JP2001091681A - Xyステージ機構及び露光装置 - Google Patents
Xyステージ機構及び露光装置Info
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- JP2001091681A JP2001091681A JP27388999A JP27388999A JP2001091681A JP 2001091681 A JP2001091681 A JP 2001091681A JP 27388999 A JP27388999 A JP 27388999A JP 27388999 A JP27388999 A JP 27388999A JP 2001091681 A JP2001091681 A JP 2001091681A
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- air slide
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- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】ステージ機構系の高速度化、高加速度化、長寿
命化が可能であり、しかも搬送系や測定系を容易に配設
でき、さらに高精度が長期間にわたって維持することが
できるXYステージ機構と露光装置を提供する。 【解決手段】真空チャンバー1の1側面のみを貫通しス
テージ基板を片持状態で保持するYスライド軸2と案内
としてYエアースライド軸受け4とXエアースライドプ
レート5と非接触支持する第1のエアースライド軸受け
6とカップリング部8と案内としての第2のXエアース
ライド軸受けと9とを備え、Yスライド軸を浮上させ、
Xエアースライドプレート及び前記カップリング部を浮
上させた状態でステージを駆動する。
命化が可能であり、しかも搬送系や測定系を容易に配設
でき、さらに高精度が長期間にわたって維持することが
できるXYステージ機構と露光装置を提供する。 【解決手段】真空チャンバー1の1側面のみを貫通しス
テージ基板を片持状態で保持するYスライド軸2と案内
としてYエアースライド軸受け4とXエアースライドプ
レート5と非接触支持する第1のエアースライド軸受け
6とカップリング部8と案内としての第2のXエアース
ライド軸受けと9とを備え、Yスライド軸を浮上させ、
Xエアースライドプレート及び前記カップリング部を浮
上させた状態でステージを駆動する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体リソグラフ
ィ用の露光装置のステージ機構、特に真空チャンバー内
で動作する電子ビームを用いた走査型露光装置やEUV
露光装置に用いられるステージ機構に関するものであ
る。
ィ用の露光装置のステージ機構、特に真空チャンバー内
で動作する電子ビームを用いた走査型露光装置やEUV
露光装置に用いられるステージ機構に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの高密度化に対応して電
子ビームをウエハに直接描画する電子ビーム描画装置が
開発されている(たとえば、“電子ビーム描画装置”、
SEAJ Journal,24-32,1995年12月)。
子ビームをウエハに直接描画する電子ビーム描画装置が
開発されている(たとえば、“電子ビーム描画装置”、
SEAJ Journal,24-32,1995年12月)。
【0003】図9、図10は、従来の電子ビーム描画装
置のステージ機構の縦断面図を示したものである。
置のステージ機構の縦断面図を示したものである。
【0004】真空チャンバー101内に配接されるステ
ージ102の案内部102aは、従来は転がり案内方式
が用いられている。ところが、この転がり案内は接触式
であるため、ステージ移動にともなう微小振動が発生し
描画に影響を及ぼす、また発塵、発熱、磨耗による精度
劣化といった課題がある。
ージ102の案内部102aは、従来は転がり案内方式
が用いられている。ところが、この転がり案内は接触式
であるため、ステージ移動にともなう微小振動が発生し
描画に影響を及ぼす、また発塵、発熱、磨耗による精度
劣化といった課題がある。
【0005】また、転がり案内には若干の給油が必要で
あり、真空チャンバー内の環境を悪化させることのない
油を常時給油しなければならない。アクチュエータとし
てのモータ105は、モータ駆動によって発生する磁場
が電子ビームの進路に影響することが無いように、ステ
ージのウエハ搭載面102bから離れた位置、すなわち
真空チャンバーの外部に配置される。ステージ102の
駆動は、ステージの下面に配置されたボールネジ103
及びボールネジ受け104、ボールネジ103に接続さ
れた回転シャフト106を介して、真空チャンバー外部
に配置されたモータ105により行われる。回転シャフ
ト106が真空チャンバーを貫通する部分には、真空チ
ャンバー内の真空度を保つために磁性流体を用いた回転
磁気シール107が用いられる。回転磁気シール107
による磁場の発生にも注意する必要がある。
あり、真空チャンバー内の環境を悪化させることのない
油を常時給油しなければならない。アクチュエータとし
てのモータ105は、モータ駆動によって発生する磁場
が電子ビームの進路に影響することが無いように、ステ
ージのウエハ搭載面102bから離れた位置、すなわち
真空チャンバーの外部に配置される。ステージ102の
駆動は、ステージの下面に配置されたボールネジ103
及びボールネジ受け104、ボールネジ103に接続さ
れた回転シャフト106を介して、真空チャンバー外部
に配置されたモータ105により行われる。回転シャフ
ト106が真空チャンバーを貫通する部分には、真空チ
ャンバー内の真空度を保つために磁性流体を用いた回転
磁気シール107が用いられる。回転磁気シール107
による磁場の発生にも注意する必要がある。
【0006】図10は、ボールネジを用いず、直動ロッ
ト108をステージに接続し、駆動する従来例を示した
ものである。なお、図中、真空チャンバー101内部の
ステージは省略した。
ト108をステージに接続し、駆動する従来例を示した
ものである。なお、図中、真空チャンバー101内部の
ステージは省略した。
【0007】ステージの駆動は、直動ロット108を介
して真空チャンバーの外部に設けられた駆動ステージ1
09、駆動用モータ105により行われる。直動ロット
108が真空チャンバー101を貫通する部分には、真
空チャンバー内の真空度を保つためにベローズ状の隔壁
110が設けられるが、隔壁110は、駆動ステージ1
09の移動に追随して伸縮しなければならない。ベロー
ズの1山あたりの伸縮量は小さいため駆動ステージ10
9の移動量に追随するためには山数の多い長いベローズ
状隔壁を用いなければならない。このため、長いベロー
ズ状の隔壁110の収縮抵抗により、ステージの移動精
度を悪化させるといった不都合も有していた。
して真空チャンバーの外部に設けられた駆動ステージ1
09、駆動用モータ105により行われる。直動ロット
108が真空チャンバー101を貫通する部分には、真
空チャンバー内の真空度を保つためにベローズ状の隔壁
110が設けられるが、隔壁110は、駆動ステージ1
09の移動に追随して伸縮しなければならない。ベロー
ズの1山あたりの伸縮量は小さいため駆動ステージ10
9の移動量に追随するためには山数の多い長いベローズ
状隔壁を用いなければならない。このため、長いベロー
ズ状の隔壁110の収縮抵抗により、ステージの移動精
度を悪化させるといった不都合も有していた。
【0008】従来の電子ビーム描画装置では、電子ビー
ムを走査して所定のパターンをウエハに描画するため、
描画速度が遅く、1時間あたりのウエハ処理枚数(スル
ープット)が、光を用いて一括転写するステッパ、若し
くはレチクルとウエハを投影光学系の倍率に応じて同期
走査露光をするStep and Scanにくらべて低いという欠
点がある。上述した電子ビーム描画装置の欠点を補うた
め、電子ビームを用いた走査型露光装置の開発がなされ
ている(Lloyd R.Harriot,"Scattering with angular l
imitation projection electron beam lithography for
suboptical lithography",J.Vac.Sci.Technol.B15,21
30(1997))。最近の電子ビーム描画装置では、描画線幅
の微細化にともなうステージ機構系の高精度化、スルー
プットを稼ぐためにステージ機構系の高速化、高加速度
が要望されている。しかしながら、図9、図10に示し
た従来のステージ機構系では、転がり案内による方式が
用いられているために、案内面での摺動抵抗が大きく、
高精度化が困難であり、高速化及び高加速度化による摩
耗量の増加によりステージ機構系の短寿命が顕著になっ
てきている。
ムを走査して所定のパターンをウエハに描画するため、
描画速度が遅く、1時間あたりのウエハ処理枚数(スル
ープット)が、光を用いて一括転写するステッパ、若し
くはレチクルとウエハを投影光学系の倍率に応じて同期
走査露光をするStep and Scanにくらべて低いという欠
点がある。上述した電子ビーム描画装置の欠点を補うた
め、電子ビームを用いた走査型露光装置の開発がなされ
ている(Lloyd R.Harriot,"Scattering with angular l
imitation projection electron beam lithography for
suboptical lithography",J.Vac.Sci.Technol.B15,21
30(1997))。最近の電子ビーム描画装置では、描画線幅
の微細化にともなうステージ機構系の高精度化、スルー
プットを稼ぐためにステージ機構系の高速化、高加速度
が要望されている。しかしながら、図9、図10に示し
た従来のステージ機構系では、転がり案内による方式が
用いられているために、案内面での摺動抵抗が大きく、
高精度化が困難であり、高速化及び高加速度化による摩
耗量の増加によりステージ機構系の短寿命が顕著になっ
てきている。
【0009】また電子ビーム描画装置にはウェハーまた
はレチクルを搬送するためのローダーが必要であるが図
9、図10に示した従来のステージ機構系ではこのロー
ダーを設置するためのスペースの確保が困難である。さ
らには位置決め制御のための光学式測長器が用いられる
がこの測長器を配設するためのスペースも確保しておく
必要がある。
はレチクルを搬送するためのローダーが必要であるが図
9、図10に示した従来のステージ機構系ではこのロー
ダーを設置するためのスペースの確保が困難である。さ
らには位置決め制御のための光学式測長器が用いられる
がこの測長器を配設するためのスペースも確保しておく
必要がある。
【0010】本発明は上述した不都合に鑑みてなされた
ものであり、摺動面に非接触静圧軸受けを採用すること
によりステージ機構系の高速度化、高加速度化、長寿命
化が可能であり、しかも高精度を長期間にわたって維持
することが可能な真空チャンバー内で使用されるステー
ジ機構を提供するものである。また、摺動面に非接触静
圧軸受けを採用しているにもかかわらず真空チャンバー
内の真空環境を保つことが可能で、クリーンな環境を維
持できるステージ機構を提供するものである。
ものであり、摺動面に非接触静圧軸受けを採用すること
によりステージ機構系の高速度化、高加速度化、長寿命
化が可能であり、しかも高精度を長期間にわたって維持
することが可能な真空チャンバー内で使用されるステー
ジ機構を提供するものである。また、摺動面に非接触静
圧軸受けを採用しているにもかかわらず真空チャンバー
内の真空環境を保つことが可能で、クリーンな環境を維
持できるステージ機構を提供するものである。
【0011】また、非磁性、低振動、低発熱、低発塵と
いった描画精度を維持するための要件を満たした真空用
