JP2000088751A - Laser microscope - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば標本にコヒ
ーレント光を照射し2光子現象を起こして標本の観察を
行うためのコヒーレント光の導入手段を改善したレーザ
顕微鏡に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser microscope having improved coherent light introducing means for observing a sample by irradiating the sample with coherent light to cause a two-photon phenomenon.
【0002】[0002]
【従来の技術】顕微鏡下で標本に対して電気生理や細胞
操作などの接触操作を行う場合には、外部からの振動は
その接触操作の妨げになり、標本を破壊する慮がある。
このような顕微鏡の外部からの振動を除去するために、
標本を搭載したステージは、定盤に固定し、かつ顕微鏡
本体を水平平面方向に可動に構成することで、例えば標
本に接触した電気生理用の電極やマニュピレータに対し
て不用意に振動を与えることなく視野を移動させること
ができる。2. Description of the Related Art When a contact operation such as electrophysiology or cell operation is performed on a specimen under a microscope, external vibrations hinder the contact operation and the specimen may be destroyed.
In order to eliminate vibrations from outside the microscope,
The stage on which the specimen is mounted is fixed to the surface plate, and the microscope body is configured to be movable in the horizontal plane direction, for example, to inadvertently apply vibrations to the electrophysiological electrodes and manipulators that have come into contact with the specimen. The field of view can be moved without the need.
【0003】図4はかかる標本を載置するステージを備
え、顕微鏡本体をさらに他のステージに搭載して可動す
るようにした顕微鏡の公知の基本的な構成図である。定
盤1上には、標本用のステージ2が設けられ、このステ
ージ2上に標本3が載置される。FIG. 4 is a known basic configuration diagram of a microscope provided with a stage on which such a sample is mounted and in which the microscope body is mounted on another stage so as to be movable. A stage 2 for a sample is provided on the surface plate 1, and a sample 3 is placed on the stage 2.
【0004】又、標本用のステージ2とは別に定盤1上
には、顕微鏡本体用のXYステージ4が設けられてい
る。このXYステージ4は、各板4a〜4cから成るも
ので、このうち板4aは定盤1上に固定され、板4bは
図面上左右方向に移動し、板4cは図面に対して垂直方
向に移動するものとなっている。そして、このXYステ
ージ4上には、顕微鏡本体5として落射照明系6、対物
レンズ7、接眼レンズ8及び撮像光学素子9が設けられ
ている。An XY stage 4 for the microscope body is provided on the surface plate 1 separately from the stage 2 for the specimen. The XY stage 4 is composed of plates 4a to 4c, of which the plate 4a is fixed on the surface plate 1, the plate 4b moves in the horizontal direction in the drawing, and the plate 4c moves in the direction perpendicular to the drawing. It is moving. On the XY stage 4, an epi-illumination system 6, an objective lens 7, an eyepiece 8, and an imaging optical element 9 are provided as a microscope main body 5.
【0005】従って、顕微鏡本体5は、XYステージ4
の各板4b、4cの駆動によりXYに移動し、標本3を
載置するステージ2に対して対物レンズ7の位置を水平
平面上で移動できるようにしている。なお、標本3への
焦点合わせは、対物レンズ7の上下動によって行われ
る。Accordingly, the microscope main body 5 includes the XY stage 4
Of the objective lens 7 with respect to the stage 2 on which the sample 3 is mounted, so that the position of the objective lens 7 can be moved on a horizontal plane. Note that focusing on the sample 3 is performed by moving the objective lens 7 up and down.
【0006】このような構成の顕微鏡の作用を説明する
と、落射照明系6を通った照明光は、対物レンズ7によ
って標本3上に集光される。この照明によって標本3か
らは蛍光若しくは反射光が発せられ、これら蛍光若しく
は反射光は、再び対物レンズ7を通って接眼レンズ8若
しくは撮像光学素子9によって標本3の像として観察す
ることができる。The operation of the microscope having such a configuration will be described. Illumination light passing through the epi-illumination system 6 is focused on the specimen 3 by the objective lens 7. By this illumination, fluorescent light or reflected light is emitted from the specimen 3, and the fluorescent light or reflected light can be observed again as an image of the specimen 3 by the eyepiece 8 or the imaging optical element 9 through the objective lens 7.
