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JP2000269610A - Printed board and measuring device thereof - Google Patents

Printed board and measuring device thereof

Info

Publication number
JP2000269610A
JP2000269610A JP6976199A JP6976199A JP2000269610A JP 2000269610 A JP2000269610 A JP 2000269610A JP 6976199 A JP6976199 A JP 6976199A JP 6976199 A JP6976199 A JP 6976199A JP 2000269610 A JP2000269610 A JP 2000269610A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
inductance
reference pattern
value
Prior art date
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Granted
Application number
JP6976199A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3791233B2 (en
Inventor
Masaaki Kondo
雅明 近藤
Toshiaki Tamura
俊昭 田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP6976199A priority Critical patent/JP3791233B2/en
Publication of JP2000269610A publication Critical patent/JP2000269610A/en
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Publication of JP3791233B2 publication Critical patent/JP3791233B2/en
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Combinations Of Printed Boards (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To precisely know the inductance value of a slave printed board. SOLUTION: A slave printed board 12 having a high frequency circuit where inductance is formed by a print pattern and a master printed board 11 where the plural slave printed boards 12 are connected and are integrally formed, are installed. A reference pattern 14, having a correlation with the value of inductance formed in the slave printed board 12 is arranged in the non-forming part of the slave printed board 12. Thus, the value of the inductance of the slave printed board 12 can be know precisely.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、主に高周波機器に
使用されるプリント基板とこのプリント基板の測定装置
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board mainly used for high frequency equipment and a measuring apparatus for the printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】以下、従来のプリント基板について説明
する。従来のプリント基板は図7に示す様なものであっ
た。すなわち親プリント基板1内に子プリント基板2が
複数個連結して設けられていた。そしてこの子プリント
基板2には、たとえば図8に示すようにプリントパター
ンで形成されたインダクタンス3とコンデンサ4を含む
共振回路5と、この共振回路5に接続された発振回路6
が設けられていた。そしてこの発振回路6はインダクタ
ンス3とコンデンサ4で発振周波数がほぼ決定されるも
のである。
2. Description of the Related Art A conventional printed circuit board will be described below. A conventional printed circuit board is as shown in FIG. That is, a plurality of child printed circuit boards 2 are provided in the parent printed circuit board 1 in a connected manner. The sub printed board 2 has a resonance circuit 5 including an inductance 3 and a capacitor 4 formed in a printed pattern as shown in FIG. 8, for example, and an oscillation circuit 6 connected to the resonance circuit 5.
Was provided. The oscillation frequency of the oscillation circuit 6 is substantially determined by the inductance 3 and the capacitor 4.

【0003】またこのインダクタンス3の詳細を図9に
示す。図9においてインダクタンス3は細線部で形成さ
れた第1のインダクタンス7と太線部で形成される第2
のインダクタンス8とを有している。そして太線部で形
成される第2のインダクタンス8をレーザで切断9する
ことによりインダクタンス8の調整をしている。そして
このインダクタンス8を調整する事により前記発振回路
6の発振周波数を調整するものであった。
FIG. 9 shows details of the inductance 3. In FIG. 9, the inductance 3 includes a first inductance 7 formed by a thin line portion and a second inductance 7 formed by a thick line portion.
And the inductance 8. Then, the second inductance 8 formed by the thick line portion is cut 9 by a laser to adjust the inductance 8. By adjusting the inductance 8, the oscillation frequency of the oscillation circuit 6 is adjusted.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の構成では、細線
部のインダクタンス7のパターンの幅7Aが0.2mm
程度であり、これに対しパターンのエッチング精度は±
20μmであった。細線部のインダクタンス7のパター
ンの幅7Aとパターンのエッチング精度の間には約10
倍ありエッチング精度の影響は少なかった。しかし最近
の小型化に伴い細線部のインダクタンス7のパターンの
幅7Aは0.1mm程度にする必要が生じてきた。
In the conventional configuration, the width 7A of the pattern of the inductance 7 in the thin wire portion is 0.2 mm.
On the other hand, the etching accuracy of the pattern is ±
It was 20 μm. It is about 10 between the width 7A of the pattern of the inductance 7 of the thin line portion and the etching accuracy of the pattern.
The effect of etching accuracy was small. However, with the recent miniaturization, the width 7A of the pattern of the inductance 7 in the thin wire portion has to be set to about 0.1 mm.

