JP2000133053A - Enameled wire and ic card - Google Patents
Enameled wire and ic cardInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、エナメル線及びI
Cカードに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
It concerns the C card.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に電気機器コイルの生産では、ま
ず、コイル巻線機によりエナメル線をコイル巻線し、次
に、その得られた電気機器コイルのエナメル線端末を電
気機器の端末やリード線等に半田付けすることにより電
気的に接続するようになっている。このような電気機器
コイルの生産量は、膨大であることから電気機器コイル
のエナメル線端末の半田付け作業は、迅速性が要求され
る。2. Description of the Related Art In general, in the production of electric equipment coils, first, an enameled wire is coil-wound by a coil winding machine, and then the enameled wire terminal of the obtained electric equipment coil is replaced with an electric equipment terminal or a lead wire. It is electrically connected by soldering. Since the production volume of such an electric device coil is enormous, the soldering work of the enameled wire terminal of the electric device coil requires quickness.
【0003】一般用エナメル線を用いてコイル巻線して
得られた電気機器コイルのエナメル線端末の半田付け作
業では、まず、電気機器コイルのエナメル線端末のエナ
メル皮膜を機械的に剥離して導体を露出し、次に、その
露出した導体上に半田付けするようになっている。[0003] In the soldering work of an enamel wire end of an electric device coil obtained by coil winding using a general-purpose enamel wire, first, the enamel film of the enamel wire end of the electric device coil is mechanically peeled off. The conductor is exposed and then soldered onto the exposed conductor.
【0004】このように一般用エナメル線、例えばポリ
アミドイミドエナメル線を用いてコイル巻線して得られ
た電気機器コイルのエナメル線端末の半田付け作業で
は、電気機器コイルのエナメル線端末のエナメル皮膜を
機械的に剥離してから半田付けする必要があることから
生産性が低く、しかもそのエナメル皮膜の機械的剥離作
業時に導体を傷つける懸念がある。このため、一般用エ
ナメル線は、量産用電気機器コイル、特に小型電気機器
コイルのマグネットワイヤとしては余り使用されていな
い。[0004] As described above, in the work of soldering the enamel wire end of an electric device coil obtained by winding a coil using a general-purpose enamel wire, for example, a polyamideimide enamel wire, the enamel film of the enamel wire end of the electric device coil is used. Since it is necessary to solder after mechanically peeling off, the productivity is low, and there is a concern that the conductor may be damaged at the time of mechanically peeling off the enamel film. For this reason, the enamel wire for general use is hardly used as a magnet wire for electric equipment coils for mass production, especially for small electric equipment coils.
【0005】これに対してろう着性エナメル線、例えば
ポリウレタンエナメル線を用いてコイル巻線して得られ
た電気機器コイルのエナメル線端末の半田付け作業で
は、電気機器コイルのエナメル線端末のエナメル皮膜を
機械的に剥離することなく、直接ろう着性ポリウレタン
エナメル皮膜上に半田付けすることができる。On the other hand, in the soldering work of the enameled wire end of an electrical equipment coil obtained by winding a coil using a brazeable enameled wire, for example, a polyurethane enameled wire, the enameled wire of the electrical equipment coil is enameled. The coating can be soldered directly onto the brazeable polyurethane enamel coating without mechanical peeling.
【0006】一方、電気機器コイルのエナメル線端末を
電気機器の端末やリード線等への半田付け作業性を一段
と改善するため、その電気機器コイルのエナメル線端末
に予め迎え半田付けしておくことが行われている。On the other hand, in order to further improve the workability of soldering an enameled wire terminal of an electric device coil to a terminal of an electric device, a lead wire, or the like, the enameled wire terminal of the electric device coil must be previously received and soldered. Has been done.
【0007】導体径がφ0.1mm以上のサイズのエナメ
ル線を用いて巻線して得られた電気機器コイルのエナメ
ル線端末への迎え半田付け作業は、端末だけで済むが、
生産性が低く且つコストが高くなることから現実的に用
いられる機会が少ない。[0007] The soldering operation of the coil of an electric device obtained by winding an enameled wire having a conductor diameter of 0.1 mm or more to the end of the enameled wire can be performed only at the terminal.
