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JP2000220690A - Active vibration-absorbing device, exposure device and manufacture of device - Google Patents

Active vibration-absorbing device, exposure device and manufacture of device

Info

Publication number
JP2000220690A
JP2000220690A JP11023757A JP2375799A JP2000220690A JP 2000220690 A JP2000220690 A JP 2000220690A JP 11023757 A JP11023757 A JP 11023757A JP 2375799 A JP2375799 A JP 2375799A JP 2000220690 A JP2000220690 A JP 2000220690A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vibration
output
active
air spring
detecting means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11023757A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Maeda
孝 前田
Shinji Wakui
伸二 涌井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP11023757A priority Critical patent/JP2000220690A/en
Publication of JP2000220690A publication Critical patent/JP2000220690A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/709Vibration, e.g. vibration detection, compensation, suppression or isolation

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  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Vibration Prevention Devices (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To positively place a vibration-absorbing stand smoothly and in a short time from a sealing position to an equilibrium position. SOLUTION: In this active vibration-absorbing device equipped with a vibration-absorbing stand, active supporting legs including an air spring actuator driving and supporting the aforesaid removal stand so as to support the vibration-absorbing stand in such a way as to be vibrationproof, a vibration detecting means AC detecting the vibration of the vibration-absorbing stand, a position detecting means PO detecting the position of the vibration-absorbing stand, feed-back compensation units 19, 20, 22 through 25 for permitting the air spring actuator to generate driving force based on the output from the vibration detecting means and the position detecting means, a position target value outputting part designating the target position of the vibration removal stand, and with a pressure target value outputting part 26 designating a steady output to be generated by the air spring actuator, a function is provided for the pressure target value outputting part, capable of increasing its output in a ramp manner or stepwise, or decreasing the output in a ramp manner or stepwise until the output reaches the value corresponding to the steady output.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、レチクルの回路パ
ターンを半導体ウエハに焼き付ける半導体露光装置また
は液晶基板製造装置あるいは電子顕微鏡などに用いられ
る能動的除振装置に関する。より詳しくは、除振台に伝
播してくる外部振動を抑制するとともに、除振台に搭載
される精密機器自身が発生する振動を積極的に打ち消す
ことが可能な能動的除振装置、この装置を備えた露光装
置およびこれを用いたデバイス製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active vibration isolator used in a semiconductor exposure apparatus for printing a circuit pattern of a reticle on a semiconductor wafer, a liquid crystal substrate manufacturing apparatus or an electron microscope. More specifically, an active anti-vibration device capable of suppressing external vibrations propagating to the anti-vibration table and actively canceling vibrations generated by precision equipment mounted on the anti-vibration table, And a device manufacturing method using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、電子ビームを使う電子顕微鏡ま
たはステッパなどに代表される半導体露光装置では、除
振装置上にXYステージが搭載されている。この除振装
置は、空気ばね、コイルばね、防振ゴムなどの振動吸収
手段により振動を減衰させる機能を持つ。しかし、上述
の如き振動吸収手段を備えた受動的除振装置においては
床から伝播する振動についてはある程度減衰できても、
同装置上に搭載されているXYステージ自身が発生する
振動は有効に減衰できない、という問題がある。つま
り、XYステージ自身の高速移動によって生じる反力は
除振装置を揺らせることになり、この振動はXYステー
ジの位置決め整定性を著しく阻害するものである。さら
に、受動的除振装置においては、床から伝播する振動の
絶縁(除振)とXYステージ自身の高速移動で発生する
振動の抑制(制振)性能の間にトレードオフの問題があ
る。これらの問題を解消するため、近年は能動的除振装
置を使用する傾向にある。能動的除振装置は可調整機構
の範囲内で除振と制振のトレードオフが解消できるし、
なによりもフィードフォワード制御を積極的に適用する
ことによって受動的除振装置では達成できない性能を取
得することができる。
2. Description of the Related Art Generally, in a semiconductor exposure apparatus such as an electron microscope or a stepper using an electron beam, an XY stage is mounted on a vibration isolator. This anti-vibration device has a function of attenuating vibration by vibration absorbing means such as an air spring, a coil spring, and a vibration-proof rubber. However, in the passive vibration isolator having the vibration absorbing means as described above, even if the vibration propagating from the floor can be attenuated to some extent,
There is a problem that vibrations generated by the XY stage mounted on the apparatus cannot be effectively attenuated. That is, the reaction force generated by the high-speed movement of the XY stage itself shakes the vibration isolator, and this vibration significantly impairs the positioning and stabilization of the XY stage. Further, in the passive vibration isolator, there is a trade-off problem between insulation (vibration isolation) of the vibration propagating from the floor and suppression (vibration suppression) performance of the vibration generated by the high-speed movement of the XY stage itself. In recent years, there has been a tendency to use active vibration isolators to solve these problems. The active vibration damping device can eliminate the trade-off between vibration damping and vibration damping within the range of the adjustable mechanism,
Above all, by applying the feedforward control positively, it is possible to obtain a performance that cannot be achieved by the passive vibration isolation device.

【0003】さて、上述の能動的除振装置では、平衡位
置での除振および制振特性を満たすことはもちろんのこ
と重要であるが、除振台が着座している位置から平衡位
置の定常状態へと遷移させる過程も装置性能を確保する
うえで重要である。具体的には、着座状態にある除振台
を、動作開始指令によって立ち上げていく際、除振台の
姿勢を暴れさせることなく平衡位置へと移行させること
が必要である。何故ならば、平衡位置への遷移過程で除
振台の姿勢を暴れさせると、除振台上に搭載された精密
ユニットの機械接触または衝突などの事態を招いてしま
うからである。また、衝突などを発生させなくとも、除
振台の姿勢を暴れさせてしまう、ということは平衡位置
までの収束性を著しく阻害するものであって、能動的除
振装置を組み込んでいる半導体露光装置を実際の稼働状
態へと移行させるタイムラグを大きくするという問題に
つながる。
In the above-described active vibration isolator, it is important to satisfy the anti-vibration and vibration-damping characteristics at the equilibrium position. The process of transitioning to a state is also important for ensuring device performance. Specifically, when starting up the vibration-isolation table in the seated state by the operation start command, it is necessary to shift the vibration-isolation table to the equilibrium position without causing the posture of the vibration-isolation table to ramp up. This is because, if the posture of the anti-vibration table is changed during the transition process to the equilibrium position, a situation such as mechanical contact or collision of a precision unit mounted on the anti-vibration table is caused. In addition, even if collisions do not occur, the posture of the anti-vibration table is rampant, which significantly impairs the convergence to the equilibrium position. This leads to a problem of increasing a time lag for shifting the apparatus to an actual operation state.

