JP2001153813A - 壜外観検査システムおよびその方法 - Google Patents
壜外観検査システムおよびその方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 壜の擦り傷の程度に応じた壜の良否判定を可
能にする。 【解決手段】 検査対象となる壜Bに向けて照明を行う
照明装置1と、この照明装置1で照明された壜Bの撮像
を行う撮像装置2と、この撮像装置2の撮像により得ら
れた画像から、壜Bの擦り傷に応じて変動する各画素の
光量値を求め、これら各画素の光量値および所定の基準
を利用して壜Bの良否判定を行う画像処理装置100と
を備えた。そして、検査対象となる壜Bに向けて照明を
行いながら壜Bの撮像を行い、この撮像により得られる
画像から、壜Bの擦り傷に応じて変動する各画素の光量
値を求め、これら各画素の光量値および所定の基準を利
用して壜Bの良否判定を行う。
能にする。 【解決手段】 検査対象となる壜Bに向けて照明を行う
照明装置1と、この照明装置1で照明された壜Bの撮像
を行う撮像装置2と、この撮像装置2の撮像により得ら
れた画像から、壜Bの擦り傷に応じて変動する各画素の
光量値を求め、これら各画素の光量値および所定の基準
を利用して壜Bの良否判定を行う画像処理装置100と
を備えた。そして、検査対象となる壜Bに向けて照明を
行いながら壜Bの撮像を行い、この撮像により得られる
画像から、壜Bの擦り傷に応じて変動する各画素の光量
値を求め、これら各画素の光量値および所定の基準を利
用して壜Bの良否判定を行う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、いわゆる回収再利
用壜(リターナル壜)の良否判定を画像処理により行う
壜外観検査システムおよびその方法に関するものであ
る。
用壜(リターナル壜)の良否判定を画像処理により行う
壜外観検査システムおよびその方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来、壜(空壜)を搬送する搬送装置
と、照明しながら搬送中の壜の検査部位を撮像する照明
装置および撮像装置と、撮像して得られる画像を処理し
壜の良否を判定する画像処理装置とにより構成され、壜
のカケ、ヒビ、汚れおよび異物の付着などを検査して壜
を選別する壜外観検査システムが使用されている。
と、照明しながら搬送中の壜の検査部位を撮像する照明
装置および撮像装置と、撮像して得られる画像を処理し
壜の良否を判定する画像処理装置とにより構成され、壜
のカケ、ヒビ、汚れおよび異物の付着などを検査して壜
を選別する壜外観検査システムが使用されている。
【0003】例えば麦酒壜に代表される回収再利用壜の
壜外観検査システムでは、カケおよびヒビなどの物理的
欠陥や、異物および汚れなどの使用に適さない欠陥をも
つ壜が不良品として抽出され、廃棄処分に回される。こ
の場合、新しい壜の材料としてリサイクルに用いられる
のが通常である。また、使用に問題はないが、表面に擦
り傷のついた壜を一定の割合で廃棄処分にし、それに見
合う分の新しい壜を投入することで、壜の外観を全体と
して一定のレベルに維持する品質管理が行われている。
壜外観検査システムでは、カケおよびヒビなどの物理的
欠陥や、異物および汚れなどの使用に適さない欠陥をも
つ壜が不良品として抽出され、廃棄処分に回される。こ
の場合、新しい壜の材料としてリサイクルに用いられる
のが通常である。また、使用に問題はないが、表面に擦
り傷のついた壜を一定の割合で廃棄処分にし、それに見
合う分の新しい壜を投入することで、壜の外観を全体と
して一定のレベルに維持する品質管理が行われている。
【0004】また、上記構成に加えて、壜の良否判定の
各本数や項目別の不良数を、外付けカウンタやプログラ
マブルコントローラ内のカウンタなどに蓄積し、また表
示する検査情報管理装置を備え、1本の不良壜の画像を
画像処理装置内に保存し、その画像に対して再検査を行
うことで、不良個所および不良程度を分析および特定す
ることができる壜外観検査システムがある。
各本数や項目別の不良数を、外付けカウンタやプログラ
マブルコントローラ内のカウンタなどに蓄積し、また表
示する検査情報管理装置を備え、1本の不良壜の画像を
画像処理装置内に保存し、その画像に対して再検査を行
うことで、不良個所および不良程度を分析および特定す
ることができる壜外観検査システムがある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記壜
外観検査システムでは、壜の外観を全体として一定のレ
ベルに維持するために必要な擦り傷の外観検査を行うこ
とができないので、上記品質管理は、別項目で不良と判
定される場合を除いては人手を介した選別により行われ
ていた。
外観検査システムでは、壜の外観を全体として一定のレ
ベルに維持するために必要な擦り傷の外観検査を行うこ
とができないので、上記品質管理は、別項目で不良と判
定される場合を除いては人手を介した選別により行われ
ていた。
【0006】また、検査情報管理装置を備える壜外観検
査システムでは、不良の発生数や項目別の不良数の情報
は得られるが、不良の時系列変化については、人手を介
して管理表により管理する必要があった。
査システムでは、不良の発生数や項目別の不良数の情報
は得られるが、不良の時系列変化については、人手を介
して管理表により管理する必要があった。
【0007】なお、不良壜の再検査は、再検査用の画像
の保存および設定を行った後、1本の不良壜に対しての
み可能であった。再検査の必要な不良を持つ不良壜を再
検査する場合、再検査の必要な不良壜を予め選定し、こ
れを単独でまたはマーキングして基準の良品壜とともに
壜外観検査システムに投入する必要がある。再検査の必
要な不良を持つ不良壜が不良として検出されるまで、再
検査用の画像の保存および設定を繰り返し行う必要があ
る。また、その保存した画像を再表示、再検査するには
通常の検査を停止する必要がある。
の保存および設定を行った後、1本の不良壜に対しての
み可能であった。再検査の必要な不良を持つ不良壜を再
検査する場合、再検査の必要な不良壜を予め選定し、こ
れを単独でまたはマーキングして基準の良品壜とともに
壜外観検査システムに投入する必要がある。再検査の必
要な不良を持つ不良壜が不良として検出されるまで、再
検査用の画像の保存および設定を繰り返し行う必要があ
る。また、その保存した画像を再表示、再検査するには
通常の検査を停止する必要がある。
【0008】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、壜の擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が可能
な壜外観検査システムおよびその方法を提供することを
目的とする。
であり、壜の擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が可能
な壜外観検査システムおよびその方法を提供することを
目的とする。
【0009】また、本発明は、人手を介さずに壜の不良
の時系列変化を管理することができる壜外観検査システ
ムおよびその方法を提供することを目的とする。
の時系列変化を管理することができる壜外観検査システ
ムおよびその方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明の壜外観検査システムは、検査
対象となる壜に向けて照明を行う照明装置と、この照明
装置で照明された前記壜の撮像を行う撮像装置と、この
撮像装置の撮像により得られた画像から、前記壜の擦り
傷に応じて変動する各画素の光量値を求め、これら各画
素の光量値および所定の基準を利用して前記壜の良否判
定を行う画像処理装置とを備えるのである。
に、請求項1記載の発明の壜外観検査システムは、検査
対象となる壜に向けて照明を行う照明装置と、この照明
装置で照明された前記壜の撮像を行う撮像装置と、この
撮像装置の撮像により得られた画像から、前記壜の擦り
傷に応じて変動する各画素の光量値を求め、これら各画
素の光量値および所定の基準を利用して前記壜の良否判
定を行う画像処理装置とを備えるのである。
【0011】この構成では、壜の擦り傷に応じて変動す
る光量値を利用して壜の良否判定が行われるので、壜の
擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が可能になる。つま
り、擦り傷のレベルによる壜の良否判定が可能になり、
外観の見栄えが劣る壜の不良排出が可能になる。
る光量値を利用して壜の良否判定が行われるので、壜の
擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が可能になる。つま
り、擦り傷のレベルによる壜の良否判定が可能になり、
外観の見栄えが劣る壜の不良排出が可能になる。
【0012】なお、請求項1記載の壜外観検査システム
において、前記画像処理装置で求められた各画素の光量
値から得られる壜の擦り傷レベルを複数壜分保存しまた
表示する検査情報管理装置を備える構成でもよい(請求
項2)。この構成では、壜のロット毎の擦り傷の時系列
変化を確認することができるとともに、過去のデータと
照合して比較検討し、不良排斥レベルの設定が容易にな
る。
において、前記画像処理装置で求められた各画素の光量
値から得られる壜の擦り傷レベルを複数壜分保存しまた
表示する検査情報管理装置を備える構成でもよい(請求
項2)。この構成では、壜のロット毎の擦り傷の時系列
変化を確認することができるとともに、過去のデータと
照合して比較検討し、不良排斥レベルの設定が容易にな
る。
【0013】また、請求項1記載の壜外観検査システム
において、前記画像処理装置側には、当該画像処理装置
で求められる各画素の光量値の検査範囲を少なくとも1
つ指定するための検査範囲指定手段と、この検査範囲指
定手段で指定される少なくとも1つの検査範囲に対し
て、前記所定の基準としての不良排出レベルを個別に指
定するための不良排出レベル指定手段とが設けられ、前
記画像処理装置は、前記各画素の光量値から得られる擦
り傷レベルと前記不良排出レベルとの比較を行い、この
比較結果に応じて前記良否判定を行う構成でもよい(請
求項3)。この構成では、擦り傷のつきやすいまたは目
立つ箇所などを含む壜の部位を個別に指定することがで
き、その部位に合った不良排出レベルを個別に指定する
ことができるので、壜の外観の適切な品質管理が可能に
なり、また無駄な検査時間を省くことができる。
において、前記画像処理装置側には、当該画像処理装置
で求められる各画素の光量値の検査範囲を少なくとも1
つ指定するための検査範囲指定手段と、この検査範囲指
定手段で指定される少なくとも1つの検査範囲に対し
て、前記所定の基準としての不良排出レベルを個別に指
定するための不良排出レベル指定手段とが設けられ、前
記画像処理装置は、前記各画素の光量値から得られる擦
り傷レベルと前記不良排出レベルとの比較を行い、この
比較結果に応じて前記良否判定を行う構成でもよい(請
求項3)。この構成では、擦り傷のつきやすいまたは目
立つ箇所などを含む壜の部位を個別に指定することがで
き、その部位に合った不良排出レベルを個別に指定する
ことができるので、壜の外観の適切な品質管理が可能に
なり、また無駄な検査時間を省くことができる。
【0014】また、請求項1記載の壜外観検査システム
を複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用され
る前記所定の基準としての不良排出レベルは、互いに等
しくなるしきい値に設定されている構成でもよい(請求
項4)。この構成では、複数のライン間における壜の外
観検査による品質を同等にすることができる。
を複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用され
る前記所定の基準としての不良排出レベルは、互いに等
しくなるしきい値に設定されている構成でもよい(請求
項4)。この構成では、複数のライン間における壜の外
観検査による品質を同等にすることができる。
【0015】また、請求項1記載の壜外観検査システム
を複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用され
る前記所定の基準としての不良排出レベルは、前記良否
判定で不良と判定される壜の数の割合が互いに等しくな
るしきい値に設定されている構成でもよい(請求項
5)。この構成では、複数のライン間における擦り傷の
不良で排出される壜の割合を同等にすることができる。
を複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用され
る前記所定の基準としての不良排出レベルは、前記良否
判定で不良と判定される壜の数の割合が互いに等しくな
るしきい値に設定されている構成でもよい(請求項
5)。この構成では、複数のライン間における擦り傷の
不良で排出される壜の割合を同等にすることができる。
【0016】また、請求項1記載の壜外観検査システム
を複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用され
る前記所定の基準としての不良排出レベルは、壜の割
れ、ヒビ、異物付着および汚れなどの不良と擦り傷によ
る不良を加えた全体の不良率が一定となるようにしきい
値設定がなされている構成でもよい(請求項6)。この
構成では、不良排出される壜の数量を推定することがで
き、生産に必要な数量の壜を確保することができる。
を複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用され
る前記所定の基準としての不良排出レベルは、壜の割
れ、ヒビ、異物付着および汚れなどの不良と擦り傷によ
る不良を加えた全体の不良率が一定となるようにしきい
値設定がなされている構成でもよい(請求項6)。この
構成では、不良排出される壜の数量を推定することがで
き、生産に必要な数量の壜を確保することができる。
【0017】また、請求項1〜6のいずれかに記載の壜
外観検査システムにおいて、前記検査情報管理装置は操
作に従って各壜の外観の品質を表す特性値の分布を求め
る構成でもよい(請求項7)。この構成では、壜の外観
の品質を数値化することができる。また、ライン間やロ
ット間の品質を比較することができる。
外観検査システムにおいて、前記検査情報管理装置は操
作に従って各壜の外観の品質を表す特性値の分布を求め
る構成でもよい(請求項7)。この構成では、壜の外観
の品質を数値化することができる。また、ライン間やロ
ット間の品質を比較することができる。
【0018】また、請求項7記載の壜外観検査システム
において、前記特性値の分布は所定数毎に求められる構
成でもよい(請求項8)。この構成では、設定数量毎に
品質を比較することができる。
において、前記特性値の分布は所定数毎に求められる構
成でもよい(請求項8)。この構成では、設定数量毎に
品質を比較することができる。
【0019】また、請求項7記載の壜外観検査システム
において、前記特性値の分布は検査毎に求められる構成
でもよい(請求項9)。この構成では、リアルタイムで
品質を確認することができる。
において、前記特性値の分布は検査毎に求められる構成
でもよい(請求項9)。この構成では、リアルタイムで
品質を確認することができる。
【0020】また、請求項1〜6のいずれかに記載の壜
外観検査システムにおいて、前記所定の基準は前記壜の
所定数の検査毎に変更される構成でもよい(請求項1
0)。この構成では、壜の外観の品質や不良排出される
壜の割合などを目標値に近づけることができる。
外観検査システムにおいて、前記所定の基準は前記壜の
所定数の検査毎に変更される構成でもよい(請求項1
0)。この構成では、壜の外観の品質や不良排出される
壜の割合などを目標値に近づけることができる。
【0021】また、請求項1〜6のいずれかに記載の壜
外観検査システムにおいて、前記所定の基準は所定時間
毎に変更される構成でもよい(請求項11)。この構成
では、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合などを
目標値に近づけることができる。
外観検査システムにおいて、前記所定の基準は所定時間
毎に変更される構成でもよい(請求項11)。この構成
では、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合などを
目標値に近づけることができる。
【0022】また、請求項7〜9のいずれかに記載の壜
外観検査システムにおいて、前記所定の基準は前記特性
値の分布範囲が変動した場合に変更される構成でもよい
(請求項12)。この構成では、ロットの変わり目など
で特性値が急激に変化した場合に、所定の基準を自動的
に変化させることで、壜の外観の品質や不良排出される
壜の割合などを目標値に近づけることができる。
外観検査システムにおいて、前記所定の基準は前記特性
値の分布範囲が変動した場合に変更される構成でもよい
(請求項12)。この構成では、ロットの変わり目など
で特性値が急激に変化した場合に、所定の基準を自動的
に変化させることで、壜の外観の品質や不良排出される
壜の割合などを目標値に近づけることができる。
【0023】また、請求項7〜9のいずれかに記載の壜
外観検査システムにおいて、前記所定の基準は前記特性
値の変化の傾向から推定されるしきい値に変更される構
成でもよい(請求項13)。この構成では、特性値の傾
向管理により所定の基準を自動的に変化させることで、
壜の外観の品質や不良排出される壜の割合などを目標値
に近づけることができる。
外観検査システムにおいて、前記所定の基準は前記特性
