JP2001110082A - 光学ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光分離手段を透過する透過光が当該光分離手
段の光出射面で反射することによる迷光の発生を防ぎ、
安定した動作を確保する。 【解決手段】 光分離手段に、光源から出射され当該光
分離手段を透過した光ビームが出射する光出射面に、反
射防止処理が施されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば光磁気ディ
スク等の光学式ディスク（以下、光ディスクという。）
に対して信号を記録及び／又は再生するための光学ピッ
クアップ並びにこの光学ピックアップを備えた光ディス
ク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光磁気ディスク用の光学ピックア
ップとしては、例えば図１０に示すように構成されたも
のが実用化されている。

【０００３】この図１０に示す光学ピックアップ１は、
例えばミニディスク（ＭＤ）用の光学ピックアップとし
て構成されているものであって、光源としての半導体レ
ーザ素子２から出射され光ディスクＤに向かう光ビーム
の光路中に順次配設された非点収差補正板３ａ、グレー
ティング３ｂ、ビームスプリッタ４、コリメータレンズ
５、立上げミラー６及び対物レンズ７と、ビームスプリ
ッタ４の分離膜４ａにより分離された光ディスクＤから
の戻り光の光路中に順次配設されたウォラストンプリズ
ム８ａ、マルチレンズ８ｂ及び光検出器９とを備えてお
り、これらの各光学部品が個別にマウントされている。

【０００４】このような構成の光学ピックアップ１にお
いては、半導体レーザ素子２から出射される光ビーム
は、非点収差補正板３ａにより非点収差が補正された
後、グレーティング３ｂによって、主ビームと２つのサ
イドビームの３つの光ビームに分割され、それぞれビー
ムスプリッタ４に入射する。

【０００５】ビームスプリッタ４に入射した光ビームの
一部は、このビームスプリッタ４の分離膜４ａを透過
し、コリメータレンズ５によって平行光に変換された
後、立上げミラー６によって光路を折り曲げられて、対
物レンズ７により集束され、光ディスクＤの信号記録面
に照射される。このとき、グレーティング３ｂにより３
分割された各光ビームによって、光ディスクＤの信号記
録面には３つのスポットが形成される。

【０００６】光ディスクＤの信号記録面に照射された上
記光ビームは、磁気カー効果により、この光ディスクＤ
の信号記録面にて反射される際に、この信号記録面の当
該光ビームが照射された箇所の磁化の状態（記録状態）
に応じてその偏光面が回転される。

【０００７】光ディスクＤの信号記録面にて反射された
戻り光ビームは、再度対物レンズ７、立上げミラー６、
コリメータレンズ５を介して、ビームスプリッタ４に入
射する。

【０００８】ビームスプリッタ４に入射した戻り光ビー
ムの一部は、このビームスプリッタ４の分離膜４ａによ
り反射され、ウォラストンプリズム８ａに入射する。

【０００９】ウォラストンプリズム８ａは、２つの一軸
性結晶が貼り合わされてなるプリズムであり、２つの一
軸性結晶の接合面における両結晶の光学軸の方位の違い
により、入射した光を、それぞれ屈折角の異なるｐ偏
光、ｓ偏光、ｐ＋ｓ偏光（ビームスプリッタ４の分離膜
４ａに対する偏光方向）の３つの光線に分割するもので
ある。このウォラストンプリズム８ａに入射した戻り光
は、このウォラストンプリズム８ａにより３分割された
後、マルチレンズ８ｂにより非点収差を付与され且つ光
路長を延ばされて、光検出器９の受光面で受光され、信
号検出が行われる。

【００１０】ここで、光検出器９の受光面で受光された
戻り光のうち、ウォラストンプリズム８ａにより分割さ
れたｐ偏光の光とｓ偏光の光とに基づいて光磁気信号が
検出される。すなわち、光ディスクＤの信号記録面にて
偏光面が回転されて反射され、ウォラストンプリズム８
ａによりｐ偏光の光とｓ偏光の光とに分離された戻り光
が、光検出器９の受光面で受光されることにより、光デ
ィスクＤの信号記録面の磁化の状態（記録状態）が光の
強度変化として検出されることになる。

【００１１】また、光検出器９の受光面で受光された戻
り光のうち、ウォラストンプリズム８ａにより分割さ
れ、マルチレンズ８ｂにより非点収差が付与されたｐ＋
ｓ偏光の光に基づいて、いわゆる非点収差法によりフォ
ーカスエラー信号が検出される。さらに、光検出器９の
受光面で受光された戻り光のうち、上記グレーティング
３ｂにより分割された２つのサイドビームに基づいて、
いわゆる３スポット法によりトラッキングエラー信号が
検出される。

【００１２】そして、この光学ピックアップ１において
は、正確な光磁気信号の検出のために、半導体レーザ素
子２からの光ビームが光ディスクＤの信号記録面の正し
い位置にスポットを形成して、正確な記録信号の再生が
行われるように、上記対物レンズ７が、所定のサーボ信
号に基づいて微動されるようになっている。

【００１３】即ち、光ビームのスポットが光ディスクＤ
の記録トラックに追従するように、対物レンズ７を光デ
ィスクＤの径方向に沿って微動させるいわゆるトラッキ
ングサーボが、上記トラッキングエラー信号に基づいて
行われるとともに、光ビームが光ディスクＤの信号記録
面上に適切にスポットを形成するように、対物レンズ７
を光軸に沿って光ディスクＤの信号記録面に近接、離間
させる方向に微動させるいわゆるフォーカスサーボが、
上記フォーカスエラー信号に基づいて行われる。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
構成の光学ピックアップ１においては、個別にマウント
された複数個の光学部品により、光ディスクＤに書き込
まれている記録情報を読み取るようになっており、小型
化が困難であるとともに、部品点数が多く、各部品の製
造工程、光学ピックアップの組立工程や光学的な調整工
程が複雑になり、コストが高くなってしまうという問題
があった。

【００１５】本発明は、上述したような従来の実状に鑑
みて提案されたものであり、光学ピックアップの小型化
を有効に実現するとともに、製造コストの削減を可能と
し、更に、信頼性を向上させる光学ピックアップ並びに
この光学ピックアップを備えた光ディスク装置を提供し
ようとするものである。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明の光学ピックアッ
プは、光ディスクの信号記録面に対して光ビームを照射
して信号の記録及び／又は再生を行う光学ピックアップ
であって、集積光学素子と、上記光ビームを集束して上
記光ディスクの信号記録面に照射させる光集束手段とを
備える。そして、上記集積光学素子は、上記光ディスク
の信号記録面に照射する光ビームを出射する光源と、上
記光ディスクの信号記録面にて反射された戻り光ビーム
を受光する光検出器と、一方の主面部に開口部を有し、
内部に上記光源と上記光検出器とをそれぞれ収容するパ
ッケージ部材と、上記パッケージ部材の開口部を有する
主面部上に設けられ、上記光源から出射された光ビーム
を透過させるとともに、上記光検出器に向かう戻り光ビ
ームを透過させる光学部材と、上記光学部材と一体的に
設けられ、上記光源から出射された光ビームと上記光検
出器に向かう戻り光ビームとを分離する光分離手段とを
備える。

