JP2001041896A - ロール状フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - Google Patents
ロール状フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置Info
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- JP2001041896A JP2001041896A JP11212814A JP21281499A JP2001041896A JP 2001041896 A JP2001041896 A JP 2001041896A JP 11212814 A JP11212814 A JP 11212814A JP 21281499 A JP21281499 A JP 21281499A JP 2001041896 A JP2001041896 A JP 2001041896A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ロール状フィルムの内部に生じる欠陥(特に
異物による欠陥)を誤検出することなく、正確に、かつ
精度良く検出できるようにする。 【解決手段】 第1照明装置2Aが、ロール幅方向全面
に第1光を照射する。また、画像入力装置3の視線を挟
んで第1照明装置2Aに対して反対側に配設された第2
照明装置2Bが、ロール状フィルム1の表面の疑似欠陥
の発生を抑制しうるようにロール幅方向全面に第2光を
照射する。さらに、第1照明装置2Aと第2照明装置2
Bとの間に配設された第3照明装置2Cが、ロール状フ
ィルム1の内部の疑似欠陥の発生を抑制しうるようにロ
ール幅方向全面に第3光を照射する。そして、画像入力
装置3が、各照明装置2A,2B,2Cにより照射され
たロール状フィルム1の幅方向全面の反射画像を撮像
し、撮像された画像情報に基づいて画像処理装置4がロ
ール状フィルム1の内部の欠陥の有無を検出する。
異物による欠陥)を誤検出することなく、正確に、かつ
精度良く検出できるようにする。 【解決手段】 第1照明装置2Aが、ロール幅方向全面
に第1光を照射する。また、画像入力装置3の視線を挟
んで第1照明装置2Aに対して反対側に配設された第2
照明装置2Bが、ロール状フィルム1の表面の疑似欠陥
の発生を抑制しうるようにロール幅方向全面に第2光を
照射する。さらに、第1照明装置2Aと第2照明装置2
Bとの間に配設された第3照明装置2Cが、ロール状フ
ィルム1の内部の疑似欠陥の発生を抑制しうるようにロ
ール幅方向全面に第3光を照射する。そして、画像入力
装置3が、各照明装置2A,2B,2Cにより照射され
たロール状フィルム1の幅方向全面の反射画像を撮像
し、撮像された画像情報に基づいて画像処理装置4がロ
ール状フィルム1の内部の欠陥の有無を検出する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばロール状フ
ィルムの内部の異物等による欠陥を検出する欠陥検出装
置及び欠陥検出方法に関し、特に、透明又は半透明のロ
ール状フィルムに用いて好適の、ロール状フィルムの欠
陥検出方法及び欠陥検出装置に関する。
ィルムの内部の異物等による欠陥を検出する欠陥検出装
置及び欠陥検出方法に関し、特に、透明又は半透明のロ
ール状フィルムに用いて好適の、ロール状フィルムの欠
陥検出方法及び欠陥検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から紙管にロール巻きされたロール
状フィルムのフィルム巻取時等に生じる異物等の欠陥検
出を画像処理技術を用いて自動化する試みがなされてい
る。このような技術として、例えば特開平6−1478
68号公報(以下、第1公報という)に開示された技術
がある。この技術では、固体撮像カメラによりシート巻
体の外周面からの反射画像を取り込み、不良部のない反
射画像と比較して、不良があるか否かを判別するように
している。
状フィルムのフィルム巻取時等に生じる異物等の欠陥検
出を画像処理技術を用いて自動化する試みがなされてい
る。このような技術として、例えば特開平6−1478
68号公報(以下、第1公報という)に開示された技術
がある。この技術では、固体撮像カメラによりシート巻
体の外周面からの反射画像を取り込み、不良部のない反
射画像と比較して、不良があるか否かを判別するように
している。
【0003】また、例えば特開平9−133638号公
報(以下、第2公報という)に開示された技術では、主
光及び副光の2つの光を照射して、ロール状フィルムの
巻き終わり等の疑似欠陥の検出を抑制し、ロール状フィ
ルムの異物等による欠陥を検出できるようにしている。
報(以下、第2公報という)に開示された技術では、主
光及び副光の2つの光を照射して、ロール状フィルムの
巻き終わり等の疑似欠陥の検出を抑制し、ロール状フィ
ルムの異物等による欠陥を検出できるようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ロール状フ
ィルムのフィルム巻取時等に生じる異物による欠陥は、
主にロール状フィルムの内部に生じるものである。この
ため、このようなロール状フィルムの内部に生じる欠陥
を検出するためには、ロール状フィルムの内部まで照射
光が到達するように例えば光量の高い光を照射し、これ
を画像入力装置(例えばイメージセンサ)により取り込
み、画像処理して欠陥検出を行なうことが考えられる。
ィルムのフィルム巻取時等に生じる異物による欠陥は、
主にロール状フィルムの内部に生じるものである。この
ため、このようなロール状フィルムの内部に生じる欠陥
を検出するためには、ロール状フィルムの内部まで照射
光が到達するように例えば光量の高い光を照射し、これ
を画像入力装置(例えばイメージセンサ)により取り込
み、画像処理して欠陥検出を行なうことが考えられる。
【0005】しかし、このように光量の高い光を照射し
ても、例えばロール状フィルムの表面の巻き終わりによ
ってロール状フィルムの表面で散乱したり、ロール状フ
ィルムの内部のフィルム内空洞(気泡,隙間)によって
多重反射したりして、これらのロール状フィルムの巻き
終わりやフィルム内空洞等はロール状フィルムの異物に
よる欠陥と同程度の輝度(濃度)のもの(疑似欠陥)と
して画像入力装置により取り込まれてしまい、これらの
疑似欠陥をロール状フィルムの内部の異物による欠陥と
誤検出することなく、確実に欠陥検出を行なうのは容易
ではない。
ても、例えばロール状フィルムの表面の巻き終わりによ
ってロール状フィルムの表面で散乱したり、ロール状フ
ィルムの内部のフィルム内空洞(気泡,隙間)によって
多重反射したりして、これらのロール状フィルムの巻き
終わりやフィルム内空洞等はロール状フィルムの異物に
よる欠陥と同程度の輝度(濃度)のもの(疑似欠陥)と
して画像入力装置により取り込まれてしまい、これらの
疑似欠陥をロール状フィルムの内部の異物による欠陥と
誤検出することなく、確実に欠陥検出を行なうのは容易
ではない。
【0006】そこで、例えば照明装置や画像入力装置等
の配置や角度等を調整して、欠陥部分と疑似欠陥部分と
の濃淡の差を際立たせ、精度良く異物による欠陥検出を
行なえるようにすることが考えられるが、実際には、異
物による欠陥に応じて光学系を構成する照明装置や画像
入力装置等の配置や角度等を適切に調整するのは難し
い。
の配置や角度等を調整して、欠陥部分と疑似欠陥部分と
の濃淡の差を際立たせ、精度良く異物による欠陥検出を
行なえるようにすることが考えられるが、実際には、異
物による欠陥に応じて光学系を構成する照明装置や画像
入力装置等の配置や角度等を適切に調整するのは難し
い。
【0007】例えば、上述の第1公報で開示された技術
も、取り込んだ画像を良品の画像と比較するのみである
ため、欠陥の種類によっては確実に欠陥を検出すること
ができない場合もある。また、上述の第2公報で開示さ
れた技術も、例えばロール状フィルムの内部のフィルム
内空洞(気泡,隙間)等の疑似欠陥の検出を抑制するの
は難しく、ロール状フィルムの異物による欠陥を確実に
検出できるとはいえない。
も、取り込んだ画像を良品の画像と比較するのみである
ため、欠陥の種類によっては確実に欠陥を検出すること
ができない場合もある。また、上述の第2公報で開示さ
れた技術も、例えばロール状フィルムの内部のフィルム
内空洞(気泡,隙間)等の疑似欠陥の検出を抑制するの
は難しく、ロール状フィルムの異物による欠陥を確実に
検出できるとはいえない。
【0008】たとえ、このような光学系の調整である程
度欠陥部分と疑似欠陥部分との濃淡の差を際立たせるこ
とができ、欠陥検出の精度をある程度高めることができ
るとしても、これにも限界がある。つまり、光学系を調
整することで欠陥部分と疑似欠陥部分との濃淡の差を際
立たせようとしても、欠陥部分と疑似欠陥部分とは共に
同一の光学系によって照射されるため、これらの欠陥部
分と疑似欠陥部分との間の濃淡の差は出にくく、光学系
の調整だけでは欠陥検出の精度を高めることは難しい。
度欠陥部分と疑似欠陥部分との濃淡の差を際立たせるこ
とができ、欠陥検出の精度をある程度高めることができ
るとしても、これにも限界がある。つまり、光学系を調
整することで欠陥部分と疑似欠陥部分との濃淡の差を際
立たせようとしても、欠陥部分と疑似欠陥部分とは共に
同一の光学系によって照射されるため、これらの欠陥部
分と疑似欠陥部分との間の濃淡の差は出にくく、光学系
の調整だけでは欠陥検出の精度を高めることは難しい。
【0009】そこで、上述のような光学系の調整のみで
なく、画像入力装置を介して取り込まれた画像の画像処
理においてロール状フィルムの内部に生じる異物による
欠陥を際立たせるように工夫する必要がある。
なく、画像入力装置を介して取り込まれた画像の画像処
理においてロール状フィルムの内部に生じる異物による
欠陥を際立たせるように工夫する必要がある。
【0010】ところで、一般的な画像処理技術では、例
えば微分処理等の特徴抽出処理により特徴部分を際立た
せるような処理を行なっている。しかし、このような特
徴抽出処理を行なう場合であっても特徴部分とその他の
部分との濃淡の差があまりない場合には特徴部分を際立
たせるのは難しい。これと同様に、異物の欠陥部分とロ
ール状フィルムの巻き終わり等の疑似欠陥部分との間の
濃淡の差があまりない場合にロール状フィルムの欠陥検
出において欠陥部分を際立たせるように画像処理するの
も難しい。
えば微分処理等の特徴抽出処理により特徴部分を際立た
せるような処理を行なっている。しかし、このような特
徴抽出処理を行なう場合であっても特徴部分とその他の
部分との濃淡の差があまりない場合には特徴部分を際立
たせるのは難しい。これと同様に、異物の欠陥部分とロ
ール状フィルムの巻き終わり等の疑似欠陥部分との間の
濃淡の差があまりない場合にロール状フィルムの欠陥検
出において欠陥部分を際立たせるように画像処理するの
も難しい。
【0011】また、異物による欠陥には例えば毛髪のよ
うに非常に微細なものも含まれるため、このような異物
による欠陥部分を際立たせるように画像処理するのも難
しい。また、ロール状フィルムの表面に生じる異物等の
欠陥の種類や光学系の調整の仕方によって画像入力装置
を介して画像処理装置に入力される画像の濃度(輝度)
は異なるものとなってしまうため、画像処理において入
力画像の濃度(輝度)をそのまま使って異物による欠陥
を判別するのは難しい。つまり、入力画像の全体の輝度
が高くなったり、低くなったりしてしまうため、これに
よって正常部分を欠陥部分と判別してしまったり、逆に
欠陥部分を正常部分と判別してしまったりする場合があ
り、精度良く欠陥検出を行なうのは難しい。
うに非常に微細なものも含まれるため、このような異物
による欠陥部分を際立たせるように画像処理するのも難
しい。また、ロール状フィルムの表面に生じる異物等の
欠陥の種類や光学系の調整の仕方によって画像入力装置
を介して画像処理装置に入力される画像の濃度(輝度)
は異なるものとなってしまうため、画像処理において入
力画像の濃度(輝度)をそのまま使って異物による欠陥
を判別するのは難しい。つまり、入力画像の全体の輝度
が高くなったり、低くなったりしてしまうため、これに
よって正常部分を欠陥部分と判別してしまったり、逆に
欠陥部分を正常部分と判別してしまったりする場合があ
り、精度良く欠陥検出を行なうのは難しい。
【0012】本発明は、このような課題に鑑み創案され
たもので、光学系の調整と画像処理とを最適なものとす
ることで、ロール状フィルムの内部に生じる欠陥(特に
異物による欠陥)を誤検出することなく、正確に、かつ
精度良く欠陥検出を行なうことができるようにした、ロ
ール状フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供
することを目的とする。
たもので、光学系の調整と画像処理とを最適なものとす
ることで、ロール状フィルムの内部に生じる欠陥(特に
異物による欠陥)を誤検出することなく、正確に、かつ
精度良く欠陥検出を行なうことができるようにした、ロ
ール状フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供
することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】このため、請求項1記載
の本発明のロール状フィルムの欠陥検出方法は、ロール
状フィルムの内部の欠陥部分を照射しうるように該ロー
ル状フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第1光を照
射し、該ロール状フィルムの表面の疑似欠陥の検出を抑
制しうるように該ロール状フィルムの幅方向全面に1又
は2以上の第2光を照射し、該ロール状フィルムの内部
の疑似欠陥の検出を抑制しうるように該第1光と該第2
光との間から該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は
2以上の第3光を照射し、上記の第1光,第2光及び第
3光により照射された該ロール状フィルムの幅方向全面
の反射画像を撮像し、撮像された画像情報に基づいて該
ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を検出することを
特徴としている。
の本発明のロール状フィルムの欠陥検出方法は、ロール
状フィルムの内部の欠陥部分を照射しうるように該ロー
ル状フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第1光を照
射し、該ロール状フィルムの表面の疑似欠陥の検出を抑
制しうるように該ロール状フィルムの幅方向全面に1又
は2以上の第2光を照射し、該ロール状フィルムの内部
の疑似欠陥の検出を抑制しうるように該第1光と該第2
光との間から該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は
2以上の第3光を照射し、上記の第1光,第2光及び第
3光により照射された該ロール状フィルムの幅方向全面
の反射画像を撮像し、撮像された画像情報に基づいて該
ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を検出することを
特徴としている。
【0014】請求項2記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置は、照明装置により照射された該ロール
状フィルムの幅方向全面の反射画像を撮像する画像入力
装置と、該画像入力装置により撮像された画像情報に基
づいて該ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を検出す
る画像処理装置とを備え、該照明装置が、該ロール状フ
ィルムの内部の欠陥部分を照射しうるように該ロール状
フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第1光を照射す
る第1照明装置と、該画像入力装置の視線を挟んで該第
1照明装置に対して反対側に配設され、該ロール状フィ
ルムの表面の疑似欠陥の検出を抑制しうるように該ロー
ル状フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第2光を照
射する第2照明装置と、該第1照明装置と該第2照明装
置との間に配設され、該ロール状フィルムの内部の疑似
欠陥の検出を抑制しうるように該ロール状フィルムの幅
