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JP2001035177A5 - - Google Patents

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Claims (22)

  1. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度に依存しない第1の一定電流を前記第1の端子に供給あるいは前記第1の端子から放電する第1の一定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度に依存する第1の温度依存電流を前記第1の端子に供給あるいは前記第1の端子から放電する第1の温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  2. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度に依存しない第1の一定電流を前記第1の端子に供給する第1の一定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度に依存しない第2の一定電流を前記第1の端子から放電する第2の一定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度に依存する第1の温度依存電流を前記第1の端子に供給する第1の温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度に依存する第2の温度依存電流を前記第1の端子から放電する第2の温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  3. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度に依存しない第1の一定電流を前記第1の端子に供給する第1の一定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度に依存する第1の温度依存電流を前記第1の端子から放電する第1の温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  4. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度に依存しない第1の一定電流を前記第1の端子に供給あるいは前記第1の端子から放電する第1の一定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度に依存する第1の温度依存電流を前記第1の端子に供給する第1の温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  5. 前記温度依存電流は、絶対温度に比例することを特徴とする請求項1乃至4いずれか1つの項に記載の電圧発生回路。
  6. 前記第1の電流/電圧変換器は、前記第1の端子と接地電位間に設けられることを特徴とする請求項1乃至5いずれか1つの項に記載の電圧発生回路。
  7. 前記第1の電流/電圧変換器は、抵抗及びトランジスタの少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項1乃至6いずれか1つの項に記載の電圧発生回路。
  8. 前記一定電流及び前記温度依存電流の少なくとも一方は、周辺回路の動作モード、外部から入力されるコマンド、及びフューズ素子に記憶したデータの少なくともいずれか1つにより変更されることを特徴とする請求項1乃至7いずれか1つの項に記載の電圧発生回路。
  9. 第2の端子と第3の端子間に接続される第2の電流/電圧変換器と、前記第2の端子と前記第3の端子間の電圧を、実質的に温度に依存しない一定電圧に制御する第1の制御回路とを含む一定電流生成回路と、
    第4の端子と第5の端子の間に接続される第1のダイオード素子と、第6の端子と第7の端子の間に接続される第3の電流/電圧変換器と、第7の端子と第5の端子の間に接続される第2のダイオード素子と、前記第4の端子と前記第6の端子とを同電位に制御する第2の制御回路とを含む温度依存電流生成回路と
    を更に具備することを特徴とする請求項1乃至4いずれか1つの項に記載の電圧発生回路。
  10. 前記第1あるいは第2の一定電流は前記第2の電流/電圧変換器に流れる電流から生成され、前記第1あるいは第2の温度依存電流は前記第3の電流/電圧変換器に流れる電流から生成されることを特徴とする請求項9に記載の電圧発生回路。
  11. 第8の端子と第9の端子間に接続される第4の電流/電圧変換器と、前記第8の端子と前記第9の端子間の電圧を、実質的に温度に依存しない一定電圧に制御する第3の制御回路とを含む一定電流生成回路と、
    第10の端子に一定電流を供給する一定電流生成回路と、第10の端子と第11の端子の間に含まれる第3のダイオード素子と、第11の端子と第12の端子の間に接続される第5の電流/電圧変換器と、第10の端子と第12の端子とを同電位に制御する第4の制御回路とを含む温度依存電流生成回路と
    を更に具備することを特徴とする請求項1乃至4いずれか1つの項に記載の電圧発生装置。
  12. 前記第1あるいは第2の一定電流は前記第4の電流/電圧変換器に流れる電流から生成され、前記第1あるいは第2の温度依存電流は前記第5の電流/電圧変換器に流れる電流から生成されることを特徴とする請求項11に記載の電圧発生装置。
  13. 一定電圧を発生する電圧発生手段と、
    前記電圧発生手段の出力電圧の温度依存性を変える手段と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  14. 一定電圧を発生する電圧発生手段と、
    前記電圧発生手段の出力電圧の温度温度依存性を一定にした状態で、前記電圧発生手段の出力電圧の値を変える手段と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  15. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度変化に依存しない定電流を前記第1の端子に供給あるいは前記第1の端子から放電する定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度が変動するにつれ変化する温度依存電流を前記第1の端子に供給あるいは前記第1の端子から放電する温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と、