非接触スライド装置及びそのステージ機構を提供するも
のである。さらには真空チャンバー壁面の1側面のみを
Yスライド軸が貫通する構造とすることで他の壁面はフ
リーになりこの空間にウェハーローダーやレチクルロー
ダー等の搬送系を容易に配設でき、さらには光学式測長
器を配設するためのスペースも十分確保することが容易
なステージ機構を提供するものである。
いった描画精度を維持するための要件を満たした真空用
非接触スライド装置及びそのステージ機構を提供するも
のである。さらには真空チャンバー壁面の1側面のみを
Yスライド軸が貫通する構造とすることで他の壁面はフ
リーになりこの空間にウェハーローダーやレチクルロー
ダー等の搬送系を容易に配設でき、さらには光学式測長
器を配設するためのスペースも十分確保することが容易
なステージ機構を提供するものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、真空チャンバー壁面の1側
面のみを貫通し、真空チャンバー内に配設されたステー
ジ基板を片持ちの状態にて保持するYスライド軸と、前
記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部に配置
されたYエアースライド軸受けと、前記Yエアースライ
ド軸受けの真空チャンバー側の端面に固定され、Yスラ
イド軸と直交する方向に移動可能なXエアースライドプ
レートと、前記Xエアースライドプレートを上下及び左
右方向から挟み込んで非接触支持する第1のエアースラ
イド軸受けと、前記Yスライド軸の真空チャンバー外部
の端面に設けられY軸アクチュエータによる駆動力を伝
達するとともに、前記Xエアースライドプレートと平行
に移動可能なカップリング部とを有し、前記カップリン
グの案内としての第2のXエアースライド軸受けと、前
記Yスライド軸受けのYスライド軸に対向する摺動面に
配置され、前記Yスライド軸を圧縮気体により浮上させ
る第1のエアーパッドと、前記Yエアースライド軸受け
の摺動面に前記第1のエアーパッドより真空チャンバー
の方向に前記Yスライド軸を取り囲むように配置され、
前記第1のエアーパッドによる気体を排気する第1の排
気溝と、前記Xエアースライドプレート上で前記第1の
Xエアースライド軸受けとの摺動面に当該Xエアースラ
イドプレートを浮上させるための圧縮気体を供給する第
2のエアーパッドと、前記Xエアースライドプレート上
で前記第1のXエアースライド軸受けの真空チャンバー
側の固定プレートとの摺動面に前記固定プレート上の開
口部を取り囲むように配置され、前記第2のエアーパッ
ドによる気体を排気するための第2の排気溝とを備え、
前記Yスライド軸を浮上させた状態でY軸アクチュエー
タによりステージを駆動し、前記Xエアースライドプレ
ート及び前記カップリング部を浮上させた状態でX軸ア
クチュエータによりステージを駆動することを特徴とす
るXYステージ機構を提供する。
に、請求項1記載の発明は、真空チャンバー壁面の1側
面のみを貫通し、真空チャンバー内に配設されたステー
ジ基板を片持ちの状態にて保持するYスライド軸と、前
記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部に配置
されたYエアースライド軸受けと、前記Yエアースライ
ド軸受けの真空チャンバー側の端面に固定され、Yスラ
イド軸と直交する方向に移動可能なXエアースライドプ
レートと、前記Xエアースライドプレートを上下及び左
右方向から挟み込んで非接触支持する第1のエアースラ
イド軸受けと、前記Yスライド軸の真空チャンバー外部
の端面に設けられY軸アクチュエータによる駆動力を伝
達するとともに、前記Xエアースライドプレートと平行
に移動可能なカップリング部とを有し、前記カップリン
グの案内としての第2のXエアースライド軸受けと、前
記Yスライド軸受けのYスライド軸に対向する摺動面に
配置され、前記Yスライド軸を圧縮気体により浮上させ
る第1のエアーパッドと、前記Yエアースライド軸受け
の摺動面に前記第1のエアーパッドより真空チャンバー
の方向に前記Yスライド軸を取り囲むように配置され、
前記第1のエアーパッドによる気体を排気する第1の排
気溝と、前記Xエアースライドプレート上で前記第1の
Xエアースライド軸受けとの摺動面に当該Xエアースラ
イドプレートを浮上させるための圧縮気体を供給する第
2のエアーパッドと、前記Xエアースライドプレート上
で前記第1のXエアースライド軸受けの真空チャンバー
側の固定プレートとの摺動面に前記固定プレート上の開
口部を取り囲むように配置され、前記第2のエアーパッ
ドによる気体を排気するための第2の排気溝とを備え、
前記Yスライド軸を浮上させた状態でY軸アクチュエー
タによりステージを駆動し、前記Xエアースライドプレ
ート及び前記カップリング部を浮上させた状態でX軸ア
クチュエータによりステージを駆動することを特徴とす
るXYステージ機構を提供する。
【0013】請求項2記載の発明は、請求項1記載のX
Yステージ機構において、前記カップリング部の縦断面
形状を「T」の字を90度回転させた形状とすることを
特徴とする。
Yステージ機構において、前記カップリング部の縦断面
形状を「T」の字を90度回転させた形状とすることを
特徴とする。
【0014】請求項3記載の発明は、真空チャンバー壁
面の1側面のみを貫通し、真空チャンバー内に配接され
たステージ基板を片持ちの状態で保持するYスライド軸
と、前記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部
に配置されるYエアースライド軸受けと、前記Yエアー
スライド軸受けの真空チャンバー側の端面に固定され、
Yスライド軸と直交する方向に移動可能なXエアースラ
イドプレートと、前記Xエアースライドプレートを上下
及び左右方向から挟み込んで非接触支持する第1のXエ
アースライド軸受けと、前記Yエアースライド軸受けを
支持し、前記Xエアースライドプレートに平行に移動可
能なXスライド軸と、前記Xスライド軸の案内としての
第2のXエアースライド軸受けと、前記Yスライド軸の
真空チャンバー外部の端面に設けられY軸アクチュエー
タによる駆動力を伝達するとともに、前記Xエアースラ
イドプレート及びXスライド軸の移動にともなって平行
に移動するカップリング部とを有し、前記Yスライド軸
受けのYスライド軸に対向する摺動面に配置され、前記
Yスライド軸を圧縮気体により浮上させる第1のエアー
パッドと、前記Yエアースライド軸受けの摺動面に前記
第1のエアーパッドより真空チャンバーの方向に前記Y
スライド軸を取り囲むように配置され、前記第1のエア
ーパッドによる気体を排気する第1の排気溝と、前記X
エアースライドプレート上で前記第1のXエアースライ
ド軸受けとの摺動面に当該Xエアースライドプレートを
浮上させるための圧縮気体を供給する第2のエアーパッ
ドと、前記Xエアースライドプレート上で前記第1のX
エアースライド軸受けの真空チャンバー側の固定プレー
トとの摺動面に前記固定プレート上の開口部を取り囲む
ように配置され、前記第2のエアーパッドによる気体を
排気するための第2の排気溝とを備え、前記Yスライド
軸を浮上させた状態でY軸アクチュエータによりステー
ジを駆動し、前記Xエアースライドプレート及び前記X
スライド軸を浮上させた状態でX軸アクチュエータによ
りステージを駆動することを特徴とする。
面の1側面のみを貫通し、真空チャンバー内に配接され
たステージ基板を片持ちの状態で保持するYスライド軸
と、前記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部
に配置されるYエアースライド軸受けと、前記Yエアー
スライド軸受けの真空チャンバー側の端面に固定され、
Yスライド軸と直交する方向に移動可能なXエアースラ
イドプレートと、前記Xエアースライドプレートを上下
及び左右方向から挟み込んで非接触支持する第1のXエ
アースライド軸受けと、前記Yエアースライド軸受けを
支持し、前記Xエアースライドプレートに平行に移動可
能なXスライド軸と、前記Xスライド軸の案内としての
第2のXエアースライド軸受けと、前記Yスライド軸の
真空チャンバー外部の端面に設けられY軸アクチュエー
タによる駆動力を伝達するとともに、前記Xエアースラ
イドプレート及びXスライド軸の移動にともなって平行
に移動するカップリング部とを有し、前記Yスライド軸
受けのYスライド軸に対向する摺動面に配置され、前記
Yスライド軸を圧縮気体により浮上させる第1のエアー
パッドと、前記Yエアースライド軸受けの摺動面に前記
第1のエアーパッドより真空チャンバーの方向に前記Y
スライド軸を取り囲むように配置され、前記第1のエア
ーパッドによる気体を排気する第1の排気溝と、前記X
エアースライドプレート上で前記第1のXエアースライ
ド軸受けとの摺動面に当該Xエアースライドプレートを
浮上させるための圧縮気体を供給する第2のエアーパッ
ドと、前記Xエアースライドプレート上で前記第1のX
エアースライド軸受けの真空チャンバー側の固定プレー
トとの摺動面に前記固定プレート上の開口部を取り囲む
ように配置され、前記第2のエアーパッドによる気体を
排気するための第2の排気溝とを備え、前記Yスライド
軸を浮上させた状態でY軸アクチュエータによりステー
ジを駆動し、前記Xエアースライドプレート及び前記X
スライド軸を浮上させた状態でX軸アクチュエータによ
りステージを駆動することを特徴とする。
【0015】請求項4記載の発明は、真空チャンバー壁
面の1側面のみを貫通し、真空チャンバー内に配設され
たステージ基板を片持ちの状態で保持するYスライド軸
と、前記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部
に配置されるYエアースライド軸受けと、記Yエアース
ライド軸受けの両端に互いに平行に固定され、前記Yス
ライド軸に直交する方向に移動可能な2枚のXエアース
ライドプレートと、前記各Xエアースライドプレートを
それぞれ上下及び左右から挟みこんで非接触支持する2
つのXエアースライド軸受けと、前記Yスライド軸の真
空チャンバー外部の端面に設けられY軸アクチュエータ
による駆動力を伝達するとともに、前記Xエアースライ
ドプレートの移動にともなってXエアースライドプレー
トに対して平行に移動するカップリング部とを有し、前
記Yスライド軸受けのYスライド軸に対向する摺動面に
配置され、前記Yスライド軸を圧縮気体により浮上させ
る第1のエアーパッドと、前記Yエアースライド軸受け
の摺動面に前記第1のエアーパッドより真空チャンバー
の方向に前記Yスライド軸を取り囲むように配置され、
前記第1のエアーパッドによる気体を排気する第1の排
気溝と、前記Xエアースライドプレート上で前記第1の
Xエアースライド軸受けとの摺動面に当該Xエアースラ
イドプレートを浮上させるための圧縮気体を供給する第
2のエアーパッドと、前記Xエアースライドプレート上
で前記第1のXエアースライド軸受けの真空チャンバー
側の固定プレートとの摺動面に前記固定プレート上の開
口部を取り囲むように配置され、前記第2のエアーパッ
ドによる気体を排気するための第2の排気溝とを備え、
前記Yスライド軸を浮上させた状態でY軸アクチュエー
タによりステージを駆動し、前記2枚のXエアースライ
ドプレートを浮上させた状態でX軸アクチュエータによ
りステージを駆動することを特徴とする。
面の1側面のみを貫通し、真空チャンバー内に配設され
たステージ基板を片持ちの状態で保持するYスライド軸
と、前記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部
に配置されるYエアースライド軸受けと、記Yエアース
ライド軸受けの両端に互いに平行に固定され、前記Yス
ライド軸に直交する方向に移動可能な2枚のXエアース
ライドプレートと、前記各Xエアースライドプレートを
それぞれ上下及び左右から挟みこんで非接触支持する2
つのXエアースライド軸受けと、前記Yスライド軸の真