Since the productivity is low and the cost is high, there are few opportunities for practical use.
【0008】他方、近年では、宇宙用電気機器、原子力
用電気機器、医療用電気機器、マイクロマシン用電気機
器、ICカード等のように高度な信頼性が要求される電
気機器では、半田付け作業速度の向上に加えて半田付け
信頼性の向上の要求が一段と高まってきている。このよ
うな訳で、半田付け速度と半田付け信頼性とを向上させ
るために迎え半田付け作業が見直されるようになってき
ている。On the other hand, in recent years, soldering work speed has been increased for electrical equipment requiring high reliability, such as electrical equipment for space, nuclear power, medical electrical equipment, micromachine electrical equipment, and IC cards. In addition to the improvement of the soldering, the demand for the improvement of the soldering reliability has been further increased. For this reason, the soldering operation has been reviewed in order to improve the soldering speed and the soldering reliability.
【0009】この迎え半田付け作業を現実的に行うエナ
メル線サイズは、価格、機能、信頼性等の点から半田付
け信頼性が要求され且つ迎え半田付け作業が必要で、し
かもその迎え半田付け作業が困難な導体径がφ0.1mm
以下のサイズのエナメル線である。また、そのエナメル
線の種類としては、エナメル皮膜を剥離せずに半田付け
することができるろう着性エナメル線、例えばポリウレ
タンエナメル線、ろう着性ポリエステルエナメル線、ろ
う着性ポリエステルイミドエナメル線、ろう着性ポリア
ミドイミドエナメル線等である。[0009] The enameled wire size for practically performing the welcome soldering operation requires soldering reliability in terms of price, function, reliability, etc. and requires the welcome soldering operation. Conductor diameter is φ0.1mm
It is an enameled wire of the following size. Further, as the type of the enameled wire, a brazeable enameled wire that can be soldered without peeling the enamel coating, such as a polyurethane enameled wire, a brazeable polyester enameled wire, a brazeable polyesterimide enameled wire, a brazed Adhesive polyamideimide enameled wire and the like.
【0010】さて、図4は、従来のICカードの内部構
造を示した斜視説明図である。FIG. 4 is a perspective view showing the internal structure of a conventional IC card.
【0011】図4において、1はICモジュール、2は
金めっき導線導体エナメル線巻線アンテナコイルであ
る。In FIG. 4, reference numeral 1 denotes an IC module, and 2 denotes a gold-plated conductive wire enameled wire antenna coil.
【0012】即ち、従来のICカードの内部構造は、I
Cモジュール1の図示しないICチップの接続端子にア
ンテナコイル2のエナメル線端末とを接続して成るもの
である。ここにおいて、ICモジュール1は、情報デー
タの記憶、処理、出力等を行い、また、金めっき導線導
体エナメル線巻線アンテナコイル2は、電力の授受及び
情報の授受を行うようになっている。That is, the internal structure of a conventional IC card is
It is formed by connecting the enameled wire terminal of the antenna coil 2 to the connection terminal of an IC chip (not shown) of the C module 1. Here, the IC module 1 performs storage, processing, output, and the like of information data, and the gold-plated conductor enameled wire winding antenna coil 2 exchanges power and exchanges information.
【0013】ここにおいて、ICモジュール1のICチ
ップの端子部は、金めっきして成る金めっき面か、金を
蒸着して成る金蒸着面となっている。また、金めっき導
線導体エナメル線巻線アンテナコイル2のエナメル線
は、金めっき導線導体エナメル線であるが、金蒸着導線
導体エナメル線でもよい。Here, the terminal portion of the IC chip of the IC module 1 has a gold-plated surface formed by gold plating or a gold-deposited surface formed by depositing gold. The enameled wire of the gold-plated conductive wire enameled wire antenna coil 2 is a gold-plated conductive wire enameled wire, but may be a gold-deposited conductive wire enameled wire.