【００１７】そして、本発明の光学ピックアップは、上
記光学部材には、上記光分離手段により分離されて上記
光検出器へ向かう戻り光ビームの光路上に位置して、フ
ォーカスエラー信号を生成するためのフォーカスエラー
信号生成手段が一体形成されており、さらに、上記光分
離手段には、上記光源から出射され当該光分離手段を透
過した光ビームが出射する光出射面に、反射防止処理が
施されていることを特徴とする。

【００１８】上述したような本発明に係る光学ピックア
ップでは、各光学素子が集積され一体化されているとと
もに、フォーカスエラー信号生成手段が光分離手段に一
体形成されているので、全体の小型化が実現されるとと
もに、部品点数の削減が図られることになる。

【００１９】また、この光学ピックアップにおいては、
光源及び光検出器が一体的に構成され、例えば一つの基
板上に設けられていることにより、信号取り出しのため
のリード線の数を削減し、組立作業を単純化して、組立
コストの低減が図られるとともに、光源と光検出器との
相互の位置合わせも不要となる。

【００２０】さらに、この光学ピックアップにおいて
は、上記光分離手段の光出射面に、反射防止処理が施さ
れているので、迷光の発生が無くなり、安定した動作を
確保することができる。

【００２１】また、本発明の光学ピックアップは、光デ
ィスクの信号記録面に対して光ビームを照射して信号の
記録及び／又は再生を行う光学ピックアップであって、
第１の光ビームと第２の光ビームとを出射する集積光学
素子と、上記集積光学素子から出射された上記第１の光
ビームを集束して上記光ディスクの信号記録面に照射さ
せる光集束手段と、上記集積光学素子から出射された第
２の光ビームを受光し、当該第２の光ビームのパワーに
応じて上記集積光学素子が備える光源から出射される光
ビームの出力を制御する第１の光検出器とを備える。

【００２２】そして、上記集積光学素子は、上記光ディ
スクの信号記録面に照射する光ビームを出射する光源
と、上記光ディスクの信号記録面にて反射された戻り光
ビームを受光する第２の光検出器と、一方の主面部に開
口部を有し、内部に上記光源と上記第２の光検出器とを
それぞれ収容するパッケージ部材と、上記パッケージ部
材の開口部を有する主面部上に設けられ、上記光源から
出射された光ビームを透過させるとともに、上記第２の
光検出器に向かう戻り光ビームを透過させる光学部材
と、上記光学部材と一体的に設けられ、上記光源から出
射された光ビームを、第１の光ビームと第２の光ビーム
とに分離するとともに、第１の光ビームと上記第２の光
検出器に向かう戻り光ビームとを分離する光分離手段と
を備える。

【００２３】そして、本発明の光学ピックアップは、上
記光学部材には、上記光分離手段により分離されて上記
第２の光検出器へ向かう戻り光ビームの光路上に位置し
て、フォーカスエラー信号を生成するためのフォーカス
エラー信号生成手段が一体形成されており、さらに、上
記光分離手段には、上記光分離手段を透過した第２の光
ビームが出射する光出射面に、反射防止処理が施されて
いることを特徴とする。

【００２４】上述したような本発明に係る光学ピックア
ップでは、各光学素子が集積され一体化されているとと
もに、フォーカスエラー信号生成手段が光学部材に一体
形成されているので、全体の小型化が実現されるととも
に、部品点数の削減が図られることになる。

【００２５】また、この光学ピックアップにおいては、
光源及び光検出器が一体的に構成され、例えば一つの基
板上に設けられていることにより、信号取り出しのため
のリード線の数を削減し、組立作業を単純化して、組立
コストの低減が図られるとともに、光源と光検出器との
相互の位置合わせも不要となる。

【００２６】さらに、この光学ピックアップにおいて
は、上記光分離手段の光出射面に、反射防止処理が施さ
れているので、迷光の発生が無くなり、安定した動作を
確保することができる。

【００２７】また、本発明の光ディスク装置は、光ディ
スクの信号記録面に対して光ビームを照射し、この光デ
ィスクの信号記録面からの戻り光を検出する光学ピック
アップと、上記光学ピックアップの備える光検出器から
の検出信号に基づいて、再生信号を生成する信号処理回
路とを備え、上記光学ピックアップは、集積光学素子
と、上記光ビームを集束して上記光ディスクの信号記録
面に照射させる光集束手段とを備える。

【００２８】そして、上記集積光学素子は、上記光ディ
スクの信号記録面に照射する光ビームを出射する光源
と、上記光ディスクの信号記録面にて反射された戻り光
ビームを受光する光検出器と、一方の主面部に開口部を
有し、内部に上記光源と上記光検出器とをそれぞれ収容
するパッケージ部材と、上記パッケージ部材の開口部を
有する主面部上に設けられ、上記光源から出射された光
ビームを透過させるとともに、上記光検出器に向かう戻
り光ビームを透過させる光学部材と、上記光学部材と一
体的に設けられ、上記光源から出射された光ビームと上
記光検出器に向かう戻り光ビームとを分離する光分離手
段とを備える。

【００２９】そして、本発明の光ディスク装置は、上記
光学部材には、上記光分離手段により分離されて上記光
検出器へ向かう戻り光ビームの光路上に位置して、フォ
ーカスエラー信号を生成するためのフォーカスエラー信
号生成手段が一体形成されており、さらに、上記光分離
手段には、上記光源から出射され当該光分離手段を透過
した光ビームが出射する光出射面に、反射防止処理が施
されていることを特徴とする。

【００３０】上述したような本発明に係る光ディスク装
置では、上記集積光学素子の各光学素子が集積され一体
化されているとともに、フォーカスエラー信号生成手段
が光学部材に一体形成されているので、全体の小型化が
実現されるとともに、部品点数の削減が図られることに
なる。

【００３１】また、この光ディスク装置では、上記集積
光学素子の光源及び光検出器が一体的に構成され、例え
ば一つの基板上に設けられていることにより、信号取り
出しのためのリード線の数を削減し、組立作業を単純化
して、組立コストの低減が図られるとともに、光源と光
検出器との相互の位置合わせも不要となる。

【００３２】さらに、この光ディスク装置においては、
上記集積光学素子の光出射面に、反射防止処理が施され
ているので、迷光の発生が無くなり、安定した動作を確
保することができる。

