JP2001291762A - Method and apparatus for peeling protective sheet - Google Patents
Method and apparatus for peeling protective sheetInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェハに貼
付された保護シートを剥離する方法および装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for peeling a protective sheet attached to a semiconductor wafer.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体製造工程において、半導体チップ
を薄くするために半導体ウェハ(以下単にウェハとい
う)の裏面を研磨して薄くする工程があり、その工程に
おいてはウェハの表面(回路が形成された面)を、フィ
ルム基材の片面に粘着剤層を設けた粘着フィルム等から
成る保護シートを貼り付けて保護する。研磨後は保護シ
ートをウェハから剥離する。2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing process, there is a process of polishing a back surface of a semiconductor wafer (hereinafter, simply referred to as a wafer) to make a semiconductor chip thinner. Surface) is protected by attaching a protective sheet made of an adhesive film or the like having an adhesive layer provided on one side of a film substrate. After polishing, the protective sheet is peeled off from the wafer.
【0003】そして、保護シートをウェハから剥離する
方法として、例えば、ウェハに貼付された保護シート
を、所定長の接着テープを用いて、前記接着テープを前
記保護シートの端部に接着し、前記接着テープを引っ張
って前記保護シートを剥離する方法が知られている(特
開平11−16862号公報参照)。[0003] As a method of peeling the protective sheet from the wafer, for example, the protective sheet adhered to the wafer is adhered to an end of the protective sheet using an adhesive tape of a predetermined length. A method of pulling an adhesive tape to peel off the protective sheet is known (see Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-16862).
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】従来の剥離方法にあっ
ては、保護シートを剥がしたときに、保護シートに付い
ていた粘着剤がウェハ上に残ることがあった。そこで、
本発明は、保護シートを剥がしてもウェハ上に粘着剤が
残ることがないようにすることを課題とする。In the conventional peeling method, when the protective sheet is peeled off, the adhesive attached to the protective sheet sometimes remains on the wafer. Therefore,
An object of the present invention is to prevent an adhesive from remaining on a wafer even when a protective sheet is peeled off.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく、
本発明者らは、鋭意研究、実験を重ねたところ、保護シ
ートを剥がす方向を変えるとウェハ上の粘着剤の残り量
が変化することを見出した。そして、鋭意研究の結果、
ウェハに形成された回路パターンの角部から保護シート
を剥がすと、ウェハ上に粘着剤が残りにくいことがわか
った。Means for Solving the Problems In order to solve the above problems,
The present inventors have conducted extensive research and experiments and found that changing the direction in which the protective sheet was peeled changed the remaining amount of the adhesive on the wafer. And as a result of earnest research,
It was found that when the protective sheet was peeled off from the corners of the circuit pattern formed on the wafer, the adhesive hardly remained on the wafer.
【0006】例えば、図5に示すように、ウェハWにお
いて半導体チップの回路パターン51が形成されている
とき、矢印52に示すように、回路パターン51の辺5
1aの部分から剥がして行くと回路パターン51の辺5
1aの部分に保護シートの粘着剤が残ることがある。一
方、矢印55で示すように、回路パターン51の角部5
1bから保護シートを剥離すると、辺51aに粘着剤が
残ることが少なく、きれいに保護シートを剥離すること
が可能となる。For example, as shown in FIG. 5, when a circuit pattern 51 of a semiconductor chip is formed on a wafer W, a side 5 of the circuit pattern 51 is
When peeled from the portion 1a, the side 5 of the circuit pattern 51
The pressure-sensitive adhesive of the protective sheet may remain on the portion 1a. On the other hand, as shown by the arrow 55, the corner 5 of the circuit pattern 51
When the protective sheet is peeled from 1b, the pressure-sensitive adhesive hardly remains on the side 51a, and the protective sheet can be peeled cleanly.
【0007】すなわち、本発明は、回路パターンの角部
から剥がれるように、保護シートを剥離するようにした
ものである。That is, in the present invention, the protective sheet is peeled off so as to be peeled off from the corner of the circuit pattern.