【0014】図5は、このような金めっき導線導体エナ
メル線の断面図を示したものである。FIG. 5 is a sectional view of such a gold-plated conductive wire enameled wire.
【0015】図5において、3は銅線、4は金めっき
層、5はエナメル皮膜層である。In FIG. 5, 3 is a copper wire, 4 is a gold plating layer, and 5 is an enamel coating layer.
【0016】ICチップの端子部と金めっき導線導体エ
ナメル線巻線アンテナコイル2のエナメル線端末との接
続は、スポット溶接または圧着等で行うようになってい
る。The connection between the terminal portion of the IC chip and the enameled wire terminal of the gold-plated conductive wire enameled wire antenna coil 2 is performed by spot welding or crimping.
【0017】[0017]
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来のI
Cカードでは、金めっき導線導体エナメル線巻線アンテ
ナコイル2のエナメル線として高価な金めっき導線導体
エナメル線か、若しくは金蒸着導線導体エナメル線を用
い、また、ICチップ1の端子部も金めっきして成る金
めっき面とする必要があり、そのために製造コストが高
くなるという難点があった。しかもICチップの端子部
とアンテナコイル2のエナメル線端末との接続も極細サ
イズの接続が厄介なスポット溶接または圧着等で行う必
要があった。As described above, the conventional I
In the C card, an expensive gold-plated conductor enamel wire or a gold-deposited conductor enamel wire is used as the enamel wire of the antenna coil 2 of the gold-plated conductor conductor, and the terminal portion of the IC chip 1 is also gold-plated. Therefore, it is necessary to use a gold-plated surface, and the production cost is disadvantageously increased. In addition, the connection between the terminal portion of the IC chip and the enamel wire terminal of the antenna coil 2 has to be performed by spot welding or crimping or the like, which makes connection of an extremely small size difficult.
【0018】本発明は、かかる点に立って為されたもの
であって、その目的とするところは、前記した従来技術
の欠点を解消し、エナメル線端末の迎え半田付けを省略
できるにも拘らず半田付け接続作業が迅速且つ容易にで
き、しかも接続信頼性が高く、それによりアンテナコイ
ルの品質と生産性とを顕著に向上することができるエナ
メル線及びそのエナメル線を巻線して得られるICカー
ドを提供することにある。The present invention has been made in view of such a point, and it is an object of the present invention to solve the above-mentioned disadvantages of the prior art and to omit the soldering of an enameled wire terminal. An enameled wire that can be quickly and easily soldered and has high connection reliability, thereby significantly improving the quality and productivity of the antenna coil, and can be obtained by winding the enameled wire. To provide an IC card.
【0019】[0019]
【課題を解決するための手段】本発明の要旨とするとこ
ろは、次の2点にある。The gist of the present invention lies in the following two points.
【0020】(1)導線上に半田めっき層が設けてあ
り、該半田めっき層上にエナメル皮膜層が設けられて成
ることを特徴とするエナメル線。(1) An enameled wire characterized in that a solder plating layer is provided on a conductive wire, and an enamel coating layer is provided on the solder plating layer.
【0021】(2)エナメル線を巻線して得られたアン
テナコイルのエナメル線端末とICチップの端子部とを
接続して成るICモジュールを具備するICカードにお
いて、前記エナメル線は、半田めっき銅線導体ろう着性
エナメル線であることを特徴とするICカード。(2) In an IC card having an IC module formed by connecting an enamel wire terminal of an antenna coil obtained by winding an enamel wire and a terminal portion of an IC chip, the enamel wire is solder-plated. An IC card comprising a copper wire brazing enamel wire.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】次に、本発明のエナメル線及びI
Cカードの実施の形態について説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, the enameled wire of the present invention and I
An embodiment of the C card will be described.
【0023】本発明において、導線としては、銅線が好
ましい。また、銅線としては、タフピッチ銅線、無酸素
銅線のいずれでもよい。この導線の断面形状は、丸、楕
円、四角、多角等でもよい。In the present invention, the conductor is preferably a copper wire. Further, as the copper wire, any of a tough pitch copper wire and an oxygen-free copper wire may be used. The cross-sectional shape of the conductor may be a circle, an ellipse, a square, a polygon, or the like.