値の変化の傾向から推定されるしきい値に変更される構
成でもよい(請求項13)。この構成では、特性値の傾
向管理により所定の基準を自動的に変化させることで、
壜の外観の品質や不良排出される壜の割合などを目標値
に近づけることができる。
【0024】また、請求項12記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記特性値の分布範囲の変動は平均値また
は標準偏差で評価される構成でもよい(請求項14)。
この構成でも、ロットの変わり目などで特性値が急激に
変化した場合に、所定の基準を自動的に変化させること
で、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合などを目
標値に近づけることができる。
ムにおいて、前記特性値の分布範囲の変動は平均値また
は標準偏差で評価される構成でもよい(請求項14)。
この構成でも、ロットの変わり目などで特性値が急激に
変化した場合に、所定の基準を自動的に変化させること
で、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合などを目
標値に近づけることができる。
【0025】さらに、請求項12記載の壜外観検査シス
テムにおいて、前記特性値の分布範囲の変動は前記良否
判定で不良と判定された壜の数の割合で評価される構成
でもよい(請求項15)。この構成でも、ロットの変わ
り目などで特性値が急激に変化した場合に、所定の基準
を自動的に変化させることで、壜の外観の品質や不良排
出される壜の割合などを目標値に近づけることができ
る。
テムにおいて、前記特性値の分布範囲の変動は前記良否
判定で不良と判定された壜の数の割合で評価される構成
でもよい(請求項15)。この構成でも、ロットの変わ
り目などで特性値が急激に変化した場合に、所定の基準
を自動的に変化させることで、壜の外観の品質や不良排
出される壜の割合などを目標値に近づけることができ
る。
【0026】請求項16に記載の発明の壜外観検査方法
は、検査対象となる壜に向けて照明を行いながら前記壜
の撮像を行い、前記撮像により得られる画像から、前記
壜の擦り傷に応じて変動する各画素の光量値を求め、こ
れら各画素の光量値および所定の基準を利用して前記壜
の良否判定を行うものである。
は、検査対象となる壜に向けて照明を行いながら前記壜
の撮像を行い、前記撮像により得られる画像から、前記
壜の擦り傷に応じて変動する各画素の光量値を求め、こ
れら各画素の光量値および所定の基準を利用して前記壜
の良否判定を行うものである。
【0027】この方法では、壜の擦り傷に応じて変動す
る光量値を利用して壜の良否判定が行われるので、壜の
擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が可能になる。
る光量値を利用して壜の良否判定が行われるので、壜の
擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が可能になる。
【0028】請求項17に記載の発明の壜外観検査シス
テムは、検査対象となる壜の撮像を行う撮像装置と、こ
の撮像装置の撮像により得られた画像を用いて前記壜の
良否判定を行う画像処理装置と、この画像処理装置の良
否判定で得られる各壜の良否、検査時刻、不良と判定さ
れた壜の不良部位および不良内容などの検査情報を時系
列的に保存しまた表示する検査情報管理装置とを備える
ものである。
テムは、検査対象となる壜の撮像を行う撮像装置と、こ
の撮像装置の撮像により得られた画像を用いて前記壜の
良否判定を行う画像処理装置と、この画像処理装置の良
否判定で得られる各壜の良否、検査時刻、不良と判定さ
れた壜の不良部位および不良内容などの検査情報を時系
列的に保存しまた表示する検査情報管理装置とを備える
ものである。
【0029】この構成では、検査情報管理装置によっ
て、画像処理装置の良否判定で得られる各壜の良否、検
査時刻、不良と判定された壜の不良部位および不良内容
などの検査情報が時系列的に保存されまた表示されるの
で、人手を介さずに壜の不良の時系列変化を管理するこ
とができる。この結果、壜の不良の時系列変化を把握で
き、例えば生産ロットとの関係付けが可能になる。
て、画像処理装置の良否判定で得られる各壜の良否、検
査時刻、不良と判定された壜の不良部位および不良内容
などの検査情報が時系列的に保存されまた表示されるの
で、人手を介さずに壜の不良の時系列変化を管理するこ
とができる。この結果、壜の不良の時系列変化を把握で
き、例えば生産ロットとの関係付けが可能になる。
【0030】なお、請求項17記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記画像処理装置側には、前記良否判定で
不良となった壜の画像を最近の複数壜分記憶する記憶装
置が設けられている構成でもよい(請求項18)。この
構成では、最近の複数壜分の不良壜画像(不良となった
壜の画像)が記憶されるので、記憶された最近の複数壜
分の不良壜画像を用いた再表示および再検査が可能にな
る。この結果、外観検査実行中に発生した壜の不良を効
率的に捕捉し、再表示および再検査を行うことが可能に
なる。
ムにおいて、前記画像処理装置側には、前記良否判定で
不良となった壜の画像を最近の複数壜分記憶する記憶装
置が設けられている構成でもよい(請求項18)。この
構成では、最近の複数壜分の不良壜画像(不良となった
壜の画像)が記憶されるので、記憶された最近の複数壜
分の不良壜画像を用いた再表示および再検査が可能にな
る。この結果、外観検査実行中に発生した壜の不良を効
率的に捕捉し、再表示および再検査を行うことが可能に
なる。
【0031】また、請求項18記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記画像処理装置は、前記不良となった壜
の画像を不良部位および不良内容の検査情報とともに一
のデータとして前記記憶装置に記憶する構成でもよい
(請求項19)。この構成では、不良壜画像と検査情報
との1対1の対応関係が管理容易になるとともに、不良
壜画像による欠陥確認時に、検査情報をあわせて表示す
ることが可能になる。
ムにおいて、前記画像処理装置は、前記不良となった壜
の画像を不良部位および不良内容の検査情報とともに一
のデータとして前記記憶装置に記憶する構成でもよい
(請求項19)。この構成では、不良壜画像と検査情報
との1対1の対応関係が管理容易になるとともに、不良
壜画像による欠陥確認時に、検査情報をあわせて表示す
ることが可能になる。
【0032】また、請求項18記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記画像処理装置は、前記良否判定と平行
して前記記憶装置に記憶された壜の画像を表示装置に出
力する機能を有する構成でもよい(請求項20)。この
構成では、記憶装置に記憶した不良壜画像の表示が外観
検査実行中にも可能となる。この結果、外観検査を停止
することなく、発生した不良の部位および不良内容を確
認することができる。
ムにおいて、前記画像処理装置は、前記良否判定と平行
して前記記憶装置に記憶された壜の画像を表示装置に出
力する機能を有する構成でもよい(請求項20)。この
構成では、記憶装置に記憶した不良壜画像の表示が外観
検査実行中にも可能となる。この結果、外観検査を停止
することなく、発生した不良の部位および不良内容を確
認することができる。
【0033】また、請求項18または19記載の壜外観
検査システムにおいて、前記検査情報管理装置側には、
記憶媒体を有し、この記憶媒体に、前記画像処理装置か
ら転送される前記記憶装置に記憶の画像を記憶する記憶
装置が設けられている構成でもよい(請求項21)。こ
の構成では、不良壜画像を画像処理装置の外部に保存す
ることができ、また、記録媒体が着脱式のものであれ
ば、別の表示装置に不良壜画像を表示することが可能に
なる。
検査システムにおいて、前記検査情報管理装置側には、
記憶媒体を有し、この記憶媒体に、前記画像処理装置か
ら転送される前記記憶装置に記憶の画像を記憶する記憶
装置が設けられている構成でもよい(請求項21)。こ
の構成では、不良壜画像を画像処理装置の外部に保存す
ることができ、また、記録媒体が着脱式のものであれ
ば、別の表示装置に不良壜画像を表示することが可能に
なる。
【0034】また、請求項21記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記検査情報管理装置は、当該検査情報管
理装置側に設けられた記憶装置の記憶媒体に、前記不良
となった壜の画像を互換性の高いファイル形式に従って
記憶する構成でもよい(請求項22)。この構成では、
不良壜画像が例えばビットマップなどの互換性の高いフ
ァイル形式に従って記憶媒体に記憶されるので、特別な
プログラムを用意することなく、市場に流通しているソ
フトウエアを用いて不良壜画像を表示装置に表示するこ
とが可能になる。
ムにおいて、前記検査情報管理装置は、当該検査情報管
理装置側に設けられた記憶装置の記憶媒体に、前記不良
となった壜の画像を互換性の高いファイル形式に従って
記憶する構成でもよい(請求項22)。この構成では、
不良壜画像が例えばビットマップなどの互換性の高いフ
ァイル形式に従って記憶媒体に記憶されるので、特別な
プログラムを用意することなく、市場に流通しているソ
フトウエアを用いて不良壜画像を表示装置に表示するこ
とが可能になる。
【0035】また、請求項21または22に記載の壜外
観検査システムにおいて、前記検査情報管理装置は、当
該検査情報管理装置側に設けられた記憶装置の記憶媒体
に、前記検査情報を互換性の高いファイル形式に従って
記憶する構成でもよい(請求項23)。この構成では、
検査情報が例えばテキストなどの互換性の高いファイル
形式に従って記憶媒体に記憶されるので、検査情報を他
のコンピュータなどを用いて表示することが可能にな
る。この結果、他のコンピュータを用いて、不良壜画像
とともに検査情報を確認することができ、壜外観検査シ
ステムとは別の場所で外観検査の結果を確認することが
できる。
観検査システムにおいて、前記検査情報管理装置は、当
該検査情報管理装置側に設けられた記憶装置の記憶媒体
に、前記検査情報を互換性の高いファイル形式に従って
記憶する構成でもよい(請求項23)。この構成では、
検査情報が例えばテキストなどの互換性の高いファイル
形式に従って記憶媒体に記憶されるので、検査情報を他
のコンピュータなどを用いて表示することが可能にな
る。この結果、他のコンピュータを用いて、不良壜画像
とともに検査情報を確認することができ、壜外観検査シ
ステムとは別の場所で外観検査の結果を確認することが
できる。
【0036】また、請求項19記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記画像処理装置は、不良となった画像を
入力して当該画像処理装置側に設けられた記憶装置に記
憶する構成でもよい(請求項24)。この構成では、例
えば検査情報管理装置側に記憶した不良壜画像を画像処
理装置に返送可能になるので、過去の不良壜画像の再表
示および再検査が可能になる。また、同じ機能を持つ別
の壜外観検査システムからの不良壜画像の再表示および
再検査が可能になる。
ムにおいて、前記画像処理装置は、不良となった画像を
入力して当該画像処理装置側に設けられた記憶装置に記
憶する構成でもよい(請求項24)。この構成では、例
えば検査情報管理装置側に記憶した不良壜画像を画像処
理装置に返送可能になるので、過去の不良壜画像の再表
示および再検査が可能になる。また、同じ機能を持つ別
の壜外観検査システムからの不良壜画像の再表示および
再検査が可能になる。
【0037】また、請求項21記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記検査情報管理装置側に設けられた記憶
装置の記憶媒体に記憶された画像は、外部のコンピュー
タで再検査シミュレーション用として使用されるように
してもよい(請求項25)。この場合、壜外観検査シス
テムとは別の場所で、過去の不良壜画像を用いて、再検
査シミュレーションを行うことができる。
ムにおいて、前記検査情報管理装置側に設けられた記憶
装置の記憶媒体に記憶された画像は、外部のコンピュー
タで再検査シミュレーション用として使用されるように
してもよい(請求項25)。この場合、壜外観検査シス
テムとは別の場所で、過去の不良壜画像を用いて、再検
査シミュレーションを行うことができる。
【0038】また、請求項17記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記画像処理装置は、前記撮像装置の撮像
により得られる画像から、前記壜の擦り傷に応じて変動
する各画素の光量値を求め、これら各画素の光量値およ
び所定の基準を利用して前記壜の良否判定を行い、前記
壜の擦り傷の程度を数値化して検査情報として使用する
構成でもよい(請求項26)。この構成では、再利用回
数や壜の取り扱いなどで壜の表面につく擦り傷の程度を
良否判定することが可能になる。
ムにおいて、前記画像処理装置は、前記撮像装置の撮像
により得られる画像から、前記壜の擦り傷に応じて変動
する各画素の光量値を求め、これら各画素の光量値およ
び所定の基準を利用して前記壜の良否判定を行い、前記
壜の擦り傷の程度を数値化して検査情報として使用する
構成でもよい(請求項26)。この構成では、再利用回
数や壜の取り扱いなどで壜の表面につく擦り傷の程度を
良否判定することが可能になる。
【0039】また、請求項26記載の壜外観検査システ
ムにおいて、検査対象となる壜に向けて照明を行う照明
装置を備え、前記撮像装置は、前記照明によって前記壜
の透過光または前記壜での反射光が得られる状態で前記
壜の撮像を行う構成でもよい(請求項27)。この構成
では、壜の透過光量または反射光量が検査情報となって
表示および記憶され、光量の変化が時系列的に管理され
る。この結果、壜の不良判定結果が照明装置の異常によ
るものか否かを判断することができる。
ムにおいて、検査対象となる壜に向けて照明を行う照明
装置を備え、前記撮像装置は、前記照明によって前記壜
の透過光または前記壜での反射光が得られる状態で前記
壜の撮像を行う構成でもよい(請求項27)。この構成
では、壜の透過光量または反射光量が検査情報となって
表示および記憶され、光量の変化が時系列的に管理され
る。この結果、壜の不良判定結果が照明装置の異常によ
るものか否かを判断することができる。
【0040】また、請求項26記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記良否判定で利用される光量が所定の範
囲を外れた場合には異常発生の報知が行われる構成でも
よい(請求項28)。この構成では、照明装置の劣化や
撮像装置の異常などで光量が変化すると、警報の表示お
よび出力などの異常発生の報知が行われるので、迅速に
トラブルに対応することが可能になり、またトラブルの
発生を事前に防止することが可能になる。
ムにおいて、前記良否判定で利用される光量が所定の範
囲を外れた場合には異常発生の報知が行われる構成でも
よい(請求項28)。この構成では、照明装置の劣化や
撮像装置の異常などで光量が変化すると、警報の表示お
よび出力などの異常発生の報知が行われるので、迅速に
トラブルに対応することが可能になり、またトラブルの
発生を事前に防止することが可能になる。
【0041】また、請求項17記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記良否判定で不良となった壜の画像を用
いて、画像検査アルゴリズムに従って検査内容を表示
し、確認しながら検査を行い検査情報を確認できる構成
でもよい(請求項29)。この構成では、画像処理装置
側の記憶装置に記憶した不良壜画像または撮像装置から
得られる不良壜画像を用いて、検査内容を表示し、確認
しながら検査を行い検査情報を確認できる。これによ
り、検査状況の確認が効率よくできるとともに、検査の
しきい値を変化させたときの不良発生状況を効率よく確
認することが可能になる。
ムにおいて、前記良否判定で不良となった壜の画像を用
いて、画像検査アルゴリズムに従って検査内容を表示
し、確認しながら検査を行い検査情報を確認できる構成
でもよい(請求項29)。この構成では、画像処理装置
側の記憶装置に記憶した不良壜画像または撮像装置から
得られる不良壜画像を用いて、検査内容を表示し、確認
しながら検査を行い検査情報を確認できる。これによ
り、検査状況の確認が効率よくできるとともに、検査の
しきい値を変化させたときの不良発生状況を効率よく確
認することが可能になる。
【0042】また、請求項29記載の壜外観検査システ
ムにおいて、画像検査アルゴリズムおよび検査パラメー
タの設定編集と、この設定編集したアルゴリズムおよび
検査パラメータによる確認検査とを連動して行える構成
でもよい(請求項30)。この構成では、画像検査アル
ゴリズムおよび検査パラメータの変更効果の確認を効率
よく行える。
ムにおいて、画像検査アルゴリズムおよび検査パラメー
タの設定編集と、この設定編集したアルゴリズムおよび
検査パラメータによる確認検査とを連動して行える構成
でもよい(請求項30)。この構成では、画像検査アル
ゴリズムおよび検査パラメータの変更効果の確認を効率
よく行える。
【0043】また、請求項17記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記良否判定で不良となった壜の情報はネ
ットワークを用いて外部に表示される構成でもよい(請
求項31)。この構成では、良否判定で不良となった壜
の情報を、壜外観検査システムとは別の場所で表示する
