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JP2001260098A - Method of manufacturing for fine structural body and image display device - Google Patents

Method of manufacturing for fine structural body and image display device

Info

Publication number
JP2001260098A
JP2001260098A JP2000077178A JP2000077178A JP2001260098A JP 2001260098 A JP2001260098 A JP 2001260098A JP 2000077178 A JP2000077178 A JP 2000077178A JP 2000077178 A JP2000077178 A JP 2000077178A JP 2001260098 A JP2001260098 A JP 2001260098A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
micro
array
actuator
resin
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000077178A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kosuke Fukui
甲祐 福井
Shuhei Yamada
周平 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2000077178A priority Critical patent/JP2001260098A/en
Publication of JP2001260098A publication Critical patent/JP2001260098A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method capable of accurately controlling thickness when a fine structural body is formed by pattern transfer and of manufacturing a high-quality device with a high yield and at a low cost. SOLUTION: A preliminary process for forming a resin layer 35a by spin- coating a resin agent 35 before forming a support structure of an optical element on a surface 34a of a sacrifice layer 34 for forming an actuator 6 is provided. Thereby, the resin layer 35a having a uniform thickness can be formed on the surface 34a of the board 20a before pressing a transfer pattern, so that the accuracy of thickness can be improved. Since the need of the force for expanding the resin agent 35 is obviated, the pressure required for pattern transfer can be reduced to around one tenth. Thereby, balance can easily be secured, the distortion or the like of the transfer pattern in pressing it can be eliminated, film thickness control can easily be achieved and the yield can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】型転写により樹脂製の微細構
造物を形成するマイクロレプリカ技術に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a micro replica technique for forming a resin microstructure by die transfer.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、データプロジェクタ、ビデオプロ
ジェクタなどの映像投映装置の小型化がいっそう進んで
おり、も非常に小型化されている。このため、ミクロン
オーダあるいはサブミクロンオーダの光学素子およびそ
れを搭載した映像表示デバイスの開発が盛んに行われて
いる。同様に、光通信、光演算、ホログラムメモリー等
の光記録装置、光プリンターなどでは、高解像度および
高速応答が要求されるシステムのデバイスとしてもミク
ロンオーダあるいはさらに小さなサブミクロンオーダの
微細構造(マイクロストラクチャ)を備えた光学系のデ
バイスの開発が鋭意進められている。
2. Description of the Related Art In recent years, miniaturization of video projectors such as data projectors and video projectors has been further advanced, and the size thereof has also been extremely reduced. For this reason, optical elements on the order of microns or submicrons and video display devices equipped with the same have been actively developed. Similarly, in optical communication, optical arithmetic, optical recording devices such as hologram memories, optical printers, and the like, devices for systems requiring high resolution and high-speed response require microstructures on the order of microns or even smaller submicrons (microstructures). The development of an optical device equipped with a) has been earnestly advanced.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】図11に、本願出願人
が開発を進めているエバンセント波(エバネセント光)
を利用して光を変調する映像表示デバイス(エバネセン
ト光スイッチングデバイス)の概要を示してある。この
映像表示デバイス50は複数の光スイッチング素子(光
スイッチング機構)10が2次元に配列されたデバイス
であり、個々の光スイッチング素子10は、単体では導
入された光2を全反射して伝達可能な導光板(光ガイ
ド)1に接近および離反して光を変調可能な光学素子3
と、この光学素子部3を駆動するアクチュエータ6とを
備えている。そして、ミクロンオーダで光学素子(マイ
クロ光学素子)およびアクチュエータ(マイクロアクチ
ュエータ)を製造すると共に、これらを2次元などにア
レイ状に配置したデバイスをチップサイズにまとめるこ
とにより、光学素子3の層およびアクチュエータ6の層
がアクチュエータを駆動する駆動回路およびデジタル記
憶回路(記憶ユニット)が作りこまれた半導体基板20
の上に積層でき、1つの映像表示デバイスとして集積化
されたものを提供することができる。
FIG. 11 shows an evanescent wave (evanescent light) developed by the present applicant.
1 shows an outline of an image display device (evanescent light switching device) that modulates light by utilizing the above. The image display device 50 is a device in which a plurality of optical switching elements (optical switching mechanisms) 10 are two-dimensionally arranged. Each of the optical switching elements 10 is capable of transmitting the reflected light 2 by totally reflecting the light alone. Element 3 capable of modulating light by approaching and moving away from a simple light guide plate (light guide) 1
And an actuator 6 for driving the optical element section 3. Then, an optical element (micro-optical element) and an actuator (micro-actuator) are manufactured on the order of microns, and a device in which these are arranged in an array such as two-dimensionally is integrated into a chip size, thereby forming a layer of the optical element 3 and an actuator. A semiconductor substrate 20 in which a driving circuit and a digital storage circuit (storage unit) for driving an actuator are formed in layer 6
, And can be integrated as one image display device.

【0004】エバネセント光を利用した本例の映像表示
デバイス50についてさらに詳しく説明しておく。個々
の光スイッチング素子10をベースに説明すると、図1
1の左側に示した光スイッチング素子10aはオン状態
であり、右側に示した光スイッチング素子10bがオフ
状態である。光学素子3は、導波路としての機能を果た
す導光板1(光ガイド)の面(全反射面)1aに密着す
る面(接触面または抽出面)3aと、この面3aが全反
射面1aに密着したときに漏れ出たエバネセント波を抽
出して内部で導光板1に対し、ほぼ垂直な方向に反射す
るV字型の反射プリズム(マイクロプリズム)4と、こ
のV字型のプリズム4を支持するサポート構造5とを備
えている。
[0004] The image display device 50 of the present example using evanescent light will be described in more detail. To explain based on the individual optical switching elements 10, FIG.
1, the optical switching element 10a shown on the left side is in an on state, and the optical switching element 10b shown on the right side is in an off state. The optical element 3 has a surface (contact surface or extraction surface) 3a that is in close contact with the surface (total reflection surface) 1a of the light guide plate 1 (light guide) that functions as a waveguide, and this surface 3a is the total reflection surface 1a. A V-shaped reflecting prism (microprism) 4 that extracts an evanescent wave that leaks out upon close contact and reflects the light in a direction substantially perpendicular to the light guide plate 1 and supports the V-shaped prism 4 A supporting structure 5.

【0005】アクチュエータ6は、光学素子3を静電駆
動できるようになっており、光学素子3のサポート構造
5が機械的に連結された上電極7と、この上電極7と対
峙した下電極8とを備えている。そして、下電極8と、
上電極7のアンカープレート9は半導体基板20の最上
面20aに積層されている。上電極7はアンカープレー
ト9から上方に伸びた支柱11により支持されており、
下電極8と上電極7との間に空間が形成されている。し
たがって、たとえば、プレート9を介して上電極7を接
地し、下電極8に対し駆動ユニット21から電位あるい
は電荷を加えると上電極7が下方に動き、これに連動し
て光学素子部3が導光板1から離れる(第2の位置)。
一方、上電極7は弾性部材としての機能を部分的に備え
ており、下電極8に記憶ユニット21から加えられてい
た電位あるいは電荷が除去される、あるいは解除される
と、下電極8から上電極7が離れ、上電極7の弾性によ
り光学素子部3が導光板1に密着する(第1の位置)。
The actuator 6 is capable of electrostatically driving the optical element 3. An upper electrode 7 to which a support structure 5 of the optical element 3 is mechanically connected, and a lower electrode 8 opposed to the upper electrode 7. And And the lower electrode 8,
The anchor plate 9 of the upper electrode 7 is stacked on the uppermost surface 20a of the semiconductor substrate 20. The upper electrode 7 is supported by a support 11 extending upward from the anchor plate 9,
A space is formed between the lower electrode 8 and the upper electrode 7. Therefore, for example, when the upper electrode 7 is grounded via the plate 9 and a potential or electric charge is applied to the lower electrode 8 from the drive unit 21, the upper electrode 7 moves downward, and the optical element section 3 is driven in conjunction with this. Move away from the light plate 1 (second position).
On the other hand, the upper electrode 7 partially has a function as an elastic member, and when the potential or electric charge applied to the lower electrode 8 from the storage unit 21 is removed or released, the upper electrode 7 rises from the lower electrode 8. The electrode 7 separates, and the optical element portion 3 comes into close contact with the light guide plate 1 due to the elasticity of the upper electrode 7 (first position).

