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JP2001268810A - Charge/discharge protection circuit, battery pack incorporating the same, electronic equipment using the same - Google Patents

Charge/discharge protection circuit, battery pack incorporating the same, electronic equipment using the same

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Publication number
JP2001268810A
JP2001268810A JP2000083375A JP2000083375A JP2001268810A JP 2001268810 A JP2001268810 A JP 2001268810A JP 2000083375 A JP2000083375 A JP 2000083375A JP 2000083375 A JP2000083375 A JP 2000083375A JP 2001268810 A JP2001268810 A JP 2001268810A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
charge
discharge protection
constant current
protection circuit
Prior art date
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Granted
Application number
JP2000083375A
Other languages
Japanese (ja)
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JP3827136B2 (en
Inventor
Akihiko Fujiwara
明彦 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
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  • Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)
  • Protection Of Static Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the charge/discharge protection circuit of a secondary battery for increasing the frequency of an oscillation circuit, and reducing test time by decreasing delay time when detecting overcharge, overdischarge, or overcurrent, a battery pack incorporating the charge/discharge protection circuit, and electronic equipment such as a cellular phone having the battery pack. SOLUTION: An internal oscillation circuit 16 of a delay circuit for determining delay time when detecting the overcharge, overdischarge, and overcurrent of a secondary battery is composed by a ring oscillator consisting of constant current inverters 111-115 and capacitors 116 and 117, a test terminal is pulled down in testing for turning on transistors 102 and 103, and constant current sources 104 and 108 are made effective, thus increasing the current values of the constant current inverters 111 and 114, increasing an oscillation frequency, and reducing delay time, and hence reducing test time.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、Liイオン二次電
池などの充放電保護回路に係り、特に、発振回路の周波
数を高くすることができ、過充電、過放電、または過電
流の検出時に遅延時間を短縮してテスト時間を短縮する
ことが可能な二次電池の充放電保護回路、該充放電保護
回路を組み込んだバッテリーパック、該バッテリーパッ
クを用いた携帯電話などの電子機器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a charge / discharge protection circuit for a Li-ion secondary battery or the like, and more particularly to a method for increasing the frequency of an oscillation circuit and detecting overcharge, overdischarge, or overcurrent. The present invention relates to a charge / discharge protection circuit for a secondary battery capable of reducing a delay time and a test time, a battery pack incorporating the charge / discharge protection circuit, and an electronic device such as a mobile phone using the battery pack.

【0002】[0002]

【従来の技術】携帯型の電子機器にはLiイオン二次電
池が使用されていることが多い。Liイオン二次電池
は、過充電すると金属Liが析出して事故を起こす危険
性があり、また過放電すると繰り返し充放電使用回数が
悪くなるなどの問題点を有している。そのため、二次電
池と機器本体の間の充放電経路に保護スイッチを設け、
所定の電圧以上に過充電された場合や所定の電圧以下に
過放電された場合に、これを検出し、保護スイッチをオ
フにし、それ以上の過充電,過放電を抑止するようにし
ている。
2. Description of the Related Art Lithium secondary batteries are often used in portable electronic devices. The Li-ion secondary battery has a problem in that, when overcharged, metal Li may be precipitated to cause an accident, and when overdischarged, there is a problem that the number of times of repeated charge / discharge is deteriorated. Therefore, a protection switch is provided in the charge / discharge path between the secondary battery and the device body,
When the battery is overcharged above a predetermined voltage or overdischarged below a predetermined voltage, this is detected, the protection switch is turned off, and further overcharge and overdischarge are suppressed.

【0003】例えば、特開平9−182283号公報に
は、Liイオン二次電池の過充電、過放電、過電流を検
出する保護回路が開示されている。図6は、上記公開公
報に開示されている充放電保護回路の例である。一般
に、電池電圧が放電動作を停止すべき終止電圧に近くな
ると、電圧マージンが小さくなり急激な負荷変動などに
よる誤動作を起こしやすくなる。従って終止電圧以下に
なっても直ちに保護スイッチをオフするのではなく、そ
の状態が一定期間以上継続した場合にのみ保護スイッチ
をオフにする必要がある。図6ではそのために、内部発
振回路と分周カウンタからなるタイマーを利用してい
る。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-182283 discloses a protection circuit for detecting overcharge, overdischarge, and overcurrent of a Li-ion secondary battery. FIG. 6 is an example of the charge / discharge protection circuit disclosed in the above-mentioned publication. Generally, when the battery voltage approaches the end voltage at which the discharging operation should be stopped, the voltage margin is reduced, and a malfunction due to a sudden load change or the like is likely to occur. Therefore, it is necessary to turn off the protection switch only when the state continues for a certain period or longer, instead of immediately turning off the protection switch even when the voltage becomes lower than the end voltage. In FIG. 6, a timer including an internal oscillation circuit and a frequency division counter is used for that purpose.

【0004】図6において、電圧比較回路COMP50
4により基準電圧V4と分圧電圧VCC/Nを比較し、
電池電圧VCCが終止電圧以下になったとき、ロウレベ
ルの信号を出力して分周カウンタ502のリセットを解
除して計数を開始する。この計数値がデコーダ505に
より予め設定した値になるとラッチ回路505をセット
してMOSトランジスタで構成される保護スイッチ50
7をオフにする。しかし、分周カウンタ502が予め設
定した値に達する前に電池電圧VCCがもとの終止電圧
以上の電圧に復帰すると、リセット信号が発生されて分
周カウンタ502を計数途中でリセットする。これによ
り、デコーダ回路505による設定を負荷変動を考慮し
て比較的長い時間に設定しておけば、負荷変動に対して
電池電圧VCCが一時的に終止電圧以下に低下した場合
に、保護スイッチ507がオフしてしまう誤動作はなく
なる。
In FIG. 6, a voltage comparison circuit COMP50
4, the reference voltage V4 is compared with the divided voltage VCC / N,
When the battery voltage VCC becomes equal to or lower than the end voltage, a low-level signal is output to release the reset of the frequency division counter 502 and start counting. When the count value reaches a value set in advance by the decoder 505, the latch circuit 505 is set and the protection switch 50 composed of a MOS transistor is set.
Turn 7 off. However, if the battery voltage VCC returns to a voltage equal to or higher than the original end voltage before the frequency division counter 502 reaches a preset value, a reset signal is generated and the frequency division counter 502 is reset during counting. Accordingly, if the setting by the decoder circuit 505 is set to a relatively long time in consideration of the load fluctuation, the protection switch 507 is provided when the battery voltage VCC temporarily drops below the cutoff voltage due to the load fluctuation. There is no malfunction of turning off.