【0007】このときの標本3の観察位置は、顕微鏡本
体5を搭載するXYステージ4の各板4b、4cを水平
方向でXYに駆動して顕微鏡本体5を移動させることに
より所望の観察部位に移すことができ、かつ標本3への
焦点合わせは、対物レンズ7の上下動によって行われ
る。At this time, the observation position of the specimen 3 is set at a desired observation region by moving the microscope main body 5 by driving the plates 4b and 4c of the XY stage 4 on which the microscope main body 5 is mounted to XY in the horizontal direction. It can be moved and the focusing on the specimen 3 is performed by moving the objective lens 7 up and down.
【0008】そして、標本3に対して電気生理や細胞操
作などの接触操作を行う場合は、例えば標本3に対して
電気生理用の電極やマニピュレータ10を接触させて行
うものとなる。When a contact operation such as electrophysiology or cell operation is performed on the specimen 3, for example, an electrode for electrophysiology or a manipulator 10 is brought into contact with the specimen 3.
【0009】このような顕微鏡であれば、通常の顕微鏡
のように標本3を搭載したステージ(2)を上下動させ
ることなく、すなわち標本3並びこの標本3に接触して
いるマニピュレータ10に対して不用意な振動を与える
ことなく、標本3の位置決め、焦点合わせができる。In such a microscope, the stage (2) on which the sample 3 is mounted is not moved up and down as in a normal microscope, ie, the sample 3 and the manipulator 10 in contact with the sample 3 are not moved. The positioning and focusing of the specimen 3 can be performed without giving careless vibration.
【0010】一方、上記標本3の観察をレーザ顕微鏡に
応用させる場合について説明すると、撮像光学素子9の
代わりに、走査光学ユニット11を顕微鏡本体5に設置
し、この走査光学ユニット11に対してファイバー12
等のフレキシブルな素材を介してレーザ光源13を接続
するものとなる。On the other hand, a case where the observation of the specimen 3 is applied to a laser microscope will be described. A scanning optical unit 11 is installed in the microscope main body 5 instead of the imaging optical element 9, and a fiber is connected to the scanning optical unit 11. 12
The laser light source 13 is connected via a flexible material such as.
【0011】このような構成であれば、レーザ光源13
から出力されたコヒーレント光は、ファイバー12によ
り走査光学ユニット11に導かれて対物レンズ7の像面
に走査され、この対物レンズ7によって標本3上に集光
される。このコヒーレント光の照射によって励起された
標本3からの蛍光は、再び対物レンズ7を通って走査光
学ユニット11に導かれて、走査光学ユニット11内に
設置された光学変換素子31に入射される。この光学変
換素子31からの出力を画像として構築することにより
標本3の像として観察することができる。With such a configuration, the laser light source 13
Is output to the scanning optical unit 11 by the fiber 12, is scanned on the image plane of the objective lens 7, and is condensed on the specimen 3 by the objective lens 7. The fluorescence from the specimen 3 excited by the irradiation of the coherent light is again guided to the scanning optical unit 11 through the objective lens 7 and enters the optical conversion element 31 installed in the scanning optical unit 11. By constructing the output from the optical conversion element 31 as an image, it can be observed as an image of the specimen 3.
【0012】そして、標本3の観察位置は、上記同様に
顕微鏡本体5を搭載するXYステージ4の各板4b、4
cを水平方向でXYに駆動して顕微鏡本体5を移動させ
ることにより所望の観察部位に移すことができる。The observation position of the specimen 3 is determined by the respective plates 4b, 4b of the XY stage 4 on which the microscope main body 5 is mounted as described above.
By moving the microscope body 5 by driving c horizontally and XY in the horizontal direction, it can be moved to a desired observation site.
