JP2000156338A - Substrate treating device and trap tank used therefor - Google Patents
Substrate treating device and trap tank used thereforInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板、液晶
表示用のガラス基板などの基板に、フォトレジスト液、
SOG液(Spin On Glass:シリカ系被膜生成材)などの
処理液が基板に供給されるる前に一時的に溜まるトラッ
プタンクを備える基板処理装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a photoresist liquid on a substrate such as a semiconductor substrate or a glass substrate for liquid crystal display.
The present invention relates to a substrate processing apparatus including a trap tank in which a processing liquid such as an SOG liquid (Spin On Glass: silica-based film forming material) is temporarily stored before being supplied to a substrate.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、フォトレジスト液、SOG液など
の処理液を半導体基板などの基板に供給して、基板に所
定の処理を行う基板処理装置には、処理液供給タンクか
ら送液されてきた処理液を一時的に溜め、その後に基板
に処理液を供給するためのトラップタンクが設けられて
いる。トラップタンクを設けることにより、処理液供給
タンク内の処理液が無くなった場合に、トラップタンク
内の処理液の残量を利用して、基板処理装置上に残って
いる基板を連続して処理したり、処理液供給タンクの交
換中であっても基板処理を止めないようにして処理の効
率化を図っている。処理液の残量の検出には、処理液供
給タンクまたはトラップタンクに取り付けられた静電容
量センサが用いられている。静電容量センサは、タンク
内に残る処理液の残量に応じた静電容量の変化を検出す
る。2. Description of the Related Art Conventionally, a processing liquid such as a photoresist liquid or an SOG liquid is supplied from a processing liquid supply tank to a substrate processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate such as a semiconductor substrate and performs predetermined processing on the substrate. There is provided a trap tank for temporarily storing the treated liquid, and thereafter supplying the treated liquid to the substrate. By providing a trap tank, when the processing liquid in the processing liquid supply tank runs out, the remaining substrate liquid in the trap tank is used to continuously process the substrate remaining on the substrate processing apparatus. Also, the processing efficiency is improved by not stopping the substrate processing even during the replacement of the processing liquid supply tank. For detecting the remaining amount of the processing liquid, a capacitance sensor attached to a processing liquid supply tank or a trap tank is used. The capacitance sensor detects a change in capacitance according to the remaining amount of the processing liquid remaining in the tank.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。近年、種々の処理液が基板の処理に利用されてお
り、それら処理液は各々誘電率が異なるので、同じ残量
であっても処理液の種類が違うと静電容量が異なってく
る。そのため、処理液ごとに残量を正確に検出すること
が困難であるという問題がある。However, the prior art having such a structure has the following problems. In recent years, various processing liquids have been used for processing substrates, and the processing liquids have different dielectric constants. Therefore, even if the remaining amount is the same, the capacitance will be different if the type of the processing liquid is different. Therefore, there is a problem that it is difficult to accurately detect the remaining amount for each processing solution.
【0004】また、近年の半導体基板上に形成される回
路パターンの微細化、多層配線化に伴い、比較的平坦性
が高い層間絶縁膜を効率良く形成するために、SOG液
(Spin on glass:シリカ系被膜生成材) などの処理液が
利用され始めている。このような層間絶縁膜を形成する
ためのSOG液などの処理液は結晶化し易いという特性
を有する。従って、SOG液などの結晶化し易い処理液
を使用する際に、処理液が溜まる液溜まり部の上部また
は下部の面と、側面とがほぼ直角となっており、処理液
溜まり部内で処理液が流れる際に処理液が滞留する死水
域が生じる従来のトラップタンクを利用すると、トラッ
プタンク内で処理液が結晶化するという問題もある。Further, with the recent miniaturization of circuit patterns formed on semiconductor substrates and multi-layer wiring, in order to efficiently form an interlayer insulating film having relatively high flatness, an SOG solution is required.
(Spin on glass: a silica-based film forming material) and the like are beginning to be used. A processing liquid such as an SOG liquid for forming such an interlayer insulating film has a characteristic of being easily crystallized. Therefore, when using a processing liquid that easily crystallizes, such as an SOG liquid, the upper or lower surface of the liquid pool where the processing liquid is stored and the side surface are substantially perpendicular to each other, and the processing liquid in the processing liquid pool is If a conventional trap tank in which a dead water area in which the processing liquid stays when flowing is used, there is also a problem that the processing liquid crystallizes in the trap tank.
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、処理液の種類に関わらずトラップタン
ク内の処理液の残量を正確に検出することができる基板
処理装置及びそれに用いるトラップタンクを提供するこ
とを目的とする。The present invention has been made in view of such circumstances, and a substrate processing apparatus and a substrate processing apparatus capable of accurately detecting the remaining amount of a processing liquid in a trap tank regardless of the type of the processing liquid. It is intended to provide a trap tank to be used.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。請求項1
に記載の発明は、送液されてきた処理液が一時的に溜ま
る液溜まり部を備えたトラップタンクから基板へ処理液
を供給して基板に処理を行う基板処理装置において、前
記トラップタンク内の処理液の残量を検出する残量検出
手段を備え、前記残量検出手段は、送液されてきた処理
液がトラップタンク内に注入される注入口と、前記液溜
まり部とを結ぶ流路内における処理液の有無を検出する
光センサであることを特徴とするものである。The present invention has the following configuration in order to achieve the above object. Claim 1
The invention described in (1) is a substrate processing apparatus that performs processing on a substrate by supplying a processing liquid to a substrate from a trap tank having a liquid storage portion in which a processing liquid that has been sent is temporarily stored. A remaining amount detecting means for detecting a remaining amount of the processing liquid, wherein the remaining amount detecting means is a flow path connecting the inlet for injecting the sent processing liquid into the trap tank and the liquid reservoir; It is an optical sensor for detecting the presence or absence of a processing liquid in the inside.
【0007】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の基板処理装置において、前記装置は、さらに、前記液
溜まり部内の気体を排出するために前記トラップタンク
に連通接続された排出路を開閉する開閉バルブと、前記
トラップタンクから前記開閉バルブに至る排出路内の処
理液の有無を検出する光センサと、前記光センサが処理
液を検出すると前記開閉バルブを閉じるバルブ制御手段
とを備えるものである。According to a second aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first aspect, the apparatus further includes a discharge path connected to the trap tank for discharging gas in the liquid reservoir. An opening / closing valve that opens and closes, an optical sensor that detects the presence or absence of a processing liquid in a discharge path from the trap tank to the opening / closing valve, and a valve control unit that closes the opening / closing valve when the optical sensor detects a processing liquid. It is provided.