【0005】上述した過放電の場合と同様に、過充電や
過電流の検出時の遅延時間も、すべて内部発振回路とカ
ウンタで決定することが可能である。このように、上記
従来技術によれば、遅延時間を決定するための外付けコ
ンデンサーを設ける必要がなくなり、保護回路基板の部
品点数を少なくすることができる。
[0005] As in the case of overdischarge described above, the delay time when overcharge or overcurrent is detected can all be determined by the internal oscillation circuit and the counter. As described above, according to the above conventional technique, it is not necessary to provide an external capacitor for determining the delay time, and the number of components of the protection circuit board can be reduced.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、上記
従来技術は、内部発信回路とカウンタを用いて遅延時間
を設定するようにしているため、外付けコンデンサを設
ける必要がなくなり、外付け部品点数を削減することが
できるという利点を有している。
As described above, in the above-mentioned prior art, the delay time is set by using the internal oscillation circuit and the counter, so that there is no need to provide an external capacitor, and the external components are not required. There is an advantage that the number of points can be reduced.

【0007】しかしながら、過放電と過電流の検出時の
遅延時間は、一般的に10mS〜数10mS程度なの
で、テスト時間にはそれほど大きな影響はないが、過充
電の検出時の遅延時間は通常数秒程度に設定されてい
る。したがって、上記従来技術では、過充電の検出動作
のテストを行う場合、必ず数秒以上の時間が必要とな
る。まして、正確な過充電検出電圧値を測定する場合
は、電圧をステップさせるたびに、数秒以上の待ち時間
が必要となるため、仮に25ステップで検出電圧を測定
できたとして、待ち時間を2秒とすると、過充電検出電
圧値の測定に要する時間は50秒となり、これは量産を
行うには時間がかかりすぎて実用化できるレベルではな
い。
However, the delay time when detecting overdischarge and overcurrent is generally about 10 ms to several tens of ms, so that the test time does not have much effect, but the delay time when detecting overcharge is usually several seconds. Set to about. Therefore, in the above-described related art, a time of several seconds or more is always required when performing a test of an overcharge detection operation. Furthermore, when measuring an accurate overcharge detection voltage value, a waiting time of several seconds or more is required every time the voltage is stepped. Therefore, if the detection voltage can be measured in 25 steps, the waiting time is set to 2 seconds. Then, the time required for measuring the overcharge detection voltage value is 50 seconds, which is too long for mass production and is not at a level that can be put to practical use.

【0008】本発明の目的は、発振回路の周波数を高く
することができ、過充電、過放電、または過電流の検出
時の遅延時間を短縮してテスト時間を短縮することが可
能な二次電池の充放電保護回路、該充放電保護回路を組
み込んだバッテリーパック、該バッテリーパックを有す
る携帯電話などの電子機器を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to increase the frequency of an oscillating circuit and to reduce a delay time upon detection of overcharge, overdischarge, or overcurrent to reduce a test time. An object of the present invention is to provide a charge / discharge protection circuit for a battery, a battery pack incorporating the charge / discharge protection circuit, and an electronic device such as a mobile phone having the battery pack.

【0009】さらに詳しくは、請求項1記載の発明は、
単一のテスト端子により、過充電、過放電、または過電
流の検出時の遅延時間を決定する遅延回路の遅延時間を
短縮する充放電保護回路を提供することを、請求項2お
よび3記載の発明は、発振回路を構成する定電流インバ
ータの定電流値を変えることにより遅延時間を短縮する
充放電保護回路を提供することを、請求項4および5記
載の発明は、発振回路を構成するコンデンサの容量を変
えることにより遅延時間を短縮する充放電保護回路を提
供することを、請求項6および7記載の発明は、発振回
路を構成する定電流インバータのスレッショルドを変え
ることにより遅延時間を短縮する充放電保護回路を提供
することを目的としている。
More specifically, the invention according to claim 1 is
4. A charge / discharge protection circuit for shortening a delay time of a delay circuit for determining a delay time when overcharge, overdischarge, or overcurrent is detected by a single test terminal. The present invention provides a charge / discharge protection circuit for shortening a delay time by changing a constant current value of a constant current inverter constituting an oscillation circuit. In order to provide a charge / discharge protection circuit that reduces the delay time by changing the capacitance of the constant current inverter, the invention according to claims 6 and 7 reduces the delay time by changing the threshold of a constant current inverter that constitutes an oscillation circuit. It is intended to provide a charge / discharge protection circuit.

【0010】また、請求項8記載の発明は、カウンター
回路の出力位置を変えることによって遅延時間を短縮す
る充放電保護回路を提供することを、請求項9記載の発
明は、カウンター回路を複数の発振回路で構成すること
によって遅延時間を短縮する充放電保護回路を提供する
ことを目的としている。
The invention according to claim 8 provides a charge / discharge protection circuit which shortens the delay time by changing the output position of the counter circuit. The invention according to claim 9 provides that the counter circuit includes a plurality of counter circuits. It is an object of the present invention to provide a charge / discharge protection circuit that shortens a delay time by being configured by an oscillation circuit.