ことが可能になる。これにより、人手による検壜ステー
ションでの良否確認をそこから離れた場所で管理するこ
とが容易になり、不良となった壜の情報の集中管理が可
能になる。
ムにおいて、前記良否判定で不良となった壜の情報はネ
ットワークを用いて外部に表示される構成でもよい(請
求項31)。この構成では、良否判定で不良となった壜
の情報を、壜外観検査システムとは別の場所で表示する
ことが可能になる。これにより、人手による検壜ステー
ションでの良否確認をそこから離れた場所で管理するこ
とが容易になり、不良となった壜の情報の集中管理が可
能になる。
【0044】また、請求項17記載の壜外観検査システ
ムにおいて、前記良否判定で不良となった壜の情報はネ
ットワークを用いて外部に表示および転送される構成で
もよい(請求項32)。この構成では、複数の壜外観検
査システムの検査情報を集中管理することができる。
ムにおいて、前記良否判定で不良となった壜の情報はネ
ットワークを用いて外部に表示および転送される構成で
もよい(請求項32)。この構成では、複数の壜外観検
査システムの検査情報を集中管理することができる。
【0045】さらに、請求項17記載の壜外観検査シス
テムにおいて、前記検査情報管理装置は、前記画像処理
装置のハードウエア診断機能を有する構成でもよい(請
求項33)。この構成では、画像処理装置の故障個所の
検出時間を短縮することができる。
テムにおいて、前記検査情報管理装置は、前記画像処理
装置のハードウエア診断機能を有する構成でもよい(請
求項33)。この構成では、画像処理装置の故障個所の
検出時間を短縮することができる。
【0046】請求項34に記載の発明の壜外観検査方法
は、検査対象となる壜の撮像を行い、前記撮像により得
られた画像を用いて前記壜の良否判定を行い、前記良否
判定が行われた各壜の良否、検査時刻、不良と判定され
た壜の不良部位および不良内容などの検査情報を時系列
的に保存しまた表示するものである。
は、検査対象となる壜の撮像を行い、前記撮像により得
られた画像を用いて前記壜の良否判定を行い、前記良否
判定が行われた各壜の良否、検査時刻、不良と判定され
た壜の不良部位および不良内容などの検査情報を時系列
的に保存しまた表示するものである。
【0047】この方法では、良否判定が行われた各壜の
良否、検査時刻、不良と判定された壜の不良部位および
不良内容などの検査情報が時系列的に保存されまた表示
されるので、人手を介さずに壜の不良の時系列変化を管
理することができる。この結果、壜の不良の時系列変化
を把握でき、例えば生産ロットとの関係付けが可能にな
る。
良否、検査時刻、不良と判定された壜の不良部位および
不良内容などの検査情報が時系列的に保存されまた表示
されるので、人手を介さずに壜の不良の時系列変化を管
理することができる。この結果、壜の不良の時系列変化
を把握でき、例えば生産ロットとの関係付けが可能にな
る。
【0048】
【発明の実施の形態】以下、本発明の壜外観検査システ
ムおよびその方法に係る各実施形態の説明を行う。
ムおよびその方法に係る各実施形態の説明を行う。
【0049】図1は一実施形態に係る壜外観検査システ
ムの構成図、図2は検査対象となる壜の擦り傷の様子を
示す図、図3は図1の壜外観検査システムによる検査範
囲の説明図、図4は図1に示す検査範囲指定部などの説
明図である。
ムの構成図、図2は検査対象となる壜の擦り傷の様子を
示す図、図3は図1の壜外観検査システムによる検査範
囲の説明図、図4は図1に示す検査範囲指定部などの説
明図である。
【0050】図1に示す壜外観検査システムは、検査対
象となる壜Bに向けて照明を行う照明装置1と、この照
明装置1で照明された壜Bの撮像を行う撮像装置(CC
Dエリアカメラ)2と、この撮像装置2の撮像により得
られた画像データから、壜Bの擦り傷に応じて変動する
各画素の光量値を求め、これら各画素の光量値および所
定の基準を利用して壜Bの良否判定を行う画像処理装置
100とにより構成されている。
象となる壜Bに向けて照明を行う照明装置1と、この照
明装置1で照明された壜Bの撮像を行う撮像装置(CC
Dエリアカメラ)2と、この撮像装置2の撮像により得
られた画像データから、壜Bの擦り傷に応じて変動する
各画素の光量値を求め、これら各画素の光量値および所
定の基準を利用して壜Bの良否判定を行う画像処理装置
100とにより構成されている。
【0051】ここで、壜B(図2の例では麦酒壜)の表
面には幾つもの段階の擦り傷がつくが、擦り傷のついた
壜B全てが不良品として選別されるのではなく、あるレ
ベルを超えた、例えば見た目の悪い擦り傷のついた壜B
が不良品として選別されるのである。このことは既に説
明した通りである。
面には幾つもの段階の擦り傷がつくが、擦り傷のついた
壜B全てが不良品として選別されるのではなく、あるレ
ベルを超えた、例えば見た目の悪い擦り傷のついた壜B
が不良品として選別されるのである。このことは既に説
明した通りである。
【0052】本実施形態では、壜B全体における擦り傷
の有無を検査するのではなく、壜Bの所定部位(例えば
図2に示す径の太くなった胴上部および胴下部など)に
対して図3に示すような検査範囲R1を設定し、この検
査範囲R1内にある擦り傷Sのレベルを評価して、ある
レベルを超えた擦り傷のついた壜Bを不良品として選別
するのである。
の有無を検査するのではなく、壜Bの所定部位(例えば
図2に示す径の太くなった胴上部および胴下部など)に
対して図3に示すような検査範囲R1を設定し、この検
査範囲R1内にある擦り傷Sのレベルを評価して、ある
レベルを超えた擦り傷のついた壜Bを不良品として選別
するのである。
【0053】このため、画像処理装置100側には、検
査範囲R1を少なくとも1つ指定するための検査範囲指
定部100aと、この検査範囲指定部100aで指定さ
れる少なくとも1つの検査範囲R1に対して、所定の基
準としての不良排出レベルを個別に指定するための不良
排出レベル指定部100bとが設けらる。本実施形態で
は、これら検査範囲指定部100aおよび不良排出レベ
ル指定部100bは、図略のキーボードやマウスなどの
入力装置と、図4に示すようなGUIとにより構成され
る。つまり、検査アルゴリズムに対して擦り傷の検査設
定を複数行い、各検査アルゴリズムに対して検査レベル
を設定することができる仕様になっている。
査範囲R1を少なくとも1つ指定するための検査範囲指
定部100aと、この検査範囲指定部100aで指定さ
れる少なくとも1つの検査範囲R1に対して、所定の基
準としての不良排出レベルを個別に指定するための不良
排出レベル指定部100bとが設けらる。本実施形態で
は、これら検査範囲指定部100aおよび不良排出レベ
ル指定部100bは、図略のキーボードやマウスなどの
入力装置と、図4に示すようなGUIとにより構成され
る。つまり、検査アルゴリズムに対して擦り傷の検査設
定を複数行い、各検査アルゴリズムに対して検査レベル
を設定することができる仕様になっている。
【0054】そして、撮像装置2の撮像により得られた
画像データPから、壜Bの擦り傷Sに応じて変動する、
検査範囲R1内の各画素の光量値を求め、これら各画素
の光量値から得られる例えば平均光量値と所定の基準値
との比較を行い、この比較結果に応じて壜Bの良否判定
を行う画像処理が画像処理装置100により実行される
のである。
画像データPから、壜Bの擦り傷Sに応じて変動する、
検査範囲R1内の各画素の光量値を求め、これら各画素
の光量値から得られる例えば平均光量値と所定の基準値
との比較を行い、この比較結果に応じて壜Bの良否判定
を行う画像処理が画像処理装置100により実行される
のである。
【0055】このように、壜の部位、例えば擦り傷のつ
きやすいまたは目立つ箇所を個別に指定することがで
き、その部位に合った不良排出レベルを個別に指定する
ことができるので、壜の外観の適切な品質管理が可能に
なり、また無駄な検査時間を省くことができる。なお、
各画素の光量値から平均光量値を得る構成に限らず、各
画素の光量値から最大光量値と最小光量値との差などを
得る構成でもよい。
きやすいまたは目立つ箇所を個別に指定することがで
き、その部位に合った不良排出レベルを個別に指定する
ことができるので、壜の外観の適切な品質管理が可能に
なり、また無駄な検査時間を省くことができる。なお、
各画素の光量値から平均光量値を得る構成に限らず、各
画素の光量値から最大光量値と最小光量値との差などを
得る構成でもよい。
【0056】次に、上記比較結果に応じて行われる壜B
の良否判定について説明する。図1では、照明装置1の
照明による壜Bの透過光が撮像される配置になってい
る。この場合、擦り傷が目立つ程、照明装置1からの照
明光が壜Bの擦り傷Sの部分で乱反射し、撮像装置2に
向かう透過光が少なくなって、照明装置1の照明による
壜Bの透過光の平均光量値が小さくなるから、検査範囲
R1の平均光量値が所定の基準値よりも小さいとその壜
Bを不良品と判定し、逆に、検査範囲R1の平均光量値
が所定の基準値よりも大きいとその壜Bを良品と判定す
ることができる。これに対して、照明装置1の照明によ
る壜Bでの反射光が撮像される配置の場合には、擦り傷
が目立つ程、照明装置1からの照明光が壜Bの擦り傷S
の部分で乱反射し、撮像装置2に向かう反射光が多くな
って、照明装置1の照明による壜Bでの反射光の平均光
量値が大きくなるから、検査範囲R1の平均光量値が所
定の基準値よりも大きいとその壜Bは不良品と判定さ
れ、逆に、検査範囲R1の平均光量値が所定の基準値よ
りも小さいとその壜Bは良品と判定されることになる。
の良否判定について説明する。図1では、照明装置1の
照明による壜Bの透過光が撮像される配置になってい
る。この場合、擦り傷が目立つ程、照明装置1からの照
明光が壜Bの擦り傷Sの部分で乱反射し、撮像装置2に
向かう透過光が少なくなって、照明装置1の照明による
壜Bの透過光の平均光量値が小さくなるから、検査範囲
R1の平均光量値が所定の基準値よりも小さいとその壜
Bを不良品と判定し、逆に、検査範囲R1の平均光量値
が所定の基準値よりも大きいとその壜Bを良品と判定す
ることができる。これに対して、照明装置1の照明によ
る壜Bでの反射光が撮像される配置の場合には、擦り傷
が目立つ程、照明装置1からの照明光が壜Bの擦り傷S
の部分で乱反射し、撮像装置2に向かう反射光が多くな
って、照明装置1の照明による壜Bでの反射光の平均光
量値が大きくなるから、検査範囲R1の平均光量値が所
定の基準値よりも大きいとその壜Bは不良品と判定さ
れ、逆に、検査範囲R1の平均光量値が所定の基準値よ
りも小さいとその壜Bは良品と判定されることになる。
【0057】このように、擦り傷を数値化することで、
擦り傷による壜Bの良否判定が可能になる。これによ
り、例えば、複数の壜外観検査システムを同じ擦り傷レ
ベルのしきい値に設定することが可能になる。つまり、
図1に示す壜外観検査システムを複数備え、これらの各
壜外観検査システムで使用される所定の基準としての不
良排出レベルを、互いに等しくなるしきい値に設定する
構成にすれば、複数のライン間における壜の外観検査に
よる品質を同等にすることができる。
擦り傷による壜Bの良否判定が可能になる。これによ
り、例えば、複数の壜外観検査システムを同じ擦り傷レ
ベルのしきい値に設定することが可能になる。つまり、
図1に示す壜外観検査システムを複数備え、これらの各
壜外観検査システムで使用される所定の基準としての不
良排出レベルを、互いに等しくなるしきい値に設定する
構成にすれば、複数のライン間における壜の外観検査に
よる品質を同等にすることができる。
【0058】また、擦り傷による不良判定の割合を検査
壜数に対する所定の不良壜数の割合に設定すれば、複数
の壜外観検査システムを同じ擦り傷の不良判定の割合に
設定可能となる。つまり、図1に示す壜外観検査システ
ムを複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用さ
れる所定の基準としての不良排出レベルを、良否判定で
不良と判定される壜の数の割合が互いに等しくなるしき
い値に設定する構成にすれば、複数のライン間における
擦り傷の不良で排出される壜の割合を同等にすることが
できる。
壜数に対する所定の不良壜数の割合に設定すれば、複数
の壜外観検査システムを同じ擦り傷の不良判定の割合に
設定可能となる。つまり、図1に示す壜外観検査システ
ムを複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用さ
れる所定の基準としての不良排出レベルを、良否判定で
不良と判定される壜の数の割合が互いに等しくなるしき
い値に設定する構成にすれば、複数のライン間における
擦り傷の不良で排出される壜の割合を同等にすることが
できる。
【0059】さらに、擦り傷による不良判定を検査壜数
に対する致命的欠陥を持つ壜を含む割合で設定すれば、
複数の壜外観検査システムを同じ判定割合に設定するこ
とができる。つまり、図1に示す壜外観検査システムを
複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用される
所定の基準としての不良排出レベルは、壜の割れ、ヒ
ビ、異物付着および汚れなどの不良(致命的欠陥)と擦
り傷による不良を加えた全体の不良率が一定となるよう
にしきい値設定がなされる構成にすれば、不良排出され
る壜の数量を推定することができ、生産に必要な数量の
壜を確保することができる。
に対する致命的欠陥を持つ壜を含む割合で設定すれば、
複数の壜外観検査システムを同じ判定割合に設定するこ
とができる。つまり、図1に示す壜外観検査システムを
複数備え、これらの各壜外観検査システムで使用される
所定の基準としての不良排出レベルは、壜の割れ、ヒ
ビ、異物付着および汚れなどの不良(致命的欠陥)と擦
り傷による不良を加えた全体の不良率が一定となるよう
にしきい値設定がなされる構成にすれば、不良排出され
る壜の数量を推定することができ、生産に必要な数量の
壜を確保することができる。
【0060】図5は別の実施形態に係る壜外観検査シス
テムの構成図、図6は図5の検査情報管理装置により行
われる管理の様子を示す図である。ただし、図5では、
照明装置1、検査範囲指定部100aおよび不良排出レ
ベル指定部100bの図示は省略してある。
テムの構成図、図6は図5の検査情報管理装置により行
われる管理の様子を示す図である。ただし、図5では、
照明装置1、検査範囲指定部100aおよび不良排出レ
ベル指定部100bの図示は省略してある。
【0061】図5に示す壜外観検査システムは、照明装
置1および撮像装置2を図1の実施形態と同様に備える
ほか、図1の実施形態との相違点として、画像処理装置
101、検査情報管理装置201、壜搬送用の搬送装置
3、および画像処理装置101側の全般制御を行う制御
装置4を備えている。
置1および撮像装置2を図1の実施形態と同様に備える
ほか、図1の実施形態との相違点として、画像処理装置
101、検査情報管理装置201、壜搬送用の搬送装置
3、および画像処理装置101側の全般制御を行う制御
装置4を備えている。
【0062】画像処理装置101は、複数枚の画像デー
タ保存用としてのハードディスク装置や光磁気ディスク
装置などの記憶装置(内蔵画像保存装置101aおよび
外付画像保存装置101b)が当該画像処理装置101
側に設けられ、所定のケーブルを介して検査情報管理装
置201と通信可能に接続されている以外は図1の画像
処理装置100と同様に構成される。
タ保存用としてのハードディスク装置や光磁気ディスク
装置などの記憶装置(内蔵画像保存装置101aおよび
外付画像保存装置101b)が当該画像処理装置101
側に設けられ、所定のケーブルを介して検査情報管理装
置201と通信可能に接続されている以外は図1の画像
処理装置100と同様に構成される。
【0063】検査情報管理装置201は、画像処理装置
101で求められた各画素の光量値から得られる壜の擦
り傷レベルなどを複数壜分保存しまた表示するもので、
当該検査情報管理装置201側には、ハードディスク装
置やフロッピーディスク装置などの記憶装置201a
と、半導体メモリやハードディスク装置などにより成り
画像処理装置101からの検査情報を保存するための検
査情報保存装置201bと、その検査情報を表示するた
めの検査情報表示装置(ディスプレイ)201cとが設
けられている。この構成では、擦り傷レベルなどの検査
情報を、例えばハードディスクやフロッピーディスクな
どの記憶装置201aにファイルとして保存することが
できる。
101で求められた各画素の光量値から得られる壜の擦
り傷レベルなどを複数壜分保存しまた表示するもので、
当該検査情報管理装置201側には、ハードディスク装
置やフロッピーディスク装置などの記憶装置201a
と、半導体メモリやハードディスク装置などにより成り
画像処理装置101からの検査情報を保存するための検
査情報保存装置201bと、その検査情報を表示するた
めの検査情報表示装置(ディスプレイ)201cとが設
けられている。この構成では、擦り傷レベルなどの検査
情報を、例えばハードディスクやフロッピーディスクな
どの記憶装置201aにファイルとして保存することが
できる。
【0064】ここで、検査情報管理装置201により行
われる管理の一例を説明すると、図6に示すように、縦
軸を擦り傷レベル(0〜100)に設定し、横軸を検査
本数(0〜500)に設定して作成されたグラフなどが
検査情報表示装置201cの画面に表示される。このグ
ラフは、検査で得られた各壜の擦り傷レベル(例えば平
均光量値)を0〜100の範囲に正規化し、検査順の時
系列的に並べて作成される。このとき、天面、胴上およ
び胴下の各別にグラフ(点または線グラフ)化されて一
瞥形式で表示される。また、図6のグラフや表などは、
