JP2000243257A - 電子放出素子、電子源および画像形成装置の製造方法 - Google Patents
電子放出素子、電子源および画像形成装置の製造方法Info
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- JP2000243257A JP2000243257A JP4409599A JP4409599A JP2000243257A JP 2000243257 A JP2000243257 A JP 2000243257A JP 4409599 A JP4409599 A JP 4409599A JP 4409599 A JP4409599 A JP 4409599A JP 2000243257 A JP2000243257 A JP 2000243257A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 工程が簡素で低コストで、かつ、量産性にす
ぐれ、歩留まりの向上した電子放出素子、並びにそれを
用いた電子源、画像形成装置の製造方法を提供する。 【解決手段】 基体1上に形成された対の対向素子電極
2,3の間に形成されたシリカ膜上で、該素子電極の双
方に接続された導電性膜の一部に形成された電子放出部
を有する電子放出素子の製造方法において、シリカ膜4
を形成する材料を含むインクをインクジェット装置によ
り液滴9として付与する工程と、付与された液滴9を乾
燥、焼成してシリカ膜4とする工程と、導電性膜を形成
する材料を含むインクをインクジェット装置により液滴
として付与する工程と、付与した液滴を乾燥、焼成して
素子電極の双方に接続された導電性膜5を形成する工程
と、素子電極間に電圧を印加して上記シリカ膜上の導電
性膜5に電流を流すことにより電子放出部6を形成する
工程とを有することを特徴とする。
ぐれ、歩留まりの向上した電子放出素子、並びにそれを
用いた電子源、画像形成装置の製造方法を提供する。 【解決手段】 基体1上に形成された対の対向素子電極
2,3の間に形成されたシリカ膜上で、該素子電極の双
方に接続された導電性膜の一部に形成された電子放出部
を有する電子放出素子の製造方法において、シリカ膜4
を形成する材料を含むインクをインクジェット装置によ
り液滴9として付与する工程と、付与された液滴9を乾
燥、焼成してシリカ膜4とする工程と、導電性膜を形成
する材料を含むインクをインクジェット装置により液滴
として付与する工程と、付与した液滴を乾燥、焼成して
素子電極の双方に接続された導電性膜5を形成する工程
と、素子電極間に電圧を印加して上記シリカ膜上の導電
性膜5に電流を流すことにより電子放出部6を形成する
工程とを有することを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、表面伝導型電子放
出素子、該電子放出素子を用いた電子源、該電子源を用
いた画像形成装置及びそれらの製造方法に関し、とりわ
けインクジェット方式を用いた前記製造方法に関する。
出素子、該電子放出素子を用いた電子源、該電子源を用
いた画像形成装置及びそれらの製造方法に関し、とりわ
けインクジェット方式を用いた前記製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、電子放出素子としては大別し
て熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子を用いた2種類
のものが知られている。冷陰極電子放出素子には電界放
出型(以下、「FE型」と称す。)、金属/絶縁層/金
属型(以下、「MIM型」と称す。)や表面伝導型電子
放出素子等がある。
て熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子を用いた2種類
のものが知られている。冷陰極電子放出素子には電界放
出型(以下、「FE型」と称す。)、金属/絶縁層/金
属型(以下、「MIM型」と称す。)や表面伝導型電子
放出素子等がある。
【0003】FE型の例としては、W.P.Dyke
and W.W.Dolan,“Field Emis
sion”,Advance in Electron
Physics,8,89(1956)あるいはC.
A.Spindt,“Physical Proper
ties of thin−film fieldem
ission cathodes with moly
bdenum cones”,J.Appl.Phy
s.,47,5248(1976)等に開示されたもの
が知られている。
and W.W.Dolan,“Field Emis
sion”,Advance in Electron
Physics,8,89(1956)あるいはC.
A.Spindt,“Physical Proper
ties of thin−film fieldem
ission cathodes with moly
bdenum cones”,J.Appl.Phy
s.,47,5248(1976)等に開示されたもの
が知られている。
【0004】MIM型電子放出素子の例としては、C.
A.Mead,“Operation of Tunn
el−Emission Devices”,J.Ap
pl.Phys.,32,646(1961)等に開示
されたものが知られている。
A.Mead,“Operation of Tunn
el−Emission Devices”,J.Ap
pl.Phys.,32,646(1961)等に開示
されたものが知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。こ
の表面伝導型電子放出素子の例としては、SnO2 薄膜
を用いたもの、[M.I.Elinson,Recio
Eng.Electron Phys.,10,12
90,(1965)]、Au薄膜を用いたもの[G.D
ittmer:“Thin Solid Film
s”,9,317(1972)]、In2 O3 /SnO
2 薄膜を用いたもの[M.Hartwell and
C.G. Fonstad:“IEEE Trans.
ED Conf.”519(1975)]及びカーボン
薄膜を用いたもの[荒木久 他:真空、第26巻、第1
号、22頁(1983)]等が報告されている。
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。こ
の表面伝導型電子放出素子の例としては、SnO2 薄膜
を用いたもの、[M.I.Elinson,Recio
Eng.Electron Phys.,10,12
90,(1965)]、Au薄膜を用いたもの[G.D
ittmer:“Thin Solid Film
s”,9,317(1972)]、In2 O3 /SnO
2 薄膜を用いたもの[M.Hartwell and
C.G. Fonstad:“IEEE Trans.
ED Conf.”519(1975)]及びカーボン
薄膜を用いたもの[荒木久 他:真空、第26巻、第1
号、22頁(1983)]等が報告されている。
【0006】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図1
7に模式的に示す。同図において1は絶縁性基板等から
なる基体である。5は導電性膜で、H型形状のパターン
に、スパッタで形成された金属酸化物薄膜等からなり、
後述のフォーミングと呼ばれる通電処理により電子放出
部6が形成される。尚、図中の素子電極間隔Lは、0.
5〜1mm、W’は、0.1mmで設定されている。
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図1
7に模式的に示す。同図において1は絶縁性基板等から
なる基体である。5は導電性膜で、H型形状のパターン
に、スパッタで形成された金属酸化物薄膜等からなり、
後述のフォーミングと呼ばれる通電処理により電子放出
部6が形成される。尚、図中の素子電極間隔Lは、0.
5〜1mm、W’は、0.1mmで設定されている。
【0007】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性膜5をあらかじめ
フォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部6
を形成するのが一般的である。即ち、フォーミングと
は、前記導電性膜5の両端に直流電圧あるいは非常にゆ
っくりとした昇電圧(例えば1V/分程度)あるいはパ
ルス電圧を印加通電し、導電性膜5を局所的に破壊、変
形もしくは変質させて構造を変化させ、電気的に高抵抗
な状態の電子放出部6を形成することである。尚、電子
放出部6は導電性膜5の一部に亀裂が発生しその亀裂付
近から電子放出が行われる。前記フォーミング処理をし
た表面伝導型電子放出素子は、上述導電性膜5に電圧を
印加し、素子に電流を流すことにより、上述電子放出部
6より電子を放出せしめるものである。
おいては、電子放出を行う前に導電性膜5をあらかじめ
フォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部6
を形成するのが一般的である。即ち、フォーミングと
は、前記導電性膜5の両端に直流電圧あるいは非常にゆ
っくりとした昇電圧(例えば1V/分程度)あるいはパ
ルス電圧を印加通電し、導電性膜5を局所的に破壊、変
形もしくは変質させて構造を変化させ、電気的に高抵抗
な状態の電子放出部6を形成することである。尚、電子
放出部6は導電性膜5の一部に亀裂が発生しその亀裂付
近から電子放出が行われる。前記フォーミング処理をし
た表面伝導型電子放出素子は、上述導電性膜5に電圧を
印加し、素子に電流を流すことにより、上述電子放出部
6より電子を放出せしめるものである。
【0008】また、例えば特開平7−235255号公
報に開示されているように、フォーミングを終えた素子
に対して活性化処理と呼ばれる処理を施す場合がある。
活性化処理とは、この工程により、素子電流If 、放出
電流Ie が、著しく変化する工程である。
報に開示されているように、フォーミングを終えた素子
に対して活性化処理と呼ばれる処理を施す場合がある。
活性化処理とは、この工程により、素子電流If 、放出
電流Ie が、著しく変化する工程である。
【0009】活性化工程は、有機物質のガスを含有する
雰囲気下で、フォーミング処理同様、基板上の素子にパ
ルス電圧の印加を繰り返すことで行うことができる。こ
の処理により、基板の変化を伴って、雰囲気中に存在す
る有機物質から炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積
し、素子電流If 、放出電流Ie が、著しく変化するよ
うになる。
雰囲気下で、フォーミング処理同様、基板上の素子にパ
ルス電圧の印加を繰り返すことで行うことができる。こ
の処理により、基板の変化を伴って、雰囲気中に存在す
る有機物質から炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積
し、素子電流If 、放出電流Ie が、著しく変化するよ
うになる。
【0010】従って、この活性化処理を経た場合、電子
放出部6およびその近傍の基板1、導電性膜5は、変質
し炭素および炭素化合物を有する。この基板1の変質に
ついては、電子放出部6の形態に関わり電子放出特性を
支配することが分かっているが、詳細は明らかではなか
った。
放出部6およびその近傍の基板1、導電性膜5は、変質
し炭素および炭素化合物を有する。この基板1の変質に
ついては、電子放出部6の形態に関わり電子放出特性を
支配することが分かっているが、詳細は明らかではなか
った。
【0011】さらに上記の例は、基体上に、一対の素子
電極と、該素子電極に接合され該素子電極とは別に形成
された導電性膜とを有する表面伝導型電子放出素子があ
る。図18は、その構成を模式的に示したものである。
導電性膜5は好ましい電子放出部6を形成するために、
導電性微粒子よりなることが好ましく用いられることが
報告されている。導電性膜をパターニングする手法とし
ては、フォトリソグラフィー技術によりCrマスクを形
成し、ウエットエッチによりリフトオフする方法が示さ
れている。
電極と、該素子電極に接合され該素子電極とは別に形成
された導電性膜とを有する表面伝導型電子放出素子があ
る。図18は、その構成を模式的に示したものである。
導電性膜5は好ましい電子放出部6を形成するために、
導電性微粒子よりなることが好ましく用いられることが
報告されている。導電性膜をパターニングする手法とし
ては、フォトリソグラフィー技術によりCrマスクを形
成し、ウエットエッチによりリフトオフする方法が示さ
れている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】電子放出素子について
は、電子放出素子を適用した画像形成装置が明るい表示
画像を安定して提供できるよう、高い効率で安定した電
子放出特性を長時間保持し続けられる技術が切望されて
いる。
は、電子放出素子を適用した画像形成装置が明るい表示
画像を安定して提供できるよう、高い効率で安定した電
子放出特性を長時間保持し続けられる技術が切望されて
いる。
【0013】ここで効率とは、表面伝導型電子放出素子
の一対の対向する素子電極に電圧を印加した時、流れる
電流(以下、素子電流If と呼ぶ)に対する真空中に放
出される電流(以下放出電流Ie と呼ぶ)との電流比を
さす。
の一対の対向する素子電極に電圧を印加した時、流れる
電流(以下、素子電流If と呼ぶ)に対する真空中に放
出される電流(以下放出電流Ie と呼ぶ)との電流比を
さす。
【0014】つまり、素子電流が小さく、放出電流が大
きい電子放出素子が望まれている。高効率な電子放出特
性を長時間にわたり安定的に制御することができれば、
例えば蛍光体を画像形成部材とする画像形成装置におい
ては、低電流で明るい高品位な画像形成装置、例えばフ
ラットテレビが実現できる。また、低電流化にともな
い、画像形成装置を構成する駆動回路等のローコスト化
も図れる。
きい電子放出素子が望まれている。高効率な電子放出特
性を長時間にわたり安定的に制御することができれば、
例えば蛍光体を画像形成部材とする画像形成装置におい
ては、低電流で明るい高品位な画像形成装置、例えばフ
ラットテレビが実現できる。また、低電流化にともな
い、画像形成装置を構成する駆動回路等のローコスト化
も図れる。
【0015】しかしながら、上述のM.ハートウェルの
電子放出素子にあっては、安定な電子放出特性および電
子放出効率について、必ずしも満足のゆくものが得られ
ておらず、これを用いて高輝度で動作安定性に優れた画
像形成装置を提供するのは極めて難しいというのが実状
である。
電子放出素子にあっては、安定な電子放出特性および電
子放出効率について、必ずしも満足のゆくものが得られ
ておらず、これを用いて高輝度で動作安定性に優れた画
像形成装置を提供するのは極めて難しいというのが実状
である。
【0016】個々の表面伝導型電子放出素子は初期放出
電流が、全く均一とはいえず、また場所により活性化中
のガス圧が異なるなどの理由により、個々の素子は異な
る活性化特性を示す。すなわち、同一時間活性化を行っ
た場合には素子により効率のばらつきを有することにな
る。そこで、複数の表面伝導型電子放出素子を使用し
て、電子源あるいは画像形成装置を構成した場合、個々
の電子放出素子の効率がそろっていないと電子放出量が
位置で変化したり輝度むらを生じるという問題があっ
た。
電流が、全く均一とはいえず、また場所により活性化中
のガス圧が異なるなどの理由により、個々の素子は異な
る活性化特性を示す。すなわち、同一時間活性化を行っ
た場合には素子により効率のばらつきを有することにな
る。そこで、複数の表面伝導型電子放出素子を使用し
て、電子源あるいは画像形成装置を構成した場合、個々
の電子放出素子の効率がそろっていないと電子放出量が
位置で変化したり輝度むらを生じるという問題があっ
た。
【0017】本出願人等は、詳細な検討の結果、表面伝
導型電子放出素子の電子放出特性は、前述の活性化工程
で変質する基板の材料によって変化することがわかっ
た。さらに該基板の変質は、シリカ膜の質によって左右
されることがわかった。すなわち、前述の活性化工程を
行う場合、シリカ膜の質を変えると電子放出特性が変化
することを見いだした。
導型電子放出素子の電子放出特性は、前述の活性化工程
で変質する基板の材料によって変化することがわかっ
た。さらに該基板の変質は、シリカ膜の質によって左右
されることがわかった。すなわち、前述の活性化工程を
行う場合、シリカ膜の質を変えると電子放出特性が変化
することを見いだした。
【0018】一方、上述の表面伝導型放出素子は、構造
が単純で製造も容易であることから、大面積にわたって
多数素子を配列形成できる利点がある。そこで、この特
徴を生かせるようないろいろな応用が研究されている。
例えば、荷電ビーム源、表示装置等があげられる。多数
の表面伝導型放出素子を配列形成した例としては、後述
する様に、並列に表面伝導型電子放出素子を配列し、個
々の素子の両端を配線(共通配線とも呼ぶ)で、それぞ
れ結線した行を多数行配列した電子源があげられる(例
