JP2000270170A - Image signal processing circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル複写機や
ファクシミリ装置の読取部やイメージスキャナ等の画像
読取装置に用いられる光電変換素子であるCCDリニア
イメージセンサに関連し、このCCDリニアイメージセ
ンサの出力信号から入力光量に応じた画像信号成分のみ
をデジタルデータに変換する画像信号処理回路に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a CCD linear image sensor which is a photoelectric conversion element used for a reading section of a digital copying machine or a facsimile apparatus or an image reading apparatus such as an image scanner. The present invention relates to an image signal processing circuit that converts only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal into digital data.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、この種の画像読取装置では、画
像を読み取るための光電変換素子としてCCDリニアイ
メージセンサが多用されている。この場合、CCDリニ
アイメージセンサの出力信号から入力光量に応じた画像
信号成分のみをデジタルデータに変換するための信号処
理回路中には何らかの増幅器が設けられる。より具体的
には、CCDリニアイメージセンサからの出力信号をサ
ンプルホールドしてピーク値を検出してA/D変換し、
そのピーク値が最大出力レベルとなるように可変ゲイン
増幅器のゲインを可変させてA/D変換器に入力させる
ことで、A/D変換器のダイナミックレンジが広くなる
ようにしている。即ち、ピークホールド回路・A/D変
換器間の信号処理経路中には、A/D変換されたピーク
値等のデジタルデータによってゲインが可変な可変ゲイ
ン増幅器が介在される。2. Description of the Related Art Generally, in this type of image reading apparatus, a CCD linear image sensor is frequently used as a photoelectric conversion element for reading an image. In this case, some kind of amplifier is provided in a signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of the CCD linear image sensor into digital data. More specifically, the output signal from the CCD linear image sensor is sampled and held, and the peak value is detected and A / D converted.
The dynamic range of the A / D converter is widened by changing the gain of the variable gain amplifier so that the peak value becomes the maximum output level and inputting the gain to the A / D converter. That is, in the signal processing path between the peak hold circuit and the A / D converter, a variable gain amplifier whose gain is variable by digital data such as an A / D converted peak value is interposed.
【0003】その第1の従来例として、図26に示すよ
うに固定ゲイン増幅器100の前段にR‐2Rラダー抵
抗器101による信号減衰器102を介在させてなる可
変ゲイン増幅器103を用いたものがある。ここに、R
‐2Rラダー抵抗器101は図27に示すように複数の
抵抗Rと抵抗2Rとを梯子状に接続し、設定データDD
に基づき抵抗Rと抵抗2Rとの組合せ段数を切り換え制
御することにより減衰率が可変自在なものである。い
ま、固定ゲイン増幅器100のゲインをA、設定データ
DDのビット数をLとすると、可変ゲイン増幅器103
としてのゲインGは、 G=A*(DD+1)/2L(倍) となる。As a first conventional example, as shown in FIG. 26, a variable gain amplifier 103 in which a signal attenuator 102 having an R-2R ladder resistor 101 is interposed in front of a fixed gain amplifier 100 is used. is there. Where R
The −2R ladder resistor 101 connects the plurality of resistors R and the resistors 2R in a ladder shape as shown in FIG.
The damping rate can be varied by switching and controlling the number of stages of combination of the resistor R and the resistor 2R based on. Now, assuming that the gain of the fixed gain amplifier 100 is A and the number of bits of the setting data DD is L, the variable gain amplifier 103
Is G = A * (DD + 1) / 2 L (times).
【0004】第2の従来例として、図28に示すよう
に、演算増幅器110の帰還ループにR‐2Rラダー抵
抗器111による信号減衰器112を介在させてなる可
変ゲイン増幅器113を用いたものがある。ここに、R
‐2Rラダー抵抗器111は図27に示したものと同様
である(後述するR‐2Rラダー抵抗器についても全て
同様である)。この場合の可変ゲイン増幅器113とし
てのゲインGは、 G=2L/(DD+1)(倍) となる。この第2の従来例方式による場合、ゲイン設定
カーブが設定データDDに対して反比例(1/Dカー
ブ)するため、A/D変換後の信号のピーク値を設定デ
ータとするので高速でゲインの調整・設定を行なえる利
点がある。[0004] As a second conventional example, as shown in FIG. 28, a variable gain amplifier 113 in which a signal attenuator 112 including an R-2R ladder resistor 111 is interposed in a feedback loop of an operational amplifier 110 is used. is there. Where R
The −2R ladder resistor 111 is the same as that shown in FIG. 27 (the same applies to the R-2R ladder resistor described later). In this case, the gain G of the variable gain amplifier 113 is G = 2 L / (DD + 1) (times). In the case of the second conventional example, since the gain setting curve is inversely proportional to the setting data DD (1 / D curve), the peak value of the signal after A / D conversion is used as the setting data. There is an advantage that adjustment and setting can be performed.
【0005】第3の従来例として、図29に示すよう
に、固定ゲイン増幅器120の前段にゲイン減衰器12
1を接続させてなる可変ゲイン増幅器122を用いたも
のがある。ここに、ゲイン減衰器121は、例えば図3
0に示すようにπ型(又は、T型)の減衰器123を多
段に接続し、信号通過減衰器を設定データDDに従い切
り換えることによりゲイン(dB)の減衰率を可変し得
るものである。いま、減衰器123の最小減衰率(d
B)をaとすると、可変ゲイン増幅器122としてのゲ
インGは、 G=A−(a*DD)(dB) となる。As a third conventional example, as shown in FIG. 29, a gain attenuator 12
There is a device using a variable gain amplifier 122 formed by connecting the variable gain amplifiers 1 and 2. Here, the gain attenuator 121 is, for example, as shown in FIG.
As shown by 0, the π-type (or T-type) attenuator 123 is connected in multiple stages, and the attenuation factor of the gain (dB) can be varied by switching the signal passing attenuator according to the setting data DD. Now, the minimum attenuation rate of the attenuator 123 (d
Assuming that B) is a, the gain G of the variable gain amplifier 122 is as follows: G = A− (a * DD) (dB)
【0006】第4の従来例として、図31に示すよう
に、演算増幅器130の帰還ループにゲイン減衰器13
1を接続させてなる可変ゲイン増幅器132を用いたも
のがある。ここに、ゲイン減衰器131は、図30に示
したものと同様であり、π型(又は、T型)の減衰器を
多段に接続し、信号通過減衰器を設定データDDに従い
切り換えることによりゲイン(dB)の減衰率を可変し
得るものである。この場合の可変ゲイン増幅器132と
してのゲインGは、 G=a*DD(dB) となる。As a fourth conventional example, as shown in FIG. 31, a gain attenuator 13 is provided in a feedback loop of an operational amplifier 130.
There is a device using a variable gain amplifier 132 formed by connecting 1 to each other. Here, the gain attenuator 131 is the same as that shown in FIG. 30. The π-type (or T-type) attenuator is connected in multiple stages, and the signal-passage attenuator is switched according to the setting data DD. (DB) can be varied. In this case, the gain G of the variable gain amplifier 132 is as follows: G = a * DD (dB)
【0007】第5の従来例として、特に図示しないが、
電圧制御型の可変ゲイン増幅器とデジタル/アナログ変
換器とを組み合わせたものがある。As a fifth conventional example, although not particularly shown,
There is a combination of a voltage-controlled variable gain amplifier and a digital / analog converter.
【0008】第6の従来例として、特に図示しないが、
例えば特開平10−243188号公報に示されるよう
に、デジタル的に減衰率が設定自在な多ビットのR‐2
Rラダー抵抗器とこのR‐2Rラダー抵抗器に並列に接
続された最大減衰率規定抵抗とを有して、CCDリニア
イメージセンサからの出力信号が入力される減衰器と、
この減衰器の後段に接続された固定ゲイン増幅器とより
なる可変ゲイン増幅器を備えることで、R‐2Rラダー
抵抗器を主ゲイン切換素子としたものがある。同様に、
抵抗ストリングを主ゲイン切換素子とした可変ゲイン増
幅器もある。As a sixth conventional example, although not particularly shown,
For example, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-243188, a multi-bit R-2 digitally adjustable attenuation factor is provided.
An attenuator having an R ladder resistor and a maximum attenuation rate defining resistor connected in parallel to the R-2R ladder resistor, to which an output signal from the CCD linear image sensor is input;
There is a type in which an R-2R ladder resistor is used as a main gain switching element by providing a variable gain amplifier including a fixed gain amplifier connected to a stage subsequent to the attenuator. Similarly,
There is also a variable gain amplifier using a resistor string as a main gain switching element.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】ところが、第1,2の
従来例による場合、ゲインの可変幅が大きすぎ、可変ス
テップが粗すぎる。例えば、図26に示した可変ゲイン
増幅器103にあっては、ピーク値等に基づく設定デー
タDDが最も一般的な8ビットの場合、ゲインの可変幅
は1/256〜256/256(=1)、ステップ幅は
1/256程度に留まるものであり、近年、この種の画
像読取装置に要求されている高解像度読取、高速読取等
を実現する上ではゲインの調整・設定が不十分となって
しまう。However, according to the first and second conventional examples, the variable width of the gain is too large and the variable step is too coarse. For example, in the variable gain amplifier 103 shown in FIG. 26, when the setting data DD based on the peak value or the like is the most common 8-bit, the variable width of the gain is 1/256 to 256/256 (= 1). , The step width is only about 1/256, and the adjustment and setting of the gain are insufficient for realizing high-resolution reading, high-speed reading, and the like required for this type of image reading apparatus in recent years. I will.
【0010】また、第3,4の従来例による場合、ゲイ
ン可変幅や可変ステップは自由に設定し得るものの、微
小なゲイン可変幅や微小な可変ステップに設定しようと
すると、減衰器121,131を構成する抵抗値が広範
囲にわたりすぎてしまい、モノリシックIC構成とする
場合には抵抗自体が非常に大きくなってしまったり、必
要な精度を確保しにくく、実現困難な現状にある。ま
た、ゲイン設定カーブが設定データDDに対してdBで
比例(dBカーブ)するので、きめ細かなゲイン設定が
最小の設定データ長で行なえるものの、実現できるゲイ
ン設定カーブは各構成毎に一つに決まってしまうもので
ある。In the third and fourth conventional examples, the gain variable width and the variable step can be freely set. However, if the small gain variable width and the small variable step are set, the attenuators 121 and 131 are not used. Are too large in the case of a monolithic IC configuration, the resistance itself becomes extremely large, or it is difficult to secure required accuracy, and it is difficult to realize the configuration. Further, since the gain setting curve is proportional to the setting data DD in dB (dB curve), fine gain setting can be performed with the minimum setting data length, but only one gain setting curve can be realized for each configuration. It will be decided.
【0011】第5の従来例による場合には、ゲイン可変
幅や可変ステップやゲイン設定カーブは比較的自由に設
定し得るものの、原理的に高精度に実現するのは困難で
ある。In the case of the fifth conventional example, although the gain variable width, variable step, and gain setting curve can be set relatively freely, it is difficult in principle to achieve high precision.
【0012】第6の従来例による場合、高精度のR−2
Rラダー抵抗器を実現するためには高精度のICプロセ
スが必要であるとともに、R−2Rラダー抵抗を選択す
るためのアナログスイッチのON抵抗を小さく(素子サ
イズを大きく)しなければならない。このため、高精度
の可変ゲイン増幅器の実現が困難、又は、高価となって
しまう。また、抵抗ストリングを使ったものでは、構成
するアナログスイッチが多く、アナログスイッチのON
抵抗や寄生容量のため広い周波数帯域を確保するのが困
難である。また、単調性は確保できるが絶対精度は抵抗
ストリングの抵抗値と抵抗切換回路の抵抗値の相対精度
で効いてくるため、やはり高精度化は困難である。In the case of the sixth conventional example, a highly accurate R-2
In order to realize the R ladder resistor, a high-precision IC process is required, and the ON resistance of the analog switch for selecting the R-2R ladder resistor must be reduced (the element size must be increased). Therefore, it is difficult or expensive to realize a highly accurate variable gain amplifier. In the case of using a resistor string, many analog switches are configured, and the analog switches are turned on.
It is difficult to secure a wide frequency band due to resistance and parasitic capacitance. Although monotonicity can be ensured, the absolute accuracy depends on the relative accuracy between the resistance value of the resistor string and the resistance value of the resistance switching circuit, so that it is also difficult to achieve high accuracy.
【0013】そこで、本発明は、高速な画像信号に対し
て広いゲイン可変幅を確保することができるとともに、
読み取った画像データから不要な演算を行なわずに最適
なゲイン設定が可能な設定値に逆比例するゲイン設定カ
ーブ(即ち、1/Dカーブ)を実現でき、きめ細かなゲ
インの微調整が可能で、モノリシックIC化することも
容易な可変ゲイン増幅器を備えた画像信号処理回路を提
供することを目的とする。Accordingly, the present invention can secure a wide variable gain range for a high-speed image signal,
A gain setting curve (that is, 1 / D curve) that is inversely proportional to a set value at which an optimum gain can be set without performing unnecessary calculation from the read image data can be realized, and fine gain fine adjustment is possible. It is an object of the present invention to provide an image signal processing circuit having a variable gain amplifier that can be easily made into a monolithic IC.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
CCDリニアイメージセンサの出力信号から入力光量に
応じた画像信号成分のみをデジタルデータに変換するC
CDアナログ信号処理回路において、抵抗ストリングを
用いたデジタル設定型信号減衰器と固定ゲイン増幅器と
による微少ステップ可変ゲイン増幅器を備え、1段又は
多段構成のアナログスイッチとソースフォロワとによる
アナログOR回路よりなり、前記抵抗ストリングの任意
の点の分圧信号を選択する選択手段を有する。According to the first aspect of the present invention,
Converts only image signal components corresponding to the input light amount from the output signal of the CCD linear image sensor into digital data.
The CD analog signal processing circuit has a small step variable gain amplifier comprising a digital setting type signal attenuator using a resistor string and a fixed gain amplifier, and comprises an analog OR circuit comprising a one-stage or multi-stage analog switch and a source follower. And selecting means for selecting a divided voltage signal at an arbitrary point of the resistor string.
【0015】請求項2記載の発明は、CCDリニアイメ
ージセンサの出力信号から入力光量に応じた画像信号成
分のみをデジタルデータに変換するCCDアナログ信号
処理回路において、抵抗ストリングによるデジタル設定
型信号減衰器を帰還に用いた演算増幅器による可変ゲイ
ン増幅器を備え、1段又は多段構成のアナログスイッチ
とソースフォロワとによるアナログOR回路よりなり、
前記抵抗ストリングの任意の点の分圧信号を選択する選
択手段を有する。According to a second aspect of the present invention, in a CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, a digital setting type signal attenuator using a resistor string is provided. A variable gain amplifier using an operational amplifier that uses a feedback as a feedback signal, comprising a one-stage or multi-stage analog switch and an analog OR circuit with a source follower,
There is provided selection means for selecting a divided voltage signal at an arbitrary point in the resistor string.
【0016】請求項3記載の発明は、CCDリニアイメ
ージセンサの出力信号から入力光量に応じた画像信号成
分のみをデジタルデータに変換するCCDアナログ信号
処理回路において、第1の抵抗ストリングを用いたデジ
タル設定型信号減衰器と、第2の抵抗ストリングによる
デジタル設定型信号減衰器を帰還に用いた演算増幅器と
による微少ステップ可変ゲイン増幅器を備え、1段又は
多段構成のアナログスイッチとソースフォロワとによる
アナログOR回路よりなり、前記各抵抗ストリングの任
意の点の分圧信号を選択する選択手段を有する。According to a third aspect of the present invention, there is provided a CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data. A small step variable gain amplifier comprising a setting type signal attenuator and an operational amplifier using a digital setting type signal attenuator with a second resistor string for feedback; an analog switch comprising a single-stage or multi-stage analog switch and a source follower; It comprises an OR circuit, and has a selection means for selecting a divided voltage signal at an arbitrary point of each of the resistor strings.
【0017】従って、これらの請求項1ないし3記載の
発明によれば、ゲイン可変の主要素子である抵抗ストリ
ングの任意の分圧点の選択手段としてアナログスイッチ
とソースフォロワとによるアナログOR回路を用いてい
るので、アナログスイッチのオン抵抗とアナログスイッ
チにつく寄生容量を小さくでき、アナログスイッチによ
る信号伝送の周波数帯域が伸び、さらにソースフォロワ
を用いているため負荷の駆動能力が上がるので増幅器の
入力インピーダンスの低下による周波数特性の劣化を抑
えることができ、広帯域の微少ステップの可変ゲインと
設定データに対し反比例の特性を持った可変ゲイン増幅
器を実現できる。Therefore, according to the first to third aspects of the present invention, an analog OR circuit including an analog switch and a source follower is used as means for selecting an arbitrary voltage dividing point of a resistor string which is a main element of a variable gain. Therefore, the on-resistance of the analog switch and the parasitic capacitance attached to the analog switch can be reduced, the frequency band of signal transmission by the analog switch is extended, and the drive capability of the load is increased because the source follower is used, so the input impedance of the amplifier Thus, it is possible to suppress the deterioration of the frequency characteristic due to the decrease of the gain, and to realize a variable gain amplifier having a variable gain of a fine step in a wide band and a characteristic inversely proportional to the setting data.
【0018】請求項4記載の発明は、CCDリニアイメ
ージセンサの出力信号から入力光量に応じた画像信号成
分のみをデジタルデータに変換するCCDアナログ信号
処理回路において、抵抗ストリングを用いたデジタル設
定型信号減衰器と固定ゲイン増幅器とによる微少ステッ
プ可変ゲイン増幅器を備え、各ブロック毎に出力を持
ち、各ブロックが1段又は多段構成のアナログスイッチ
とソースフォロワとによるアナログOR回路よりなり、
前記抵抗ストリングの任意の点の分圧信号を選択する選
択手段を有し、前記固定ゲイン増幅器が前記抵抗ストリ
ングの各ブロック毎の出力に対応した入力を持ち、或る
ブロックの出力が有効なときそれに対応した入力が有効
となるようにした。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, wherein a digital setting type signal using a resistor string is provided. It has a small step variable gain amplifier with an attenuator and a fixed gain amplifier, has an output for each block, and each block is composed of an analog OR circuit with a one-stage or multi-stage analog switch and a source follower,
When the fixed gain amplifier has an input corresponding to an output of each block of the resistor string and an output of a certain block is valid The corresponding input is enabled.