【0005】このためエッチング精度との関係が約5倍
となり発振周波数への影響が大きく、無視できないもの
になってきた。そのためコンデンサ4の値が同一では補
正できない場合が生じてきた。
For this reason, the relationship with the etching accuracy is about five times, and the influence on the oscillation frequency is large, and it cannot be ignored. For this reason, there has been a case where correction cannot be performed if the value of the capacitor 4 is the same.

【0006】実際には細線部のインダクタンスのパター
ンの幅7Aを測定して、そのパターン幅に応じてコンデ
ンサ4の値を決定することになる。しかし細線部のイン
ダクタンス7のパターンは他の部品等とのショート防止
のため一般的にレジストインクがコーテングされてお
り、正確な測定が困難である。
Actually, the width 7A of the inductance pattern of the thin wire portion is measured, and the value of the capacitor 4 is determined according to the pattern width. However, the pattern of the inductance 7 in the thin wire portion is generally coated with resist ink in order to prevent a short circuit with other components or the like, and it is difficult to measure accurately.

【0007】そこで本発明は、この問題を解決するため
のものであり、子プリント基板のインダクタンス値を正
確に知ることを目的としたものである。
The present invention has been made to solve this problem, and has as its object to accurately know the inductance value of a child printed circuit board.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のプリント基板は、プリントパターンでインダ
クタンスが形成された高周波回路を有する子プリント基
板と、この子プリント基板が複数個連結して一体成形さ
れた親プリント基板とから成り、この親プリント基板の
前記子プリント基板の不形成部に前記子プリント基板に
形成された前記インダクタンスの値と相関関係を有する
基準パターンを設けた構成としたものである。これによ
り子プリント基板のインダクタンスを正確に知ることが
できる。
In order to achieve this object, a printed circuit board according to the present invention comprises a printed circuit board having a high-frequency circuit in which an inductance is formed by a printed pattern, and a plurality of such printed circuit boards connected to each other. And a reference pattern having a correlation with the value of the inductance formed on the child printed circuit board in a portion of the parent printed circuit board where the child printed circuit board is not formed. Things. Thereby, the inductance of the child printed circuit board can be accurately known.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、プリントパターンでインダクタンスが形成された高
周波回路を有する子プリント基板と、この子プリント基
板が複数個連結して一体成形された親プリント基板とか
ら成り、この親プリント基板の前記子プリント基板の不
形成部に前記子プリント基板に形成された前記インダク
タンスの値と相関関係を有する基準パターンを設けたプ
リント基板であって、このように子プリント基板に形成
されたインダクタンスと相関関係を有している基準パタ
ーンのインダクタンスを測定することにより、子プリン
ト基板内のインダクタンスを正確かつ容易に知ることが
できる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS According to the first aspect of the present invention, a child printed board having a high-frequency circuit in which an inductance is formed by a printed pattern, and a plurality of the child printed boards are connected and integrally formed. A printed circuit board comprising a master printed circuit board and a reference pattern having a correlation with a value of the inductance formed on the slave printed circuit board in a portion of the master printed board where the slave printed circuit board is not formed. As described above, by measuring the inductance of the reference pattern having a correlation with the inductance formed on the daughter printed board, the inductance in the daughter printed board can be accurately and easily known.

【0010】請求項2に記載の発明の基準パターンのイ
ンダクタンスの値は、子プリント基板に形成されたイン
ダクタンスの値よりも大きい値とした請求項1に記載の
プリント基板であって、基準パターンのインダクタンス
は子プリント基板のインダクタンスより大きいので、測
定の誤差が小さくなり、誤差の少ない測定が容易にでき
る。
According to a second aspect of the present invention, the value of the inductance of the reference pattern is larger than the value of the inductance formed on the daughter printed board. Since the inductance is larger than the inductance of the daughter printed board, the measurement error is reduced, and measurement with less error can be easily performed.

