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JP2001111121A - 熱電モジュールおよび熱電モジュールを用いた温度調整プレート - Google Patents

熱電モジュールおよび熱電モジュールを用いた温度調整プレート

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JP2001111121A
JP2001111121A JP28319699A JP28319699A JP2001111121A JP 2001111121 A JP2001111121 A JP 2001111121A JP 28319699 A JP28319699 A JP 28319699A JP 28319699 A JP28319699 A JP 28319699A JP 2001111121 A JP2001111121 A JP 2001111121A
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thermoelectric module
mounting plate
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plate
thermoelectric
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浩永 秋葉
Satoshi Fukuhara
聡 福原
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Komatsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 本発明の課題は、被温度制御体の温度分布を均一なもの
とし得る熱電モジュール、および載置プレートの温度分
布を均一なものとし得る熱電モジュールを用いた温度調
整プレートの提供を目的とする。本発明の熱電モジュー
ル10は、電極11を載置プレート(被温度制御体)2
に対する接触領域10Aの全域に展開する形状としてい
る。本発明に関わる熱電モジュールを用いた温度調整プ
レート1は、熱電モジュール10における電極11を、
載置プレート2に対する接触領域10Aの全域に展開す
る形状としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、熱電モジュールお
よび熱電モジュールを用いた温度調整プレートに関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】半導体ウェハの製造工程は、基板(半導
体ウェハ)を加熱するベーキング処理工程や、加熱され
た基板を室温レベルにまで冷却するクーリング処理工程
を含んでいる。
【0003】これらベーキング処理やクーリング処理
は、温度調整プレートによって実施され、特に上述した
クーリング処理は、図3に示す如き温度調整プレート
(クーリングプレート)によって実施される。
【0004】この温度調整プレートAは、載置プレート
Bと水冷プレートCとの間に、複数個の熱電モジュール
D,D…を介装して成り、これら熱電モジュールD,D
…への通電によって、載置プレートBに載置された基板
Wを冷却する。
【0005】なお、各熱電モジュールDは、交互に配置
した多数のp型熱電素子pとn型熱電素子nとを、セラ
ミック材等から成る上下の伝熱板h,hに設けた電極
t,t…で接続することによって構成されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した構
成の温度調整プレートAでは、熱電モジュールD,D…
が互いに離隔して配置されているため、載置プレートB
の温度分布が不均一なものとなり、この載置プレートB
に載置された基板Wの温度分布も不均一となる不都合が
ある。
【0007】このような不都合を解消するものとして、
図4に示す温度調整プレートA′の如く、交互に配置し
た多数のp型熱電素子pとn型熱電素子nとを、載置プ
レートB′における取付面(接触面)の全域に亘って分散
配置するとともに電極t,t…により互いに接続して成
る熱電モジュールD′を採用し、この熱電モジュール
D′を絶縁性接着剤E′によって載置プレートB′と水
冷プレートC′との間に固定設置する構成が考えられ
る。
【0008】上記構成の温度調整プレートA′によれ
ば、多数の熱電素子(p,n)を載置プレートB′の全
域に亘って分散配置したことにより、上記載置プレート
B′における温度分布の不均一を大幅に改善することが
できる。
【0009】ここで、図5および図6に示す如く、載置
プレートB′はウェハWの形状に合わせて円盤形状を呈
している一方、熱電モジュールD′の各熱電素子(p,
n)は平面から見て格子状に配置されており、これら熱
電素子(p,n)は略矩形状の電極tによって接続され
ている。
【0010】このため、載置プレートB′に対する熱電
モジュールD′の接触領域Da′、すなわち熱電モジュ
ールD′において最外方に位置する複数個の電極tを結
ぶ仮想の円形領域(Da′)には、載置プレートB′の外
周縁部において電極tの存在しない空白部分sが生じる
こととなる。
【0011】また、上記載置プレートB′にボルト孔h
等が形成されている場合、このボルト孔hを避けて配置
された電極tとの間にも、接触領域Da′において電極