【0006】図11に示したように、導光板1には光源
から照明光2が全反射面1aで全反射する角度で供給さ
れており、その内部の全ての界面、すなわち、光学素子
部(光スイッチング部)3に面した側1aと、上方の面
(出射面)において光が繰り返し全反射し、導光板1の
内部が光線で満たされる。したがって、この状態で巨視
的には照明光2は導光板1の内部に閉じ込められ、その
中を損失なく伝播している。一方、微視的には、導光板
1の全反射している面1aの付近では、導光板1から光
の波長程度のごく僅かな距離だけ、照明光2が一度漏出
し、進路を変えて再び導光板1の内部に戻るという現象
が起きている。このように面1aから漏出した光を一般
にエバネッセント波と呼ぶ。このエバネッセント波は、
全反射面1aに光の波長程度またはそれ以下の距離で他
の光学部材を接近させることにより取り出すことができ
る。本例の光スイッチング素子10は、この現象を利用
して導光板1を伝達する光を高速で変調、すなわち、ス
イッチング(オンオフ)することを目的としてデザイン
されている。
As shown in FIG. 11, illumination light 2 is supplied from a light source to a light guide plate 1 at an angle at which the illumination light 2 is totally reflected by a total reflection surface 1a. Light is repeatedly totally reflected on the side 1a facing the light switching portion 3 and on the upper surface (emission surface), and the inside of the light guide plate 1 is filled with light rays. Therefore, in this state, the illumination light 2 is macroscopically confined inside the light guide plate 1 and propagates therein without any loss. On the other hand, microscopically, in the vicinity of the surface 1a of the light guide plate 1 which is totally reflected, the illumination light 2 leaks from the light guide plate 1 only for a very short distance of about the wavelength of light, and changes its course. The phenomenon of returning to the inside of the light guide plate 1 again occurs. The light leaked from the surface 1a in this manner is generally called an evanescent wave. This evanescent wave
It can be taken out by bringing another optical member close to the total reflection surface 1a at a distance of about the wavelength of light or less. The optical switching element 10 of the present embodiment is designed to modulate light transmitted through the light guide plate 1 at high speed, that is, to switch (on / off) using this phenomenon.

【0007】したがって、光スイッチング素子10aで
は、光学素子3が導光板1の全反射面1aに接触した第
1の位置にあるので、光学素子3の面3aによりエバネ
セント波を抽出することができる。このため、光学素子
3のマイクロプリズム4で抽出した光2は角度が変えら
れて出射光2aとなる。一方、光スイッチング素子10
bでは、駆動ユニット21により上下電極7および8に
極性の異なる電圧が印加され、これらの電極7および8
の間に働く静電力により光学素子3が導光板1から離れ
た第2の位置に動かされる。したがって、光学素子3に
よってエバネセント波は抽出されず、光2は導光板1の
内部から出ない。
Therefore, in the optical switching element 10a, since the optical element 3 is at the first position in contact with the total reflection surface 1a of the light guide plate 1, evanescent waves can be extracted by the surface 3a of the optical element 3. For this reason, the light 2 extracted by the microprism 4 of the optical element 3 is changed in angle and becomes the output light 2a. On the other hand, the optical switching element 10
In b, voltages having different polarities are applied to the upper and lower electrodes 7 and 8 by the drive unit 21, and these electrodes 7 and 8 are applied.
The optical element 3 is moved to the second position apart from the light guide plate 1 by the electrostatic force acting during the period. Therefore, the evanescent wave is not extracted by the optical element 3, and the light 2 does not exit from the inside of the light guide plate 1.

【0008】エバネセント波を用いた光スイッチング素
子は、単独でも光をスイッチングできる装置として機能
するが、図11に示したように、これらを1次元あるい
は2次元方向、さらには3次元に並べて配置することが
できる構成になっている。特に2次元にマトリクスある
いはアレイ状に並べて配置することにより、液晶あるい
はDMDと同様に平面的な画像を表示可能なあるいは画
像表示ユニット55を提供することができる。そして、
エバネセント光を用いた映像表示デバイス50では、光
学素子3の移動距離がサブミクロンオーダとなるので、
液晶より1桁あるいはそれ以上応答速度の速い光変調装
置として利用でき、これを用いたプロジェクタあるいは
直視型の映像表示装置を提供することが可能となる。さ
らに、エバネセント光を用いた光スイッチング素子10
は、サブミクロンオーダの動きで光をほぼ100パーセ
ント、オンオフすることが可能であり、非常にコントラ
ストの高い画像を表現することができる。このため、時
間的な分解能を高くすることが容易であり、高コントラ
ストの映像表示装置を提供できる。
An optical switching element using an evanescent wave functions as a device that can switch light by itself, but as shown in FIG. 11, these are arranged in a one-dimensional or two-dimensional direction, and further arranged in a three-dimensional manner. It is configured to be able to. In particular, by arranging them two-dimensionally in a matrix or array, it is possible to provide an image display unit 55 capable of displaying a two-dimensional image similarly to liquid crystal or DMD. And
In the image display device 50 using the evanescent light, the moving distance of the optical element 3 is on the order of submicron.
The present invention can be used as an optical modulator having a response speed one digit or more faster than that of liquid crystal, and it is possible to provide a projector or a direct-view video display using the same. Further, an optical switching element 10 using evanescent light
Can turn on and off light by almost 100% with a movement on the order of submicrons, and can express a very high-contrast image. Therefore, it is easy to increase the temporal resolution, and a high-contrast image display device can be provided.

【0009】さらに、上述したように、駆動回路などが
作りこまれた半導体集積基板20にアレイ状に配置され
たアクチュエータ6および光学素子3が積層された構成
の映像表示デバイス50を1チップで提供することが可
能である。すなわち、半導体基板21の上にアクチュエ
ータ6および光学素子3といったマイクロストラクチャ
が構築されたマイクロマシンあるいは集積化デバイスで
ある映像表示デバイス50と光ガイド1とを組み立てる
ことにより映像表示ユニット55を供給でき、これを組
み込むことにより動作速度が速く高解像で、さらに、高
コントラストの画像を表示できるプロジェクタを提供で
きる。
Further, as described above, an image display device 50 having a configuration in which the actuators 6 and the optical elements 3 arranged in an array on the semiconductor integrated substrate 20 in which the drive circuit and the like are built is provided in one chip. It is possible to That is, the video display unit 55 can be supplied by assembling the video display device 50, which is a micromachine or an integrated device, in which microstructures such as the actuator 6 and the optical element 3 are constructed on the semiconductor substrate 21, and the light guide 1. By incorporating the above, it is possible to provide a projector which can display a high-contrast image with a high operation speed and a high resolution.

【0010】エバネセント光を用いたスイッチングデバ
イスは、図11に示したものに限定されず、たとえば、
上電極7および下電極8に加え、これらの間で動く中間
電極を設け、この中間電極に連動して光学素子3が駆動
されるような構成のアクチュエータ6を備えた映像表示
デバイスも可能である。このエバネセント光を利用した
映像表示デバイスは、アクチュエータ6の構成が複雑に
なるが低電圧で駆動できるというメリットを備えてい
る。さらに、電極を使用した静電アクチュエータの代わ
りに、ピエゾ素子を用いてアクチュエータを構成するこ
とも可能でありアクチュエータとしてはいくつかのもの
が考えられている。したがって、以下、本明細書では、
簡単のため上下電極の静電駆動タイプのアクチュエータ
に基づき説明するが、アクチュエータの構成はこれに限
定されるものではない。
A switching device using evanescent light is not limited to the one shown in FIG.
In addition to the upper electrode 7 and the lower electrode 8, an image display device including an actuator 6 configured to provide an intermediate electrode that moves between the electrodes and to drive the optical element 3 in conjunction with the intermediate electrode is also possible. . The video display device using the evanescent light has a merit that the configuration of the actuator 6 is complicated but can be driven at a low voltage. Further, instead of an electrostatic actuator using electrodes, an actuator can be configured using a piezo element, and some actuators have been considered. Therefore, hereinafter, in this specification,
For simplicity, the description will be made based on an actuator of an electrostatic drive type with upper and lower electrodes, but the configuration of the actuator is not limited to this.

【0011】エバネセント光を利用した映像表示デバイ
スは上記のように優れた特性を備えている。しかしなが
ら、この映像表示デバイスを実用化するためにはいくつ
かの解決すべき課題があり、その1つは、歩留まりの向
上と低コスト化である。すなわち、映像表示デバイスを
構成する個々の光スイッチング素子が画素を表示するの
で、欠陥があると画質が劣化する。したがって、画素欠
陥のないあるいは少ない、歩留まりの高い映像表示デバ
イスを製造することが重要となる。また、歩留まりを向
上することにより、画素欠陥のない製品を低コストで提
供するが可能となる。
An image display device using evanescent light has excellent characteristics as described above. However, there are several problems to be solved in order to put this video display device into practical use, and one of them is to improve the yield and reduce the cost. That is, since each optical switching element constituting the video display device displays a pixel, if there is a defect, the image quality deteriorates. Therefore, it is important to manufacture a high-yield video display device having no or few pixel defects. In addition, by improving the yield, it is possible to provide a product free from pixel defects at low cost.

【0012】しかしながら、エバネセント光を利用した
映像表示デバイスは、上述したように多数のマイクロ光
学素子をアクチュエータで駆動するタイプであり、全反
射面に対しサブミクロンオーダあるいはそれ以下の動き
により光をオンオフする。したがって、高速化が容易で
ある反面、寸法精度の高いマイクロ光学素子が要求され
る。さらに、光の透過性に優れているなどの光学的な性
質も優れている素材によりマイクロ光学素子を製造する
必要がある。これらの要求を満たすため、本願の発明者
らは樹脂層に型転写することによりマイクロストラクチ
ャを成形するマイクロレプリカ技術を開発した。
However, an image display device using evanescent light is of a type in which a large number of micro-optical elements are driven by an actuator as described above, and the light is turned on / off by a movement of a submicron order or less with respect to the total reflection surface. I do. Therefore, a micro optical element having high dimensional accuracy is required, while speeding up is easy. Further, it is necessary to manufacture a micro optical element using a material having excellent optical properties such as excellent light transmittance. In order to satisfy these requirements, the inventors of the present application have developed a micro replica technology for forming a micro structure by transferring a mold to a resin layer.