【0011】また、請求項10〜14記載の発明は、上
記充放電保護回路の応用技術を提供することを目的とし
ている。
Another object of the present invention is to provide an application technique of the charge / discharge protection circuit.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、内部発振回路とカウンター
回路からなる過充電、過放電、または過電流の検出時の
遅延時間を決定する遅延回路と、テスト用のテスト端子
の電位をローレベルもしくはハイレベルに固定する手段
と、該テスト端子の電位がローレベルもしくはハイレベ
ルに固定された場合に、前記遅延回路の遅延時間を短縮
する遅延時間短縮手段を有することを特徴としている。
本発明は、特に過充電検出時に有効性が顕著な技術であ
る。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 determines a delay time for detecting overcharge, overdischarge or overcurrent comprising an internal oscillation circuit and a counter circuit. A delay circuit, a means for fixing the potential of a test terminal for testing to a low level or a high level, and reducing the delay time of the delay circuit when the potential of the test terminal is fixed to a low level or a high level It is characterized by having delay time shortening means for reducing the delay time.
The present invention is a technology that is particularly effective when overcharge is detected.

【0013】請求項2記載の発明は、内部発振回路を定
電流インバータとコンデンサからなる複数の遅延素子を
閉ループに接続したリングオシレータで構成し、遅延素
子の定電流源の定電流値を実質的に増加させることによ
り遅延時間を短縮するものであり、請求項3記載の発明
は、そのために定電流源に並列に設けた別の定電流源を
有効化するようにしたものである。
According to a second aspect of the present invention, the internal oscillating circuit is constituted by a ring oscillator in which a plurality of delay elements including a constant current inverter and a capacitor are connected in a closed loop, and the constant current value of the constant current source of the delay element is substantially reduced. The third aspect of the present invention is to enable another constant current source provided in parallel with the constant current source.

【0014】また、請求項4記載の発明は、遅延素子を
構成するコンデンサの容量を実質的に低減させることに
より遅延時間を短縮するものであり、請求項5記載の発
明は、そのためにそのコンデンサに並列に設けた別のコ
ンデンサを無効化するようにしたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, the delay time is shortened by substantially reducing the capacitance of the capacitor constituting the delay element. In this case, another capacitor provided in parallel is invalidated.

【0015】請求項6記載の発明は、遅延素子の定電流
インバータを構成するインバータのスレッショルドを実
質的に減少させることにより遅延時間を短縮するもので
あり、請求項7記載の発明は、そのために、インバータ
をCMOSインバータで構成し、一方のMOSトランジ
スタに直列接続される飽和結線されたMOSトランジス
タの個数を実質的に減らすようにしたものである。
According to a sixth aspect of the present invention, a delay time is shortened by substantially reducing a threshold of an inverter constituting a constant current inverter of a delay element. , The inverter is constituted by a CMOS inverter, and the number of saturation-connected MOS transistors connected in series to one MOS transistor is substantially reduced.

【0016】請求項8記載の発明は、カウンター回路か
らの出力位置を変えることにより遅延時間を短縮するも
のである。
According to an eighth aspect of the present invention, the delay time is reduced by changing the output position from the counter circuit.

【0017】請求項9記載の発明は、内部発振回路を低
速周波数発振器と高速周波数発振器で構成し、単一のテ
スト端子の電位により低速周波数発振器と高速周波数発
振器のいずれか一方を有効化するようにしたものであ
る。
According to a ninth aspect of the present invention, the internal oscillating circuit includes a low-speed oscillator and a high-speed oscillator, and one of the low-speed oscillator and the high-speed oscillator is enabled by the potential of a single test terminal. It was made.

【0018】請求項10記載の発明は、上述した構成を
有する充放電保護回路をバッテリーパックに組み込んだ
ものである。請求項11〜14のこのようなバッテリー
パックを具体的な応用製品に用いたものである。
According to a tenth aspect of the present invention, the charge / discharge protection circuit having the above-described configuration is incorporated in a battery pack. Such a battery pack according to claims 11 to 14 is used as a specific application product.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】図1は、本発明を用いた半導体装
置のブロック図と、その半導体装置を使用したバッテリ
ーパック内部の保護回路を示す図である。同図に示すよ
うに、バッテリーパックAの主要部を構成部する半導体
装置(充放電保護回路)1は、おおまかには過充電検出
回路11と過放電検出回路12と過電流検出回路13と
短絡検出回路14と異常充電器検出回路15と発振回路
16とカウンター回路17から構成されている。
FIG. 1 is a block diagram of a semiconductor device using the present invention and a diagram showing a protection circuit inside a battery pack using the semiconductor device. As shown in the figure, a semiconductor device (charge / discharge protection circuit) 1 constituting a main part of a battery pack A is roughly short-circuited with an overcharge detection circuit 11, an overdischarge detection circuit 12, and an overcurrent detection circuit 13. It comprises a detection circuit 14, an abnormal charger detection circuit 15, an oscillation circuit 16, and a counter circuit 17.

【0020】過充電検出回路11または過放電検出回路
12または過電流検出回路13または短絡検出回路14
により、過充電または過放電または過電流または短絡を
検出すると、発振回路16が動作を開始し、カウンター
回路17が計数を始める。そして、カウンター回路17
によりそれぞれの検出時に設定されている遅延時間をカ
ウントすると、過充電の場合は、ロジック回路(ラッチ
など)18、レベルシフト19を通してCout出力が
ローレベルになり充電制御用FET Q1をオフにし、
過放電,過電流,または短絡の場合はロジック回路20
を通してDout出力がローレベルになり放電制御用F
ET Q2をオフにする。
Overcharge detection circuit 11, overdischarge detection circuit 12, overcurrent detection circuit 13, or short circuit detection circuit 14
When the overcharge or overdischarge or overcurrent or short circuit is detected, the oscillation circuit 16 starts operating, and the counter circuit 17 starts counting. And the counter circuit 17
When the delay time set at the time of each detection is counted, in the case of overcharging, the Cout output goes low through the logic circuit (latch etc.) 18 and the level shift 19 to turn off the charge control FET Q1.
Logic circuit 20 for overdischarge, overcurrent, or short circuit
The Dout output goes low through the
Turn off ET Q2.