方向全面に1又は2以上の第3光を照射する第3照明装
置とを備えて構成されることを特徴としている。
の欠陥検出装置は、照明装置により照射された該ロール
状フィルムの幅方向全面の反射画像を撮像する画像入力
装置と、該画像入力装置により撮像された画像情報に基
づいて該ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を検出す
る画像処理装置とを備え、該照明装置が、該ロール状フ
ィルムの内部の欠陥部分を照射しうるように該ロール状
フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第1光を照射す
る第1照明装置と、該画像入力装置の視線を挟んで該第
1照明装置に対して反対側に配設され、該ロール状フィ
ルムの表面の疑似欠陥の検出を抑制しうるように該ロー
ル状フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第2光を照
射する第2照明装置と、該第1照明装置と該第2照明装
置との間に配設され、該ロール状フィルムの内部の疑似
欠陥の検出を抑制しうるように該ロール状フィルムの幅
方向全面に1又は2以上の第3光を照射する第3照明装
置とを備えて構成されることを特徴としている。
【0015】請求項3記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置は、照明装置により照射されたロール状
フィルムの幅方向全面の反射画像を撮像する画像入力装
置と、該画像入力装置により撮像された画像情報に基づ
いて該ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を検出する
画像処理装置とを備え、該画像処理装置が、該画像入力
装置により撮像された原画像の濃度ヒストグラムを得る
濃度ヒストグラム処理部と、該濃度ヒストグラム処理部
により求められた濃度ヒストグラムからベース画像を求
めるベース画像算出部と、該原画像と該ベース画像との
差から補正画像を求める補正画像算出部と、該補正画像
算出部により算出された該補正画像に基づいて該ロール
状フィルムの内部の欠陥の有無を判別する欠陥判別部と
を備えることを特徴としている。
の欠陥検出装置は、照明装置により照射されたロール状
フィルムの幅方向全面の反射画像を撮像する画像入力装
置と、該画像入力装置により撮像された画像情報に基づ
いて該ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を検出する
画像処理装置とを備え、該画像処理装置が、該画像入力
装置により撮像された原画像の濃度ヒストグラムを得る
濃度ヒストグラム処理部と、該濃度ヒストグラム処理部
により求められた濃度ヒストグラムからベース画像を求
めるベース画像算出部と、該原画像と該ベース画像との
差から補正画像を求める補正画像算出部と、該補正画像
算出部により算出された該補正画像に基づいて該ロール
状フィルムの内部の欠陥の有無を判別する欠陥判別部と
を備えることを特徴としている。
【0016】請求項4記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置は、請求項3記載の装置において、該照
明装置が、該ロール状フィルムの内部の欠陥部分を照射
しうるように該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は
2以上の第1光を照射する第1照明装置と、該画像入力
装置の視線を挟んで該第1照明装置に対して反対側に配
設され、該ロール状フィルムの表面の疑似欠陥の検出を
抑制しうるように該ロール状フィルムの幅方向全面に1
又は2以上の第2光を照射する第2照明装置と、該第1
照明装置と該第2照明装置との間に配設され、該ロール
状フィルムの内部の疑似欠陥の検出を抑制しうるように
該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第3
光を照射する第3照明装置とを備えて構成されることを
特徴としている。
の欠陥検出装置は、請求項3記載の装置において、該照
明装置が、該ロール状フィルムの内部の欠陥部分を照射
しうるように該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は
2以上の第1光を照射する第1照明装置と、該画像入力
装置の視線を挟んで該第1照明装置に対して反対側に配
設され、該ロール状フィルムの表面の疑似欠陥の検出を
抑制しうるように該ロール状フィルムの幅方向全面に1
又は2以上の第2光を照射する第2照明装置と、該第1
照明装置と該第2照明装置との間に配設され、該ロール
状フィルムの内部の疑似欠陥の検出を抑制しうるように
該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第3
光を照射する第3照明装置とを備えて構成されることを
特徴としている。
【0017】請求項5記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置は、請求項3又は4記載の装置におい
て、該画像処理装置が、該画像入力装置により撮像され
た原画像にエロード処理を行なって該濃度ヒストグラム
処理部及び該補正画像算出部へ出力するエロード処理部
と、該補正画像算出部により算出された該補正画像を二
値化処理する二値化処理部と、該二値化処理部により得
られた二値化画像をラベリング処理するラベリング処理
部とをさらに備え、該欠陥判別部が、該ラベリング処理
部による処理結果に基づいて該ロール状フィルムの内部
の異物による欠陥の有無を判別することを特徴としてい
る。
の欠陥検出装置は、請求項3又は4記載の装置におい
て、該画像処理装置が、該画像入力装置により撮像され
た原画像にエロード処理を行なって該濃度ヒストグラム
処理部及び該補正画像算出部へ出力するエロード処理部
と、該補正画像算出部により算出された該補正画像を二
値化処理する二値化処理部と、該二値化処理部により得
られた二値化画像をラベリング処理するラベリング処理
部とをさらに備え、該欠陥判別部が、該ラベリング処理
部による処理結果に基づいて該ロール状フィルムの内部
の異物による欠陥の有無を判別することを特徴としてい
る。
【0018】請求項6記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置は、請求項3〜5のいずれかに記載の装
置において、該ベース画像算出部が、該濃度ヒストグラ
ムの分散が小さい場合は該濃度ヒストグラム処理部によ
り得られた該濃度ヒストグラムの平均濃度値によりベー
ス画像の濃度値を算出し、該濃度ヒストグラムの分散が
大きい場合は該濃度ヒストグラム処理部により得られた
該濃度ヒストグラムの最小濃度値によりベース画像の濃
度値を算出することを特徴としている。
の欠陥検出装置は、請求項3〜5のいずれかに記載の装
置において、該ベース画像算出部が、該濃度ヒストグラ
ムの分散が小さい場合は該濃度ヒストグラム処理部によ
り得られた該濃度ヒストグラムの平均濃度値によりベー
ス画像の濃度値を算出し、該濃度ヒストグラムの分散が
大きい場合は該濃度ヒストグラム処理部により得られた
該濃度ヒストグラムの最小濃度値によりベース画像の濃
度値を算出することを特徴としている。
【0019】請求項7記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置は、請求項2,4〜6のいずれかに記載
の装置において、該ロール状フィルムの表面の疑似欠陥
が、該ロール状フィルムの巻き終わりにより生じたもの
であり、該ロール状フィルムの内部の疑似欠陥が、該ロ
ール状フィルムのフィルム内空洞により生じたものであ
り、該画像処理装置が、該ロール状フィルムの内部の異
物による欠陥の有無を検出することを特徴としている。
の欠陥検出装置は、請求項2,4〜6のいずれかに記載
の装置において、該ロール状フィルムの表面の疑似欠陥
が、該ロール状フィルムの巻き終わりにより生じたもの
であり、該ロール状フィルムの内部の疑似欠陥が、該ロ
ール状フィルムのフィルム内空洞により生じたものであ
り、該画像処理装置が、該ロール状フィルムの内部の異
物による欠陥の有無を検出することを特徴としている。
【0020】
【発明の実施形態】以下、図面により、本発明の実施の
形態について説明する。まず、本発明の一実施形態にか
かるロール状フィルムの欠陥検出装置について、図1〜
図8を参照しながら説明する。本実施形態にかかるロー
ル状フィルムの欠陥検出装置は、被検査対象物としての
ロール状フィルムの欠陥を検出するためのものである。
形態について説明する。まず、本発明の一実施形態にか
かるロール状フィルムの欠陥検出装置について、図1〜
図8を参照しながら説明する。本実施形態にかかるロー
ル状フィルムの欠陥検出装置は、被検査対象物としての
ロール状フィルムの欠陥を検出するためのものである。
【0021】まず、ロール状フィルム及びその欠陥の種
類について説明する。図2に示すように、ロール状フィ
ルム1は、透明又は半透明のフィルム(例えばラップフ
ィルム等)であって、筒状の芯〔紙管,例えば外径90
mm(半径45mm)〕1Bにフィルム1Aをロール状
に巻き取ったものである。ここでは1000m巻きフィ
ルムロール〔例えば外径154mm(半径77mm)〕
について説明する。
類について説明する。図2に示すように、ロール状フィ
ルム1は、透明又は半透明のフィルム(例えばラップフ
ィルム等)であって、筒状の芯〔紙管,例えば外径90
mm(半径45mm)〕1Bにフィルム1Aをロール状
に巻き取ったものである。ここでは1000m巻きフィ
ルムロール〔例えば外径154mm(半径77mm)〕
について説明する。
【0022】このようなロール状フィルム1の欠陥の種
類としては、図4(A)〜(F)に示すように、帯状シ
ワ50A,巻きコブ50B,傷50C,縦シワ50D,
斜めシワ50E,異物50F等がある。ここで、帯状シ
ワ50Aは、図4(A)に示すように、フィルムに局部
的に薄い部分がある場合等に生じる帯状のシワであり、
ある程度の幅αがあり、ロール表面全周にわたって生じ
るのが特徴である。
類としては、図4(A)〜(F)に示すように、帯状シ
ワ50A,巻きコブ50B,傷50C,縦シワ50D,
斜めシワ50E,異物50F等がある。ここで、帯状シ
ワ50Aは、図4(A)に示すように、フィルムに局部
的に薄い部分がある場合等に生じる帯状のシワであり、
ある程度の幅αがあり、ロール表面全周にわたって生じ
るのが特徴である。
【0023】巻きコブ50Bは、図4(B)に示すよう
に、フィルムを搬送するゴムロールの凹部等が原因とな
って生じるもので、ロール状に巻き取られた状態でロー
ル全周にわたって表面が盛り上がってコブ状になるのが
特徴である。この巻きコブには、高さの高いもの〔巻き
コブ(大)〕50BAと、高さの低いもの〔巻きコブ
(小)〕50BBがある。ここで、巻きコブ(小)50
BBは、高さが約50マイクロメートル(μm,ミクロ
ンともいう)〜約1000マイクロメートル程度で、幅
が約1〜2cm程度のものをいう。
に、フィルムを搬送するゴムロールの凹部等が原因とな
って生じるもので、ロール状に巻き取られた状態でロー
ル全周にわたって表面が盛り上がってコブ状になるのが
特徴である。この巻きコブには、高さの高いもの〔巻き
コブ(大)〕50BAと、高さの低いもの〔巻きコブ
(小)〕50BBがある。ここで、巻きコブ(小)50
BBは、高さが約50マイクロメートル(μm,ミクロ
ンともいう)〜約1000マイクロメートル程度で、幅
が約1〜2cm程度のものをいう。
【0024】傷50Cは、図4(C)に示すように、フ
ィルムをカットするカッタによる擦り傷等であって、ロ
ール表面全周にわたって生じるのが特徴である。縦シワ
50Dは、図4(D)に示すように、上述のシワと異な
りロール表面全周にわたらず、短い縦筋がランダムに入
るのが特徴である。斜めシワ50Eは、図4(E)に示
すように、フィルムのカット不良等によって生じるもの
である。特に巻きコブの回りに生じることが多い。
ィルムをカットするカッタによる擦り傷等であって、ロ
ール表面全周にわたって生じるのが特徴である。縦シワ
50Dは、図4(D)に示すように、上述のシワと異な
りロール表面全周にわたらず、短い縦筋がランダムに入
るのが特徴である。斜めシワ50Eは、図4(E)に示
すように、フィルムのカット不良等によって生じるもの
である。特に巻きコブの回りに生じることが多い。
【0025】異物50Fは、図4(F)に示すように、
例えばフィルムの焦げた部分やフィルム間に入り込んだ
虫や毛髪であり、主に黒色に見えるもので、ロール状フ
ィルム1の内部に生じるのが特徴である。この欠陥とさ
れる異物(黒異物ともいう)のサイズは、例えば約0.
4mm以上のものをいう。なお、このような欠陥ではな
いが、欠陥検出において欠陥として検出されてしまうも
の(疑似欠陥)として、ロール状フィルム1の表面の巻
き終わり50G〔図4(G)参照〕,ロール状フィルム
1の内部に生じるフィルム内空洞(例えば気泡,隙間)
50H〔図4(F)参照〕,ロール状フィルム1の内部
の巻き始め,紙管の螺旋等がある。
例えばフィルムの焦げた部分やフィルム間に入り込んだ
虫や毛髪であり、主に黒色に見えるもので、ロール状フ
ィルム1の内部に生じるのが特徴である。この欠陥とさ
れる異物(黒異物ともいう)のサイズは、例えば約0.
4mm以上のものをいう。なお、このような欠陥ではな
いが、欠陥検出において欠陥として検出されてしまうも
の(疑似欠陥)として、ロール状フィルム1の表面の巻
き終わり50G〔図4(G)参照〕,ロール状フィルム
1の内部に生じるフィルム内空洞(例えば気泡,隙間)
50H〔図4(F)参照〕,ロール状フィルム1の内部
の巻き始め,紙管の螺旋等がある。
【0026】本実施形態にかかるロール状フィルムの欠
陥検出装置は、これらの欠陥のうち、ロール状フィルム
1の内部の異物50Fによる欠陥を検出するものであ
る。この異物50Fによる欠陥の特徴は、上述のように
ロール状フィルム1の内部に生じることである。また、
この欠陥は、輝度の低い箇所を欠陥と認識する暗欠陥法
による欠陥検出によれば、欠陥部分の輝度が正常部分の
輝度よりも低い側(原画像が黒くなる側)へ突出すると
いう特徴もある。
陥検出装置は、これらの欠陥のうち、ロール状フィルム
1の内部の異物50Fによる欠陥を検出するものであ
る。この異物50Fによる欠陥の特徴は、上述のように
ロール状フィルム1の内部に生じることである。また、
この欠陥は、輝度の低い箇所を欠陥と認識する暗欠陥法
による欠陥検出によれば、欠陥部分の輝度が正常部分の
輝度よりも低い側(原画像が黒くなる側)へ突出すると
いう特徴もある。
【0027】そこで、本実施形態では、これらの欠陥の
特徴に着目し、輝度の低い箇所(原画像で黒い箇所)を
欠陥と認識する暗欠陥法により、輝度値のピーク値(マ
イナスピーク値)で欠陥の有無を検出するようにしてい
る。このため、本欠陥検出装置は、図2に示すように、
照明装置(光源)2と、画像入力装置3と、画像処理装
置(データ処理装置)4と、表示装置5とを備えて構成
される。
特徴に着目し、輝度の低い箇所(原画像で黒い箇所)を
欠陥と認識する暗欠陥法により、輝度値のピーク値(マ
イナスピーク値)で欠陥の有無を検出するようにしてい
る。このため、本欠陥検出装置は、図2に示すように、
照明装置(光源)2と、画像入力装置3と、画像処理装
置(データ処理装置)4と、表示装置5とを備えて構成
される。
【0028】なお、照明装置2と画像入力装置3とから
光学系が構成される。また、画像入力装置3により取り
込まれた画像情報(画像データ)を処理して欠陥を検出
する画像処理装置4から画像処理系(データ処理系,信
号処理系)が構成される。ここで、光学系は、以下の
〜の条件を満たすように構成する。これは、後述する
ように画像処理して異物50Fによる欠陥検出を行なう
場合に、ロール状フィルム1の内部にある異物50Fに
よる欠陥部分以外の正常部分の輝度が欠陥部分の輝度よ
りも高くなるように(即ち原画像が白くなるように)す
ることで、欠陥部分の輝度を相対的に低くして(即ち原
画像が黒くなるようにして)欠陥部分を際立たせ、これ
により、より確実に異物50Fによる欠陥を検出できる
ようにするためである。
光学系が構成される。また、画像入力装置3により取り
込まれた画像情報(画像データ)を処理して欠陥を検出
する画像処理装置4から画像処理系(データ処理系,信
号処理系)が構成される。ここで、光学系は、以下の