GUIを用いた操作によって表示される。つまり、操作
画面のボタンをマウスでクリックすることで、各種特性
値の分布の計算が行われるようになっている。
われる管理の一例を説明すると、図6に示すように、縦
軸を擦り傷レベル(0〜100)に設定し、横軸を検査
本数(0〜500)に設定して作成されたグラフなどが
検査情報表示装置201cの画面に表示される。このグ
ラフは、検査で得られた各壜の擦り傷レベル(例えば平
均光量値)を0〜100の範囲に正規化し、検査順の時
系列的に並べて作成される。このとき、天面、胴上およ
び胴下の各別にグラフ(点または線グラフ)化されて一
瞥形式で表示される。また、図6のグラフや表などは、
GUIを用いた操作によって表示される。つまり、操作
画面のボタンをマウスでクリックすることで、各種特性
値の分布の計算が行われるようになっている。
【0065】このような検査情報管理装置201を画像
処理装置101に接続する構成にすれば、壜のロット毎
の擦り傷の時系列変化を確認することができるととも
に、過去のデータと照合して比較検討し、不良排斥レベ
ルの設定が容易になる。
処理装置101に接続する構成にすれば、壜のロット毎
の擦り傷の時系列変化を確認することができるととも
に、過去のデータと照合して比較検討し、不良排斥レベ
ルの設定が容易になる。
【0066】また、各壜の外観の品質を表す特性値の分
布が自動的に得られる。また、壜の外観の品質を数値化
することができ、さらに、ライン間やロット間の品質を
比較することができる。
布が自動的に得られる。また、壜の外観の品質を数値化
することができ、さらに、ライン間やロット間の品質を
比較することができる。
【0067】また、検査された壜の擦り傷レベルなどの
特性値の分布を所定数毎に求める構成にすれば、設定数
量毎に品質を比較することができる。
特性値の分布を所定数毎に求める構成にすれば、設定数
量毎に品質を比較することができる。
【0068】また、壜の擦り傷レベルなどの特性値の分
布を検査毎に求める構成にすれば、リアルタイムで品質
を確認することができる。
布を検査毎に求める構成にすれば、リアルタイムで品質
を確認することができる。
【0069】また、所定の基準が壜の所定数の検査毎に
変更される構成、つまり一定検査数毎に初期設定した不
良排出の割合や品質レベルと実際の不良排出の割合や本
数との比較をソフト的に行い、結果に応じてしきい値を
変更する構成にすれば、壜の外観の品質や不良排出され
る壜の割合などを目標値に近づけることができる。
変更される構成、つまり一定検査数毎に初期設定した不
良排出の割合や品質レベルと実際の不良排出の割合や本
数との比較をソフト的に行い、結果に応じてしきい値を
変更する構成にすれば、壜の外観の品質や不良排出され
る壜の割合などを目標値に近づけることができる。
【0070】また、所定の基準が所定時間毎に変更され
る構成、つまり一定時間毎に初期設定した不良排出の割
合や品質レベルと実際の不良排出の割合や本数との比較
をソフト的に行い、結果に応じてしきい値を変更する構
成にすれば、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合
などを目標値に近づけることができる。
る構成、つまり一定時間毎に初期設定した不良排出の割
合や品質レベルと実際の不良排出の割合や本数との比較
をソフト的に行い、結果に応じてしきい値を変更する構
成にすれば、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合
などを目標値に近づけることができる。
【0071】また、特性値の分布範囲が変動した場合に
所定の基準が変更される構成、つまり特性値に範囲を設
定し、特性値がその範囲を外れたときに所定の基準が変
更される構成にすれば、ロットの変わり目などで特性値
が急激に変化した場合に、所定の基準を自動的に変化さ
せることで、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合
などを目標値に近づけることができる。
所定の基準が変更される構成、つまり特性値に範囲を設
定し、特性値がその範囲を外れたときに所定の基準が変
更される構成にすれば、ロットの変わり目などで特性値
が急激に変化した場合に、所定の基準を自動的に変化さ
せることで、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合
などを目標値に近づけることができる。
【0072】また、所定の基準が特性値の変化の傾向か
ら推定されるしきい値に変更される構成、つまり傾向管
理用のプログラムで特性値を管理し、それによりしきい
値が変更される構成にすれば、特性値の傾向管理により
所定の基準を自動的に変化させることで、壜の外観の品
質や不良排出される壜の割合などを目標値に近づけるこ
とができる。
ら推定されるしきい値に変更される構成、つまり傾向管
理用のプログラムで特性値を管理し、それによりしきい
値が変更される構成にすれば、特性値の傾向管理により
所定の基準を自動的に変化させることで、壜の外観の品
質や不良排出される壜の割合などを目標値に近づけるこ
とができる。
【0073】また、特性値の分布範囲の変動は平均値ま
たは標準偏差で評価される構成、つまり特性値の分布の
変動を、特性値の平均値または標準偏差で計算するプロ
グラムを用いる構成にすれば、ロットの変わり目などで
特性値が急激に変化した場合に、所定の基準を自動的に
変化させることで、壜の外観の品質や不良排出される壜
の割合などを目標値に近づけることができる。
たは標準偏差で評価される構成、つまり特性値の分布の
変動を、特性値の平均値または標準偏差で計算するプロ
グラムを用いる構成にすれば、ロットの変わり目などで
特性値が急激に変化した場合に、所定の基準を自動的に
変化させることで、壜の外観の品質や不良排出される壜
の割合などを目標値に近づけることができる。
【0074】さらに、特性値の分布範囲の変動は良否判
定で不良と判定された壜の数の割合で評価される構成、
つまり特性値の分布の変動を、不良排出させた壜の本数
で管理するプログラムを用いる構成にしても、ロットの
変わり目などで特性値が急激に変化した場合に、所定の
基準を自動的に変化させることで、壜の外観の品質や不
良排出される壜の割合などを目標値に近づけることがで
きる。
定で不良と判定された壜の数の割合で評価される構成、
つまり特性値の分布の変動を、不良排出させた壜の本数
で管理するプログラムを用いる構成にしても、ロットの
変わり目などで特性値が急激に変化した場合に、所定の
基準を自動的に変化させることで、壜の外観の品質や不
良排出される壜の割合などを目標値に近づけることがで
きる。
【0075】図7は別の実施形態に係る壜外観検査シス
テムの構成図、図8は検査情報の保存形式の一例を示す
図である。ただし、図7では照明装置1の図示は省略し
てある。
テムの構成図、図8は検査情報の保存形式の一例を示す
図である。ただし、図7では照明装置1の図示は省略し
てある。
【0076】図7に示す壜外観検査システムは、検査対
象となる壜に向けて照明を行う照明装置1と、この照明
装置1で照明された壜の撮像を行う撮像装置2と、壜搬
送用の搬送装置3と、撮像装置2の撮像により得られた
画像データを用いて壜の良否判定を行う画像処理装置1
02と、検査情報保存装置201bおよび検査情報表示
装置201cを有し、画像処理装置102の良否判定で
得られる各壜の良否、検査時刻、不良と判定された壜の
不良部位および不良内容などの検査情報を時系列的に保
存しまた表示する検査情報管理装置(パソコン)201
とにより構成される。
象となる壜に向けて照明を行う照明装置1と、この照明
装置1で照明された壜の撮像を行う撮像装置2と、壜搬
送用の搬送装置3と、撮像装置2の撮像により得られた
画像データを用いて壜の良否判定を行う画像処理装置1
02と、検査情報保存装置201bおよび検査情報表示
装置201cを有し、画像処理装置102の良否判定で
得られる各壜の良否、検査時刻、不良と判定された壜の
不良部位および不良内容などの検査情報を時系列的に保
存しまた表示する検査情報管理装置(パソコン)201
とにより構成される。
【0077】ここで、本実施形態では、画像処理装置1
02の検査情報は、シリアル通信やLANのネットワー
クを介して検査情報管理装置201に伝達され、保存プ
ログラムにより図8に示すような形式で検査情報保存装
置201bに保存される。図8の例では、日、時、ビン
番号、不良画像番号、NGシーケンス、NGアルゴリズ
ムおよびNGコードなどに区分されて保存されている。
保存された検査情報は読出プログラムで読み出されて検
査情報表示装置201cに表示される。
02の検査情報は、シリアル通信やLANのネットワー
クを介して検査情報管理装置201に伝達され、保存プ
ログラムにより図8に示すような形式で検査情報保存装
置201bに保存される。図8の例では、日、時、ビン
番号、不良画像番号、NGシーケンス、NGアルゴリズ
ムおよびNGコードなどに区分されて保存されている。
保存された検査情報は読出プログラムで読み出されて検
査情報表示装置201cに表示される。
【0078】このように、画像処理装置102側の良否
判定で得られる各壜の良否、検査時刻、不良と判定され
た壜の不良部位および不良内容などの検査情報を時系列
的に保存しまた表示する検査情報管理装置201を備え
る構成にすれば、良否判定で得られる各壜の良否、検査
時刻、不良と判定された壜の不良部位および不良内容な
どの検査情報が時系列的に保存されまた表示されるの
で、人手を介さずに壜の不良の時系列変化を管理するこ
とができる。この結果、壜の不良の時系列変化を把握で
き、例えば生産ロットとの関係付けが可能になる。
判定で得られる各壜の良否、検査時刻、不良と判定され
た壜の不良部位および不良内容などの検査情報を時系列
的に保存しまた表示する検査情報管理装置201を備え
る構成にすれば、良否判定で得られる各壜の良否、検査
時刻、不良と判定された壜の不良部位および不良内容な
どの検査情報が時系列的に保存されまた表示されるの
で、人手を介さずに壜の不良の時系列変化を管理するこ
とができる。この結果、壜の不良の時系列変化を把握で
き、例えば生産ロットとの関係付けが可能になる。
【0079】図9は別の実施形態に係る壜外観検査シス
テムの構成図、図10,図11は画像データと検査情報
との保存形式の説明図である。ただし、図9では照明装
置1の図示は省略してある。
テムの構成図、図10,図11は画像データと検査情報
との保存形式の説明図である。ただし、図9では照明装
置1の図示は省略してある。
【0080】図9に示す壜外観検査システムは、照明装
置1、撮像装置2、搬送装置3および検査情報管理装置
201を図7の実施形態と同様に備えているほか、複数
枚の画像データ保存用としての記憶装置(内蔵画像保存
装置101aおよび外付画像保存装置101b)を有す
る点で、図7の実施形態と相違する画像処理装置102
を備えている。上記記憶装置は、半導体メモリ、ハード
ディスク、光磁気ディスクなどであり、必要に応じて組
み合わせて使用される。
置1、撮像装置2、搬送装置3および検査情報管理装置
201を図7の実施形態と同様に備えているほか、複数
枚の画像データ保存用としての記憶装置(内蔵画像保存
装置101aおよび外付画像保存装置101b)を有す
る点で、図7の実施形態と相違する画像処理装置102
を備えている。上記記憶装置は、半導体メモリ、ハード
ディスク、光磁気ディスクなどであり、必要に応じて組
み合わせて使用される。
【0081】この構成では、良否判定で不良と判定され
た壜の画像データは画像処理装置102側の記憶装置に
記憶される。ただし、良否判定で良と判定された壜の画
像データの保存、保存の開始および停止も初期設定で実
行可能である。
た壜の画像データは画像処理装置102側の記憶装置に
記憶される。ただし、良否判定で良と判定された壜の画
像データの保存、保存の開始および停止も初期設定で実
行可能である。
【0082】画像処理装置102側の記憶装置に保存さ
れた画像データは、画像処理装置102側で再度読み出
すことが当然可能であるほか、画像の確認および再検査
などが行える仕様になっている。従来では、画像処理装
置に内蔵された半導体メモリに画像データが保存される
ので、保存できる画像データは1枚のみであった。従っ
て、稼働中に検出した複数の不良壜の画像を確認するに
は、画像データ保存、ライン停止および確認といった一
連の作業を1本の壜毎に行う必要があった。これに対し
て、本実施形態の構成では、大容量のハードディスクお
よび光磁気ディスクを記憶装置に搭載したので、複数枚
の画像データを記憶することが可能になり、効率よく壜
の画像を確認することが可能になる。
れた画像データは、画像処理装置102側で再度読み出
すことが当然可能であるほか、画像の確認および再検査
などが行える仕様になっている。従来では、画像処理装
置に内蔵された半導体メモリに画像データが保存される
ので、保存できる画像データは1枚のみであった。従っ
て、稼働中に検出した複数の不良壜の画像を確認するに
は、画像データ保存、ライン停止および確認といった一
連の作業を1本の壜毎に行う必要があった。これに対し
て、本実施形態の構成では、大容量のハードディスクお
よび光磁気ディスクを記憶装置に搭載したので、複数枚
の画像データを記憶することが可能になり、効率よく壜
の画像を確認することが可能になる。
【0083】このように、例えば、良否判定で不良とな
った壜の画像データを最近の複数壜分記憶する記憶装置
を、画像処理装置102側に設ける構成にすれば、最近
の複数壜分の不良壜画像のデータが記憶されるので、記
憶された最近の複数壜分の不良壜画像のデータを用いた
再表示および再検査が可能になる。この結果、外観検査
実行中に発生した壜の不良を効率的に捕捉し、再表示お
よび再検査を行うことが可能になる。
った壜の画像データを最近の複数壜分記憶する記憶装置
を、画像処理装置102側に設ける構成にすれば、最近
の複数壜分の不良壜画像のデータが記憶されるので、記
憶された最近の複数壜分の不良壜画像のデータを用いた
再表示および再検査が可能になる。この結果、外観検査
実行中に発生した壜の不良を効率的に捕捉し、再表示お
よび再検査を行うことが可能になる。
【0084】次に、画像処理装置102側の記憶装置に
記憶される画像データなどの保存形式について説明す
る。画像データの保存に使用するデータ形式は、壜の画
像データを縦×横の複数画素に分解し、各画素毎に色や
明るさなどのデータを関連付けた形式のものであり、保
存されるデータ自体は、一般的に0〜Fの16進数で表
示される。また、壜を検査したときの不良部位および不
良判定などの検査情報も0〜Fの16進数で保存され
る。このため、本実施形態では、図10に示すように、
壜の画像を含む再検査用の検査範囲Rを少なくとも含む
領域PR内の画像を上記データ形式で保存するととも
に、その領域PR外の領域(検査範囲Rに支障のない領
域)IRに追加または置換した形で、壜を検査したとき
の不良部位および不良判定などの検査情報を上記データ
形式で保存する方式が採られる(図11参照)。
記憶される画像データなどの保存形式について説明す
る。画像データの保存に使用するデータ形式は、壜の画
像データを縦×横の複数画素に分解し、各画素毎に色や
明るさなどのデータを関連付けた形式のものであり、保
存されるデータ自体は、一般的に0〜Fの16進数で表
示される。また、壜を検査したときの不良部位および不
良判定などの検査情報も0〜Fの16進数で保存され
る。このため、本実施形態では、図10に示すように、
壜の画像を含む再検査用の検査範囲Rを少なくとも含む
領域PR内の画像を上記データ形式で保存するととも
に、その領域PR外の領域(検査範囲Rに支障のない領
域)IRに追加または置換した形で、壜を検査したとき
の不良部位および不良判定などの検査情報を上記データ
形式で保存する方式が採られる(図11参照)。
【0085】このように、不良となった壜の画像データ
を不良部位および不良内容の検査情報とともに一のデー
タとして記憶装置に記憶する構成を採れば、不良壜画像
のデータと検査情報のデータとの1対1の対応関係が管
理容易になるとともに、不良壜画像による欠陥確認時
に、検査情報をあわせて表示することが可能になる。
を不良部位および不良内容の検査情報とともに一のデー
タとして記憶装置に記憶する構成を採れば、不良壜画像
のデータと検査情報のデータとの1対1の対応関係が管
理容易になるとともに、不良壜画像による欠陥確認時
に、検査情報をあわせて表示することが可能になる。
【0086】図12は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図、図13は図12の画像処理装置の動作
説明図である。ただし、図12では照明装置1の図示は
省略してある。
ステムの構成図、図13は図12の画像処理装置の動作
説明図である。ただし、図12では照明装置1の図示は
省略してある。
【0087】図12に示す壜外観検査システムは、照明
装置1、撮像装置2、搬送装置3および検査情報管理装
置201を図9の実施形態と同様に備えているほか、図
9の実施形態との相違点として、マルチタスク画像処理
装置103およびこのマルチタスク画像処理装置103
側の全般の制御を行う制御装置4を備えている。
装置1、撮像装置2、搬送装置3および検査情報管理装
置201を図9の実施形態と同様に備えているほか、図
9の実施形態との相違点として、マルチタスク画像処理
装置103およびこのマルチタスク画像処理装置103
側の全般の制御を行う制御装置4を備えている。
【0088】マルチタスク画像処理装置103は、図1
3に示すように、検査画像処理と画像表示とを時分割式
で処理することができる機能(マルチタスク処理機能)
