if an external force is applied, the external force is not directly transmitted to the soldered portion of the shield case, and the occurrence of cracks can be prevented.
【0023】請求項15に記載の発明は、スリットで分
離する子基板の切断面とシールドケースの側面とは略等
しくなるように切断した請求項13に記載の高周波モジ
ュールの製造方法であり、切断面が子基板の側面から突
出することはないので、高周波モジュールの小型化を図
ることができる。また、子基板の材料取りが良くなる。According to a fifteenth aspect of the present invention, there is provided the method of manufacturing a high-frequency module according to the thirteenth aspect, wherein the cut surface of the daughter board separated by the slit and the side surface of the shield case are cut so as to be substantially equal. Since the surface does not protrude from the side surface of the daughter board, it is possible to reduce the size of the high-frequency module. Also, the material removal of the sub-substrate is improved.
【0024】請求項16に記載の発明は、シールドケー
スの側面は、天面に比べて粗面を形成した請求項15に
記載の高周波モジュールの製造方法であり、粗面を形成
することによりシールドケースの表面積が大きくなり、
放熱性能が向上する。また、粗面を形成することによ
り、摩擦力が増し容易に高周波モジュールを保持するこ
とができる。According to a sixteenth aspect of the present invention, there is provided the method for manufacturing a high-frequency module according to the fifteenth aspect, wherein the side surface of the shield case is formed with a rough surface as compared with the top surface. The surface area of the case increases,
Heat dissipation performance is improved. Further, by forming the rough surface, the frictional force increases, and the high-frequency module can be easily held.
【0025】請求項17に記載の発明は、子基板の分離
工程は回転刃を用いて切断するとともに、この回転刃に
よりシールドケースの側面に粗面を形成する請求項16
に記載の高周波モジュールの製造方法であり、粗面を形
成するための別の工程を設ける必要がなく、生産性が向
上する。According to a seventeenth aspect of the present invention, in the step of separating the sub-substrate, a rotary blade is used for cutting, and the rotary blade forms a rough surface on the side surface of the shield case.
The method for manufacturing a high-frequency module according to the item 1, does not require a separate step for forming a rough surface, and improves productivity.
【0026】請求項18に記載の発明は、シールドケー
スは金型で打ち抜いて形成するとともに、この打ち抜き
方向に折り曲げて折り曲げ部を形成し、この折り曲げ部
の先端に形成する脚を子基板の側面に形成されたグラン
ド端子に半田付けする請求項13に記載の高周波モジュ
ールの製造方法であり、このシールドケースの打ち抜き
によって生ずるバリのため、グランド端子との間に隙間
ができ、この隙間に毛細管現象で万遍なく半田が充填さ
れるので、導通抵抗が小さくなるとともに強固な接着が
得られる。また、バリは子基板側面の内側に位置するこ
とになるので、子基板同士の距離を狭くすることがで
き、基板取り枚数を向上させることができる。In the invention according to claim 18, the shield case is formed by punching with a mold, and is bent in the punching direction to form a bent portion. 14. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 13, wherein the solder is soldered to a ground terminal formed on the ground terminal. , The solder is uniformly filled, so that the conduction resistance is reduced and strong adhesion is obtained. Further, since the burrs are located inside the side surfaces of the sub-substrates, the distance between the sub-substrates can be reduced, and the number of substrates to be removed can be improved.
【0027】請求項19に記載の発明は、シールドケー
スの天面に、レーザ光線で捺印する請求項13に記載の
高周波モジュールの製造方法であり、夫々の子基板の略
同じ位置に捺印をすることができる。また、レーザ光線
による捺印なので、狭い場所でも容易に捺印できる。更
に、レーザ光線による捺印なので、手で擦っても消える
ことはない。According to a nineteenth aspect of the present invention, there is provided the method for manufacturing a high-frequency module according to the thirteenth aspect, wherein the top surface of the shield case is stamped with a laser beam. be able to. Also, since the marking is performed by a laser beam, the marking can be easily performed even in a narrow place. Furthermore, since it is stamped with a laser beam, it does not disappear even if it is rubbed by hand.
【0028】請求項20に記載の発明は、請求項7に記
載の高周波モジュールの製造方法において、子基板を親
基板から分離する第5の工程の後に、高周波モジュール
をテーピング実装する第6の工程を有する高周波モジュ
ールの製造方法であり、個片にした後、高周波モジュー
ルはテーピングされるので、装置への組み込み効率が向
上する。更に、テーピングするので管理が容易となる。According to a twentieth aspect of the present invention, in the method for manufacturing a high-frequency module according to the seventh aspect, a sixth step of taping and mounting the high-frequency module after the fifth step of separating the daughter board from the parent board. This is a method of manufacturing a high-frequency module having the following features. Since the high-frequency module is taped after being divided into individual pieces, the efficiency of incorporation into a device is improved. Furthermore, since taping is performed, management becomes easy.
【0029】請求項21に記載の発明は、同一の回路パ
ターンが設けられるとともに略四角形をした複数個の子
基板と、この子基板同士が連結して形成されるとともに
両端には連結部を有した親基板とから成り、前記子基板
に電子部品を装着する第1の工程と、この第1の工程の
後に、前記子基板にシールドケースを挿入する第2の工
程と、この第2の工程の後に、前記子基板の側面を切断
して前記子基板を前記親基板から分離する第3の工程を
有する高周波モジュールの製造方法であり、ワークシー
ト状態でシールドケースを被せることができるので、従
来に比べて大幅な手間が省け生産性が著しく向上する。
また、シールドケースが被せてあるので、モジュールと
しての扱いが容易になる。更に、外部からのノイズの影
響を受けることもないし、外部へノイズを放出すること
もない。According to a twenty-first aspect of the present invention, a plurality of substantially rectangular sub-boards provided with the same circuit pattern are formed by connecting the sub-boards to each other, and have connecting portions at both ends. A first step of mounting an electronic component on the daughter board, a second step of inserting a shield case into the daughter board after the first step, and a second step of After that, a method of manufacturing a high-frequency module including a third step of cutting the side surface of the child substrate and separating the child substrate from the parent substrate, which can cover the shield case in a worksheet state. As a result, a great deal of time is saved and productivity is remarkably improved.
In addition, since the shield case is covered, handling as a module becomes easy. Further, there is no influence from external noise, and no noise is emitted to the outside.
【0030】請求項22に記載の発明は、子基板の側面
が切断された切断面はシールドケースよりも突出するよ
うに切断された請求項21に記載の高周波モジュールの
製造方法であり、子基板の切断面はシールドケースより
も突出するので、親基板から子基板を分割するとき、分
割のための刃物でシールドケースに擦り傷を付けること
はない。また、例え外力が加わったとしても、シールド
ケースの半田付け部分にこの外力が直接伝達されること
はなく、クラックの発生を防止することができる。The invention according to claim 22 is the method for manufacturing a high-frequency module according to claim 21, wherein the cut surface obtained by cutting the side surface of the daughter board is cut so as to protrude beyond the shield case. Since the cut surface protrudes beyond the shield case, when the child substrate is divided from the parent substrate, the blade for the division does not scratch the shield case. Further, even if an external force is applied, the external force is not directly transmitted to the soldered portion of the shield case, and the occurrence of cracks can be prevented.
【0031】請求項23に記載の発明は、子基板の切断
面とシールドケースの側面とは略等しくなるように切断
した請求項21に記載の高周波モジュールの製造方法で
あり、切断面が子基板の側面から突出することはないの
で、高周波モジュールの小型化を図ることができる。ま
た、子基板の材料取りが良くなる。The invention according to claim 23 is the method for manufacturing a high-frequency module according to claim 21, wherein the cut surface of the daughter board and the side surface of the shield case are cut so as to be substantially equal. Since it does not protrude from the side surface, the high-frequency module can be downsized. Also, the material removal of the sub-substrate is improved.