【0013】小さな素子がアレイ状に配置されたデバイ
スを製造する場合は、基板に5インチ、8インチ等のウ
エハを用い、チップサイズのデバイスをウェハ上にアレ
ンジして一度にいくつものデバイス(チップ)を同時に
製造するのが経済的である。
When manufacturing a device in which small elements are arranged in an array, a wafer having a size of 5 inches or 8 inches is used as a substrate, and devices having a chip size are arranged on the wafer, and a number of devices (chips) are formed at a time. ) Is economical to produce simultaneously.

【0014】しかしながら、ウェハ上に配置されるどの
デバイスのどのスイッチング素子においても、それぞれ
のマイクロ光学素子がほぼ同じ厚さになるにためには、
ウェハと、そのウェアに押し付けられる転写型の全ての
部分に均一な圧力を加えなければならない。そのために
は、上下に配置されたウェハおよび転写型のプレス面の
平行度を秒単位(角度)で制御する必要があるが、その
ようなことは不可能である。したがって、微視的にはマ
イクロレプリカ技術で精度の高いスイッチング素子ある
いはデバイスを製造することが可能であるが、量産化し
たときに同様の精度でデバイスを製造することは不可能
である。
However, in order for each micro-optical element to have substantially the same thickness in any switching element of any device arranged on the wafer,
A uniform pressure must be applied to the wafer and all parts of the transfer mold that are pressed against the wear. For this purpose, it is necessary to control the parallelism between the upper and lower wafers and the pressing surface of the transfer die in units of seconds (angles), but this is not possible. Therefore, microscopically, it is possible to manufacture a switching element or device with high accuracy by the micro-replica technology, but it is impossible to manufacture a device with the same accuracy when mass-produced.

【0015】たとえば、図12に、型転写により微細構
造部分を製造するために本出願の発明者らが行った実験
の一例を示す。この実験では、図12(a)に示す1枚
目の基板90にはウェハサイズのガラス基板を用い、2
枚目の基板91には、形状を転写する基板である転写型
を用いている。これらの基板の各々の表面は、密着性を
上げるためにシリコンカップリング剤で表面処理を施
す。例えば、信越化学工業製のKBM5103をスピンナ
ーで塗布後、100℃で10分間ベークする。
For example, FIG. 12 shows an example of an experiment conducted by the inventors of the present application to manufacture a fine structure portion by die transfer. In this experiment, a wafer size glass substrate was used as the first substrate 90 shown in FIG.
As the first substrate 91, a transfer die that transfers a shape is used. The surface of each of these substrates is subjected to a surface treatment with a silicon coupling agent in order to increase the adhesion. For example, KBM5103 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. is applied by a spinner and baked at 100 ° C. for 10 minutes.

【0016】次に、図12(b)に示すように、表面処
理された2枚の基板90および91の間にそれぞれ樹脂
剤98を乗せる。樹脂剤98には、紫外線硬化型のモノ
マー、アクリレートまたはメタクリレートモノマー等を
用いる。例えば、市販されているアクリレート系の新日
鉄化学製のV−2400PET等がある。
Next, as shown in FIG. 12B, a resin agent 98 is placed between the two surface-treated substrates 90 and 91, respectively. As the resin agent 98, an ultraviolet curable monomer, an acrylate or methacrylate monomer, or the like is used. For example, there is a commercially available acrylate-based V-2400 PET manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.

【0017】次に、両側から0.01Kg/mm2程度の
圧力をかける。圧力をかけた後に、350nm程度の紫
外線(UV)を1000mJ/cm2照射して、光また
は熱により硬化させる。
Next, a pressure of about 0.01 kg / mm 2 is applied from both sides. After pressure is applied, ultraviolet rays (UV) having a wavelength of about 350 nm are irradiated at 1000 mJ / cm 2 and cured by light or heat.

【0018】そして、転写型基板91を外すと、図12
(c)に示すように、所定のミクロンオーダあるいはそ
れ以下の形状を備えた樹脂層95が成形された微細構造
体のサンプル99を得ることができる。
When the transfer type substrate 91 is removed, FIG.
As shown in (c), a sample 99 of a microstructure in which a resin layer 95 having a shape of a predetermined micron order or less is formed.

【0019】このサンプル99の膜厚のばらつきは、設
計値に対し10μm程度となる。このため、エバネセン
ト光を用いた光学デバイスを同様の方法で歩留まり良く
製造できる方法として適しているとは言い難い。また、
光スイッチング素子、特に光学素子が希望する厚さに対
して厚かったりあるいは薄かったりすることより、この
方法により製造された光学素子、光スイッチング素子を
有するデバイスあるいはチップの特性が設計通りになら
ない。
The thickness variation of the sample 99 is about 10 μm with respect to the design value. For this reason, it is hard to say that an optical device using evanescent light is suitable as a method that can be manufactured with a similar yield at a high yield. Also,
Due to the fact that the optical switching element, especially the optical element, is thicker or thinner than the desired thickness, the characteristics of the optical element, device or chip having the optical switching element manufactured by this method are not as designed.

【0020】他のデバイス、例えば、マイクロバルブを
スイッチングするようなマイクロマシンを製造する技術
として応用する場合などにおいても、上記のように厚み
が精度良く制御できないという問題は、量産する際には
同様に解決しなければならない。
The problem that the thickness cannot be controlled with high precision as described above also occurs when mass-producing other devices, for example, when applied as a technology for manufacturing a micromachine for switching a microvalve. Must be resolved.

【0021】そこで、本発明においては、マイクロレプ
リカ技術により微細構造体を備えたデバイスを量産する
際に、厚みを精度良く管理することができ、高品質のデ
バイスを歩留まり良く、低コストで製造できる微細構造
体の製造方法を提供することを目的としている。
Therefore, in the present invention, when mass-producing a device having a fine structure by the micro-replica technique, the thickness can be controlled with high accuracy, and a high-quality device can be manufactured with good yield and low cost. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a microstructure.

【0022】特に、高速スイッチングが可能なエバネセ
ント光を利用する光スイッチング素子を採用した映像表
示デバイスでは、上述したようにサブミクロンオーダの
膜厚管理が要求されており、そのようなデバイスも歩留
まり良く、安定して供給できる製造方法を提供すること
を目的としている。
In particular, in a video display device employing an optical switching element utilizing evanescent light capable of high-speed switching, as described above, sub-micron-order film thickness control is required, and such a device has a high yield. It is an object of the present invention to provide a production method capable of supplying the liquid stably.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】このため、本発明におい
ては、型転写により微細構造体を成形する際に、前もっ
て基板上に樹脂剤をスピンコートまたはフレキソ印刷す
ることにより樹脂層を形成する準備工程を設けるように
している。すなわち、本発明の微細構造体の製造方法
は、複数の基板の間に樹脂層を挟み、加圧する型転写に
より微細構造体を成形する工程と、その前に、少なくと
も一方の基板上に、樹脂剤をスピンコートまたはフレキ
ソ印刷することにより樹脂層を形成する準備工程とを有
している。
Therefore, in the present invention, when forming a fine structure by die transfer, a preparation for forming a resin layer by spin coating or flexographic printing of a resin agent on a substrate in advance is provided. A process is provided. That is, the method for manufacturing a microstructure according to the present invention includes a step of forming a microstructure by a mold transfer in which a resin layer is sandwiched between a plurality of substrates and pressing, and before that, a resin is formed on at least one substrate. And forming a resin layer by spin coating or flexographic printing of the agent.

【0024】スピンコートあるいはフレキソ印刷は膜厚
を一定にする点では確立された技術であり、本発明の製
造方法においては、転写型を加圧する前に、基板上に均
一な膜厚の樹脂層を形成できる。したがって、転写型を
押し付けなくても樹脂層としての厚みの精度が確保で
き、転写型により単に形状のみを形成すればよい。した
がって、少ない圧力で転写型を加圧でき、それにともな
う厚みの誤差を最小限にすることができる。この効果
は、従来は、型転写する際に、樹脂層を広げるための力
も必要であったものが不要になるので、型転写する際の
圧力値を1桁から2桁小さくできるという点で大きく表
れている。したがって、圧力バランスを保つのが容易と
なり、その差が少なくなる。この結果、加圧する際の転
写型の歪み等もなく、膜厚管理が容易にでき、歩留りが
向上する。また、予め、基板上に樹脂剤を広げておくこ
とで、表面の気むら(圧力ムラ)の発生を防ぐことがで
きる。この点においても、均一な膜厚を精度良く管理で
き、歩留りを向上させることができる。
Spin coating or flexographic printing is an established technique in terms of keeping the film thickness constant. In the manufacturing method of the present invention, a resin layer having a uniform film thickness is formed on a substrate before the transfer mold is pressed. Can be formed. Therefore, the accuracy of the thickness of the resin layer can be secured without pressing the transfer die, and only the shape may be formed by the transfer die. Therefore, the transfer die can be pressed with a small pressure, and the thickness error accompanying the transfer die can be minimized. This effect is significant in that the pressure value for mold transfer can be reduced by one to two orders of magnitude, since a force that needed to expand the resin layer was conventionally not required when transferring the mold. Is appearing. Therefore, it is easy to maintain the pressure balance, and the difference is reduced. As a result, there is no distortion of the transfer mold at the time of pressing, the film thickness can be easily controlled, and the yield is improved. Further, by spreading the resin agent on the substrate in advance, it is possible to prevent the occurrence of unevenness (pressure unevenness) on the surface. Also in this regard, a uniform film thickness can be accurately managed, and the yield can be improved.