【0011】請求項3に記載の発明は、基準パターンを
ジグザグ形状とした請求項2に記載のプリント基板であ
って、基準パターンをジグザグ形状とすることにより小
さな面積で大きなインダクタンスを確保することができ
る。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the printed circuit board according to the second aspect, wherein the reference pattern is formed in a zigzag shape. it can.

【0012】請求項4に記載の発明は、親プリント基板
の異なる位置に基準パターンを複数個設けた請求項1に
記載のプリント基板であって、異なる位置に基準パター
ンを設けているので、それぞれの基準パターンの近傍の
子プリント基板のインダクタンスをより正確に測定する
事ができる。これにより親プリント基板内に連結された
子プリント基板の位置の違いによるエッチングのばらつ
きを測定し、コンデンサの値の決定に反映させることが
できる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the printed circuit board according to the first aspect, wherein a plurality of reference patterns are provided at different positions of the parent printed circuit board. The inductance of the child printed circuit board near the reference pattern can be measured more accurately. As a result, it is possible to measure the variation in etching due to the difference in the position of the child printed circuit board connected to the parent printed circuit board, and reflect it in the determination of the capacitor value.

【0013】請求項5に記載の発明は、基準パターンの
両端には接触用ランドを設けた請求項2に記載のプリン
ト基板であって、接触用ランドを設けているので、外部
の測定装置との接続を容易に行うことができる。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the printed circuit board according to the second aspect, wherein contact lands are provided at both ends of the reference pattern. Can be easily connected.

【0014】請求項6に記載の発明は、プリント基板に
多層基板を用い、この多層基板の内層に基準パターンを
設けた請求項1に記載のプリント基板であってプリント
基板に多層基板を用いることにより小型化する事が出来
かつ基準パターンが内装になっているため、第1層には
部品実装用あるいは親プリント基板から子プリント基板
を分割するときの基板分割用の装置で活用する認識用パ
ターン等を容易に設けることが可能となる。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the printed circuit board according to the first aspect, wherein a multilayer board is used as a printed board, and a reference pattern is provided on an inner layer of the multilayer board. The first layer has a pattern for recognition that is used in a device for mounting components or for dividing a child printed circuit board from a parent printed circuit board. Can be easily provided.

【0015】請求項7に記載の発明は、請求項5に記載
のプリント基板の基準パターンの接触用ランドにディジ
タル抵抗測定器を接続して前記基準パターンの抵抗値を
測定するプリント基板の測定装置であって、基準パター
ンは子プリント基板のパターンインダクタンスより大き
いので基準パターンの接触用ランドを通して外部にディ
ジタル抵抗測定器を接続し、基準パターンの導体抵抗値
を測定することにより間接的に子プリント基板のインダ
クタンスを測定することが可能となる。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a printed circuit board measuring apparatus for measuring a resistance value of the reference pattern by connecting a digital resistance measuring device to a contact land of the reference pattern of the printed circuit board according to the fifth aspect. Since the reference pattern is larger than the pattern inductance of the child printed circuit board, a digital resistance measurement device is connected to the outside through the contact lands of the reference pattern, and the conductor resistance value of the reference pattern is measured indirectly. Can be measured.

【0016】請求項8に記載の発明は、請求項5に記載
のプリント基板の基準パターンのインダクタンスに接続
された発振回路をプリント基板外に設け、この発振回路
の発振周波数をディジタル周波数カウンタで測定するプ
リント基板の測定装置であって、この発振回路の発振周
波数をディジタル周波数カウンタで容易に読むことがで
き、間接的に子プリント基板のインダクタンスを測定す
ることが可能となる。
According to an eighth aspect of the present invention, an oscillation circuit connected to the inductance of the reference pattern of the printed circuit board is provided outside the printed circuit board, and the oscillation frequency of the oscillation circuit is measured by a digital frequency counter. This is an apparatus for measuring a printed circuit board, in which the oscillation frequency of the oscillation circuit can be easily read by a digital frequency counter, and the inductance of the child printed circuit board can be measured indirectly.