えば、特開昭64−031332号、特開平1−283
749号、同2−257552号等)。
が単純で製造も容易であることから、大面積にわたって
多数素子を配列形成できる利点がある。そこで、この特
徴を生かせるようないろいろな応用が研究されている。
例えば、荷電ビーム源、表示装置等があげられる。多数
の表面伝導型放出素子を配列形成した例としては、後述
する様に、並列に表面伝導型電子放出素子を配列し、個
々の素子の両端を配線(共通配線とも呼ぶ)で、それぞ
れ結線した行を多数行配列した電子源があげられる(例
えば、特開昭64−031332号、特開平1−283
749号、同2−257552号等)。
【0019】また、特に表示装置等の画像形成装置にお
いては、近年、液晶を用いた平板型表示装置が、CRT
に替わって、普及してきたが、自発光型でないため、バ
ックライトを持たなければならない等の問題点があり、
自発光型の表示装置の開発が、望まれてきた。自発光型
表示装置としては、表面伝導型放出素子を多数配置した
電子源と電子源より放出された電子によって、可視光を
発光せしめる蛍光体とを組み合わせた表示装置である画
像形成装置が、あげられる(例えば、USP50668
83号)。
いては、近年、液晶を用いた平板型表示装置が、CRT
に替わって、普及してきたが、自発光型でないため、バ
ックライトを持たなければならない等の問題点があり、
自発光型の表示装置の開発が、望まれてきた。自発光型
表示装置としては、表面伝導型放出素子を多数配置した
電子源と電子源より放出された電子によって、可視光を
発光せしめる蛍光体とを組み合わせた表示装置である画
像形成装置が、あげられる(例えば、USP50668
83号)。
【0020】ところが上述のような平面型表示装置を大
面積化する場合、大型基体上に素子形成に必要な微細パ
ターンを従来のフォトリソグラフィー技術を用いて製造
するには大型製造装置が必要となり、莫大な費用がかか
るという問題があった。
面積化する場合、大型基体上に素子形成に必要な微細パ
ターンを従来のフォトリソグラフィー技術を用いて製造
するには大型製造装置が必要となり、莫大な費用がかか
るという問題があった。
【0021】本発明は上記問題を鑑み、安定した電子放
出特性と均一な輝度を長時間にわたり実現する表面伝導
型電子放出素子の製造方法とそれを用いた電子源および
画像形成装置を提供するものである。
出特性と均一な輝度を長時間にわたり実現する表面伝導
型電子放出素子の製造方法とそれを用いた電子源および
画像形成装置を提供するものである。
【0022】さらに、本発明の目的は、工程が簡素で低
コストな電子放出素子の製造方法ならびにそれを用いた
電子源、画像製造装置の製造方法を提供し、また、量産
性にすぐれ、歩留まりの向上した電子放出素子ならびに
それを用いた電子源、画像形成装置の製造方法を提供す
ることにある。
コストな電子放出素子の製造方法ならびにそれを用いた
電子源、画像製造装置の製造方法を提供し、また、量産
性にすぐれ、歩留まりの向上した電子放出素子ならびに
それを用いた電子源、画像形成装置の製造方法を提供す
ることにある。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するために鋭意検討を行って成されたものであ
り、下述する構成のものである。即ち、本発明の表面伝
導型電子放出素子の製造方法は、基体上に形成された一
対の対向する素子電極と、該素子電極の間に形成された
シリカ膜と、該シリカ膜上で、かつ該素子電極の双方に
接続された導電性膜と、該導電性膜の一部に形成された
電子放出部を有する電子放出素子の製造方法において、
該製造方法が、(1)上記シリカ膜を形成する材料を含
むインクをインクジェット装置により液滴として所定の
位置に付与する工程と、(2)付与された液滴を乾燥お
よび焼成してシリカ膜とする工程と、(3)上記シリカ
膜上に上記導電性膜を形成する材料を含むインクをイン
クジェット装置により液滴として所定の位置に付与する
工程と、(4)付与された液滴を乾燥および焼成して素
子電極の双方に接続された導電性膜を形成する工程と、
(5)上記一対の素子電極間に電圧を印加して上記シリ
カ膜上の導電性膜に電流を流すことにより電子放出部を
形成する工程と、を有することを特徴とする。
を解決するために鋭意検討を行って成されたものであ
り、下述する構成のものである。即ち、本発明の表面伝
導型電子放出素子の製造方法は、基体上に形成された一
対の対向する素子電極と、該素子電極の間に形成された
シリカ膜と、該シリカ膜上で、かつ該素子電極の双方に
接続された導電性膜と、該導電性膜の一部に形成された
電子放出部を有する電子放出素子の製造方法において、
該製造方法が、(1)上記シリカ膜を形成する材料を含
むインクをインクジェット装置により液滴として所定の
位置に付与する工程と、(2)付与された液滴を乾燥お
よび焼成してシリカ膜とする工程と、(3)上記シリカ
膜上に上記導電性膜を形成する材料を含むインクをイン
クジェット装置により液滴として所定の位置に付与する
工程と、(4)付与された液滴を乾燥および焼成して素
子電極の双方に接続された導電性膜を形成する工程と、
(5)上記一対の素子電極間に電圧を印加して上記シリ
カ膜上の導電性膜に電流を流すことにより電子放出部を
形成する工程と、を有することを特徴とする。
【0024】本発明の第2は、第1の方法で形成するシ
リカ膜の材料の原料としてはポリシロキサンを用いるこ
と、そして、該ポリシロキサンとして、ポリオルガノシ
ロキサンを用いること、更に上記ポリオルガノシロキサ
ンとしてシリコーンオイルを用いることが好ましく、該
シリコーンオイルの分子量は数百〜数万のもの、好まし
くは数百〜数千の低分子のものである。
リカ膜の材料の原料としてはポリシロキサンを用いるこ
と、そして、該ポリシロキサンとして、ポリオルガノシ
ロキサンを用いること、更に上記ポリオルガノシロキサ
ンとしてシリコーンオイルを用いることが好ましく、該
シリコーンオイルの分子量は数百〜数万のもの、好まし
くは数百〜数千の低分子のものである。
【0025】また、本発明の第3は、上記方法で用いる
インクジェット装置としては液体に熱を与えることによ
り該液体を吐出するバブルジェット方式のインクジェッ
ト装置を用いることを特徴とする。
インクジェット装置としては液体に熱を与えることによ
り該液体を吐出するバブルジェット方式のインクジェッ
ト装置を用いることを特徴とする。
【0026】また、本発明の第4は、上記本発明の第1
〜3の方法により製造されたことを特徴とする電子放出
素子にある。
〜3の方法により製造されたことを特徴とする電子放出
素子にある。
【0027】更に、本発明の第5は、一対の対向する素
子電極と、該素子電極の間に形成されたシリカ膜と、該
シリカ膜上で、かつ該素子電極の双方に接続された導電
性膜と、該導電性膜の一部に形成された電子放出部を有
する電子放出素子を基体上に複数配置し、これら電子放
出素子に接続された配線を有してなる電子源の製造方法
において、前記電子放出素子を前記記載の方法で製造す
ることを特徴とする電子源の製造方法である。
子電極と、該素子電極の間に形成されたシリカ膜と、該
シリカ膜上で、かつ該素子電極の双方に接続された導電
性膜と、該導電性膜の一部に形成された電子放出部を有
する電子放出素子を基体上に複数配置し、これら電子放
出素子に接続された配線を有してなる電子源の製造方法
において、前記電子放出素子を前記記載の方法で製造す
ることを特徴とする電子源の製造方法である。
【0028】本発明の第6は、上記本発明の第5の方法
により製造されたことを特徴とする電子源にある。
により製造されたことを特徴とする電子源にある。
【0029】また、本発明の第7は、一対の対向する素
子電極と、該素子電極の間に形成されたシリカ膜と、該
シリカ膜上で、かつ該素子電極の双方に接続された導電
性膜と、該導電性膜の一部に形成された電子放出部を有
する電子放出素子を基体上に複数配置し、これら電子放
出素子に接続された配線を有してなる電子源と、該電子
源より放出される電子の照射を受けて発光することによ
り、画像を表示する画像形成部材を、真空容器に内包し
てなる画像形成装置の製造方法において、前記電子源
を、前記記載の方法で製造することを特徴とする画像形
成装置の製造方法である。
子電極と、該素子電極の間に形成されたシリカ膜と、該
シリカ膜上で、かつ該素子電極の双方に接続された導電
性膜と、該導電性膜の一部に形成された電子放出部を有
する電子放出素子を基体上に複数配置し、これら電子放
出素子に接続された配線を有してなる電子源と、該電子
源より放出される電子の照射を受けて発光することによ
り、画像を表示する画像形成部材を、真空容器に内包し
てなる画像形成装置の製造方法において、前記電子源
を、前記記載の方法で製造することを特徴とする画像形
成装置の製造方法である。
【0030】本発明の第8は、上記本発明の第7の方法
により製造されたことを特徴とする画像形成装置にあ
る。
により製造されたことを特徴とする画像形成装置にあ
る。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施形態を説明する。図1は、本発明の表面伝導型電
子放出素子の1例を示す模式図であり、図1(a)は平
面図、図1(b)は断面図である。図1において、1は
基板、2と3は素子電極、4はシリカ膜、5は導電性
膜、6は電子放出部である。
の実施形態を説明する。図1は、本発明の表面伝導型電
子放出素子の1例を示す模式図であり、図1(a)は平
面図、図1(b)は断面図である。図1において、1は
基板、2と3は素子電極、4はシリカ膜、5は導電性
膜、6は電子放出部である。
【0032】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラ
スにスパッタ法等によりSiO2 を積層したガラス基板
及びアルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用いる
ことができる。
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラ
スにスパッタ法等によりSiO2 を積層したガラス基板
及びアルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用いる
ことができる。
【0033】対向する素子電極2,3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi,C
r,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等
の金属、或は合金及びPd,Ag,Au,RuO2 ,P
d−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成さ
れる印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及
びポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択する
ことができる。
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi,C
r,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等
の金属、或は合金及びPd,Ag,Au,RuO2 ,P
d−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成さ
れる印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及
びポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択する
ことができる。
【0034】素子電極間隔L、素子電極長さW、シリカ
膜4、導電性膜5の形状等は、応用される形態等を考慮
して、設計される。素子電極間隔Lは、数百nmから数
百μmの範囲とすることができ、素子電極間に印加する
電圧等を考慮して好ましくは、数μmから数十μmの範
囲とすることができる。素子電極2,3の膜厚dは、数
十nmから数μmの範囲とすることができる。また、前
記一対の電極に接続される配線は、スクリーン印刷法を
用いて形成させることもできる。
膜4、導電性膜5の形状等は、応用される形態等を考慮
して、設計される。素子電極間隔Lは、数百nmから数
百μmの範囲とすることができ、素子電極間に印加する
電圧等を考慮して好ましくは、数μmから数十μmの範
囲とすることができる。素子電極2,3の膜厚dは、数
十nmから数μmの範囲とすることができる。また、前
記一対の電極に接続される配線は、スクリーン印刷法を
用いて形成させることもできる。
【0035】シリカ膜4を形成する材料の原料としては
ポリシロキサンを用いる。中でもシリコーンオイル等の
ポリオルガノシロキサンを用いるのが好ましい。ここで
用いられるシリコーンオイルの種類は、特に限定される
ものではなく、例えばメチルシリコーンオイル、メチル
フェニルシリコーンオイル等や、ポリエーテル変性シリ
コーンオイル、アルキル変性シリコーンオイル、アミノ
変性シリコーンオイルなどの単体でも良いし、または少
なくともこれらのオイルを一種以上含む混合物などが用
いられるが、フェニル基が入ると耐熱性があげるため、
比較的耐熱性の低いジメチルシリコーンオイルが好適に
用いられる。
ポリシロキサンを用いる。中でもシリコーンオイル等の
ポリオルガノシロキサンを用いるのが好ましい。ここで
用いられるシリコーンオイルの種類は、特に限定される
ものではなく、例えばメチルシリコーンオイル、メチル
フェニルシリコーンオイル等や、ポリエーテル変性シリ
コーンオイル、アルキル変性シリコーンオイル、アミノ
変性シリコーンオイルなどの単体でも良いし、または少
なくともこれらのオイルを一種以上含む混合物などが用
いられるが、フェニル基が入ると耐熱性があげるため、
比較的耐熱性の低いジメチルシリコーンオイルが好適に
用いられる。
【0036】オイルの分子量としては、数百〜数万のも
の、好ましくは数百〜数千の低分子量のものが用いられ
る。この範囲の分子量を持つオイルの粘度は、数千cs
(センチストークス)以下である。
の、好ましくは数百〜数千の低分子量のものが用いられ
る。この範囲の分子量を持つオイルの粘度は、数千cs
(センチストークス)以下である。
【0037】これらシリコーンオイル等を、200℃以
上に加熱すると熱酸化により低分子シロキサンに分解
し、さらに350℃以上に加熱すると燃焼が起こり、最
終的にシリカ(SiO2 )が生成する。
上に加熱すると熱酸化により低分子シロキサンに分解
し、さらに350℃以上に加熱すると燃焼が起こり、最
終的にシリカ(SiO2 )が生成する。
【0038】シリカ膜4は、導電性膜5の基板側に存在
するよう、なおかつ導電性膜5が電極2,3と電気的に
十分接続するよう適宜形成する。例えば図1ではシリカ
膜4はその上に形成する導電性膜5よりやや小さく形成
し、素子電極2,3を導電性膜5で電気的に十分接続す
る形状としている。
するよう、なおかつ導電性膜5が電極2,3と電気的に
十分接続するよう適宜形成する。例えば図1ではシリカ
膜4はその上に形成する導電性膜5よりやや小さく形成
し、素子電極2,3を導電性膜5で電気的に十分接続す
る形状としている。
【0039】また、シリカ膜4の膜厚は基板1の材質中
に含まれるシリカ(SiO2 )の含有率によって適宜膜
厚を設計する。すなわち、シリカを多く合む基板は薄く
ても十分効果を発揮するが、ほとんどシリカを合まない
基板を用いた場合はある程度の厚みが必要となる。ま
た、あまり厚すぎると積層する導電性膜4の形成を妨げ
るので、数μm以下であることが望ましく、好ましく
は、100nm以下がよい。
に含まれるシリカ(SiO2 )の含有率によって適宜膜
厚を設計する。すなわち、シリカを多く合む基板は薄く
ても十分効果を発揮するが、ほとんどシリカを合まない
基板を用いた場合はある程度の厚みが必要となる。ま
た、あまり厚すぎると積層する導電性膜4の形成を妨げ
るので、数μm以下であることが望ましく、好ましく
は、100nm以下がよい。
【0040】なお、図1に示した構成だけでなく、基板
1上にシリカ膜4、導電性膜5、対向する素子電極2,
3の順に積層した構成とすることもできる。また、基板
1上にシリカ膜4、対向する素子電極2,3、導電性膜
5の順に積層した構成とすることもできる。
1上にシリカ膜4、導電性膜5、対向する素子電極2,
3の順に積層した構成とすることもできる。また、基板
1上にシリカ膜4、対向する素子電極2,3、導電性膜
5の順に積層した構成とすることもできる。
【0041】導電性膜5の膜厚は、素子電極2,3への
ステップカバレージ、素子電極2,3間の抵抗値及び後
述するフォーミング条件等を考慮して適宜設定される
が、通常は、0.1nmの数倍から数百nmの範囲とす
るのが好ましく、より好ましくは1nmより50nmの
範囲とするのが良い。その抵抗値は、Rsが102 から
107 Ω/□の値である。なおRsは、幅がwで長さが
lの薄膜の抵抗Rを、R=Rs(l/w)とおいたとき
に現れる量である。本明細書において、フォーミング処