【0013】このような観察部位の移動の際、レーザ光
源13から出力されるコヒーレント光がファイバー12
等のフレキシブルな素材で導かれて走査光学ユニット1
1に導光されれば、XYステージ4の駆動に伴うコヒー
レント光の光軸のずれは発生しない。During the movement of the observation site, the coherent light output from the laser light source 13
Scanning optical unit 1 guided by a flexible material such as
If the light is guided to 1, the optical axis of the coherent light does not shift due to the driving of the XY stage 4.
【0014】[0014]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、2光子
現象を起こして標本3を観察する場合には、光源として
極短パルスレーザ発振器が用いられる。この極短パルス
レーザ発振器を上述した構成のレーザ光源に適用する
と、極短パルスレーザ発振器から出力された極短パルス
レーザ光がファイバー12を透過することによってその
パルス幅が伸び、標本3面における2光子現象が起こり
にくくなったり、場合によっては2光子現象が起こらな
い可能性がある。このため、2光子現象を引き起こすた
めの極短パルスレーザ光を使用する場合には、ファイバ
ー12によって極短パルスレーザ光を走査光学ユニット
11に導光することができない。However, when observing the sample 3 by causing a two-photon phenomenon, an ultrashort pulse laser oscillator is used as a light source. When this ultra-short pulse laser oscillator is applied to the laser light source having the above-described configuration, the ultra-short pulse laser light output from the ultra-short pulse laser oscillator passes through the fiber 12 to increase its pulse width. There is a possibility that the photon phenomenon does not easily occur, and in some cases, the two-photon phenomenon does not occur. For this reason, when the ultrashort pulse laser light for causing the two-photon phenomenon is used, the ultrashort pulse laser light cannot be guided to the scanning optical unit 11 by the fiber 12.
【0015】本発明は、ファイバーによる導光ができな
い場合でもステージの移動によって光軸のずれが起こら
ずに標本に不用意な振動を与えることがないレーザ顕微
鏡を提供することを目的とする。An object of the present invention is to provide a laser microscope which does not cause an optical axis shift due to the movement of the stage even when the light cannot be guided by the fiber and does not give an inadvertent vibration to the sample.
【0016】[0016]
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、レー
ザ光を出力するレーザ光源と、X軸方向に移動可能なX
ステージとY軸方向に移動可能なYステージとを備えた
XYステージと、XYステージから離間するように標本
を載置するための標本載置台と、標本載置台上の標本に
対してレーザ光を走査させる走査光学系を備えXYステ
ージ上に固定配置された顕微鏡本体と、Yステージの移
動に追従するように固定され走査光学系へレーザ光を導
くための走査系導入手段と、Yステージに設けられ走査
系導入手段にレーザ光を導くための第1の光軸調整手段
と、Xステージに設けられ第1の光軸調整手段にレーザ
光を導くための第2の光軸調整手段と、を備えたレーザ
顕微鏡である。According to a first aspect of the present invention, there is provided a laser light source for outputting a laser beam, and an X-ray movable in an X-axis direction.
An XY stage including a stage and a Y stage movable in the Y-axis direction; a sample mounting table for mounting the sample so as to be separated from the XY stage; and a laser beam applied to the sample on the sample mounting table. A microscope body provided with a scanning optical system for scanning and fixedly arranged on an XY stage; a scanning system introducing means fixed to follow the movement of the Y stage and guiding laser light to the scanning optical system; A first optical axis adjusting means for guiding the laser light to the scanning system introducing means, and a second optical axis adjusting means provided on the X stage for guiding the laser light to the first optical axis adjusting means. It is a laser microscope provided.
【0017】[0017]
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、図4と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。図1は
レーザ顕微鏡の平面構成図であり、図2は左側面からの
構成図、図3は正面構成図である。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. 1 is a plan view of a laser microscope, FIG. 2 is a view from the left side, and FIG. 3 is a front view.
【0018】定盤20上には、光源として極短パルスレ
ーザ発振器21、XYステージ22及び標本3を載置す
るための標本用のステージ(標本載置台)2が設けられ
ている。An ultrashort pulse laser oscillator 21, an XY stage 22, and a sample stage (sample mounting table) 2 on which the sample 3 is mounted are provided on the surface plate 20 as light sources.