    第2,第3の端子間に接続された第2の電流/電圧変換器と、前記第2,第3の端子間の電圧を実質的に温度変化に依存しない定電圧に制御するための第1の制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された定電流生成回路と、
    第4,第5の端子間に接続された第1のダイオード素子と、第6,第7の端子間に接続された第3の電流/電圧変換器と、前記第5,第7の端子間に接続された第2のダイオード素子と、前記第4,第6の端子の電位を同電位に制御するための第2の制御回路とを含む温度依存電流生成回路と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  16. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度変化に依存しない定電流を前記第1の端子に供給または前記第1の端子から放電する定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度が変動するにつれ変化する温度依存電流を前記第1の端子に供給または前記第1の端子から放電する温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と、
    第2,第3の端子間に接続された第2の電流/電圧変換器と、前記第2,第3の端子間の電圧を実質的に温度変化に依存しない定電圧に制御するための第1の制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された定電流生成回路と、
    第4端子に定電流を供給するための定電流生成デバイスと、前記第4の端子及び第5の端子間に接続されたダイオード素子と、前記第5の端子及び第6の端子間に接続された第3の電流/電圧変換器と、前記第4,第6の端子の電位を同電位に制御するための第2の 制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された温度依存電流生成回路と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  17. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度変化に依存しない第1の定電流を前記第1の端子へ供給する第1の定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度変化に依存しない第2の定電流を前記第1の端子から放電する第2の定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度が変動するにつれ変化する第1の温度依存電流を前記第1の端子へ供給する第1の温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度が変動するにつれ変化する第2の温度依存電流を前記第1の端子から放電する第2の温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された電流/電圧変換器と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  18. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度変化に依存しない定電流を前記第1の端子へ供給する定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度が変動するにつれ変化する温度依存電流を前記第1の端子から放電する温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された電流/電圧変換器とを具備し、
    前記定電流及び前記温度依存電流の少なくとも1つは、周辺回路の動作モード、外部から供給されるコマンド、及びフューズ素子に記憶されたデータの少なくとも1つにしたがって変化する
    ことを特徴とする電圧発生回路。
  19. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度変化に依存しない定電流を前記第1の端子へ供給する定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度が変動するにつれ変化する温度依存電流を前記第1の端子から放電する温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と、
    第2,第3の端子間に接続された第2の電流/電圧変換器と、前記第2,第3の端子の電圧を実質的に温度変化に依存しない定電圧に制御するための第1の制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された定電流生成回路と、
    第4の端子に定電流を供給するための定電流生成デバイスと、前記第4の端子及び第5の端子間に接続されたダイオード素子と、前記第5の端子及び第6の端子間に接続された第3の電流/電圧変換器と、前記第4,第6の端子の電位を同電位に制御するための第2の制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された温度依存電流生成回路と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  20. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度変化に依存しない定電流を前記第1の端子へ供給または前記第1の端子から放電する定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度が変動するにつれ変化する温度依存電流を前記第1の端子へ供給する温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と、
    第2,第3の端子間に接続された第2の電流/電圧変換器と、前記第2,第3の端子間の電圧を実質的に温度変化に依存しない定電圧に制御するための第1の制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された定電流生成回路と、
    第4,第5の端子間に接続された第1のダイオード素子と、第6,第7の端子間に接続された第3の電流/電圧変換器と、前記第5,第7の端子間に接続された第2のダイオード素子と、前記第4,第6の端子の電位を同電位に制御するための第2の制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された温度依存電流生成回路と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  21. 出力端子として働く第1の端子と、