理については、通電処理を例に挙げて説明するが、フオ
ーミング処理はこれに限られるものではなく、膜に亀裂
を生じさせて高抵抗状態を形成する処理を包合するもの
である。
ステップカバレージ、素子電極2,3間の抵抗値及び後
述するフォーミング条件等を考慮して適宜設定される
が、通常は、0.1nmの数倍から数百nmの範囲とす
るのが好ましく、より好ましくは1nmより50nmの
範囲とするのが良い。その抵抗値は、Rsが102 から
107 Ω/□の値である。なおRsは、幅がwで長さが
lの薄膜の抵抗Rを、R=Rs(l/w)とおいたとき
に現れる量である。本明細書において、フォーミング処
理については、通電処理を例に挙げて説明するが、フオ
ーミング処理はこれに限られるものではなく、膜に亀裂
を生じさせて高抵抗状態を形成する処理を包合するもの
である。
【0042】導電性膜5を構成する材料の原料となる金
属化合物の金属元素としては、Pd,Pt,Ru,A
g,Au,Ti,In,Cu,Cr,Fe,Zn,S
n,Ta,W,Pb等が挙げられる。
属化合物の金属元素としては、Pd,Pt,Ru,A
g,Au,Ti,In,Cu,Cr,Fe,Zn,S
n,Ta,W,Pb等が挙げられる。
【0043】電子放出部6は、導電性膜5の一部に形成
された高抵抗の亀裂により構成され、導電性膜5の膜
厚、材質、及び後述する通電フォーミング、活性化工程
等に依存したものとなる。電子放出部6の内部には、
0.1nmの数倍から数十nmの範囲の粒径の導電性微
粒子が存在する場合もある。この導電性微粒子は、導電
性膜5を構成する材料の元素の一部、あるいは全ての元
素を含有するものとなる。また、電子放出部6及びその
近傍の導電性膜5には、炭素及び炭素化合物を有する。
された高抵抗の亀裂により構成され、導電性膜5の膜
厚、材質、及び後述する通電フォーミング、活性化工程
等に依存したものとなる。電子放出部6の内部には、
0.1nmの数倍から数十nmの範囲の粒径の導電性微
粒子が存在する場合もある。この導電性微粒子は、導電
性膜5を構成する材料の元素の一部、あるいは全ての元
素を含有するものとなる。また、電子放出部6及びその
近傍の導電性膜5には、炭素及び炭素化合物を有する。
【0044】上述の表面伝導型電子放出素子の製造方法
としては様々な方法があるが、本発明で用いている方法
は、シリカ膜および電子源形成材料をバブルジェット、
またはピエゾジェットなどのインクジエット方式により
吐出し、基板上の電子源が形成されるべき位置に付着さ
せる方法である。この方法で使用されるインクジェット
のヘッドの例を図19(a)および(b)に示す。図1
9(a)は単発ヘッド、(b)は単発ヘッドを並列に配
置し、シリカ層や電子源形成用材料の吐出および基板へ
の付着に要する時間を短縮しようとするものであり、ノ
ズル数は特に限定されるものではない。図中141はイ
ンクジェットヘッド、142はヒーター、143は溶液
流路、144は吐出口、145は溶液供給管である。
としては様々な方法があるが、本発明で用いている方法
は、シリカ膜および電子源形成材料をバブルジェット、
またはピエゾジェットなどのインクジエット方式により
吐出し、基板上の電子源が形成されるべき位置に付着さ
せる方法である。この方法で使用されるインクジェット
のヘッドの例を図19(a)および(b)に示す。図1
9(a)は単発ヘッド、(b)は単発ヘッドを並列に配
置し、シリカ層や電子源形成用材料の吐出および基板へ
の付着に要する時間を短縮しようとするものであり、ノ
ズル数は特に限定されるものではない。図中141はイ
ンクジェットヘッド、142はヒーター、143は溶液
流路、144は吐出口、145は溶液供給管である。
【0045】以下、図1及び図2を参照しながら製造方
法の一例について説明する。図2においても図1に示し
た部位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を
付している。
法の一例について説明する。図2においても図1に示し
た部位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を
付している。
【0046】基板1を洗剤、純水および有機溶剤等を用
いて十分に洗浄した後、素子電極2,3を形成する(図
2(a))。素子電極の形成方法としては、導電体材料
のペーストを印刷法により所望の形状とした後、これを
加熱処理する方法、あるいは金属化合物などの溶液をイ
ンクジェット法により所望の形状となるように基板上に
付与した後、加熱処理により導電性の材質に変化させて
電極を形成する方法、真空蒸着、スパッタ法等により素
子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィー技術
を用いて所定の形状の電極を形成する方法などいずれを
用いてもよく、使用目的等に応じて適宜選択される。
いて十分に洗浄した後、素子電極2,3を形成する(図
2(a))。素子電極の形成方法としては、導電体材料
のペーストを印刷法により所望の形状とした後、これを
加熱処理する方法、あるいは金属化合物などの溶液をイ
ンクジェット法により所望の形状となるように基板上に
付与した後、加熱処理により導電性の材質に変化させて
電極を形成する方法、真空蒸着、スパッタ法等により素
子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィー技術
を用いて所定の形状の電極を形成する方法などいずれを
用いてもよく、使用目的等に応じて適宜選択される。
【0047】続いて、インクジェット装置などの液滴付
与装置8によりシリカ膜の原料となる物質を液滴9とし
て素子電極2,3が形成された基板1上に付与する(図
2(b))。続いてこれを加熱焼成し、シリカ膜4を形
成する(図2(c))。
与装置8によりシリカ膜の原料となる物質を液滴9とし
て素子電極2,3が形成された基板1上に付与する(図
2(b))。続いてこれを加熱焼成し、シリカ膜4を形
成する(図2(c))。
【0048】素子電極2,3、シリカ膜4を設けた基板
1に、不図示のインクジェット装置などの液滴付与装置
により導電性膜の原料となる物質を液滴として付与し、
これを加熱焼成して導電性膜5を形成する(図2
(d))。
1に、不図示のインクジェット装置などの液滴付与装置
により導電性膜の原料となる物質を液滴として付与し、
これを加熱焼成して導電性膜5を形成する(図2
(d))。
【0049】つづいて、フォーミング工程を施す。この
フォーミング工程の方法の一例として通電処理による方
法を説明する。素子電極2,3間に、不図示の電源を用
いて、通電を行うと、導電性薄膜5の部位に、構造の変
化した電子放出部6が形成されはじめる。通電フォーミ
ングによれば導電性膜5に局所的に破壊、変形もしくは
変質等の構造の変化した部位が形成される。該部位が電
子放出部6を構成する。通電フォーミングの電圧波形の
例を図6に示す。
フォーミング工程の方法の一例として通電処理による方
法を説明する。素子電極2,3間に、不図示の電源を用
いて、通電を行うと、導電性薄膜5の部位に、構造の変
化した電子放出部6が形成されはじめる。通電フォーミ
ングによれば導電性膜5に局所的に破壊、変形もしくは
変質等の構造の変化した部位が形成される。該部位が電
子放出部6を構成する。通電フォーミングの電圧波形の
例を図6に示す。
【0050】電圧波形は、パルス波形が、好ましい。こ
れにはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印
加する図6(a)に示した手法とパルス波高値を増加さ
せながら、電圧パルスを印加する図6(b)に示した手
法がある。
れにはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印
加する図6(a)に示した手法とパルス波高値を増加さ
せながら、電圧パルスを印加する図6(b)に示した手
法がある。
【0051】図6(a)おけるT1 及びT2 は電圧波形
のパルス幅とパルス間隔である。通常T1 は1μse
c.〜10msec.、T2 は、10μsec,〜10
msec.の範囲で設定される。三角波の波高値(通電
フオーミング時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出
素形態に応じて適宜選択される。このような条件のも
と、例えば、数秒から数十分間電圧を印加する。パルス
波形は三角波に限定されるものではなく、矩形波など所
望の波形を採用することができる。
のパルス幅とパルス間隔である。通常T1 は1μse
c.〜10msec.、T2 は、10μsec,〜10
msec.の範囲で設定される。三角波の波高値(通電
フオーミング時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出
素形態に応じて適宜選択される。このような条件のも
と、例えば、数秒から数十分間電圧を印加する。パルス
波形は三角波に限定されるものではなく、矩形波など所
望の波形を採用することができる。
【0052】図6(b)におけるT1 及びT2 は、図6
(a)に示したのと同様とすることができる。三角波の
波高値(通電フオーミング時のピーク電圧)は、例えば
0.1Vステップ程度づつ、増加させることができる。
通電フォーミング処理の終了は、パルス間隔T2 中に、
導電性膜5を局所的に破壊、変形しない程度の電圧を印
加し、電流を測定して検知することができる。例えば
0.1V程度の電圧印加により流れる素子電流を測定
し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示した時、フ
ォーミングを終了とした。
(a)に示したのと同様とすることができる。三角波の
波高値(通電フオーミング時のピーク電圧)は、例えば
0.1Vステップ程度づつ、増加させることができる。
通電フォーミング処理の終了は、パルス間隔T2 中に、
導電性膜5を局所的に破壊、変形しない程度の電圧を印
加し、電流を測定して検知することができる。例えば
0.1V程度の電圧印加により流れる素子電流を測定
し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示した時、フ
ォーミングを終了とした。
【0053】以上説明した電子放出部を形成する際に、
素子の電極間に三角波パルスを印加してフォーミング処
理を行っているが、素子の電極間に印加する波形は三角
波に限定することはなく、矩形波などの所望の波形を用
いてもよく、その波高値およびパルス幅、パルス間隔等
についても上述の値に限ることなく、電子放出部が良好
に形成されるように、電子放出素子の抵抗値等にあわせ
て、所望の値を選択する。
素子の電極間に三角波パルスを印加してフォーミング処
理を行っているが、素子の電極間に印加する波形は三角
波に限定することはなく、矩形波などの所望の波形を用
いてもよく、その波高値およびパルス幅、パルス間隔等
についても上述の値に限ることなく、電子放出部が良好
に形成されるように、電子放出素子の抵抗値等にあわせ
て、所望の値を選択する。
【0054】フォーミングを終えた素子には前述活性化
工程と呼ばれる処理を施す。活性化工程は、例えば、有
機物質のガスを含有する雰囲気下で行うが、この雰囲気
は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用い
て真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有機
ガスを利用して形成することができる他、イオンポンプ
などにより一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質
のガスを導入することによっても得られる。このときの
好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真空
容器の形状や、有機物質の種類などにより異なるため場
合に応じ適宜設定される。
工程と呼ばれる処理を施す。活性化工程は、例えば、有
機物質のガスを含有する雰囲気下で行うが、この雰囲気
は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用い
て真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有機
ガスを利用して形成することができる他、イオンポンプ
などにより一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質
のガスを導入することによっても得られる。このときの
好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真空
容器の形状や、有機物質の種類などにより異なるため場
合に応じ適宜設定される。
【0055】適当な有機物質としては、アルカン、アル
ケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素
類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、アミン
類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機酸類等
をあげることが出来、具体的には、メタン、エタン、プ
ロパンなどCn H2n+2で表される飽和炭化水素、エチレ
ン、プロピレンなどCn H2n等の組成式で表される不飽
和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノール、エタノ
ール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エチルアミ
ン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等あるいは
これらの混合物が使用できる。
ケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素
類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、アミン
類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機酸類等
をあげることが出来、具体的には、メタン、エタン、プ
ロパンなどCn H2n+2で表される飽和炭化水素、エチレ
ン、プロピレンなどCn H2n等の組成式で表される不飽
和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノール、エタノ
ール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エチルアミ
ン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等あるいは
これらの混合物が使用できる。
【0056】この活性化処理により、雰囲気中に存在す
る有機物質から、シリカ膜の変質に伴って、炭素或は炭
素化合物が素子上に堆積し、素子電流If 、放出電流I
e が、著しく変化するようになる。活性化工程の終了判
定は、素子電流If と放出電流Ie を測定しながら、適
宜行う。なおパルス幅、パルス間隔、パルス波高値など
は適宜設定される。
る有機物質から、シリカ膜の変質に伴って、炭素或は炭
素化合物が素子上に堆積し、素子電流If 、放出電流I
e が、著しく変化するようになる。活性化工程の終了判
定は、素子電流If と放出電流Ie を測定しながら、適
宜行う。なおパルス幅、パルス間隔、パルス波高値など
は適宜設定される。
【0057】この活性化処理を行う際、導電性膜の基板
側にあるシリカ膜が何らかの役割を果たすと発明者等は
考えている。
側にあるシリカ膜が何らかの役割を果たすと発明者等は
考えている。
【0058】炭素及び炭素化合物とは、例えばグラファ
イト{(いわゆるHOPG’(HOPGはほぼ完全なグ
ラファイトの結晶構造),PG(GCを包含する)(P
Gは結晶粒が200Å程度で結晶構造がやや乱れたも
の、GCは結晶粒が20Å程度になり結晶構造の乱れが
さらに大きくなったものを指す。)}、非晶質カーボン
(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと
前記グラファイトの微結晶の混合物を指す)であり、そ
の膜厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、3
0nm以下の範囲とすることがより好ましい。
イト{(いわゆるHOPG’(HOPGはほぼ完全なグ
ラファイトの結晶構造),PG(GCを包含する)(P
Gは結晶粒が200Å程度で結晶構造がやや乱れたも
の、GCは結晶粒が20Å程度になり結晶構造の乱れが
さらに大きくなったものを指す。)}、非晶質カーボン
(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと
前記グラファイトの微結晶の混合物を指す)であり、そ
の膜厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、3