tの存在しない空白部分sが生じることとなる。
【0012】さらに、上記熱電モジュールD′の各熱電
素子(p,n)は全て直列に接続されているので、各熱
電素子(p,n)の接続条件を満足させるために、隣り
合う電極tをやむなく離隔配置した場合には、接触領域
Da′において電極tの存在しない空白部分が生じるこ
ととなる。
【0013】ここで、上記温度調整プレートA′におい
ては、熱電モジュールD′の電極tを介して、各熱電素
子(p,n)と載置プレートB′との間で熱伝達が行わ
れるため、上述したように載置プレートB′に対する熱
電モジュールD′の接触領域Da′に、電極tの配置さ
れていない空白部分sが存在することによって、載置プ
レートB′における温度分布に斑が生じ、もって基板W
の温度分布が不均一なものとなる不都合がある。
【0014】本発明は上記実状に鑑みて、被温度制御体
の温度分布を均一なものとすることの可能な熱電モジュ
ールの提供を目的とする。
【0015】また、本発明は上記実状に鑑みて、載置プ
レートの温度分布を均一なものとし得る熱電モジュール
を用いた温度調整プレートの提供を目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段および効果】上記目的を達
成するべく、請求項1の発明に関わる熱電モジュール
は、被温度制御体に接触し、多数個の熱電素子を被温度
制御体の接触面の全域に亘って分散配置するとともに、
隣接する熱電素子を電極により互いに接続して成る熱電
モジュールであって、前記電極を被温度制御体に対する
接触領域の全域に展開する形状としたことを特徴とす
る。上記構成によれば、電極を被温度制御体に対する接
触領域の全域に展開する形状とし、接触領域において電
極の配置されていない空白部分を埋めることによって、
被温度制御体の温度分布を均一なものとすることが可能
となる。
【0017】請求項2の発明に関わる熱電モジュールを
用いた温度調整プレートは、多数個の熱電素子を載置プ
レートの接触面の全域に亘って分散配置し、隣接する熱
電素子を電極により互いに接続して成る熱電モジュール
を、載置プレートの接触面に設けて成る熱電モジュール
を用いた温度調整プレートであって、熱電モジュールに
おける電極を載置プレートに対する接触領域の全域に展
開する形状としたことを特徴とする。上記構成によれ
ば、熱電モジュールにおける電極を、載置プレートに対
する接触領域の全域に展開する形状とし、接触領域にお
いて電極の配置されていない空白部分を埋めることによ
って、載置プレートの温度分布を均一なものとすること
が可能となる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、実施例を示す図面に基づい
て、本発明を詳細に説明する。図1および図2は、半導
体ウェハ等の基板の処理時において、クーリング処理を
実施するクーリングプレートに、本発明に関わる温度制
御プレートを適用した例を示している。なお、この温度
調整プレート1は、直径が 100〜300 mmの基板に対して
クーリング処理を実施するための大型のクーリングプレ
ートである。
【0019】この温度調整プレート1は、被温度制御体
である載置プレート2と、水冷プレート(熱交換器)3と
の間に、熱電モジュール10を介装することによって構
成されており、上記熱電モジュール10への通電によっ
て、上記載置プレート2に載置された基板(半導体ウェ
ハ)Wを冷却するものである。
【0020】基板Wの載置される載置プレート2は、熱
伝導性の良好なアルミニウム材、銅材、金属基複合材等
から形成され、基板Wより一回り大きな円盤形状の外観
を呈しており、一方、水冷プレート3は上記載置プレー
ト2に対応した円盤形状を呈している。
【0021】上述した載置プレート2と水冷プレート3
との間に介装された熱電モジュール10は、多数個のp
型熱電素子pとn型熱電素子nとを交互に配置するとと
もに、隣接するp型熱電素子pとn型熱電素子nとの一
端同士および他端同士を、それぞれ電極11,11…で
接続することにより構成されている。
【0022】また、熱電モジュール10は、上方側の電
極11,11…が絶縁性接着剤eによって載置プレート
2の下面(接触面)2aに接着固定されている。すなわ
ち、上記熱電モジュール10は、被温度制御体である載
置プレート2と絶縁性接着剤gを介して接触するもので
ある。
【0023】また、熱電モジュール10における下方側
の電極11,11…も、絶縁性接着剤eによって水冷プ
レート3の上面に接着固定されている。なお、載置プレ
ート2と水冷プレート3とは、複数本のボルトb,b…
を介して互いに結合されている。
【0024】ここで、上記熱電モジュール10は、その
各p型熱電素子pおよび各n型熱電素子nが、互いに等
しい間隔で載置プレート2における下面(接触面)の全域
に格子状に分散配置されている。
【0025】また、上記熱電モジュール10は、その全
てのp型熱電素子pおよびn型熱電素子nが、電極1
1,11…を介して互いに直列に接続されており、全て
一括して動作制御されるよう構成されている。
【0026】図2(a),(b)に示す如く、載置プレート
2に対する熱電モジュール10の接触領域10A、すな
わち熱電モジュール10において最外方に位置する複数
個の電極11,11…を結ぶ仮想の円形領域(10A)の
周縁域に位置する電極11,11…は、従来の略矩形状
の電極(図6中の符合t参照)とは大きく相違する異形呈