【0019】請求項5記載の発明は、CCDリニアイメ
ージセンサの出力信号から入力光量に応じた画像信号成
分のみをデジタルデータに変換するCCDアナログ信号
処理回路において、抵抗ストリングによるデジタル設定
型信号減衰器を帰還に用いた演算増幅器による可変ゲイ
ン増幅器を備え、各ブロック毎に出力を持ち、各ブロッ
クが1段又は多段構成のアナログスイッチとソースフォ
ロワとによるアナログOR回路よりなり、前記抵抗スト
リングの任意の点の分圧信号を選択する選択手段を有
し、前記演算増幅器が前記抵抗ストリングの各ブロック
毎の出力に対応した反転入力を持ち、或るブロックの出
力が有効なときそれに対応した反転入力が有効となるよ
うにした。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, wherein a digital setting type signal attenuator using a resistor string is provided. A variable gain amplifier is provided by an operational amplifier using feedback for each block, each block has an output, and each block is configured by an analog OR circuit including a single-stage or multi-stage analog switch and a source follower. Selecting means for selecting a divided voltage signal at a point, wherein the operational amplifier has an inverting input corresponding to the output of each block of the resistor string, and when the output of a certain block is valid, the inverting input corresponding thereto is Enabled.
【0020】請求項6記載の発明は、CCDリニアイメ
ージセンサの出力信号から入力光量に応じた画像信号成
分のみをデジタルデータに変換するCCDアナログ信号
処理回路において、第1の抵抗ストリングを用いたデジ
タル設定型信号減衰器と、第2の抵抗ストリングによる
デジタル設定型信号減衰器を帰還に用いた演算増幅器と
による微少ステップ可変ゲイン増幅器を備え、各ブロッ
ク毎に出力を持ち、各ブロックが1段又は多段構成のア
ナログスイッチとソースフォロワとによるアナログOR
回路よりなり、前記各抵抗ストリングの任意の点の分圧
信号を選択する選択手段を有し、前記演算増幅器が前記
抵抗ストリングのブロック毎の出力に対応した反転・非
反転入力を持ち、或るブロックの出力が有効なときそれ
に対応する反転・非反転入力が有効となるようにした。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, wherein a digital signal using a first resistor string is used. A small step variable gain amplifier comprising a setting type signal attenuator and an operational amplifier using a digital setting type signal attenuator with a second resistor string for feedback has an output for each block, and each block has one stage or Analog OR with multi-stage analog switch and source follower
A selection circuit for selecting a divided voltage signal at an arbitrary point of each of the resistor strings, wherein the operational amplifier has an inverting / non-inverting input corresponding to an output of each block of the resistor string, and When the output of a block is valid, the corresponding inverted / non-inverted input is now valid.
【0021】従って、これらの請求項4ないし6記載の
発明によれば、ゲイン可変の主要素子である抵抗ストリ
ングの任意の分圧点の選択にブロック分割したアナログ
スイッチを用い、ブロック毎に出力を出すようにしたの
で、アナログスイッチのオン抵抗とアナログスイッチに
つく寄生容量を小さくでき、アナログスイッチによる信
号伝送の周波数帯域が伸びるので、広帯域の微少ステッ
プの可変ゲインと設定データに対し反比例の特性を持っ
た可変ゲイン増幅器を実現できる。Therefore, according to the present invention, an analog switch divided into blocks is used to select an arbitrary voltage dividing point of the resistor string, which is a main element of variable gain, and an output is output for each block. The on-resistance of the analog switch and the parasitic capacitance attached to the analog switch can be reduced, and the frequency band of signal transmission by the analog switch is extended. A variable gain amplifier having the same can be realized.
【0022】請求項7記載の発明は、請求項1又は4記
載の画像信号処理回路において、前記抵抗ストリングを
駆動する前段の駆動増幅器への帰還を、前記抵抗ストリ
ングの該当する分圧点の信号を前記固定ゲイン増幅器に
信号を供給するアナログスイッチ群と等価なアナログス
イッチ群を通して行うようにした。According to a seventh aspect of the present invention, in the image signal processing circuit according to the first or fourth aspect, feedback to a drive amplifier at a stage prior to driving the resistor string is performed by a signal at a corresponding voltage dividing point of the resistor string. Is performed through an analog switch group equivalent to an analog switch group that supplies a signal to the fixed gain amplifier.
【0023】従って、抵抗ストリングを駆動する前段の
駆動増幅器のゲインを抵抗ストリングの減衰信号出力と
同様な分圧点の選択用のアナログスイッチやソースフォ
ロワなどを通して決定するため、駆動増幅器の帰還経路
が減衰信号出力と同様な周波数特性を持ち、これを駆動
増幅器で補正することができるので減衰信号出力も周波
数特性が補正され、広帯域化ができる。また、駆動増幅
器のゲインを信号を減衰させる抵抗ストリングを用いて
決定するため、抵抗ストリングの構成抵抗の相対精度に
よる減衰率の誤差を或る程度補正できるため、全体とし
てのゲインの高精度化が行える。Therefore, since the gain of the drive amplifier in the preceding stage for driving the resistor string is determined through an analog switch for selecting a voltage dividing point or a source follower similar to the output of the attenuation signal of the resistor string, the feedback path of the drive amplifier is determined. It has the same frequency characteristics as the attenuated signal output, which can be corrected by the drive amplifier. Therefore, the frequency characteristics of the attenuated signal output are also corrected, and the band can be widened. In addition, since the gain of the drive amplifier is determined using the resistor string that attenuates the signal, an error in the attenuation factor due to the relative accuracy of the constituent resistors of the resistor string can be corrected to some extent. I can do it.
【0024】請求項8記載の発明は、請求項2又は5記
載の画像信号処理回路において、前記抵抗ストリングの
任意の分圧点から前記アナログスイッチと前記ソースフ
ォロワを通した信号を前記演算増幅器の位相補償用信号
として使用し、前記可変ゲイン増幅器のゲイン範囲毎に
選択する前記抵抗ストリングの分圧点を切り換えるよう
にした。According to an eighth aspect of the present invention, in the image signal processing circuit according to the second or fifth aspect, a signal passing through the analog switch and the source follower from an arbitrary voltage dividing point of the resistor string is supplied to the operational amplifier. It is used as a signal for phase compensation, and the voltage dividing point of the resistor string selected for each gain range of the variable gain amplifier is switched.
【0025】従って、演算増幅器の帰還経路に抵抗スト
リングを持ち、抵抗ストリングの任意の分圧点を帰還す
る可変ゲイン増幅器で、帰還経路の抵抗ストリングの任
意の分圧点をアナログスイッチとソースフォロワによる
電圧バッファを通して位相補償用信号として使用してい
るので、構成抵抗の相対精度のばらつきでゲインが下が
った場合、位相補償用信号の振幅が大きくなるので深い
位相補償が掛かり、逆にゲインが上がった場合は浅い位
相補償となり、全体の周波数特性のばらつきが小さくな
る。また、ゲインにより位相補償信号の振幅を変えるこ
とができるので各ゲインで最適な位相補償が行える。Therefore, a variable gain amplifier having a resistor string on the feedback path of the operational amplifier and feeding back an arbitrary voltage dividing point of the resistor string, the arbitrary voltage dividing point of the resistor string on the feedback path is determined by the analog switch and the source follower. Since the signal is used as a phase compensation signal through a voltage buffer, if the gain decreases due to variations in the relative accuracy of the constituent resistors, the amplitude of the phase compensation signal increases, so deep phase compensation is applied, and conversely, the gain increases. In this case, the phase compensation becomes shallow, and the variation in the overall frequency characteristics is reduced. Further, since the amplitude of the phase compensation signal can be changed by the gain, optimal phase compensation can be performed at each gain.
【0026】請求項9記載の発明は、請求項3又は6記
載の画像信号処理回路において、前記第1の抵抗ストリ
ングを駆動する前段の駆動増幅器への帰還を、前記第1
の抵抗ストリングの該当する分圧点の信号を前記固定ゲ
イン増幅器に信号を供給するアナログスイッチ群と等価
なアナログスイッチ群を通して行い、前記第2の抵抗ス
トリングの任意の分圧点から前記アナログスイッチと前
記ソースフォロワを通した信号を前記演算増幅器の位相
補償用信号として使用し、前記可変ゲイン増幅器のゲイ
ン範囲毎に選択する前記第2の抵抗ストリングの分圧点
を切り換えるようにした。According to a ninth aspect of the present invention, in the image signal processing circuit according to the third or sixth aspect, feedback to a drive amplifier in a preceding stage for driving the first resistor string is performed by the first signal amplifier.
The signal at the corresponding voltage dividing point of the resistor string is passed through an analog switch group equivalent to an analog switch group that supplies a signal to the fixed gain amplifier, and the analog switch and the analog switch are connected from an arbitrary voltage dividing point of the second resistor string. A signal passed through the source follower is used as a signal for phase compensation of the operational amplifier, and a voltage dividing point of the second resistor string selected for each gain range of the variable gain amplifier is switched.
【0027】従って、第1の抵抗ストリングを駆動する
前段の駆動増幅器のゲインを抵抗ストリングの減衰信号
出力と同様な分圧点の選択用のアナログスイッチやソー
スフォロワなどを通して決定するため、駆動増幅器の帰
還経路が減衰信号出力と同様な周波数特性を持ち、これ
を駆動増幅器で補正することができるので減衰信号出力
も周波数特性が補正され、広帯域化ができる。また、駆
動増幅器のゲインを信号を減衰させる第1の抵抗ストリ
ングを用いて決定するため、この第1の抵抗ストリング
の構成抵抗の相対精度による減衰率の誤差を或る程度補
正できるため、全体としてのゲインの高精度化が行え
る。また、演算増幅器の帰還経路の第2の抵抗ストリン
グから位相補償用信号を出力しているので、ゲインがば
らついた場合でも全体の周波数特性のばらつきが小さく
なる。さらに、ゲインにより位相補償信号の振幅を変え
ることができるので各ゲインで最適な位相補償が行え
る。Therefore, the gain of the drive amplifier in the preceding stage for driving the first resistor string is determined through an analog switch for selecting a voltage dividing point and a source follower similar to the output of the attenuation signal of the resistor string. The feedback path has the same frequency characteristics as the attenuation signal output, and this can be corrected by the drive amplifier. Therefore, the frequency characteristics of the attenuation signal output are also corrected, and the band can be widened. Further, since the gain of the drive amplifier is determined by using the first resistor string for attenuating the signal, the error of the attenuation factor due to the relative accuracy of the constituent resistors of the first resistor string can be corrected to some extent, and as a whole, Of the gain can be improved. Further, since the phase compensation signal is output from the second resistor string in the feedback path of the operational amplifier, the variation in the overall frequency characteristics is reduced even when the gain varies. Furthermore, since the amplitude of the phase compensation signal can be changed by the gain, optimal phase compensation can be performed at each gain.
【0028】[0028]
【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態を図1
及び図2に基づいて説明する。本実施の形態は、請求項
1ないし3記載の発明における抵抗ストリング1に対し
て共通な選択手段2を付加してなるRストリング回路3
の構成例を示すものである。FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention.
A description will be given based on FIG. In this embodiment, an R string circuit 3 is provided by adding a common selection means 2 to the resistor string 1 according to the first to third aspects of the present invention.
1 shows an example of the configuration.
【0029】このRストリング回路3における抵抗スト
リング1は、例えば、R0〜R511で示す512個
(9ビット)の抵抗値rの抵抗の直列回路からなる。こ
のような抵抗ストリング1の各分圧点からの分圧信号を
選択するための選択手段2は、例えば、各分圧点に接続
された512個のアナログスイッチ4(S0〜S51
1)と、1段構成でアナログスイッチ4がS0〜S3
1,S32〜S61,…,S480〜S511の如く、
32個ずつ1つのブロックに接続された16ブロック構
成のソースフォロワ5(SF0〜SF15)との組合せ
によるアナログOR回路として構成されている。これら
のアナログスイッチ4(S0〜S511)とソースフォ
ロワ5(SF0〜SF15)とのオン・オフはゲイン設
定データDD1に基づきデコーダ6により制御される。
各ソースフォロワ5(SF0〜SF15)は、例えば、
図2に示すように、2つのFETトランジスタM1,M
2からなり、主トランジスタであるFETトランジスタ
M1のゲートにドレインが接続されたFETトランジス
タM2のゲートに対して制御端子CONTが接続されて
いる。FETトランジスタM1のゲートが入力端子とな
り、アナログスイッチ側に接続され、ソース端子が出力
端子とされている。The resistor string 1 in the R string circuit 3 is composed of, for example, a series circuit of 512 (9 bits) resistors having a resistance value r indicated by R0 to R511. The selecting means 2 for selecting a voltage division signal from each voltage division point of the resistor string 1 includes, for example, 512 analog switches 4 (S0 to S51) connected to each voltage division point.
1) and the analog switch 4 having a one-stage configuration and S0 to S3
1, S32 to S61,..., S480 to S511,
It is configured as an analog OR circuit in combination with source followers 5 (SF0 to SF15) having a 16-block configuration connected to one block of 32 blocks each. ON / OFF of the analog switches 4 (S0 to S511) and the source followers 5 (SF0 to SF15) is controlled by the decoder 6 based on the gain setting data DD1.
Each source follower 5 (SF0 to SF15) is, for example,
As shown in FIG. 2, two FET transistors M1 and M
2, the control terminal CONT is connected to the gate of the FET transistor M2 whose drain is connected to the gate of the FET transistor M1 as the main transistor. The gate of the FET transistor M1 serves as an input terminal, is connected to the analog switch, and the source terminal serves as an output terminal.
【0030】ここで、ゲイン設定データDD1と各アナ
ログスイッチ4(S0〜S511)のオン・オフ状態と
の関係を表1に示し、ゲイン設定データDD1と各ソー
スフォロワ5(SF0〜SF15)のオン・オフ(アク
ティブ・ノンアクティブ)状態との関係を表2に示す。Here, the relationship between the gain setting data DD1 and the on / off state of each analog switch 4 (S0 to S511) is shown in Table 1. The gain setting data DD1 and the on / off state of each source follower 5 (SF0 to SF15) are shown. Table 2 shows the relationship with the off (active / non-active) state.
【0031】[0031]
【表1】 [Table 1]
【0032】[0032]
【表2】 [Table 2]
【0033】このような構成において、図1では、ゲイ
ン設定データDD1を基にデコーダ6によりアナログス
イッチ4(S0〜S511)の内の何れか1つがオンと
なり、同時に、各ソースフォロワ5(SF0〜SF1
5)の内でオンとなったアナログスイッチ4が接続され
ている1つのソースフォロワ5がアクティブとなる。ソ
ースフォロワ5がアクティブになると、ソースフォロワ
5の詳細構成例を示す図2において、FETトランジス
タM2がオフ(CONT:“L”)となり、FETトラ
ンジスタM1のゲートに入力信号INが接続される。ソ
ースフォロワ5がノンアクティブのときはFETトラン
ジスタM2がオン(CONT:“H”)であり、かつ、
そのソースフォロワ5に接続されているアナログスイッ
チ4は全てオフなのでFETトランジスタM1のゲート
はGNDに接続され、ソースフォロワ5の共通バイアス
電流Ibiasはアクティブなソースフォロワ5にのみ流
れ、出力端子VOには抵抗ストリング1の選択された分
圧点の分圧信号がソースフォロワ5のゲート・ソース間
電圧Vgsだけのオフセットを持って出力される。In this configuration, in FIG. 1, one of the analog switches 4 (S0 to S511) is turned on by the decoder 6 based on the gain setting data DD1, and at the same time, each of the source followers 5 (SF0 to SF0) is turned on. SF1
One source follower 5 to which the analog switch 4 turned on in 5) is connected becomes active. When the source follower 5 becomes active, the FET transistor M2 is turned off (CONT: "L") in FIG. 2 showing a detailed configuration example of the source follower 5, and the input signal IN is connected to the gate of the FET transistor M1. When the source follower 5 is inactive, the FET transistor M2 is ON (CONT: "H"), and
Since the analog switches 4 connected to the source follower 5 are all off, the gate of the FET transistor M1 is connected to GND, the common bias current Ibias of the source follower 5 flows only to the active source follower 5, and the output terminal VO A divided voltage signal at the selected voltage dividing point of the resistor string 1 is output with an offset corresponding to the gate-source voltage Vgs of the source follower 5.
【0034】一般に、R0〜R(2L−1)の2L個の抵抗
からなる抵抗ストリング1の両端を各々V1,V2と
し、ゲイン設定データDD1をデコードし、S0〜S
(2L−1)の2L個のアナログスイッチ4とSF0〜SF
mのソースフォロワ5の内、各々1つのみを選択する場
合、出力端子VOに出力される電圧は VO={V1×(2L−DD1)×r+V2×DD1×r}/(2L×r)−Vgs =V1×(1−DD1/2L)+V2×DD1/2L −Vgs となる。Generally, both ends of a resistor string 1 composed of 2 L resistors R0 to R (2 L -1) are set to V1 and V2, respectively, and gain setting data DD1 is decoded, and S0 to S2 are decoded.
(2 L -1) 2 L analog switches 4 and SF0 to SF
Of the source follower 5 m, when selecting each only one voltage output to the output terminal VO is VO = {V1 × (2 L -DD1) × r + V2 × DD1 × r} / (2 L × r ) the -Vgs = V1 × (1-DD1 / 2 L) + V2 × DD1 / 2 L -Vgs.
【0035】本発明の第二の実施の形態を図3に基づい
て説明する。図1及び図2で示した部分と同一部分は同
一符号を用いて示す(以降の各実施の形態でも、順次同
様とする)。本実施の形態は、請求項1ないし3記載の
発明における抵抗ストリング1に対して共通な選択手段
7を付加してなるRストリング回路3の別の構成例を示
すものである。A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals (the same applies to each of the following embodiments). This embodiment shows another configuration example of the R string circuit 3 in which the common selection means 7 is added to the resistor string 1 according to the first to third aspects of the present invention.