0nm以下の範囲とすることがより好ましい。
【0059】このような工程を経て得られた電子放出素
子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程は、
真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空容器
を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイルが
素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用しな
いものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープショ
ンポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置をあげること
が出来る。
子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程は、
真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空容器
を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイルが
素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用しな
いものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープショ
ンポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置をあげること
が出来る。
【0060】前記活性化の工程で、排気装置として油拡
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素あるいは炭素化合物がほぼ
新たに堆積しない分圧で1.3×10-6Pa以下が好ま
しく、さらには1.3×10-8Pa以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着し
た有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。この
ときの加熱条件は、80〜250℃好ましくは150℃
以上で、できるだけ長時間処理するのが望ましいが、特
にこの条件に限るものではなく、真空容器の大きさや形
状、電子放出素子の構成などの諸条件により適宜選ばれ
る条件により行う。真空容器内の圧力は極力低くするこ
とが必要で、1.3×10-5Pa以下が好ましく、さら
には1.3×10-6Pa以下が特に好ましい。
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素あるいは炭素化合物がほぼ
新たに堆積しない分圧で1.3×10-6Pa以下が好ま
しく、さらには1.3×10-8Pa以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着し
た有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。この
ときの加熱条件は、80〜250℃好ましくは150℃
以上で、できるだけ長時間処理するのが望ましいが、特
にこの条件に限るものではなく、真空容器の大きさや形
状、電子放出素子の構成などの諸条件により適宜選ばれ
る条件により行う。真空容器内の圧力は極力低くするこ
とが必要で、1.3×10-5Pa以下が好ましく、さら
には1.3×10-6Pa以下が特に好ましい。
【0061】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、また真空容器や基板などに吸着したH2
O,O2 なども除去でき、結果として素子電流If 、放
出電流Ie が、安定する。
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、また真空容器や基板などに吸着したH2
O,O2 なども除去でき、結果として素子電流If 、放
出電流Ie が、安定する。
【0062】上述のような製造方法によって作製された
本発明を適用可能な電子放出素子の基本特性について図
5、図7を用いて説明する。
本発明を適用可能な電子放出素子の基本特性について図
5、図7を用いて説明する。
【0063】図5に示した測定評価装置により測定され
た放出電流Ie 及び素子電流If と素子電圧Vf の典型
的な例を図7に示す。なお、図7は、放出電流Ie は素
子電流If に比べて著しく小さいので、任意単位で示さ
れている。図7からも明らかなように、本電子放出素子
は放出電流Ie に対する三つの性質を有する。
た放出電流Ie 及び素子電流If と素子電圧Vf の典型
的な例を図7に示す。なお、図7は、放出電流Ie は素
子電流If に比べて著しく小さいので、任意単位で示さ
れている。図7からも明らかなように、本電子放出素子
は放出電流Ie に対する三つの性質を有する。
【0064】まず第1に、本素子はある電圧(しきい値
電圧と呼ぶ、図7中のVth)以上の素子電圧を印加する
と急激に放出電流Ie が増加し、一方しきい値電圧Vth
以下では放出電流Ie がほとんど検出されない。すなわ
ち、放出電流Ie に対する明確なしきい値電圧Vthを持
った非線形素子である。
電圧と呼ぶ、図7中のVth)以上の素子電圧を印加する
と急激に放出電流Ie が増加し、一方しきい値電圧Vth
以下では放出電流Ie がほとんど検出されない。すなわ
ち、放出電流Ie に対する明確なしきい値電圧Vthを持
った非線形素子である。
【0065】第2に、放出電流Ie が素子電圧Vf に依
存するため、放出電流Ie は素子電圧Vf で制御でき
る。
存するため、放出電流Ie は素子電圧Vf で制御でき
る。
【0066】第3に、アノード電極44に捕捉される放
出電荷は、素子電圧Vf を印加する時間に依存する。つ
まり、アノード電極44に捕捉される電荷量は、素子電
圧Vf を印加する時間により制御できる。
出電荷は、素子電圧Vf を印加する時間に依存する。つ
まり、アノード電極44に捕捉される電荷量は、素子電
圧Vf を印加する時間により制御できる。
【0067】図7においては、素子電流If が素子電圧
Vf に対して単調増加する(MI特性と呼ぶ)例を実線
に示した。素子電流If が素子電圧Vf に対して電圧制
御型負性抵抗特性(VCNR特性と呼ぶ)を示す場合も
ある(不図示)。これら特性は、前述の工程で制御でき
る。
Vf に対して単調増加する(MI特性と呼ぶ)例を実線
に示した。素子電流If が素子電圧Vf に対して電圧制
御型負性抵抗特性(VCNR特性と呼ぶ)を示す場合も
ある(不図示)。これら特性は、前述の工程で制御でき
る。
【0068】以上のような表面伝導型電子放出素子の特
性を用いると、入力信号に応じて電子放出特性を容易に
制御できることになる。さらに、本発明にかかわる電子
放出素子は、長時間にわたって安定かつ高輝度な電子放
出特性を有するため、多方面への応用が期待できる。
性を用いると、入力信号に応じて電子放出特性を容易に
制御できることになる。さらに、本発明にかかわる電子
放出素子は、長時間にわたって安定かつ高輝度な電子放
出特性を有するため、多方面への応用が期待できる。
【0069】本発明を適用可能な電子放出素子の応用例
について以下に述べる。
について以下に述べる。
【0070】本発明による表面伝導型電子放出素子の複
数個を基板上に配列し、例えば電子源あるいは、画像形
成装置を構成できる。
数個を基板上に配列し、例えば電子源あるいは、画像形
成装置を構成できる。
【0071】基板上の素子の配列については、例えば、
多数の電子放出素子を並列に配置し、個々の素子の両端
を配線にて結線した、電子放出素子の行を多数個配し
(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向(列方向と
呼ぶ)で、該電子源の上方の空間に設置した制御電極
(グリッドと呼ぶ)により、電子を制御駆動する配列形
態(はしご型という)、及び次に述べるm本のX方向配
線の上にn本のY方向配線を、層間絶縁層を介して設置
し、表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極にそれぞ
れ、X方向配線、Y方向配線を接続した配列形態があげ
られる。以降これを単純マトリクス配置と呼ぶ。
多数の電子放出素子を並列に配置し、個々の素子の両端
を配線にて結線した、電子放出素子の行を多数個配し
(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向(列方向と
呼ぶ)で、該電子源の上方の空間に設置した制御電極
(グリッドと呼ぶ)により、電子を制御駆動する配列形
態(はしご型という)、及び次に述べるm本のX方向配
線の上にn本のY方向配線を、層間絶縁層を介して設置
し、表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極にそれぞ
れ、X方向配線、Y方向配線を接続した配列形態があげ
られる。以降これを単純マトリクス配置と呼ぶ。
【0072】次に、この単純マトリクス配置について詳
述する。本発明の表面伝導型電子放出素子については、
前述した通り3つの基本的特徴によれば、表面伝導型電
子放出素子からの放出電子は、しきい値電圧以上では、
対向する素子電極間に印加するパルス状電圧の波高値と
幅で制御できる。一方、しきい値電圧以下では、殆ど放
出されない。この特性によれば、多数の電子放出素子を
配置した場合においても、個々の素子に、上記パルス状
電圧を適宜印加すれば、入力信号に応じて、表面伝導型
電子放出素子を選択して電子放出量が制御できることと
なる。
述する。本発明の表面伝導型電子放出素子については、
前述した通り3つの基本的特徴によれば、表面伝導型電
子放出素子からの放出電子は、しきい値電圧以上では、
対向する素子電極間に印加するパルス状電圧の波高値と
幅で制御できる。一方、しきい値電圧以下では、殆ど放
出されない。この特性によれば、多数の電子放出素子を
配置した場合においても、個々の素子に、上記パルス状
電圧を適宜印加すれば、入力信号に応じて、表面伝導型
電子放出素子を選択して電子放出量が制御できることと
なる。
【0073】以下この原理に基づき構成した電子源基板
の構成について、図8を用いて説明する。図8におい
て、71は電子源基板、72はX方向配線、73はY方
向配線である。74は電子放出素子、75は結線であ
る。
の構成について、図8を用いて説明する。図8におい
て、71は電子源基板、72はX方向配線、73はY方
向配線である。74は電子放出素子、75は結線であ
る。
【0074】m本のX方向配線72は、Dx1,Dx2,…
…,Dxmからなり、絶縁性基板上に真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等で形成し、所望のパターンとした導電
性金属等からなり、多数の表面伝導型電子放出素子にほ
ぼ均等な電圧が供給されるように、材料、膜厚、配線幅
等が設計される。これらm本のX方向配線72とn本の
Y方向配線73間には、不図示の層間絶縁層が設置さ
れ、電気的に分離されて、マトリックス配線を構成する
(このm,nは,共に正の整数)。
…,Dxmからなり、絶縁性基板上に真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等で形成し、所望のパターンとした導電
性金属等からなり、多数の表面伝導型電子放出素子にほ
ぼ均等な電圧が供給されるように、材料、膜厚、配線幅
等が設計される。これらm本のX方向配線72とn本の
Y方向配線73間には、不図示の層間絶縁層が設置さ
れ、電気的に分離されて、マトリックス配線を構成する
(このm,nは,共に正の整数)。
【0075】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等であ
り、X方向配線72を形成した基板71の全面或は一部
に所望の形状で形成され、特に、X方向配線72とY方
向配線73の交差部の電位差に耐え得るように、膜厚、
材料、製法が適宜設定される。X方向配線72とY方向
配線73は、それぞれ外部端子として引き出されてい
る。
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等であ
り、X方向配線72を形成した基板71の全面或は一部
に所望の形状で形成され、特に、X方向配線72とY方
向配線73の交差部の電位差に耐え得るように、膜厚、
材料、製法が適宜設定される。X方向配線72とY方向
配線73は、それぞれ外部端子として引き出されてい
る。
【0076】さらに、前述と同様にして、表面伝導型放
出素子74の対向する電極(不図示)が、m本のX方向
配線72(DX1,DX2,,,DXm)とn本のY方向配線
73(DY1,DY2,,,Dyn)と導電性金属等からなる
結線75によって電気的に接続されているものである。
出素子74の対向する電極(不図示)が、m本のX方向
配線72(DX1,DX2,,,DXm)とn本のY方向配線
73(DY1,DY2,,,Dyn)と導電性金属等からなる
結線75によって電気的に接続されているものである。
【0077】ここで、m本のX方向配線72とn本のY
方向配締73と結線75と対向する素子電極の導電性金
属は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、またそれぞれ異なってもよい。これら材料は、例え
ば前述の素子電極の材料より適宜選択される。
方向配締73と結線75と対向する素子電極の導電性金
属は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、またそれぞれ異なってもよい。これら材料は、例え
ば前述の素子電極の材料より適宜選択される。
【0078】また、詳しくは後述するが、前記X方向配
線72には、X方向に配列した表面伝導型放出素子74
の行を、入力信号に応じて、走査するための走査信号を
印加するための不図示の走査信号印加手段と電気的に接
続され、一方、Y方向配線73には、Y方向に配列した
表面伝導型放出素子74の各列を入力信号に応じて、変
調するための、不図示の変調信号発生手段と電気的に接
続される。
線72には、X方向に配列した表面伝導型放出素子74
の行を、入力信号に応じて、走査するための走査信号を
印加するための不図示の走査信号印加手段と電気的に接
続され、一方、Y方向配線73には、Y方向に配列した
表面伝導型放出素子74の各列を入力信号に応じて、変
調するための、不図示の変調信号発生手段と電気的に接
続される。
【0079】さらに、表面伝導型放出素子の各素子に印
加される駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と
変調信号の差電圧として供給されるものである。
加される駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と
変調信号の差電圧として供給されるものである。
【0080】次に、以上のようにして作製した電子源基
板を用いた電子源、及び、表示等に用いる画像形成装置
について図9と図10を用いて説明する。図9は、画像
形成装置の基本構成図であり、図10は蛍光膜である。
板を用いた電子源、及び、表示等に用いる画像形成装置
について図9と図10を用いて説明する。図9は、画像
形成装置の基本構成図であり、図10は蛍光膜である。
【0081】図9において、71は電子放出素子を複数
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82には、リアプ
レート81、フェースプレート86がフリットガラス等
を用いて接続されている。88は外囲器であり、例えば
大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範囲
で10分間以上焼成することで、封着して構成される。
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82には、リアプ
レート81、フェースプレート86がフリットガラス等
を用いて接続されている。88は外囲器であり、例えば
大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範囲
で10分間以上焼成することで、封着して構成される。
【0082】図9において、74は、図1あるいは図2
に示された表面伝導型電子放出部に相当する。72、7
3は、表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続
されたX方向配線及びY方向配線である。また、これら
素子電極への配線は、素子電極と配線材料が同一である
場合は、素子電極と呼ぶ場合もある。
に示された表面伝導型電子放出部に相当する。72、7
3は、表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続
されたX方向配線及びY方向配線である。また、これら