〜の条件を満たすように構成する。これは、後述する
ように画像処理して異物50Fによる欠陥検出を行なう
場合に、ロール状フィルム1の内部にある異物50Fに
よる欠陥部分以外の正常部分の輝度が欠陥部分の輝度よ
りも高くなるように(即ち原画像が白くなるように)す
ることで、欠陥部分の輝度を相対的に低くして(即ち原
画像が黒くなるようにして)欠陥部分を際立たせ、これ
により、より確実に異物50Fによる欠陥を検出できる
ようにするためである。
【0029】照明装置2からの照射光のうちロール状
フィルム1の表面の正常部分で反射する反射光のうち最
も輝度が高い範囲の反射光が画像入力装置3に入射しな
いように照明装置1と画像入力装置3との角度を調整す
る。 照明装置2は、なるべく光量の高いもの〔特に指向性
(又は平行度)の高いものが望ましい〕を使用する。こ
れは、このような照明装置2からの照射光をロール状フ
ィルム1の表面に対して垂直に入射させて、ロール状フ
ィルム1の表面での反射光を極力少なくし、ロール状フ
ィルム1の内部(できるだけ深部)まで照射光が到達す
るようにして、ロール状フィルム1の内部の異物50F
による欠陥を検出し易くなるためである。
フィルム1の表面の正常部分で反射する反射光のうち最
も輝度が高い範囲の反射光が画像入力装置3に入射しな
いように照明装置1と画像入力装置3との角度を調整す
る。 照明装置2は、なるべく光量の高いもの〔特に指向性
(又は平行度)の高いものが望ましい〕を使用する。こ
れは、このような照明装置2からの照射光をロール状フ
ィルム1の表面に対して垂直に入射させて、ロール状フ
ィルム1の表面での反射光を極力少なくし、ロール状フ
ィルム1の内部(できるだけ深部)まで照射光が到達す
るようにして、ロール状フィルム1の内部の異物50F
による欠陥を検出し易くなるためである。
【0030】画像入力装置3は、ロール状フィルム1
の表面の検査領域に対して、その光軸ができるだけ垂直
になるように配置する。また、照明装置2と画像入力装
置3との角度はできるだけ狭くなるように配置する。こ
れは、ロール状フィルム1の表面での反射光の影響を極
力少なくし、ロール状フィルム1の内部(特に深部)に
ある異物50Fによる欠陥部分を検出し易くするためで
ある。また、ロール状フィルム1には500m巻き〜1
000m巻きフィルムロール等の種々の種類(銘柄)が
あり、それぞれの種類によって巻き径が異なるため、こ
れによって画像入力装置3の光軸がずれてしまうため、
この画像入力装置3の光軸のずれを最小に抑えるためで
ある。また、画像入力装置3の光軸がロール状フィルム
1に対して斜めになっているほど画像入力装置3の光軸
がずれてしまうため、この画像入力装置3の光軸がなる
べくずれないようにするためである。このように配置す
ることで、測定精度を向上させることができるのであ
る。
の表面の検査領域に対して、その光軸ができるだけ垂直
になるように配置する。また、照明装置2と画像入力装
置3との角度はできるだけ狭くなるように配置する。こ
れは、ロール状フィルム1の表面での反射光の影響を極
力少なくし、ロール状フィルム1の内部(特に深部)に
ある異物50Fによる欠陥部分を検出し易くするためで
ある。また、ロール状フィルム1には500m巻き〜1
000m巻きフィルムロール等の種々の種類(銘柄)が
あり、それぞれの種類によって巻き径が異なるため、こ
れによって画像入力装置3の光軸がずれてしまうため、
この画像入力装置3の光軸のずれを最小に抑えるためで
ある。また、画像入力装置3の光軸がロール状フィルム
1に対して斜めになっているほど画像入力装置3の光軸
がずれてしまうため、この画像入力装置3の光軸がなる
べくずれないようにするためである。このように配置す
ることで、測定精度を向上させることができるのであ
る。
【0031】これらの条件を満たすように、本実施形態
では、以下のように、照明装置2,画像入力装置3が構
成される。照明装置2は、第1光を照射する第1照明装
置2Aと、第2光を照射する第2照明装置2Bと、第3
光を照射する第3照明装置2Cとを備えて構成され、ロ
ール状フィルム1の幅方向全面にわたって3つの光を照
射しうるようになっている。このように、照明装置2
は、3つの照明装置2A〜2Cを用いる3灯光学系とし
て構成される。
では、以下のように、照明装置2,画像入力装置3が構
成される。照明装置2は、第1光を照射する第1照明装
置2Aと、第2光を照射する第2照明装置2Bと、第3
光を照射する第3照明装置2Cとを備えて構成され、ロ
ール状フィルム1の幅方向全面にわたって3つの光を照
射しうるようになっている。このように、照明装置2
は、3つの照明装置2A〜2Cを用いる3灯光学系とし
て構成される。
【0032】そして、これらの3つの照明装置2A〜2
Cの照射光の種類,照射位置,照射角度を調整すること
により、ロール状フィルム1の表面の巻き終わり50G
やロール状フィルム1のフィルム内空洞(気泡,隙間)
50H等の疑似欠陥に対して光学的処理を行なって、ロ
ール状フィルム1の内部の異物50Fによる欠陥部分の
輝度を低くする(即ち原画像が黒くする)とともに、ロ
ール状フィルム1の内部に生じるフィルム内空洞(例え
ば気泡,隙間)50H,ロール状フィルム1の表面の巻
き終わり50G等の疑似欠陥の輝度が低くなる(即ち原
画像が黒くなる)のを抑制している。
Cの照射光の種類,照射位置,照射角度を調整すること
により、ロール状フィルム1の表面の巻き終わり50G
やロール状フィルム1のフィルム内空洞(気泡,隙間)
50H等の疑似欠陥に対して光学的処理を行なって、ロ
ール状フィルム1の内部の異物50Fによる欠陥部分の
輝度を低くする(即ち原画像が黒くする)とともに、ロ
ール状フィルム1の内部に生じるフィルム内空洞(例え
ば気泡,隙間)50H,ロール状フィルム1の表面の巻
き終わり50G等の疑似欠陥の輝度が低くなる(即ち原
画像が黒くなる)のを抑制している。
【0033】このうち、第1照明装置2Aは、ロール状
フィルム1の内部の異物50Fによる欠陥部分を照射し
うるようにロール状フィルム1の幅方向全面に第1光を
照射するものである。この第1照明装置2Aは、主にロ
ール状フィルム1の内部の異物50Fの輝度を低くする
(即ち原画像を黒くする)ための機能を有するものであ
る。
フィルム1の内部の異物50Fによる欠陥部分を照射し
うるようにロール状フィルム1の幅方向全面に第1光を
照射するものである。この第1照明装置2Aは、主にロ
ール状フィルム1の内部の異物50Fの輝度を低くする
(即ち原画像を黒くする)ための機能を有するものであ
る。
【0034】このため、第1照明装置2Aは、ロール状
フィルム1の内部まで光(第1光)が到達するように、
ロール状フィルム1のロール幅方向全面を強度(光量)
の高い光で照射できるもの、例えばアパーチャ型蛍光灯
(通常の蛍光灯よりも光量が大きい),伝送ライト等の
大光量の照明を用いるのが好ましい。なお、第1照明装
置2Aは、例えば通常の蛍光灯,LED照明,ファイバ
照明等を用いても良い。
フィルム1の内部まで光(第1光)が到達するように、
ロール状フィルム1のロール幅方向全面を強度(光量)
の高い光で照射できるもの、例えばアパーチャ型蛍光灯
(通常の蛍光灯よりも光量が大きい),伝送ライト等の
大光量の照明を用いるのが好ましい。なお、第1照明装
置2Aは、例えば通常の蛍光灯,LED照明,ファイバ
照明等を用いても良い。
【0035】また、この第1照明装置2Aは、ロール状
フィルム1に平行に良好な帯状の反射画像が得られるよ
うに、例えば直管の蛍光灯(アパーチャ型蛍光灯)や伝
送ライトやハロゲンファイバーランプのように長さのあ
るものを用い、ロール状フィルム1の上方にロール状フ
ィルム1のロール幅方向に延在するように配置するのが
好ましい。
フィルム1に平行に良好な帯状の反射画像が得られるよ
うに、例えば直管の蛍光灯(アパーチャ型蛍光灯)や伝
送ライトやハロゲンファイバーランプのように長さのあ
るものを用い、ロール状フィルム1の上方にロール状フ
ィルム1のロール幅方向に延在するように配置するのが
好ましい。
【0036】このように構成される第1照明装置2A
は、ロール状フィルム1に対してなるべく近い位置に配
置するとともに、ロール状フィルム1の表面の検査領域
(画像入力装置3による撮像領域)にロール状フィルム
1の内部での反射光が到達するような角度に配置してい
る。なお、第1照明装置2Aは、光量が大きく、表面反
射が少ないため、多くの光がロール状フィルム1の内部
まで届くことになる。
は、ロール状フィルム1に対してなるべく近い位置に配
置するとともに、ロール状フィルム1の表面の検査領域
(画像入力装置3による撮像領域)にロール状フィルム
1の内部での反射光が到達するような角度に配置してい
る。なお、第1照明装置2Aは、光量が大きく、表面反
射が少ないため、多くの光がロール状フィルム1の内部
まで届くことになる。
【0037】例えば、第1照明装置2Aは、図2に示す
ように、ロール状フィルム1の外周面から所定距離(例
えば約30mm〜約45mm)だけ離れた位置に配設す
る。また、ロール状フィルム1の検査点Pを含む基準面
Zから所定距離(例えば約20mm〜約30mm)だけ
離れた位置に配設する。また、第1照明装置2Aは、そ
の外周面がロール状フィルム1の断面中心を通る基準軸
線Yから所定距離(例えば約40mm〜約60mm)だ
け離れた位置にくるように配設する。
ように、ロール状フィルム1の外周面から所定距離(例
えば約30mm〜約45mm)だけ離れた位置に配設す
る。また、ロール状フィルム1の検査点Pを含む基準面
Zから所定距離(例えば約20mm〜約30mm)だけ
離れた位置に配設する。また、第1照明装置2Aは、そ
の外周面がロール状フィルム1の断面中心を通る基準軸
線Yから所定距離(例えば約40mm〜約60mm)だ
け離れた位置にくるように配設する。
【0038】また、第1照明装置2Aは、図3に示すよ
うに、カメラ視線〔画像入力装置の光軸,ロール状フィ
ルム1の断面中心と画像入力装置3の中心(カメラ中
心)とを結ぶ線〕を基準線として第1所定角度範囲(例
えば約39°±15°)内になるように配設する。特
に、第1設定角度範囲(例えば約39°±5°)内にな
るように配設するのが好ましい。なお、ここでは基準線
としてのカメラ視線に対して時計回りをマイナス(−)
とし、反時計回りをプラス(+)としている。
うに、カメラ視線〔画像入力装置の光軸,ロール状フィ
ルム1の断面中心と画像入力装置3の中心(カメラ中
心)とを結ぶ線〕を基準線として第1所定角度範囲(例
えば約39°±15°)内になるように配設する。特
に、第1設定角度範囲(例えば約39°±5°)内にな
るように配設するのが好ましい。なお、ここでは基準線
としてのカメラ視線に対して時計回りをマイナス(−)
とし、反時計回りをプラス(+)としている。
【0039】このように第1照明装置2Aにより光量の
大きい光を照射すると、ロール状フィルム1の表面の巻
き終わり50Gにより第1照明装置2Aからの光が散乱
してしまい、ロール状フィルム1の内部まで届かず、さ
らに巻き終わり部分の輝度が低くなって(即ち原画像が
黒くなって)しまうため、ロール状フィルム1の内部の
異物50F(原画像が黒くなる)と区別しにくくなり、
ロール状フィルム1の異物50Fによる欠陥を確実に検
出するのが難しくなる。このため、第2照明装置2Bを
設けている。
大きい光を照射すると、ロール状フィルム1の表面の巻
き終わり50Gにより第1照明装置2Aからの光が散乱
してしまい、ロール状フィルム1の内部まで届かず、さ
らに巻き終わり部分の輝度が低くなって(即ち原画像が
黒くなって)しまうため、ロール状フィルム1の内部の
異物50F(原画像が黒くなる)と区別しにくくなり、
ロール状フィルム1の異物50Fによる欠陥を確実に検
出するのが難しくなる。このため、第2照明装置2Bを
設けている。
【0040】第2照明装置2Bは、画像入力装置3のカ
メラ視線を挟んで第1照明装置2Aに対して反対側に配
設され、ロール状フィルム1の表面の巻き終わり50G
による疑似欠陥の検出を抑制しうるようにロール状フィ
ルム1の幅方向全面に第2光を照射するものである。こ
の第2照明装置2Bは、主にロール状フィルム1の表面
の巻き終わり50Gの輝度を高くする(即ち原画像を白
くする)ための機能を有するものである。
メラ視線を挟んで第1照明装置2Aに対して反対側に配
設され、ロール状フィルム1の表面の巻き終わり50G
による疑似欠陥の検出を抑制しうるようにロール状フィ
ルム1の幅方向全面に第2光を照射するものである。こ
の第2照明装置2Bは、主にロール状フィルム1の表面
の巻き終わり50Gの輝度を高くする(即ち原画像を白
くする)ための機能を有するものである。
【0041】このため、第2照明装置2Bは、ロール状
フィルム1のロール幅方向全面を拡散光(指向性が低い
光)により照射できるもの、例えば白色蛍光灯を用いる
のが好ましい。この第2照明装置2Bは、ロール状フィ
ルム1に平行に良好な帯状の反射画像が得られるよう
に、例えば直管の蛍光灯やハロゲンファイバーランプの
ように長さのあるものを用い、ロール状フィルム1の上
方にロール状フィルム1のロール幅方向に延在するよう
に配置するのが好ましい。
フィルム1のロール幅方向全面を拡散光(指向性が低い
光)により照射できるもの、例えば白色蛍光灯を用いる
のが好ましい。この第2照明装置2Bは、ロール状フィ
ルム1に平行に良好な帯状の反射画像が得られるよう
に、例えば直管の蛍光灯やハロゲンファイバーランプの
ように長さのあるものを用い、ロール状フィルム1の上
方にロール状フィルム1のロール幅方向に延在するよう
に配置するのが好ましい。
【0042】このように構成される第2照明装置2B
は、ロール状フィルム1にできるだけ近づけて配設さ
れ、ロール状フィルム1の表面での散乱反射光が画像入
力装置3に入射するような角度(例えば巻き終わりの表
面反射の大きい条件)に配設される。例えば、第2照明
装置2Bは、図2に示すように、ロール状フィルム1の
検査点Pを含む基準面Zから所定距離(例えば約30m
m〜約45mm)だけ離れた位置に配設する。また、第
2照明装置2Bは、その外周面がロール状フィルム1の
断面中心を通る基準軸線Yから所定距離(例えば約40
mm〜約60mm)だけ離れた位置にくるように配設す
る。
は、ロール状フィルム1にできるだけ近づけて配設さ
れ、ロール状フィルム1の表面での散乱反射光が画像入
力装置3に入射するような角度(例えば巻き終わりの表
面反射の大きい条件)に配設される。例えば、第2照明
装置2Bは、図2に示すように、ロール状フィルム1の
検査点Pを含む基準面Zから所定距離(例えば約30m
m〜約45mm)だけ離れた位置に配設する。また、第
2照明装置2Bは、その外周面がロール状フィルム1の
断面中心を通る基準軸線Yから所定距離(例えば約40
mm〜約60mm)だけ離れた位置にくるように配設す
る。
【0043】また、第2照明装置2Bは、画像入力装置
3のカメラ視線を挟んで第1照明装置2A及び第3照明
装置2Cに対して反対側に配設する。例えば、第2照明
装置2Bは、図3に示すように、カメラ視線を基準線と
して第3所定角度範囲(例えば約−18°±10°)内
になるように配設する。特に、第3設定角度範囲(例え
ば約−18°±5°)内になるように配設するのが好ま
しい。
3のカメラ視線を挟んで第1照明装置2A及び第3照明
装置2Cに対して反対側に配設する。例えば、第2照明
装置2Bは、図3に示すように、カメラ視線を基準線と
して第3所定角度範囲(例えば約−18°±10°)内
になるように配設する。特に、第3設定角度範囲(例え
ば約−18°±5°)内になるように配設するのが好ま
しい。
【0044】このように第2照明装置2Bからの光を拡
散光としてロール状フィルム1の表面の広い範囲をラン
ダムに照射することで、第2照明装置2Bからの第2光
をロール状フィルム1の表面の巻き終わり部分で反射さ
せ、この散乱反射光を画像入力装置3で取り込むこと
で、ロール状フィルム1の巻き終わり部分の輝度が低く
なる(即ち原画像が黒くなる)のを抑えている。
散光としてロール状フィルム1の表面の広い範囲をラン
ダムに照射することで、第2照明装置2Bからの第2光
をロール状フィルム1の表面の巻き終わり部分で反射さ
せ、この散乱反射光を画像入力装置3で取り込むこと
で、ロール状フィルム1の巻き終わり部分の輝度が低く
なる(即ち原画像が黒くなる)のを抑えている。
【0045】なお、拡散光はロール状フィルム1の表面
の広い範囲をランダムに照射するため、ロール状フィル
ム1の表面近傍の気泡やシワ等によって多重反射が起き
