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JP2001236696A - Optical disk master disk exposure method and its device - Google Patents

Optical disk master disk exposure method and its device

Info

Publication number
JP2001236696A
JP2001236696A JP2000041072A JP2000041072A JP2001236696A JP 2001236696 A JP2001236696 A JP 2001236696A JP 2000041072 A JP2000041072 A JP 2000041072A JP 2000041072 A JP2000041072 A JP 2000041072A JP 2001236696 A JP2001236696 A JP 2001236696A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parallelism
mirror
light source
exposure apparatus
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000041072A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masahiro Masuzawa
正弘 升澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2000041072A priority Critical patent/JP2001236696A/en
Publication of JP2001236696A publication Critical patent/JP2001236696A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exposure device for glass master production which can expose the same pit or the same groove shape always on a photoresist film. SOLUTION: In an optical path from a laser light source 1 to an objective lens 11, a beam parallelism correction means 2, a beam parallelism detecting means 4 which detects the parallelism of the emission beam from the correction means, and beam modulators (an AOM 5 for light quantity adjustment and an AOM 8 for the optical modulations) are set. The beam parallelism is corrected by inputting the detection parallelism by the beam parallelism detecting means 4 in the beam parallelism correction means 2, and after treating a collimated beam after the correction by the beam modulator, it is made to condense on the photoresist film 102 formed in the glass base 101 with the adjective lens 11. A pinhole which transmits the central part of the beam from the laser light source can be used for the beam parallelism correction means 2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク製造用
原盤を作製するための露光方法および露光装置に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exposure method and an exposure apparatus for producing a master for manufacturing an optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスク(CD,LD,MO,DV
D)等の光学記録媒体においては、その情報記録層にデ
ータ情報、トラッキングサーボ情報などが記録される位
相ピット、プリグルーブ等の微細凹凸が形成されてい
る。このような微細凹凸を有する光学記録媒体の作製
は、射出成型法あるいは2P法等によって行われる。
2. Description of the Related Art Optical disks (CD, LD, MO, DV)
In an optical recording medium such as D), fine irregularities such as phase pits and pregrooves on which data information, tracking servo information, and the like are recorded are formed on the information recording layer. The production of an optical recording medium having such fine irregularities is performed by an injection molding method, a 2P method, or the like.

【0003】これらの方法においては、最終的に光ディ
スク面に微細凹凸を転写形成するための微細凹凸を有す
るマスタースタンパが使用される。このマスタースタン
パは、基材原盤であるガラス基盤の表面にフォトレジス
トで形成された凹凸を有する光ディスク製造用原盤(ガ
ラス原盤あるいはガラスマスターと呼ばれる)を用いて
作製されるものである。すなわち、上記マスタースタン
パは、ガラス原盤の表面にNi電鋳を施すことにより、
ガラス原盤の凹凸を転写したものである。
In these methods, a master stamper having fine irregularities for finally transferring and forming fine irregularities on the optical disk surface is used. This master stamper is manufactured using an optical disk manufacturing master (referred to as a glass master or a glass master) having irregularities formed of photoresist on the surface of a glass base as a base material master. That is, the master stamper is obtained by subjecting the surface of the glass master to Ni electroforming.
This is a copy of the irregularities on the glass master.

【0004】上記ガラス原盤の作製では、まずガラス基
盤上にフォトレジスト膜を形成し、原盤露光装置でこの
フォトレジスト膜上にレーザビームを照射した後、フォ
トレジスト膜を現像することにより凹凸を形成してい
る。上記原盤露光装置は、露光用のレーザ(Arレー
ザ、Krレーザ等)、レーザの光量を調整する変調器、
露光パターンすなわち記録情報であるピットパターンに
応じて変調を行う変調器、フォトレジスト(膜)上にレ
ーザビームを集光させる対物レンズ等から構成されてい
る。このような原盤露光装置においては、フォトレジス
ト上に集光するレーザビームのスポットサイズやスポッ
ト形状により、ガラス原盤の凹凸の寸法・形状が決定さ
れる。
In the production of the above-mentioned glass master, first, a photoresist film is formed on a glass substrate, a laser beam is irradiated on the photoresist film by a master exposure apparatus, and then the photoresist film is developed to form irregularities. are doing. The master exposure apparatus includes an exposure laser (Ar laser, Kr laser, etc.), a modulator for adjusting the amount of laser light,
It is composed of a modulator that modulates according to an exposure pattern, that is, a pit pattern that is recorded information, an objective lens that focuses a laser beam on a photoresist (film), and the like. In such a master exposure apparatus, the size and shape of the irregularities on the glass master are determined by the spot size and spot shape of the laser beam focused on the photoresist.

【0005】図4はレーザビームの平行度と、その焦点
位置との関係を示す説明図である。この図に示すよう
に、対物レンズ41にコリメートされたレーザビーム
(平行ビーム)L1が入射するときは、ガラス基盤42
上のフォトレジスト膜43上に焦点を結びスポットサイ
ズが最も小さくなる。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the relationship between the parallelism of a laser beam and its focal position. As shown in this figure, when the collimated laser beam (parallel beam) L1 enters the objective lens 41, the glass substrate 42
The spot size is minimized by focusing on the upper photoresist film 43.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】〔従来技術の問題点
1〕ところが図4に併記するように、従来の原盤露光装
置では、収束ビームL2あるいは発散ビームL3が入射
するときには、フォトレジスト膜43上に焦点を結ば
ず、スポットサイズが大きくなる。通常は、スポットサ
イズが最小となるように露光装置本体である露光機の光
学系を調整し、この状態でフォトレジスト膜43の露光
を行う。しかし、レーザビームの平行度がずれて収束あ
るいは発散したレーザビームL2またはL3が対物レン
ズ41に入射すると、形成される凹凸のピット形状が大
きくなる。なお図4において、符号Lcは光軸を示して
いる。
[Problem 1 of Prior Art] However, as also shown in FIG. 4, in the conventional master exposure apparatus, when the convergent beam L2 or the divergent beam L3 is incident, the photoresist film 43 And the spot size increases. Normally, the optical system of the exposure device, which is the main body of the exposure apparatus, is adjusted so as to minimize the spot size, and the photoresist film 43 is exposed in this state. However, when the laser beam L2 or L3 that has converged or diverged due to the deviation of the parallelism of the laser beam is incident on the objective lens 41, the pit shape of the unevenness formed becomes large. Note that, in FIG. 4, reference numeral Lc indicates an optical axis.