【0025】このため、本発明の製造方法により、樹脂
製の微細構造体をミクロンオーダあるいはサブミクロン
オーダの精度で量産できる。したがって、本発明の製造
方法は、マイクロ光学系の微細構造体、特に、光学素子
がアレイ状に配置されたマイクロ光学素子アレイを製造
するのに適している。
For this reason, according to the manufacturing method of the present invention, a resin fine structure can be mass-produced with a precision on the order of microns or submicrons. Therefore, the manufacturing method of the present invention is suitable for manufacturing a microstructure of a micro optical system, particularly, a micro optical element array in which optical elements are arranged in an array.

【0026】本発明の製造方法を用いて半導体基板上に
マイクロ光学素子あるいは以下に示す光スイッチング素
子を成形する場合、基板の一方は半導体基板であり、そ
の上に予めアクチュエータアレイが製造された半導体基
板も含まれる。また、基板の他方は、マイクロ光学素子
の形状を規定する転写型となる。そして、スピンコート
等を施す基板は、集積回路の形成された半導体基板と、
形状を転写する転写型のいずれか片側でも良いが、これ
ら両基板であっても良い。
When a micro optical element or an optical switching element described below is formed on a semiconductor substrate by using the manufacturing method of the present invention, one of the substrates is a semiconductor substrate on which an actuator array is manufactured in advance. Substrates are also included. The other side of the substrate is a transfer type that defines the shape of the micro optical element. A substrate on which spin coating or the like is performed is a semiconductor substrate on which an integrated circuit is formed,
Either one of the transfer molds for transferring the shape may be used, or both of these substrates may be used.

【0027】さらに、本発明の微細構造体の製造方法で
は、型転写により微細構造体を成形する工程において、
基板を押し付けた状態で、光により樹脂を硬化する工程
を備えた、いわゆる2P法(Photo‐polymerization)
を採用した製造方法にも適用でき、サブミクロンオーダ
の微細構造体を容易に得ることができる。
Further, in the method for manufacturing a microstructure according to the present invention, in the step of molding the microstructure by die transfer,
A so-called 2P method (Photo-polymerization) including a step of curing the resin by light while the substrate is pressed.
And a microstructure on the order of submicrons can be easily obtained.

【0028】準備工程では、樹脂剤を有機溶剤に溶解し
て、例えば、アルコール系の有機溶剤に溶解させ、スピ
ンコートまたはフレキソ印刷することが望ましい。これ
により、基板上に薄膜状の樹脂層を均一な厚みに形成し
易くなる。
In the preparation step, it is desirable to dissolve the resin agent in an organic solvent, for example, dissolve it in an alcohol-based organic solvent, and perform spin coating or flexographic printing. This makes it easier to form a thin resin layer with a uniform thickness on the substrate.

【0029】本発明の製造方法によって、簡単に、そし
て精度良く、微細構造体を得ることができるので、光ス
イッチング素子および他の目的物のマイクロマシンを製
造することができる。光スイッチング素子がアレイ状に
配置された光スイッチングデバイスを製造する場合は、
樹脂成形されるスイッチング部を駆動させるマイクロア
クチュエータがアレイ状に配置されたアクチュエータア
レイに重ねて、樹脂剤を塗布し樹脂層を製造する。さら
に、アクチュエータにより駆動されるスイッチング部と
してマイクロ光学素子を型転写により形成し、アレイ状
に配置してマイクロ光学素子アレイを製造することによ
り光スイッチングデバイスを製造できる。さらに、マイ
クロ光学素子が上述したエバネセント光などをスイッチ
ングする素子であれば、エバネセント光を用いた映像表
示デバイスを提供できる。
According to the manufacturing method of the present invention, a microstructure can be obtained easily and accurately, so that an optical switching element and a micromachine of another object can be manufactured. When manufacturing an optical switching device in which optical switching elements are arranged in an array,
A resin material is applied on the actuator array in which the microactuators for driving the resin-formed switching units are arranged in an array, and a resin layer is manufactured. Furthermore, an optical switching device can be manufactured by forming a micro optical element as a switching unit driven by an actuator by mold transfer, and arranging the micro optical element array in an array to manufacture a micro optical element array. Furthermore, if the micro-optical element is an element that switches the above-mentioned evanescent light or the like, an image display device using evanescent light can be provided.

【0030】すなわち、本発明により、マイクロアクチ
ュエータがアレイ状に配置されたアクチュエータアレイ
を基板上に製造する工程と、このアクチュエータアレイ
上に転写型を用いて樹脂層からマイクロ光学素子がアレ
イ状に配置されたマイクロ光学素子アレイを製造する工
程と、このマイクロ光学素子アレイを製造する工程の前
に、アクチュエータの上および転写型の上の、少なくと
もいずれか一方に、樹脂剤をスピンコートまたはフレキ
ソ印刷することにより樹脂層を形成する準備工程とを有
している映像表示デバイスの製造方法を提供できる。
That is, according to the present invention, a step of manufacturing, on a substrate, an actuator array in which microactuators are arranged in an array, and arranging micro optical elements in an array from a resin layer using a transfer mold on the actuator array. Manufacturing a micro-optical element array, and, before the micro-optical element array manufacturing step, spin-coating or flexographically printing a resin material on at least one of the actuator and the transfer mold. Accordingly, it is possible to provide a method for manufacturing an image display device having a preparation step of forming a resin layer.

【0031】これにより、高品質の映像表示デバイスの
歩留まりを向上することができ、マイクロアクチュエー
タが静電アクチュエータであり、マイクロ光学素子はエ
バネセント光により光スイッチングを行うマイクロプリ
ズムであるエバネセント光を用いた映像表示デバイスを
低コストで量産することができる。
As a result, the yield of a high-quality image display device can be improved. The microactuator is an electrostatic actuator, and the micro optical element uses evanescent light, which is a micro prism that performs optical switching by evanescent light. Video display devices can be mass-produced at low cost.

【0032】[0032]

【発明の実施の形態】以下に、先の図11に示したエバ
ネセント光を利用した光スイッチングデバイス50の製
造方法を参照しながら本発明を説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to a method for manufacturing an optical switching device 50 using evanescent light shown in FIG.

【0033】まず、図1ないし図4に示すようにアクチ
ュエータ6を製造する。図1に示すように、CMOSが
構成されている基板20の上面20aに電極層(Al
膜)31をディポジットする。次に、その電極層31に
パターニング41を行って、下電極8と、ばねおよび上
電極を兼ねた構造のアンカー部分9を形成する。
First, the actuator 6 is manufactured as shown in FIGS. As shown in FIG. 1, an electrode layer (Al) is formed on an upper surface 20a of a substrate 20 on which CMOS is configured.
The film 31 is deposited. Next, patterning 41 is performed on the electrode layer 31 to form the lower electrode 8 and the anchor portion 9 having a structure also serving as a spring and an upper electrode.

【0034】図2に示すように、電極層31の上に犠牲
層32をディポジットする。この犠牲層32はアモルフ
ァスシリコンで数十℃から百数十℃でディポジットで
き、下に存在する半導体基板20に形成されたCMOS
回路にダメージを与えることがない。その犠牲層32に
ストッパーの役目をするディンプル42を掘り、また、
ポストとなる部分をパターニング43する。
As shown in FIG. 2, a sacrificial layer 32 is deposited on the electrode layer 31. The sacrificial layer 32 is made of amorphous silicon and can be deposited at a temperature of several tens of degrees Celsius to one hundred and several tens degrees Celsius, and a CMOS formed on the underlying semiconductor substrate 20 is formed.
No damage to the circuit. Dimples 42 serving as stoppers are dug in the sacrificial layer 32,
The portion to be a post is patterned 43.

【0035】図3に示してあるように、犠牲層32の上
に、ばねと上電極を兼ねた構造7を形成する第2の構造
層となる第2の電極層(Al膜)33をディポジットす
る。さらに、電極層33をパターニングして上電極7お
よびポスト11を形成する。この段階で、アクチュエー
タ部6としての構造が半導体基板20の上に形成され
る。犠牲層と電極層を構成する材料の組み合わせは上記
に限定されるものではない。たとえば、アモルファスシ
リコンの代わりにポリイミドによって犠牲層を形成して
も良い。また、犠牲層として酸化シリコン、電極層とし
てポリシリコンを用いることも可能である。
As shown in FIG. 3, on the sacrificial layer 32, a second electrode layer (Al film) 33 serving as a second structural layer for forming the structure 7 serving as both a spring and an upper electrode is deposited. I do. Further, the electrode layer 33 is patterned to form the upper electrode 7 and the post 11. At this stage, a structure as the actuator section 6 is formed on the semiconductor substrate 20. The combination of the materials constituting the sacrificial layer and the electrode layer is not limited to the above. For example, the sacrificial layer may be formed of polyimide instead of amorphous silicon. It is also possible to use silicon oxide for the sacrificial layer and polysilicon for the electrode layer.