てしまい、これにより、ロール状フィルム1の異物50
FのSN比(S/N)が低下してしまうおそれがある
が、本実施形態では、照明装置の配置を考慮しているた
め、ロール状フィルム1の異物50FのS/Nが低下し
てしまうこともない。
の広い範囲をランダムに照射するため、ロール状フィル
ム1の表面近傍の気泡やシワ等によって多重反射が起き
てしまい、これにより、ロール状フィルム1の異物50
FのSN比(S/N)が低下してしまうおそれがある
が、本実施形態では、照明装置の配置を考慮しているた
め、ロール状フィルム1の異物50FのS/Nが低下し
てしまうこともない。
【0046】第3照明装置2Cは、第1照明装置2Aと
第2照明装置2Bとの間(即ち第1照明装置2Aと画像
入力装置3との間、又は画像入力装置3と第2照明装置
2Bとの間)に配設され、ロール状フィルム1の内部の
フィルム内空洞(気泡,隙間)50Hによる疑似欠陥の
検出を抑制しうるようにロール状フィルム1の幅方向全
面に第3光を照射するものである。この第3照明装置2
Cは、主にロール状フィルム1の内部に入射する光量を
増大させ、ロール状フィルム1の内部のフィルム内空洞
(気泡,隙間)50Hの輝度を高くする(即ち原画像を
白くする)ための機能を有するものである。
第2照明装置2Bとの間(即ち第1照明装置2Aと画像
入力装置3との間、又は画像入力装置3と第2照明装置
2Bとの間)に配設され、ロール状フィルム1の内部の
フィルム内空洞(気泡,隙間)50Hによる疑似欠陥の
検出を抑制しうるようにロール状フィルム1の幅方向全
面に第3光を照射するものである。この第3照明装置2
Cは、主にロール状フィルム1の内部に入射する光量を
増大させ、ロール状フィルム1の内部のフィルム内空洞
(気泡,隙間)50Hの輝度を高くする(即ち原画像を
白くする)ための機能を有するものである。
【0047】このため、第3照明装置2Cは、ロール状
フィルム1の内部まで光(第3光)が到達するように、
ロール状フィルム1のロール幅方向全面を強度(光量,
指向性)の高い光で照射できるもの、例えばアパーチャ
型蛍光灯(通常の蛍光灯よりも光量が大きく、指向性も
高い),伝送ライト等の大光量の照明を用いるのが好ま
しい。なお、第3照明装置2Cは、拡散照明系、例えば
通常の蛍光灯,ファイバ照明等を用いても良い。
フィルム1の内部まで光(第3光)が到達するように、
ロール状フィルム1のロール幅方向全面を強度(光量,
指向性)の高い光で照射できるもの、例えばアパーチャ
型蛍光灯(通常の蛍光灯よりも光量が大きく、指向性も
高い),伝送ライト等の大光量の照明を用いるのが好ま
しい。なお、第3照明装置2Cは、拡散照明系、例えば
通常の蛍光灯,ファイバ照明等を用いても良い。
【0048】また、この第3照明装置2Cは、ロール状
フィルム1に平行に良好な帯状の反射画像が得られるよ
うに、例えば直管の蛍光灯(アパーチャ型蛍光灯や通常
の蛍光灯)や伝送ライトやハロゲンファイバーランプの
ように長さのあるものを用い、ロール状フィルム1の上
方にロール状フィルム1のロール幅方向に延在するよう
に配置するのが好ましい。
フィルム1に平行に良好な帯状の反射画像が得られるよ
うに、例えば直管の蛍光灯(アパーチャ型蛍光灯や通常
の蛍光灯)や伝送ライトやハロゲンファイバーランプの
ように長さのあるものを用い、ロール状フィルム1の上
方にロール状フィルム1のロール幅方向に延在するよう
に配置するのが好ましい。
【0049】このように構成される第3照明装置2C
は、ロール状フィルム1になるべく近づけて配設する。
特に、ロール状フィルム1と第3照明装置2Cとの距離
は、ロール状フィルム1と第1照明装置2Aとの距離に
なるべく近づけるのが望ましい。これにより、ロール状
フィルム1の異物50FのS/Nを向上させることがで
きる。
は、ロール状フィルム1になるべく近づけて配設する。
特に、ロール状フィルム1と第3照明装置2Cとの距離
は、ロール状フィルム1と第1照明装置2Aとの距離に
なるべく近づけるのが望ましい。これにより、ロール状
フィルム1の異物50FのS/Nを向上させることがで
きる。
【0050】例えば、第3照明装置2Cは、図2に示す
ように、ロール状フィルム1の外周面から所定距離(例
えば約70mm〜80mm)だけ離れた位置に配設す
る。また、第3照明装置2Cは、ロール状フィルム1の
断面中心を通る基準軸線Yに対して所定距離(例えば約
5mm)だけ離れた位置にくるように配設する。このよ
うに、第1照明装置2Aに加え、第3照明装置2Cを設
けることで、ロール状フィルム1の内部へ入射される光
量を増やせば、ロール状フィルム1の内部の異物50F
の輝度を低くする(即ち原画像が黒くなる)ことがで
き、正常部分との濃淡の差を際立たせることはできる
が、ロール状フィルム1のフィルム内空洞(気泡,隙
間)50Hの輝度も低くなってしまう(即ち原画像が黒
くなってしまう)ため、ロール状フィルム1の内部の異
物50Fと、ロール状フィルム1のフィルム内空洞(気
泡,隙間)50H等との区別が難しい。
ように、ロール状フィルム1の外周面から所定距離(例
えば約70mm〜80mm)だけ離れた位置に配設す
る。また、第3照明装置2Cは、ロール状フィルム1の
断面中心を通る基準軸線Yに対して所定距離(例えば約
5mm)だけ離れた位置にくるように配設する。このよ
うに、第1照明装置2Aに加え、第3照明装置2Cを設
けることで、ロール状フィルム1の内部へ入射される光
量を増やせば、ロール状フィルム1の内部の異物50F
の輝度を低くする(即ち原画像が黒くなる)ことがで
き、正常部分との濃淡の差を際立たせることはできる
が、ロール状フィルム1のフィルム内空洞(気泡,隙
間)50Hの輝度も低くなってしまう(即ち原画像が黒
くなってしまう)ため、ロール状フィルム1の内部の異
物50Fと、ロール状フィルム1のフィルム内空洞(気
泡,隙間)50H等との区別が難しい。
【0051】そこで、第3照明装置2Cの照射角度を、
第1照明装置2Aの照射角度と変えることで、ロール状
フィルム1の内部のフィルム内空洞(気泡,隙間)50
Hで多重反射を起こさせ、フィルム内空洞(気泡,隙
間)50Hの輝度が低くなる(即ち原画像が黒ずむ)の
を抑えている。ここで、第3照明装置2Cは、第3照明
装置2Cからの第3光のロール状フィルム1の表面での
正反射光が画像入力装置3に入射されないようにしなが
ら、第1照明装置2Aと第2照明装置2Bとの間でカメ
ラ視線にできるだけ近い位置に配設する。
第1照明装置2Aの照射角度と変えることで、ロール状
フィルム1の内部のフィルム内空洞(気泡,隙間)50
Hで多重反射を起こさせ、フィルム内空洞(気泡,隙
間)50Hの輝度が低くなる(即ち原画像が黒ずむ)の
を抑えている。ここで、第3照明装置2Cは、第3照明
装置2Cからの第3光のロール状フィルム1の表面での
正反射光が画像入力装置3に入射されないようにしなが
ら、第1照明装置2Aと第2照明装置2Bとの間でカメ
ラ視線にできるだけ近い位置に配設する。
【0052】例えば、第3照明装置2Cは、図3に示す
ように、カメラ視線を基準線として第3所定角度範囲
(例えば約±13°±10°)内になるように配設す
る。特に、第3設定角度範囲(例えば約±13°±5
°)内になるように配設するのが好ましい。また、第3
照明装置2Cは、図2に示すように、第3照明装置2C
の中心とロール状フィルム1の外周面とを結ぶ接線と、
ロール状フィルム1の断面中心を通る基準軸線Yとの角
度が所定角度(例えば約31°)になるように配設する
のが好ましい。
ように、カメラ視線を基準線として第3所定角度範囲
(例えば約±13°±10°)内になるように配設す
る。特に、第3設定角度範囲(例えば約±13°±5
°)内になるように配設するのが好ましい。また、第3
照明装置2Cは、図2に示すように、第3照明装置2C
の中心とロール状フィルム1の外周面とを結ぶ接線と、
ロール状フィルム1の断面中心を通る基準軸線Yとの角
度が所定角度(例えば約31°)になるように配設する
のが好ましい。
【0053】このように、照明装置2A,2B,2Cに
より、上述のような相反する課題を解決することがで
き、最も困難とされる異物の一つである毛髪のS/Nも
良好なものとすることができる。つまり、画像入力装置
3から見て、照明装置2A,2B,2Cによる3灯照明
は、指向性の高い第1照明装置2A及び第3照明装置2
Cを用いてロール状フィルム1内へ入射する光の光量を
増大させるとともに、これらの照射角度を変えることで
ロール状フィルム1内のフィルム内空洞(気泡,隙間)
50Hで多重反射を起こさせ、フィルム内空洞(気泡,
隙間)50Hの輝度が低くなる(原画像が黒ずむ)のを
抑え、さらに、第2照明装置2Bがカメラ視線を挟んで
第1照明装置2Aに対して反対側に配置し、拡散光にて
ロール状フィルム1の巻き終わり50Gが黒ずむのを抑
えている。これにより、本光学系によれば、最も困難と
される異物の一つである毛髪のS/Nも良好とすること
ができる。
より、上述のような相反する課題を解決することがで
き、最も困難とされる異物の一つである毛髪のS/Nも
良好なものとすることができる。つまり、画像入力装置
3から見て、照明装置2A,2B,2Cによる3灯照明
は、指向性の高い第1照明装置2A及び第3照明装置2
Cを用いてロール状フィルム1内へ入射する光の光量を
増大させるとともに、これらの照射角度を変えることで
ロール状フィルム1内のフィルム内空洞(気泡,隙間)
50Hで多重反射を起こさせ、フィルム内空洞(気泡,
隙間)50Hの輝度が低くなる(原画像が黒ずむ)のを
抑え、さらに、第2照明装置2Bがカメラ視線を挟んで
第1照明装置2Aに対して反対側に配置し、拡散光にて
ロール状フィルム1の巻き終わり50Gが黒ずむのを抑
えている。これにより、本光学系によれば、最も困難と
される異物の一つである毛髪のS/Nも良好とすること
ができる。
【0054】画像入力装置(イメージセンサ)3は、照
明装置2により照射されたロール状フィルム1のロール
幅方向全面(検査対象領域)の反射画像を取り込み、こ
の画像データを画像処理装置4へ入力するもので、例え
ばCCDイメージセンサ(CCDエリアセンサ,CCD
ラインセンサ)を用いた固体撮像カメラ(CCDカメ
ラ,撮像装置)が用いられる。なお、ここではCCDイ
メージセンサを用いているが、他のラインセンサやエリ
アセンサであっても良い。特にラインセンサが好まし
い。
明装置2により照射されたロール状フィルム1のロール
幅方向全面(検査対象領域)の反射画像を取り込み、こ
の画像データを画像処理装置4へ入力するもので、例え
ばCCDイメージセンサ(CCDエリアセンサ,CCD
ラインセンサ)を用いた固体撮像カメラ(CCDカメ
ラ,撮像装置)が用いられる。なお、ここではCCDイ
メージセンサを用いているが、他のラインセンサやエリ
アセンサであっても良い。特にラインセンサが好まし
い。
【0055】画像入力装置3は、図2に示すように、ロ
ール状フィルム1の外周面の検査点Pから所定距離(例
えば約500mm〜約950mm程度)だけ離れた位置
に固定して配設するのが望ましい。また、画像入力装置
3は、そのカメラ中心からロール状フィルム1の断面中
心を通る基準軸線(実際は基準面)Yまでが設定距離
(例えば約70mm〜約160mm)になるように配設
するのが望ましい。
ール状フィルム1の外周面の検査点Pから所定距離(例
えば約500mm〜約950mm程度)だけ離れた位置
に固定して配設するのが望ましい。また、画像入力装置
3は、そのカメラ中心からロール状フィルム1の断面中
心を通る基準軸線(実際は基準面)Yまでが設定距離
(例えば約70mm〜約160mm)になるように配設
するのが望ましい。
【0056】この画像入力装置3は、基準軸線Yを挟ん
で第1照明装置2Aに対して反対側に配設する。例え
ば、画像入力装置3は、検査点Pを中心として上記の基
準軸線Yに対して所定角度(約5°〜約15°)になる
ように配設するのが望ましい。これにより、ロール状フ
ィルム1の検査領域の帯状の反射画像が取り込まれる。
なお、光学系の配置は、これに限定されるものではな
く、照明装置2A,2B,2Cはできるだけロール状フ
ィルム1の検査点Pに近づけ、効率良く光を照射するこ
とが望ましいが、現実には画像入力装置3の視界に入ら
ないように、所定の距離をあけることになり、本実施形
態のような距離だけロール状フィルム1から離すことに
なる。また、画像入力装置3もロール状フィルム1の検
査点Pに接近させた方が良い画像を得やすいが、その焦
点距離や撮像範囲の制限もあるので、実際にはロール状
フィルム1から適当な距離(検出分解能に見合う距離)
だけ離すことになる。
で第1照明装置2Aに対して反対側に配設する。例え
ば、画像入力装置3は、検査点Pを中心として上記の基
準軸線Yに対して所定角度(約5°〜約15°)になる
ように配設するのが望ましい。これにより、ロール状フ
ィルム1の検査領域の帯状の反射画像が取り込まれる。
なお、光学系の配置は、これに限定されるものではな
く、照明装置2A,2B,2Cはできるだけロール状フ
ィルム1の検査点Pに近づけ、効率良く光を照射するこ
とが望ましいが、現実には画像入力装置3の視界に入ら
ないように、所定の距離をあけることになり、本実施形
態のような距離だけロール状フィルム1から離すことに
なる。また、画像入力装置3もロール状フィルム1の検
査点Pに接近させた方が良い画像を得やすいが、その焦
点距離や撮像範囲の制限もあるので、実際にはロール状
フィルム1から適当な距離(検出分解能に見合う距離)
だけ離すことになる。
【0057】そして、画像入力装置3では、ロール状フ
ィルム1の外周面の帯状の反射画像をロール状フィルム
1を回転させながら順次取り込んで、ロール状フィルム
1の全周の反射画像を取り込むようになっている。画像
処理装置(データ処理部)4は、画像入力装置3から入
力された画像データを処理して、ロール状フィルム1の
内部の異物50Fを欠陥として検出するものである。
ィルム1の外周面の帯状の反射画像をロール状フィルム
1を回転させながら順次取り込んで、ロール状フィルム
1の全周の反射画像を取り込むようになっている。画像
処理装置(データ処理部)4は、画像入力装置3から入
力された画像データを処理して、ロール状フィルム1の
内部の異物50Fを欠陥として検出するものである。
【0058】画像処理装置4は、図1に示すように、エ
ロード処理部10,濃度ヒストグラム処理部11と、ベ
ース画像算出部12と、補正画像算出部13と、二値化
処理部14と、ラベリング処理部15と、欠陥判別部1
6とを備えて構成される。この画像処理装置4では、画
像入力装置3によって順次取り込まれたロール状フィル
ム1の外周面のロール1周分(外周面全周)の画像を原
画像として取り込み、この原画像に対してエロード処理
を行なった後、エロード処理された原画像の画像データ
を縮小してから、後述する画像処理を行なうようになっ
ている。
ロード処理部10,濃度ヒストグラム処理部11と、ベ
ース画像算出部12と、補正画像算出部13と、二値化
処理部14と、ラベリング処理部15と、欠陥判別部1
6とを備えて構成される。この画像処理装置4では、画
像入力装置3によって順次取り込まれたロール状フィル
ム1の外周面のロール1周分(外周面全周)の画像を原
画像として取り込み、この原画像に対してエロード処理
を行なった後、エロード処理された原画像の画像データ
を縮小してから、後述する画像処理を行なうようになっ
ている。
【0059】このため、本実施形態では、エロード処理
部10が備えられている。エロード処理部(収縮処理
部,侵食処理部)10は、画像入力装置3によって順次
取り込まれたロール状フィルム1の外周面の画像データ
(原画像)に対してエロード処理を行なって、エロード
処理された原画像を濃度ヒストグラム処理部11及び補
正画像算出部13へ出力するものである。
部10が備えられている。エロード処理部(収縮処理
部,侵食処理部)10は、画像入力装置3によって順次
取り込まれたロール状フィルム1の外周面の画像データ
(原画像)に対してエロード処理を行なって、エロード
処理された原画像を濃度ヒストグラム処理部11及び補
正画像算出部13へ出力するものである。
【0060】ここで、エロード処理とは、画像入力装置
3によって順次取り込まれたロール状フィルム1の外周
面の画像データに対して任意の処理データ範囲内の濃度
値(輝度値)の最小値を求め、その最小値を処理データ
範囲内の所定位置の濃度値(輝度値)として保存し、こ
れを出力データとして出力する処理をいう。なお、この
処理は、処理データ範囲内毎に繰り返し行なわれ、画像