【0024】本発明において、半田めっき層としては、
半田めっき層上にエナメル塗料を塗布してから高温焼き
付けするときに半田めっき層が熱溶融しずらいものが望
ましく、例えば錫を90%以上含有する電気めっき高融
点半田層であることが好ましい。In the present invention, as the solder plating layer,
When the enamel paint is applied on the solder plating layer and then baked at a high temperature, it is desirable that the solder plating layer is not easily melted by heat. For example, an electroplating high melting point solder layer containing 90% or more of tin is preferable.
【0025】本発明において、エナメル皮膜層として
は、ろう着性エナメル皮膜、例えばポリウレタンエナメ
ル皮膜、ポリエステルイミドエナメル皮膜、ポリアミド
イミドエナメル皮膜等がある。In the present invention, examples of the enamel film layer include a brazeable enamel film such as a polyurethane enamel film, a polyesterimide enamel film, and a polyamideimide enamel film.
【0026】本発明の半田めっき導線導体エナメル線
は、半田めっき導線上にエナメル皮膜層を設け、更にそ
のエナメル皮膜層上に融着層を設けることもできる。[0026] The solder-plated conductor enameled wire of the present invention may be provided with an enamel coating layer on the solder-plated conductive wire, and further provided with a fusion layer on the enamel coating layer.
【0027】本発明のエナメル線は、ICカードのコイ
ルばかりでなく、マイクロマシン、小型精密医療機器、
原子力用電機機器、測定機器等にも用いることができ
る。The enameled wire of the present invention can be used not only for coils of IC cards, but also for micromachines, small precision medical devices,
It can also be used for electrical equipment for nuclear power, measurement equipment, and the like.
【0028】[0028]
【実施例】次に、エナメル線及びICカードの実施例に
ついて説明する。Next, embodiments of an enameled wire and an IC card will be described.
【0029】(実施例1のエナメル線)まず、導体径φ
0.080mmの銅線上に電解めっき法により半田めっき
層厚さが0.002mmとなるように錫95:鉛5から成
る高融点半田めっきをした。(Enameled wire of Example 1) First, the conductor diameter φ
A high melting point solder plating composed of tin 95: lead 5 was applied on a 0.080 mm copper wire by electrolytic plating so that the thickness of the solder plating layer was 0.002 mm.
【0030】次に、このようにして得られた高融点半田
めっき銅線の高融点半田めっき層上に、ろう着性ポリウ
レタンエナメル皮膜厚さが0.020mmとなるようにろ
う着性ポリウレタンエナメル塗料を繰り返し塗布焼き付
けすることにより実施例1のエナメル線を得た。Next, on the high melting point solder plating layer of the high melting point solder plated copper wire thus obtained, a brazing polyurethane enamel paint is applied so that the thickness of the brazing polyurethane enamel film is 0.020 mm. Was repeatedly applied and baked to obtain an enameled wire of Example 1.
【0031】図1は、かくして得られた実施例1のエナ
メル線の拡大断面図を示したものである。FIG. 1 is an enlarged sectional view of the enameled wire of Example 1 thus obtained.
【0032】図1において、3は銅線、6は高融点半田
めっき層、7はろう着性ポリウレタンエナメル皮膜層で
ある。In FIG. 1, 3 is a copper wire, 6 is a high melting point solder plating layer, and 7 is a brazeable polyurethane enamel coating layer.
【0033】(実施例2のエナメル線)まず、導体径φ
0.080mmの銅線上に電解めっき法により半田めっき
層厚さが0.002mmとなるように錫95:鉛5から成
る高融点半田めっきをした。(Enameled wire of Example 2) First, the conductor diameter φ
A high melting point solder plating composed of tin 95: lead 5 was applied on a 0.080 mm copper wire by electrolytic plating so that the thickness of the solder plating layer was 0.002 mm.