【0007】〔従来技術の問題点2〕また、図5に示す
ように、露光パターンすなわち記録情報であるピットパ
ターンに応じて変調(レーザビームの光量調整)を行う
変調器51に入射するレーザビームL11は、この変調
器51の位置でスポットサイズが最小となるように、レ
ンズ52により集光処理される。なお、上記変調器51
としては通常、AOM(Acoustic Optics Modulator
(音響光学変調器))が用いられている。
[Problem 2 with prior art] As shown in FIG. 5, a laser beam incident on a modulator 51 for performing modulation (adjustment of the amount of laser beam) according to an exposure pattern, that is, a pit pattern as recording information. L11 is condensed by the lens 52 so that the spot size is minimized at the position of the modulator 51. Note that the modulator 51
AOM (Acoustic Optics Modulator)
(Acousto-optic modulator)).

【0008】ところが、変調器51の位置でスポットサ
イズが最小とならない場合には、図5に示すように、変
調器51で変調されたレーザビームL12には非点収差
等の歪みが生じる。このような、非点収差等の歪みを有
する不適正なレーザビームL12が対物レンズ53によ
りフォトレジスト上に集光したときのスポット形状は、
非点収差を持たない場合に比べて対称性が低下し、形成
される凹凸のピット形状が悪化する。
However, when the spot size does not become minimum at the position of the modulator 51, as shown in FIG. 5, the laser beam L12 modulated by the modulator 51 is distorted such as astigmatism. The spot shape when such an inappropriate laser beam L12 having distortion such as astigmatism is focused on the photoresist by the objective lens 53 is as follows:
The symmetry is reduced as compared with the case without astigmatism, and the pit shape of the formed unevenness is deteriorated.

【0009】通常、露光装置の初期の調整状態では、レ
ーザビームの平行度はずれていないし、非点収差等の歪
みも持っていない。しかし、経時的に露光用のレーザ
(Arレーザ、Krレーザ等)の調整がずれたり、劣化
が発生したりするので、平行度が自然にずれてくる。そ
うなると、フォトレジスト上に集光するスポットサイズ
が大きくなり、変調器に入射するレーザビームの集光位
置がずれ、スポット形状が劣化する。また、露光用レー
ザのチューブが劣化し、新規のチューブに交換した場
合、交換前後でレーザビームの平行度が異なってくる。
この場合にも、フォトレジスト上に集光するスポットサ
イズが大きくなり、変調器に入射するレーザビームの集
光位置がずれてスポット形状が劣化する。
Usually, in the initial adjustment state of the exposure apparatus, the parallelism of the laser beam is not deviated, and there is no distortion such as astigmatism. However, the adjustment of the exposure laser (Ar laser, Kr laser, etc.) is deviated or deteriorated with time, so that the parallelism naturally deviates. Then, the size of the spot focused on the photoresist becomes large, the focusing position of the laser beam incident on the modulator shifts, and the spot shape deteriorates. In addition, when the tube of the exposure laser is deteriorated and replaced with a new tube, the parallelism of the laser beam differs before and after the replacement.
Also in this case, the spot size condensed on the photoresist increases, and the converging position of the laser beam incident on the modulator shifts, deteriorating the spot shape.

【0010】特に昨今、光学記録媒体の高密度化が進
み、DVD等の光ディスクにおいては、従来のCDが有
する容量の約4倍の高密度化がなされている。したがっ
て、ガラス原盤上に形成する、フォトレジスト膜による
凹凸も微細なものが要求されるので、上記のようなスポ
ットサイズの大径化やスポット形状の劣化は特に問題と
なる。
Particularly, in recent years, the density of an optical recording medium has been increased, and the density of an optical disk such as a DVD has been increased to about four times the capacity of a conventional CD. Therefore, it is required that the unevenness due to the photoresist film formed on the glass master is also fine, so that the increase in the spot size and the deterioration of the spot shape as described above are particularly problematic.

【0011】本発明は、従来技術の上記問題点を検討し
てなされたもので、その目的は、常に同じ平行度のビー
ムに調整することにより、常に同一ピットあるいは同一
グルーブ形状を露光することができる、光ディスク製造
用原盤を作製するための露光方法および露光装置を提供
することにある。
The present invention has been made in consideration of the above-mentioned problems of the prior art. An object of the present invention is to always adjust the beam to have the same parallelism so that the same pit or the same groove shape is always exposed. An object of the present invention is to provide an exposure method and an exposure apparatus for producing a master for manufacturing an optical disk.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の光ディ
スク原盤露光方法は、基材原盤に形成したフォトレジス
ト膜上に記録用レーザ光源からのビームを、対物レンズ
で集光させることにより情報記録パターンを形成する光
ディスク原盤の露光方法において、前記レーザ光源から
ビームの平行度を検出し、該検出平行度が所定値よりも
低いときには、これを所定値に補正し、該補正後のビー
ムを前記対物レンズによりフォトレジスト膜上に集光さ
せることを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for exposing an optical disc master, wherein a beam from a recording laser light source is condensed by an objective lens onto a photoresist film formed on a base master. In the method of exposing a master optical disc for forming a recording pattern, parallelism of a beam is detected from the laser light source, and when the detected parallelism is lower than a predetermined value, this is corrected to a predetermined value. Light is condensed on a photoresist film by the objective lens.

【0013】請求項2に記載の光ディスク原盤露光装置
は、基材原盤に形成したフォトレジスト膜上に記録用レ
ーザ光源からのビームを、対物レンズで集光させること
により情報記録パターンを形成するようにした光ディス
ク原盤の露光装置において、前記レーザ光源から前記対
物レンズに至る光路中に、ビーム平行度補正手段と、該
補正手段からの出射ビームの平行度を検出するビーム平
行度検出手段と、ビーム変調器とを設け、ビーム平行度
検出手段による検出平行度をビーム平行度補正手段に入
力することにより前記ビームの平行度を補正し、該補正
後の平行ビームを前記ビーム変調器で処理した後、前記
対物レンズによりフォトレジスト膜上に集光させるよう
にしたことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided an optical disc master exposing apparatus for forming an information recording pattern by condensing a beam from a recording laser light source on a photoresist film formed on a base master by an objective lens. An optical disc master exposure apparatus, comprising: a beam parallelism correction unit, a beam parallelism detection unit that detects a parallelism of a beam emitted from the correction unit, in an optical path from the laser light source to the objective lens, And a modulator for correcting the parallelism of the beam by inputting the parallelism detected by the beam parallelism detecting means to the beam parallelism correcting means, and processing the corrected parallel beam by the beam modulator. The objective lens focuses light on the photoresist film.