空チャンバー外部の端面に設けられY軸アクチュエータ
による駆動力を伝達するとともに、前記Xエアースライ
ドプレートの移動にともなってXエアースライドプレー
トに対して平行に移動するカップリング部とを有し、前
記Yスライド軸受けのYスライド軸に対向する摺動面に
配置され、前記Yスライド軸を圧縮気体により浮上させ
る第1のエアーパッドと、前記Yエアースライド軸受け
の摺動面に前記第1のエアーパッドより真空チャンバー
の方向に前記Yスライド軸を取り囲むように配置され、
前記第1のエアーパッドによる気体を排気する第1の排
気溝と、前記Xエアースライドプレート上で前記第1の
Xエアースライド軸受けとの摺動面に当該Xエアースラ
イドプレートを浮上させるための圧縮気体を供給する第
2のエアーパッドと、前記Xエアースライドプレート上
で前記第1のXエアースライド軸受けの真空チャンバー
側の固定プレートとの摺動面に前記固定プレート上の開
口部を取り囲むように配置され、前記第2のエアーパッ
ドによる気体を排気するための第2の排気溝とを備え、
前記Yスライド軸を浮上させた状態でY軸アクチュエー
タによりステージを駆動し、前記2枚のXエアースライ
ドプレートを浮上させた状態でX軸アクチュエータによ
りステージを駆動することを特徴とする。
【0016】請求項5記載の発明は、請求項1、2、3
又は4記載のXYステージ機構において、前記Yスライ
ド軸の貫通による真空チャンバーの開口部と、前記第1
のYエアースライド軸受けの真空チャンバー側の固定プ
レートに設けられた開口部とを覆い、真空チャンバー内
への気体の流入を防止する隔壁を備えたことを特徴とす
る。
又は4記載のXYステージ機構において、前記Yスライ
ド軸の貫通による真空チャンバーの開口部と、前記第1
のYエアースライド軸受けの真空チャンバー側の固定プ
レートに設けられた開口部とを覆い、真空チャンバー内
への気体の流入を防止する隔壁を備えたことを特徴とす
る。
【0017】請求項6記載の発明は、請求項5記載のX
Yステージ機構において、前記隔壁を伸縮自在な蛇腹状
の金属または弾性体により構成することを特徴とする。
Yステージ機構において、前記隔壁を伸縮自在な蛇腹状
の金属または弾性体により構成することを特徴とする。
【0018】請求項7記載の発明は、請求項1、2、
3、4、5又は6記載のXYステージ機構において、X
軸アクチュエータ又はY軸アクチュエータはリニアモー
タ又はエアーシリンダであることを特徴とする。
3、4、5又は6記載のXYステージ機構において、X
軸アクチュエータ又はY軸アクチュエータはリニアモー
タ又はエアーシリンダであることを特徴とする。
【0019】請求項8記載の発明は、請求項1、2、
3、4、5、6又は7記載のXYステージ機構におい
て、Yスライド軸の断面形状を四角形とすることを特徴
とする。
3、4、5、6又は7記載のXYステージ機構におい
て、Yスライド軸の断面形状を四角形とすることを特徴
とする。
【0020】請求項9記載の発明は、請求項1、2、
3、4、5、6、7又は8記載のXYステージ機構にお
いて、前記Yエアースライド軸受けのYスライド軸に対
向する摺動面に前記第1のエアーパッドを取り囲むよう
に排気溝を設け、当該排気溝は真空チャンバーとは反対
方向のYエアースライド軸受けの側面にて開通すること
を特徴とする。
3、4、5、6、7又は8記載のXYステージ機構にお
いて、前記Yエアースライド軸受けのYスライド軸に対
向する摺動面に前記第1のエアーパッドを取り囲むよう
に排気溝を設け、当該排気溝は真空チャンバーとは反対
方向のYエアースライド軸受けの側面にて開通すること
を特徴とする。
【0021】請求項10記載の発明は、請求項1、2、
3、4、5、6、7、8又は9記載のXYステージ機構
において、前記第2のエアーパッドは、Xエアースライ
ドプレートの両側側面を除く全ての面にパッドを配置
し、真空チャンバー側の前記固定プレートに対向するX
エアースライドプレートの摺動面において、前記第2の
排気溝の外側にパッドを配置することを特徴とする。
3、4、5、6、7、8又は9記載のXYステージ機構
において、前記第2のエアーパッドは、Xエアースライ
ドプレートの両側側面を除く全ての面にパッドを配置
し、真空チャンバー側の前記固定プレートに対向するX
エアースライドプレートの摺動面において、前記第2の
排気溝の外側にパッドを配置することを特徴とする。
【0022】請求項11記載の発明は、請求項1、2、
3、4、5、6、7、8、9又は10記載のXYステー
ジ機構において、前記Yスライド軸、Yエアースライド
軸受け、Xエアースライドプレートと、Xエアースライ
ド軸受けをセラミックスにより構成することを特徴とす
る。
3、4、5、6、7、8、9又は10記載のXYステー
ジ機構において、前記Yスライド軸、Yエアースライド
軸受け、Xエアースライドプレートと、Xエアースライ
ド軸受けをセラミックスにより構成することを特徴とす
る。
【0023】請求項12記載の発明は、請求項1、2、
3、4、5、6、7、8、9、10又は11記載のXY
ステージ機構において、前記ステージ基板の互いに直交
する側壁の2面を鏡面とし、レーザー干渉測長器の移動
鏡として使用することを特徴とする。
3、4、5、6、7、8、9、10又は11記載のXY
ステージ機構において、前記ステージ基板の互いに直交
する側壁の2面を鏡面とし、レーザー干渉測長器の移動
鏡として使用することを特徴とする。
【0024】請求項13記載の発明は、請求項11記載
のXYステージ機構において、前記ステージ基板をコー
ジライトにより構成することを特徴とする。
のXYステージ機構において、前記ステージ基板をコー
ジライトにより構成することを特徴とする。
【0025】請求項14記載の発明は、請求項1、2、
3、4、5、6、7、8、9、10、11、12又は1
3記載のXYステージ機構を備え、前記ステージ基盤の
位置を計測するレーザー干渉測長器、及び前記真空チャ
ンバーを搭載する第1の定盤と、前記X軸アクチュエー
タ、前記Y軸アクチュエータ、及びYスライド軸を支持
する部材を搭載する第2の定盤とを有することを特徴と
する露光装置を提供する。
3、4、5、6、7、8、9、10、11、12又は1
3記載のXYステージ機構を備え、前記ステージ基盤の
位置を計測するレーザー干渉測長器、及び前記真空チャ
ンバーを搭載する第1の定盤と、前記X軸アクチュエー
タ、前記Y軸アクチュエータ、及びYスライド軸を支持
する部材を搭載する第2の定盤とを有することを特徴と
する露光装置を提供する。
【0026】請求項15記載の発明は、請求項14記載
の露光装置において、基礎に固定した支柱の上部にダン
パーを取り付け、当該ダンパーと前記第2の定盤とを連
結することを特徴とする。
の露光装置において、基礎に固定した支柱の上部にダン
パーを取り付け、当該ダンパーと前記第2の定盤とを連
結することを特徴とする。
【0027】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態は、電子ビーム
を用いた走査型露光装置のマスクを搭載するステージに
関するものである。図1(a)は、本発明の第1の実施
形態の上面図であり、図1(b)は、図1(a)のA−
A‘断面図である。本実施形態は、真空チャンバー内で
動作するX−Yステージである。真空チャンバー1の壁
面を貫通するYスライド軸2によって真空チャンバー1
内部に配設されたステージ基板3を片持ちの状態にて保
持する。Yスライド軸2は真空チャンバー外部に配置さ
れたYエアースライド軸受け4により非接触支持され
る。Yエアースライド軸受け4の真空チャンバー側の端
面には、Yスライド軸2と直交する方向に移動可能なX
エアースライドプレート5が固定され、該Xエアースラ
イドプレート5を第1のエアースライド軸受け6により
上下及び左右方向から挟み込んで非接触支持することに
よりX方向に移動可能になる。Yスライド軸2の真空チ
ャンバー外部の端面にはY軸アクチュエータ7として本
実施例ではリニアモータを搭載し、本アクチュエータに
よる駆動力を伝達するためにXエアースライドプレート
5と平行に移動可能なカップリング部8と、前記カップ
リングの案内としての第2のXエアースライド軸受け9
を配設することによりYスライド軸2を円滑に駆動す
る。Yスライド軸2の貫通による真空チャンバー1の開
口部10と、第1のYエアースライド軸受け6の真空チ
ャンバー側の固定プレート11に設けられた開口部に
は、真空チャンバー内への気体の流入を防止する隔壁1
2が配設される。Yエアースライド軸受け4のYスライ
ド軸2に対向する摺動面にはYスライド軸2を圧縮気体
により浮上させるための第1のエアーパッド13が配設
され、第1のエアーパッド13の真空チャンバー側の端
面にYスライド軸を取り囲むように、前記第1のエアー
パッド13に供給した気体を排気するための第1の排気
溝14が配設される、本エアーパッド部と第1の排気溝
14の詳細構造につては後述する。Xエアースライドプ
レート5上で第1のXエアースライド軸受け6との摺動
面にはXエアースライドプレート5を浮上させるための
圧縮気体を供給する第2のエアーパッド15が配設さ
れ、Xエアースライドプレート5上で、Xエアースライ
ド軸受け5の真空チャンバー側の固定プレート11との
摺動面には固定プレート11上の開口部を取り囲むよう
に第2の排気溝16を備え、第2のエアーパッド15に
供給した気体を排気することにより真空チャンバー1へ
の気体の流入を防止することが出来る。
を用いた走査型露光装置のマスクを搭載するステージに
関するものである。図1(a)は、本発明の第1の実施
形態の上面図であり、図1(b)は、図1(a)のA−
A‘断面図である。本実施形態は、真空チャンバー内で
動作するX−Yステージである。真空チャンバー1の壁
面を貫通するYスライド軸2によって真空チャンバー1
内部に配設されたステージ基板3を片持ちの状態にて保
持する。Yスライド軸2は真空チャンバー外部に配置さ
れたYエアースライド軸受け4により非接触支持され
る。Yエアースライド軸受け4の真空チャンバー側の端
面には、Yスライド軸2と直交する方向に移動可能なX
エアースライドプレート5が固定され、該Xエアースラ
イドプレート5を第1のエアースライド軸受け6により
上下及び左右方向から挟み込んで非接触支持することに
よりX方向に移動可能になる。Yスライド軸2の真空チ
ャンバー外部の端面にはY軸アクチュエータ7として本
実施例ではリニアモータを搭載し、本アクチュエータに
よる駆動力を伝達するためにXエアースライドプレート
5と平行に移動可能なカップリング部8と、前記カップ
リングの案内としての第2のXエアースライド軸受け9
を配設することによりYスライド軸2を円滑に駆動す
る。Yスライド軸2の貫通による真空チャンバー1の開
口部10と、第1のYエアースライド軸受け6の真空チ
ャンバー側の固定プレート11に設けられた開口部に
は、真空チャンバー内への気体の流入を防止する隔壁1
2が配設される。Yエアースライド軸受け4のYスライ
ド軸2に対向する摺動面にはYスライド軸2を圧縮気体
により浮上させるための第1のエアーパッド13が配設
され、第1のエアーパッド13の真空チャンバー側の端
面にYスライド軸を取り囲むように、前記第1のエアー
パッド13に供給した気体を排気するための第1の排気
溝14が配設される、本エアーパッド部と第1の排気溝
14の詳細構造につては後述する。Xエアースライドプ
レート5上で第1のXエアースライド軸受け6との摺動
面にはXエアースライドプレート5を浮上させるための
圧縮気体を供給する第2のエアーパッド15が配設さ
れ、Xエアースライドプレート5上で、Xエアースライ
ド軸受け5の真空チャンバー側の固定プレート11との
摺動面には固定プレート11上の開口部を取り囲むよう
に第2の排気溝16を備え、第2のエアーパッド15に
供給した気体を排気することにより真空チャンバー1へ
の気体の流入を防止することが出来る。
【0028】本固定プレートと第2の排気溝16の詳細