【0004】ここで、除振台の姿勢を乱す原因として
は、半導体露光装置の実稼働状態で除振台の姿勢変化を
最小にするように調整した能動的除振装置が一般にハイ
ゲインの状態にあることが挙げられる。このようなと
き、着座位置から除振台を平衡状態へと移行させるよう
な大振幅動作では、補償器あるいはアクチュエータのド
ライブ回路等を容易に飽和させ、したがって除振台の姿
勢を暴れさせてしまうのである。このような事情は、能
動的除振装置に限るものではなくサーボ系一般でも生じ
る現象である。この問題を回避する為に、駆動時のよう
な大振幅動作と、平衡位置近傍での小振幅動作領域とで
制御系の補償パラメータを変更することが行なわれてい
る。しかし、大振幅動作と小振幅動作とで最適なパラメ
ータを探索することは煩雑であり、しかもパラメータ切
替え時の不安定性の問題を新たに惹起せしめることがあ
る。また、パラメータの切替えをディスクリートの電子
部品で実現しようとする場合、回路規模の増大を招いて
しまうことは避けられない。
Here, as a cause of disturbing the attitude of the vibration isolation table, an active vibration isolation apparatus adjusted to minimize the change in the attitude of the vibration isolation table in the actual operation state of the semiconductor exposure apparatus generally has a high gain state. There is something. In such a case, in a large-amplitude operation in which the vibration isolation table is shifted from the seated position to the equilibrium state, the compensator or the drive circuit of the actuator or the like is easily saturated, and thus the attitude of the vibration isolation table is unsteady. It is. Such a situation is not limited to the active anti-vibration device but is a phenomenon that occurs in servo systems in general. In order to avoid this problem, the compensation parameter of the control system is changed between a large amplitude operation such as during driving and a small amplitude operation region near the equilibrium position. However, searching for the optimal parameters between the large-amplitude operation and the small-amplitude operation is complicated, and may cause a new problem of instability at the time of parameter switching. In addition, when the parameter switching is to be realized by discrete electronic components, it is inevitable that the circuit scale will increase.

【0005】除振台の暴れを回避するためのもう1つの
手段は、最終の平衡位置の手前に仮の目標位置を定めて
最初に仮の平衡位置まで収束させ、次に最終の平衡位置
へと目標位置を変更して最終的な平衡位置に定位させる
ことである。すなわち、位置の目標値を段階的に切り替
えることによって除振台を振動させることなく目標位置
に定位させようとするものである。例えば、特開平10
−103403号公報にこのような技術が開示されてい
る。
Another means for avoiding the vibration of the anti-vibration table is to set a temporary target position before the final equilibrium position, first converge to the temporary equilibrium position, and then move to the final equilibrium position. And changing the target position to localize to the final equilibrium position. In other words, the target value of the position is switched in a stepwise manner so that the anti-vibration table is localized at the target position without vibrating. For example, JP
Japanese Patent Application Laid-Open No. 103403/103 discloses such a technique.

【0006】より詳細な理解を得るべく図面を用いて、
着座している除振台を平衡位置へと立ち上げるための装
置構成を説明する。図2において、1は空気ばね2へ動
作流体の空気を給気・排気するサーボバルブ、3は除振
台4の鉛直方向変位を計測する位置検出手段としての位
置センサ、5は予圧用機械ばね、6は空気ばね2と予圧
用機械ばね5および図示しない機構全体の粘性を表現す
る粘性要素である。これらの構成部品から組み合わされ
る機構は能動的支持脚と呼ばれる。次に、フィードバッ
ク装置7の説明をする。
For a more detailed understanding, using the drawings,
An apparatus configuration for raising a seated anti-vibration table to an equilibrium position will be described. In FIG. 2, reference numeral 1 denotes a servo valve for supplying / exhausting air of a working fluid to / from an air spring 2, reference numeral 3 denotes a position sensor as position detecting means for measuring a vertical displacement of a vibration isolation table 4, and reference numeral 5 denotes a mechanical spring for preload. , 6 are viscous elements expressing the viscosities of the air spring 2, the preload mechanical spring 5, and the entire mechanism (not shown). The mechanism combined from these components is called the active support leg. Next, the feedback device 7 will be described.

【0007】加速度センサを代表とする振動検出手段8
の出力は、フィルタ回路9を通って高周波ノイズを除去
するなどの信号処理が施されて、サーボバルブ2を駆動
する電圧電流変換器10の前段にフィードバックされて
おり、このループによって機構にダンピングが作用す
る。続いて、位置検出手段3の出力は変位増幅器11を
通って比較回路12の入力となっている。この比較回路
12では、変位増幅器11と目標値生成部13の出力と
を比較して位置偏差信号を算出する。そして位置偏差信
号はPI補償器14に導かれ、この出力と先に説明した
フィルタ回路9の出力とを加算した信号で電圧電流変換
器10を駆動している。振動検出手段8の出力に基づく
ダンピングループによって機構を安定化して、位置検出
手段3の出力に基づくフィードバックループによって目
標値生成部13で指定した平衡位置に定常偏差なく位置
決めしている。ここで、Pは比例を、Iは積分動作をそ
れぞれ意味する。
[0007] Vibration detecting means 8 represented by an acceleration sensor
Is subjected to signal processing such as removal of high-frequency noise through a filter circuit 9 and is fed back to a stage preceding the voltage-current converter 10 that drives the servo valve 2. This loop causes damping in the mechanism. Works. Subsequently, the output of the position detection means 3 passes through the displacement amplifier 11 and becomes the input of the comparison circuit 12. The comparison circuit 12 compares the displacement amplifier 11 with the output of the target value generator 13 to calculate a position deviation signal. The position deviation signal is guided to the PI compensator 14, and the voltage-current converter 10 is driven by a signal obtained by adding this output and the output of the filter circuit 9 described above. The mechanism is stabilized by a damping pin group based on the output of the vibration detecting means 8, and is positioned without a steady deviation to the equilibrium position designated by the target value generating unit 13 by a feedback loop based on the output of the position detecting means 3. Here, P means proportional and I means integral operation.