を有しているほかは、図9の画像処理装置102と同様
に構成される。つまり、撮像装置2からの画像の処理時
に生じる空き時間を利用して、画像の表示を行う構成に
なっている。
3に示すように、検査画像処理と画像表示とを時分割式
で処理することができる機能(マルチタスク処理機能)
を有しているほかは、図9の画像処理装置102と同様
に構成される。つまり、撮像装置2からの画像の処理時
に生じる空き時間を利用して、画像の表示を行う構成に
なっている。
【0089】このように、良否判定と平行して記憶装置
に記憶された壜の画像を、マルチタスク画像処理装置1
03側の図略の表示装置に出力する機能を有する構成に
すれば、記憶装置に記憶した不良壜画像の表示が外観検
査実行中にも可能となる。この結果、外観検査を停止す
ることなく、発生した不良の部位および不良内容を確認
することができる。
に記憶された壜の画像を、マルチタスク画像処理装置1
03側の図略の表示装置に出力する機能を有する構成に
すれば、記憶装置に記憶した不良壜画像の表示が外観検
査実行中にも可能となる。この結果、外観検査を停止す
ることなく、発生した不良の部位および不良内容を確認
することができる。
【0090】図14は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。ただし、図14では照明装置1
の図示は省略してある。
ステムの構成図である。ただし、図14では照明装置1
の図示は省略してある。
【0091】図14に示す壜外観検査システムは、照明
装置1、撮像装置2、搬送装置3および画像処理装置1
02を図9の実施形態と同様に備えているほか、記憶装
置201aを有する点で、図9の実施形態と相違する検
査情報管理装置201を備えている。記憶装置201a
は、記憶媒体を有し、この記憶媒体にデータを記憶する
ハードディスク装置やフロッピーディスク装置などで構
成される。
装置1、撮像装置2、搬送装置3および画像処理装置1
02を図9の実施形態と同様に備えているほか、記憶装
置201aを有する点で、図9の実施形態と相違する検
査情報管理装置201を備えている。記憶装置201a
は、記憶媒体を有し、この記憶媒体にデータを記憶する
ハードディスク装置やフロッピーディスク装置などで構
成される。
【0092】この構成では、画像処理装置102からの
画像データは保存プログラムにより記憶装置201aに
保存され、この保存された画像データは読出プログラム
により読み出されて検査情報表示装置201cに表示さ
れる。
画像データは保存プログラムにより記憶装置201aに
保存され、この保存された画像データは読出プログラム
により読み出されて検査情報表示装置201cに表示さ
れる。
【0093】また、記憶装置201aの記録媒体にリム
ーバブルメディアを利用すると、画像情報などを外部の
装置に保存することができ、また同じ型の壜外観検査シ
ステムで種々の確認を行うことが可能になる。
ーバブルメディアを利用すると、画像情報などを外部の
装置に保存することができ、また同じ型の壜外観検査シ
ステムで種々の確認を行うことが可能になる。
【0094】このように、記憶媒体を有し、この記憶媒
体に、画像処理装置102から転送される画像データを
記憶する記憶装置201aを検査情報管理装置201側
に設ける構成にすれば、不良壜画像のデータを画像処理
装置の外部に保存することができ、また、記録媒体が着
脱式のものであれば、別の表示装置に不良壜画像を表示
することが可能になる。
体に、画像処理装置102から転送される画像データを
記憶する記憶装置201aを検査情報管理装置201側
に設ける構成にすれば、不良壜画像のデータを画像処理
装置の外部に保存することができ、また、記録媒体が着
脱式のものであれば、別の表示装置に不良壜画像を表示
することが可能になる。
【0095】図15は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。ただし、図15では照明装置1
の図示は省略してある。
ステムの構成図である。ただし、図15では照明装置1
の図示は省略してある。
【0096】図15に示す壜外観検査システムは、照明
装置1、撮像装置2、搬送装置3、画像処理装置102
および検査情報管理装置201を図14の実施形態と同
様に備えている。ただし、検査情報管理装置201側の
記憶装置201aは、記憶媒体としてリムーバブルメデ
ィア(例えばフロッピーディスク)RMを使用する。
装置1、撮像装置2、搬送装置3、画像処理装置102
および検査情報管理装置201を図14の実施形態と同
様に備えている。ただし、検査情報管理装置201側の
記憶装置201aは、記憶媒体としてリムーバブルメデ
ィア(例えばフロッピーディスク)RMを使用する。
【0097】そして、画像保存形式に例えばビットマッ
プ形式が使用される。このとき、再検査を行う必要があ
る場合には、検査結果にデータ化けによる相違が生じな
いように、画像データを圧縮しない形式、または完全に
元のデータに復元することができる可逆圧縮で、画像デ
ータの保存が行われる。これに対し、再検査を行う必要
がない場合には、JPEGなどの非可逆圧縮で画像デー
タの保存が行われる。
プ形式が使用される。このとき、再検査を行う必要があ
る場合には、検査結果にデータ化けによる相違が生じな
いように、画像データを圧縮しない形式、または完全に
元のデータに復元することができる可逆圧縮で、画像デ
ータの保存が行われる。これに対し、再検査を行う必要
がない場合には、JPEGなどの非可逆圧縮で画像デー
タの保存が行われる。
【0098】このように、記憶装置201aのリムーバ
ブルメディアRMに、不良となった壜の画像データを互
換性の高いファイル形式に従って記憶する構成にすれ
ば、不良壜画像のデータが例えばビットマップなどの互
換性の高いファイル形式に従って記憶媒体に記憶される
ので、特別なプログラムを用意することなく、図15に
示すように、市場に流通しているソフトウエア(図では
表示用ソフト)を用いて不良壜画像を表示装置PE3に
表示することが可能になる。ただし、図15のコンピュ
ータPC1は、本壜外観検査システム外のもので、周辺
機器として、記憶装置201aと互換性のある記憶装置
PE1と、ハードディスク装置などのデータ保存装置P
E2と、表示装置PE3とを備えている。
ブルメディアRMに、不良となった壜の画像データを互
換性の高いファイル形式に従って記憶する構成にすれ
ば、不良壜画像のデータが例えばビットマップなどの互
換性の高いファイル形式に従って記憶媒体に記憶される
ので、特別なプログラムを用意することなく、図15に
示すように、市場に流通しているソフトウエア(図では
表示用ソフト)を用いて不良壜画像を表示装置PE3に
表示することが可能になる。ただし、図15のコンピュ
ータPC1は、本壜外観検査システム外のもので、周辺
機器として、記憶装置201aと互換性のある記憶装置
PE1と、ハードディスク装置などのデータ保存装置P
E2と、表示装置PE3とを備えている。
【0099】また、記憶装置201aのリムーバブルメ
ディアRMに、検査情報を互換性の高いファイル形式に
従って記憶する構成すれば、検査情報が例えばテキスト
などの互換性の高いファイル形式に従ってリムーバブル
メディアRMに記憶されるので、検査情報を他のコンピ
ュータPC1などを用いてそれに接続された表示装置P
E3に表示することが可能になる。この結果、他のコン
ピュータを用いて、不良壜画像とともに検査情報を確認
することができ、壜外観検査システムとは別の場所で外
観検査の結果を確認することができる。
ディアRMに、検査情報を互換性の高いファイル形式に
従って記憶する構成すれば、検査情報が例えばテキスト
などの互換性の高いファイル形式に従ってリムーバブル
メディアRMに記憶されるので、検査情報を他のコンピ
ュータPC1などを用いてそれに接続された表示装置P
E3に表示することが可能になる。この結果、他のコン
ピュータを用いて、不良壜画像とともに検査情報を確認
することができ、壜外観検査システムとは別の場所で外
観検査の結果を確認することができる。
【0100】図16は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。ただし、図16では照明装置1
の図示は省略してある。
ステムの構成図である。ただし、図16では照明装置1
の図示は省略してある。
【0101】図16に示す壜外観検査システムは、照明
装置1、撮像装置2、搬送装置3、画像処理装置102
および検査情報管理装置201を図14の実施形態と同
様に備え、検査情報管理装置201側の記憶装置201
aに保存した画像データを画像処理装置102側の記憶
装置に転送可能に構成される。そして、画像処理装置1
02側の記憶装置に転送された画像データは、検査情報
管理装置201の操作に従って再検査および再表示が行
われる。
装置1、撮像装置2、搬送装置3、画像処理装置102
および検査情報管理装置201を図14の実施形態と同
様に備え、検査情報管理装置201側の記憶装置201
aに保存した画像データを画像処理装置102側の記憶
装置に転送可能に構成される。そして、画像処理装置1
02側の記憶装置に転送された画像データは、検査情報
管理装置201の操作に従って再検査および再表示が行
われる。
【0102】このように、画像処理装置102が不良と
なった画像データを入力して当該画像処理装置102側
に設けられた記憶装置に記憶する構成にすれば、例えば
検査情報管理装置201側に記憶した不良壜画像のデー
タを画像処理装置102に返送可能になるので、過去の
不良壜画像の再表示および再検査が可能になる。
なった画像データを入力して当該画像処理装置102側
に設けられた記憶装置に記憶する構成にすれば、例えば
検査情報管理装置201側に記憶した不良壜画像のデー
タを画像処理装置102に返送可能になるので、過去の
不良壜画像の再表示および再検査が可能になる。
【0103】図17は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。ただし、図17では照明装置1
の図示は省略してある。
ステムの構成図である。ただし、図17では照明装置1
の図示は省略してある。
【0104】図17に示す壜外観検査システムは、照明
装置1、撮像装置2、搬送装置3、画像処理装置102
および検査情報管理装置201を図14の実施形態と同
様に備えている。
装置1、撮像装置2、搬送装置3、画像処理装置102
および検査情報管理装置201を図14の実施形態と同
様に備えている。
【0105】この構成では、例えば、検査情報管理装置
201側の記憶装置201aにリムーバブルメディアR
Mのものを使用し、このリムーバブルメディアRMに不
良壜画像および検査情報のデータを互換性の高いファイ
ル形式に従って保存すれば、図15の実施形態と同様、
他のコンピュータPC1で再表示が可能になる。そして
さらに、他のコンピュータPC1に対して、画像処理装
置102をシミュレートするハードウエアおよびソフト
ウエア(図ではシミュレーションハードソフトEB)を
組み込めば、上記再表示に加えて再検査のシミュレーシ
ョンをそのコンピュータPC1で実行可能となる。
201側の記憶装置201aにリムーバブルメディアR
Mのものを使用し、このリムーバブルメディアRMに不
良壜画像および検査情報のデータを互換性の高いファイ
ル形式に従って保存すれば、図15の実施形態と同様、
他のコンピュータPC1で再表示が可能になる。そして
さらに、他のコンピュータPC1に対して、画像処理装
置102をシミュレートするハードウエアおよびソフト
ウエア(図ではシミュレーションハードソフトEB)を
組み込めば、上記再表示に加えて再検査のシミュレーシ
ョンをそのコンピュータPC1で実行可能となる。
【0106】このように、検査情報管理装置201側に
設けられた記憶装置201aのリムーバブルメディアR
Mに記憶された画像データなどを、外部のコンピュータ
PC1で再検査シミュレーション用として使用する構成
にすれば、壜外観検査システムとは別の場所で、過去の
不良壜画像のデータを用いて、再検査シミュレーション
を行うことができる。
設けられた記憶装置201aのリムーバブルメディアR
Mに記憶された画像データなどを、外部のコンピュータ
PC1で再検査シミュレーション用として使用する構成
にすれば、壜外観検査システムとは別の場所で、過去の
不良壜画像のデータを用いて、再検査シミュレーション
を行うことができる。
【0107】なお、上記図7〜図17までの各実施形態
では、撮像装置2の撮像により得られた画像データを用
いて壜の良否判定を行う画像処理装置102またはマル
チタスク画像処理装置103を備えるシステム構成にな
っているが、これら画像処理装置102またはマルチタ
スク画像処理装置103に代えて、図5の実施形態と同
様に、検査範囲指定部100aおよび不良排出レベル指
定部100bを有し、撮像装置2の撮像により得られた
画像データから、壜の擦り傷に応じて変動する各画素の
光量値を求め、これら各画素の光量値および所定の基準
を利用して壜の良否判定を行う画像処理装置101を備
えるシステム構成でもよい。この場合、図5の実施形態
と同様、図18に示すような擦り傷Sの程度に応じて壜
の良否を判定することが可能になる。そして、再利用回
数や壜の取り扱いなどで壜の表面につく擦り傷の程度を
良否判定することが可能になる。
では、撮像装置2の撮像により得られた画像データを用
いて壜の良否判定を行う画像処理装置102またはマル
チタスク画像処理装置103を備えるシステム構成にな
っているが、これら画像処理装置102またはマルチタ
スク画像処理装置103に代えて、図5の実施形態と同
様に、検査範囲指定部100aおよび不良排出レベル指
定部100bを有し、撮像装置2の撮像により得られた
画像データから、壜の擦り傷に応じて変動する各画素の
光量値を求め、これら各画素の光量値および所定の基準
を利用して壜の良否判定を行う画像処理装置101を備
えるシステム構成でもよい。この場合、図5の実施形態
と同様、図18に示すような擦り傷Sの程度に応じて壜
の良否を判定することが可能になる。そして、再利用回
数や壜の取り扱いなどで壜の表面につく擦り傷の程度を
良否判定することが可能になる。
【0108】図19は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。この図に示す壜外観検査システ
ムは、撮像装置2、搬送装置3および検査情報管理装置
201を図14の実施形態と同様に備えているほか、図
14の実施形態との相違点として、検査対象となる壜B
に向けて照明を行うとともにその照明による壜Bの透過
光が撮像装置2で撮像されるように配置および設定され
る照明装置1と、図5の実施形態と同様の画像処理装置
101とを備えている。照明装置1には例えば検査用の
インバータ蛍光灯照明装置が使用される。
ステムの構成図である。この図に示す壜外観検査システ
ムは、撮像装置2、搬送装置3および検査情報管理装置
201を図14の実施形態と同様に備えているほか、図
14の実施形態との相違点として、検査対象となる壜B
に向けて照明を行うとともにその照明による壜Bの透過
光が撮像装置2で撮像されるように配置および設定され
る照明装置1と、図5の実施形態と同様の画像処理装置
101とを備えている。照明装置1には例えば検査用の
インバータ蛍光灯照明装置が使用される。
【0109】この構成では、壜の画像に光量測定点(壜
の擦り傷、歪みなどの影響を受けにくい箇所が望まし
い)が設定され、壜の明るさが測定される。また、撮像
装置2の撮像により得られた画像データは、個々の壜の
良否などの検査情報とともにまたはその検査情報一部と
して、画像処理装置101および検査情報管理装置20
1の双方で記憶され管理される。
の擦り傷、歪みなどの影響を受けにくい箇所が望まし
い)が設定され、壜の明るさが測定される。また、撮像
装置2の撮像により得られた画像データは、個々の壜の
良否などの検査情報とともにまたはその検査情報一部と
して、画像処理装置101および検査情報管理装置20
1の双方で記憶され管理される。
【0110】なお、図19の例では、照明装置1による
壜Bの透過光を利用して壜Bの擦り傷を検出する構成に
なっているが、これに限らず、図1の実施形態で既に説
明したように、照明装置1による壜Bでの反射光を利用
して壜Bの擦り傷を検出する構成でもよい。この場合、
ストロボによる壜Bでの反射光の光量を撮像装置2で撮
像するようにしてもよい。
壜Bの透過光を利用して壜Bの擦り傷を検出する構成に
なっているが、これに限らず、図1の実施形態で既に説
明したように、照明装置1による壜Bでの反射光を利用
して壜Bの擦り傷を検出する構成でもよい。この場合、
ストロボによる壜Bでの反射光の光量を撮像装置2で撮
像するようにしてもよい。
【0111】このように、照明装置1の照明による壜の
透過光または壜での反射光が得られる状態で、壜の撮像
を撮像装置2により行う構成にすれば、壜の透過光量ま
たは反射光量が検査情報となって表示および記憶され、
光量の変化が時系列的に管理される。この結果、壜の不
良判定結果が照明装置の異常によるものか否かを判断す
ることができる。
透過光または壜での反射光が得られる状態で、壜の撮像
を撮像装置2により行う構成にすれば、壜の透過光量ま
たは反射光量が検査情報となって表示および記憶され、
光量の変化が時系列的に管理される。この結果、壜の不
良判定結果が照明装置の異常によるものか否かを判断す
ることができる。
【0112】図20は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。この図に示す壜外観検査システ
ムは、照明装置1、撮像装置2および搬送装置3を図1