【0032】請求項24に記載の発明は、シールドケー
スの側面は、天面に比べて粗面を形成した請求項23に
記載の高周波モジュールの製造方法であり、粗面を形成
することによりシールドケースの表面積が大きくなり、
放熱性能が向上する。また、粗面を形成することによ
り、摩擦力が増し容易に高周波モジュールを保持するこ
とができる。According to a twenty-fourth aspect of the present invention, there is provided the method for manufacturing a high-frequency module according to the twenty-third aspect, wherein the side surface of the shield case is formed with a rough surface as compared with the top surface. The surface area of the case increases,
Heat dissipation performance is improved. Further, by forming the rough surface, the frictional force increases, and the high-frequency module can be easily held.
【0033】請求項25に記載の発明は、子基板の分離
工程は回転刃を用いて切断するとともに、この回転刃に
よりシールドケースの側面に粗面を形成する請求項24
に記載の高周波モジュールの製造方法であり、粗面を形
成するための別の工程を設ける必要がなく、生産性が向
上する。According to a twenty-fifth aspect of the present invention, in the separating step of the sub-substrate, a rotary blade is used for cutting, and a rough surface is formed on a side surface of the shield case by the rotary blade.
The method for manufacturing a high-frequency module according to the item 1, does not require a separate step for forming a rough surface, and improves productivity.
【0034】請求項26に記載の発明は、第2の工程と
第3の工程との間に、子基板に設けられた信号端子に検
査治具のピンを当接させて検査を行う工程を設けた請求
項21に記載の高周波モジュールの製造方法であり、従
来のように、分割したものを再び並べ直して検査するこ
となく、子基板としては最終の電気検査までワークシー
ト状で行うことができるので、従来に比べて大幅な手間
が省け生産性が著しく向上する。According to a twenty-sixth aspect of the present invention, between the second step and the third step, a step of performing an inspection by bringing a pin of an inspection jig into contact with a signal terminal provided on the daughter board is performed. 22. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 21, wherein the sub-substrate is performed in the form of a worksheet until the final electrical inspection without re-arranging and inspecting the divided substrates as in the related art. As a result, a great deal of trouble is saved as compared with the related art, and productivity is remarkably improved.
【0035】請求項27に記載の発明は、シールドケー
スは金型で打ち抜いて形成されるとともに、この打ち抜
き方向に折り曲げて折り曲げ部を形成し、この折り曲げ
部の先端に形成する脚を子基板の側面に形成されたグラ
ンド端子に半田付けする請求項21に記載の高周波モジ
ュールの製造方法であり、このシールドケースの打ち抜
きによって生ずるバリのため、グランド端子との間に隙
間ができ、この隙間に毛細管現象で万遍なく半田が充填
されるので、導通抵抗が小さくなるとともに強固な接着
が得られる。また、バリは子基板側面の内側に位置する
ことになるので、子基板同士の距離を狭くすることがで
き、基板取り枚数を向上させることができる。According to a twenty-seventh aspect of the present invention, the shield case is formed by punching with a die, and is bent in the punching direction to form a bent portion. 22. The method of manufacturing a high-frequency module according to claim 21, wherein a solder is soldered to a ground terminal formed on the side surface, and a burr generated by punching out the shield case creates a gap between the shield and the ground terminal. Since the solder is uniformly filled by the phenomenon, the conduction resistance is reduced and a strong adhesion is obtained. Further, since the burrs are located inside the side surfaces of the sub-substrates, the distance between the sub-substrates can be reduced, and the number of substrates to be removed can be improved.
【0036】以下、図面に基づいて本発明の実施の形態
を説明する。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0037】(実施の形態1)以下、VCOを高周波モ
ジュールの一例として、実施の形態1を説明する。図2
は親基板21の平面図であり、この親基板21は4層と
なっている。この親基板21は、91mm×94mmの
外形寸法を有し、その中には、6.5mm×5.3mm
の子基板22が168個連結して形成されている。この
子基板22の個々はすべて同一の形状をしたパターン配
線で形成されるとともに電子部品が装着されている。2
3は固定用の孔であり、24は、電子部品の装着時に位
置を確認するためのマークである。(Embodiment 1) Hereinafter, Embodiment 1 will be described using a VCO as an example of a high-frequency module. FIG.
Is a plan view of the parent substrate 21. The parent substrate 21 has four layers. The mother board 21 has an outer dimension of 91 mm × 94 mm, and includes 6.5 mm × 5.3 mm.
Are formed by connecting 168 child substrates 22. Each of the sub-boards 22 is formed of the same pattern wiring and has electronic components mounted thereon. 2
Reference numeral 3 denotes a fixing hole, and reference numeral 24 denotes a mark for confirming a position when the electronic component is mounted.
【0038】このように形成された親基板21を図3に
示すように、複数個連結された子基板22の横側面に沿
って、ダイシングでスリット25を設ける。この時、親
基板21の両端には、連結部26が形成されているの
で、子基板22がバラバラになることはなく、ワークシ
ート状となっている。この製造方法に関しては、特願平
8−220942号に詳しく記載されている。なお、ス
リット25は子基板22の信号端子を電気的に分離すれ
ば良いので、溝であっても良い。但し、この場合には後
で子基板22の横側面を再び機構的に分離する必要があ
る。As shown in FIG. 3, slits 25 are provided by dicing along the lateral side surfaces of the plurality of connected sub-substrates 22, as shown in FIG. At this time, since the connecting portions 26 are formed at both ends of the parent substrate 21, the child substrate 22 does not fall apart and has a worksheet shape. This manufacturing method is described in detail in Japanese Patent Application No. 8-220942. Note that the slit 25 may be a groove since it is sufficient that the signal terminal of the daughter board 22 is electrically separated. However, in this case, it is necessary to mechanically separate the lateral side surface of the daughter board 22 again later.
【0039】図4は、親基板21の要部平面図である。
図4において、親基板21内に長方形をした子基板22
が複数個連結されており、この子基板22の端は親基板
21の両端に形成された連結部26に連結されている。FIG. 4 is a plan view of a main part of the motherboard 21. As shown in FIG.
In FIG. 4, a rectangular sub-substrate 22 is provided in a parent substrate 21.
Are connected to each other, and the ends of the daughter board 22 are connected to connecting portions 26 formed at both ends of the parent board 21.
【0040】27,28,29,30は信号端子であ
り、子基板22の横側面31に設けられている。また、
32は横側面31に設けられたグランド端子であり、3
3は縦側面34に設けられたグランド端子である。そし
て、たとえば信号端子27は、パターンで第1の回路3
5に接続されており、この第1の回路35はパターンで
第2の回路36を経て信号端子28に接続されている。
また、信号端子29はパターンで第3の回路37を経て
信号端子30に接続されている。Reference numerals 27, 28, 29, and 30 denote signal terminals, which are provided on the lateral side surface 31 of the daughter board 22. Also,
Reference numeral 32 denotes a ground terminal provided on the lateral side surface 31;
Reference numeral 3 denotes a ground terminal provided on the vertical side surface 34. For example, the signal terminal 27 is connected to the first circuit 3 in a pattern.
The first circuit 35 is connected to the signal terminal 28 via a second circuit 36 in a pattern.
The signal terminal 29 is connected to the signal terminal 30 via a third circuit 37 in a pattern.
【0041】また、25は子基板22の横側面31に沿
ってダイシングで形成されたスリットであり、隣り合う
子基板22に設けられた信号端子27と28及び信号端
子29と30とを電気的にも機構的にも分離している。
このように子基板22の横側面31で電気的に分離され
ているので、子基板22が親基板21に連結部26で連
結された状態で、信号端子27,28,29,30に独
立に信号を接続して、VCOを動作させることができ
る。なお、25はスリットでなく、溝であっても良い。
この場合、後で割って子基板22を分離する必要があ
る。図5は、隣接する子基板22の部分拡大図である。Reference numeral 25 denotes a slit formed by dicing along the lateral side surface 31 of the child substrate 22, and electrically connects the signal terminals 27 and 28 and the signal terminals 29 and 30 provided on the adjacent child substrates 22. And mechanically separated.