構造につては後述する。Xエアースライドプレート5及
びカップリング部8は非接触静圧軸受けにより浮上した
状態でX軸アクチュエータ17、本実施例ではリニアモ
ータにより駆動する。X軸アクチュエータ17は、Yエ
アースライド軸受け4に直結される。上記の案内機構に
よって、該X−Yステージは真空チャンバー内の真空環
境(例えば、10-7Torr)を保った状態で動作する
点が特徴である。
構造につては後述する。Xエアースライドプレート5及
びカップリング部8は非接触静圧軸受けにより浮上した
状態でX軸アクチュエータ17、本実施例ではリニアモ
ータにより駆動する。X軸アクチュエータ17は、Yエ
アースライド軸受け4に直結される。上記の案内機構に
よって、該X−Yステージは真空チャンバー内の真空環
境(例えば、10-7Torr)を保った状態で動作する
点が特徴である。
【0029】X−Yステージの位置決め制御は、不図示
のレーザー干渉測長器により行われる。本実施形態で
は、レーザー干渉測長を行うための移動鏡をステージ基
板3に一体的に構成している。図2(a)は、本発明の
第2の実施形態の上面図であり、図2(b)は、図2
(a)のA−A‘断面図である。第2の実施形態も第1
の実施形態と同様に真空チャンバー壁面の1側面を貫通
するYスライド軸2により、真空チャンバー1内に配接
されたステージ基板3を片持ちの状態で保持している。
第1の実施形態との相違点について説明する。真空チャ
ンバーを貫通するYエアースライド軸2はYエアースラ
イド軸受4により非接触支持されている、さらに前記Y
エアースライド軸2に直交する方向にはYエアースライ
ド軸受け4に連結されるXスライド軸25と、前記Xス
ライド軸25の案内としての第2のXエアースライド軸
受け26が設けられる。そして、Yエアースライド軸受
け4はX軸方向に前記X軸スライド軸25に直結した不
図示のアクチュエータにより移動する。さらに前記Yス
ライド軸2の真空チャンバー外部の端面には不図示のY
軸アクチュエータによる駆動力を伝達するとともに、前
記Xスライド軸25の移動にともなって平行に移動する
カップリング部27が配設され、前記カップリング部2
7は第2のYエアースライド軸受け28により支持さ
れ、前記第2のYエアースライド軸受28に直結した不
図示のアクチュエータによりY方向に移動する。
のレーザー干渉測長器により行われる。本実施形態で
は、レーザー干渉測長を行うための移動鏡をステージ基
板3に一体的に構成している。図2(a)は、本発明の
第2の実施形態の上面図であり、図2(b)は、図2
(a)のA−A‘断面図である。第2の実施形態も第1
の実施形態と同様に真空チャンバー壁面の1側面を貫通
するYスライド軸2により、真空チャンバー1内に配接
されたステージ基板3を片持ちの状態で保持している。
第1の実施形態との相違点について説明する。真空チャ
ンバーを貫通するYエアースライド軸2はYエアースラ
イド軸受4により非接触支持されている、さらに前記Y
エアースライド軸2に直交する方向にはYエアースライ
ド軸受け4に連結されるXスライド軸25と、前記Xス
ライド軸25の案内としての第2のXエアースライド軸
受け26が設けられる。そして、Yエアースライド軸受
け4はX軸方向に前記X軸スライド軸25に直結した不
図示のアクチュエータにより移動する。さらに前記Yス
ライド軸2の真空チャンバー外部の端面には不図示のY
軸アクチュエータによる駆動力を伝達するとともに、前
記Xスライド軸25の移動にともなって平行に移動する
カップリング部27が配設され、前記カップリング部2
7は第2のYエアースライド軸受け28により支持さ
れ、前記第2のYエアースライド軸受28に直結した不
図示のアクチュエータによりY方向に移動する。
【0030】図3(a)は、本発明の第3の実施形態の
上面図であり、図3(b)は、図3(a)のA−A‘断
面図である。第3の実施形態も第1第2の実施形態と同
様に真空チャンバー壁面の1側面を貫通するYスライド
軸2により、真空チャンバー1内に配接されたステージ
基板3を片持ちの状態で保持している。第1第2の実施
形態との相違点について説明する。前記Yスライド軸2
の案内として真空チャンバー外部に配置されるYエアー
スライド軸受け4の両端には前記Yスライド軸2に直交
する方向に移動可能な2枚のXエアースライドプレート
31が互いに平行に固定されている、さらに前記各Xエ
アースライドプレート31をそれぞれ上下及び左右から
挟みこんで非接触支持する2つのXエアースライド軸受
け32が配設される。さらに前記Yスライド軸2の真空
チャンバー外部の端面には不図示のY軸アクチュエータ
による駆動力を伝達するとともに、前記2枚のXエアー
スライドプレート31の移動にともなって平行に移動す
るカップリング部33が配設され、前記カップリング部
33は第2のYエアースライド軸受け34により支持さ
れ、前記第2のYエアースライド軸受け34に直結した
不図示のアクチュエータによりY方向に移動する。
上面図であり、図3(b)は、図3(a)のA−A‘断
面図である。第3の実施形態も第1第2の実施形態と同
様に真空チャンバー壁面の1側面を貫通するYスライド
軸2により、真空チャンバー1内に配接されたステージ
基板3を片持ちの状態で保持している。第1第2の実施
形態との相違点について説明する。前記Yスライド軸2
の案内として真空チャンバー外部に配置されるYエアー
スライド軸受け4の両端には前記Yスライド軸2に直交
する方向に移動可能な2枚のXエアースライドプレート
31が互いに平行に固定されている、さらに前記各Xエ
アースライドプレート31をそれぞれ上下及び左右から
挟みこんで非接触支持する2つのXエアースライド軸受
け32が配設される。さらに前記Yスライド軸2の真空
チャンバー外部の端面には不図示のY軸アクチュエータ
による駆動力を伝達するとともに、前記2枚のXエアー
スライドプレート31の移動にともなって平行に移動す
るカップリング部33が配設され、前記カップリング部
33は第2のYエアースライド軸受け34により支持さ
れ、前記第2のYエアースライド軸受け34に直結した
不図示のアクチュエータによりY方向に移動する。
【0031】真空チャンバー1の内部において、中央部
に配設されるステージ基板3が取り付けられる。ステー
ジ基板3の中央部には、開口部18が開いている。これ
は、マスク(図中省略した)に照射する電子線を導くた
めの窓である。図4は、Yエアースライド軸受け4の実
施例の分解斜視図である。実施例では、スライド軸の断
面及び、エアースライド軸受け4の開口部断面を長方形
または正方形とした。この理由は、スライド軸の剛性を
高めることと、エアースライド軸受けの製造の容易さか
らである。もちろん、スライド軸の断面及び、エアース
ライド軸受けの開口部の断面形状を円形とすることも可
能である。
に配設されるステージ基板3が取り付けられる。ステー
ジ基板3の中央部には、開口部18が開いている。これ
は、マスク(図中省略した)に照射する電子線を導くた
めの窓である。図4は、Yエアースライド軸受け4の実
施例の分解斜視図である。実施例では、スライド軸の断
面及び、エアースライド軸受け4の開口部断面を長方形
または正方形とした。この理由は、スライド軸の剛性を
高めることと、エアースライド軸受けの製造の容易さか
らである。もちろん、スライド軸の断面及び、エアース
ライド軸受けの開口部の断面形状を円形とすることも可
能である。
【0032】各エアースライド軸受け4は、4枚の板か
ら構成される。図4では、底板40と側面板41の一部
のみ示されている。図中、手前が真空チャンバー1の貫
通部の方向である。各板のスライド軸との摺動面には、
エアーパッド42の群と、各エアーパッド42及びエア
ーパッドの群を取り囲むように配置された吸引溝43
と、エアーパッド群と対向面4aとの間に配置された2
つの吸引溝44、45とを備える。
ら構成される。図4では、底板40と側面板41の一部
のみ示されている。図中、手前が真空チャンバー1の貫
通部の方向である。各板のスライド軸との摺動面には、
エアーパッド42の群と、各エアーパッド42及びエア
ーパッドの群を取り囲むように配置された吸引溝43
と、エアーパッド群と対向面4aとの間に配置された2
つの吸引溝44、45とを備える。
【0033】以下、底板40に基づいて説明する。エア
ーパッド42は、「田」の字状の溝42aと当該「田」
の字の中央に配置され、溝42aに所定圧力のエアーを
供給するためのオリフィス42bから構成され、前記エ
アーによりスライド軸を浮上させる。底板40及び各板
の摺動面には、エアーパッド42が、2行、4列のレイ
アウトで計8個配置される。さらに、各エアーパッド4
2の周囲、及びエアーパッド群の周りには排気溝43が
配置され、当該排気溝43は真空チャンバーの貫通部と
は反対の方向の側面にて開通される。
ーパッド42は、「田」の字状の溝42aと当該「田」
の字の中央に配置され、溝42aに所定圧力のエアーを
供給するためのオリフィス42bから構成され、前記エ
アーによりスライド軸を浮上させる。底板40及び各板
の摺動面には、エアーパッド42が、2行、4列のレイ
アウトで計8個配置される。さらに、各エアーパッド4
2の周囲、及びエアーパッド群の周りには排気溝43が
配置され、当該排気溝43は真空チャンバーの貫通部と
は反対の方向の側面にて開通される。
【0034】符号43aは、吸引溝の開通部を示す。エ
アーパッド42から排出したエアーは、吸引溝43を通
って開通部43aから排気される。吸引溝43の作用
は、エアーパッドから排出したエアーを排気することに
より、エアーパッドと吸引溝44との間の圧力をほぼ大
気圧まで減圧し、吸引溝44、45の排気効率を高める
ことにある。
アーパッド42から排出したエアーは、吸引溝43を通
って開通部43aから排気される。吸引溝43の作用
は、エアーパッドから排出したエアーを排気することに
より、エアーパッドと吸引溝44との間の圧力をほぼ大
気圧まで減圧し、吸引溝44、45の排気効率を高める
ことにある。
【0035】吸引溝44、45吸引溝は、スライド軸を
取り囲むように配置される。吸引溝44は、大気圧を所
定の圧力まで減圧する。吸引溝45は、吸引溝44によ
る所定圧をほぼ真空チャンバー内の真空度まで減圧する
ためのものである。底板40の吸引溝44、45の底部
には、吸引用の穴が設けられ、図示していない真空ポン
プに接続される。たとえば、吸引溝44にはロータリー
ポンプが接続され、吸引溝45にはターボ分子ポンプあ
るいはロータリポンプが接続される。
取り囲むように配置される。吸引溝44は、大気圧を所
定の圧力まで減圧する。吸引溝45は、吸引溝44によ
る所定圧をほぼ真空チャンバー内の真空度まで減圧する
ためのものである。底板40の吸引溝44、45の底部
には、吸引用の穴が設けられ、図示していない真空ポン
プに接続される。たとえば、吸引溝44にはロータリー
ポンプが接続され、吸引溝45にはターボ分子ポンプあ
るいはロータリポンプが接続される。
【0036】図5は、Yスライド軸2、Yエアースライ
ド軸受け4、固定プレート11、Xエアスライドプレー
ト5の詳細断面であり、Xエアスライドプレート5に供
給した気体をYエアスライド軸受4まで導くための配管
の様子を示したものである。Xエアスライドプレート5
は固定プレート11とXエアスライドプレート用側板5
1で左右を挟まれ、Xエアスライドプレート用上板52
とXエアスライドプレート用下板53で上下を挟み込ま
れる。Yエアースライド軸受け4はYスライド軸2を上
下に挟み込み静圧支持する。
ド軸受け4、固定プレート11、Xエアスライドプレー
ト5の詳細断面であり、Xエアスライドプレート5に供
給した気体をYエアスライド軸受4まで導くための配管
の様子を示したものである。Xエアスライドプレート5
は固定プレート11とXエアスライドプレート用側板5
1で左右を挟まれ、Xエアスライドプレート用上板52
とXエアスライドプレート用下板53で上下を挟み込ま
れる。Yエアースライド軸受け4はYスライド軸2を上