【0014】請求項3に記載の光ディスク原盤露光装置
は、請求項2において、前記ビーム平行度補正手段のビ
ーム出射側に部分透過ミラーと、該部分透過ミラーの反
射光側に前記ビーム変調器と、前記部分透過ミラーの透
過光側に前記ビーム平行度検出手段とが配備され、該ビ
ーム平行度検出手段はハーフミラーと、該ハーフミラー
の透過光側に設けた第1のビーム径検出センサーと、前
記ハーフミラーの反射光側に設けた第2のビーム径検出
のセンサーとを設けるとともに、前記第1のセンサーと
前記第2のセンサーとでは、前記ハーフミラーからの光
路上の距離を異ならしめて(光路長に差を設けて)構成
され、これら第1および第2のセンサーで測定されるビ
ーム径により前記レーザ光源からのビームの平行度を検
出するようにしたことを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided an optical disk master exposure apparatus according to the second aspect, further comprising: a partially transmitting mirror on a beam emitting side of the beam parallelism correcting means; and a beam modulator on a reflected light side of the partially transmitting mirror. The beam parallelism detecting means is provided on the transmitted light side of the partially transmitting mirror, the beam parallelism detecting means is a half mirror, and a first beam diameter detection sensor provided on the transmitted light side of the half mirror. A second beam diameter detection sensor provided on the reflected light side of the half mirror, and the first sensor and the second sensor having different distances on the optical path from the half mirror. (With a difference in optical path length), and the parallelism of the beam from the laser light source is detected by the beam diameter measured by the first and second sensors. And wherein the door.

【0015】請求項4に記載の光ディスク原盤露光装置
は、請求項2において、前記ビーム平行度補正手段のビ
ーム出射側に部分透過ミラーと、該部分透過ミラーの反
射光側に前記ビーム変調器と、前記部分透過ミラーの透
過光側に前記ビーム平行度検出手段とが配備され、該ビ
ーム平行度検出手段は、前記部分透過ミラーの透過光側
に設けた1枚の凸レンズと、該凸レンズの出射光側に、
かつその焦点位置に設けたビーム径検出センサーとによ
り構成され、該ビーム径検出センサーで測定されるビー
ム径により前記レーザ光源からのビームの平行度を検出
するようにしたことを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an optical disk master exposure apparatus according to the second aspect, further comprising: a partial transmission mirror on a beam emission side of the beam parallelism correction means; and a beam modulator on a reflected light side of the partial transmission mirror. The beam parallelism detecting means is provided on the transmitted light side of the partially transmitting mirror, and the beam parallelism detecting means includes one convex lens provided on the transmitted light side of the partially transmitting mirror, and an output of the convex lens. On the emitting side,
And a beam diameter detection sensor provided at the focal position, wherein the parallelism of the beam from the laser light source is detected based on the beam diameter measured by the beam diameter detection sensor.

【0016】請求項5に記載の光ディスク原盤露光装置
は、請求項3または4において、前記ビーム平行度補正
手段が、前記レーザ光源からのビームの中心部分を透過
させる貫通孔(ピンホール)であって、その開口径を調
整することによりビーム平行度を補正するものであるこ
とを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the optical disc master exposing apparatus according to the third or fourth aspect, the beam parallelism correcting means is a through-hole (pinhole) for transmitting a central portion of a beam from the laser light source. The beam parallelism is corrected by adjusting the aperture diameter.

【0017】請求項6に記載の光ディスク原盤露光装置
は、請求項3または4において、前記ビーム平行度補正
手段が2枚の凸レンズからなり、これらの凸レンズは、
光軸(凸レンズの中心軸)が前記レーザ光源からのビー
ムの中心軸と一致するように設置され、これら凸レンズ
間の距離を調整することによりビーム平行度を補正する
ものであることを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in the optical disc master exposure apparatus according to the third or fourth aspect, the beam parallelism correcting means comprises two convex lenses, and these convex lenses are
The optical axis (the central axis of the convex lens) is installed so as to coincide with the central axis of the beam from the laser light source, and the beam parallelism is corrected by adjusting the distance between these convex lenses. .

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】つぎに、本発明の実施の形態につ
いて、図面をもとに説明する。 第1の実施の形態 図1は請求項2に記載の発明に係る光ディスク原盤露光
装置の構成と、これを用いる、請求項1に記載の発明に
係る露光方法を示す説明図である。図1に示すように、
レーザ光源(レーザ)1の出射光側にビーム平行度補正
手段2と、部分透過ミラー3とをこの順に設け、この部
分透過ミラー3の透過光側にビーム平行度検出手段4を
設ける。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First Embodiment FIG. 1 is an explanatory view showing a configuration of an optical disk master exposure apparatus according to the second aspect of the present invention and an exposure method according to the first aspect of the present invention using the same. As shown in FIG.
A beam parallelism correction means 2 and a partial transmission mirror 3 are provided in this order on the emission light side of a laser light source (laser) 1, and a beam parallelism detection means 4 is provided on the transmission light side of the partial transmission mirror 3.

【0019】上記部分透過ミラー3の反射光側に光量調
整用のAOM(Acoustic Optics Modulator )と、第1
ミラー(平面鏡)6とをこの順に設ける。また、この第
1ミラー(平面鏡)6の反射光側に第1レンズ7と、光
変調用AOM8と、第2レンズ9と、第2ミラー(平面
鏡)10とをこの順に設ける。さらに、この第2ミラー
10の反射光側に対物レンズ11を設ける。図1におい
て、符号101はガラス基盤、符号102はフォトレジ
スト膜である。
An AOM (Acoustic Optics Modulator) for adjusting the amount of light is provided on the reflected light side of the partial transmission mirror 3.
A mirror (plane mirror) 6 is provided in this order. A first lens 7, a light modulation AOM 8, a second lens 9, and a second mirror (plane mirror) 10 are provided in this order on the reflected light side of the first mirror (plane mirror) 6. Further, an objective lens 11 is provided on the reflected light side of the second mirror 10. In FIG. 1, reference numeral 101 denotes a glass substrate, and reference numeral 102 denotes a photoresist film.