As described above, since the child board 22 is electrically separated by the lateral side surfaces 31 of the child board 22, it is independently connected to the signal terminals 27, 28, 29, 30 in a state where the child board 22 is connected to the parent board 21 by the connecting portion 26. The signals can be connected to operate the VCO. Note that 25 may be a groove instead of a slit.
In this case, it is necessary to separate the daughter board 22 by dividing it later. FIG. 5 is a partially enlarged view of the adjacent sub-board 22.
【0042】図6は、第1の検査で使用する検査装置で
ある。図6において、38は押圧部であり、この押圧部
38にはバネ力で上方へ付勢されたピン39が植設され
ると共に、このピン39の信号は検査装置本体40に接
続されている。21は親基板であり、この親基板21内
には子基板22が連結して設けられている。そして、押
圧部38がA方向に上昇したり、B方向に下降すること
により、ピン39が子基板22に設けられた信号端子2
7,28,29,30に当接したり離脱したりする。ピ
ン39が当接した状態で、一つずつ順に子基板22内に
設けられたVCOを動作させ、レーザトリミングでイン
ダクタンスパターンをカットして周波数の調整を行う。FIG. 6 shows an inspection apparatus used in the first inspection. In FIG. 6, reference numeral 38 denotes a pressing portion. A pin 39 urged upward by a spring force is implanted in the pressing portion 38, and a signal of the pin 39 is connected to the inspection apparatus main body 40. . Reference numeral 21 denotes a parent board, on which a child board 22 is provided in a connected manner. When the pressing portion 38 rises in the direction A or descends in the direction B, the pins 39 are attached to the signal terminals 2 provided on the daughter board 22.
7, 28, 29, and 30, and come off. While the pins 39 are in contact with each other, the VCOs provided in the child substrate 22 are sequentially operated one by one, and the inductance is cut by laser trimming to adjust the frequency.
【0043】また、41は子基板22上に載置された基
台であり、前記複数のピン39が同時に当接するよう
に、その表面は直線状になっている。このようにして、
親基板21にスリット25を設けることにより、連結さ
れた子基板22がたわまないように押さえており、ピン
39と信号端子27,28,29,30との接触を確実
にしている。この基台41は、上方からプランジャで押
下するとともに、下方からはバネで付勢されたピン39
が上昇するので、ピン39は確実に信号端子27,2
8,29,30に当接する。なお、この検査装置の上下
は逆にしても良い。このようにして、横一列に形成され
た子基板22の検査が終わると次の列の子基板の検査を
順次行う。以下、同様である。Reference numeral 41 denotes a base placed on the daughter board 22, the surface of which is linear so that the plurality of pins 39 abut simultaneously. In this way,
By providing the slits 25 in the master board 21, the connected slave boards 22 are pressed so as not to bend, and the contact between the pins 39 and the signal terminals 27, 28, 29, 30 is ensured. The base 41 is pressed by a plunger from above, and a pin 39 urged by a spring from below.
Rises, so that the pin 39 is securely connected to the signal terminals 27 and 2.
8, 29, 30. The inspection apparatus may be turned upside down. In this way, when the inspection of the sub-boards 22 formed in one horizontal row is completed, the inspection of the sub-boards in the next row is sequentially performed. Hereinafter, the same applies.
【0044】ここで、ピン39の当接は、どのピンより
も先にグランドピンを信号端子に当接させるとともにピ
ン39の離脱時は、どのピンよりも後にグランドピンを
離脱させることにより、信号供給の安定化を図ってい
る。Here, the contact of the pin 39 is made by bringing the ground pin into contact with the signal terminal before any of the pins and, when the pin 39 is detached, by detaching the ground pin after any of the pins. The supply is being stabilized.
【0045】また、ピン39は連結された子基板22の
一個ずつに電源を入れて動作テストとレーザトリミング
を行っているが、これは一度に複数個行うこともでき
る。このようにすれば、効率は更に向上する。このよう
に、本発明で使用する検査装置を用いて製造した高周波
モジュールでは、どのモジュールも夫々対応した位置に
おいては略同一位置に同一深さのピン39の痕跡が残る
ことになる。The power test is applied to each of the connected sub-substrates 22 to perform the operation test and the laser trimming, but a plurality of the pins 39 can be performed at one time. In this way, the efficiency is further improved. As described above, in the high-frequency module manufactured by using the inspection apparatus used in the present invention, traces of the pins 39 having the same depth remain at substantially the same positions at the corresponding positions.
【0046】図7は、高周波モジュールとしてのVCO
の回路図である。図7において、42は共振回路であ
り、この共振回路42は、制御信号入力端子43から入
力された信号でバリキャップダイオード44の容量を可
変して共振周波数を変化させている。また、45はパタ
ーンで形成されたインダクタであり、このインダクタ4
5をレーザ光線でトリミングすることにより、インダク
タンス値を変えて共振周波数を調整している。この共振
回路42は発振回路46に接続され、発振出力端子47
から出力される。48は電源入力端子であり、VCO回
路に電源を供給するものである。ここで、例えば図4に
対応させると、制御信号入力端子43は信号端子27に
対応し、発振出力端子47は信号端子28に対応し、電
源入力端子48は信号端子29に対応している。また、
信号端子30はグランドに接続されている。FIG. 7 shows a VCO as a high-frequency module.
FIG. In FIG. 7, reference numeral 42 denotes a resonance circuit. The resonance circuit 42 varies the capacitance of the varicap diode 44 with a signal input from a control signal input terminal 43 to change the resonance frequency. Reference numeral 45 denotes an inductor formed in a pattern.
By trimming 5 with a laser beam, the inductance value is changed to adjust the resonance frequency. This resonance circuit 42 is connected to an oscillation circuit 46, and an oscillation output terminal 47
Output from A power input terminal 48 supplies power to the VCO circuit. Here, for example, as shown in FIG. 4, the control signal input terminal 43 corresponds to the signal terminal 27, the oscillation output terminal 47 corresponds to the signal terminal 28, and the power supply input terminal 48 corresponds to the signal terminal 29. Also,
The signal terminal 30 is connected to the ground.
【0047】図8は、高周波モジュールとしてのVCO
/PLLの回路図である。図8において、50はVCO
回路であり、51はPLL回路であり、52はローパス
フィルタである。そして、その構成はVCO回路50の
出力53はPLL回路51の一方の入力54に入力され
ると共に他方の比較入力55には信号端子56から水晶
振動子による基準周波数が入力される。そしてこの出力
56aはローパスフィルタ52を介してVCO回路50
の共振回路が形成されるバリキャップダイオード57に
接続されている。またこのVCO回路50の出力53は
信号端子58から出力される。59はパターンで形成さ
れたインダクタンスであり、レーザ光線によるトリミン
グで共振回路のインダクタンスを調整するものである。FIG. 8 shows a VCO as a high-frequency module.
FIG. 3 is a circuit diagram of / PLL. In FIG. 8, 50 is a VCO
Reference numeral 51 denotes a PLL circuit, and reference numeral 52 denotes a low-pass filter. In this configuration, the output 53 of the VCO circuit 50 is input to one input 54 of the PLL circuit 51, and the reference frequency of the crystal oscillator is input to the other comparison input 55 from the signal terminal 56. The output 56a is supplied to the VCO circuit 50 via the low-pass filter 52.
Is connected to the varicap diode 57 in which the resonance circuit is formed. The output 53 of the VCO circuit 50 is output from a signal terminal 58. Reference numeral 59 denotes an inductance formed by a pattern, which adjusts the inductance of the resonance circuit by trimming with a laser beam.