【0008】さて、目標値生成部13では除振台4を定
位させる平衡位置を指定するが、図2に示すように、r
s1とrs2の目標電圧を切り替え指令信号15を使って切
り替えるようになっている。ここでrs2は除振台4を最
終的に定位させる位置の目標電圧であり、rs1はその手
前の位置を指定する目標電圧である。着座している除振
台4を目標電圧rs2で指定する位置へと最終的に定位さ
せるとき、まず目標電圧rs1を一定の時間だけ比較回路
12に与えて除振台4をある程度最終の平衡位置へと接
近させ、そして目標電圧をrs2へ切り替えることによっ
て最終の平衡位置に定位させている。このような切替え
によって、除振台4は振動的応答を呈することなく最終
の平衡位置に定位する。一方、最終の平衡位置を示す目
標電圧r s2だけを比較回路12に与えた場合には、除振
台4は振動的応答を伴いながら定位する。つまり、目標
電圧の切替えは、除振台4に余計な動きをさせることな
く平衡位置に定位させることができるので有効な手段で
ある。
[0008] Now, the target value generation unit 13 determines the vibration isolation table 4.
The equilibrium position to be shifted is specified. As shown in FIG.
s1And rs2Switch the target voltage using the switching command signal 15.
It is designed to be replaced. Where rs2Is the anti-vibration table 4
The target voltage at the position to be localized finally, rs1Is his hand
The target voltage that specifies the previous position. Seated vibration isolation
Target voltage rs2Is finally localized to the position specified by
First, the target voltage rs1The comparison circuit only for a certain time
12 and the anti-vibration table 4 is connected to the final equilibrium position to some extent.
And set the target voltage to rs2By switching to
To the final equilibrium position. Such a switch
As a result, the anti-vibration table 4 can be finally moved without exhibiting an oscillatory response.
To the equilibrium position of. On the other hand, the eye indicating the final equilibrium position
Standard voltage r s2Is given to the comparison circuit 12,
The platform 4 localizes with an oscillating response. In other words, the goal
Switching of the voltage does not cause the anti-vibration table 4 to move extra.
With an effective means
is there.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来技
術によれば、能動的除振装置によって支持された除振台
を着座位置から平衡位置へと定位させる場合、平衡位置
近傍での動作とは異なり大振幅動作となるため補償器あ
るいはアクチュエータなどの飽和を来たす。これは、着
座位置から平衡位置への収束過程で除振台の姿勢の暴れ
を招く。このような除振台の姿勢の乱れは能動的除振装
置で支持された本体構造体の機械接触を招いて損傷を与
え、且つアクチュエータおよびその駆動回路にも著しい
負担を与える、という問題を引き起こしている。また、
着座位置から平衡位置に除振台が定位する収束時間を長
くする結果として、除振台で支持された装置を実稼働に
移行する際の待機時間を長くしているという課題があ
る。また、上述の、目標電圧を切り替えて平衡位置に定
位させる技術によれば、なお収束には時間がかかる。
As described above, according to the prior art, when the anti-vibration table supported by the active anti-vibration device is localized from the sitting position to the equilibrium position, the operation near the equilibrium position is performed. Unlike the above, a large amplitude operation is performed, so that a compensator or an actuator is saturated. This causes the posture of the anti-vibration table to change during the convergence process from the sitting position to the equilibrium position. Such a disturbance in the posture of the vibration isolation table causes a problem that mechanical contact of the main body structure supported by the active vibration isolation device causes damage and also places a significant burden on the actuator and its driving circuit. ing. Also,
As a result of increasing the convergence time during which the anti-vibration table is localized from the sitting position to the equilibrium position, there is a problem in that the standby time when shifting the device supported by the anti-vibration table to actual operation is increased. In addition, according to the above-described technique of switching the target voltage to localize at the equilibrium position, convergence still takes time.

【0010】そこで、本発明は、能動的除振装置、この
装置を備えた露光装置およびこれを用いたデバイス製造
方法において、除振台を着座位置から平衡位置に定位さ
せる場合、除振台の姿勢を暴れさせることなく円滑に、
かつ短時間で収束させることを課題とする。
In view of the above, the present invention provides an active vibration isolator, an exposure apparatus having the same, and a device manufacturing method using the same, wherein the vibration isolator is positioned from a sitting position to an equilibrium position. Smoothly without losing your posture,
It is an object to converge in a short time.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この課題を解決するた
め、本発明の能動的除振装置は、除振台と、この除振台
を駆動および支持する空気ばねアクチュエータを有し、
前記除振台を防振支持する能動的支持脚と、前記除振台
の振動を検出する振動検出手段と、前記除振台の位置を
検出する位置検出手段と、前記振動検出手段と前記位置
検出手段の両出力に基づいて前記空気ばねアクチュエー
タに駆動力を発生させるためのフィードバック補償器
と、前記除振台の目標位置を指定する位置目標値出力部
と、前記空気ばねアクチュエータが発生すべき定常出力
を指定する圧力目標値出力部とを備えた能動的除振装置
において、前記圧力目標値出力部はその出力を前記定常
出力に対応する値に達するまでランプ状または段階状に
上昇させ、または前記定常出力に対応する値からランプ
状または段階状に下降させる機能を有するものであるこ
とを特徴とする。
In order to solve this problem, an active vibration isolator according to the present invention includes a vibration isolation table, and an air spring actuator for driving and supporting the vibration isolation table.
An active support leg for supporting the vibration isolation table in vibration isolation; vibration detection means for detecting vibration of the vibration isolation table; position detection means for detecting a position of the vibration isolation table; A feedback compensator for generating a driving force in the air spring actuator based on both outputs of the detection means, a position target value output unit for specifying a target position of the vibration isolation table, and the air spring actuator to generate A pressure target value output unit that specifies a steady output, wherein the pressure target value output unit increases the output in a ramp or step shape until the output reaches a value corresponding to the steady output. Alternatively, it has a function of decreasing the value corresponding to the steady-state output in a ramp or stepwise manner.