【0017】以下、図面に従って本発明の実施の形態を
説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0018】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形
態1によるプリント基板の平面図である。図1におい
て、11は親プリント基板であり、この親プリント基板
11には子プリント基板12が複数個連結して設けられ
ている。本実施の形態においては、この子プリント基板
12は横に9個、縦に12個設けてあり、一つの親プリ
ント基板11から108個の子プリント基板12を得る
ことができる。
Embodiment 1 FIG. 1 is a plan view of a printed circuit board according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a parent printed circuit board, on which a plurality of child printed circuit boards 12 are connected and provided. In the present embodiment, nine child printed boards 12 are provided horizontally and twelve vertically, so that 108 child printed boards 12 can be obtained from one parent printed board 11.

【0019】13はこの親プリント基板11に電気部品
を実装する時使用する孔である。またこの子プリント基
板12内には従来の技術の項で説明したような共振回路
5やパターンで形成されたインダクタンス7が形成され
ている。また14は基準パターンであり親基板11上の
側面近傍であって子プリント基板12の不形成部に設け
られている。
Reference numeral 13 denotes a hole used when mounting electric components on the parent printed circuit board 11. In addition, the resonance circuit 5 and the inductance 7 formed in a pattern as described in the section of the related art are formed in the daughter printed board 12. Reference numeral 14 denotes a reference pattern, which is provided in the vicinity of the side surface on the parent substrate 11 and in the portion where the child printed circuit board 12 is not formed.

【0020】この基準パターン14のインダクタンスは
子プリント基板12の発振器の共振周波数にもよるがイ
ンダクタンス7のインダクタンスと比べて数倍から数十
倍あり本発明により測定誤差を少なくかつ容易にインダ
クタンス7のインダクタンスの値を間接的に測定でき
る。
Although the inductance of the reference pattern 14 depends on the resonance frequency of the oscillator of the daughter printed circuit board 12, it is several to several tens times as large as the inductance of the inductance 7, so that the measurement error can be reduced and the inductance 7 can be easily reduced by the present invention. The value of the inductance can be measured indirectly.

【0021】(実施の形態2)また基準パターン14は
図1では親プリント基板11内に1個所設けているが図
3に示すように4箇所の夫々の辺に設けても良い。そう
する事により、親プリント基板11上に設けられた基準
パターン14と対向した面に設けられた基準パターン1
4a、あるいは基準パターン14と隣接する面に設けら
れた基準パターン14b、基準パターン14cを設ける
ことにより子プリント基板12内のインダクタンスをよ
り正確に把握する事が可能となる。
(Embodiment 2) The reference pattern 14 is provided in one place in the parent printed circuit board 11 in FIG. 1, but may be provided on each of four sides as shown in FIG. By doing so, the reference pattern 1 provided on the surface facing the reference pattern 14 provided on the parent printed circuit board 11
By providing the reference pattern 4a or the reference pattern 14b and the reference pattern 14c provided on the surface adjacent to the reference pattern 14, the inductance in the sub-printed circuit board 12 can be grasped more accurately.

【0022】この基準パターン14は、図2に示すよう
にジグザグ形状をしており、その両端には接触用ランド
15が設けられている。このことにより、この接触用ラ
ンド15を他の外部機器と容易に接続することができ、
そのインダクタンスの値を測定することができる。ま
た、その形状はジグザグ形状なので少ない面積で大きな
インダクタンスの値を得ることができる。本実施の形態
においてはその長さを5cmにしており、パターンの幅
は、子プリント基板12に形成されたインダクタンス7
のパターン幅と等しくしている。
The reference pattern 14 has a zigzag shape as shown in FIG. 2, and contact lands 15 are provided at both ends. As a result, the contact land 15 can be easily connected to another external device,
The value of the inductance can be measured. Further, since the shape is a zigzag shape, a large inductance value can be obtained with a small area. In the present embodiment, the length is 5 cm, and the width of the pattern is
Pattern width.