【0048】以上のように構成されたVCO/PLLに
おいて、信号端子60から入力されるデータ信号に従っ
てバリキャップダイオード57の容量を変化させて、信
号端子58から出力される発振出力周波数を設定してい
る。この回路においては図7のVCOと比べるとたくさ
んの信号端子が子基板22の横側面31に導出されるこ
とになる。しかしながらこの場合も信号端子(例えば、
80〜85)は、全て横側面に設けることが重要であ
る。グランド端子86のみ縦側面であっても良い。な
お、実施の形態2ではグランド端子86以外の信号であ
っても縦側面側に設けることができる。In the VCO / PLL configured as described above, the oscillation output frequency output from the signal terminal 58 is set by changing the capacitance of the varicap diode 57 in accordance with the data signal input from the signal terminal 60. I have. In this circuit, more signal terminals are led out to the lateral side surface 31 of the daughter board 22 as compared with the VCO of FIG. However, also in this case, the signal terminal (for example,
It is important that all of 80 to 85) are provided on the side surface. Only the ground terminal 86 may be a vertical side surface. In the second embodiment, even signals other than the ground terminal 86 can be provided on the vertical side surface.
【0049】次に、図1を用いてこれらの高周波モジュ
ールの製造工程を説明する。先ず、子基板22が複数個
連結して形成されたワークシート状の親基板21にクリ
ーム半田を印刷61する。次に電子部品を実装62し
て、次にリフロー63して電子部品を全ての子基板22
に固着する。次に、子基板22の横側面31をダイシン
グでスリット25を形成64する。このことにより、隣
接する子基板22の信号端子を電気的に分離することが
できる。そして、ダイシング時に使用した水を排出する
水切り65を行う。次に子基板22に電源をピン39か
ら供給して発振周波数を検査装置本体40で確認しなが
らレーザトリミング66を行い周波数調整を行ってい
る。この66の工程を第1の検査という。次に洗浄67
を行ってから、シールドケースを被せ68、このシール
ドケースに捺印69する。そしてクリーム半田を転写7
0してリフロー71により、子基板22と、シールドケ
ースとを固着する。このようにこの71の工程までワー
クシート状の親基板21のままである。従って、生産効
率は非常に高くなる。Next, the manufacturing process of these high-frequency modules will be described with reference to FIG. First, cream solder is printed 61 on a worksheet-shaped master board 21 formed by connecting a plurality of slave boards 22. Next, the electronic components are mounted 62 and then reflowed 63 so that the electronic components are
Stick to Next, the slit 25 is formed 64 on the lateral side surface 31 of the daughter board 22 by dicing. As a result, the signal terminals of the adjacent sub-boards 22 can be electrically separated. Then, a drainer 65 for discharging water used at the time of dicing is performed. Next, power is supplied to the daughter board 22 from the pins 39, and the frequency is adjusted by performing laser trimming 66 while checking the oscillation frequency with the inspection apparatus main body 40. These 66 steps are called first inspection. Next, cleaning 67
After that, the shield case is covered 68 and the shield case is stamped 69. And transfer cream solder 7
Then, the sub-board 22 and the shield case are fixed by reflow 71. As described above, the work board-shaped parent substrate 21 remains up to the step 71. Therefore, the production efficiency becomes very high.
【0050】そして、次に親基板21から子基板22を
個片に分割72する。分割した子基板22は最終的な電
気性能等の性能の検査(第2の検査)73を行い、完成
したVCOの状態にする。次に、このVCOをテーピン
グ74して保管75する。Then, the sub-board 22 is divided 72 from the main board 21 into individual pieces. The divided sub-substrate 22 is subjected to a final performance inspection (second inspection) 73 such as electric performance, and is brought into a completed VCO state. Next, the VCO is taped 74 and stored 75.
【0051】(実施の形態2)実施の形態2において
は、実施の形態1において、子基板22を分割した後に
行われる電気検査を中心とした第2の検査を、子基板2
2を分割する前に行うものである。これを実現するため
に、先ず第1の工程で隣接する子基板同士の横方向の電
気接続を子基板の縦側面で電気的に分離している。そし
て次に、第2の工程で隣接する子基板同士の横側面の電
気的接続を分離する。従ってこの時点で、子基板の個々
は完全に電気的に独立したものとなる。このようにし
て、親基板から子基板を分割する前のワークシート状の
基板の状態で個々の高周波モジュールの全ての検査を完
了することができ、生産性が大幅に向上するものであ
る。(Second Embodiment) In the second embodiment, the second inspection centering on the electrical inspection performed after the sub-substrate 22 is divided in the first embodiment will be described.
This is performed before dividing 2. In order to realize this, first, in the first step, the horizontal electrical connection between the adjacent sub-boards is electrically separated at the vertical side surfaces of the sub-boards. Then, in the second step, the electrical connection on the lateral side surfaces of the adjacent sub-boards is separated. Thus, at this point, each of the daughter boards is completely electrically independent. In this manner, all the inspections of the individual high-frequency modules can be completed in the state of the work sheet-like substrate before the child substrate is divided from the parent substrate, and the productivity is greatly improved.
【0052】すなわち、この生産方法は図9に示すよう
に、先ず親基板を用意する。この親基板は実施の形態1
の親基板と同様であって、略四角形をしている。この親
基板の中には縦横に子基板が連結されている。この親基
板から最初の工程では、隣接する子基板同士の横方向へ
の電気的な接続をトリミング101で分離(即ち、縦側
面での電気的な分離)している。なお、これは初期の親
基板の状態でパターン的に不接続にすることも可能であ
る。また、この技術については図10、図11で後述す
る。That is, in this production method, as shown in FIG. 9, first, a parent substrate is prepared. This mother board is the first embodiment.
And is substantially square. Sub-substrates are connected vertically and horizontally in the parent substrate. In the first step from the parent substrate, the electrical connection in the horizontal direction between adjacent child substrates is separated by trimming 101 (that is, electrical separation on the vertical side). Note that this can be disconnected in a pattern in the initial state of the parent board. This technique will be described later with reference to FIGS.
【0053】次の工程で親基板にクリーム半田を印刷1
02する。クリーム半田を印刷102した後、電子部品
を実装103して、次にリフロー104炉を通して電子
部品を全ての子基板に固着する。In the next step, cream solder is printed on the mother board 1
02. After printing the cream solder 102, the electronic components are mounted 103, and then the electronic components are fixed to all of the daughter boards through a reflow furnace 104.
【0054】次に、子基板の横側面をダイシングでスリ
ットを形成105する。このことにより、隣接する子基
板同士の信号端子を横側面で電気的に分離することがで
きる。そして、ダイシング時に使用した水を排出する水
切り106を行う。Next, slits are formed 105 on the lateral side surfaces of the daughter board by dicing. This makes it possible to electrically separate the signal terminals of the adjacent sub-boards on the lateral side. Then, a drainer 106 for discharging the water used at the time of dicing is performed.
【0055】次に子基板に検査治具のピンから電源を供
給して発振周波数を検査装置で確認しながらレーザトリ
ミング107を行い周波数調整を行っている。この10
7の工程を第1の検査という。Next, power is supplied to the daughter board from the pins of the inspection jig, and the laser trimming 107 is performed to adjust the frequency while checking the oscillation frequency with the inspection apparatus. This 10
Step 7 is referred to as first inspection.
【0056】次に洗浄108を行ってから、シールドケ
ースを被せ109、このシールドケースに捺印110す
る。そしてクリーム半田を転写111してリフロー11
2により、子基板とシールドケースとを固着する。次
に、最終的な電気的な性能の検査である第2の検査11
3を行う。Next, after cleaning 108, the shield case is covered 109 and the shield case is stamped 110. Then, the cream solder is transferred 111 and reflowed 11
2 secures the daughter board and the shield case. Next, a second inspection 11 for final electrical performance inspection
Perform Step 3.
【0057】そして、次に親基板から子基板を個片に分
割114する。分割された子基板は完成されたVCOの
状態となり、次にこのVCOをテーピング115して保
管116する。このように第2の検査113までの工程
をワークシート状の親基板のまま行うものである。従っ
て、生産効率は非常に高くなる。Then, the child substrate is divided 114 from the parent substrate into individual pieces. The divided sub-board is in the state of a completed VCO, and then the VCO is taped 115 and stored 116. In this way, the steps up to the second inspection 113 are performed with the worksheet-shaped parent substrate. Therefore, the production efficiency becomes very high.