【0012】また、本発明の露光装置は、基板を保持し
て露光位置に位置決めするステージ装置と、このステー
ジ装置を支持する能動的除振装置を備え、前記露光位置
に位置決めされた基板を露光する露光装置において、能
動的除振装置として、前記本発明のものを具備すること
を特徴とする。
An exposure apparatus according to the present invention includes a stage device for holding a substrate and positioning the substrate at an exposure position, and an active vibration isolator supporting the stage device, and exposing the substrate positioned at the exposure position to an exposure position. The exposure apparatus according to the present invention is characterized in that the above-mentioned invention is provided as an active vibration isolator.

【0013】また、本発明のデバイス製造方法は、ステ
ージ装置により基板を保持して露光位置に位置決めし、
位置決めされた基板を露光するとともに、その際、前記
ステージ装置を能動的除振装置に搭載し、除振して、デ
バイスを製造する方法において、能動的除振装置とし
て、前記本発明のものを用い、その空気ばねアクチュエ
ータの出力を、それが発生すべき定常出力に達するまで
ランプ状または段階状に上昇させ、または前記定常出力
からランプ状または段階状に下降させる工程を有するこ
とを特徴とする。
Further, in the device manufacturing method of the present invention, the substrate is held by the stage device and positioned at the exposure position.
While exposing the positioned substrate, at this time, the stage device is mounted on an active anti-vibration device, the vibration is removed, and in a method of manufacturing a device, the device of the present invention is used as an active anti-vibration device. And ramping or ramping down the output of the air spring actuator until it reaches a steady state output at which it should occur, or ramping down from the steady state output. .

【0014】これによれば、除振台を着座位置から平衡
位置へと定位させるフロート動作時もしくは平衡位置か
ら着座位置へと定位させるダウン動作時に、空気ばねア
クチュエータの出力を、平衡位置に対応する定常出力に
達するまでランプ状または段階状に上昇させ、または定
常出力からランプ状または段階状に下降させることによ
り、除振台の位置は円滑かつ短時間で平衡位置または着
座位置に収束する。
According to this, the output of the air spring actuator corresponds to the equilibrium position at the time of the float operation for localizing the anti-vibration table from the sitting position to the equilibrium position or at the time of the down operation for localizing from the equilibrium position to the sitting position. The position of the anti-vibration table smoothly and quickly converges to the equilibrium position or the seating position by ramping up or stepping down from the steady output until reaching the steady output.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、実施例を用いて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to examples.

【0016】[0016]

【実施例】図1は本発明の一実施例に係る能動的除振装
置を示す。この図に基づく説明の前に、能動的除振装置
の機械構成を図3を使って説明しておく。同図におい
て、16は除振台17に搭載されたXYステージ、18
−1,18−2,18−3は除振台17を支える能動的
支持脚である。1脚の能動的支持脚18の中には、鉛直
方向と水平方向の各1軸を制御するために必要な加速度
センサAC、位置センサPO、サーボバルブSV、空気
ばねアクチュエータASが内蔵されている。ここで、図
中のAC、POなどのハイフンの次に付けた記号は図中
の座標系に従う方位と能動的支持脚の配置場所を示して
いる。例えば、Y2とはY軸方向であって左側に配置し
た能動的支持脚18−2の中にあるものを指す。
FIG. 1 shows an active vibration isolator according to an embodiment of the present invention. Prior to the description based on this drawing, the mechanical configuration of the active vibration isolation device will be described with reference to FIG. In the figure, reference numeral 16 denotes an XY stage mounted on a vibration isolation table 17;
Reference numerals -1, 18-2, and 18-3 denote active support legs for supporting the vibration isolation table 17. The active support leg 18 includes an acceleration sensor AC, a position sensor PO, a servo valve SV, and an air spring actuator AS necessary for controlling one axis in each of a vertical direction and a horizontal direction. . Here, the symbols attached to the hyphens such as AC and PO in the figure indicate the directions according to the coordinate system in the figure and the locations of the active support legs. For example, Y2 refers to the active support leg 18-2 arranged on the left side in the Y-axis direction.

【0017】再び図1に戻って、能動的除振装置の動作
説明をする。先ず、振動検出手段の代表である加速度セ
ンサAC−Z1,AC−Z2,AC−Z3,AC−X
1,AC−Y2,AC−Y3の出力は高周波ノイズを除
去する等の適切なフィルタリング処理が施されて、即座
に加速度に関する運動モード抽出演算手段19への入力
となる。その出力は運動モード加速度信号(ax,ay
z,aθx,aθy,aθz)となる。運動モードごとに
最適なダンピングを設定するべく、運動モード加速度信
号(ax,ay,az,aθx,aθy,aθz)は次段の加
速度信号に関するゲイン補償器20に導かれている。こ
のゲインを調整することによって運動モードごとに最適
なダンピング特性が得られる。このループを加速度フィ
ードバックループと称する。
Returning to FIG. 1, the operation of the active vibration isolator will be described. First, acceleration sensors AC-Z1, AC-Z2, AC-Z3, AC-X, which are representatives of vibration detecting means.
The outputs of AC-Y2, AC-Y2, and AC-Y3 are subjected to appropriate filtering processing such as removal of high-frequency noise, and are immediately input to the motion mode extraction / calculation means 19 relating to acceleration. Its output motion mode acceleration signals (a x, a y,
a z, aθ x, aθ y , the aθ z). In order to set an optimum damping for each motion mode, motion mode acceleration signals (a x, a y, a z, aθ x, aθ y, aθ z) is guided to the gain compensator 20 about the next stage of the acceleration signal I have. By adjusting this gain, an optimum damping characteristic can be obtained for each exercise mode. This loop is called an acceleration feedback loop.