【0008】請求項3に記載の発明は、送液されてきた
処理液が一時的に溜まる液溜まり部を備えたトラップタ
ンクにおいて、前記液溜まり部に一端側で連通し、側壁
の少なくとも一部が光を透過させる材質で形成された流
路部と、前記流路部の他端側を、前記処理液が注入され
る注入口と、前記液溜まり部内の気体を排出する排出口
とに分岐する分岐部とを備え、前記液溜まり部は、上部
が上方に向かって小さくなるテーパー形状で、その上端
位置で前記流路部に連通する一方、その下部が下方に向
かって小さくなるテーパー形状で、その下端位置に処理
液を送出する送出口が設けらていることを特徴とするも
のである。According to a third aspect of the present invention, there is provided a trap tank having a liquid reservoir portion for temporarily storing a processing liquid sent thereto, wherein the trap tank communicates with the liquid reservoir portion at one end side and at least a part of a side wall. Is branched into a flow path portion made of a material that transmits light, and the other end side of the flow path portion into an inlet for injecting the processing liquid and an outlet for discharging gas in the liquid reservoir. The liquid reservoir has a tapered shape in which the upper portion is tapered upward and communicates with the flow channel portion at the upper end position, while the lower portion has a tapered shape which is reduced downward. And a delivery port for delivering the processing liquid is provided at the lower end position.
【0009】[0009]
【作用】本発明の作用は次のとおりである。請求項1に
記載の発明によれば、トラップタンクにまで送液されて
きた処理液は、注入口から注入されて、流路内を流通し
て液溜まり部に流入する。液溜まり部には、その流入し
てきた処理液が溜まる。基板処理装置は、その液溜まり
部に溜まった処理液を基板に供給する。残量検出手段で
ある光センサは、トラップタンクの流路内を処理液が流
通している間は処理液を検出する一方、注入口から処理
液が注入されなくなると、基板への処理液の供給にした
がって液溜まり部内よりも早期に流路内の処理液が無く
なるので、液溜まり部内に処理液が溜まった状態で処理
液が無くなったことを検出する。基板処理装置は、トラ
ップタンクに処理液が送液されなくなった後でも、トラ
ップタンクの液溜まり部内に残っている処理液を基板に
供給して連続して基板処理を行うことができる。The operation of the present invention is as follows. According to the first aspect of the present invention, the processing liquid sent to the trap tank is injected from the injection port, flows through the flow path, and flows into the liquid reservoir. The inflowing processing liquid is stored in the liquid storage part. The substrate processing apparatus supplies the processing liquid stored in the liquid pool to the substrate. The optical sensor, which is the remaining amount detecting means, detects the processing liquid while the processing liquid is flowing in the flow path of the trap tank, and when the processing liquid is no longer injected from the inlet, the processing liquid flows to the substrate. Since the processing liquid in the flow path runs out earlier than the inside of the liquid pool part according to the supply, it is detected that the processing liquid has run out in a state where the processing liquid is stored in the liquid pool part. The substrate processing apparatus can continuously perform the substrate processing by supplying the processing liquid remaining in the liquid reservoir of the trap tank to the substrate even after the processing liquid is no longer supplied to the trap tank.
【0010】請求項2に記載の発明によれば、トラップ
タンクの液溜まり部内の気体を排出する排出路が開閉バ
ルブによって開けられると、トラップタンクにまで送液
されてくる処理液によって液溜まり部内の気体がトラッ
プタンク内から排出される。このとき、トラップタンク
内の全ての気体が排出されると処理液が排出路に流れ込
む。光センサは、開閉バルブとトラップタンクとの間の
排出路に設けられているので、処理液が開閉バルブに達
する前に処理液が排出路に流れ込んできたことを検出す
る。バルブ制御手段は、光センサによって排出路内の処
理液が検出されると、トラップタンク内の気体が排出さ
れたものと判断して開閉バルブを閉じる。これにより、
処理液が開閉バルブよりも外側の排出路に流れだすこと
を防止する。According to the second aspect of the present invention, when the discharge passage for discharging gas in the liquid reservoir of the trap tank is opened by the opening / closing valve, the processing liquid supplied to the trap tank is used to discharge the gas into the liquid reservoir. Is discharged from the trap tank. At this time, when all the gas in the trap tank is discharged, the processing liquid flows into the discharge path. Since the optical sensor is provided in the discharge path between the open / close valve and the trap tank, it detects that the processing liquid has flowed into the discharge path before the processing liquid reaches the open / close valve. When the optical sensor detects the processing liquid in the discharge path, the valve control means determines that the gas in the trap tank has been discharged, and closes the open / close valve. This allows
The processing liquid is prevented from flowing to a discharge path outside the on-off valve.
【0011】請求項3に記載の発明によれば、トラップ
タンクの注入口から注入される処理液は、流路部を流通
して液溜まり部内に流入する。その処理液と共に流入し
た気体、または処理液中から発生する気体である処理液
中の気泡は、液溜まり部の上方に小さくなるテーパー形
状である上部によって流路部内に案内されるとともに、
流路部内を通過して分岐部の排出口にまで導かれる。一
方、液溜まり部内の処理液は、下方に向かって小さくな
るテーパー形状である下部によって液溜まり部内で滞留
することなく送出口から送出される。流路部は、側壁の
少なくとも一部に透過性を有するので、その透過性のあ
る部分において処理液の有無を検出することで、トラッ
プタンク内の処理液の残量の検出が容易になる。According to the third aspect of the invention, the processing liquid injected from the injection port of the trap tank flows through the flow path and flows into the liquid pool. The gas flowing in with the processing liquid, or bubbles in the processing liquid, which is a gas generated from the processing liquid, are guided into the flow path by the tapered upper portion that becomes smaller above the liquid reservoir,
It passes through the inside of the flow path part and is guided to the discharge port of the branch part. On the other hand, the processing liquid in the liquid pool is sent out from the outlet without staying in the liquid pool by the tapered lower portion that becomes smaller downward. Since at least a part of the side wall of the flow path has permeability, by detecting the presence or absence of the processing liquid in the permeable portion, it becomes easy to detect the remaining amount of the processing liquid in the trap tank.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。図1は実施例に係る基板処理装置の
概略構成を示す全体構成図である。なお、本発明に係る
基板処理装置として、例えばBCB(ベンゾシクロブテ
ン)などのポリマー系処理液、HSQ(ハイドロジェン
シルセスキオキサン)などのシリカ系処理液などである
いわゆるSOG液や、フォトレジスト液などの処理液を
基板に供給することで、基板上にこれらの処理液を塗布
する塗布装置や、現像液を基板に供給して現像を行う現
像装置などがある。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall configuration diagram illustrating a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment. As the substrate processing apparatus according to the present invention, for example, a so-called SOG liquid which is a polymer-based processing liquid such as BCB (benzocyclobutene), a silica-based processing liquid such as HSQ (hydrogensilsesquioxane), or a photoresist. There are a coating apparatus that applies a processing liquid such as a liquid to the substrate to apply the processing liquid to the substrate, and a developing apparatus that supplies a developing liquid to the substrate to perform development.