    前記第1の端子に接続され、実質的に温度変化に依存しない定電流を前記第1の端子へ供給または前記第1の端子から放電する定電流源と、
    前記第1の端子に接続され、温度が変動するにつれ変化する温度依存電流を前記第1の端子へ供給する温度依存電流源と、
    前記第1の端子に接続された第1の電流/電圧変換器と、
    第2,第3の端子間に接続された第2の電流/電圧変換器と、前記第2,第3の端子間の電圧を実質的に温度変化に依存しない定電圧に制御するための第1の制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された定電流生成回路と、
    第4の端子に定電流を供給するための定電流生成デバイスと、前記第4の端子及び第5の端子間に接続されたダイオード素子と、前記第5の端子及び第6の端子間に接続された第3の電流/電圧変換器と、前記第4,第6の端子の電位を同電位に制御するための第2の制御回路とを含み、前記第1の端子に接続された温度依存電流生成回路と
    を具備することを特徴とする電圧発生回路。
  22. ゲート、ドレイン及びソース電極を備え、第1,第2及び第3しきい値電圧の1つを持つことが可能なメモリセルと、
    カソードが接地された第1ダイオードと、複数のダイオードが並列接続されて構成され、カソードが接地された第2ダイオードと、一端が前記第1ダイオードのアノードに実質的に接続され、他端が前記第2ダイオードのアノードに接続され、流れる電流が温度に依存して増大する抵抗と、電位レベルと出力電圧の温度依存性の両方を切り替える少なくとも2つのNチャネル型MOSトランジスタを有する回路部とを含むバンドギャップリファレンス回路と、
    前記バンドギャップリファレンス回路の出力電圧に基づいて第1ベリファイ電圧と第2ベリファイ電圧を生成し、前記メモリセルのゲートに供給する電圧発生回路とを具備し、
    前記第1ベリファイ電圧は前記第2ベリファイ電圧と異なり、前記第1ベリファイ電圧の温度依存性は前記第2ベリファイ電圧の温度依存性と実質的に等しい
    ことを特徴とする多値の不揮発性半導体装置。
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KR10-2000-0041886A KR100458409B1 (ko) 1999-07-22 2000-07-21 전압 발생 회로
US10/117,120 US6667904B2 (en) 1999-07-22 2002-04-08 Multi-level non-volatile semiconductor memory device with verify voltages having a smart temperature coefficient

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Families Citing this family (122)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4663094B2 (ja) * 2000-10-13 2011-03-30 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US8160864B1 (en) 2000-10-26 2012-04-17 Cypress Semiconductor Corporation In-circuit emulator and pod synchronized boot
US8149048B1 (en) 2000-10-26 2012-04-03 Cypress Semiconductor Corporation Apparatus and method for programmable power management in a programmable analog circuit block
US6608472B1 (en) * 2000-10-26 2003-08-19 Cypress Semiconductor Corporation Band-gap reference circuit for providing an accurate reference voltage compensated for process state, process variations and temperature
US6724220B1 (en) 2000-10-26 2004-04-20 Cyress Semiconductor Corporation Programmable microcontroller architecture (mixed analog/digital)
US7765095B1 (en) 2000-10-26 2010-07-27 Cypress Semiconductor Corporation Conditional branching in an in-circuit emulation system
US8176296B2 (en) 2000-10-26 2012-05-08 Cypress Semiconductor Corporation Programmable microcontroller architecture
US8103496B1 (en) 2000-10-26 2012-01-24 Cypress Semicondutor Corporation Breakpoint control in an in-circuit emulation system
US6854067B1 (en) 2000-10-30 2005-02-08 Cypress Semiconductor Corporation Method and system for interaction between a processor and a power on reset circuit to dynamically control power states in a microcontroller
JP4083975B2 (ja) * 2000-12-11 2008-04-30 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
IT1316271B1 (it) 2000-12-28 2003-04-03 Micron Technology Inc Generatore di impulsi compensato in tensione e temperatura.