【0018】次に、PO−Z1,PO−Z2,PO−Z
3,PO−X1,PO−Y2,PO−Y3は、位置検出
手段の代表としての位置センサであり、その出力は位置
目標値出力部21の出力である(Z10,Z20,Z30,X
10,Y20,Y30)と比較されて、各軸の位置偏差信号
(ez1,ez2,ez3,ex1,ey2,ey3)となる。これ
らの位置偏差信号は、除振台17の並進運動と各軸回り
の回転運動の合計6自由度の運動モード位置偏差信号
(ex,ey,ez,eθx,eθy,eθz)を演算出力す
る位置信号に関する運動モード抽出演算手段22に導か
れる。これらの出力信号は、運動モードごとにほぼ非干
渉で位置の特性を調整するPI補償器23に導かれてい
る。このループを位置フィードバックループと称する。
先に説明した加速度フィードバックループにおけるゲイ
ン補償器20の出力信号とこの位置フィードバックルー
プにおけるPI補償器23の出力信号とは加算されて運
動モード駆動信号(dx,dy,dz,dθx,dθy,d
θz)となる。続いて、この信号は運動モード分配演算
手段24への入力となり、各能動的支持脚内のサーボバ
ルブSVを駆動するための駆動信号(dz1,dz2
z3,dx1,dy2,dy3)を生成する。直接的には、こ
の駆動信号は各能動的支持脚内のサーボバルブSV−Z
1,SV−Z2,SV−Z3,SV−X1,SV−Y
2,SV−Y3の弁開閉を司る電流を通電するための電
圧電流変換器25(図中、VI変換と略記)を励磁して
いる。そして、最終的に、空気ばねアクチュエータAS
に駆動力を発生させている。このように、振動検出手段
の出力に基づく加速度フィードバックループと位置検出
手段の出力に基づく位置フィードバックとによって空気
ばねアクチュエータASに駆動力を発生させる装置部分
をフィードバック補償器と呼ぶことにする。
Next, PO-Z1, PO-Z2, PO-Z
3, PO-X1, PO- Y2, PO-Y3 is a position sensor as a representative of the position detecting means, the output is the output of the position target value output section 21 (Z 10, Z 20, Z 30, X
10 , Y 20 , Y 30 ) to obtain position error signals (e z1 , e z2 , e z3 , e x1 , e y2 , e y3 ) of each axis. These position deviation signal, the total of six degrees of freedom of motion mode position error signals (e x translational and rotational movement about each axis of the anti-vibration table 17, e y, e z, eθ x, eθ y, eθ z ) Is guided to the motion mode extraction / calculation means 22 for the position signal for calculating and outputting. These output signals are guided to a PI compensator 23 that adjusts the position characteristics with almost no interference for each motion mode. This loop is called a position feedback loop.
The output signal of the gain compensator 20 in the acceleration feedback loop described above and the output signal of the PI compensator 23 in the position feedback loop are added, and the motion mode drive signals (d x , d y , d z , dθ x , dθ y , d
θ z ). Subsequently, this signal becomes an input to the motion mode distribution calculating means 24, and the drive signals (d z1 , d z2 , d z2 , d z2 ) for driving the servo valves SV in the respective active support legs.
d z3, d x1, d y2 , d y3) to generate. Directly, this drive signal is applied to the servo valve SV-Z in each active support leg.
1, SV-Z2, SV-Z3, SV-X1, SV-Y
2, a voltage / current converter 25 (abbreviated as VI conversion in the figure) for supplying a current for opening and closing the valve of the SV-Y3 is excited. And finally, the air spring actuator AS
To generate driving force. In this way, the device that generates a driving force in the air spring actuator AS by the acceleration feedback loop based on the output of the vibration detecting means and the position feedback based on the output of the position detecting means will be referred to as a feedback compensator.

【0019】なお、LA−X,LA−θ,LA−Yは、
それぞれX方向、鉛直軸回りの回転、Y方向のXYステ
ージ16の位置を計測するためのレーザ干渉計であり、
これは露光装置本体28に装着されている。そして、図
1では、加速度センサAC−Z1,AC−Z2,AC−
Z3,AC−X1,AC−Y2,AC−Y3、位置セン
サPO−Z1,PO−Z2,PO−Z3,PO−X1,
PO−Y2,PO−Y3、およびサーボバルブSV−Z
1,SV−Z2,SV−Z3,SV−X1,SV−Y
2,SV−Y3も露光装置本体28に装着されている表
現が採られているが、これは、もちろん図3に示した能
動的除振装置を露光装置本体28の中のユニットとして
いるからである。
Note that LA-X, LA-θ and LA-Y are
A laser interferometer for measuring the position of the XY stage 16 in the X direction, rotation around the vertical axis, and Y direction, respectively.
This is mounted on the exposure apparatus main body 28. In FIG. 1, the acceleration sensors AC-Z1, AC-Z2, AC-
Z3, AC-X1, AC-Y2, AC-Y3, position sensors PO-Z1, PO-Z2, PO-Z3, PO-X1,
PO-Y2, PO-Y3, and servo valve SV-Z
1, SV-Z2, SV-Z3, SV-X1, SV-Y
2 and SV-Y3, the expression of being mounted on the exposure apparatus main body 28 is adopted, but this is because the active anti-vibration apparatus shown in FIG. is there.

【0020】ここで、圧力目標値出力部26の出力(d
z10,dz20,dz30,dx10,dy20,dy30)は電圧電流
変換器25の前段に印加されている。したがって、この
出力はサーボバルブSVに定常電流を流す役割を持つ。
着座している除振台17を平衡位置へ定位させる際、圧
力目標値出力部26の出力によってサーボバルブSVに
定常電流が先行的に流されて、空気ばねアクチュエータ
ASには急速に空気が充填される。平衡位置において空
気ばねアクチュエータASが必要とする空気を急速に充
填するので、加速度センサの出力を零にする制御と、目
標位置に定常偏差なく定位させるためのサーボ系の修正
動作は極く僅かなものとなる。結果として、除振台17
を位置目標値出力部21で指定した平衡位置に素早く定
位させることができる。しかし、空気ばねアクチュエー
タASの内圧を急激に上げるので、閉ループ系の修正動
作が間に合わずに、除振台17の平衡位置からの行き過
ぎを招くこともある。
Here, the output of the pressure target value output unit 26 (d
z10, d z20, d z30, d x10, d y20, d y30) is applied to the front stage of the voltage-current converter 25. Therefore, this output has a role of flowing a steady current to the servo valve SV.
When the seated anti-vibration table 17 is located at the equilibrium position, a steady current is supplied to the servo valve SV in advance by the output of the target pressure output unit 26, and the air spring actuator AS is rapidly filled with air. Is done. Since the air required by the air spring actuator AS is rapidly filled at the equilibrium position, the control for setting the output of the acceleration sensor to zero and the correction operation of the servo system for localizing the target position without a steady-state error are extremely slight. It will be. As a result, the vibration isolation table 17
Can be quickly located at the equilibrium position designated by the position target value output unit 21. However, since the internal pressure of the air spring actuator AS is rapidly increased, the correction operation of the closed loop system cannot be performed in time, and the vibration isolating table 17 may be excessively moved from the equilibrium position.