【0020】このように構成された露光装置の作用を説
明すると、レーザ1から出たレーザビームLB1はビー
ム平行度補正手段2を通過し、部分透過ミラー3で反射
する。部分透過ミラー3では、殆ど(例えば99%)の
レーザビームが反射(LB2)し、一部分が透過する。
The operation of the exposure apparatus thus constructed will be described. The laser beam LB1 emitted from the laser 1 passes through the beam parallelism correcting means 2 and is reflected by the partially transmitting mirror 3. At the partially transmitting mirror 3, most (for example, 99%) of the laser beam is reflected (LB2), and a part of the laser beam is transmitted.

【0021】部分透過ミラー3からの反射光LB2は、
光量調整用AOM5により必要な光量に減衰する。この
光量調整用AOM5を通過したレーザビームは、第1ミ
ラー6で反射し、第1レンズ7により集光して光変調用
AOM8へ入射し、記録情報すなわちピットパターンに
変調される。光変調用AOM8を通過したレーザビーム
は、第2レンズ9により平行ビームに戻され、第2ミラ
ー10で反射し、対物レンズ11によりフォトレジスト
膜102上に集光して露光が行われる。一方、部分透過
ミラー3からの透過ビームLB3は、ビーム平行度検出
手段4に向かう。
The reflected light LB2 from the partially transmitting mirror 3 is
The light is attenuated to a required light amount by the light amount adjusting AOM 5. The laser beam that has passed through the light amount adjusting AOM 5 is reflected by the first mirror 6, condensed by the first lens 7, and then enters the light modulating AOM 8, where it is modulated into recording information, that is, a pit pattern. The laser beam that has passed through the light modulation AOM 8 is returned to a parallel beam by the second lens 9, reflected by the second mirror 10, condensed on the photoresist film 102 by the objective lens 11, and exposed. On the other hand, the transmitted beam LB3 from the partially transmitting mirror 3 travels to the beam parallelism detecting means 4.

【0022】上記露光工程においては、レーザ1から出
たレーザビームLB1の平行度が常時、ビーム平行度検
出手段4により検出され、この検出データがビーム平行
度補正手段2に入力され(フィードバック)される。こ
の場合において、レーザ1から出たレーザビームLB1
が所定の平行度を有する平行ビームである間は、ビーム
平行度補正手段2によるビーム平行度の補正は行われな
い。これに対し、レーザビームLB1の平行度が所定値
からずれてきたときには、ビーム平行度補正手段2によ
り自動的に、所定の平行度に補正される。
In the above exposure step, the parallelism of the laser beam LB1 emitted from the laser 1 is always detected by the beam parallelism detecting means 4, and this detection data is input to the beam parallelism correcting means 2 (feedback). You. In this case, the laser beam LB1 emitted from the laser 1
Is a parallel beam having a predetermined degree of parallelism, the beam parallelism correcting means 2 does not correct the beam parallelism. On the other hand, when the parallelism of the laser beam LB1 deviates from a predetermined value, the laser beam LB1 is automatically corrected to a predetermined parallelism by the beam parallelism correcting means 2.

【0023】このように、上記露光装置では、レーザ1
からのレーザビームLB1のビーム平行度が所定値から
ずれたときに、自動的に平行ビームに戻すことができ、
したがって、露光工程にあっては常に、フォトレジスト
膜102上に集光するスポットサイズおよび、スポット
形状を一定に維持することができる。
As described above, in the above exposure apparatus, the laser 1
When the beam parallelism of the laser beam LB1 from the laser beam deviates from a predetermined value, it can be automatically returned to the parallel beam,
Therefore, in the exposure step, the spot size and the spot shape condensed on the photoresist film 102 can be constantly maintained.

【0024】第2の実施の形態 図2は、請求項3の発明に係る光ディスク原盤露光装置
の構成説明図である。この露光装置は、ビーム平行度補
正手段2のレーザビーム出射側に部分透過ミラー3と、
この部分透過ミラー3の反射光側に、第1の実施の形態
と同一の要素である光量調整用AOM乃至対物レンズ
(図示せず)を配備するとともに、部分透過ミラー3の
透過光側に下記構成のビーム平行度検出手段4aを設け
たものである。
Second Embodiment FIG. 2 is an explanatory view of the configuration of an optical disk master exposure apparatus according to a third aspect of the present invention. This exposure apparatus includes a partially transmitting mirror 3 on the laser beam emission side of the beam parallelism correcting means 2,
On the reflected light side of the partially transmitting mirror 3, an AOM or an objective lens (not shown) for adjusting the amount of light, which is the same element as in the first embodiment, is provided. The beam parallelism detecting means 4a having the above configuration is provided.

【0025】すなわち、上記ビーム平行度検出手段4a
はハーフミラー21と、このハーフミラー21の透過光
側に第1のビーム径検出センサー22と、ハーフミラー
21の反射光側に第2のビーム径検出センサー23とを
設けて構成する。この場合、上記第1のセンサー22と
上記第2のセンサー23とでは、ハーフミラー21から
の光路上の距離を異ならしめる(光路長に差をつけ
る)。
That is, the beam parallelism detecting means 4a
Comprises a half mirror 21, a first beam diameter detection sensor 22 on the transmitted light side of the half mirror 21, and a second beam diameter detection sensor 23 on the reflected light side of the half mirror 21. In this case, the distance between the first sensor 22 and the second sensor 23 on the optical path from the half mirror 21 is made different (the optical path length is made different).

【0026】この露光装置において、部分透過ミラー3
を透過したレーザビームは、ハーフミラー21で2分割
される。この場合、第1センサー22はハーフミラー2
1からの距離が短い位置に設置され、第2センサー23
はハーフミラー21からの距離が長い位置に設置されて
いる。このように第1、第2センサー22と23とでは
ハーフミラー21からの光路長が異なるので、ビーム平
行度が正規の値からずれたときには、これらのセンサー
22,23で検出されるレーザビームの直径に差が生じ
る。また、これらのセンサーで検出されるレーザビーム
の直径が互いに等しいときには、レーザビームの平行度
が正規の値(正常なビーム平行度)となっている。
In this exposure apparatus, the partially transmitting mirror 3
Is split into two by the half mirror 21. In this case, the first sensor 22 is the half mirror 2
The second sensor 23 is installed at a position where the distance from
Is installed at a position where the distance from the half mirror 21 is long. As described above, since the first and second sensors 22 and 23 have different optical path lengths from the half mirror 21, when the beam parallelism deviates from a normal value, the laser beams detected by these sensors 22 and 23 are changed. There is a difference in diameter. When the diameters of the laser beams detected by these sensors are equal to each other, the parallelism of the laser beams has a normal value (normal beam parallelism).