【0058】図10は、実施の形態2における親基板1
21の要部の平面図である。122は子基板であり、実
施の形態1と同様親基板121内に連結されている。1
23は連結部であり、124はダイシングすることによ
り設けられるスリットである。このスリット124は隣
接する子基板122の信号端子を電気的に分離すれば良
いので、溝であっても良い。但し、この場合には後で子
基板122の横側面を再び機構的に分離する必要があ
る。FIG. 10 shows a mother board 1 according to the second embodiment.
It is a top view of the principal part of 21. Reference numeral 122 denotes a daughter board, which is connected to the mother board 121 as in the first embodiment. 1
Reference numeral 23 denotes a connecting portion, and reference numeral 124 denotes a slit provided by dicing. The slit 124 may be a groove since it is only necessary to electrically separate the signal terminals of the adjacent daughter boards 122. However, in this case, it is necessary to mechanically separate the lateral side surface of the daughter board 122 later.
【0059】図10において、125〜132は信号端
子であり、子基板122の横側面133と縦側面136
に設けられている。また、134は横側面133に設け
られたグランド端子であり、135は縦側面136に設
けられたグランド端子である。そして、たとえば信号端
子125は、パターンで第1の回路137に接続されて
おり、この第1の回路137はパターンで第2の回路1
38を経て信号端子128に接続されている。また、信
号端子130はパターンで第3の回路139を経て信号
端子131に接続されている。In FIG. 10, reference numerals 125 to 132 denote signal terminals, which are the horizontal side 133 and the vertical side 136 of the sub-board 122.
It is provided in. Reference numeral 134 denotes a ground terminal provided on the horizontal side surface 133, and reference numeral 135 denotes a ground terminal provided on the vertical side surface 136. For example, the signal terminal 125 is connected to the first circuit 137 in a pattern, and the first circuit 137 is connected to the second circuit 1 in a pattern.
It is connected to a signal terminal 128 via. The signal terminal 130 is connected to the signal terminal 131 via the third circuit 139 in a pattern.
【0060】また、124は子基板122の横側面13
3に沿ってダイシングで形成されたスリットであり、例
えば信号端子125と信号端子128とを電気的にも機
構的にも分離している。Reference numeral 124 denotes a lateral side surface 13 of the sub-substrate 122.
3 are slits formed by dicing along, for example, separating the signal terminal 125 and the signal terminal 128 both electrically and mechanically.
【0061】図11は、子基板122の縦側面136近
傍の部分拡大図である。縦側面136に設けられたスル
ーホール140,141,142の両端であって、縦側
面136の方向をエンドミルで切削143して、隣接す
る子基板122を縦側面136で電気的に分離してい
る。また、144,145は夫々隣接する子基板122
同士のパターンであり、この縦側面136では、そのパ
ターン144,145を連結させず電気的に分離させて
いる。このことにより、例えパターン144,145に
同じ信号が供給されるものであったとしても高周波的に
同じ性能のものになる。即ち、分割しても性能は変わら
ない。FIG. 11 is a partially enlarged view of the vicinity of the vertical side surface 136 of the daughter board 122. The ends of the through holes 140, 141, 142 provided in the vertical side surface 136 and the direction of the vertical side surface 136 are cut 143 by an end mill to electrically separate the adjacent sub-boards 122 by the vertical side surface 136. . Reference numerals 144 and 145 denote adjacent child substrates 122, respectively.
In the vertical side surface 136, the patterns 144 and 145 are not connected but are electrically separated. As a result, even if the same signal is supplied to the patterns 144 and 145, the same performance is obtained at high frequencies. That is, the performance does not change even if the division is performed.
【0062】子基板122を分割114するときは、こ
の縦側面136に沿ってカッターで切断する。なお、こ
の縦側面136に沿ってV溝を形成しておいて、分割す
ることもできる。When the sub-substrate 122 is divided 114, it is cut by a cutter along the vertical side surface 136. Note that a V-groove may be formed along the vertical side surface 136 and then divided.
【0063】このように子基板122は、横側面133
と縦側面136で電気的に完全に分離されている。従っ
て、信号端子125〜132も隣接する子基板122か
ら電気的に分離されるので、子基板122が親基板12
1に連結部123で連結された状態(シート状態)で、
信号端子125から132に信号を接続して、VCO単
体にしたときと同じ条件で連結された基板上のVCOの
動作をさせることができる。その他、実施の形態1と同
じものについては説明を簡略化する。As described above, the sub-board 122 is
And the vertical side surface 136 is completely electrically separated. Accordingly, the signal terminals 125 to 132 are also electrically separated from the adjacent sub-board 122, so that the sub-board 122 is
In a state (sheet state) connected to 1 by the connecting portion 123,
By connecting a signal to the signal terminals 125 to 132, the operation of the VCO on the connected substrate can be performed under the same conditions as when the VCO is used alone. The description of the same components as those of the first embodiment is simplified.
【0064】次に、この子基板122に被せるシールド
ケース150と捺印について説明する。なお、このシー
ルドケース150と捺印については、実施の形態1でも
同様である。図12は、親基板121に形成された夫々
の子基板122にシールドケース150を被せた斜視図
である。151は子基板122の横側面133に形成さ
れたグランド端子134にリフローで半田付けされた脚
である。図13は、その断面図である。即ち、親基板1
21のスリット124側に形成されたグランド端子13
4にシールドケース150の脚151をクリーム半田1
60で半田付け(リフロー半田)112したものであ
る。ここで、152は子基板122に装着された電子部
品である。Next, a description will be given of the seal case 150 and the seal that are put on the daughter board 122. The shield case 150 and the seal are the same in the first embodiment. FIG. 12 is a perspective view in which a shield case 150 is placed on each of the child substrates 122 formed on the parent substrate 121. 151 are legs soldered by reflow to a ground terminal 134 formed on the lateral side surface 133 of the daughter board 122. FIG. 13 is a sectional view thereof. That is, the parent board 1
Ground terminal 13 formed on the side of slit 124 of 21
4 to solder leg 1 of shield case 150
At step 60, soldering (reflow soldering) 112 is performed. Here, reference numeral 152 denotes an electronic component mounted on the daughter board 122.
【0065】図14は、子基板122にシールドケース
150を被せて半田付けした後の高周波モジュールの平
面図である。図14において、133aは、子基板12
2の横側面133の切断面であり、136aは縦側面1
36の切断面である。本実施の形態では、この切断面1
33a,136aとシールドケース150の脚151の
間には、0.07〜0.15mmの間隔161が設けら
れている。即ち、この間隔161の分だけ切断面133
a,136aはシールドケース150の側面に設けられ
た脚151より突出していることになる。このため、親
基板121から子基板122を分割するとき、分割する
刃物でシールドケース150に傷を付けることがない。
この突出が少ないと分割時シールドケース150の側面
に傷を付けることがある。また、突出を大きくすると形
状が大きくなってしまう。なお、162は信号端子であ
る。FIG. 14 is a plan view of the high-frequency module after the secondary board 122 is covered with the shield case 150 and soldered. In FIG. 14, 133a is the child substrate 12
2 is a cut surface of the horizontal side surface 133, and 136a is a vertical side surface 1
36 is a cut surface. In the present embodiment, the cut surface 1
An interval 161 of 0.07 to 0.15 mm is provided between the legs 33a and 136a and the legs 151 of the shield case 150. That is, the cut surface 133 corresponds to the interval 161.
a and 136a protrude from the legs 151 provided on the side surface of the shield case 150. For this reason, when dividing the child board 122 from the parent board 121, the cutting case does not damage the shield case 150.
If the protrusion is small, the side surface of the shield case 150 may be damaged when divided. In addition, when the protrusion is increased, the shape becomes large. In addition, 162 is a signal terminal.