入力装置3によって順次取り込まれるロール状フィルム
1の外周面の画像データの全てに対して行なわれる。ま
た、このエロード処理は、モルフォロジー処理の一種で
あり、収縮処理,侵食処理ともいう。
3によって順次取り込まれたロール状フィルム1の外周
面の画像データに対して任意の処理データ範囲内の濃度
値(輝度値)の最小値を求め、その最小値を処理データ
範囲内の所定位置の濃度値(輝度値)として保存し、こ
れを出力データとして出力する処理をいう。なお、この
処理は、処理データ範囲内毎に繰り返し行なわれ、画像
入力装置3によって順次取り込まれるロール状フィルム
1の外周面の画像データの全てに対して行なわれる。ま
た、このエロード処理は、モルフォロジー処理の一種で
あり、収縮処理,侵食処理ともいう。
【0061】ここでは、エロード処理部10は、図5に
示すように、任意の処理データ範囲をマトリクス状の複
数の小領域、例えば縦,横それぞれ3分割して9つの小
領域(縦3×横3)に分割し、これらの9つの領域の濃
度値(輝度値)のうちの最小値を求め、この最小値を例
えば図5中、×で示す位置へ保存し、これを出力データ
として濃度ヒストグラム処理部11及び補正画像算出部
13へ出力するようになっている。これを3×3エロー
ド処理ともいう。
示すように、任意の処理データ範囲をマトリクス状の複
数の小領域、例えば縦,横それぞれ3分割して9つの小
領域(縦3×横3)に分割し、これらの9つの領域の濃
度値(輝度値)のうちの最小値を求め、この最小値を例
えば図5中、×で示す位置へ保存し、これを出力データ
として濃度ヒストグラム処理部11及び補正画像算出部
13へ出力するようになっている。これを3×3エロー
ド処理ともいう。
【0062】例えば、処理データ範囲を縦,横3画素の
9画素とした場合、これらの9画素の濃度値(輝度値)
のうちの最小値を求め、この最小値を9画素のうちの中
央位置の画素の濃度値(輝度値)として保存し、これを
出力データとする。このようなエロード処理を行なうの
は、画像処理装置4により画像データの処理を行なう場
合、画像入力装置3によって取り込まれた画像データを
縮小する必要があるが、この画像データの縮小の際に、
異物50Fによる欠陥部分、即ち画像入力装置3によっ
て取り込まれる画像中に黒い欠陥(黒欠陥)として表れ
る黒欠陥部分の画像データが消失してしまうのを防ぎ、
画像データの劣化を防止するためである。
9画素とした場合、これらの9画素の濃度値(輝度値)
のうちの最小値を求め、この最小値を9画素のうちの中
央位置の画素の濃度値(輝度値)として保存し、これを
出力データとする。このようなエロード処理を行なうの
は、画像処理装置4により画像データの処理を行なう場
合、画像入力装置3によって取り込まれた画像データを
縮小する必要があるが、この画像データの縮小の際に、
異物50Fによる欠陥部分、即ち画像入力装置3によっ
て取り込まれる画像中に黒い欠陥(黒欠陥)として表れ
る黒欠陥部分の画像データが消失してしまうのを防ぎ、
画像データの劣化を防止するためである。
【0063】上述のようにして画像処理装置4に読み込
まれる原画像は、照明装置2から照射された光の強さや
画像入力装置3の感度等に応じた値となり、異物50F
による欠陥部分以外の正常部分の輝度値が通常は一定値
にならない。このため、異物50Fによる欠陥部分の輝
度は正常部分の輝度の影響を受けてしまい、欠陥部分の
輝度の絶対的な評価が難しく、この欠陥部分の輝度によ
り欠陥検出を行なうのは困難である。
まれる原画像は、照明装置2から照射された光の強さや
画像入力装置3の感度等に応じた値となり、異物50F
による欠陥部分以外の正常部分の輝度値が通常は一定値
にならない。このため、異物50Fによる欠陥部分の輝
度は正常部分の輝度の影響を受けてしまい、欠陥部分の
輝度の絶対的な評価が難しく、この欠陥部分の輝度によ
り欠陥検出を行なうのは困難である。
【0064】このため、本実施形態では、濃度ヒストグ
ラム処理部11,ベース画像算出部12及び補正画像算
出部13による処理,算出を行なうようにしている。濃
度ヒストグラム処理部(濃度頻度分布算出部)11は、
画像入力装置3により取り込まれ、エロード処理された
原画像(例えば5000幅×5000ライン,5000
画素×5000画素)に対して濃度ヒストグラム処理を
行なうものである。そして、求められた濃度ヒストグラ
ム情報をベース画像算出部12へ出力するようになって
いる。
ラム処理部11,ベース画像算出部12及び補正画像算
出部13による処理,算出を行なうようにしている。濃
度ヒストグラム処理部(濃度頻度分布算出部)11は、
画像入力装置3により取り込まれ、エロード処理された
原画像(例えば5000幅×5000ライン,5000
画素×5000画素)に対して濃度ヒストグラム処理を
行なうものである。そして、求められた濃度ヒストグラ
ム情報をベース画像算出部12へ出力するようになって
いる。
【0065】ここでは、濃度ヒストグラム処理部11
は、エロード処理された原画像をベース濃度情報エリア
に領域分割して、分割された領域毎の画像データに対し
て濃度ヒストグラム(濃度頻度分布)を求めるようにな
っている。例えば、ベース濃度情報エリアは、X軸方向
20画素,Y軸方向100画素の領域とする。なお、原
画像が5000画素×5000画素の場合、250×5
0のベース濃度情報エリアに分割されることになる。
は、エロード処理された原画像をベース濃度情報エリア
に領域分割して、分割された領域毎の画像データに対し
て濃度ヒストグラム(濃度頻度分布)を求めるようにな
っている。例えば、ベース濃度情報エリアは、X軸方向
20画素,Y軸方向100画素の領域とする。なお、原
画像が5000画素×5000画素の場合、250×5
0のベース濃度情報エリアに分割されることになる。
【0066】ここで、ベース濃度情報エリアの領域幅を
X軸方向とY軸方向とで異なるものとしているのは、カ
メラ幅方向のシェーディング対応のためである。また、
ベース濃度情報エリアを20画素×100画素としたの
は、異物50Fによる欠陥のサイズとして例えば約5画
素から約100画素までのサイズのものを想定している
ためである。
X軸方向とY軸方向とで異なるものとしているのは、カ
メラ幅方向のシェーディング対応のためである。また、
ベース濃度情報エリアを20画素×100画素としたの
は、異物50Fによる欠陥のサイズとして例えば約5画
素から約100画素までのサイズのものを想定している
ためである。
【0067】この濃度ヒストグラム処理部11により求
められた濃度ヒストグラムは、例えば、図6,図7に示
すようになる。つまり、ロール状フィルム1の正常部分
(ベース部分)の領域における濃度ヒストグラムは、図
7に示すように、ロール状フィルム1のベース部分の濃
度値(輝度値)の頻度(画素数)だけが高くなるのに対
し、ロール状フィルム1の内部の異物50Fによる欠
陥、及び、ロール状フィルム1の表面の巻き終わり50
Gやロール状フィルム1の内部のフィルム内空洞(気
泡,隙間)50H等の疑似欠陥が存在する領域における
濃度ヒストグラムは、図6に示すように、ロール状フィ
ルム1のベース部分の濃度値(輝度値)の頻度(画素
数)が高くなるとともに、このベース部分の濃度値(輝
度値)よりも濃度値(輝度値)が高い(即ち原画像が黒
くなる)側の濃度値の頻度も多くなる。
められた濃度ヒストグラムは、例えば、図6,図7に示
すようになる。つまり、ロール状フィルム1の正常部分
(ベース部分)の領域における濃度ヒストグラムは、図
7に示すように、ロール状フィルム1のベース部分の濃
度値(輝度値)の頻度(画素数)だけが高くなるのに対
し、ロール状フィルム1の内部の異物50Fによる欠
陥、及び、ロール状フィルム1の表面の巻き終わり50
Gやロール状フィルム1の内部のフィルム内空洞(気
泡,隙間)50H等の疑似欠陥が存在する領域における
濃度ヒストグラムは、図6に示すように、ロール状フィ
ルム1のベース部分の濃度値(輝度値)の頻度(画素
数)が高くなるとともに、このベース部分の濃度値(輝
度値)よりも濃度値(輝度値)が高い(即ち原画像が黒
くなる)側の濃度値の頻度も多くなる。
【0068】ベース画像算出部12は、濃度ヒストグラ
ム処理部11によりベース濃度情報エリア毎に求められ
た濃度ヒストグラムに基づいてベース画像を算出するも
のである。そして、算出されたベース画像情報を補正画
像算出部13へ出力するようになっている。ここで、ベ
ース画像とは、ロール状フィルム1の異物50Fによる
欠陥やロール状フィルム1の巻き終わり50G,フィル
ム内空洞(気泡,隙間)50H等の疑似欠陥がないと想
定した場合の画像と考えることができる。
ム処理部11によりベース濃度情報エリア毎に求められ
た濃度ヒストグラムに基づいてベース画像を算出するも
のである。そして、算出されたベース画像情報を補正画
像算出部13へ出力するようになっている。ここで、ベ
ース画像とは、ロール状フィルム1の異物50Fによる
欠陥やロール状フィルム1の巻き終わり50G,フィル
ム内空洞(気泡,隙間)50H等の疑似欠陥がないと想
定した場合の画像と考えることができる。
【0069】このベース画像算出部12は、濃度ヒスト
グラムの最小値(最小濃度値),濃度ヒストグラムの最
大値(最大濃度値),濃度ヒストグラムの平均値(平均
濃度値)のそれぞれを算出し、これらの値に基づいてベ
ース画像を算出するようになっている。ここで、濃度ヒ
ストグラムの最小値とは、濃度ヒストグラムの頻度(画
素数)が急激に増加する位置での濃度値(濃度レベル)
である。この濃度ヒストグラムの最小値は、濃度ヒスト
グラムを昇順に検索していき、最初に頻度がしきい値を
越えた点を最小値(min)として算出する。なお、濃
度ヒストグラムを昇順に検索していき、最初に頻度が所
定値以上大きく増加した点を最小値として算出しても良
い。この最小値は、図6,図7中、濃度値Aで示され
る。
グラムの最小値(最小濃度値),濃度ヒストグラムの最
大値(最大濃度値),濃度ヒストグラムの平均値(平均
濃度値)のそれぞれを算出し、これらの値に基づいてベ
ース画像を算出するようになっている。ここで、濃度ヒ
ストグラムの最小値とは、濃度ヒストグラムの頻度(画
素数)が急激に増加する位置での濃度値(濃度レベル)
である。この濃度ヒストグラムの最小値は、濃度ヒスト
グラムを昇順に検索していき、最初に頻度がしきい値を
越えた点を最小値(min)として算出する。なお、濃
度ヒストグラムを昇順に検索していき、最初に頻度が所
定値以上大きく増加した点を最小値として算出しても良
い。この最小値は、図6,図7中、濃度値Aで示され
る。
【0070】濃度ヒストグラムの最大値とは、濃度ヒス
トグラムの頻度(画素数)が急激に減少する位置での濃
度値である。この濃度ヒストグラムの最大値は、濃度ヒ
ストグラムを降順に検索していき、最初に頻度がしきい
値を越えた点を最大値(max)として算出する。な
お、濃度ヒストグラムを降順に検索していき、最初に頻
度が所定値以上大きく増加した点を最大値として算出し
ても良い。この最大値は、図6,図7中、濃度値Bで示
される。
トグラムの頻度(画素数)が急激に減少する位置での濃
度値である。この濃度ヒストグラムの最大値は、濃度ヒ
ストグラムを降順に検索していき、最初に頻度がしきい
値を越えた点を最大値(max)として算出する。な
お、濃度ヒストグラムを降順に検索していき、最初に頻
度が所定値以上大きく増加した点を最大値として算出し
ても良い。この最大値は、図6,図7中、濃度値Bで示
される。
【0071】濃度ヒストグラムの平均値とは、濃度ヒス
トグラムの平均濃度値であり、これはエロード処理され
た原画像の平均濃度値である。この平均濃度値(平均
値)は、図6,図7中、濃度値Cで示される。次に、ベ
ース画像算出部12は、濃度ヒストグラムの分散を求め
る。そして、この濃度ヒストグラムの分散が大きいか、
小さいかを、濃度ヒストグラムの最大値(max)から
平均濃度値を減算した値がしきい値(th1)よりも大
きいか否かにより判定する。これは、次式(1)により
表される。
トグラムの平均濃度値であり、これはエロード処理され
た原画像の平均濃度値である。この平均濃度値(平均
値)は、図6,図7中、濃度値Cで示される。次に、ベ
ース画像算出部12は、濃度ヒストグラムの分散を求め
る。そして、この濃度ヒストグラムの分散が大きいか、
小さいかを、濃度ヒストグラムの最大値(max)から
平均濃度値を減算した値がしきい値(th1)よりも大
きいか否かにより判定する。これは、次式(1)により
表される。
【0072】 最大値−平均濃度値>しきい値 ・・・(1) この判定の結果、濃度ヒストグラムの分散が大きい場合
は、ベース画像の濃度値として、上述の濃度ヒストグラ
ムの最小値(min)を用いる。ここで、濃度ヒストグ
ラムの分散が大きい場合とは、例えばロール状フィルム
1の内部の異物50Fによる欠陥部分やロール状フィル
ム1の巻き終わり50G,ロール状フィルム1のフィル
ム内空洞(気泡,隙間)50H等の疑似欠陥部分が存在
する場合であり、この場合のベース画像の濃度値は、濃
度ヒストグラムの最小値から分散係数を減算したものと
して算出する。これは、次式(2)により表される。
は、ベース画像の濃度値として、上述の濃度ヒストグラ
ムの最小値(min)を用いる。ここで、濃度ヒストグ
ラムの分散が大きい場合とは、例えばロール状フィルム
1の内部の異物50Fによる欠陥部分やロール状フィル
ム1の巻き終わり50G,ロール状フィルム1のフィル
ム内空洞(気泡,隙間)50H等の疑似欠陥部分が存在
する場合であり、この場合のベース画像の濃度値は、濃
度ヒストグラムの最小値から分散係数を減算したものと
して算出する。これは、次式(2)により表される。
【0073】 ベース画像の濃度値=最小値−分散係数 ・・・(2) ここで、分散係数は、濃度ヒストグラムの分散度合に応
じた係数であって、例えば次式(3)により表される。 (最大値−最小値)/2 ・・・(3) 一方、濃度ヒストグラムの分散が小さい場合は、ベース
画像の濃度値として、上述の濃度ヒストグラムの平均濃
度値を用いる。
じた係数であって、例えば次式(3)により表される。 (最大値−最小値)/2 ・・・(3) 一方、濃度ヒストグラムの分散が小さい場合は、ベース
画像の濃度値として、上述の濃度ヒストグラムの平均濃
度値を用いる。
【0074】ここで、濃度ヒストグラムの分散が小さい
場合とは、例えばロール状フィルム1の正常部分であ
り、この場合のベース画像の濃度値は、濃度ヒストグラ
ムの平均濃度値とする。これは、次式(4)により表さ
れる。 ベース画像の濃度値=平均値 ・・・(4) これにより、例えばロール状フィルム1の内部の異物5
0Fを検出する場合に、ロール状フィルム1の巻き終わ
り50Gによって検出信号が乱れて黒ずんでしまった
り、正常部分(良品部分)のシワや吸引あとが黒ずんで
しまったりして、これらの部分と異物50Fによる欠陥
部分とを区別するのが難しく、このため、画像入力装置
3から取り込んだ原画像を画像処理するに際して、特に
ベース画像の作成に多くの処理時間が必要とされるのを
防ぐことができる。
場合とは、例えばロール状フィルム1の正常部分であ
り、この場合のベース画像の濃度値は、濃度ヒストグラ
ムの平均濃度値とする。これは、次式(4)により表さ
れる。 ベース画像の濃度値=平均値 ・・・(4) これにより、例えばロール状フィルム1の内部の異物5
0Fを検出する場合に、ロール状フィルム1の巻き終わ
り50Gによって検出信号が乱れて黒ずんでしまった
り、正常部分(良品部分)のシワや吸引あとが黒ずんで
しまったりして、これらの部分と異物50Fによる欠陥
部分とを区別するのが難しく、このため、画像入力装置
3から取り込んだ原画像を画像処理するに際して、特に
ベース画像の作成に多くの処理時間が必要とされるのを
防ぐことができる。
【0075】補正画像算出部13は、画像入力装置3に
より取り込まれ、エロード処理された原画像とベース画
像の差を算出し、これを補正画像とするものである。つ
まり、補正画像算出部13は、エロード処理された原画
像の各画素の濃度値からベース画像の対応する画素の濃
度値を減算し(減算処理)、この減算の結果得られた濃
度値を補正画像の各画素の濃度値とするものである。そ
して、算出された補正画像情報を二値化処理部14へ出
力するようになっている。
より取り込まれ、エロード処理された原画像とベース画
像の差を算出し、これを補正画像とするものである。つ
まり、補正画像算出部13は、エロード処理された原画
像の各画素の濃度値からベース画像の対応する画素の濃