【0013】図1に示す基板処理装置は、基板Wを吸着
保持して水平面内で回転するスピンチャック3を備えて
いる。このスピンチャック3は、電動モータ1の駆動に
よって鉛直方向の軸芯回りに回転する回転軸2の上端に
取り付けられており、図示しない真空ラインに接続され
ている。このスピンチャック3の上方には、基板W上に
処理液を供給するノズル4が配設されている。また、こ
のスピンチャック3の周囲には、基板Wの回転によって
飛散する処理液を受けとめる飛散防止カップ5が配設さ
れており、この飛散防止カップ5には、基板W上から飛
散した処理液を回収するための回収ドレイン5aと、飛
散防止カップ5内を排気するための排気口5bとが設け
られている。The substrate processing apparatus shown in FIG. 1 includes a spin chuck 3 which holds a substrate W by suction and rotates in a horizontal plane. The spin chuck 3 is attached to an upper end of a rotating shaft 2 that rotates around a vertical axis by driving the electric motor 1 and is connected to a vacuum line (not shown). Above the spin chuck 3, a nozzle 4 for supplying a processing liquid onto the substrate W is provided. Around the spin chuck 3, a scatter prevention cup 5 for receiving the processing liquid scattered by the rotation of the substrate W is provided, and the scatter prevention cup 5 receives the processing liquid scattered from the substrate W. A collecting drain 5a for collecting and an exhaust port 5b for exhausting the inside of the scattering prevention cup 5 are provided.
【0014】基板W上に供給される処理液は、処理液タ
ンク10から送液されるように構成されており、処理液
タンク10にはタンク内を加圧する図示しない加圧ライ
ンが接続されている。処理液タンク10は、加圧ライン
からの例えば窒素ガスで加圧されることによって、処理
液タンク10内の処理液を送液ライン11に送り出す。
送液ライン11の他端側は、基板Wに処理液が供給され
る前に一時的に処理液が溜まるトラップタンク12の注
入口13に連通接続されている。The processing liquid supplied onto the substrate W is configured to be sent from a processing liquid tank 10, and a pressure line (not shown) for pressurizing the inside of the tank is connected to the processing liquid tank 10. I have. The processing liquid tank 10 sends out the processing liquid in the processing liquid tank 10 to the liquid sending line 11 by being pressurized with, for example, nitrogen gas from a pressurizing line.
The other end of the liquid sending line 11 is connected to an inlet 13 of a trap tank 12 where the processing liquid temporarily accumulates before the processing liquid is supplied to the substrate W.
【0015】トラップタンク12は、処理液を溜める液
溜まり部16と、一端側が液溜まり部16に連通する流
路部15と、流路部15の他端側に処理液が注入される
注入口13およびトラップタンク12内の気体を排出す
る排出口14とに分岐する分岐部30とを備えている。
注入口13には、送液ライン11が連通接続されてお
り、処理液タンク10から送液されてくる処理液がその
注入口13からトラップタンク12内に注入される。排
出口14には、注入口13から注入される処理液ととも
に注入される気体や、処理液中から発生する気体をトラ
ップタンク12内から排出するためのドレインライン2
0が連通接続されている。ドレインライン20は、本発
明における排出路に相当する。The trap tank 12 has a liquid reservoir 16 for storing the processing liquid, a flow path 15 having one end communicating with the liquid storage 16, and an inlet for injecting the processing liquid into the other end of the flow path 15. A branch portion 30 is provided for branching into a discharge port 13 for discharging the gas in the trap tank 12.
A liquid feed line 11 is connected to the inlet 13, and the processing liquid sent from the processing liquid tank 10 is injected into the trap tank 12 from the inlet 13. The outlet 14 has a drain line 2 for discharging gas injected together with the processing liquid injected from the inlet 13 and gas generated from the processing liquid from the trap tank 12.
0 is connected for communication. The drain line 20 corresponds to a discharge path in the present invention.
【0016】排出口14に連通接続されたドレインライ
ン20には、ドレインライン20内に侵入する処理液を
検出するドレイン側の光センサ21が取付けられてい
る。そのドレイン側の光センサ21により処理液が検出
されると、後述する制御部6によってドレインライン2
0を開閉する開閉バルブ22が閉じられるように構成さ
れている。また、ドレインライン20の終端側は、図示
しない不活性ガス供給手段によって不活性ガス雰囲気
(例えば、窒素雰囲気)に保たれている。これにより、
ドレインライン20の終端側からドレインライン20内
またはトラップタンク12内に空気雰囲気が流れ込むこ
とによる処理液の結晶化を防ぐことが可能になる。A drain-side optical sensor 21 for detecting a processing liquid entering the drain line 20 is attached to the drain line 20 connected to the discharge port 14. When the processing liquid is detected by the optical sensor 21 on the drain side, the control unit 6 described later controls the drain line 2.
The opening / closing valve 22 for opening / closing 0 is configured to be closed. Further, the terminal side of the drain line 20 is maintained in an inert gas atmosphere (for example, a nitrogen atmosphere) by an inert gas supply unit (not shown). This allows
It is possible to prevent crystallization of the processing liquid due to an air atmosphere flowing into the drain line 20 or the trap tank 12 from the end side of the drain line 20.