【００３３】また、本発明の光ディスク装置は、光ディ
スクの信号記録面に対して光ビームを照射し、この光デ
ィスクの信号記録面からの戻り光を検出する光学ピック
アップと、上記光学ピックアップの備える第１の光検出
器からの検出信号に基づいて、上記光学ピックアップの
備える光源から出射される光ビームの出力を制御する制
御手段と、上記光学ピックアップの備える第２の光検出
器からの検出信号に基づいて、再生信号を生成する信号
処理回路とを備える。そして、上記光学ピックアップ
は、第１の光ビームと第２の光ビームとを出射する集積
光学素子と、上記集積光学素子から出射された上記第１
の光ビームを集束して上記光ディスクの信号記録面に照
射させる光集束手段と、上記集積光学素子から出射され
た第２の光ビームを受光し、当該第２の光ビームのパワ
ーに応じて上記集積光学素子が備える光源から出射され
る光ビームの出力を制御する第１の光検出器とを備え
る。

【００３４】そして、上記集積光学素子は、上記光ディ
スクの信号記録面に照射する光ビームを出射する光源
と、上記光ディスクの信号記録面にて反射された戻り光
ビームを受光する第２の光検出器と、一方の主面部に開
口部を有し、内部に上記光源と上記第２の光検出器とを
それぞれ収容するパッケージ部材と、上記パッケージ部
材の開口部を有する主面部上に設けられ、上記光源から
出射された光ビームを透過させるとともに、上記第２の
光検出器に向かう戻り光ビームを透過させる光学部材
と、上記光学部材と一体的に設けられ、上記光源から出
射された光ビームを、第１の光ビームと第２の光ビーム
とに分離するとともに、第１の光ビームと上記第２の光
検出器に向かう戻り光ビームとを分離する光分離手段と
を備える。

【００３５】そして、本発明の光ディスク装置は、上記
光学部材には、上記光分離手段により分離されて上記第
２の光検出器へ向かう戻り光ビームの光路上に位置し
て、フォーカスエラー信号を生成するためのフォーカス
エラー信号生成手段が一体形成されており、さらに、上
記光分離手段には、上記光分離手段を透過した第２の光
ビームが出射する光出射面に、反射防止処理が施されて
いることを特徴とする。

【００３６】上述したような本発明に係る光ディスク装
置では、上述したような本発明に係る光ディスク装置で
は、上記集積光学素子の各光学素子が集積され一体化さ
れているとともに、フォーカスエラー信号生成手段が光
学部材に一体形成されているので、全体の小型化が実現
されるとともに、部品点数の削減が図られることにな
る。

【００３７】また、この光ディスク装置では、上記集積
光学素子の光源及び光検出器が一体的に構成され、例え
ば一つの基板上に設けられていることにより、信号取り
出しのためのリード線の数を削減し、組立作業を単純化
して、組立コストの低減が図られるとともに、光源と光
検出器との相互の位置合わせも不要となる。

【００３８】さらに、この光ディスク装置においては、
上記集積光学素子の光出射面に、反射防止処理が施され
ているので、迷光の発生が無くなり、安定した動作を確
保することができる。

【００３９】

【発明の実施の形態】本発明を適用した光ディスク装置
の一例の全体構成を図１に示す。この光ディスク装置１
０は、図１に示すように、光磁気ディスク等の光学式デ
ィスク（以下、光ディスク１１という。）を回転駆動す
る駆動手段としてのスピンドルモータ１２と、このスピ
ンドルモータ１２により回転駆動される光ディスク１１
の信号記録面に対して光ビームを照射し、この光ディス
ク１１の信号記録面により反射された戻り光ビームを受
光して光ディスク１１の信号記録面に記録された記録信
号を読み取る光学ピックアップ２０と、これらスピンド
ルモータ１２及び光学ピックアップ２０を制御する制御
部１３とを備えている。

【００４０】制御部１３は、光ディスクコントローラ１
４と、信号処理回路１５と、ＡＰＣ（Auto-Power-Contr
ol）回路１６と、インターフェース１７と、ヘッドアク
セス制御部１８と、サーボ制御部１９とを備えている。

【００４１】光ディスクコントローラ１４は、スピンド
ルモータ１２を所定の回転数で駆動制御するとともに、
制御部１３内の各部の動作を制御する。

【００４２】信号処理回路１５は、光学ピックアップ２
０により光ディスク１１から読み取られた記録信号を復
調して誤り訂正し、インターフェース１７を介して外部
コンピュータ等に送出する。これにより、外部コンピュ
ータ等は、光ディスク１１に記録された信号を再生信号
として受け取ることができるようになっている。

【００４３】ＡＰＣ回路１６は、光学ピックアップ２０
から出射された光ビームの受光パワーを測定し、この受
光パワーが所定値となるように、光源の駆動電流を制御
する。

【００４４】ヘッドアクセス制御部１８は、光ディスク
コントローラ１４の制御のもと、光学ピックアップ２０
を、光ディスク１１の信号記録面上の所定の記録トラッ
クまで、例えばトラックジャンプ等により移動させる。

【００４５】サーボ制御部１９は、光ディスクコントロ
ーラ１４の制御のもと、この移動された所定位置におい
て、光学ピックアップ２０の二軸アクチュエータに保持
されている対物レンズを、光ディスク１１の信号記録面
に近接離間する方向（フォーカシング）及び光ディスク
１１の径方向に沿った方向（トラッキング方向）の二軸
方向に移動させ、フォーカスサーボ及びトラッキングサ
ーボを行う。

【００４６】光学ピックアップ２０は、図２に示すよう
に、光源や光検出器を含む複数の光学素子が集積されて
なる集積光学素子３０と、この集積光学素子３０から出
射された光ビームを集束して光ディスク１１の信号記録
面上に照射させる光集束手段としての対物レンズ２１
と、集積光学素子３０から出射された光ビームの光路を
折り曲げて対物レンズ２１に導くとともに、光ディスク
１１の信号記録面にて反射された戻り光ビームの光路を
折り曲げて集積光学素子３０に導くための立上げミラー
２２と、集積光学素子３０から出射された別の光ビーム
を受光するＦＡＰＣ（Front Auto-Power-Control）用光
検出器２３とを備えている。

【００４７】集積光学素子３０の光源から出射された光
ビームのうち、第１のビームスプリッタ膜７６を透過し
た光ビームが光ディスクに導かれる一方、第１のビーム
スプリッタ膜７６で反射分離された光ビームは複合プリ
ズム７０の端面を通り、集積光学素子３０の外部に出射
され、ＦＡＰＣ用光検出器２３に導かれる。そして、Ｆ
ＡＰＣ用光検出器２３は、受光した第２の光ビームの受
光パワーを測定し、この受光パワーが所定値となるよう
に、光源となる半導体レーザ素子３１のレーザ駆動電流
を制御する。これがAuto-Power-Controlである。

【００４８】このときにＦＡＰＣ用光検出器２３に入射
する光を対物レンズ２１に入射する広がり角と同等の範
囲にするための図示しないアパーチャをＦＡＰＣ光検出
器の前に設ければ、レーザの発散角のばらつきや発散角
の出射パワー依存性に影響されない安定したAuto-Power
-Control出力が得られる。