9の実施形態と同様に備えているほか、図19の実施形
態との相違点として異常信号に従って異常が発生したこ
とを報知する光量異常出力装置300を備えているとと
もに、画像処理装置101および検査情報管理装置20
1を備え、画像処理装置101または検査情報管理装置
201に光量異常を検出する機能が設けられる点で図1
9の実施形態とさらに相違する。
ステムの構成図である。この図に示す壜外観検査システ
ムは、照明装置1、撮像装置2および搬送装置3を図1
9の実施形態と同様に備えているほか、図19の実施形
態との相違点として異常信号に従って異常が発生したこ
とを報知する光量異常出力装置300を備えているとと
もに、画像処理装置101および検査情報管理装置20
1を備え、画像処理装置101または検査情報管理装置
201に光量異常を検出する機能が設けられる点で図1
9の実施形態とさらに相違する。
【0113】ここで、上記光量異常を検出する機能は、
撮像装置2の撮像により得られる画像から求められる光
量(例えば平均光量値)に対する範囲を設定するための
機構と、その範囲と測定した光量とを比較する機構とに
より成りる。このような機能は、電圧比較回路などでハ
ード的に設けられる構成でもよく、あるいはプログラム
言語で記述された比較式などでソフト的に設けられる構
成でもよい。そして、光量異常を検出する機能は、測定
した光量が設定された範囲を外れると、異常信号を光量
異常出力装置300に出力するように構成される。これ
により、測定した光量が設定範囲を外れると、異常が発
生した旨が報知されることになる。
撮像装置2の撮像により得られる画像から求められる光
量(例えば平均光量値)に対する範囲を設定するための
機構と、その範囲と測定した光量とを比較する機構とに
より成りる。このような機能は、電圧比較回路などでハ
ード的に設けられる構成でもよく、あるいはプログラム
言語で記述された比較式などでソフト的に設けられる構
成でもよい。そして、光量異常を検出する機能は、測定
した光量が設定された範囲を外れると、異常信号を光量
異常出力装置300に出力するように構成される。これ
により、測定した光量が設定範囲を外れると、異常が発
生した旨が報知されることになる。
【0114】なお、光量異常出力装置300は、異常信
号に従って動作する警報装置または外部接点でもよく、
あるいは異常信号に従って検査情報表示装置201cの
画面に異常が発生したことを表示するものでもよい。
号に従って動作する警報装置または外部接点でもよく、
あるいは異常信号に従って検査情報表示装置201cの
画面に異常が発生したことを表示するものでもよい。
【0115】このように、良否判定で利用される光量が
所定の範囲を外れた場合には異常発生の報知が行われる
構成にすれば、照明装置1の劣化や撮像装置2の異常な
どで光量が変化すると、警報の表示および出力などの異
常発生の報知が行われるので、迅速にトラブルに対応す
ることが可能になり、またトラブルの発生を事前に防止
することが可能になる。
所定の範囲を外れた場合には異常発生の報知が行われる
構成にすれば、照明装置1の劣化や撮像装置2の異常な
どで光量が変化すると、警報の表示および出力などの異
常発生の報知が行われるので、迅速にトラブルに対応す
ることが可能になり、またトラブルの発生を事前に防止
することが可能になる。
【0116】なお、上記各実施形態において、画像処理
装置に入力した壜の画像に対し、図21に示すように、
画像処理のオーバレイ表示機能を用いて、検査内容と壜
の画像とを同時に表示する構成にしてもよい。この場
合、検査情報を確認しながら検査を行うことができる。
すなわち、良否判定で不良となった壜の画像を用いて、
画像検査アルゴリズムに従って検査内容を表示し、確認
しながら検査を行い検査情報を確認できる構成にすれ
ば、画像処理装置側の記憶装置に記憶した不良壜画像ま
たは撮像装置から得られる不良壜画像を用いて、検査内
容を表示し、確認しながら検査を行い検査情報を確認で
きる。これにより、検査状況の確認が効率よくできると
ともに、検査のしきい値を変化させたときの不良発生状
況を効率よく確認することが可能になる。
装置に入力した壜の画像に対し、図21に示すように、
画像処理のオーバレイ表示機能を用いて、検査内容と壜
の画像とを同時に表示する構成にしてもよい。この場
合、検査情報を確認しながら検査を行うことができる。
すなわち、良否判定で不良となった壜の画像を用いて、
画像検査アルゴリズムに従って検査内容を表示し、確認
しながら検査を行い検査情報を確認できる構成にすれ
ば、画像処理装置側の記憶装置に記憶した不良壜画像ま
たは撮像装置から得られる不良壜画像を用いて、検査内
容を表示し、確認しながら検査を行い検査情報を確認で
きる。これにより、検査状況の確認が効率よくできると
ともに、検査のしきい値を変化させたときの不良発生状
況を効率よく確認することが可能になる。
【0117】また、図22に示すように、壜外観検査シ
ステムの確認検査画面に検査アルゴリズム、パラメータ
編集への切換えを設け、切換操作により確認検査と設定
編集画面を切り換える構成にしてもよい。この構成で
は、設定編集画面から、確認検査画面へ戻るときは、設
定画面で編集した検査アルゴリズムやパラメータの最新
情報が確認検査に反映される。つまり、画像検査アルゴ
リズムおよび検査パラメータの設定編集と、この設定編
集したアルゴリズムおよび検査パラメータによる確認検
査とを連動して行える構成にすれば、画像検査アルゴリ
ズムおよび検査パラメータの変更効果の確認を効率よく
行える。
ステムの確認検査画面に検査アルゴリズム、パラメータ
編集への切換えを設け、切換操作により確認検査と設定
編集画面を切り換える構成にしてもよい。この構成で
は、設定編集画面から、確認検査画面へ戻るときは、設
定画面で編集した検査アルゴリズムやパラメータの最新
情報が確認検査に反映される。つまり、画像検査アルゴ
リズムおよび検査パラメータの設定編集と、この設定編
集したアルゴリズムおよび検査パラメータによる確認検
査とを連動して行える構成にすれば、画像検査アルゴリ
ズムおよび検査パラメータの変更効果の確認を効率よく
行える。
【0118】図23は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。ただし、図23では照明装置1
の図示は省略してある。
ステムの構成図である。ただし、図23では照明装置1
の図示は省略してある。
【0119】図23に示す壜外観検査システムは、照明
装置1、撮像装置2、搬送装置3、画像処理装置101
および検査情報管理装置201を図19の実施形態と同
様に備えている。
装置1、撮像装置2、搬送装置3、画像処理装置101
および検査情報管理装置201を図19の実施形態と同
様に備えている。
【0120】そして、検査情報管理装置201は、ネッ
トワーク(例えばLAN、シリアル接続)を介して、不
良情報表示機能を備えたコンピュータなどの不良情報表
示装置PC2と接続されている。この不良情報表示装置
PC2には液晶表示型の表示装置が接続(画像信号のケ
ーブル接続)される。
トワーク(例えばLAN、シリアル接続)を介して、不
良情報表示機能を備えたコンピュータなどの不良情報表
示装置PC2と接続されている。この不良情報表示装置
PC2には液晶表示型の表示装置が接続(画像信号のケ
ーブル接続)される。
【0121】このように、良否判定で不良となった壜の
情報を、ネットワークを用いて外部に表示する構成にす
れば、良否判定で不良となった壜の情報を、壜外観検査
システムとは別の場所で表示することが可能になる。こ
れにより、人手による検壜ステーションでの良否確認を
そこから離れた場所で管理することが容易になり、不良
となった壜の情報の集中管理が可能になる。
情報を、ネットワークを用いて外部に表示する構成にす
れば、良否判定で不良となった壜の情報を、壜外観検査
システムとは別の場所で表示することが可能になる。こ
れにより、人手による検壜ステーションでの良否確認を
そこから離れた場所で管理することが容易になり、不良
となった壜の情報の集中管理が可能になる。
【0122】図24は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。ただし、図24では照明装置1
の図示は省略してある。
ステムの構成図である。ただし、図24では照明装置1
の図示は省略してある。
【0123】図24に示す壜外観検査システムは、照明
装置1、撮像装置2、搬送装置3、制御装置4、画像処
理装置101および検査情報管理装置201を図5の実
施形態と同様に備えている。
装置1、撮像装置2、搬送装置3、制御装置4、画像処
理装置101および検査情報管理装置201を図5の実
施形態と同様に備えている。
【0124】そして、画像処理装置101または制御装
置4は、ネットワーク(例えばLAN、シリアル接続)
を介して、表示機能を備えたコンピュータなどの検査情
報表示装置PC3と接続されている。この検査情報表示
装置PC3には検査情報を表示するのに必要なハードウ
エアおよびソフトウエアが設けられる。
置4は、ネットワーク(例えばLAN、シリアル接続)
を介して、表示機能を備えたコンピュータなどの検査情
報表示装置PC3と接続されている。この検査情報表示
装置PC3には検査情報を表示するのに必要なハードウ
エアおよびソフトウエアが設けられる。
【0125】このように、良否判定で不良となった壜の
情報をネットワークを用いて外部に表示および転送する
構成にすれば、複数の壜外観検査システムの検査情報を
集中管理することができる。
情報をネットワークを用いて外部に表示および転送する
構成にすれば、複数の壜外観検査システムの検査情報を
集中管理することができる。
【0126】図25は別の実施形態に係る壜外観検査シ
ステムの構成図である。ただし、図25では照明装置1
の図示は省略してある。
ステムの構成図である。ただし、図25では照明装置1
の図示は省略してある。
【0127】図25に示す壜外観検査システムは、照明
装置1、撮像装置2、搬送装置3、制御装置4、画像処
理装置101および検査情報管理装置201を図24の
実施形態と同様に備えている。また、画像処理装置10
1と、例えばプログラマブルコントローラなどにより成
る制御装置4と、例えばコンピュータなどにより成る検
査情報管理装置201とは、LAN、シリアルやパラレ
ル接続のネットワークを介して相互に接続されている。
装置1、撮像装置2、搬送装置3、制御装置4、画像処
理装置101および検査情報管理装置201を図24の
実施形態と同様に備えている。また、画像処理装置10
1と、例えばプログラマブルコントローラなどにより成
る制御装置4と、例えばコンピュータなどにより成る検
査情報管理装置201とは、LAN、シリアルやパラレ
ル接続のネットワークを介して相互に接続されている。
【0128】そして、検査情報管理装置201から画像
処理装置101にネットワークを通じて命令が送られ、
その応答により画像処理装置101のハードウエアが確
認されるようになっている。
処理装置101にネットワークを通じて命令が送られ、
その応答により画像処理装置101のハードウエアが確
認されるようになっている。
【0129】つまり、検査情報管理装置201に画像処
理装置101のハードウエア診断機能を持たせる構成に
すれば、画像処理装置101の故障個所の検出時間を短
縮することができる。
理装置101のハードウエア診断機能を持たせる構成に
すれば、画像処理装置101の故障個所の検出時間を短
縮することができる。
【0130】
【発明の効果】以上のことから明らかなように、請求項
1記載の発明によれば、検査対象となる壜に向けて照明
を行う照明装置と、この照明装置で照明された前記壜の
撮像を行う撮像装置と、この撮像装置の撮像により得ら
れた画像から、前記壜の擦り傷に応じて変動する各画素
の光量値を求め、これら各画素の光量値および所定の基
準を利用して前記壜の良否判定を行う画像処理装置とを
備えるので、壜の擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が
可能になる。つまり、擦り傷のレベルによる壜の良否判
定が可能になり、外観の見栄えが劣る壜の不良排出が可
能になる。
1記載の発明によれば、検査対象となる壜に向けて照明
を行う照明装置と、この照明装置で照明された前記壜の
撮像を行う撮像装置と、この撮像装置の撮像により得ら
れた画像から、前記壜の擦り傷に応じて変動する各画素
の光量値を求め、これら各画素の光量値および所定の基
準を利用して前記壜の良否判定を行う画像処理装置とを
備えるので、壜の擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が
可能になる。つまり、擦り傷のレベルによる壜の良否判
定が可能になり、外観の見栄えが劣る壜の不良排出が可
能になる。
【0131】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装置で
求められた各画素の光量値から得られる壜の擦り傷レベ
ルを複数壜分保存しまた表示する検査情報管理装置を備
えるので、壜のロット毎の擦り傷の時系列変化を確認す
ることができるとともに、過去のデータと照合して比較
検討し、不良排斥レベルの設定が容易になる。
載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装置で
求められた各画素の光量値から得られる壜の擦り傷レベ
ルを複数壜分保存しまた表示する検査情報管理装置を備
えるので、壜のロット毎の擦り傷の時系列変化を確認す
ることができるとともに、過去のデータと照合して比較
検討し、不良排斥レベルの設定が容易になる。
【0132】請求項3記載の発明によれば、請求項1記
載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装置側
には、当該画像処理装置で求められる各画素の光量値の
検査範囲を少なくとも1つ指定するための検査範囲指定
手段と、この検査範囲指定手段で指定される少なくとも
1つの検査範囲に対して、前記所定の基準としての不良
排出レベルを個別に指定するための不良排出レベル指定
手段とが設けられ、前記画像処理装置は、前記各画素の
光量値から得られる擦り傷レベルと前記不良排出レベル
との比較を行い、この比較結果に応じて前記良否判定を
行うので、壜の外観の適切な品質管理が可能になり、ま
た無駄な検査時間を省くことができる。
載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装置側
には、当該画像処理装置で求められる各画素の光量値の
検査範囲を少なくとも1つ指定するための検査範囲指定
手段と、この検査範囲指定手段で指定される少なくとも
1つの検査範囲に対して、前記所定の基準としての不良
排出レベルを個別に指定するための不良排出レベル指定
手段とが設けられ、前記画像処理装置は、前記各画素の
光量値から得られる擦り傷レベルと前記不良排出レベル
との比較を行い、この比較結果に応じて前記良否判定を
行うので、壜の外観の適切な品質管理が可能になり、ま
た無駄な検査時間を省くことができる。
【0133】請求項4記載の発明によれば、請求項1記
載の壜外観検査システムを複数備え、これらの各壜外観
検査システムで使用される前記所定の基準としての不良
排出レベルは、互いに等しくなるしきい値に設定されて
いるので、複数のライン間における壜の外観検査による
品質を同等にすることができる。
載の壜外観検査システムを複数備え、これらの各壜外観
検査システムで使用される前記所定の基準としての不良
排出レベルは、互いに等しくなるしきい値に設定されて
いるので、複数のライン間における壜の外観検査による
品質を同等にすることができる。
【0134】請求項5記載の発明によれば、請求項1記
載の壜外観検査システムを複数備え、これらの各壜外観
検査システムで使用される前記所定の基準としての不良
排出レベルは、前記良否判定で不良と判定される壜の数
の割合が互いに等しくなるしきい値に設定されているの
で、複数のライン間における擦り傷の不良で排出される
壜の割合を同等にすることができる。
載の壜外観検査システムを複数備え、これらの各壜外観
検査システムで使用される前記所定の基準としての不良
排出レベルは、前記良否判定で不良と判定される壜の数
の割合が互いに等しくなるしきい値に設定されているの
で、複数のライン間における擦り傷の不良で排出される
壜の割合を同等にすることができる。
【0135】請求項6記載の発明によれば、請求項1記
載の壜外観検査システムを複数備え、これらの各壜外観
検査システムで使用される前記所定の基準としての不良
排出レベルは、壜の割れ、ヒビ、異物付着および汚れな
どの不良と擦り傷による不良を加えた全体の不良率が一
定となるようにしきい値設定がなされているので、不良
排出される壜の数量を推定することができ、生産に必要
な数量の壜を確保することができる。
載の壜外観検査システムを複数備え、これらの各壜外観
検査システムで使用される前記所定の基準としての不良
排出レベルは、壜の割れ、ヒビ、異物付着および汚れな
どの不良と擦り傷による不良を加えた全体の不良率が一
定となるようにしきい値設定がなされているので、不良
排出される壜の数量を推定することができ、生産に必要
な数量の壜を確保することができる。
【0136】請求項7記載の発明によれば、請求項1〜
6のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、前
記検査情報管理装置は操作に従って各壜の外観の品質を
表す特性値の分布を求めるので、壜の外観の品質を数値
化することができる。また、ライン間やロット間の品質
を比較することができる。
6のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、前