度値を減算し(減算処理)、この減算の結果得られた濃
度値を補正画像の各画素の濃度値とするものである。そ
して、算出された補正画像情報を二値化処理部14へ出
力するようになっている。
【0076】なお、ここでは、上述のようにベース画像
の濃度値を算出し、これに基づいて補正画像を算出して
いるが、これは、原画像のX軸の濃度プロファイルに対
するベースラインを算出し、補正濃度プロファイルを算
出することを意味する。つまり、上述のベース画像の濃
度値の算出は、原画像のX軸の濃度プロファイルに対す
るベースラインの算出と考えることができ、上述の補正
画像の濃度値の算出は、補正濃度プロファイルの算出と
考えることができる。
の濃度値を算出し、これに基づいて補正画像を算出して
いるが、これは、原画像のX軸の濃度プロファイルに対
するベースラインを算出し、補正濃度プロファイルを算
出することを意味する。つまり、上述のベース画像の濃
度値の算出は、原画像のX軸の濃度プロファイルに対す
るベースラインの算出と考えることができ、上述の補正
画像の濃度値の算出は、補正濃度プロファイルの算出と
考えることができる。
【0077】この場合、まず画像入力装置3により取り
込まれ、エロード処理された原画像(例えば5000幅
×5000ライン)に対して、原画像の左上隅を原点O
として右方向へ向けてとったX軸の濃度プロファイル
(原濃度プロファイル)を算出する。この機能を原濃度
プロファイル算出部という。なお、このX軸の濃度プロ
ファイルは異物50Fによる欠陥部分を含んだ部分をと
っている。
込まれ、エロード処理された原画像(例えば5000幅
×5000ライン)に対して、原画像の左上隅を原点O
として右方向へ向けてとったX軸の濃度プロファイル
(原濃度プロファイル)を算出する。この機能を原濃度
プロファイル算出部という。なお、このX軸の濃度プロ
ファイルは異物50Fによる欠陥部分を含んだ部分をと
っている。
【0078】なお、原画像のX軸濃度プロファイルは、
図8中、実線Aで示すようになる。また、図8中、符号
Xの部分は、例えばロール状フィルム1の内部の異物5
0Fによる欠陥部分である。また、原画像のX軸濃度プ
ロファイルのベースラインは、上述のようにして算出さ
れたベース画像のX軸濃度プロファイルとして算出され
る。この機能をベースライン算出部という。このベース
画像のX軸濃度プロファイルの算出方法は、上述のもの
と同様である。なお、原画像のX軸濃度プロファイルの
ベースライン、即ちベース画像のX軸濃度プロファイル
は、図8中、破線Bで示すようになる。
図8中、実線Aで示すようになる。また、図8中、符号
Xの部分は、例えばロール状フィルム1の内部の異物5
0Fによる欠陥部分である。また、原画像のX軸濃度プ
ロファイルのベースラインは、上述のようにして算出さ
れたベース画像のX軸濃度プロファイルとして算出され
る。この機能をベースライン算出部という。このベース
画像のX軸濃度プロファイルの算出方法は、上述のもの
と同様である。なお、原画像のX軸濃度プロファイルの
ベースライン、即ちベース画像のX軸濃度プロファイル
は、図8中、破線Bで示すようになる。
【0079】そして、このようにして算出された原濃度
プロファイル(図8中、実線A)からベースライン(図
8中、破線B)を減算することで、補正濃度プロファイ
ルが算出される。この機能を補正濃度プロファイル算出
部という。この補正濃度プロファイルは、図8中、一点
鎖線Cで示すようになる。二値化処理部14は、補正画
像算出部13により算出された補正画像の各画素の濃度
値としきい値とを比較して補正画像を二値化処理するも
のである。そして、この処理により得られた二値化画像
情報をラベリング処理部15へ出力するようになってい
る。
プロファイル(図8中、実線A)からベースライン(図
8中、破線B)を減算することで、補正濃度プロファイ
ルが算出される。この機能を補正濃度プロファイル算出
部という。この補正濃度プロファイルは、図8中、一点
鎖線Cで示すようになる。二値化処理部14は、補正画
像算出部13により算出された補正画像の各画素の濃度
値としきい値とを比較して補正画像を二値化処理するも
のである。そして、この処理により得られた二値化画像
情報をラベリング処理部15へ出力するようになってい
る。
【0080】例えば、二値化処理部14は、補正画像を
構成する画素の濃度値がしきい値以上である場合は濃度
値を1とし(これを欠陥候補点,欠点という)、しきい
値よりも小さい場合は濃度値を0とする。ラベリング処
理部15は、二値化処理部14により二値化処理された
二値化画像のうちの同一連結成分に1つのラベルを割り
付けて、近接する欠陥候補点同士を集合させて集合体と
するラベリング処理を行なうものである。なお、集合体
は欠陥候補点を粒子化したものであるため、これを欠陥
粒子という。そして、ラベリング処理部15は、ラベリ
ング処理されたラベル画像を欠陥判別部16へ出力する
ようになっている。
構成する画素の濃度値がしきい値以上である場合は濃度
値を1とし(これを欠陥候補点,欠点という)、しきい
値よりも小さい場合は濃度値を0とする。ラベリング処
理部15は、二値化処理部14により二値化処理された
二値化画像のうちの同一連結成分に1つのラベルを割り
付けて、近接する欠陥候補点同士を集合させて集合体と
するラベリング処理を行なうものである。なお、集合体
は欠陥候補点を粒子化したものであるため、これを欠陥
粒子という。そして、ラベリング処理部15は、ラベリ
ング処理されたラベル画像を欠陥判別部16へ出力する
ようになっている。
【0081】欠陥判別部16は、ラベリング処理部15
でラベリング処理されたラベル画像に基づいて各欠陥粒
子毎にロール状フィルム1の内部に異物50Fによる欠
陥があるか否かを判別するものである。つまり、欠陥判
別部16は、まずラベリング処理部15でラベリング処
理されたラベル画像のうちの欠陥粒子の面積(画素
数),濃度値(輝度値)を算出し、これらの欠陥粒子の
面積,濃度値に基づいてロール状フィルム1の内部に異
物50Fによる欠陥があるか否かを判別するようになっ
ている。
でラベリング処理されたラベル画像に基づいて各欠陥粒
子毎にロール状フィルム1の内部に異物50Fによる欠
陥があるか否かを判別するものである。つまり、欠陥判
別部16は、まずラベリング処理部15でラベリング処
理されたラベル画像のうちの欠陥粒子の面積(画素
数),濃度値(輝度値)を算出し、これらの欠陥粒子の
面積,濃度値に基づいてロール状フィルム1の内部に異
物50Fによる欠陥があるか否かを判別するようになっ
ている。
【0082】ここでは、欠陥粒子の面積は、ラベル画像
のうちの同一ラベルを割り付けられた欠陥粒子の画素数
を積算することにより算出するようになっている。ま
た、欠陥粒子の濃度値は、欠陥粒子を構成する画素のう
ち、これらの画素に対応する原画像(又は補正画像)の
画素の濃度値が最も大きい濃度値を、欠陥粒子の代表濃
度値として算出するようになっている。なお、このよう
にして算出された欠陥粒子の面積,濃度値は、記憶装置
に記憶されるようになっている。
のうちの同一ラベルを割り付けられた欠陥粒子の画素数
を積算することにより算出するようになっている。ま
た、欠陥粒子の濃度値は、欠陥粒子を構成する画素のう
ち、これらの画素に対応する原画像(又は補正画像)の
画素の濃度値が最も大きい濃度値を、欠陥粒子の代表濃
度値として算出するようになっている。なお、このよう
にして算出された欠陥粒子の面積,濃度値は、記憶装置
に記憶されるようになっている。
【0083】そして、欠陥粒子の面積,濃度値に基づく
欠陥判定は、図9に示すような面積,濃度値(輝度
値),判定値を対応づけた判定テーブルを用いて合格,
保留,不合格の判定を行なう。なお、ロール状フィルム
1の内部に異物50Fによる欠陥がある場合には不合格
とされる。ここで、判定テーブルは、図9に示すよう
に、横軸に面積(画素数)を、縦軸に濃度値(輝度値)
をとってあり、欠陥粒子の面積,濃度値が、合格領域に
入る場合に判定値0が出力され、保留領域に入る場合に
判定値1が出力され、不合格領域に入る場合に判定値2
が出力されるようになっている。
欠陥判定は、図9に示すような面積,濃度値(輝度
値),判定値を対応づけた判定テーブルを用いて合格,
保留,不合格の判定を行なう。なお、ロール状フィルム
1の内部に異物50Fによる欠陥がある場合には不合格
とされる。ここで、判定テーブルは、図9に示すよう
に、横軸に面積(画素数)を、縦軸に濃度値(輝度値)
をとってあり、欠陥粒子の面積,濃度値が、合格領域に
入る場合に判定値0が出力され、保留領域に入る場合に
判定値1が出力され、不合格領域に入る場合に判定値2
が出力されるようになっている。
【0084】さらに、本実施形態では、ロール状フィル
ム1の内部に異物50Fによる欠陥がないと判定された
場合であっても、製品として望ましいものであるかを判
定すべく、図10に示すような合格,保留を示す判定値
とカウント数とを対応づけた個数テーブルを用いて、上
述の判定テーブルで合格,保留とされた欠陥粒子の個数
をカウントすることで、ロール状フィルム1の合格,保
留,不合格の判定を行なうようになっている。
ム1の内部に異物50Fによる欠陥がないと判定された
場合であっても、製品として望ましいものであるかを判
定すべく、図10に示すような合格,保留を示す判定値
とカウント数とを対応づけた個数テーブルを用いて、上
述の判定テーブルで合格,保留とされた欠陥粒子の個数
をカウントすることで、ロール状フィルム1の合格,保
留,不合格の判定を行なうようになっている。
【0085】ここで、個数テーブルは、図10に示すよ
うに、横軸に合格,保留を示す判定値(即ち合格0,保
留1)を、縦軸にカウント数をとってある。そして、合
格判定値0の個数がカウント数10以内の場合及び保留
判定値1の個数がカウント数9以下の場合に合格とし、
合格判定値0の個数がカウント数10よりも大きく15
以下の場合に保留とし、合格判定値0の個数がカウント
数15よりも大きい場合及び保留判定値1の個数がカウ
ント数9よりも大きい場合に不合格と判定するようにな
っている。
うに、横軸に合格,保留を示す判定値(即ち合格0,保
留1)を、縦軸にカウント数をとってある。そして、合
格判定値0の個数がカウント数10以内の場合及び保留
判定値1の個数がカウント数9以下の場合に合格とし、
合格判定値0の個数がカウント数10よりも大きく15
以下の場合に保留とし、合格判定値0の個数がカウント
数15よりも大きい場合及び保留判定値1の個数がカウ
ント数9よりも大きい場合に不合格と判定するようにな
っている。
【0086】なお、ここでは、欠陥粒子の面積,濃度値
に基づいて欠陥の判別を行なっているが、図11に示す
ような欠陥粒子の面積,濃度値(輝度値)及び欠陥粒子
の数(欠陥数)を対応づけた3次元判定テーブルを用い
てロール状フィルム1の欠陥の有無,欠陥の程度等を判
別し、合格,不合格,保留等の評価を行なうようにして
も良い。
に基づいて欠陥の判別を行なっているが、図11に示す
ような欠陥粒子の面積,濃度値(輝度値)及び欠陥粒子
の数(欠陥数)を対応づけた3次元判定テーブルを用い
てロール状フィルム1の欠陥の有無,欠陥の程度等を判
別し、合格,不合格,保留等の評価を行なうようにして
も良い。
【0087】そして、画像処理装置4は、この判別結果
を表示装置5に表示するための表示用データを作成する
ようになっている。つまり、画像処理装置4は、欠陥判
別部16による判別結果を示す原画像を縮小したデータ
(例えば2500幅×2500ライン)を表示装置5に
より表示できる大きさのデータ(例えば500幅×50
0ライン)へ圧縮変換するようになっている。そして、
表示用データを表示装置5へ出力するようになってい
る。なお、画像処理装置4は、欠陥判別部16による判
別結果をデータとして記憶装置に記憶するようになって
いる。
を表示装置5に表示するための表示用データを作成する
ようになっている。つまり、画像処理装置4は、欠陥判
別部16による判別結果を示す原画像を縮小したデータ
(例えば2500幅×2500ライン)を表示装置5に
より表示できる大きさのデータ(例えば500幅×50
0ライン)へ圧縮変換するようになっている。そして、
表示用データを表示装置5へ出力するようになってい
る。なお、画像処理装置4は、欠陥判別部16による判
別結果をデータとして記憶装置に記憶するようになって
いる。
【0088】表示装置5は、上述のような判別結果に応
じた表示データを表示するものであり、例えば画像処理
装置4により欠陥が検出された場合には欠陥の有無,位
置,程度等をモニタに表示するものである。例えば、表
示装置5に原画像を表示し、この原画像の中の欠陥位置
を矢印で示すようにする。本発明の一実施形態としての
ロール状フィルムの欠陥検出装置は、上述のように構成
されるため、この装置による欠陥検出方法は、以下のよ
うになる。
じた表示データを表示するものであり、例えば画像処理
装置4により欠陥が検出された場合には欠陥の有無,位
置,程度等をモニタに表示するものである。例えば、表
示装置5に原画像を表示し、この原画像の中の欠陥位置
を矢印で示すようにする。本発明の一実施形態としての
ロール状フィルムの欠陥検出装置は、上述のように構成
されるため、この装置による欠陥検出方法は、以下のよ
うになる。
【0089】つまり、図12に示すように、ステップS
10で、まず、ロール状フィルム1を回転させながら、
画像入力装置3がロール状フィルム1の反射画像(画像
データ)を順次取り込み、これをロール状フィルム1の
外周面全周の画像(原画像)として読み込み、原画像中
に黒い欠陥(黒欠陥)として表れる異物50Fによる欠
陥部分の黒欠陥データの劣化を防ぐため、エロード処理
(3×3エロード処理)を行なう。ステップS20で、
データの処理速度を速めるべく、読み込まれた画像デー
タを縮小処理して(例えば5000幅×5000ライン
から2500幅×2500ラインへ縮小する)、ステッ
プS30へ進む。
10で、まず、ロール状フィルム1を回転させながら、
画像入力装置3がロール状フィルム1の反射画像(画像
データ)を順次取り込み、これをロール状フィルム1の
外周面全周の画像(原画像)として読み込み、原画像中
に黒い欠陥(黒欠陥)として表れる異物50Fによる欠
陥部分の黒欠陥データの劣化を防ぐため、エロード処理
(3×3エロード処理)を行なう。ステップS20で、
データの処理速度を速めるべく、読み込まれた画像デー
タを縮小処理して(例えば5000幅×5000ライン
から2500幅×2500ラインへ縮小する)、ステッ
プS30へ進む。
【0090】ステップS30で、濃度ヒストグラム処理
部11が、読み込まれた原画像をベース濃度情報エリア
(例えば20画素×100画素)に領域分割する。ここ
では、原画像が2500画素×2500画素であるた
め、125×25のエリアが作られる。そして、原画像
の全領域について、各ベース濃度情報エリア毎に濃度ヒ
ストグラム処理が行なわれて濃度ヒストグラムが求めら
れる。
部11が、読み込まれた原画像をベース濃度情報エリア
(例えば20画素×100画素)に領域分割する。ここ
では、原画像が2500画素×2500画素であるた
め、125×25のエリアが作られる。そして、原画像
の全領域について、各ベース濃度情報エリア毎に濃度ヒ
ストグラム処理が行なわれて濃度ヒストグラムが求めら
れる。
【0091】次に、ステップS40で、ベース画像算出
部12が、このようにして原画像の全領域について各ベ
ース濃度情報エリア毎に求められた濃度ヒストグラムに
基づいて、濃度ヒストグラムの平均濃度値,最小値(濃
度ヒストグラムの頻度が急激に増加する点の濃度値),
最大値(濃度ヒストグラムの頻度が急激に減少する点の
濃度値)を求める。また、ベース画像算出部12は、ベ
ース濃度情報エリア毎の濃度ヒストグラムの濃度分散を
求める。そして、濃度分散が小さい場合はベース画像の
濃度値として平均濃度値を用い、濃度分散が大きい場合
はベース画像の濃度値として最小値を用いることで、ベ
ース画像の濃度値を算出し、これにより原画像に対する
ベース画像を算出する。
部12が、このようにして原画像の全領域について各ベ
ース濃度情報エリア毎に求められた濃度ヒストグラムに
基づいて、濃度ヒストグラムの平均濃度値,最小値(濃
度ヒストグラムの頻度が急激に増加する点の濃度値),
最大値(濃度ヒストグラムの頻度が急激に減少する点の
濃度値)を求める。また、ベース画像算出部12は、ベ
ース濃度情報エリア毎の濃度ヒストグラムの濃度分散を
求める。そして、濃度分散が小さい場合はベース画像の