【0036】本実施の形態の選択手段7は、2段構成の
アナログスイッチ4と、2段目のアナログスイッチ4に
接続されたソースフォロワ5との組合せによるアナログ
OR回路として構成されている。即ち、抵抗ストリング
1の各分圧点を選択するアナログスイッチは1段目がS
0〜S511からなり、S0〜S15,S16〜S3
1,…,S496〜S511の如く16個ずつ8ブロッ
クにブロック分けされ、2段目が各ブロック単位で設け
られた8個のアナログスイッチ4(SA0〜SA7)か
らなる。そして、アナログスイッチ4(SA0〜SA
7)に関して2個1組とする4個のソースフォロワ5
(SF0〜SF3)が設けられている。これらのソース
フォロワ5(SF0〜SF3)も、例えば、図2に示し
たような構成とされる。The selecting means 7 of this embodiment is configured as an analog OR circuit formed by a combination of a two-stage analog switch 4 and a source follower 5 connected to the second-stage analog switch 4. That is, the first stage of the analog switch for selecting each voltage dividing point of the resistor string 1 is S
0 to S511, S0 to S15, S16 to S3
1,..., S496 to S511, 16 blocks are divided into eight blocks, and the second stage is composed of eight analog switches 4 (SA0 to SA7) provided for each block. Then, the analog switch 4 (SA0 to SA)
7) 4 source followers 5 to be a set of 2
(SF0 to SF3) are provided. These source followers 5 (SF0 to SF3) are also configured as shown in FIG. 2, for example.
【0037】ここで、ゲイン設定データDD1と各アナ
ログスイッチ4(S0〜S511)のオン・オフ状態と
の関係を表3に示し、ゲイン設定データDD1と各アナ
ログスイッチ4(SA0〜SA7)及びソースフォロワ
5(SF0〜SF3)のオン・オフ状態との関係を表4
に示す。Here, the relationship between the gain setting data DD1 and the on / off state of each analog switch 4 (S0 to S511) is shown in Table 3, and the gain setting data DD1 and each analog switch 4 (SA0 to SA7) and the source Table 4 shows the relationship between the follower 5 (SF0 to SF3) and the on / off state.
Shown in
【0038】[0038]
【表3】 [Table 3]
【0039】[0039]
【表4】 [Table 4]
【0040】このような構成において、図3では、ゲイ
ン設定データDD1を基にデコーダ6によりアナログス
イッチ4(S0〜S511)の内の何れか1つとアナロ
グスイッチ4(SA0〜SA7)の内の何れか1つがオ
ンとなり、ソースフォロワ5(SF0〜SF3)の内、
これらが同時にオンとなったアナログスイッチ4が接続
されている1つのソースフォロワ5がアクティブとな
る。In such a configuration, in FIG. 3, any one of the analog switches 4 (S 0 to S 511) and any one of the analog switches 4 (SA 0 to SA 7) are used by the decoder 6 based on the gain setting data DD 1. One of them is turned on, and among the source followers 5 (SF0 to SF3),
One source follower 5 connected to the analog switch 4 that is turned on at the same time becomes active.
【0041】一般に、R0〜R(2L−1)の2L個の抵抗
からなる抵抗ストリング1の両端を各々V1、V2と
し、ゲイン設定データDD1をデコードし、S0〜S
(2L−1)の2L個のアナログスイッチ4とSA0〜SA
nのアナログスイッチ4とSF0〜SFmのソースフォ
ロワ5の内、各々1つのみを選択する場合、出力端子V
Oに出力される電圧は図1で説明した場合と同様にな
る。Generally, both ends of a resistor string 1 composed of 2 L resistors of R0 to R (2 L -1) are set to V1 and V2, respectively, and gain setting data DD1 is decoded.
(2 L -1) 2 L analog switches 4 and SA0 to SA
When only one of each of the analog switch 4 of n and the source follower 5 of SF0 to SFm is selected, the output terminal V
The voltage output to O is the same as that described in FIG.
【0042】本発明の第三の実施の形態を図4に基づい
て説明する。本実施の形態は、請求項1ないし3記載の
発明における抵抗ストリング1に対して共通な選択手段
8を付加してなるRストリング回路3の別の構成例を示
すものである。A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment shows another configuration example of the R string circuit 3 in which the common selection means 8 is added to the resistor string 1 according to the first to third aspects of the present invention.
【0043】このRストリング回路3における抵抗スト
リング1は、例えば、R0〜R256で示す257個
で、9ビットの分解能を出すために隣接したアナログス
イッチ4を2つ同時にオンとしてそのアナログスイッチ
4のオン抵抗で1つの抵抗の両端の分圧点の中点を出し
ている。もっとも、この場合の条件としては、抵抗スト
リング1の構成抵抗の抵抗値rに対しアナログスイッチ
4のオン抵抗ronが充分に大きい(r≪ron)ことが必
要である。このため、抵抗ストリング1の各分圧点と抵
抗の両端の分圧点の中点を選択するためのアナログスイ
ッチ4は1段構成で256個(S0〜S255)+16
個(SA0〜SA15)であり、その内、S0〜S1
5,SA0、の如く組合せによる17個ずつが1つのソ
ースフォロワ5(SF0〜SF15)に接続された16
組のブロックで構成された場合を示している。これらの
ソースフォロワ5(SF0〜SF15)も、例えば、図
2に示したような構成とされる。The resistance strings 1 in the R string circuit 3 are, for example, 257 resistance strings R0 to R256, and two analog switches 4 adjacent to each other are simultaneously turned on in order to obtain a resolution of 9 bits. The midpoint of the voltage dividing point at both ends of one resistor is set by the resistor. However, as a condition in this case, it is necessary that the on-resistance ron of the analog switch 4 is sufficiently larger than the resistance value r of the resistance of the resistor string 1 (r≪ron). Therefore, the number of analog switches 4 for selecting each voltage dividing point of the resistor string 1 and the middle point of the voltage dividing points at both ends of the resistor is 256 (S0 to S255) +16 in a one-stage configuration.
(SA0-SA15), of which S0-S1
5, SA0, and 17 in each combination are connected to one source follower 5 (SF0 to SF15).
It shows a case in which it is composed of a set of blocks. These source followers 5 (SF0 to SF15) are also configured as shown in FIG. 2, for example.
【0044】ここで、ゲイン設定データDD1と各アナ
ログスイッチ4(S0〜S255,SA0〜SA15)
のオン・オフ状態との関係を表5に示し、ゲイン設定デ
ータDD1と各ソースフォロワ5(SF0〜SF15)
のオン・オフ状態との関係を表6に示す。Here, the gain setting data DD1 and each analog switch 4 (S0 to S255, SA0 to SA15)
Table 5 shows the relationship between the on / off states of the gain setting data DD1 and the source followers 5 (SF0 to SF15).
Table 6 shows the relationship with the on / off state of the.
【0045】[0045]
【表5】 [Table 5]
【0046】[0046]
【表6】 [Table 6]
【0047】このような構成において、図4では、ゲイ
ン設定データDD1を基にデコーダ6によりアナログス
イッチ4(S0〜S255,SA0〜SA15)の内、
1つ又は2つが同時にオンとなり、ソースフォロワ5
(SF0〜SF15)の内、同時にオンとなった2個の
アナログスイッチ4が接続されている1つのソースフォ
ロワ5がアクティブとなる。In such a configuration, in FIG. 4, the decoder 6 selects one of the analog switches 4 (S0 to S255, SA0 to SA15) based on the gain setting data DD1.
One or two are turned on at the same time and the source follower 5
Among (SF0 to SF15), one source follower 5 to which the two analog switches 4 turned on at the same time are connected becomes active.
【0048】一般に、図4に示したようにR0〜R2
(L-1)なる2(L-1)個の抵抗からなる抵抗ストリング1の
両端を各々V1、V2とし、ゲイン設定データDD1を
デコードし、S0〜S2(L-1)の2(L-1)個のアナログス
イッチ4の1つとSA0〜SAmのアナログスイッチ4
の0個又は1個とSF0〜SFmのソースフォロワ5の
内の1つを選択する場合、出力端子VOに出力される電
圧は図1の場合と同様になる。In general, as shown in FIG.
(L-1) becomes 2 and (L-1) each at both ends of the resistor string 1 consisting of pieces of resistors V1, V2, decodes the gain setting data DD1, S0~S2 (L-1) of the 2 (L- 1) One of the analog switches 4 and the analog switches 4 of SA0 to SAm
, And one of the source followers 5 of SF0 to SFm is selected, the voltage output to the output terminal VO is the same as that in FIG.
【0049】次に、これらの実施の形態等で用い得るソ
ースフォロワ5の各種変形例を図5に示す。まず、図5
(a)に示す例は、図2の場合と同一構成であり、主ト
ランジスタであるFETトランジスタM1としてN型M
OSトランジスタが用いられている。ここで、制御端子
CONT=“L”のとき、FETトランジスタM2がオ
フとなり、入力端子INがFETトランジスタM1のゲ
ートに接続された状態となり、このソースフォロワ5が
有効(アクティブ)となる。制御端子CONT=“H”
ではFETトランジスタM2がオンとなりFETトラン
ジスタM1のゲートはGNDに接続された状態となり、
このソースフォロワ5が無効(ノンアクティブ)となる。Next, various modifications of the source follower 5 which can be used in these embodiments and the like are shown in FIG. First, FIG.
The example shown in (a) has the same configuration as that of FIG. 2, and an N-type M
An OS transistor is used. Here, when the control terminal CONT = “L”, the FET transistor M2 is turned off, the input terminal IN is connected to the gate of the FET transistor M1, and the source follower 5 becomes valid (active). Control terminal CONT = "H"
Then, the FET transistor M2 is turned on, and the gate of the FET transistor M1 is connected to GND.
This source follower 5 becomes invalid (non-active).
【0050】図5(b)に示す例では、論理は図5
(a)の場合と同じであるが電流源I1とP型MOSト
ランジスタM3がFETトランジスタM1のドレイン・
ソース間に接続付加されることにより、このソースフォ
ロワ5の負荷駆動能力が増強される。In the example shown in FIG.
As in the case of (a), the current source I1 and the P-type MOS transistor M3 are connected to the drain of the FET transistor M1.
By adding a connection between the sources, the load drive capability of the source follower 5 is enhanced.
【0051】図5(c)に示す例では、主トランジスタ
であるFETトランジスタM1としてP型MOSトラン
ジスタが用いられている。この例では図5(a)(b)
とは論理が逆になり、制御端子CONTB=“H”のと
きFETトランジスタM2がオフとなり、入力端子IN
がFETトランジスタM1のゲートに接続された状態と
なり、このソースフォロワ5が有効(アクティブ)とな
る。制御端子CONTB=“L”ではFETトランジス
タM2がオンとなりFETトランジスタM1のゲートは
Vccに接続された状態となり、このソースフォロワ5が
無効(ノンアクティブ)となる。In the example shown in FIG. 5C, a P-type MOS transistor is used as the FET transistor M1 as the main transistor. In this example, FIGS. 5A and 5B
When the control terminal CONTB = "H", the FET transistor M2 is turned off, and the input terminal IN
Is connected to the gate of the FET transistor M1, and the source follower 5 becomes effective (active). When the control terminal CONTB is "L", the FET transistor M2 is turned on, the gate of the FET transistor M1 is connected to Vcc, and the source follower 5 becomes invalid (non-active).
【0052】また、図5(b)と同様に図5(d)に示
す例では、電流源I1とP型MOSトランジスタM3が
FETトランジスタM1のドレイン・ソース間に接続付
加されることにより、図5(c)の場合に比して、ソー
スフォロワ5の負荷駆動能力が増強される。In the example shown in FIG. 5D as in FIG. 5B, the current source I1 and the P-type MOS transistor M3 are connected between the drain and source of the FET transistor M1. 5 (c), the load drive capability of the source follower 5 is increased.
【0053】さらに、図5(e)(f)は各々図5
(b)(d)に示した負荷駆動能力増強回路をこのソー
スフォロワ5中から分離し、共通バイアス電流Ibiasと
同様に外付けとして各ソースフォロワ5に共通としたも
のである。これらは、各ソースフォロワ5の内1つのみ
がアクティブとなるため、ノンアクティブのソースフォ
ロワ5にはバイアス電流が流れないので、他のソースフ
ォロワ5の影響を受けずにアクティブなソースフォロワ
5の駆動能力増強を行える。FIGS. 5 (e) and 5 (f) respectively show FIGS.
(B) The load drive capability enhancement circuit shown in (d) is separated from the source follower 5 and is externally connected to each of the source followers 5 in the same manner as the common bias current Ibias. Since only one of the source followers 5 is active, no bias current flows through the non-active source follower 5 and the active source follower 5 is not affected by the other source follower 5. Drive capacity can be increased.
【0054】本発明の第四の実施の形態を図6及び図7
に基づいて説明する。本実施の形態は、請求項1記載の
発明に相当する。CCDリニアイメージセンサ(図示せ
ず)からの出力信号を入力とする部分に配設される本実
施の形態の微少ステップ可変ゲイン増幅器11は、固定
ゲイン増幅器12と、この固定ゲイン増幅器12の前段
に接続されたデジタル設定型信号減衰器13とにより構
成されている。このデジタル設定型信号減衰器13は第
一ないし第三の実施の形態等で説明した構成からなるR
ストリング回路3と抵抗切換回路14とにより構成され
ている。FIGS. 6 and 7 show a fourth embodiment of the present invention.
It will be described based on. This embodiment corresponds to the first aspect of the present invention. A small step variable gain amplifier 11 according to the present embodiment, which is provided at a portion to which an output signal from a CCD linear image sensor (not shown) is input, includes a fixed gain amplifier 12 and a stage preceding the fixed gain amplifier 12. And a digital setting type signal attenuator 13 connected thereto. This digital setting type signal attenuator 13 has the configuration described in the first to third embodiments and the like.
It is composed of a string circuit 3 and a resistance switching circuit 14.
【0055】より詳細には、入力信号はRストリング回
路3の一方の入力(V2)に接続され、Rストリング回
路3の他方の入力(V1)は抵抗切換回路14の一方の
入力(V1)に接続され、抵抗切換回路14の他方の入
力(V2)はGNDに接続されている。抵抗切換回路1
4は図7に示すように2n 個の抵抗R1〜R(2n )を選
択自在に並列接続してなり、設定データDD3により任
意の抵抗Riが選択される構成とされている。Rストリ
ング回路3の出力(VO)はゲイン設定データDD1に
より、減衰率1(無減衰)〜Ri/(Ri+R)(R:
抵抗ストリング1の全抵抗値)の範囲で減衰率が選択さ
れる。More specifically, the input signal is connected to one input (V2) of the R string circuit 3, and the other input (V1) of the R string circuit 3 is connected to one input (V1) of the resistance switching circuit 14. The other input (V2) of the resistance switching circuit 14 is connected to GND. Resistance switching circuit 1
As shown in FIG. 7, reference numeral 4 denotes a configuration in which 2 n resistors R1 to R (2 n ) are selectively connected in parallel, and an arbitrary resistor Ri is selected by the setting data DD3. The output (VO) of the R string circuit 3 depends on the gain setting data DD1, and the attenuation rate is 1 (no attenuation) to Ri / (Ri + R) (R:
The attenuation rate is selected within the range of the total resistance value of the resistor string 1).
【0056】Rストリング回路3の出力(VO)は、ゲ
インA1の演算増幅器15と帰還抵抗R1と信号源抵抗
R2とN型MOSトランジスタM1と電流源Ibiasとに
よる固定ゲイン増幅器12に入力され、(1+R1/R
2)倍されて出力される。ここで、演算増幅器15にお
ける反転端子側のソースフォロワのFETトランジスタ
M1や電流源Ibiasは、Rストリング回路3に含まれる
ソースフォロワ5中のFETトランジスタM1やバイア
ス電流Ibiasと同じものであり、同じ符号で示してい
る。また、FETトランジスタM1と電流源Ibiasとに
よるソースフォロワはRストリング回路3内部のソース
フォロワ5のオフセット電圧Vgsをキャンセルするため
のものである。ここで、全体のゲインはAv=(1+R
1/R2)×(R×DD1/2L+Ri)/(R+Ri)
(倍)となる。The output (VO) of the R string circuit 3 is input to a fixed gain amplifier 12 composed of an operational amplifier 15 having a gain A1, a feedback resistor R1, a signal source resistor R2, an N-type MOS transistor M1, and a current source Ibias. 1 + R1 / R
2) Multiplied and output. Here, the FET transistor M1 and the current source Ibias of the source follower on the inverting terminal side of the operational amplifier 15 are the same as the FET transistor M1 and the bias current Ibias in the source follower 5 included in the R string circuit 3, and have the same reference numerals. Indicated by. The source follower formed by the FET transistor M1 and the current source Ibias is for canceling the offset voltage Vgs of the source follower 5 in the R string circuit 3. Here, the total gain is Av = (1 + R
1 / R2) × (R × DD1 / 2 L + Ri) / (R + Ri)
(Times).
【0057】なお、Rストリング回路3のソースフォロ
ワ5を図5に示したような変形例構成とする場合、演算
増幅器15における反転端子側のFETトランジスタM
1や電流源Ibiasによるソースフォロワも同様な構成と
することで、全体のオフセット電圧を小さく抑えること
ができる。When the source follower 5 of the R string circuit 3 has a modified configuration as shown in FIG. 5, the FET transistor M on the inverting terminal side of the operational amplifier 15 is used.
By using the same configuration for the source follower 1 and the current source Ibias, the overall offset voltage can be reduced.