記検査情報管理装置は操作に従って各壜の外観の品質を
表す特性値の分布を求めるので、壜の外観の品質を数値
化することができる。また、ライン間やロット間の品質
を比較することができる。
【0137】請求項8記載の発明によれば、請求項7記
載の壜外観検査システムにおいて、前記特性値の分布は
所定数毎に求められるので、設定数量毎に品質を比較す
ることができる。
載の壜外観検査システムにおいて、前記特性値の分布は
所定数毎に求められるので、設定数量毎に品質を比較す
ることができる。
【0138】請求項9記載の発明によれば、請求項7記
載の壜外観検査システムにおいて、前記特性値の分布は
検査毎に求められるので、リアルタイムで品質を確認す
ることができる。
載の壜外観検査システムにおいて、前記特性値の分布は
検査毎に求められるので、リアルタイムで品質を確認す
ることができる。
【0139】請求項10記載の発明によれば、請求項1
〜6のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、
前記所定の基準は前記壜の所定数の検査毎に変更される
ので、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合などを
目標値に近づけることができる。
〜6のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、
前記所定の基準は前記壜の所定数の検査毎に変更される
ので、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合などを
目標値に近づけることができる。
【0140】請求項11記載の発明によれば、請求項1
〜6のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、
前記所定の基準は所定時間毎に変更されるので、壜の外
観の品質や不良排出される壜の割合などを目標値に近づ
けることができる。
〜6のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、
前記所定の基準は所定時間毎に変更されるので、壜の外
観の品質や不良排出される壜の割合などを目標値に近づ
けることができる。
【0141】請求項12記載の発明によれば、請求項7
〜9のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、
前記所定の基準は前記特性値の分布範囲が変動した場合
に変更されるので、ロットの変わり目などで特性値が急
激に変化した場合に、所定の基準を自動的に変化させる
ことで、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合など
を目標値に近づけることができる。
〜9のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、
前記所定の基準は前記特性値の分布範囲が変動した場合
に変更されるので、ロットの変わり目などで特性値が急
激に変化した場合に、所定の基準を自動的に変化させる
ことで、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合など
を目標値に近づけることができる。
【0142】請求項13記載の発明によれば、請求項7
〜9のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、
前記所定の基準は前記特性値の変化の傾向から推定され
るしきい値に変更されるので、特性値の傾向管理により
所定の基準を自動的に変化させることで、壜の外観の品
質や不良排出される壜の割合などを目標値に近づけるこ
とができる。
〜9のいずれかに記載の壜外観検査システムにおいて、
前記所定の基準は前記特性値の変化の傾向から推定され
るしきい値に変更されるので、特性値の傾向管理により
所定の基準を自動的に変化させることで、壜の外観の品
質や不良排出される壜の割合などを目標値に近づけるこ
とができる。
【0143】請求項14記載の発明によれば、請求項1
2記載の壜外観検査システムにおいて、前記特性値の分
布範囲の変動は平均値または標準偏差で評価されるので
あり、この構成でも、ロットの変わり目などで特性値が
急激に変化した場合に、所定の基準を自動的に変化させ
ることで、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合な
どを目標値に近づけることができる。
2記載の壜外観検査システムにおいて、前記特性値の分
布範囲の変動は平均値または標準偏差で評価されるので
あり、この構成でも、ロットの変わり目などで特性値が
急激に変化した場合に、所定の基準を自動的に変化させ
ることで、壜の外観の品質や不良排出される壜の割合な
どを目標値に近づけることができる。
【0144】請求項15記載の発明によれば、請求項1
2記載の壜外観検査システムにおいて、前記特性値の分
布範囲の変動は前記良否判定で不良と判定された壜の数
の割合で評価されるのであり、この構成でも、ロットの
変わり目などで特性値が急激に変化した場合に、所定の
基準を自動的に変化させることで、壜の外観の品質や不
良排出される壜の割合などを目標値に近づけることがで
きる。
2記載の壜外観検査システムにおいて、前記特性値の分
布範囲の変動は前記良否判定で不良と判定された壜の数
の割合で評価されるのであり、この構成でも、ロットの
変わり目などで特性値が急激に変化した場合に、所定の
基準を自動的に変化させることで、壜の外観の品質や不
良排出される壜の割合などを目標値に近づけることがで
きる。
【0145】請求項16記載の発明によれば、検査対象
となる壜に向けて照明を行いながら前記壜の撮像を行
い、前記撮像により得られる画像から、前記壜の擦り傷
に応じて変動する各画素の光量値を求め、これら各画素
の光量値および所定の基準を利用して前記壜の良否判定
を行うので、壜の擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が
可能になる。
となる壜に向けて照明を行いながら前記壜の撮像を行
い、前記撮像により得られる画像から、前記壜の擦り傷
に応じて変動する各画素の光量値を求め、これら各画素
の光量値および所定の基準を利用して前記壜の良否判定
を行うので、壜の擦り傷の程度に応じた壜の良否判定が
可能になる。
【0146】請求項17記載の発明によれば、検査対象
となる壜の撮像を行う撮像装置と、この撮像装置の撮像
により得られた画像を用いて前記壜の良否判定を行う画
像処理装置と、この画像処理装置の良否判定で得られる
各壜の良否、検査時刻、不良と判定された壜の不良部位
および不良内容などの検査情報を時系列的に保存しまた
表示するので、人手を介さずに壜の不良の時系列変化を
管理することができる。この結果、壜の不良の時系列変
化を把握でき、例えば生産ロットとの関係付けが可能に
なる。
となる壜の撮像を行う撮像装置と、この撮像装置の撮像
により得られた画像を用いて前記壜の良否判定を行う画
像処理装置と、この画像処理装置の良否判定で得られる
各壜の良否、検査時刻、不良と判定された壜の不良部位
および不良内容などの検査情報を時系列的に保存しまた
表示するので、人手を介さずに壜の不良の時系列変化を
管理することができる。この結果、壜の不良の時系列変
化を把握でき、例えば生産ロットとの関係付けが可能に
なる。
【0147】請求項18記載の発明によれば、請求項1
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置側には、前記良否判定で不良となった壜の画像を最近
の複数壜分記憶する記憶装置が設けられているので、記
憶された最近の複数壜分の不良壜画像を用いた再表示お
よび再検査が可能になる。この結果、外観検査実行中に
発生した壜の不良を効率的に捕捉し、再表示および再検
査を行うことが可能になる。
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置側には、前記良否判定で不良となった壜の画像を最近
の複数壜分記憶する記憶装置が設けられているので、記
憶された最近の複数壜分の不良壜画像を用いた再表示お
よび再検査が可能になる。この結果、外観検査実行中に
発生した壜の不良を効率的に捕捉し、再表示および再検
査を行うことが可能になる。
【0148】請求項19記載の発明によれば、請求項1
8記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置は、前記不良となった壜の画像を不良部位および不良
内容の検査情報とともに一のデータとして前記記憶装置
に記憶するので、不良壜画像と検査情報との1対1の対
応関係が管理容易になるとともに、不良壜画像による欠
陥確認時に、検査情報をあわせて表示することが可能に
なる。
8記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置は、前記不良となった壜の画像を不良部位および不良
内容の検査情報とともに一のデータとして前記記憶装置
に記憶するので、不良壜画像と検査情報との1対1の対
応関係が管理容易になるとともに、不良壜画像による欠
陥確認時に、検査情報をあわせて表示することが可能に
なる。
【0149】請求項20記載の発明によれば、請求項1
8記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置は、前記良否判定と平行して前記記憶装置に記憶され
た壜の画像を表示装置に出力する機能を有するので、記
憶装置に記憶した不良壜画像の表示が外観検査実行中に
も可能となる。この結果、外観検査を停止することな
く、発生した不良の部位および不良内容を確認すること
ができる。
8記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置は、前記良否判定と平行して前記記憶装置に記憶され
た壜の画像を表示装置に出力する機能を有するので、記
憶装置に記憶した不良壜画像の表示が外観検査実行中に
も可能となる。この結果、外観検査を停止することな
く、発生した不良の部位および不良内容を確認すること
ができる。
【0150】請求項21記載の発明によれば、請求項1
8または19記載の壜外観検査システムにおいて、前記
検査情報管理装置側には、記憶媒体を有し、この記憶媒
体に、前記画像処理装置から転送される前記記憶装置に
記憶の画像を記憶する記憶装置が設けられているので、
不良壜画像を画像処理装置の外部に保存することがで
き、また、記録媒体が着脱式のものであれば、別の表示
装置に不良壜画像を表示することが可能になる。
8または19記載の壜外観検査システムにおいて、前記
検査情報管理装置側には、記憶媒体を有し、この記憶媒
体に、前記画像処理装置から転送される前記記憶装置に
記憶の画像を記憶する記憶装置が設けられているので、
不良壜画像を画像処理装置の外部に保存することがで
き、また、記録媒体が着脱式のものであれば、別の表示
装置に不良壜画像を表示することが可能になる。
【0151】請求項22記載の発明によれば、請求項2
1記載の壜外観検査システムにおいて、前記検査情報管
理装置は、当該検査情報管理装置側に設けられた記憶装
置の記憶媒体に、前記不良となった壜の画像を互換性の
高いファイル形式に従って記憶するので、特別なプログ
ラムを用意することなく、市場に流通しているソフトウ
エアを用いて不良壜画像を表示装置に表示することが可
能になる。
1記載の壜外観検査システムにおいて、前記検査情報管
理装置は、当該検査情報管理装置側に設けられた記憶装
置の記憶媒体に、前記不良となった壜の画像を互換性の
高いファイル形式に従って記憶するので、特別なプログ
ラムを用意することなく、市場に流通しているソフトウ
エアを用いて不良壜画像を表示装置に表示することが可
能になる。
【0152】請求項23記載の発明によれば、請求項2
1または22に記載の壜外観検査システムにおいて、前
記検査情報管理装置は、当該検査情報管理装置側に設け
られた記憶装置の記憶媒体に、前記検査情報を互換性の
高いファイル形式に従って記憶するので、検査情報を他
のコンピュータなどを用いて表示することが可能にな
る。この結果、他のコンピュータを用いて、不良壜画像
とともに検査情報を確認することができ、壜外観検査シ
ステムとは別の場所で外観検査の結果を確認することが
できる。
1または22に記載の壜外観検査システムにおいて、前
記検査情報管理装置は、当該検査情報管理装置側に設け
られた記憶装置の記憶媒体に、前記検査情報を互換性の
高いファイル形式に従って記憶するので、検査情報を他
のコンピュータなどを用いて表示することが可能にな
る。この結果、他のコンピュータを用いて、不良壜画像
とともに検査情報を確認することができ、壜外観検査シ
ステムとは別の場所で外観検査の結果を確認することが
できる。
【0153】請求項24記載の発明によれば、請求項1
9記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置は、不良となった画像を入力して当該画像処理装置側
に設けられた記憶装置に記憶するので、過去の不良壜画
像の再表示および再検査が可能になる。また、同じ機能
を持つ別の壜外観検査システムからの不良壜画像の再表
示および再検査が可能になる。
9記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置は、不良となった画像を入力して当該画像処理装置側
に設けられた記憶装置に記憶するので、過去の不良壜画
像の再表示および再検査が可能になる。また、同じ機能
を持つ別の壜外観検査システムからの不良壜画像の再表
示および再検査が可能になる。
【0154】請求項25記載の発明によれば、請求項2
1記載の壜外観検査システムにおいて、前記検査情報管
理装置側に設けられた記憶装置の記憶媒体に記憶された
画像は、外部のコンピュータで再検査シミュレーション
用として使用されるので、壜外観検査システムとは別の
場所で、過去の不良壜画像を用いて、再検査シミュレー
ションを行うことができる。
1記載の壜外観検査システムにおいて、前記検査情報管
理装置側に設けられた記憶装置の記憶媒体に記憶された
画像は、外部のコンピュータで再検査シミュレーション
用として使用されるので、壜外観検査システムとは別の
場所で、過去の不良壜画像を用いて、再検査シミュレー
ションを行うことができる。
【0155】請求項26記載の発明によれば、請求項1
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置は、前記撮像装置の撮像により得られる画像から、前
記壜の擦り傷に応じて変動する各画素の光量値を求め、
これら各画素の光量値および所定の基準を利用して前記
壜の良否判定を行い、前記壜の擦り傷の程度を数値化し
て検査情報として使用するので、再利用回数や壜の取り
扱いなどで壜の表面につく擦り傷の程度を良否判定する
ことが可能になる。
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記画像処理装
置は、前記撮像装置の撮像により得られる画像から、前
記壜の擦り傷に応じて変動する各画素の光量値を求め、
これら各画素の光量値および所定の基準を利用して前記
壜の良否判定を行い、前記壜の擦り傷の程度を数値化し
て検査情報として使用するので、再利用回数や壜の取り
扱いなどで壜の表面につく擦り傷の程度を良否判定する
ことが可能になる。
【0156】請求項27記載の発明によれば、請求項2
6記載の壜外観検査システムにおいて、検査対象となる
壜に向けて照明を行う照明装置を備え、前記撮像装置
は、前記照明によって前記壜の透過光または前記壜での
反射光が得られる状態で前記壜の撮像を行うので、壜の
透過光量または反射光量が検査情報となって表示および
記憶され、光量の変化が時系列的に管理される。この結
果、壜の不良判定結果が照明装置の異常によるものか否
かを判断することができる。
6記載の壜外観検査システムにおいて、検査対象となる
壜に向けて照明を行う照明装置を備え、前記撮像装置
は、前記照明によって前記壜の透過光または前記壜での
反射光が得られる状態で前記壜の撮像を行うので、壜の
透過光量または反射光量が検査情報となって表示および
記憶され、光量の変化が時系列的に管理される。この結
果、壜の不良判定結果が照明装置の異常によるものか否
かを判断することができる。
【0157】請求項28記載の発明によれば、請求項2
6記載の壜外観検査システムにおいて、前記良否判定で
利用される光量が所定の範囲を外れた場合には異常発生
の報知が行われるので、照明装置の劣化や撮像装置の異
常などで光量が変化すると、警報の表示および出力など
の異常発生の報知が行われるので、迅速にトラブルに対
応することが可能になり、またトラブルの発生を事前に
防止することが可能になる。
6記載の壜外観検査システムにおいて、前記良否判定で
利用される光量が所定の範囲を外れた場合には異常発生
の報知が行われるので、照明装置の劣化や撮像装置の異
常などで光量が変化すると、警報の表示および出力など
の異常発生の報知が行われるので、迅速にトラブルに対
応することが可能になり、またトラブルの発生を事前に
防止することが可能になる。
【0158】請求項29記載の発明によれば、請求項1
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記良否判定で
不良となった壜の画像を用いて、画像検査アルゴリズム
に従って検査内容を表示し、確認しながら検査を行い検
査情報を確認できるので、検査状況の確認が効率よくで
きるとともに、検査のしきい値を変化させたときの不良