下に挟み込み静圧支持する。
【0037】先ず、Yエアースライド軸受け4、Xエア
スライドプレート5へのエアーの給気について説明す
る。真空チャンバーの外部に設けられたエアーの給気装
置からのエアーは、Xエアスライドプレート用側板51
とXエアスライドプレート用上板52、Xエアスライド
プレート用下板53に設けられた給気孔54を通り、X
エアスライドプレート5とXエアスライドプレート5を
取り囲むXエアスライドプレート用側板51、Xエアス
ライドプレート用上板52、Xエアスライドプレート用
下板53の隙間に供給される。
スライドプレート5へのエアーの給気について説明す
る。真空チャンバーの外部に設けられたエアーの給気装
置からのエアーは、Xエアスライドプレート用側板51
とXエアスライドプレート用上板52、Xエアスライド
プレート用下板53に設けられた給気孔54を通り、X
エアスライドプレート5とXエアスライドプレート5を
取り囲むXエアスライドプレート用側板51、Xエアス
ライドプレート用上板52、Xエアスライドプレート用
下板53の隙間に供給される。
【0038】Xエアスライドプレート5に供給されたエ
アはXエアスライドプレート5に設けた給気孔55を通
りさらにXエアスライドプレート5とYエアスライド軸
受4とを繋ぐ配管を通りYエアスライド軸受4に供給さ
れる。
アはXエアスライドプレート5に設けた給気孔55を通
りさらにXエアスライドプレート5とYエアスライド軸
受4とを繋ぐ配管を通りYエアスライド軸受4に供給さ
れる。
【0039】次に、Xエアスライドプレート5とYエア
スライド軸受4に設けられた吸引溝56,57,58,
59の排気系について説明する。Yスライド軸を取り囲
む様に、Yスライド軸受け4に配置されたYスライド軸
受け用第1の吸引溝56から吸入されたエアーは、Yエ
アースライド軸受け4、Xエアスライドプレート5を通
りXエアスライドプレート5に設けられたXエアスライ
ドプレート用第1の吸引溝58に連結されさらには固定
プレート11に設けられた排気口60を通って真空チャ
ンバーの外部に設けられた真空ポンプにより排気され
る。Yスライド軸を取り囲む様に、Yエアースライド軸
受け4に配置されたYスライド軸受け用第2の吸引溝5
7から吸入されたエアーは、同様にYエアースライド軸
受け4、Xエアスライドプレート5を通りXエアスライ
ドプレート5に設けられたXエアスライドプレート用第
2の吸引溝59に連結されさらには固定プレート11に
設けられた排気口61を通って真空チャンバーの外部に
設けられた真空ポンプにより排気される。
スライド軸受4に設けられた吸引溝56,57,58,
59の排気系について説明する。Yスライド軸を取り囲
む様に、Yスライド軸受け4に配置されたYスライド軸
受け用第1の吸引溝56から吸入されたエアーは、Yエ
アースライド軸受け4、Xエアスライドプレート5を通
りXエアスライドプレート5に設けられたXエアスライ
ドプレート用第1の吸引溝58に連結されさらには固定
プレート11に設けられた排気口60を通って真空チャ
ンバーの外部に設けられた真空ポンプにより排気され
る。Yスライド軸を取り囲む様に、Yエアースライド軸
受け4に配置されたYスライド軸受け用第2の吸引溝5
7から吸入されたエアーは、同様にYエアースライド軸
受け4、Xエアスライドプレート5を通りXエアスライ
ドプレート5に設けられたXエアスライドプレート用第
2の吸引溝59に連結されさらには固定プレート11に
設けられた排気口61を通って真空チャンバーの外部に
設けられた真空ポンプにより排気される。
【0040】次にXエアスライドプレート5の詳細につ
いて説明する。図6はYエアースライド軸受け4の真空
チャンバー側の端面に固定したXエアスライドプレート
5の斜視図である。Xエアスライドプレート5は本斜視
では不図示の固定プレートに対する摺動面に対向するよ
うに設けられ、Xエアスライドプレート5を圧縮気体に
より浮上させるエアーパッド62a、62bと63、不
図示の固定プレートの開口部を取り囲んで配置され、前
記圧縮気体を排気するための排気溝64,65を備え、
後述する差動排気部の吸引溝との作用により固定プレー
トの開口部からの真空チャンバーへの気体の流入を防止
し、真空チャンバー内部の真空環境を保つ役割を果た
す。
いて説明する。図6はYエアースライド軸受け4の真空
チャンバー側の端面に固定したXエアスライドプレート
5の斜視図である。Xエアスライドプレート5は本斜視
では不図示の固定プレートに対する摺動面に対向するよ
うに設けられ、Xエアスライドプレート5を圧縮気体に
より浮上させるエアーパッド62a、62bと63、不
図示の固定プレートの開口部を取り囲んで配置され、前
記圧縮気体を排気するための排気溝64,65を備え、
後述する差動排気部の吸引溝との作用により固定プレー
トの開口部からの真空チャンバーへの気体の流入を防止
し、真空チャンバー内部の真空環境を保つ役割を果た
す。
【0041】図6の実施例では、不図示の固定プレート
開口部は真空チャンバーの開口部につながりこの開口部
を通してYスライド軸2が真空チャンバーに配設され
る。Xエアスライドプレート5の摺動面には、エアーパ
ッド62の群と63の群、開口部を取り囲むように配置
された吸引溝64、65とを備える。エアーパッド62
は、「田」の字状の溝62aと当該「田」の字の中央に
配置され、溝62aに所定圧力のエアーを供給するため
のオリフィス62bから構成され、外部から供給される
圧縮気体によりXエアースライドプレートは不図示の固
定プレートから浮上する。
開口部は真空チャンバーの開口部につながりこの開口部
を通してYスライド軸2が真空チャンバーに配設され
る。Xエアスライドプレート5の摺動面には、エアーパ
ッド62の群と63の群、開口部を取り囲むように配置
された吸引溝64、65とを備える。エアーパッド62
は、「田」の字状の溝62aと当該「田」の字の中央に
配置され、溝62aに所定圧力のエアーを供給するため
のオリフィス62bから構成され、外部から供給される
圧縮気体によりXエアースライドプレートは不図示の固
定プレートから浮上する。
【0042】さらにXエアスライドプレート5の上側摺
動面には、エアーパッド63の群を備える。エアーパッ
ド63は、「T」の字状の溝63aと、溝63aに所定
圧力のエアーを供給するための給気溝63bから構成さ
れ、外部から供給される圧縮気体によりXエアースライ
ドプレートは不図示の固定プレートから浮上する。実施
例では、エアーパッド62が、2行、9列のレイアウト
で配置される。
動面には、エアーパッド63の群を備える。エアーパッ
ド63は、「T」の字状の溝63aと、溝63aに所定
圧力のエアーを供給するための給気溝63bから構成さ
れ、外部から供給される圧縮気体によりXエアースライ
ドプレートは不図示の固定プレートから浮上する。実施
例では、エアーパッド62が、2行、9列のレイアウト
で配置される。
【0043】吸引溝64の作用は、エアーパッド632
から排出した圧縮気体を排気することにより、大気圧を
所定の圧力まで減圧する。吸引溝65は、吸引溝64に
よる所定圧をほぼ真空チャンバー内の真空度まで減圧す
るためのものであり真空チャンバーへの気体の流出を防
ぐ作用をしている。吸引溝64、65のには、吸引用の
穴が設けられ、図示していない真空ポンプに接続され
る。たとえば、吸引溝64にはロータリーポンプが接続
され、吸引溝65にはターボ分子ポンプあるいはロータ
リポンプが接続される。
から排出した圧縮気体を排気することにより、大気圧を
所定の圧力まで減圧する。吸引溝65は、吸引溝64に
よる所定圧をほぼ真空チャンバー内の真空度まで減圧す
るためのものであり真空チャンバーへの気体の流出を防
ぐ作用をしている。吸引溝64、65のには、吸引用の
穴が設けられ、図示していない真空ポンプに接続され
る。たとえば、吸引溝64にはロータリーポンプが接続
され、吸引溝65にはターボ分子ポンプあるいはロータ
リポンプが接続される。
【0044】本実施形態では、電子ビームを用いた走査
型露光装置において高速、高加速度を要求されるステー
ジのスキャン方向をY軸とし、ステージのステップ方向
をX軸としている。なお、図1(b)、図2(b)、図
3(b)において、真空チャンバー7の上面には何も示
されていないが、電子ビームを用いた走査型露光装置に
おいては電子ビームを発生し、当該電子ビームを偏向、
走査する鏡筒が配置されることは言うまでもない。
型露光装置において高速、高加速度を要求されるステー
ジのスキャン方向をY軸とし、ステージのステップ方向
をX軸としている。なお、図1(b)、図2(b)、図
3(b)において、真空チャンバー7の上面には何も示
されていないが、電子ビームを用いた走査型露光装置に
おいては電子ビームを発生し、当該電子ビームを偏向、
走査する鏡筒が配置されることは言うまでもない。
【0045】XYステージの位置決めは、図示していな
いレーザー干渉測長器により行われる。本実施形態で
は、レーザー干渉測長を行うための移動鏡をステージ基
板3に一体的に構成する。図7は、ステージ基板3の斜
視図である。ステージ基板3は、線膨張率の低いガラス
やセラミックス(セラミックスの例としてはコージライ
ト)が使用される。ステージ基板のうち移動鏡3aに相
当する面には、レーザー光を反射されるための反射膜
(例えば、AuやAl)が蒸着される。このように、レ
ーザー干渉測長を行うための移動鏡3aをステージ基板
3上に一体的に構成することにより、XYステージが高
加速、高速度で移動したときの移動鏡の位置ずれや歪み
を防止でき、ステージの高精度な位置決めを行うことが
できる。
いレーザー干渉測長器により行われる。本実施形態で
は、レーザー干渉測長を行うための移動鏡をステージ基
板3に一体的に構成する。図7は、ステージ基板3の斜
視図である。ステージ基板3は、線膨張率の低いガラス
やセラミックス(セラミックスの例としてはコージライ
ト)が使用される。ステージ基板のうち移動鏡3aに相
当する面には、レーザー光を反射されるための反射膜
(例えば、AuやAl)が蒸着される。このように、レ
ーザー干渉測長を行うための移動鏡3aをステージ基板
3上に一体的に構成することにより、XYステージが高
加速、高速度で移動したときの移動鏡の位置ずれや歪み
を防止でき、ステージの高精度な位置決めを行うことが
できる。
【0046】また、本実施形態において、エアースライ
ド軸受けの摺動面に設けられた吸引溝はそれぞれ2つの
溝から構成されているが、これに限られるものではな
い。たとえば、VUVやEUVの露光装置のように比較
的低真空で使用されるものは、上述した溝を1つにする
ことができる。また、超高真空で使用される電子ビーム
露光装置では、さらに溝数を増やすことにより真空チャ
ンバー内の真空度を保つことができる。
ド軸受けの摺動面に設けられた吸引溝はそれぞれ2つの
溝から構成されているが、これに限られるものではな
い。たとえば、VUVやEUVの露光装置のように比較
的低真空で使用されるものは、上述した溝を1つにする
ことができる。また、超高真空で使用される電子ビーム
露光装置では、さらに溝数を増やすことにより真空チャ
ンバー内の真空度を保つことができる。
【0047】第1の実施形態において、主要な構成要
素、すなわち、真空チャンバーを貫通するYスライド軸
2と、Yエアースライド軸受け4と、Xエアースライド
プレート5と、第1のYエアースライド軸受け6と、カ
ップリング部8と、第2のXエアースライド軸受け9
と、真空チャンバー側の固定プレート11は、高剛性、
軽量、かつ、非磁性材料であるセラミックが使用され
る。特に、アルミナ(Al2O3)や炭化珪素(SiC)
が用いられる。
素、すなわち、真空チャンバーを貫通するYスライド軸
2と、Yエアースライド軸受け4と、Xエアースライド
プレート5と、第1のYエアースライド軸受け6と、カ
ップリング部8と、第2のXエアースライド軸受け9
と、真空チャンバー側の固定プレート11は、高剛性、
軽量、かつ、非磁性材料であるセラミックが使用され