【0034】次に、このようにして得られた高融点半田
めっき銅線の高融点半田めっき層上に、ろう着性ポリウ
レタンエナメル皮膜厚さが0.016mmとなるようにろ
う着性ポリウレタンエナメル塗料を繰り返し塗布焼き付
けすることによりエナメル線を得た。Next, on the high melting point solder plating layer of the high melting point solder plated copper wire thus obtained, a brazing polyurethane enamel paint is applied so that the thickness of the brazing polyurethane enamel film becomes 0.016 mm. Was repeatedly applied and baked to obtain an enameled wire.
【0035】次に、上記で得られたエナメル線上に、融
着層厚さが0.004mmとなるように熱融着性共重合ポ
リアミド樹脂塗料を塗布、焼き付けすることにより実施
例2のエナメル線(自己融着性エナメル線)を得た。Next, a heat-fusible copolymerized polyamide resin paint was applied to the enameled wire obtained above so that the thickness of the fused layer became 0.004 mm, and baked, whereby the enameled wire of Example 2 was obtained. (Self-fusing enameled wire) was obtained.
【0036】図2は、かくして得られた実施例2のエナ
メル線の拡大断面図を示したものである。FIG. 2 is an enlarged sectional view of the enameled wire of Example 2 thus obtained.
【0037】図2において、3は銅線、6は高融点半田
めっき層、7はろう着性ポリウレタンエナメル皮膜層、
8は融着層である。In FIG. 2, 3 is a copper wire, 6 is a high melting point solder plating layer, 7 is a brazing polyurethane enamel coating layer,
8 is a fusion layer.
【0038】(比較例1のエナメル線)まず、導体径φ
0.080mmの銅線上にろう着性ポリウレタンエナメル
皮膜厚さが0.020mmとなるようにろう着性ポリウレ
タンエナメル塗料を繰り返し塗布焼き付けすることによ
り比較例1のエナメル線を得た。(Enameled wire of Comparative Example 1) First, the conductor diameter φ
A brazeable polyurethane enamel paint was repeatedly applied and baked on a 0.080 mm copper wire so that the thickness of the brazeable polyurethane enamel film became 0.020 mm, whereby an enameled wire of Comparative Example 1 was obtained.
【0039】(比較例2のエナメル線)まず、導体径φ
0.080mmの銅線上に電解めっき法により金めっき層
厚さが0.002mmとなるように金めっきした。(Enameled wire of Comparative Example 2) First, the conductor diameter φ
Gold plating was performed on a 0.080 mm copper wire by electrolytic plating so that the thickness of the gold plating layer was 0.002 mm.
【0040】次に、このようにして得られた金めっき銅
線の金めっき層上に、ろう着性ポリウレタンエナメル皮
膜厚さが0.020mmとなるようにろう着性ポリウレタ
ンエナメル塗料を繰り返し塗布焼き付けすることにより
比較例2のエナメル線を得た。Next, a brazeable polyurethane enamel paint is repeatedly applied and baked on the gold plating layer of the gold plated copper wire thus obtained so that the brazeable polyurethane enamel film thickness becomes 0.020 mm. By doing so, an enameled wire of Comparative Example 2 was obtained.
【0041】(実施例1のエナメル線を用いて製作した
ICカード)実施例1のエナメル線を用いてICチップ
用アンテナコイルを巻線した。(IC Card Manufactured Using Enamel Wire of Example 1) An antenna coil for an IC chip was wound using the enamel wire of Example 1.
【0042】次に、得られたアンテナコイルのエナメル
線端末をICチップの端子部へ半田付けし、それから定
法により組み立てすることにより実施例1のエナメル線
巻線ICカードを得た。Next, the enameled wire terminal of the obtained antenna coil was soldered to the terminal portion of the IC chip, and then assembled by a conventional method to obtain the enameled wire wound IC card of Example 1.
【0043】図3は、かくして得られた実施例1のエナ
メル線巻線ICカードの斜視説明図である。FIG. 3 is an explanatory perspective view of the enameled wire wound IC card according to the first embodiment thus obtained.