【００４９】集積光学素子３０は、図３に示すように、
光源としての半導体レーザ素子３１と、この半導体レー
ザ素子３１から出射された光ビームの光路を折り曲げる
機能を有する三角プリズム３２と、この三角プリズム３
２により光路が折り曲げられたレーザ光を透過させると
ともに、光ディスク１１の信号記録面にて反射された戻
り光ビームを透過させる透明材料よりなる光学部材６１
と、光ディスク１１に向かう光ビームと光ディスク１１
の信号記録面にて反射された戻り光ビームとを分離する
機能を有する光分離手段としての複合プリズム７０と、
戻り光ビームを受光する光検出器としてのフォトディテ
クタＩＣ６２とを備えている。

【００５０】ここで、半導体レーザ素子３１と三角プリ
ズム３２とフォトディテクタＩＣ６２とは、図４に示す
ように、それぞれ樹脂パッケージ３６内に配設された基
板３７上に設けられている。また、樹脂パッケージ３６
には、その一方の主面部に開口部３６ａが設けられてお
り、この開口部３６ａが設けられた樹脂パッケージ３６
の主面部上に、この開口部３６ａを閉塞するように、光
学部材６１が接着剤等により接合されている。さらに、
光学部材６１上には、複合プリズム７０が接着剤等によ
り接合されている。すなわち、集積光学素子３０は、上
記各部材が集積され、一体の素子として構成されてい
る。そして、この集積光学素子３０は、図示しないガイ
ド軸に沿って光ディスク１１の半径方向に移動可能に支
持された光学ベース上に固定され、保持されている。

【００５１】半導体レーザ素子３１は、半導体の再結合
発光を利用した発光素子であり、光ディスク１１の信号
記録面に照射させるレーザ光（光ビーム）を出射する。

【００５２】三角プリズム３２は、基板３７に対して約
４５度の傾斜角で傾斜する傾斜面（反射面３２ａ）を有
し、この反射面３２ａにて、半導体レーザ素子３１から
基板３７に対して略平行な方向に出射された光ビームを
反射し、その光路を約９０度折り曲げる。

【００５３】複合プリズム７０は、図５に示すように、
第１乃至第５の５つの部材７１，７２，７３，７４，７
５が接着剤等により接合され一体化されてなり、光学部
材６１上に接合されている。

【００５４】第１の部材７１は、樹脂パッケージ３６内
に配設された基板３７に対して約４５度の傾斜角で傾斜
する傾斜面７１ａと、基板３７に対して略垂直に形成さ
れたた端面７１ｂと有する三角プリズムよりなる。そし
て、第１の部材７１には、その傾斜面７１ａを接合面と
して、第２の部材７２が接着剤を介して接合されてい
る。ここで、端面７１ｂは、第１のビームスプリッタ膜
７６で反射分離された光ビームが、ＦＡＰＣ用光検出器
２３に向けて集積光学素子６０から出射される際の光出
射端面となる。

【００５５】ところが、第１のビームスプリッタ膜７６
で反射分離された光ビームが、ＦＡＰＣ用光検出器２３
に向けて集積光学素子６０から出射される際に、この端
面７１ｂで当該光ビームが反射してしまうという問題が
あった。端面７１ｂで反射した光ビームは、不要な迷光
となり、この迷光がフォトディテクタＩＣ６２における
安定な光検出を妨げてしまう。

【００５６】そこで、本発明では、この端面７１ｂに、
反射防止処理が施されている。端面７１ｂに反射防止処
理を施す方法として具体的には、例えば第１の部材７１
の端面７１ｂ上に無反射コート膜や光吸収膜等を形成す
ることが挙げられるが、端面７１ｂにおける反射を抑え
ることができるものであるならば、これに限定されな
い。

【００５７】図６に、上記無反射コート膜についての波
長−反射率特性曲線を示す。また、図７に、上記光吸収
膜についての波長−反射率特性曲線を示す。図６及び図
７から明らかなように、無反射コート膜及び光吸収膜
の、波長８００ｎｍ以下の光ビームの反射率はいずれも
１％以下であることがわかる。

【００５８】したがって、複合プリズム７０の光出射端
面である端面７１ｂに、無反射コート膜や光吸収膜によ
る反射防止処理を施すことで、端面７１ｂにおける反射
を抑え、迷光の発生を防止して、集積光学素子６０を安
定に動作させることができる。

【００５９】第２の部材７２は、樹脂パッケージ３６内
に配設された基板３７に対して約４５度の傾斜角で傾斜
する一対の傾斜面７２ａ，７２ｂを有し、断面が平行四
辺形となるプリズムよりなる。そして、この第２の部材
７２の一方の傾斜面７２ａには、第１のビームスプリッ
タ膜７６が形成されており、他方の傾斜面７２ｂには、
第２のビームスプリッタ膜７７が形成されている。これ
ら第１のビームスプリッタ膜７６と第２のビームスプリ
ッタ膜７７は、ともに誘電体多層膜よりなる。そして、
第１のビームスプリッタ膜７６は、部分偏光型のビーム
スプリッタとして構成されており、第２のビームスプリ
ッタ膜７７は、無偏光分離型のビームスプリッタとして
構成されている。

【００６０】第１のビームスプリッタ膜７６は、光ディ
スク１１に向かう光ビームの一部を透過し、光ディスク
１１からの戻り光ビームの一部を反射して、光ディスク
１１に向かう光ビームと光ディスク１１からの戻り光ビ
ームとを分離する機能を有する。また、この第１のビー
ムスプリッタ７６は、部分偏光型のビームスプリッタと
して構成されており、入射する光の偏光方向に応じてそ
の透過率を異ならせるので、戻り光ビームの偏光面の回
転角を増大させる、いわゆるカー回転角のエンハンス効
果を発揮させることができる。

【００６１】第２のビームスプリッタ膜７７は、第１の
ビームスプリッタ膜７６を透過し、第２の部材７２を通
過した戻り光ビームの一部を透過すると共に他の一部を
反射して、戻り光ビームを分離する機能を有する。

【００６２】一対の傾斜面７２ａ，７２ｂに第１及び第
２のビームスプリッタ膜７６，７７がそれぞれ形成され
た第２の部材７２は、第１のビームスプリッタ膜７６が
形成された一方の傾斜面７２ａを第１の部材７１に対す
る接合面として、第１の部材７１の傾斜面７１ａに接着
剤を介して接合されている。また、この第２の部材７２
には、第２のビームスプリッタ膜７７が形成された他方
の傾斜面７２ｂを接合面として、第３の部材７３が接着
剤を介して接合されている。