【0066】また、親基板121のワークシート状態で
シールドケース150を被せるので、クリーム半田16
0は親基板121の裏面上に転写されることになる。従
って、半田付け112をした後で、グランド端子13
4,135の底面部134a,135aに半田160の
痕跡160aが残ることになる。Further, since the shield case 150 is put on the worksheet of the master substrate 121, the cream solder 16
0 is transferred onto the back surface of the parent substrate 121. Therefore, after the soldering 112, the ground terminal 13
Traces 160a of the solder 160 remain on the bottom portions 134a and 135a of the fourth and 135.
【0067】このようにして、シールドケース150の
脚151とグランド端子134,135と半田付け11
5される訳だが、子基板122の切断面133a,13
6aは脚151より突出しているので、例え外力が加わ
ったとしてもグランド端子134,135と脚151と
を接続する半田にクラックが発生することはない。Thus, the leg 151 of the shield case 150, the ground terminals 134, 135 and the solder 11
5, the cut surfaces 133a, 133
Since 6a protrudes from the leg 151, cracks do not occur in the solder connecting the ground terminals 134 and 135 and the leg 151 even if an external force is applied.
【0068】次に、シールドケース150と子基板12
2との関係の他の例を説明する。シールドケース150
の表面を粗面とすれば表面積が増加するので、例え子基
板122内に発熱部品があったとしても放熱性能は向上
する。これを実現するために、子基板122の横側面1
33をダイシングでスリット124の形成時にシールド
ケース150の側面にダイシングの刃で粗面を形成する
ことができる。Next, the shield case 150 and the sub-board 12
Another example of the relationship with 2 will be described. Shield case 150
If the surface is roughened, the surface area increases, so that even if there is a heat-generating component in the daughter board 122, the heat radiation performance is improved. To realize this, the lateral side 1
A rough surface can be formed on the side surface of the shield case 150 using a dicing blade when the slits 124 are formed by dicing.
【0069】このことにより、シールドケース150の
側面の表面積が増加するので、放熱性能が向上する。ま
た、このようにすれば子基板122の切断面133aは
シールドケース150の側面から突出することはなく小
型化を図ることができる。更に、ダイシングによる子基
板122の切断と同一工程での粗面の形成が可能とな
り、別に粗面形成の工程を設ける必要がない。なお、こ
の粗面は側面全体に設けても良いし、一側面だけでも良
い。また、天面には粗面を形成していないので、美観を
損なうことはない。As a result, the surface area of the side surface of the shield case 150 increases, so that the heat radiation performance improves. Further, in this case, the cut surface 133a of the daughter board 122 does not protrude from the side surface of the shield case 150, and the size can be reduced. Further, the rough surface can be formed in the same step as the cutting of the sub-substrate 122 by dicing, and there is no need to provide a separate step of forming a rough surface. The rough surface may be provided on the entire side surface, or may be provided on only one side surface. In addition, since the top surface is not formed with a rough surface, the appearance is not impaired.
【0070】また、シールドケース150は、図15に
示すように、金型台153に金属板(ブリキ板)154
を載せ、打ち抜きポンチ155を下降させて打ち抜いた
ものである。このとき、金属板154の打ち抜き部には
バリ156が生ずる。As shown in FIG. 15, a metal plate (tin plate) 154 is provided on a mold base 153 as shown in FIG.
And punching is performed by lowering the punch 155. At this time, burrs 156 are formed at the punched portions of the metal plate 154.
【0071】次に、図16に示すように、この打ち抜き
方向157に折り曲げて折り曲げ部158を形成し、こ
の折り曲げ部158の先端に脚151を形成してシール
ドケース150を完成させる。このシールドケース15
0を子基板122のグランド端子134に挿入する。そ
うすると、バリ156のためグランド端子134の壁面
134aと脚151との間に隙間159が形成される。
この隙間159のためリフロー熱で溶融されて半田は毛
細管現象で万遍なく半田付けされることになる。また、
隣接する子基板122側へはバリ156は突出しないの
で、隣接する子基板122との間の距離を小さくするこ
とができる。また、高周波モジュールの外側に触っても
安全である。Next, as shown in FIG. 16, a bent portion 158 is formed by bending in the punching direction 157, and a leg 151 is formed at the tip of the bent portion 158 to complete the shield case 150. This shield case 15
0 is inserted into the ground terminal 134 of the daughter board 122. Then, a gap 159 is formed between the wall surface 134 a of the ground terminal 134 and the leg 151 due to the burr 156.
Due to the gap 159, the solder is melted by the reflow heat and the solder is uniformly soldered by the capillary phenomenon. Also,
Since the burrs 156 do not protrude toward the adjacent sub-substrate 122, the distance between the adjacent sub-substrate 122 can be reduced. Also, it is safe to touch the outside of the high-frequency module.
【0072】次に、このシールドケース150の天面に
捺印をする。ワークシート状で捺印するので、一度に捺
印することができ作業能率が向上する。また、この捺印
にはレーザー光を用いている。従って、捺印位置が製品
によってばらつくことはなく美観上優れている。また、
レーザー光を用いることにより、小型のモジュールにも
容易に捺印することができ、その印字スピードも速い。
また、レーザー光なので手で擦っても消えることはな
い。Next, the top surface of the shield case 150 is stamped. Since the stamping is performed in the form of a work sheet, the stamping can be performed at a time, thereby improving work efficiency. In addition, laser light is used for this seal. Therefore, the stamp position does not vary depending on the product, and is excellent in aesthetic appearance. Also,
By using a laser beam, a small module can be easily stamped, and its printing speed is high.
Also, since it is a laser beam, it does not disappear even if it is rubbed by hand.
【0073】[0073]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、同一の回
路パターンが設けられるとともに略四角形をした複数個
の子基板と、この子基板同士が連結して形成されるとと
もに両端には連結部を有した親基板とから成り、前記子
基板の横側面に第1の回路に接続された信号端子を設け
るとともに、この信号端子は隣接して形成された他の子
基板の第2の回路に接続された信号端子と一体成形さ
れ、これらの子基板に電子部品を装着する第1の工程
と、この第1の工程の後に、前記一体成形された前記子
基板の信号端子と隣接する他の子基板の信号端子とを前
記親基板の両端に設けられた連結部を残して電気的に分
離する第2の工程と、この第2の工程の後に、前記子基
板の信号端子に検査治具のピンを当接させて第1の検査
を行う第3の工程と、この第3の工程の後に、前記子基
板の縦側面で分離して前記子基板を前記親基板から分離
する第4の工程を有する高周波モジュールの製造方法で
あり、連結して設けられた子基板の横側面同士一体的に
設けられた信号端子を互いに電気的に分離する第2の工
程を有しているので、第3の工程の検査までワークシー
ト状で行うことが可能となる。このようにすることによ
り、子基板の個片への分割は、第3の工程の後となり、
従来のように分割したものを再び並べ直して検査すると
いうような手間が省け生産性が著しく向上する。As described above, according to the present invention, a plurality of substantially rectangular sub-boards provided with the same circuit pattern are formed by connecting the sub-boards to each other and connected to both ends. A signal terminal connected to a first circuit on a lateral side surface of the child substrate, and the signal terminal is connected to a second circuit of another child substrate formed adjacently. A first step of mounting an electronic component on these daughter boards, which is integrally formed with the signal terminals connected to the second board; and, after this first step, other parts adjacent to the signal terminals of the one-piece mother board are formed. A second step of electrically separating the signal terminals of the secondary board from the signal terminals of the parent board while leaving the connecting portions provided at both ends of the parent board; A third step of performing a first inspection by contacting the pins of the tool; A method of manufacturing a high-frequency module including a fourth step of separating the child substrate from the parent substrate by separating the child substrate from the parent substrate after the third step. Has a second step of electrically separating signal terminals provided integrally with the lateral side surfaces from each other, so that the inspection in the third step can be performed in the form of a work sheet. By doing so, the division of the daughter board into individual pieces is performed after the third step,
The labor of re-arranging and inspecting the divided parts as in the related art is eliminated, and productivity is remarkably improved.