US6664843B2 (en) * 2001-10-24 2003-12-16 Institute Of Microelectronics General-purpose temperature compensating current master-bias circuit
US7406674B1 (en) 2001-10-24 2008-07-29 Cypress Semiconductor Corporation Method and apparatus for generating microcontroller configuration information
US8078970B1 (en) 2001-11-09 2011-12-13 Cypress Semiconductor Corporation Graphical user interface with user-selectable list-box
US8042093B1 (en) 2001-11-15 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation System providing automatic source code generation for personalization and parameterization of user modules
US8069405B1 (en) 2001-11-19 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation User interface for efficiently browsing an electronic document using data-driven tabs
US7844437B1 (en) 2001-11-19 2010-11-30 Cypress Semiconductor Corporation System and method for performing next placements and pruning of disallowed placements for programming an integrated circuit
US7774190B1 (en) 2001-11-19 2010-08-10 Cypress Semiconductor Corporation Sleep and stall in an in-circuit emulation system
US6971004B1 (en) 2001-11-19 2005-11-29 Cypress Semiconductor Corp. System and method of dynamically reconfiguring a programmable integrated circuit
US7770113B1 (en) 2001-11-19 2010-08-03 Cypress Semiconductor Corporation System and method for dynamically generating a configuration datasheet
US8103497B1 (en) 2002-03-28 2012-01-24 Cypress Semiconductor Corporation External interface for event architecture
KR100476888B1 (ko) * 2002-04-04 2005-03-17 삼성전자주식회사 온도보상기능을 가진 멀티비트 플래쉬메모리
US7308608B1 (en) 2002-05-01 2007-12-11 Cypress Semiconductor Corporation Reconfigurable testing system and method
US7761845B1 (en) 2002-09-09 2010-07-20 Cypress Semiconductor Corporation Method for parameterizing a user module
ITTO20020803A1 (it) * 2002-09-16 2004-03-17 Atmel Corp Circuito di riferimento di corrente compensato in temperatura.
AU2003267183A1 (en) * 2002-09-16 2004-04-30 Atmel Corporation Temperature-compensated current reference circuit
US6801454B2 (en) * 2002-10-01 2004-10-05 Sandisk Corporation Voltage generation circuitry having temperature compensation
US6839281B2 (en) * 2003-04-14 2005-01-04 Jian Chen Read and erase verify methods and circuits suitable for low voltage non-volatile memories
JP2005063026A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Nec Micro Systems Ltd 基準電圧発生回路
CN100543632C (zh) * 2003-08-15 2009-09-23 Idt-紐威技术有限公司 采用cmos技术中电流模式技术的精确电压/电流参考电路
US20050162215A1 (en) * 2004-01-22 2005-07-28 Winbond Electronics Corporation Temperature sensing variable frequency generator
US7295049B1 (en) 2004-03-25 2007-11-13 Cypress Semiconductor Corporation Method and circuit for rapid alignment of signals
JP2005285197A (ja) 2004-03-29 2005-10-13 Renesas Technology Corp 半導体記憶装置
US8069436B2 (en) 2004-08-13 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Providing hardware independence to automate code generation of processing device firmware
US8286125B2 (en) 2004-08-13 2012-10-09 Cypress Semiconductor Corporation Model for a hardware device-independent method of defining embedded firmware for programmable systems
KR100568116B1 (ko) * 2004-09-13 2006-04-05 삼성전자주식회사 전압 조절 수단을 구비한 플래시 메모리 장치
JP2006189711A (ja) * 2005-01-07 2006-07-20 Texas Instr Japan Ltd 電流駆動回路
JP4746326B2 (ja) * 2005-01-13 2011-08-10 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
US7332976B1 (en) 2005-02-04 2008-02-19 Cypress Semiconductor Corporation Poly-phase frequency synthesis oscillator