【００６３】第３の部材７３は、人工水晶等が、樹脂パ
ッケージ３６内に配設された基板３７に対して約４５度
の傾斜角で傾斜する一対の傾斜面７３ａ，７３ｂを有
し、断面が平行四辺形となるように成形された半波長板
よりなる。この半波長板よりなる第３の部材７３は、図
８に示すように、その光学軸方位が、面内での回転φが
約２０°となり、一方の傾斜面７３ａと光学軸とのなす
角θが約１３．８°となるように設定されることが望ま
しい。このように、半波長板よりなる第３の部材７３の
光学軸方位を、面内での回転φが約２０°となり、一方
の傾斜面７３ａと光学軸とのなす角θが約１３．８°と
なるように設定すれば、この第３の部材７３に対して斜
めに入射してきた戻り光ビームの各部の入射位置の違い
に応じた屈折率差に起因する位相のずれを補正すること
ができる。

【００６４】この半波長板よりなる第３の部材７３は、
光ディスク１１の信号記録面にて反射され、第１及び第
２のビームスプリッタ７６，７７を透過した戻り光ビー
ムの偏光面を４５°回転させる機能を有する。

【００６５】この半波長板よりなる第３の部材７３は、
一方の傾斜面７３ａを第２の部材７２に対する接合面と
して、第２の部材７２の第２のビームスプリッタ膜７７
が形成された他方の傾斜面７２ｂに接着剤を介して接合
されている。また、この半波長板よりなる第３の部材７
３は、他方の傾斜面７３ｂを接合面として、第４の部材
７４が接着剤を介して接合されている。

【００６６】第４の部材７４は、樹脂パッケージ３６内
に配設された基板３７に対して約４５度の傾斜角で傾斜
する一対の傾斜面７４ａ，７４ｂを有し、断面が平行四
辺形となるプリズムよりなる。そして、この第４の部材
７４の他方の傾斜面７４ｂには、偏光ビームスプリッタ
膜７８が形成されている。

【００６７】偏光ビームスプリッタ膜７８は、誘電体多
層膜よりなり、その多重干渉効果により、入射する光を
その偏光方向に応じて完全に分離する。すなわち、この
偏光ビームスプリッタ膜７８は、入射面に平行なＰ偏光
成分をほぼ１００％透過し、入射面に垂直なＳ偏光成分
をほぼ１００％反射するように設計されている。

【００６８】この偏光ビームスプリッタ膜７８には、半
波長板よりなる第３の部材７３を透過することにより偏
光面が４５°回転された戻り光ビームが第４の部材７４
を介して入射することになる。複合プリズム７０におい
ては、以上のように、第３の部材７３により偏光面が４
５°回転された戻り光ビームを偏光ビームスプリッタ膜
７８に入射させて偏光分離させることにより、いわゆる
４５°ＭＯ差動検波による光磁気信号（ＭＯ）の検出を
行えるようにしている。

【００６９】他方の傾斜面７４ｂに偏光ビームスプリッ
タ膜７８が形成された第４の部材７４は、一方の傾斜面
７４ａを第３の部材７３に対する接合面として、第３の
部材７３の他方の傾斜面７３ｂに接着剤を介して接合さ
れている。また、この第４の部材７４には、偏光ビーム
スプリッタ膜７８が形成された他方の傾斜面７４ｂを接
合面として、第５の部材７５が接着剤を介して接合され
ている。

【００７０】第５の部材７５は、樹脂パッケージ３６内
に配設された基板３７に対して約４５度の傾斜角で傾斜
する一対の傾斜面７５ａ，７５ｂを有し、断面が平行四
辺形となるプリズムよりなる。そして、この第５の部材
７５の他方の傾斜面７５ｂは、偏光ビームスプリッタ膜
７８を透過した戻り光ビームを反射する反射面とされて
いる。

【００７１】この第５の部材７５は、一方の傾斜面７５
ａを第４の部材７４に対する接合面として、第４の部材
７４の偏光ビームスプリッタ膜７８が形成された他方の
傾斜面７４ｂに接着剤を介して接合されている。

【００７２】以上のように構成される複合プリズム７０
においては、第２の部材７２の一方の傾斜面７２ａに形
成された第１のビームスプリッタ膜７６は、光ディスク
１１に向かう光ビームと光ディスク１１からの戻り光ビ
ームとを分離する機能を有する。

【００７３】また、この複合プリズム７０においては、
第２の部材７２の他方の傾斜面７２ｂに形成された第２
のビームスプリッタ膜７７と、半波長板よりなる第３の
部材７３と、第４の部材７４の他方の傾斜面７４ｂに形
成された偏光ビームスプリッタ膜７８とが、ビームスプ
リッタ膜４０ａにより分離された戻り光ビームを偏光分
割する機能を有する。

【００７４】さらに、この複合プリズム７０において
は、第５の部材７５の他方の傾斜面７５ｂが、反射面４
２ａに相当し、偏光ビームスプリッタ膜７８を透過した
戻り光を反射させる機能を有する。

【００７５】複合プリズム７０は、以上の機能を有する
各部が接合一体化されてなるので、光学ピックアップの
小型化に寄与すると共に、部品点数を削減して、部品コ
スト及び組立コストの低減を可能にすることができる。

【００７６】また、以上のように構成される複合プリズ
ム７０は、平板状の第１乃至第５の部材７１，７２，７
３，７４，７５を順次積み重ね、これらが積み重ねられ
てなる積層体を斜めに切断した後にこれを研磨すること
により得られるので、製造が非常に容易である。

【００７７】また、この複合プリズム７０においては、
第１のビームスプリッタ膜７６と第２のビームスプリッ
タ膜７７とが共に単一の部材である第２の部材の傾斜面
７２ａ，７２ｂ上に形成されているので、第１のビーム
スプリッタ膜７６と第２のビームスプリッタ膜７７との
間の距離を、例えば接着剤の厚み等の不確定要素に左右
されることなく、正確に制御することができる。したが
って、この複合プリズム７０を用いた光学ピックアップ
においては、半導体レーザ素子３１から出射され第１の
ビームスプリッタ膜７６を透過する光ビームの光路長
と、第１のビームスプリッタ膜７６により反射され、第
２のビームスプリッタ膜７７により反射されてフォトデ
ィテクタＩＣ６２の受光部に受光される戻り光の光路長
とを正確に一致させて、フォーカスエラー信号（ＦＥ）
を適切に検出することができる。

【００７８】さらに、この複合プリズム７０において
は、Auto-Power-Control用光ビームの光出射端面となる
端面７１ｂに、反射防止処理が施されているので、端面
７１ｂにおける反射を抑え、迷光の発生を防止して、集
積光学素子６０を安定に動作させることができる。

【００７９】光学部材６１は、例えば、透明なプラスチ
ック材料やガラス等が平行平板に成形されてなる。そし
て、この光学部材６１には、三角プリズム３２により反
射され、複合プリズム７０へ向かう光ビームの光路であ
る第一の光路Ｌ１上に位置して、光分割手段としてのグ
レーティング６３と、光ビーム調整手段としてのカップ
リングレンズ６４とが一体形成されている。