【0017】分岐部30が設けられた流路部15は、注
入口13から注入された処理液を液溜まり部16にまで
導くために、分岐部30から液溜まり部16までを連通
する管状に形成されており、流路部15の全体が光を透
過させる(透過性を有する)材質で形成されている。こ
の流路部15の外側には、タンク側の光センサ18が取
付けられており、タンク側の光センサ18によって流路
部15内の処理液の有無が検出されるように構成されて
いる。The channel portion 15 provided with the branch portion 30 has a tubular shape communicating the branch portion 30 to the liquid reservoir 16 in order to guide the processing liquid injected from the inlet 13 to the liquid reservoir 16. The entire flow path section 15 is formed of a material that transmits light (has transmissivity). An optical sensor 18 on the tank side is attached to the outside of the flow path section 15, and the presence or absence of the processing liquid in the flow path section 15 is detected by the optical sensor 18 on the tank side.
【0018】流路部15が連通される液溜まり部16
は、その上部16aが上向きに小さくなるテーパー形状
(例えば、上向きの円錐形状)に、その下部16bが下
向きに小さくなるテーパー形状(例えば、下向きの円錐
形状)に、上部16aと下部16bとの間の側壁面は円
筒状にそれぞれ形成されている。その上部16aの上端
位置には流路部15が連通されており、下部16bの下
端位置には液溜まり部16内の処理液をノズル4に送出
する送出口17が設けられている。この構成によって、
処理液とともに液溜まり部16内に流入する気体や、処
理液から発生する気体によって生じる気泡は、上方に小
さくなるテーパ形状になった上部16aに案内されなが
ら上昇して、流路部15内に送られる。さらに、その気
泡は、流路部15内を上昇して、排出口14にまで導か
れる。したがって、気泡が含まれる処理液を基板Wに供
給することを防止できる。一方、液溜まり部16内に満
たされた処理液が送出口17から送出される場合には、
上部16aが上向きに小さくなるテーパー形状で、下部
16bが下向きに小さくなるテーパー形状になっている
ので、液溜まり部16内の全体にわたって処理液の流れ
が生じる。つまり、液溜まり部16内では、処理液の滞
留による死水域を生じさせることなく、液溜まり部16
内の処理液を順次基板Wに供給することができる。その
結果、結晶化しやすい処理液を利用した場合であって
も、トラップタンク12内での結晶化を防止することが
できる。A liquid reservoir 16 with which the flow path 15 communicates.
The upper portion 16a has a tapered shape (for example, an upward conical shape) in which the upper portion 16a decreases upward, and the lower portion 16b has a taper shape (for example, a downward conical shape) in which the lower portion 16b decreases. Are formed in a cylindrical shape. A flow path 15 is communicated with an upper end position of the upper portion 16a, and an outlet 17 for sending out the processing liquid in the liquid reservoir 16 to the nozzle 4 is provided at a lower end position of the lower portion 16b. With this configuration,
The gas flowing into the liquid reservoir 16 together with the processing liquid and the bubbles generated by the gas generated from the processing liquid rise while being guided by the tapered upper portion 16a that becomes smaller upward, and enter into the flow path portion 15. Sent. Further, the bubble rises in the flow path portion 15 and is guided to the outlet 14. Therefore, it is possible to prevent the processing liquid containing bubbles from being supplied to the substrate W. On the other hand, when the processing liquid filled in the liquid reservoir 16 is sent out from the outlet 17,
Since the upper portion 16a has a tapered shape that becomes smaller upward, and the lower portion 16b has a tapered shape that becomes smaller downward, the flow of the processing liquid occurs in the entire liquid pool portion 16. In other words, in the liquid pool 16, no dead water area is generated due to the stagnation of the processing liquid, and the liquid pool 16
The processing liquid in the inside can be sequentially supplied to the substrate W. As a result, crystallization in the trap tank 12 can be prevented even when a processing solution that easily crystallizes is used.
【0019】タンク側の光センサ18は、図2に示すよ
うに、光を投光する投光素子18aと、投光された光が
所定面で反射することにより、その反射光を受光する受
光素子18bとを備えた反射型光センサで構成されてい
る。具体的には、このタンク側の光センサ18は、投光
素子18aから投光される光が、流路部15の内壁面1
5aで反射した場合に受光素子18bによって受光され
るように取付けられいる。受光素子18aは、内壁面1
5aで反射した反射光が受光することで、例えば光電効
果によって電気信号を発生させる。なお、ドレイン側の
光センサ21も同様に構成される。As shown in FIG. 2, the light sensor 18 on the tank side includes a light projecting element 18a for projecting light and a light receiving element for receiving the reflected light by reflecting the projected light on a predetermined surface. And a reflection type optical sensor having the element 18b. More specifically, the light sensor 18 on the tank side detects the light emitted from the light emitting element 18 a
It is mounted so that it is received by the light receiving element 18b when reflected by 5a. The light receiving element 18a is provided on the inner wall surface 1
By receiving the reflected light reflected at 5a, an electric signal is generated by, for example, a photoelectric effect. The drain-side optical sensor 21 has the same configuration.
【0020】タンク側の光センサ18は、以下のように
動作する。例えば、光センサ18が取付けられた流路部
15の材質の屈折率が気体の屈折率よりも大きいとする
と、図3(a)に示すように、流路部15内が気体で満
たされている場合には、流路部15の材質と、流路部1
5内の気体との屈折率の違いから、投光素子18aから
投光された光は、流路部15内には侵入せずに流路部1
5の内壁面15aで反射される。受光素子18bは、内
壁面15aで反射した光を受光すると、光電効果によっ
て電気信号を発生させる。つまり、光センサ18は、電
気信号を発生させることで、流路部15内に処理液が無
いことを検出する。一方、図3(b)に示すように、流
路部15内が処理液で満たされている場合には、流路部
15の材質と、流路部15内の処理液の屈折率がほぼ同
等であることから、投光素子18aから投光された光
は、流路部15の内壁面15aでは反射せずに、流路部
15内の処理液を透過して流路部15外に通り抜ける。
このとき、受光素子18bは反射光を受光しないので、
電気信号を発生させない。つまり、光センサ18は、電
気信号を発生させないことで、流路部15内に処理液が
有ることを検出する。なお、ドレイン側の光センサ21
は、ドレインライン20に対して同様に動作する。The optical sensor 18 on the tank side operates as follows. For example, assuming that the refractive index of the material of the channel portion 15 to which the optical sensor 18 is attached is larger than the refractive index of the gas, the inside of the channel portion 15 is filled with the gas as shown in FIG. If there is, the material of the flow path 15 and the flow path 1
Due to the difference in the refractive index from that of the gas in the flow path 5, the light projected from the light projecting element 18a does not enter the flow path 15
5 is reflected by the inner wall surface 15a. When receiving the light reflected by the inner wall surface 15a, the light receiving element 18b generates an electric signal by a photoelectric effect. That is, the optical sensor 18 detects that there is no processing liquid in the flow path unit 15 by generating an electric signal. On the other hand, as shown in FIG. 3B, when the inside of the flow path 15 is filled with the processing liquid, the material of the flow path 15 and the refractive index of the processing liquid in the flow path 15 are almost equal. Since they are equivalent, the light emitted from the light emitting element 18a does not reflect on the inner wall surface 15a of the flow path unit 15, but passes through the processing liquid in the flow path unit 15 and goes out of the flow path unit 15. Go through.