【0019】極短パルスレーザ発振器21は、2光子現
象を引き起こすための波長の極短パルスレーザ光Qを出
力する機能を有している。XYステージ22は、固定ス
テージ22a、Xステージ22b及びYステージ22c
を重ねた構成となっている。このうち固定ステージ22
aは、定盤20上に固定されており、この固定ステージ
22a上には、Xステージ22bがX方向つまり極短パ
ルスレーザ発振器21から出力される極短パルスレーザ
光Qの光軸方向と同一方向に移動自在に設けられてい
る。そして、このXステージ22b上には、Yステージ
22cがY方向つまり極短パルスレーザ発振器21から
出力される極短パルスレーザ光Qの光軸方向に対して垂
直方向(Xステージ22bの移動方向に対して垂直方
向)に移動自在に設けられている。The ultrashort pulse laser oscillator 21 has a function of outputting an ultrashort pulse laser beam Q having a wavelength for causing a two-photon phenomenon. The XY stage 22 includes a fixed stage 22a, an X stage 22b, and a Y stage 22c.
Are stacked. Among them, fixed stage 22
a is fixed on the surface plate 20. On the fixed stage 22a, the X stage 22b is in the X direction, that is, the same as the optical axis direction of the ultrashort pulse laser beam Q output from the ultrashort pulse laser oscillator 21. It is provided movably in the direction. On the X stage 22b, a Y stage 22c is moved in the Y direction, that is, in the direction perpendicular to the optical axis direction of the ultrashort pulse laser beam Q output from the ultrashort pulse laser oscillator 21 (in the moving direction of the X stage 22b). (Vertically with respect to the vertical direction).
【0020】このXYステージ22上には、支持柱23
によって走査光学ユニット11が設けられるとともに、
顕微鏡本体5として落射照明系6、結像レンズ24、対
物レンズ7、接眼レンズ8、撮像光学素子9、さらに走
査光学ユニット11からの極短パルスレーザ光を結像レ
ンズ24へ導くミラー25が設けられている。On the XY stage 22, supporting columns 23
The scanning optical unit 11 is provided by
An epi-illumination system 6, an imaging lens 24, an objective lens 7, an eyepiece 8, an imaging optical element 9, and a mirror 25 for guiding ultrashort pulse laser light from the scanning optical unit 11 to the imaging lens 24 are provided as the microscope main body 5. Have been.
【0021】走査光学ユニット11は、ダイクロイック
ミラー26aと26b、及び互いに直交方向に走査する
各走査ミラー27a、27bが設けられ、かつダイクロ
イックミラー26aの透過光路上に測光フィルタ28、
レンズ29、ピンホール30及び光電変換素子31が配
置されている。The scanning optical unit 11 is provided with dichroic mirrors 26a and 26b and scanning mirrors 27a and 27b for scanning in directions orthogonal to each other, and has a photometric filter 28 on a transmission optical path of the dichroic mirror 26a.
The lens 29, the pinhole 30, and the photoelectric conversion element 31 are arranged.
【0022】従って、走査光学ユニット11は、極短パ
ルスレーザ発振器21からの極短パルスレーザ光Qをダ
イクロイックミラー26a、ミラー26bで反射し各走
査ミラー27a、27bで走査してリレーレンズ35を
通して顕微鏡本体5に送り、かつ顕微鏡本体5で標本3
から発生した蛍光を各走査ミラー27b、27a、ミラ
ー26bからダイクロイックミラー26aを透過して測
光フィルタ28、レンズ29、ピンホール30を通して
光電変換素子31に導くものとなっている。Therefore, the scanning optical unit 11 reflects the ultrashort pulse laser beam Q from the ultrashort pulse laser oscillator 21 on the dichroic mirrors 26a and 26b, scans the scanning mirrors 27a and 27b, and passes through the relay lens 35 through the microscope 35. The specimen 3 is sent to the main body 5 and
Is transmitted from the scanning mirrors 27b and 27a and the mirror 26b through the dichroic mirror 26a to the photoelectric conversion element 31 through the photometric filter 28, the lens 29, and the pinhole 30.