素子電極への配線は、素子電極と配線材料が同一である
場合は、素子電極と呼ぶ場合もある。
【0083】外囲器88は、上述の如く、フェースプレ
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。この様な場合でも、シリカ膜を基
板全面ではなく、主として導電性膜の基板側のみに形成
しているため、支持枠82と基板71、フエースプレー
トの基板83の材質をそろえることによって、封着強度
が向上し、十分な強度を持った外囲器88が形成され
る。
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。この様な場合でも、シリカ膜を基
板全面ではなく、主として導電性膜の基板側のみに形成
しているため、支持枠82と基板71、フエースプレー
トの基板83の材質をそろえることによって、封着強度
が向上し、十分な強度を持った外囲器88が形成され
る。
【0084】一方、フェースプレート86とリアプレー
ト81の間に、スぺーサーと呼ばれる不図示の支持体を
設置することにより、大気圧に対して十分な強度をもつ
外囲器88を構成することもできる。
ト81の間に、スぺーサーと呼ばれる不図示の支持体を
設置することにより、大気圧に対して十分な強度をもつ
外囲器88を構成することもできる。
【0085】図10は、蛍光膜を示す模式図である。蛍
光膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列により、ブラックストライプ(図10(a))あるい
はブラックマトリクス(図10(b))等と呼ばれる黒
色導電材91と蛍光体92とから構成することができ
る。ブラックストライプ、ブラックマトリクスを設ける
目的は、カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の
各蛍光体92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を
目立たなくすることと、蛍光膜84における外光反射に
よるコントラストの低下を抑制することにある。黒色導
電材91の材料としては、通常用いられている黒鉛を主
成分とする材料の他、導電性があり、光の透過及び反射
が少ない材料を用いることができる。
光膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列により、ブラックストライプ(図10(a))あるい
はブラックマトリクス(図10(b))等と呼ばれる黒
色導電材91と蛍光体92とから構成することができ
る。ブラックストライプ、ブラックマトリクスを設ける
目的は、カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の
各蛍光体92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を
目立たなくすることと、蛍光膜84における外光反射に
よるコントラストの低下を抑制することにある。黒色導
電材91の材料としては、通常用いられている黒鉛を主
成分とする材料の他、導電性があり、光の透過及び反射
が少ない材料を用いることができる。
【0086】ガラス基板83に蛍光体を塗布する方法
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。また、蛍光膜84の内面側には、通常メ
タルバック85が設けられる。メタルバックを設ける目
的は、蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレ
ート86側へ鏡面反射することにより輝度を向上させる
こと、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として
作用させること、外囲器内で発生した負イオンの衝突に
よるダメージから蛍光体を保護すること等である。メタ
ルバックは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑
化処理(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行
い、その後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで
作製できる。
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。また、蛍光膜84の内面側には、通常メ
タルバック85が設けられる。メタルバックを設ける目
的は、蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレ
ート86側へ鏡面反射することにより輝度を向上させる
こと、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として
作用させること、外囲器内で発生した負イオンの衝突に
よるダメージから蛍光体を保護すること等である。メタ
ルバックは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑
化処理(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行
い、その後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで
作製できる。
【0087】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0088】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが必要となる。
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが必要となる。
【0089】外囲器88は、不図示の排気管を通じ、
1.3×10-5Pa程度の真空度にした後、封止がおこ
なわれる。また、外囲器88の封止後の真空度を維持す
るために、ゲッター処理を行なう場合もある。これは、
外囲器88の封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加
熱あるいは高周波加熱等の加熱法により、外囲器98内
の所定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱
し、蒸着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba
等が主成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、たとえ
ば1.3×10-3ないしは1.3×10-7Paの真空度
を維持するものである。
1.3×10-5Pa程度の真空度にした後、封止がおこ
なわれる。また、外囲器88の封止後の真空度を維持す
るために、ゲッター処理を行なう場合もある。これは、
外囲器88の封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加
熱あるいは高周波加熱等の加熱法により、外囲器98内
の所定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱
し、蒸着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba
等が主成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、たとえ
ば1.3×10-3ないしは1.3×10-7Paの真空度
を維持するものである。
【0090】以上により完成した本発明の画像表示装置
において、各電子放出素子には、容器外端子Dox1 ない
しDoxm 、Doy1 ないしDoyn を通じ、電圧を印加する
ことにより、電子放出させ、高圧端子87を通じ、メタ
ルバック85あるいは透明電極(不図示)に数kV以上
の高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝
突させ、励起・発光させることで画像を表示するもので
ある。
において、各電子放出素子には、容器外端子Dox1 ない
しDoxm 、Doy1 ないしDoyn を通じ、電圧を印加する
ことにより、電子放出させ、高圧端子87を通じ、メタ
ルバック85あるいは透明電極(不図示)に数kV以上
の高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝
突させ、励起・発光させることで画像を表示するもので
ある。
【0091】なお、以上述べた構成は、表示等に用いら
れる好適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成
であり、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内容
に限られるものではなく、画像装置の用途に適するよう
適宜選択する。
れる好適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成
であり、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内容
に限られるものではなく、画像装置の用途に適するよう
適宜選択する。
【0092】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図11を用いて説明する。
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図11を用いて説明する。
【0093】図11は、NTSC方式のテレビ信号に応
じて表示を行なうための駆動回路の一例を示すブロック
図であり、図11中、101は表示パネル、102は走
査信号発生回路、103はタイミング制御回路、104
はシフトレジスタ、105はラインメモリ、106は同
期信号分離回路、107は変調信号発生器回路、Vx及
びVaは直流電圧源である。
じて表示を行なうための駆動回路の一例を示すブロック
図であり、図11中、101は表示パネル、102は走
査信号発生回路、103はタイミング制御回路、104
はシフトレジスタ、105はラインメモリ、106は同
期信号分離回路、107は変調信号発生器回路、Vx及
びVaは直流電圧源である。
【0094】表示パネル101は、端子Dox1 乃至D
oxm 、端子Doy1 乃至Doyn 及び高圧端子87を介して
外部の電気回路と接続している。端子Dox1 乃至Doxm
には、表示パネル101内に設けられている電子源、即
ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された表面伝導
型電子放出素子群を一行(n素子)ずつ順次駆動する為
の走査信号が印加される。端子Doy1 乃至Doyn には、
前記走査信号により選択された1行の表面伝導型電子放
出素子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信
号が印加される。高圧端子87には、直流電圧源Vaよ
り、例えば10kVの直流電圧が供給されるが、これは
表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビームに、
蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する為の
加速電圧である。
oxm 、端子Doy1 乃至Doyn 及び高圧端子87を介して
外部の電気回路と接続している。端子Dox1 乃至Doxm
には、表示パネル101内に設けられている電子源、即
ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された表面伝導
型電子放出素子群を一行(n素子)ずつ順次駆動する為
の走査信号が印加される。端子Doy1 乃至Doyn には、
前記走査信号により選択された1行の表面伝導型電子放
出素子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信
号が印加される。高圧端子87には、直流電圧源Vaよ
り、例えば10kVの直流電圧が供給されるが、これは
表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビームに、
蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する為の
加速電圧である。
【0095】走査信号発生回路102について説明す
る。同回路は、内部にm個のスイッチング素子(図中、
S1 乃至Sm で模式的に示している)を備えたものであ
る。各スイッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電
圧もしくは0[V](グランドレベル)のいずれか一方
を選択し、表示パネル101の端子Dox1 乃至Doxm と
電気的に接続される。S1 乃至Sm の各スイッチング素
子は、タイミング制御回路103が出力する制御信号T
scanに基づいて動作するものであり、例えばFETのよ
うなスイッチング素子を組み合わせることにより構成す
ることができる。
る。同回路は、内部にm個のスイッチング素子(図中、
S1 乃至Sm で模式的に示している)を備えたものであ
る。各スイッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電
圧もしくは0[V](グランドレベル)のいずれか一方
を選択し、表示パネル101の端子Dox1 乃至Doxm と
電気的に接続される。S1 乃至Sm の各スイッチング素
子は、タイミング制御回路103が出力する制御信号T
scanに基づいて動作するものであり、例えばFETのよ
うなスイッチング素子を組み合わせることにより構成す
ることができる。
【0096】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝
導型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基
づき、走査されていない素子に印加される駆動電圧が電
子放出しきいしきい値電圧以下となるような一定電圧を
出力するよう設定されている。
導型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基
づき、走査されていない素子に印加される駆動電圧が電
子放出しきいしきい値電圧以下となるような一定電圧を
出力するよう設定されている。
【0097】タイミング制御回路103は、外部より入
力される画像信号に基づいて適切な表示が行われるよう
に、各部の動作を整合させる機能を有する。タイミング
制御回路103は、同期信号分離回路106より送られ
る同期信号Tsyncに基づいて、各部に対してTscan,T
sft 及びTmry の各制御信号を発生する。
力される画像信号に基づいて適切な表示が行われるよう
に、各部の動作を整合させる機能を有する。タイミング
制御回路103は、同期信号分離回路106より送られ
る同期信号Tsyncに基づいて、各部に対してTscan,T
sft 及びTmry の各制御信号を発生する。
【0098】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号から分
離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信号と
表した。このDATA信号は、シフトレジスタ104に
入力される。
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号から分
離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信号と
表した。このDATA信号は、シフトレジスタ104に
入力される。
【0099】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記タ
イミング制御回路103より送られる制御信号Tsft に
基づいて動作する(即ち、制御信号Tsft は、シフトレ
ジスタ104のシフトクロックであるということもでき
る)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分の
データ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフトレ
ジスタ104より出力される。
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記タ
イミング制御回路103より送られる制御信号Tsft に
基づいて動作する(即ち、制御信号Tsft は、シフトレ
ジスタ104のシフトクロックであるということもでき
る)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分の
データ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフトレ
ジスタ104より出力される。