【0021】異常充電器検出回路15は、異常充電器等
が接続されて大電圧がバッテリーパックAに印加された
時に、過電流検出回路13と短絡検出回路14の入力に
大電圧(V−電位)がかからないようにスイッチSW1
とSW2をオフにすることによって、スイッチSW1お
よびスイッチSW2を構成するトランジスタのVthの
経時変化による過電流検出電圧値と短絡検出電圧値のシ
フトが起こらないようにするための回路である。
When a large voltage is applied to the battery pack A when an abnormal charger or the like is connected, a large voltage (V-potential) is input to the inputs of the overcurrent detection circuit 13 and the short circuit detection circuit 14. ) Switch SW1
By turning off the switches SW1 and SW2, the circuit for preventing the shift of the overcurrent detection voltage value and the short-circuit detection voltage value due to the temporal change of the Vth of the transistors constituting the switches SW1 and SW2.

【0022】通常、過放電検出回路12による過放電検
出時の遅延時間は16mS程度、過電流検出回路13に
よる過電流検出時の遅延時間は10mS程度、短絡検出
回路14による短絡検出時の遅延時間は1mS程度であ
るが、過充電検出回路11による過充電検出時の遅延時
間は1S以上である。そこで、半導体装置1もしくは保
護回路基板などのテストを行うときに、テスト端子をロ
ーレベルに固定(例えば、スイッチSW3をオン)する
ことによって、発振回路16の出力周波数を高くし、遅
延時間を短くすることでテスト時間を短縮することがで
きる。本構成は、過充電、過放電、または過電流のいず
れの検出時にも有効であるが、特に過充電検出時に有効
性が大きい。
Normally, the delay time when the overdischarge detection circuit 12 detects overdischarge is about 16 ms, the delay time when the overcurrent detection circuit 13 detects overcurrent is about 10 ms, and the delay time when the short circuit detection circuit 14 detects a short circuit. Is about 1 ms, but the delay time when the overcharge detection circuit 11 detects overcharge is 1S or more. Therefore, when testing the semiconductor device 1 or the protection circuit board, the test terminal is fixed at a low level (for example, the switch SW3 is turned on), thereby increasing the output frequency of the oscillation circuit 16 and shortening the delay time. By doing so, the test time can be reduced. This configuration is effective when detecting any of overcharge, overdischarge, and overcurrent, but is particularly effective when overcharge is detected.

【0023】(1)定電流源の定電流値を変えることに
より遅延時間を変える実施例(請求項1,2,3) 図2は、テスト機能を持った発振回路16を詳しく説明
するための図である。図2の発振回路16は、定電流イ
ンバータ111〜115と、コンデンサ116および1
17を使ったリングオシレータである。このリングオシ
レータの発振周波数は、定電流源105および109
の定電流値と、コンデンサ116および117の値
と、インバータ112および115のスレッショルド
によって決まる。
(1) An embodiment in which the delay time is changed by changing the constant current value of the constant current source (Claims 1, 2, and 3) FIG. 2 is a diagram for explaining the oscillation circuit 16 having a test function in detail. FIG. 2 includes constant current inverters 111 to 115, capacitors 116 and 1
17 is a ring oscillator. The oscillation frequency of this ring oscillator is controlled by the constant current sources 105 and 109
, The values of capacitors 116 and 117, and the thresholds of inverters 112 and 115.

【0024】また、テスト端子は抵抗101によってV
ddにプルアップされている。例えば、テスト端子に接
続しているスイッチSW3をオフさせてテスト端子をオ
ープンにした時は、プルアップ抵抗101によってPch
MOSトランジスタ102,103のゲート電圧がハ
イレベルになるため、Pch MOSトランジスタ10
2,103はオフしている。したがって、このときの発
振周波数は、定電流105,109およびコンデンサ1
16,117の値で決定される。
The test terminal is connected to V
dd is pulled up. For example, when the test terminal is opened by turning off the switch SW3 connected to the test terminal, the Pch
Since the gate voltages of the MOS transistors 102 and 103 become high level, the Pch MOS transistor 10
2, 103 are off. Therefore, the oscillation frequency at this time depends on the constant currents 105 and 109 and the capacitor 1
It is determined by the values of 16,117.

【0025】しかし、スイッチSW3をオンさせてテス
ト端子をローレベルにすると、PchMOSトランジスタ
102,103のゲート電圧がローレベルとなり、Pch
MOSトランジスタ102,103がオンするので、
発振周波数を決めている定電流の値は、定電流源105
および定電流源104における定電流値の和、定電流源
109および定電流源108における定電流値の和とな
るため、発振周波数が高くなり、結果的に過充電検出時
の遅延時間を短くすることができる。
However, when the switch SW3 is turned on to set the test terminal to low level, the gate voltages of the Pch MOS transistors 102 and 103 become low level,
Since the MOS transistors 102 and 103 are turned on,
The value of the constant current that determines the oscillation frequency is constant current source 105
And the sum of the constant current values in the constant current source 104 and the constant current values in the constant current source 109 and the constant current source 108. Therefore, the oscillation frequency increases, and as a result, the delay time when overcharge is detected is shortened. be able to.

【0026】例えば、定電流源105と定電流源104
の定電流の比、定電流源109と定電流源108の定電
流の比を1:9にすると、発振周波数は10倍になり、
遅延時間を1/10にすることができる。この場合は、
半導体装置1または半導体装置1を実装した保護回路基
板のテスト時間を、1/10に短縮することができる。
For example, the constant current source 105 and the constant current source 104
If the ratio of the constant current of the constant current source 109 and the constant current of the constant current source 108 is 1: 9, the oscillation frequency becomes ten times,
The delay time can be reduced to 1/10. in this case,
The test time of the semiconductor device 1 or the protection circuit board on which the semiconductor device 1 is mounted can be reduced to 1/10.