【0044】図3において、1はICモジュール、9は
ICチップ、10は半田めっき導線導体エナメル線巻線
アンテナコイルである。In FIG. 3, reference numeral 1 denotes an IC module, 9 denotes an IC chip, and 10 denotes a solder-plated conductor enameled wire wound antenna coil.
【0045】(実施例2のエナメル線を用いて製作した
ICカード)実施例2のエナメル線を用いてICチップ
用アンテナコイルを巻線した。(IC Card Manufactured Using Enamelled Wire of Example 2) An antenna coil for an IC chip was wound using the enameled wire of Example 2.
【0046】次に、得られたアンテナコイルのエナメル
線端末をICチップの端子部へ半田付けし、それから定
法により組み立てすることにより実施例2のエナメル線
巻線ICカードを得た。Next, the enameled wire terminal of the obtained antenna coil was soldered to the terminal portion of the IC chip, and then assembled by a conventional method to obtain an enameled wire wound IC card of Example 2.
【0047】(比較例1のエナメル線を用いて製作した
ICカード)比較例1のエナメル線を用いてICチップ
用アンテナコイルを巻線した。(IC Card Manufactured Using the Enamel Wire of Comparative Example 1) An antenna coil for an IC chip was wound using the enamel wire of Comparative Example 1.
【0048】次に、得られたアンテナコイルのエナメル
線端末をICチップの端子部へ半田付けし、それから定
法により組み立てすることにより比較例1のエナメル線
巻線ICカードを得た。Next, the enameled wire terminal of the obtained antenna coil was soldered to the terminal portion of the IC chip, and then assembled by a conventional method to obtain an enameled wire wound IC card of Comparative Example 1.
【0049】(比較例2のエナメル線を用いて製作した
ICカード)比較例2のエナメル線を用いてICチップ
用アンテナコイルを巻線した。(IC Card Manufactured Using Enamel Wire of Comparative Example 2) An antenna coil for IC chip was wound using the enamel wire of Comparative Example 2.
【0050】次に、得られたアンテナコイルのエナメル
線端末をICチップの端子部へ半田付けし、それから定
法により組み立てすることにより比較例2のエナメル線
巻線ICカードを得た。Next, the enameled wire terminal of the obtained antenna coil was soldered to the terminal portion of the IC chip, and then assembled by a conventional method to obtain an enameled wire wound IC card of Comparative Example 2.
【0051】(特性比較)特性は、次のような試験を行
った。(Characteristics comparison) The characteristics were tested as follows.
【0052】a.エナメル線の半田付け性 供試エナメル線を320℃に溶融した錫50:鉛50半
田バス内に浸漬し、半田付け可能時間を測定し、2秒以
下で半田付け可能なものを○、3秒でも半田付けできな
いものを×として示した。 A. Solderability of enameled wire The test enameled wire was immersed in a tin 50: lead 50 solder bath melted at 320 ° C., and the solderable time was measured. However, those that could not be soldered were indicated by x.
【0053】b.エナメル線の価格比 比較例1のエナメル線を1としたときの価格比を示し
た。 B. Price ratio of enamel wire The price ratio when the enamel wire of Comparative Example 1 was set to 1 is shown.
【0054】c.ICカードコイルのエナメル線端末接
続用スポット溶接等の特殊設備 スポット溶接等の特殊接続設備が必要でないものを○、
必要なものを×として示した。[0054] c. Terminal connection of enameled wire of IC card coil
Special equipment such as spot welding for connection
Necessary items are indicated by x.
【0055】d.迎え半田 ICカードコイルのエナメル線端末を製造ラインで接続
するときに、迎え半田が必要でないものを○、必要なも
のを×で示した。[0055] d. When the enameled wire terminals of the pick-up solder IC card coil are connected on the production line, those that do not require pick-up solder are indicated by 、, and those that do need are indicated by x.
【0056】e.ICカードコイルのエナメル線端末接
続信頼性 ICカードコイルのエナメル線端末を製造ラインで接続
し、その接続部分について引っ張り試験を行い、引っ張
り強度が大きかったものを○、引っ張り強度が小さかっ
たものを×で示した。[0056] e. Terminal connection of enameled wire of IC card coil
An enameled wire terminal of a continuous reliability IC card coil was connected on a production line, and a tensile test was performed on the connected portion. A test piece having a large tensile strength was indicated by ○, and a test piece having a low tensile strength was indicated by ×.