At this time, since the light receiving element 18b does not receive the reflected light,
Do not generate electrical signals. That is, the optical sensor 18 detects the presence of the processing liquid in the flow path unit 15 by not generating an electric signal. The drain-side optical sensor 21
Operates similarly for the drain line 20.
【0021】制御部6は、図示しないCPUやメモリな
どによって構成されるコンピュータで構成されており、
所定のプログラムによって電動モータ1を回転駆動させ
たり、ノズル4や飛散防止カップ5を昇降駆動させたり
するものである。また、制御部6は、タンク側の光セン
サ18からの電気信号の有無を常時監視しており、流路
部15内の処理液が無くなると、図示しない警報手段を
動作させて、基板処理装置を管理するオペレータに、処
理液タンク10の交換を促す。さらに、制御部6は、オ
ペレータが操作する入力部7からの指示によって開閉バ
ルブ22を開けるとともに、ドレイン側の光センサ21
で処理液が検出されると、開閉バルブ22を閉じる。な
お、制御部6は、本発明におけるバルブ制御手段に相当
する。The control unit 6 is composed of a computer including a CPU, a memory, and the like (not shown).
In accordance with a predetermined program, the electric motor 1 is driven to rotate, and the nozzle 4 and the scattering prevention cup 5 are driven to move up and down. The control unit 6 constantly monitors the presence or absence of an electric signal from the optical sensor 18 on the tank side. When the processing liquid in the flow path unit 15 runs out, the control unit 6 operates an alarm unit (not shown) to activate the substrate processing apparatus. Of the processing liquid tank 10 is urged. Further, the control unit 6 opens the opening / closing valve 22 in accordance with an instruction from the input unit 7 operated by the operator, and the light sensor 21 on the drain side.
When the processing liquid is detected in step (1), the opening / closing valve 22 is closed. Note that the control unit 6 corresponds to a valve control unit in the present invention.
【0022】以下、トラップタンク12内の処理液の残
量検出およびトラップタンク12内のいわゆるエア抜き
について説明する。処理液タンク10から送液されてく
る処理液によって、トラップタンク12内の全体であ
る、分岐部30、流路部15および液溜まり部16内が
満たされる。このとき、開閉バルブ22の後述する動作
によって分岐部30の排出口14に連通接続されている
ドレインライン20内もドレイン側の光センサ21の位
置にまで処理液によって満たされる。Hereinafter, detection of the remaining amount of the processing liquid in the trap tank 12 and so-called air bleeding in the trap tank 12 will be described. The processing liquid sent from the processing liquid tank 10 fills the entirety of the trap tank 12, that is, the branch portion 30, the flow path portion 15, and the liquid pool portion 16. At this time, the inside of the drain line 20 communicatively connected to the outlet 14 of the branch portion 30 is also filled with the processing liquid up to the position of the optical sensor 21 on the drain side by the operation described later of the opening / closing valve 22.
【0023】トラップタンク12内の処理液が供給ライ
ン19を通じてノズル4に送られ基板処理が行われる。
基板Wの処理が進むにつれて、処理液が消費されて、処
理液タンク10内の処理液が空になり、トラップタンク
12の流路部15内において処理液の液面が徐々に下が
る。この液面が、タンク側の光センサ18よりも下降す
ると、タンク側の光センサ18から電気信号が発生され
る。制御部6は、その電気信号を検出し、警報を発して
オペレータに処理液タンク10の交換を促す。この警報
を発した後も、トラップタンク12内には所定量の処理
液が残っているので、基板Wの処理を続行する。The processing liquid in the trap tank 12 is sent to the nozzle 4 through the supply line 19 to perform the substrate processing.
As the processing of the substrate W proceeds, the processing liquid is consumed, the processing liquid in the processing liquid tank 10 becomes empty, and the liquid level of the processing liquid in the flow path portion 15 of the trap tank 12 gradually decreases. When the liquid level falls below the optical sensor 18 on the tank side, an electric signal is generated from the optical sensor 18 on the tank side. The control unit 6 detects the electric signal and issues an alarm to urge the operator to replace the processing liquid tank 10. Even after the alarm is issued, the processing of the substrate W is continued because a predetermined amount of the processing liquid remains in the trap tank 12.
【0024】一方、オペレータは、処理液タンク10の
交換が終了すると、トラップタンク12内の気体を排出
するために入力部7を操作して、制御部6にエア抜き開
始の指示を与える。制御部6は、この指示により開閉バ
ルブ22を開ける。これにより、ドレインライン20を
通じて、トラップタンク12内の気体が抜ける。トラッ
プタンク12内から全ての気体が抜けると、次に処理液
がドレインライン20に流れ込む。この処理液は、ドレ
インライン20を進みドレイン側の光センサ21の位置
にまで達する。ここで、ドレイン側の光センサ21は、
ドレインライン20内の処理液を検出する。制御部6
は、ドレインライン20内の処理液が検出されると、開
閉バルブ22を閉じる。これにより、処理液は、開閉バ
ルブ22に達すること無く、開閉バルブ22よりも手前
のドレインライン20内で止まる。On the other hand, when the replacement of the processing liquid tank 10 is completed, the operator operates the input unit 7 to discharge the gas in the trap tank 12 and gives an instruction to the control unit 6 to start air bleeding. The control unit 6 opens the opening / closing valve 22 according to this instruction. Thereby, the gas in the trap tank 12 escapes through the drain line 20. When all the gas has escaped from the trap tank 12, the processing liquid flows into the drain line 20 next. This treatment liquid travels along the drain line 20 and reaches the position of the optical sensor 21 on the drain side. Here, the light sensor 21 on the drain side is
The processing liquid in the drain line 20 is detected. Control unit 6
Closes the on-off valve 22 when the processing liquid in the drain line 20 is detected. Thus, the processing liquid does not reach the open / close valve 22 and stops in the drain line 20 before the open / close valve 22.