【0100】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、タイミング制御回路103より送られる制御信号T
mry に従って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶
された内容は、Id'1 乃至Id'n として出力され、変調
信号発生器107に入力される。
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、タイミング制御回路103より送られる制御信号T
mry に従って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶
された内容は、Id'1 乃至Id'n として出力され、変調
信号発生器107に入力される。
【0101】変調信号発生器107は、画像データI
d'1 乃至Id'n の各々に応じて、電子放出素子の各々を
適切に駆動変調する為の信号源であり、その出力信号
は、端子Doy1 乃至Doyn を通じて表示パネル101内
の表面伝導型電子放出素子に印加される。
d'1 乃至Id'n の各々に応じて、電子放出素子の各々を
適切に駆動変調する為の信号源であり、その出力信号
は、端子Doy1 乃至Doyn を通じて表示パネル101内
の表面伝導型電子放出素子に印加される。
【0102】前述したように、本発明の表面伝導型電子
放出素子は放出電流Ie に関して以下の基本特性を有し
ている。即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vthが
あり、Vth以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生
じる。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、素子へ
の印加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。このこ
とから、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、例え
ば電子放出しきい値電圧以下の電圧を印加しても電子放
出は生じないが、電子放出しきい値電圧以上の電圧を印
加する場合には電子ビームが出力される。その際、パル
スの波高値Vmを変化させることにより、出力電子ビー
ムの強度を制御することが可能である。また、パルスの
幅Pwを変化させることにより、出力される電子ビーム
の電荷の総量を制御することが可能である。
放出素子は放出電流Ie に関して以下の基本特性を有し
ている。即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vthが
あり、Vth以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生
じる。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、素子へ
の印加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。このこ
とから、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、例え
ば電子放出しきい値電圧以下の電圧を印加しても電子放
出は生じないが、電子放出しきい値電圧以上の電圧を印
加する場合には電子ビームが出力される。その際、パル
スの波高値Vmを変化させることにより、出力電子ビー
ムの強度を制御することが可能である。また、パルスの
幅Pwを変化させることにより、出力される電子ビーム
の電荷の総量を制御することが可能である。
【0103】従って、入力信号に応じて電子放出素子を
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
【0104】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0105】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を表面伝導型
電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅
器を付加することもできる。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を表面伝導型
電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅
器を付加することもできる。
【0106】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
【0107】このような構成をとり得る本発明の画像形
成装置においては、各電子放出素子に、容器外端子D
ox1 乃至Doxm 、Doy1 乃至Doyn を介して電圧を印加
することにより、電子放出が生じる。高圧端子87を介
してメタルバック85あるいは透明電極(不図示)に高
圧を印加し、電子ビームを加速する。加速された電子
は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形成され
る。
成装置においては、各電子放出素子に、容器外端子D
ox1 乃至Doxm 、Doy1 乃至Doyn を介して電圧を印加
することにより、電子放出が生じる。高圧端子87を介
してメタルバック85あるいは透明電極(不図示)に高
圧を印加し、電子ビームを加速する。加速された電子
は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形成され
る。
【0108】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明の画像形成装置の一例であり、本発明の技術思想に基
づいて種々の変形が可能である。入力信号についてはN
TSC方式をあげたが、入力信号はこれに限られるもの
ではなく、PAI、SECAM方式等の他、これらより
も多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方
式をはじめとする高品位TV)方式をも採用できる。
明の画像形成装置の一例であり、本発明の技術思想に基
づいて種々の変形が可能である。入力信号についてはN
TSC方式をあげたが、入力信号はこれに限られるもの
ではなく、PAI、SECAM方式等の他、これらより
も多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方
式をはじめとする高品位TV)方式をも採用できる。
【0109】以上説明した本発明の画像形成装置は、テ
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
【0110】
【実施例】以下に、具体的な実施例をあげて本発明を説
明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるもので
はなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素の
置換や設計変更がなされたものをも包含する。
明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるもので
はなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素の
置換や設計変更がなされたものをも包含する。
【0111】[実施例1]本発明に係わる表面伝導型電
子放出素子の構造は、図1(a)、(b)ほ平面図及び
断面図と同様で、また表面伝導型電子放出素子の製造法
は、基本的には図2と同様である。以下、図1、図2を
用いて、本発明に関わる素子の基本的な構成及び製造法
を説明する。
子放出素子の構造は、図1(a)、(b)ほ平面図及び
断面図と同様で、また表面伝導型電子放出素子の製造法
は、基本的には図2と同様である。以下、図1、図2を
用いて、本発明に関わる素子の基本的な構成及び製造法
を説明する。
【0112】本実施例において使用したシリカ膜形成用
インク(インクA)はジメチルシリコーンオイルをシリ
コン濃度が10wt%となるよう水に溶解したものを用
いた。導電性膜形成用インク(インクB)としては、酢
酸パラジウムモノエタノールアミン(PAME)を金属
濃度が2wt%となるように水に溶解したものを用い
た。実際の電子源の作成に先立ち、インクジェット装置
の吐出条件を調整する。
インク(インクA)はジメチルシリコーンオイルをシリ
コン濃度が10wt%となるよう水に溶解したものを用
いた。導電性膜形成用インク(インクB)としては、酢
酸パラジウムモノエタノールアミン(PAME)を金属
濃度が2wt%となるように水に溶解したものを用い
た。実際の電子源の作成に先立ち、インクジェット装置
の吐出条件を調整する。
【0113】すなわち、上記2種類のインクをそれぞれ
圧電素子を用いたインクジェット装置に充填するさらに
下記の工程で電子源用の基板として使用するガラスと同
じものを用意し、これにインクAを吐出させ、ドットを
形成、その後大気中360℃、20分間の熱処理を行
う。これにより形成されたドットの厚さと直径を測定
し、シリカ膜の膜厚が100nm、ドットの直径が約3
0μmとなるように吐出条件を定めた。次に、このシリ
カ膜が形成された青板基板に、インクBを吐出させ、同
様に導電性膜の膜厚が20nm、ドットの直径が約40
μmとなるように吐出条件を定めた。
圧電素子を用いたインクジェット装置に充填するさらに
下記の工程で電子源用の基板として使用するガラスと同
じものを用意し、これにインクAを吐出させ、ドットを
形成、その後大気中360℃、20分間の熱処理を行
う。これにより形成されたドットの厚さと直径を測定
し、シリカ膜の膜厚が100nm、ドットの直径が約3
0μmとなるように吐出条件を定めた。次に、このシリ
カ膜が形成された青板基板に、インクBを吐出させ、同
様に導電性膜の膜厚が20nm、ドットの直径が約40
μmとなるように吐出条件を定めた。
【0114】図1において1は基板、2と3は素子電
極、4はシリカ膜、5は導電性膜、6は電子放出部であ
る。以下、順を追って製造方法の説明を図1及び図2に
基づいて説明する。
極、4はシリカ膜、5は導電性膜、6は電子放出部であ
る。以下、順を追って製造方法の説明を図1及び図2に
基づいて説明する。
【0115】工程−(a) 7059ガラス基板(コーニング社製)を十分に洗浄、
乾燥させた後、真空成膜およびフォトリソグラフィーの
技術により、基板1上に素子電極2,3と所望の素子電
極間ギャップLとなるべきパターンをホトレジスト(R
D―2000N−41日立化成社製)で形成し、真空蒸
着法により、厚さ5nmのTi、厚さ100nmのNi
を順次堆積した。ホトレジストパターンを有機溶剤で溶
解しNi/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電極間隔L
は20μmとし、素子電極の幅Wが200μmを有する
素子電極2,3を形成した。
乾燥させた後、真空成膜およびフォトリソグラフィーの
技術により、基板1上に素子電極2,3と所望の素子電
極間ギャップLとなるべきパターンをホトレジスト(R
D―2000N−41日立化成社製)で形成し、真空蒸
着法により、厚さ5nmのTi、厚さ100nmのNi
を順次堆積した。ホトレジストパターンを有機溶剤で溶
解しNi/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電極間隔L
は20μmとし、素子電極の幅Wが200μmを有する
素子電極2,3を形成した。
【0116】工程−(b) インクジェット装置によりインクAのドットを形成す
る。これは図1のシリカ膜4に対応するドットである。
ドットの中心を素子電極2,3のほぼ中心となるよう形
成した。続いて、大気中360℃、20分間の加熱処理
を行う。これによりシリカを主成分とするシリカ膜4が
形成される。厚みは100nm、ドット径は30μmと
した。
る。これは図1のシリカ膜4に対応するドットである。
ドットの中心を素子電極2,3のほぼ中心となるよう形
成した。続いて、大気中360℃、20分間の加熱処理
を行う。これによりシリカを主成分とするシリカ膜4が
形成される。厚みは100nm、ドット径は30μmと
した。
【0117】工程―(c) 上記シリカ膜が形成された電極基板上にインクジェット
装置によりインクBのドットを形成する。これは、図1
の導電性膜5に対応するドットである。ドットの中心は
シリカ膜の中心にあわせて形成し、300℃で12分間
の加熱焼成処理をした。こうして形成された主元素とし
てPdよりなる導電性薄膜5の膜厚は10nm、ドット
径40μm、シート抵抗値は2×104 Ω/□であっ
た。
装置によりインクBのドットを形成する。これは、図1
の導電性膜5に対応するドットである。ドットの中心は
シリカ膜の中心にあわせて形成し、300℃で12分間
の加熱焼成処理をした。こうして形成された主元素とし
てPdよりなる導電性薄膜5の膜厚は10nm、ドット
径40μm、シート抵抗値は2×104 Ω/□であっ
た。
【0118】以上の工程により基板1上に、素子電極
2,3、シリカ膜4、導電性薄膜5を形成した。
2,3、シリカ膜4、導電性薄膜5を形成した。
【0119】また、シリカ膜の形成されていない同様の
素子電極基板上にも同様に導電性膜5を形成し、比較用
素子とした。
素子電極基板上にも同様に導電性膜5を形成し、比較用
素子とした。
【0120】工程−(d) 次に、図5の測定評価装置に設置し、真空ポンプにて排
気し、2.7×10-3Paの真空度に達した後、素子に
素子電圧Vf を印加するための電源41より、素子の素
子電極2,3間に電圧を印加し、フォーミング処理を行
なった。フォーミング処理の電圧波形は図6の(b)に
示したものである。
気し、2.7×10-3Paの真空度に達した後、素子に
素子電圧Vf を印加するための電源41より、素子の素
子電極2,3間に電圧を印加し、フォーミング処理を行
なった。フォーミング処理の電圧波形は図6の(b)に
示したものである。
【0121】図6の(b)中、Tl 及びT2 は電圧波形
のパルス幅とパルス間隔であり、本実施例ではT1 を1
msec、T2 を10msecとし、矩形波の波高値
(フォーミング時のピーク電圧)は0.1Vステップで
昇圧し、フオーミング処理を行なった。また、フォーミ
ング処理中は、同時に、0.1Vの電圧でT2 間に抵抗
測定パルスを挿入し、抵抗を測定した。尚フォーミング
処理の終了は、抵抗測定パルスでの測定値が、約1MΩ
以上になった時とし、同時に、素子への電圧の印加を終
了した。この後、素子を真空中に保持したまま、150
℃で5時間のアニーリングをして安定化工程を施した。
のパルス幅とパルス間隔であり、本実施例ではT1 を1
msec、T2 を10msecとし、矩形波の波高値
(フォーミング時のピーク電圧)は0.1Vステップで
昇圧し、フオーミング処理を行なった。また、フォーミ
ング処理中は、同時に、0.1Vの電圧でT2 間に抵抗
測定パルスを挿入し、抵抗を測定した。尚フォーミング
処理の終了は、抵抗測定パルスでの測定値が、約1MΩ
以上になった時とし、同時に、素子への電圧の印加を終
了した。この後、素子を真空中に保持したまま、150
℃で5時間のアニーリングをして安定化工程を施した。
【0122】なお、この安定化工程後、評価装置の真空
度は1.3×10-7Pa程度まで達した。
度は1.3×10-7Pa程度まで達した。
【0123】工程−(e) 続いて、活性化工程を行なうために、あらかじめ有機物
質をアンプルに封じたものをスローリークバルブを通し
て真空内に導入し、1.3×10-4Paを維持した。次
にフォーミング処理した素子に、図12に示した波形で
波高値を14Vで活性化処理をした。すなわち、測定評
価装置内で、素子電流If を測定しながら、素子電極間
にパルス電圧を印加した。約30分でIf 値がほぼ飽和
したため、通電を停止し、スローリークバルブを閉め、
活性化処理を終了した。こうして、電子放出部6を形成
し電子放出素子を作製し、電子放出特性を評価した。
質をアンプルに封じたものをスローリークバルブを通し
て真空内に導入し、1.3×10-4Paを維持した。次
にフォーミング処理した素子に、図12に示した波形で
波高値を14Vで活性化処理をした。すなわち、測定評
価装置内で、素子電流If を測定しながら、素子電極間
にパルス電圧を印加した。約30分でIf 値がほぼ飽和
したため、通電を停止し、スローリークバルブを閉め、
活性化処理を終了した。こうして、電子放出部6を形成
し電子放出素子を作製し、電子放出特性を評価した。
【0124】なお、アノード電極と電子放出素子間の距
離を4mm、アノード電極の電位を1kV、電子放出特
性測定時の真空装置内の真空度を1.3×10-7Paと
し、素子の電極2及び3の間に素子電圧を14V印加し
た。本実施例のシリカ膜4を形成した素子は、測定開始
直後に5mA程度の素子電流If 、及び12μA程度の
放出電流Ie が観測され、電子放出効率η=Ie /If