【0058】従って、本実施の形態によれば、可変ゲイ
ンの主要素子である抵抗ストリング1の任意の分圧点の
選択手段2,7又は8としてアナログスイッチ4とソー
スフォロワ5とによるアナログOR回路を用いているの
で、アナログスイッチ4のオン抵抗とアナログスイッチ
4につく寄生容量を小さくでき、アナログスイッチ4に
よる信号伝送の周波数帯域が伸び、さらにソースフォロ
ワ5を用いているため負荷の駆動能力が上がるので増幅
器の入力インピーダンスの低下による周波数特性の劣化
を抑えることができ、広帯域の微少ステップの可変ゲイ
ンとゲイン設定データDD1に対し反比例の特性を持っ
た可変ゲイン増幅器11を実現できる。設定データDD
1を8ビットとすると、減衰率は1/512〜1倍とな
り、ステップ幅は1/512と半分になる。これによ
り、同じビット数の設定データで微小な可変ステップも
実現できることになる。微小な可変ステップが実現され
るため、きめ細かなゲイン調整が可能となる。また、可
変ステップが基本的に抵抗ストリング1の分圧点に基づ
き決定されるため、抵抗ストリング1に使用する抵抗値
が広範囲である必要がなく、可変ゲイン増幅器1を容易
にモノリシックIC化することもできる。また、入出力
間の信号経路上に演算増幅器12を1つしか持たないの
で、周波数特性の劣化が非常に少ない上に増幅器2によ
る雑音の増大も最小となるので、この種の高速画像信号
の処理に適した構成となる。Therefore, according to the present embodiment, the analog OR circuit using the analog switch 4 and the source follower 5 as the means 2, 7, or 8 for selecting an arbitrary voltage dividing point of the resistor string 1 which is a main element of the variable gain. , The on-resistance of the analog switch 4 and the parasitic capacitance attached to the analog switch 4 can be reduced, the frequency band of signal transmission by the analog switch 4 is extended, and the driving capability of the load is increased because the source follower 5 is used. As a result, the deterioration of the frequency characteristic due to the decrease of the input impedance of the amplifier can be suppressed, and the variable gain amplifier 11 having a variable gain of a fine step in a wide band and a characteristic inversely proportional to the gain setting data DD1 can be realized. Setting data DD
If 1 is 8 bits, the attenuation rate becomes 1/512 to 1 and the step width becomes 1/512, which is half. As a result, a minute variable step can be realized with setting data having the same number of bits. Since a minute variable step is realized, fine gain adjustment is possible. Further, since the variable step is basically determined based on the voltage dividing point of the resistor string 1, there is no need to use a wide range of resistance values for the resistor string 1, and the variable gain amplifier 1 can be easily made into a monolithic IC. Can also. Further, since only one operational amplifier 12 is provided on the signal path between the input and output, the deterioration of the frequency characteristics is very small and the increase in noise due to the amplifier 2 is minimized. The configuration is suitable for processing.
【0059】本発明の第五の実施の形態を図8に基づい
て説明する。本実施の形態は、請求項2記載の発明に相
当する。本実施の形態の可変ゲイン増幅器16は、演算
増幅器17と、この演算増幅器17の帰還経路中に介在
されたデジタル設定型信号減衰器18とにより構成され
ている。このデジタル設定型信号減衰器18は第一ない
し第三の実施の形態等で説明した構成からなるRストリ
ング回路3と図7に示した抵抗切換回路19との直列回
路により構成されている。A fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment corresponds to the second aspect of the present invention. The variable gain amplifier 16 of the present embodiment includes an operational amplifier 17 and a digital setting type signal attenuator 18 interposed in a feedback path of the operational amplifier 17. This digital setting type signal attenuator 18 is configured by a series circuit of the R string circuit 3 having the configuration described in the first to third embodiments and the like and the resistance switching circuit 19 shown in FIG.
【0060】より詳細には、入力信号はN型MOSトラ
ンジスタM1、電流源Ibiasによるソースフォロワを通
して演算増幅器17(ゲインA1)の非反転端子に入力
され、演算増幅器17の出力は抵抗切換回路19の一方
の入力(V2)に接続され、抵抗切換回路17の他方の
入力(V1)とRストリング回路3の一方の入力(V
2)が接続され、Rストリング回路3の他方の入力(V
1)はGNDに接続されている。抵抗切換回路19は設
定データDD5により任意の抵抗Rjが選択され、Rス
トリング回路3の出力(VO)は設定データDD4によ
り、演算増幅器17の出力に対する減衰率RB/(Rj
+RB)(ただし、RB:抵抗ストリング1の全抵抗
値、Rj:抵抗切換回路19中で選択された抵抗値)〜
∞(無限大)の範囲で減衰率が選択され、演算増幅器1
7の反転入力に帰還される。ここで、N型MOSトラン
ジスタM1、電流源Ibiasによるソースフォロワに関し
ても、Rストリング回路3に含まれるソースフォロワ5
中のFETトランジスタM1やバイアス電流Ibiasと同
じものであり、同じ符号で示している。N型MOSトラ
ンジスタM1、電流源IbiasによるソースフォロワはR
ストリング回路3内部のソースフォロワ5のオフセット
電圧Vgsをキャンセルするためのものである。ここで、
全体のゲインは設定データDD4のビット数をoとする
と、Av=(RB+Rj)/RB×2o/DD4
(倍)となる。More specifically, an input signal is input to a non-inverting terminal of an operational amplifier 17 (gain A1) through a source follower formed by an N-type MOS transistor M1 and a current source Ibias. Connected to one input (V2), the other input (V1) of the resistance switching circuit 17 and one input (V
2) is connected to the other input (V) of the R string circuit 3.
1) is connected to GND. In the resistance switching circuit 19, an arbitrary resistor Rj is selected by the setting data DD5, and the output (VO) of the R string circuit 3 is set to the attenuation factor RB / (Rj with respect to the output of the operational amplifier 17 by the setting data DD4.
+ RB) (where RB is the total resistance value of the resistor string 1, Rj is the resistance value selected in the resistance switching circuit 19)
The attenuation factor is selected in the range of ∞ (infinity), and the operational amplifier 1
7 is fed back to the inverted input. Here, regarding the source follower by the N-type MOS transistor M1 and the current source Ibias, the source follower 5 included in the R string circuit 3 is also included.
These are the same as the FET transistor M1 and the bias current Ibias in the middle, and are denoted by the same reference numerals. The source follower by the N-type MOS transistor M1 and the current source Ibias is R
This is for canceling the offset voltage Vgs of the source follower 5 inside the string circuit 3. here,
Assuming that the number of bits of the setting data DD4 is o, Av = (RB + Rj) / RB × 2 o / DD4
(Times).
【0061】なお、Rストリング回路3のソースフォロ
ワ5を図5に示したような変形例構成とする場合、演算
増幅器15における非反転端子側に対するN型MOSト
ランジスタM1や電流源Ibiasによるソースフォロワも
同様な構成とすることで、全体のオフセット電圧を小さ
く抑えることができる。When the source follower 5 of the R string circuit 3 has a modified configuration as shown in FIG. 5, the source follower for the non-inverting terminal side of the operational amplifier 15 by the N-type MOS transistor M1 and the current source Ibias is also required. With a similar configuration, the overall offset voltage can be kept low.
【0062】従って、本実施の形態によれば、可変ゲイ
ンの主要素子である抵抗ストリング1の任意の分圧点の
選択手段2,7又は8としてアナログスイッチ4とソー
スフォロワ5とによるアナログOR回路を用いているの
で、アナログスイッチ4のオン抵抗とアナログスイッチ
4につく寄生容量を小さくでき、アナログスイッチ4に
よる信号伝送の周波数帯域が伸び、さらにソースフォロ
ワ5を用いているため負荷の駆動能力が上がるので増幅
器の入力インピーダンスの低下による周波数特性の劣化
を抑えることができ、広帯域の微少ステップの可変ゲイ
ンとゲイン設定データDD1に対し反比例の特性を持っ
た可変ゲイン増幅器16を実現できる。Therefore, according to the present embodiment, the analog OR circuit using the analog switch 4 and the source follower 5 as the means 2, 7, or 8 for selecting an arbitrary voltage dividing point of the resistor string 1 which is a main element of the variable gain. , The on-resistance of the analog switch 4 and the parasitic capacitance attached to the analog switch 4 can be reduced, the frequency band of signal transmission by the analog switch 4 is extended, and the driving capability of the load is increased because the source follower 5 is used. As a result, the deterioration of the frequency characteristic due to the decrease in the input impedance of the amplifier can be suppressed, and the variable gain amplifier 16 having a variable gain of a fine step in a wide band and an inversely proportional characteristic to the gain setting data DD1 can be realized.
【0063】本発明の第六の実施の形態を図9に基づい
て説明する。本実施の形態は、請求項3記載の発明に相
当する。本実施の形態の可変ゲイン増幅器21は、固定
ゲイン増幅器12と、この固定ゲイン増幅器12の前段
に接続されたデジタル設定型信号減衰器13と、固定ゲ
イン増幅器12中の演算増幅器17の帰還経路中に介在
されたデジタル設定型信号減衰器18とにより構成され
ている。デジタル設定型信号減衰器13は第一ないし第
三の実施の形態等で説明した構成からなるRストリング
回路3Aと抵抗切換回路14Aとにより構成されてい
る。また、デジタル設定型信号減衰器18は第一ないし
第三の実施の形態等で説明した構成からなるRストリン
グ回路3Bと図7に示した抵抗切換回路19との直列回
路により構成されている。A sixth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment corresponds to the third aspect of the present invention. The variable gain amplifier 21 of the present embodiment includes a fixed gain amplifier 12, a digital setting type signal attenuator 13 connected to a stage preceding the fixed gain amplifier 12, and a feedback path of an operational amplifier 17 in the fixed gain amplifier 12. And a digital setting type signal attenuator 18 interposed therebetween. The digital setting type signal attenuator 13 includes the R string circuit 3A having the configuration described in the first to third embodiments and the like, and the resistance switching circuit 14A. The digital setting type signal attenuator 18 is configured by a series circuit of the R string circuit 3B having the configuration described in the first to third embodiments and the like and the resistance switching circuit 19 shown in FIG.
【0064】より詳細には、入力信号はRストリング回
路3Aの一方の入力(V2)に接続され、そのRストリ
ング回路3Aの他方の入力(V1)は抵抗切換回路14
の一方の入力(V1)に接続され、抵抗切換回路14の
他方の入力(V2)はGNDに接続されている。抵抗切
換回路14は設定データDD3により任意の抵抗Riが
選択され、Rストリング回路3Aの出力(VO)はゲイ
ン設定データDD1により、減衰率1(無減衰)〜Ri
/(Ri+RA)(ただし、RA:Rストリング回路3
Aの第1の抵抗ストリング1の全抵抗値)の範囲で減衰
率が選択され、Rストリング回路3Aの出力(VO)
は、演算増幅器15の非反転端子に入力される。More specifically, the input signal is connected to one input (V2) of R string circuit 3A, and the other input (V1) of R string circuit 3A is connected to resistance switching circuit 14A.
And the other input (V2) of the resistance switching circuit 14 is connected to GND. In the resistance switching circuit 14, an arbitrary resistance Ri is selected by the setting data DD3, and the output (VO) of the R string circuit 3A is attenuated from 1 (no attenuation) to Ri by the gain setting data DD1.
/ (Ri + RA) (where RA: R string circuit 3
The attenuation rate is selected within the range of the total resistance value of the first resistor string 1 of A, and the output (VO) of the R string circuit 3A is selected.
Is input to the non-inverting terminal of the operational amplifier 15.
【0065】演算増幅器15の出力は抵抗切換回路19
の一方の入力(V2)に接続され、抵抗切換回路19の
他方の入力(V1)とRストリング回路3Bの一方の入
力(V2)が接続され、Rストリング回路3Bの他方の
入力(V1)はGNDに接続されている。抵抗切換回路
19は設定データDD5により任意の抵抗Rjが選択さ
れ、Rストリング回路3Bの出力(VO)は設定データ
DD4により、演算増幅器15の出力に対する減衰率R
B/(Rj+RB)(ただし、RB:Rストリング回路
3Bの抵抗ストリング1の全抵抗値、Rj:抵抗切換回
路19の選択された抵抗値)〜∞(無限大)の範囲で減
衰率が選択され、演算増幅器15の反転入力に帰還され
る。ここで、全体のゲインは Av=(RA×DD1/2L+Ri)/(RA+Ri)×(R
B+Rj)/RB×2o/DD4 (倍) となる。The output of the operational amplifier 15 is connected to a resistance switching circuit 19
The other input (V1) of the resistance switching circuit 19 is connected to one input (V2) of the R string circuit 3B, and the other input (V1) of the R string circuit 3B is connected to the other input (V1) of the R string circuit 3B. It is connected to GND. In the resistance switching circuit 19, an arbitrary resistance Rj is selected by the setting data DD5, and the output (VO) of the R string circuit 3B is set to the attenuation rate R with respect to the output of the operational amplifier 15 by the setting data DD4.
The attenuation rate is selected in the range of B / (Rj + RB) (where RB is the total resistance value of the resistor string 1 of the R string circuit 3B, Rj is the selected resistance value of the resistance switching circuit 19) to ∞ (infinity). Is fed back to the inverting input of the operational amplifier 15. Here, the total gain is: Av = (RA × DD1 / 2 L + Ri) / (RA + Ri) × (R
B + Rj) / RB × 2 o / DD4 (times).
【0066】なお、デジタル設定型信号減衰器13,1
8におけるRストリング回路3A,3Bのソースフォロ
ワ5を図5に示したような変形例構成とする場合、共に
同じ構成とすることで全体のオフセット電圧を小さく抑
えることができる。The digital setting type signal attenuators 13, 1
In the case where the source followers 5 of the R string circuits 3A and 3B in FIG. 8 have a modified configuration as shown in FIG. 5, the same offset configuration can be used to reduce the overall offset voltage.
【0067】従って、本実施の形態によれば、ゲイン可
変の主要素子である抵抗ストリング1の任意の分圧点の
選択手段2,7又は8としてアナログスイッチ4とソー
スフォロワ5とによるアナログOR回路を用いているの
で、アナログスイッチ4のオン抵抗とアナログスイッチ
4につく寄生容量を小さくでき、アナログスイッチ4に
よる信号伝送の周波数帯域が伸び、さらにソースフォロ
ワ5を用いているため負荷の駆動能力が上がるので増幅
器の入力インピーダンスの低下による周波数特性の劣化
を抑えることができ、広帯域の微少ステップの可変ゲイ
ンとゲイン設定データDD1に対し反比例の特性を持っ
た可変ゲイン増幅器21を実現できる。Therefore, according to the present embodiment, the analog OR circuit using the analog switch 4 and the source follower 5 as the means 2, 7, or 8 for selecting an arbitrary voltage dividing point of the resistor string 1, which is the main element of the gain variable. , The on-resistance of the analog switch 4 and the parasitic capacitance attached to the analog switch 4 can be reduced, the frequency band of signal transmission by the analog switch 4 is extended, and the driving capability of the load is increased because the source follower 5 is used. As a result, the deterioration of the frequency characteristic due to the decrease of the input impedance of the amplifier can be suppressed, and the variable gain amplifier 21 having a variable gain of a fine step in a wide band and a characteristic inversely proportional to the gain setting data DD1 can be realized.
【0068】本発明の第七の実施の形態を図10及び図
11に基づいて説明する。本実施の形態は、請求項4な
いし6記載の発明における抵抗ストリング1に対して共
通な選択手段31を付加してなるRストリング回路32
の構成例を示すものである。A seventh embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the present embodiment, an R string circuit 32 is provided by adding a common selecting means 31 to the resistor string 1 according to the invention of claims 4 to 6.
1 shows an example of the configuration.
【0069】このRストリング回路32では、例えば、
R0〜R511で示す512個(9ビット)の抵抗値r
の抵抗の直列回路からなる抵抗ストリング33に対して
各々出力を持つように32個ずつにブロック分割された
構成の選択手段31が組合せられている。この選択手段
31は、アナログスイッチ34(S0〜S511)とア
ンプ入力部35(IQ0〜IQ15)とからなる。図示
例では、抵抗ストリング33の各分圧点を選択するアナ
ログスイッチ34は1段で32個ずつ1つのブロックと
なった16組のブロック(出力:VO0〜VO15)で
構成された場合を示している。各アンプ入力部35(I
Q0〜IQ15)は、例えば、図11に示すように、2
つのFETトランジスタM1,M2からなり、主トラン
ジスタであるFETトランジスタM1のゲートにドレイ
ンが接続されたFETトランジスタM2のゲートに対し
て制御端子CONTが接続されている。FETトランジ
スタM1のゲートが入力端子となり、アナログスイッチ
側に接続され、ソース端子が出力端子とされている。In the R string circuit 32, for example,
512 (9-bit) resistance values r indicated by R0 to R511
The selection means 31 is configured to be divided into 32 blocks so as to have outputs with respect to a resistor string 33 composed of a series circuit of resistors. The selection means 31 includes an analog switch 34 (S0 to S511) and an amplifier input unit 35 (IQ0 to IQ15). In the illustrated example, the analog switch 34 for selecting each voltage dividing point of the resistor string 33 is configured by 16 sets of blocks (outputs: VO0 to VO15) each having 32 blocks in one stage. I have. Each amplifier input unit 35 (I
Q0 to IQ15) are, for example, 2 as shown in FIG.
The control terminal CONT is connected to the gate of the FET transistor M2 which is composed of two FET transistors M1 and M2 and whose drain is connected to the gate of the FET transistor M1 as the main transistor. The gate of the FET transistor M1 serves as an input terminal, is connected to the analog switch, and the source terminal serves as an output terminal.
【0070】ここで、ゲイン設定データDD1と各アナ
ログスイッチ34(S0〜S511)のオン・オフ状態
との関係を表7に示し、ゲイン設定データDD1とアン
プ入力部35(IQ0〜IQ15)のオン・オフ(アク
ティブ・ノンアクティブ)状態との関係を表8に示す。The relationship between the gain setting data DD1 and the on / off state of each analog switch 34 (S0 to S511) is shown in Table 7, and the gain setting data DD1 and the on / off state of the amplifier input unit 35 (IQ0 to IQ15) are shown. Table 8 shows the relationship with the off (active / non-active) state.
【0071】[0071]
【表7】 [Table 7]
【0072】[0072]
【表8】 [Table 8]
【0073】このような構成において、図10では、ゲ
イン設定データDD1を基にデコーダ36によりアナロ
グスイッチ34(S0〜S511)の内の何れか1つが
オンとなり、ブロックの出力(VO0〜VO15)の内
の1つの出力が確定し、他の出力はハイインピーダンス
状態である。また、同時にアンプ入力部35(IQ0〜
IQ15)の内、アクティブとなったブロックが接続さ
れている1つのアンプ入力部35がアクティブとなる。
アンプ入力部35がアクティブになると図11に示すア
ンプ入力部35の構成例においてFETトランジスタM
2がオフ(制御端子CONT:“L”)となり、FET
トランジスタM1のゲートに入力信号が接続される。ア
ンプ入力部35がノンアクティブのときはFETトラン
ジスタM2がオン(制御端子CONT:“H”)であ
り、かつ、そのアンプ入力部35に接続されているアナ
ログスイッチ34は全てオフなので、FETトランジス
タM1のゲートはGNDに接続され、アクティブなアン
プ入力部35のみが有効となる。有効となったアンプ入
力部35は、図示していないが、もう一つのトランジス
タTrとアンプ入力段の差動ペアとして動作する。In this configuration, in FIG. 10, one of the analog switches 34 (S0 to S511) is turned on by the decoder 36 based on the gain setting data DD1, and the output of the block (VO0 to VO15) is turned on. Are determined, and the other output is in a high impedance state. At the same time, the amplifier input unit 35 (IQ0 to IQ0)
One of the amplifier input sections 35 to which the activated block is connected becomes active.