【００８０】また、この光学部材６１には、複合プリズ
ム７０により分離され、フォトディテクタＩＣ６２へ向
かう戻り光ビームの光路である第二の光路Ｌ２のうち、
複合プリズム７０の第２のビームスプリッタ膜７７によ
り反射された戻り光ビームの光路（以下、第三の光路Ｌ
３という。）上に位置して、フォーカスエラー信号生成
手段としてのシリンドリカルレンズ６５が一体形成され
ている。

【００８１】さらに、この光学部材６１には、第二の光
路Ｌ２のうち、複合プリズム７０の偏光ビームスプリッ
タ膜７８にて反射された戻り光ビームの光路（以下、第
四の光路Ｌ４という。）上及び複合プリズム７０の第５
の部材７５の傾斜面７５ｂにて反射された戻り光ビーム
の光路（以下、第五の光路Ｌ５という。）上に位置し
て、ビーム径調整手段としての凹レンズ６６が一体形成
されている。

【００８２】グレーティング６３は、入射した光を回折
させる回折格子であって、例えば、光学部材６１の下面
６１ｂ（樹脂パッケージ３６に接合される面）の光ビー
ムが通過する箇所、すなわち第一の光路Ｌ１上に作り付
けられている。

【００８３】カップリングレンズ６４は、半導体レーザ
素子３１から出射された光ビームの発散角を変換するた
めのものであり、例えば、光学部材６１の上面５６１ａ
（複合プリズム７０が接合される面）の光ビームが透過
する箇所、すなわち第一の光路Ｌ１上に凸レンズとして
作り付けられている。

【００８４】光学ピックアップは、半導体レーザ素子３
１から出射された光ビームの光路である第一の光路Ｌ１
上に光ビームの発散角を変換するカップリングレンズ６
４を配設することにより、半導体レーザ素子３１から出
射された発散光である光ビームをある程度絞り込んで対
物レンズ２１に導くことができる。したがって、光学ピ
ックアップは、カップリングレンズ６４を用いることに
よって、記録に必要なレーザ光の光強度を確保しなが
ら、対物レンズ２１として、有限倍率の対物レンズを用
いることが可能となる。光学ピックアップは、対物レン
ズ２１として有限倍率の対物レンズを用いることによ
り、更なる小型化を実現することができると共に、コリ
メータレンズのように発散光を平行光に変換する手段が
不要となり、部品点数の削減を図ることができる。

【００８５】シリンドリカルレンズ６５は、入射した光
に対して非点収差を付与し、また、光路長を調整するも
のであって、例えば、光学部材６１の上面６１ａの、第
２のビームスプリッタ膜７７により反射された戻り光ビ
ームが透過する箇所、すなわち第三の光路Ｌ３上に作り
付けられている。このシリンドリカルレンズ６５は、い
わゆる非点収差法によるフォーカスエラー信号の検出を
可能にするために、第２のビームスプリッタ膜７７によ
り反射された戻り光ビームに対して非点収差を付与す
る。

【００８６】凹レンズ６６は、複合プリズム７０の第２
のビームスプリッタ膜７７により反射され、第三の光路
Ｌ３を通って光学部材６１を透過し、フォトディテクタ
ＩＣ６２の受光部にて受光される戻り光ビームの光路長
と、複合プリズム７０の偏光ビームスプリッタ膜７８に
より反射され、第四の光路Ｌ４を通って光学部材６１を
透過し、フォトディテクタＩＣ６２の受光部にて受光さ
れる戻り光ビームの光路長と、複合プリズム７０の第５
の部材７５の傾斜面７５ｂにより反射され、第五の光路
Ｌ５を通って光学部材６１を透過し、フォトディテクタ
ＩＣ６２の受光部にて受光される戻り光ビームの光路長
とのずれを調整し、各戻り光ビームがフォトディテクタ
ＩＣ６２の受光部上に適切なスポットを形成することが
できるようにするためのものである。

【００８７】この凹レンズ６６は、例えば、偏光ビーム
スプリッタ膜７８により反射された戻り光ビームが透過
する箇所、すなわち第四の光路Ｌ４上と、第５の部材７
５の傾斜面７５ｂにより反射された戻り光ビームが透過
する箇所、すなわち第五の光路Ｌ５上とに亘って、光学
部材６１の上面６１ａに一体に作り付けられている。

【００８８】複合プリズム７０の偏光ビームスプリッタ
膜７８により反射された戻り光と、複合プリズム７０の
第５の部材７５の傾斜面７５ｂにより反射された戻り光
は、それぞれこの凹レンズ６６を通過することにより拡
散される。これにより、フォトディテクタＩＣ６２の受
光部にて受光される各戻り光ビームの光路長が調整さ
れ、フォトディテクタＩＣ６２の受光部上に各戻り光ビ
ームのスポットが適切に形成されることになる。

【００８９】フォトディテクタＩＣ６２は、複合プリズ
ム７０の第２のビームスプリッタ膜７７により反射され
た戻り光ビームと、第２のビームスプリッタ膜７７を透
過し、偏光ビームスプリッタ膜７８により反射された戻
り光ビームと、偏光ビームスプリッタ膜７８を透過し、
第５の部材７５の傾斜面７５ａにて反射された戻り光ビ
ームとをそれぞれ受光するフォトディテクタ部と、この
フォトディテクタ部からの電流を電圧に変換する電圧変
換回路とを有し、これらが一体の素子として構成された
ものである。

【００９０】フォトディテクタＩＣ６２のフォトディテ
クタ部は、図９に示すように５つの受光部Ｆ〜Ｊを有し
ている。これらの受光部Ｆ〜Ｊのうちの一つの受光部Ｆ
は、縦横に垂直に交差する二本の分割ラインによって、
さらに４つの受光部Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４に分割され
ている。

【００９１】フォトディテクタ部は、これらの受光部に
より、グレーティング６３により分割された状態で光デ
ィスク１１の信号記録面上に照射され、この光ディスク
１１の信号記録面にて反射された後に更に複合プリズム
７０により偏光分割された各戻り光ビームをそれぞれ受
光するようになされている。すなわち、第三の光路Ｌ３
を通ってフォトディテクタＩＣ６２に到達した戻り光ビ
ームが、フォトディテクタ部の受光部Ｆ，Ｇ，Ｈにそれ
ぞれ受光され、第四の光路Ｌ４を通ってフォトディテク
タＩＣ６２に到達した戻り光ビームが、フォトディテク
タ部の受光部Ｉに受光され、第五の光路Ｌ５を通ってフ
ォトディテクタＩＣ６２に到達した戻り光ビームが、フ
ォトディテクタ部の受光部Ｊに受光されるようになされ
ている。

【００９２】そして、フォトディテクタ部の各受光部が
受光した戻り光の光量に基づく電流値は、電圧変換回路
により電圧値に変換され、受光信号として、例えば、上
述した光ディスク装置の信号復調器１５に供給される。