【0036】さらに、図4に示してあるように、第2の
電極層33の上に第1の犠牲層32と同じ物質で第2の
犠牲層34としてディポジットし、パターニングし、ア
クチュエータ部6の上にマイクロ光学素子3との接続部
分44を形成する。
Further, as shown in FIG. 4, a second sacrifice layer 34 is deposited on the second electrode layer 33 using the same material as the first sacrifice layer 32, and is patterned. A connection portion 44 with the micro optical element 3 is formed thereon.

【0037】この段階で、アクチュエータ6としての機
能を果たす微細構造層(アクチュエータアレイの層)2
5が形成されたので、この層25の上に型転写により光
学素子3として機能を果たす微細構造層を成形する工程
に移行する。
At this stage, the fine structure layer (actuator array layer) 2 which functions as the actuator 6
Since 5 has been formed, the process proceeds to a step of forming a microstructure layer functioning as the optical element 3 on the layer 25 by die transfer.

【0038】図5ないし図9に、光学素子3として機能
する光学素子アレイ層26を製造する工程の概略を示し
てある。本例の製造方法では、基板の間に樹脂を挟み、
両側あるいは一方の側から加圧する型転写により微細構
造体を成形する。
FIGS. 5 to 9 show the outline of the steps for manufacturing the optical element array layer 26 functioning as the optical element 3. In the manufacturing method of this example, a resin is sandwiched between substrates,
The microstructure is formed by die transfer in which pressure is applied from both sides or one side.

【0039】図5に示すように、半導体基板上20aに
積層されたアクチュエータアレイ層25を構成する犠牲
層34の表面(上面)34aに、樹脂剤35をスピンコ
ートにより均一の膜厚になるように広げ、樹脂層35a
を形成する。この工程が、次のサポート構造を形成する
ための準備工程(第1の準備工程)となる。
As shown in FIG. 5, a resin material 35 is spin-coated on the surface (upper surface) 34a of the sacrificial layer 34 constituting the actuator array layer 25 laminated on the semiconductor substrate 20a so as to have a uniform film thickness. Spread over the resin layer 35a
To form This step is a preparation step (first preparation step) for forming the next support structure.

【0040】さらに、図6に示すように、準備工程で成
膜した樹脂層35aに重ねて転写型(マイクロレプリ
カ)61を置き、加圧する。本例の樹脂層35aを構成
する樹脂剤には光重合性の樹脂を用いているので、紫外
線などの光に対し透明な転写型61を用いることによ
り、サポート構造5の形状を光硬化処理により製造する
ことができる。すなわち、この段階では所謂、2P(Pho
to‐polymerization)法を採用している。
Further, as shown in FIG. 6, a transfer mold (micro replica) 61 is placed on the resin layer 35a formed in the preparation step, and is pressed. Since the photopolymerizable resin is used for the resin material constituting the resin layer 35a of this example, the shape of the support structure 5 is changed by photo-curing by using the transfer mold 61 which is transparent to light such as ultraviolet rays. Can be manufactured. That is, at this stage, the so-called 2P (Pho
to-polymerization) method.

【0041】図7に示すように、転写型61を外すと、
所望の形状、すなわち、光学素子3のマイクロプリズム
4をサポートするようにV字型になった構造5を形成さ
れる。さらに、型成形されたサポート構造5の上に、マ
イクロプリズム4の底面となる部分にアルミニウムを蒸
着するなどの方法により反射膜46を形成する。
As shown in FIG. 7, when the transfer mold 61 is removed,
A V-shaped structure 5 is formed to support the desired shape, ie, the microprisms 4 of the optical element 3. Further, a reflective film 46 is formed on the molded support structure 5 by a method such as evaporating aluminum on a portion to be a bottom surface of the microprism 4.

【0042】次に、図8に示すように、サポート構造5
の上にマイクロプリズム4を成形する。マイクロプリズ
ム4もその表面がエバネセント光を抽出する面3aとな
るので精度良く成形する必要がある。したがって、ま
ず、上述した第1の準備工程と同様に、転写型62で加
圧する前に、サポート構造5の上面5aに樹脂剤36を
スピンコートにより塗布し、均一な膜厚の樹脂層36a
を形成する。この工程が、以下でプリズム4を成形する
ときの準備工程(第2の準備工程)となる。そして、そ
の樹脂層36aに転写型62を置き、加圧する。
Next, as shown in FIG.
Is formed on the substrate. Since the surface of the microprism 4 also becomes the surface 3a for extracting evanescent light, it is necessary to form the microprism 4 with high precision. Therefore, first, similarly to the above-described first preparation step, the resin material 36 is applied to the upper surface 5a of the support structure 5 by spin coating before pressing by the transfer mold 62, and the resin layer 36a having a uniform thickness is formed.
To form This step is a preparation step (second preparation step) for forming the prism 4 below. Then, the transfer mold 62 is placed on the resin layer 36a and pressed.

【0043】図8に示したプリズム4を成形する工程に
おいても、上記と同様に成形用の樹脂剤36として、光
硬化性(光重合性)の樹脂剤を用い、紫外線などの光に
対し、透明な転写型62を用いることによりマイクロプ
リズムに適した形状を光硬化処理(2P法)により製造
できる。
Also in the step of forming the prism 4 shown in FIG. 8, a photo-curable (photo-polymerizable) resin agent is used as the molding resin agent 36 in the same manner as described above, By using the transparent transfer mold 62, a shape suitable for a microprism can be manufactured by photocuring treatment (2P method).

【0044】このように、図8までに示した過程で光学
素子3としての機能を果たす構造層(光学素子アレイ
層)26は製造できる。次に、図9に示すように、ある
いは映像表示装置として用いる光スイッチング素子アレ
イの光学素子となるように個々の画素を構成する個々の
マイクロ光学素子3を分離する。先ず、個々のマイクロ
プリズム4が分離するように樹脂層35aおよび36a
を垂直方向にアクチュエータアレイ層25を構成する犠
牲層34が表れるまでプラズマエッチングなどにより隙
間47を掘る。この隙間47を通して、フッ化キセノン
(XeF2)ガス等を用いたドライエッチングなどの方
法によって、アモルファスシリコンからなる犠牲層32
および34を除去する。これにより、電極間などの狭い
隙間なども吸着という問題を起こすことなく完全に犠牲
層を除去することができ、電極間に駆動用の空間12を
確実に形成できる。したがって、信頼性のあるアクチュ
エータ6を実現できる。
As described above, the structure layer (optical element array layer) 26 that functions as the optical element 3 in the process shown in FIG. 8 can be manufactured. Next, as shown in FIG. 9, or individual micro optical elements 3 constituting individual pixels are separated so as to be optical elements of an optical switching element array used as an image display device. First, the resin layers 35a and 36a are separated so that the individual microprisms 4 are separated.
The gap 47 is dug in the vertical direction by plasma etching or the like until the sacrificial layer 34 constituting the actuator array layer 25 appears. Through the gap 47, the sacrificial layer 32 made of amorphous silicon is formed by a method such as dry etching using xenon fluoride (XeF 2 ) gas or the like.
And 34 are removed. This makes it possible to completely remove the sacrificial layer without causing the problem of adsorption even in a narrow gap between the electrodes or the like, and to reliably form the driving space 12 between the electrodes. Therefore, a reliable actuator 6 can be realized.

【0045】本例の製造方法により製造されたデバイス
は、半導体基板20の上に微細構造層であるアクチュエ
ータ6および光学素子3が垂直に積み重ねあわされた映
像表示デバイス50であり、この映像表示デバイス50
と導光板1とを組み合わせることにより図11に基づき
説明したエバネセント光を利用した光スイッチング素子
10の技術に基づく映像表示ユニット55を提供するこ
とができる。
The device manufactured by the manufacturing method of the present embodiment is a video display device 50 in which the actuator 6 and the optical element 3 which are fine structure layers are vertically stacked on the semiconductor substrate 20. 50
By combining the light guide plate 1 with the light guide plate 1, it is possible to provide the image display unit 55 based on the technology of the optical switching element 10 using the evanescent light described with reference to FIG.

【0046】本願発明者らは、先に図12に基づき説明
した実験例に対し、準備工程を設けた本発明の製造方法
の効果を確かめるために新たな実験を行った。その様子
を図10に示してある。先ず、図10(a)に示すよう
に、第1の実験例では、ガラスウエハ(基板)100の
表面の密着性を上げるために、その表面をシリコンカッ
プリング剤で表面処理をする。本例では、信越化学工業
製のKBM5103をスピンナーで塗布後、100℃で1
0分程ベークする。
The inventors of the present application conducted a new experiment on the experimental example described above with reference to FIG. 12 in order to confirm the effect of the manufacturing method of the present invention having a preparation step. This is shown in FIG. First, as shown in FIG. 10A, in the first experimental example, the surface of a glass wafer (substrate) 100 is subjected to a surface treatment with a silicon coupling agent in order to increase the adhesiveness of the surface. In this example, KBM5103 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
Bake for about 0 minutes.