【0023】(実施の形態3)また、図4は多層基板2
0を用いた例であり、この場合には内層に基準パターン
21を設け、スルーホール22で多層基板20の上面に
導出して接触用ランド23を設けている。このことによ
り、基板の小型化を図ることができる。また、第1層め
に部品実装用ランドや基板分割のための認識用パターン
を形成することができる。
(Embodiment 3) FIG.
In this case, a reference pattern 21 is provided in an inner layer, and a contact land 23 is provided on the upper surface of the multilayer substrate 20 through a through hole 22. Thus, the size of the substrate can be reduced. Also, a land for component mounting and a recognition pattern for dividing the substrate can be formed on the first layer.

【0024】(実施の形態4)図5は、親プリント基板
11の接触用ランド15にディジタル抵抗計16を接続
し、このディジタル抵抗計16で基準パターン14の抵
抗値を読むことにより、間接的に子プリント基板12に
形成されたインダクタンス7の値を知ることができる。
(Embodiment 4) FIG. 5 shows an indirect connection by connecting a digital resistance meter 16 to the contact lands 15 of the parent printed circuit board 11 and reading the resistance value of the reference pattern 14 with the digital resistance meter 16. Then, the value of the inductance 7 formed on the child printed circuit board 12 can be known.

【0025】(実施の形態5)図6は親プリント基板1
1の接触用ランド15に発振回路17を接続し、この発
振回路17の出力に周波数カウンタ18を接続したもの
である。このように、基準パターン14のインダクタン
スの値を一度発振回路17で周波数に変換するため、間
接的に子プリント基板12のインダクタンスから得られ
る発振周波数を間接的に知ることができる。
(Embodiment 5) FIG.
An oscillation circuit 17 is connected to one contact land 15, and a frequency counter 18 is connected to the output of the oscillation circuit 17. As described above, since the value of the inductance of the reference pattern 14 is once converted into the frequency by the oscillation circuit 17, the oscillation frequency obtained from the inductance of the child printed circuit board 12 can be indirectly known.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、親プリン
ト基板の子プリント基板の不形成部に前記子プリント基
板に形成されたインダクタンスの値と相関関係を有する
基準パターンを設けているので、子プリント基板に形成
されたインダクタンスと相関関係を有している基準パタ
ーンのインダクタンスを測定することにより、子プリン
ト基板内のインダクタンスを正確かつ容易に知ることが
できる。
As described above, according to the present invention, the reference pattern having a correlation with the value of the inductance formed on the child printed circuit board is provided in the portion of the parent printed circuit board where the child printed circuit board is not formed. By measuring the inductance of the reference pattern having a correlation with the inductance formed on the child printed circuit board, the inductance in the child printed circuit board can be accurately and easily known.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1によるプリント基板の平
面図
FIG. 1 is a plan view of a printed circuit board according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同、プリント基板内に設けられた基準パターン
の平面図
FIG. 2 is a plan view of a reference pattern provided in a printed circuit board.

【図3】同、実施の形態2によるプリント基板の平面図FIG. 3 is a plan view of a printed circuit board according to the second embodiment.

【図4】同、実施の形態3によるプリント基板の要部断
面図
FIG. 4 is a sectional view of a principal part of a printed circuit board according to Embodiment 3;

【図5】本発明の実施の形態4によるプリント基板への
測定装置の接続図
FIG. 5 is a connection diagram of a measuring device on a printed circuit board according to a fourth embodiment of the present invention.

【図6】同、実施の形態5によるプリント基板への測定
装置の接続図
FIG. 6 is a connection diagram of a measuring device on a printed circuit board according to the fifth embodiment.

【図7】従来のプリント基板の平面図FIG. 7 is a plan view of a conventional printed circuit board.