る。特に、アルミナ(Al2O3)や炭化珪素(SiC)
が用いられる。
【0048】また第2の実施形態において、主要な構成
要素、すなわち、真空チャンバー壁面の1側面を貫通す
るYスライド軸2と、Yエアースライド軸受4と、Xス
ライド軸25と、第2のXエアースライド軸受け26
と、Xスライド軸25の移動にともなって平行に移動す
るカップリング部27と、第2のYエアースライド軸受
け28も高剛性、軽量、かつ、非磁性材料であるセラミ
ックが使用される。特に、アルミナ(Al2O3)や炭化
珪素(SiC)が用いられる。
要素、すなわち、真空チャンバー壁面の1側面を貫通す
るYスライド軸2と、Yエアースライド軸受4と、Xス
ライド軸25と、第2のXエアースライド軸受け26
と、Xスライド軸25の移動にともなって平行に移動す
るカップリング部27と、第2のYエアースライド軸受
け28も高剛性、軽量、かつ、非磁性材料であるセラミ
ックが使用される。特に、アルミナ(Al2O3)や炭化
珪素(SiC)が用いられる。
【0049】また第3の実施形態において、主要な構成
要素、すなわち、真空チャンバー壁面の1側面を貫通す
るYスライド軸2と、前記Yスライド軸2の案内として
真空チャンバー外部に配置されるYエアースライド軸受
け4と、前記Yスライド軸2に直交する方向に移動可能
な2枚のXエアースライドプレート31と、2つのXエ
アースライド軸受けと、前記2枚のXエアースライドプ
レート31の移動にともなって平行に移動するカップリ
ング部33と、前記カップリング部33を支持する第2
のYエアースライド軸受け34も高剛性、軽量、かつ、
非磁性材料であるセラミックが使用される。特に、アル
ミナ(Al2O3)や炭化珪素(SiC)が用いられる。
要素、すなわち、真空チャンバー壁面の1側面を貫通す
るYスライド軸2と、前記Yスライド軸2の案内として
真空チャンバー外部に配置されるYエアースライド軸受
け4と、前記Yスライド軸2に直交する方向に移動可能
な2枚のXエアースライドプレート31と、2つのXエ
アースライド軸受けと、前記2枚のXエアースライドプ
レート31の移動にともなって平行に移動するカップリ
ング部33と、前記カップリング部33を支持する第2
のYエアースライド軸受け34も高剛性、軽量、かつ、
非磁性材料であるセラミックが使用される。特に、アル
ミナ(Al2O3)や炭化珪素(SiC)が用いられる。
【0050】前述した全ての実施形態において、X軸ア
クチュエータ、及びY軸アクチュエータとして、高加
速、高速度化が可能なリニアモータを採用するが、これ
に限られるものではなく、例えばエアーシリンダを用い
ることができる。
クチュエータ、及びY軸アクチュエータとして、高加
速、高速度化が可能なリニアモータを採用するが、これ
に限られるものではなく、例えばエアーシリンダを用い
ることができる。
【0051】次に、前述したXYステージ機構を用いた
走査型露光装置の実施形態について説明する。図8は、
走査型露光装置の実施形態の縦断面図である。符号70
はマスクステージとしてのXYステージ機構であり、符号
71はウエハステージとしてのXYステージ機構である。
走査型露光装置の実施形態について説明する。図8は、
走査型露光装置の実施形態の縦断面図である。符号70
はマスクステージとしてのXYステージ機構であり、符号
71はウエハステージとしてのXYステージ機構である。
【0052】マスクステージ70、ウエハステージ71
の構成要素は、第1の実施形態で説明したものと同様で
ある。マスクステージ基盤70aにマスクを搭載する。
ウエハステージ基盤71aにウエハを搭載する。そし
て、真空チャンバー上に設けられた鏡筒72からの電子
線を前記マスクに照射し、当該マスクを透過した電子線
を電子レンズ73により前記ウエハ上に結像する。
の構成要素は、第1の実施形態で説明したものと同様で
ある。マスクステージ基盤70aにマスクを搭載する。
ウエハステージ基盤71aにウエハを搭載する。そし
て、真空チャンバー上に設けられた鏡筒72からの電子
線を前記マスクに照射し、当該マスクを透過した電子線
を電子レンズ73により前記ウエハ上に結像する。
【0053】マスクを搭載するマスクステージ70とウ
エハを搭載するウエハステージ71は、電子レンズ73
の倍率に従って同期走査される。上記倍率は、通常1/
4である。描画中、マスクステージ70はマスクのスキ
ャン方向(図中左右方向)に速度4vで移動し、ウエハ
ステージ71はマスクステージの移動方向とは逆方向に
マスクステージに同期させながら速度vで移動する。
エハを搭載するウエハステージ71は、電子レンズ73
の倍率に従って同期走査される。上記倍率は、通常1/
4である。描画中、マスクステージ70はマスクのスキ
ャン方向(図中左右方向)に速度4vで移動し、ウエハ
ステージ71はマスクステージの移動方向とは逆方向に
マスクステージに同期させながら速度vで移動する。
【0054】ここで、「同期走査」の意味内容について
説明する。マスク上のパターンは、電子光学系の倍率に
よって決まるウエハの所定位置に投影露光される。ここ
で、マスクステージをδXmだけ移動(走査)したと
き、前記マスク上のパターンを前記ウエハの所定位置に
引き続き投影露光するためには、ウエハを積載するウエ
ハステージを−δXm/4だけ移動しなけらばならな
い。
説明する。マスク上のパターンは、電子光学系の倍率に
よって決まるウエハの所定位置に投影露光される。ここ
で、マスクステージをδXmだけ移動(走査)したと
き、前記マスク上のパターンを前記ウエハの所定位置に
引き続き投影露光するためには、ウエハを積載するウエ
ハステージを−δXm/4だけ移動しなけらばならな
い。
【0055】すなわち、マスクステージとウエハステー
ジは、互いに反対方向に4:1の割合で正確に移動させ
なければならない。
ジは、互いに反対方向に4:1の割合で正確に移動させ
なければならない。
【0056】このようにして、スキャン移動による1ラ
インの描画を終了すると、電子線を遮断して、マスクス
テージ70はステップ移動する(図中紙面に鉛直方向)
とともに、ウエハステージ71もステップ移動する。そ
して、同様の動作により描画を継続する。
インの描画を終了すると、電子線を遮断して、マスクス
テージ70はステップ移動する(図中紙面に鉛直方向)
とともに、ウエハステージ71もステップ移動する。そ
して、同様の動作により描画を継続する。
【0057】上述したマスクステージ70とウエハステ
ージ71の同期走査は、2つのレーザー干渉測長器8
0、81により行われる。マスクステージ基盤70a、
ウエハステージ基盤71aは、移動鏡一体型のステージ
基盤である。
ージ71の同期走査は、2つのレーザー干渉測長器8
0、81により行われる。マスクステージ基盤70a、
ウエハステージ基盤71aは、移動鏡一体型のステージ
基盤である。
【0058】防振機能を有する定盤上に設けられたレー
ザ82から出射したレーザー光は、真空チャンバーに設
けられた窓を透過し、レーザー干渉計83に入射する。
レーザー干渉計83は、レーザー光を2つに分岐し、一
方を測定光として前記マスクステージ基盤70aに一体
的に構成された移動鏡70bに照射する。移動鏡70b
により反射したレーザー光は、前記分岐した他方のレー
ザー光(参照光)と干渉し、検出器84により電気信号
に変換され処理される。レーザー干渉測長器80により
出力されたマスクステージの位置座標は、マスクステー
ジを制御するための信号として用いられる。レーザー干
渉測長器81により出力されたウエハステージの位置座
標は、ウエハステージを制御するための信号として用い
られる。
ザ82から出射したレーザー光は、真空チャンバーに設
けられた窓を透過し、レーザー干渉計83に入射する。
レーザー干渉計83は、レーザー光を2つに分岐し、一
方を測定光として前記マスクステージ基盤70aに一体
的に構成された移動鏡70bに照射する。移動鏡70b
により反射したレーザー光は、前記分岐した他方のレー
ザー光(参照光)と干渉し、検出器84により電気信号
に変換され処理される。レーザー干渉測長器80により
出力されたマスクステージの位置座標は、マスクステー
ジを制御するための信号として用いられる。レーザー干
渉測長器81により出力されたウエハステージの位置座
標は、ウエハステージを制御するための信号として用い
られる。
【0059】さらに、マスクステージの位置座標、及び
ウエハステージの位置座標は、ウエハ上に結像する電子
線の位置を偏向するための補正信号として用いられる。
すなわち、レーザー干渉測長器80により出力されたマ
スクステージの位置座標をXmask、Ymaskと
し、他方のレーザー干渉測長器81により出力されたウ
エハステージの位置座標をXwafer、Ywafer
として、δX=Xmask−4Xwafer、δY=Y
mask−4Ywaferをマスクステージとウエハス
テージの同期走査の位置補正信号として電子レンズ73
の下部に設けられたビーム偏向部(図示せず)に入力す
る。
ウエハステージの位置座標は、ウエハ上に結像する電子
線の位置を偏向するための補正信号として用いられる。
すなわち、レーザー干渉測長器80により出力されたマ
スクステージの位置座標をXmask、Ymaskと
し、他方のレーザー干渉測長器81により出力されたウ
エハステージの位置座標をXwafer、Ywafer
として、δX=Xmask−4Xwafer、δY=Y
mask−4Ywaferをマスクステージとウエハス
テージの同期走査の位置補正信号として電子レンズ73
の下部に設けられたビーム偏向部(図示せず)に入力す
る。
【0060】ビーム偏向部は上記δX、δYに基づいて
電場をかけ、電子ビームをウエア上の所定位置に照射す
る。上記位置補正信号の精度は、ウエハ上に転写される
パターンの位置精度を決定するものであり、nmオーダの
精度が要求される。
電場をかけ、電子ビームをウエア上の所定位置に照射す
る。上記位置補正信号の精度は、ウエハ上に転写される
パターンの位置精度を決定するものであり、nmオーダの
精度が要求される。
【0061】本実施形態は、電子レンズ、鏡筒、及びレ
ーザー干渉測長器を搭載する第1の定盤90と、マスク
ステージ、ウエハステージのアクチュエータと当該アク
チュエータにより駆動される主要な機構部分を搭載する
第2の定盤91とを別々にすることを特徴とする。すな
わち、第2の定盤91には、X軸アクチュエータ、Y軸
アクチュエータと、Yスライド軸を支持する部材である
Yエアースライド軸受け、カップリング部、Xスライド
軸、Xエアースライドプレート、Xエアースライド軸受
けを設置する。なお各定盤は、防振機能を有しているこ
とは言うまでもない。
ーザー干渉測長器を搭載する第1の定盤90と、マスク
ステージ、ウエハステージのアクチュエータと当該アク
チュエータにより駆動される主要な機構部分を搭載する
第2の定盤91とを別々にすることを特徴とする。すな
わち、第2の定盤91には、X軸アクチュエータ、Y軸
アクチュエータと、Yスライド軸を支持する部材である
Yエアースライド軸受け、カップリング部、Xスライド
軸、Xエアースライドプレート、Xエアースライド軸受
けを設置する。なお各定盤は、防振機能を有しているこ
とは言うまでもない。
【0062】特に、高加速度、高速度を要求されるステ
ージの駆動による振動やステージが往復運動するときの
反力による振動は大きく、防振機能により完全に除去す
ることは困難になっている。本実施形態によれば、ステ
ージの機構系を設置する第2の定盤91に振動が残存し
ても、当該振動はレーザー干渉測長器、電子レンズや鏡
筒を搭載する第1の定盤90に伝わりにくく、nmオーダ
の計測精度を行うことができ、ひいては露光装置の描画
精度を格段に向上することができる。
ージの駆動による振動やステージが往復運動するときの
反力による振動は大きく、防振機能により完全に除去す
ることは困難になっている。本実施形態によれば、ステ
ージの機構系を設置する第2の定盤91に振動が残存し
ても、当該振動はレーザー干渉測長器、電子レンズや鏡