【0008】さらに、本発明の保護シート剥離装置にお
いては、半導体ウェハを載置する回転自在のテーブルを
設け、回路パターンの角部から保護シートが剥がれるよ
うに前記テーブルの回転位置を制御するように構成し
た。Further, in the protective sheet peeling apparatus of the present invention, a rotatable table on which a semiconductor wafer is placed is provided, and the rotational position of the table is controlled so that the protective sheet is peeled from the corner of the circuit pattern. Configured.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】図1は、本発明の保護シート剥離
方法を実施するための保護シート剥離装置1を示し、保
護シート剥離装置1は、基台3と、矢印4方向に移動可
能なウェハ保持回転機構5と、テープ繰出し部7と、剥
がしヘッド部9と、ヒーターカッター部11とから構成
され、ウェハ保持回転機構5はウェハWを載置するテー
ブル23を備えている。FIG. 1 shows a protective sheet peeling apparatus 1 for carrying out a protective sheet peeling method according to the present invention. The protective sheet peeling apparatus 1 can be moved in a direction of an arrow 4 with a base 3. The wafer holding / rotating mechanism 5 includes a table 23 on which a wafer W is placed. The wafer holding / rotating mechanism 5 includes a tape feeding unit 7, a peeling head unit 9, and a heater cutter unit 11.
【0010】はじめに、この装置1の概要を説明する
と、保護シートSが貼付されたウェハWは、テーブル2
3上に載置され、図1の右方へ搬送される。一方、接着
テープTは、テープ繰出し部7から繰出され、図2
(A)に示すように剥がしヘッド部9によって引き出さ
れる。接着テープTは、図2(B)に示すようにヒータ
ーカッター部11によって保護シートSの端部に熱圧着
され、所定の短い長さに切断される。次いで、剥がしヘ
ッド部9は、図2(C)に示すように接着テープTを保
持して引っ張って保護シートSをウェハWから引き剥が
す(テープ繰出し部7およびヒーターカッター部11は
上方へ退避)。このときテーブル23は図2の左方へ移
動し、剥がしヘッド部9は図2の右方へ移動し、剥がし
た保護シートSは廃棄ボックス12へ廃棄される。この
装置1の詳細は上記公報(特開平11−16862号)
に記載されている。First, an outline of the apparatus 1 will be described. A wafer W to which a protection sheet S is attached is placed on a table 2.
3 and transported to the right in FIG. On the other hand, the adhesive tape T is fed out of the tape feeding section 7 and shown in FIG.
It is pulled out by the peeling head 9 as shown in FIG. The adhesive tape T is thermocompression-bonded to the end of the protective sheet S by the heater cutter 11 as shown in FIG. 2B, and cut into a predetermined short length. Next, the peeling head unit 9 holds and pulls the adhesive tape T to peel off the protective sheet S from the wafer W as shown in FIG. 2C (the tape feeding unit 7 and the heater cutter unit 11 are retracted upward). . At this time, the table 23 moves to the left in FIG. 2, the peeling head 9 moves to the right in FIG. 2, and the peeled protection sheet S is discarded into the waste box 12. The details of this device 1 are described in the above-mentioned gazette (JP-A-11-16682).
It is described in.
【0011】ウェハ保持回転機構5は、図3に示すよう
に、ウェハWを載置するテーブル23と、テーブル23
を回転自在に支持する移動板25と、移動板25をウェ
ハWの搬送方向(図1の矢印4方向)に案内するレール
27とを備えている。移動板25はモーター26によっ
て移動される。As shown in FIG. 3, the wafer holding and rotating mechanism 5 includes a table 23 on which a wafer W is placed and a table 23.
And a rail 27 for guiding the movable plate 25 in the direction of transport of the wafer W (the direction of the arrow 4 in FIG. 1). The moving plate 25 is moved by a motor 26.
【0012】テーブル23の中央部には凹部23aが形
成されその凹部23aに多孔質板29がはめ込まれてい
る。テーブル23には円筒軸31が取り付けられ、円筒
軸31は、移動板25に固定された円筒軸受33に回転
自在に取り付けられている。移動板25にはモーター3
5が取り付けられ、モーター35に取り付けられたプー
リー37と円筒軸31に取り付けられたプーリー39と
がタイミングベルト41で連結され、モーター35によ
ってテーブル23が回転駆動される。A recess 23a is formed in the center of the table 23, and a porous plate 29 is fitted in the recess 23a. A cylindrical shaft 31 is attached to the table 23, and the cylindrical shaft 31 is rotatably attached to a cylindrical bearing 33 fixed to the moving plate 25. The moving plate 25 has a motor 3
5, a pulley 37 attached to a motor 35 and a pulley 39 attached to a cylindrical shaft 31 are connected by a timing belt 41, and the motor 35 drives the table 23 to rotate.