【0027】(2)コンデンサの容量値を変えることに
より遅延時間を変える実施例(請求項1,4,5) 図3は、テスト機能を持った発振回路16の別の実施例
を示す図である。図2は、発振周波数を決めている電流
源の定電流値をテスト端子によって切替えるようにした
発振回路の実施例であるが、図3では、コンデンサの値
をテスト端子によって切替えるようにした発振回路の実
施例を示す。
(2) Embodiment of Changing Delay Time by Changing Capacitance of Capacitor (Claims 1, 4, and 5) FIG. 3 is a diagram showing another embodiment of the oscillation circuit 16 having a test function. is there. FIG. 2 shows an embodiment of an oscillator circuit in which a constant current value of a current source for determining an oscillation frequency is switched by a test terminal. In FIG. 3, an oscillator circuit in which the value of a capacitor is switched by a test terminal. The following shows an example.

【0028】図3において、スイッチSW3がオフでテ
スト端子がオープンの時は、NchMOSトランジスタ2
16および217のゲートにVddが印加され、Nch
MOSトランジスタ216および217がオンしている
ため、発振周波数を決めているコンデンサの値は、コン
デンサ212+213、コンデンサ214+215にな
る。
In FIG. 3, when the switch SW3 is off and the test terminal is open, the Nch MOS transistor 2
Vdd is applied to the gates of gates 16 and 217 and Nch
Since the MOS transistors 216 and 217 are turned on, the values of the capacitors that determine the oscillation frequency are the capacitors 212 + 213 and 214 + 215.

【0029】しかし、スイッチSW3をオンにしてテス
ト端子をローレベルにすると、NchMOSトランジスタ
17および18のゲートが接地されNch MOSトラン
ジスタ17および18がオフになり、コンデンサの値
は、コンデンサ213と215だけになり、発振周波数
は高くなって、遅延時間が短くなり、結果的にテスト時
間を短縮できる。
However, when the switch SW3 is turned on and the test terminal is set to the low level, the gates of the Nch MOS transistors 17 and 18 are grounded, the Nch MOS transistors 17 and 18 are turned off, and the capacitors have only the capacitors 213 and 215. As a result, the oscillation frequency becomes higher, the delay time becomes shorter, and as a result, the test time can be shortened.

【0030】図2では定電流源の定電流値を切替えるこ
とにより発振回路16の発信周波数を制御し、図3では
コンデンサの値を切替えることにより発振回路16の発
信周波数を制御しているが、リングオシレータを構成す
る定電流インバータのスレッショルドを変えることによ
っても可能である。
In FIG. 2, the oscillation frequency of the oscillation circuit 16 is controlled by switching the constant current value of the constant current source, and in FIG. 3, the oscillation frequency of the oscillation circuit 16 is controlled by switching the value of the capacitor. It is also possible by changing the threshold of the constant current inverter constituting the ring oscillator.

【0031】(3)定電流インバータのスレッショルド
を変えることにより遅延時間を変える実施例(請求項
1,6,7) 図4は、定電流インバータのスレッショルドを変更する
構成例を説明するための図である。同図(a)は、定電
流源30とCMOSインバータで構成される定電流イン
バータの基本構成図である。CMOSインバータはPch
MOSトランジスタ302とNch MOSトランジスタ
303で構成される。同図(b)は、同図(a)のNch
MOSトランジスタ303に、飽和結線したNch MO
Sトランジスタ304(図は1個の場合を示す)の直列
接続する個数を変えることによってスレッショルドを変
えるようにしたものである。
(3) Embodiment of Changing Delay Time by Changing Threshold of Constant Current Inverter (Claims 1, 6, 7) FIG. 4 is a diagram for explaining an example of a configuration for changing the threshold of a constant current inverter. It is. FIG. 1A is a basic configuration diagram of a constant current inverter composed of a constant current source 30 and a CMOS inverter. CMOS inverter is Pch
It comprises a MOS transistor 302 and an Nch MOS transistor 303. FIG. 2B shows the Nch of FIG.
The MOS transistor 303 is connected to the saturated Nch MO
The threshold is changed by changing the number of S transistors 304 (one is shown in the figure) connected in series.

【0032】直列に接続するNch MOSトランジスタ
304の個数を1つ増やすごとにスレッショルドをVt
h(Vthは1つのNch MOSトランジスタ304の
スレッショルド)ずつ増加させることができる。直列に
接続するNch MOSトランジスタの個数の切替えは、
例えば、直列に接続する任意個のNch MOSトランジ
スタの両端をバイパスするMOSトランジスタを設け、
該バイパス用のMOSトランジスタを外部信号(テスト
信号)によりオンオフを制御することにより行うことが
できる。この構成により、例えば、スレッショルドを1
/2にして発振周波数を高め、遅延時間を短縮すること
も可能になる。
Each time the number of Nch MOS transistors 304 connected in series is increased by one, the threshold is increased by Vt.
h (Vth is the threshold of one Nch MOS transistor 304). Switching of the number of Nch MOS transistors connected in series
For example, a MOS transistor that bypasses both ends of an arbitrary number of Nch MOS transistors connected in series is provided.
This can be performed by controlling the on / off of the bypass MOS transistor by an external signal (test signal). With this configuration, for example, a threshold of 1
/ 2 to increase the oscillation frequency and shorten the delay time.

【0033】(4)カウンター回路からの出力位置を変
えることにより遅延時間を変える実施例(請求項1,
8) 図2〜図4は、発振周波数を変えることにより、遅延時
間を変える実施例であるが、発振周波数を変えるのでは
なく、カウンター回路から出力を取り出す位置(段)を
変えることによっても遅延時間を変えることができる。
(4) An embodiment in which the delay time is changed by changing the output position from the counter circuit.
8) FIGS. 2 to 4 show embodiments in which the delay time is changed by changing the oscillation frequency. However, the delay is not changed by changing the oscillation frequency but by changing the position (stage) at which the output is taken out from the counter circuit. You can change the time.