筒を搭載する第1の定盤90に伝わりにくく、nmオーダ
の計測精度を行うことができ、ひいては露光装置の描画
精度を格段に向上することができる。
【0063】第1の定盤90と第2の定盤91とは、隔
壁により結合されているが、当該隔壁を伸縮自在の蛇腹
状の金属、若しくはゴムなどの弾性体により構成するこ
とにより、隔壁をダンパーとして作用させ、第2の定盤
から第1の定盤への振動の伝達を防止することができ
る。
壁により結合されているが、当該隔壁を伸縮自在の蛇腹
状の金属、若しくはゴムなどの弾性体により構成するこ
とにより、隔壁をダンパーとして作用させ、第2の定盤
から第1の定盤への振動の伝達を防止することができ
る。
【0064】また、隔壁は真空チャンバー壁面の真空引
きによる変形の影響を少なくすることができる。すなわ
ち、真空チャンバーが変形しても、当該変形を蛇腹形状
などで吸収し、スライド軸、エアースライド軸受けへの
影響を抑え、ステージの精度を維持することが可能とな
る。
きによる変形の影響を少なくすることができる。すなわ
ち、真空チャンバーが変形しても、当該変形を蛇腹形状
などで吸収し、スライド軸、エアースライド軸受けへの
影響を抑え、ステージの精度を維持することが可能とな
る。
【0065】図中、符号92はダンパーであり、符号9
3は支柱である。支柱93は定盤を設置する基礎に固定
され、支柱の上部に設けられたダンパー93により第2
の定盤と連結している。これらは、各ステージが往復運
動した際の反力を逃がすためのものであり、反力による
定盤の振動を防止することができる。
3は支柱である。支柱93は定盤を設置する基礎に固定
され、支柱の上部に設けられたダンパー93により第2
の定盤と連結している。これらは、各ステージが往復運
動した際の反力を逃がすためのものであり、反力による
定盤の振動を防止することができる。
【0066】なお、本実施形態のXYステージは第1の
実施形態のものとほぼ同様であるが、細部において異な
っている。たとえば、第1の実施形態(図1)ではカッ
プリング部8は、縦断面形状が逆「T」の字になってお
り、当該カップリング部の案内としての第2のXエアー
スライド軸受け9が水平に設置されている。一方、本実
施形態では、カップリング部95の縦断面形状は「T」
の字を右回りに90度回転させた形状となっている。さ
らに、当該カップリング部95の案内としての第2のX
エアースライド軸受け96は立てて配置される。カップ
リング部95をこのようにYスライド軸の移動方向に向
けて配置することにより、カップリング部の剛性が向上
し、リニアモータによる大駆動力をYスライド軸に伝達
できるようになる。
実施形態のものとほぼ同様であるが、細部において異な
っている。たとえば、第1の実施形態(図1)ではカッ
プリング部8は、縦断面形状が逆「T」の字になってお
り、当該カップリング部の案内としての第2のXエアー
スライド軸受け9が水平に設置されている。一方、本実
施形態では、カップリング部95の縦断面形状は「T」
の字を右回りに90度回転させた形状となっている。さ
らに、当該カップリング部95の案内としての第2のX
エアースライド軸受け96は立てて配置される。カップ
リング部95をこのようにYスライド軸の移動方向に向
けて配置することにより、カップリング部の剛性が向上
し、リニアモータによる大駆動力をYスライド軸に伝達
できるようになる。
【0067】
【発明の効果】請求項1、3、または4記載の発明によ
れば、真空チャンバーの内部で使用されるステージ機構
にも関わらず、案内を非接触とすることができ、駆動時
の振動を無くし、真直度、ヨウ(Yaw)、ロール(R
oll)、ピッチ(Pitch)といった走り精度を長
期間にわたって高精度に維持することができる。
れば、真空チャンバーの内部で使用されるステージ機構
にも関わらず、案内を非接触とすることができ、駆動時
の振動を無くし、真直度、ヨウ(Yaw)、ロール(R
oll)、ピッチ(Pitch)といった走り精度を長
期間にわたって高精度に維持することができる。
【0068】また、真空チャンバー壁面の1側面のみを
Yスライド軸2が貫通しステージ基板3を支持すること
で真空チャンバー本体の1面だけにアクチュエータを配
置することが可能になり、真空チャンバーの3面が自由
なスペースとなり、ここに測長系及び搬送系を配置する
ことができる、また、機構系全体を直方体のチャンバー
で覆う様な従来の装置と比較し、真空チャンバーの容量
を小さくすることができ、所定の真空度へ到達する時間
を短くすることができる。さらに、請求項1、3、4、
9、又は10記載の発明によれば、案内にエアースライ
ドを採用したのにもかかわらず、真空チャンバー内の真
空度を高真空に維持することができる。請求項2、7、
8記載の発明によれば、Yステージの高加速、高速化を
達成することができる。
Yスライド軸2が貫通しステージ基板3を支持すること
で真空チャンバー本体の1面だけにアクチュエータを配
置することが可能になり、真空チャンバーの3面が自由
なスペースとなり、ここに測長系及び搬送系を配置する
ことができる、また、機構系全体を直方体のチャンバー
で覆う様な従来の装置と比較し、真空チャンバーの容量
を小さくすることができ、所定の真空度へ到達する時間
を短くすることができる。さらに、請求項1、3、4、
9、又は10記載の発明によれば、案内にエアースライ
ドを採用したのにもかかわらず、真空チャンバー内の真
空度を高真空に維持することができる。請求項2、7、
8記載の発明によれば、Yステージの高加速、高速化を
達成することができる。
【0069】請求項9記載の発明によれば、第1のエア
ーパッドによる圧縮気体を効果的に排気することがで
き、前記第1の排気溝による排気効率を向上させ、真空
チャンバー内部の真空度を容易に維持することができ
る。
ーパッドによる圧縮気体を効果的に排気することがで
き、前記第1の排気溝による排気効率を向上させ、真空
チャンバー内部の真空度を容易に維持することができ
る。
【0070】請求項10記載の発明によれば、コンパク
トなXエアースライド機構を提供することができる。
トなXエアースライド機構を提供することができる。
【0071】請求項12、又は13記載の発明によれ
ば、温度変化(特に真空引きによる急激な温度変化)に
よるステージ基板の膨張を小さく抑えることができる。
さらに、XYステージの高加速度、高速度化による移動
鏡の位置ずれや面形状の変化がなくなり、レーザー干渉
測長器によるXYステージの高精度な位置決めを達成す
ることができる。
ば、温度変化(特に真空引きによる急激な温度変化)に
よるステージ基板の膨張を小さく抑えることができる。
さらに、XYステージの高加速度、高速度化による移動
鏡の位置ずれや面形状の変化がなくなり、レーザー干渉
測長器によるXYステージの高精度な位置決めを達成す
ることができる。
【0072】請求項14記載の発明によれば、ステージ
の機構系を設置する第2の定盤91に振動が残存して
も、当該振動はレーザー干渉測長器、電子レンズや鏡筒
を搭載する第1の定盤90に伝わりにくく、nmオーダの
計測精度を行うことができ、ひいては露光装置の描画精
度を格段に向上することができる。
の機構系を設置する第2の定盤91に振動が残存して
も、当該振動はレーザー干渉測長器、電子レンズや鏡筒
を搭載する第1の定盤90に伝わりにくく、nmオーダの
計測精度を行うことができ、ひいては露光装置の描画精
度を格段に向上することができる。
【0073】請求項15記載の発明によれば、Yステー
ジが往復運動した際の反力を逃がすことができ、反力に
よる定盤の振動を防止することができる。
ジが往復運動した際の反力を逃がすことができ、反力に
よる定盤の振動を防止することができる。
【0074】請求項5または6記載の発明によれば、真
空チャンバー壁面が真空引きにより変形しても、当該変
形を蛇腹形状などで吸収し、スライド軸、エアースライ
ド軸受けへの影響を抑えることができ、ステージの精度
を維持することが可能となる。
空チャンバー壁面が真空引きにより変形しても、当該変
形を蛇腹形状などで吸収し、スライド軸、エアースライ
ド軸受けへの影響を抑えることができ、ステージの精度
を維持することが可能となる。
【図1】本発明の第1の実施形態の構成を示す外観図で
あり、(a)は上面図であり、(b)は(a)における
AーA‘断面図である。
あり、(a)は上面図であり、(b)は(a)における
AーA‘断面図である。
【図2】本発明の第2の実施形態の構成を示す外観図で
あり、(a)は上面図であり、(b)は(a)における
AーA‘断面図である。
あり、(a)は上面図であり、(b)は(a)における
AーA‘断面図である。
【図3】本発明の第3の実施形態の構成を示す外観図で
あり、(a)は上面図であり、(b)は(a)における
AーA‘断面図である。
あり、(a)は上面図であり、(b)は(a)における
AーA‘断面図である。
【図4】本発明のエアースライド軸受けの分解斜視図あ
る。
る。
【図5】本発明の実施形態における、Yスライド軸、Y
エアースライド軸受け、固定プレート、Xエアスライド
プレート及び配管の状態を示した詳細断面図である。
エアースライド軸受け、固定プレート、Xエアスライド
プレート及び配管の状態を示した詳細断面図である。
【図6】真空チャンバーの開口部を覆うXエアスライド
プレートの斜視図である。
プレートの斜視図である。
【図7】ステージ基板の斜視図である。
【図8】走査型露光装置の実施形態の縦断面図である。
【図9】従来例の構成を示す縦断面図である。
【図10】他の従来例の構成を示す側面図である。
1 真空チャンバー 2 Yスライド軸 3 ステージ基板 4 Yエアースライド軸受け 5 Xエアースライドプレート 6 第1のエアースライド軸受け 7 Y軸アクチュエータ 8 カップリング部 9 第2のエアースライド軸 10 開口部 11 固定プレート 12 隔壁 13 第1のエアーパッド 14 第1の排気溝 15 第2のエアーパッド 16 第2の排気溝
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F078 CA02 CA08 CB05 CB13 5F046 CC01 CC03 CC16 CC18 CD01 CD04 DA05 DB05 GA11 GA14 GA18 5F056 CB22 CB24 CC05 EA14
Claims (15)
- 【請求項1】真空チャンバー壁面の1側面のみを貫通
し、真空チャンバー内に配設されたステージ基板を片持
ちの状態にて保持するYスライド軸と、 前記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部に配
置されたYエアースライド軸受けと、 前記Yエアースライド軸受けの真空チャンバー側の端面
に固定され、Yスライド軸と直交する方向に移動可能な
Xエアースライドプレートと、 前記Xエアースライドプレートを上下及び左右方向から
挟み込んで非接触支持する第1のエアースライド軸受け
と、 前記Yスライド軸の真空チャンバー外部の端面に設けら
れY軸アクチュエータによる駆動力を伝達するととも
に、前記Xエアースライドプレートと平行に移動可能な
カップリング部とを有し、 前記カップリングの案内としての第2のXエアースライ
ド軸受けと、 前記Yスライド軸受けのYスライド軸に対向する摺動面
に配置され、前記Yスライド軸を圧縮気体により浮上さ
せる第1のエアーパッドと、前記Yエアースライド軸受
けの摺動面に前記第1のエアーパッドより真空チャンバ
ーの方向に前記Yスライド軸を取り囲むように配置さ
れ、前記第1のエアーパッドによる気体を排気する第1
の排気溝と、 前記Xエアースライドプレート上で前記第1のXエアー
スライド軸受けとの摺動面に当該Xエアースライドプレ
ートを浮上させるための圧縮気体を供給する第2のエア
ーパッドと、前記Xエアースライドプレート上で前記第
1のXエアースライド軸受けの真空チャンバー側の固定
プレートとの摺動面に前記固定プレート上の開口部を取