【0013】円筒軸受33の中空部にはジョイント軸4
3が配置され、このジョイント軸43からパイプ45、
通気口47を介して、負圧がテーブル凹部23aに与え
られ、多孔質板29上に載置されたウェハWは、その裏
面が吸着され、テーブル23上に吸着保持固定される。The hollow portion of the cylindrical bearing 33 has a joint shaft 4
3 are arranged, and a pipe 45 is
A negative pressure is applied to the table recess 23 a through the vent 47, and the back surface of the wafer W placed on the porous plate 29 is sucked and fixed on the table 23 by suction.
【0014】ウェハWには、ウェハW上の位置の基準と
なるオリエンテーションフラット53(オリフラ)やV
ノッチ等の基準部が形成されているが、この基準部を検
出するため、テーブル23を挟んだ上下に光センサ4
9,49が配置されている。On the wafer W, an orientation flat 53 (orientation flat) or V
A reference portion such as a notch is formed. To detect this reference portion, the optical sensors 4
9, 49 are arranged.
【0015】次に上記装置の動作について説明する。ま
ず、保護シートSが貼付されたウェハWが、手動または
自動搬送装置により、テーブル23上に載置される。次
に始動スイッチ(図示せず)を入れると、ウェハWがテ
ーブル23に吸着固定され、モーター35が駆動されて
テーブル23が回転し、光センサ49によりウェハWの
オリフラ部53が検出される。オリフラ部53が検出さ
れるとその位置を基準にして、ウェハWに形成された回
路パターン53の角部51bから保護シートSが剥がれ
るようにテーブル23を回転させウェハWの回転角度を
決定する。Next, the operation of the above device will be described. First, the wafer W to which the protection sheet S has been attached is placed on the table 23 by a manual or automatic transfer device. Next, when a start switch (not shown) is turned on, the wafer W is suction-fixed to the table 23, the motor 35 is driven to rotate the table 23, and the orientation sensor 53 of the wafer W is detected by the optical sensor 49. When the orientation flat portion 53 is detected, the table 23 is rotated so that the protection sheet S is peeled off from the corner portion 51b of the circuit pattern 53 formed on the wafer W based on the position thereof, and the rotation angle of the wafer W is determined.
【0016】例えば、図5に示すように、一般にウェハ
W上に形成された半導体チップの回路パターン51は、
ウェハWのオリフラ部53と回路パターン51の辺51
aが平行に配列されている。いま保護シートの剥離方向
を図5の矢印55で示す方向とすると、矢印55に対し
てオリフラ部53が傾斜(例えば45゜)するようにウ
ェハWの回転角度を定める。この回転角度は、ウェハW
に形成される回路パターン51の形状に応じて適宜変更
して設定することができる。For example, as shown in FIG. 5, a circuit pattern 51 of a semiconductor chip generally formed on a wafer W
The orientation flat 53 of the wafer W and the side 51 of the circuit pattern 51
a are arranged in parallel. Now, assuming that the peeling direction of the protective sheet is the direction indicated by the arrow 55 in FIG. This rotation angle is
Can be appropriately changed and set according to the shape of the circuit pattern 51 to be formed.
【0017】次いで、移動板25が移動されてウェハW
がヒーターカッター部11の下に搬送されるとともに、
接着テープTは、剥がしヘッド部9によって引き出さ
れ、ヒーターカッター部11によって保護シートSの端
部に熱圧着され、所定の短い長さに切断される。そし
て、剥がしヘッド部9は、接着テープTを保持して図1
の右方へ引っ張って保護シートSをウェハWから引き剥
がす。このときテーブル23は、保護シートSの剥離方
向と逆の方向(図1の左方)に移動する。Next, the moving plate 25 is moved to move the wafer W
Is transported under the heater cutter unit 11 and
The adhesive tape T is pulled out by the peeling head 9, is thermocompression-bonded to the end of the protective sheet S by the heater cutter 11, and is cut into a predetermined short length. Then, the peeling head 9 holds the adhesive tape T and
And the protective sheet S is peeled off from the wafer W by pulling to the right. At this time, the table 23 moves in a direction opposite to the peeling direction of the protection sheet S (to the left in FIG. 1).
【0018】以上のように、保護シートSを回路パター
ン51の角部51bのほうから剥離して行くので、保護
シートの粘着剤がウェハ上に残ることは少なく、保護シ
ートSをきれいに剥離することができる。As described above, since the protective sheet S is peeled off from the corners 51b of the circuit pattern 51, the adhesive of the protective sheet rarely remains on the wafer. Can be.