【0021】そこで、本発明に従い、従来技術に係る位
置目標値のランプ状の立ち上げ、もしくは段階的な切り
替えとともに、空気ばねアクチュエータASへ作動流体
の空気を充填するためのサーボバルブの電流もランプ状
に立ち上げるか、もしくは段階的に切り替える。すなわ
ち、サーボバルブSVへの電流をランプ状に立ち上げる
場合には、平衡位置に除振台を定位させるために必要な
サーボバルブSVの定常電流値までランプ状に電流を増
加させる。また、サーボバルブSVの電流を段階的に切
り替える場合、除振台17を立ち上げる初期の一定の時
間内は最終の定常電流よりも低い電流を与えておき、そ
の後、除振台が平衡位置にあるときに必要な流量を流す
ためのサーボバルブSVへのバイアス電流へと切り替え
る。
Therefore, according to the present invention, the current of the servo valve for filling the air spring actuator AS with the working fluid air is also ramped together with the ramp-up or stepwise switching of the position target value according to the prior art. Or switch in stages. That is, when the current to the servo valve SV rises in a ramp shape, the current is increased in a ramp shape to a steady current value of the servo valve SV necessary for positioning the vibration isolation table at the equilibrium position. When the current of the servo valve SV is switched in a stepwise manner, a current lower than the final steady-state current is applied within a certain initial period when the vibration isolating table 17 is started, and then the vibration isolating table 17 is moved to the equilibrium position. At a certain time, the current is switched to a bias current for the servo valve SV to flow a required flow rate.

【0022】図4は、除振台17を平衡位置へと定位さ
せるときの圧力目標値出力部26の出力(dz10
z20,dz30,dx10,dy20,dy30)を示す。同図
(a)は浮上着座指令端子27に印加する信号であり、
ローレベルのとき浮上の指令となっている。このとき、
同図(b)に示す圧力目標値出力部26の出力は零から
徐々に増大して、すなわちランプ状に増加して最終の定
常値を設定するようになっている。また、同図(c)
は、圧力目標値出力部26の出力を階段状に増加して最
終の定常値を設定するときの波形である。
FIG. 4 shows the output (d z10 , d z10) of the pressure target value output unit 26 when the anti-vibration table 17 is located at the equilibrium position.
d z20, d z30, showing the d x10, d y20, d y30 ). FIG. 7A shows a signal applied to the floating seat command terminal 27.
At low level, it is a floating command. At this time,
The output of the pressure target value output section 26 shown in FIG. 4B gradually increases from zero, that is, increases in a ramp shape to set a final steady value. Also, FIG.
Is a waveform when the output of the target pressure value output unit 26 is increased stepwise to set a final steady value.

【0023】なお、上述では除振台4を着座位置から平
衡位置へ定位させる動作に対して説明したが、除振台4
を平衡位置から着座させる動作にも適用できることは言
うまでもない。つまり、位置目標値とサーボバルブSV
の電流とをランプ状に変化させることによって、もしく
は位置目標値とサーボバルブSVの電流とを段階的に切
り替えることによって除振台17を着座させてもよい。
また、段階的な切り替えを行なう場合の段数であるが、
図4(c)では2段階目で最終値に到達させているが、
この段数に制約を設けるものではない。
In the above description, the operation of positioning the anti-vibration table 4 from the sitting position to the equilibrium position has been described.
It is needless to say that the present invention can also be applied to the operation of sitting from the equilibrium position. That is, the target position value and the servo valve SV
May be seated by changing the current in a ramp shape or by switching the position target value and the current of the servo valve SV stepwise.
Also, it is the number of stages when performing stepwise switching,
In FIG. 4C, the final value is reached in the second stage,
There is no limitation on the number of stages.

【0024】最後に、本実施例の能動的除振装置による
除振台の浮上位置決めの様子を図5に示す。同図(a)
の波形はサーボバルブSVに流すバイアス電流の様子で
ある。図中、Aは位置決め開始指令と同時にステップ状
のバイアス電流を流す場合の波形であり、Bはサーボバ
ルブにランプ状にバイアス電流を流していく場合の波形
である。このようなサーボバルブSVへのバイアス電流
の流し方に対応して、除振台は概ね図5(b)の波形で
示す過渡現象を経て目標位置に定位する。すなわち、従
来のようにステップ状にサーボバルブSVに電流を通電
した場合には、オーバシュートとアンダーシュートを繰
り返しながら除振台が平衡位置に定位している(波形
A)。一方、ランプ状にサーボバルブヘの電流を通電し
た場合には、除振台17を暴れさせることなく目標位置
に定位させている(波形B)ことが分かる。なお、図5
(b)の縦軸の単位はmmであって除振台の並進方向の
変位を示すが、除振台の回転姿勢も振動的にしないこと
はもちろんである。
Finally, FIG. 5 shows how the active vibration isolator according to the present embodiment floats and positions the vibration isolation table. FIG.
Is a state of the bias current flowing through the servo valve SV. In the figure, A is a waveform when a step-like bias current is supplied simultaneously with the positioning start command, and B is a waveform when a bias current is supplied to the servo valve in a ramp shape. In response to such a way of supplying the bias current to the servo valve SV, the anti-vibration table is localized at the target position through a transient phenomenon generally shown by the waveform in FIG. That is, when a current is applied to the servo valve SV in a step-like manner as in the related art, the anti-vibration table is localized at the equilibrium position while repeating overshoot and undershoot (waveform A). On the other hand, when the current is supplied to the servo valve in the form of a ramp, it can be seen that the anti-vibration table 17 is localized at the target position without making the ramp violate (waveform B). FIG.
The unit of the vertical axis in (b) is mm, which indicates the displacement of the vibration isolation table in the translation direction. Needless to say, the rotational attitude of the vibration isolation table is not oscillating.