【0025】したがって、上述した装置によれば、分岐
部30と液溜まり部16との間に管状の流路部15を設
け、この流路部15内の処理液の有無を光センサ18に
よって検出しているので、処理液の減少とともに下がる
流路部15内の液面によって、トラップタンク12内の
処理液の残量を正確に検出することができる。また、上
述した形状のトラップタンク12によって、結晶化しや
すいSOG液などの処理液であっても、トラップタンク
を利用することができる。さらに、エア抜きの終了を光
センサ21によって検出するとともに、ドレインライン
20内の処理液が開閉バルブ22を越すことがないの
で、処理液の結晶化によるパーティクル等の汚染を防止
するとともに、高価な処理液を無駄に消費することを防
止することができる。Therefore, according to the above-described apparatus, the tubular flow path 15 is provided between the branch section 30 and the liquid pool section 16, and the presence or absence of the processing liquid in the flow path section 15 is detected by the optical sensor 18. Therefore, the remaining amount of the processing liquid in the trap tank 12 can be accurately detected from the liquid level in the flow path section 15 that decreases as the processing liquid decreases. In addition, the trap tank 12 having the above-described shape can use the trap tank even with a processing liquid such as an SOG liquid that is easily crystallized. Further, since the end of air release is detected by the optical sensor 21 and the processing liquid in the drain line 20 does not pass through the opening / closing valve 22, contamination of particles or the like due to crystallization of the processing liquid is prevented, and the cost is high. It is possible to prevent the processing liquid from being wasted.
【0026】さらに、本発明におけるトラップタンク1
2についての具体的構成を図4を参照しながら詳細に説
明する。上述したように、トラップタンク12は、大別
して分岐部30と、流路部15と、液溜まり部16とか
ら構成されている。具体的には、図4に示すように、ト
ラップタンク12は、分岐部30である分岐チューブ4
1と、流路部15であるチューブ42と、液溜まり部1
6であるトップボディ43及びボトムボディ44とから
構成される。Further, the trap tank 1 of the present invention
The specific configuration of No. 2 will be described in detail with reference to FIG. As described above, the trap tank 12 is roughly composed of the branch part 30, the flow path part 15, and the liquid pool part 16. Specifically, as shown in FIG. 4, the trap tank 12 is
1, a tube 42 that is the flow path section 15, and a liquid pool section 1
6, a top body 43 and a bottom body 44.
【0027】分岐チューブ41は、注入口13と、排出
口14と、チューブ42の差し込み口51が形成された
三叉状に構成されている。注入口13には送液ライン1
1が、排出口14にはドレインライン20が、それぞれ
差し込まれ、ナット52、53(図中2点鎖線で示す)
によって固定される。また、差し込み口51には、チュ
ーブ42の一端側がナット54によって固定される。こ
れにより、分岐チューブ41と、チューブ42とが着脱
自在に連通接続されている。The branch tube 41 is formed in a three-pronged shape in which an inlet 13, an outlet 14, and an insertion port 51 of the tube 42 are formed. Liquid feed line 1
1, a drain line 20 is inserted into the outlet 14, respectively, and nuts 52, 53 (shown by two-dot chain lines in the figure)
Fixed by One end of the tube 42 is fixed to the insertion port 51 by a nut 54. Thus, the branch tube 41 and the tube 42 are detachably connected to each other.
【0028】チューブ42は、その全体が透過性を有す
る材質で構成されており、その内部には分岐チューブ4
1からトップボディ43までを連通するための流路を備
えている。より具体的には、例えば、管径が12mm程
度、その材質がPFA(テトラフルオロエチレン−パー
フルオロアルキルビニルエーテル共重合体)で形成され
ている。このチューブ42に他端側には、液溜まり部1
6であるトップボディ43及びボトムボディ44が連通
接続される。The tube 42 is entirely made of a transparent material, and has a branch tube 4 inside.
A flow path for communicating from 1 to the top body 43 is provided. More specifically, for example, the tube diameter is about 12 mm, and the material is formed of PFA (tetrafluoroethylene-perfluoroalkylvinyl ether copolymer). The other end of the tube 42 has a liquid reservoir 1
6, the top body 43 and the bottom body 44 are connected to each other.
【0029】液溜まり部16は、トップボディ43と、
ボトムボディ44とが嵌合されて構成されている。トッ
プボディ43は、ボトムボディ44との嵌合面が開口し
ており、その内側の上部16aが上向きに小さくなるテ
ーパー形状に形成されているとともに、上部16aの上
端位置にはチューブ42が接続される接続口56が形成
されている。この接続口56にチューブ42の他端側が
ナット55によって固定され、液溜まり部16とチュー
ブ42とが着脱自在に連通接続されている。ボトムボデ
ィ44は、トップボディ43との嵌合面が同様に開口し
ており、その内側の下部16bが下向きに小さくなるテ
ーパー形状に形成されているとともに、下部16bの下
端位置には供給ライン19が接続される送出口17が形
成されている。この送出口17には、基板Wに処理液を
供給するための供給ライン19がナット57によって着
脱自在に固定される。The liquid reservoir 16 includes a top body 43,
Bottom body 44 is fitted and constituted. The top body 43 has an opening at the fitting surface with the bottom body 44, and is formed in a tapered shape in which an upper part 16a on the inner side is reduced upward, and a tube 42 is connected to an upper end position of the upper part 16a. Connection port 56 is formed. The other end of the tube 42 is fixed to the connection port 56 by a nut 55, and the liquid reservoir 16 and the tube 42 are removably connected to each other. The bottom body 44 also has an opening at the fitting surface with the top body 43, and a lower portion 16b inside the lower body 16 is formed in a tapered shape so as to decrease downward, and a supply line 19 is provided at a lower end position of the lower portion 16b. The outlet 17 to which is connected is formed. A supply line 19 for supplying the processing liquid to the substrate W is detachably fixed to the delivery port 17 by a nut 57.