【0047】その後に、図10(b)に示すように、基
板上100にスピンコートにより紫外線硬化型の樹脂剤
120を10μm程度の厚さにコーティングし、樹脂層
121を形成する。樹脂剤120には、モノマー、アク
リレートまたはメタクリレートモノマーが望ましい。例
えば、市販されているアクリレート系の新日鉄化学のV
−2400PET等がある。さらに、樹脂剤120は、
適当な有機溶剤で溶解させてスピンコートすることもで
きる。例えば、上記のアクリレート系の紫外線硬化型の
樹脂(新日鉄化学のV−2400PET)を、エチレン
グリコール・モノ・エチルエーテル・アセテートに20
%程度に溶解させる。これにより、粘性の高い樹脂剤を
用いる場合でも、容易にスピンコートにより所定の膜厚
の薄膜を形成できる。
Thereafter, as shown in FIG. 10B, a UV curable resin agent 120 is coated on the substrate 100 by spin coating to a thickness of about 10 μm to form a resin layer 121. The resin agent 120 is preferably a monomer, an acrylate or a methacrylate monomer. For example, a commercially available acrylate-based Nippon Steel Chemical V
-2400 PET. Further, the resin agent 120
It can be dissolved in an appropriate organic solvent and spin-coated. For example, the above acrylate-based ultraviolet-curable resin (V-2400 PET of Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) is added to ethylene glycol monoethyl ether acetate for 20 minutes.
%. Thereby, even when a highly viscous resin material is used, a thin film having a predetermined thickness can be easily formed by spin coating.

【0048】図10(c)に示すように、基板100上
にコーティングされた樹脂層121を、この基板100
と、エッチングにより形状を作りこんだ転写型110と
で挟み、両側から0.001Kg/mm2程度の圧力を加
える。加圧後に、光重合させるために、350nmの紫
外線を1000mJ/cm2照射する。
As shown in FIG. 10C, the resin layer 121 coated on the substrate 100 is
And a transfer mold 110 having a shape formed by etching, and a pressure of about 0.001 kg / mm 2 is applied from both sides. After the pressurization, ultraviolet light of 350 nm is irradiated at 1000 mJ / cm 2 for photopolymerization.

【0049】そして、図10(d)に示すように、転写
型110を離型することで、均一な、所望の形状に成形
された樹脂層121を備えたサンプル150を得ること
ができる。このようにして成形された樹脂層121の膜
厚のばらつきは1μm以下となり、図12に基づき説明
した例の10分の1程度のばらつきとなる。また、ミク
ロンオーダあるいはそれ以下に膜厚のばらつきを抑える
ことができるので、上記のようなミクロンあるいはサブ
ミクロンオーダの精度が要求される光スイッチング素子
を製造するのに適した製造方法であることが分かる。ま
た、この方法により製造されたエバネセント光を用いた
光スイッチングデバイスは、反射率、応答速度などの光
学特性が良好であり、歩留まりも向上している。
Then, as shown in FIG. 10D, by releasing the transfer mold 110, a sample 150 having the resin layer 121 formed into a uniform and desired shape can be obtained. The variation in the thickness of the resin layer 121 formed in this manner is 1 μm or less, which is about 1/10 of the variation described with reference to FIG. In addition, since the variation in film thickness can be suppressed to the order of microns or less, it is a manufacturing method suitable for manufacturing an optical switching element requiring accuracy of the order of microns or submicrons as described above. I understand. The optical switching device using evanescent light manufactured by this method has good optical characteristics such as reflectance and response speed, and also has an improved yield.

【0050】このように、本発明の製造方法により形状
を安定して転写できることは転写型の圧力を低くできる
ことにも表れている。すなわち、前もって、スピンコー
トにより均一な樹脂層が塗布される準備工程を設けてお
くことで、型転写する際に、樹脂剤120を加圧して伸
ばす必要がなくなる。このため、樹脂剤120を全体に
広げるための力が不要になり、0.001Kg/mm2
度の圧力で十分に所望の形状が成形される。これに対
し、先に説明した方法(図12参照)では、0.01Kg
/mm2程度必要であった。したがって、本発明の製造
方法により、転写型を押し付ける圧力を0.001Kg/
mm2程度と、圧力値を1桁程度小さくできる。これに
より、加圧する際の転写型のゆがみ等もなく、膜厚管理
が容易にでき、歩留りが向上する。また、予め、基板上
に樹脂剤を広げておくことで、表面の気むら(圧力ム
ラ)の発生を防ぐことができる。この点においても、均
一な膜厚を精度良く管理でき、歩留りを向上させること
ができる。
As described above, the fact that the shape can be stably transferred by the manufacturing method of the present invention also means that the pressure of the transfer mold can be reduced. In other words, by providing a preparation step in which a uniform resin layer is applied by spin coating in advance, it is not necessary to extend the resin agent 120 by pressing the mold when transferring the mold. For this reason, a force for spreading the resin agent 120 over the whole becomes unnecessary, and a desired shape can be sufficiently formed with a pressure of about 0.001 kg / mm 2 . On the other hand, in the method described above (see FIG. 12), 0.01 kg
/ Mm 2 was required. Therefore, according to the production method of the present invention, the pressure for pressing the transfer mold is 0.001 kg /
The pressure value can be reduced by about one digit to about mm 2 . Accordingly, there is no distortion of the transfer mold at the time of pressurization, the film thickness can be easily controlled, and the yield is improved. Further, by spreading the resin agent on the substrate in advance, it is possible to prevent the occurrence of unevenness (pressure unevenness) on the surface. Also in this regard, a uniform film thickness can be accurately managed, and the yield can be improved.

【0051】また、上記の第1の実験例の準備工程で
は、半導体基板上に形成された層に、樹脂剤をスピンコ
ートにより塗布する方法を説明しているが、これに限ら
ず、転写型の表面に、樹脂剤をスピンコートにより塗布
しても良い。あるいは、両方の基板に塗布しておくこと
もできる。
Further, in the preparation step of the first experimental example, a method of applying a resin agent to a layer formed on a semiconductor substrate by spin coating has been described. However, the present invention is not limited to this. , A resin agent may be applied by spin coating. Alternatively, it can be applied to both substrates.

【0052】半導体基板上と転写型の両方に樹脂剤を塗
布する場合は、以下のように製造できる。先の第1の実
験例と同様に、先ず、第2の実験例でも、ガラスウエハ
(基板)上を密着性を上げるために、表面をシリコンカ
ップリング剤で表面処理をする。本例でも、信越化学工
業製のKBM5103をスピンナーで塗布後100℃で1
0分程ベークする。その後に、基板上にスピンコートに
より紫外線硬化型の樹脂剤を5μm程度の厚さにコーテ
ィングする。
When a resin material is applied to both the semiconductor substrate and the transfer mold, the production can be performed as follows. As in the first experimental example, first, in the second experimental example, the surface is treated with a silicon coupling agent in order to increase the adhesion on the glass wafer (substrate). In this example, KBM5103 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
Bake for about 0 minutes. Thereafter, an ultraviolet curable resin agent is coated on the substrate to a thickness of about 5 μm by spin coating.

【0053】これに加え、シリコン基板にエッチングに
より形状を作り込んだ転写型の基板(成形面)側にも、
同様に、スピンコートにより紫外線硬化型の樹脂剤をコ
ーティングする。このとき、5μm程度の厚みにコーテ
ィングする。
In addition, the transfer-type substrate (molding surface), which is formed by etching the silicon substrate, has
Similarly, an ultraviolet curable resin agent is coated by spin coating. At this time, coating is performed to a thickness of about 5 μm.

【0054】樹脂剤には、第1の実験例と同様に、モノ
マー、アクリレートまたはメタクリレートモノマーが望
ましい。例えば、市販されているアクリレート系の新日
鉄化学のV−2400PET等がある。さらに、樹脂剤
は、上記のアクリレート系の紫外線硬化型の樹脂(新日
鉄化学のV−2400PET)を、エチレングリコール
・モノ・エチルエーテル・アセテートに20%程度に溶
解させて用いることも可能である。
As in the first experimental example, a monomer, acrylate or methacrylate monomer is desirable for the resin agent. For example, commercially available acrylate-based Nippon Steel Chemical's V-2400PET is available. Further, as the resin agent, it is also possible to use the acrylate-based ultraviolet-curable resin (V-2400PET of Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) dissolved in ethylene glycol monoethyl ether acetate to about 20%.

【0055】その後、これらの樹脂がコーティングされ
た2つの基板(半導体基板と転写型)を合わせて、両側
から0.001Kg/mm2程度の圧力を加える。そし
て、光重合させるために、350nmの紫外線を100
0mJ/cm2照射する。その結果、転写型が成形され
た微細構造体を備えたサンプルが形成される。
Thereafter, a pressure of about 0.001 kg / mm 2 is applied from both sides to the two substrates (semiconductor substrate and transfer mold) coated with these resins. Then, for photopolymerization, ultraviolet light of 350 nm is irradiated for 100 hours.
Irradiate 0 mJ / cm 2 . As a result, a sample including the microstructure on which the transfer die is formed is formed.