【0019】以上は、所定長の接着テープを用いて保護
シートを剥離する方法に本発明を適用した例であるが、
それに限らず、例えば保護シートにその全長にわたって
粘着テープを圧着し、前記粘着テープを剥がすことによ
り保護シートも共に剥がす方法にも本発明を適用するこ
とができる。また、上記実施例では、ウェハ保持回転機
構を用いてウェハを回転させ保護シートの剥離方向の位
置決めを行ったが、前工程で適宜位置決めを行った後、
保護シートを剥離する装置にウェハを載置し、保護シー
トを回路パターンの角部から剥がすようにしてもよい。The above is an example in which the present invention is applied to a method of peeling a protective sheet using an adhesive tape having a predetermined length.
The present invention is not limited to this, and the present invention can be applied to a method in which an adhesive tape is pressure-bonded to a protective sheet over the entire length, and the protective sheet is peeled off by peeling the adhesive tape. Further, in the above embodiment, the wafer is rotated using the wafer holding and rotating mechanism to position the protective sheet in the peeling direction.
The wafer may be placed on an apparatus for peeling the protection sheet, and the protection sheet may be peeled from the corner of the circuit pattern.
【0020】[0020]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体ウェハに形成された回路パターンの角部から保護
シートを剥がすようにしたので、回路パターン上に粘着
剤が残ることなく保護シートをきれいに剥離することが
できる。As described above, according to the present invention,
Since the protective sheet is peeled off from the corners of the circuit pattern formed on the semiconductor wafer, the protective sheet can be peeled cleanly without the adhesive remaining on the circuit pattern.
【図1】本発明を適用した保護シート剥離装置の一例の
側面図。FIG. 1 is a side view of an example of a protective sheet peeling device to which the present invention is applied.
【図2】保護シート剥離装置の剥離動作を示す図。FIG. 2 is a view showing a peeling operation of a protective sheet peeling device.
【図3】テーブル回転機構の断面図。FIG. 3 is a sectional view of a table rotating mechanism.
【図4】テーブル回転機構の平面図。FIG. 4 is a plan view of a table rotation mechanism.
【図5】保護シートの剥離方向を説明する平面図。FIG. 5 is a plan view illustrating a peeling direction of a protective sheet.
1 保護シート剥離装置 5 ウェハ保持回転機構 23 テーブル 35 モーター 51 回路パターン 51a 辺部 51b 角部 52,55 保護シート剥離方向 W 半導体ウェハ S 保護シート DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Protective sheet peeling apparatus 5 Wafer holding and rotating mechanism 23 Table 35 Motor 51 Circuit pattern 51a Side 51b Corner 52, 55 Protective sheet peeling direction W Semiconductor wafer S Protective sheet
Claims (2)
に貼付された保護シートを剥離する方法において、前記
保護シートを回路パターンの角部から剥がすことを特徴
とする保護シート剥離方法。1. A method for peeling a protective sheet attached to a semiconductor wafer having a circuit pattern formed thereon, wherein the protective sheet is peeled from a corner of the circuit pattern.
に貼付された保護シートを剥離する装置において、前記
半導体ウェハを載置する回転自在のテーブルを設け、前
記回路パターンの角部から前記保護シートが剥がれるよ
うに前記テーブルの回転位置を制御することを特徴とす
る保護シート剥離装置。2. An apparatus for peeling a protective sheet attached to a semiconductor wafer on which a circuit pattern is formed, wherein a rotatable table on which the semiconductor wafer is mounted is provided, and the protective sheet is removed from a corner of the circuit pattern. A protective sheet peeling device, wherein the rotation position of the table is controlled so that the table is peeled off.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000106827A JP4194211B2 (en) | 2000-04-07 | 2000-04-07 | Protective sheet peeling method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2000106827A JP4194211B2 (en) | 2000-04-07 | 2000-04-07 | Protective sheet peeling method and apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2001291762A true JP2001291762A (en) | 2001-10-19 |
JP4194211B2 JP4194211B2 (en) | 2008-12-10 |
Family
ID=18619936
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2000106827A Expired - Lifetime JP4194211B2 (en) | 2000-04-07 | 2000-04-07 | Protective sheet peeling method and apparatus |
Country Status (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007110014A (en) * | 2005-10-17 | 2007-04-26 | Lintec Corp | Sheet peeler and peeling method |
-
2000
- 2000-04-07 JP JP2000106827A patent/JP4194211B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007110014A (en) * | 2005-10-17 | 2007-04-26 | Lintec Corp | Sheet peeler and peeling method |
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A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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