【0030】このトラップタンク12の構成によれば、
光センサを取り付けるためのチューブ42が着脱自在に
構成されているので、処理液で侵されるなどによって透
過性が悪くなった場合等には、チューブ42を容易に交
換することができる。また、チューブ42のみならず、
分岐チューブ41、トップボディ43およびボトムボデ
ィ44とがそれぞれ着脱自在で構成されているので、各
部の交換を容易にすることが可能である。According to the configuration of the trap tank 12,
Since the tube 42 for attaching the optical sensor is configured to be detachable, the tube 42 can be easily replaced when the permeability deteriorates due to being attacked by the processing liquid or the like. Also, not only the tube 42,
Since the branch tube 41, the top body 43, and the bottom body 44 are each configured to be detachable, it is possible to easily replace each part.
【0031】本発明は、次のように変形実施することも
可能である。 (1)上述した実施例の基板処理装置では、トラップタ
ンク12の流路部15(チューブ42)の全てを透過性
を有する材質で形成したが、本発明はこれに限定される
ものではなく、例えば、流路部15の一部分のみを透過
性を有する材質にすることも可能である。さらに、トラ
ップタンク12の全体を透過性を有する材質で形成する
ことも可能である。The present invention can be modified as follows. (1) In the substrate processing apparatus of the above-described embodiment, the entire flow path portion 15 (tube 42) of the trap tank 12 is formed of a material having permeability. However, the present invention is not limited to this. For example, it is also possible to make only a part of the flow path portion 15 a material having permeability. Further, the entire trap tank 12 may be formed of a material having transparency.
【0032】(2)上述した実施例の基板処理装置で
は、光センサとして反射型のものについて説明したが、
本発明はこれに限定されるものではなく、透過型の光セ
ンサにすることもできる。(2) In the substrate processing apparatus of the above-described embodiment, a reflection type optical sensor has been described.
The present invention is not limited to this, and may be a transmission type optical sensor.
【0033】(3)上述した実施例の基板処理装置で
は、トラップタンク12の液溜まり部16の上部16a
を上向きに小さくなるテーパー形状に、下部16bを下
向きに小さくなるテーパー形状に形成したものについて
説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、
例えば、上部16aを上向きに小さくなるテーパー形状
の多角錐状に形成し、その上端位置に流路部15(チュ
ーブ42)を連通させ、下部16bを下向きに小さくな
るテーパー形状の多角錐状に形成し、その下端位置に送
出口17を形成した構成にすることもできる。(3) In the substrate processing apparatus of the above-described embodiment, the upper portion 16a of the liquid reservoir 16 of the trap tank 12
Has been described in a tapered shape in which the lower portion 16b is formed in a downwardly tapered shape, but the present invention is not limited to this.
For example, the upper portion 16a is formed in a tapered polygonal pyramid shape that becomes smaller upward, the flow path portion 15 (tube 42) communicates with the upper end position, and the lower portion 16b is formed in a tapered polygonal pyramid shape that becomes smaller downward. However, the outlet 17 may be formed at the lower end position.
【0034】[0034]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、次の効果を奏する。すなわち、請求項1に記
載の発明によれば、流路内における処理液の有無を光セ
ンサにより検出するので、処理液の種類によらず正確に
検出することができる。また、液溜まり部よりも上手側
の流路内における処理液の有無を検出するので、トラッ
プタンクに処理液が送液されてこなくなった後でも、液
溜まり部内に残っている処理液によって基板処理を続行
することができる。As apparent from the above description, the present invention has the following effects. That is, according to the first aspect of the present invention, since the presence or absence of the processing liquid in the flow path is detected by the optical sensor, it is possible to accurately detect the processing liquid regardless of the type of the processing liquid. In addition, since the presence or absence of the processing liquid in the flow path on the upstream side of the liquid pool is detected, even after the processing liquid is no longer supplied to the trap tank, the substrate processing is performed by the processing liquid remaining in the liquid pool. Can continue.
【0035】請求項2に記載の発明によれば、トラップ
タンク内の気体を排出する際に、その気体と共に処理液
が排出されるのを防止できるので、結晶化し易い処理液
が大気中で結晶化してパーティクル等の汚染の原因とな
るのを防止することができるとともに、処理液の浪費を
抑えることができる。According to the second aspect of the present invention, when the gas in the trap tank is discharged, the processing liquid can be prevented from being discharged together with the gas. It is possible to prevent the occurrence of contamination of the particles and the like, thereby suppressing waste of the processing liquid.
【0036】請求項3に記載の発明によれば、液溜まり
部内において処理液が滞留しないので、常に新鮮な処理
液を送出することができる。また、結晶化し易い処理液
がトラップタンク内で結晶化するのを防止することもで
きる。さらに、流路部の少なくとも一部に透過性を有す
るので、流路部内の処理液の有無を検出するために例え
ば光センサ等を取り付けるとが可能になる。According to the third aspect of the present invention, since the processing liquid does not stay in the liquid pool, fresh processing liquid can be always delivered. In addition, it is possible to prevent the processing solution that easily crystallizes from crystallizing in the trap tank. Furthermore, since at least a part of the flow path has transparency, it is possible to attach, for example, an optical sensor or the like to detect the presence or absence of the processing liquid in the flow path.
【図1】実施例の基板処理装置の概略構成を示す全体図
である。FIG. 1 is an overall view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment.
【図2】光センサを示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an optical sensor.
【図3】流路部における光センサの動作の様子を示す図
である。FIG. 3 is a diagram showing an operation state of an optical sensor in a flow path portion.
【図4】トラップタンクを示す縦断面図である。FIG. 4 is a longitudinal sectional view showing a trap tank.