【0056】このように、2つの基板(半導体基板と転
写型)の両方に、前もって、スピンコートにより樹脂剤
を広げて樹脂層を形成しておくことで、第1の実験例と
同様に、加圧する力を0.001Kg/mm2程度とかな
り小さくすることができる。したがって、この第2の実
験でも、図12に示した方法に比べて、1桁程小さくで
きる。これにより、加圧する圧力のバランスがとり易く
なり、加圧する際の転写型のゆがみ等もなく、膜厚管理
が容易にでき、歩留りが向上する。
As described above, by previously spreading the resin material by spin coating to form the resin layer on both of the two substrates (the semiconductor substrate and the transfer type), the same as in the first experimental example, The pressing force can be considerably reduced to about 0.001 kg / mm 2 . Therefore, even in the second experiment, the size can be reduced by about one digit compared to the method shown in FIG. Thereby, the pressure to be applied can be easily balanced, and there is no distortion of the transfer mold at the time of pressing, the film thickness can be easily controlled, and the yield is improved.

【0057】また、この方法により作製されたサンプル
(微細構造体)も、膜厚のばらつきは1μm以下にな
り、図12を参照して先に説明した例、すなわち、単
に、各基板の間に樹脂を乗せ、後に加圧する方法では、
膜厚のばらつきが10μm程度であったのに対し、本例
の製造方法であれば、成形された膜厚のばらつきを1桁
あるいはそれ以上小さくすることができる。
Also, in the sample (fine structure) manufactured by this method, the variation in the film thickness is 1 μm or less, and the example described above with reference to FIG. In the method of putting the resin and pressing it later,
Whereas the variation in the film thickness is about 10 μm, the manufacturing method of this example can reduce the variation in the formed film thickness by one digit or more.

【0058】以上に説明したように、本発明の製造方法
であれば、準備工程において、予め、樹脂剤をスピンコ
ートによりコーティングしているので、精度良く、均一
な膜厚の樹脂層が形成された状態で、転写型を押し付け
ることができる。このため、型転写する際には、小さな
力で加圧すればよく、加圧する際のバランスがとり易
く、これに伴う製造時のばらつきは、サブミクロンオー
ダに収まる。同時に、各々のチップあるいは微細構造の
グループ単位での精度が向上することはもちろん、ウェ
ハ全体の寸法のばらつきが非常に少なくなるので歩留ま
りが向上する。
As described above, according to the manufacturing method of the present invention, in the preparatory step, the resin material is previously coated by spin coating, so that a resin layer having a uniform and accurate film thickness can be formed. In this state, the transfer mold can be pressed. For this reason, when transferring the mold, it is only necessary to apply pressure with a small force, and it is easy to balance the application of pressure, and the variation at the time of manufacture accompanying this is within the submicron order. At the same time, not only the accuracy of each chip or microstructure in a group unit is improved, but also the dimensional variation of the whole wafer is extremely reduced, so that the yield is improved.

【0059】このため、本発明により、高品質のデバイ
スを低コストで量産することができる。したがって、今
後のマイクロレプリカ技術として非常に有用なものであ
る。特に、本発明に係る微細構造体の製造方法では、マ
イクロレプリカ技術の弱点であった厚み方向のばらつき
をサブミクロンオーダまでに縮めることができ、上記に
て例示したエバネセント光を用いた映像表示デバイスを
量産するための技術としては重要なものである。
Therefore, according to the present invention, high-quality devices can be mass-produced at low cost. Therefore, it is very useful as a future micro replica technology. In particular, in the method of manufacturing a microstructure according to the present invention, the variation in the thickness direction, which was a weak point of the micro-replica technology, can be reduced to the order of submicron, and the image display device using the evanescent light exemplified above. This is an important technology for mass-producing.

【0060】なお、上記では、準備工程において、スピ
ンコートにより、樹脂剤をコーティングしている例に基
づき本発明を説明しているが、これに限らず、フレキソ
印刷も膜厚を管理する方法としては確立した技術であ
り、フレキソ印刷により樹脂剤をコーティングして均一
な膜厚の樹脂層を前もって形成することが可能である。
そして、フレキソ印刷を用いた製造方法も本発明に含ま
れる。
In the above description, the present invention has been described based on an example in which a resin agent is coated by spin coating in the preparation step. However, the present invention is not limited to this, and flexographic printing is also used as a method for controlling the film thickness. Is a well-established technology, and it is possible to form a resin layer having a uniform thickness in advance by coating a resin agent by flexographic printing.
A manufacturing method using flexographic printing is also included in the present invention.

【0061】また、上記では、半導体基板上に静電アク
チュエータと、光学素子が垂直に積み重ねられた光スイ
ッチング素子を例に説明しているが、ピエゾ効果などの
他の電気機械的な効果を用いたアクチュエータの上に光
学素子を構築する光スイッチングデバイスにも本発明を
適用できる。さらに、スイッチングする対象はエバネセ
ント波に限定されることはなく、他の光学系においてス
イッチング作用を示す光学素子アレイも同様に製造する
ことができる。もちろん、スイッチングの対象は光に限
らず、流体などの他の媒体であってもよい。また、上述
したように、アクチュエータとスイッチングの組み合わ
せに限らず、マイクロレプリカ技術を用いて他の微細構
造体、たとえば、半導体基板上に光学素子をダイレクト
に積層するような装置や面発光レーザ基板などに対して
も本発明を適用することができる。
In the above description, an electrostatic actuator and an optical switching element in which optical elements are vertically stacked on a semiconductor substrate are described as an example. However, other electromechanical effects such as a piezo effect can be used. The present invention can also be applied to an optical switching device that constructs an optical element on an actuator that has been used. Further, an object to be switched is not limited to an evanescent wave, and an optical element array exhibiting a switching action in another optical system can be similarly manufactured. Of course, the switching target is not limited to light, but may be another medium such as a fluid. Further, as described above, not only the combination of the actuator and the switching, but also other microstructures using a micro replica technology, such as a device in which an optical element is directly stacked on a semiconductor substrate, a surface emitting laser substrate, and the like. The present invention can also be applied to

【0062】[0062]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明の微細構
造体の製造方法では、型転写により微細構造を成形する
際に、前もって、基板上に樹脂剤をスピンコートまたは
フレキソ印刷して樹脂層を形成する準備工程を設けるよ
うにしている。したがって、転写型を加圧する前に、基
板上に均一に樹脂を広げることができる。このように、
本発明の製造方法においては、厚み方向の寸法精度を決
める技法として信頼性の高いにスピンコートまたはフレ
キソ印刷といった方法を、微細形状を精度よく形成する
ことができる型転写による成形方法と組み合わせ、微細
構造を高精度で製造することができる。その効果は、転
写型により樹脂を加圧して伸ばす必要がなることから、
型転写の圧力値を1桁から2桁小さくできることにも表
れている。このため、本発明の製造方法においては、加
圧する際の転写型のゆがみ等もなく、膜厚管理が容易に
できることもあいまって、微細構造体の歩留りが向上す
る。また、予め、基板上に樹脂剤を広げておくことで、
表面の気むら(圧力ムラ)の発生を防ぐことができるの
で、この点においても、均一な膜厚を精度良く管理で
き、歩留りを向上させることができる。
As described above, in the method of manufacturing a microstructure according to the present invention, when a microstructure is formed by die transfer, a resin agent is spin-coated or flexographically printed on a substrate in advance. A preparation step for forming a layer is provided. Therefore, the resin can be evenly spread on the substrate before the transfer mold is pressed. in this way,
In the manufacturing method of the present invention, a highly reliable method such as spin coating or flexographic printing as a technique for determining the dimensional accuracy in the thickness direction is combined with a molding method by die transfer capable of forming a fine shape with high accuracy. The structure can be manufactured with high precision. The effect is that the resin needs to be pressed and stretched by the transfer mold,
It also shows that the pressure value of the mold transfer can be reduced by one to two digits. For this reason, in the manufacturing method of the present invention, the yield of the fine structure is improved because there is no distortion of the transfer mold at the time of pressurization and the film thickness can be easily controlled. Also, by spreading the resin agent on the substrate in advance,
Since unevenness of the surface (unevenness in pressure) can be prevented, a uniform film thickness can be accurately controlled in this respect, and the yield can be improved.

【0063】したがって、本発明により、マイクロレプ
リカ技術を用いてさらに精度の高いマイクロデバイスあ
るいはマイクロマシンを製造することが可能となる。特
に、ウェハからチップ化された微細構造体を量産する際
においては、本発明に係る製造方法を用いることにより
歩留まりを大幅に改善することができ、低コストで提供
できるようになる。
Therefore, according to the present invention, it is possible to manufacture a more accurate micro device or micro machine using the micro replica technology. In particular, when mass-producing chip-shaped microstructures from a wafer, the use of the manufacturing method according to the present invention can greatly improve the yield and can be provided at low cost.

【0064】上述したエバネセント光を用いた映像表示
デバイスにおいては、厚み方向にサブミクロン程度の精
度が要求されるが、本発明の製造方法により、そのよう
な要求を満足するチップを量産することが可能となる。
したがって、エバネセント光を用いた映像表示デバイス
を実際に製造し、量産するために本発明は好適なもので
ある。
In the above-described video display device using evanescent light, an accuracy of about sub-micron is required in the thickness direction. However, the production method of the present invention makes it possible to mass-produce chips satisfying such requirements. It becomes possible.
Therefore, the present invention is suitable for actually manufacturing and mass-producing an image display device using evanescent light.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】エバネセント光を用いる光スイッチング素子の
製造プロセスを示す図であり、半導体基板上に第1の電
極層を形成した状態を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a manufacturing process of an optical switching element using evanescent light, and is a diagram illustrating a state where a first electrode layer is formed on a semiconductor substrate.