【0027】第3の実施の形態 図3は、請求項4の発明に係る光ディスク原盤露光装置
の構成説明図である。この露光装置は、ビーム平行度補
正手段2のレーザビーム出射側に部分透過ミラー3と、
この部分透過ミラー3の反射光側に、第1の実施の形態
と同一の要素である光量調整用AOM乃至対物レンズ
(図示せず)を配備するとともに、部分透過ミラー3の
透過光側に、下記構成のビーム平行度検出手段4bを設
けたものである。
Third Embodiment FIG. 3 is an explanatory view of a configuration of an optical disk master exposure apparatus according to a fourth aspect of the present invention. This exposure apparatus includes a partially transmitting mirror 3 on the laser beam emission side of the beam parallelism correcting means 2,
On the reflected light side of the partial transmission mirror 3, an AOM or an objective lens (not shown) for adjusting the amount of light, which is the same element as in the first embodiment, is provided. A beam parallelism detecting means 4b having the following configuration is provided.

【0028】すなわち、上記ビーム平行度検出手段4b
は、部分透過ミラーの透過光側に設けた1枚の凸レンズ
31と、この凸レンズ31の出射光側に、かつその焦点
位置に設けたビーム径検出センサー32とで構成する。
That is, the beam parallelism detecting means 4b
Is composed of one convex lens 31 provided on the transmitted light side of the partially transmitting mirror, and a beam diameter detection sensor 32 provided on the outgoing light side of the convex lens 31 and at its focal position.

【0029】この露光装置では、部分透過ミラー3を透
過したレーザビームは、凸レンズ31により、ビーム径
検出センサー32に向かって集光する。この場合におい
て、レーザビームの平行度がずれているときは、レーザ
ビームが凸レンズ31の焦点位置で集光しない。これに
対し、レーザビームの平行度が合っているときは、凸レ
ンズ31の焦点位置(センサー32の位置)でレーザビ
ームが集光する。したがって、センサー32で検出され
るレーザビームの直径が最小になるときは、レーザビー
ムの平行度が合っているときである。この実施の形態に
おいてビーム平行度の検出精度を上げるには、凸レンズ
31として焦点距離が短いものを用いることが望まし
い。焦点距離が短いほうが焦点深度が浅くなるため、ビ
ーム平行度の僅かなずれを検出することができるからで
ある。
In this exposure apparatus, the laser beam transmitted through the partially transmitting mirror 3 is focused by a convex lens 31 toward a beam diameter detection sensor 32. In this case, when the parallelism of the laser beam is deviated, the laser beam does not converge at the focal position of the convex lens 31. On the other hand, when the parallelism of the laser beam is correct, the laser beam is focused at the focal position of the convex lens 31 (the position of the sensor 32). Therefore, the time when the diameter of the laser beam detected by the sensor 32 is minimized is when the parallelism of the laser beams is matched. In this embodiment, in order to improve the detection accuracy of the beam parallelism, it is desirable to use a convex lens 31 having a short focal length. This is because the shorter the focal length, the shallower the focal depth, so that a slight shift in the beam parallelism can be detected.

【0030】第4の実施の形態 本実施の形態は請求項5の発明に係るもので、この露光
装置では、ビーム平行度補正手段2(図1参照)とし
て、レーザ1からのレーザビームLB1の中心部分を透
過させる、開口径の微調整が可能なピンホールを設け
る。
Fourth Embodiment The present embodiment is directed to a fifth aspect of the present invention. In this exposure apparatus, the beam parallelism correcting means 2 (see FIG. 1) of the laser beam LB1 from the laser 1 is used. A pinhole that allows the central portion to pass through and allows fine adjustment of the opening diameter is provided.

【0031】この露光装置では、レーザビームLB1が
上記ピンホールを通過する際、ピンホールがこのレーザ
ビームの外周部を遮断し、内周部のみを透過させること
により、その平行度を調整する。ただし、ピンホールが
ある径以下になると、レーザビームの平行度はそれ以上
良くならず、レーザビームの強度が低下するのみであ
る。このように、ピンホールの径には最適値が存在する
ので、ビーム平行度検出手段により最適値を決めるべき
である。なお、ピンホールとしては、いろいろな径のも
のを何種類か用意しても良いし、径の増減が可能なピン
ホールを設けても良いが、後者のほうが好ましく、径の
調整を簡単に行える利点がある。
In this exposure apparatus, when the laser beam LB1 passes through the pinhole, the pinhole blocks the outer peripheral portion of the laser beam and transmits only the inner peripheral portion, thereby adjusting the parallelism. However, when the diameter of the pinhole becomes smaller than a certain diameter, the parallelism of the laser beam is not further improved, and only the intensity of the laser beam is reduced. As described above, since there is an optimum value for the diameter of the pinhole, the optimum value should be determined by the beam parallelism detecting means. In addition, as the pinhole, several types having various diameters may be prepared, or a pinhole capable of increasing or decreasing the diameter may be provided, but the latter is preferable, and the diameter can be easily adjusted. There are advantages.

【0032】第5の実施の形態 本実施の形態は請求項6の発明に係るもので、この露光
装置(図1参照)では、2枚の凸レンズをその光軸(凸
レンズの中心軸)がレーザ1からのレーザビームの中心
軸と一致するように設置することにより、ビーム平行度
補正手段2を構成する。また、これら凸レンズの一方ま
たは双方を、その光軸方向に移動させることができる移
動台の上に設置する。さらに、上記移動台の移動制御機
構をビーム平行度検出手段4に連絡させ、ビーム平行度
の検出データを上記移動制御機構に入力することによ
り、2枚の凸レンズ間距離を最適値に微調整できるよう
にする。
Fifth Embodiment The present embodiment is directed to a sixth aspect of the present invention. In this exposure apparatus (see FIG. 1), two convex lenses are arranged such that their optical axes (the central axes of the convex lenses) are lasers. The beam parallelism correcting means 2 is configured by being installed so as to coincide with the central axis of the laser beam from No. 1. In addition, one or both of these convex lenses is installed on a movable table that can be moved in the optical axis direction. Further, the movement control mechanism of the movable table is connected to the beam parallelism detection means 4 and the detection data of the beam parallelism is input to the movement control mechanism, whereby the distance between the two convex lenses can be finely adjusted to an optimum value. To do.