When the amplifier input section 35 becomes active, the FET transistor M in the configuration example of the amplifier input section 35 shown in FIG.
2 is turned off (control terminal CONT: “L”), and FET
The input signal is connected to the gate of the transistor M1. When the amplifier input unit 35 is non-active, the FET transistor M2 is on (control terminal CONT: "H") and the analog switches 34 connected to the amplifier input unit 35 are all off. Is connected to GND, and only the active amplifier input unit 35 is enabled. Although not shown, the enabled amplifier input unit 35 operates as a differential pair of another transistor Tr and an amplifier input stage.
【0074】一般に、R0〜R2L−1の2L個の抵抗か
らなる抵抗ストリング33の両端を各々V1、V2と
し、ゲイン設定データDD1をデコードし、S0〜S2
L−1の2L個のアナログスイッチ34の内、1つのみを
選択する場合、ブロックの出力VO0〜VOnの内、ア
クティブな出力端子に出力される電圧は VO=(V1×(2L−DD1)×r+V2×DD1×r)/(2L×r) =V1×(1−DD1/2L)+V2×DD1/2L となり、他の出力はハイインピーダンスとなる。Generally, both ends of a resistor string 33 composed of 2 L resistors R0 to R2 L -1 are set to V1 and V2, respectively, and gain setting data DD1 is decoded, and S0 to S2
When only one of the 2 L analog switches 34 of L− 1 is selected, the voltage output to the active output terminal among the block outputs VO0 to VOn is VO = (V1 × (2 L − DD1) × r + V2 × DD1 × r) / (2 L × r) = V1 × (1-DD1 / 2 L) + V2 × DD1 / 2 L , and the other output becomes a high impedance.
【0075】なお、図3や図4で示したような抵抗スト
リングの場合にも、容易にブロック分割し、この図10
の場合と同様な構成とすることができる。In the case of a resistor string as shown in FIGS.
The same configuration as in the case of can be obtained.
【0076】図12にアンプ入力部35の変形例を示
す。まず、図12(a)に示す例は、図11の場合と同
一構成であり、主トランジスタであるFETトランジス
タとしてN型MOSトランジスタが用いられている。こ
こで、制御端子CONT=“L”のとき、FETトラン
ジスタM2がオフとなり、入力INがN型MOSトラン
ジスタM1のゲートに接続され、このアンプ入力部35
が有効となる。制御端子CONT=“H”ではFETト
ランジスタM2がオンとなりN型MOSトランジスタM
1のゲートはGNDに接続された状態となり、このアン
プ入力部35が無効となる。FIG. 12 shows a modification of the amplifier input unit 35. First, the example shown in FIG. 12A has the same configuration as that of FIG. 11, and an N-type MOS transistor is used as an FET transistor as a main transistor. Here, when the control terminal CONT = "L", the FET transistor M2 is turned off, the input IN is connected to the gate of the N-type MOS transistor M1, and this amplifier input unit 35
Becomes effective. When the control terminal CONT = "H", the FET transistor M2 is turned on and the N-type MOS transistor M
The gate of No. 1 is connected to GND, and the amplifier input unit 35 is disabled.
【0077】図12(b)に示す例は、主トランジスタ
であるFETトランジスタとしてP型MOSトランジス
タが用いられている。この例では、図12(a)とは論
理が逆になり、制御端子CONTB=“H”のときFE
TトランジスタM2がオフとなり、入力INがP型MO
SトランジスタM1のゲートに接続された状態となり、
このアンプ入力部35が有効となる。制御端子CONT
B=“L”ではFETトランジスタM2がオンとなりP
型MOSトランジスタM1のゲートはVccに接続された
状態となり、このアンプ入力部35が無効となる。In the example shown in FIG. 12B, a P-type MOS transistor is used as an FET transistor as a main transistor. In this example, the logic is opposite to that of FIG. 12A, and when the control terminal CONTB = "H", the FE
T-transistor M2 is turned off, and input IN becomes P-type MO
The state is connected to the gate of the S transistor M1,
This amplifier input section 35 becomes effective. Control terminal CONT
When B = "L", the FET transistor M2 is turned on and P
The gate of the type MOS transistor M1 is connected to Vcc, and the amplifier input unit 35 is disabled.
【0078】また、アンプ入力部35と対で差動ペアを
構成するトランジスタもFETトランジスタM1と同じ
ものを使うことでオフセット電圧を小さくできる。Also, the offset voltage can be reduced by using the same transistor as the FET transistor M1 for the transistor forming the differential pair with the amplifier input unit 35.
【0079】本発明の第八の実施の形態を図13ないし
図15に基づいて説明する。本実施の形態は、請求項4
記載の発明に相当する。CCDリニアイメージセンサ
(図示せず)からの出力信号を入力とする部分に配設さ
れる本実施の形態の可変ゲイン増幅器41は、固定ゲイ
ン増幅器42と、この固定ゲイン増幅器42の前段に接
続されたデジタル設定型信号減衰器43とにより構成さ
れている。このデジタル設定型信号減衰器43は第七の
実施の形態等で説明した構成からなるRストリング回路
32と抵抗切換回路44とにより構成されている。An eighth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. This embodiment relates to claim 4
This corresponds to the described invention. The variable gain amplifier 41 of the present embodiment, which is provided at a portion to which an output signal from a CCD linear image sensor (not shown) is input, is connected to a fixed gain amplifier 42 and a stage preceding the fixed gain amplifier 42. And a digital setting type signal attenuator 43. The digital setting type signal attenuator 43 includes the R string circuit 32 and the resistance switching circuit 44 having the configuration described in the seventh embodiment and the like.
【0080】より詳細には、入力信号はRストリング回
路32の一方の入力(V2)に接続され、Rストリング
回路32の他方の入力(V1)は抵抗切換回路44の一
方の入力(V1)に接続され、抵抗切換回路44の他方
の入力(V2)はGNDに接続されている。抵抗切換回
路44は図14に示すように2n 個の抵抗R1〜R(2n
)を選択自在に並列接続してなり、設定データDD3に
より任意の抵抗Riが選択される構成とされている。R
ストリング回路32の出力(VO0〜VO15)はゲイ
ン設定データDD1により、1つの出力が減衰信号を出
力し、他はハイインピーダンスとなる。減衰信号出力と
なった端子は減衰率1(無減衰)〜Ri/(Ri+R)
(R:Rストリング33の全抵抗値)の範囲で減衰率が
選択される。Rストリング回路32の出力(VO0〜V
O15)は、ゲインA1の演算増幅器45と帰還抵抗R
1と信号源抵抗R2による固定ゲイン増幅器42の非反
転入力(IN0〜IN15)に入力され、(1+R1/
R2)倍されて出力される。ここで、全体のゲインは Av=(1+R1/R2)×(R×DD1/2L+R
i)/(R+Ri)(倍) である。More specifically, the input signal is connected to one input (V2) of the R string circuit 32, and the other input (V1) of the R string circuit 32 is connected to one input (V1) of the resistance switching circuit 44. The other input (V2) of the resistance switching circuit 44 is connected to GND. As shown in FIG. 14, the resistance switching circuit 44 includes 2 n resistors R1 to R (2 n
) Are connected in parallel in a selectable manner, and an arbitrary resistor Ri is selected by the setting data DD3. R
One of the outputs (VO0 to VO15) of the string circuit 32 outputs an attenuated signal according to the gain setting data DD1, and the other outputs become high impedance. The terminal which became the attenuation signal output is attenuation ratio 1 (no attenuation) to Ri / (Ri + R).
The attenuation rate is selected within the range of (R: the total resistance value of the R string 33). The output of the R string circuit 32 (VO0 to V
O15) is an operational amplifier 45 having a gain A1 and a feedback resistor R
1 and the non-inverting input (IN0 to IN15) of the fixed gain amplifier 42 by the signal source resistance R2, and (1 + R1 /
R2) is output. Here, the total gain is: Av = (1 + R1 / R2) × (R × DD1 / 2 L + R
i) / (R + Ri) (times).
【0081】図15に演算増幅器45の構成例を示す。
図15において、M10,M20,M11,M21,
…,M115,M215は各々図10に示したアンプ入
力部35(IQ0〜IQ15)を構成しており、M10
〜M115の何れかアクティブな素子とFETトランジ
スタM2とで差動ペアを構成している。差動ペアのコモ
ンソースには電流源IS1が接続され、各々のドレイン
にはFETトランジスタM3,M4によるカレントミラ
ーが接続されている。さらに、カレントミラーの出力に
はFETトランジスタM5によるソース接地アンプが接
続され、演算増幅器となっている。なお、C1は位相補
償コンデンサである。FIG. 15 shows a configuration example of the operational amplifier 45.
In FIG. 15, M10, M20, M11, M21,
, M115, M215 constitute the amplifier input unit 35 (IQ0 to IQ15) shown in FIG.
To M115 and a FET transistor M2 constitute a differential pair. A current source IS1 is connected to a common source of the differential pair, and a current mirror of FET transistors M3 and M4 is connected to each drain. Further, an output of the current mirror is connected to a common-source amplifier constituted by an FET transistor M5, thereby forming an operational amplifier. C1 is a phase compensation capacitor.
【0082】従って、本実施の形態によれば、可変ゲイ
ンの主要素子である抵抗ストリング33の任意の分圧点
の選択にブロック分割したアナログスイッチ34を用
い、ブロック毎に出力を出すようにしたので、アナログ
スイッチ34のオン抵抗とアナログスイッチ34につく
寄生容量を小さくでき、アナログスイッチ34による信
号伝送の周波数帯域が伸びるので、広帯域の微少ステッ
プの可変ゲインと設定データに対し反比例の特性を持っ
た可変ゲイン増幅器41を実現できる。Therefore, according to the present embodiment, an analog switch 34 divided into blocks is used to select an arbitrary voltage dividing point of the resistor string 33, which is a main element of the variable gain, and an output is output for each block. As a result, the on-resistance of the analog switch 34 and the parasitic capacitance of the analog switch 34 can be reduced, and the frequency band of signal transmission by the analog switch 34 is extended. Variable gain amplifier 41 can be realized.
【0083】本発明の第九の実施の形態を図16及び図
17に基づいて説明する。本実施の形態は、請求項5記
載の発明に相当する。本実施の形態の可変ゲイン増幅器
46は、演算増幅器47と、この演算増幅器47の帰還
経路中に介在されたデジタル設定型信号減衰器48とに
より構成されている。このデジタル設定型信号減衰器4
8は第七の実施の形態等で説明した構成からなるRスト
リング回路32と図14に示した抵抗切換回路44との
直列回路により構成されている。A ninth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. This embodiment corresponds to the invention described in claim 5. The variable gain amplifier 46 according to the present embodiment includes an operational amplifier 47 and a digital setting type signal attenuator 48 interposed in a feedback path of the operational amplifier 47. This digital setting type signal attenuator 4
Reference numeral 8 denotes a series circuit of the R string circuit 32 having the configuration described in the seventh embodiment and the like and the resistance switching circuit 44 shown in FIG.
【0084】より詳細には、入力信号は演算増幅器47
の反転端子に入力され、演算増幅器47の出力は抵抗切
換回路44の一方の入力(V2)に接続され、抵抗切換
回路44の他方の入力(V1)とRストリング回路32
の一方の入力(V2)が接続され、Rストリング回路3
2の他方の入力(V1)はGNDに接続されている。抵
抗切換回路44は設定データDD5により任意の抵抗R
jが選択され、Rストリング回路32の出力(VO0〜
VO15)は設定データDD4により、1つの出力が減
衰信号を出力し、他はハイインピーダンスとなる。減衰
信号出力となった端子は、演算増幅器47の出力に対す
る減衰率RB/(Rj+RB)(RB:Rストリング3
3の全抵抗値、Rj:抵抗切換回路44の選択された抵
抗値)〜∞(無限大)の範囲で減衰率が選択され、演算
増幅器47の反転入力(IN0〜IN15)に帰還され
る。ここで、全体のゲインは Av=(RB+Rj)/RB×2o/DD4 (倍) である。More specifically, the input signal is supplied to the operational amplifier 47.
The output of the operational amplifier 47 is connected to one input (V2) of the resistance switching circuit 44, and the other input (V1) of the resistance switching circuit 44 and the R string circuit 32
Is connected to one input (V2) of the R string circuit 3
The other input (V1) of 2 is connected to GND. The resistance switching circuit 44 determines an arbitrary resistance R according to the setting data DD5.
j is selected and the output of the R string circuit 32 (VO0 to VO0)
VO15), one output outputs an attenuated signal and the other becomes high impedance according to the setting data DD4. The terminal which became the attenuation signal output is the attenuation ratio RB / (Rj + RB) (RB: R string 3) with respect to the output of the operational amplifier 47.
3, the attenuation factor is selected in the range of Rj: the selected resistance value of the resistance switching circuit 44) to ∞ (infinity), and is fed back to the inverting inputs (IN0 to IN15) of the operational amplifier 47. Here, the overall gain is Av = (RB + Rj) / RB × 2 o / DD4 (times).
【0085】図17に演算増幅器47の構成例を示す。
図15において、M10,M20,M11,M21,
…,M115,M215は各々図10中に示したアンプ
入力部35(IQ0〜IQ15)を構成しており、M1
0〜M115の何れかアクティブな素子とFETトラン
ジスタM2とで差動ペアを構成している。差動ペアのコ
モンソースには電流源IS1が接続され、各々のドレイ
ンにはFETトランジスタM3,M4によるカレントミ
ラーが接続されている。さらに、カレントミラーの出力
にはFETトランジスタM5によるソース接地アンプが
接続され、演算増幅器47となっている。なお、C1は
位相補償コンデンサである。FIG. 17 shows an example of the configuration of the operational amplifier 47.
In FIG. 15, M10, M20, M11, M21,
, M115, M215 constitute the amplifier input unit 35 (IQ0 to IQ15) shown in FIG.
A differential pair is formed by any of active elements 0 to M115 and the FET transistor M2. A current source IS1 is connected to a common source of the differential pair, and a current mirror of FET transistors M3 and M4 is connected to each drain. Further, an output of the current mirror is connected to a common-source amplifier constituted by an FET transistor M5 to form an operational amplifier 47. C1 is a phase compensation capacitor.
【0086】本発明の第十の実施の形態を図18及び図
19に基づいて説明する。本実施の形態は、請求項6記
載の発明に相当する。本実施の形態の可変ゲイン増幅器
51は、固定ゲイン増幅器42と、この固定ゲイン増幅
器42の前段に接続されたデジタル設定型信号減衰器4
3と、固定ゲイン増幅器42中のゲインA1の演算増幅
器52の帰還経路中に介在されたデジタル設定型信号減
衰器48とにより構成されている。デジタル設定型信号
減衰器43は第七の実施の形態等で説明した構成からな
るRストリング回路32Aと抵抗切換回路44Aとによ
り構成されている。また、デジタル設定型信号減衰器4
8は第七の実施の形態等で説明した構成からなるRスト
リング回路32Bと図14に示した抵抗切換回路44B
との直列回路により構成されている。A tenth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. This embodiment corresponds to the invention described in claim 6. The variable gain amplifier 51 of the present embodiment includes a fixed gain amplifier 42 and a digital setting type signal attenuator 4 connected in front of the fixed gain amplifier 42.
3 and a digital setting type signal attenuator 48 interposed in the feedback path of the operational amplifier 52 having the gain A1 in the fixed gain amplifier 42. The digital setting type signal attenuator 43 includes the R string circuit 32A having the configuration described in the seventh embodiment and the like, and the resistance switching circuit 44A. In addition, a digital setting type signal attenuator 4
Reference numeral 8 denotes an R string circuit 32B having the configuration described in the seventh embodiment and the like, and a resistance switching circuit 44B shown in FIG.
And a series circuit.
【0087】より詳細には、入力信号はRストリング回
路32Aの一方の入力(V2)に接続され、Rストリン
グ回路32Aの他方の入力(V1)は抵抗切換回路44
Aの一方の入力(V1)に接続され、抵抗切換回路44
Aの他方の入力(V2)はGNDに接続されている。抵
抗切換回路44Aは設定データDD3により任意の抵抗
Riが選択され、Rストリング回路32Aの出力(VO
0〜VO15)はゲイン設定データDD1により、1つ
の出力が減衰信号を出力し、他はハイインピーダンスと
なる。減衰信号出力となった端子は減衰率1(無減衰)
〜Ri/(Ri+RA)(RA:Rストリング回路32
AにおけるRストリング33の全抵抗値)の範囲で減衰
率が選択される。Rストリング回路32Aの出力(VO
0〜VO15)は、演算増幅器52と帰還抵抗R1と信
号源抵抗R2とによる固定ゲイン増幅器42の非反転入
力(IN0〜IN15)に入力される。More specifically, the input signal is connected to one input (V2) of the R string circuit 32A, and the other input (V1) of the R string circuit 32A is connected to the resistance switching circuit 44.
A is connected to one input (V1) of A and the resistance switching circuit 44
The other input (V2) of A is connected to GND. In the resistance switching circuit 44A, an arbitrary resistance Ri is selected by the setting data DD3, and the output (VO) of the R string circuit 32A is selected.
0 to VO15), one output outputs an attenuated signal and the others become high impedance according to the gain setting data DD1. The terminal that became the attenuation signal output is attenuation factor 1 (no attenuation)
To Ri / (Ri + RA) (RA: R string circuit 32
The attenuation rate is selected within a range of (the total resistance value of the R string 33 in A). The output (VO) of the R string circuit 32A
0 to VO15) are input to the non-inverting inputs (IN0 to IN15) of the fixed gain amplifier 42 including the operational amplifier 52, the feedback resistor R1, and the signal source resistor R2.