【0034】図5は、カウンター回路17から出力を取
り出す位置(段)を変えて遅延時間を変える構成例であ
る。同図は、カウンター回路17の2つの位置(段)か
ら取り出した出力を、外部信号(テスト信号)によって
制御されるトランスミッションゲート401、402を
介して取り出すようにした例を示している。出力を取り
出す位置や個数は任意であり、これによって遅延時間を
所望の値にすることができる。
FIG. 5 shows a configuration example in which the delay time is changed by changing the position (stage) at which the output is taken out from the counter circuit 17. The figure shows an example in which outputs taken from two positions (stages) of the counter circuit 17 are taken out via transmission gates 401 and 402 controlled by an external signal (test signal). The position and the number of outputs to be taken out are arbitrary, so that the delay time can be set to a desired value.

【0035】(5)内部発振回路を低速周波数発振器と
高速周波数発振器で構成し、切り替えることによって遅
延時間を短縮する実施例(請求項1,9) また、別の実施例として、過充電、過放電、または過電
流検出時の遅延時間を決定する遅延回路を内部発振回路
とカウンター回路で構成し、かつ、その内部発振回路を
低速周波数発振器と高速周波数発振器で構成し、単一の
テスト端子の電位により低速周波数発振器と高速周波数
発振器のいずれか一方を動作可能(有効化)にするよう
にしてもよい(請求項1,9)。
(5) An embodiment in which the internal oscillating circuit is composed of a low-speed oscillator and a high-speed oscillator, and the delay time is shortened by switching between them. A delay circuit that determines the delay time when discharging or overcurrent is detected is composed of an internal oscillation circuit and a counter circuit, and the internal oscillation circuit is composed of a low-frequency oscillator and a high-frequency oscillator. One of the low-frequency oscillator and the high-frequency oscillator may be made operable (validated) by the potential (claims 1 and 9).

【0036】以上述べた充放電保護回路をバッテリーパ
ックに組み込むことで、テスト時間が短縮できる有用性
の高いバッテリーパックを実現できる。またこのような
バッテリーパックは各種電子機器、例えば、近年普及し
てきている携帯電話、ディジタルカメラ、または小型軽
量の携帯用ミニディスク装置などの携帯用音響機器など
各種電子機器に広く利用可能である(請求項10〜1
4)。
By incorporating the above-described charge / discharge protection circuit into the battery pack, a highly useful battery pack that can reduce the test time can be realized. Such a battery pack can be widely used for various electronic devices, for example, portable audio devices such as a mobile phone, a digital camera, and a small and lightweight portable mini disk device, which have become widespread in recent years. Claims 10-1
4).

【0037】なお、図2および図3に示した実施例で
は、テスト端子にプルアップ抵抗101,201を接続
して、テスト端子をローレベルにすることによって発振
周波数を高くしているが、論理を逆にして、テスト端子
にプルダウン抵抗を接続し、テスト端子をハイレベルに
することによって発振周波数を高くしてもまったく同じ
効果を得ることができる。
In the embodiments shown in FIGS. 2 and 3, the oscillation frequency is increased by connecting the pull-up resistors 101 and 201 to the test terminal and setting the test terminal to low level. The same effect can be obtained even if the oscillation frequency is increased by connecting a pull-down resistor to the test terminal and setting the test terminal to a high level.

【0038】また、図2および図3の実施例では、5段
の定電流インバータによるリングオシレータで、ハイ側
定電流、コンデンサをVssに接続した場合で説明した
が、一般的な奇数段のリングオシレータであればすべて
に活用でき、また、ロー側定電流でコンデンサをVdd
に接続したリングオシレータでも同様である。さらに、
上記実施例では、リングオシレータで説明したが、リン
グオシレータに限らず他の方式の発振回路であっても、
電流値や抵抗値やコンデンサを切替えることによって同
様の効果を得ることができる。
Further, in the embodiments of FIGS. 2 and 3, the case where a high-side constant current and a capacitor are connected to Vss by using a ring oscillator having five stages of constant current inverters has been described. If it is an oscillator, it can be used for all purposes.
The same applies to the ring oscillator connected to. further,
In the above embodiment, the description has been given of the ring oscillator. However, the present invention is not limited to the ring oscillator.
The same effect can be obtained by switching the current value, the resistance value, and the capacitor.

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明によれば、テスト端子をローレベ
ルもしくはハイレベルに固定することによって、2次電
池の過充電、過放電、または過電流の検出時の遅延時
間、特に一般的に遅延時間が長く設定されている過充電
検出時の遅延時間を短くすることができ、テスト時間を
大幅に短縮することが可能な充放電保護回路が実現で
き、また、このような充放電保護回路を組み込んだバッ
テリーパック、該バッテリーパックを用いた携帯電話な
どの電子機器を提供することができる。
According to the present invention, by fixing the test terminal to a low level or a high level, a delay time, particularly a general delay time, when overcharge, overdischarge, or overcurrent of a secondary battery is detected. The charge / discharge protection circuit that can shorten the test time can be shortened by shortening the delay time at the time of overcharge detection where the time is set long. An electronic device such as a battery pack incorporating the battery pack and a mobile phone using the battery pack can be provided.

【0040】さらに詳しくは、請求項1記載の発明によ
ると、単一のテスト端子により、過充電検出時の遅延時
間を決定する遅延回路の遅延時間を短縮する充放電保護
回路を実現でき、請求項2および3記載の発明によれ
ば、発振回路を構成する定電流インバータの定電流値を
変えることにより遅延時間を短縮する充放電保護回路が
実現でき、請求項4および5記載の発明によれば、発振
回路を構成するコンデンサの容量を変えることにより遅
延時間を短縮する充放電保護回路が実現でき、請求項6
および7記載の発明によれば、発振回路を構成する定電
流インバータのスレッショルドを変えることにより遅延
時間を短縮する充放電保護回路を実現できる。
More specifically, according to the first aspect of the present invention, a single test terminal can realize a charge / discharge protection circuit that reduces the delay time of the delay circuit that determines the delay time when overcharge is detected. According to the second and third aspects of the present invention, it is possible to realize a charge / discharge protection circuit that shortens the delay time by changing the constant current value of the constant current inverter forming the oscillation circuit. For example, a charge / discharge protection circuit that shortens the delay time by changing the capacitance of a capacitor that constitutes an oscillation circuit can be realized.
According to the inventions described in (7) and (7), a charge / discharge protection circuit that shortens the delay time by changing the threshold of the constant current inverter that forms the oscillation circuit can be realized.