×100(%)は0.24%であった。シリカ膜4が形
成されていない比較用素子では、測定開始直後にやはり
5mA程度の素子電流If 、及び10μA程度の放出電
流Ie が観測され、電子放出効率η=Ie /If ×10
0(%)は0.20%であった。
離を4mm、アノード電極の電位を1kV、電子放出特
性測定時の真空装置内の真空度を1.3×10-7Paと
し、素子の電極2及び3の間に素子電圧を14V印加し
た。本実施例のシリカ膜4を形成した素子は、測定開始
直後に5mA程度の素子電流If 、及び12μA程度の
放出電流Ie が観測され、電子放出効率η=Ie /If
×100(%)は0.24%であった。シリカ膜4が形
成されていない比較用素子では、測定開始直後にやはり
5mA程度の素子電流If 、及び10μA程度の放出電
流Ie が観測され、電子放出効率η=Ie /If ×10
0(%)は0.20%であった。
【0125】さらに、本実施例の素子を駆勤し続けたと
ころ、特性は数分で安定化し、素子電流If =4mA、
放出電流Ie =10μA、効率η=0.25%の特性を
維持した。一方、比較用素子を同様に駆勤し続けたとこ
ろ、特性は数十分で安定したが、素子電流If =2.5
mA、Ie =4.5μA、効率η=0.18%の特性と
なった。
ころ、特性は数分で安定化し、素子電流If =4mA、
放出電流Ie =10μA、効率η=0.25%の特性を
維持した。一方、比較用素子を同様に駆勤し続けたとこ
ろ、特性は数十分で安定したが、素子電流If =2.5
mA、Ie =4.5μA、効率η=0.18%の特性と
なった。
【0126】以上より、本実施例の素子は、比較用素子
に比べて、初期の特性における優位性は小さいものの、
安定性に優れ、安定後の特性の良い電子放出素子である
ことがわかる。
に比べて、初期の特性における優位性は小さいものの、
安定性に優れ、安定後の特性の良い電子放出素子である
ことがわかる。
【0127】また、上記工程で作製した本実施例の素子
の電子放出部6を含む領域の断面を透過型電子顕微鏡で
観察した。導電性膜5の変質だけでなく、シリカ膜4の
変質を伴う電子放出部6が形成されていた。シリカ膜変
質の深さは、約30nmであった。
の電子放出部6を含む領域の断面を透過型電子顕微鏡で
観察した。導電性膜5の変質だけでなく、シリカ膜4の
変質を伴う電子放出部6が形成されていた。シリカ膜変
質の深さは、約30nmであった。
【0128】比較用素子の断面も同様に透過型電子顕微
鏡で観察したところ、基板1は、大きくえぐれ、変質の
深さは60nmであった。この素子の変質部の元素分析
を透過型電子顕微鏡中で行ったところ、7059基板の
構成元素であるAl(アルミ)とB(ホウ素)の比は変
わらなかったが、これらの元素に対するSi(シリコ
ン)の減少が認められた。
鏡で観察したところ、基板1は、大きくえぐれ、変質の
深さは60nmであった。この素子の変質部の元素分析
を透過型電子顕微鏡中で行ったところ、7059基板の
構成元素であるAl(アルミ)とB(ホウ素)の比は変
わらなかったが、これらの元素に対するSi(シリコ
ン)の減少が認められた。
【0129】これらの観察結果から、本実施例の素子で
は、シリカ膜4の存在によって電子放出部6の基板に与
える変質がほとんどなく、電子放出特性の安定性に寄与
している事が分かった。
は、シリカ膜4の存在によって電子放出部6の基板に与
える変質がほとんどなく、電子放出特性の安定性に寄与
している事が分かった。
【0130】以上のように本実施例では、長時間にわた
り安定な電子放出特性が得られた。
り安定な電子放出特性が得られた。
【0131】[実施例2]本実施例は、図3と基本的に
同様の構成を有する素子を作成したものである。基板1
は、青板基板を用いた。電極間隔を10μmとし、イン
クAを用いて直径12μmのシリカ膜4のドットを一対
の電極2,3と平行に3個並べたものである。その上に
インクBを用いて直径20μmの導電性膜5を形成し
た。実施例1と同様にフォーミング、活性化を行い電子
放出部6を形成した。
同様の構成を有する素子を作成したものである。基板1
は、青板基板を用いた。電極間隔を10μmとし、イン
クAを用いて直径12μmのシリカ膜4のドットを一対
の電極2,3と平行に3個並べたものである。その上に
インクBを用いて直径20μmの導電性膜5を形成し
た。実施例1と同様にフォーミング、活性化を行い電子
放出部6を形成した。
【0132】実施例1と同様に電子放出特性を評価し、
素子を駆動し続けたところ、特性は数分で安定化し、素
子電流If =4mA、放出電流Ie =10μA、効率η
=0.25%の特性を維持した。
素子を駆動し続けたところ、特性は数分で安定化し、素
子電流If =4mA、放出電流Ie =10μA、効率η
=0.25%の特性を維持した。
【0133】[実施例3]本実施例は、図4と基本的に
同等の構成を有する素子を作成したものである。基板は
青板基板を用いた。電極間隔を40μmとし、インクA
を用いて直径55μmのシリカ膜4のドットを一対の電
極ギャップ2,3のほぼ中央に形成した。次に、インク
Bを用いて電極2のエッジから約6μmの位置を中心と
して直径約37μmの導電性膜5−1を、さらに、イン
クBを水によって3倍に希釈したインクCを用いて電極
3のエッジから約6μmの位置を中心として直径約37
μmの導電性膜5−2をそれぞれ形成した。実施例1と
同様にフォーミング、活性化を行い電子放出部6を形成
した。電子放出特性を評価し、素子を駆動し続けたとこ
ろ、素子電流If =3.5mA、放出電流Ie =8.5
μA、効率η=0.24%の特性を維持した。
同等の構成を有する素子を作成したものである。基板は
青板基板を用いた。電極間隔を40μmとし、インクA
を用いて直径55μmのシリカ膜4のドットを一対の電
極ギャップ2,3のほぼ中央に形成した。次に、インク
Bを用いて電極2のエッジから約6μmの位置を中心と
して直径約37μmの導電性膜5−1を、さらに、イン
クBを水によって3倍に希釈したインクCを用いて電極
3のエッジから約6μmの位置を中心として直径約37
μmの導電性膜5−2をそれぞれ形成した。実施例1と
同様にフォーミング、活性化を行い電子放出部6を形成
した。電子放出特性を評価し、素子を駆動し続けたとこ
ろ、素子電流If =3.5mA、放出電流Ie =8.5
μA、効率η=0.24%の特性を維持した。
【0134】(実施例4)本実施例は、多数の表面伝導
電子放出素子を単純マトリクス配置した画像形成装置の
例である。
電子放出素子を単純マトリクス配置した画像形成装置の
例である。
【0135】電子源の一部の平面図を図13に示す。ま
た、図中のA−A’断面図を図14に示す。但し図1
3、図14で、同じ記号を示したものは、同じものを示
す。ここで71は基板、72は図8のDxmに対応する
X方向配線(下配線とも呼ぶ)、73は図8のDynに
対応するY方向配線(上配線とも呼ぶ)、5は導電性薄
膜、4はシリカ膜、2,3は素子電極、131は層間絶
縁層、132は、素子電極2と下配線72と電気的接続
のためのコンタクトホールである。
た、図中のA−A’断面図を図14に示す。但し図1
3、図14で、同じ記号を示したものは、同じものを示
す。ここで71は基板、72は図8のDxmに対応する
X方向配線(下配線とも呼ぶ)、73は図8のDynに
対応するY方向配線(上配線とも呼ぶ)、5は導電性薄
膜、4はシリカ膜、2,3は素子電極、131は層間絶
縁層、132は、素子電極2と下配線72と電気的接続
のためのコンタクトホールである。
【0136】次に製造方法を図15、16により工程順
に従って具体的に説明する。
に従って具体的に説明する。
【0137】工程−(a) 清浄化した青板ガラス基板1上に、真空蒸着により厚さ
5nmのCr、厚さ0.6mmのAuを順次積層した
後、ホトレジスト(AZ1370ヘキスト社製)をスピ
ンナーにより回転塗布、ベークした後、ホトマスク像を
露光、現像して、下配線72のレジストパターンを形成
し、Au/Cr堆積膜をウエットエッチングして、所望
の形状の下配線72を形成する(図15の(a))。
5nmのCr、厚さ0.6mmのAuを順次積層した
後、ホトレジスト(AZ1370ヘキスト社製)をスピ
ンナーにより回転塗布、ベークした後、ホトマスク像を
露光、現像して、下配線72のレジストパターンを形成
し、Au/Cr堆積膜をウエットエッチングして、所望
の形状の下配線72を形成する(図15の(a))。
【0138】工程−(b) 次に厚さ1.0μmのシリコン酸化膜からなる層間絶縁
層131をRFスパッタ法により堆積する(図15の
(b))。
層131をRFスパッタ法により堆積する(図15の
(b))。
【0139】工程−(c) 工程−(b)で堆積した層間絶縁層131にコンタクト
ホール132を形成するためのホトレジストパターンを
作り、これをマスクとして層間絶縁層131をエッチン
グしてコンタクトホール132を形成する(図15の
(c))。
ホール132を形成するためのホトレジストパターンを
作り、これをマスクとして層間絶縁層131をエッチン
グしてコンタクトホール132を形成する(図15の
(c))。
【0140】工程−(d) その後、素子電極2と素子電極間ギャップLとなるべき
パターンをホトレジスト(RD−2000N−41日立
化成社製)で形成し、真空蒸着法により、厚さ5nmの
Ti、厚さ0.1mmのNiを順次堆積した。ホトレジ
ストパターンを有機溶剤で溶解し、Ni/Ti堆積膜を
リフトオフし、素子電極間隔L=3mm、素子電極の幅
W=0.3mmを有する素子電極2,3を形成した(図
15の(d))。
パターンをホトレジスト(RD−2000N−41日立
化成社製)で形成し、真空蒸着法により、厚さ5nmの
Ti、厚さ0.1mmのNiを順次堆積した。ホトレジ
ストパターンを有機溶剤で溶解し、Ni/Ti堆積膜を
リフトオフし、素子電極間隔L=3mm、素子電極の幅
W=0.3mmを有する素子電極2,3を形成した(図
15の(d))。
【0141】工程−(e) 素子電極2,3の上に配線73のホトレジストパターン
を形成した後、厚さ5nmのTi、厚さ0.5mmのA
uを順次真空蒸着により堆積し、リフトオフにより不要
の部分を除去して、所望の形状の上配線73を形成した
(図16の(a))。
を形成した後、厚さ5nmのTi、厚さ0.5mmのA
uを順次真空蒸着により堆積し、リフトオフにより不要
の部分を除去して、所望の形状の上配線73を形成した
(図16の(a))。
【0142】工程−(f) インクジェット装置によりインクAのパッド(パッドと
は、いくつかのドットが少しずつ重なり合うように形成
された連続したドットである)を形成した後、360℃
で20分間の加熱焼成処理をし、図14および図16の
シリカ膜4のパッドを形成した。(図16の(b))。
は、いくつかのドットが少しずつ重なり合うように形成
された連続したドットである)を形成した後、360℃
で20分間の加熱焼成処理をし、図14および図16の
シリカ膜4のパッドを形成した。(図16の(b))。
【0143】工程−(g) インクジェット装置によりインクBのパッドを形成し、
300℃、10分の加熱焼成処理をし、シリカ膜4上に
導電性膜5を形成した(図16の(c))。導電性膜5
の膜厚は10nm、シート抵抗値は2×104 Ω/□で
あった。
300℃、10分の加熱焼成処理をし、シリカ膜4上に
導電性膜5を形成した(図16の(c))。導電性膜5
の膜厚は10nm、シート抵抗値は2×104 Ω/□で
あった。
【0144】工程―(h) コンタクトホール132部分以外にレジストを塗布する
ようなパターンを形成し、真空蒸着により厚さ5nmの
Ti、厚さ0.5mmのAuを順次堆積した。リフトオ
フにより不要の部分を除去することにより、コンタクト
ホール132を埋め込んだ(図16の(d))。
ようなパターンを形成し、真空蒸着により厚さ5nmの
Ti、厚さ0.5mmのAuを順次堆積した。リフトオ
フにより不要の部分を除去することにより、コンタクト
ホール132を埋め込んだ(図16の(d))。
【0145】以上の工程により絶縁性基板1上に下配線
72、層間絶縁層131、上配線73、素子電極2,
3、シリカ膜4、導電性膜5を形成した。
72、層間絶縁層131、上配線73、素子電極2,
3、シリカ膜4、導電性膜5を形成した。
【0146】つぎに、以上のようにして作製した電子源
基板を用いて、電子源及び表示装置を構成した例を、図
8と図9を用いて説明する。
基板を用いて、電子源及び表示装置を構成した例を、図
8と図9を用いて説明する。
【0147】以上のようにして素子を作製した基板1を
リアプレート81上に固定した後、基板1の5mm上方
に、フェースプレート86(ガラス基板83の内面に蛍
光膜84とメタルパック85が形成されて構成される)
を支持枠82を介し配置し、フェースプレート86、支
持枠82、リアプレート81の接合部にフリットガラス
を塗布し、大気中で400℃で10分焼成することで封
着した。またリアプレ−ト81への基板1の固定もフリ
ットガラスで行った。
リアプレート81上に固定した後、基板1の5mm上方
に、フェースプレート86(ガラス基板83の内面に蛍
光膜84とメタルパック85が形成されて構成される)
を支持枠82を介し配置し、フェースプレート86、支
持枠82、リアプレート81の接合部にフリットガラス
を塗布し、大気中で400℃で10分焼成することで封
着した。またリアプレ−ト81への基板1の固定もフリ
ットガラスで行った。
【0148】本実施例において図8の74は電子放出部
形成前の電子放出素子(例えば、図2の(d)に相当す
る)であり、72、73はそれぞれX方向及びY方向の
素子配線である。
形成前の電子放出素子(例えば、図2の(d)に相当す
る)であり、72、73はそれぞれX方向及びY方向の
素子配線である。
【0149】蛍光膜84は、モノクロームの場合は蛍光
体のみから成るが、本実施例では蛍光体はストライプ形
状を採用し、先にブラックストライプを形成し、その間
隙部に各色蛍光体を塗布し、蛍光膜84を作製した。ブ
ラックストライプの材料として通常良く用いられている
黒鉛を主成分とする材料を用いた。ガラス基板83に蛍
光体を塗布する方法はスラリー法を用いた。
体のみから成るが、本実施例では蛍光体はストライプ形
状を採用し、先にブラックストライプを形成し、その間
隙部に各色蛍光体を塗布し、蛍光膜84を作製した。ブ
ラックストライプの材料として通常良く用いられている
黒鉛を主成分とする材料を用いた。ガラス基板83に蛍
光体を塗布する方法はスラリー法を用いた。
【0150】また、蛍光膜84の内面側には通常メタル
バック85が設けられる。メタルバックは、蛍光膜作製
後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通常フィルミン
グと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸着するこ
とで作製した。
バック85が設けられる。メタルバックは、蛍光膜作製
後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通常フィルミン
グと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸着するこ
とで作製した。
【0151】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導伝性を高めるため、蛍光膜74の外面側に透明電
極(不図示)が設けられる場合もあるが、本実施例で
は、メタルバックのみで十分な導伝性が得られたので省
略した。
4の導伝性を高めるため、蛍光膜74の外面側に透明電
極(不図示)が設けられる場合もあるが、本実施例で
は、メタルバックのみで十分な導伝性が得られたので省
略した。
【0152】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行った。
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行った。
【0153】以上のようにして完成したガラス容器内の
雰囲気を、排気管(図示せず)を通じ真空ポンプにて排
気し、十分な真空度に達した後、容器外端子Dox1 ない
しDoxm とDoy1 ないしDoyn を通じ電子放出素子74
の電極2,3間に電圧を印加し、シリカ膜4上の導電性
薄膜5をフォーミング処理した。フォーミング処理の電
圧波形は、図6の(b)と同様である。本実施例ではT
1 を1msec、T2を10msecとし、約1.3×
10-3Paの真空雰囲気下で行った。
雰囲気を、排気管(図示せず)を通じ真空ポンプにて排
気し、十分な真空度に達した後、容器外端子Dox1 ない
しDoxm とDoy1 ないしDoyn を通じ電子放出素子74
の電極2,3間に電圧を印加し、シリカ膜4上の導電性
薄膜5をフォーミング処理した。フォーミング処理の電
圧波形は、図6の(b)と同様である。本実施例ではT
1 を1msec、T2を10msecとし、約1.3×
10-3Paの真空雰囲気下で行った。
【0154】次に、パネル内の真空度が1.3×10-6
Pa台の達するまで排気を続けた後、パネルの排気管よ
り、全圧が1.3×10-4Paとなるように有機物質を