【0033】この露光装置においては、レーザ1から出
たレーザビームLB1は2枚の凸レンズを通過するが、
この場合、これら2枚の凸レンズ間距離を適宜に増減す
ることにより、ビーム平行度が所定値に調整される。こ
の凸レンズ間距離はビーム平行度検出手段および上記移
動台の移動制御機構により、レーザビームが平行になる
ように制御される。これら2枚の凸レンズでは、その焦
点距離が長いほど焦点深度が深くなるので、凸レンズ間
距離の調整が簡単になる。なお、レーザからのレーザビ
ームの中心軸と2枚の凸レンズの光軸とが一致しない場
合には、2枚のレンズ間距離を変えるとレーザビームの
出射方向が変わる不具合がある。
In this exposure apparatus, the laser beam LB1 emitted from the laser 1 passes through two convex lenses.
In this case, the beam parallelism is adjusted to a predetermined value by appropriately increasing or decreasing the distance between these two convex lenses. The distance between the convex lenses is controlled by the beam parallelism detecting means and the movement control mechanism of the movable table so that the laser beams become parallel. With these two convex lenses, the longer the focal length, the deeper the focal depth, so that the adjustment of the distance between the convex lenses becomes easier. If the center axis of the laser beam from the laser does not coincide with the optical axis of the two convex lenses, changing the distance between the two lenses may cause a change in the emission direction of the laser beam.

【0034】[0034]

【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて更に具体的
に説明する。 実施例1(請求項5:図1、図2を参照) Arレーザから出射したレーザビームを、このレーザビ
ーム径よりも充分大きいピンホールの中心を通過させ
た。この通過光の殆どを、透過率99%の部分透過ミラ
ーを透過させ、この透過レーザビームをハーフミラーで
2分割し、市販の2個のスポットサイズ検出器を用い
て、これらレーザビームの径を測定した。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described more specifically based on examples. Example 1 (Claim 5: See FIGS. 1 and 2) A laser beam emitted from an Ar laser was passed through the center of a pinhole sufficiently larger than the laser beam diameter. Most of the transmitted light is transmitted through a partially transmitting mirror having a transmittance of 99%, the transmitted laser beam is split into two by a half mirror, and the diameter of these laser beams is reduced using two commercially available spot size detectors. It was measured.

【0035】上記2個のスポットサイズ検出器は、それ
ぞれ上記ハーフミラーから10cm、1m離れた位置に
設置し、光路長の差を90cm程度にした。測定された
スポット径は、両方とも1800μm程度であった。こ
の時点では、レーザビームの平行度が合っており、露光
されたピットパターンの最小幅は0.4μm程度であっ
た。
The two spot size detectors were respectively installed at positions 10 cm and 1 m away from the half mirror, and the difference in optical path length was about 90 cm. The measured spot diameter was about 1800 μm in both cases. At this point, the parallelism of the laser beam was matched, and the minimum width of the exposed pit pattern was about 0.4 μm.

【0036】ところが、時間が経過するとArレーザの
調整にずれが発生し、レーザビームの平行度がずれるよ
うになった。ずれたときの測定スポット径は、例えばそ
れぞれ1850μm、1950μm程度であり、露光さ
れたピットパターンの最小幅は0.45μm程度となっ
た。そこで、ピンホール径を1.7mmに縮小した結
果、レーザビームの平行度が良くなり、露光されたピッ
トパターンの最小幅を0.4μm程度に戻すことができ
た。
However, as the time elapses, a shift occurs in the adjustment of the Ar laser, and the parallelism of the laser beam shifts. The measured spot diameters at the time of deviation are, for example, about 1850 μm and 1950 μm, respectively, and the minimum width of the exposed pit pattern is about 0.45 μm. Then, as a result of reducing the pinhole diameter to 1.7 mm, the parallelism of the laser beam was improved, and the minimum width of the exposed pit pattern could be returned to about 0.4 μm.

【0037】実施例2(請求項6、図1を参照) Arレーザから出射したレーザビームを焦点距離100
mmの2枚の凸レンズを通過させた。このとき、Arレ
ーザから出たレーザビームの中心軸と2枚の凸レンズの
光軸が一致するようした。透過率99%の部分透過ミラ
ーを透過したレーザビームをオートコリメータ等の、平
行度を正確に検出できる装置で観察し、2枚の凸レンズ
間の距離をレーザビームの平行度が合うように調整し
た。
Embodiment 2 (refer to claim 6 and FIG. 1) A laser beam emitted from an Ar laser has a focal length of 100 mm.
2 mm convex lenses. At this time, the central axis of the laser beam emitted from the Ar laser was made to coincide with the optical axes of the two convex lenses. The laser beam transmitted through the partially transmitting mirror having a transmittance of 99% was observed with a device such as an autocollimator capable of accurately detecting the parallelism, and the distance between the two convex lenses was adjusted so that the parallelism of the laser beam was matched. .

【0038】つぎに、上記オートコリメータを取り外
し、焦点距離が30mmの凸レンズと、市販のCCDカ
メラを設置した。このときCCDカメラで観察できるス
ポット径が最も小さくなるように、上記凸レンズとCC
Dカメラの距離を正確に設定した。このとき測定された
スポット径は100μm程度であった。この時点では、
レーザビームの平行度が合っており、露光されたピット
パターンの最小幅は0.4μm程度であった。
Next, the autocollimator was removed, and a convex lens having a focal length of 30 mm and a commercially available CCD camera were installed. At this time, the convex lens and the CC are so arranged that the spot diameter observable by the CCD camera is minimized.
The distance of the D camera was set correctly. The spot diameter measured at this time was about 100 μm. At this point,
The parallelism of the laser beam was matched, and the minimum width of the exposed pit pattern was about 0.4 μm.

【0039】しかしながら、時間が経過するとArレー
ザに調整にずれが発生し、レーザビームの平行度がずれ
るようになった。ずれたときの測定スポット径は、例え
ば120μm程度であり、露光されたピットパターンの
最小幅は0.45μm程度であった。このとき、2枚の
凸レンズ間の距離を測定スポット径が最も小さくなるよ
うに調整することにより、レーザビームの平行度が良く
なり、露光されたピットパターンの最小幅を0.4μm
程度に戻すことができた。
However, as time elapses, the adjustment of the Ar laser is shifted, and the parallelism of the laser beam is shifted. The measured spot diameter at the time of displacement was, for example, about 120 μm, and the minimum width of the exposed pit pattern was about 0.45 μm. At this time, the parallelism of the laser beam is improved by adjusting the distance between the two convex lenses so as to minimize the measured spot diameter, and the minimum width of the exposed pit pattern is set to 0.4 μm.
It was able to return to the degree.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば以下の効果が得られる。 (1)請求項1の光ディスク原盤露光方法による効果:
検出したレーザビームの平行度が所定値よりも低いとき
には、これを所定値に補正し、補正後のビームをフォト
レジスト膜上に集光させるようにしたから、常に平行度
が良好なビームで露光することができるので、常に同じ
形状・寸法のピットあるいはグルーブをフォトレジスト
膜上に記録することが可能となる。
As apparent from the above description, the following effects can be obtained according to the present invention. (1) Effects of the optical disk master exposure method of claim 1:
When the parallelism of the detected laser beam is lower than a predetermined value, it is corrected to a predetermined value, and the corrected beam is focused on the photoresist film. Therefore, pits or grooves having the same shape and dimensions can always be recorded on the photoresist film.