している。
【0027】すなわち、これら電極11,11…は、従
来の略矩形状の電極(図6中の符合t参照)と対応する
基本部11Aと、該基本部11Aから延在する増積部1
1aとを有している。
【0028】ここで、上記各電極11における増積部1
1aは、基本部11Aから接触領域10Aの一杯にまで
延設されており、図4から図6に示した従来の温度調整
プレートA′における電極tの存在しない空白部分sを
埋めるものである。
【0029】また、図2(a),(b)に示す各電極11,
11…は、載置プレート2に設けられたボルト組付け孔
hの周囲に位置しており、これら電極11,11…は、
従来の略矩形状の電極(図6中の符合t参照)と対応する
基本部11Aと、この基本部11Aから延在する増積部
11bとを有している。
【0030】ここで、上記各電極11における増積部1
1bは、基本部11Aからボルト組付け孔hの近傍にま
で延設されており、図4から図6に示した従来の温度調
整プレートA′における電極tの存在しない空白部分s
を埋めるものである。
【0031】なお、熱電モジュール10における電極1
1,11…において、図2に示した接触領域10Aの周
縁域やボルト組付け孔hの周囲等、特異な位置に配置さ
れた異形の電極11以外は、図6に示した従来の温度調
整プレートA′における電極tと同様、略矩形状を呈す
る電極11が採用されていることは勿論である。
【0032】また、熱電モジュール10における各電極
11,11…には、良好な導電性と熱伝導性とを兼ね備
えた銅材料が用いられており、熱電モジュール10を製
造する際、全ての電極11,11…は既存のエッチング
加工法により形成される。
【0033】上記構成の温度調整プレート1では、熱電
モジュール10における電極11,11…を、従来の熱
電モジュールの載置プレートに対する接触領域において
電極の配置されていない空白部分を埋める態様で形成す
ることにより、載置プレート2に対する接触領域10A
の全域に電極11,11…が展開することとなる。
【0034】かくして、上記熱電モジュール10によっ
て載置プレート2は温度分布に斑を生じることなく均一
に冷却されることとなり、これによって載置プレート2
に載置された基板Wも均一な温度分布で冷却されること
となる。
【0035】このように、本発明の熱電モジュール10
によれば、被温度制御体である載置プレートの温度分布
を均一なものとすることができ、また本発明の温度調整
プレート1よれば、基板Wの温度分布を均一なものとす
ることができる。
【0036】また、上述した構成によれば、熱電モジュ
ール10における電極11,11…を、従来の熱電モジ
ュールの載置プレートに対する接触領域において電極の
配置されていない空白部分を埋める態様で形成したこと
で、これら電極11は従来のよりも大型化することとな
り、載置プレート2に対する電極11,11…の接触面
積が増大することによって、載置プレート2と熱電モジ
ュール10との間で効率良く熱伝達が行われることとな
る。
【0037】なお、上述した実施例においては、接触領
域10Aの周縁域やボルト組付け孔hの周囲等に配置さ
れた電極11を例示したが、各熱電素子(p,n)の接
続条件を満足させるために、やむなく離隔して配置され
ている電極においても、上述したと同様に、電極の設け
られていない部分を埋める態様で大型化すれば良いこと
は言うまでもない。
【0038】また、上述した実施例における電極11
は、エッチング加工法によって銅材料から形成された一
層の電極であるが、実施例の電極11と同じく基本部と
増設部とを備えた表面電極を、従来と同じく略矩形状を
呈する電極本体に積層して成る二層構造の電極をも採用
することが可能である。ここで、上記二層構造の電極に
おける表面電極は、少なくとも熱伝導性の良好な材料か
ら形成されていれば良く、導電性に関しては熱電モジュ
ールの設置条件等に基づいて適宜に設定することが可能
である。
【0039】また、上述した実施例においては、熱電モ
ジュールを載置プレートに取付けて成る温度調整プレー
トを例示しているが、本発明に関わる熱電モジュール
は、載置プレートを用いることなく、適宜な絶縁層を介
して熱電モジュールに基板を直接に載置するよう構成し
た温度調整装置に対しても、極めて有効に適用し得るも
のであることは言うまでもない。
【0040】ここで、熱電モジュールと被温度制御体
(載置プレートやウェハ)との接触とは、必ずしも直接
的に接触している状態のみを指すものではなく、例えば
突起やシム等を介して接触し、空気層を介して熱交換を
行う場合をも指していることは言うまでもない。
【0041】また、上述した実施例においては、熱電モ
ジュールを載置プレートに取付けて成る温度調整プレー
トを例示しているが、本発明に関わる熱電モジュール
は、載置プレートのみならず、様々な被温度制御体に取
り付けられることによって、該被温度制御体の温度分布
を均一なものとすることも可能である。
【0042】また、熱電モジュールを載置プレートに取
付けて成る温度調整プレートの場合、載置プレートの形
状は円盤形状に限らず四角形等の多角形状の場合も有
り、この場合、熱電モジュールにおける接触領域は載置
プレートの外形に倣って設定されることは言うまでもな
い。
【0043】また、熱電モジュールを様々な被温度制御
体に取り付けて成る装置においても、被温度制御体は種
々の形状を採用することが可能であり、熱電モジュール
における接触領域は、被温度制御体の外形に倣って適宜