【0057】f.ICカードコイルの生産性 ICカードコイルのエナメル線端末を製造ラインで接続
したときの生産性を比較例1のエナメル線を1として比
較した。 F. Productivity of IC Card Coil The productivity when the enameled wire terminals of the IC card coil were connected on a production line was compared with the enameled wire of Comparative Example 1 as 1.
【0058】g.ICカードコイルのQ値 ICカードコイルのQ値を定法により測定し、Q値が大
きいものを○、Q値が小さいものを×で示した。 G. Q value of IC card coil The Q value of the IC card coil was measured by an ordinary method, and those having a large Q value were indicated by ○ and those having a small Q value were indicated by x.
【0059】表1は、これらの特性試験結果を表1に示
す。Table 1 shows the results of these characteristic tests.
【0060】[0060]
【表1】 [Table 1]
【0061】表1から分かるように比較例1のエナメル
線は、価格が最も安いが、エナメル線半田付け性、端末
接続特殊設備、迎え半田、端末接続信頼性、コイルの生
産性、コイルのQ値等が悪い。比較例2のエナメル線
は、価格が最も高く、しかもエナメル線半田付け性、端
末接続特殊設備、端末接続信頼性、コイルの生産性、コ
イルのQ値等も悪い。As can be seen from Table 1, the price of the enameled wire of Comparative Example 1 is the lowest, but the enameled wire solderability, special terminal connection equipment, soldering, terminal connection reliability, coil productivity, and coil Q Values are bad. The enameled wire of Comparative Example 2 has the highest price, and is also poor in enameled wire solderability, terminal connection special equipment, terminal connection reliability, coil productivity, coil Q value, and the like.
【0062】これに対して実施例1及び2のエナメル線
は、価格が従来の比較例2のエナメル線より格段に安
く、しかも半田付け性、端末接続特殊設備、迎え半田、
端末接続信頼性、コイルの生産性、コイルのQ値等がい
ずれも優れた結果を示した。また、表1には示さなかっ
たが、実施例2のエナメル線は、自己融着性があること
からコイルのばらけがなく、その結果コンパクトで電気
的特性が安定したコイルが得られた。On the other hand, the enameled wires of Examples 1 and 2 are much lower in price than the conventional enameled wire of Comparative Example 2, and have good solderability, special terminal connection equipment,
Terminal connection reliability, coil productivity, coil Q value, etc. all showed excellent results. Although not shown in Table 1, the enameled wire of Example 2 had self-fusing properties, so that there was no variation in the coil, and as a result, a compact coil having stable electrical characteristics was obtained.
【0063】[0063]
【発明の効果】本発明のエナメル線は、価格が安く且つ
半田付け性が優れ、その結果エナメル線を用いて巻線し
た電気機器コイルは、端末接続のための特殊設備が不要
で、迎え半田が不要で、コイルの端末接続信頼性が高
く、コイルの生産性が高く、コイルのQ値が大きい等の
数々の優れた特長を有するものであり、工業上有用であ
る。The enameled wire of the present invention is inexpensive and has excellent solderability. As a result, electric equipment coils wound using the enameled wire do not require special equipment for terminal connection, And has many excellent features such as high coil terminal connection reliability, high coil productivity, and a large coil Q value, and is industrially useful.
【図1】本発明の実施例1のエナメル線の拡大断面図を
示したものである。FIG. 1 is an enlarged sectional view of an enameled wire according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施例2のエナメル線の拡大断面図を
示したものである。FIG. 2 is an enlarged sectional view of an enameled wire according to a second embodiment of the present invention.
【図3】本発明の実施例1のエナメル線巻線ICカード
の斜視説明図である。FIG. 3 is an explanatory perspective view of an enameled wire wound IC card according to the first embodiment of the present invention.