【0025】また、図5(a)は圧力目標値出力部26
の出力によってサーボバルブSVに通電される電流波形
であるが、もちろん位置目標値出力部21の出力波形と
して使用することもできる。そして、圧力目標値出力部
26と位置目標値出力部21の出力を共に所定の値まで
ランプ状に、もしくは階段状に上昇または下降する機能
を持たせてもよい。
FIG. 5A shows a target pressure output section 26.
Is a current waveform which is supplied to the servo valve SV by the output of the control signal SV. However, it can be used as an output waveform of the position target value output unit 21 as a matter of course. The output of the target pressure output unit 26 and the output of the target position output unit 21 may both have a function of increasing or decreasing in a ramp or stepwise manner to a predetermined value.

【0026】<デバイス製造方法の実施例>次に本発明
の露光装置を利用したデバイス製造方法の実施例を説明
する。図6は微小デバイス(ICやLSI等の半導体チ
ップ、液晶パネル、CCD、薄膜磁気ヘッド、マイクロ
マシン等)の製造のフローを示す。ステップ1(回路設
計)ではデバイスのパターン設計を行なう。ステップ2
(マスク製作)では設計したパターンを形成したマスク
を製作する。一方、ステップ3(ウエハ製造)ではシリ
コンやガラス等の材料を用いてウエハを製造する。ステ
ップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、上記用意
したマスクとウエハを用いて、リソグラフィ技術によっ
てウエハ上に実際の回路を形成する。次のステップ5
(組立て)は後工程と呼ばれ、ステップ4によって作製
されたウエハを用いて半導体チップ化する工程であり、
アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッ
ケージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ステッ
プ6(検査)ではステップ5で作製された半導体デバイ
スの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行なう。
こうした工程を経て、半導体デバイスが完成し、これが
出荷(ステップ7)される。
<Embodiment of Device Manufacturing Method> Next, an embodiment of a device manufacturing method using the exposure apparatus of the present invention will be described. FIG. 6 shows a flow of manufacturing micro devices (semiconductor chips such as ICs and LSIs, liquid crystal panels, CCDs, thin-film magnetic heads, micromachines, etc.). In step 1 (circuit design), a device pattern is designed. Step 2
In (mask production), a mask on which a designed pattern is formed is produced. On the other hand, in step 3 (wafer manufacture), a wafer is manufactured using a material such as silicon or glass. Step 4 (wafer process) is called a pre-process, and an actual circuit is formed on the wafer by lithography using the prepared mask and wafer. Next Step 5
(Assembly) is called a post-process, and is a process of forming a semiconductor chip using the wafer produced in Step 4,
It includes processes such as an assembly process (dicing and bonding) and a packaging process (chip encapsulation). In step 6 (inspection), inspections such as an operation confirmation test and a durability test of the semiconductor device manufactured in step 5 are performed.
Through these steps, a semiconductor device is completed and shipped (step 7).

【0027】図7は上記ウエハプロセス(ステップ4)
の詳細なフローを示す。ステップ11(酸化)ではウエ
ハの表面を酸化させる。ステップ12(CVD)ではウ
エハ表面に絶縁膜を形成する。ステップ13(電極形
成)ではウエハ上に電極を蒸着によって形成する。ステ
ップ14(イオン打込み)ではウエハにイオンを打ち込
む。ステップ15(レジスト処理)ではウエハにレジス
トを塗布する。ステップ16(露光)では上記説明した
露光装置または露光方法によってマスクの回路パターン
をウエハの複数のショット領域に並べて焼付露光する。
ステップ17(現像)では露光したウエハを現像する。
ステップ18(エッチング)では現像したレジスト像以
外の部分を削り取る。ステップ19(レジスト剥離)で
はエッチングが済んで不要となったレジストを取り除
く。これらのステップを繰り返し行なうことによって、
ウエハ上に多重に回路パターンが形成される。
FIG. 7 shows the wafer process (step 4).
The detailed flow of is shown. Step 11 (oxidation) oxidizes the wafer's surface. Step 12 (CVD) forms an insulating film on the wafer surface. Step 13 (electrode formation) forms electrodes on the wafer by vapor deposition. In step 14 (ion implantation), ions are implanted into the wafer. In step 15 (resist processing), a resist is applied to the wafer. Step 16 (exposure) uses the above-described exposure apparatus or exposure method to align and print the circuit pattern of the mask on a plurality of shot areas of the wafer.
Step 17 (development) develops the exposed wafer.
In step 18 (etching), portions other than the developed resist image are removed. In step 19 (resist stripping), unnecessary resist after etching is removed. By repeating these steps,
Multiple circuit patterns are formed on the wafer.

【0028】本実施例の生産方法を用いれば、従来は製
造が難しかった大型のデバイスを低コストに製造するこ
とができる。
By using the production method of this embodiment, it is possible to produce a large-sized device, which was conventionally difficult to produce, at low cost.

【0029】[0029]

【発明の効果】本発明の効果は以下の通りである。 (1)除振台を着座位置から平衡位置へと定位させるフ
ロート動作時、もしくは平衡位置から着座位置へと定位
させるダウン動作時に除振台の姿勢を暴れさせることが
ない。したがって、除振台に搭載された精密機器、もし
くは除振台と一体の構造部材を機械接触または衝突させ
てしまうことが回避できる。 (2)除振台を円滑に立ち上げるのでアクチュエータに
かかる負担が軽減される、という効果がある。 (3)平衡位置への収束が速いので、装置を素早く稼働
状態に移行させることができる。 (4)もって、露光装置およびデバイス製造の生産性に
寄与するところ大という効果がある。
The effects of the present invention are as follows. (1) The posture of the anti-vibration table does not change during a float operation for localizing the anti-vibration table from the sitting position to the equilibrium position or a down operation for localizing the anti-vibration table from the equilibrium position to the sitting position. Therefore, it is possible to avoid mechanical contact or collision between a precision device mounted on the vibration isolation table or a structural member integrated with the vibration isolation table. (2) Since the anti-vibration table is started up smoothly, the load on the actuator is reduced. (3) Since the convergence to the equilibrium position is fast, the device can be quickly shifted to the operating state. (4) There is an effect that it greatly contributes to the productivity of the exposure apparatus and device manufacturing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施例に係る能動的除振装置を示
すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an active vibration isolator according to one embodiment of the present invention.

【図2】 従来の能動的除振装置の原理を説明する図で
ある。
FIG. 2 is a diagram illustrating the principle of a conventional active vibration isolation device.