【図2】光スイッチング素子の製造プロセスを示す図で
あり、第1の電極層の上に第1の犠牲層を形成した状態
を示す図である。
FIG. 2 is a view illustrating a manufacturing process of the optical switching element, and is a view illustrating a state in which a first sacrificial layer is formed on a first electrode layer.

【図3】半導体基板の上にアクチュエータを製造するプ
ロセスを示す図であり、第1の犠牲層の上に第2の電極
層(バネ層)を形成した状態を示す図である。
FIG. 3 is a view illustrating a process of manufacturing an actuator on a semiconductor substrate, and is a view illustrating a state in which a second electrode layer (spring layer) is formed on a first sacrificial layer.

【図4】半導体基板の上の第2の電極層の上に第2の犠
牲層を形成した状態を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a state in which a second sacrificial layer is formed on a second electrode layer on a semiconductor substrate.

【図5】本発明に係る、基板上にスピンコートにより樹
脂が塗布される準備工程の様子を示す図である。
FIG. 5 is a view showing a state of a preparation step of applying a resin on a substrate by spin coating according to the present invention.

【図6】図5に示したスピンコートされた樹脂層に転写
型を当て加圧する様子を示す図である。
6 is a view showing a state in which a transfer mold is applied to the spin-coated resin layer shown in FIG. 5 and pressure is applied.

【図7】型転写によりサポート構造が成形された様子を
示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a state where a support structure is formed by mold transfer.

【図8】型転写によりマイクロプリズムを成形する様子
を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a state in which a micro prism is formed by mold transfer.

【図9】図8で製造された光学素子を分離する状態を示
す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a state in which the optical element manufactured in FIG. 8 is separated.

【図10】図10(a)ないし図10(d)は、本発明
に係る予備工程を設けた製造方法に従って行った実験例
を模式的に示す図である。
10 (a) to 10 (d) are views schematically showing an experimental example performed according to a manufacturing method provided with a preliminary step according to the present invention.

【図11】エバネセント光を利用した映像表示デバイス
の概要を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an outline of a video display device using evanescent light.

【図12】図12(a)ないし図12(c)は、基板と
転写型の間に樹脂を挟み加圧し、型転写する様子を示す
模式図である。
12 (a) to 12 (c) are schematic views showing a state in which a resin is sandwiched between a substrate and a transfer mold, pressure is applied, and mold transfer is performed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 導光板(光ガイド) 2 入射光 3 樹脂層(光学素子) 4 マイクロプリズム 6 アクチュエータ 7 上電極およびバネ構造 8 下電極 9 アンカー 10 光スイッチング素子 11 ポスト(支柱) 12 駆動用の空間 20 半導体基板 25 アクチュエータアレイ層 26 光学素子アレイ層 32、34 犠牲層 35、36 樹脂 35a、36a 樹脂層 47 分離用のスペース 50 光スイッチングデバイス 55 映像表示デバイス 61、62 転写型(マイクロレプリカ) Reference Signs List 1 light guide plate (light guide) 2 incident light 3 resin layer (optical element) 4 microprism 6 actuator 7 upper electrode and spring structure 8 lower electrode 9 anchor 10 optical switching element 11 post (post) 12 driving space 20 semiconductor substrate Reference Signs List 25 actuator array layer 26 optical element array layer 32, 34 sacrificial layer 35, 36 resin 35a, 36a resin layer 47 space for separation 50 optical switching device 55 video display device 61, 62 transfer type (micro replica)

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の基板の間に樹脂層を挟み、加圧す
る型転写により微細構造体を成形する工程と、 その前に、少なくとも一方の前記基板上に、樹脂剤をス
ピンコートまたはフレキソ印刷することにより前記樹脂
層を形成する準備工程とを有する微細構造体の製造方
法。
1. A step of forming a microstructure by mold transfer in which a resin layer is sandwiched between a plurality of substrates and pressurized, and before that, a resin agent is spin-coated or flexographic-printed on at least one of the substrates. And a preparation step of forming the resin layer by performing the method.
【請求項2】 請求項1において、前記基板の一方は、
集積回路の形成された半導体基板であり、他方は形状を
転写する前記転写型であることを特徴とする微細構造体
の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein one of the substrates is:
A method for producing a microstructure, wherein the method is a semiconductor substrate on which an integrated circuit is formed, and the other is the transfer type for transferring a shape.
【請求項3】 請求項1において、前記微細構造体を成
形する工程は、前記基板を押し付けた状態で、光により
前記樹脂剤を硬化する工程を備えている微細構造体の製
造方法。
3. The method of manufacturing a microstructure according to claim 1, wherein the step of molding the microstructure includes a step of curing the resin agent with light while the substrate is pressed.
【請求項4】 請求項1において、前記準備工程では、
前記樹脂剤を有機溶剤に溶解して前記スピンコートする
ことを特徴とする微細構造体の製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein in the preparing step,
A method for producing a fine structure, comprising dissolving the resin agent in an organic solvent and performing the spin coating.
【請求項5】 請求項1において、前記微細構造体はマ
イクロ光学素子アレイである微細構造体の製造方法。
5. The method according to claim 1, wherein the microstructure is a micro-optical element array.
【請求項6】 請求項1において、前記微細構造体を成
形する工程で成形されるスイッチング部を駆動させるマ
イクロアクチュエータがアレイ状に配置されたアクチュ
エータアレイを備えており、 前記準備工程では、このアクチュエータアレイに重ねて
前記樹脂層を形成することを特徴とする微細構造体の製
造方法。
6. The micro-actuator according to claim 1, further comprising an actuator array in which micro-actuators for driving a switching unit formed in the step of forming the microstructure are arranged in an array. A method for manufacturing a fine structure, comprising forming the resin layer on an array.
【請求項7】 請求項6において、前記マイクロアクチ
ュエータを製造するための犠牲層が積層された他の構造
層が予め形成されており、 前記準備工程では、該他の構造層に重ねて前記樹脂層を
形成することを特徴とする微細構造体の製造方法。
7. The method according to claim 6, wherein another structural layer on which a sacrificial layer for manufacturing the microactuator is laminated is formed in advance, and in the preparing step, the resin is overlapped with the other structural layer. A method for producing a microstructure, comprising forming a layer.
【請求項8】 請求項6において、前記微細構造体を成
形する工程では、前記スイッチング部であるマイクロ光
学素子がアレイ状に配置されたマイクロ光学素子アレイ
を成形することを特徴とする微細構造体の製造方法。
8. The microstructure according to claim 6, wherein, in the step of forming the microstructure, a micro-optical element array in which micro-optical elements serving as the switching units are arranged in an array. Manufacturing method.
【請求項9】 請求8において、前記マイクロ光学素子
は、エバネセント光をスイッチングする微細構造体の製
造方法。
9. The method according to claim 8, wherein the micro-optical element switches a evanescent light.
【請求項10】 請求項6において、前記マイクロアク
チュエータは、静電アクチュエータである微細構造体の
製造方法。
10. The method according to claim 6, wherein the microactuator is an electrostatic actuator.
【請求項11】 マイクロアクチュエータがアレイ状に
配置されたアクチュエータアレイを基板上に製造する工
程と、 このアクチュエータアレイの上に、転写型を用いて樹脂
層からマイクロ光学素子がアレイ状に配置されたマイク
ロ光学素子アレイを成形する工程と、 このマイクロ光学素子アレイを成形する工程の前に、前
記アクチュエータの上、および前記転写型の上の少なく
ともいずれか一方に、樹脂剤をスピンコートまたはフレ
キソ印刷することにより前記樹脂層を形成する準備工程
とを有する映像表示デバイスの製造方法。
11. A step of manufacturing, on a substrate, an actuator array in which microactuators are arranged in an array, and micro-optical elements are arranged in an array from a resin layer using a transfer mold on the actuator array. Forming a micro-optical element array; and, before forming the micro-optical element array, spin-coating or flexographic printing a resin agent on at least one of the actuator and the transfer mold. And a preparation step of forming the resin layer thereby.
【請求項12】 請求項11において、前記マイクロア
クチュエータは静電アクチュエータであり、前記マイク
ロ光学素子アレイはエバネセント光により光スイッチン
グを行う映像表示デバイスの製造方法。
12. The method according to claim 11, wherein the micro-actuator is an electrostatic actuator, and the micro-optical element array performs optical switching by evanescent light.
【請求項13】 請求項11において、前記マイクロ光
学素子アレイを成形する工程は、前記アクチュエータお
よび前記転写型を押し付けた状態で、光により前記樹脂
剤を硬化する工程を有する映像表示デバイスの製造方
法。
13. The method of manufacturing an image display device according to claim 11, wherein the step of molding the micro-optical element array includes a step of curing the resin agent with light while pressing the actuator and the transfer mold. .
【請求項14】 請求項11において、前記準備工程で
は、前記樹脂剤を有機溶剤に溶解して前記スピンコート
することを特徴とする映像表示デバイスの製造方法。
14. The method according to claim 11, wherein, in the preparing step, the resin agent is dissolved in an organic solvent to perform the spin coating.
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