【0023】上記XYステージ22のXステージ22b
には、第2の光軸調整手段としてのミラー32が固定し
て設けられ、Xステージ22bの移動とともに極短パル
スレーザ光の光軸方向と同一方向(X軸方向)に移動す
るものとなっている。このミラー32は、極短パルスレ
ーザ光Qを垂直方向つまりY軸方向に反射する角度に設
けられている。The X stage 22b of the XY stage 22
, A mirror 32 as a second optical axis adjusting means is fixedly provided, and moves in the same direction (X-axis direction) as the optical axis direction of the ultrashort pulse laser light with the movement of the X stage 22b. ing. The mirror 32 is provided at an angle at which the extremely short pulse laser light Q is reflected in the vertical direction, that is, in the Y-axis direction.
【0024】又、Yステージ22cには、第1の光軸調
整手段としてのミラー33が固定して設けられ、Yステ
ージ22cの移動とともに極短パルスレーザ光Qの光軸
方向に対して垂直方向(Y軸方向)つまりに移動するも
のとなっている。このミラー33は、ミラー32で反射
した極短パルスレーザ光Qを垂直の上方方向つまりZ軸
方向に反射する角度に設けられている。A mirror 33 as a first optical axis adjusting means is fixedly provided on the Y stage 22c, and is moved in a direction perpendicular to the optical axis direction of the ultrashort pulse laser beam Q with the movement of the Y stage 22c. (In the Y-axis direction). The mirror 33 is provided at an angle at which the extremely short pulse laser beam Q reflected by the mirror 32 is reflected in a vertically upward direction, that is, in the Z-axis direction.
【0025】さらに、ミラー33で反射した極短パルス
レーザ光Qの光路上の走査光学ユニット11には、走査
系導入手段としてのミラー34が固定されて設けられて
いる。このミラー34は、ミラー33で反射した極短パ
ルスレーザ光を反射して走査光学ユニット11内のダイ
クロイックミラー26aに導く角度に設けられている。Further, the scanning optical unit 11 on the optical path of the ultrashort pulse laser beam Q reflected by the mirror 33 is provided with a fixed mirror 34 as a scanning system introducing means. The mirror 34 is provided at an angle at which the very short pulse laser light reflected by the mirror 33 is reflected and guided to the dichroic mirror 26 a in the scanning optical unit 11.
【0026】次に上記の如く構成されたレーザ顕微鏡の
作用について説明する。極短パルスレーザ発振器21か
ら出力された極短パルスレーザ光Qは、ミラー32、3
3及びミラー34でそれぞれ反射して走査光学ユニット
11に入射する。Next, the operation of the laser microscope configured as described above will be described. The ultrashort pulse laser light Q output from the ultrashort pulse laser oscillator 21 is
The light is reflected by the mirror 3 and the mirror 34 and enters the scanning optical unit 11.
【0027】この走査光学ユニット11内は、極短パル
スレーザ光Qをダイクロイックミラー26a、ミラー2
6aで反射し、各走査ミラー27a、27bでレーザ光
Qを2次元に走査してリレーレンズ35を通して顕微鏡
本体5に送る。In the scanning optical unit 11, a very short pulse laser beam Q is applied to a dichroic mirror 26a and a mirror 2a.
The laser beam Q is reflected two-dimensionally and scanned two-dimensionally by the scanning mirrors 27 a and 27 b and sent to the microscope main body 5 through the relay lens 35.
【0028】この顕微鏡本体5では、2次元に走査され
た極短パルスレーザ光Qをミラー25で反射し、結像レ
ンズ24を通して対物レンズ7の瞳径を満足するような
光束径に変換して対物レンズ7に送り、この対物レンズ
7によって標本3の断面3a上に集光する。In the microscope main body 5, the ultrashort pulse laser beam Q scanned two-dimensionally is reflected by the mirror 25, and converted into a light beam diameter that satisfies the pupil diameter of the objective lens 7 through the imaging lens 24. It is sent to the objective lens 7 and focused on the cross section 3 a of the specimen 3 by the objective lens 7.