【0074】また、子基板同士の分離は、横側面に設け
られた信号端子を直接分離しているので、従来のように
金型で打ち抜くダミー部分が不要となり、基板の材料取
りが良くなるので、低価格化が実現できる。Further, since the signal terminals provided on the lateral sides are directly separated from each other, the dummy portions punched out by a die as in the related art become unnecessary, and the material removal of the substrate is improved. , And lower prices can be realized.
【図1】本発明の実施の形態1における高周波モジュー
ルの製造方法の工程図FIG. 1 is a process chart of a method for manufacturing a high-frequency module according to Embodiment 1 of the present invention.
【図2】同、高周波モジュールを形成する親基板の平面
図FIG. 2 is a plan view of a parent substrate forming the high-frequency module.
【図3】同、工程の途中における親基板の平面図FIG. 3 is a plan view of the parent substrate during the same process.
【図4】同、親基板の要部の平面図FIG. 4 is a plan view of a main part of the motherboard;
【図5】同、親基板内の子基板の部分拡大図FIG. 5 is a partially enlarged view of a child substrate in the parent substrate.
【図6】同、検査装置の説明図FIG. 6 is an explanatory diagram of the inspection device.
【図7】同、高周波モジュールとしてのVCOの回路図FIG. 7 is a circuit diagram of a VCO as the high-frequency module.
【図8】同、高周波モジュールとしてのVCO/PLL
の回路図FIG. 8 shows a VCO / PLL as a high-frequency module.
Circuit diagram of
【図9】本発明の実施の形態2における高周波モジュー
ルの製造方法の工程図FIG. 9 is a process chart of a method for manufacturing a high-frequency module according to Embodiment 2 of the present invention.
【図10】同、親基板の要部の平面図FIG. 10 is a plan view of a main part of the motherboard.
【図11】同、親基板内の子基板の部分拡大図FIG. 11 is a partially enlarged view of a child substrate in the parent substrate.
【図12】同、親基板にシールドケースを被せた斜視図FIG. 12 is a perspective view of the same parent board covered with a shield case.
【図13】同、要部断面図FIG. 13 is a sectional view of a main part of the same.
【図14】同、シールドケースを被せた高周波モジュー
ルの平面図FIG. 14 is a plan view of the high-frequency module covered with a shield case.
【図15】同、シールドケース金型の要部断面図FIG. 15 is a sectional view of a main part of the same shield case mold.
【図16】同、シールドケースを被せた高周波モジュー
ルの要部断面図FIG. 16 is a sectional view of an essential part of the high-frequency module covered with a shield case.
【図17】従来の高周波モジュールを形成する親基板の
平面図FIG. 17 is a plan view of a parent substrate forming a conventional high-frequency module.
【図18】同、子基板の平面図FIG. 18 is a plan view of the child substrate.
【図19】同、高周波モジュールの斜視図FIG. 19 is a perspective view of the high-frequency module.
【図20】同、親基板の要部平面図FIG. 20 is a plan view of a main part of the parent board;
21 親基板 22 子基板 25 スリット 26 連結部 27 信号端子 28 信号端子 29 信号端子 30 信号端子 31 横側面 34 縦側面 39 ピン 40 検査装置本体 62 電子部品実装工程 64 親基板にスリットを設ける工程 66 レーザトリミングする第1の検査工程 72 分割工程 Reference Signs List 21 parent board 22 child board 25 slit 26 connecting part 27 signal terminal 28 signal terminal 29 signal terminal 30 signal terminal 31 lateral side 34 vertical side 39 pin 40 inspection apparatus main body 62 electronic component mounting step 64 step of providing slit in parent board 66 laser First inspection step for trimming 72 Division step
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢島 隆弘 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 津山 和彦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5E062 DD01 DD09 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Takahiro Yajima 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Terms (reference) 5E062 DD01 DD09
Claims (27)
に略四角形をした複数個の子基板と、この子基板同士が
連結して形成されるとともに両端には連結部を有した親
基板とから成り、前記子基板の横側面に第1の回路に接
続された信号端子を設けるとともに、この信号端子は隣
接して形成された他の子基板の第2の回路に接続された
信号端子と一体成形され、これらの子基板に電子部品を
装着する第1の工程と、この第1の工程の後に、前記一
体成形された前記子基板の信号端子と隣接する他の子基
板の信号端子とを前記親基板の両端に設けられた連結部
を残して電気的に分離する第2の工程と、この第2の工
程の後に、前記子基板の信号端子に検査治具のピンを当
接させて第1の検査を行う第3の工程と、この第3の工
程の後に、前記子基板の縦側面を切断して前記子基板を
前記親基板から分離する第4の工程を有する高周波モジ
ュールの製造方法。1. A semiconductor device comprising: a plurality of substantially rectangular sub-boards provided with the same circuit pattern and having a substantially rectangular shape; and a parent board formed by connecting the sub-boards and having connecting portions at both ends, A signal terminal connected to a first circuit is provided on a lateral side surface of the daughter board, and the signal terminal is integrally formed with a signal terminal connected to a second circuit of another daughter board formed adjacently. A first step of mounting electronic components on these child boards, and after this first step, the signal terminals of the integrally formed child board and the signal terminals of other child boards adjacent thereto are connected to the parent board. A second step of electrically separating leaving the connecting portions provided at both ends of the board, and after the second step, a pin of an inspection jig is brought into contact with a signal terminal of the daughter board by the first step. A third step of inspecting the substrate, and after the third step, A method for manufacturing a high-frequency module, comprising: a fourth step of cutting a vertical side surface of a plate to separate the child substrate from the parent substrate.
スリットで分離する請求項1に記載の高周波モジュール
の製造方法。2. The method according to claim 2, wherein the separation of the signal terminals in the second step is performed as follows.
The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 1, wherein the high-frequency module is separated by a slit.
溝を形成することにより分離する請求項1に記載の高周
波モジュールの製造方法。3. The method according to claim 2, wherein the signal terminals are separated in the second step.
The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 1, wherein the separation is performed by forming a groove.
どのピンよりもグランドピンを先に当接させるととも
に、ピンの離脱時にはどのピンよりも後で前記グランド
ピンを離脱させる請求項1に記載の高周波モジュールの
製造方法。4. At the time of contact of the pin in the third step,
2. The method of manufacturing a high-frequency module according to claim 1, wherein the ground pin is brought into contact with any of the pins first, and the ground pin is released after any of the pins when the pins are released.
検査する請求項1に記載の高周波モジュールの製造方
法。5. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 1, wherein the first inspection includes simultaneously inspecting a plurality of daughter boards.
造方法において、第4の工程の後に、第2の検査を行う
第5の工程と、この第5の工程の後に、高周波モジュー
ルをテーピング実装する第6の工程を有する高周波モジ
ュールの製造方法。6. The method of manufacturing a high-frequency module according to claim 1, further comprising: a fifth step of performing a second inspection after the fourth step; and taping and mounting the high-frequency module after the fifth step. A method of manufacturing a high-frequency module having a sixth step.
に略四角形をした複数個の子基板と、この子基板同士が
連結して形成されるとともに両端には連結部を有した親
基板とから成り、前記子基板の横側面に第1の回路に接
続された信号端子を設けるとともに、この信号端子は隣
接して形成された他の子基板の第2の回路に接続された
横側面の信号端子と一体成形され、これらの子基板同士
の縦側面を電気的に分離する第1の工程と、この第1の
工程の後に前記子基板に電子部品を装着する第2の工程
と、この第2の工程の後に、前記一体成形された前記子
基板の信号端子と隣接する他の子基板の信号端子とを前
記親基板の両端に設けられた連結部を残して電気的に分
離する第3の工程と、この第3の工程の後に、前記子基
板の信号端子に検査治具のピンを当接させて検査を行う
第4の工程と、この第4の工程の後に、前記子基板の縦
側面を切断して前記子基板を前記親基板から分離する第
5の工程を有する高周波モジュールの製造方法。7. A plurality of substantially rectangular sub-boards provided with the same circuit pattern and a parent board formed by connecting the sub-boards and having connecting portions at both ends, A signal terminal connected to a first circuit is provided on a lateral side surface of the child board, and the signal terminal is connected to a signal terminal on a lateral side connected to a second circuit of another child substrate formed adjacently. A first step of integrally molding and electrically separating the vertical side surfaces of these sub-boards from each other; a second step of mounting electronic components on said sub-boards after said first step; A third step of electrically separating the signal terminals of the integrally formed sub-board and the signal terminals of adjacent sub-boards after the step, except for connecting portions provided at both ends of the parent board. And inspecting the signal terminals of the daughter board after the third step. A fourth step of performing an inspection by contacting pins of a jig, and a fifth step of cutting the vertical side surface of the sub board to separate the sub board from the parent board after the fourth step A method for manufacturing a high-frequency module having:
スリットで分離する請求項7に記載の高周波モジュール
の製造方法。8. The method according to claim 8, wherein the signal terminal is separated in the third step.