4 … ノズル 6 … 制御部 7 … 入力部 10 … 処理液タンク 11 … 送液ライン 12 … トラップタンク 13 … 注入口 14 … 排出口 15 … 流路部 16 … 液溜まり部 16a… 上部 16b… 下部 17 … 送出口 18 … タンク側の光センサ 20 … ドレインライン 21 … ドレイン側の光センサ 22 … 開閉バルブ 30 … 分岐部 41 … 分岐チューブ 42 … チューブ 43 … トップボディ 44 … ボトムボディ W … 基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 4 ... Nozzle 6 ... Control part 7 ... Input part 10 ... Processing liquid tank 11 ... Liquid sending line 12 ... Trap tank 13 ... Inlet 14 ... Discharge port 15 ... Flow path part 16 ... Liquid pool part 16a ... Upper part 16b ... Lower part 17 … Sending port 18… Tank side optical sensor 20… Drain line 21… Drain side optical sensor 22… Open / close valve 30… Branch part 41… Branch tube 42… Tube 43… Top body 44… Bottom body W… Substrate
フロントページの続き (72)発明者 長田 直之 京都府京都市上京区堀川通寺之内上る4丁 目天神北町1番地の1 大日本スクリーン 製造株式会社内 (72)発明者 杉山 念 京都府京都市上京区堀川通寺之内上る4丁 目天神北町1番地の1 大日本スクリーン 製造株式会社内 Fターム(参考) 5F046 JA03 Continued on the front page (72) Inventor Naoyuki Nagata 4-chome, Horikawa-dori-Terauchi, Kamigyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 1-1-1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd. F-term (reference) 5F046 JA03 in 1 Honkawa-dori Teranouchi, Kamigyo-ku
Claims (3)
液溜まり部を備えたトラップタンクから基板へ処理液を
供給して基板に処理を行う基板処理装置において、 前記トラップタンク内の処理液の残量を検出する残量検
出手段を備え、 前記残量検出手段は、送液されてきた処理液がトラップ
タンク内に注入される注入口と、前記液溜まり部とを結
ぶ流路内における処理液の有無を検出する光センサであ
ることを特徴とする基板処理装置。1. A substrate processing apparatus for performing processing on a substrate by supplying a processing liquid to a substrate from a trap tank having a liquid storage portion for temporarily storing the processing liquid sent thereto, wherein the processing in the trap tank is performed. And a remaining amount detecting means for detecting a remaining amount of the liquid, wherein the remaining amount detecting means is provided in a flow path connecting an inlet for injecting the fed processing liquid into the trap tank and the liquid reservoir. A substrate sensor for detecting the presence or absence of a processing liquid in the substrate processing apparatus.
て、前記装置は、さらに、 前記液溜まり部内の気体を排出するために前記トラップ
タンクに連通接続された排出路を開閉する開閉バルブ
と、前記トラップタンクから前記開閉バルブに至る排出
路内の処理液の有無を検出する光センサと、前記光セン
サが処理液を検出すると前記開閉バルブを閉じるバルブ
制御手段とを備える基板処理装置。2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the apparatus further includes an opening / closing valve that opens and closes a discharge path that is connected to the trap tank for discharging gas in the liquid reservoir. A substrate processing apparatus comprising: an optical sensor for detecting the presence or absence of a processing liquid in a discharge path from the trap tank to the on-off valve; and valve control means for closing the on-off valve when the optical sensor detects a processing liquid.
液溜まり部を備えたトラップタンクにおいて、 前記液溜まり部に一端側で連通し、側壁の少なくとも一
部が光を透過させる材質で形成された流路部と、 前記流路部の他端側を、前記処理液が注入される注入口
と、前記液溜まり部内の気体を排出する排出口とに分岐
する分岐部とを備え、 前記液溜まり部は、その上部が上方に向かって小さくな
るテーパー形状で、その上端位置で前記流路部に連通す
る一方、その下部が下方に向かって小さくなるテーパー
形状で、その下端位置に処理液を送出する送出口が設け
られていることを特徴とするトラップタンク。3. A trap tank provided with a liquid reservoir for temporarily storing a processing liquid sent thereto, wherein said trap tank communicates with said liquid reservoir at one end, and at least a part of a side wall is made of a material that transmits light. The formed flow path portion, comprising a branch portion that branches the other end side of the flow path portion into an injection port into which the processing liquid is injected, and a discharge port that discharges gas in the liquid pool portion, The liquid reservoir has a tapered shape in which the upper portion becomes smaller upward and communicates with the flow path portion at the upper end position, while the lower portion has a tapered shape which becomes smaller downward and is processed at the lower end position. A trap tank provided with a delivery port for delivering a liquid.
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006313822A (en) * | 2005-05-09 | 2006-11-16 | Tokyo Electron Ltd | Processing liquid discharge device, verification method of its operation, and driving/controlling method thereof |
KR100790282B1 (en) | 2002-12-14 | 2007-12-31 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | Discharge system of semiconductor manufacturing apparatus and liquid tiOs discharge method from trap part applied to it |
WO2019131226A1 (en) * | 2017-12-28 | 2019-07-04 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing device, substrate processing method, and computer-readable recording medium |
JP2020072189A (en) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate processing apparatus |
-
1998
- 1998-11-20 JP JP10331149A patent/JP2000156338A/en active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100790282B1 (en) | 2002-12-14 | 2007-12-31 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | Discharge system of semiconductor manufacturing apparatus and liquid tiOs discharge method from trap part applied to it |
JP2006313822A (en) * | 2005-05-09 | 2006-11-16 | Tokyo Electron Ltd | Processing liquid discharge device, verification method of its operation, and driving/controlling method thereof |
JP4583235B2 (en) * | 2005-05-09 | 2010-11-17 | 東京エレクトロン株式会社 | TREATING LIQUID DISCHARGE DEVICE, ITS OPERATION VERIFICATION METHOD, AND DRIVE CONTROL METHOD |
WO2019131226A1 (en) * | 2017-12-28 | 2019-07-04 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing device, substrate processing method, and computer-readable recording medium |
KR20200095573A (en) * | 2017-12-28 | 2020-08-10 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and computer-readable recording medium |
CN111527586A (en) * | 2017-12-28 | 2020-08-11 | 东京毅力科创株式会社 | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and computer-readable recording medium |
KR102644786B1 (en) | 2017-12-28 | 2024-03-06 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and computer-readable recording medium |
CN111527586B (en) * | 2017-12-28 | 2024-04-09 | 东京毅力科创株式会社 | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and computer-readable recording medium |
JP2020072189A (en) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate processing apparatus |
JP7253895B2 (en) | 2018-10-31 | 2023-04-07 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate processing equipment |
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