【0029】標本3で発生した蛍光は、対物レンズ7か
ら結像レンズ24、ミラー25、リレーレンズ35を通
って走査光学ユニット11に戻り、各走査ミラー27
b、27a、ミラー26bを反射してダイクロイックミ
ラー26aを透過し、さらに測光フィルタ28で蛍光波
長が選択され、レンズ29によってピンホール30面で
結像し、このピンホール30を通過して光電変換素子3
1で計測される。The fluorescent light generated in the specimen 3 returns from the objective lens 7 to the scanning optical unit 11 through the imaging lens 24, the mirror 25, and the relay lens 35, and returns to the scanning mirrors 27.
b, 27a, and the mirror 26b are reflected and transmitted through the dichroic mirror 26a. Further, the fluorescence wavelength is selected by the photometric filter 28, an image is formed on the surface of the pinhole 30 by the lens 29, and the light passes through the pinhole 30 and is subjected to photoelectric conversion. Element 3
Measured at 1.
【0030】このような標本3の観察でその観察視野を
移動させる場合は、XYステージ22のXステージ22
b及びYステージ22cをそれぞれ駆動して走査光学ユ
ニット11及び顕微鏡本体5をXY平面上に移動させる
ものとなる。When the observation field of view of the sample 3 is moved, the X stage 22 of the XY stage 22 is moved.
The scanning optical unit 11 and the microscope main body 5 are moved on the XY plane by driving the b stage and the Y stage 22c, respectively.
【0031】Xステージ22bは、極短パルスレーザ光
Qの光軸方向と同一方向(X軸方向)に移動するもので
あり、このXステージ22bと一体となってミラー32
も極短パルスレーザ光Qの光軸方向と同一方向に移動す
る。これにより、Xステージ22bが移動しても極短パ
ルスレーザ光Qのミラー32に当たる位置は変わらな
い。The X stage 22b moves in the same direction (X-axis direction) as the direction of the optical axis of the ultrashort pulse laser beam Q, and is integrated with the X stage 22b to form a mirror 32.
Also moves in the same direction as the optical axis direction of the ultrashort pulse laser beam Q. Thus, even if the X stage 22b moves, the position where the ultrashort pulse laser beam Q hits the mirror 32 does not change.
【0032】又、Yステージ22cは、極短パルスレー
ザ光Qの光軸方向に対して垂直方向(Y軸方向)に移動
するものであり、このYステージ22cと一体となって
ミラー33も極短パルスレーザ光Qの光軸方向に対して
垂直方向に移動する。これにより、Yステージ22cが
移動しても、ミラー32で反射してくる極短パルスレー
ザ光Qのミラー33に当たる位置も変わらない。The Y stage 22c moves in the direction (Y axis direction) perpendicular to the optical axis direction of the ultrashort pulse laser beam Q, and the mirror 33 is integrated with the Y stage 22c. It moves in a direction perpendicular to the optical axis direction of the short pulse laser light Q. Thus, even if the Y stage 22c moves, the position where the ultrashort pulse laser light Q reflected by the mirror 32 hits the mirror 33 does not change.
【0033】さらに、ミラー33、ミラー34、走査光
学ユニット11及び顕微鏡本体5は、共にYステージ2
2c上に設けられているので、ミラー33に当たる極短
パルスレーザ光Qの位置が変わらなければ、XYステー
ジ22の移動、すなわち観察視野を移動させるための走
査光学ユニット11及び顕微鏡本体5のXY平面上の移
動に関係なく、走査光学ユニット11に入射する極短パ
ルスレーザ光Qの光軸はずれることはない。Further, the mirror 33, the mirror 34, the scanning optical unit 11 and the microscope body 5 are all
2C, the XY stage 22 moves, that is, the scanning optical unit 11 and the XY plane of the microscope main body 5 for moving the observation visual field, unless the position of the ultrashort pulse laser beam Q hitting the mirror 33 is changed. Irrespective of the upward movement, the optical axis of the ultrashort pulse laser beam Q incident on the scanning optical unit 11 does not shift.