に設定されることは言うまでもない。
【0044】さらに、上述した各実施例においては、本
発明に関わる温度調整プレートを、クーリングプレート
に適用した例を示したが、熱電モジュールへの通電方向
を変えることにより、半導体ウェハ等の基板の製造時に
ベーキング処理を実施するホットプレートとして、本発
明を有効に適用し得ることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)および(b)は本発明に関わる温度調整プレ
ートを概念的に示す平面図および側面図。
【図2】(a)および(b)は本発明に関わる温度調整プレ
ートおよび熱電モジュールを概念的に示す要部平面図。
【図3】従来の温度調整プレートを概念的に示す側面
図。
【図4】従来の温度調整プレートを概念的に示す側面
図。
【図5】従来の温度調整プレートを概念的に示す平面
図。
【図6】従来の温度調整プレートの熱電モジュールを概
念的に示す要部平面図。
【符号の説明】
1…温度調整プレート、 2…載置プレート(被温度制御体)、 3…水冷プレート、 10…熱電モジュール、 10A…接触領域、 11…電極、 11A…基本部、 11a,11b…増積部、 p…p型熱電素子、 n…n型熱電素子、 W…基板(半導体ウェハ)。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被温度制御体に接触し、多数個の熱電素
    子を前記被温度制御体の接触面の全域に亘って分散配置
    するとともに、隣接する熱電素子を電極により互いに接
    続して成る熱電モジュールであって、 前記電極を、前記被温度制御体に対する接触領域の全域
    に展開する形状としたことを特徴とする熱電モジュー
    ル。
  2. 【請求項2】 多数個の熱電素子を載置プレートの接触
    面の全域に亘って分散配置し、隣接する熱電素子を電極
    により互いに接続して成る熱電モジュールを、前記載置
    プレートの接触面に設けて成る熱電モジュールを用いた
    温度調整プレートであって、 前記熱電モジュールにおける前記電極を、前記載置プレ
    ートに対する接触領域の全域に展開する形状としたこと
    を特徴とする熱電モジュールを用いた温度調整プレー
    ト。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009129968A (ja) * 2007-11-20 2009-06-11 Kelk Ltd 熱電モジュール
US20110283715A1 (en) * 2010-05-18 2011-11-24 Kelk Ltd. Temperature adjustment apparatus

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0210781A (ja) * 1988-06-29 1990-01-16 Komatsu Ltd 多段電子クーラー
WO1997037375A1 (en) * 1996-03-29 1997-10-09 Lam Research Corporation Solid state temperature controlled substrate holder
JPH11251565A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Union Material Kk 二次元配列結晶素子およびその製造方法
JPH11307828A (ja) * 1998-04-21 1999-11-05 Yamaha Corp 熱電変換装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0210781A (ja) * 1988-06-29 1990-01-16 Komatsu Ltd 多段電子クーラー
WO1997037375A1 (en) * 1996-03-29 1997-10-09 Lam Research Corporation Solid state temperature controlled substrate holder
JPH11251565A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Union Material Kk 二次元配列結晶素子およびその製造方法
JPH11307828A (ja) * 1998-04-21 1999-11-05 Yamaha Corp 熱電変換装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009129968A (ja) * 2007-11-20 2009-06-11 Kelk Ltd 熱電モジュール
US20110283715A1 (en) * 2010-05-18 2011-11-24 Kelk Ltd. Temperature adjustment apparatus
JP2011243731A (ja) * 2010-05-18 2011-12-01 Kelk Ltd 温調装置
US9752806B2 (en) 2010-05-18 2017-09-05 Kelk Ltd. Temperature adjustment apparatus

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