US7251160B2 (en) 2005-03-16 2007-07-31 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with power-saving read and program-verify operations
KR100761369B1 (ko) * 2005-03-31 2007-09-27 주식회사 하이닉스반도체 온도변화 적응형 내부 전원 발생 장치
ITMI20050798A1 (it) 2005-05-03 2006-11-04 Atmel Corp Metodo e sistema per la generazi0ne di impulsi di programmazione durante la programmazione di dispositivi elettronici non volatili
US7400183B1 (en) 2005-05-05 2008-07-15 Cypress Semiconductor Corporation Voltage controlled oscillator delay cell and method
EP1729302B1 (en) * 2005-05-31 2019-01-02 Micron Technology, Inc. A circuit for retrieving data stored in semiconductor memory cells
KR20060127366A (ko) * 2005-06-07 2006-12-12 주식회사 하이닉스반도체 내부전압 구동 회로
JP4801935B2 (ja) * 2005-06-08 2011-10-26 株式会社東芝 半導体記憶装置
US8089461B2 (en) 2005-06-23 2012-01-03 Cypress Semiconductor Corporation Touch wake for electronic devices
US7274250B2 (en) * 2005-06-28 2007-09-25 Intel Corporation Low-voltage, buffered bandgap reference with selectable output voltage
JP4300202B2 (ja) * 2005-06-29 2009-07-22 株式会社東芝 半導体記憶装置
KR100635167B1 (ko) * 2005-08-08 2006-10-17 삼성전기주식회사 온도 보상 바이어스 소스회로
JP2007060544A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Micron Technol Inc 温度係数が小さいパワー・オン・リセットを生成する方法及び装置
JP2007058772A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Micron Technol Inc バンド・ギャップ基準から可変出力電圧を生成する方法及び装置
JP2007059024A (ja) 2005-08-26 2007-03-08 Micron Technol Inc 温度補償された読み出し・検証動作をフラッシュ・メモリにおいて生成するための方法及び装置
US7443732B2 (en) * 2005-09-20 2008-10-28 Spansion Llc High performance flash memory device capable of high density data storage
JP2007102865A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
US8085067B1 (en) 2005-12-21 2011-12-27 Cypress Semiconductor Corporation Differential-to-single ended signal converter circuit and method
JP2007200233A (ja) * 2006-01-30 2007-08-09 Nec Electronics Corp ダイオードの非直線性を補償した基準電圧回路
JP2007200234A (ja) * 2006-01-30 2007-08-09 Nec Electronics Corp 非線形カレントミラー回路で駆動する基準電圧回路
KR100842996B1 (ko) * 2006-02-06 2008-07-01 주식회사 하이닉스반도체 온도에 따라 선택적으로 변경되는 워드 라인 전압을발생하는 워드 라인 전압 발생기와, 이를 포함하는 플래시메모리 장치 및 그 워드 라인 전압 발생 방법
US8067948B2 (en) 2006-03-27 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Input/output multiplexer bus
US7269092B1 (en) 2006-04-21 2007-09-11 Sandisk Corporation Circuitry and device for generating and adjusting selected word line voltage
US7518930B2 (en) * 2006-04-21 2009-04-14 Sandisk Corporation Method for generating and adjusting selected word line voltage
JP2007299489A (ja) * 2006-05-02 2007-11-15 Micron Technology Inc 不揮発性メモリにおける読み取り・検証動作を生成する方法及び装置
US7489556B2 (en) * 2006-05-12 2009-02-10 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for generating read and verify operations in non-volatile memories
US7391650B2 (en) * 2006-06-16 2008-06-24 Sandisk Corporation Method for operating non-volatile memory using temperature compensation of voltages of unselected word lines and select gates
US7342831B2 (en) * 2006-06-16 2008-03-11 Sandisk Corporation System for operating non-volatile memory using temperature compensation of voltages of unselected word lines and select gates
WO2007149676A2 (en) * 2006-06-16 2007-12-27 Sandisk Corporation Method for operating non-volatile memory using temperature compensation of voltages of unselected word lines and select gates
US7504878B2 (en) * 2006-07-03 2009-03-17 Mediatek Inc. Device having temperature compensation for providing constant current through utilizing compensating unit with positive temperature coefficient