【図3】 図1の能動的除振装置の機械構成を示す図で
ある。
FIG. 3 is a diagram showing a mechanical configuration of the active vibration isolation device of FIG. 1;

【図4】 図1の装置における圧力目標値の生成波形例
を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a generated waveform of a pressure target value in the apparatus of FIG. 1;

【図5】 図1の装置における除振台の浮上位置決めの
様子を従来例と比較して示すグラフである。
FIG. 5 is a graph showing a state of floating positioning of a vibration isolation table in the apparatus of FIG. 1 in comparison with a conventional example.

【図6】 本発明の露光装置を利用できるデバイス製造
方法を示すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a device manufacturing method that can use the exposure apparatus of the present invention.

【図7】 図6中のウエハプロセスの詳細なフローチャ
ートである。
FIG. 7 is a detailed flowchart of a wafer process in FIG. 6;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:サーボバルブ、2:空気ばね、3:位置検出手段、
4:除振台、5:予圧用機械ばね、6:粘性要素、7:
フィードバック装置、8:振動検出手段、9:フィルタ
回路、10:電圧電流変換器、11:変位増幅器、1
2:比較回路、13:目標値生成部、14:PI補償
器、15:切替え指令信号、16:XYステージ、1
7:除振台、18−1,18−2,18−3:能動的支
持脚、19:加速度に関する運動モード抽出演算手段、
20:ゲイン補償器、21:位置目標値出力部、22:
位置信号に関する運動モード抽出演算手段、23:PI
補償器、24:運動モード分配演算手段、25:電圧電
流変換器、26:圧力目標値出力部、27:浮上着座指
令端子、AC:加速度センサ、AS:空気ばねアクチュ
エータ、PO:位置センサ、SV:サーボバルブ。
1: servo valve, 2: air spring, 3: position detecting means,
4: Vibration isolation table, 5: mechanical spring for preload, 6: viscous element, 7:
Feedback device, 8: vibration detecting means, 9: filter circuit, 10: voltage-current converter, 11: displacement amplifier, 1
2: comparison circuit, 13: target value generator, 14: PI compensator, 15: switch command signal, 16: XY stage, 1
7: anti-vibration table, 18-1, 18-2, 18-3: active support legs, 19: motion mode extraction calculation means for acceleration,
20: gain compensator, 21: position target value output unit, 22:
Exercise mode extraction calculation means for position signal, 23: PI
Compensator, 24: Motion mode distribution calculation means, 25: Voltage / current converter, 26: Pressure target value output unit, 27: Levitation seat command terminal, AC: Acceleration sensor, AS: Air spring actuator, PO: Position sensor, SV : Servo valve.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 除振台と、この除振台を駆動および支持
する空気ばねアクチュエータを有し、前記除振台を防振
支持する能動的支持脚と、前記除振台の振動を検出する
振動検出手段と、前記除振台の位置を検出する位置検出
手段と、前記振動検出手段と前記位置検出手段の両出力
に基づいて前記空気ばねアクチュエータに駆動力を発生
させるためのフィードバック補償器と、前記除振台の目
標位置を指定する位置目標値出力部と、前記空気ばねア
クチュエータが発生すべき定常出力を指定する圧力目標
値出力部とを備えた能動的除振装置において、前記圧力
目標値出力部はその出力を前記定常出力に対応する値に
達するまでランプ状または段階状に上昇させ、または前
記定常出力に対応する値からランプ状または段階状に下
降させる機能を有することを特徴とする能動的除振装
置。
1. An anti-vibration table having an air spring actuator for driving and supporting the anti-vibration table, an active support leg for anti-vibration support of the anti-vibration table, and detecting vibration of the anti-vibration table. Vibration detecting means, position detecting means for detecting the position of the vibration isolation table, and a feedback compensator for generating a driving force in the air spring actuator based on both outputs of the vibration detecting means and the position detecting means. An active vibration isolator including a position target value output unit that specifies a target position of the vibration isolation table, and a pressure target value output unit that specifies a steady output to be generated by the air spring actuator; The value output unit has a function of increasing the output in a ramp or stepwise manner until reaching the value corresponding to the steady output, or decreasing the output in a ramp or stepwise manner from the value corresponding to the steady output. An active vibration isolator characterized by the following.
【請求項2】 前記位置目標値出力部は、前記除振台の
目標位置を、最終の目標とする平衡位置へ向けてランプ
状または段階状に上昇しまたはその位置からランプ状ま
たは段階状に下降するように指定する機能を有すること
を特徴とする請求項1に記載の能動的除振装置。
2. The position target value output section raises a target position of the vibration isolation table in a ramp shape or a step shape toward a final target equilibrium position, or in a ramp shape or a step shape from the position. The active vibration isolator according to claim 1, further comprising a function of designating descending.
【請求項3】 基板を保持して露光位置に位置決めする
ステージ装置と、このステージ装置を支持する能動的除
振装置を備え、前記露光位置に位置決めされた基板を露
光する露光装置において、前記能動的除振装置として、
請求項1または2のものを具備することを特徴とする露
光装置。
3. An exposure apparatus, comprising: a stage device for holding a substrate and positioning the substrate at an exposure position; and an active anti-vibration device for supporting the stage device, wherein the exposure device exposes the substrate positioned at the exposure position. As a typical anti-vibration device,
An exposure apparatus comprising: the exposure apparatus according to claim 1.
【請求項4】 ステージ装置により基板を保持して露光
位置に位置決めし、位置決めされた基板を露光するとと
もに、その際、前記ステージ装置を能動的除振装置に搭
載し、除振して、デバイスを製造する方法において、前
記能動的除振装置として、請求項1または2のものを用
い、その空気ばねアクチュエータの出力を、それが発生
すべき定常出力に達するまでランプ状または段階状に上
昇させ、または前記定常出力からランプ状または段階状
に下降させる工程を有することを特徴とするデバイス製
造方法。
4. A device for holding a substrate by a stage device and positioning the substrate at an exposure position, exposing the positioned substrate, and mounting the stage device on an active anti-vibration device, performing vibration isolation, Wherein the active vibration isolator is ramped or stepped until the output of the air spring actuator reaches a steady output at which it is to be generated. Or a step of ramping down or stepping down from the steady output.
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