濃度値として平均濃度値を用い、濃度分散が大きい場合
はベース画像の濃度値として最小値を用いることで、ベ
ース画像の濃度値を算出し、これにより原画像に対する
ベース画像を算出する。
【0092】次いで、ステップS50で、補正画像算出
部13が、読み込まれた原画像とベース画像との差をと
って補正画像を算出する。つまり、補正画像算出部13
が、読み込まれた原画像の各画素の濃度値からベース画
像の対応する画素の濃度値を減算し、この減算の結果得
られた濃度値を補正画像の濃度値として補正画像を算出
し、ステップS60へ進む。
部13が、読み込まれた原画像とベース画像との差をと
って補正画像を算出する。つまり、補正画像算出部13
が、読み込まれた原画像の各画素の濃度値からベース画
像の対応する画素の濃度値を減算し、この減算の結果得
られた濃度値を補正画像の濃度値として補正画像を算出
し、ステップS60へ進む。
【0093】ステップS60では、二値化処理部14
が、補正画像の各画素の濃度値としきい値とを比較して
二値化処理する。つまり、二値化処理部14が、補正画
像を構成する画素の濃度値がしきい値以上である場合は
その画素の濃度値を1とし(欠陥候補点)、しきい値よ
りも小さい場合はその画素の濃度値を0として二値化処
理を行ない、さらに、ステップS70で、ラベリング処
理部15が、二値化画像のうちの欠陥候補点同士を集合
させて集合体とし二値化画像のうちの同一連結成分に1
つのラベルを割り付けて、近接する欠陥候補点同士を集
合させて集合体(欠陥粒子)とするラベリング処理を行
なって、ステップS80へ進む。
が、補正画像の各画素の濃度値としきい値とを比較して
二値化処理する。つまり、二値化処理部14が、補正画
像を構成する画素の濃度値がしきい値以上である場合は
その画素の濃度値を1とし(欠陥候補点)、しきい値よ
りも小さい場合はその画素の濃度値を0として二値化処
理を行ない、さらに、ステップS70で、ラベリング処
理部15が、二値化画像のうちの欠陥候補点同士を集合
させて集合体とし二値化画像のうちの同一連結成分に1
つのラベルを割り付けて、近接する欠陥候補点同士を集
合させて集合体(欠陥粒子)とするラベリング処理を行
なって、ステップS80へ進む。
【0094】ステップS80では、まず欠陥判別部16
が、ラベリング処理されたラベル画像に基づいて欠陥粒
子の面積,濃度値を算出し、これらの欠陥粒子の面積,
濃度値に基づいて、図9に示すような面積,濃度値(輝
度値),判定値を対応づけた判定テーブルを用いて合
格,保留,不合格の判定を行なって、ロール状フィルム
1の内部の異物50Fによる欠陥の有無を判別する。さ
らに、図10に示すような合格,保留を示す判定値とカ
ウント数とを対応づけた個数テーブルを用いて、上述の
判定テーブルで合格,保留とされた欠陥粒子の個数をカ
ウントすることで、ロール状フィルム1の合格,保留,
不合格の判定を行なう。なお、欠陥判別部16は、この
判別結果はデータとして記憶装置に記憶する。
が、ラベリング処理されたラベル画像に基づいて欠陥粒
子の面積,濃度値を算出し、これらの欠陥粒子の面積,
濃度値に基づいて、図9に示すような面積,濃度値(輝
度値),判定値を対応づけた判定テーブルを用いて合
格,保留,不合格の判定を行なって、ロール状フィルム
1の内部の異物50Fによる欠陥の有無を判別する。さ
らに、図10に示すような合格,保留を示す判定値とカ
ウント数とを対応づけた個数テーブルを用いて、上述の
判定テーブルで合格,保留とされた欠陥粒子の個数をカ
ウントすることで、ロール状フィルム1の合格,保留,
不合格の判定を行なう。なお、欠陥判別部16は、この
判別結果はデータとして記憶装置に記憶する。
【0095】次に、ステップS90では、この判別結果
を表示装置5に表示するための表示用データを作成す
る。つまり、欠陥判別部16は、判別結果を示す原画像
を縮小したデータ(例えば2500幅×2500ライ
ン)を表示装置5により表示できる大きさのデータ(例
えば500幅×500ライン)へ圧縮変換する。そし
て、ステップS100で、欠陥判別部16は、このよう
にして作成した表示用データを表示装置5へ出力する。
これにより、ロール状フィルム1に異物50Fによる欠
陥がある場合にはその判別結果が表示装置5で表示され
る。
を表示装置5に表示するための表示用データを作成す
る。つまり、欠陥判別部16は、判別結果を示す原画像
を縮小したデータ(例えば2500幅×2500ライ
ン)を表示装置5により表示できる大きさのデータ(例
えば500幅×500ライン)へ圧縮変換する。そし
て、ステップS100で、欠陥判別部16は、このよう
にして作成した表示用データを表示装置5へ出力する。
これにより、ロール状フィルム1に異物50Fによる欠
陥がある場合にはその判別結果が表示装置5で表示され
る。
【0096】したがって、本発明の実施形態にかかるロ
ール状フィルムの欠陥検出装置及び欠陥検出方法によれ
ば、光学系を構成する各照明装置2A,2B,2Cや画
像入力装置3の配置等によりロール状フィルム1の表面
の疑似欠陥やロール状フィルム1の内部の疑似欠陥の検
出を抑制することができ、ロール状フィルム1の内部の
欠陥をより際立たせることができるとともに、画像入力
装置3により取り込まれ、エロード処理された原画像の
ベース画像を算出し、これに基づいてロール状フィルム
1の内部の欠陥を強調した補正画像を算出して、この補
正画像によって欠陥検出を行なっているため、ロール状
フィルム1の内部の欠陥を誤検出することなく、正確
に、かつ精度良く欠陥検出を行なうことができるという
利点がある。
ール状フィルムの欠陥検出装置及び欠陥検出方法によれ
ば、光学系を構成する各照明装置2A,2B,2Cや画
像入力装置3の配置等によりロール状フィルム1の表面
の疑似欠陥やロール状フィルム1の内部の疑似欠陥の検
出を抑制することができ、ロール状フィルム1の内部の
欠陥をより際立たせることができるとともに、画像入力
装置3により取り込まれ、エロード処理された原画像の
ベース画像を算出し、これに基づいてロール状フィルム
1の内部の欠陥を強調した補正画像を算出して、この補
正画像によって欠陥検出を行なっているため、ロール状
フィルム1の内部の欠陥を誤検出することなく、正確
に、かつ精度良く欠陥検出を行なうことができるという
利点がある。
【0097】特に、光学系を構成する第1照明装置2
A,第2照明装置2B,第3照明装置2Cの配置や照射
角度を最適なものに調整し(即ち光学系からの照射光を
調整し)、これらの第1照明装置2A,第2照明装置2
B,第3照明装置2Cに対する画像入力装置3の配置等
を最適なものとすることにより、ロール状フィルム1の
表面の疑似欠陥としてのロール状フィルム1の巻き終わ
り50Gやロール状フィルム1の内部の疑似欠陥として
のロール状フィルム1のフィルム内空洞50Hの検出を
抑制することができ、ロール状フィルム1の内部の異物
50Fによる欠陥を際立たせることができるため、ロー
ル状フィルム1の内部の異物50Fによる欠陥とロール
状フィルム1の表面や内部の疑似欠陥とを誤検出するこ
となく、正確に、かつ精度良く、ロール状フィルム1の
内部の異物50Fによる欠陥を検出することができると
いう利点もある。
A,第2照明装置2B,第3照明装置2Cの配置や照射
角度を最適なものに調整し(即ち光学系からの照射光を
調整し)、これらの第1照明装置2A,第2照明装置2
B,第3照明装置2Cに対する画像入力装置3の配置等
を最適なものとすることにより、ロール状フィルム1の
表面の疑似欠陥としてのロール状フィルム1の巻き終わ
り50Gやロール状フィルム1の内部の疑似欠陥として
のロール状フィルム1のフィルム内空洞50Hの検出を
抑制することができ、ロール状フィルム1の内部の異物
50Fによる欠陥を際立たせることができるため、ロー
ル状フィルム1の内部の異物50Fによる欠陥とロール
状フィルム1の表面や内部の疑似欠陥とを誤検出するこ
となく、正確に、かつ精度良く、ロール状フィルム1の
内部の異物50Fによる欠陥を検出することができると
いう利点もある。
【0098】また、ベース画像算出部12が、画像入力
装置3により取り込まれ、エロード処理された原画像の
濃度ヒストグラムに基づいてベース画像を算出し、これ
に基づいて補正画像算出部13がロール状フィルム1の
異物50Fによる欠陥を強調した補正画像を算出し、欠
陥判別部16がこの補正画像に基づいてロール状フィル
ム1の欠陥検出を行なっているため、ロール状フィルム
1の異物50Fによる欠陥を誤検出することなく、正確
に、かつ精度良く欠陥検出を行なうことができるという
利点もある。
装置3により取り込まれ、エロード処理された原画像の
濃度ヒストグラムに基づいてベース画像を算出し、これ
に基づいて補正画像算出部13がロール状フィルム1の
異物50Fによる欠陥を強調した補正画像を算出し、欠
陥判別部16がこの補正画像に基づいてロール状フィル
ム1の欠陥検出を行なっているため、ロール状フィルム
1の異物50Fによる欠陥を誤検出することなく、正確
に、かつ精度良く欠陥検出を行なうことができるという
利点もある。
【0099】また、欠陥判別部16が、ラベリング処理
部15による処理結果に基づいてロール状フィルム1の
内部の異物50Fによる欠陥の有無を判別するため、ロ
ール状フィルム1の内部の異物による欠陥を誤検出する
ことなく、より正確に、かつより精度良く欠陥検出を行
なうことができるという利点もある。さらに、ベース画
像算出部12が、濃度ヒストグラムの分散が小さい場合
は濃度ヒストグラム処理部11により得られた濃度ヒス
トグラムの平均濃度値によりベース画像の濃度値を算出
し、濃度ヒストグラムの分散が大きい場合は濃度ヒスト
グラム処理部11により得られた濃度ヒストグラムの最
小濃度値によりベース画像の濃度値を算出するため、ベ
ース画像算出部12によるベース画像の濃度値の算出が
容易となるという利点もある。
部15による処理結果に基づいてロール状フィルム1の
内部の異物50Fによる欠陥の有無を判別するため、ロ
ール状フィルム1の内部の異物による欠陥を誤検出する
ことなく、より正確に、かつより精度良く欠陥検出を行
なうことができるという利点もある。さらに、ベース画
像算出部12が、濃度ヒストグラムの分散が小さい場合
は濃度ヒストグラム処理部11により得られた濃度ヒス
トグラムの平均濃度値によりベース画像の濃度値を算出
し、濃度ヒストグラムの分散が大きい場合は濃度ヒスト
グラム処理部11により得られた濃度ヒストグラムの最
小濃度値によりベース画像の濃度値を算出するため、ベ
ース画像算出部12によるベース画像の濃度値の算出が
容易となるという利点もある。
【0100】なお、上述の実施形態では、第1照明装置
2A,第2照明装置2B,第3照明装置2Cはそれぞれ
1つの照明装置により構成しているが、これに限られる
ものではなく、これらの第1照明装置2A,第2照明装
置2B,第3照明装置2Cは2つ以上の照明装置により
構成しても良い。また、上述の実施形態では、光学系の
調整と画像処理との双方を最適なものとすることで、ロ
ール状フィルム1の内部に生じる異物による欠陥を検出
するようにしているが、上述の実施形態のうちの光学系
の最適な調整,最適な画像処理のいずれか一方のみを行
なうようにしても良い。
2A,第2照明装置2B,第3照明装置2Cはそれぞれ
1つの照明装置により構成しているが、これに限られる
ものではなく、これらの第1照明装置2A,第2照明装
置2B,第3照明装置2Cは2つ以上の照明装置により
構成しても良い。また、上述の実施形態では、光学系の
調整と画像処理との双方を最適なものとすることで、ロ
ール状フィルム1の内部に生じる異物による欠陥を検出
するようにしているが、上述の実施形態のうちの光学系
の最適な調整,最適な画像処理のいずれか一方のみを行
なうようにしても良い。
【0101】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1記載の本
発明のロール状フィルムの欠陥検出方法によれば、光学
系による照射光を調整することで、ロール状フィルムの
表面の疑似欠陥やロール状フィルムの内部の疑似欠陥の
検出を抑制することができ、ロール状フィルムの内部の
欠陥を際立たせることができるため、ロール状フィルム
の内部の欠陥とロール状フィルムの表面や内部の疑似欠
陥とを誤検出することなく、正確に、かつ精度良く、ロ
ール状フィルムの内部の欠陥を検出することができると
いう利点がある。
発明のロール状フィルムの欠陥検出方法によれば、光学
系による照射光を調整することで、ロール状フィルムの
表面の疑似欠陥やロール状フィルムの内部の疑似欠陥の
検出を抑制することができ、ロール状フィルムの内部の
欠陥を際立たせることができるため、ロール状フィルム
の内部の欠陥とロール状フィルムの表面や内部の疑似欠
陥とを誤検出することなく、正確に、かつ精度良く、ロ
ール状フィルムの内部の欠陥を検出することができると
いう利点がある。
【0102】請求項2記載の本発明のロール序フィルム
の欠陥検出装置によれば、光学系を構成する第1照明装
置,第2照明装置,第3照明装置の配置や照射角度、こ
れらの第1照明装置,第2照明装置,第3照明装置に対
する画像入力装置の配置等により、ロール状フィルムの
表面の疑似欠陥やロール状フィルムの内部の疑似欠陥の
検出を抑制することができ、ロール状フィルムの内部の
欠陥を際立たせることができるため、ロール状フィルム
の内部の欠陥とロール状フィルムの表面や内部の疑似欠
陥とを誤検出することなく、正確に、かつ精度良く、ロ
ール状フィルムの内部の欠陥を検出することができると
いう利点がある。
の欠陥検出装置によれば、光学系を構成する第1照明装
置,第2照明装置,第3照明装置の配置や照射角度、こ
れらの第1照明装置,第2照明装置,第3照明装置に対
する画像入力装置の配置等により、ロール状フィルムの
表面の疑似欠陥やロール状フィルムの内部の疑似欠陥の
検出を抑制することができ、ロール状フィルムの内部の
欠陥を際立たせることができるため、ロール状フィルム
の内部の欠陥とロール状フィルムの表面や内部の疑似欠
陥とを誤検出することなく、正確に、かつ精度良く、ロ
ール状フィルムの内部の欠陥を検出することができると
いう利点がある。
【0103】請求項3記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置によれば、画像入力装置により取り込ま
れた原画像の濃度ヒストグラムに基づいてベース画像を
算出し、これに基づいてロール状フィルムの欠陥を強調
した補正画像を算出し、この補正画像に基づいてロール
状フィルムの欠陥検出を行なっているため、ロール状フ
ィルムの表面に生じる欠陥を誤検出することなく、正確
に、かつ精度良く欠陥検出を行なうことができるという
利点がある。
の欠陥検出装置によれば、画像入力装置により取り込ま
れた原画像の濃度ヒストグラムに基づいてベース画像を
算出し、これに基づいてロール状フィルムの欠陥を強調
した補正画像を算出し、この補正画像に基づいてロール
状フィルムの欠陥検出を行なっているため、ロール状フ
ィルムの表面に生じる欠陥を誤検出することなく、正確
に、かつ精度良く欠陥検出を行なうことができるという
利点がある。
【0104】請求項4記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置によれば、光学系を構成する各照明装置
や画像入力装置の配置等によりロール状フィルムの内部
の欠陥を際立たせることができるとともに、画像入力装
置により取り込まれた原画像のベース画像を算出し、こ
れに基づいてロール状フィルムの内部の欠陥を強調した
補正画像を算出して、この補正画像によってロール状フ
ィルムの欠陥検出を行なっているため、ロール状フィル
ムの内部の欠陥を誤検出することなく、より正確に、か
つ、より精度良く欠陥検出を行なうことができるという
利点がある。
の欠陥検出装置によれば、光学系を構成する各照明装置
や画像入力装置の配置等によりロール状フィルムの内部
の欠陥を際立たせることができるとともに、画像入力装
置により取り込まれた原画像のベース画像を算出し、こ
れに基づいてロール状フィルムの内部の欠陥を強調した
補正画像を算出して、この補正画像によってロール状フ
ィルムの欠陥検出を行なっているため、ロール状フィル
ムの内部の欠陥を誤検出することなく、より正確に、か
つ、より精度良く欠陥検出を行なうことができるという
利点がある。
【0105】請求項5記載の本発明のロール序フィルム
の欠陥検出装置によれば、画像入力装置により撮像され
た原画像にエロード処理を行ない、さらに、欠陥判別部