発生状況を効率よく確認することが可能になる。
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記良否判定で
不良となった壜の画像を用いて、画像検査アルゴリズム
に従って検査内容を表示し、確認しながら検査を行い検
査情報を確認できるので、検査状況の確認が効率よくで
きるとともに、検査のしきい値を変化させたときの不良
発生状況を効率よく確認することが可能になる。
【0159】請求項30記載の発明によれば、請求項2
9記載の壜外観検査システムにおいて、画像検査アルゴ
リズムおよび検査パラメータの設定編集と、この設定編
集したアルゴリズムおよび検査パラメータによる確認検
査とを連動して行えるので、画像検査アルゴリズムおよ
び検査パラメータの変更効果の確認を効率よく行える。
9記載の壜外観検査システムにおいて、画像検査アルゴ
リズムおよび検査パラメータの設定編集と、この設定編
集したアルゴリズムおよび検査パラメータによる確認検
査とを連動して行えるので、画像検査アルゴリズムおよ
び検査パラメータの変更効果の確認を効率よく行える。
【0160】請求項31記載の発明によれば、請求項1
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記良否判定で
不良となった壜の情報はネットワークを用いて外部に表
示されるので、良否判定で不良となった壜の情報を、壜
外観検査システムとは別の場所で表示することが可能に
なる。これにより、人手による検壜ステーションでの良
否確認をそこから離れた場所で管理することが容易にな
り、不良となった壜の情報の集中管理が可能になる。
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記良否判定で
不良となった壜の情報はネットワークを用いて外部に表
示されるので、良否判定で不良となった壜の情報を、壜
外観検査システムとは別の場所で表示することが可能に
なる。これにより、人手による検壜ステーションでの良
否確認をそこから離れた場所で管理することが容易にな
り、不良となった壜の情報の集中管理が可能になる。
【0161】請求項32記載の発明によれば、請求項1
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記良否判定で
不良となった壜の情報はネットワークを用いて外部に表
示および転送されるので、複数の壜外観検査システムの
検査情報を集中管理することができる。
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記良否判定で
不良となった壜の情報はネットワークを用いて外部に表
示および転送されるので、複数の壜外観検査システムの
検査情報を集中管理することができる。
【0162】請求項33記載の発明によれば、請求項1
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記検査情報管
理装置は、前記画像処理装置のハードウエア診断機能を
有するので、画像処理装置の故障個所の検出時間を短縮
することができる。
7記載の壜外観検査システムにおいて、前記検査情報管
理装置は、前記画像処理装置のハードウエア診断機能を
有するので、画像処理装置の故障個所の検出時間を短縮
することができる。
【0163】請求項34記載の発明によれば、検査対象
となる壜の撮像を行い、前記撮像により得られた画像を
用いて前記壜の良否判定を行い、前記良否判定が行われ
た各壜の良否、検査時刻、不良と判定された壜の不良部
位および不良内容などの検査情報を時系列的に保存しま
た表示するので、人手を介さずに壜の不良の時系列変化
を管理することができる。この結果、壜の不良の時系列
変化を把握でき、例えば生産ロットとの関係付けが可能
になる。
となる壜の撮像を行い、前記撮像により得られた画像を
用いて前記壜の良否判定を行い、前記良否判定が行われ
た各壜の良否、検査時刻、不良と判定された壜の不良部
位および不良内容などの検査情報を時系列的に保存しま
た表示するので、人手を介さずに壜の不良の時系列変化
を管理することができる。この結果、壜の不良の時系列
変化を把握でき、例えば生産ロットとの関係付けが可能
になる。
【図1】一実施形態に係る壜外観検査システムの構成図
である。
である。
【図2】検査対象となる壜の擦り傷の様子を示す図であ
る。
る。
【図3】図1の壜外観検査システムによる検査範囲の説
明図である。
明図である。
【図4】図1に示す検査範囲指定部などの説明図であ
る。
る。
【図5】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構成
図である。
図である。
【図6】図5の検査情報管理装置により行われる管理の
様子を示す図である。
様子を示す図である。
【図7】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構成
図である。
図である。
【図8】検査情報の保存形式の一例を示す図である。
【図9】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構成
図である。
図である。
【図10】画像データと検査情報との保存形式の説明図
である。
である。
【図11】画像データと検査情報との保存形式の説明図
である。
である。
【図12】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図13】図12の画像処理装置の動作説明図である。
【図14】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図15】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図16】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図17】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図18】壜の擦り傷の例を示す図である。
【図19】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図20】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図21】検査内容と壜の画像とを同時に表示する場合
の説明図である。
の説明図である。
【図22】壜外観検査システムの確認検査画面に検査ア
ルゴリズム、パラメータ編集への切換えを設ける場合の
説明図である。
ルゴリズム、パラメータ編集への切換えを設ける場合の
説明図である。
【図23】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図24】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
【図25】別の実施形態に係る壜外観検査システムの構
成図である。
成図である。
1 照明装置 2 撮像装置 3 搬送装置 4 制御装置 100,101,102 画像処理装置 103 マルチタスク画像処理装置 201 検査情報管理装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 畑澤 新治 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電工 株式会社内 (72)発明者 酒井 龍雄 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電工 株式会社内 (72)発明者 宮地 辰彦 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電工 株式会社内 (72)発明者 新井 克明 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電工 株式会社内 (72)発明者 橋本 康成 愛知県名古屋市守山区西川原町318 アサ ヒビール株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA49 BB08 BB15 BB22 CC00 DD06 FF02 FF42 GG03 GG08 HH15 JJ03 JJ26 NN19 PP11 QQ00 QQ03 QQ08 QQ23 QQ24 QQ25 QQ36 QQ41 QQ42 RR06 SS01 SS04 SS09 SS13 TT03 2G051 AA12 AB01 AB02 AB03 BA20 CA03 CA04 CB01 CB02 DA01 DA06 DA13 EA14 EB01 EB02 EC03 ED07 FA01 3F079 AD12 CA31 CA42 CB25 CB29 CB33 CB34 CB35 CC11 EA16 5B057 AA02 BA02 BA24 BA26 BA30 CA08 CA12 CA16 CC03 DA03 DB02 DB09 DC22 DC23
Claims (34)
- 【請求項1】 検査対象となる壜に向けて照明を行う照
明装置と、この照明装置で照明された前記壜の撮像を行
う撮像装置と、この撮像装置の撮像により得られた画像
から、前記壜の擦り傷に応じて変動する各画素の光量値
を求め、これら各画素の光量値および所定の基準を利用
して前記壜の良否判定を行う画像処理装置とを備える壜
外観検査システム。 - 【請求項2】 前記画像処理装置で求められた各画素の
光量値から得られる壜の擦り傷レベルを複数壜分保存し
また表示する検査情報管理装置を備える請求項1記載の
壜外観検査システム。 - 【請求項3】 前記画像処理装置側には、当該画像処理
装置で求められる各画素の光量値の検査範囲を少なくと
も1つ指定するための検査範囲指定手段と、この検査範
囲指定手段で指定される少なくとも1つの検査範囲に対
して、前記所定の基準としての不良排出レベルを個別に
指定するための不良排出レベル指定手段とが設けられ、
前記画像処理装置は、前記各画素の光量値から得られる
擦り傷レベルと前記不良排出レベルとの比較を行い、こ
の比較結果に応じて前記良否判定を行う請求項1記載の
壜外観検査システム。 - 【請求項4】 請求項1記載の壜外観検査システムを複
数備え、これらの各壜外観検査システムで使用される前
記所定の基準としての不良排出レベルは、互いに等しく
なるしきい値に設定されている壜外観検査システム。 - 【請求項5】 請求項1記載の壜外観検査システムを複
数備え、これらの各壜外観検査システムで使用される前
記所定の基準としての不良排出レベルは、前記良否判定
で不良と判定される壜の数の割合が互いに等しくなるし
きい値に設定されている壜外観検査システム。 - 【請求項6】 請求項1記載の壜外観検査システムを複
数備え、これらの各壜外観検査システムで使用される前
記所定の基準としての不良排出レベルは、壜の割れ、ヒ
ビ、異物付着および汚れなどの不良と擦り傷による不良
を加えた全体の不良率が一定となるようにしきい値設定
がなされている壜外観検査システム。 - 【請求項7】 前記検査情報管理装置は操作に従って各
壜の外観の品質を表す特性値の分布を求める請求項1〜
6のいずれかに記載の壜外観検査システム。 - 【請求項8】 前記特性値の分布は所定数毎に求められ
る請求項7記載の壜外観検査システム。 - 【請求項9】 前記特性値の分布は検査毎に求められる
請求項7記載の壜外観検査システム。 - 【請求項10】 前記所定の基準は前記壜の所定数の検
査毎に変更される請求項1〜6のいずれかに記載の壜外
観検査システム。 - 【請求項11】 前記所定の基準は所定時間毎に変更さ
れる請求項1〜6のいずれかに記載の壜外観検査システ
ム。 - 【請求項12】 前記所定の基準は前記特性値の分布範
囲が変動した場合に変更される請求項7〜9のいずれか
に記載の壜外観検査システム。 - 【請求項13】 前記所定の基準は前記特性値の変化の
傾向から推定されるしきい値に変更される請求項7〜9
のいずれかに記載の壜外観検査システム。 - 【請求項14】 前記特性値の分布範囲の変動は平均値
または標準偏差で評価される請求項12記載の壜外観検
査システム。 - 【請求項15】 前記特性値の分布範囲の変動は前記良
否判定で不良と判定された壜の数の割合で評価される請
求項12記載の壜外観検査システム。 - 【請求項16】 検査対象となる壜に向けて照明を行い
ながら前記壜の撮像を行い、前記撮像により得られる画
像から、前記壜の擦り傷に応じて変動する各画素の光量
値を求め、これら各画素の光量値および所定の基準を利
用して前記壜の良否判定を行う壜外観検査方法。 - 【請求項17】 検査対象となる壜の撮像を行う撮像装
置と、この撮像装置の撮像により得られた画像を用いて
前記壜の良否判定を行う画像処理装置と、この画像処理
装置の良否判定で得られる各壜の良否、検査時刻、不良
と判定された壜の不良部位および不良内容などの検査情
報を時系列的に保存しまた表示する検査情報管理装置と
を備える壜外観検査システム。 - 【請求項18】 前記画像処理装置側には、前記良否判
定で不良となった壜の画像を最近の複数壜分記憶する記
憶装置が設けられている請求項17記載の壜外観検査シ
ステム。 - 【請求項19】 前記画像処理装置は、前記不良となっ
た壜の画像を不良部位および不良内容の検査情報ととも
に一のデータとして前記記憶装置に記憶する請求項18
記載の壜外観検査システム。 - 【請求項20】 前記画像処理装置は、前記良否判定と
平行して前記記憶装置に記憶された壜の画像を表示装置
に出力する機能を有する請求項18記載の壜外観検査シ
ステム。 - 【請求項21】 前記検査情報管理装置側には、記憶媒
体を有し、この記憶媒体に、前記画像処理装置から転送
される前記記憶装置に記憶の画像を記憶する記憶装置が
設けられている請求項18または19記載の壜外観検査
システム。 - 【請求項22】 前記検査情報管理装置は、当該検査情
報管理装置側に設けられた記憶装置の記憶媒体に、前記
不良となった壜の画像を互換性の高いファイル形式に従
って記憶する請求項21記載の壜外観検査システム。 - 【請求項23】 前記検査情報管理装置は、当該検査情
報管理装置側に設けられた記憶装置の記憶媒体に、前記
検査情報を互換性の高いファイル形式に従って記憶する
請求項21または22に記載の壜外観検査システム。 - 【請求項24】 前記画像処理装置は、不良となった画
像を入力して当該画像処理装置側に設けられた記憶装置
に記憶する請求項19記載の壜外観検査システム。 - 【請求項25】 前記検査情報管理装置側に設けられた
記憶装置の記憶媒体に記憶された画像は、外部のコンピ
ュータで再検査シミュレーション用として使用される請
求項21記載の壜外観検査システム。 - 【請求項26】 前記画像処理装置は、前記撮像装置の
撮像により得られる画像から、前記壜の擦り傷に応じて
変動する各画素の光量値を求め、これら各画素の光量値
および所定の基準を利用して前記壜の良否判定を行い、
前記壜の擦り傷の程度を数値化して検査情報として使用
する請求項17記載の壜外観検査システム。 - 【請求項27】 検査対象となる壜に向けて照明を行う
照明装置を備え、前記撮像装置は、前記照明によって前
記壜の透過光または前記壜での反射光が得られる状態で
前記壜の撮像を行う請求項26記載の壜外観検査システ
ム。 - 【請求項28】 前記良否判定で利用される光量が所定
の範囲を外れた場合には異常発生の報知が行われる請求
項26記載の壜外観検査システム。 - 【請求項29】 前記良否判定で不良となった壜の画像
を用いて、画像検査アルゴリズムに従って検査内容を表
示し、確認しながら検査を行い検査情報を確認できる請
求項17記載の壜外観検査システム。 - 【請求項30】 画像検査アルゴリズムおよび検査パラ
メータの設定編集と、この設定編集したアルゴリズムお
よび検査パラメータによる確認検査とを連動して行える
請求項29記載の壜外観検査システム。 - 【請求項31】 前記良否判定で不良となった壜の情報
はネットワークを用いて外部に表示される請求項17記
載の壜外観検査システム。 - 【請求項32】 前記良否判定で不良となった壜の情報
はネットワークを用いて外部に表示および転送される請
求項17記載の壜外観検査システム。 - 【請求項33】 前記検査情報管理装置は、前記画像処
理装置のハードウエア診断機能を有する請求項17記載
の壜外観検査システム。 - 【請求項34】 検査対象となる壜の撮像を行い、前記
撮像により得られた画像を用いて前記壜の良否判定を行
い、前記良否判定が行われた各壜の良否、検査時刻、不
良と判定された壜の不良部位および不良内容などの検査
情報を時系列的に保存しまた表示する壜外観検査方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33950199A JP2001153813A (ja) | 1999-11-30 | 1999-11-30 | 壜外観検査システムおよびその方法 |
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---|---|---|---|
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JP (1) | JP2001153813A (ja) |
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-
1999
- 1999-11-30 JP JP33950199A patent/JP2001153813A/ja active Pending
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