【0041】(2)請求項2の光ディスク原盤露光装置
による効果:ビーム平行度補正手段と、この補正手段か
らの出射ビームの平行度を検出するビーム平行度検出手
段と、ビーム変調器とを設け、ビーム平行度検出手段に
よる検出平行度をビーム平行度補正手段に入力すること
によりビームの平行度を補正し、補正後の平行ビームを
ビーム変調器で処理した後、フォトレジスト膜上に集光
させるようにしたから、常に平行度が良好なビームで露
光することができるので、常に同じ形状・寸法のピット
あるいはグルーブをフォトレジスト膜上に記録すること
が可能となる。
(2) Effect of the optical disk master exposure apparatus according to the second aspect: beam parallelism correcting means, beam parallelism detecting means for detecting parallelism of a beam emitted from the correcting means, and a beam modulator. The parallelism of the beam is corrected by inputting the parallelism detected by the beam parallelism detecting means to the beam parallelism correcting means, and the corrected parallel beam is processed by a beam modulator, and then focused on a photoresist film. Since it is possible to always perform exposure with a beam having good parallelism, pits or grooves having the same shape and dimensions can be always recorded on the photoresist film.

【0042】(3)請求項3の光ディスク原盤露光装置
による効果:第1および第2のセンサーで測定されるビ
ーム径によりレーザ光源からのビームの平行度を検出す
るようにしたから、常に平行度が良好なビームで露光す
ることができ、常に同じ形状・寸法のピットあるいはグ
ルーブをフォトレジスト膜上に記録することが可能とな
る。
(3) Advantage of the optical disk master exposure apparatus according to the third aspect: Since the parallelism of the beam from the laser light source is detected based on the beam diameter measured by the first and second sensors, the parallelism is always maintained. Pits or grooves having the same shape and dimensions can always be recorded on the photoresist film.

【0043】(4)請求項4の光ディスク原盤露光装置
による効果:凸レンズと、この凸レンズの焦点位置に設
けたビーム径検出センサーとによりレーザ光源からのビ
ームの平行度を検出するようにしたから、常に平行度が
良好なビームで露光することができ、常に同じ形状・寸
法のピットあるいはグルーブをフォトレジスト膜上に記
録することが可能となる。
(4) Advantage of the optical disk master exposure apparatus according to claim 4: The parallelism of the beam from the laser light source is detected by the convex lens and the beam diameter detection sensor provided at the focal position of the convex lens. Exposure can always be performed with a beam having good parallelism, and pits or grooves having the same shape and dimensions can always be recorded on the photoresist film.

【0044】(5)請求項5の光ディスク原盤露光装置
による効果:レーザ光源からのビームを、ピンホールで
絞ることによりビーム平行度を補正するようにしたか
ら、極めて簡単な構成によって常に平行度が良好なビー
ムが得られ、常に同じ形状・寸法のピットあるいはグル
ーブをフォトレジスト膜上に記録することができる。
(5) Effect of the optical disk master exposure apparatus of claim 5: Since the beam parallelism is corrected by narrowing the beam from the laser light source with a pinhole, the parallelism is always kept by an extremely simple configuration. A good beam is obtained, and pits or grooves having the same shape and dimensions can always be recorded on the photoresist film.

【0045】(6)請求項6の光ディスク原盤露光装置
による効果:2枚の凸レンズを設け、これら凸レンズ間
の距離を調整することによりビーム平行度を補正するよ
うにしたから、簡単な構成によって常に平行度が良好な
ビームが得られ、常に同じ形状・寸法のピットあるいは
グルーブをフォトレジスト膜上に記録することができ
る。
(6) Advantage of the optical disk master exposure apparatus according to claim 6: Two convex lenses are provided, and the beam parallelism is corrected by adjusting the distance between the convex lenses. A beam with good parallelism is obtained, and pits or grooves having the same shape and dimensions can always be recorded on the photoresist film.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す説明図であ
る。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施の形態を示す説明図であ
る。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施の形態を示す説明図であ
る。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a third embodiment of the present invention.

【図4】従来技術の問題点1の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of Problem 1 of the related art.

【図5】従来技術の問題点2の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of Problem 2 of the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ光源(レーザ) 2 ビーム平行度補正手段 3 部分透過ミラー 4 ビーム平行度検出手段 4a ビーム平行度検出手段 4b ビーム平行度検出手段 5 光量調整用AOM 6 第1ミラー(平面鏡) 7 第1レンズ 8 光変調用AOM 9 第2レンズ 10 第2ミラー(平面鏡) 11 対物レンズ 21 ハーフミラー 22 第1のビーム径検出センサー 23 第2のビーム径検出センサー 31 凸レンズ 32 ビーム径検出センサー 41 対物レンズ 42 ガラス基盤 43 フォトレジスト膜 51 変調器 52 レンズ 53 対物レンズ 101 ガラス基盤 102 フォトレジスト膜 L1 平行ビーム L2 収束ビーム L3 発散ビーム L11 レーザビーム L12 レーザビーム LB1 レーザビーム LB2 反射ビーム LB3 透過ビーム Lc 光軸 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser light source (laser) 2 Beam parallelism correction means 3 Partial transmission mirror 4 Beam parallelism detection means 4a Beam parallelism detection means 4b Beam parallelism detection means 5 AOM for light quantity adjustment 6 First mirror (plane mirror) 7 First lens Reference Signs List 8 AOM for light modulation 9 Second lens 10 Second mirror (plane mirror) 11 Objective lens 21 Half mirror 22 First beam diameter detection sensor 23 Second beam diameter detection sensor 31 Convex lens 32 Beam diameter detection sensor 41 Objective lens 42 Glass Base 43 Photoresist film 51 Modulator 52 Lens 53 Objective lens 101 Glass base 102 Photoresist film L1 Parallel beam L2 Convergent beam L3 Divergent beam L11 Laser beam L12 Laser beam LB1 Laser beam LB2 Reflected beam LB3 Transmitted beam Lc Optical axis