【0041】また、請求項8記載の発明によれば、カウ
ンター回路の出力位置を変えることによって遅延時間を
短縮する充放電保護回路を実現でき、請求項9記載の発
明によれば、カウンター回路を複数の発振回路で構成す
ることによって遅延時間を短縮する充放電保護回路を実
現できる。
According to the eighth aspect of the present invention, a charge / discharge protection circuit that shortens the delay time by changing the output position of the counter circuit can be realized. A charge / discharge protection circuit that reduces the delay time can be realized by using a plurality of oscillation circuits.

【0042】また、請求項10〜14記載の発明によれ
ば、上記充放電保護回路の応用技術として、近年普及し
ている携帯電話、ディジタルカメラ、携帯型のMD(ミ
ニディスク)装置などの音響機器を始めとして2次電池
を必要とする各種電子機器を提供することができる。
According to the tenth to fourteenth aspects of the present invention, as the applied technology of the charge / discharge protection circuit, there is provided a portable telephone, a digital camera, and a portable MD (mini-disc) device which are widely used in recent years. Various electronic devices that require a secondary battery including the device can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明を用いた半導体装置のブロック図と、そ
の半導体装置を使用したバッテリーパック内部の保護回
路を示す図である。
FIG. 1 is a block diagram of a semiconductor device using the present invention and a diagram showing a protection circuit inside a battery pack using the semiconductor device.

【図2】テスト機能を有する発振回路の実施例を説明す
るための図である(定電流源の定両ウ電流値を変更)。
FIG. 2 is a diagram for explaining an embodiment of an oscillation circuit having a test function (changing a constant current value of a constant current source).

【図3】テスト機能を有する発振回路の別の実施例を説
明するための図である(コンデンサ容量を変更)。
FIG. 3 is a diagram for explaining another embodiment of the oscillation circuit having a test function (changing the capacitance of the capacitor).

【図4】テスト機能を有する発振回路の別の実施例を説
明するための図である(定電流インバータのスレッショ
ルドを変更)。
FIG. 4 is a diagram for explaining another embodiment of the oscillation circuit having a test function (changing the threshold of the constant current inverter).

【図5】テスト機能を有するカウンター回路の実施例を
説明するための図である(カウンター回路からの出力取
出し位置を変更)。
FIG. 5 is a diagram for explaining an embodiment of a counter circuit having a test function (change of an output extraction position from the counter circuit).

【図6】従来技術における過放電保護回路の例である。FIG. 6 is an example of an overdischarge protection circuit according to the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:半導体装置(充放電保護回路)、 11:過充電検出回路、 12:過放電検出回路、 13:過電流検出回路、 14:短絡検出回路、 15:異常充電器検出回路、 16:発振回路、 17:カウンター回路、 18,20:ロジック回路(ラッチ)、 19:レベルシフト回路、 Q1,Q2:トランジスタ、 SW1,SW2,SW3:スイッチ、 101,201:プルアップ抵抗、 102,103,302:Pch MOSトランジスタ、 104〜110,202〜206,301:定電流源、 111〜115,207〜211:定電流インバータ、 116,117,212〜215:コンデンサ、 303,304:Nch MOSトランジスタ、 401,402:トランスミッションゲート、 501:内蔵発振器、 502:分周カウンタ、 503:ゲート、 504:比較器(COMP)、 505:デコーダ(ラッチ回路)、 506:インバータ、 507:保護スイッチ。 1: semiconductor device (charge / discharge protection circuit), 11: overcharge detection circuit, 12: overdischarge detection circuit, 13: overcurrent detection circuit, 14: short circuit detection circuit, 15: abnormal charger detection circuit, 16: oscillation circuit , 17: counter circuit, 18, 20: logic circuit (latch), 19: level shift circuit, Q1, Q2: transistor, SW1, SW2, SW3: switch, 101, 201: pull-up resistor, 102, 103, 302: Pch MOS transistors, 104 to 110, 202 to 206, 301: constant current sources, 111 to 115, 207 to 211: constant current inverters, 116, 117, 212 to 215: capacitors, 303, 304: Nch MOS transistors, 401, 402: transmission gate, 501: built-in oscillator, 502: division counter, 03: gate 504: comparator (COMP), 505: Decoder (latch circuit), 506: inverter, 507: protection switch.