【0034】このように上記一実施の形態においては、
極短パルスレーザ発振器21から出力される極短パルス
レーザ光Qの光軸方向と同一方向に移動するXステージ
22bと、極短パルスレーザ発振器21から出力される
極短パルスレーザ光Qの光軸方向に対して垂直方向に移
動し、かつ走査光学ユニット11及び顕微鏡本体5を搭
載するYステージ22cと、これらX及びYステージ2
2b、22cにそれぞれ設けられ、光源から出力された
極短パルスレーザ光Qを走査光学ユニット11に導くミ
ラー32、33とを備えたので、ファイバーによる導光
が困難な標本3の観察、例えば極短パルスレーザ光Qを
標本3に照射して2光子現象を引き起こして標本3を観
察する場合でも、標本3の観察視野を移動させるために
XYステージ22を駆動して走査光学ユニット11及び
顕微鏡本体5をXY平面上で移動してもこの移動に関係
なく、走査光学ユニット11に入射する極短パルスレー
ザ光Qの光軸がずれることはない。そのうえ、標本3に
対して不用意な振動を与えることなく観察視野の移動が
できるので、これにより、ファイバーを用いた場合のよ
うに、極短パルスレーザ光Qのパルス幅が伸びて標本3
面における2光子現象が起こりにくくなったり、場合に
よっては2光子現象が起こらないということはない。As described above, in one embodiment,
X stage 22b moving in the same direction as the optical axis of ultrashort pulse laser beam Q output from ultrashort pulse laser oscillator 21, and optical axis of ultrashort pulse laser beam Q output from ultrashort pulse laser oscillator 21 Stage 22c that moves in a direction perpendicular to the direction and mounts the scanning optical unit 11 and the microscope main body 5, and the X and Y stages 2
2b and 22c are provided respectively, and are provided with mirrors 32 and 33 for guiding the ultrashort pulse laser light Q output from the light source to the scanning optical unit 11, so that observation of the sample 3 in which light is difficult to guide by a fiber, for example, Even when the sample 3 is observed by irradiating the sample 3 with the short-pulse laser light Q to cause a two-photon phenomenon, the XY stage 22 is driven to move the observation field of the sample 3 and the scanning optical unit 11 and the microscope main body. Even if 5 is moved on the XY plane, the optical axis of the ultrashort pulse laser beam Q incident on the scanning optical unit 11 does not shift regardless of the movement. In addition, the observation field of view can be moved without inadvertently applying vibration to the sample 3, so that the pulse width of the ultrashort pulse laser beam Q is increased, as in the case of using a fiber.
It does not mean that the two-photon phenomenon does not easily occur on the surface, or that the two-photon phenomenon does not occur in some cases.
【0035】なお、上記実施の形態では、2光子現象を
起こさせるために第1及び第2の光軸調整手段と走査系
導入手段として、それぞれにミラーを用いたが、2光子
現象を起こさせる必要がなければ特にミラーに限られる
ものではなく、例えばプリズムを用いることもできる。
又、それぞれミラー1枚で反射するようにしているが、
ミラーとミラーとの間にミラーや光学素子等を入れて光
路を偏向してもよい。In the above embodiment, mirrors are used as the first and second optical axis adjusting means and the scanning system introducing means in order to cause the two-photon phenomenon. However, the two-photon phenomenon is caused. If it is not necessary, the invention is not limited to a mirror. For example, a prism can be used.
In addition, each is reflected by one mirror,
An optical path may be deflected by inserting a mirror or an optical element between the mirrors.
【0036】[0036]
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、フ
ァイバーによる導光ができない場合でもXYステージの
移動によって光軸のずれが起こらずに標本に不用意な振
動を与えることがないレーザ顕微鏡を提供できる。As described above in detail, according to the present invention, even when the light cannot be guided by the fiber, the laser does not shift the optical axis due to the movement of the XY stage and does not inadvertently vibrate the sample. A microscope can be provided.