【0088】演算増幅器52の出力は抵抗切換回路44
Bの一方の入力(V2)に接続され、抵抗切換回路44
Bの他方の入力(V1)とRストリング回路32Bの一
方の入力(V2)が接続され、Rストリング回路32B
の他方の入力(V1)はGNDに接続されている。抵抗
切換回路44Bは設定データDD5により任意の抵抗R
jが選択され、Rストリング回路32Bの出力(VO0
〜VO15)は設定データDD4により、1つの出力が
減衰信号を出力し、他はハイインピーダンスとなる。減
衰信号出力となった端子は、演算増幅器52の出力に対
する減衰率RB/(Rj+RB)(RB:Rストリング
回路32BにおけるRストリング33の全抵抗値、R
j:抵抗切換回路44Bの選択された抵抗値)〜∞(無
限大)の範囲で減衰率が選択され、演算増幅器52の反
転入力(IN0〜IN15)に帰還される。ここで、全
体のゲインは Av=(RA×DD1/2L+Ri)/(RA+Ri)
×(RB+Rj)/RB×2o/DD4 (倍) である。The output of the operational amplifier 52 is connected to the resistance switching circuit 44
B is connected to one input (V2) of B, and the resistance switching circuit 44
The other input (V1) of B and one input (V2) of the R string circuit 32B are connected, and the R string circuit 32B
The other input (V1) is connected to GND. The resistance switching circuit 44B sets an arbitrary resistance R according to the setting data DD5.
j is selected, and the output of the R string circuit 32B (VO0
To VO15), one output outputs an attenuated signal and the others become high impedance according to the setting data DD4. The terminal which became the attenuation signal output is the attenuation ratio RB / (Rj + RB) (RB: the total resistance value of the R string 33 in the R string circuit 32B, R
j: The attenuation rate is selected within the range of the selected resistance value of the resistance switching circuit 44B to ∞ (infinity), and is fed back to the inverting inputs (IN0 to IN15) of the operational amplifier 52. Here, the total gain is: Av = (RA × DD1 / 2 L + Ri) / (RA + Ri)
× (RB + Rj) / RB × 2 o / DD4 (times).
【0089】図19に演算増幅器52の構成例を示す。
図15において、MN10,MN20,MN11,MN
21,…,MN115,MN215及びMP10,MP
20,MP11,MP21,…,MP115,MP21
5は各々Rストリング回路32B側のアンプ入力部35
(IQ0〜IQ15)とRストリング回路32A側のア
ンプ入力部35(IQ0〜IQ15)を構成しており、
MN10〜MN115の何れかアクティブな素子とMP
10〜MP115の何れかアクティブな素子とで差動ペ
アを構成している。差動ペアのコモンソースには電流源
IS1が接続され、各々のドレインにはFETトランジ
スタM3,M4によるカレントミラーが接続されてい
る。さらに、カレントミラーの出力にはFETトランジ
スタM5によるソース接地アンプが接続され、演算増幅
器52となっている。なお、C1は位相補償コンデンサ
である。FIG. 19 shows a configuration example of the operational amplifier 52.
In FIG. 15, MN10, MN20, MN11, MN
21, ..., MN115, MN215 and MP10, MP
20, MP11, MP21,..., MP115, MP21
5 is an amplifier input unit 35 on the R string circuit 32B side.
(IQ0 to IQ15) and an amplifier input unit 35 (IQ0 to IQ15) on the R string circuit 32A side.
Any one of MN10 to MN115 active element and MP
A differential pair is formed with any of the active elements 10 to 115. A current source IS1 is connected to a common source of the differential pair, and a current mirror of FET transistors M3 and M4 is connected to each drain. Further, an output of the current mirror is connected to a common-source amplifier constituted by an FET transistor M5 to form an operational amplifier 52. C1 is a phase compensation capacitor.
【0090】本発明の第十一の実施の形態を図20に基
づいて説明する。本実施の形態は、請求項7記載の発明
に相当する。The eleventh embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment is equivalent to the seventh aspect of the present invention.
【0091】本実施の形態では、例えば図1に示したア
ナログスイッチ4等を含む選択手段2を用いる構成のR
ストリング回路61部分であって、抵抗ストリング1を
駆動する前段の駆動増幅器(図示せず)のゲインを1倍と
した場合を示している。図示の如く、駆動増幅器へ帰還
する側の信号(VO2)は固定ゲイン増幅器12に接続
する側のVO1と等価なアナログスイッチのオン抵抗と
寄生容量を2つのアナログスイッチ62(SW1,SW
2)に各々持たせ、さらに、ソースフォロワの出力もV
O1と等価な出力抵抗と寄生容量を2つのソースフォロ
ワ63(SF1,SF2)に持たせている。これらのア
ナログスイッチ62、ソースフォロワ63とともに電流
源Ibiasにより選択手段2によるアナログスイッチ群と
等価的なアナログスイッチ群64が構成されている。な
お、図示例ではアナログスイッチの寄生容量をVO1側
の1つのブロック(1つのソースフォロワ5)につなが
るアナログスイッチ4の数mに対し、アナログスイッチ
61(SW2)の入出力をショートして(m−1)/2
倍の素子サイズとすることで実現し、同様にソースフォ
ロワ63(SF1)につく寄生容量もブロック数(ソー
スフォロワ5の数)をnとした場合、ソースフォロワ6
3(SF2)を(n−1)倍の素子サイズとすることで
実現している。ここに、アナログスイッチ62がオンと
は低抵抗の状態、オフとは高抵抗の状態にあることを意
味し、ソースフォロワ63がオンとはその内部のシャン
トスイッチM2がオフの状態、オフとはシャントスイッ
チM2がオンの状態を意味する。In this embodiment, for example, an R switch having a configuration using the selection means 2 including the analog switch 4 shown in FIG.
This shows a case where the gain of a drive amplifier (not shown) at the preceding stage for driving the resistor string 1 is set to 1 in the string circuit 61 portion. As shown in the figure, the signal (VO2) on the side that is fed back to the drive amplifier is the on-resistance and the parasitic capacitance of the analog switch equivalent to VO1 on the side connected to the fixed gain amplifier 12, and the two analog switches 62 (SW1, SW2).
2), and the output of the source follower is also V
The output resistance and the parasitic capacitance equivalent to O1 are provided to the two source followers 63 (SF1, SF2). A current source Ibias, together with the analog switch 62 and the source follower 63, forms an analog switch group 64 equivalent to the analog switch group by the selection unit 2. In the illustrated example, the input / output of the analog switch 61 (SW2) is short-circuited with respect to the number m of the analog switches 4 connected to one block (one source follower 5) on the VO1 side by setting the parasitic capacitance of the analog switch to (m). -1) / 2
Similarly, when the number of blocks (the number of the source followers 5) is n, the parasitic capacitance applied to the source follower 63 (SF1) is nil.
3 (SF2) is realized by setting the element size to (n-1) times. Here, the ON state of the analog switch 62 means a low resistance state, the OFF state means a high resistance state, the ON state of the source follower 63 indicates that the internal shunt switch M2 is OFF, and the OFF state means This means that the shunt switch M2 is on.
【0092】なお、図20に示す例では、選択手段の例
として図1に示した例を用いたが、図3に示した多段構
成の選択手段7の場合や図4に示したアナログスイッチ
4のオン抵抗で抵抗ストリング1の構成抵抗の分圧点を
さらに分圧する構成の選択手段8の場合や、図10に示
したように出力をブロック分割する構成の選択手段31
の場合でも、同様に等価な構成で駆動増幅器へ帰還する
ことができる。In the example shown in FIG. 20, the example shown in FIG. 1 is used as an example of the selecting means. However, in the case of the multi-stage selecting means 7 shown in FIG. 3, the analog switch 4 shown in FIG. In the case of the selecting means 8 which further divides the voltage dividing point of the constituent resistance of the resistor string 1 by the on-resistance, or the selecting means 31 which divides the output into blocks as shown in FIG.
Also in the case of the above, feedback to the drive amplifier can be similarly performed with an equivalent configuration.
【0093】本発明の第十二の実施の形態を図21に基
づいて説明する。本実施の形態は、請求項7記載の発明
に相当する。A twelfth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment is equivalent to the seventh aspect of the present invention.
【0094】図21において、Rストリング回路61は
図20に示した構成よりなり、抵抗切換回路14は図6
及び図7に示したものである。In FIG. 21, the R string circuit 61 has the structure shown in FIG. 20, and the resistance switching circuit 14
7 and FIG.
【0095】入力信号はN型MOSトランジスタM2と
電流源Ibias2によるソースフォロワ65を通してゲイ
ンA2の演算増幅器66の非反転端子に入力され、演算
増幅器66の出力はRストリング回路61の一方の入力
(V2)に接続され、Rストリング回路61の他方の入
力(V1)は抵抗切換回路14の一方の入力(V1)に
接続され、抵抗切換回路14の他方の入力(V2)はG
NDに接続されている。抵抗切換回路14は設定データ
DD3により任意の抵抗Riが選択され、Rストリング
回路61の出力(VO)はゲイン設定データDD1によ
り、減衰率1(無減衰)〜Ri/(Ri+R)(R:R
ストリング回路61の全抵抗値)の範囲で減衰率が選択
される。Rストリング回路61の出力(VO2)は、他
方の出力(VO1)と等価なアナログスイッチ62及び
ソースフォロワ63を通って演算増幅器66の反転入力
に帰還される。また、VO1はゲインA1の演算増幅器
15と帰還抵抗R1と信号源抵抗R2とN型MOSトラ
ンジスタM1と電流源Ibias1とによる固定ゲイン増幅
器12に入力され、(1+R1/R2)倍されて出力さ
れる。ここで、N型MOSトランジスタM2と電流源I
bias2によるソースフォロワ65とN型MOSトランジ
スタM1と電流源Ibias1によるソースフォロワ67は
各々Rストリング回路61内部のソースフォロワ5のオ
フセット電圧Vgsをキャンセルするためのものであり、
Rストリング回路61内のソースフォロワ5と同じもの
である。ここで、全体のゲインは Av=(1+R1/R2)×(R×DD1/2L+R
i)/(R+Ri) (倍) である。An input signal is input to a non-inverting terminal of an operational amplifier 66 having a gain of A2 through a source follower 65 formed by an N-type MOS transistor M2 and a current source Ibias2, and the output of the operational amplifier 66 is supplied to one input (V2 ), The other input (V1) of the R string circuit 61 is connected to one input (V1) of the resistance switching circuit 14, and the other input (V2) of the resistance switching circuit 14 is G
Connected to ND. In the resistance switching circuit 14, an arbitrary resistance Ri is selected by the setting data DD3, and the output (VO) of the R string circuit 61 is controlled by the gain setting data DD1 to have an attenuation rate of 1 (no attenuation) to Ri / (Ri + R) (R: R
The attenuation rate is selected within the range of the total resistance value of the string circuit 61). The output (VO2) of the R string circuit 61 is fed back to the inverting input of the operational amplifier 66 through an analog switch 62 and a source follower 63 equivalent to the other output (VO1). VO1 is input to a fixed gain amplifier 12 composed of an operational amplifier 15 having a gain A1, a feedback resistor R1, a signal source resistor R2, an N-type MOS transistor M1, and a current source Ibias1, and is output after being multiplied by (1 + R1 / R2). . Here, the N-type MOS transistor M2 and the current source I
A source follower 65 by bias2, an N-type MOS transistor M1 and a source follower 67 by current source Ibias1 are for canceling the offset voltage Vgs of the source follower 5 inside the R string circuit 61, respectively.
This is the same as the source follower 5 in the R string circuit 61. Here, the total gain is: Av = (1 + R1 / R2) × (R × DD1 / 2 L + R
i) / (R + Ri) (times).
【0096】なお、ここでは抵抗ストリング1の駆動増
幅器のゲインを1倍としたが、ゲインを持たせること
も、さらに幾つかのゲインを切り換えることも可能であ
る。Although the gain of the drive amplifier of the resistor string 1 is set to 1 here, it is possible to provide a gain or to switch some gains.
【0097】従って、本実施の形態によれば、抵抗スト
リング1を駆動する前段の駆動増幅器のゲインを抵抗ス
トリング1の減衰信号出力と同様な分圧点の選択用のア
ナログスイッチ62やソースフォロワ63などを通して
決定するため、駆動増幅器の帰還経路が減衰信号出力と
同様な周波数特性を持ち、これを駆動増幅器で補正する
ことができるので減衰信号出力も周波数特性が補正さ
れ、広帯域化ができる。また、駆動増幅器のゲインを信
号を減衰させる抵抗ストリング1を用いて決定するた
め、抵抗ストリング1の構成抵抗の相対精度による減衰
率の誤差を或る程度補正できるため、全体としてのゲイ
ンの高精度化が行える。Therefore, according to the present embodiment, the gain of the drive amplifier in the preceding stage for driving the resistor string 1 is adjusted by the analog switch 62 and the source follower 63 for selecting the voltage dividing point similar to the attenuation signal output of the resistor string 1. For example, the feedback path of the drive amplifier has a frequency characteristic similar to that of the output of the attenuation signal, which can be corrected by the drive amplifier. Therefore, the frequency characteristic of the output of the attenuation signal is also corrected, and the band can be widened. In addition, since the gain of the drive amplifier is determined using the resistor string 1 that attenuates the signal, an error in the attenuation factor due to the relative accuracy of the constituent resistors of the resistor string 1 can be corrected to some extent. Can be done.
【0098】本発明の第十三の実施の形態を図22に基
づいて説明する。本実施の形態は、請求項8記載の発明
に相当する。A thirteenth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment corresponds to the eighth aspect of the present invention.
【0099】本実施の形態では、例えば図1に示したア
ナログスイッチ4等を含む選択手段2を用いる構成のR
ストリング回路71部分であって、抵抗ストリング1を
駆動する演算増幅器(図示せず)の位相補償に使う信号を
抵抗ストリング1の任意の分圧点から第2の選択手段7
2におけるアナログスイッチ及びソースフォロワを通し
て供給する。即ち、抵抗ストリング1の任意の分圧点か
らアナログスイッチとソースフォロワを通した信号を演
算増幅器の位相補償用信号として使用し、可変ゲイン増
幅器のゲイン範囲毎に選択する抵抗ストリングの分圧点
を切り換えるようにしたものである。In the present embodiment, for example, an R switch having a configuration using the selecting means 2 including the analog switch 4 shown in FIG.
A signal used for phase compensation of an operational amplifier (not shown) for driving the resistor string 1 is a part of the string circuit 71, and a second selection means 7 is provided from an arbitrary voltage dividing point of the resistor string 1
2 through the analog switch and source follower. That is, a signal passed through an analog switch and a source follower from an arbitrary voltage dividing point of the resistor string 1 is used as a phase compensation signal of an operational amplifier, and a voltage dividing point of the resistor string selected for each gain range of the variable gain amplifier is determined. It is designed to be switched.
【0100】なお、図22に示す例では、選択手段の例
として図1に示した例を用いたが、図3に示した多段構
成の選択手段7の場合や図4に示したアナログスイッチ
4のオン抵抗で抵抗ストリング1の構成抵抗の分圧点を
さらに分圧する構成の選択手段8の場合や、図10に示
したように出力をブロック分割する構成の選択手段31
の場合でも、同様に抵抗ストリング1の任意の分圧点か
らアナログスイッチ及びソースフォロワを通して供給す
ることができる。In the example shown in FIG. 22, the example shown in FIG. 1 is used as an example of the selecting means. However, in the case of the multi-stage selecting means 7 shown in FIG. 3, the analog switch 4 shown in FIG. In the case of the selecting means 8 which further divides the voltage dividing point of the constituent resistance of the resistor string 1 by the on-resistance, or the selecting means 31 which divides the output into blocks as shown in FIG.
In the same manner, the voltage can be supplied from an arbitrary voltage dividing point of the resistor string 1 through the analog switch and the source follower.
【0101】本発明の第十四の実施の形態を図23及び
図24に基づいて説明する。本実施の形態は、請求項8
記載の発明に相当する。A fourteenth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. This embodiment relates to claim 8
This corresponds to the described invention.
【0102】図23において、Rストリング回路71は
図22に示した構成よりなり、抵抗切換回路14は図7
に示したものである。Referring to FIG. 23, R string circuit 71 has the structure shown in FIG.
This is shown in FIG.
【0103】入力信号はN型MOSトランジスタM1と
電流源Ibiasとによるソースフォロワ73を通してゲイ
ンA1の演算増幅器74の非反転端子に入力され、演算
増幅器74の出力は抵抗切換回路14の一方の入力(V
2)に接続され、抵抗切換回路14の他方の入力(V
1)とRストリング回路71の一方の入力(V2)が接
続され、Rストリング回路71の他方の入力(V1)は
GNDに接続されている。抵抗切換回路14は設定デー
タDD5により任意の抵抗Rjが選択され、Rストリン
グ回路71の出力(VO1)は設定データDD4によ
り、演算増幅器74の出力に対する減衰率RB/(Rj
+RB)(RB:Rストリング回路71の全抵抗値、R
j:抵抗切換回路14の選択された抵抗値)〜∞(無限
大)の範囲で減衰率が選択され、演算増幅器74の反転
入力に帰還される。また、Rストリング回路71の位相
補償用出力VO2は補償コンデンサC1を通して演算増
幅器74の補償端子に接続されている。ここで、N型M
OSトランジスタM1と電流源Ibiasとによるソースフ
ォロワ73はRストリング回路71内部のソースフォロ
ワ5のオフセット電圧Vgsをキャンセルするためのもの
である。ここで、全体のゲインは Av=(RB+Rj)/RB×2o/DD4 (倍) であり、ゲインに応じて位相補償用出力VO2の出力レ
ベルを変えることができるので、最適な位相補償が行え
る。The input signal is input to the non-inverting terminal of the operational amplifier 74 having the gain A1 through the source follower 73 composed of the N-type MOS transistor M1 and the current source Ibias. V
2) and the other input (V
1) and one input (V2) of the R string circuit 71 are connected, and the other input (V1) of the R string circuit 71 is connected to GND. The resistor switching circuit 14 selects an arbitrary resistor Rj according to the setting data DD5, and the output (VO1) of the R string circuit 71 uses the setting data DD4 to set an attenuation rate RB / (Rj) with respect to the output of the operational amplifier 74.