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 2次電池の過充電、過放電、または過電
流を検出して、2次電池を過充電、過放電、または過電
流から保護する充放電保護回路であって、 内部発振回路とカウンター回路からなる過充電、過放
電、または過電流の検出時の遅延時間を決定する遅延回
路と、テスト用のテスト端子の電位をローレベルもしく
はハイレベルに固定する手段と、該テスト端子の電位が
ローレベルもしくはハイレベルに固定された場合に、前
記遅延回路の遅延時間を短縮する遅延時間短縮手段を有
することを特徴とする充放電保護回路。
1. A charge / discharge protection circuit for detecting overcharge, overdischarge, or overcurrent of a secondary battery and protecting the secondary battery from overcharge, overdischarge, or overcurrent, comprising an internal oscillation circuit. A delay circuit for determining a delay time upon detection of overcharge, overdischarge, or overcurrent, comprising a counter circuit, a means for fixing the potential of a test terminal for testing to a low level or a high level, A charge / discharge protection circuit comprising a delay time shortening means for shortening the delay time of the delay circuit when the potential is fixed at a low level or a high level.
【請求項2】 前記内部発振回路を定電流インバータと
コンデンサからなる複数の遅延素子を閉ループに接続し
たリングオシレータで構成し、前記遅延時間短縮手段を
前記遅延素子の定電流インバータを構成する定電流源の
定電流値を実質的に増加させる手段としたことを特徴と
する請求項1記載の充放電保護回路。
2. The internal oscillation circuit comprises a ring oscillator in which a plurality of delay elements comprising a constant current inverter and a capacitor are connected in a closed loop, and said delay time reducing means comprises a constant current comprising a constant current inverter of said delay element. 2. The charge / discharge protection circuit according to claim 1, wherein the constant current value of the source is substantially increased.
【請求項3】 前記定電流値を実質的に増加させる手段
は、前記定電流源に並列に設けた別の定電流源を有効化
する手段であることを特徴とする請求項2記載の充放電
保護回路。
3. The charging apparatus according to claim 2, wherein the means for substantially increasing the constant current value is means for activating another constant current source provided in parallel with the constant current source. Discharge protection circuit.
【請求項4】 前記内部発振回路が定電流インバータと
コンデンサからなる複数の遅延素子を閉ループに接続し
たリングオシレータで構成され、前記遅延時間短縮手段
が前記遅延素子を構成するコンデンサの容量を実質的に
低減させる手段であることを特徴とする請求項1記載の
充放電保護回路。
4. The internal oscillating circuit is constituted by a ring oscillator in which a plurality of delay elements comprising a constant current inverter and a capacitor are connected in a closed loop, and the delay time shortening means substantially reduces the capacitance of the capacitor constituting the delay element. 2. The charge / discharge protection circuit according to claim 1, wherein the charge / discharge protection circuit is a means for reducing the power consumption.
【請求項5】 前記コンデンサの容量を実質的に低減さ
せる手段は、前記コンデンサに並列に設けた別のコンデ
ンサを無効化する手段であることを特徴とする請求項4
記載の充放電保護回路。
5. The device according to claim 4, wherein the means for substantially reducing the capacitance of the capacitor is means for invalidating another capacitor provided in parallel with the capacitor.
The charge / discharge protection circuit according to the above.
【請求項6】 前記内部発振回路が定電流インバータと
コンデンサからなる複数の遅延素子を閉ループに接続し
たリングオシレータで構成され、前記遅延時間短縮手段
が、前記遅延素子の定電流インバータを構成するインバ
ータのスレッショルドを実質的に減少させる手段である
ことを特徴とする請求項1記載の充放電保護回路。
6. An internal oscillator circuit comprising a ring oscillator in which a plurality of delay elements comprising a constant current inverter and a capacitor are connected in a closed loop, wherein said delay time reducing means constitutes a constant current inverter of said delay element. 2. The charge / discharge protection circuit according to claim 1, wherein the charge / discharge protection circuit is a means for substantially reducing the threshold value.
【請求項7】 前記インバータがCMOSインバータで
あり、前記遅延素子の定電流インバータを構成するイン
バータのスレッショルドを実質的に減少させる手段が、
CMOSインバータを構成する一方のMOSトランジス
タに直列接続される飽和結線されたMOSトランジスタ
の個数を実質的に減らす手段であることを特徴とする請
求項6記載の充放電保護回路。
7. The method according to claim 1, wherein the inverter is a CMOS inverter, and the means for substantially reducing a threshold of an inverter constituting a constant current inverter of the delay element includes:
7. The charge / discharge protection circuit according to claim 6, wherein the charge / discharge protection circuit is means for substantially reducing the number of saturation-connected MOS transistors connected in series to one of the MOS transistors constituting the CMOS inverter.
【請求項8】 前記遅延時間短縮手段が、該カウンター
回路からの出力位置を変える手段であることを特徴とす
る請求項1記載の充放電保護回路。
8. The charge / discharge protection circuit according to claim 1, wherein said delay time shortening means is means for changing an output position from said counter circuit.
【請求項9】 2次電池の過充電、過放電、または過電
流を検出して、2次電池を過充電、過放電、または過電
流から保護する充放電保護回路であって、 過充電、過放電、または過電流の検出時の遅延時間を決
定する遅延回路を内部発振回路とカウンター回路で構成
するとともに、該内部発振回路を低速周波数発振器と高
速周波数発振器で構成し、単一のテスト端子の電位によ
り低速周波数発振器と高速周波数発振器のいずれか一方
を有効化することを特徴とする充放電保護回路。
9. A charge / discharge protection circuit for detecting overcharge, overdischarge, or overcurrent of a secondary battery and protecting the secondary battery from overcharge, overdischarge, or overcurrent, comprising: A delay circuit for determining a delay time upon detection of overdischarge or overcurrent is configured by an internal oscillation circuit and a counter circuit, and the internal oscillation circuit is configured by a low-speed oscillator and a high-speed oscillator, and a single test terminal is provided. A charge / discharge protection circuit characterized in that one of a low-speed oscillator and a high-speed oscillator is enabled by the potential of the charge / discharge circuit.
【請求項10】 請求項1〜9のいずれか1項に記載さ
れた充放電保護回路を組み込んだことを特徴とするバッ
テリーパック。
10. A battery pack incorporating the charge / discharge protection circuit according to any one of claims 1 to 9.
【請求項11】 請求項10記載のバッテリーパックを
用いた電子機器。
11. An electronic device using the battery pack according to claim 10.
【請求項12】 請求項10記載のバッテリーパックを
用いたことを特徴とする携帯電話。
12. A mobile phone using the battery pack according to claim 10.
【請求項13】 請求項10記載のバッテリーパックを
用いたことを特徴とするディジタルカメラ。
13. A digital camera using the battery pack according to claim 10.
【請求項14】 請求項10記載のバッテリーパックを
用いたことを特徴とする携帯用音響機器。
14. A portable audio device using the battery pack according to claim 10.
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