US7436724B2 (en) * 2006-08-04 2008-10-14 Sandisk Corporation Method and system for independent control of voltage and its temperature co-efficient in non-volatile memory devices
JP2008123480A (ja) * 2006-10-16 2008-05-29 Nec Electronics Corp 基準電圧発生回路
JP4908149B2 (ja) 2006-10-18 2012-04-04 株式会社東芝 Nand型フラッシュメモリ
JP2008117215A (ja) * 2006-11-06 2008-05-22 Toshiba Corp 基準電位発生回路
US7616501B2 (en) * 2006-12-04 2009-11-10 Semiconductor Components Industries, L.L.C. Method for reducing charge loss in analog floating gate cell
US7447093B2 (en) * 2006-12-29 2008-11-04 Sandisk Corporation Method for controlling voltage in non-volatile memory systems
US7403434B1 (en) * 2006-12-29 2008-07-22 Sandisk Corporation System for controlling voltage in non-volatile memory systems
US7447079B2 (en) * 2007-04-05 2008-11-04 Sandisk Corporation Method for sensing negative threshold voltages in non-volatile storage using current sensing
US8040266B2 (en) 2007-04-17 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Programmable sigma-delta analog-to-digital converter
US8026739B2 (en) 2007-04-17 2011-09-27 Cypress Semiconductor Corporation System level interconnect with programmable switching
US8516025B2 (en) 2007-04-17 2013-08-20 Cypress Semiconductor Corporation Clock driven dynamic datapath chaining
US9564902B2 (en) 2007-04-17 2017-02-07 Cypress Semiconductor Corporation Dynamically configurable and re-configurable data path
US8130025B2 (en) 2007-04-17 2012-03-06 Cypress Semiconductor Corporation Numerical band gap
US7737724B2 (en) 2007-04-17 2010-06-15 Cypress Semiconductor Corporation Universal digital block interconnection and channel routing
US8092083B2 (en) 2007-04-17 2012-01-10 Cypress Semiconductor Corporation Temperature sensor with digital bandgap
US9720805B1 (en) 2007-04-25 2017-08-01 Cypress Semiconductor Corporation System and method for controlling a target device
US8065653B1 (en) 2007-04-25 2011-11-22 Cypress Semiconductor Corporation Configuration of programmable IC design elements
US8266575B1 (en) 2007-04-25 2012-09-11 Cypress Semiconductor Corporation Systems and methods for dynamically reconfiguring a programmable system on a chip
WO2008133674A1 (en) * 2007-04-27 2008-11-06 Sandisk Corporation Method and device for generating and adjusting selected word line voltage
US8049569B1 (en) 2007-09-05 2011-11-01 Cypress Semiconductor Corporation Circuit and method for improving the accuracy of a crystal-less oscillator having dual-frequency modes
US20090066313A1 (en) * 2007-09-07 2009-03-12 Nec Electronics Corporation Reference voltage circuit compensated for temprature non-linearity
JP2009080786A (ja) * 2007-09-07 2009-04-16 Nec Electronics Corp 温度非直線性を補償した基準電圧回路
JP2009098802A (ja) * 2007-10-15 2009-05-07 Toshiba Corp 基準電圧発生回路
JP2009123292A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP2009129470A (ja) * 2007-11-20 2009-06-11 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP5361182B2 (ja) * 2007-12-21 2013-12-04 株式会社東芝 半導体記憶装置
KR100924345B1 (ko) * 2007-12-28 2009-11-02 주식회사 하이닉스반도체 내부전압 생성회로
US7719888B2 (en) * 2008-06-18 2010-05-18 Micron Technology, Inc. Memory device having a negatively ramping dynamic pass voltage for reducing read-disturb effect
US7859911B2 (en) * 2008-07-21 2010-12-28 Triune Ip Llc Circuit and system for programming a floating gate
US7755946B2 (en) * 2008-09-19 2010-07-13 Sandisk Corporation Data state-based temperature compensation during sensing in non-volatile memory