り囲むように配置され、前記第2のエアーパッドによる
気体を排気するための第2の排気溝とを備え、 前記Yスライド軸を浮上させた状態でY軸アクチュエー
タによりステージを駆動し、前記Xエアースライドプレ
ート及び前記カップリング部を浮上させた状態でX軸ア
クチュエータによりステージを駆動することを特徴とす
るXYステージ機構。 - 【請求項2】請求項1記載のXYステージ機構におい
て、 前記カップリング部の縦断面形状を「T」の字を90度
回転させた形状とすることを特徴とするXYステージ機
構。 - 【請求項3】真空チャンバー壁面の1側面のみを貫通
し、真空チャンバー内に配接されたステージ基板を片持
ちの状態で保持するYスライド軸と、 前記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部に配
置されるYエアースライド軸受けと、 前記Yエアースライド軸受けの真空チャンバー側の端面
に固定され、Yスライド軸と直交する方向に移動可能な
Xエアースライドプレートと、 前記Xエアースライドプレートを上下及び左右方向から
挟み込んで非接触支持する第1のXエアースライド軸受
けと、 前記Yエアースライド軸受けを支持し、前記Xエアース
ライドプレートに平行に移動可能なXスライド軸と、 前記Xスライド軸の案内としての第2のXエアースライ
ド軸受けと、 前記Yスライド軸の真空チャンバー外部の端面に設けら
れY軸アクチュエータによる駆動力を伝達するととも
に、前記Xエアースライドプレート及びXスライド軸の
移動にともなって平行に移動するカップリング部とを有
し、 前記Yスライド軸受けのYスライド軸に対向する摺動面
に配置され、前記Yスライド軸を圧縮気体により浮上さ
せる第1のエアーパッドと、前記Yエアースライド軸受
けの摺動面に前記第1のエアーパッドより真空チャンバ
ーの方向に前記Yスライド軸を取り囲むように配置さ
れ、前記第1のエアーパッドによる気体を排気する第1
の排気溝と、 前記Xエアースライドプレート上で前記第1のXエアー
スライド軸受けとの摺動面に当該Xエアースライドプレ
ートを浮上させるための圧縮気体を供給する第2のエア
ーパッドと、前記Xエアースライドプレート上で前記第
1のXエアースライド軸受けの真空チャンバー側の固定
プレートとの摺動面に前記固定プレート上の開口部を取
り囲むように配置され、前記第2のエアーパッドによる
気体を排気するための第2の排気溝とを備え、 前記Yスライド軸を浮上させた状態でY軸アクチュエー
タによりステージを駆動し、前記Xエアースライドプレ
ート及び前記Xスライド軸を浮上させた状態でX軸アク
チュエータによりステージを駆動することを特徴とする
XYステージ機構。 - 【請求項4】真空チャンバー壁面の1側面のみを貫通
し、真空チャンバー内に配設されたステージ基板を片持
ちの状態で保持するYスライド軸と、 前記Yスライド軸の案内として真空チャンバー外部に配
置されるYエアースライド軸受けと、 前記Yエアースライド軸受けの両端に互いに平行に固定
され、前記Yスライド軸に直交する方向に移動可能な2
枚のXエアースライドプレートと、 前記各Xエアースライドプレートをそれぞれ上下及び左
右から挟みこんで非接触支持する2つのXエアースライ
ド軸受けと、 前記Yスライド軸の真空チャンバー外部の端面に設けら
れY軸アクチュエータによる駆動力を伝達するととも
に、前記Xエアースライドプレートの移動にともなって
Xエアースライドプレートに対して平行に移動するカッ
プリング部とを有し、 前記Yスライド軸受けのYスライド軸に対向する摺動面
に配置され、前記Yスライド軸を圧縮気体により浮上さ
せる第1のエアーパッドと、前記Yエアースライド軸受
けの摺動面に前記第1のエアーパッドより真空チャンバ
ーの方向に前記Yスライド軸を取り囲むように配置さ
れ、前記第1のエアーパッドによる気体を排気する第1
の排気溝と、 前記Xエアースライドプレート上で前記第1のXエアー
スライド軸受けとの摺動面に当該Xエアースライドプレ
ートを浮上させるための圧縮気体を供給する第2のエア
ーパッドと、前記Xエアースライドプレート上で前記第
1のXエアースライド軸受けの真空チャンバー側の固定
プレートとの摺動面に前記固定プレート上の開口部を取
り囲むように配置され、前記第2のエアーパッドによる
気体を排気するための第2の排気溝とを備え、 前記Yスライド軸を浮上させた状態でY軸アクチュエー
タによりステージを駆動し、前記2枚のXエアースライ
ドプレートを浮上させた状態でX軸アクチュエータによ
りステージを駆動することを特徴とするXYステージ機
構。 - 【請求項5】請求項1、2、3又は4記載のXYステー
ジ機構において、 前記Yスライド軸の貫通による真空チャンバーの開口部
と、前記第1のYエアースライド軸受けの真空チャンバ
ー側の固定プレートに設けられた開口部とを覆い、真空
チャンバー内への気体の流入を防止する隔壁を備えたこ
とを特徴とするXYステージ機構。 - 【請求項6】請求項5記載のXYステージ機構におい
て、 前記隔壁を伸縮自在な蛇腹状の金属または弾性体により
構成することを特徴とするXYステージ機構。 - 【請求項7】請求項1、2、3、4、5又は6記載のX
Yステージ機構において、 X軸アクチュエータ又はY軸アクチュエータはリニアモ
ータ又はエアーシリンダであることを特徴とするXYス
テージ機構。 - 【請求項8】請求項1、2、3、4、5、6又は7記載
のXYステージ機構において、 Yスライド軸の断面形状を四角形とすることを特徴とす
るXYステージ機構。 - 【請求項9】請求項1、2、3、4、5、6、7又は8
記載のXYステージ機構において、 前記Yエアースライド軸受けのYスライド軸に対向する
摺動面に前記第1のエアーパッドを取り囲むように排気
溝を設け、当該排気溝は真空チャンバーとは反対方向の
Yエアースライド軸受けの側面にて開通することを特徴
とするXYステージ機構。 - 【請求項10】請求項1、2、3、4、5、6、7、8
又は9記載のXYステージ機構において、 前記第2のエアーパッドは、Xエアースライドプレート
の両側側面を除く全ての面にパッドを配置し、真空チャ
ンバー側の前記固定プレートに対向するXエアースライ
ドプレートの摺動面において、前記第2の排気溝の外側
にパッドを配置することを特徴とするXYステージ機
構。 - 【請求項11】請求項1、2、3、4、5、6、7、
8、9又は10記載のXYステージ機構において、 前記Yスライド軸、Yエアースライド軸受け、Xエアー
スライドプレートと、Xエアースライド軸受けをセラミ
ックスにより構成することを特徴とするXYステージ機
構。 - 【請求項12】請求項1、2、3、4、5、6、7、
8、9、10又は11記載のXYステージ機構におい
て、 前記ステージ基板の互いに直交する側壁の2面を鏡面と
し、レーザー干渉測長器の移動鏡として使用することを
特徴とするXYステージ機構。 - 【請求項13】請求項11記載のXYステージ機構にお
いて、 前記ステージ基板をコージライトにより構成することを
特徴とするXYステージ機構。 - 【請求項14】請求項1、2、3、4、5、6、7、
8、9、10、11、12又は13記載のXYステージ
機構を備え、 前記ステージ基盤の位置を計測するレーザー干渉測長
器、及び前記真空チャンバーを搭載する第1の定盤と、 前記X軸アクチュエータ、前記Y軸アクチュエータ、及
びYスライド軸を支持する部材を搭載する第2の定盤と
を有することを特徴とする露光装置。 - 【請求項15】請求項14記載の露光装置において、基
礎に固定した支柱の上部にダンパーを取り付け、当該ダ
ンパーと前記第2の定盤とを連結することを特徴とする
露光装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27388999A JP2001091681A (ja) | 1999-09-28 | 1999-09-28 | Xyステージ機構及び露光装置 |
NL1015738A NL1015738C2 (nl) | 1999-07-28 | 2000-07-18 | Schuifapparaat en bijbehorend platformmechanisme voor gebruik in vacu³m. |
DE10036217A DE10036217A1 (de) | 1999-07-28 | 2000-07-25 | Gleitvorrichtung sowie ein zugehöriger Tischmechanismus zur Verwendung im Vakuum |
US09/625,656 US6510755B1 (en) | 1999-07-28 | 2000-07-26 | Slide apparatus and its stage mechanism for use in vacuum |
US10/300,338 US6732610B2 (en) | 1999-07-28 | 2002-11-20 | Slide apparatus and its stage mechanism for use in vacuum |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27388999A JP2001091681A (ja) | 1999-09-28 | 1999-09-28 | Xyステージ機構及び露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001091681A true JP2001091681A (ja) | 2001-04-06 |
Family
ID=17533996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27388999A Pending JP2001091681A (ja) | 1999-07-28 | 1999-09-28 | Xyステージ機構及び露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001091681A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002198310A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-07-12 | Nikon Corp | ステージ装置及び露光装置 |
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JP2011522397A (ja) * | 2008-04-25 | 2011-07-28 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 真空内使用のためのロボット |
JP2012134485A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
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-
1999
- 1999-09-28 JP JP27388999A patent/JP2001091681A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US8932042B2 (en) | 2010-12-21 | 2015-01-13 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
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US10503086B2 (en) | 2016-01-07 | 2019-12-10 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
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