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基材原盤に形成したフォトレジスト膜上
に記録用レーザ光源からのビームを、対物レンズで集光
させることにより情報記録パターンを形成する光ディス
ク原盤の露光方法において、前記レーザ光源からビーム
の平行度を検出し、該検出平行度が所定値よりも低いと
きには、これを所定値に補正し、該補正後のビームを前
記対物レンズによりフォトレジスト膜上に集光させるこ
とを特徴とする光ディスク原盤露光方法。
An exposure method for an optical disk master for forming an information recording pattern by condensing a beam from a recording laser light source on a photoresist film formed on a base material master with an objective lens. Detecting the parallelism of the beam, correcting the beam to a predetermined value when the detected parallelism is lower than a predetermined value, and condensing the corrected beam on a photoresist film by the objective lens. Optical disc master exposure method.
【請求項2】 基材原盤に形成したフォトレジスト膜上
に記録用レーザ光源からのビームを、対物レンズで集光
させることにより情報記録パターンを形成するようにし
た光ディスク原盤の露光装置において、前記レーザ光源
から前記対物レンズに至る光路中に、ビーム平行度補正
手段と、該補正手段からの出射ビームの平行度を検出す
るビーム平行度検出手段と、ビーム変調器とを設け、ビ
ーム平行度検出手段による検出平行度をビーム平行度補
正手段に入力することにより前記ビームの平行度を補正
し、該補正後の平行ビームを前記ビーム変調器で処理し
た後、前記対物レンズによりフォトレジスト膜上に集光
させるようにしたことを特徴とする光ディスク原盤露光
装置。
2. An exposure apparatus for a master optical disc, wherein an information recording pattern is formed by converging a beam from a recording laser light source on a photoresist film formed on a master substrate by an objective lens. Beam parallelism correcting means, a beam parallelism detecting means for detecting parallelism of a beam emitted from the correcting means, and a beam modulator in an optical path from a laser light source to the objective lens; The parallelism of the beam is corrected by inputting the parallelism detected by the means to the beam parallelism correction means, and the corrected parallel beam is processed by the beam modulator, and then is placed on a photoresist film by the objective lens. An optical disk master exposure apparatus characterized in that light is condensed.
【請求項3】 前記ビーム平行度補正手段のビーム出射
側に部分透過ミラーと、該部分透過ミラーの反射光側に
前記ビーム変調器と、前記部分透過ミラーの透過光側に
前記ビーム平行度検出手段とが配備され、該ビーム平行
度検出手段はハーフミラーと、該ハーフミラーの透過光
側に設けた第1のビーム径検出センサーと、前記ハーフ
ミラーの反射光側に設けた第2のビーム径検出のセンサ
ーとを設けるとともに、前記第1のセンサーと前記第2
のセンサーとでは、前記ハーフミラーからの光路上の距
離を異ならしめて構成され、これら第1および第2のセ
ンサーで測定されるビーム径により前記レーザ光源から
のビームの平行度を検出するようにしたことを特徴とす
る請求項2に記載の光ディスク原盤露光装置。
3. A partially transmitting mirror on the beam emitting side of the beam parallelism correcting means, the beam modulator on a reflected light side of the partially transmitting mirror, and the beam parallelism detection on a transmitted light side of the partially transmitting mirror. Means, the beam parallelism detecting means includes a half mirror, a first beam diameter detection sensor provided on a transmitted light side of the half mirror, and a second beam provided on a reflected light side of the half mirror. A diameter detection sensor, and the first sensor and the second sensor.
And the distance from the half mirror on the optical path is made different, and the parallelism of the beam from the laser light source is detected by the beam diameter measured by the first and second sensors. The optical disk master exposure apparatus according to claim 2, wherein:
【請求項4】 前記ビーム平行度補正手段のビーム出射
側に部分透過ミラーと、該部分透過ミラーの反射光側に
前記ビーム変調器と、前記部分透過ミラーの透過光側に
前記ビーム平行度検出手段とが配備され、該ビーム平行
度検出手段は、前記部分透過ミラーの透過光側に設けた
1枚の凸レンズと、該凸レンズの出射光側に、かつその
焦点位置に設けたビーム径検出センサーとにより構成さ
れ、該ビーム径検出センサーで測定されるビーム径によ
り前記レーザ光源からのビームの平行度を検出するよう
にしたことを特徴とする請求項2に記載の光ディスク原
盤露光装置。
4. A partial transmission mirror on the beam exit side of the beam parallelism correction means, the beam modulator on the reflected light side of the partial transmission mirror, and the beam parallelism detection on the transmitted light side of the partial transmission mirror. And a beam parallelism detecting means, wherein the beam parallelism detecting means includes one convex lens provided on the transmitted light side of the partial transmission mirror, and a beam diameter detection sensor provided on the outgoing light side of the convex lens and at a focal position thereof. The optical disk master exposure apparatus according to claim 2, wherein the parallelism of the beam from the laser light source is detected based on the beam diameter measured by the beam diameter detection sensor.
【請求項5】 前記ビーム平行度補正手段が、前記レー
ザ光源からのビームの中心部分を透過させる貫通孔であ
って、その開口径を調整することによりビーム平行度を
補正するものであることを特徴とする請求項3または4
に記載の光ディスク原盤露光装置。
5. The method according to claim 1, wherein the beam parallelism correcting means is a through-hole for transmitting a central portion of the beam from the laser light source, and corrects the beam parallelism by adjusting the opening diameter. A feature according to claim 3 or claim 4.
3. The optical disc master exposure apparatus according to claim 1.
【請求項6】 前記ビーム平行度補正手段が2枚の凸レ
ンズからなり、これらの凸レンズは、光軸が前記レーザ
光源からのビームの中心軸と一致するように設置され、
これら凸レンズ間の距離を調整することによりビーム平
行度を補正するものであることを特徴とする請求項3ま
たは4に記載の光ディスク原盤露光装置。
6. The beam parallelism correcting means comprises two convex lenses, and these convex lenses are installed such that an optical axis coincides with a central axis of a beam from the laser light source.
5. The optical disk master exposure apparatus according to claim 3, wherein the beam parallelism is corrected by adjusting the distance between the convex lenses.
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