+ RB) (RB: total resistance value of R string circuit 71, R
j: The attenuation rate is selected in the range of the selected resistance value of the resistance switching circuit 14) to ∞ (infinity), and is fed back to the inverting input of the operational amplifier 74. The output VO2 for phase compensation of the R string circuit 71 is connected to the compensation terminal of the operational amplifier 74 through the compensation capacitor C1. Where N-type M
The source follower 73 formed by the OS transistor M1 and the current source Ibias is for canceling the offset voltage Vgs of the source follower 5 in the R string circuit 71. Here, the overall gain is Av = (RB + Rj) / RB × 2 o / DD4 (times), and the output level of the phase compensation output VO2 can be changed according to the gain, so that optimal phase compensation can be performed. .
【0104】なお、図23に示す例では、抵抗ストリン
グ1の全ての分圧点を選択できるように記載している
が、全てのゲイン設定で位相補償用信号レベルを変える
必要がないので、抵抗ストリング1の必要な分圧点のみ
が選択できればよく、数〜十数ポイントの分圧点の選択
で周波数特性を良好にできればアナログスイッチも数〜
十数個あればよいのでソースフォロワの切り換えもなく
することができる。In the example shown in FIG. 23, it is described that all the voltage dividing points of the resistor string 1 can be selected. However, since it is not necessary to change the signal level for the phase compensation at all the gain settings, the resistance is not changed. It is sufficient that only the necessary voltage dividing points of the string 1 can be selected. If the frequency characteristics can be improved by selecting several to several tens of voltage dividing points, the number of analog switches is also several.
Since only ten or more are required, switching of the source follower can be eliminated.
【0105】ここに、演算増幅器74の構成例を図24
に示す。図示例では、FETトランジスタM1,M2に
よる差動ペアのコモンソースに電流源IS1が接続さ
れ、各々のドレインにFETトランジスタM3,M4に
よるカレントミラーが接続され、カレントミラーの出力
にFETトランジスタM5と電流源IS2によるソース
接地アンプが接続されている。なお、FETトランジス
タM5のドレインが出力端子であり、FETトランジス
タM5のゲートが補償端子である。また、FETトラン
ジスタM1,M2のゲートは各々反転・非反転入力とな
っている。Here, a configuration example of the operational amplifier 74 is shown in FIG.
Shown in In the illustrated example, a current source IS1 is connected to a common source of a differential pair formed by the FET transistors M1 and M2, a current mirror is connected to each drain by FET transistors M3 and M4, and an output of the current mirror is connected to an FET transistor M5 and a current mirror. The source grounded amplifier by the source IS2 is connected. The drain of the FET transistor M5 is an output terminal, and the gate of the FET transistor M5 is a compensation terminal. The gates of the FET transistors M1 and M2 have inverting and non-inverting inputs, respectively.
【0106】従って、本実施の形態によれば、演算増幅
器74の帰還経路に抵抗ストリング1を持ち、抵抗スト
リング1の任意の分圧点を帰還する可変ゲイン増幅器
で、帰還経路の抵抗ストリング1の任意の分圧点をアナ
ログスイッチとソースフォロワによる電圧バッファを通
して位相補償用信号として使用しているので、構成抵抗
の相対精度のばらつきでゲインが下がった場合、位相補
償用信号の振幅が大きくなるので深い位相補償が掛か
り、逆にゲインが上がった場合は浅い位相補償となり、
全体の周波数特性のばらつきが小さくなる。また、ゲイ
ンにより位相補償信号の振幅を変えることができるので
各ゲインで最適な位相補償が行える。Therefore, according to the present embodiment, the variable gain amplifier having the resistor string 1 in the feedback path of the operational amplifier 74 and feeding back an arbitrary voltage dividing point of the resistor string 1 is used. Since an arbitrary voltage dividing point is used as a signal for phase compensation through a voltage buffer consisting of an analog switch and a source follower, if the gain decreases due to variation in the relative accuracy of the constituent resistors, the amplitude of the signal for phase compensation increases. Deep phase compensation is applied, and conversely, when the gain is increased, it becomes shallow phase compensation,
Variations in the overall frequency characteristics are reduced. Further, since the amplitude of the phase compensation signal can be changed by the gain, optimal phase compensation can be performed at each gain.
【0107】本発明の第十五の実施の形態を図25に基
づいて説明する。本実施の形態は、請求項9記載の発明
に相当する。The fifteenth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment corresponds to the ninth aspect of the present invention.
【0108】図25において、Rストリング回路61は
図20に示した構成よりなり、Rストリング回路71は
図22に示した構成よりなり、抵抗切換回路14A,1
4Bは図7に示したものである。In FIG. 25, R string circuit 61 has the structure shown in FIG. 20, R string circuit 71 has the structure shown in FIG. 22, and resistance switching circuits 14A, 1
4B is shown in FIG.
【0109】入力信号はN型MOSトランジスタM1と
電流源Ibiasによるソースフォロワ65を通して演算増
幅器66の非反転端子に入力され、演算増幅器66の出
力はRストリング回路61の一方の入力(V2)に接続
され、Rストリング回路61の他方の入力(V1)は抵
抗切換回路14Aの一方の入力(V1)に接続され、抵
抗切換回路14Aの他方の入力(V2)はGNDに接続
されている。抵抗切換回路14Aは設定データDD3に
より任意の抵抗Riが選択され、Rストリング回路61
の出力(VO)は設定データDD1により、減衰率1
(無減衰)〜Ri/(Ri+R)(R:Rストリング回
路61における抵抗ストリング1の全抵抗値)の範囲で
減衰率が選択される。Rストリング回路61の出力(V
O2)は、他方の出力(VO1)と等価な選択手段72
におけるアナログスイッチ及びソースフォロワを通って
演算増幅器66の反転入力に帰還される。また、Rスト
リング回路61の出力(VO1)は演算増幅器74の非
反転入力に接続され、演算増幅器74の出力は抵抗切換
回路14Bの一方の入力(V2)に接続され、抵抗切換
回路14Bの他方の入力(V1)とRストリング回路7
1の一方の入力(V2)が接続され、Rストリング回路
71の他方の入力(V1)はGNDに接続されている。
抵抗切換回路14Bは設定データDD5により任意の抵
抗Rjが選択され、Rストリング回路71の出力(VO
1)は設定データDD4により、演算増幅器74の出力
に対する減衰率RB/(Rj+RB)(RB:Rストリ
ング回路71における抵抗ストリング1の全抵抗値、R
j:抵抗切換回路14Bの選択された抵抗値)〜∞(無
限大)の範囲で減衰率が選択され、演算増幅器74の反
転入力に帰還される。また、Rストリング回路71の位
相補償用出力VO2は補償コンデンサC1を通して演算
増幅器74の補償端子に接続されている。ここで、N型
MOSトランジスタM1と電流源Ibiasによるソースフ
ォロワ65はRストリング回路61内部のソースフォロ
ワ5のオフセット電圧Vgsをキャンセルするためのもの
であり、Rストリング回路61内のソースフォロワ5と
同じものである。ここで、全体のゲインは Av=(RA×DD1/2L+Ri)/(RA+Ri)×(R
B+Rj)/RB×2o/DD4 (倍) であり、DD4で設定したゲインに応じて位相補償用出
力VO2の出力レベルを変えることができるので、最適
な位相補償が行える。An input signal is input to a non-inverting terminal of an operational amplifier 66 through a source follower 65 formed by an N-type MOS transistor M1 and a current source Ibias, and an output of the operational amplifier 66 is connected to one input (V2) of an R string circuit 61. The other input (V1) of the R string circuit 61 is connected to one input (V1) of the resistance switching circuit 14A, and the other input (V2) of the resistance switching circuit 14A is connected to GND. In the resistance switching circuit 14A, an arbitrary resistance Ri is selected according to the setting data DD3.
Output (VO) is set to an attenuation rate of 1 according to the setting data DD1.
The decay rate is selected from the range of (no attenuation) to Ri / (Ri + R) (R: the total resistance value of the resistor string 1 in the R string circuit 61). The output of the R string circuit 61 (V
O2) is a selecting means 72 equivalent to the other output (VO1).
Is fed back to the inverting input of the operational amplifier 66 through the analog switch and the source follower. The output (VO1) of the R string circuit 61 is connected to the non-inverting input of the operational amplifier 74, the output of the operational amplifier 74 is connected to one input (V2) of the resistance switching circuit 14B, and the other of the resistance switching circuit 14B. Input (V1) and R string circuit 7
1 is connected to one input (V2), and the other input (V1) of the R string circuit 71 is connected to GND.
In the resistance switching circuit 14B, an arbitrary resistance Rj is selected by the setting data DD5, and the output (VO) of the R string circuit 71 is selected.
1) Attenuation rate RB / (Rj + RB) (RB: total resistance value of resistance string 1 in R string circuit 71, R
j: The attenuation rate is selected in the range of the selected resistance value of the resistance switching circuit 14B) to ∞ (infinity), and is fed back to the inverting input of the operational amplifier 74. The output VO2 for phase compensation of the R string circuit 71 is connected to the compensation terminal of the operational amplifier 74 through the compensation capacitor C1. Here, the source follower 65 formed by the N-type MOS transistor M1 and the current source Ibias is for canceling the offset voltage Vgs of the source follower 5 in the R string circuit 61, and is the same as the source follower 5 in the R string circuit 61. Things. Here, the total gain is Av = (RA × DD1 / 2 L + Ri) / (RA + Ri) × (R
B + Rj) / RB × 2 o / DD4 (times) Since the output level of the phase compensation output VO2 can be changed according to the gain set by DD4, optimal phase compensation can be performed.
【0110】従って、本実施の形態によれば、Rストリ
ング回路61における第1の抵抗ストリングを駆動する
前段の駆動増幅器のゲインを第1の抵抗ストリングの減
衰信号出力と同様な分圧点の選択用の選択手段72にお
けるアナログスイッチやソースフォロワなどを通して決
定するため、駆動増幅器の帰還経路が減衰信号出力と同
様な周波数特性を持ち、これを駆動増幅器で補正するこ
とができるので減衰信号出力も周波数特性が補正され、
広帯域化ができる。また、駆動増幅器のゲインを信号を
減衰させるRストリング回路61における第1の抵抗ス
トリングを用いて決定するため、抵抗ストリングの構成
抵抗の相対精度による減衰率の誤差を或る程度補正でき
るため、全体としてのゲインの高精度化が行える。ま
た、演算増幅器74の帰還経路のRストリング回路71
における第2の抵抗ストリングから位相補償用信号を出
力しているので、ゲインがばらついた場合でも全体の周
波数特性のばらつきが小さくなる。さらに、ゲインによ
り位相補償信号の振幅を変えることができるので各ゲイ
ンで最適な位相補償が行える。また、抵抗ストリングの
駆動増幅器のゲインを抵抗ストリングの減衰信号出力と
同様な分圧点の選択スイッチやソースフォロワなどを通
して決定するため、減衰信号出力が駆動増幅器の周波数
特性を補正することで同時に補正され、広帯域化ができ
るとともに、減衰率の誤差をある程度補正できる為、ゲ
インの高精度化が行える。Therefore, according to the present embodiment, the gain of the drive amplifier in the R string circuit 61 before driving the first resistor string is selected by selecting a voltage dividing point similar to the attenuation signal output of the first resistor string. Since the feedback path of the drive amplifier has the same frequency characteristics as the attenuation signal output, which can be corrected by the drive amplifier, the attenuation signal output also has a frequency characteristic. Characteristics are corrected,
Broadband is possible. Further, since the gain of the drive amplifier is determined using the first resistor string in the R string circuit 61 for attenuating the signal, the error of the attenuation factor due to the relative accuracy of the resistance of the resistor string can be corrected to some extent. The accuracy of the gain can be improved. The R string circuit 71 in the feedback path of the operational amplifier 74
Since the phase compensation signal is output from the second resistor string in the above, even if the gain varies, the variation in the overall frequency characteristics is reduced. Furthermore, since the amplitude of the phase compensation signal can be changed by the gain, optimal phase compensation can be performed at each gain. In addition, since the gain of the drive amplifier of the resistor string is determined through the same voltage dividing point selection switch and source follower as the attenuation signal output of the resistor string, the attenuation signal output is simultaneously corrected by correcting the frequency characteristics of the drive amplifier. Therefore, the band can be widened and the error in the attenuation rate can be corrected to some extent, so that the gain can be made more accurate.
【0111】なお、図25に示す例では、抵抗ストリン
グ1の全ての分圧点を選択できるように記載している
が、全てのゲイン設定で位相補償用信号レベルを変える
必要がないので、抵抗ストリング1の必要な分圧点のみ
が選択できればよく、数〜十数ポイントの分圧点の選択
で周波数特性を良好にできればアナログスイッチも数〜
十数個あればよいのでソースフォロワの切り換えもなく
することができる。In the example shown in FIG. 25, it is described that all the voltage dividing points of the resistor string 1 can be selected. However, since it is not necessary to change the signal level for phase compensation at all the gain settings, the resistance is not changed. It is sufficient that only the necessary voltage dividing points of the string 1 can be selected. If the frequency characteristics can be improved by selecting several to several tens of voltage dividing points, the number of analog switches is also several.
Since only ten or more are required, switching of the source follower can be eliminated.
【0112】また、ここではRストリング回路61の駆
動増幅器のゲインを1倍としたが、ゲインを持たせるこ
とも、さらに幾つかのゲインを切り換えることも可能で
ある。Although the gain of the drive amplifier of the R string circuit 61 is set to 1 here, it is possible to provide a gain or to switch some gains.
【0113】[0113]
【発明の効果】請求項1ないし3記載の発明によれば、
可変ゲインの主要素子である抵抗ストリングの任意の分
圧点の選択手段としてアナログスイッチとソースフォロ
ワとによるアナログOR回路を用いているので、アナロ
グスイッチのオン抵抗とアナログスイッチにつく寄生容
量を小さくでき、アナログスイッチによる信号伝送の周
波数帯域が伸び、さらにソースフォロワを用いているた
め負荷の駆動能力が上がるので増幅器の入力インピーダ
ンスの低下による周波数特性の劣化を抑えることがで
き、広帯域の微少ステップの可変ゲインと設定データに
対し反比例の特性を持った可変ゲイン増幅器を実現でき
る。According to the first to third aspects of the present invention,
Since the analog OR circuit using the analog switch and the source follower is used as a means for selecting an arbitrary voltage dividing point of the resistor string which is a main element of the variable gain, the on-resistance of the analog switch and the parasitic capacitance attached to the analog switch can be reduced. The frequency bandwidth of signal transmission by analog switches is extended, and the use of a source follower enhances the driving capability of the load. A variable gain amplifier having a characteristic that is inversely proportional to the gain and the setting data can be realized.
【0114】請求項4ないし6記載の発明によれば、可
変ゲインの主要素子である抵抗ストリングの任意の分圧
点の選択にブロック分割したアナログスイッチを用い、
ブロック毎に出力を出すようにしたので、アナログスイ
ッチのオン抵抗とアナログスイッチにつく寄生容量を小
さくでき、アナログスイッチによる信号伝送の周波数帯
域が伸びるので、広帯域の微少ステップの可変ゲインと
設定データに対し反比例の特性を持った可変ゲイン増幅
器を実現できる。According to the present invention, an analog switch divided into blocks is used for selecting an arbitrary voltage dividing point of a resistor string which is a main element of a variable gain.
Since the output is output for each block, the on-resistance of the analog switch and the parasitic capacitance attached to the analog switch can be reduced, and the frequency band of signal transmission by the analog switch is extended. On the other hand, a variable gain amplifier having an inversely proportional characteristic can be realized.
【0115】請求項7記載の発明によれば、抵抗ストリ
ングを駆動する前段の駆動増幅器のゲインを抵抗ストリ
ングの減衰信号出力と同様な分圧点の選択用のアナログ
スイッチやソースフォロワなどを通して決定するため、
駆動増幅器の帰還経路が減衰信号出力と同様な周波数特
性を持ち、これを駆動増幅器で補正することができるの
で減衰信号出力も周波数特性が補正され、広帯域化がで
きる。また、駆動増幅器のゲインを信号を減衰させる抵
抗ストリングを用いて決定するため、抵抗ストリングの
構成抵抗の相対精度による減衰率の誤差を或る程度補正
できるため、全体としてのゲインの高精度化が行える。According to the seventh aspect of the present invention, the gain of the drive amplifier in the preceding stage for driving the resistor string is determined through an analog switch for selecting a voltage dividing point and a source follower similar to the attenuation signal output of the resistor string. For,
The feedback path of the drive amplifier has the same frequency characteristics as the output of the attenuation signal, which can be corrected by the drive amplifier. Therefore, the frequency characteristics of the output of the attenuation signal are also corrected, and the band can be widened. In addition, since the gain of the drive amplifier is determined using the resistor string that attenuates the signal, an error in the attenuation factor due to the relative accuracy of the constituent resistors of the resistor string can be corrected to some extent. I can do it.
【0116】請求項8記載の発明によれば、演算増幅器
の帰還経路に抵抗ストリングを持ち、抵抗ストリングの
任意の分圧点を帰還する可変ゲイン増幅器で、帰還経路
の抵抗ストリングの任意の分圧点をアナログスイッチと
ソースフォロワによる電圧バッファを通して位相補償用
信号として使用しているので、構成抵抗の相対精度のば
らつきでゲインが下がった場合、位相補償用信号の振幅
が大きくなるので深い位相補償が掛かり、逆にゲインが
上がった場合は浅い位相補償となり、全体の周波数特性
のばらつきが小さくなる。また、ゲインにより位相補償
信号の振幅を変えることができるので各ゲインで最適な
位相補償が行える。According to the eighth aspect of the present invention, there is provided a variable gain amplifier having a resistor string in a feedback path of an operational amplifier and feeding back an arbitrary voltage dividing point of the resistor string. Since the point is used as a signal for phase compensation through a voltage buffer consisting of an analog switch and a source follower, if the gain decreases due to variation in the relative accuracy of the constituent resistors, the amplitude of the signal for phase compensation increases, so deep phase compensation is required. On the contrary, when the gain is increased, the phase compensation becomes shallow, and the variation in the overall frequency characteristics is reduced. Further, since the amplitude of the phase compensation signal can be changed by the gain, optimal phase compensation can be performed at each gain.