が、ラベリング処理部による処理結果に基づいてロール
状フィルムの内部の欠陥の有無を判別するため、ロール
状フィルムの内部の異物による欠陥を誤検出することな
く、より正確に、かつより精度良く欠陥検出を行なうこ
とができるという利点がある。
の欠陥検出装置によれば、画像入力装置により撮像され
た原画像にエロード処理を行ない、さらに、欠陥判別部
が、ラベリング処理部による処理結果に基づいてロール
状フィルムの内部の欠陥の有無を判別するため、ロール
状フィルムの内部の異物による欠陥を誤検出することな
く、より正確に、かつより精度良く欠陥検出を行なうこ
とができるという利点がある。
【0106】請求項6記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置によれば、ベース画像算出部が、濃度ヒ
ストグラムの分散が小さい場合は濃度ヒストグラム処理
部により得られた濃度ヒストグラムの平均濃度値により
ベース画像の濃度値を算出し、濃度ヒストグラムの分散
が大きい場合は濃度ヒストグラム処理部により得られた
濃度ヒストグラムの最小濃度値によりベース画像の濃度
値を算出するため、ベース画像算出部によるベース画像
の濃度値の算出が容易となるという利点がある。
の欠陥検出装置によれば、ベース画像算出部が、濃度ヒ
ストグラムの分散が小さい場合は濃度ヒストグラム処理
部により得られた濃度ヒストグラムの平均濃度値により
ベース画像の濃度値を算出し、濃度ヒストグラムの分散
が大きい場合は濃度ヒストグラム処理部により得られた
濃度ヒストグラムの最小濃度値によりベース画像の濃度
値を算出するため、ベース画像算出部によるベース画像
の濃度値の算出が容易となるという利点がある。
【0107】請求項7記載の本発明のロール状フィルム
の欠陥検出装置によれば、ロール状フィルムの表面の疑
似欠陥としてのロール状フィルムの巻き終わりやロール
状フィルムの内部の疑似欠陥としてのロール状フィルム
のフィルム内空洞を欠陥と誤検出することなく、ロール
状フィルムの内部の異物による欠陥を、正確に、かつ精
度良く検出できるという利点がある。
の欠陥検出装置によれば、ロール状フィルムの表面の疑
似欠陥としてのロール状フィルムの巻き終わりやロール
状フィルムの内部の疑似欠陥としてのロール状フィルム
のフィルム内空洞を欠陥と誤検出することなく、ロール
状フィルムの内部の異物による欠陥を、正確に、かつ精
度良く検出できるという利点がある。
【図1】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置に備えられる画像処理装置の機能プロッ
ク図である。
の欠陥検出装置に備えられる画像処理装置の機能プロッ
ク図である。
【図2】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置の全体構成を示す模式図であり、ロール
状フィルムを側面視により示す図である。
の欠陥検出装置の全体構成を示す模式図であり、ロール
状フィルムを側面視により示す図である。
【図3】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置の照明装置及び画像入力装置の配置を説
明するための模式図であり、ロール状フィルムを側面視
により示す図である。
の欠陥検出装置の照明装置及び画像入力装置の配置を説
明するための模式図であり、ロール状フィルムを側面視
により示す図である。
【図4】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置により検出する欠陥(又は疑似欠陥)を
説明するための模式図であり、(A)は帯状シワ,
(B)は巻きコブ,(C)は傷,(D)は縦シワ,
(E)は斜めシワ,(F)は異物,フィルム内空洞,
(G)は巻き終わり(疑似欠陥)を示し、(A), (C),
(F)は模式的断面図、(B), (D), (E), (G)は模
式的正面図である。
の欠陥検出装置により検出する欠陥(又は疑似欠陥)を
説明するための模式図であり、(A)は帯状シワ,
(B)は巻きコブ,(C)は傷,(D)は縦シワ,
(E)は斜めシワ,(F)は異物,フィルム内空洞,
(G)は巻き終わり(疑似欠陥)を示し、(A), (C),
(F)は模式的断面図、(B), (D), (E), (G)は模
式的正面図である。
【図5】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置におけるエロード処理を説明するための
図である。
の欠陥検出装置におけるエロード処理を説明するための
図である。
【図6】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置で求められる濃度ヒストグラムを示す図
であって、異物による欠陥や巻き終わり等の疑似欠陥が
ある場合の濃度ヒストグラムを示すものである。
の欠陥検出装置で求められる濃度ヒストグラムを示す図
であって、異物による欠陥や巻き終わり等の疑似欠陥が
ある場合の濃度ヒストグラムを示すものである。
【図7】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置で求められる濃度ヒストグラムを示す図
であって、正常部分の濃度ヒストグラムを示すものであ
る。
の欠陥検出装置で求められる濃度ヒストグラムを示す図
であって、正常部分の濃度ヒストグラムを示すものであ
る。
【図8】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置で算出される原画像の濃度プロファイ
ル,ベースライン,補正濃度プロファイルを示す図であ
る。
の欠陥検出装置で算出される原画像の濃度プロファイ
ル,ベースライン,補正濃度プロファイルを示す図であ
る。
【図9】本発明の一実施形態にかかるロール状フィルム
の欠陥検出装置による欠陥判別に用いる判定テーブルを
説明するための図である。
の欠陥検出装置による欠陥判別に用いる判定テーブルを
説明するための図である。
【図10】本発明の一実施形態にかかるロール状フィル
ムの欠陥検出装置による欠陥判別に用いる個数テーブル
を説明するための図である。
ムの欠陥検出装置による欠陥判別に用いる個数テーブル
を説明するための図である。
【図11】本発明の一実施形態にかかるロール状フィル
ムの欠陥検出装置による欠陥判別に用いる3次元判定テ
ーブルを説明するための図である。
ムの欠陥検出装置による欠陥判別に用いる3次元判定テ
ーブルを説明するための図である。
【図12】本発明の一実施形態にかかるロール状フィル
ムの欠陥検出装置による欠陥検出方法を説明するための
フローチャートである。
ムの欠陥検出装置による欠陥検出方法を説明するための
フローチャートである。
1 ロール状フィルム(被検査対象物) 2 照明装置 2A 第1照明装置 2B 第2照明装置 2C 第3照明装置 3 画像入力装置(撮像装置,CCDカメラ) 4 画像処理装置(データ処理装置) 5 表示装置 10 エロード処理部 11 濃度ヒストグラム処理部 12 ベース画像算出部 13 補正画像算出部 14 二値化処理部 15 ラベリング処理部 16 欠陥判別部 50F 異物 50G 巻き終わり 50H フィルム内空洞(気泡,隙間)
Claims (7)
- 【請求項1】 ロール状フィルムの内部の欠陥部分を照
射しうるように該ロール状フィルムの幅方向全面に1又
は2以上の第1光を照射し、 該ロール状フィルムの表面の疑似欠陥の検出を抑制しう
るように該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は2以
上の第2光を照射し、 該ロール状フィルムの内部の疑似欠陥の検出を抑制しう
るように該第1光と該第2光との間から該ロール状フィ
ルムの幅方向全面に1又は2以上の第3光を照射し、 上記の第1光,第2光及び第3光により照射された該ロ
ール状フィルムの幅方向全面の反射画像を撮像し、 撮像された画像情報に基づいて該ロール状フィルムの内
部の欠陥の有無を検出することを特徴とする、ロール状
フィルムの欠陥検出方法。 - 【請求項2】 照明装置により照射された該ロール状フ
ィルムの幅方向全面の反射画像を撮像する画像入力装置
と、 該画像入力装置により撮像された画像情報に基づいて該
ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を検出する画像処
理装置とを備え、 該照明装置が、 該ロール状フィルムの内部の欠陥部分を照射しうるよう
に該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第
1光を照射する第1照明装置と、 該画像入力装置の視線を挟んで該第1照明装置に対して
反対側に配設され、該ロール状フィルムの表面の疑似欠
陥の検出を抑制しうるように該ロール状フィルムの幅方
向全面に1又は2以上の第2光を照射する第2照明装置
と、 該第1照明装置と該第2照明装置との間に配設され、該
ロール状フィルムの内部の疑似欠陥の検出を抑制しうる
ように該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は2以上
の第3光を照射する第3照明装置とを備えて構成される
ことを特徴とする、ロール状フィルムの欠陥検出装置。 - 【請求項3】 照明装置により照射されたロール状フィ
ルムの幅方向全面の反射画像を撮像する画像入力装置
と、 該画像入力装置により撮像された画像情報に基づいて該
ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を検出する画像処
理装置とを備え、 該画像処理装置が、 該画像入力装置により撮像された原画像の濃度ヒストグ
ラムを得る濃度ヒストグラム処理部と、 該濃度ヒストグラム処理部により求められた濃度ヒスト
グラムからベース画像を求めるベース画像算出部と、 該原画像と該ベース画像との差から補正画像を求める補
正画像算出部と、 該補正画像算出部により算出された該補正画像に基づい
て該ロール状フィルムの内部の欠陥の有無を判別する欠
陥判別部とを備えることを特徴とする、ロール状フィル
ムの欠陥検出装置。 - 【請求項4】 該照明装置が、 該ロール状フィルムの内部の欠陥部分を照射しうるよう
に該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は2以上の第
1光を照射する第1照明装置と、 該画像入力装置の視線を挟んで該第1照明装置に対して
反対側に配設され、該ロール状フィルムの表面の疑似欠
陥の検出を抑制しうるように該ロール状フィルムの幅方
向全面に1又は2以上の第2光を照射する第2照明装置
と、 該第1照明装置と該第2照明装置との間に配設され、該
ロール状フィルムの内部の疑似欠陥の検出を抑制しうる
ように該ロール状フィルムの幅方向全面に1又は2以上
の第3光を照射する第3照明装置とを備えて構成される
ことを特徴とする、請求項3記載のロール状フィルムの
欠陥検出装置。 - 【請求項5】 該画像処理装置が、 該画像入力装置により撮像された原画像にエロード処理
を行なって該濃度ヒストグラム処理部及び該補正画像算
出部へ出力するエロード処理部と、 該補正画像算出部により算出された該補正画像を二値化
処理する二値化処理部と、 該二値化処理部により得られた二値化画像をラベリング
処理するラベリング処理部とをさらに備え、 該欠陥判別部が、該ラベリング処理部による処理結果に
基づいて該ロール状フィルムの内部の異物による欠陥の
有無を判別することを特徴とする、請求項3又は4記載
のロール状フィルムの欠陥検出装置。 - 【請求項6】 該ベース画像算出部が、該濃度ヒストグ
ラムの分散が小さい場合は該濃度ヒストグラム処理部に
より得られた該濃度ヒストグラムの平均濃度値によりベ
ース画像の濃度値を算出し、該濃度ヒストグラムの分散
が大きい場合は該濃度ヒストグラム処理部により得られ
た該濃度ヒストグラムの最小濃度値によりベース画像の
濃度値を算出することを特徴とする、請求項3〜5のい
ずれかの項に記載のロール状フィルムの欠陥検出装置。 - 【請求項7】 該ロール状フィルムの表面の疑似欠陥
が、該ロール状フィルムの巻き終わりにより生じたもの
であり、 該ロール状フィルムの内部の疑似欠陥が、該ロール状フ
ィルムのフィルム内空洞により生じたものであり、 該画像処理装置が、該ロール状フィルムの内部の異物に
よる欠陥の有無を検出することを特徴とする、請求項
2,4〜6のいずれかの項に記載のロール状フィルムの
欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11212814A JP2001041896A (ja) | 1999-07-27 | 1999-07-27 | ロール状フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11212814A JP2001041896A (ja) | 1999-07-27 | 1999-07-27 | ロール状フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001041896A true JP2001041896A (ja) | 2001-02-16 |
Family
ID=16628810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11212814A Pending JP2001041896A (ja) | 1999-07-27 | 1999-07-27 | ロール状フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001041896A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002310939A (ja) * | 2001-04-18 | 2002-10-23 | Nec Corp | 気泡検査装置 |
JP2008076322A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Kirin Techno-System Co Ltd | 表面検査装置 |
WO2013008789A1 (ja) * | 2011-07-14 | 2013-01-17 | 住友化学株式会社 | ハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置 |
JP2020122738A (ja) * | 2019-01-31 | 2020-08-13 | 株式会社野毛電気工業 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
CN117968586A (zh) * | 2024-03-28 | 2024-05-03 | 山东在路上服装有限公司 | 一种服装加工用的表面粗糙度检测装置 |
-
1999
- 1999-07-27 JP JP11212814A patent/JP2001041896A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002310939A (ja) * | 2001-04-18 | 2002-10-23 | Nec Corp | 気泡検査装置 |
JP2008076322A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Kirin Techno-System Co Ltd | 表面検査装置 |
WO2013008789A1 (ja) * | 2011-07-14 | 2013-01-17 | 住友化学株式会社 | ハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置 |
JP2020122738A (ja) * | 2019-01-31 | 2020-08-13 | 株式会社野毛電気工業 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
CN117968586A (zh) * | 2024-03-28 | 2024-05-03 | 山东在路上服装有限公司 | 一种服装加工用的表面粗糙度检测装置 |
CN117968586B (zh) * | 2024-03-28 | 2024-06-11 | 山东在路上服装有限公司 | 一种服装加工用的表面粗糙度检测装置 |
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