【図8】従来のプリント基板に形成された発振回路の回
路図
FIG. 8 is a circuit diagram of an oscillation circuit formed on a conventional printed circuit board.

【図9】同、発振回路を形成するインダクタンスの平面
FIG. 9 is a plan view of an inductance forming an oscillation circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 親プリント基板 12 子プリント基板 14 基準パターン 11 Parent printed circuit board 12 Child printed circuit board 14 Reference pattern

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E338 AA03 BB31 BB42 CC01 CC09 CD11 CD32 EE32 EE33 5E344 AA05 BB01 BB06 CC05 DD19 EE06 5E346 AA15 AA60 BB01 BB02 BB16 GG32 GG34 HH31  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5E338 AA03 BB31 BB42 CC01 CC09 CD11 CD32 EE32 EE33 5E344 AA05 BB01 BB06 CC05 DD19 EE06 5E346 AA15 AA60 BB01 BB02 BB16 GG32 GG34 HH31

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリントパターンでインダクタンスが形
成された高周波回路を有する子プリント基板と、この子
プリント基板が複数個連結して一体成形された親プリン
ト基板とから成り、この親プリント基板の前記子プリン
ト基板の不形成部に前記子プリント基板に形成された前
記インダクタンスの値と相関関係を有する基準パターン
を設けたプリント基板。
1. A child printed circuit board having a high-frequency circuit in which an inductance is formed by a printed pattern, and a parent printed circuit board formed by integrally connecting a plurality of the child printed circuit boards. A printed circuit board provided with a reference pattern having a correlation with a value of the inductance formed on the daughter printed circuit board in a non-formed portion of the printed circuit board.
【請求項2】 基準パターンのインダクタンスの値は、
子プリント基板に形成されたインダクタンスの値よりも
大きい値とした請求項1に記載のプリント基板。
2. The value of the inductance of the reference pattern is:
The printed circuit board according to claim 1, wherein the value is larger than the value of the inductance formed on the daughter printed circuit board.
【請求項3】 基準パターンはジグザグ形状とした請求
項2に記載のプリント基板。
3. The printed circuit board according to claim 2, wherein the reference pattern has a zigzag shape.
【請求項4】 親プリント基板の異なる位置に基準パタ
ーンを複数個設けた請求項1に記載のプリント基板。
4. The printed circuit board according to claim 1, wherein a plurality of reference patterns are provided at different positions on the parent printed circuit board.
【請求項5】 基準パターンの両端には接触用ランドを
設けた請求項2に記載のプリント基板。
5. The printed circuit board according to claim 2, wherein contact lands are provided at both ends of the reference pattern.
【請求項6】 プリント基板に多層基板を用い、この多
層基板の内層に基準パターンを設けた請求項1に記載の
プリント基板。
6. The printed board according to claim 1, wherein a multilayer board is used as the printed board, and a reference pattern is provided on an inner layer of the multilayer board.
【請求項7】 請求項5に記載のプリント基板の基準パ
ターンの接触用ランドにディジタル抵抗測定器を接続し
て前記基準パターンの抵抗値を測定するプリント基板の
測定装置。
7. A printed circuit board measuring apparatus for measuring a resistance value of the reference pattern by connecting a digital resistance measuring device to a contact land of the reference pattern of the printed circuit board according to claim 5.
【請求項8】 請求項5に記載のプリント基板の基準パ
ターンのインダクタンスに接続された発振回路を親プリ
ント基板外に設け、この発振回路の発振周波数をディジ
タル周波数カウンタで測定するプリント基板の測定装
置。
8. An apparatus for measuring a printed circuit board, wherein an oscillation circuit connected to the inductance of the reference pattern of the printed circuit board according to claim 5 is provided outside the parent printed circuit board, and the oscillation frequency of the oscillation circuit is measured by a digital frequency counter. .
JP6976199A 1999-03-16 1999-03-16 Printed circuit board and measuring device for this printed circuit board Expired - Fee Related JP3791233B2 (en)

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