【００９３】ここで、フォトディテクタＩＣ６２のフォ
トディテクタ部の各受光部Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４，
Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊにより受光された光に基づく受光信号を
それぞれＳＦ１，ＳＦ２，ＳＦ３，ＳＦ４，ＳＧ，Ｓ
Ｈ，ＳＩ，ＳＪとすると、光磁気信号ＭＯ、ピット再生
信号Ｐｉｔ、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキン
グエラー信号ＴＥは、それぞれ、以下の演算式により求
められる。

【００９４】 ＭＯ＝ＳＩ−ＳＪ ・・・式１ Ｐｉｔ＝ＳＩ＋ＳＪ ・・・式２ ＦＥ＝（ＳＦ１＋ＳＦ３）−（ＳＦ２＋ＳＦ４） ・・・式３ ＴＥ＝ＳＧ−ＳＨ ・・・式４ 以上のように構成される集積光学素子６０を備えた光学
ピックアップにおいては、光分割手段としてのグレーテ
ィング６３、光ビーム調整手段としてのカップリングレ
ンズ６４、フォーカスエラー信号生成手段としてのホロ
グラム６５、ビーム径調整手段としての凹レンズ６６が
光学部材６１に一体形成されているので、これらを個別
の光学素子として別途設ける必要がない。したがって、
この光学ピックアップにおいては、これらが個別の光学
素子として設けられていない分だけ、部品点数が削減さ
れ、また、装置全体の小型化が実現されることになる。
更に、この光学ピックアップを組み立てる際には、光分
割手段、光ビーム調整手段、フォーカスエラー信号生成
手段やビーム径調整手段を個別に位置合わせする必要が
ないので、組立作業の簡素化が図られることになる。

【００９５】また、この光学ピックアップにおいては、
対物レンズ２１及び立上げミラー２２を除く各部材が集
積され、一体の集積光学素子６０として構成されている
ので、組み立ての際に、この集積光学素子６０と対物レ
ンズ２１と立上げミラー２２のみを位置合わせしながら
組み立てればよく、組立作業を単純化して、組立コスト
の低減が図ることができる。

【００９６】さらに、この光学ピックアップにおいて
は、複合プリズム７０の光出射面に反射防止処理が施さ
れているので、光出射面で反射した光に基づく不要な迷
光の発生を抑えることができる。

【００９７】

【発明の効果】本発明に係る集積光学素子においては、
集積光学素子が、各光学素子が集積され一体化されてな
るとともに、フォーカスエラー信号生成手段が光学部材
に一体形成されているので、全体の小型化が実現される
とともに、部品点数の削減が図られることになる。

【００９８】また、本発明に係る光学ピックアップにお
いては、集積光学素子の光源及び光検出器が一体的に構
成され、例えば一つの基板上に設けられていることによ
り、信号取り出しのためのリード線の数を削減し、組立
作業を単純化して、組立コストの低減が図られるととも
に、光源と光検出器との相互の位置合わせも不要とな
る。

【００９９】さらに、本発明に係る光学ピックアップに
おいては、集積光学素子の光出射面に反射防止処理が施
されているので、当該光出射面で反射した光に基づく不
要な迷光の発生を抑えることができ、安定に作動するこ
とができる。

【０１００】また、本発明に係る光ディスク装置におい
ては、集積光学素子が、各光学素子が集積され一体化さ
れてなるとともに、フォーカスエラー信号生成手段が光
学部材に一体形成されているので、光学ピックアップ及
び当該光ディスク装置の小型化が実現されるとともに、
部品点数の削減が図られることになる。

【０１０１】また、本発明に係る光ディスク装置におい
ては、集積光学素子の光源及び光検出器が一体的に構成
され、例えば一つの基板上に設けられていることによ
り、信号取り出しのためのリード線の数を削減し、組立
作業を単純化して、組立コストの低減が図られるととも
に、光源と光検出器との相互の位置合わせも不要とな
る。

【０１０２】さらに、本発明に係る光ディスク装置にお
いては、集積光学素子の光出射面に反射防止処理が施さ
れているので、当該光出射面で反射した光に基づく不要
な迷光の発生を抑えることができ、安定に作動すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ディスク装置の一構成例を示す
ブロック図である。