The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 7, wherein the high-frequency module is separated by a slit.
溝を形成することにより分離する請求項7に記載の高周
波モジュールの製造方法。9. The separation of signal terminals in the third step is as follows:
The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 7, wherein the separation is performed by forming a groove.
は、どのピンよりもグランドピンを先に当接させるとと
もに、ピンの離脱時にはどのピンよりも後で前記グラン
ドピンを離脱させる請求項7に記載の高周波モジュール
の製造方法。10. The method according to claim 7, wherein in the fourth step, the ground pin is brought into contact with any of the pins before the pins are brought into contact with each other, and the ground pins are detached after any of the pins when the pins are detached. A method for manufacturing the high-frequency module according to the above.
子基板を同時に検査する請求項7に記載の高周波モジュ
ールの製造方法。11. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 7, wherein the inspection in the fourth step includes simultaneously inspecting a plurality of daughter boards.
基板の信号端子に対して略同一の場所にピンを押圧して
電気信号を導通させる請求項11に記載の高周波モジュ
ールの製造方法。12. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 11, wherein in the inspection in the fourth step, an electrical signal is conducted by pressing a pin at substantially the same position with respect to a signal terminal of each daughter board.
して隣接する子基板同士を電気的に分離する第3の工程
の後に、前記子基板にシールドケースを挿入する工程を
設けた請求項8に記載の高周波モジュールの製造方法。13. The method according to claim 1, further comprising the step of inserting a shield case into said child board after the third step of electrically separating adjacent child boards while leaving the connecting portions provided at both ends of the parent board. Item 9. The method for manufacturing a high-frequency module according to Item 8.
シールドケースよりも突出するように切断された請求項
13に記載の高周波モジュールの製造方法。14. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 13, wherein a cut surface of the daughter board separated by the slit is cut so as to protrude from the shield case.
シールドケースの側面とは略等しくなるように切断した
請求項13に記載の高周波モジュールの製造方法。15. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 13, wherein the cut surface of the daughter board separated by the slit and the side surface of the shield case are cut so as to be substantially equal.
て粗面を形成した請求項15に記載の高周波モジュール
の製造方法。16. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 15, wherein a side surface of the shield case has a rough surface as compared with a top surface.
切断するとともに、この回転刃によりシールドケースの
側面に粗面を形成する請求項16に記載の高周波モジュ
ールの製造方法。17. The method of manufacturing a high-frequency module according to claim 16, wherein in the step of separating the daughter board, the rotary blade is cut using a rotary blade, and the rotary blade forms a rough surface on a side surface of the shield case.
形成するとともに、この打ち抜き方向に折り曲げて折り
曲げ部を形成し、この折り曲げ部の先端に形成する脚を
子基板の側面に形成されたグランド端子に半田付けする
請求項13に記載の高周波モジュールの製造方法。18. The shield case is formed by punching out with a mold, and is bent in the punching direction to form a bent portion. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 13, wherein the soldering is performed.
で捺印する請求項13に記載の高周波モジュールの製造
方法。19. The method according to claim 13, wherein the top surface of the shield case is stamped with a laser beam.
製造方法において、子基板を親基板から分離する第5の
工程の後に、高周波モジュールをテーピング実装する第
6の工程を有する高周波モジュールの製造方法。20. The method of manufacturing a high-frequency module according to claim 7, further comprising a sixth step of taping and mounting the high-frequency module after the fifth step of separating the daughter board from the parent board. .
もに略四角形をした複数個の子基板と、この子基板同士
が連結して形成されるとともに両端には連結部を有した
親基板とから成り、前記子基板に電子部品を装着する第
1の工程と、この第1の工程の後に、前記子基板にシー
ルドケースを挿入する第2の工程と、この第2の工程の
後に、前記子基板の側面を切断して前記子基板を前記親
基板から分離する第3の工程を有する高周波モジュール
の製造方法。21. A plurality of substantially rectangular sub-boards provided with the same circuit pattern and a parent board formed by connecting the sub-boards to each other and having connecting portions at both ends, A first step of mounting an electronic component on the daughter board; a second step of inserting a shield case into the daughter board after the first step; and a step of inserting the shield case into the daughter board after the second step. A method for manufacturing a high-frequency module, comprising a third step of cutting a side surface to separate the child substrate from the parent substrate.
ールドケースよりも突出するように切断された請求項2
1に記載の高周波モジュールの製造方法。22. A cut surface obtained by cutting the side surface of the daughter board so as to protrude from the shield case.
2. The method for manufacturing the high-frequency module according to 1.
面とは略等しくなるように切断した請求項21に記載の
高周波モジュールの製造方法。23. The method according to claim 21, wherein the cut surface of the daughter board and the side surface of the shield case are cut so as to be substantially equal.
て粗面を形成した請求項23に記載の高周波モジュール
の製造方法。24. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 23, wherein a side surface of the shield case has a rough surface formed as compared with a top surface.
切断するとともに、この回転刃によりシールドケースの
側面に粗面を形成する請求項24に記載の高周波モジュ
ールの製造方法。25. The method of manufacturing a high-frequency module according to claim 24, wherein in the step of separating the daughter board, the rotary blade is cut using a rotary blade, and the rotary blade forms a rough surface on a side surface of the shield case.
基板に設けられた信号端子に検査治具のピンを当接させ
て検査を行う工程を設けた請求項21に記載の高周波モ
ジュールの製造方法。26. The method according to claim 21, further comprising, between the second step and the third step, a step of performing an inspection by bringing a pin of an inspection jig into contact with a signal terminal provided on the daughter board. Method of manufacturing high frequency module.
形成するとともに、この打ち抜き方向に折り曲げて折り
曲げ部を形成し、この折り曲げ部の先端に形成する脚を
子基板の側面に形成されたグランド端子に半田付けする
請求項21に記載の高周波モジュールの製造方法。27. The shield case is formed by punching out with a mold, and is bent in the punching direction to form a bent portion. 22. The method for manufacturing a high-frequency module according to claim 21, wherein the high-frequency module is soldered.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000088037A JP3937679B2 (en) | 1999-04-09 | 2000-03-28 | Manufacturing method of high frequency module |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10225899 | 1999-04-09 | ||
JP11-102258 | 1999-04-09 | ||
JP2000-43929 | 2000-02-22 | ||
JP2000043929 | 2000-02-22 | ||
JP2000088037A JP3937679B2 (en) | 1999-04-09 | 2000-03-28 | Manufacturing method of high frequency module |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001313224A true JP2001313224A (en) | 2001-11-09 |
JP3937679B2 JP3937679B2 (en) | 2007-06-27 |
Family
ID=27309662
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000088037A Expired - Fee Related JP3937679B2 (en) | 1999-04-09 | 2000-03-28 | Manufacturing method of high frequency module |
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WO2005045859A1 (en) * | 2003-11-05 | 2005-05-19 | Tdk Corporation | Coil device |
US7551053B2 (en) | 2003-11-05 | 2009-06-23 | Tdk Corporation | Coil device |
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WO2005045858A1 (en) * | 2003-11-05 | 2005-05-19 | Tdk Corporation | Coil device |
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|
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