【図4】従来のICカードの内部構造を示した斜視説明
図である。FIG. 4 is an explanatory perspective view showing the internal structure of a conventional IC card.
【図5】従来の金めっき導線導体エナメル線の拡大断面
図を示したものである。FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view of a conventional enameled gold-plated conductive wire.
1 ICモジュール 2 金めっき導線導体エナメル線巻線アンテナコイル 3 銅線 4 金めっき層 5 エナメル皮膜層 6 高融点半田めっき層 7 ろう着性ポリウレタンエナメル皮膜層 8 融着層 9 ICチップ 10 半田めっき導線導体エナメル線巻線アンテナコイ
ルREFERENCE SIGNS LIST 1 IC module 2 gold-plated conductor conductor enameled wire wound antenna coil 3 copper wire 4 gold-plated layer 5 enamel coating layer 6 high melting point solder plating layer 7 brazeable polyurethane enamel coating layer 8 fusion layer 9 IC chip 10 solder plating lead Conductor enameled wire wound antenna coil
Claims (7)
田めっき層上にエナメル皮膜層が設けられて成ることを
特徴とするエナメル線。1. An enameled wire comprising: a conductive wire having a solder plating layer provided thereon; and an enamel coating layer provided on the solder plating layer.
電気めっき高融点半田層であることを特徴とする請求項
1記載のエナメル線。2. The enameled wire according to claim 1, wherein the solder plating layer is an electroplating high melting point solder layer containing 90% or more of tin.
エナメル皮膜であることを特徴とする請求項1記載のエ
ナメル線。3. The enameled wire according to claim 1, wherein the enamel coating layer is a brazeable polyurethane enamel coating.
て成ることを特徴とする請求項1記載のエナメル線。4. The enameled wire according to claim 1, wherein a fusion layer is provided on the enamel coating layer.
イルのエナメル線端末とICチップの端子部とを接続し
て成るICモジュールを具備するICカードにおいて、
前記エナメル線は、半田めっき銅線導体ろう着性エナメ
ル線であることを特徴とするICカード。5. An IC card comprising an IC module formed by connecting an enameled wire terminal of an antenna coil obtained by winding an enameled wire and a terminal portion of an IC chip.
The enameled wire is a solder-plated copper wire conductor brazeable enameled wire.
半田めっき銅線導体が、錫を90%以上含有する電気め
っき高融点半田層から成ることを特徴とする請求項5記
載のICカード。6. The IC card according to claim 5, wherein the solder-plated copper wire conductor of the soldering enameled wire comprises an electroplated high melting point solder layer containing 90% or more of tin. .
が、半田めっき銅線導体ろう着性ポリウレタンエナメル
線、半田めっき銅線導体ろう着性ポリエステルイミドエ
ナメル線、半田めっき銅線導体ろう着性ポリアミドイミ
ドエナメル線の中から選ばれた1種であることを特徴と
する請求項5記載のICカード。7. A solder-plated copper wire conductor brazeable enameled wire is a solder-plated copper wire conductor brazeable polyurethane enamel wire, a solder-plated copper wire conductor brazeable polyesterimide enamel wire, a solder-plated copper wire conductor brazeability. 6. The IC card according to claim 5, wherein the IC card is one selected from polyamide imide enameled wires.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10308738A JP2000133053A (en) | 1998-10-29 | 1998-10-29 | Enameled wire and ic card |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP10308738A JP2000133053A (en) | 1998-10-29 | 1998-10-29 | Enameled wire and ic card |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2000133053A true JP2000133053A (en) | 2000-05-12 |
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ID=17984701
Family Applications (1)
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Country | Link |
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JP (1) | JP2000133053A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002109965A (en) * | 2000-10-03 | 2002-04-12 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Insulation sheath electric conductor |
JP2008084874A (en) * | 2007-11-19 | 2008-04-10 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Insulation-coated electric conductor |
WO2017073239A1 (en) * | 2015-10-26 | 2017-05-04 | 株式会社村田製作所 | Antenna device and power supply device |
-
1998
- 1998-10-29 JP JP10308738A patent/JP2000133053A/en active Pending
Cited By (4)
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