【図２】上記光ディスク装置が備える光学ピックアップ
の一構成例を示す模式的に示す斜視図である。

【図３】上記光学ピックアップが備える集積光学素子の
一例を示す模式図である。

【図４】上記集積光学素子が備える半導体レーザ素子と
三角プリズムとフォトディテクタＩＣの位置関係を説明
する図である。

【図５】上記集積光学素子が備える複合プリズムを分解
して示す側面図である。

【図６】無反射コート膜について、光ビーム波長と反射
率との関係を示す図である。

【図７】光吸収膜について、光ビーム波長と反射率との
関係を示す図である。

【図８】上記複合プリズムの第３の部材（半波長板）の
光学軸方位を説明する図である。

【図９】上記集積光学素子が備えるフォトディテクタＩ
Ｃを模式的に示す平面図である。

【図１０】従来の光学ピックアップの一構成例を示す模
式的に示す斜視図である。

【符号の説明】

１０ 光ディスク装置、 １１ 光ディスク、 ２０
光学ピックアップ、２１ 対物レンズ、 ２２ 立上げ
ミラー、 ２３ ＡＦＰＣ用光検出器、３０集積光学素
子

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクの信号記録面に対して光ビー
   ムを照射して信号の記録及び／又は再生を行う光学ピッ
   クアップであって、 集積光学素子と、 上記光ビームを集束して上記光ディスクの信号記録面に
   照射させる光集束手段とを備え、 上記集積光学素子は、 上記光ディスクの信号記録面に照射する光ビームを出射
   する光源と、 上記光ディスクの信号記録面にて反射された戻り光ビー
   ムを受光する光検出器と、 一方の主面部に開口部を有し、内部に上記光源と上記光
   検出器とをそれぞれ収容するパッケージ部材と、 上記パッケージ部材の開口部を有する主面部上に設けら
   れ、上記光源から出射された光ビームを透過させるとと
   もに、上記光検出器に向かう戻り光ビームを透過させる
   光学部材と、 上記光学部材と一体的に設けられ、上記光源から出射さ
   れた光ビームと上記光検出器に向かう戻り光ビームとを
   分離する光分離手段とを備え、 上記光学部材には、上記光分離手段により分離されて上
   記光検出器へ向かう戻り光ビームの光路上に位置して、
   フォーカスエラー信号を生成するためのフォーカスエラ
   ー信号生成手段が一体形成されており、 さらに、上記光分離手段には、上記光源から出射され当
   該光分離手段を透過した光ビームが出射する光出射面
   に、反射防止処理が施されていることを特徴とする光学
   ピックアップ。
2. 【請求項２】 上記反射防止処理は、上記光分離手段と
   一体に形成された無反射コート膜により施されているこ
   とを特徴とする請求項１記載の光学ピックアップ。
3. 【請求項３】 上記反射防止処理は、上記光分離手段と
   一体に形成された光吸収膜により施されていることを特
   徴とする請求項１記載の光学ピックアップ。
4. 【請求項４】 上記集積光学素子と上記光集束手段との
   間に、上記集積光学素子からの光ビームを反射して上記
   光集束手段に向かわせるとともに、上記光集束手段を透
   過してきた戻り光を反射して上記集積光学素子に向かわ
   せる反射部材が設けられていることを特徴とする請求項
   １記載の光学ピックアップ。
5. 【請求項５】 光ディスクの信号記録面に対して光ビー
   ムを照射して信号の記録及び／又は再生を行う光学ピッ
   クアップであって、 第１の光ビームと第２の光ビームとを出射する集積光学
   素子と、 上記集積光学素子から出射された上記第１の光ビームを
   集束して上記光ディスクの信号記録面に照射させる光集
   束手段と、 上記集積光学素子から出射された第２の光ビームを受光
   し、当該第２の光ビームのパワーに応じて上記集積光学
   素子が備える光源から出射される光ビームの出力を制御
   する第１の光検出器とを備え、 上記集積光学素子は、 上記光ディスクの信号記録面に照射する光ビームを出射
   する光源と、 上記光ディスクの信号記録面にて反射された戻り光ビー
   ムを受光する第２の光検出器と、 一方の主面部に開口部を有し、内部に上記光源と上記第
   ２の光検出器とをそれぞれ収容するパッケージ部材と、 上記パッケージ部材の開口部を有する主面部上に設けら
   れ、上記光源から出射された光ビームを透過させるとと
   もに、上記第２の光検出器に向かう戻り光ビームを透過
   させる光学部材と、 上記光学部材と一体的に設けられ、上記光源から出射さ
   れた光ビームを、第１の光ビームと第２の光ビームとに
   分離するとともに、第１の光ビームと上記第２の光検出
   器に向かう戻り光ビームとを分離する光分離手段とを備
   え、 上記光学部材には、上記光分離手段により分離されて上
   記第２の光検出器へ向かう戻り光ビームの光路上に位置
   して、フォーカスエラー信号を生成するためのフォーカ
   スエラー信号生成手段が一体形成されており、 さらに、上記光分離手段には、上記光分離手段を透過し
   た第２の光ビームが出射する光出射面に、反射防止処理
   が施されていることを特徴とする光学ピックアップ。
6. 【請求項６】 上記反射防止処理は、上記光分離手段と
   一体に形成された無反射コート膜により施されているこ
   とを特徴とする請求項５記載の光学ピックアップ。
7. 【請求項７】 上記集積光学素子と上記光集束手段との
   間に、上記集積光学素子からの第１の光ビームを反射し
   て上記光集束手段に向かわせるとともに、上記光集束手
   段を透過してきた戻り光を反射して上記集積光学素子に
   向かわせる反射部材が設けられていることを特徴とする
   請求項５記載の光学ピックアップ。
8. 【請求項８】 上記集積光学素子と上記第１の光検出器
   との間に、上記第１の光検出器に入射する第２の光ビー
   ムの広がり角を、上記光集束手段に入射する第１の光ビ
   ームの広がり角と略同等にする光開口制御手段が設けら
   れていることを特徴とする請求項５記載の光学ピックア
   ップ。
9. 【請求項９】 光ディスクの信号記録面に対して光ビー
   ムを照射し、この光ディスクの信号記録面からの戻り光
   を検出する光学ピックアップと、 上記光学ピックアップの備える光検出器からの検出信号
   に基づいて、再生信号を生成する信号処理回路とを備
   え、 上記光学ピックアップは、 集積光学素子と、 上記光ビームを集束して上記光ディスクの信号記録面に
   照射させる光集束手段とを備え、 上記集積光学素子は、 上記光ディスクの信号記録面に照射する光ビームを出射
   する光源と、 上記光ディスクの信号記録面にて反射された戻り光ビー
   ムを受光する光検出器と、 一方の主面部に開口部を有し、内部に上記光源と上記光
   検出器とをそれぞれ収容するパッケージ部材と、 上記パッケージ部材の開口部を有する主面部上に設けら
   れ、上記光源から出射された光ビームを透過させるとと
   もに、上記光検出器に向かう戻り光ビームを透過させる
   光学部材と、 上記光学部材と一体的に設けられ、上記光源から出射さ
   れた光ビームと上記光検出器に向かう戻り光ビームとを
   分離する光分離手段とを備え、 上記光学部材には、上記光分離手段により分離されて上
   記光検出器へ向かう戻り光ビームの光路上に位置して、
   フォーカスエラー信号を生成するためのフォーカスエラ
   ー信号生成手段が一体形成されており、 さらに、上記光分離手段には、上記光源から出射され当
   該光分離手段を透過した光ビームが出射する光出射面
   に、反射防止処理が施されていることを特徴とする光デ
   ィスク装置。
10. 【請求項１０】 光ディスクの信号記録面に対して光ビ
    ームを照射し、この光ディスクの信号記録面からの戻り
    光を検出する光学ピックアップと、 上記光学ピックアップの備える第１の光検出器からの検
    出信号に基づいて、上記光学ピックアップの備える光源
    から出射される光ビームの出力を制御する制御手段と、 上記光学ピックアップの備える第２の光検出器からの検
    出信号に基づいて、再生信号を生成する信号処理回路と
    を備え、 上記光学ピックアップは、 第１の光ビームと第２の光ビームとを出射する集積光学
    素子と、 上記集積光学素子から出射された上記第１の光ビームを
    集束して上記光ディスクの信号記録面に照射させる光集
    束手段と、 上記集積光学素子から出射された第２の光ビームを受光
    し、当該第２の光ビームのパワーに応じて上記集積光学
    素子が備える光源から出射される光ビームの出力を制御
    する第１の光検出器とを備え、 上記集積光学素子は、 上記光ディスクの信号記録面に照射する光ビームを出射
    する光源と、 上記光ディスクの信号記録面にて反射された戻り光ビー
    ムを受光する第２の光検出器と、 一方の主面部に開口部を有し、内部に上記光源と上記第
    ２の光検出器とをそれぞれ収容するパッケージ部材と、 上記パッケージ部材の開口部を有する主面部上に設けら
    れ、上記光源から出射された光ビームを透過させるとと
    もに、上記第２の光検出器に向かう戻り光ビームを透過
    させる光学部材と、 上記光学部材と一体的に設けられ、上記光源から出射さ
    れた光ビームを、第１の光ビームと第２の光ビームとに
    分離するとともに、第１の光ビームと上記第２の光検出
    器に向かう戻り光ビームとを分離する光分離手段とを備
    え、 上記光学部材には、上記光分離手段により分離されて上
    記第２の光検出器へ向かう戻り光ビームの光路上に位置
    して、フォーカスエラー信号を生成するためのフォーカ
    スエラー信号生成手段が一体形成されており、 さらに、上記光分離手段には、上記光分離手段を透過し
    た第２の光ビームが出射する光出射面に、反射防止処理
    が施されていることを特徴とする光ディスク装置。