【図1】本発明に係わるレーザ顕微鏡の一実施の形態を
示す平面構成図。FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a laser microscope according to the present invention.
【図2】同レーザ顕微鏡の左側面からの構成図。FIG. 2 is a configuration diagram of the laser microscope viewed from a left side surface.
【図3】同レーザ顕微鏡の正面構成図。FIG. 3 is a front configuration diagram of the laser microscope.
【図4】従来の顕微鏡の構成図。FIG. 4 is a configuration diagram of a conventional microscope.
2:ステージ、 3:標本、 5:顕微鏡本体、 6:落射照明系、 24:結像レンズ、 7:対物レンズ、 8:接眼レンズ、 9:撮像光学素子、 11:走査光学ユニット、 20:定盤、 21:極短パルスレーザ発振器、 22:XYステージ、 22a:固定ステージ、 22b:Xステージ、 22c:Yステージ、 32:ミラー、 33:ミラー、 34:ミラー。 2: stage, 3: specimen, 5: microscope body, 6: epi-illumination system, 24: imaging lens, 7: objective lens, 8: eyepiece, 9: imaging optical element, 11: scanning optical unit, 20: fixed Board: 21: ultrashort pulse laser oscillator, 22: XY stage, 22a: fixed stage, 22b: X stage, 22c: Y stage, 32: mirror, 33: mirror, 34: mirror.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G043 AA03 BA16 CA03 DA06 EA01 FA01 FA02 GA02 GB01 GB19 HA01 HA02 KA08 KA09 LA03 2H052 AA08 AA09 AC04 AC07 AC15 AC27 AC34 AD19 AF07 AF14 AF19 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G043 AA03 BA16 CA03 DA06 EA01 FA01 FA02 GA02 GB01 GB19 HA01 HA02 KA08 KA09 LA03 2H052 AA08 AA09 AC04 AC07 AC15 AC27 AC34 AD19 AF07 AF14 AF19
Claims (1)
なYステージとを備えたXYステージと、 前記XYステージから離間するように標本を載置するた
めの標本載置台と、 前記標本載置台上の前記標本に対して前記レーザ光を走
査させる走査光学系を備え前記XYステージ上に固定配
置された顕微鏡本体と、 前記Yステージの移動に追従するように固定され前記走
査光学系へ前記レーザ光を導くための走査系導入手段
と、 前記Yステージに設けられ前記走査系導入手段に前記レ
ーザ光を導くための第1の光軸調整手段と、 前記Xステージに設けられ前記第1の光軸調整手段に前
記レーザ光を導くための第2の光軸調整手段と、を具備
したことを特徴とするレーザ顕微鏡。1. An XY stage having a laser light source for outputting laser light, an X stage movable in an X-axis direction and a Y stage movable in a Y-axis direction, and a sample separated from the XY stage. And a microscope main body fixedly arranged on the XY stage, the microscope main body including a scanning optical system for scanning the sample on the sample mounting table with the laser light. A scanning system introducing means fixed to follow the movement for guiding the laser light to the scanning optical system; and a first optical axis provided on the Y stage for guiding the laser light to the scanning system introducing means. A laser microscope comprising: an adjusting unit; and a second optical axis adjusting unit provided on the X stage for guiding the laser beam to the first optical axis adjusting unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10261410A JP2000088751A (en) | 1998-09-16 | 1998-09-16 | Laser microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP10261410A JP2000088751A (en) | 1998-09-16 | 1998-09-16 | Laser microscope |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000088751A true JP2000088751A (en) | 2000-03-31 |
Family
ID=17361493
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10261410A Withdrawn JP2000088751A (en) | 1998-09-16 | 1998-09-16 | Laser microscope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000088751A (en) |
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1998
- 1998-09-16 JP JP10261410A patent/JP2000088751A/en not_active Withdrawn
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