パネル内に導入し、維持した。容器外端子Dox1 ないし
Doxm とDoy1 ないしDoynを通じ電子放出素子74の
電極2,3間に、図12に示した波形で波高値を14V
で活性化処理を行った。
Pa台の達するまで排気を続けた後、パネルの排気管よ
り、全圧が1.3×10-4Paとなるように有機物質を
パネル内に導入し、維持した。容器外端子Dox1 ないし
Doxm とDoy1 ないしDoynを通じ電子放出素子74の
電極2,3間に、図12に示した波形で波高値を14V
で活性化処理を行った。
【0155】このように、フオーミング、活性化処理を
行ない、電子放出部6を形成し電子放出素子74を作製
した。
行ない、電子放出部6を形成し電子放出素子74を作製
した。
【0156】次に1.3×10-4Pa程度の真空度まで
排気し、不図示の排気管をガスバーナーで熱することで
溶着し外囲器の封止を行った。最後に封止後の真空度を
維持するために、高周波加熱法でゲッター処理を行っ
た。
排気し、不図示の排気管をガスバーナーで熱することで
溶着し外囲器の封止を行った。最後に封止後の真空度を
維持するために、高周波加熱法でゲッター処理を行っ
た。
【0157】以上のように完成した本発明の画像表示装
置において、各電子放出素子には、容器外端子DOx1 な
いしDOxm ,DOy1 ないしDOyn を通じ、走査信号及び
変調信号を不図示の信号発生手段よりそれぞれ、印加す
ることにより、電子放出させ、高圧端子87を通じ、メ
タルバック85、あるいは透明電極(不図示)に5kV
以上の高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜84
に衝突させ、励起・発光させることで画像を表示した。
置において、各電子放出素子には、容器外端子DOx1 な
いしDOxm ,DOy1 ないしDOyn を通じ、走査信号及び
変調信号を不図示の信号発生手段よりそれぞれ、印加す
ることにより、電子放出させ、高圧端子87を通じ、メ
タルバック85、あるいは透明電極(不図示)に5kV
以上の高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜84
に衝突させ、励起・発光させることで画像を表示した。
【0158】本実施例における画像表示装置は、素子間
のばらつきが少ないので輝度むらの少ない画像を表示
し、テレビジョンとして十分満足できる輝度(約150
fL)で良好な画像を長時間にわたって安定に表示する
ことができた。
のばらつきが少ないので輝度むらの少ない画像を表示
し、テレビジョンとして十分満足できる輝度(約150
fL)で良好な画像を長時間にわたって安定に表示する
ことができた。
【0159】[実施例5]本実施例では、テレビジョン
放送をはじめとする種々の画像情報源より提供される画
像情報を表示できるように構成した表示装置の一例を示
す。図9に示した画像形成装置を図11に示した駆動回
路を用いて、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を
行なった。
放送をはじめとする種々の画像情報源より提供される画
像情報を表示できるように構成した表示装置の一例を示
す。図9に示した画像形成装置を図11に示した駆動回
路を用いて、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を
行なった。
【0160】本表示装置においては、とりわけ表面伝導
型放出素子を電子ビーム源とするディスプレイパネルの
薄形化が容易なため、表示装置の奥行きを小さくするこ
とができる。それに加えて、表面伝導型放出素子を電子
ビーム源とするディスプレイパネルは大画面化が容易で
輝度が高く視野角特性にも優れるため、本表示装置は臨
場感にあふれ迫力に富んだ画像を視認性良く表示する事
が可能である。
型放出素子を電子ビーム源とするディスプレイパネルの
薄形化が容易なため、表示装置の奥行きを小さくするこ
とができる。それに加えて、表面伝導型放出素子を電子
ビーム源とするディスプレイパネルは大画面化が容易で
輝度が高く視野角特性にも優れるため、本表示装置は臨
場感にあふれ迫力に富んだ画像を視認性良く表示する事
が可能である。
【0161】本実施例における表示装置は、NTSC方
式のテレビ信号に応じたテレビ画像を良好に、かつ長時
間安定して表示することができた。
式のテレビ信号に応じたテレビ画像を良好に、かつ長時
間安定して表示することができた。
【0162】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、導
電性膜の基板側にシリカ膜を形成することで、表面伝導
型電子放出素子の活性化工程により形成される電子放出
部の構造を安定化させることができ、安定な電子放出電
流を長時間にわたり取り出すことが可能な電子放出素子
を提供できる。
電性膜の基板側にシリカ膜を形成することで、表面伝導
型電子放出素子の活性化工程により形成される電子放出
部の構造を安定化させることができ、安定な電子放出電
流を長時間にわたり取り出すことが可能な電子放出素子
を提供できる。
【0163】さらには、入力信号に応じて電子を放出す
る電子源においては、上記の電子放出素子を、基板上に
複数個配置して電子源を構成することにより、また、個
々の素子の両端を配線に接続した電子放出素子の行を複
数もち、更に、変調手段を有している配置法、あるい
は、基板に、互いに、電気的に、絶縁されたm本のX方
向配線とn本のY方向配線とに、該電子放出素子の一対
の素子電極とを接続した電子放出素子を複数個配列した
配置とする電子源とすることで、各電子放出素子が、良
好な電子放出特性を長時間にわたり保持し得る電子源を
提供できる。
る電子源においては、上記の電子放出素子を、基板上に
複数個配置して電子源を構成することにより、また、個
々の素子の両端を配線に接続した電子放出素子の行を複
数もち、更に、変調手段を有している配置法、あるい
は、基板に、互いに、電気的に、絶縁されたm本のX方
向配線とn本のY方向配線とに、該電子放出素子の一対
の素子電極とを接続した電子放出素子を複数個配列した
配置とする電子源とすることで、各電子放出素子が、良
好な電子放出特性を長時間にわたり保持し得る電子源を
提供できる。
【0164】また、画像形成装置においては、画像形成
部材と前記電子源より構成され、入力信号に基づいて画
像を形成するため、電子放出特性の安定性と寿命の向上
がなされ、例えば蛍光体を画像形成部材とする画像形成
装置においては、高品位な画像形成装置例えば、カラー
フラットテレビが、実現できる。
部材と前記電子源より構成され、入力信号に基づいて画
像を形成するため、電子放出特性の安定性と寿命の向上
がなされ、例えば蛍光体を画像形成部材とする画像形成
装置においては、高品位な画像形成装置例えば、カラー
フラットテレビが、実現できる。
【図1】本発明に係る基本的な表面伝導型電子放出素子
の構成の一例を示す模式図である。
の構成の一例を示す模式図である。
【図2】本発明に係る表面伝導型電子放出素子の基本的
な製造方法を説明するための図である。
な製造方法を説明するための図である。
【図3】本発明に係る基本的な表面伝導型電子放出素子
の別の態様を示す模式図である。
の別の態様を示す模式図である。
【図4】本発明に係る基本的な表面伝導型電子放出素子
の別の態様を示す模式図である。
の別の態様を示す模式図である。
【図5】本発明に係る表面伝導型電子放出素子の特性評
価に用いる測定評価装置の概略構成図である。
価に用いる測定評価装置の概略構成図である。
【図6】本発明に係るフオーミング処理における電圧波
形の一例を示す模式図である。
形の一例を示す模式図である。
【図7】本発明に係る表面伝導型電子放出素子の放出電
流、素子電流、及び素子電圧の関係を示す図である。
流、素子電流、及び素子電圧の関係を示す図である。
【図8】本発明に係る電子源基板の構成を示す模式図で
ある。
ある。
【図9】本発明に係る画像形成装置の基本構成を示す模
式図である。
式図である。
【図10】表示パネルにおける蛍光膜の一例を示す模式
図である。
図である。
【図11】本発明に係る画像形成装置をNTSC方式の
テレビ信号に応じて表示を行なう例の駆動回路の一例を
示すブロック図である。
テレビ信号に応じて表示を行なう例の駆動回路の一例を
示すブロック図である。
【図12】本発明に好適な活性化パルスの形状の一例を
示す図である。
示す図である。
【図13】本発明の実施例2の電子源の構成の一部を示
す模式図である。
す模式図である。
【図14】図13のA−A’断面模式図である。
【図15】本発明の実施例4の電子源の製造工程を説明
するための断面模式図である。
するための断面模式図である。
【図16】本発明の実施例4の電子源の製造工程を説明
するための断面模式図である。
するための断面模式図である。
【図17】従来の表面伝導型電子放出素子の構成を示す
模式図である。
模式図である。
【図18】従来の表面伝導型電子放出素子の別の構成を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図19】バブルジェットのヘッドの構成を示す模式図
である。
である。
1 基板 2,3 素子電極 4 シリカ膜 5 導電性膜 6 電子放出部 40 素子電流If を測定するための電流計 41 電子放出素子に素子電圧Vf を印加するための電
源 42 素子の電子放出部より放出される放出電流Ie を
測定するための電流計 43 アノード電極44に電圧を印加するための高圧電
源 44 アノード電極 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 VxおよびVa 直流電圧源 131 層間絶縁層 132 コンタクトホール 141 インクジェットヘッド 142 ヒーター 143 溶液流路 144 吐出口 145 溶液供給管
源 42 素子の電子放出部より放出される放出電流Ie を
測定するための電流計 43 アノード電極44に電圧を印加するための高圧電
源 44 アノード電極 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 VxおよびVa 直流電圧源 131 層間絶縁層 132 コンタクトホール 141 インクジェットヘッド 142 ヒーター 143 溶液流路 144 吐出口 145 溶液供給管
Claims (12)
- 【請求項1】 基体上に形成された一対の対向する素子
電極と、該素子電極の間に形成されたシリカ膜と、該シ
リカ膜上で、かつ該素子電極の双方に接続された導電性
膜と、該導電性膜の一部に形成された電子放出部を有す
る電子放出素子の製造方法において、該製造方法が、
(1)上記シリカ膜を形成する材料を含むインクをイン
クジェット装置により液滴として所定の位置に付与する
工程と、(2)付与された液滴を乾燥および焼成してシ
リカ膜とする工程と、(3)上記シリカ膜上に上記導電
性膜を形成する材料を含むインクをインクジェット装置
により液滴として所定の位置に付与する工程と、(4)
付与された液滴を乾燥および焼成して素子電極の双方に
接続された導電性膜を形成する工程と、(5)上記一対
の素子電極間に電圧を印加して上記シリカ膜上の導電性
膜に電流を流すことにより電子放出部を形成する工程
と、 を有することを特徴とする電子放出素子の製造方法。 - 【請求項2】 上記シリカ膜を形成する材料の原料がポ
リシロキサンであることを特徴とする請求項1記載の電
子放出素子の製造方法。 - 【請求項3】 上記ポリシロキサンとして、ポリオルガ
ノシロキサンを用いることを特徴とする請求項1または
2に記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項4】 上記ポリオルガノシロキサンとしてシリ
コーンオイルを用いることを特徴とする請求項1〜3の
いずれかに記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項5】 上記シリコーンオイルの分子量は数百〜
数万のもの、好ましくは数百〜数千の低分子のものを用
いることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の
電子放出素子の製造方法。 - 【請求項6】 前記電子放出素子が表面伝導型であるこ
とを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の電子放
出素子の製造方法。 - 【請求項7】 前記インクジェット装置が液体に熱を与
えることにより該液体を吐出するバブルジェット方式の
ものであることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに
記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項8】 請求項1〜7のいずれかに記載の方法に
より製造されたことを特徴とする電子放出素子。 - 【請求項9】 一対の対向する素子電極と、該素子電極
の間に形成されたシリカ膜と、該シリカ膜上で、かつ該
素子電極の双方に接続された導電性膜と、該導電性膜の
一部に形成された電子放出部を有する電子放出素子を基
体上に複数配置し、これら電子放出素子に接続された配
線を有してなる電子源の製造方法において、 前記電子放出素子の製造に、請求項1〜7のいずれかに
記載の方法を用いることを特徴とする電子源の製造方
法。 - 【請求項10】 請求項9に記載の方法により製造され
たことを特徴とする電子源。 - 【請求項11】 一対の対向する素子電極と、該素子電
極の間に形成されたシリカ膜と、該シリカ膜上で、かつ
該素子電極の双方に接続された導電性膜と、該導電性膜
の一部に形成された電子放出部を有する電子放出素子を
基体上に複数配置し、これら電子放出素子に接続された
配線を有してなる電子源と、該電子源より放出される電
子の照射を受けて発光することにより、画像を表示する
画像形成部材を、外囲器に内包してなる画像形成装置の
製造方法において、 前記電子源を、請求項9に記載の方法を用いて製造する
ことを特徴とする、画像形成装置の製造方法。 - 【請求項12】 請求項11に記載の方法により製造さ
れたことを特徴とする画像形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4409599A JP2000243257A (ja) | 1999-02-23 | 1999-02-23 | 電子放出素子、電子源および画像形成装置の製造方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP4409599A JP2000243257A (ja) | 1999-02-23 | 1999-02-23 | 電子放出素子、電子源および画像形成装置の製造方法 |
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JP2000243257A true JP2000243257A (ja) | 2000-09-08 |
JP2000243257A5 JP2000243257A5 (ja) | 2004-09-02 |
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JP4409599A Withdrawn JP2000243257A (ja) | 1999-02-23 | 1999-02-23 | 電子放出素子、電子源および画像形成装置の製造方法 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2000243257A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100690634B1 (ko) * | 2005-07-15 | 2007-03-09 | 엘지전자 주식회사 | 표면 전도형 전자방출 소자 및 그 제조 방법 |
KR100785385B1 (ko) * | 2005-03-23 | 2007-12-18 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전자 방출 소자 및 전자 방출 소자의 제조 방법, 표시 장치및 전자 기기 |
-
1999
- 1999-02-23 JP JP4409599A patent/JP2000243257A/ja not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100785385B1 (ko) * | 2005-03-23 | 2007-12-18 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전자 방출 소자 및 전자 방출 소자의 제조 방법, 표시 장치및 전자 기기 |
KR100690634B1 (ko) * | 2005-07-15 | 2007-03-09 | 엘지전자 주식회사 | 표면 전도형 전자방출 소자 및 그 제조 방법 |
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