【0117】請求項9記載の発明によれば、第1の抵抗
ストリングを駆動する前段の駆動増幅器のゲインを抵抗
ストリングの減衰信号出力と同様な分圧点の選択用のア
ナログスイッチやソースフォロワなどを通して決定する
ため、駆動増幅器の帰還経路が減衰信号出力と同様な周
波数特性を持ち、これを駆動増幅器で補正することがで
きるので減衰信号出力も周波数特性が補正され、広帯域
化ができる。また、駆動増幅器のゲインを信号を減衰さ
せる第1の抵抗ストリングを用いて決定するため、抵抗
ストリングの構成抵抗の相対精度による減衰率の誤差を
或る程度補正できるため、全体としてのゲインの高精度
化が行える。また、演算増幅器の帰還経路の第2の抵抗
ストリングから位相補償用信号を出力しているので、ゲ
インがばらついた場合でも全体の周波数特性のばらつき
が小さくなる。さらに、ゲインにより位相補償信号の振
幅を変えることができるので各ゲインで最適な位相補償
が行える。According to the ninth aspect of the present invention, the gain of the drive amplifier in the preceding stage for driving the first resistor string is adjusted by selecting an analog switch or a source follower for selecting a voltage dividing point similar to the attenuation signal output of the resistor string. Therefore, the feedback path of the drive amplifier has the same frequency characteristics as the output of the attenuated signal, and this can be corrected by the drive amplifier. Therefore, the frequency characteristic of the output of the attenuated signal is also corrected, and the band can be widened. In addition, since the gain of the drive amplifier is determined using the first resistor string that attenuates the signal, an error in the attenuation factor due to the relative accuracy of the constituent resistors of the resistor string can be corrected to some extent. Accuracy can be improved. Further, since the phase compensation signal is output from the second resistor string in the feedback path of the operational amplifier, the variation in the overall frequency characteristics is reduced even when the gain varies. Furthermore, since the amplitude of the phase compensation signal can be changed by the gain, optimal phase compensation can be performed at each gain.
【図1】本発明の第一の実施の形態を示すRストリング
回路の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of an R string circuit according to a first embodiment of the present invention.
【図2】そのソースフォロワの構成例を示す回路図であ
る。FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of the source follower.
【図3】本発明の第二の実施の形態を示すRストリング
回路の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of an R string circuit according to a second embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第三の実施の形態を示すRストリング
回路の回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of an R string circuit according to a third embodiment of the present invention.
【図5】ソースフォロワの各種変形例を示す回路図であ
る。FIG. 5 is a circuit diagram showing various modifications of the source follower.
【図6】本発明の第四の実施の形態を示す可変ゲイン増
幅器の回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to a fourth embodiment of the present invention.
【図7】その抵抗切換回路を示す回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram showing the resistance switching circuit.
【図8】本発明の第五の実施の形態を示す可変ゲイン増
幅器の回路図である。FIG. 8 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to a fifth embodiment of the present invention.
【図9】本発明の第六の実施の形態を示す可変ゲイン増
幅器の回路図である。FIG. 9 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to a sixth embodiment of the present invention.
【図10】本発明の第七の実施の形態を示すRストリン
グ回路の回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram of an R string circuit showing a seventh embodiment of the present invention.
【図11】そのアンプ入力部の構成例を示す回路図であ
る。FIG. 11 is a circuit diagram showing a configuration example of the amplifier input unit.
【図12】アンプ入力部の変形例を示す回路図である。FIG. 12 is a circuit diagram showing a modification of the amplifier input unit.
【図13】本発明の第八の実施の形態を示す可変ゲイン
増幅器の回路図である。FIG. 13 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to an eighth embodiment of the present invention.
【図14】その抵抗切換回路を示す回路図である。FIG. 14 is a circuit diagram showing the resistance switching circuit.
【図15】その演算増幅器の構成例を示す回路図であ
る。FIG. 15 is a circuit diagram showing a configuration example of the operational amplifier.
【図16】本発明の第九の実施の形態を示す可変ゲイン
増幅器の回路図である。FIG. 16 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to a ninth embodiment of the present invention.
【図17】その演算増幅器の構成例を示す回路図であ
る。FIG. 17 is a circuit diagram showing a configuration example of the operational amplifier.
【図18】本発明の第十の実施の形態を示す可変ゲイン
増幅器の回路図である。FIG. 18 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to a tenth embodiment of the present invention.
【図19】その演算増幅器の構成例を示す回路図であ
る。FIG. 19 is a circuit diagram showing a configuration example of the operational amplifier.
【図20】本発明の第十一の実施の形態を示すRストリ
ング回路の回路図である。FIG. 20 is a circuit diagram of an R string circuit showing an eleventh embodiment of the present invention.
【図21】本発明の第十二の実施の形態を示す可変ゲイ
ン増幅器の回路図である。FIG. 21 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to a twelfth embodiment of the present invention.
【図22】本発明の第十三の実施の形態を示すRストリ
ング回路の回路図である。FIG. 22 is a circuit diagram of an R string circuit showing a thirteenth embodiment of the present invention.
【図23】本発明の第十四の実施の形態を示す可変ゲイ
ン増幅器の回路図である。FIG. 23 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to a fourteenth embodiment of the present invention.
【図24】その演算増幅器の構成例を示す回路図であ
る。FIG. 24 is a circuit diagram showing a configuration example of the operational amplifier.
【図25】本発明の第十五の実施の形態を示す可変ゲイ
ン増幅器の回路図である。FIG. 25 is a circuit diagram of a variable gain amplifier according to a fifteenth embodiment of the present invention.
【図26】第1の従来例の可変ゲイン増幅器を示す回路
図である。FIG. 26 is a circuit diagram showing a first conventional variable gain amplifier.
【図27】そのR‐2Rラダー抵抗器を示す回路図であ
る。FIG. 27 is a circuit diagram showing the R-2R ladder resistor.
【図28】第2の従来例の可変ゲイン増幅器を示す回路
図である。FIG. 28 is a circuit diagram showing a second conventional variable gain amplifier.
【図29】第3の従来例の可変ゲイン増幅器を示す回路
図である。FIG. 29 is a circuit diagram showing a third conventional variable gain amplifier.
【図30】その減衰器を示す回路図である。FIG. 30 is a circuit diagram showing the attenuator.
【図31】第4の従来例の可変ゲイン増幅器を示す回路
図である。FIG. 31 is a circuit diagram showing a fourth conventional variable gain amplifier.
1 抵抗ストリング 2 選択手段 4 アナログスイッチ 5 ソースフォロワ 7,8 選択手段 11 可変ゲイン増幅器 12 固定ゲイン増幅器 13 デジタル設定型信号減衰器 16 可変ゲイン増幅器 17 演算増幅器 18 デジタル設定型信号減衰器 21 可変ゲイン増幅器 31 選択手段 33 抵抗ストリング 34 アナログスイッチ 41 可変ゲイン増幅器 42 固定ゲイン増幅器 43 デジタル設定型信号減衰器 45 演算増幅器 46 可変ゲイン増幅器 47 演算増幅器 48 デジタル設定型信号減衰器 51 可変ゲイン増幅器 52 演算増幅器 62 アナログスイッチ 63 エミッタフォロワ 64 アナログスイッチ群 74 演算増幅器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Resistance string 2 Selection means 4 Analog switch 5 Source follower 7, 8 Selection means 11 Variable gain amplifier 12 Fixed gain amplifier 13 Digital setting type signal attenuator 16 Variable gain amplifier 17 Operational amplifier 18 Digital setting type signal attenuator 21 Variable gain amplifier 31 Selection means 33 Resistor string 34 Analog switch 41 Variable gain amplifier 42 Fixed gain amplifier 43 Digital setting type signal attenuator 45 Operational amplifier 46 Variable gain amplifier 47 Operational amplifier 48 Digital setting type signal attenuator 51 Variable gain amplifier 52 Operational amplifier 62 Analog Switch 63 Emitter follower 64 Analog switch group 74 Operational amplifier
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5C051 AA01 BA03 DA03 DB01 DB15 DE15 DE17 EA02 FA01 FA04 5C072 AA01 BA04 EA05 UA05 UA06 XA01 5C077 LL17 LL18 MM03 PP11 PQ03 PQ04 PQ08 PQ11 RR01 5J100 AA03 AA17 AA21 AA23 BA02 BA10 BB02 BB09 BC03 CA02 CA05 CA12 CA20 CA28 CA29 JA01 KA05 LA10 LA11 QA01 QA02 QA04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page F term (reference) 5C051 AA01 BA03 DA03 DB01 DB15 DE15 DE17 EA02 FA01 FA04 5C072 AA01 BA04 EA05 UA05 UA06 XA01 5C077 LL17 LL18 MM03 PP11 PQ03 PQ04 PQ08 PQ11 RR01 5J100 AA03 BC CA02 CA05 CA12 CA20 CA28 CA29 JA01 KA05 LA10 LA11 QA01 QA02 QA04
Claims (9)
から入力光量に応じた画像信号成分のみをデジタルデー
タに変換するCCDアナログ信号処理回路において、 抵抗ストリングを用いたデジタル設定型信号減衰器と固
定ゲイン増幅器とによる微少ステップ可変ゲイン増幅器
を備え、 1段又は多段構成のアナログスイッチとソースフォロワ
とによるアナログOR回路よりなり、前記抵抗ストリン
グの任意の点の分圧信号を選択する選択手段を有するこ
とを特徴とする画像信号処理回路。1. A CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, comprising: a digital setting type signal attenuator using a resistor string; and a fixed gain amplifier. A variable step-up gain amplifier comprising a single-stage or multi-stage analog switch and a source follower, and a selection means for selecting a divided voltage signal at an arbitrary point in the resistor string. Image signal processing circuit.
から入力光量に応じた画像信号成分のみをデジタルデー
タに変換するCCDアナログ信号処理回路において、 抵抗ストリングによるデジタル設定型信号減衰器を帰還
に用いた演算増幅器による可変ゲイン増幅器を備え、 1段又は多段構成のアナログスイッチとソースフォロワ
とによるアナログOR回路よりなり、前記抵抗ストリン
グの任意の点の分圧信号を選択する選択手段を有するこ
とを特徴とする画像信号処理回路。2. A CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, wherein a digital setting type signal attenuator using a resistor string is used for feedback. A variable gain amplifier comprising an amplifier, an analog OR circuit comprising a one-stage or multi-stage analog switch and a source follower, and a selecting means for selecting a divided voltage signal at an arbitrary point of the resistor string. Image signal processing circuit.
から入力光量に応じた画像信号成分のみをデジタルデー
タに変換するCCDアナログ信号処理回路において、 第1の抵抗ストリングを用いたデジタル設定型信号減衰
器と、第2の抵抗ストリングによるデジタル設定型信号
減衰器を帰還に用いた演算増幅器とによる微少ステップ
可変ゲイン増幅器を備え、 1段又は多段構成のアナログスイッチとソースフォロワ
とによるアナログOR回路よりなり、前記各抵抗ストリ
ングの任意の点の分圧信号を選択する選択手段を有する
ことを特徴とする画像信号処理回路。3. A CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component according to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, comprising: a digital setting type signal attenuator using a first resistor string; A small step variable gain amplifier using a digital setting type signal attenuator using a second resistor string for feedback, and an analog OR circuit using a one-stage or multi-stage analog switch and a source follower. An image signal processing circuit comprising a selection means for selecting a divided voltage signal at an arbitrary point of each resistor string.
から入力光量に応じた画像信号成分のみをデジタルデー
タに変換するCCDアナログ信号処理回路において、 抵抗ストリングを用いたデジタル設定型信号減衰器と固
定ゲイン増幅器とによる微少ステップ可変ゲイン増幅器
を備え、 各ブロック毎に出力を持ち、各ブロックが1段又は多段
構成のアナログスイッチとソースフォロワとによるアナ
ログOR回路よりなり、前記抵抗ストリングの任意の点
の分圧信号を選択する選択手段を有し、 前記固定ゲイン増幅器が前記抵抗ストリングの各ブロッ
ク毎の出力に対応した入力を持ち、或るブロックの出力
が有効なときそれに対応した入力が有効となるようにし
たことを特徴とする画像信号処理回路。4. A CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, comprising: a digital setting type attenuator using a resistor string; and a fixed gain amplifier. A variable step-up gain amplifier having an output for each block, each block comprising an analog OR circuit comprising an analog switch having one or more stages and a source follower, and a voltage divider at an arbitrary point of the resistor string. Selecting means for selecting a signal, wherein the fixed gain amplifier has an input corresponding to an output of each block of the resistor string, and an input corresponding thereto is enabled when an output of a certain block is enabled. An image signal processing circuit characterized by:
から入力光量に応じた画像信号成分のみをデジタルデー
タに変換するCCDアナログ信号処理回路において、 抵抗ストリングによるデジタル設定型信号減衰器を帰還
に用いた演算増幅器による可変ゲイン増幅器を備え、 各ブロック毎に出力を持ち、各ブロックが1段又は多段
構成のアナログスイッチとソースフォロワとによるアナ
ログOR回路よりなり、前記抵抗ストリングの任意の点
の分圧信号を選択する選択手段を有し、 前記演算増幅器が前記抵抗ストリングの各ブロック毎の
出力に対応した反転入力を持ち、或るブロックの出力が
有効なときそれに対応した反転入力が有効となるように
したことを特徴とする画像信号処理回路。5. A CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor to digital data, wherein a digital setting type signal attenuator using a resistor string is used for feedback. It has a variable gain amplifier by an amplifier, has an output for each block, and each block is composed of an analog OR circuit composed of a one-stage or multi-stage analog switch and a source follower, and outputs a divided voltage signal at an arbitrary point of the resistor string. Selecting means for selecting, wherein the operational amplifier has an inverting input corresponding to the output of each block of the resistor string, and when the output of a certain block is valid, the inverting input corresponding thereto is valid. An image signal processing circuit, characterized in that:
から入力光量に応じた画像信号成分のみをデジタルデー
タに変換するCCDアナログ信号処理回路において、 第1の抵抗ストリングを用いたデジタル設定型信号減衰
器と、第2の抵抗ストリングによるデジタル設定型信号
減衰器を帰還に用いた演算増幅器とによる微少ステップ
可変ゲイン増幅器を備え、 各ブロック毎に出力を持ち、各ブロックが1段又は多段
構成のアナログスイッチとソースフォロワとによるアナ
ログOR回路よりなり、前記各抵抗ストリングの任意の
点の分圧信号を選択する選択手段を有し、 前記演算増幅器が前記抵抗ストリングの各ブロック毎の
出力に対応した反転・非反転入力を持ち、或るブロック
の出力が有効なときそれに対応する反転・非反転入力が
有効となるようにしたことを特徴とする画像信号処理回
路。6. A CCD analog signal processing circuit for converting only an image signal component corresponding to an input light amount from an output signal of a CCD linear image sensor into digital data, comprising: a digital setting type signal attenuator using a first resistor string; A small step variable gain amplifier using a digital setting type signal attenuator using a second resistor string as a feedback, and an output for each block, each block having an analog switch of one-stage or multi-stage configuration, A source follower and an analog OR circuit having selection means for selecting a divided voltage signal at an arbitrary point in each of the resistor strings, wherein the operational amplifier has an inverting / non-inverting circuit corresponding to an output of each block of the resistor string. It has an inverting input, and when the output of a block is valid, the corresponding inverting / non-inverting input is valid. An image signal processing circuit characterized in that:
動増幅器への帰還を、前記抵抗ストリングの該当する分
圧点の信号を前記固定ゲイン増幅器に信号を供給するア
ナログスイッチ群と等価なアナログスイッチ群を通して
行うようにしたことを特徴とする請求項1又は4記載の
画像信号処理回路。7. A group of analog switches equivalent to a group of analog switches for supplying a signal to the fixed gain amplifier to a signal at a corresponding voltage dividing point of the resistor string by feedback to a drive amplifier at a preceding stage for driving the resistor string. 5. The image signal processing circuit according to claim 1, wherein the image signal processing circuit is configured to perform the processing.
前記アナログスイッチと前記ソースフォロワを通した信
号を前記演算増幅器の位相補償用信号として使用し、前
記可変ゲイン増幅器のゲイン範囲毎に選択する前記抵抗
ストリングの分圧点を切り換えるようにしたことを特徴
とする請求項2又は5記載の画像信号処理回路。8. A signal passing through the analog switch and the source follower from an arbitrary voltage dividing point of the resistor string is used as a signal for phase compensation of the operational amplifier, and is selected for each gain range of the variable gain amplifier. 6. The image signal processing circuit according to claim 2, wherein a voltage dividing point of the resistor string is switched.
段の駆動増幅器への帰還を、前記第1の抵抗ストリング
の該当する分圧点の信号を前記固定ゲイン増幅器に信号
を供給するアナログスイッチ群と等価なアナログスイッ
チ群を通して行い、前記第2の抵抗ストリングの任意の
分圧点から前記アナログスイッチと前記ソースフォロワ
を通した信号を前記演算増幅器の位相補償用信号として
使用し、前記可変ゲイン増幅器のゲイン範囲毎に選択す
る前記第2の抵抗ストリングの分圧点を切り換えるよう
にしたことを特徴とする請求項3又は6記載の画像信号
処理回路。9. An analog switch group for supplying feedback to a drive amplifier in a preceding stage for driving the first resistor string and supplying a signal at a corresponding voltage dividing point of the first resistor string to the fixed gain amplifier. Using a signal passed through the analog switch and the source follower from an arbitrary voltage dividing point of the second resistor string as a phase compensating signal of the operational amplifier. 7. The image signal processing circuit according to claim 3, wherein a voltage dividing point of said second resistor string selected for each gain range is switched.
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JP11067684A JP2000270170A (en) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | Image signal processing circuit |
Applications Claiming Priority (1)
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JP11067684A JP2000270170A (en) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | Image signal processing circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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ID=13352078
Family Applications (1)
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011502442A (en) * | 2007-10-30 | 2011-01-20 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | Programmable gain circuit |
JP2012109692A (en) * | 2010-11-16 | 2012-06-07 | Ricoh Co Ltd | Switchable gain amplifier and audio apparatus using the same |
CN109541442A (en) * | 2019-01-02 | 2019-03-29 | 珠海格力电器股份有限公司 | Precision-adjustable sampling circuit and measuring equipment |
CN113114163A (en) * | 2021-05-28 | 2021-07-13 | 东南大学 | Millimeter wave CMOS numerical control attenuator with innovative structure |
-
1999
- 1999-03-15 JP JP11067684A patent/JP2000270170A/en active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2011502442A (en) * | 2007-10-30 | 2011-01-20 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | Programmable gain circuit |
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