US8368789B2 (en) * 2008-11-26 2013-02-05 Aptina Imaging Corporation Systems and methods to provide reference current with negative temperature coefficient
JP5300446B2 (ja) * 2008-12-04 2013-09-25 キヤノン株式会社 ヘッド基板及びインクジェット記録ヘッド
JP5275052B2 (ja) * 2009-01-08 2013-08-28 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
JP2010262696A (ja) * 2009-04-30 2010-11-18 Toshiba Corp Nand型フラッシュメモリ
US9448964B2 (en) 2009-05-04 2016-09-20 Cypress Semiconductor Corporation Autonomous control in a programmable system
KR101041485B1 (ko) * 2009-08-27 2011-06-16 한국기계연구원 전기 압력밥솥의 벨로우즈형 증기 배출밸브
KR20190124813A (ko) * 2009-11-20 2019-11-05 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
US20110133719A1 (en) * 2009-12-04 2011-06-09 Advance Micro Devices, Inc. Voltage reference circuit operable with a low voltage supply and method for implementing same
CN101859161A (zh) * 2010-06-17 2010-10-13 华为技术有限公司 低电压源带隙基准电压电路和一种集成电路
KR20120043522A (ko) * 2010-10-26 2012-05-04 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 소자의 내부 전압 발생기
JP2012203931A (ja) * 2011-03-24 2012-10-22 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US8611157B2 (en) * 2011-12-22 2013-12-17 Sandisk Technologies Inc. Program temperature dependent read
KR101809202B1 (ko) 2012-01-31 2017-12-14 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 읽기 방법
WO2014072763A1 (en) * 2012-11-07 2014-05-15 Freescale Semiconductor, Inc. Temperature coefficient factor circuit, semiconductor device, and radar device
JP6287025B2 (ja) * 2013-10-09 2018-03-07 セイコーエプソン株式会社 発光装置及び電子機器
JP2015075623A (ja) * 2013-10-09 2015-04-20 セイコーエプソン株式会社 発光装置、電子機器、及び発光装置の設計方法
WO2015075496A1 (en) 2013-11-22 2015-05-28 Freescale Semiconductor, Inc. Apparatus and method for generating a temperature-dependent control signal
US9786345B1 (en) * 2016-09-16 2017-10-10 Micron Technology, Inc. Compensation for threshold voltage variation of memory cell components
JP6751013B2 (ja) 2016-12-27 2020-09-02 旭化成エレクトロニクス株式会社 温度特性調整回路
JP2018147535A (ja) * 2017-03-07 2018-09-20 東芝メモリ株式会社 半導体記憶装置及びメモリシステム
US10424908B2 (en) 2017-03-21 2019-09-24 Texas Instruments Incorporated Electronic fuse
US10950658B2 (en) * 2018-09-21 2021-03-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Circuit and method to enhance efficiency of memory
CN112068626B (zh) * 2020-07-30 2022-04-15 广东美的白色家电技术创新中心有限公司 一种家用电器、芯片及电压源电路
JP2023088142A (ja) * 2021-12-14 2023-06-26 キオクシア株式会社 電圧発生回路

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5931404A (ja) 1982-08-16 1984-02-20 Hitachi Ltd 圧力センサ回路
JPH04181130A (ja) 1990-11-15 1992-06-29 Mitsubishi Electric Corp 温度検出回路
EP0627817B1 (en) * 1993-04-30 1999-04-07 STMicroelectronics, Inc. Voltage comparator with bandgap based direct current summing and power supply switch using it
DE69516767T2 (de) * 1994-02-14 2000-11-23 Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven Referenzschaltung mit kontrollierter temperaturabhängigkeit
JP3648304B2 (ja) * 1995-11-17 2005-05-18 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
JP3378457B2 (ja) * 1997-02-26 2003-02-17 株式会社東芝 半導体装置
JP3586073B2 (ja) 1997-07-29 2004-11-10 株式会社東芝 基準電圧発生回路
US6016051A (en) * 1998-09-30 2000-01-18 National Semiconductor Corporation Bandgap reference voltage circuit with PTAT current source
US6060874A (en) * 1999-07-22 2000-05-09 Burr-Brown Corporation Method of curvature compensation, offset compensation, and capacitance trimming of a switched capacitor band gap reference

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